JP5915179B2 - Electronic device, oscillator, method for manufacturing electronic device, and method for manufacturing oscillator - Google Patents

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Description

本発明は、電子部品が接合されたセラミック基板上に金属蓋体をレーザー光等を用いて局部加熱することにより接合して電子部品を封止した電子デバイス、電子デバイスの製造方法、圧電発振器、電子機器に関するものである。   The present invention relates to an electronic device in which a metal lid is bonded by locally heating the ceramic substrate to which the electronic component is bonded using laser light or the like to seal the electronic component, a method for manufacturing the electronic device, a piezoelectric oscillator, It relates to electronic equipment.

従来より、セラミック基板に接合した電子部品を金属蓋体により封止した表面実装用の電子デバイスが広く用いられている。例えば、情報通信機器やコンピューターなどのOA機器、民生機器などの様々な電子機器の電子回路のクロック源として、電子部品としての圧電振動片をセラミック基板に接合し、その圧電振動片を覆うようにセラミック基板上に凹状の金属蓋体を接合することにより、セラミック基板と金属蓋体とによる凹部空間内に圧電振動片を気密封止した電子装置としての圧電デバイスが広く使用されている。
一般に金属蓋体とセラミック(アルミナ)基板とをレーザー光、或いは電子ビームの照射により接合する場合には、セラミック基板側に予め形成したメタライズ層上にロウ材を介して金属蓋体の周縁部を重ねた状態でレーザー光等を金属蓋体周縁部上から照射し、ロウ材を溶融、固化させることによって溶接している。
特許文献1(特開平11−126850号公報)には、ロウ材を電子ビーム照射により加熱溶融させてセラミック基体と金属蓋体とを接合する電子装置の気密封止構造において、金属蓋体の表面に電解メッキまたは無電解メッキにより予め積層した耐食用のニッケル層の一部を、ロウ材として機能させている。このため、ロウ材として銀ロウを使用した場合の不具合である銀ロウの酸化腐食による気密性低下という問題を解決して、電子部品を長期間安定的に機能させることができる、としている。
Conventionally, an electronic device for surface mounting in which an electronic component bonded to a ceramic substrate is sealed with a metal lid has been widely used. For example, as a clock source for electronic circuits of various electronic devices such as OA equipment such as information communication equipment and computers, consumer equipment, etc., a piezoelectric vibrating piece as an electronic component is joined to a ceramic substrate and the piezoelectric vibrating piece is covered. 2. Description of the Related Art Piezoelectric devices are widely used as electronic devices in which a piezoelectric vibrating piece is hermetically sealed in a concave space formed by a ceramic substrate and a metal lid by joining a concave metal lid on the ceramic substrate.
In general, when joining a metal lid and a ceramic (alumina) substrate by laser light or electron beam irradiation, the peripheral portion of the metal lid is placed on a metallized layer formed in advance on the ceramic substrate side via a brazing material. Laser welding or the like is irradiated from above the peripheral edge of the metal lid in a stacked state, and welding is performed by melting and solidifying the brazing material.
Patent Document 1 (Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-126850) discloses a surface of a metal lid in a hermetic sealing structure of an electronic device in which a brazing material is heated and melted by electron beam irradiation to join a ceramic substrate and the metal lid. A part of the corrosion-resistant nickel layer previously laminated by electrolytic plating or electroless plating is made to function as a brazing material. For this reason, it is said that the problem of deterioration in airtightness due to oxidative corrosion of silver brazing, which is a problem when silver brazing is used as the brazing material, can be solved, and the electronic component can function stably for a long period of time.

特開平11−126850号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-126850

しかし、電解メッキにより成膜される純度の高いニッケル層は融点が1450度であり、融点が780℃程度である銀ロウを溶融させてもニッケル層は溶融しないため、ニッケル層を銀ロウと共に溶融させてロウ材として利用することは不可能である。
また、無電解メッキによりニッケル層を形成した場合には、ニッケル層内にリン(P)を取り込んでいるので、ニッケル部分から金属蓋体内部にガスが放出され、電子部品を安定的に機能させることができない。水晶振動子であれば、エージングによる周波数特性、インピーダンスが変化するという問題を起こす。
However, a high purity nickel layer formed by electrolytic plating has a melting point of 1450 degrees, and even if a silver wax having a melting point of about 780 ° C. is melted, the nickel layer does not melt, so the nickel layer is melted together with the silver solder. It is impossible to use it as a brazing material.
Further, when the nickel layer is formed by electroless plating, phosphorus (P) is taken into the nickel layer, so that gas is released from the nickel portion into the metal lid body, and the electronic component functions stably. I can't. In the case of a crystal resonator, there is a problem that frequency characteristics and impedance change due to aging.

図8(a)及び(b)はセラミック基板100上にキャップ形状の金属蓋体110を接合した電子デバイス(水晶振動子)の縦断面図、及びその接合部の拡大断面図である。
この電子デバイスは、セラミック基板100と、セラミック基板100の一方の主面上(上面)に接合された圧電振動片110と、圧電振動片110を覆うようにセラミック基板100上に周縁部を接合された凹状の金属蓋体120と、を有し、セラミック基板100と金属蓋体120とにより形成されるキャビティーT内に圧電振動片110が気密封止されている。
セラミック基板100は、アルミナから成る平板状のセラミック基材(絶縁基材)101と、その上面に形成された圧電振動片が接合される振動片接合端子102、及び金属蓋体接合用のメタライズ層103と、セラミック基材下面に形成された複数の外部実装端子104とを有している。
メタライズ層103は、セラミック基材101上に形成した銅等の配線材料105と、配線材料の表面を覆うように無電解メッキにより成膜された無電解ニッケル膜106とを有している。無電解ニッケル膜中にはリンが含有されている。
金属蓋体120は、例えばコバール等の基材120Aの下面に銀ロウ膜120Bを積層し、表面にニッケル膜120Aを積層した構成を備えている。また、金属蓋体120は、中央部に水平部120aを有し、その水平部120aの外周側で鈍角状に曲げられて側壁部120bが形成され、さらにその側壁部120bから外周側に水平に曲げられることにより当接脚部120cが形成されている。
FIGS. 8A and 8B are a longitudinal sectional view of an electronic device (quartz crystal unit) in which a cap-shaped metal lid 110 is joined on a ceramic substrate 100, and an enlarged sectional view of the joined portion.
This electronic device has a ceramic substrate 100, a piezoelectric vibrating piece 110 bonded on one main surface (upper surface) of the ceramic substrate 100, and a peripheral portion bonded onto the ceramic substrate 100 so as to cover the piezoelectric vibrating piece 110. The piezoelectric vibrating piece 110 is hermetically sealed in a cavity T formed by the ceramic substrate 100 and the metal lid 120.
The ceramic substrate 100 includes a flat ceramic base material (insulating base material) 101 made of alumina, a vibration piece bonding terminal 102 to which a piezoelectric vibration piece formed on the upper surface is bonded, and a metallized layer for bonding a metal lid. 103 and a plurality of external mounting terminals 104 formed on the lower surface of the ceramic substrate.
The metallized layer 103 includes a wiring material 105 such as copper formed on the ceramic substrate 101 and an electroless nickel film 106 formed by electroless plating so as to cover the surface of the wiring material. The electroless nickel film contains phosphorus.
The metal lid 120 has a configuration in which a silver brazing film 120B is laminated on the lower surface of a base material 120A such as Kovar, and a nickel film 120A is laminated on the surface. Further, the metal lid 120 has a horizontal portion 120a in the central portion, is bent at an obtuse angle on the outer peripheral side of the horizontal portion 120a to form a side wall portion 120b, and further horizontally extends from the side wall portion 120b to the outer peripheral side. The contact leg portion 120c is formed by being bent.

図8(b)に示すようにレーザー光を金属蓋体120の当接脚部(接合部)120aに照射することによって当接脚部の下面の銀ロウ膜120Bと、その直下に位置する無電解ニッケル膜106が溶融し、その後固化することにより、配線材料105と当接脚部とを接合することができる。
しかし、レーザー光の照射によって溶融する無電解ニッケル層106の溶融範囲106aは当接脚部120cの底面積を超えて内外へ拡大し、その一部106bはキャビティーTの内部に露出した状態となる。
この内部側の溶融範囲106bからは無電解ニッケル膜中に含まれているリン成分を含むガスがキャビティーT内に漏出するため、上記の如き不具合をもたらす。
As shown in FIG. 8B, the silver brazing film 120B on the lower surface of the contact leg portion is irradiated with laser light to the contact leg portion (joint portion) 120a of the metal lid body 120, and there is no blank. When the electrolytic nickel film 106 is melted and then solidified, the wiring material 105 and the contact leg can be joined.
However, the melting range 106a of the electroless nickel layer 106 that is melted by the irradiation of the laser light extends inward and outward beyond the bottom area of the contact leg portion 120c, and a part 106b is exposed inside the cavity T. Become.
Since the gas containing the phosphorus component contained in the electroless nickel film leaks into the cavity T from the melting range 106b on the inner side, the above-described problems occur.

本発明は、絶縁基材上に形成した無電解ニッケル膜上に、下面にロウ材膜を有した金属蓋体の周縁部をレーザー光の照射によって溶融する際に、無電解ニッケル膜の溶融範囲が金属蓋体の周縁部の底面積を超えて内外へ拡大し、その一部がキャビティーの内部に露出した状態となってガスを発生させる原因となるという不具合を解消することを目的としている。   The present invention relates to a melting range of an electroless nickel film when the peripheral part of a metal lid having a brazing material film on the lower surface is melted by laser light irradiation on an electroless nickel film formed on an insulating substrate. The purpose of this is to eliminate the problem that the gas expands inward and outward beyond the bottom area of the peripheral edge of the metal lid, and a part of it is exposed to the inside of the cavity and causes gas generation. .

本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following forms or application examples.

[適用例1]本適用例にかかる電子デバイスは、無電解ニッケル膜を含むメタライズ層を備えている絶縁基板と、前記絶縁基板の一面上に接合されている電子部品と、周縁部を含む一面にロウ材層を有し、前記メタライズ層に前記周縁部を前記ロウ材により接合して、前記電子部品を収容する内部空間を形成する金属蓋体と、を備え、前記内部空間にある前記無電解ニッケル膜が、ロウ材によって覆われていることを特徴とする。   Application Example 1 An electronic device according to this application example includes an insulating substrate provided with a metallized layer including an electroless nickel film, an electronic component bonded on one surface of the insulating substrate, and a surface including a peripheral portion. A metal lid that joins the peripheral portion to the metallized layer with the brazing material to form an internal space for housing the electronic component, and is provided in the internal space. The electrolytic nickel film is covered with a brazing material.

本適用例の圧電デバイスによれば、金属蓋体に形成された銀ロウ膜を一部溶融させて流
下させることにより形成した被覆ロウ材領域によって内側溶融部位を完全に被覆するよう
にしたので、内側溶融部位からのガスの生成を低減することができる。
According to the piezoelectric device of this application example, the inner melting site is completely covered by the coating brazing material region formed by partially melting and flowing down the silver brazing film formed on the metal lid. Generation of gas from the inner melting site can be reduced .

[適用例2]前記絶縁基材は前記電子部品を接合した一面が平坦面であり、前記金属蓋体は、前記内部空間を構成するための凹所を有していることを特徴とする。   Application Example 2 In the insulating base material, one surface where the electronic components are joined is a flat surface, and the metal lid has a recess for forming the internal space.

電子デバイスのパッケージには種々あるが、絶縁基材面を平坦とし、金属蓋体を逆椀状にしたタイプにも本発明を適用することができる。   Although there are various types of electronic device packages, the present invention can be applied to a type in which the insulating base surface is flat and the metal lid is inverted.

[適用例3]前記メタライズ層は、銅と、前記銅の外面を覆う前記無電解ニッケル膜と、から構成されていることを特徴とする。   Application Example 3 The metallization layer is characterized by being composed of copper and the electroless nickel film covering the outer surface of the copper.

無電解ニッケル膜は、ロウ材として利用することができるため、金属蓋体側の銀ロウ膜の膜厚を厚くすることなく、接合部の気密性を高めることができる。   Since the electroless nickel film can be used as a brazing material, the airtightness of the joint can be improved without increasing the film thickness of the silver brazing film on the metal lid side.

[適用例4]適用例1乃至3の何れか一項に記載の電子デバイスの製造方法であって、前記電子部品、前記絶縁基板、及び前記金属蓋体を夫々準備する工程と、前記絶縁基板上に前記電子部品を接合する工程と、前記絶縁基板上に前記金属蓋体を配置する工程と、前記周縁部よりも内側に加熱用の光、又は電子ビームを照射して、前記内部空間にあるロウ材を溶融させる工程と、を含むことを特徴とする。   Application Example 4 The method of manufacturing an electronic device according to any one of Application Examples 1 to 3, wherein the electronic component, the insulating substrate, and the metal lid are prepared, and the insulating substrate. A step of bonding the electronic component thereon, a step of disposing the metal lid on the insulating substrate, and irradiating heating light or an electron beam on the inner side of the peripheral portion to the inner space. And melting a certain brazing material.

本適用例によれば、金属蓋体に形成された銀ロウ膜を一部溶融させて流下させることに
より形成した被覆ロウ材領域によって内側溶融部位を完全に被覆するようにしたので、内
側溶融部位からのガスの生成を低減することができる。
According to this application example, the inner melting part is completely covered by the coating brazing material region formed by partially melting and flowing down the silver brazing film formed on the metal lid, so that the inner melting part The production of gas from can be reduced .

[適用例5]前記内部空間にあるロウ材を溶融させる工程と前記蓋体を接合する工程を、同時に実施することを特徴とする。   [Application Example 5] The step of melting the brazing material in the internal space and the step of joining the lid are performed simultaneously.

一回のレーザー照射により接合工程を実施してもよい。   You may implement a joining process by one laser irradiation.

[適用例6]適用例1乃至3の何れか一項に記載の前記圧電デバイスは圧電振動子であり、半導体素子を備えていることを特徴とする。   [Application Example 6] The piezoelectric device according to any one of Application Examples 1 to 3 is a piezoelectric vibrator and includes a semiconductor element.

本発明は圧電発振器にも適用することができる。   The present invention can also be applied to a piezoelectric oscillator.

[適用例7]適用例1乃至3の何れか一項に記載の電子デバイスを搭載したことを特徴とする電子機器である。   Application Example 7 An electronic apparatus including the electronic device according to any one of Application Examples 1 to 3.

本発明は電子機器にも適用することができる。   The present invention can also be applied to electronic devices.

本発明の電子デバイスの一例としての圧電デバイスの一実施形態の平面図である。It is a top view of one embodiment of a piezoelectric device as an example of an electronic device of the present invention. (a)は圧電デバイスを上側からみた一部断面平面図、(b)は(a)のA−A線に沿った縦断面図である。(A) is the partial cross section top view which looked at the piezoelectric device from the upper side, (b) is the longitudinal cross-sectional view along the AA line of (a). (a)及び(b)は図2(b)の一部(接合部)を拡大して詳しく説明する部分断面図である。(A) And (b) is a fragmentary sectional view which expands and demonstrates a part (joining part) of FIG.2 (b) in detail. (a)(b)及び(c)は本発明の他の実施形態に係る電子デバイスの一例としての圧電デバイスの縦断面図、及び要部拡大図である。(A) (b) And (c) is the longitudinal cross-sectional view of the piezoelectric device as an example of the electronic device which concerns on other embodiment of this invention, and the principal part enlarged view. 本発明に係る圧電デバイスの製造方法の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the manufacturing method of the piezoelectric device which concerns on this invention. グリーンシートによりセラミック基板を製造する過程を示す平面図である。It is a top view which shows the process in which a ceramic substrate is manufactured with a green sheet. 本発明のパッケージ接合構造を圧電発振器に適用した構成例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structural example which applied the package junction structure of this invention to the piezoelectric oscillator. (a)及び(b)はセラミック基板上にキャップ形状の金属蓋体を接合した電子デバイス(水晶振動子)の縦断面図、及びその接合部の拡大断面図である。(A) And (b) is a longitudinal cross-sectional view of the electronic device (quartz crystal unit) which joined the cap-shaped metal cover body on the ceramic substrate, and the expanded sectional view of the junction part. 本発明に係る電子機器の構成を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows the structure of the electronic device which concerns on this invention.

以下、本発明の好適な実施形態について、図面を参照しながら説明する。
図1は本発明の電子デバイスの一例としての圧電デバイスの一実施形態の平面図であり、図2(a)は圧電デバイスを上側からみた一部断面平面図、(b)は(a)のA−A線に沿った縦断面図である。なお、図2(a)では、圧電デバイスの内部の構造を説明する便宜上、圧電デバイスの上方に設けられる金属蓋体(19)の一部を切り欠いて図示している。また、図3(a)及び(b)は図2(b)の一部(接合部)を拡大して詳しく説明する部分断面図である。
Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a plan view of an embodiment of a piezoelectric device as an example of an electronic device of the present invention, FIG. 2 (a) is a partial sectional plan view of the piezoelectric device as viewed from above, and FIG. It is a longitudinal cross-sectional view along the AA line. In FIG. 2A, for convenience of explanation of the internal structure of the piezoelectric device, a part of the metal lid (19) provided above the piezoelectric device is cut out. FIGS. 3A and 3B are partial cross-sectional views illustrating in detail a part (joint portion) of FIG.

図1、図2において、圧電デバイス1は、絶縁基板としてのセラミック基板10と、セラミック基板10の一方の主面上(上面)に接合された電子部品としての圧電振動片20と、圧電振動片20を覆うようにセラミック基板10上に接合された凹状の金属蓋体19と、を有し、セラミック基板10と金属蓋体19とにより形成されるキャビティーT内に圧電振動片20が気密封止されている。
セラミック基板10と金属蓋体19は、パッケージを構成している。
セラミック基板10は、アルミナから成る平板状のセラミック基材(絶縁基材)11の一方の主面(上面)に圧電振動片20が接合される振動片接合端子18を有し、他方の主面(下面)に複数の外部実装端子16を有している。振動片接合端子18、及び、図示しないその他の端子は、セラミック基材11に設けた貫通孔(ビアホール)に高融点金属を含む導体ペーストを埋設することにより形成された層内配線(ビア)17により対応する外部実装端子16に接続されている。
1 and 2, a piezoelectric device 1 includes a ceramic substrate 10 as an insulating substrate, a piezoelectric vibrating piece 20 as an electronic component joined on one main surface (upper surface) of the ceramic substrate 10, and a piezoelectric vibrating piece. A concave metal lid 19 joined to the ceramic substrate 10 so as to cover the ceramic substrate 10, and the piezoelectric vibrating reed 20 is hermetically sealed in a cavity T formed by the ceramic substrate 10 and the metal lid 19. It has been stopped.
The ceramic substrate 10 and the metal lid 19 constitute a package.
The ceramic substrate 10 has a resonator element bonding terminal 18 to which the piezoelectric resonator element 20 is bonded to one main surface (upper surface) of a flat ceramic substrate (insulating substrate) 11 made of alumina, and the other main surface. A plurality of external mounting terminals 16 are provided on the (lower surface). The resonator element joining terminal 18 and other terminals (not shown) are formed in a layer wiring (via) 17 formed by embedding a conductive paste containing a refractory metal in a through hole (via hole) provided in the ceramic substrate 11. To the corresponding external mounting terminal 16.

外部実装端子16が設けられたセラミック基板10の一方の主面は圧電デバイス1の外底面となり、その外底面に設けられた外部実装端子16によって、圧電デバイス1を電子機器などの外部実装基板に実装することができる。本実施形態のセラミック基板10を構成するセラミック基材11はグリーンシートを成形・加工してから焼成することにより形成されている。
圧電振動片20は、例えば、水晶などの圧電体材料により形成された平板状の圧電基板の両主面に、対向電極としての励振電極25を設けた構成を有している。また、圧電振動片20の各主面の一端部側には外部接続電極26が設けられ、各々が対応する励振電極25から引き出された電極間配線により電気的に接続されている。なお、圧電振動片20の材質として、水晶以外の圧電体材料では、例えばタンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウムなどが挙げられ、また、圧電体材料以外では、シリコンなどを挙げることができる。セラミック基板10上(他方の主面側)において、圧電振動片20は、その一端側に設けられた外部接続電極26をセラミック基板10の対応する振動片接合端子18と位置合わせした状態で、例えば銀ペーストなどの接合部材30により電気的な接続をはかりながら接合され、他端部側を自由端として片持ち支持されている。
One main surface of the ceramic substrate 10 provided with the external mounting terminals 16 serves as an outer bottom surface of the piezoelectric device 1, and the external mounting terminals 16 provided on the outer bottom surface make the piezoelectric device 1 an external mounting substrate such as an electronic device. Can be implemented. The ceramic substrate 11 constituting the ceramic substrate 10 of the present embodiment is formed by forming and processing a green sheet and firing it.
The piezoelectric vibrating piece 20 has a configuration in which excitation electrodes 25 as counter electrodes are provided on both main surfaces of a flat plate-like piezoelectric substrate made of a piezoelectric material such as quartz. Further, an external connection electrode 26 is provided on one end side of each main surface of the piezoelectric vibrating piece 20, and each is electrically connected by an inter-electrode wiring drawn from the corresponding excitation electrode 25. In addition, as a material of the piezoelectric vibrating piece 20, examples of the piezoelectric material other than quartz include lithium tantalate and lithium niobate, and examples of materials other than the piezoelectric material include silicon. On the ceramic substrate 10 (the other main surface side), the piezoelectric vibrating piece 20 is in a state where the external connection electrode 26 provided on one end side thereof is aligned with the corresponding vibrating piece joining terminal 18 of the ceramic substrate 10, for example. They are joined together while being electrically connected by a joining member 30 such as silver paste, and are cantilevered with the other end as a free end.

金属蓋体19は、その凹部とセラミック基板10の圧電振動片20接合面とで囲まれたキャビティーT内に圧電振動片20を収容させることによって圧電振動片20の搭載領域を気密封止するためのものである。
凹状の金属蓋体19は、例えばコバール、42アロイ、あるいはリン青銅などの金属からなる板材を従来周知の板金加工により成形してなり、中央部下面に凹部(内部空間)が形成され、外周部には鍔状の当接脚部19cが環状に形成されている。すなわち、金属蓋体19は、中央部に水平部19aを有し、その水平部19aの外周側から斜め外側へ向けて下方へ延びる側壁部19bが形成され、さらに側壁部19bの下縁部を外周側に曲げることにより、金属蓋体19の外周部に水平部19aと略平行な環状の当接脚部19cが形成されている。
金属蓋体19は、セラミック基板の線膨張係数(7ppm/℃)に近い線膨張係数を有した金属材料であるコバール(線膨張係数:5.5ppm/℃)から成る基材19Aと、当接脚部19cを含む基材の下面にクラッド法により積層されたロウ材としての銀ロウ膜19Bと、基材19Aの上面にクラッド法により積層された酸化防止膜としてのニッケル膜19Cと、から構成されている。
なお、基材19Aの材料としては、コバール以外では、42ニッケル、SUSを使用することができる。
The metal lid 19 hermetically seals the mounting area of the piezoelectric vibrating piece 20 by accommodating the piezoelectric vibrating piece 20 in the cavity T surrounded by the recess and the bonding surface of the piezoelectric vibrating piece 20 of the ceramic substrate 10. Is for.
The concave metal lid 19 is formed by forming a plate material made of a metal such as Kovar, 42 alloy, or phosphor bronze by a conventionally well-known sheet metal working, and has a concave portion (internal space) formed on the lower surface of the central portion. Has a ring-shaped contact leg portion 19c. That is, the metal lid body 19 has a horizontal portion 19a at the center, a side wall portion 19b extending downward from the outer peripheral side of the horizontal portion 19a to the oblique outer side is formed, and a lower edge portion of the side wall portion 19b is further formed. By bending toward the outer peripheral side, an annular contact leg portion 19 c substantially parallel to the horizontal portion 19 a is formed on the outer peripheral portion of the metal lid 19.
The metal lid 19 is in contact with a base material 19A made of Kovar (linear expansion coefficient: 5.5 ppm / ° C.), which is a metal material having a linear expansion coefficient close to that of the ceramic substrate (7 ppm / ° C.). A silver brazing film 19B as a brazing material laminated on the lower surface of the base material including the leg portion 19c by the cladding method, and a nickel film 19C as an antioxidant film laminated on the upper surface of the base material 19A by the cladding method Has been.
As the material of the base material 19A, 42 nickel and SUS can be used except for Kovar.

図3に示すように当接脚部19cの下面が接合されるセラミック基板10の外周上面12には、振動片接合端子18と同一材料から成るメタライズ層13が形成されている。
この金属蓋体19は、水平部19aと側壁部19bとにより形成される凹部の開口部側をセラミック基板10側に向けた状態で、当接脚部19cをセラミック基板10のメタライズ層13に対向させて接合されている。
メタライズ層13は、セラミック基材上に積層された銅等の配線材料14と、配線材料14の外面を被覆するために無電解メッキにより積層形成された無電解ニッケル膜15と、から構成されている。
図3中に示すようにメタライズ層13を間に挟んで金属蓋体の当接脚部19c側からレーザー光、又は電子ビームを照射することにより銀ロウ膜19B、及び無電解ニッケル層15とを同時に溶融させて絶縁基材と金属蓋体とを接合することができる。
なお、上記実施形態では、メタラライズ膜13として銅等の配線材料14の外面に無電解ニッケル膜15を積層する構成を示したが、セラミック基材上に配線材料として直接無電解ニッケル膜を形成した構成としてもよい。
本発明は、無電解ニッケル膜を含むメタライズ層13を備えている絶縁基板10と、絶縁基板の一面上に接合されている電子部品20と、周縁部を含む一面にロウ材層を有し、メタライズ層に周縁部をロウ材により接合して、電子部品を収容する内部空間(接合部に含まれない)を形成する金属蓋体と、を備え、内部空間にある無電解ニッケル膜が、ロウ材によって覆われている点が特徴的である。
As shown in FIG. 3, a metallized layer 13 made of the same material as that of the resonator element joining terminal 18 is formed on the outer peripheral upper surface 12 of the ceramic substrate 10 to which the lower surface of the contact leg 19 c is bonded.
The metal lid 19 has the contact leg 19c facing the metallized layer 13 of the ceramic substrate 10 with the opening side of the recess formed by the horizontal portion 19a and the side wall portion 19b facing the ceramic substrate 10 side. Let them join.
The metallized layer 13 is composed of a wiring material 14 such as copper laminated on a ceramic base material, and an electroless nickel film 15 laminated and formed by electroless plating to cover the outer surface of the wiring material 14. Yes.
As shown in FIG. 3, the silver brazing film 19B and the electroless nickel layer 15 are formed by irradiating a laser beam or an electron beam from the contact leg 19c side of the metal lid with the metallized layer 13 interposed therebetween. At the same time, the insulating base and the metal lid can be joined by melting.
In the above-described embodiment, the electroless nickel film 15 is laminated on the outer surface of the wiring material 14 such as copper as the metallized film 13, but the electroless nickel film is directly formed on the ceramic substrate as the wiring material. It is good also as a structure.
The present invention has an insulating substrate 10 provided with a metallized layer 13 including an electroless nickel film, an electronic component 20 bonded on one surface of the insulating substrate, and a brazing material layer on one surface including a peripheral portion, A metal lid that joins the metallization layer with a brazing material to form an internal space (not included in the joint) that accommodates electronic components, and the electroless nickel film in the internal space is brazed. The point covered with the material is characteristic.

本実施形態では、セラミック基材上に形成した配線材料14上に直接無電解ニッケル膜を形成した構成例について説明する。
本実施形態では、図2、図3に示すように、セラミック基板10の上面のメタライズ層13と、金属蓋体19の当接脚部19cの下面とが、例えば、比較的低融点の合金からなる接合部材としての銀ロウ膜19Bを介して接合されている。
また、金属蓋体19は、メタライズ層13を介してセラミック基板10の図示しないグランド端子に電気的に接続されることが好ましい。このようにすれば、圧電デバイス1の使用時に、金属からなる金属蓋体19がグランド電位に保持されることにより、圧電振動片20を金属蓋体19のシールド効果によって外部からの不要な電気的作用、例えばノイズなどから保護することができる。
かくして上述した圧電デバイス1は、セラミック基板10の底面に設けられた外部実装端子16を介して圧電振動片20の両主面に設けられた励振電極25間に外部からの変動電圧を印加し、圧電振動片20の特性に応じた所定の周波数で振動を起こさせることによって圧電デバイス1として機能し、かかる圧電デバイス1の共振周波数に基づいて外部の発振回路で所定周波数の基準信号を発振・出力することができる。そして、このような基準信号は、例えば携帯用通信機器などの電子機器におけるクロック信号として利用することができる。
In the present embodiment, a configuration example in which an electroless nickel film is directly formed on a wiring material 14 formed on a ceramic substrate will be described.
In this embodiment, as shown in FIGS. 2 and 3, the metallized layer 13 on the upper surface of the ceramic substrate 10 and the lower surface of the contact leg 19 c of the metal lid 19 are made of, for example, a relatively low melting point alloy. It joins via the silver brazing film 19B as a joining member.
The metal lid 19 is preferably electrically connected to a ground terminal (not shown) of the ceramic substrate 10 through the metallized layer 13. In this way, when the piezoelectric device 1 is used, the metal lid body 19 made of metal is held at the ground potential, so that the piezoelectric vibrating piece 20 can be electrically connected to the outside due to the shielding effect of the metal lid body 19. It is possible to protect from effects such as noise.
Thus, the piezoelectric device 1 described above applies a variable voltage from the outside between the excitation electrodes 25 provided on both main surfaces of the piezoelectric vibrating piece 20 via the external mounting terminals 16 provided on the bottom surface of the ceramic substrate 10. It functions as the piezoelectric device 1 by causing vibration at a predetermined frequency according to the characteristics of the piezoelectric vibrating piece 20, and based on the resonance frequency of the piezoelectric device 1, an external oscillation circuit oscillates and outputs a reference signal of the predetermined frequency. can do. Such a reference signal can be used as a clock signal in an electronic device such as a portable communication device.

ところで、銀ロウ膜19Bは、周知のように銀と銅とから成り、融点が700〜800度程度である。一方、メタライズ層13の表層部の材質としての無電解ニッケルも銀ロウに近い融点を有している。このため、レーザー光を照射して銀ロウ19Bを溶融させる際に、照射部位に位置するメタライズ層を構成する無電解ニッケルも溶融して接合に寄与する。このように金属蓋体側に設けた銀ロウと、セラミック基板側に設けた無電解ニッケル膜との協働によって当接脚部19cとセラミック基板とを気密的に接合することができる。銀ロウは高価であるため、無電解ニッケル膜15をロウ材として利用することにより銀ロウの使用量を低減して金属蓋体の価格を低下させることができる。   Incidentally, the silver brazing film 19B is made of silver and copper as is well known, and has a melting point of about 700 to 800 degrees. On the other hand, electroless nickel as the material of the surface layer portion of the metallized layer 13 also has a melting point close to that of silver solder. For this reason, when the silver solder 19B is melted by irradiating the laser beam, the electroless nickel constituting the metallized layer located at the irradiated site is also melted and contributes to the bonding. In this manner, the contact leg 19c and the ceramic substrate can be hermetically joined by the cooperation of the silver brazing provided on the metal lid side and the electroless nickel film provided on the ceramic substrate side. Since silver solder is expensive, by using the electroless nickel film 15 as a brazing material, the amount of silver solder used can be reduced and the price of the metal lid can be reduced.

ところで、このようにメタライズ層13の一部として無電解ニッケル膜15を用いた場合には、レーザー光の照射によって溶融したニッケル部分からリン(P)成分から成るガスが放出されることが確認されている。これは、無電解メッキによりニッケル膜を生成する際にはリンを混合せざるを得ないためである。このガスがセラミック基板と金属蓋体との間に形成されるキャビティーT内に排出される場合には、電子デバイスが水晶振動子である場合には、エージングによる周波数特性、インピーダンスが変化するという問題を起こす。
このような不具合を解決する本発明の圧電デバイス1の特徴的な構成は、図3(b)に示すように、無電解ニッケル膜15と金属蓋体の周縁部(当接脚部)とが直接接合する接合領域35を越えてキャビティーTの内側に延びる無電解ニッケル膜の内側溶融部位15bを覆うために、銀ロウ膜19Bの他の一部を溶融後固化させることによって形成された被覆ロウ材領域36を備えた点にある。
直接接合領域35は当接脚部19cの下面の面積に相当する無電解ニッケル膜の範囲に相当する領域であるが、加熱用の光、例えばレーザー光1、ハロゲンランプの光、或いは電子ビームを図3(a)のように当接脚部19cの上面に照射すると、直接接合領域35を越えて無電解ニッケル膜が溶融する範囲15aが拡大する。直接接合領域35を越えて溶融する無電解ニッケル膜の範囲15aのうちの金属蓋体の内部側に位置する部位(内側溶融部位)15bはリン成分から成るガスの発生源となり、キャビティーT内に発生したガスは電子部品の特性を低下させる原因となる。
By the way, when the electroless nickel film 15 is used as a part of the metallized layer 13 in this way, it has been confirmed that a gas composed of a phosphorus (P) component is released from the molten nickel portion by laser light irradiation. ing. This is because phosphorus must be mixed when producing a nickel film by electroless plating. When this gas is discharged into the cavity T formed between the ceramic substrate and the metal lid, if the electronic device is a crystal resonator, the frequency characteristics and impedance due to aging change. Cause problems.
As shown in FIG. 3B, the characteristic configuration of the piezoelectric device 1 of the present invention that solves such a problem is that the electroless nickel film 15 and the peripheral edge portion (contact leg portion) of the metal lid body. A coating formed by melting and solidifying another part of the silver brazing film 19B in order to cover the inner melting portion 15b of the electroless nickel film extending to the inside of the cavity T beyond the bonding region 35 to be directly bonded The brazing material region 36 is provided.
The direct bonding region 35 is a region corresponding to the range of the electroless nickel film corresponding to the area of the lower surface of the contact leg portion 19c, and is used for heating light, for example, laser light 1, halogen lamp light, or electron beam. When the upper surface of the contact leg 19c is irradiated as shown in FIG. 3A, the range 15a where the electroless nickel film melts beyond the direct joining region 35 is expanded. A portion (inner melting portion) 15b located on the inner side of the metal lid in the electroless nickel film range 15a that melts beyond the direct joining region 35 serves as a source of gas composed of a phosphorus component and is contained in the cavity T. The generated gas causes deterioration of the characteristics of the electronic component.

本発明ではこのような不具合に対処するために、図3(b)のように、当接脚部19cの裏面に積層された銀ロウ膜19B’よりも内側寄りの側壁部19b裏面に積層された銀ロウ膜19B”の一部を溶融させ、溶融して流動性が高まった銀ロウを内側溶融部位13b上に流下させて内側溶融部位13bを完全に被覆させるようにした。
このように銀ロウ膜19B”を溶融させるためには、例えば(a)中に示したようにレーザー光1を照射した後で、(b)に示したようにレーザー光2を側壁部19bの外面に照射して、内側溶融部位13bを被覆するに十分な量の銀ロウを溶融させる。
或いは、レーザー光のスポット径を大きくして一回の照射によって当接脚部19cと側壁部19bの外面を同時に加熱して、夫々の裏面に積層された銀ロウを溶融させるようにしてもよい。
In the present invention, in order to cope with such a problem, as shown in FIG. 3B, it is laminated on the back surface of the side wall portion 19b closer to the inner side than the silver brazing film 19B ′ laminated on the back surface of the contact leg portion 19c. In addition, a part of the silver brazing film 19B ″ was melted, and the silver wax whose fluidity was increased by melting was caused to flow down on the inner melting part 13b to completely cover the inner melting part 13b.
In order to melt the silver brazing film 19B ″ in this way, for example, after the laser beam 1 is irradiated as shown in (a), the laser beam 2 is applied to the side wall portion 19b as shown in (b). Irradiate the outer surface to melt a sufficient amount of silver wax to cover the inner melting portion 13b.
Alternatively, the spot diameter of the laser beam may be increased and the outer surfaces of the contact leg portion 19c and the side wall portion 19b may be simultaneously heated by a single irradiation to melt the silver braze laminated on the respective back surfaces. .

本実施形態の圧電デバイス1においては、金属蓋体19と接合される配線材料14の表面を銀ロウと同等の融点を有した無電解セラミック膜15により覆ったため、金属蓋体裏面の銀ロウと協働して接合に寄与することができ、高価な銀ロウの使用量を低減することができる。即ち、グリーンシートを焼成することによって形成したセラミック基材の表面には本来的に微小な凹凸が形成されており、この凹凸上に配線材料を形成すると配線材料表面に凹凸が反映された凹凸部が形成される。また、金属蓋体は薄い金属板を絞り加工によりキャップ状に成形したものであるため、各所に反りがある。このような金属蓋体を配線材料表面に接合し、金属蓋体側の銀ロウ膜19Bを溶融させて接合すると、凹凸や反りに起因して溶融不良、密着不良が発生し易くなる。このような不具合を解消するためには、金属蓋体側の銀ロウ膜19Bを厚肉にすることが有効ではあるが、銀ロウは高価であるため、金属蓋体のコストアップを招く。本発明では、配線材料14上に被覆した無電解ニッケル膜15をロウ材として利用することができるため、金属蓋体側の銀ロウ膜19Bの膜厚を厚くすることなく、接合部の気密性を高めることができる。   In the piezoelectric device 1 of the present embodiment, the surface of the wiring material 14 to be joined to the metal lid 19 is covered with the electroless ceramic film 15 having a melting point equivalent to that of silver brazing. It can cooperate and contribute to joining, and the amount of expensive silver solder used can be reduced. In other words, the surface of the ceramic substrate formed by firing the green sheet is inherently formed with minute irregularities, and when the wiring material is formed on the irregularities, the irregularities are reflected on the wiring material surface. Is formed. Further, since the metal lid is a cap formed by drawing a thin metal plate, there are warps in various places. When such a metal lid is bonded to the surface of the wiring material and the silver brazing film 19B on the metal lid side is melted and bonded, defective melting and poor adhesion are likely to occur due to unevenness and warpage. In order to solve such a problem, it is effective to make the silver brazing film 19B on the metal lid side thick. However, since the silver brazing is expensive, the cost of the metal lid is increased. In the present invention, since the electroless nickel film 15 coated on the wiring material 14 can be used as a brazing material, the airtightness of the joint can be increased without increasing the film thickness of the silver brazing film 19B on the metal lid side. Can be increased.

なお、無電解ニッケル膜に代えて、無電解パラジウム膜(Pd−P)を用いてもよく、
無電解パラジウムも無電解ニッケルと同様に、ロウ材として機能することができる。
また、レーザー光を照射して当接脚部19cを無電解セラミック膜15と接合する際に
キャビティーTの内部側に無電解ニッケル膜の溶融範囲が拡大してキャビティー内に露出
した内側溶融部位15bが形成されるが、当接脚部の内側端部から起立した側壁部19b
の内側に形成された銀ロウ膜19B”を一部溶融させて流下させることにより形成した被
覆ロウ材領域36によって内側溶融部位15bを完全に被覆するようにしたので、内側溶
融部位からのガスの生成を低減することができる。
In place of the electroless nickel film, an electroless palladium film (Pd-P) may be used.
Similarly to electroless nickel, electroless palladium can also function as a brazing material.
Further, when the contact leg 19c is bonded to the electroless ceramic film 15 by irradiating the laser beam, the melting range of the electroless nickel film is expanded on the inner side of the cavity T, and the inner melting exposed in the cavity. A portion 15b is formed, but the side wall portion 19b stands up from the inner end of the contact leg portion.
Since the inner brazing part 15b is completely covered with the coating brazing material region 36 formed by partially melting and flowing down the silver brazing film 19B "formed on the inner side, the gas from the inner melting part Production can be reduced .

次に、図4(a)(b)及び(c)は本発明の他の実施形態に係る電子デバイスの一例としての圧電デバイスの縦断面図、及び要部拡大図である。
この圧電デバイス40が前記実施形態に係る圧電デバイスと異なる点は、セラミック基板10が平板状ではなく、上面中央部に凹陥部41を有し、凹陥部41を包囲するように環状外枠42が形成されている構成にある。なお、図1の圧電デバイスと同一部材には同一符号を付して説明する。
セラミック基板10は、セラミック基材11の下面に複数の外部実装端子16を有し、他方の主面に設けた凹陥部41の内底面に圧電振動片20が接合される振動片接合端子18を有している。振動片接合端子18、及び、図示しないその他の端子は、層内配線(ビア)17により対応する外部実装端子16に接続されている。
圧電振動片20は、その一端側に設けられた外部接続電極を対応する振動片接合端子18と位置合わせした状態で、例えば銀ペーストなどの接合部材30により電気的な接続をはかりながら接合され、他端部側を自由端として片持ち支持されている。
Next, FIGS. 4A, 4 </ b> B, and 4 </ b> C are a longitudinal sectional view and an enlarged view of a main part of a piezoelectric device as an example of an electronic device according to another embodiment of the present invention.
The piezoelectric device 40 is different from the piezoelectric device according to the above embodiment in that the ceramic substrate 10 is not flat and has a recessed portion 41 at the center of the upper surface, and an annular outer frame 42 surrounds the recessed portion 41. It is in the structure formed. The same members as those in the piezoelectric device of FIG.
The ceramic substrate 10 has a plurality of external mounting terminals 16 on the lower surface of the ceramic substrate 11, and the resonator element bonding terminal 18 to which the piezoelectric resonator element 20 is bonded to the inner bottom surface of the recessed portion 41 provided on the other main surface. Have. The resonator element joining terminals 18 and other terminals (not shown) are connected to corresponding external mounting terminals 16 by intra-layer wirings (vias) 17.
The piezoelectric vibrating piece 20 is bonded while being electrically connected by a bonding member 30 such as a silver paste in a state where the external connection electrode provided on one end side thereof is aligned with the corresponding vibrating piece bonding terminal 18. The other end side is cantilevered as a free end.

平板状の金属蓋体19は、例えばコバール、42アロイ、あるいはリン青銅などの金属から構成する。
金属蓋体19は、セラミック基板の線膨張係数(7ppm/℃)に近い線膨張係数を有した金属材料であるコバール(線膨張係数:5.5ppm/℃)から成る基材19Aと、基材の下面にクラッド法により積層されたロウ材としての銀ロウ19Bと、基材19Aの上面にクラッド法により積層された酸化防止膜としてのニッケル膜19Cと、から構成されている。なお、基材19Aの材料としては、コバール以外では、42ニッケル、SUSを使用することができる。
セラミック基板の環状外枠42の上面には、無電解メッキにより成膜された無電解ニッケル膜15から成るメタライズ層13が形成されている。
The flat metal lid 19 is made of a metal such as Kovar, 42 alloy, or phosphor bronze.
The metal lid 19 includes a base material 19A made of Kovar (linear expansion coefficient: 5.5 ppm / ° C.), which is a metal material having a linear expansion coefficient close to that of the ceramic substrate (7 ppm / ° C.), and a base material A silver solder 19B as a brazing material laminated on the lower surface of the substrate by a clad method, and a nickel film 19C as an antioxidant film laminated on the upper surface of the base material 19A by a clad method. As the material of the base material 19A, 42 nickel and SUS can be used except for Kovar.
On the upper surface of the annular outer frame 42 of the ceramic substrate, the metallized layer 13 made of the electroless nickel film 15 formed by electroless plating is formed.

本発明では、ロウ材として機能する無電解ニッケル膜15をセラミック基材11と金属蓋体との間に介在させることにより、金属蓋体下面の銀ロウ19Bの膜厚を厚くせずにセラミック基材11と金属蓋体19との接合強度、気密性を高めることができる。このため、金属蓋体下面の銀ロウを薄肉化してコストダウンを図ることができる。
金属蓋体19は、外周下面を無電解ニッケル膜15と当接させた状態で、レーザー光、或いは電子ビームを図4(b)に示したように照射して銀ロウ19B、及び無電解ニッケル膜15を溶融、固化させることによって、環状外枠42の上面に接合一体化される。
この際、無電解ニッケル膜15と接するのは金属蓋体19の外周下面であるが、レーザー光1を図4(a)のように金属蓋体の上面に照射すると、無電解ニッケル膜が溶融する範囲15aは金属蓋体と直接接触する直接接合領域35を越えて拡大する。
溶融範囲15aのうちの内側端部(内側溶融部位)15cは、キャビティーT内部に露出しているため、リン成分から成るガスの発生源となり、キャビティーT内に発生したガスは電子部品の特性を低下させる原因となる。
In the present invention, the electroless nickel film 15 functioning as a brazing material is interposed between the ceramic substrate 11 and the metal lid, so that the thickness of the silver braze 19B on the lower surface of the metal lid is not increased. Bonding strength and airtightness between the material 11 and the metal lid 19 can be enhanced. For this reason, it is possible to reduce the cost by reducing the thickness of the silver solder on the lower surface of the metal lid.
The metal lid 19 is irradiated with a laser beam or an electron beam as shown in FIG. 4B in a state where the outer peripheral lower surface is in contact with the electroless nickel film 15, and the silver solder 19B and the electroless nickel. By melting and solidifying the film 15, it is joined and integrated with the upper surface of the annular outer frame 42.
At this time, the lower surface of the outer periphery of the metal lid 19 is in contact with the electroless nickel film 15. However, when the laser beam 1 is irradiated on the upper surface of the metal lid as shown in FIG. 4A, the electroless nickel film is melted. The area 15a to be expanded extends beyond the direct joining region 35 that is in direct contact with the metal lid.
Since the inner end portion (inner melting portion) 15c in the melting range 15a is exposed inside the cavity T, it becomes a gas generation source composed of a phosphorus component, and the gas generated in the cavity T is an electronic component. It becomes a cause of deteriorating the characteristics.

本発明ではこのような不具合に対処するために、図4(c)のように、金属蓋体の外周下面に積層された銀ロウ膜19B’よりも内側寄りの基材19A裏面に積層された銀ロウ膜19B”の一部を溶融させ、溶融して流動性が高まったロウ材を露出状態にある内側端部15c上に流下させることにより形成した被覆ロウ材領域36により内側端部15cを完全に被覆させるようにした。
このように銀ロウ膜19B”を溶融させるためには、例えば(b)に示したようにレーザー光1を照射した後で、(c)に示したようにレーザー光2をレーザー光1による照射範囲よりも内側の金属蓋体外面に照射して、内側端部15cを被覆するに十分な量のロウ材を溶融させて被覆ロウ材領域36を形成する。
In the present invention, in order to cope with such a problem, as shown in FIG. 4C, it is laminated on the back surface of the base material 19A closer to the inner side than the silver brazing film 19B ′ laminated on the lower surface of the outer periphery of the metal lid. A part of the silver brazing film 19B ″ is melted, and the inner end portion 15c is formed by the covering brazing material region 36 formed by flowing the molten brazing material having increased fluidity upon flowing onto the exposed inner end portion 15c. It was made to completely coat.
In order to melt the silver brazing film 19B ″ in this way, for example, after the laser beam 1 is irradiated as shown in (b), the laser beam 2 is irradiated with the laser beam 1 as shown in (c). An amount of brazing material sufficient to cover the inner end portion 15c is melted by irradiating the outer surface of the metal lid body inside the range to form the coated brazing material region 36.

或いは、レーザー光のスポット径を大きくして一回の照射によって銀ロウ膜19B’及
び19B”の表面側を同時に加熱して、各ロウ材を溶融させるようにしてもよい。
このようにレーザー光を照射して金属蓋体の外周下面を無電解セラミック膜15と接合
する際にキャビティーTの内部側に無電解ニッケル膜の溶融範囲が拡大してキャビティー
内に露出した内側端部15cが形成されるが、内側端部15cに対応する位置にある金属
蓋体の内側に形成された銀ロウ膜19B”を一部溶融させて流下させることにより内側端
部15cを被覆ロウ材領域36により完全に被覆するようにしたので、内側端部からのガ
スの生成を低減することができる。
Alternatively, the surface diameter of the silver brazing films 19B ′ and 19B ″ may be simultaneously heated by increasing the spot diameter of the laser beam and melting each brazing material.
Thus, when the outer peripheral lower surface of the metal lid is joined to the electroless ceramic film 15 by irradiating the laser beam, the melting range of the electroless nickel film is expanded inside the cavity T and exposed in the cavity. The inner end portion 15c is formed, and the inner end portion 15c is covered by partially melting and flowing down the silver brazing film 19B "formed on the inner side of the metal lid at a position corresponding to the inner end portion 15c. Since the brazing material region 36 is completely covered, generation of gas from the inner end can be reduced .

次に、図5は本発明に係る圧電デバイスの製造方法の一例を示すフローチャートである。また、図6はグリーンシートによりセラミック基板を製造する過程を示す平面図である。
なお、本例では図1、図2に示した電子デバイスの製造方法を説明するが、図4に係る電子デバイスについても同等の手順による製造が可能である。
圧電デバイス1の製造工程は、圧電振動片20、セラミック基板10、及び金属蓋体19をそれぞれ準備する前工程と、セラミック基板10上に圧電振動片20を接合してから金属蓋体19を接合して圧電振動片20を気密封止する後工程(組立工程)とに大別することができる。まず、前工程のうち、圧電振動片20、及び金属蓋体19の準備について概略を説明する。
Next, FIG. 5 is a flowchart showing an example of a method for manufacturing a piezoelectric device according to the present invention. FIG. 6 is a plan view showing a process of manufacturing a ceramic substrate using a green sheet.
In this example, the manufacturing method of the electronic device shown in FIGS. 1 and 2 will be described. However, the electronic device according to FIG. 4 can be manufactured by the same procedure.
The manufacturing process of the piezoelectric device 1 includes a pre-process for preparing the piezoelectric vibrating piece 20, the ceramic substrate 10, and the metal lid 19, and joining the piezoelectric vibrating piece 20 on the ceramic substrate 10 and then joining the metal lid 19. Thus, it can be roughly divided into a post-process (assembly process) for hermetically sealing the piezoelectric vibrating piece 20. First, an outline of the preparation of the piezoelectric vibrating piece 20 and the metal lid 19 in the previous process will be described.

ステップS1−1に示す圧電振動片20準備では、圧電振動片20を製造して圧電デバイス1組立ができる形態にする。圧電振動片20は、例えば水晶などの圧電体材料を所定のサイズに切り出して研磨した大判のウェハーに複数並べて一括形成することができる。概要を説明すると、まず、結晶軸に対して所定のカット角で切り出してから所望の厚さ及び表面状態となるように研磨加工した大判の水晶基板(水晶ウェハー)を準備する。そして、フォトリソグラフィを用いたウェットエッチングにより、水晶基板に複数の圧電振動片20の外形を形成する。なお、圧電振動片20の外形は、水晶基板から完全に切り離されないようにミシン目状の折り取り部などにより水晶ウェハーにつなげたまま、以降の工程を水晶基板(ウェハー)状態にて効率的に流動することが好ましい。そして、スパッタリングや蒸着などによって、励振電極25や外部接続電極26などの電極形成を行うことにより、水晶ウェハーに複数の圧電振動片20がマトリクス状に形成される。
ステップS1−3に示す金属蓋体19準備では、金属蓋体19を製造して圧電デバイス1組立ができる形態にする。金属蓋体19は、例えば、42アロイやコバール、あるいはリン青銅などの金属からなる板状の基材19Aの表面にニッケル膜19Cを、裏面に銀ロウ19Bを夫々クラッド法により積層一体化した構成を有し、従来周知の板金加工により成形することによって、中央部に凹部が形成され、外周部に当接脚部19cが環状に設けられた金属蓋体19を形成する。
In the preparation of the piezoelectric vibrating piece 20 shown in step S1-1, the piezoelectric vibrating piece 20 is manufactured so that the piezoelectric device 1 can be assembled. A plurality of piezoelectric vibrating reeds 20 can be collectively formed by arranging a plurality of large-size wafers obtained by cutting and polishing a piezoelectric material such as quartz into a predetermined size. The outline will be described. First, a large crystal substrate (crystal wafer) that is cut out at a predetermined cut angle with respect to the crystal axis and then polished to have a desired thickness and surface state is prepared. Then, the outer shape of the plurality of piezoelectric vibrating pieces 20 is formed on the quartz substrate by wet etching using photolithography. In addition, the outer shape of the piezoelectric vibrating piece 20 is efficiently connected to the crystal wafer (wafer) while being connected to the crystal wafer by a perforated break-off portion or the like so as not to be completely separated from the crystal substrate. It is preferable to flow. Then, by forming electrodes such as the excitation electrode 25 and the external connection electrode 26 by sputtering or vapor deposition, a plurality of piezoelectric vibrating reeds 20 are formed in a matrix on the quartz wafer.
In the preparation of the metal lid 19 shown in step S1-3, the metal lid 19 is manufactured so that the piezoelectric device 1 can be assembled. The metal lid 19 has a structure in which, for example, a nickel film 19C is laminated on the surface of a plate-like base material 19A made of a metal such as 42 alloy, Kovar, or phosphor bronze, and a silver solder 19B is laminated and integrated on the back surface by a cladding method. And forming a metal lid body 19 having a concave portion formed in the central portion and a contact leg portion 19c provided in an annular shape on the outer peripheral portion.

次に、セラミック基板10の製造から圧電デバイス1組立までの製造工程を続けて説明する。
本実施形態では、セラミック基板10の基材としてセラミックのグリーンシート51が用いられており、セラミック基板10の製造では、ステップS1−2において準備したグリーンシートをステップS2において焼成する。次いで、ステップS3において焼成済みのグリーンシートに対してセミアディティブ法を用いて配線材料14、振動片接合端子18、外部実装端子19を夫々銅を用いて形成する。なお、銅から成る配線材料14の表面に対して、無電解メッキにより無電解ニッケル膜15を積層形成する。
以上、ステップS1−2のグリーンシート51準備からステップS2、S3までのステップにより、セラミック基板10がマトリクス状に複数形成されたグリーンシートが完成する(図6を参照)。
なお、この段階で、グリーンシート51から個片のセラミック基板10に分割することもできる。例えば、複数の圧電デバイス形成領域1Aがマトリクス状に形成されたグリーンシート51を、圧電デバイス形成領域1A間に形成される縦横のダイシングラインに沿ってダイシングすることなどにより、個片のセラミック基板10を得ることができる。
Next, the manufacturing process from manufacturing the ceramic substrate 10 to assembling the piezoelectric device 1 will be described.
In the present embodiment, a ceramic green sheet 51 is used as a base material of the ceramic substrate 10, and in manufacturing the ceramic substrate 10, the green sheet prepared in step S1-2 is fired in step S2. Next, in step S3, the wiring material 14, the resonator element joining terminal 18, and the external mounting terminal 19 are respectively formed on the fired green sheet by using a semi-additive method using copper. An electroless nickel film 15 is laminated on the surface of the wiring material 14 made of copper by electroless plating.
As described above, a green sheet in which a plurality of ceramic substrates 10 are formed in a matrix is completed by the steps from preparation of the green sheet 51 in step S1-2 to steps S2 and S3 (see FIG. 6).
At this stage, the green sheet 51 can be divided into individual ceramic substrates 10. For example, the green sheet 51 in which the plurality of piezoelectric device forming regions 1A are formed in a matrix is diced along vertical and horizontal dicing lines formed between the piezoelectric device forming regions 1A, and the like, for example. Can be obtained.

本実施形態では、複数のセラミック基板10が形成されたグリーンシート51の状態のままで、圧電デバイス1の組立を効率的に行う方法について、以下、説明する。
圧電デバイス組立工程では、まず、ステップS4に示すように、グリーンシート51の各圧電デバイス形成領域1Aに、上記ステップS1−1で準備した圧電振動片20を接合する。具体的には、まず、各圧電デバイス形成領域1Aの振動片接合端子18上に、ディスペンサーやスクリーン印刷などにより銀ペーストなどの接合部材39を塗布してから、圧電振動片20の一端側に設けられた外部接続電極26を、対応する振動片接合端子18に位置合わせして仮止めする。そして、接合部材39の硬化方法に応じた処理、例えば、熱硬化型の接合部材39であれば所定の温度で加熱し、また、紫外線硬化型の接合部材であれば紫外線を照射することにより接合部材39を固化させて、圧電振動片20を片持ち支持された態様に接合する。
In the present embodiment, a method for efficiently assembling the piezoelectric device 1 in the state of the green sheet 51 on which the plurality of ceramic substrates 10 are formed will be described below.
In the piezoelectric device assembly process, first, as shown in step S4, the piezoelectric vibrating reed 20 prepared in step S1-1 is joined to each piezoelectric device forming region 1A of the green sheet 51. Specifically, first, a bonding member 39 such as a silver paste is applied to the vibrating piece bonding terminal 18 in each piezoelectric device forming region 1A by a dispenser or screen printing, and then provided on one end side of the piezoelectric vibrating piece 20. The formed external connection electrode 26 is positioned and temporarily fixed to the corresponding resonator element joining terminal 18. Then, a process according to the curing method of the joining member 39, for example, if the thermosetting joining member 39 is heated at a predetermined temperature, and if it is an ultraviolet curable joining member, the joining is performed by irradiating with ultraviolet rays. The member 39 is solidified, and the piezoelectric vibrating piece 20 is joined in a cantilevered manner.

次に、ステップS5において、圧電振動片20が接合されたグリーンシート51の各圧電デバイス形成領域1Aに金属蓋体19を配置する。金属蓋体19の当接脚部19cの下面の銀ロウ19Bは、セラミック基板上のメタライズ層13(配線材料14、無電解ニッケル膜15)と互いに整合する位置関係で位置決めされている。
次に、ステップS6の金属蓋体接合工程においては、図3(a)に示したように当接脚部19cの上面に向けて所要スポット径を有したレーザー光1を照射して銀ロウ19Bを加熱溶融させることにより、当接脚部とメタライズ層とを気密的に接合する。この際、メタライズ層の表層を構成する無電解ニッケル膜15が銀ロウと共に溶融し、その後固化するため、気密性をより高めることができる。
更に、本実施形態では、レーザー光1を照射した後で、図3(b)に示したようにレーザー光2をレーザー光1による照射範囲よりも内側の金属蓋体外面に照射して、内側端部15cを被覆するに十分な量のロウ材を溶融させて被覆ロウ材領域36を形成する。
或いは、レーザー光のスポット径を大きくして一回の照射によって銀ロウ膜19B’及び19B”の表面側を同時に加熱して、各ロウ材を溶融させるようにしてもよい。
Next, in step S5, the metal lid 19 is disposed in each piezoelectric device forming region 1A of the green sheet 51 to which the piezoelectric vibrating piece 20 is bonded. The silver brazing 19B on the lower surface of the contact leg 19c of the metal lid 19 is positioned in a positional relationship that is aligned with the metallized layer 13 (wiring material 14, electroless nickel film 15) on the ceramic substrate.
Next, in the metal lid joining process of step S6, as shown in FIG. 3A, the laser beam 1 having a required spot diameter is irradiated toward the upper surface of the contact leg 19c to silver brazing 19B. Is heated and melted to hermetically bond the contact leg and the metallized layer. At this time, since the electroless nickel film 15 constituting the surface layer of the metallized layer is melted together with the silver wax and then solidified, the airtightness can be further improved.
Furthermore, in this embodiment, after irradiating the laser beam 1, as shown in FIG. 3B, the laser beam 2 is irradiated on the outer surface of the metal lid inside the irradiation range by the laser beam 1, and the inner side A sufficient amount of brazing material for covering the end portion 15c is melted to form the covering brazing material region.
Alternatively, the surface diameter of the silver brazing films 19B ′ and 19B ″ may be simultaneously heated by increasing the spot diameter of the laser beam and melting each brazing material.

このようにレーザー光を照射して金属蓋体の外周下面を無電解セラミック膜15と接合
する際にキャビティーTの内部側に無電解ニッケル膜の溶融範囲が拡大してキャビティー
内に露出した内側端部15cが形成されるが、内側端部15cに対応する位置にある金属
蓋体の内側に形成された銀ロウ膜19B”を一部溶融させて流下させることにより被覆ロ
ウ材領域36を形成して内側端部15cを完全に被覆するようにしたので、内側端部から
のガスの生成を低減することができる。
なお、上述した一連のセラミック基板10への金属蓋体接合ステップ(ステップS5の
金属蓋体配置、及び、ステップS6の金属蓋体接合)は、例えば、窒素ガスやアルゴンガ
スなどの不活性ガス雰囲気、あるいは減圧空間内で行うことが好ましい。これによって、
圧電振動片20が収納されるセラミック基板10と金属蓋体19とにより形成されるキャ
ビティーTの内部が不活性ガスが充満され、あるいは減圧空間に密閉・封止されるので、
圧電振動片20が酸素や大気中の水分などによって腐食・劣化するのを有効に低減するこ
とができる。
以上、説明した一連のステップを経て、グリーンシート51に、複数の圧電デバイス1
がマトリクス状に形成される。
Thus, when the outer peripheral lower surface of the metal lid is joined to the electroless ceramic film 15 by irradiating the laser beam, the melting range of the electroless nickel film is expanded inside the cavity T and exposed in the cavity. The inner end portion 15c is formed, and a part of the silver brazing film 19B "formed on the inner side of the metal lid at a position corresponding to the inner end portion 15c is partially melted and allowed to flow down to thereby form the covering brazing material region 36. Since the inner end 15c is completely formed, the generation of gas from the inner end can be reduced .
In addition, the above-described series of metal lid joining steps to the ceramic substrate 10 (metal lid arrangement in step S5 and metal lid joining in step S6) include, for example, an inert gas atmosphere such as nitrogen gas or argon gas. Alternatively, it is preferable to carry out in a reduced pressure space. by this,
Since the inside of the cavity T formed by the ceramic substrate 10 in which the piezoelectric vibrating piece 20 is accommodated and the metal lid 19 is filled with an inert gas, or is sealed and sealed in a decompression space,
It is possible to effectively reduce the corrosion and deterioration of the piezoelectric vibrating piece 20 due to oxygen, moisture in the atmosphere, and the like.
Through the series of steps described above, a plurality of piezoelectric devices 1 are formed on the green sheet 51.
Are formed in a matrix.

次に、ステップS7の分割工程において、上述したステップS6までのステップを経たグリーンシート51を分割して複数の個片の圧電デバイス1を同時に得る。
分割ステップにより得られた圧電デバイス1は、ステップS8において、電気的特性や外観品質の検査を行なうことにより完成され、一連の圧電デバイス1の製造工程を終了する。
上記実施形態及び変形例で説明した特定の形態、例えば、セラミック基板10、あるいは電子部品としての圧電振動片20などの形状は限定されるものではない。
同様に、各電極、配線、端子などの位置や形状についても上記実施形態及びに限定されない。
Next, in the dividing step of step S7, the green sheet 51 that has undergone the steps up to step S6 described above is divided to obtain a plurality of pieces of piezoelectric devices 1 simultaneously.
The piezoelectric device 1 obtained by the dividing step is completed by inspecting electrical characteristics and appearance quality in step S8, and a series of manufacturing processes of the piezoelectric device 1 is completed.
The specific form described in the above embodiment and the modification, for example, the shape of the ceramic substrate 10 or the piezoelectric vibrating piece 20 as an electronic component is not limited.
Similarly, the position and shape of each electrode, wiring, terminal, etc. are not limited to the above embodiment.

また、上記実施形態及び変形例では、電子デバイスの一例として、電子部品としての圧
電振動片20を搭載した圧電デバイス1、40について説明した。しかし、これに限らず
、上記実施形態及び変形例に示す構成は、電子部品として半導体回路素子など種々の電子
部品を基板に接合し、その電子部品を金属蓋体により気密封止する構造の様々な電子デバ
イスのパッケージ構造に適用することができる。
具体的には例えば、図7に示すように水晶振動子等の圧電振動子のパッケージのキャビ
ティーT内部、或いはパッケージ外部に発振回路を構成する半導体回路素子61を組み込
んだ圧電発振器60のパッケージ構造に対しても本発明を適用することができる。
この圧電発振器においても、当接脚部19cの内側端部から起立した側壁部19bの内
側に形成された銀ロウ膜19B”を一部溶融させて流下させることにより形成した被覆ロ
ウ材領域36によって内側溶融部位15bを完全に被覆するようにしたので、内側溶融部
位からのガスの生成を低減することができる。
Moreover, in the said embodiment and modification, the piezoelectric devices 1 and 40 which mounted the piezoelectric vibrating piece 20 as an electronic component were demonstrated as an example of an electronic device. However, the configuration shown in the above embodiment and the modification is not limited to this, and various configurations of structures in which various electronic components such as a semiconductor circuit element are bonded to a substrate as an electronic component and the electronic component is hermetically sealed with a metal lid. It can be applied to a package structure of an electronic device.
Specifically, for example, as shown in FIG. 7, the package structure of a piezoelectric oscillator 60 in which a semiconductor circuit element 61 constituting an oscillation circuit is incorporated inside a cavity T of a package of a piezoelectric vibrator such as a crystal vibrator or outside the package. The present invention can also be applied to.
Also in this piezoelectric oscillator, the coated brazing material region 36 formed by partially melting and flowing down the silver brazing film 19B "formed inside the side wall 19b standing from the inner end of the contact leg 19c. Since the inner melting portion 15b is completely covered, the generation of gas from the inner melting portion can be reduced .

次に、図9は本発明に係る電子機器の構成を示す概略構成図である。電子機器70は上記の圧電デバイス1、40を備えている。圧電デバイス1、40を用いた電子機器70としては、伝送機器等を挙げることができる。これらの電子機器70において圧電デバイスは、基準信号源、或いは電圧可変型圧電発振器(VCXO)等として用いられ、小型で、良好な電子機器を提供できる。   Next, FIG. 9 is a schematic configuration diagram showing the configuration of the electronic apparatus according to the present invention. The electronic apparatus 70 includes the piezoelectric devices 1 and 40 described above. Examples of the electronic device 70 using the piezoelectric devices 1 and 40 include a transmission device. In these electronic devices 70, the piezoelectric device is used as a reference signal source, a voltage variable piezoelectric oscillator (VCXO), or the like, and can provide a small and favorable electronic device.

1…圧電デバイス、10…セラミック基板、11…セラミック基材、12…外周上面、13…メタライズ層、14…配線材料、15…無電解ニッケル膜、15a…無電解ニッケル膜が溶融する範囲、15b、15c…内側溶融部位、16…外部実装端子、18…振動片接合端子、19…金属蓋体、19A…基材、19B、19B’、19B”…ロウ材(銀ロウ)、19C…ニッケル膜、19a…水平部、19b…側壁部、19c…当接脚部、20…圧電振動片、25…励振電極、26…外部接続電極、30…接合部材、35…直接接合領域、36…被覆ロウ材領域、40…電子デバイス、41…凹陥部、42…環状外枠、51…グリーンシート、60…圧電発振器、61…発振回路素子、70…電子機器 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Piezoelectric device, 10 ... Ceramic substrate, 11 ... Ceramic base material, 12 ... Outer peripheral upper surface, 13 ... Metallized layer, 14 ... Wiring material, 15 ... Electroless nickel film, 15a ... Range where electroless nickel film melts, 15b , 15c ... inner melting part, 16 ... external mounting terminal, 18 ... vibrating piece joint terminal, 19 ... metal lid, 19A ... base material, 19B, 19B ', 19B "... brazing material (silver brazing), 19C ... nickel film , 19a ... horizontal part, 19b ... side wall part, 19c ... contact leg part, 20 ... piezoelectric vibrating piece, 25 ... excitation electrode, 26 ... external connection electrode, 30 ... joining member, 35 ... direct joining region, 36 ... covering brazing Material region, 40 ... electronic device, 41 ... concave portion, 42 ... annular outer frame, 51 ... green sheet, 60 ... piezoelectric oscillator, 61 ... oscillation circuit element, 70 ... electronic device

Claims (7)

リンを含有するニッケル膜を含むメタライズ層を備えている絶縁基板と、
前記絶縁基板上に配置されている電子部品と、
前記メタライズ層とロウ材を介して接合している周縁部を有し、前記絶縁基板と供に前記電子部品を収容する内部空間を構成している金属蓋体と、を備え、
前記ニッケル膜が、前記ロウ材によって覆われていることを特徴とする電子デバイス。
An insulating substrate comprising a metallized layer comprising a nickel film containing phosphorus ;
An electronic component disposed on the insulating substrate;
It has a periphery which is bonded via the metallized layer and the B window material, and a metal lid constituting an internal space for accommodating the electronic component subjected to the insulating substrate,
An electronic device the nickel film, characterized in that it is covered by the brazing material.
前記メタライズ層は、銅と、前記銅の外面に配置されている前記ニッケル膜と、
を含んでいることを特徴とする請求項1又は2に記載の電子デバイス。
The metallization layer includes copper and, before being disposed on the outer surface of the copper yn nickel film,
The electronic device according to claim 1, further comprising:
前記電子部品は振動子であり、  The electronic component is a vibrator;
請求項1又は2に記載の電子デバイスと、半導体素子と、を備えていることを特徴とする発振器。  An oscillator comprising the electronic device according to claim 1 and a semiconductor element.
子部品、リンを含有するメタライズ層としてのニッケル膜が形成された絶縁基板、及び前記絶縁基板と接合されることにより前記電子部品を収容する内部空間を構成し、ロウ材層が形成された金属蓋体を夫々準備する工程と、
前記絶縁基板上に前記電子部品を接合する工程と、
前記絶縁基板上に前記金属蓋体を配置する工程と、
前記金属蓋体に加熱用の光、又は電子ビームを照射して、前記ロウ材を溶融させて前記内部空間に位置するニッケル膜を前記ロウ材で被覆する工程と、
を含むことを特徴とする電子デバイスの製造方法。
Electronic components, an insulating substrate a nickel film as metallized layer is formed to contain phosphorus, and said to constitute an internal space for accommodating the electronic component by being joined to the insulating substrate, the brazing material layer is formed Preparing each metal lid,
Bonding the electronic component on the insulating substrate;
Disposing the metal lid on the insulating substrate;
A step you covering the metal lid to the light for heating, or electron beam irradiation, and the nickel film located in the internal space by melting prior km c material with the brazing material,
Manufacturing method of that electronic device to comprising a.
記ロウ材を溶融させる工程と、前記ニッケル膜を溶融させて前記蓋体を前記絶縁基板に接合する工程と、を、同時に実施することを特徴とする請求項4に記載の電子デバイスの製造方法。 Before the step of melting the kilo c material, and joining the lid to melt the nickel film on the insulating substrate, and the electronic device according to claim 4, which comprises carrying out simultaneously Production method. 前記ニッケル膜は無電解メッキによって形成されることを特徴とする請求項4又は5に記載の電子デバイスの製造方法。  6. The method of manufacturing an electronic device according to claim 4, wherein the nickel film is formed by electroless plating. 前記電子部品は振動子であり、  The electronic component is a vibrator;
請求項4乃至6のいずれか一項に記載の製造方法によって製造される前記電子デバイスにおける前記振動子に対する発振回路を構成する半導体素子を組み込む工程を含むことを特徴とする発振器の製造方法。  A method for manufacturing an oscillator, comprising a step of incorporating a semiconductor element that constitutes an oscillation circuit for the vibrator in the electronic device manufactured by the manufacturing method according to claim 4.
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JP2000106408A (en) * 1998-09-29 2000-04-11 Kyocera Corp Package for housing electronic component and metallic cover body used for the same
JP2000286353A (en) * 1999-03-30 2000-10-13 Kyocera Corp Semiconductor device housing package
JP2001196485A (en) * 2000-01-12 2001-07-19 Daishinku Corp Package for electronic component and piezoelectric vibrating device
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