JP5898998B2 - Solid electrolytic capacitor - Google Patents

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Description

本発明は固体電解コンデンサに関し、特に導電性高分子を含む固体電解質を有する固体電解コンデンサに関する。   The present invention relates to a solid electrolytic capacitor, and more particularly to a solid electrolytic capacitor having a solid electrolyte containing a conductive polymer.

近年、携帯型電子機器の発展に伴い、小型で静電容量が大きく、周波数特性に優れている固体電解コンデンサが必要とされている。特に電子機器のデジタル化に伴い、固体電解コンデンサには優れた高周波特性が要求されている。よって、固体電解コンデンサの等価直列抵抗(以下、ESR(Equivalent Series Resistance))を低減させるために、固体電解コンデンサの陰極材料に導電率が高い導電性高分子が使用されている。   In recent years, with the development of portable electronic devices, there is a need for a solid electrolytic capacitor that is small, has a large capacitance, and is excellent in frequency characteristics. In particular, with the digitization of electronic devices, excellent high frequency characteristics are required for solid electrolytic capacitors. Therefore, in order to reduce the equivalent series resistance (hereinafter referred to as ESR (Equivalent Series Resistance)) of the solid electrolytic capacitor, a conductive polymer having high conductivity is used as the cathode material of the solid electrolytic capacitor.

特許文献1には、低コストでかつESR特性の劣化を抑制することができる固体電解コンデンサに関する技術が開示されている。   Patent Document 1 discloses a technique relating to a solid electrolytic capacitor that is low in cost and can suppress deterioration of ESR characteristics.

特開2008−135460号公報JP 2008-135460 A

背景技術で説明したように、固体電解コンデンサの陰極材料に導電率が高い導電性高分子を用いることで、固体電解コンデンサのESRを低減することができる。一般的に、固体電解コンデンサは、導電性高分子を含むコンデンサ素子を外装樹脂で封止している。よって、導電性高分子を外部環境から隔離することができ、導電性高分子の酸化劣化を抑制することができる。   As described in the background art, ESR of the solid electrolytic capacitor can be reduced by using a conductive polymer having high conductivity as the cathode material of the solid electrolytic capacitor. Generally, in a solid electrolytic capacitor, a capacitor element containing a conductive polymer is sealed with an exterior resin. Therefore, the conductive polymer can be isolated from the external environment, and the oxidative deterioration of the conductive polymer can be suppressed.

しかしながら、コンデンサ素子を外装樹脂で封止していたとしても、外部から固体電解コンデンサの内部に酸素が侵入した場合は導電性高分子が酸化劣化する。導電性高分子が酸化劣化すると導電性高分子の導電率が低下(つまり、抵抗が増加)し、固体電解コンデンサのESRが上昇してしまうという問題がある。   However, even if the capacitor element is sealed with the exterior resin, the conductive polymer is oxidized and deteriorated when oxygen enters the solid electrolytic capacitor from the outside. When the conductive polymer is oxidized and deteriorated, there is a problem that the conductivity of the conductive polymer is lowered (that is, the resistance is increased), and the ESR of the solid electrolytic capacitor is increased.

上記課題に鑑み本発明の目的は、コンデンサ素子に含まれている導電性高分子の酸化劣化を抑制し、ESRの上昇を抑制することができる固体電解コンデンサを提供することである。   In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a solid electrolytic capacitor capable of suppressing oxidative deterioration of a conductive polymer contained in a capacitor element and suppressing an increase in ESR.

本発明にかかる固体電解コンデンサは、陽極ワイヤが埋設された陽極体と、当該陽極体の表面に設けられた誘電体膜と、当該誘電体膜の表面に設けられ、導電性高分子を含む固体電解質と、を備えるコンデンサ素子と、前記コンデンサ素子を覆う外装樹脂と、前記陽極ワイヤと電気的に接続され、前記外装樹脂の内部から外部へと延び、陽極端子として機能する陽極リードフレームと、前記固体電解質層と電気的に接続され、前記外装樹脂の内部から外部へと延び、陰極端子として機能する陰極リードフレームと、を備える。前記陰極リードフレームの表面にははんだメッキ層が設けられており、当該はんだメッキ層は前記陰極リードフレーム側の前記外装樹脂の内部と外部の境界である第1の境界部分を含む領域において分断部分を有する。   A solid electrolytic capacitor according to the present invention includes an anode body in which an anode wire is embedded, a dielectric film provided on the surface of the anode body, and a solid containing a conductive polymer provided on the surface of the dielectric film. A capacitor element comprising an electrolyte, an exterior resin that covers the capacitor element, an anode lead frame that is electrically connected to the anode wire, extends from the interior of the exterior resin to the outside, and functions as an anode terminal; A cathode lead frame that is electrically connected to the solid electrolyte layer, extends from the inside of the exterior resin to the outside, and functions as a cathode terminal. A surface of the cathode lead frame is provided with a solder plating layer, and the solder plating layer is divided in a region including a first boundary portion that is an inner and outer boundary of the exterior resin on the cathode lead frame side. Have

本発明により、コンデンサ素子に含まれている導電性高分子の酸化劣化を抑制し、ESRの上昇を抑制することができる固体電解コンデンサを提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide a solid electrolytic capacitor that can suppress oxidative deterioration of a conductive polymer contained in a capacitor element and suppress an increase in ESR.

実施の形態1にかかる固体電解コンデンサの断面図である。1 is a cross-sectional view of a solid electrolytic capacitor according to a first embodiment. 実施の形態1にかかる固体電解コンデンサを陰極リードフレーム側から見た側面図である。FIG. 3 is a side view of the solid electrolytic capacitor according to the first exemplary embodiment as viewed from the cathode lead frame side. 実施の形態1にかかる固体電解コンデンサの陰極リードフレーム側の拡大断面図である。2 is an enlarged cross-sectional view of the solid electrolytic capacitor according to Embodiment 1 on the cathode lead frame side. FIG. 実施の形態1にかかる固体電解コンデンサの陰極リードフレーム側の拡大断面図である。2 is an enlarged cross-sectional view of the solid electrolytic capacitor according to Embodiment 1 on the cathode lead frame side. FIG. 実施の形態1にかかる固体電解コンデンサの陰極リードフレーム側の拡大断面図である。2 is an enlarged cross-sectional view of the solid electrolytic capacitor according to Embodiment 1 on the cathode lead frame side. FIG. 実施の形態1にかかる固体電解コンデンサの陰極リードフレーム側の拡大断面図である。2 is an enlarged cross-sectional view of the solid electrolytic capacitor according to Embodiment 1 on the cathode lead frame side. FIG. 実施の形態2にかかる固体電解コンデンサの断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of a solid electrolytic capacitor according to a second embodiment. 従来の固体電解コンデンサの陰極リードフレーム側の拡大断面図である。It is an expanded sectional view by the side of the cathode lead frame of the conventional solid electrolytic capacitor. 従来の固体電解コンデンサの陰極リードフレーム側の拡大断面図である。It is an expanded sectional view by the side of the cathode lead frame of the conventional solid electrolytic capacitor.

<実施の形態1>
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
図1は、本実施の形態にかかる固体電解コンデンサ1の断面図である。図1に示すように、固体電解コンデンサ1は、コンデンサ素子11と、コンデンサ素子11を覆う外装樹脂12と、陽極リードフレーム13と、陰極リードフレーム14とを有する。
<Embodiment 1>
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a cross-sectional view of a solid electrolytic capacitor 1 according to the present embodiment. As shown in FIG. 1, the solid electrolytic capacitor 1 includes a capacitor element 11, an exterior resin 12 that covers the capacitor element 11, an anode lead frame 13, and a cathode lead frame 14.

コンデンサ素子11は、陽極ワイヤ15が埋設された陽極体と、当該陽極体の表面に設けられた誘電体膜と、当該誘電体膜の表面に設けられ、導電性高分子を含む固体電解質と、を備える。陽極体には、例えばタンタルなどの弁作用金属を焼結して形成した多孔質体を用いることができる。   Capacitor element 11 includes an anode body in which anode wire 15 is embedded, a dielectric film provided on the surface of the anode body, a solid electrolyte provided on the surface of the dielectric film and containing a conductive polymer, Is provided. As the anode body, for example, a porous body formed by sintering a valve action metal such as tantalum can be used.

例えば、コンデンサ素子11は、タンタル粉末に陽極ワイヤ15を埋設し、所定の形状にプレス成形した後、焼結してタンタル金属の多孔質体を形成する。そして、電気化学的方法を用いて、多孔質体の表面に誘電体酸化皮膜を形成する。その後、誘電体酸化皮膜の表面に導電性高分子の固体電解質層を形成し、さらにグラファイト層および銀ペースト層を形成してコンデンサ素子11を作製することができる。導電性高分子としては、例えばポリチオフェン、ポリピロール、ポリアニリン、またはこれらの誘導体を用いることができる。   For example, the capacitor element 11 is formed by embedding an anode wire 15 in tantalum powder, press-molding it into a predetermined shape, and sintering it to form a porous body of tantalum metal. Then, a dielectric oxide film is formed on the surface of the porous body using an electrochemical method. Thereafter, a solid electrolyte layer of a conductive polymer is formed on the surface of the dielectric oxide film, and further a graphite layer and a silver paste layer are formed, whereby the capacitor element 11 can be manufactured. As the conductive polymer, for example, polythiophene, polypyrrole, polyaniline, or derivatives thereof can be used.

陽極リードフレーム13は、陽極ワイヤ15と電気的に接続され、外装樹脂12の内部から外部へと延び、陽極端子として機能する。陽極リードフレーム13は、銅を含む母材と、当該母材の表面に形成されたニッケルメッキ層と、当該ニッケルメッキ層の表面に形成されたはんだメッキ層と、を有する。なお、母材とはんだメッキ層との間に形成されるメッキ層として、例えばニッケルメッキよりも抵抗の低い金メッキ等を用いてもよい。母材とはんだメッキ層との間に形成されるメッキ層は、融点が300℃以上の材料であればどのような材料を用いてもよい。   The anode lead frame 13 is electrically connected to the anode wire 15, extends from the inside of the exterior resin 12 to the outside, and functions as an anode terminal. The anode lead frame 13 includes a base material containing copper, a nickel plating layer formed on the surface of the base material, and a solder plating layer formed on the surface of the nickel plating layer. As a plating layer formed between the base material and the solder plating layer, for example, gold plating having a resistance lower than that of nickel plating may be used. As the plating layer formed between the base material and the solder plating layer, any material may be used as long as the melting point is 300 ° C. or higher.

陰極リードフレーム14は、導電性樹脂16を介してコンデンサ素子11と電気的に接続されている。陰極リードフレーム14は、外装樹脂12の内部から外部へと延び、陰極端子として機能する。図2は、固体電解コンデンサ1を陰極リードフレーム側20から見た側面図である。図1、図2に示すように、陰極リードフレーム14は、固体電解コンデンサ1の側面から底面に渡って形成されている。陽極リードフレーム13についても同様である。   The cathode lead frame 14 is electrically connected to the capacitor element 11 via the conductive resin 16. The cathode lead frame 14 extends from the inside of the exterior resin 12 to the outside and functions as a cathode terminal. FIG. 2 is a side view of the solid electrolytic capacitor 1 as viewed from the cathode lead frame side 20. As shown in FIGS. 1 and 2, the cathode lead frame 14 is formed from the side surface to the bottom surface of the solid electrolytic capacitor 1. The same applies to the anode lead frame 13.

陰極リードフレーム14は、例えば、銅を含む母材と、当該母材の表面に形成されたニッケルメッキ層と、当該ニッケルメッキ層の表面に形成されたはんだメッキ層と、を有する。なお、母材とはんだメッキ層との間に形成されるメッキ層として、例えばニッケルメッキよりも抵抗の低い金メッキ等を用いてもよい。母材とはんだメッキ層との間に形成されるメッキ層は、融点が300℃以上の材料であればどのような材料を用いてもよい。   The cathode lead frame 14 includes, for example, a base material containing copper, a nickel plating layer formed on the surface of the base material, and a solder plating layer formed on the surface of the nickel plating layer. As a plating layer formed between the base material and the solder plating layer, for example, gold plating having a resistance lower than that of nickel plating may be used. As the plating layer formed between the base material and the solder plating layer, any material may be used as long as the melting point is 300 ° C. or higher.

図3は、図1に示す固体電解コンデンサ1の陰極リードフレーム側20の拡大断面図である。図3に示すように、陰極リードフレーム14は、母材21と、当該母材21の表面に形成されたニッケルメッキ層(不図示)と、当該ニッケルメッキ層の表面に形成されたはんだメッキ層22とを有する。そして、本実施の形態にかかる固体電解コンデンサ1では、はんだメッキ層22が、陰極リードフレーム側の外装樹脂12の内部と外部の境界部分(第1の境界部分)23を含む領域において分断部分25を有するように構成されている。換言すると、外装樹脂12の内部と外部の境界部分23(分断部分25)では、表面にニッケル等がメッキされた母材21を跨ぐように、外装樹脂12が形成されている。   FIG. 3 is an enlarged sectional view of the cathode lead frame side 20 of the solid electrolytic capacitor 1 shown in FIG. As shown in FIG. 3, the cathode lead frame 14 includes a base material 21, a nickel plating layer (not shown) formed on the surface of the base material 21, and a solder plating layer formed on the surface of the nickel plating layer. 22. In the solid electrolytic capacitor 1 according to the present embodiment, the solder plating layer 22 is divided in the region including the inner and outer boundary portions (first boundary portions) 23 of the exterior resin 12 on the cathode lead frame side. It is comprised so that it may have. In other words, the exterior resin 12 is formed so as to straddle the base material 21 whose surface is plated with nickel or the like at the boundary portion 23 (divided portion 25) between the inside and the exterior of the exterior resin 12.

図9は、従来の固体電解コンデンサの陰極リードフレーム側の拡大断面図であり、図3の拡大断面図に対応している。なお、図9では、各構成要素を示す符号を100番台で示している。つまり、固体電解コンデンサは、コンデンサ素子111と、外装樹脂112と、陽極ワイヤ115と、導電性樹脂116と、ニッケルメッキ層を有する母材121およびはんだメッキ層122を備える陰極リードフレーム114と、を有する。   FIG. 9 is an enlarged cross-sectional view of the conventional solid electrolytic capacitor on the cathode lead frame side, and corresponds to the enlarged cross-sectional view of FIG. In FIG. 9, reference numerals indicating the respective components are shown in the 100s. That is, the solid electrolytic capacitor includes a capacitor element 111, an exterior resin 112, an anode wire 115, a conductive resin 116, a base material 121 having a nickel plating layer, and a cathode lead frame 114 including a solder plating layer 122. Have.

図9に示すように、外装樹脂112の境界部分123を含む領域において、はんだメッキ層122が形成されていると、固体電解コンデンサを回路基板に実装する際に、はんだメッキ層122が溶融し、外装樹脂112の境界部分123に隙間が形成される。そして、この形成された隙間を通して外装樹脂112の内部に酸素が侵入し、コンデンサ素子111に形成された導電性高分子が酸化劣化することでコンデンサ素子111の特性が劣化するという問題があった。つまり、導電性高分子が酸化劣化すると導電性高分子の導電率が低下(つまり、抵抗が増加)し、固体電解コンデンサのESRが上昇してしまうという問題があった。   As shown in FIG. 9, when the solder plating layer 122 is formed in the region including the boundary portion 123 of the exterior resin 112, the solder plating layer 122 is melted when the solid electrolytic capacitor is mounted on the circuit board. A gap is formed at the boundary portion 123 of the exterior resin 112. Then, oxygen enters the exterior resin 112 through the formed gap, and there is a problem that the characteristics of the capacitor element 111 deteriorate due to the oxidative deterioration of the conductive polymer formed in the capacitor element 111. That is, when the conductive polymer is oxidized and deteriorated, the conductivity of the conductive polymer is reduced (that is, the resistance is increased), and the ESR of the solid electrolytic capacitor is increased.

これに対して本実施の形態にかかる固体電解コンデンサ1では、図3に示すように、外装樹脂12の境界部分23を含む領域において、はんだメッキ層22が形成されていない分断部分25を設けている。よって、固体電解コンデンサ1を回路基板に実装する際に、はんだメッキ層22が溶融することで外装樹脂12の境界部分23に隙間が形成されることを抑制することができ、外装樹脂12の内部に酸素が侵入することを抑制することができる。   On the other hand, in the solid electrolytic capacitor 1 according to the present embodiment, as shown in FIG. 3, in the region including the boundary portion 23 of the exterior resin 12, a divided portion 25 where the solder plating layer 22 is not formed is provided. Yes. Therefore, when the solid electrolytic capacitor 1 is mounted on the circuit board, it is possible to suppress the formation of a gap in the boundary portion 23 of the exterior resin 12 by melting the solder plating layer 22. Oxygen can be prevented from entering the glass.

よって、本実施の形態にかかる発明により、コンデンサ素子11に含まれている導電性高分子の酸化劣化を抑制し、ESRの上昇を抑制することができる固体電解コンデンサを提供することができる。   Therefore, the invention according to the present embodiment can provide a solid electrolytic capacitor that can suppress the oxidative deterioration of the conductive polymer contained in the capacitor element 11 and suppress the increase in ESR.

なお、はんだメッキ層22が形成されていない分断部分25は、境界部分23を含む領域に形成されていればよく、例えば、図4に示すように、分断部分25が図3に示した分断部分25よりも短くなるように形成されていてもよい。   The dividing portion 25 where the solder plating layer 22 is not formed is only required to be formed in a region including the boundary portion 23. For example, as shown in FIG. 4, the dividing portion 25 is the dividing portion shown in FIG. It may be formed to be shorter than 25.

また、はんだメッキ層22が形成されていない分断部分25は、陰極リードフレーム14の上部表面(第1の面)および下部表面(第2の面)の少なくとも一方に形成されていればよい。すなわち、図5に示すように、陰極リードフレーム14の上部表面のみに分断部分25を形成してもよい。また、陰極リードフレーム14の下部表面のみに分断部分25を形成してもよい。また、分断部分25は、境界部分23を含む領域に形成されていればよく、外装樹脂12の内部および外部の少なくとも一方に形成されていればよい。   Further, the divided portion 25 where the solder plating layer 22 is not formed may be formed on at least one of the upper surface (first surface) and the lower surface (second surface) of the cathode lead frame 14. That is, as shown in FIG. 5, the dividing portion 25 may be formed only on the upper surface of the cathode lead frame 14. Further, the dividing portion 25 may be formed only on the lower surface of the cathode lead frame 14. Moreover, the parting part 25 should just be formed in the area | region containing the boundary part 23, and should just be formed in at least one of the inside of the exterior resin 12, and the exterior.

更に、はんだメッキ層22が形成されていない分断部分25は、陰極リードフレーム14の表面であって、境界部分23から外装樹脂12と離れる方向に所定の長さ水平に延びる領域(図4の領域24参照)に形成されていてもよい。   Further, the divided portion 25 where the solder plating layer 22 is not formed is a surface of the cathode lead frame 14 and extends horizontally by a predetermined length in a direction away from the boundary resin 23 from the exterior resin 12 (region of FIG. 4). 24).

一方、図6に示すように、陰極リードフレーム14が外装樹脂12の外部で折り曲げられた後、下方に延びる部分を含む領域に分断部分25を形成してもよい。つまり、図4に示す所定の長さ水平に延びる領域24を設けなくても、分断部分25を形成することができる。   On the other hand, as shown in FIG. 6, after the cathode lead frame 14 is bent outside the exterior resin 12, a divided portion 25 may be formed in a region including a portion extending downward. That is, the divided portion 25 can be formed without providing the region 24 extending horizontally for a predetermined length shown in FIG.

<実施の形態2>
次に、本発明の実施の形態2について説明する。図7は、実施の形態2にかかる固体電解コンデンサ2の断面図である。本実施の形態では、コンデンサ素子31を陰極リードフレーム側から所定の距離を隔てて配置している点が、実施の形態1と異なる。これ以外は、実施の形態1で説明した固体電解コンデンサ1と同一であるので、同一の構成要素には同一の符号を付して重複した説明は省略する。
<Embodiment 2>
Next, a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 7 is a cross-sectional view of the solid electrolytic capacitor 2 according to the second embodiment. The present embodiment is different from the first embodiment in that the capacitor element 31 is arranged at a predetermined distance from the cathode lead frame side. Other than this, since it is the same as the solid electrolytic capacitor 1 described in the first embodiment, the same components are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.

図7に示すように、本実施の形態にかかる固体電解コンデンサ2では、コンデンサ素子31を陰極リードフレーム側から距離d2だけ隔てて配置している。ここで、距離d2は、外装樹脂12の境界部分23からコンデンサ素子31の端部32までの距離(陰極リードフレーム14に沿った距離)である。   As shown in FIG. 7, in the solid electrolytic capacitor 2 according to the present embodiment, the capacitor element 31 is arranged at a distance d2 from the cathode lead frame side. Here, the distance d2 is a distance (a distance along the cathode lead frame 14) from the boundary portion 23 of the exterior resin 12 to the end portion 32 of the capacitor element 31.

例えば、コンデンサ素子31は、距離d2が外装樹脂12の外形寸法である距離d1の1/4以上となるように配置することができる。ここで、外装樹脂12の外形寸法である距離d1は、陰極リードフレーム側の外装樹脂12の内部と外部の境界部分(第1の境界部分)と、陽極リードフレーム側の外装樹脂12の内部と外部の境界部分(第2の境界部分)との距離に対応している。   For example, the capacitor element 31 can be arranged such that the distance d2 is ¼ or more of the distance d1 that is the outer dimension of the exterior resin 12. Here, the distance d1 which is the external dimension of the exterior resin 12 is the inside and exterior boundary portion (first boundary portion) of the exterior resin 12 on the cathode lead frame side and the interior of the exterior resin 12 on the anode lead frame side. This corresponds to the distance from the external boundary portion (second boundary portion).

更に、コンデンサ素子31は、距離d2が外装樹脂12の外形寸法である距離d1の1/2以上となるように配置してもよい。ここで、距離d2を大きくし過ぎるとコンデンサ素子31が小さくなりコンデンサ素子31の静電容量が低下する。よって、更に好ましくは、コンデンサ素子31は、距離d2が外装樹脂12の外形寸法である距離d1の1/2以上3/4以下となるように配置することができる。   Furthermore, the capacitor element 31 may be arranged such that the distance d2 is equal to or greater than ½ of the distance d1 that is the outer dimension of the exterior resin 12. Here, when the distance d2 is excessively increased, the capacitor element 31 is reduced and the capacitance of the capacitor element 31 is reduced. Therefore, more preferably, the capacitor element 31 can be arranged such that the distance d2 is ½ or more and 3/4 or less of the distance d1 that is the outer dimension of the exterior resin 12.

このように、コンデンサ素子31を境界部分23から所定の距離を隔てて配置することで、外部の酸素が境界部分23からコンデンサ素子31の導電性高分子へ到達する時間を遅らせることができる。よって、導電性高分子の酸化劣化を更に抑制することができ、固体電解コンデンサのESRを更に低減することができる。   In this way, by disposing the capacitor element 31 at a predetermined distance from the boundary portion 23, the time for external oxygen to reach the conductive polymer of the capacitor element 31 from the boundary portion 23 can be delayed. Therefore, the oxidative deterioration of the conductive polymer can be further suppressed, and the ESR of the solid electrolytic capacitor can be further reduced.

図7に示すように、コンデンサ素子31のサイズを小さくするとコンデンサ素子の静電容量が低下する。しかし、本実施の形態にかかる固体電解コンデンサ2では、コンデンサ素子31のサイズをあえて小さくして、コンデンサ素子31を境界部分23から所定の距離を隔てて配置することで、導電性高分子の酸化劣化を抑制している。   As shown in FIG. 7, when the size of the capacitor element 31 is reduced, the capacitance of the capacitor element is reduced. However, in the solid electrolytic capacitor 2 according to the present embodiment, the size of the capacitor element 31 is deliberately reduced, and the capacitor element 31 is arranged at a predetermined distance from the boundary portion 23, thereby oxidizing the conductive polymer. Deterioration is suppressed.

<実施例1>
次に、本発明の実施例について説明する。
弁作用金属であるタンタル粉末に陽極ワイヤ15を埋設し、所定の形状にプレス成形した後、1250℃で焼結してタンタル金属の陽極体を形成した。そして、形成した陽極体をリン酸水溶液中に浸して、直流電圧15Vを印可して陽極体の表面に誘電体酸化皮膜(陽極酸化皮膜)を形成した。その後、誘電体酸化皮膜の表面に導電性高分子の固体電解質層を形成した。固体電解質層は、ポリチオフェンを化学重合および懸濁液の含浸、乾燥を繰り返すことで形成した。その後、固体電解質層の表面にグラファイト層、銀ペースト層をそれぞれ形成してコンデンサ素子11を作製した。
<Example 1>
Next, examples of the present invention will be described.
Anode wire 15 was embedded in tantalum powder, which is a valve metal, press-formed into a predetermined shape, and then sintered at 1250 ° C. to form a tantalum metal anode body. Then, the formed anode body was immersed in a phosphoric acid aqueous solution, and a DC voltage of 15 V was applied to form a dielectric oxide film (anodized film) on the surface of the anode body. Thereafter, a solid electrolyte layer of a conductive polymer was formed on the surface of the dielectric oxide film. The solid electrolyte layer was formed by repeating polythiophene chemical polymerization, suspension impregnation and drying. Then, the capacitor | condenser element 11 was produced by forming the graphite layer and the silver paste layer, respectively on the surface of the solid electrolyte layer.

その後、導電性樹脂16を陰極リードフレーム14に塗布してコンデンサ素子11を搭載後、150℃で30分間乾燥して、コンデンサ素子11と陰極リードフレーム14とを導通させた。このとき、外装樹脂12の境界部分23(図3参照)からコンデンサ素子の端部までの距離d2(陰極リードフレーム14に沿った距離:図7参照)を0.3mmとした。また、陽極ワイヤ15と陽極リードフレーム13を抵抗溶接により接続した。   Thereafter, the conductive resin 16 was applied to the cathode lead frame 14 to mount the capacitor element 11, and then dried at 150 ° C. for 30 minutes to make the capacitor element 11 and the cathode lead frame 14 conductive. At this time, the distance d2 (distance along the cathode lead frame 14: see FIG. 7) from the boundary portion 23 (see FIG. 3) of the exterior resin 12 to the end of the capacitor element was 0.3 mm. The anode wire 15 and the anode lead frame 13 were connected by resistance welding.

陰極リードフレーム14は、母材21である銅材に厚さ0.5μmのニッケルメッキ層を形成し、その後、ニッケルメッキ層の上に、厚さ4μmのはんだメッキ層22を形成することで作製した。また、陰極リードフレーム14の境界部分23を含む領域に分断部分25を形成するために、外装樹脂12で封止する前に、分断部分25を形成する部分以外をマスクした後、サンドブラスト法により分断部分25のはんだメッキ層22を削り取った。なお、はんだメッキ層22を削り取る方法については、サンドブラスト法以外にも、例えば機械的に研削する方法やレーザを用いて研削する方法を用いてもよい。   The cathode lead frame 14 is produced by forming a nickel plating layer having a thickness of 0.5 μm on the copper material as the base material 21 and then forming a solder plating layer 22 having a thickness of 4 μm on the nickel plating layer. did. In addition, in order to form the divided portion 25 in the region including the boundary portion 23 of the cathode lead frame 14, before sealing with the exterior resin 12, the portion other than the portion where the divided portion 25 is formed is masked and then divided by the sandblast method. The solder plating layer 22 of the portion 25 was scraped off. As a method for scraping off the solder plating layer 22, for example, a mechanical grinding method or a laser grinding method may be used in addition to the sandblast method.

分断部分25は、境界部分23を跨いでいる外装樹脂12の内部および外部の両方、且つ陰極リードフレーム14の両面のはんだメッキ層を削り取って下地のニッケルメッキを露出させることで形成した。分断部分25の長さは、0.1mmとした。その後、外装樹脂12により封止して、縦7.3mm、横4.3mm、高さ1.9mmの外形寸法を有する固定電解コンデンサを作製した。   The divided portion 25 was formed by scraping the solder plating layers on both the inside and outside of the exterior resin 12 straddling the boundary portion 23 and on both sides of the cathode lead frame 14 to expose the underlying nickel plating. The length of the divided portion 25 was 0.1 mm. Then, it sealed with the exterior resin 12, and produced the fixed electrolytic capacitor which has external dimensions of 7.3 mm long, 4.3 mm wide, and 1.9 mm in height.

<比較例1>
比較例1として、図8に示すような、分断部分125が外装樹脂112の内部に存在して、分断部分125が境界部分123を跨いでいない固体電解コンデンサを作製した。分断部分125の位置が異なる点以外は、実施例1と同様である。
<Comparative Example 1>
As Comparative Example 1, a solid electrolytic capacitor in which a divided portion 125 exists in the exterior resin 112 and the divided portion 125 does not straddle the boundary portion 123 as shown in FIG. Example 1 is the same as Example 1 except that the position of the divided portion 125 is different.

<比較例2>
また、比較例2として、図9に示すような分断部分が形成されていない固体電解コンデンサを作製した。分断部分が形成されていない点以外は、実施例1と同様である。
<Comparative Example 2>
Further, as Comparative Example 2, a solid electrolytic capacitor in which a part as shown in FIG. 9 was not formed was produced. Example 1 is the same as Example 1 except that no part is formed.

<試験結果1>
実施例1、比較例1、および比較例2にかかる固体電解コンデンサを各々20個ずつ作製し、105℃の環境に放置した。そして、250時間放置した後、および500時間放置した後のESR(等価直列抵抗)を測定した。ESRの測定条件は、周波数100kHz、DC=1.5V、AC=500mVとした。測定器には、HP社のHP4263Aを用いた。各ESRを測定した後、初期値に対するESRの変化率を算出し、20個のサンプルの平均値を求めた。105℃の環境に放置した場合の初期値、初期値に対する250時間後のESRの変化率、および初期値に対する500時間後のESRの変化率を表1に示す。
<Test result 1>
Twenty solid electrolytic capacitors according to Example 1, Comparative Example 1, and Comparative Example 2 were each produced and left in an environment of 105 ° C. Then, ESR (equivalent series resistance) after standing for 250 hours and after standing for 500 hours was measured. ESR measurement conditions were a frequency of 100 kHz, DC = 1.5 V, and AC = 500 mV. HP 4263A of HP company was used for the measuring device. After measuring each ESR, the rate of change of ESR relative to the initial value was calculated, and the average value of 20 samples was obtained. Table 1 shows the initial value when left in an environment of 105 ° C., the rate of change of ESR after 250 hours with respect to the initial value, and the rate of change of ESR after 500 hours with respect to the initial value.

Figure 0005898998
Figure 0005898998

表1に示すように、実施例1では、250時間後の変化率が1.03であり、500時間後の変化率が1.05であった。これに対して、比較例1では、250時間後の変化率が1.06であり、500時間後の変化率が1.09であり、実施例1の場合よりもESRの変化率が大きかった。また、比較例2では、250時間後の変化率が1.10であり、500時間後の変化率が1.20であり、実施例1の場合よりもESRの変化率が大きかった。   As shown in Table 1, in Example 1, the change rate after 250 hours was 1.03, and the change rate after 500 hours was 1.05. On the other hand, in Comparative Example 1, the rate of change after 250 hours was 1.06, the rate of change after 500 hours was 1.09, and the rate of change of ESR was larger than that in Example 1. . In Comparative Example 2, the rate of change after 250 hours was 1.10, the rate of change after 500 hours was 1.20, and the rate of change of ESR was larger than that in Example 1.

よって、外装樹脂の境界部分に、はんだメッキ層が形成されていない分断部分を設けることで、外装樹脂の内部に酸素が侵入して導電性高分子が酸化劣化することを抑制することができ、ESRが上昇することを抑制することができた。   Therefore, by providing a part where the solder plating layer is not formed at the boundary part of the exterior resin, it is possible to suppress the oxygen from entering the interior of the exterior resin and the conductive polymer from being oxidized and deteriorated. An increase in ESR could be suppressed.

なお、境界部分23を跨いで外装樹脂12の内部の陰極リードフレーム14の両面または片面に分断部分25を形成した場合や、外装樹脂12の外部の陰極リードフレーム14の両面または片面に分断部分25を形成した場合にも本発明の効果が得られた。特に、境界部分23を跨いで外装樹脂12の内部および外部の両方、且つ陰極リードフレーム14の両面に分断部分25を形成した場合に、本発明の効果が最も顕著だった。   Note that when the divided portions 25 are formed on both surfaces or one surface of the cathode lead frame 14 inside the exterior resin 12 across the boundary portion 23, or when the divided portions 25 are formed on both surfaces or one surface of the cathode lead frame 14 outside the exterior resin 12. The effects of the present invention were also obtained when formed. In particular, when the divided portions 25 are formed both on the inside and outside of the exterior resin 12 and on both surfaces of the cathode lead frame 14 across the boundary portion 23, the effect of the present invention is most remarkable.

<実施例2>
実施例1と同様の方法を用いて、タンタル金属の陽極体、誘電体酸化皮膜、導電性高分子の固体電解質層、グラファイト層、および銀ペースト層を備えるコンデンサ素子を作製した。コンデンサ素子は、縦1.8mm、横2.4mm、高さ1.2mm、定格電圧2.5V、静電容量220μFとした。
<Example 2>
Using the same method as in Example 1, a capacitor element including a tantalum metal anode body, a dielectric oxide film, a solid electrolyte layer of a conductive polymer, a graphite layer, and a silver paste layer was produced. The capacitor element had a length of 1.8 mm, a width of 2.4 mm, a height of 1.2 mm, a rated voltage of 2.5 V, and a capacitance of 220 μF.

コンデンサ素子を作製後、実施例1と同様の方法で作製した陰極リードフレーム14に導電性樹脂16を塗布してコンデンサ素子を搭載後、150℃で30分間乾燥して、コンデンサ素子と陰極リードフレーム14とを導通させた。また、実施例1と同様に、陰極リードフレーム14の境界部分23を含む領域に分断部分25を形成した。また、陽極ワイヤ15と陽極リードフレーム13を抵抗溶接により接続した。   After the capacitor element is manufactured, the conductive resin 16 is applied to the cathode lead frame 14 manufactured in the same manner as in Example 1, and after mounting the capacitor element, the capacitor element and the cathode lead frame are dried at 150 ° C. for 30 minutes. 14 was conducted. Further, as in Example 1, a divided portion 25 was formed in a region including the boundary portion 23 of the cathode lead frame 14. The anode wire 15 and the anode lead frame 13 were connected by resistance welding.

その後、縦7.3mm、横4.3mm、高さ1.9mmの外形寸法のトランスファーモールドを用いてコンデンサ素子を封止した。このとき作製された固体電解コンデンサにおける、外装樹脂12の境界部分23からコンデンサ素子の端部までの距離d2(陰極リードフレーム14に沿った距離:図7参照)は3.85mmであった。つまり、距離d2が外装樹脂12の外形寸法である距離d1の1/2以上となる固体電解コンデンサを作製した。   Thereafter, the capacitor element was sealed using a transfer mold having outer dimensions of 7.3 mm in length, 4.3 mm in width, and 1.9 mm in height. The distance d2 (distance along the cathode lead frame 14: see FIG. 7) from the boundary portion 23 of the exterior resin 12 to the end of the capacitor element in the solid electrolytic capacitor produced at this time was 3.85 mm. That is, a solid electrolytic capacitor in which the distance d2 is equal to or greater than ½ of the distance d1 that is the outer dimension of the exterior resin 12 was produced.

<比較例3>
比較例3として、外装樹脂12の境界部分23からコンデンサ素子の端部までの距離d2が0.3mmになるまでコンデンサ素子11を拡大して体積効率を向上させた固体電解コンデンサを作製した。このときの固体電解コンデンサの定格電圧は2.5V、静電容量は220μFであった。なお、コンデンサ素子以外は実施例2と同様である。
<Comparative Example 3>
As Comparative Example 3, a solid electrolytic capacitor in which the volume efficiency was improved by expanding the capacitor element 11 until the distance d2 from the boundary portion 23 of the exterior resin 12 to the end of the capacitor element became 0.3 mm was produced. At this time, the rated voltage of the solid electrolytic capacitor was 2.5 V, and the capacitance was 220 μF. Except for the capacitor element, the second embodiment is the same as the second embodiment.

<試験結果2>
実施例2および比較例3にかかる固体電解コンデンサを各々20個ずつ作製し、105℃の環境に放置した。そして、250時間放置した後、および500時間放置した後のESR(等価直列抵抗)を測定した。ESRの測定条件は、周波数100kHz、DC=1.5V、AC=500mVとした。測定器には、HP社のHP4263Aを用いた。各ESRを測定した後、初期値に対するESRの変化率を算出し、20個のサンプルの平均値を求めた。105℃の環境に放置した場合の初期値、初期値に対する250時間後のESRの変化率、および初期値に対する500時間後のESRの変化率を表2に示す。
<Test result 2>
Twenty solid electrolytic capacitors according to Example 2 and Comparative Example 3 were each produced and left in an environment of 105 ° C. Then, ESR (equivalent series resistance) after standing for 250 hours and after standing for 500 hours was measured. ESR measurement conditions were a frequency of 100 kHz, DC = 1.5 V, and AC = 500 mV. HP 4263A of HP company was used for the measuring device. After measuring each ESR, the rate of change of ESR relative to the initial value was calculated, and the average value of 20 samples was obtained. Table 2 shows the initial value when left in an environment of 105 ° C., the rate of change of ESR after 250 hours with respect to the initial value, and the rate of change of ESR after 500 hours with respect to the initial value.

Figure 0005898998
Figure 0005898998

表2に示すように、実施例2では、250時間後の変化率が1.01であり、500時間後の変化率が1.02であった。これに対して、比較例3では、250時間後の変化率が1.06であり、500時間後の変化率が1.09であり、実施例2の場合よりもESRの変化率が大きかった。   As shown in Table 2, in Example 2, the change rate after 250 hours was 1.01, and the change rate after 500 hours was 1.02. On the other hand, in Comparative Example 3, the rate of change after 250 hours was 1.06, the rate of change after 500 hours was 1.09, and the rate of change of ESR was larger than that in Example 2. .

よって、外装樹脂の境界部分に、はんだメッキ層が形成されていない分断部分を設けると共に、コンデンサ素子を陰極リードフレーム側から所定の距離を隔てて配置することで、導電性高分子が酸化劣化することを抑制することができ、ESRの上昇を抑制することができた。   Therefore, the conductive polymer is oxidatively deteriorated by providing a dividing portion where the solder plating layer is not formed at the boundary portion of the exterior resin and disposing the capacitor element at a predetermined distance from the cathode lead frame side. This could be suppressed, and the increase in ESR could be suppressed.

なお、本発明は上記実施の形態や実施例に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、上記例では陰極リードフレームに14に分断部分25を形成した場合について説明したが、陽極リードフレーム13側の外装樹脂の内部と外部の境界部分を含む領域に、はんだメッキ層が形成されていない分断部分を設けてもよい。このように、陰極リードフレーム14に加えて陽極リードフレーム13にも分断部分を設けることで、導電性高分子の酸化劣化を更に抑制することができる。   Note that the present invention is not limited to the above-described embodiments and examples, and can be modified as appropriate without departing from the spirit of the present invention. For example, in the above example, the case where the divided portion 25 is formed in the cathode lead frame 14 has been described. However, a solder plating layer is formed in a region including the inner and outer boundary portions of the exterior resin on the anode lead frame 13 side. There may be no parting. In this way, by providing a split portion in the anode lead frame 13 in addition to the cathode lead frame 14, the oxidative deterioration of the conductive polymer can be further suppressed.

以上、本発明を上記実施の形態および実施例に即して説明したが、上記実施の形態および実施例の構成にのみ限定されるものではなく、本願特許請求の範囲の請求項の発明の範囲内で当業者であればなし得る各種変形、修正、組み合わせを含むことは勿論である。   The present invention has been described with reference to the above-described embodiment and examples. However, the present invention is not limited only to the configuration of the above-described embodiment and examples, and the scope of the invention of the claims of the claims of this application Of course, various changes, modifications, and combinations that can be made by those skilled in the art are included.

1、2 固定電解コンデンサ
11 コンデンサ素子
12 外装樹脂
13 陽極リードフレーム
14 陰極リードフレーム
15 陽極ワイヤ15
16 導電性樹脂
21 母材
22 はんだメッキ層
23 境界部分
25 分断部分
1, 2 Fixed electrolytic capacitor 11 Capacitor element 12 Exterior resin 13 Anode lead frame 14 Cathode lead frame 15 Anode wire 15
16 Conductive resin 21 Base material 22 Solder plating layer 23 Boundary portion 25 Divided portion

Claims (4)

陽極ワイヤが埋設された陽極体と、当該陽極体の表面に設けられた誘電体膜と、当該誘電体膜の表面に設けられ、導電性高分子を含む固体電解質と、を備えるコンデンサ素子と、
前記コンデンサ素子を覆う外装樹脂と、
前記陽極ワイヤと電気的に接続され、前記外装樹脂の内部から外部へと延び、陽極端子として機能する陽極リードフレームと、
前記固体電解質層と電気的に接続され、前記外装樹脂の内部から外部へと延び、陰極端子として機能する陰極リードフレームと、を備え、
前記陰極リードフレームの両面にははんだメッキ層が設けられており、当該はんだメッキ層は一部が分断している分断部分を有し、当該分断部分の中に前記外装樹脂の内部と外部の境界である境界部分が配置されている
固体電界コンデンサ。
A capacitor element comprising: an anode body in which an anode wire is embedded; a dielectric film provided on a surface of the anode body; and a solid electrolyte provided on a surface of the dielectric film and including a conductive polymer;
An exterior resin covering the capacitor element;
An anode lead frame that is electrically connected to the anode wire, extends from the inside of the exterior resin to the outside, and functions as an anode terminal;
A cathode lead frame that is electrically connected to the solid electrolyte layer, extends from the inside of the exterior resin to the outside, and functions as a cathode terminal;
Solder plating layers are provided on both surfaces of the cathode lead frame, and the solder plating layer has a divided portion that is partially divided, and the boundary between the inside and the outside of the exterior resin in the divided portion The boundary part that is
Solid electric field capacitor.
前記陽極体は、弁作用金属を焼結して形成した多孔質体である、請求項1に記載の固体電界コンデンサ。 The solid electrolytic capacitor according to claim 1, wherein the anode body is a porous body formed by sintering a valve action metal. 前記陰極リードフレームは、
銅を含む母材と、
前記母材の表面に形成されたニッケルメッキ層と、
前記ニッケルメッキ層の表面に形成された前記はんだメッキ層と、を有する、
請求項1または2に記載の固体電界コンデンサ。
The cathode lead frame is
A base material containing copper;
A nickel plating layer formed on the surface of the base material;
The solder plating layer formed on the surface of the nickel plating layer,
The solid electrolytic capacitor according to claim 1 or 2 .
前記導電性高分子は、ポリチオフェン、ポリピロール、ポリアニリン、またはこれらの誘導体である、請求項1乃至のいずれか一項に記載の固体電界コンデンサ。 The solid electrolytic capacitor according to any one of claims 1 to 3 , wherein the conductive polymer is polythiophene, polypyrrole, polyaniline, or a derivative thereof.
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WO2007052652A1 (en) * 2005-11-01 2007-05-10 Showa Denko K. K. Solid electrolytic capacitor and method for manufacturing same
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