JP5898732B2 - Manufacturing method of optical module - Google Patents

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Description

本発明は、データ処理装置などの機器間又は機器内において、チップ間やボード間で送受信される高速光信号を伝送する際の送受信部となる光モジュールの製造方法に関する。   The present invention relates to a method of manufacturing an optical module that serves as a transmission / reception unit for transmitting a high-speed optical signal transmitted / received between chips or between boards in a device such as a data processing apparatus.

近年、一般ユーザに向けたFTTH(Fiber To The Home)などの高速ブロードバンドサービスの普及により、ルータ・サーバを代表とするIT機器の高速・大容量化が急速に進められている。このような状況の中で、IT機器間・内で従来用いられてきた電気インターコネクトもチャンネル当り10〜25Gbps以上の伝送が要求されている。しかしながら、高速化による高周波ノイズの発生に起因した機器の誤動作や、高周波信号の伝送損失発生による新たな波形調整素子等の必要性などの要因により、その速度限界が問題になってきている。これに対し、光は無誘導性であるため、光信号の伝送線路間におけるノイズ、クロストークは発生しないとともに、反射や損失についても、その変調周波数と無関係であり、制御も容易である。このように、機器間・内の信号伝送線路を光化することによって、10Gbps以上の高周波信号を低損失で伝播可能となるため、配線本数が少なくすむことと、高周波信号に対しても上記の対策が必要無くなるため有望である。また、上記ルータ/スイッチの他にも、ビデオカメラなどの映像機器やPC、携帯電話などの民生機器においても、今後画像高精細化にあたりモニタと端末間での映像信号伝送の高速・大容量化が求められるとともに、従来の電気配線では信号遅延、ノイズ対策等の課題が顕著となるため、信号伝送線路の光化が有効である。   In recent years, with the spread of high-speed broadband services such as FTTH (Fiber To The Home) for general users, high-speed and large-capacity IT equipment represented by routers and servers has been rapidly promoted. Under such circumstances, electrical interconnects conventionally used between and within IT devices are also required to transmit at 10-25 Gbps or more per channel. However, the speed limit has become a problem due to factors such as malfunction of the device due to the generation of high-frequency noise due to high speed and the necessity of a new waveform adjusting element due to the occurrence of transmission loss of high-frequency signals. On the other hand, since light is non-inductive, noise and crosstalk between optical signal transmission lines are not generated, and reflection and loss are independent of the modulation frequency and are easy to control. Thus, by opticalizing the signal transmission line between and within the equipment, a high-frequency signal of 10 Gbps or more can be propagated with low loss, so that the number of wirings can be reduced and the above-mentioned is also applied to the high-frequency signal. It is promising because no countermeasure is required. In addition to the above routers / switches, video devices such as video cameras and consumer devices such as PCs and mobile phones will increase the speed and capacity of video signal transmission between the monitor and terminals in the future for higher definition images. In addition, since conventional electrical wiring has problems such as signal delay and noise countermeasures, it is effective to make the signal transmission line optical.

このような高速光インターコネクトシステムを実現し、機器間・内に適用するためには、安価な作製手段で性能面、小型・集積化、および部品実装性に優れる光モジュール、回路が必要となる。そこで、配線媒体に従来の光ファイバより安価で高密度化に有利な光導波路を用い、基板上に光学部品と光導波路を集積した小型、高速の光モジュールが提案されている。   In order to realize such a high-speed optical interconnect system and apply it between and within devices, an optical module and a circuit that are excellent in terms of performance, small size, integration, and component mountability are required with inexpensive manufacturing means. Therefore, a small and high-speed optical module has been proposed in which an optical waveguide that is cheaper and more advantageous for higher density than conventional optical fibers is used as a wiring medium, and an optical component and an optical waveguide are integrated on a substrate.

光インターコネクトシステム向け光モジュールの従来方式の例として、光導波路配線基板上に、発光素子アレイと受光素子アレイ、および集積回路がそれぞれ集積された光モジュールを、半田ボールによって実装した形態が特許文献1に開示されている。本例では、光導波路配線基板上に光モジュールを実装した際に、発光素子アレイ或いは受光素子アレイと光導波路間で、基板垂直方向に光の接続が行われると同時に、光モジュールと光導波路配線基板間で電気的な接続が行われる。   As an example of a conventional optical module for an optical interconnect system, a configuration in which an optical module in which a light emitting element array, a light receiving element array, and an integrated circuit are integrated on an optical waveguide wiring board is mounted by solder balls is disclosed in Patent Document 1. Is disclosed. In this example, when an optical module is mounted on an optical waveguide wiring board, light is connected in the vertical direction between the light emitting element array or the light receiving element array and the optical waveguide, and at the same time, the optical module and the optical waveguide wiring are connected. Electrical connection is made between the substrates.

特開2008−294226号公報JP 2008-294226 A

特許文献1に開示されている光モジュールの実装形態によれば、光モジュールには面発光レーザ(VCSEL)などの表面出射型発光素子や、表面入射型受光素子が実装される。すなわち、光信号がやりとりされる発光面あるいは受光面と、電気信号がやりとりされる電極が、光素子の同一面上に形成されているため、ワイヤボンド実装により光素子と光導波路間の空間的光学距離が増大することになる。これにより、空間部分での光のビーム拡がりによる光素子−光導波路間光接続損失の増大を引き起こすこととなる。特に受光部では、今後の光モジュール高速化(20Gbps/ch以上)に対して、受光素子の受光径が小さく(20μmφ以下)となるため、光のビーム拡がりによる光接続損失増大の影響が益々顕著となる。さらに、今後25Gbps/chや40Gbps/chの伝送速度高速化が進むにつれて、光源素子と面発光レーザ(VCSEL)等に代表される直接変調方式の限界や、ワイヤボンド実装におけるインダクタンス(L)の影響による電気信号の劣化の影響も顕著となってくると予想される。   According to the mounting form of the optical module disclosed in Patent Document 1, a surface emitting light emitting element such as a surface emitting laser (VCSEL) or a surface incident light receiving element is mounted on the optical module. In other words, the light emitting surface or light receiving surface for exchanging optical signals and the electrode for exchanging electrical signals are formed on the same surface of the optical element. The optical distance will increase. As a result, an optical connection loss between the optical element and the optical waveguide is increased due to the beam expansion of the light in the space. In particular, in the light receiving section, the light receiving diameter of the light receiving element becomes smaller (20 μmφ or less) for future optical module speed increase (20 Gbps / ch or more), and therefore the influence of the increase in the optical connection loss due to the beam expansion of the light becomes more remarkable It becomes. Furthermore, as the transmission speed of 25 Gbps / ch and 40 Gbps / ch increases, the limitations of direct modulation methods such as light source elements and surface emitting lasers (VCSEL), and the influence of inductance (L) in wire bond mounting It is expected that the influence of the deterioration of the electric signal due to will become remarkable.

上記のことから、今後のボード内・間大容量・省電力信号伝達を低損失、低コストで実現するために、近年、光モジュールの高速・小型集積化が可能となる、Siフォトニクス技術を融合した集積光モジュールが注目されている。本技術では、Siの1チップ上に光素子や光学部品を集積することによって、部品点数・実装工程を大幅に削減できるとともに、チップスケールの光モジュール小型化が可能となる。また、上記Siを用いたチップスケールの光モジュールの実現課題としては、光素子と光導波路間で、基板垂直方向に光の接続を行うために、Siの基板平行方向に伝搬する光を垂直方向に光路変換するミラー構造の作製方法、および光導波路基板とSi光デバイスとを低損失な光結合構造がそれぞれ挙げられる。   Based on the above, in order to realize future high-capacity and power-saving signal transmission within and between boards with low loss and low cost, in recent years, integration of Si photonics technology has become possible, which enables high-speed and compact integration of optical modules. The integrated optical module is attracting attention. In the present technology, by integrating optical elements and optical components on one Si chip, the number of components and the mounting process can be greatly reduced, and a chip-scale optical module can be miniaturized. In addition, the realization problem of the chip-scale optical module using Si described above is that the light propagating in the substrate parallel direction of Si is perpendicular to connect the light between the optical element and the optical waveguide in the substrate vertical direction. And a method for producing a mirror structure that changes the optical path, and a low-loss optical coupling structure between the optical waveguide substrate and the Si optical device.

そこで、本発明の目的は、光素子と光導波路配線、および光路変換ミラー部がSiの1チップに集積された、小型・高速の光モジュールの製造方法、特に、放出された光が光路変換ミラー部から外れることで生じる光損失を低減する光モジュール構造の製造方法を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a small and high-speed optical module in which an optical element, an optical waveguide wiring, and an optical path conversion mirror are integrated on a single chip of Si, and in particular, the emitted light is an optical path conversion mirror. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing an optical module structure that reduces optical loss caused by detachment from a part.

上記目的を達するために、本願発明の光モジュールの製造方法の主な特徴は、以下の通りである。   In order to achieve the above object, the main features of the optical module manufacturing method of the present invention are as follows.

Si基板の表面Si光導波路のコアとなるSi薄膜層との間にクラッド層となる埋め込み酸化膜が形成された積層基板を準備する工程と、Si薄膜層の表面に酸化膜を形成する工程と、酸化膜とSi薄膜層と埋め込み酸化膜とをSi基板表面が露出するように一括除去しSi基板上に選択的に溝部を形成する工程と、溝部内に、Si薄膜層の上面より高い位置までSiを再成長させることにより、Si埋め込み層を形成する工程と、Si埋め込み層に異方性エッチングを施し、互いに対峙する第1、第2のテーパ面を有する光路変換部を溝部内に形成すると共に、パターニングしたSi光導波路およびそのSi光導波路の端面部を形成する工程と、を有し、Si光導波路の端面部から外部に出射された光を第1のテーパ面で、外部とSiとの屈折率差により屈折させ、その内部を伝搬させ、さらにその伝播光を第2のテーパ面で、Siと外部との屈折率差により反射させた後、その反射光をSi基板内に通過させ、さらにSi基板外へ出射させるように光路変換部が構成されていることを特徴とする。
Preparing a laminated substrate in which a buried oxide film serving as a cladding layer is formed between the surface of the Si substrate and the Si thin film layer serving as the core of the Si optical waveguide; and forming an oxide film on the surface of the Si thin film layer And a step of removing the oxide film, the Si thin film layer, and the buried oxide film all together so that the surface of the Si substrate is exposed, and selectively forming a groove on the Si substrate, and the groove is higher than the upper surface of the Si thin film layer. by regrowing Si to a position, forming a Si buried layer is subjected to anisotropic etching to Si buried layer, a first facing each other, the optical path conversion unit in the groove having a second tapered surface And forming a patterned Si optical waveguide and an end face portion of the Si optical waveguide, and the light emitted to the outside from the end face portion of the Si optical waveguide at the first taper surface, Si Refracted due to the difference in refractive index, propagates inside, further reflects the propagated light on the second taper surface by the difference in refractive index between Si and the outside, and then passes the reflected light through the Si substrate. Further, the optical path conversion unit is configured to emit light to the outside of the Si substrate .

本発明によれば、光素子と光導波路配線、および光路変換ミラー部がSiの1チップに集積された、小型・高速の光モジュールの製造方法、特に、放出された光が光路変換ミラー部から外れることで生じる光損失を低減する光モジュール構造の製造方法を提供することができる。   According to the present invention, a method for manufacturing a small and high-speed optical module in which an optical element, an optical waveguide wiring, and an optical path conversion mirror unit are integrated on one chip of Si, in particular, emitted light is emitted from the optical path conversion mirror unit. It is possible to provide a method of manufacturing an optical module structure that reduces optical loss caused by detachment.

本発明の第一の実施例である光モジュールの全体、および光路変換部の拡大断面図である。It is the whole optical module which is the 1st example of the present invention, and an expanded sectional view of an optical path changing part. 本発明の第一の実施例である光モジュールの上面斜視図である。1 is a top perspective view of an optical module according to a first embodiment of the present invention. 本発明の第二の実施例である光モジュールの、光路変換部製造方法の一例の、SOI基板断面図である。It is SOI substrate sectional drawing of an example of the optical path change part manufacturing method of the optical module which is the 2nd Example of this invention. 本発明の第二の実施例である光モジュールの、光路変換部製造方法の一例の、酸化膜とSi層に溝部を設けた図である。It is the figure which provided the groove part in the oxide film and Si layer of an example of the optical path change part manufacturing method of the optical module which is the 2nd Example of this invention. 本発明の第二の実施例である光モジュールの、光路変換部製造方法の一例の、溝部にSi再成長層を設けた図である。It is the figure which provided the Si regrowth layer in the groove part of an example of the optical path changing part manufacturing method of the optical module which is the 2nd example of the present invention. 本発明の第二の実施例である光モジュールの、光路変換部製造方法の一例の、Si再成長層にエッチングにてテーパ面を有する光路変換構造を設けた図である。It is the figure which provided the optical path conversion structure which has a taper surface by etching in Si regrown layer of an example of the optical path conversion part manufacturing method of the optical module which is the 2nd Example of this invention. 本発明の第二の実施例である光モジュールの、光路変換部製造方法の一例の、Si再成長層の垂直エッチングによってSi薄膜層の光出射端面部を設けた図である。It is the figure which provided the light-projection end surface part of Si thin film layer by perpendicular etching of Si regrowth layer of an example of an optical path changing part manufacturing method of an optical module which is the 2nd example of the present invention. 本発明の第二の実施例である光モジュールの、光路変換部製造方法の一例の、再表層の酸化膜除去にてSi導波路を表面に露呈した図である。It is the figure which exposed Si waveguide to the surface by the oxide film removal of a resurface layer of an example of the optical path change part manufacturing method of the optical module which is a 2nd Example of this invention. 本発明の第三の実施例である光モジュールの全体、および光路変換部の拡大断面図である。It is the whole optical module which is the 3rd example of the present invention, and an expanded sectional view of an optical path changing part. 本発明の第四の実施例である光モジュールの全体、および光路変換部の拡大断面図である。It is the whole optical module which is the 4th example of the present invention, and an expanded sectional view of an optical path changing part. 本発明の第五の実施例である光モジュールの上面斜視図である。It is a top perspective view of the optical module which is the 5th Example of this invention. 本発明の第六の実施例である光モジュールの上面斜視図である。It is a top perspective view of the optical module which is the 6th Example of this invention. 本発明の第七の実施例である光モジュールの全体、および光路変換部の拡大断面図である。It is the whole optical module which is the 7th example of the present invention, and an expanded sectional view of an optical path changing part. 本発明の第八の実施例である光モジュールが実装された光電気混載ボードの断面図である。It is sectional drawing of the opto-electric hybrid board by which the optical module which is the 8th Example of this invention was mounted. 本発明の第九の実施例である光モジュールの上面斜視図である。It is a top perspective view of the optical module which is the 9th Example of this invention.

以下に、図面を用いて、本発明の実施の形態を詳細に述べる。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

図1Aおよび図1Bは、本発明の第一の実施例である光モジュールの概要を示す図である。図1Aの全体、および光路変換部の拡大断面図に示すように、本実施例では、Si材料でできた同一基板100上に、レーザ光源素子101を載置しているとともに、Si基板100上の基板水平方向に直接設けられたSi導波路102で構成されている。また、Si導波路102の光出射端からの光軸延長線上には、基板平行に対して傾斜角を有する第1のテーパ面106と、同第1のテーパ面106と対向する位置に基板平行に対して傾斜角を有する第2のテーパ面107がそれぞれ表面に露呈した光路変換部104が設けられている。なお、第1のテーパ面106と第2のテーパ面107とで挟まれてSi基板で構成された光路変換部104を、以下に便宜上、本体部と称することがある。   1A and 1B are diagrams showing an outline of an optical module according to a first embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1A as a whole and an enlarged cross-sectional view of the optical path conversion unit, in this embodiment, the laser light source element 101 is placed on the same substrate 100 made of Si material, and The Si waveguide 102 is provided directly in the horizontal direction of the substrate. Further, on the optical axis extension line from the light emitting end of the Si waveguide 102, the first taper surface 106 having an inclination angle with respect to the substrate parallel and the substrate parallel to the position facing the first taper surface 106 are provided. The optical path changing unit 104 is provided with the second tapered surface 107 having an inclination angle with respect to the surface. In addition, the optical path conversion unit 104 that is sandwiched between the first taper surface 106 and the second taper surface 107 and is formed of a Si substrate may be referred to as a main body portion for convenience below.

本構造によれば、レーザ光源素子101から出射され、Si導波路102内を伝搬後、一旦Si外部に出射された光は、光路変換部104の第1のテーパ面で外部(例えば空気)とSiとの屈折率差によって屈折された後、Si光路変換内部を伝搬する。さらに、同Si光路変換内部の伝搬光は、第2のテーパ面107にてSi(屈折率約3.5)と外部(例えば空気、屈折率1.0)との屈折率差によって基板垂直下方に反射された後、Si基板100内を通過し、基板外部に出射される。   According to this structure, the light emitted from the laser light source element 101, propagated in the Si waveguide 102, and then emitted to the outside of the Si once passes through the first tapered surface of the optical path conversion unit 104 to the outside (for example, air). After being refracted by the difference in refractive index from Si, it propagates inside the Si optical path conversion. Further, the propagating light inside the Si optical path conversion is vertically below the substrate due to the difference in refractive index between Si (refractive index about 3.5) and the outside (for example, air, refractive index 1.0) at the second tapered surface 107. Then, the light passes through the Si substrate 100 and is emitted to the outside of the substrate.

上述のように、本構造によって、レーザ光源素子101と、Si基板100上に一体集積されたSi導波路102、光路変換部104をそれぞれSiの1チップに集積することで、光部品をSiウェハプロセスで一括に作製でき、安価且つチップスケールに小型化されるとともに、高密度で大容量の信号伝送を可能とする光モジュール108が実現可能である。   As described above, this structure integrates the laser light source element 101, the Si waveguide 102 integrated on the Si substrate 100, and the optical path conversion unit 104 into one Si chip, thereby allowing the optical component to be integrated into the Si wafer. It is possible to realize the optical module 108 that can be manufactured in a batch by the process, is inexpensive and downsized on a chip scale, and enables high-density and large-capacity signal transmission.

なお、Si基板100は、表面Si層の間に酸化膜103を埋め込んだ、Si−on−Insulator(SOI)構造を有する基板としてもよい。SOI基板を用いることで、埋め込み酸化膜103を低屈折率のクラッド層として構成できるため、図1Bのように、Si平面上の配線パタン形成によって、Siウェハプロセスにて容易に埋め込み酸化膜103上のSi層を光導波路102として用いることができる。   Note that the Si substrate 100 may be a substrate having a Si-on-Insulator (SOI) structure in which an oxide film 103 is embedded between surface Si layers. By using the SOI substrate, the buried oxide film 103 can be configured as a low-refractive index cladding layer. Therefore, as shown in FIG. 1B, by forming a wiring pattern on the Si plane, the buried oxide film 103 can be easily formed by the Si wafer process. The Si layer can be used as the optical waveguide 102.

また、光路変換部104の第1のテーパ面106および第2のテーパ面107は、Si(111)方位面が表面に露呈した構造としてもよい。Si(111)面は、所望の傾斜角度を保って、ダイシングするか、あるいはレーザ光を照射することにより、あるいはエッチングなどの薬品を用いた加工法によって、獲得することができる。エッチングの場合には、アルカリ性ウェットエッチング等の通常用いられるSiウェハプロセスによって容易に作製できる。また同時に、方位面の基板平行面に対する傾斜角が約54.7度で決められるため、作製ばらつきが無く、高精度にテーパ面を作製可能である。勿論、54.7度の必然性は問わないが、Si光導波路102からの出射光を基板垂直下方向に光路変換するために、第1のテーパ面106および第2のテーパ面107は、基板平行面に対しておよそ50〜60度の傾斜角で構成されている事が望ましい。   Further, the first taper surface 106 and the second taper surface 107 of the optical path conversion unit 104 may have a structure in which the Si (111) orientation surface is exposed on the surface. The Si (111) plane can be obtained by dicing with a desired tilt angle, irradiating with laser light, or by a processing method using chemicals such as etching. In the case of etching, it can be easily produced by a commonly used Si wafer process such as alkaline wet etching. At the same time, since the inclination angle of the azimuth plane with respect to the parallel plane of the substrate is determined to be about 54.7 degrees, there is no manufacturing variation, and the tapered surface can be manufactured with high accuracy. Of course, the necessity of 54.7 degrees does not matter, but the first tapered surface 106 and the second tapered surface 107 are parallel to the substrate in order to change the optical path of the light emitted from the Si optical waveguide 102 in the direction perpendicular to the substrate. It is desirable that the angle is approximately 50 to 60 degrees with respect to the surface.

さらに、Si半導体基板100上に載置されるレーザ光源素子101は、インジウム燐(InP)などの化合物半導体材料を用いた基板上に作製されたレーザ素子を用い、その発振波長はSiでの光吸収の問題を回避するため980nm以上の赤外波長帯とするのが良い。   Further, the laser light source element 101 placed on the Si semiconductor substrate 100 is a laser element manufactured on a substrate using a compound semiconductor material such as indium phosphide (InP), and the oscillation wavelength thereof is the light of Si. In order to avoid the problem of absorption, an infrared wavelength band of 980 nm or more is preferable.

図2A〜図2Fは、本発明の第二の実施例である光モジュールの、光路変換部の製造方法の一例を示す図である。   2A to 2F are diagrams illustrating an example of a method for manufacturing an optical path conversion unit of the optical module according to the second embodiment of the present invention.

図2Aに示すような、Si基板100とSi薄膜層202間に埋め込み酸化膜103を挿入したSOI基板の表面に、図2Bに示すように、酸化膜200を形成した後、任意の箇所の酸化膜200、Si薄膜層202、および埋め込み酸化膜103をエッチング等により溝部203を形成する。   As shown in FIG. 2B, an oxide film 200 is formed on the surface of the SOI substrate in which the buried oxide film 103 is inserted between the Si substrate 100 and the Si thin film layer 202 as shown in FIG. A groove 203 is formed in the film 200, the Si thin film layer 202, and the buried oxide film 103 by etching or the like.

次に図2Cのように、溝部203にSiを再成長などによって埋め込んだ構造とする。
Si埋め込み層201の厚みは、最表面酸化膜200部分の高さと同程度で良いが、Si薄膜層202部分の高さよりは高い位置まで埋め込まれていた方が望ましい。
Next, as shown in FIG. 2C, a structure is formed in which Si is buried in the groove 203 by regrowth or the like.
The thickness of the Si buried layer 201 may be approximately the same as the height of the outermost surface oxide film 200 portion, but it is desirable that the Si buried layer 201 is buried to a position higher than the height of the Si thin film layer 202 portion.

次に図2Dのように、Si埋め込み層201上の任意の箇所に、フォトリソグラフィなどによってエッチングマスクパターンを形成した後、アルカリ性のエッチング液等を用いて異方性のウェットエッチングを実施し、Si(111)面が表面に露呈したテーパ面106、107を形成する。本手法で作製したSi(111)テーパ面は、実施例1で説明したように、方位面の基板平行面に対する傾斜角が約54.7度で決められる。ここで、図示はしていないが、Si薄膜層202および表面酸化膜200の表面上にフォトリソグラフィなどによってエッチングマスクパターンを形成した後、エッチングによって配線パタン形成することによって、Si導波路パタンを形成できる。   Next, as shown in FIG. 2D, an etching mask pattern is formed at an arbitrary position on the Si buried layer 201 by photolithography or the like, and then anisotropic wet etching is performed using an alkaline etching solution or the like. Tapered surfaces 106 and 107 with the (111) surface exposed on the surface are formed. As described in the first embodiment, the Si (111) taper surface produced by this method has an inclination angle of about 54.7 degrees with respect to the substrate parallel plane. Although not shown here, an Si mask pattern is formed by forming an etching mask pattern on the surfaces of the Si thin film layer 202 and the surface oxide film 200 by photolithography or the like and then forming a wiring pattern by etching. it can.

次に図2Dのように、Si薄膜層202の末端部分のSi埋め込み層201を、エッチング等によって基板垂直方向に加工することによって、Si導波路102の端面部を設けるとともに、2つのテーパ面106、107を有する光路変換部104が形成される。なお、図2Eのように、Si導波路102上の表面酸化膜200は残しておいても良いし、図2Fに示すように、表面酸化膜200を除去しても良く、どちらも光モジュールの性能に大きく影響する事は無いと考えられる。   Next, as shown in FIG. 2D, the Si buried layer 201 at the end of the Si thin film layer 202 is processed in the direction perpendicular to the substrate by etching or the like, thereby providing an end surface portion of the Si waveguide 102 and two tapered surfaces 106. , 107 are formed. The surface oxide film 200 on the Si waveguide 102 may be left as shown in FIG. 2E, or the surface oxide film 200 may be removed as shown in FIG. 2F. The performance is not expected to be significantly affected.

本実施例で説明したようなプロセス工程によって、Si基板100上にSi導波路102、光路変換部104をそれぞれSiウェハプロセスで一括に作製でき、安価且つチップスケールに小型化された光モジュールが実現可能である。   Through the process steps as described in the present embodiment, the Si waveguide 102 and the optical path conversion unit 104 can be collectively manufactured on the Si substrate 100 by the Si wafer process, and an inexpensive and miniaturized optical module can be realized. Is possible.

図3は、本発明の第三の実施例である光モジュールの全体、および光路変換部の拡大断面図である。本実施例では、光路変換部104の第1および第2のテーパ面106、107の最上部104Aが、Si導波路102の光出射端部よりも高い位置に位置しているとともに、光路変換部104の第1および第2のテーパ面106、107の最下部104Bが、Si導波路102の光出射端部よりも低い位置に位置するように設けた構造としている。本構造とすることで、Si導波路102内を伝搬した光が、Si外部に出射された時に屈折率差によって拡がった場合においても、光路変換部104の第1のテーパ面106に効率良く当てることが出来るため、出射光が光路変換部104のテーパ面106外に放出した際の、過剰光損失を抑制可能である。   FIG. 3 is an enlarged cross-sectional view of the entire optical module and the optical path conversion unit according to the third embodiment of the present invention. In the present embodiment, the uppermost portions 104A of the first and second tapered surfaces 106 and 107 of the optical path conversion unit 104 are positioned higher than the light emission end of the Si waveguide 102, and the optical path conversion unit The lowermost portion 104B of the first and second tapered surfaces 106 and 107 of the 104 is provided so as to be positioned at a position lower than the light emitting end portion of the Si waveguide 102. With this structure, even when light propagating in the Si waveguide 102 spreads due to a difference in refractive index when emitted to the outside of Si, the light is efficiently applied to the first tapered surface 106 of the optical path conversion unit 104. Therefore, it is possible to suppress excess light loss when the emitted light is emitted outside the tapered surface 106 of the optical path conversion unit 104.

図4は、本発明の第四の実施例である光モジュールの全体、および光路変換部の拡大断面図である。本実施例では、Si導波路102の光出射端と、光路変換部104の間の光路に、空気(1.0)よりも大きく、Si(約3.5)よりも小さい屈折率を有する媒体400を挿入している。同中間屈折率を有する媒体400は、具体的には、使用する光の波長(980nm以上)に対して高い透過率(約80%以上)を有し、屈折率が1.4乃至1.5である誘電体酸化膜や樹脂などが望ましい。実施例2で説明したように、光路変換部104の第1および第2のテーパ面106、107を異方性エッチングによってSi(111)方位面が露呈するように作製すると、基板平行面に対するテーパ面の傾斜角が約54.7度となる。Siの屈折率を3.5とすると、同傾斜角で第1テーパ面106での屈折角および第2テーパ面107でのSi内部反射角を算出すると、同中間屈折率を有する媒体400の屈折率が1.4乃至1.5の場合に、第2テーパ面107で反射した後の光がSi基板100のほぼ垂直下方向に光路変換される。また、1.4乃至1.5の屈折率を有する媒体400は、通常の半導体デバイスに用いられる誘電体酸化膜や樹脂などの材料であり、容易に適用できる。さらに、様々な屈折率を有する媒体400の材料を選択することによって、第1テーパ面106での屈折角を変化させることができる。すなわち、媒体400の屈折率によって、光信号105の光路変換角度を任意に調整可能である。   FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view of the entire optical module and the optical path conversion unit according to the fourth embodiment of the present invention. In this embodiment, the medium having a refractive index larger than air (1.0) and smaller than Si (about 3.5) in the optical path between the light exit end of the Si waveguide 102 and the optical path conversion unit 104. 400 is inserted. Specifically, the medium 400 having the same intermediate refractive index has a high transmittance (about 80% or more) with respect to the wavelength of light used (980 nm or more), and a refractive index of 1.4 to 1.5. A dielectric oxide film, resin, or the like is desirable. As described in the second embodiment, when the first and second taper surfaces 106 and 107 of the optical path conversion unit 104 are formed by anisotropic etching so that the Si (111) orientation surface is exposed, the taper with respect to the substrate parallel surface is formed. The inclination angle of the surface is about 54.7 degrees. When the refractive index of Si is 3.5, the refraction angle at the first taper surface 106 and the Si internal reflection angle at the second taper surface 107 are calculated at the same inclination angle, and the refraction of the medium 400 having the same intermediate refractive index is calculated. When the ratio is 1.4 to 1.5, the light after being reflected by the second taper surface 107 is optically path-changed in the substantially vertical downward direction of the Si substrate 100. Further, the medium 400 having a refractive index of 1.4 to 1.5 is a material such as a dielectric oxide film or a resin used for a normal semiconductor device, and can be easily applied. Furthermore, the refraction angle at the first tapered surface 106 can be changed by selecting the material of the medium 400 having various refractive indexes. That is, the optical path conversion angle of the optical signal 105 can be arbitrarily adjusted by the refractive index of the medium 400.

図5は、本発明の第五の実施例である光モジュールの上面斜視図である。本実施例では、2ch以上(本例では4ch)のレーザ光源素子アレイ500と、Si導波路102アレイがSi基板100上に載置されている。また、Si導波路102アレイの各導波路の光出射端からの光軸延長線上には、基板平行に対して傾斜角を有する第1のテーパ面106と、同第1のテーパ面106と対向する位置に基板平行に対して傾斜角を有する第2のテーパ面107がそれぞれ表面に露呈したSi光路変換部104が設けられている。   FIG. 5 is a top perspective view of an optical module according to a fifth embodiment of the present invention. In this embodiment, the laser light source element array 500 of 2ch or more (4ch in this example) and the Si waveguide 102 array are mounted on the Si substrate 100. Further, on the optical axis extension line from the light exit end of each waveguide of the Si waveguide 102 array, the first taper surface 106 having an inclination angle with respect to the substrate parallel is opposed to the first taper surface 106. The Si optical path conversion unit 104 is provided at the position where the second tapered surface 107 having an inclination angle with respect to the substrate parallel is exposed on the surface.

本構成によって、部品点数と実装工程数を増やすことなく、さらにはチップスケールの小型化を保ちつつ、光モジュールの大容量化が可能である。   With this configuration, it is possible to increase the capacity of the optical module without increasing the number of components and the number of mounting steps, and while keeping the chip scale downsized.

図6は、本発明の第六の実施例である光モジュールの上面斜視図である。本実施例では、実施例5の構造と比較して、Si導波路102アレイの各隣接チャンネルに対して、Si光路変換部104A〜104Dが、Si基板100の平面上でそれぞれ交互に千鳥配置した構成としている。   FIG. 6 is a top perspective view of an optical module according to the sixth embodiment of the present invention. In this embodiment, compared to the structure of the fifth embodiment, Si optical path conversion units 104A to 104D are alternately arranged in a staggered manner on the plane of the Si substrate 100 for each adjacent channel of the Si waveguide 102 array. It is configured.

本構成とすることで、実施例5で説明した構造と比べて、Si導波路102アレイからの出射光の各チャンネル間における光のクロストークを回避しつつ、チャンネル間ピッチを小さくできるため、光モジュールの更なる小型、高密度化が可能となる。また、各Si光路変換部104A〜104Dはフォトリソグラフィとエッチング等によって一括にパタン形成可能であるため、部品点数と実装工程数を増やすことなく、Si基板100平面上の任意の位置に対して容易に形成できる。   Compared with the structure described in the fifth embodiment, this configuration can reduce the pitch between channels while avoiding the light crosstalk between the channels of the light emitted from the Si waveguide 102 array. The module can be further reduced in size and density. In addition, since each of the Si optical path conversion units 104A to 104D can be formed in a pattern by photolithography, etching, etc., it can be easily performed at any position on the plane of the Si substrate 100 without increasing the number of parts and the number of mounting steps. Can be formed.

図7は、本発明の第七の実施例である光モジュールの全体、および光路変換部の拡大断面図である。本実施例では、レーザ光源素子101と、Si基板100に直接設けられたSi導波路102、および第1の光路変換部104Aが形成されたSiの同一基板100上に、基板平行に対して傾斜角を有するテーパ面701が表面に露呈した第2の光路変換部104B、および受光素子部700を設けている。   FIG. 7 is an enlarged cross-sectional view of the entire optical module and the optical path conversion unit according to the seventh embodiment of the present invention. In the present embodiment, the laser light source element 101, the Si waveguide 102 provided directly on the Si substrate 100, and the same Si substrate 100 on which the first optical path conversion unit 104A is formed are inclined with respect to the substrate parallel. A second optical path conversion unit 104B having a tapered surface 701 having a corner exposed on the surface and a light receiving element unit 700 are provided.

本構成では、Si基板100の外部からSi基板の垂直方向に入射された光105Bが、Si基板100内部を伝搬した後、第2の光路変換部104Bのテーパ面701にて、Si(屈折率約3.5)と外部(例えば空気、屈折率1.0)との屈折率差によって反射された後、Si基板100表面に設けた受光素子部700と光学的に接続される。   In this configuration, after the light 105B incident from the outside of the Si substrate 100 in the vertical direction of the Si substrate propagates through the Si substrate 100, Si (refractive index) is formed on the tapered surface 701 of the second optical path conversion unit 104B. After being reflected by the difference in refractive index between about 3.5) and the outside (for example, air, refractive index 1.0), it is optically connected to the light receiving element portion 700 provided on the surface of the Si substrate 100.

なお、第2の光路変換部104Bのテーパ面701は、第1の光路変換部104Aと同様に、実施例2で説明したSiウェハプロセス手法を用いて簡易且つ高精度に作製可能である。また、Si半導体基板100上に形成する受光素子部700は、受光部に980nm以上の赤外波長帯に吸収感度を有し、Siのウェハプロセスにて作製可能なゲルマニウム(Ge)材料を用いるのが望ましい。   The tapered surface 701 of the second optical path conversion unit 104B can be easily and highly accurately manufactured using the Si wafer process method described in the second embodiment, similarly to the first optical path conversion unit 104A. In addition, the light receiving element portion 700 formed on the Si semiconductor substrate 100 uses a germanium (Ge) material that has an absorption sensitivity in the infrared wavelength band of 980 nm or more in the light receiving portion and can be manufactured by a Si wafer process. Is desirable.

本構成によって、レーザ光源素子101と、Si基板100上に一体集積されたSi導波路102、光路変換部104A,104B、さらには受光素子部700をそれぞれSiの1チップに集積することで、光部品をSiウェハプロセスで一括に作製でき、安価且つチップスケールに小型化されるとともに、高密度で大容量の信号伝送可能な送受信機能を有する光モジュール108が実現できる。   With this configuration, the laser light source element 101, the Si waveguide 102 integrated with the Si substrate 100, the optical path conversion units 104A and 104B, and the light receiving element unit 700 are integrated on a single Si chip. Components can be manufactured in a batch by the Si wafer process, and the optical module 108 having a transmission / reception function capable of transmitting signals with high density and large capacity can be realized while being reduced in size and on a chip scale.

図8は、本発明の第八の実施例である光モジュールが実装された光電気混載ボードの断面図である。本実施例では、図80のように、ガラスエポキシなどの基板803上に、クラッド層800に囲まれてクラッド層よりも屈折率の高い材料でできた配線コア801から形成された光導波路配線ボードを設けている。また、配線コア801の端部には光路変換ミラー802を載置している。   FIG. 8 is a cross-sectional view of an opto-electric hybrid board on which an optical module according to an eighth embodiment of the present invention is mounted. In this embodiment, as shown in FIG. 80, an optical waveguide wiring board formed from a wiring core 801 made of a material having a higher refractive index than that of the cladding layer surrounded by the cladding layer 800 on a substrate 803 such as glass epoxy. Is provided. Further, an optical path conversion mirror 802 is placed on the end of the wiring core 801.

本構成では、レーザ光源素子101から出射され、Si導波路102内を伝搬後、一旦Si外部に出射された光は、光路変換部104によって屈折および基板垂直下方に反射された後、Si基板100内を通過し、基板外部に出射される。さらに、同出射光105は、光導波路配線ボード内に設けられた光路変換ミラー802で基板水平方向に折り曲げられ、配線コア801と光学的に接続されるとともに、コア内を伝搬する。   In this configuration, the light emitted from the laser light source element 101, propagated through the Si waveguide 102, and once emitted to the outside of the Si is refracted by the optical path conversion unit 104 and reflected downward vertically to the Si substrate 100. It passes through the inside and is emitted to the outside of the substrate. Further, the emitted light 105 is bent in the horizontal direction of the substrate by an optical path conversion mirror 802 provided in the optical waveguide wiring board, is optically connected to the wiring core 801, and propagates in the core.

なお、配線コア801や光路変換ミラー802はポリマ材料を用いて形成することで、フィルムラミネートやフォトリソグラフィ等のプリント配線基板で一般に用いられる工法を使って、簡易且つ安価に作製できる。
本構成のように、レーザ光源素子101と、Si基板100上に一体集積されたSi導波路102、光路変換部104をそれぞれSiの1チップに集積した光モジュールを、光路変換ミラー構造を具備する光導波路を設けた基板上に実装することにより、光素子と光導波路間でやりとりされる信号が、Si基板を介して高効率に光学接続された高速且つ大容量の光電気混載ボードを実現できる。
Note that the wiring core 801 and the optical path conversion mirror 802 are formed using a polymer material, and can be easily and inexpensively manufactured using a method generally used for printed wiring boards such as film lamination and photolithography.
As in this configuration, an optical module in which the laser light source element 101, the Si waveguide 102 integrated on the Si substrate 100, and the optical path conversion unit 104 are each integrated on one Si chip is provided with an optical path conversion mirror structure. By mounting on a substrate provided with an optical waveguide, a high-speed and large-capacity opto-electric hybrid board in which signals exchanged between the optical element and the optical waveguide are optically connected through the Si substrate with high efficiency can be realized. .

図9は、本発明の第九の実施例である光モジュールの上面斜視図である。本実施例では、Si基板100に設けられたSi光導波路102を、光出射端近傍でテーパ形状900とすることで、光導波路幅を変化させた構成としている。   FIG. 9 is a top perspective view of an optical module according to the ninth embodiment of the present invention. In this embodiment, the Si optical waveguide 102 provided on the Si substrate 100 has a tapered shape 900 in the vicinity of the light emitting end, so that the optical waveguide width is changed.

本構成によって、Si光導波路102の光出射端近傍の断面積を変えることによって、Si光導波路102の出射ビーム径を調整することができる。すなわち、本構成によって、実施例8で説明したような、配線コア径が約50μm角と大きいマルチモードの光導波路配線ボードと、本光モジュールとを光学接続する場合において、Si光導波路102とマルチモードの光導波路配線のコア径や開口数(numerical aperture, NA)の違いよって生じる、モードミスマッチによる光結合損失の増大を抑制することができる。   With this configuration, the diameter of the outgoing beam of the Si optical waveguide 102 can be adjusted by changing the cross-sectional area near the light emitting end of the Si optical waveguide 102. That is, with this configuration, when optically connecting a multimode optical waveguide wiring board having a large wiring core diameter of about 50 μm square as described in Example 8 and the present optical module, the Si optical waveguide 102 and the It is possible to suppress an increase in optical coupling loss due to mode mismatch, which is caused by a difference in the core diameter and numerical aperture (NA) of the mode optical waveguide wiring.

なお、Si光導波路102の光出射端近傍の断面積は、徐々に小さくしても良いし、反対に大きくしても良く、どちらの場合においてもビーム径を変化することが可能である。   The cross-sectional area in the vicinity of the light emitting end of the Si optical waveguide 102 may be gradually reduced, or conversely increased. In either case, the beam diameter can be changed.

100…Si基板、
101…レーザ光源素子、
102…Si光導波路、
103…埋め込み酸化膜、
104、104A、104B、104C、104D…Si光路変換部、
105、105A、105B…光信号
106、107、701…テーパ面、
108…光モジュール、
109…半田、
200…酸化膜、
201…Si再成長層、
202…Si薄膜層、
203…溝部、
400…Siと空気との中間屈折率媒体、
500…レーザ光源素子アレイ、
700…受光素子部、
800…クラッド層、
801…コア層、
802…光路変換ミラー、
803…基板、
804…薄膜層。
100 ... Si substrate,
101 ... Laser light source element,
102 ... Si optical waveguide,
103 ... buried oxide film,
104, 104A, 104B, 104C, 104D ... Si optical path conversion unit,
105, 105A, 105B ... optical signals 106, 107, 701 ... tapered surfaces,
108: optical module,
109 ... Solder,
200: oxide film,
201 ... Si regrowth layer,
202 ... Si thin film layer,
203 ... groove,
400: Intermediate refractive index medium of Si and air,
500 ... Laser light source element array,
700... Light receiving element portion,
800 ... cladding layer,
801 ... core layer,
802 ... Optical path conversion mirror,
803 ... a substrate,
804: A thin film layer.

Claims (1)

Si基板の表面Si光導波路のコアとなるSi薄膜層との間にクラッド層となる埋め込み酸化膜が形成された積層基板を準備する工程と、
前記Si薄膜層の表面に酸化膜を形成する工程と、
前記酸化膜と前記Si薄膜層と前記埋め込み酸化膜とを前記Si基板表面が露出するように一括除去し前記Si基板上に選択的に溝部を形成する工程と、
前記溝部内に、前記Si薄膜層の上面より高い位置までSiを再成長させることにより、Si埋め込み層を形成する工程と、
前記Si埋め込み層に異方性エッチングを施し、互いに対峙する第1、第2のテーパ面を有する光路変換部を前記溝部内に形成すると共に、パターニングした前記Si光導波路およびそのSi光導波路の端面部を形成する工程と、を有し、
前記Si光導波路の端面部から外部に出射された光を前記第1のテーパ面で、前記外部とSiとの屈折率差により屈折させ、その内部を伝搬させ、さらにその伝播光を前記第2のテーパ面で、前記Siと前記外部との屈折率差により反射させた後、その反射光を前記Si基板内に通過させ、さらに前記Si基板外へ出射させるように前記光路変換部が構成されている
ことを特徴とする光モジュールの製造方法。
Preparing a laminated substrate in which a buried oxide film serving as a cladding layer is formed between the surface of the Si substrate and the Si thin film layer serving as the core of the Si optical waveguide;
Forming an oxide film on the surface of the Si thin film layer;
Removing the oxide film, the Si thin film layer, and the buried oxide film all together so that the surface of the Si substrate is exposed, and selectively forming a groove on the Si substrate;
Forming a Si buried layer in the groove by re-growing Si to a position higher than the upper surface of the Si thin film layer;
The Si buried layer is subjected to anisotropic etching to form an optical path changing portion having first and second tapered surfaces facing each other in the groove, and the patterned Si optical waveguide and an end surface of the Si optical waveguide Forming a portion , and
The light emitted to the outside from the end face portion of the Si optical waveguide is refracted by the first taper surface due to the difference in refractive index between the outside and Si, propagates inside the light, and further propagates the second light. The optical path conversion unit is configured so that the reflected light is reflected by the difference in refractive index between Si and the outside, and then the reflected light passes through the Si substrate and is emitted to the outside of the Si substrate. ing
A method for manufacturing an optical module.
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