JP5889746B2 - Substrate processing apparatus, solid electrolyte membrane forming apparatus, and solid electrolyte membrane forming method - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 231
- 239000007784 solid electrolyte Substances 0.000 title claims description 48
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 31
- 239000012528 membrane Substances 0.000 title claims description 28
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims description 152
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims description 7
- 239000010408 film Substances 0.000 description 108
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 66
- 229910012305 LiPON Inorganic materials 0.000 description 26
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 10
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 229910018119 Li 3 PO 4 Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 229910019142 PO4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- IDBFBDSKYCUNPW-UHFFFAOYSA-N lithium nitride Chemical compound [Li]N([Li])[Li] IDBFBDSKYCUNPW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001386 lithium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K phosphate Chemical compound [O-]P([O-])([O-])=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 239000010452 phosphate Substances 0.000 description 1
- 230000002195 synergetic effect Effects 0.000 description 1
- TWQULNDIKKJZPH-UHFFFAOYSA-K trilithium;phosphate Chemical compound [Li+].[Li+].[Li+].[O-]P([O-])([O-])=O TWQULNDIKKJZPH-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
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Description
本開示の技術は、搬送部によって搬送される基板が電極と向かい合うことによって基板が処理される基板処理装置、固体電解質膜の形成装置、及び、固体電解質膜の形成方法に関する。 The technology of the present disclosure relates to a substrate processing apparatus, a solid electrolyte film forming apparatus, and a solid electrolyte film forming method in which a substrate is processed by a substrate conveyed by a conveyance unit facing an electrode.
真空槽の内部で基板を処理する基板処理装置の一つには、基板上に薄膜を形成する成膜装置が知られている。例えば、特許文献1に記載の成膜装置では、成膜源から供給される成膜材料が基板上に堆積することによって薄膜が形成される。
As one of substrate processing apparatuses that process a substrate inside a vacuum chamber, a film forming apparatus that forms a thin film on the substrate is known. For example, in the film forming apparatus described in
上述の成膜装置には、成膜源と基板との間の隙間に複数の補正板が配置され、複数の補正板は、成膜源から供給される成膜材料の分布の偏りを基板に対して補正する。そして、複数の補正板の各々は、成膜材料の偏る部分にて成膜材料の供給を抑えることによって、基板に形成される薄膜の膜厚均一性を高める。 In the above-described film formation apparatus, a plurality of correction plates are arranged in a gap between the film formation source and the substrate, and the plurality of correction plates cause a deviation in the distribution of the film formation material supplied from the film formation source to the substrate. Correct for this. Each of the plurality of correction plates improves the film thickness uniformity of the thin film formed on the substrate by suppressing the supply of the film forming material at the portion where the film forming material is biased.
ところで、薄膜太陽電池の製造工程や表示装置の製造工程には、上述の基板処理装置の一例としてスパッタ装置が用いられている。こうしたスパッタ装置では、成膜源にターゲットが用いられてターゲットと向かい合う位置を基板が通過する。この際に、搬送方向に沿って搬送される基板では、まず、基板における搬送方向の端部である先端部がターゲットと向かい合う位置に配置され、その後に、基板の中央部がターゲットと向かい合う位置に配置される。 By the way, a sputtering apparatus is used as an example of the above-described substrate processing apparatus in the manufacturing process of the thin film solar cell and the manufacturing process of the display device. In such a sputtering apparatus, a target is used as a film forming source, and the substrate passes through a position facing the target. At this time, in the substrate transported along the transport direction, first, the front end portion of the substrate in the transport direction is disposed at a position facing the target, and then the center portion of the substrate is disposed at the position facing the target. Be placed.
それゆえに、ターゲットと向かい合う空間が対向領域として設定されると、基板の先端部は、対向領域の中に基板が含まれない状態から対向領域に進入する。一方で、基板の中央部は、対向領域の中に既に基板の一部が含まれる状態から対向領域に進入する。結果として、基板の先端部に成膜処理が施される際の対向領域の状態と、基板の中央部に成膜処理が施される際の対向領域の状態とが相互に異なるため、基板の先端部と基板の中央部との間で成膜処理の結果が相互に異なることになる。 Therefore, when the space facing the target is set as the facing area, the tip of the substrate enters the facing area from a state where the substrate is not included in the facing area. On the other hand, the central portion of the substrate enters the counter area from a state where a part of the substrate is already included in the counter area. As a result, the state of the facing region when the film forming process is performed on the front end portion of the substrate is different from the state of the facing region when the film forming process is performed on the central portion of the substrate. The results of the film forming process are different between the tip portion and the central portion of the substrate.
なお、基板の面内における処理結果の差異に関わる課題は、上述のスパッタ装置に限られない。すなわち、電極と対向する対向領域を基板が通過して基板に対する処理が施される基板処理装置にて、上述の課題は共通する。 Note that the problem relating to the difference in processing results within the surface of the substrate is not limited to the above-described sputtering apparatus. That is, the above-described problems are common in a substrate processing apparatus in which a substrate passes through a facing region facing an electrode and processing is performed on the substrate.
本開示の技術は、上述した実情に鑑みてなされたものであって、基板に対する処理の均一性を高めることの可能な基板処理装置、固体電解質膜の形成装置、及び、固体電解質膜の形成装置を提供することを目的とする。 The technology of the present disclosure has been made in view of the above-described circumstances, and is capable of improving the uniformity of processing on a substrate, a solid electrolyte membrane forming device, and a solid electrolyte membrane forming device. The purpose is to provide.
本開示の技術における基板処理装置の一態様は、電極と、基板が載置される載置部と、搬送方向に沿って前記載置部を搬送して前記載置部と前記電極とを向かい合わせる搬送部と、を備える。そして、前記載置部は、当該載置部に載置された基板の前記搬送方向にはみ出す端部を有し、前記電極における前記搬送方向の長さが、電極幅WPとして設定され、前記端部における前記搬送方向の長さが、端部幅WEとして設定され、WE≧WPが満たされる。 One aspect of the substrate processing apparatus according to the technique of the present disclosure includes an electrode, a placement unit on which the substrate is placed, and the placement unit and the electrode facing the placement unit along the transport direction. And a conveying unit for matching. The placement unit has an end portion that protrudes in the transport direction of the substrate placed on the placement unit, and the length of the electrode in the transport direction is set as an electrode width WP, and the end The length of the part in the transport direction is set as the end width WE, and WE ≧ WP is satisfied.
本開示の技術における固体電解質膜の形成装置の一態様は、固体電解質の構成元素を含むターゲットが搭載された電極と、基板が載置される載置部と、搬送方向に沿って前記載置部を搬送して前記載置部と前記電極とを向かい合わせる搬送部と、を備える。そして、前記載置部は、当該載置部に載置された基板の前記搬送方向にはみ出す端部を有し、前記電極における前記搬送方向の長さが、電極幅WPとして設定され、前記端部における前記搬送方向の長さが、端部幅WEとして設定され、WE≧WPが満たされる。 One aspect of the apparatus for forming a solid electrolyte membrane in the technology of the present disclosure includes an electrode on which a target including a constituent element of the solid electrolyte is mounted, a mounting portion on which a substrate is mounted, and a device described above along the transport direction. A transport unit that transports the unit and faces the mounting unit and the electrode. The placement unit has an end portion that protrudes in the transport direction of the substrate placed on the placement unit, and the length of the electrode in the transport direction is set as an electrode width WP, and the end The length of the part in the transport direction is set as the end width WE, and WE ≧ WP is satisfied.
本開示の技術における固体電解質膜の形成方法の一態様は、基板が載置された載置部を搬送部が搬送方向に沿って搬送して、固体電解質の構成元素を含むターゲットが搭載された電極と前記載置部とが向かい合う工程を含む。そして、前記載置部は、当該載置部に載置された基板の前記搬送方向にはみ出す端部を有し、前記電極における前記搬送方向の長さが、電極幅WPとして設定され、前記端部における前記搬送方向の長さが、端部幅WEとして設定され、WE≧WPが満たされる。 In one aspect of the method for forming a solid electrolyte membrane in the technology of the present disclosure, a transport unit transports a mounting unit on which a substrate is mounted along a transport direction, and a target including a constituent element of the solid electrolyte is mounted. Including a step of facing the electrode and the mounting portion. The placement unit has an end portion that protrudes in the transport direction of the substrate placed on the placement unit, and the length of the electrode in the transport direction is set as an electrode width WP, and the end The length of the part in the transport direction is set as the end width WE, and WE ≧ WP is satisfied.
本開示の技術における一態様によれば、電極と向かい合う空間が対向領域として設定されると、当該対向領域に基板が進入する際に、まず、載置部における搬送方向の端部が対向領域に進入する。次いで、基板における搬送方向の端部である先端部が対向領域に進入し、その後に、基板の中央部が対向領域に進入する。 According to one aspect of the technology of the present disclosure, when the space facing the electrode is set as the facing region, when the substrate enters the facing region, first, the end portion in the transport direction of the placement unit is set in the facing region. enter in. Next, a front end portion that is an end portion of the substrate in the transport direction enters the facing area, and thereafter, a central portion of the substrate enters the facing area.
この際に、端部幅WEが電極幅WP以上であるから、基板の搬送が開始されると、まず、載置部の端部によって対向領域が占められる。そして、この状態から、載置部の端部が対向領域から退出する一方で、基板の先端部が対向領域に進入する。次いで、基板の先端部によって対向領域が占められて、この状態から、基板の先端部が対向領域から退出する一方で、基板の中央部が対向領域に進入する。結果として、搬送方向における基板の端部に処理が施され始める際の対向領域の状態と、基板の中央部に処理が施され始める際の対向領域の状態とが相互に近くなる。それゆえに、基板の端部と基板の中央部との間での処理結果の差異が抑えられる。 At this time, since the end width WE is equal to or larger than the electrode width WP, when the transport of the substrate is started, the facing area is first occupied by the end of the placement section. Then, from this state, the end portion of the mounting portion is withdrawn from the facing area, while the front end portion of the substrate enters the facing area. Next, the opposing region is occupied by the tip of the substrate, and from this state, the leading end of the substrate exits from the opposing region, while the central portion of the substrate enters the opposing region. As a result, the state of the facing region when processing is started on the edge of the substrate in the transport direction and the state of the facing region when processing is started on the central portion of the substrate are close to each other. Therefore, the difference in processing results between the end portion of the substrate and the central portion of the substrate is suppressed.
本開示における基板処理装置の他の態様では、前記電極が、第1電極として設定され、前記第1電極の前記搬送方向に配置された第2電極をさらに備える。そして、前記第1電極と前記第2電極との間には隙間が形成され、前記隙間における前記搬送方向の長さが、電極間幅WBとして設定され、WE≧WP+WBが満たされる。 In another aspect of the substrate processing apparatus according to the present disclosure, the electrode further includes a second electrode set as the first electrode and disposed in the transport direction of the first electrode. A gap is formed between the first electrode and the second electrode, and the length of the gap in the transport direction is set as an interelectrode width WB, which satisfies WE ≧ WP + WB.
第1電極と第2電極とが搬送方向に沿って順に並ぶ場合には、第1電極と第2電極との間の隙間と向かい合う空間を基板が通過する際に、その基板に対しは、第1電極による処理と第2電極による処理とが重なることが少なくない。この点で、本開示における基板処理装置の他の態様によれば、基板の搬送が開始されると、まず、電極と向かい合う空間と、上記隙間と向かい合う空間とが、一つの載置部の端部によって占められる。そして、この状態から、載置部の端部がこれらの空間から退出する一方で、基板の先端部が同空間に進入する。次いで、電極と向かい合う空間と、上記隙間と向かい合う空間とが、基板の先端部によって占められる。そして、この状態から、基板の先端部がこれらの空間から退出する一方で、基板の中央部が同空間に進入する。 In the case where the first electrode and the second electrode are arranged in order along the transport direction, when the substrate passes through the space facing the gap between the first electrode and the second electrode, In many cases, the treatment with one electrode and the treatment with the second electrode overlap. In this regard, according to another aspect of the substrate processing apparatus of the present disclosure, when the transfer of the substrate is started, first, a space facing the electrode and a space facing the gap are at the end of one mounting portion. Occupied by the department. And from this state, while the edge part of a mounting part retreats from these spaces, the front-end | tip part of a board | substrate enters the same space. Next, the space facing the electrode and the space facing the gap are occupied by the tip of the substrate. And from this state, while the front-end | tip part of a board | substrate leaves | separates from these spaces, the center part of a board | substrate enters the same space.
それゆえに、上記隙間と向かい合う空間での処理の状態は、基板の端部に処理が施される際の状態と、基板の中央部に処理が施される際の状態とで相互に近くなる。結果として、基板の端部と基板の中央部との間での処理結果の差異が抑えられる。 Therefore, the state of processing in the space facing the gap is close to the state in which processing is performed on the end portion of the substrate and the state in which processing is performed on the central portion of the substrate. As a result, a difference in processing results between the end portion of the substrate and the central portion of the substrate is suppressed.
本開示における基板処理装置の他の態様では、前記端部が、先端部として設定され、前記端部幅WEが、先端幅WEFとして設定される。また、前記載置部は、当該載置部に載置された基板の前記搬送方向とは反対方向にはみ出す基端部を有し、前記基端部における前記搬送方向の長さが、基端幅WEBとして設定され、WEB≧WPが満たされる。そして、前記搬送部は、前記搬送方向に沿って前記載置部を搬送して前記電極と向かい合う位置を前記載置部に通過させる。 In another aspect of the substrate processing apparatus according to the present disclosure, the end portion is set as a tip portion, and the end portion width WE is set as a tip width WEF. Further, the mounting portion has a base end portion that protrudes in a direction opposite to the transport direction of the substrate placed on the placement portion, and the length of the base end portion in the transport direction is the base end. The width WEB is set, and WEB ≧ WP is satisfied. And the said conveyance part conveys the said mounting part along the said conveyance direction, and passes the position which faces the said electrode to the said mounting part.
本開示における基板処理装置の他の態様によれば、電極と向かい合う空間から基板が退出する際に、電極と向かい合う空間である対向領域からは、基板の中央部に先駆けて、基板の先端が退出する。そして、基板の先端が対向領域から退出する際は、基板の一部によって対向領域が占められる。一方で、基端幅WEBが電極幅WP以上であるから、基板の基端が対向領域から退出する際は、載置部の基端部によって対向領域が占められる。結果として、搬送方向における基板の両端部の各々に処理が施される際の対向領域の状態と、基板の中央部に処理が施される際の対向領域の状態とが相互に近くなるため、基板の両端部と基板の中央部との間での処理結果の差異が抑えられる。 According to another aspect of the substrate processing apparatus of the present disclosure, when the substrate is withdrawn from the space facing the electrode, the front end of the substrate is withdrawn from the facing area, which is the space facing the electrode, ahead of the central portion of the substrate. To do. And when the front-end | tip of a board | substrate retreats from an opposing area | region, an opposing area | region is occupied by a part of board | substrate. On the other hand, since the base end width WEB is equal to or larger than the electrode width WP, when the base end of the substrate is withdrawn from the counter region, the counter region is occupied by the base end portion of the mounting portion. As a result, the state of the opposing region when processing is performed on each of both ends of the substrate in the transport direction and the state of the opposing region when processing is performed on the central portion of the substrate are close to each other, Differences in processing results between the both ends of the substrate and the central portion of the substrate can be suppressed.
本開示における基板処理装置の他の態様では、前記搬送部は、前記電極と向かい合う位置を前記搬送方向に沿って前記載置部に通過させ、且つ、前記電極と向かい合う位置を前記搬送方向とは反対方向に沿って前記載置部に通過させる。 In another aspect of the substrate processing apparatus of the present disclosure, the transport unit passes a position facing the electrode through the placement unit along the transport direction, and a position facing the electrode is the transport direction. It passes along the opposite direction to the said mounting part.
本開示における基板処理装置の他の態様によれば、電極と向かい合う空間に対して搬送方向に沿って載置部が往復する際に、基板の両端部と基板の中央部との間での処理結果の差異が抑えられる。それゆえに、1つの基板に対して複数回にわたり処理が繰り返される場合に、あるいは、搬送方向とは反対方向と搬送方向との双方で相互に異なる基板が処理される場合に、上述の効果が顕著なものとなる。 According to another aspect of the substrate processing apparatus of the present disclosure, when the mounting portion reciprocates along the transport direction with respect to the space facing the electrode, the processing between the both end portions of the substrate and the central portion of the substrate is performed. Differences in results are suppressed. Therefore, when the processing is repeated a plurality of times for one substrate, or when different substrates are processed in both the direction opposite to the transport direction and the transport direction, the above-described effect is remarkable. It will be something.
(第1実施形態)
本開示における基板処理装置の一例である固体電解質膜の形成装置と固体電解質膜の形成方法とが具体化された第1実施形態について図1から図4を参照して以下に説明する。なお、第1実施形態では、固体電解質膜の形成装置に搭載される電極の数が1つである例について説明する。
(First embodiment)
A first embodiment in which a solid electrolyte film forming apparatus and a solid electrolyte film forming method, which are examples of a substrate processing apparatus in the present disclosure, are described below with reference to FIGS. 1 to 4. In the first embodiment, an example in which the number of electrodes mounted on the solid electrolyte membrane forming apparatus is one will be described.
図1に示されるように、基板ステージ11は、基板ステージ11を搬送する搬送部12に連結されている。搬送部12は、載置部としての基板ステージ11を一つの方向である搬送方向Dtrsに沿って等速度で搬送する。なお、基板ステージ11の一側面である載置面11Sにて、搬送方向Dtrsと直交する方向は幅方向として設定される。
As shown in FIG. 1, the
基板ステージ11の載置面11Sには、基板13の載置される部分である載置部分11Cが区画されている。基板13は、例えば、搬送方向Dtrsと幅方向とに沿って広がる矩形板状に具体化され、載置部分11Cは、例えば、基板13の外縁に沿った矩形枠状に具体化される。
On the
基板ステージ11の載置面11Sでは、載置部分11Cが区画されることによって、その載置部分11Cの搬送方向Dtrsに位置する部分が、ステージ端部11Eとして区切られる。ステージ端部11Eは、載置部分11Cから搬送方向Dtrsに連続する部分であって、載置部分11Cにおける幅方向の全体にわたり連続している。なお、載置部分11Cの電位、及び、ステージ端部11Eの電位は、基板ステージ11に載置される基板13と同じく、浮遊電位に設定される。
On the
搬送部12に対する基板ステージ11側には、バッキングプレート15とターゲット16とから構成されるカソード電極17が、搬送部12から離れて配置されている。バッキングプレート15は、幅方向において載置部分11Cよりも大きく、且つ、搬送方向Dtrsにおいて載置部分11Cよりも小さい。バッキングプレート15は、基板ステージ11の搬送される経路と向かい合う位置に配置されている。そして、搬送部12の駆動力を受ける基板ステージ11は、バッキングプレート15と向かい合う空間に対し搬送方向Dtrsに沿って搬送される。
On the
バッキングプレート15の一側面であって搬送部12と向かい合う対向面には、当該対向面の全体を覆うターゲット16が接合されている。ターゲット16は、固体電解質の構成元素を含み、例えば、固体電解質が窒化リン酸リチウム(LiPON)を主成分とする場合には、リン酸リチウム(Li3PO4)が主成分として含まれる。
A
バッキングプレート15の一側面であって対向面とは反対側の側面には、磁気回路18が搭載されている。磁気回路18は、ターゲット16の表面上でプラズマ密度を高めるためのマグネトロン磁場を形成する。バッキングプレート15には、プラズマ電源19が接続されている。プラズマ電源19は、ターゲット16の表面上でプラズマを生成するための電場を形成する。なお、ターゲット16の構成材料が絶縁材料である場合には、プラズマ電源19は高周波電源であることが好ましく、また、ターゲット16の構成材料が導電材料である場合には、プラズマ電源19は直流電源であることが好ましい。
A
搬送部12とカソード電極17との間の隙間には、圧力調整部21が接続されている。圧力調整部21は、搬送部12とカソード電極17との間の隙間を減圧して固体電解質膜の形成に適した所定の圧力に調整する。また、搬送部12とカソード電極17との間の隙間には、ガス供給部22が接続されている。ガス供給部22は、固体電解質膜を形成するため必要とされるガスを搬送部12とカソード電極17との間の隙間に供給する。例えば、固体電解質がLiPONを主成分とし、ターゲット16がLi3PO4を主成分とする場合に、ガス供給部22は搬送部12とカソード電極17との間の隙間に窒素ガスを供給する。
A
次に、上述のステージ端部11Eにおける搬送方向Dtrsの幅と、上述のカソード電極17における搬送方向Dtrsの幅との関係について図2を参照して説明する。
図2に示されるように、ステージ端部11Eにおける搬送方向Dtrsの幅は、端部幅WEとして設定される。カソード電極17における搬送方向Dtrsの幅は、電極幅WPとして設定される。また、基板ステージ11に載置される基板13とターゲット16との距離は、基板13の法線方向において、距離TSとして設定される。
Next, the relationship between the width in the transport direction Dtrs at the
As shown in FIG. 2, the width in the transport direction Dtrs at the
端部幅WEは、ステージ端部11Eにおける幅方向の全体にわたり一定である。また、電極幅WPは、カソード電極17のうち、少なくともステージ端部11Eの搬送される経路と向かい合う部分において一定であり、好ましくは、カソード電極17における幅方向の全体にわたり一定である。そして、これら端部幅WEと電極幅WPとは、WE≧WPの関係を満たす。
The end width WE is constant over the entire width direction at the
すなわち、載置部分11Cの搬送方向Dtrsには、ステージ端部11Eが載置部分11Cから連続する。そのステージ端部11Eは、カソード電極17と向かい合う空間である対向領域Sのうち、基板ステージ11の経路と重なる部分の全体を占める大きさを有する。そして、基板ステージ11が搬送方向Dtrsに沿って搬送されると、基板13の進入に先駆けて、ステージ端部11Eによって対向領域Sは占められる。なお、電極幅WPは距離TSと略等しく、端部幅WEは電極幅WP以上であって、且つ、距離TS以上である。
That is, the
次に、上記固体電解質膜の形成装置によって実施される固体電解質膜の形成方法について図3及び図4を参照して説明する。なお、以下では、固体電解質膜の一例であるLiPON膜が形成される形態を説明する。 Next, a method for forming a solid electrolyte membrane performed by the solid electrolyte membrane forming apparatus will be described with reference to FIGS. In the following, a mode in which a LiPON film that is an example of a solid electrolyte film is formed will be described.
図3に示されるように、ガス供給部22から対向領域Sに窒素ガスが供給され、また、圧力調整部21の排気によって対向領域Sの圧力が所定値に調整される。次いで、プラズマ電源19からカソード電極17にプラズマを生成するための電力が供給されて、カソード電極17の近傍に生成されるプラズマによってターゲット16のスパッタが進行する。そして、ターゲット16から対向領域Sに放出されるLi3PO4がプラズマによって窒化されて、LiPONが対向領域Sで生成される。
As shown in FIG. 3, nitrogen gas is supplied from the
次いで、基板ステージ11が搬送方向Dtrsに沿って搬送される。この際に、対向領域Sには、まず、基板ステージ11における搬送方向Dtrsの端部であるステージ端部11Eが進入する。次いで、基板13における搬送方向Dtrsの端部である基板先端部13Fが進入し、その後に、基板13における基板中央部13Cが対向領域Sに進入する。
Next, the
ここで、端部幅WEが電極幅WP以上であるから、対向領域Sは、まず、ステージ端部11Eによって占められて、ステージ端部11EにLiPON膜が形成される。そして、この状態から、基板先端部13Fが対向領域Sに進入すると、ステージ端部11Eに対して成膜が徐々に終了し、基板先端部13Fに対するLiPON膜の形成が徐々に開始される。
Here, since the end width WE is equal to or larger than the electrode width WP, the facing region S is first occupied by the
図4に示されるように、基板ステージ11が搬送方向Dtrsに沿ってさらに搬送されると、対向領域Sは、ステージ端部11Eの一部と基板先端部13Fによって占められる。そして、この状態から、基板中央部13Cが対向領域Sに進入すると、基板先端部13Fに対して成膜が徐々に終了し、基板中央部13Cに対するLiPON膜の形成が徐々に開始される。
As shown in FIG. 4, when the
結果として、基板先端部13Fに対して成膜が開始される際の対向領域Sでは、ステージ端部11Eとカソード電極17とに挟まれた領域にてプラズマが生成される。また、基板中央部13Cに対して成膜が開始される際の対向領域Sでは、基板先端部13Fとカソード電極17とに挟まれた領域にてプラズマが生成される。言い換えれば、基板先端部13Fに対して成膜が開始される際の対向領域Sでは、LiPON膜に覆われたステージ端部11Eとカソード電極17とに挟まれた領域にてプラズマが生成される。また、基板中央部13Cに対して成膜が開始される際の対向領域Sでは、これもまたLiPON膜に覆われた基板先端部13Fとカソード電極17とに挟まれた領域にてプラズマが生成される。それゆえに、基板先端部13Fに対して成膜が開始される際の対向領域Sと、基板中央部13Cに対して成膜が開始される際の対向領域Sとでは、いずれもカソード電極17とLiPON膜とに挟まれた領域でプラズマが生成される。
As a result, plasma is generated in a region sandwiched between the
しかも、基板先端部13Fとステージ端部11Eとによって形成される段差は、基板13とカソード電極17との距離TSに比べて十分に小さい。そのため、ステージ端部11Eを覆うLiPON膜の表面と、基板先端部13Fを覆うLiPON膜の表面とは、対向領域Sにおける粒子の輸送に対し、略連続面として取り扱われる。結果として、電場の状態、磁場の状態、粒子の輸送状態等、成膜に寄与する対向領域Sの状態は、基板先端部13Fに対して成膜が開始される際と、基板中央部13Cに対して成膜が開始される際とで相互に近くなる。
In addition, the step formed by the substrate
さらに、ステージ端部11Eの電位と基板先端部13Fの電位とが共に浮遊電位であるため、基板先端部13Fとステージ端部11Eとは、カソード電極17による電場の形成に対し、略連続面として取り扱われる。結果として、ステージ端部11Eと基板先端部13Fとに成膜されるLiPON膜の性状は相互に近くなり、上述した構成との相乗効果によって、基板先端部13Fと基板中央部13Cとの間での成膜結果の差異がより抑えられる。
Furthermore, since the potential of the
以上説明したように、第1実施形態によれば以下に列挙する効果が得られる。
(1)端部幅WEが電極幅WP以上であるから、基板先端部13Fに対して成膜が開始される際の対向領域Sの状態と、基板中央部13Cに対して成膜が開始される際の対向領域Sの状態とが相互に近くなる。結果として、基板先端部13Fと基板中央部13Cとの間での成膜結果の差異が抑えられる。
As described above, according to the first embodiment, the effects listed below can be obtained.
(1) Since the end width WE is equal to or greater than the electrode width WP, the state of the facing region S when the film formation is started on the substrate
(2)また、基板13の基板先端部13Fとステージ端部11Eとによって形成される段差は、基板13とカソード電極17との距離TSに比べて十分に小さいため、上記(1)に準じた効果がより顕著になる。
(2) Further, since the step formed by the substrate
(3)さらに、ステージ端部11Eの電位と基板13の電位とが共に浮遊電位であるから、上記(1)に準じた効果が一層顕著になる。
(第2実施形態)
本開示における基板処理装置の一例である固体電解質膜の形成装置と固体電解質膜の形成方法とが具体化された第2実施形態について図5から図7を参照して以下に説明する。なお、第2実施形態は、固体電解質膜の形成装置に搭載される電極の数と端部幅WEとが第1実施形態とは異なり、その他の主たる構成は第1実施形態と同様である。そこで、第2実施形態では、第1実施形態とは異なる構成について主に説明し、第1実施形態と同様の構成については、第1実施形態の構成と同一の符号を付してその説明を省略する。
(3) Further, since the potential of the
(Second Embodiment)
A second embodiment in which a solid electrolyte film forming apparatus and a solid electrolyte film forming method, which are examples of a substrate processing apparatus according to the present disclosure, will be described below with reference to FIGS. 5 to 7. The second embodiment is different from the first embodiment in the number of electrodes and the end width WE mounted on the solid electrolyte membrane forming apparatus, and the other main configurations are the same as those in the first embodiment. Therefore, in the second embodiment, the configuration different from the first embodiment will be mainly described, and the same configuration as the first embodiment will be denoted by the same reference numerals as the configuration of the first embodiment, and the description thereof will be given. Omitted.
図5に示されるように、搬送部12に対する基板ステージ11側には、第1カソード電極17Aと第2カソード電極17Bとが、搬送方向Dtrsに沿って並べられている。第1カソード電極17Aは、第1バッキングプレート15Aと第1ターゲット16Aとから構成され、また、第2カソード電極17Bは、第2バッキングプレート15Bと第2ターゲット16Bとから構成されている。第1カソード電極17Aには、第1磁気回路18Aが搭載されて、第1プラズマ電源19Aが接続されている。第2カソード電極17Bには、第2磁気回路18Bが搭載されて、第2プラズマ電源19Bが接続されている。
As shown in FIG. 5, the
第1カソード電極17Aと第2カソード電極17Bとは、相互に位置が異なる一方で、それ以外の構成は、上述したカソード電極17と同様である。また、第1磁気回路18Aと第2磁気回路18Bとは、マグネトロン磁場の形成対象が相互に異なる一方で、それ以外の構成は、上述した磁気回路18と同様である。また、第1プラズマ電源19Aと第2プラズマ電源19Bとは、電力の印加対象が相互に異なる一方で、それ以外の構成は、上述したプラズマ電源19と同様である。
The
次に、ステージ端部11Eにおける搬送方向Dtrsの幅と、2つのカソード電極17A,17Bの間の隙間における搬送方向Dtrsの幅との関係について図6を参照して説明する。
Next, the relationship between the width in the transport direction Dtrs at the
図6に示されるように、2つのカソード電極17A,17Bの間の隙間SEにおける搬送方向Dtrsの幅は、電極間幅WBとして設定される。電極間幅WBは、2つのカソード電極17A,17Bおける幅方向の全体にわたり一定である。そして、基板ステージ11のステージ端部11Eにおける端部幅WEと電極間幅WBとは、WE≧WP+WBの関係を満たす。なお、電極幅WPは距離TSと略等しく、端部幅WEは電極幅WP以上であって、且つ、距離TS以上である。
As shown in FIG. 6, the width in the transport direction Dtrs in the gap SE between the two
ここで、第1カソード電極17Aと向かい合う空間が第1対向領域S1として設定され、第2カソード電極17Bと向かい合う空間が第2対向領域S2として設定され、カソード電極17A,17B間の隙間SEと向かい合う空間が重畳領域S3として設定される。そして、第1対向領域S1と重畳領域S3とを合わせた領域が単位対向領域SAとして設定される。
Here, the space facing the
ステージ端部11Eは、単位対向領域SAのうち基板ステージ11の経路と重なる部分の全体を占める大きさである。そして、基板ステージ11が搬送方向Dtrsに沿って搬送されると、基板13の進入に先駆けて、単位対向領域SAはステージ端部11Eによって占められる。
The
次に、上記固体電解質膜の形成装置によって実施される固体電解質膜の形成方法について図7を参照して説明する。なお、第2実施形態では、固体電解質膜の一例であるLiPON膜が形成される形態を説明する。 Next, a method for forming a solid electrolyte membrane performed by the solid electrolyte membrane forming apparatus will be described with reference to FIG. In the second embodiment, a mode in which a LiPON film which is an example of a solid electrolyte film is formed will be described.
図7に示されるように、第1対向領域S1と第2対向領域S2との各々でLiPONが生成される。次いで、基板ステージ11が搬送方向Dtrsに沿って搬送されると、単位対向領域SAには、まず、ステージ端部11Eが進入し、続いて、基板先端部13Fと基板中央部13Cとが順に進入する。
As shown in FIG. 7, LiPON is generated in each of the first opposing region S1 and the second opposing region S2. Next, when the
ここで、端部幅WEが電極幅WPと電極間幅WBとの加算値以上であるから、基板13の搬送が開始されると、単位対向領域SAは、まず、ステージ端部11Eによって占められる。そして、この状態から、基板先端部13Fが第1対向領域S1に進入すると、ステージ端部11Eに対するLiPON膜の成膜が徐々に終了し、基板先端部13Fに対するLiPON膜の成膜が徐々に開始される。次いで、基板ステージ11が搬送方向Dtrsに沿ってさらに搬送されると、単位対向領域SAは、ステージ端部11Eの一部と基板先端部13Fとによって占められる。そして、この状態から、基板中央部13Cが第1対向領域S1に進入すると、基板先端部13Fに対するLiPON膜の形成が徐々に終了し、基板中央部13Cに対するLiPON膜の形成が徐々に開始される。
Here, since the end width WE is equal to or larger than the added value of the electrode width WP and the interelectrode width WB, when the transport of the
一方で、2つのカソード電極17A,17Bが搬送方向Dtrsに沿って順に並ぶ場合に、これらカソード電極17A,17B間の隙間SEと向かい合う重畳領域S3では、第1カソード電極17Aによる成膜と第2カソード電極17Bによる成膜とが重なることが少なくない。この点で、端部幅WEが、電極幅WPと電極間幅WBとの加算値以上であれば、単位対向領域SAがステージ端部11Eで占められた状態から、基板先端部13Fが単位対向領域SAに進入する。また、単位対向領域SAが基板先端部13Fで占められた状態から、基板中央部13Cが単位対向領域SAに進入する。
On the other hand, when the two
結果として、第1カソード電極17Aによる成膜と第2カソード電極17Bによる成膜とが重畳領域S3で重なる一方で、基板先端部13Fと基板中央部13Cとに及ぼされる影響は、第1対向領域S1と同じく、ステージ端部11Eによって予め補正される。それゆえに、2つのカソード電極17A,17Bが搬送方向Dtrsに沿って並ぶ場合であっても、基板先端部13Fと基板中央部13Cとの間での成膜結果の差異が抑えられる。
As a result, the film formation by the
以上説明したように、第2実施形態によれば以下に列挙する効果が得られる。
(4)隙間SEと向かい合う重畳領域S3での成膜の状態は、基板先端部13Fに対して成膜が始まる際と、基板中央部13Cに対して成膜が始まる際とにおいて、相互に近くなる。結果として、基板先端部13Fと基板中央部13Cとの間での成膜結果の差異が抑えられる。
As described above, according to the second embodiment, the effects listed below can be obtained.
(4) The state of film formation in the overlapping region S3 facing the gap SE is close to each other when film formation starts on the
(5)第1カソード電極17Aと第2カソード電極17Bとの各々が、搬送方向Dtrsの幅として共通の電極幅WPを有する。それゆえに、第1カソード電極17Aに対して得られる上記(1)から(4)に準じた効果が、第2カソード電極17Bに対しても得られる。結果として、基板先端部13Fと基板中央部13Cとの間での成膜結果の差異が一層抑えられる。
(第3実施形態)
本開示における基板処理装置の一例である固体電解質膜の形成装置と固体電解質膜の形成方法とが具体化された第3実施形態について図面を参照して以下に説明する。なお、第3実施形態は、基板ステージ11の搬送方向と基板ステージ11における搬送方向の両端部の構成とが第2実施形態とは異なり、その他の主たる構成は第1実施形態と同様である。そこで、第3実施形態では、第2実施形態とは異なる構成について主に説明し、第2実施形態と同様の構成については、第2実施形態の構成と同一の符号を付してその説明を割愛する。
(5) Each of the
(Third embodiment)
A third embodiment in which an apparatus for forming a solid electrolyte film and a method for forming a solid electrolyte film, which are examples of a substrate processing apparatus according to the present disclosure, are described below with reference to the drawings. The third embodiment is different from the second embodiment in the conveyance direction of the
図8に示されるように、基板ステージ11は、基板ステージ11を搬送する搬送部32に連結されている。基板ステージ11は、搬送部32の駆動力を受けて、一つの方向である第1搬送方向DtrsFと、第1搬送方向DtrsFとは反対方向である第2搬送方向DtrsBとに沿って等速度で搬送される。なお、搬送部32は、カソード電極17に対向する位置を第1搬送方向DtrsFと第2搬送方向DtrsBとに沿って基板ステージ11を通過させる。
As shown in FIG. 8, the
基板ステージ11の載置面11Sでは、上記載置部分11Cが区画されることによって、載置部分11Cの第1搬送方向DtrsFに位置する部分が、ステージ先端部11EFとして区切られる。また、載置部分11Cの第2搬送方向DtrsBに位置する部分が、ステージ基端部11EBとして区切られる。
On the
ステージ先端部11EFとステージ基端部11EBとは、載置部分11Cから連続する部分であって、載置部分11Cにおける幅方向の全体にわたり連続している。なお、ステージ先端部11EFの電位、及び、ステージ基端部11EBの電位は、基板ステージ11に載置される基板13と同じく、浮遊電位に設定されている。
The stage distal end portion 11EF and the stage base end portion 11EB are portions that continue from the
ステージ先端部11EFにおける第1搬送方向DtrsFの幅は、先端幅WEFとして設定され、また、ステージ基端部11EBにおける第2搬送方向DtrsBの幅は、基端幅WEBとして設定される。先端幅WEFは、ステージ先端部11EFにおける幅方向の全体にわたり一定であり、また、基端幅WEBは、ステージ基端部11EBにおける幅方向の全体にわたり一定である。そして、先端幅WEFと基端幅WEBとは、WEF≧WP+WB、WEB≧WP+WBの関係を満たす。 The width in the first transport direction DtrsF at the stage front end portion 11EF is set as the front end width WEF, and the width in the second transport direction DtrsB at the stage base end portion 11EB is set as the base end width WEB. The front end width WEF is constant over the entire width direction of the stage front end portion 11EF, and the base end width WEB is constant over the entire width direction of the stage base end portion 11EB. The distal end width WEF and the proximal end width WEB satisfy the relationship of WEF ≧ WP + WB and WEB ≧ WP + WB.
すなわち、載置部分11Cの第1搬送方向DtrsFには、ステージ先端部11EFが載置部分11Cから連続し、そのステージ先端部11EFは、単位対向領域SAのうち基板ステージ11の経路と重なる部分の全体を占める大きさである。また、載置部分11Cの第2搬送方向DtrsBには、ステージ基端部11EBが載置部分11Cから連続し、そのステージ基端部11EBは、単位対向領域SAのうち基板ステージ11の経路と重なる部分の全体を占める大きさである。
That is, in the first transport direction DtrsF of the
そして、基板ステージ11が第1搬送方向DtrsFに沿って搬送されると、基板13の進入に先駆けて、ステージ先端部11EFによって単位対向領域SAは占められる。また、単位対向領域SAを通過した基板ステージ11が第2搬送方向DtrsBに沿って搬送されると、ここでもまた、基板13の進入に先駆けて、ステージ基端部11EBによって単位対向領域SAは占められる。
Then, when the
次に、上記固体電解質膜の形成装置によって実施される固体電解質膜の形成方法について説明する。なお、第3実施形態では、固体電解質膜の一例であるLiPON膜が形成される形態を説明する。 Next, a method for forming a solid electrolyte membrane performed by the solid electrolyte membrane forming apparatus will be described. In the third embodiment, a mode in which a LiPON film that is an example of a solid electrolyte film is formed will be described.
まず、第2実施形態と同様に、各カソード電極17A,17Bと向かい合う領域で、LiPONが生成される。次いで、基板ステージ11が単位対向領域SAに対し第1搬送方向DtrsFに沿って搬送される。この際に、単位対向領域SAには、まず、基板ステージ11のステージ先端部11EFが進入し、続いて、基板先端部13Fと基板中央部13Cと基板基端部13Bとが順に対向領域Sに進入し、最後に、基板ステージ11のステージ基端部11EBが進入する。
First, as in the second embodiment, LiPON is generated in a region facing each of the
次いで、基板ステージ11が単位対向領域SAを通過すると、基板ステージ11が単位対向領域SAに対し第2搬送方向DtrsBに沿って搬送される。この際に、単位対向領域SAには、まず、基板ステージ11のステージ基端部11EBが進入し、続いて、基板基端部13Bと基板中央部13Cと基板先端部13Fとが順に単位対向領域SAに進入し、最後に、基板ステージ11のステージ先端部11EFが進入する。
Next, when the
ここで、先端幅WEFが電極幅WPと電極間幅WBとの加算値以上である。そのため、基板ステージ11が第1搬送方向DtrsFに沿って搬送される際に、単位対向領域SAは、まず、ステージ先端部11EFによって占められる。そして、この状態から、基板先端部13Fが単位対向領域SAに進入すると、ステージ先端部11EFに対して成膜が徐々に終了し、基板先端部13Fに対して成膜が徐々に始まる。続いて、基板ステージ11が第1搬送方向DtrsFに沿ってさらに搬送されると、単位対向領域SAは、ステージ先端部11EFの一部と基板先端部13Fとによって占められる。そして、この状態から、基板中央部13Cが単位対向領域SAに進入すると、基板先端部13Fに対して成膜が徐々に終了し、基板中央部13Cに対して成膜が徐々に始まる。
Here, the tip width WEF is not less than the sum of the electrode width WP and the interelectrode width WB. Therefore, when the
一方で、基板ステージ11が第2搬送方向DtrsBに沿って搬送される際に、単位対向領域SAは、まず、ステージ基端部11EBによって占められる。そして、この状態から、基板基端部13Bが単位対向領域SAに進入すると、ステージ基端部11EBに対して成膜が徐々に終了し、基板基端部13Bに対して成膜が徐々に始まる。続いて、基板ステージ11が第2搬送方向DtrsBに沿ってさらに搬送されると、単位対向領域SAは、基板基端部13Bによって占められる。そして、この状態から、基板中央部13Cが単位対向領域SAに進入すると、基板基端部13Bに対して成膜が徐々に終了し、基板中央部13Cに対して成膜が徐々に始まる。
On the other hand, when the
結果として、基板先端部13Fから成膜が始まる際の単位対向領域SAでは、ステージ先端部11EFとカソード電極17とに挟まれた領域にてプラズマが生成される。また、基板基端部13Bから成膜が始まる際の単位対向領域SAでは、ステージ基端部11EBとカソード電極17とに挟まれた領域にてプラズマが生成される。そして、基板中央部13Cに対して成膜が始まる際の単位対向領域SAでは、基板先端部13Fとカソード電極17とに挟まれた領域、あるいは、基板基端部13Bとカソード電極17とに挟まれた領域にてプラズマが生成される。それゆえに、電場の状態、磁場の状態、粒子の輸送状態等、成膜に寄与する対向領域Sの状態は、基板先端部13Fから成膜が始まる際と、基板基端部13Bから成膜が始まる際と、基板中央部13Cに対して成膜が始まる際とで相互に近くなる。
As a result, in the unit facing area SA when film formation starts from the substrate
以上説明したように、第3実施形態によれば以下に列挙する効果が得られる。
(6)基板13の端部から成膜が始まる際の単位対向領域SAの状態と、基板中央部13Cに対して成膜が始まる際の単位対向領域SAの状態とが近くなるため、基板13の端部と基板中央部13Cとの間での成膜結果の差異が抑えられる。
As described above, according to the third embodiment, the effects listed below can be obtained.
(6) Since the state of the unit facing area SA when the film formation starts from the end of the
(7)第1搬送方向DtrsFに沿った搬送と第2搬送方向DtrsBに沿った搬送とが一つの基板13に対して複数回にわたり繰り返される場合には、上記(1)から(6)に準じた効果が顕著なものとなる。
(7) In the case where the conveyance along the first conveyance direction DtrsF and the conveyance along the second conveyance direction DtrsB are repeated a plurality of times for one
(8)第1搬送方向DtrsFに沿った搬送と第2搬送方向DtrsBに沿った搬送とが相互に異なる基板13に対して実施される場合には、いずれの方向に沿って搬送される基板13に対しても、上記(1)から(5)に準じた効果が得られる。
(実施例)
第4実施形態に記載の固体電解質膜の形成方法によって得られるLiPON膜の膜厚均一性について図9を参照して以下に説明する。
(8) When transport along the first transport direction DtrsF and transport along the second transport direction DtrsB are performed on
(Example)
The film thickness uniformity of the LiPON film obtained by the method for forming a solid electrolyte film described in the fourth embodiment will be described below with reference to FIG.
搬送方向の長さが380mm、幅方向の長さが380mm、厚さが0.7mmの4枚のガラス基板を載置面11S上にマトリックス状に並べ、以下の成膜条件にて実施例のLiPON膜を得た。また、端部幅WEを0mmとし、それ以外の成膜条件を実施例と同じ条件として比較例のLiPON膜を得た。
・ターゲット:Li3PO4
・電極幅WP:110mm
・電極間幅WB:30mm
・供給電力:3.0kW(13.56MHz)
・プロセスガス:窒素ガス
・プロセスガス流量:50sccm
・プロセス圧力:0.25Pa
・距離TS:120mm
・先端幅WEF:250mm(>110mm+30mm)
・基端幅WEB:250mm(>110mm+30mm)
図9に示されるように、実施例のLiPON膜における膜厚は、搬送方向にて3850nm以上3950nm以下であり、搬送方向における成膜対象での中央部と搬送方向における成膜対象での端部との間において膜厚分布の偏りは認められなかった。一方で、比較例のLiPON膜における膜厚は、搬送方向にて3800nm以上4030nm以下であり、実施例に比べてばらつきが大きく、また、搬送方向における成膜対象での中央部にて膜厚は薄く、且つ、搬送方向における成膜対象での端部にて膜厚は厚いという分布の偏りが認められた。結果として、成膜条件に記載のステージ端部が設けられることによって、搬送方向における膜厚分布の偏りを軽減することが可能であることが認められた。
Four glass substrates having a length in the transport direction of 380 mm, a length in the width direction of 380 mm, and a thickness of 0.7 mm are arranged in a matrix on the mounting
・ Target: Li 3 PO 4
-Electrode width WP: 110 mm
-Interelectrode width WB: 30 mm
・ Supply power: 3.0kW (13.56MHz)
・ Process gas: Nitrogen gas ・ Process gas flow rate: 50 sccm
・ Process pressure: 0.25 Pa
・ Distance TS: 120mm
-Tip width WEF: 250 mm (> 110 mm + 30 mm)
・ Base end width WEB: 250 mm (> 110 mm + 30 mm)
As shown in FIG. 9, the film thickness of the LiPON film of the example is 3850 nm or more and 3950 nm or less in the transport direction, and the center portion in the transport direction and the end portion in the transport direction. No deviation in the film thickness distribution was observed. On the other hand, the film thickness of the LiPON film of the comparative example is 3800 nm or more and 4030 nm or less in the transport direction, and has a large variation compared to the examples, and the film thickness is at the center of the film formation target in the transport direction. The distribution was biased such that the film thickness was thin and the film thickness was thick at the end of the film formation target in the transport direction. As a result, it was recognized that the unevenness of the film thickness distribution in the transport direction can be reduced by providing the stage end described in the film forming conditions.
なお、上記各実施形態は、以下のように変更して実施することもできる。
・各実施形態の基板処理装置にて、搬送方向に沿って並べられる電極の数は、3以上であってもよい。
In addition, each said embodiment can also be changed and implemented as follows.
-In the substrate processing apparatus of each embodiment, the number of the electrodes arranged along a conveyance direction may be three or more.
・基板処理装置に搭載される電極は、載置部の搬送される経路を挟んで相互に対向する対向電極であってもよい。
・第1実施形態、及び、第2実施形態にて、搬送部は、搬送方向Dtrsとは反対方向と搬送方向Dtrsとの双方向に載置部を搬送してもよい。
-The electrode mounted in a substrate processing apparatus may be a counter electrode which mutually opposes across the path | route in which a mounting part is conveyed.
In the first embodiment and the second embodiment, the transport unit may transport the placement unit in both directions opposite to the transport direction Dtrs and the transport direction Dtrs.
・第2実施形態にて、電極間幅WBが電極幅WPよりも大きい場合には、端部幅WEが電極幅WPと電極間幅WBとの加算値よりも小さくてもよい。すなわち、搬送方向に沿って並べられる電極の各々の処理の範囲が、基板13の搬送される経路上にて各別に定められる場合には、WP+WB>WE≧WPが満たされる構成であってもよい。こうした構成であれば、ステージ端部11Eが不要に大きくなることが抑えられる。
In the second embodiment, when the interelectrode width WB is larger than the electrode width WP, the end width WE may be smaller than the added value of the electrode width WP and the interelectrode width WB. That is, in the case where the processing range of each of the electrodes arranged along the transport direction is separately determined on the transport path of the
・第3実施形態にて、先端幅WEFは電極幅WP以上であればよく、また、基端幅WEBは電極幅WP以上であればよい。すなわち、WEF≧WPが満たされる構成であればよく、また、WEB≧WPが満たされる構成であればよい。 -In 3rd Embodiment, the front-end | tip width WEF should just be more than the electrode width WP, and the base end width | variety WEB should just be more than the electrode width WP. That is, any configuration that satisfies WE ≧ WP may be used, and any configuration that satisfies WEB ≧ WP may be used.
・第3実施形態にて、ステージ先端部11EFとステージ基端部11EBのいずれか一方が割愛されてもよい。
・ステージ端部11Eは、載置部分11Cにおける幅方向の全体に形成される構成に限らず、載置部分11Cにおける幅方向の一部にのみ形成される構成であってもよい。こうした構成であっても、基板13におけるステージ端部11Eの近傍では、上記(1)から(4)に準じた効果を得ることは可能である。なお、ステージ先端部11EF、及び、ステージ基端部11EBも同様に、載置部分11Cにおける幅方向の一部にのみ形成される構成であってもよい。
-In 3rd Embodiment, either one of the stage front-end | tip part 11EF and the stage base end part 11EB may be omitted.
The
・ステージ端部11Eの電位は、浮遊電位に限らず、例えば、接地電位であってもよく、基板13とは異なる電位であってもよい。
・基板処理装置は、固体電解質膜の形成装置に限られず、例えば、金属製のターゲットを用いて金属膜を形成する金属膜の形成装置であってもよい。また、基板処理装置は、気相中で化学反応を進めることによって膜を形成するCVD装置やエッチング装置であってもよく、要するに、載置部に載置された基板が電極と向かい合う位置に搬送されることによって基板に処理が施される装置であればよい。
The potential of the
The substrate processing apparatus is not limited to a solid electrolyte film forming apparatus, and may be a metal film forming apparatus that forms a metal film using a metal target, for example. The substrate processing apparatus may be a CVD apparatus or an etching apparatus that forms a film by advancing a chemical reaction in a gas phase. In short, the substrate mounted on the mounting portion is transported to a position facing the electrode. Any device can be used as long as the substrate is processed.
S…対向領域、S1…第1対向領域、S2…第2対向領域、S3…重畳領域、SA…単位対向領域、SE…隙間、TS…距離、WB…電極間幅、WE…端部幅、WP…電極幅、WEB…基端幅、WEF…先端幅、Dtrs…搬送方向、DtrsB…第2搬送方向、DtrsF…第1搬送方向、11…基板ステージ、11C…載置部分、11E…ステージ端部、11EF…ステージ先端部、11S…載置面、11EB…ステージ基端部、12,32…搬送部、13…基板、13B…基板基端部、13C…基板中央部、13F…基板先端部、15…バッキングプレート、15A…第1バッキングプレート、15B…第2バッキングプレート、16…ターゲット、16A…第1ターゲット、16B…第2ターゲット、17…カソード電極、17A…第1カソード電極、17B…第2カソード電極、18…磁気回路、18A…第1磁気回路、18B…第2磁気回路、19…プラズマ電源、19A…第1プラズマ電源、19B…第2プラズマ電源、21…圧力調整部、22…ガス供給部。
S ... opposing region, S1 ... first opposing region, S2 ... second opposing region, S3 ... overlapping region, SA ... unit opposing region, SE ... gap, TS ... distance, WB ... interelectrode width, WE ... end width, WP ... electrode width, WEB ... base end width, WEF ... tip width, Dtrs ... transport direction, DtrsB ... second transport direction, DtrsF ... first transport direction, 11 ... substrate stage, 11C ... mounting portion, 11E ... stage end 11EF ... Stage tip, 11S ... Placement surface, 11EB ... Stage base end, 12, 32 ... Transport section, 13 ... Substrate, 13B ... Substrate base, 13C ... Substrate center, 13F ...
Claims (6)
基板が載置される載置部と、
搬送方向に沿って前記載置部を搬送して前記載置部と前記電極とを向かい合わせる搬送部と、を備え、
前記載置部は、当該載置部に載置された基板の前記搬送方向にはみ出す端部を有し、
前記電極における前記搬送方向の長さが、電極幅WPとして設定され、
前記端部における前記搬送方向の長さが、端部幅WEとして設定され、
WE≧WPが満たされる
基板処理装置。 Electrodes,
A placement section on which the substrate is placed;
A transport unit that transports the mounting unit along the transport direction and faces the mounting unit and the electrode;
The placement unit has an end protruding in the transport direction of the substrate placed on the placement unit,
The length of the electrode in the transport direction is set as the electrode width WP,
The length in the transport direction at the end is set as the end width WE,
A substrate processing apparatus that satisfies WE ≧ WP.
前記第1電極の前記搬送方向に配置された第2電極をさらに備え、
前記第1電極と前記第2電極との間には隙間が形成され、
前記隙間における前記搬送方向の長さが、電極間幅WBとして設定され、
WE≧WP+WBが満たされる
請求項1に記載の基板処理装置。 The electrode is set as the first electrode;
A second electrode disposed in the transport direction of the first electrode;
A gap is formed between the first electrode and the second electrode,
The length in the transport direction in the gap is set as the interelectrode width WB,
The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein WE ≧ WP + WB is satisfied.
前記端部幅WEが、先端幅WEFとして設定され、
前記載置部は、当該載置部に載置された基板の前記搬送方向とは反対方向にはみ出す基端部を有し、
前記基端部における前記搬送方向の長さが、基端幅WEBとして設定され、
WEB≧WPが満たされ、
前記搬送部は、前記搬送方向に沿って前記載置部を搬送して前記電極と向かい合う位置を前記載置部に通過させる
請求項1又は2に記載の基板処理装置。 The end is set as the tip,
The end width WE is set as a tip width WEF,
The mounting portion has a base end portion that protrudes in a direction opposite to the transport direction of the substrate placed on the placement portion,
The length in the transport direction at the base end portion is set as a base end width WEB,
WEB ≧ WP is satisfied,
The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the transport unit transports the placement unit along the transport direction to pass a position facing the electrode through the placement unit.
前記電極と向かい合う位置を前記搬送方向に沿って前記載置部に通過させ、且つ、
前記電極と向かい合う位置を前記搬送方向とは反対方向に沿って前記載置部に通過させる
請求項3に記載の基板処理装置。 The transport unit is
Passing the position facing the electrode along the transport direction to the placement unit, and
The substrate processing apparatus according to claim 3, wherein a position facing the electrode is passed through the placement unit along a direction opposite to the transport direction.
基板が載置される載置部と、
搬送方向に沿って前記載置部を搬送して前記載置部と前記電極とを向かい合わせる搬送部と、を備え、
前記載置部は、当該載置部に載置された基板の前記搬送方向にはみ出す端部を有し、
前記電極における前記搬送方向の長さが、電極幅WPとして設定され、
前記端部における前記搬送方向の長さが、端部幅WEとして設定され、
WE≧WPが満たされる
固体電解質膜の形成装置。 An electrode on which a target containing a constituent element of a solid electrolyte is mounted;
A placement section on which the substrate is placed;
A transport unit that transports the mounting unit along the transport direction and faces the mounting unit and the electrode;
The placement unit has an end protruding in the transport direction of the substrate placed on the placement unit,
The length of the electrode in the transport direction is set as the electrode width WP,
The length in the transport direction at the end is set as the end width WE,
A device for forming a solid electrolyte membrane satisfying WE ≧ WP.
前記載置部は、当該載置部に載置された基板の前記搬送方向にはみ出す端部を有し、
前記電極における前記搬送方向の長さが、電極幅WPとして設定され、
前記端部における前記搬送方向の長さが、端部幅WEとして設定され、
WE≧WPが満たされる
固体電解質膜の形成方法。 The transport unit transports the mounting unit on which the substrate is mounted along the transport direction, and includes a step in which the electrode on which the target including the constituent element of the solid electrolyte is mounted and the mounting unit face each other,
The placement unit has an end protruding in the transport direction of the substrate placed on the placement unit,
The length of the electrode in the transport direction is set as the electrode width WP,
The length in the transport direction at the end is set as the end width WE,
A method of forming a solid electrolyte membrane satisfying WE ≧ WP.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2014031558A JP2014031558A (en) | 2014-02-20 |
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Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP5889746B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6608615B2 (en) * | 2015-05-18 | 2019-11-20 | 株式会社アルバック | Positive electrode active material film and film forming method |
WO2020179097A1 (en) * | 2019-03-04 | 2020-09-10 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Wiring structure, semiconductor device, method for operating active element, method for manufacturing wiring structure, method for using wiring structure, and method for controlling wiring resistance of wiring structure |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04173974A (en) * | 1990-11-02 | 1992-06-22 | Tdk Corp | Reactive continuous sputtering method, production of magnetic disk and tray for transporting substrate |
JPH0641732A (en) * | 1992-07-23 | 1994-02-15 | Mitsubishi Kasei Corp | Sputtering method |
JP3985208B2 (en) * | 1999-06-24 | 2007-10-03 | スズキ株式会社 | Method for synthesizing LiMn2O4 thin film |
-
2012
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014031558A (en) | 2014-02-20 |
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