JP5865206B2 - Load application device - Google Patents
Load application device Download PDFInfo
- Publication number
- JP5865206B2 JP5865206B2 JP2012172485A JP2012172485A JP5865206B2 JP 5865206 B2 JP5865206 B2 JP 5865206B2 JP 2012172485 A JP2012172485 A JP 2012172485A JP 2012172485 A JP2012172485 A JP 2012172485A JP 5865206 B2 JP5865206 B2 JP 5865206B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- load
- electromagnet
- support member
- cryostat
- load application
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
本発明は、極低温環境下で動作する荷重印加試験装置に関する。 The present invention relates to a load application test apparatus that operates in a cryogenic environment.
一般に、材料、装置の機械的強度や健全性を試験するには、例えば油圧などを利用して被試験体に応力を発生させ、その時の歪みや破断の有無を確認する。ところが、液体窒素温度（−１９６℃）以下の低温（以下、極低温という）環境下で荷重印加試験するにあたり、油は凍ってしまうため極低温の環境下では使用できず、何らかの工夫が必要となる。 In general, in order to test the mechanical strength and soundness of materials and devices, for example, stress is generated in a test object using, for example, hydraulic pressure, and the presence or absence of distortion or breakage at that time is confirmed. However, when a load application test is performed in a low-temperature environment (hereinafter referred to as “very low temperature”) below the liquid nitrogen temperature (−196 ° C.), the oil freezes and cannot be used in a very low-temperature environment. Become.
極低温環境下で動作する荷重印加試験装置として、例えば油圧などで荷重の印加が可能な機構を常温域に備え、荷重を伝達する部材を常温域から極低温下にあるクライオスタット内部に挿入し、その内部に備えた被試験体に荷重を印加する方法が知られている（例えば、特許文献１）。 As a load application test device that operates in a cryogenic environment, for example, a mechanism that can apply a load with hydraulic pressure etc. is provided in the normal temperature range, and a member that transmits the load is inserted into the cryostat inside the cryogenic temperature from the normal temperature range, A method is known in which a load is applied to a device under test provided therein (for example, Patent Document 1).
荷重伝達部材は、座屈防止のために、その荷重の伝達方向の長さと、それに垂直な方向の厚みの比を、印加したい荷重に応じて一定値以上とする必要がある。ところがこの比が大きくなると、荷重伝達部材を通して常温部からクライオスタット内への熱流入量が大きくなる。極低温の維持には、冷凍機のランニングコストや、あるいは希少資源である液体ヘリウムの消費を伴うため、荷重印加機構に由来する熱侵入を低減することが望まれる。 In order to prevent buckling, the load transmission member needs to have a ratio of the length in the transmission direction of the load and the thickness in the direction perpendicular thereto to a certain value or more according to the load to be applied. However, when this ratio increases, the amount of heat flowing from the normal temperature portion into the cryostat through the load transmission member increases. Maintaining the cryogenic temperature involves the running cost of the refrigerator or the consumption of liquid helium, which is a scarce resource, so it is desirable to reduce the heat intrusion resulting from the load application mechanism.
荷重印加機構に由来する熱侵入を低減するために、クライオスタット外部に電磁石を設置し、そこから発生する磁場を、クライオスタットの内部に設置した磁性体（或いはコイル）に印加し、それによって発生する電磁力を被試験体に印加する方法が提案されている（例えば、特許文献２、特許文献３）。この構成によると、常温部から極低温部への荷重伝達部材が不要となるため、熱侵入を低減できる。 In order to reduce the heat intrusion due to the load application mechanism, an electromagnet is installed outside the cryostat, and the magnetic field generated therefrom is applied to the magnetic body (or coil) installed inside the cryostat, thereby generating the electromagnetic A method for applying a force to a device under test has been proposed (for example, Patent Document 2 and Patent Document 3). According to this configuration, since a load transmission member from the normal temperature part to the cryogenic part is not required, heat penetration can be reduced.
クライオスタット外部に備えた電磁石と、そこから発生する磁場と相互作用する、クライオスタット内部に設置した磁性体（あるいはコイル）により荷重印加機構を構成した場合、試験体に対して印加可能な荷重は、電磁石と磁性体（あるいはコイル）同士の距離が近いほど大きくなる。ところが、クライオスタット外部の電磁石とクライオスタット内部の磁性体（あるいはコイル）の間にはクライオスタットの仕切り幅以上の間隔が必須となり、印加可能な荷重の大きさが制限されてしまうという課題がある。 When the load application mechanism is composed of an electromagnet provided outside the cryostat and a magnetic body (or coil) installed inside the cryostat that interacts with the magnetic field generated from the electromagnet, the load that can be applied to the test body is the electromagnet. And the distance between the magnetic bodies (or coils) increases. However, an interval larger than the partition width of the cryostat is essential between the electromagnet outside the cryostat and the magnetic body (or coil) inside the cryostat, and there is a problem that the magnitude of the load that can be applied is limited.
本発明の目的は、試験体に対して印加可能な荷重の大きさがクライオスタットの仕切り幅に制限されない構成を有する荷重印加装置を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a load application device having a configuration in which the magnitude of a load that can be applied to a specimen is not limited by the partition width of the cryostat.
本発明では、被試験体に荷重を印加するための電磁石をクライオスタット内に備えることで上記課題を解決する。そのために本発明にかかる荷重印加装置は、クライオスタットと、クライオスタット内に備えられた環状の第１電磁石と、クライオスタット内に備えられ、第１電磁石と略同軸上に配置される環状の第２電磁石と、第１電磁石に設置された荷重伝達部材と、第１電磁石と第２電磁石を連結するバネ部材と、第１電磁石と荷重支持部材の間に設置され、被試験体を支持する荷重支持部材を有し、荷重支持部材は、被試験体を挟んで前記荷重伝達部材と対向する位置に設置され、バネ部材は、荷重伝達部材より剛性が小さくなるように構成される。 In this invention, the said subject is solved by providing the electromagnet for applying a load to a to-be-tested object in a cryostat. Therefore, a load application device according to the present invention includes a cryostat, an annular first electromagnet provided in the cryostat, an annular second electromagnet provided in the cryostat and arranged substantially coaxially with the first electromagnet. A load transmitting member installed in the first electromagnet, a spring member connecting the first electromagnet and the second electromagnet, and a load supporting member installed between the first electromagnet and the load supporting member and supporting the test object. And the load supporting member is installed at a position facing the load transmitting member with the device under test interposed therebetween, and the spring member is configured to be less rigid than the load transmitting member.
本発明によれば、より大きな荷重を印加した力学特性評価試験を極低温環境下で実施することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the mechanical characteristic evaluation test which applied a bigger load can be implemented in a cryogenic environment.
以下、本発明を実施するための形態（以下、実施形態という）について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、各図において、共通する部分には同一の符号を付し重複した説明を省略する。
（第１実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態に係る荷重印加装置１Ａの構成を示す概略図である。
荷重印加装置１Ａは、クライオスタット２、第一の電流源（電源装置）８ａ、第二の電流源（電源装置）８ｂ、変位計測機器９を備える。クライオスタット２は、底面を有する円筒形状をしており、上面には蓋部分（トップフランジ）１１がネジなどの部材で締結されている。クライオスタット２には、液体ヘリウムなどの冷媒を注入するための注入口が設けられる。冷媒を注入する注入口を設置する替わりに、試験体を冷却するための冷凍機を設ける構成を備えてもよい。また、クライオスタット２は、冷媒を注入する注入口と冷却装置の両方を備える構成であってもよい。クライオスタット２の内部は、保持された冷媒又は、及び冷凍機による冷却によって、極低温に保持される。
Hereinafter, modes for carrying out the present invention (hereinafter referred to as embodiments) will be described in detail with reference to the drawings. In each figure, common portions are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.
(First embodiment)
FIG. 1 is a schematic diagram showing the configuration of a load application device 1A according to the first embodiment of the present invention.
The load application device 1 </ b> A includes a cryostat 2, a first current source (power supply device) 8 a, a second current source (power supply device) 8 b, and a displacement measuring device 9. The cryostat 2 has a cylindrical shape having a bottom surface, and a lid portion (top flange) 11 is fastened to the upper surface with a member such as a screw. The cryostat 2 is provided with an inlet for injecting a refrigerant such as liquid helium. Instead of installing the inlet for injecting the refrigerant, a configuration may be provided in which a refrigerator for cooling the specimen is provided. The cryostat 2 may be configured to include both an inlet for injecting a refrigerant and a cooling device. The inside of the cryostat 2 is held at an extremely low temperature by the held refrigerant or cooling by the refrigerator.
クライオスタット２の内部には、環状の第一電磁石（荷重印加用の電磁石）３、環状の第二電磁石（磁場印加用の電磁石）４、板状の荷重伝達部材５、複数の弾性体（例えば、バネ部材）１０、トップフランジ１１に溶接や締結などで連結された支持部材７ａ、荷重支持部材１３及び局所変位計１４を備える。 Inside the cryostat 2, an annular first electromagnet (electromagnet for load application) 3, an annular second electromagnet (electromagnet for magnetic field application) 4, a plate-shaped load transmission member 5, and a plurality of elastic bodies (for example, A spring member 10, a support member 7 a connected to the top flange 11 by welding or fastening, a load support member 13, and a local displacement meter 14.
第一電磁石３と第二電磁石４はリング状の形状を有し、その中心軸が略一致するように配置される。第一電磁石３は、複数のバネ部材１０によって第二電磁石４に連結される。 The first electromagnet 3 and the second electromagnet 4 have a ring shape and are arranged so that their central axes substantially coincide. The first electromagnet 3 is connected to the second electromagnet 4 by a plurality of spring members 10.
図２に示すように、荷重伝達部材５は板状の形状を有し、一端（面２０ａ）が第一電磁石３に固定され、その反対側の一端（面２０ｂ）が円弧状の断面を有している。具体的には、第一電磁石３の側面に板状部材を設置し、その板状部材にねじなどで荷重伝達部材５が固定される。荷重伝達部材５の幅Ｌは、リング状の第二電磁石３の内周径よりも短く構成され、クライオスタット２内部では、荷重伝達部材５が円環状の第二電磁石３の内周に挿入された構成となる。荷重伝達部材５は、極低温の環境下において応力が発生しても座屈や破断などの破壊が発生しないように、比較的剛性の大きい部材（例えば、ステンレスやＦＲＰ材など）で構成される。 As shown in FIG. 2, the load transmitting member 5 has a plate shape, one end (surface 20a) is fixed to the first electromagnet 3, and the other end (surface 20b) has an arc-shaped cross section. doing. Specifically, a plate-like member is installed on the side surface of the first electromagnet 3, and the load transmitting member 5 is fixed to the plate-like member with a screw or the like. The width L of the load transmission member 5 is configured to be shorter than the inner peripheral diameter of the ring-shaped second electromagnet 3, and the load transmission member 5 is inserted into the inner periphery of the annular second electromagnet 3 inside the cryostat 2. It becomes composition. The load transmission member 5 is composed of a member having relatively high rigidity (for example, stainless steel or FRP material) so that even if stress occurs in a cryogenic environment, breakdown such as buckling or fracture does not occur. .
支持部材７ａは、一端がトップフランジ１１に連結され、他端が３つに分岐した部材（第一の支持部材２７ａ、第二の支持部材２７ｂ、第三の支持部材２７ｃ）を有する。第二電磁石４が第一の支持部材２７ａに支持され、荷重支持部材１３が第三の支持部材２７ｃに支持される。第二の支持部材２７ｂに被試験体６が設置される構成となる。クライオスタット２の内部では、第一電磁石３、第二電磁石４、被試験体６、荷重支持部材１３の順番で、それぞれが略平行となるように配置される。局所変位計１４は、被試験体６に取り付けられる。また、クライオスタット２の外部に設置した変位計測機器９に局所変位計１４が接続される。 The support member 7a has members (a first support member 27a, a second support member 27b, and a third support member 27c) that are connected to the top flange 11 at one end and branched into three at the other end. The second electromagnet 4 is supported by the first support member 27a, and the load support member 13 is supported by the third support member 27c. The device under test 6 is installed on the second support member 27b. Inside the cryostat 2, the first electromagnet 3, the second electromagnet 4, the device under test 6, and the load support member 13 are arranged so as to be substantially parallel to each other in this order. The local displacement meter 14 is attached to the device under test 6. A local displacement meter 14 is connected to the displacement measuring device 9 installed outside the cryostat 2.
荷重支持部材１３は、先端が丸まった２つの突起部１６を有し、突起部１６が被試験体６と接するように配置される。荷重支持部材１３は、被試験体６を挟んで第二電磁石４と対向する位置に配置される。荷重伝達部材５は、被試験体６を挟んで荷重支持部材１３と対向する位置に配置される。荷重伝達部材５の面２０ｂが被試験体６に押し当てられると、その反対側で接している２箇所の突起部１６との作用により、３点曲げが実現される。 The load support member 13 has two protrusions 16 with rounded tips, and is disposed so that the protrusions 16 are in contact with the device under test 6. The load support member 13 is disposed at a position facing the second electromagnet 4 with the device under test 6 interposed therebetween. The load transmission member 5 is disposed at a position facing the load support member 13 with the device under test 6 interposed therebetween. When the surface 20b of the load transmitting member 5 is pressed against the device under test 6, three-point bending is realized by the action of the two protruding portions 16 that are in contact with each other on the opposite side.
第一電磁石３が、電流リード１５ａを介して、電流源８ａと電気的に接続される。第二電磁石４が、電流リード１５ｂを介して電流源８ｂと電気的に接続される。電流源８ｂが第二電磁石４を励磁すると、周囲に磁場が生成される。第一電磁石３は、第二電磁石４が生成した磁場領域に設置されている。電流源８ａが第一電磁石３を励磁すると、第一電磁石３に電流が流れる。第一電磁石３を流れる電流と第二電磁石４によって生成された磁場によって、第一電磁石３と第二電磁石４の間に電磁力が発生する。第二電磁石４は、支持部材７ａに固定されているため移動しない。第一電磁石３は、この電磁力の作用により、図１に示すように、被試験体６が設置された方向（荷重支持部材１３が設置された方向。
電磁力方向１２ａ）に移動する。第一電磁石３が被試験体６の方向（電磁力方向１２ａ）に移動することで、荷重伝達部材５も同様に被試験体６の方向（電磁力方向１２ａ）に移動する。電磁力方向１２ａは、第一電磁石３と荷重伝達部材５の変位の方向に平行であり、荷重伝達部材５の面２０ａから面２０ｂに向かう方向となる。
The first electromagnet 3 is electrically connected to the current source 8a through the current lead 15a. The second electromagnet 4 is electrically connected to the current source 8b through the current lead 15b. When the current source 8b excites the second electromagnet 4, a magnetic field is generated around it. The first electromagnet 3 is installed in the magnetic field region generated by the second electromagnet 4. When the current source 8 a excites the first electromagnet 3, a current flows through the first electromagnet 3. An electromagnetic force is generated between the first electromagnet 3 and the second electromagnet 4 by the current flowing through the first electromagnet 3 and the magnetic field generated by the second electromagnet 4. The second electromagnet 4 does not move because it is fixed to the support member 7a. As shown in FIG. 1, the first electromagnet 3 is in the direction in which the DUT 6 is installed (the direction in which the load support member 13 is installed).
Move in electromagnetic force direction 12a). As the first electromagnet 3 moves in the direction of the device under test 6 (electromagnetic force direction 12a), the load transmitting member 5 similarly moves in the direction of the device under test 6 (electromagnetic force direction 12a). The electromagnetic force direction 12a is parallel to the displacement direction of the first electromagnet 3 and the load transmission member 5, and is a direction from the surface 20a of the load transmission member 5 toward the surface 20b.
第一電磁石３と荷重伝達部材５は、バネ部材１０の変形を伴い変位する。荷重伝達部材５が変位した時に、荷重伝達部材５の面２０ｂと被試験体６とが接触するように、荷重伝達部材５と被試験体６との位置関係を設定する。 The first electromagnet 3 and the load transmission member 5 are displaced with the deformation of the spring member 10. The positional relationship between the load transmitting member 5 and the DUT 6 is set so that the surface 20b of the load transmitting member 5 and the DUT 6 come into contact when the load transmitting member 5 is displaced.
電磁力方向１２ａに沿った剛性は、荷重伝達部材５よりも、バネ部材１０の方が十分小さいように、そのバネ定数を設定する。このことにより、第一電磁石３に生じた電磁力のうち、被試験体６ではなく、バネ部材１０の方に印加される荷重を小さくすることができ、従って被試験体６に印加可能な荷重を大きくできる。同様の理由により、電磁力方向１２ａに沿った剛性は、被試験体６よりも、バネ部材１０の方が十分小さいようにすることが望ましい。 The spring constant is set so that the rigidity along the electromagnetic force direction 12 a is sufficiently smaller in the spring member 10 than in the load transmission member 5. As a result, among the electromagnetic force generated in the first electromagnet 3, it is possible to reduce the load applied to the spring member 10 instead of the device under test 6, and thus the load that can be applied to the device under test 6. Can be increased. For the same reason, it is desirable that the stiffness along the electromagnetic force direction 12a is sufficiently smaller in the spring member 10 than in the device under test 6.
第一電磁石３と第二電磁石４の巻き線数及び許容電流と、相互の位置関係などのパラメータは、第一電磁石３と第二電磁石４を励磁した際に、第一電磁石３において所望の方向、大きさの電磁力が発生し、被試験体６に所望の応力が発生するように設定する。図1に示すように、第一電磁石３の位置から見て、第２電磁石４と被試験体６とを同じ側に設置した場合、第一電磁石３は第二電磁石４と同じ方向に電流を通電し、第一電磁石３と第二電磁石が互いに引き合う方向に電磁力を作用させれば、被試験体６に荷重を印加することができる。第一電磁石３と第二電磁石４の間隔に制限はなく、従って間隔を短くするほど大きな荷重を被試験体に印加可能となる。 Parameters such as the number of windings and allowable current of the first electromagnet 3 and the second electromagnet 4 and the positional relationship between them are determined in a desired direction in the first electromagnet 3 when the first electromagnet 3 and the second electromagnet 4 are excited. , The electromagnetic force having a magnitude is generated, and a desired stress is generated in the DUT 6. As shown in FIG. 1, when the second electromagnet 4 and the DUT 6 are installed on the same side as viewed from the position of the first electromagnet 3, the first electromagnet 3 supplies current in the same direction as the second electromagnet 4. A load can be applied to the DUT 6 by energizing and applying an electromagnetic force in the direction in which the first electromagnet 3 and the second electromagnet attract each other. There is no limitation on the distance between the first electromagnet 3 and the second electromagnet 4, so that a larger load can be applied to the device under test as the distance is shortened.
第一電磁石３と第二電磁石４の線材としては、印加したい電磁力荷重に応じて、相応の起磁力を誘起できるように常電導線材（例えば銅、アルミニウムなど）か、あるいは超電導線材（例えばニオブチタン線や二ホウ化マグネシウム、銅酸化物線材など）の中から選択する。超電導線材を使用した場合は、クライオスタット２内は超電導転移温度以下に保持する必要がある。一般に超電導線材は、許容電流密度は常電導線材より大きく、また通電による線材の発熱量も無視できるほど小さいため、被試験体６へ印加可能な応力を大きくし、また各電磁石の発熱量を小さくするには、超電導線材を使用することが望ましい。 The wire of the first electromagnet 3 and the second electromagnet 4 can be a normal conducting wire (eg, copper, aluminum) or a superconducting wire (eg, niobium titanium) so that a corresponding magnetomotive force can be induced according to the electromagnetic force load to be applied. Wire, magnesium diboride, copper oxide wire, etc.). When a superconducting wire is used, it is necessary to keep the inside of the cryostat 2 below the superconducting transition temperature. In general, a superconducting wire has a larger allowable current density than a normal conducting wire, and the amount of heat generated by energization is negligibly small. For this purpose, it is desirable to use a superconducting wire.
被試験体６の応力印加時の強度や健全性は、例えば、局所変位計１４を被試験体６に取り付け、クライオスタット２の外部に設置した変位計測機器９でモニターすることで判断することが可能となる。 The strength and soundness of the DUT 6 when stress is applied can be determined by, for example, attaching the local displacement meter 14 to the DUT 6 and monitoring it with the displacement measuring device 9 installed outside the cryostat 2. It becomes.
本実施形態の荷重印加装置１Ａによれば、極低温環境下での被試験体６に対する曲げ荷重印加試験を実現することができる。また、被試験体６に荷重を印加する機能を有する機器（第一電磁石３、第二電磁石４及び荷重伝達部材５）がクライオスタット２内に設置されているため、常温部から極低温部への熱浸入を低減でき、冷凍機のランニングコストや、クライオスタット２に注入すべき冷媒の量を低減することができる。 According to the load application device 1A of the present embodiment, it is possible to realize a bending load application test for the DUT 6 under a cryogenic environment. In addition, since the devices (the first electromagnet 3, the second electromagnet 4, and the load transmission member 5) having a function of applying a load to the device under test 6 are installed in the cryostat 2, the normal temperature portion to the cryogenic temperature portion. Thermal infiltration can be reduced, and the running cost of the refrigerator and the amount of refrigerant to be injected into the cryostat 2 can be reduced.
本実施形態の荷重印加装置１Ａによれば、第一電磁石３と第二電磁石４との間隔に制限はなく、従って印加可能な荷重の大きさがクライオスタットの仕切り幅に制限されない構成となる。これにより、第一電磁石３と第二電磁石４の距離をより短くすることができ、被試験体６に印加する荷重をより大きくすることができる。
（第２実施形態）
第２実施形態に係る荷重印加装置について説明する。図３は、第２実施形態に係る荷重印加装置１Ｂの構成を示す概略図である。
According to the load application device 1A of the present embodiment, there is no limitation on the distance between the first electromagnet 3 and the second electromagnet 4, and therefore the size of the load that can be applied is not limited by the partition width of the cryostat. Thereby, the distance of the 1st electromagnet 3 and the 2nd electromagnet 4 can be shortened more, and the load applied to the to-be-tested body 6 can be enlarged more.
(Second Embodiment)
A load application device according to the second embodiment will be described. FIG. 3 is a schematic diagram illustrating a configuration of a load application device 1B according to the second embodiment.
本実施形態の荷重印加装置１Ｂは、第１実施形態の荷重印加装置１Ａにおいて支持部材７ａを、支持部材７ｂ及び吊り支持部材２３に替え、第１実施形態のトップフランジ１１を、開口部２２を有するトップフランジ１１ｂに替えた構成を有する。本実施形態について、第１実施形態と同様の構成、機能については説明を省略し、相違点について詳細に説明する。 The load application device 1B of the present embodiment replaces the support member 7a with the support member 7b and the suspension support member 23 in the load application device 1A of the first embodiment, replaces the top flange 11 of the first embodiment with the opening 22. It has the structure replaced with the top flange 11b which has. In this embodiment, the description of the same configuration and function as those in the first embodiment will be omitted, and differences will be described in detail.
支持部材７ｂは、一端がトップフランジ１１ｂに連結され、他端に第二電磁石４を支持する。吊り支持部材２３は、鉛直方向の上部に位置する頭部１８と、下部に位置する吊り部１９を有する。吊り支持部材２３の頭部１８が、トップフランジ１１ｂの開口部２２に取り付けられる。頭部１８の水平方向の幅（Ｌ１）は、トップフランジ１１ｂの開口部２２の幅よりも広く構成される。吊り支持部材２３の吊り部１９は、二つに分岐した部材（第一吊り部１９ａ、第二吊り部１９ｂ）を有する。被試験体６が第一吊り部１９ａに固定され、荷重支持部材１３が第二吊り部１９ｂに支持される。頭部１８より鉛直下側に位置する吊り部１９の水平方向の幅（Ｌ２）は、トップフランジ１１ｂの開口部２２の幅よりも狭く構成される。また、第一吊り部１９ａに支持される被試験体６と第二吊り部１９ｂに支持される荷重支持部材１３の幅（Ｌ３）は、トップフランジ１１ｂの開口部２２の幅よりも狭く構成される。 One end of the support member 7b is connected to the top flange 11b, and the other electromagnet 4 is supported at the other end. The suspension support member 23 has a head portion 18 located at the upper portion in the vertical direction and a suspension portion 19 located at the lower portion. The head 18 of the suspension support member 23 is attached to the opening 22 of the top flange 11b. The horizontal width (L1) of the head 18 is configured to be wider than the width of the opening 22 of the top flange 11b. The suspending portion 19 of the suspending support member 23 has two branched members (first suspending portion 19a and second suspending portion 19b). The DUT 6 is fixed to the first suspension part 19a, and the load support member 13 is supported by the second suspension part 19b. The horizontal width (L2) of the hanging portion 19 located vertically below the head 18 is configured to be narrower than the width of the opening 22 of the top flange 11b. Further, the width (L3) of the DUT 6 supported by the first suspension part 19a and the load support member 13 supported by the second suspension part 19b is configured to be narrower than the width of the opening 22 of the top flange 11b. The
荷重印加装置１Ｂによる荷重印加試験時、吊り支持部材２３の頭部１８はクライオスタット２の外部に配置され、吊り部１９、被試験体６及び荷重支持部材１３がクライオスタット２の内部に配置される。吊り支持部材２３、被試験体６及び荷重支持部材１３の重量は、トップフランジ１１ｂに接している頭部１８により支持される。荷重印加試験が終了すると、吊り支持部材２３は、クライオスタッ２の内部から外部へ引き抜くことが可能であり、被試験体６を別のものに容易に取り換えて、再び挿入して荷重印加試験をすることが可能である。 During the load application test by the load application device 1 </ b> B, the head portion 18 of the suspension support member 23 is disposed outside the cryostat 2, and the suspension portion 19, the DUT 6 and the load support member 13 are disposed inside the cryostat 2. The weights of the suspension support member 23, the DUT 6 and the load support member 13 are supported by the head 18 in contact with the top flange 11b. When the load application test is completed, the suspension support member 23 can be pulled out from the inside of the cryostat 2 to the outside, and the test object 6 can be easily replaced with another one and inserted again to perform the load application test. Is possible.
本実施形態の荷重印加装置１Ｂによれば、極低温環境下での被試験体６に対する曲げ荷重印加試験を実現することができる。また、被試験体６に荷重を印加する機能を有する機器（第一電磁石３、第二電磁石４及び荷重伝達部材５）がクライオスタット２内に設置されているため、常温部から極低温部への熱浸入を少なくでき、冷凍機のランニングコストや、クライオスタット２に注入すべき冷媒の量を低減することができる。 According to the load application device 1B of the present embodiment, it is possible to realize a bending load application test on the DUT 6 under a cryogenic environment. In addition, since the devices (the first electromagnet 3, the second electromagnet 4, and the load transmission member 5) having a function of applying a load to the device under test 6 are installed in the cryostat 2, the normal temperature portion to the cryogenic temperature portion. Thermal infiltration can be reduced, and the running cost of the refrigerator and the amount of refrigerant to be injected into the cryostat 2 can be reduced.
本実施形態の荷重印加装置１Ｂによれば、第一電磁石３と第二電磁石４との間隔に制限はなく、従って印加可能な荷重の大きさがクライオスタットの仕切り幅に制限されない構成となる。これにより、第一電磁石３と第二電磁石４の距離をより短くすることができ、被試験体６に印加する荷重をより大きくすることができる。 According to the load application device 1B of the present embodiment, there is no limitation on the distance between the first electromagnet 3 and the second electromagnet 4, and therefore the size of the load that can be applied is not limited by the partition width of the cryostat. Thereby, the distance of the 1st electromagnet 3 and the 2nd electromagnet 4 can be shortened more, and the load applied to the to-be-tested body 6 can be enlarged more.
本実施形態の荷重印加装置１Ｂでは、吊り支持部材２３をトップフランジ１１ｂの開口部２２から出し入れ可能な構成であるため、吊り支持部材２３に設置された被試験体６を容易に取替えることができる。また、複数の被試験体６の荷重印加試験をする必要がある場合、トップフランジ１１ｂとそれに連結される全ての部材を引き上げる必要がなく、吊り支持部材２３のみ引き上げることで被試験体６を交換することが可能な構成である。そのため、トップフランジ１１ｂとそれに連結される全ての部材を引き上げて被試験体６を交換する場合と比較し、被試験体６の取り換え後に冷却する事が必要な熱容量を縮小する事が可能となり、冷却に要するコストを低減することができる。
（第３実施形態）
第３実施形態に係る荷重印加装置について説明する。図４は、第３実施形態に係る荷重印加装置１Ｃの構成を示す概略図である。
In the load application device 1B of the present embodiment, since the suspension support member 23 can be inserted and removed from the opening 22 of the top flange 11b, the DUT 6 installed on the suspension support member 23 can be easily replaced. . Further, when it is necessary to perform a load application test on a plurality of devices under test 6, it is not necessary to pull up the top flange 11b and all the members connected thereto, and the device under test 6 is replaced by pulling up only the suspension support member 23. This is a possible configuration. Therefore, compared with the case where the test object 6 is replaced by pulling up the top flange 11b and all the members connected thereto, the heat capacity that needs to be cooled after replacement of the test object 6 can be reduced. The cost required for cooling can be reduced.
(Third embodiment)
A load application device according to the third embodiment will be described. FIG. 4 is a schematic diagram illustrating a configuration of a load application device 1 </ b> C according to the third embodiment.
本実施形態の荷重印加装置１Ｃは、第１実施形態の荷重印加装置１Ａにおいて荷重伝達部材５を荷重伝達部材５ｃに替え、第１実施形態の荷重支持部材１３を荷重支持部材１３ｃに替えた構成を有する。本実施形態について、第１実施形態と同様の構成、機能については説明を省略し、相違点について詳細に説明する。 1 C of load application apparatuses of this embodiment are the structures which replaced the load transmission member 5 with the load transmission member 5c in the load application apparatus 1A of 1st Embodiment, and replaced the load support member 13 of 1st Embodiment with the load support member 13c. Have In this embodiment, the description of the same configuration and function as those in the first embodiment will be omitted, and differences will be described in detail.
本実施形態に係る荷重伝達部材５ｃは、被試験体６と接触する部位（面２０ｃ）が平面になっている。また、荷重支持部材１３ｃも同様に、被試験体６と接触する部位が平面になっている。荷重印加装置１Ｃには、第１実施形態の荷重印加装置１Ａに備えられた突起部１６が存在しない。 The load transmission member 5c according to the present embodiment has a flat surface (surface 20c) in contact with the device under test 6. Similarly, the load support member 13c has a flat portion in contact with the device under test 6. The load application device 1C does not include the protrusion 16 provided in the load application device 1A of the first embodiment.
クライオスタット２の内部に配置された第一電磁石３と第二電磁石４を励磁すると、第１実施形態の荷重印加装置１Ａと同様、荷重伝達部材５ｃの面２０ａから面２０ｃに向かう方向（電磁力方向１２a）に電磁力が働く。荷重伝達部材５ｃが被試験体６の方向に移動することによって、被試験体６は荷重伝達部材５ｃと荷重支持部材１３ｃによって挟まれ、被試験体６に対して圧縮荷重を印加することが可能となる。局所変位計１４が被試験体６の側面に取り付けられる。クライオスタット２の外部に設置した変位計測機器９が局所変位計１４からの信号をモニターすることで、被試験体６の圧縮荷重印加時の強度や健全性を評価することができる。 When the first electromagnet 3 and the second electromagnet 4 arranged inside the cryostat 2 are excited, the direction (electromagnetic force direction) from the surface 20a to the surface 20c of the load transmitting member 5c is the same as the load applying device 1A of the first embodiment. Electromagnetic force acts on 12a). When the load transmitting member 5c moves in the direction of the DUT 6, the DUT 6 is sandwiched between the load transmitting member 5c and the load support member 13c, and a compressive load can be applied to the DUT 6. It becomes. A local displacement meter 14 is attached to the side surface of the DUT 6. The displacement measuring device 9 installed outside the cryostat 2 monitors the signal from the local displacement meter 14, whereby the strength and soundness of the DUT 6 when a compressive load is applied can be evaluated.
本実施形態の荷重印加装置１Ｃによれば、極低温環境下での被試験体６に対する圧縮荷重印加試験を実現することができる。また、被試験体６に荷重を印加する機能を有する機器（第一電磁石３、第二電磁石４及び荷重伝達部材５ｃ）がクライオスタット２内に設置されているため、常温部から極低温部への熱浸入を少なくでき、冷凍機のランニングコストや、クライオスタット２に注入すべき冷媒の量を低減することができる。 According to the load application device 1 </ b> C of the present embodiment, it is possible to realize a compression load application test on the device under test 6 in a cryogenic environment. In addition, since the devices (the first electromagnet 3, the second electromagnet 4, and the load transmission member 5c) having a function of applying a load to the DUT 6 are installed in the cryostat 2, the normal temperature portion to the extremely low temperature portion Thermal infiltration can be reduced, and the running cost of the refrigerator and the amount of refrigerant to be injected into the cryostat 2 can be reduced.
本実施形態の荷重印加装置１Ｃによれば、第一電磁石３と第二電磁石４との間隔に制限はなく、従って印加可能な荷重の大きさがクライオスタットの仕切り幅に制限されない構成となる。これにより、第一電磁石３と第二電磁石４の距離をより短くすることができ、被試験体６に印加する荷重をより大きくすることができる。
（第４実施形態）
第４実施形態に係る荷重印加装置について説明する。図５は、第４実施形態に係る荷重印加装置１Ｄの構成を示す概略図である。
According to the load application device 1C of the present embodiment, there is no limitation on the distance between the first electromagnet 3 and the second electromagnet 4, and thus the size of the load that can be applied is not limited by the partition width of the cryostat. Thereby, the distance of the 1st electromagnet 3 and the 2nd electromagnet 4 can be shortened more, and the load applied to the to-be-tested body 6 can be enlarged more.
(Fourth embodiment)
A load application device according to the fourth embodiment will be described. FIG. 5 is a schematic diagram illustrating a configuration of a load application device 1D according to the fourth embodiment.
本実施形態の荷重印加装置１Ｄは、第３実施形態の荷重印加装置１Ｃにおいて支持部材７ａを、支持部材７ｂ及び吊り支持部材２３に替え、第１実施形態のトップフランジ１１を、開口部２２を有するトップフランジ１１ｂに替えた構成を有する。本実施形態について、第３実施形態と同様の構成、機能については説明を省略し、相違点について詳細に説明する。 The load application device 1D of the present embodiment replaces the support member 7a with the support member 7b and the suspension support member 23 in the load application device 1C of the third embodiment, replaces the top flange 11 of the first embodiment with the opening 22. It has the structure replaced with the top flange 11b which has. In the present embodiment, description of the same configuration and function as in the third embodiment will be omitted, and differences will be described in detail.
支持部材７ｂは、一端がトップフランジ１１ｂに連結され、他端に第二電磁石４を支持する。吊り支持部材２３は、鉛直方向の上部に位置する頭部１８と、下部に位置する吊り部１９を有する。吊り支持部材２３の頭部１８が、トップフランジ１１ｂの開口部２２に取り付けられる。頭部１８の水平方向の幅（Ｌ１）は、トップフランジ１１ｂの開口部２２の幅よりも広く構成される。吊り支持部材２３の吊り部１９は、二つに分岐した部材（第一吊り部１９ａ、第二吊り部１９ｂ）を有する。被試験体６が第一吊り部１９ａに固定され、荷重支持部材１３が第二吊り部１９ｂに支持される。頭部１８より鉛直下側に位置する吊り部１９の水平方向の幅（Ｌ２）は、トップフランジ１１ｂの開口部２２の幅よりも狭く構成される。また、第一吊り部１９ａに支持される被試験体６と第二吊り部１９ｂに支持される荷重支持部材１３の幅（Ｌ３）は、トップフランジ１１ｂの開口部２２の幅よりも狭く構成される。 One end of the support member 7b is connected to the top flange 11b, and the other electromagnet 4 is supported at the other end. The suspension support member 23 has a head portion 18 located at the upper portion in the vertical direction and a suspension portion 19 located at the lower portion. The head 18 of the suspension support member 23 is attached to the opening 22 of the top flange 11b. The horizontal width (L1) of the head 18 is configured to be wider than the width of the opening 22 of the top flange 11b. The suspending portion 19 of the suspending support member 23 has two branched members (first suspending portion 19a and second suspending portion 19b). The DUT 6 is fixed to the first suspension part 19a, and the load support member 13 is supported by the second suspension part 19b. The horizontal width (L2) of the hanging portion 19 located vertically below the head 18 is configured to be narrower than the width of the opening 22 of the top flange 11b. Further, the width (L3) of the DUT 6 supported by the first suspension part 19a and the load support member 13 supported by the second suspension part 19b is configured to be narrower than the width of the opening 22 of the top flange 11b. The
荷重印加装置１Ｂによる荷重印加試験時、吊り支持部材２３の頭部１８はクライオスタット２の外部に配置され、吊り部１９、被試験体６及び荷重支持部材１３がクライオスタット２の内部に配置される。吊り支持部材２３、被試験体６及び荷重支持部材１３の重量は、トップフランジ１１ｂに接している頭部１８により支持される。荷重印加試験が終了すると、吊り支持部材２３は、クライオスタッ２の内部から外部へ引き抜くことが可能であり、被試験体６を別のものに容易に取り換えて、再び挿入して荷重印加試験をすることが可能である。 During the load application test by the load application device 1 </ b> B, the head portion 18 of the suspension support member 23 is disposed outside the cryostat 2, and the suspension portion 19, the DUT 6 and the load support member 13 are disposed inside the cryostat 2. The weights of the suspension support member 23, the DUT 6 and the load support member 13 are supported by the head 18 in contact with the top flange 11b. When the load application test is completed, the suspension support member 23 can be pulled out from the inside of the cryostat 2 to the outside, and the test object 6 can be easily replaced with another one and inserted again to perform the load application test. Is possible.
本実施形態の荷重印加装置１Ｄによれば、極低温環境下での被試験体６に対する圧縮荷重印加試験を実現することができる。また、被試験体６に荷重を印加する機能を有する機器（第一電磁石３、第二電磁石４及び荷重伝達部材５ｃ）がクライオスタット２内に設置されているため、常温部から極低温部への熱浸入を少なくでき、冷凍機のランニングコストや、クライオスタット２に注入すべき冷媒の量を低減することができる。 According to the load application device 1D of the present embodiment, it is possible to realize a compression load application test for the device under test 6 in a cryogenic environment. In addition, since the devices (the first electromagnet 3, the second electromagnet 4, and the load transmission member 5c) having a function of applying a load to the DUT 6 are installed in the cryostat 2, the normal temperature portion to the extremely low temperature portion Thermal infiltration can be reduced, and the running cost of the refrigerator and the amount of refrigerant to be injected into the cryostat 2 can be reduced.
本実施形態の荷重印加装置１Ｄによれば、第一電磁石３と第二電磁石４との間隔に制限はなく、従って印加可能な荷重の大きさがクライオスタットの仕切り幅に制限されない構成となる。これにより、第一電磁石３と第二電磁石４の距離をより短くすることができ、被試験体６に印加する荷重をより大きくすることができる。 According to the load application device 1D of the present embodiment, there is no limitation on the distance between the first electromagnet 3 and the second electromagnet 4, and therefore the size of the load that can be applied is not limited by the partition width of the cryostat. Thereby, the distance of the 1st electromagnet 3 and the 2nd electromagnet 4 can be shortened more, and the load applied to the to-be-tested body 6 can be enlarged more.
本実施形態の荷重印加装置１Ｄでは、吊り支持部材２３をトップフランジ１１ｂの開口部２２から出し入れ可能な構成であるため、吊り支持部材２３に設置された被試験体６を容易に取替えることができる。また、複数の被試験体６の荷重印加試験をする必要がある場合、トップフランジ１１ｂとそれに連結される全ての部材を引き上げる必要がなく、吊り支持部材２３のみ引き上げることで被試験体６を交換することが可能な構成である。そのため、トップフランジ１１ｂとそれに連結される全ての部材を引き上げて被試験体６を交換する場合と比較し、被試験体６の取り換え後に冷却する事が必要な熱容量を縮小する事が可能となり、冷却に要するコストを低減することができる。
（第５実施形態）
第５実施形態に係る荷重印加装置について説明する。図６は、第５実施形態に係る荷重印加装置１Ｅの構成を示す概略図である。
In the load application device 1D of the present embodiment, since the suspension support member 23 can be inserted and removed from the opening 22 of the top flange 11b, the device under test 6 installed on the suspension support member 23 can be easily replaced. . Further, when it is necessary to perform a load application test on a plurality of devices under test 6, it is not necessary to pull up the top flange 11b and all the members connected thereto, and the device under test 6 is replaced by pulling up only the suspension support member 23. This is a possible configuration. Therefore, compared with the case where the test object 6 is replaced by pulling up the top flange 11b and all the members connected thereto, the heat capacity that needs to be cooled after replacement of the test object 6 can be reduced. The cost required for cooling can be reduced.
(Fifth embodiment)
A load application apparatus according to the fifth embodiment will be described. FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a configuration of a load application device 1E according to the fifth embodiment.
本実施形態の荷重印加装置１Ｅは、第１実施形態の荷重印加装置１Ａにおいて荷重伝達部材５を荷重伝達部材５ｅに替え、第１実施形態の荷重支持部材１３を荷重支持部材１３ｅに替えた構成を有する。また、本実施形態の第一電磁石３ｅに流れる電流の通電方向が、第１実施形態の第一電磁石３と異なっている。そのため、電磁力の方向１２ｂが第１実施形態の電磁力方向１２ａと逆方向になる。本実施形態について、第１実施形態と同様の構成、機能については説明を省略し、相違点について詳細に説明する。 The load application device 1E of the present embodiment has a configuration in which the load transmission member 5 is replaced with the load transmission member 5e in the load application device 1A of the first embodiment, and the load support member 13 of the first embodiment is replaced with the load support member 13e. Have Further, the energization direction of the current flowing through the first electromagnet 3e of the present embodiment is different from that of the first electromagnet 3 of the first embodiment. Therefore, the electromagnetic force direction 12b is opposite to the electromagnetic force direction 12a of the first embodiment. In this embodiment, the description of the same configuration and function as those in the first embodiment will be omitted, and differences will be described in detail.
本実施形態の荷重伝達部材５ｅは掴み具１７ａを有し、荷重支持部材１３ｅが掴み具１７ｂを備える。掴み具１７ａは、図７に示すように、例えばボルト２４ａとナット２５ａによって、ボルト２４ａを通すための穴を形成した被試験体６の一端と連結される。掴み具１７ｂは、例えばボルト２４ｂとナット２５ｂによって、ボルト２４ｂを通すための穴を形成した被試験体６の他端と連結される。このような構成によって、第一電磁石３と第二電磁石４を励磁し、掴み具１７ａ、１７ｂが互いに離れるような方向（電磁力方向１２ｂ、第１実施形態とは逆方向）に電磁力が働くようにすると、被試験体６に対して引張荷重を印加することが可能となる。電磁力方向１２ｂに向けて電磁力を誘起するには、第一電磁石３ｅの電流方向を、第１実施形態の第一電磁石３例と逆方向であって、第二電磁石４の電流方向と逆方向に流せばよい。 The load transmission member 5e of the present embodiment has a gripping tool 17a, and the load support member 13e has a gripping tool 17b. As shown in FIG. 7, the gripping tool 17a is connected to one end of the DUT 6 in which a hole for passing the bolt 24a is formed, for example, by a bolt 24a and a nut 25a. The gripping tool 17b is connected to the other end of the DUT 6 in which a hole for passing the bolt 24b is formed, for example, by a bolt 24b and a nut 25b. With such a configuration, the first electromagnet 3 and the second electromagnet 4 are excited, and electromagnetic force acts in such a direction that the grippers 17a and 17b are separated from each other (electromagnetic force direction 12b, opposite to the first embodiment). By doing so, it becomes possible to apply a tensile load to the DUT 6. In order to induce the electromagnetic force toward the electromagnetic force direction 12b, the current direction of the first electromagnet 3e is opposite to that of the first electromagnet 3 example of the first embodiment and is opposite to the current direction of the second electromagnet 4. Just flow in the direction.
本実施形態の荷重印加装置１Ｅによれば、極低温環境下での被試験体６に対する引張荷重印加試験を実現することができる。また、被試験体６に荷重を印加する機能を有する機器（第一電磁石３ｅ、第二電磁石４及び荷重伝達部材５ｅ）がクライオスタット２内に設置されているため、常温部から極低温部への熱浸入を少なくでき、冷凍機のランニングコストや、クライオスタット２に注入すべき冷媒の量を低減することができる。 According to the load application device 1E of the present embodiment, it is possible to realize a tensile load application test on the device under test 6 in a cryogenic environment. In addition, since the devices (the first electromagnet 3e, the second electromagnet 4 and the load transmission member 5e) having a function of applying a load to the DUT 6 are installed in the cryostat 2, the normal temperature portion to the extremely low temperature portion Thermal infiltration can be reduced, and the running cost of the refrigerator and the amount of refrigerant to be injected into the cryostat 2 can be reduced.
本実施形態の荷重印加装置１Ｅによれば、第一電磁石３ｅと第二電磁石４との間隔に制限はなく、従って印加可能な荷重の大きさがクライオスタットの仕切り幅に制限されない構成となる。これにより、第一電磁石３ｅと第二電磁石４の距離をより短くすることができ、被試験体６に印加する荷重をより大きくすることができる。
（第６実施形態）
第６実施形態に係る荷重印加装置について説明する。図８は、第６実施形態に係る荷重印加装置１Ｆの構成を示す概略図である。
According to the load application device 1E of the present embodiment, there is no limitation on the distance between the first electromagnet 3e and the second electromagnet 4, and thus the size of the load that can be applied is not limited by the partition width of the cryostat. Thereby, the distance of the 1st electromagnet 3e and the 2nd electromagnet 4 can be shortened more, and the load applied to the to-be-tested body 6 can be enlarged more.
(Sixth embodiment)
A load application device according to the sixth embodiment will be described. FIG. 8 is a schematic diagram illustrating a configuration of a load application device 1F according to the sixth embodiment.
本実施形態の荷重印加装置１Ｆは、第５実施形態の荷重印加装置１Ｅにおいて支持部材７ａを、支持部材７ｂ及び吊り支持部材２３に替え、第５実施形態のトップフランジ１１を、開口部２２を有するトップフランジ１１ｂに替えた構成を有する。本実施形態について、第５実施形態と同様の構成、機能については説明を省略し、相違点について詳細に説明する。 The load application device 1F of the present embodiment replaces the support member 7a with the support member 7b and the suspension support member 23 in the load application device 1E of the fifth embodiment, replaces the top flange 11 of the fifth embodiment with the opening 22. It has the structure replaced with the top flange 11b which has. In the present embodiment, the description of the same configuration and function as in the fifth embodiment will be omitted, and differences will be described in detail.
支持部材７ｂは、一端がトップフランジ１１ｂに連結され、他端に第二電磁石４を支持する。吊り支持部材２３は、鉛直方向の上部に位置する頭部１８と、下部に位置する吊り部１９を有する。吊り支持部材２３の頭部１８が、トップフランジ１１ｂの開口部２２に取り付けられる。頭部１８の水平方向の幅（Ｌ１）は、トップフランジ１１ｂの開口部２２の幅よりも広く構成される。吊り支持部材２３の吊り部１９は、二つに分岐した部材（第一吊り部１９ａ、第二吊り部１９ｂ）を有する。被試験体６が第一吊り部１９ａに固定され、荷重支持部材１３が第二吊り部１９ｂに支持される。頭部１８より鉛直下側に位置する吊り部１９の水平方向の幅（Ｌ２）は、トップフランジ１１ｂの開口部２２の幅よりも狭く構成される。また、第一吊り部１９ａに支持される被試験体６と第二吊り部１９ｂに支持される荷重支持部材１３の幅（Ｌ３）は、トップフランジ１１ｂの開口部２２の幅よりも狭く構成される。 One end of the support member 7b is connected to the top flange 11b, and the other electromagnet 4 is supported at the other end. The suspension support member 23 has a head portion 18 located at the upper portion in the vertical direction and a suspension portion 19 located at the lower portion. The head 18 of the suspension support member 23 is attached to the opening 22 of the top flange 11b. The horizontal width (L1) of the head 18 is configured to be wider than the width of the opening 22 of the top flange 11b. The suspending portion 19 of the suspending support member 23 has two branched members (first suspending portion 19a and second suspending portion 19b). The DUT 6 is fixed to the first suspension part 19a, and the load support member 13 is supported by the second suspension part 19b. The horizontal width (L2) of the hanging portion 19 located vertically below the head 18 is configured to be narrower than the width of the opening 22 of the top flange 11b. Further, the width (L3) of the DUT 6 supported by the first suspension part 19a and the load support member 13 supported by the second suspension part 19b is configured to be narrower than the width of the opening 22 of the top flange 11b. The
荷重印加装置１Ｆによる荷重印加試験時、吊り支持部材２３の頭部１８はクライオスタット２の外部に配置され、吊り部１９、被試験体６及び荷重支持部材１３がクライオスタット２の内部に配置される。吊り支持部材２３、被試験体６及び荷重支持部材１３の重量は、トップフランジ１１ｂに接している頭部１８により支持される。荷重印加試験が終了すると、吊り支持部材２３は、クライオスタッ２の内部から外部へ引き抜くことが可能であり、被試験体６を別のものに容易に取り換えて、再び挿入して荷重印加試験をすることが可能である。 During the load application test by the load application device 1F, the head 18 of the suspension support member 23 is disposed outside the cryostat 2, and the suspension portion 19, the DUT 6 and the load support member 13 are disposed inside the cryostat 2. The weights of the suspension support member 23, the DUT 6 and the load support member 13 are supported by the head 18 in contact with the top flange 11b. When the load application test is completed, the suspension support member 23 can be pulled out from the inside of the cryostat 2 to the outside, and the test object 6 can be easily replaced with another one and inserted again to perform the load application test. Is possible.
本実施形態の荷重印加装置１Ｆによれば、極低温環境下での被試験体６に対する引張荷重印加試験を実現することができる。また、被試験体６に荷重を印加する機能を有する機器（第一電磁石３ｅ、第二電磁石４及び荷重伝達部材５ｅ）がクライオスタット２内に設置されているため、常温部から極低温部への熱浸入を少なくでき、冷凍機のランニングコストや、クライオスタット２に注入すべき冷媒の量を低減することができる。 According to the load application device 1F of the present embodiment, it is possible to realize a tensile load application test on the device under test 6 in a cryogenic environment. In addition, since the devices (the first electromagnet 3e, the second electromagnet 4 and the load transmission member 5e) having a function of applying a load to the DUT 6 are installed in the cryostat 2, the normal temperature portion to the extremely low temperature portion Thermal infiltration can be reduced, and the running cost of the refrigerator and the amount of refrigerant to be injected into the cryostat 2 can be reduced.
本実施形態の荷重印加装置１Ｆによれば、第一電磁石３ｅと第二電磁石４との間隔に制限はなく、従って印加可能な荷重の大きさがクライオスタットの仕切り幅に制限されない構成となる。これにより、第一電磁石３ｅと第二電磁石４の距離をより短くすることができ、被試験体６に印加する荷重をより大きくすることができる。 According to the load application device 1F of the present embodiment, there is no limitation on the distance between the first electromagnet 3e and the second electromagnet 4, and thus the size of the load that can be applied is not limited by the partition width of the cryostat. Thereby, the distance of the 1st electromagnet 3e and the 2nd electromagnet 4 can be shortened more, and the load applied to the to-be-tested body 6 can be enlarged more.
本実施形態の荷重印加装置１Ｆでは、吊り支持部材２３をトップフランジ１１ｂの開口部２２から出し入れ可能な構成であるため、吊り支持部材２３に設置された被試験体６を容易に取替えることができる。また、複数の被試験体６の荷重印加試験をする必要がある場合、トップフランジ１１ｂとそれに連結される全ての部材を引き上げる必要がなく、吊り支持部材２３のみ引き上げることで被試験体６を交換することが可能な構成である。そのため、トップフランジ１１ｂとそれに連結される全ての部材を引き上げて被試験体６を交換する場合と比較し、被試験体６の取り換え後に冷却する事が必要な熱容量を縮小する事が可能となり、冷却に要するコストを低減することができる。
（第７実施形態）
第７実施形態に係る荷重印加装置１Ｇについて説明する。図９は、第７実施形態に係る荷重印加装置１Ｇの構成を示す概略図である。
In the load application device 1F of the present embodiment, since the suspension support member 23 can be inserted and removed from the opening 22 of the top flange 11b, the DUT 6 installed on the suspension support member 23 can be easily replaced. . Further, when it is necessary to perform a load application test on a plurality of devices under test 6, it is not necessary to pull up the top flange 11b and all the members connected thereto, and the device under test 6 is replaced by pulling up only the suspension support member 23. This is a possible configuration. Therefore, compared with the case where the test object 6 is replaced by pulling up the top flange 11b and all the members connected thereto, the heat capacity that needs to be cooled after replacement of the test object 6 can be reduced. The cost required for cooling can be reduced.
(Seventh embodiment)
A load application device 1G according to the seventh embodiment will be described. FIG. 9 is a schematic diagram illustrating a configuration of a load application device 1G according to the seventh embodiment.
本実施形態の荷重印加装置１Ｇは、第１実施形態の荷重印加装置１Ａにおいて支持部材７ａを、支持部材７ｃに替え、クライオスタット２の内部に第三電磁石２１と電流リード１５ｃを備えた構成を有する。本実施形態について、第１実施形態と同様の構成、機能については説明を省略し、相違点について詳細に説明する。 The load application device 1G of the present embodiment has a configuration in which the support member 7a is replaced with the support member 7c in the load application device 1A of the first embodiment, and the third electromagnet 21 and the current lead 15c are provided inside the cryostat 2. . In this embodiment, the description of the same configuration and function as those in the first embodiment will be omitted, and differences will be described in detail.
支持部材７ｃは、一端がトップフランジ１１に連結され、他端が４つに分岐した部材（第一の支持部材２７ａ、第二の支持部材２７ｂ、第三の支持部材２７ｃ、第四の支持部材２７ｄ）を有する。第二電磁石４が第一の支持部材２７ａに支持され、荷重支持部材１３が第三の支持部材２７ｃに支持され、第三電磁石２１が第四の支持部材２７ｄに支持される。第二の支持部材２７ｂに被試験体６が設置される。クライオスタット２の内部では、第一電磁石３、第二電磁石４、被試験体６、荷重支持部材１３、第三電磁石２１の順番で、それぞれが略平行となるように配置される。 The support member 7c has one end connected to the top flange 11 and the other end branched into four (first support member 27a, second support member 27b, third support member 27c, and fourth support member. 27d). The second electromagnet 4 is supported by the first support member 27a, the load support member 13 is supported by the third support member 27c, and the third electromagnet 21 is supported by the fourth support member 27d. The device under test 6 is installed on the second support member 27b. Inside the cryostat 2, the first electromagnet 3, the second electromagnet 4, the DUT 6, the load support member 13, and the third electromagnet 21 are arranged in this order so as to be substantially parallel to each other.
一般に磁性材料や超電導材料、またはそうした材料で構成した部材は、経験磁場によってその性質が変化する事がある。例えば、超電導電磁石は、経験磁場がある閾値を超えると、超電導性が破壊され常電導状態に転移する。本実施形態に係る荷重印加装置１Ｇでは、被試験体６が磁場の影響を受ける材料で構成される場合を考えて、所定の磁場下での被試験体６の応力に対する強度、耐久性を試験する。この場合、被試験体６内で、場所によらず所定の磁場の値を経験していれば、経験磁場の不均一性に起因する誤差を除去可能であり、好都合である。従って、被試験体６の周辺には空間的に均一な磁場分布を生成する事が望ましい。 In general, the properties of magnetic materials, superconducting materials, or members made of such materials may change depending on the empirical magnetic field. For example, when the empirical magnetic field exceeds a certain threshold value, the superconducting magnet is broken in superconductivity and transitions to a normal conducting state. In the load application device 1G according to the present embodiment, considering the case where the device under test 6 is made of a material affected by a magnetic field, the strength and durability against the stress of the device under test 6 under a predetermined magnetic field are tested. To do. In this case, if a predetermined magnetic field value is experienced in the device under test 6 regardless of the location, it is possible to remove an error caused by the non-uniformity of the empirical magnetic field, which is convenient. Therefore, it is desirable to generate a spatially uniform magnetic field distribution around the device under test 6.
そこで、第二電磁石４と第三電磁石２１を用い、被試験体６の周辺に均一磁場を生成する方法を以下に説明する。第三電磁石２１は、環状（リング状）の形状を有し、第二電磁石４と同等のコイル特性（使用線材、巻き線数、コイル断面積）を有する。第三電磁石２１の励磁時には第二電磁石４と同じ方向に電流が流れる。第三電磁石２１が電流リード１５ｃを介して第二電磁石４に接続され、第二電磁石４が電流リード１５ｂを介して電流源８ｂに接続される。このような構成により、第二電磁石４と同じ電流値を第三電磁石２１に印加可能となる。また、第三電磁石２１の設置位置は、被試験体６を挟んで第二電磁石４と略対称な位置に、略平行な姿勢で設置されている。これにより、第二電磁石４及び第三電磁石２１の励磁時には、その中心に備えられている被試験体６に対して、第三電磁石２１が備えられていない場合より均一度の高い磁場を印加可能である。 Therefore, a method for generating a uniform magnetic field around the device under test 6 using the second electromagnet 4 and the third electromagnet 21 will be described below. The third electromagnet 21 has an annular (ring shape) shape and has the same coil characteristics (used wire, number of windings, coil cross-sectional area) as the second electromagnet 4. When the third electromagnet 21 is excited, a current flows in the same direction as the second electromagnet 4. The third electromagnet 21 is connected to the second electromagnet 4 via the current lead 15c, and the second electromagnet 4 is connected to the current source 8b via the current lead 15b. With such a configuration, the same current value as that of the second electromagnet 4 can be applied to the third electromagnet 21. The installation position of the third electromagnet 21 is installed in a substantially parallel posture at a position substantially symmetrical to the second electromagnet 4 with the device under test 6 interposed therebetween. As a result, when the second electromagnet 4 and the third electromagnet 21 are excited, a magnetic field having a higher degree of uniformity can be applied to the device under test 6 provided at the center than when the third electromagnet 21 is not provided. It is.
本実施形態の荷重印加装置１Ｇによれば、極低温環境下において、より均一度が高い磁場を被試験体６に印加した状態での曲げ荷重印加試験を実現することができる。このため、第三電磁石２１が備えられていない構成を有する荷重印加装置と比較しても、より均一度の高い所定の磁場の環境下での特性試験が可能となる。 According to the load application device 1G of the present embodiment, it is possible to realize a bending load application test in a state where a magnetic field with higher uniformity is applied to the device under test 6 in a cryogenic environment. For this reason, even when compared with a load application device having a configuration in which the third electromagnet 21 is not provided, it is possible to perform a characteristic test in a predetermined magnetic field environment with higher uniformity.
本実施形態の荷重印加装置１Ｇによれば、被試験体６に荷重を印加する機能を有する機器（第一電磁石３、第二電磁石４及び荷重伝達部材５）がクライオスタット２内に設置されているため、常温部から極低温部への熱浸入を少なくでき、冷凍機のランニングコストや、クライオスタット２に注入すべき冷媒の量を低減することができる。 According to the load application device 1G of the present embodiment, devices (a first electromagnet 3, a second electromagnet 4, and a load transmission member 5) having a function of applying a load to the device under test 6 are installed in the cryostat 2. Therefore, the heat intrusion from the normal temperature part to the cryogenic part can be reduced, and the running cost of the refrigerator and the amount of refrigerant to be injected into the cryostat 2 can be reduced.
本実施形態の荷重印加装置１Ｇによれば、第一電磁石３と第二電磁石４との間隔に制限はなく、従って印加可能な荷重の大きさがクライオスタットの仕切り幅に制限されない構成となる。これにより、第一電磁石３と第二電磁石４の距離をより短くすることができ、被試験体６に印加する荷重をより大きくすることができる。
（第８実施形態）
第８実施形態に係る荷重印加装置１Ｈについて説明する。図１０は、第８実施形態に係る荷重印加装置１Ｈの構成を示す概略図である。
According to the load application device 1G of the present embodiment, there is no limitation on the distance between the first electromagnet 3 and the second electromagnet 4, and thus the size of the load that can be applied is not limited by the partition width of the cryostat. Thereby, the distance of the 1st electromagnet 3 and the 2nd electromagnet 4 can be shortened more, and the load applied to the to-be-tested body 6 can be enlarged more.
(Eighth embodiment)
A load application device 1H according to an eighth embodiment will be described. FIG. 10 is a schematic diagram illustrating a configuration of a load application device 1H according to the eighth embodiment.
本実施形態の荷重印加装置１Ｈは、第７実施形態の荷重印加装置１Ｇにおいて支持部材７ｃを、支持部材７ｄ及び吊り支持部材２３に替え、第７実施形態のトップフランジ１１を、開口部２２を有するトップフランジ１１ｂに替えた構成を有する。本実施形態について、第７実施形態と同様の構成、機能については説明を省略し、相違点について詳細に説明する。 The load application device 1H of the present embodiment replaces the support member 7c with the support member 7d and the suspension support member 23 in the load application device 1G of the seventh embodiment, replaces the top flange 11 of the seventh embodiment with the opening 22. It has the structure replaced with the top flange 11b which has. In the present embodiment, the description of the same configuration and function as those in the seventh embodiment will be omitted, and differences will be described in detail.
支持部材７ｄは、一端がトップフランジ１１ｂに連結され、他端が２部に分岐した部材（第一の支持部材２７ａ、第二の支持部材２７ｅ）を有する。第二電磁石４が第一の支持部材２７ａに支持され、第三電磁石２１が第二の支持部材２７ｅに支持される。クライオスタット２の内部では、第一電磁石３、第二電磁石４、被試験体６、荷重支持部材１３、第三電磁石２１の順番で、それぞれが略平行となるように配置される。 The support member 7d has members (a first support member 27a and a second support member 27e) having one end connected to the top flange 11b and the other end branched into two parts. The second electromagnet 4 is supported by the first support member 27a, and the third electromagnet 21 is supported by the second support member 27e. Inside the cryostat 2, the first electromagnet 3, the second electromagnet 4, the DUT 6, the load support member 13, and the third electromagnet 21 are arranged in this order so as to be substantially parallel to each other.
吊り支持部材２３は、鉛直方向の上部に位置する頭部１８と、下部に位置する吊り部１９を有する。吊り支持部材２３の頭部１８が、トップフランジ１１ｂの開口部２２に取り付けられる。頭部１８の水平方向の幅（Ｌ１）は、トップフランジ１１ｂの開口部２２の幅よりも広く構成される。吊り支持部材２３の吊り部１９は、二つに分岐した部材（第一吊り部１９ａ、第二吊り部１９ｂ）を有する。被試験体６が第一吊り部１９ａに固定され、荷重支持部材１３が第二吊り部１９ｂに支持される。頭部１８より鉛直下側に位置する吊り部１９の水平方向の幅（Ｌ２）は、トップフランジ１１ｂの開口部２２の幅よりも狭く構成される。また、第一吊り部１９ａに支持される被試験体６と第二吊り部１９ｂに支持される荷重支持部材１３の幅（Ｌ３）は、トップフランジ１１ｂの開口部２２の幅よりも狭く構成される。 The suspension support member 23 has a head portion 18 located at the upper portion in the vertical direction and a suspension portion 19 located at the lower portion. The head 18 of the suspension support member 23 is attached to the opening 22 of the top flange 11b. The horizontal width (L1) of the head 18 is configured to be wider than the width of the opening 22 of the top flange 11b. The suspending portion 19 of the suspending support member 23 has two branched members (first suspending portion 19a and second suspending portion 19b). The DUT 6 is fixed to the first suspension part 19a, and the load support member 13 is supported by the second suspension part 19b. The horizontal width (L2) of the hanging portion 19 located vertically below the head 18 is configured to be narrower than the width of the opening 22 of the top flange 11b. Further, the width (L3) of the DUT 6 supported by the first suspension part 19a and the load support member 13 supported by the second suspension part 19b is configured to be narrower than the width of the opening 22 of the top flange 11b. The
荷重印加装置１Ｈによる荷重印加試験時、吊り支持部材２３の頭部１８はクライオスタット２の外部に配置され、吊り部１９、被試験体６及び荷重支持部材１３がクライオスタット２の内部に配置される。吊り支持部材２３、被試験体６及び荷重支持部材１３の重量は、トップフランジ１１ｂに接している頭部１８により支持される。荷重印加試験が終了すると、吊り支持部材２３は、クライオスタッ２の内部から外部へ引き抜くことが可能であり、被試験体６を別のものに容易に取り換えて、再び挿入して荷重印加試験をすることが可能である。 During the load application test by the load application device 1H, the head portion 18 of the suspension support member 23 is disposed outside the cryostat 2, and the suspension portion 19, the DUT 6 and the load support member 13 are disposed inside the cryostat 2. The weights of the suspension support member 23, the DUT 6 and the load support member 13 are supported by the head 18 in contact with the top flange 11b. When the load application test is completed, the suspension support member 23 can be pulled out from the inside of the cryostat 2 to the outside, and the test object 6 can be easily replaced with another one and inserted again to perform the load application test. Is possible.
本実施形態の荷重印加装置１Ｈによれば、極低温環境下において、より均一度が高い磁場を被試験体６に印加した状態での曲げ荷重印加試験を実現することができる。第三電磁石２１が備えられていない構成を有する荷重印加装置と比較しても、より均一度の高い所定の磁場の環境下での特性試験が可能となる。 According to the load application device 1H of the present embodiment, it is possible to realize a bending load application test in a state in which a magnetic field with higher uniformity is applied to the device under test 6 in a cryogenic environment. Even when compared with a load application device having a configuration in which the third electromagnet 21 is not provided, it is possible to perform a characteristic test in a predetermined magnetic field environment with higher uniformity.
本実施形態の荷重印加装置１Ｈによれば、被試験体６に荷重を印加する機能を有する機器（第一電磁石３、第二電磁石４及び荷重伝達部材５）がクライオスタット２内に設置されているため、常温部から極低温部への熱浸入を少なくでき、冷凍機のランニングコストや、クライオスタット２に注入すべき冷媒の量を低減することができる。 According to the load application device 1H of the present embodiment, the devices (the first electromagnet 3, the second electromagnet 4, and the load transmission member 5) having a function of applying a load to the DUT 6 are installed in the cryostat 2. Therefore, the heat intrusion from the normal temperature part to the cryogenic part can be reduced, and the running cost of the refrigerator and the amount of refrigerant to be injected into the cryostat 2 can be reduced.
本実施形態の荷重印加装置１Ｈによれば、第一電磁石３と第二電磁石４との間隔に制限はなく、従って印加可能な荷重の大きさがクライオスタットの仕切り幅に制限されない構成となる。これにより、第一電磁石３と第二電磁石４の距離をより短くすることができ、被試験体６に印加する荷重をより大きくすることができる。 According to the load application device 1H of the present embodiment, there is no limitation on the distance between the first electromagnet 3 and the second electromagnet 4, and therefore the size of the load that can be applied is not limited by the partition width of the cryostat. Thereby, the distance of the 1st electromagnet 3 and the 2nd electromagnet 4 can be shortened more, and the load applied to the to-be-tested body 6 can be enlarged more.
本実施形態の荷重印加装置１Ｈでは、吊り支持部材２３をトップフランジ１１ｂの開口部２２から出し入れ可能な構成であるため、吊り支持部材２３に設置された被試験体６を容易に取替えることができる。また、複数の被試験体６の荷重印加試験をする必要がある場合、トップフランジ１１ｂとそれに連結される全ての部材を引き上げる必要がなく、吊り支持部材２３のみ引き上げることで被試験体６を交換することが可能な構成である。そのため、トップフランジ１１ｂとそれに連結される全ての部材を引き上げて被試験体６を交換する場合と比較し、被試験体６の取り換え後に冷却する事が必要な熱容量を縮小する事が可能となり、冷却に要するコストを低減することができる。
In the load application device 1H of the present embodiment, since the suspension support member 23 can be inserted and removed from the opening 22 of the top flange 11b, the DUT 6 installed on the suspension support member 23 can be easily replaced. . Further, when it is necessary to perform a load application test on a plurality of devices under test 6, it is not necessary to pull up the top flange 11b and all the members connected thereto, and the device under test 6 is replaced by pulling up only the suspension support member 23. This is a possible configuration. Therefore, compared with the case where the test object 6 is replaced by pulling up the top flange 11b and all the members connected thereto, the heat capacity that needs to be cooled after replacement of the test object 6 can be reduced. The cost required for cooling can be reduced.
１Ａ、１Ｂ、１Ｃ、１Ｄ、１Ｅ、１Ｆ、１Ｈ 荷重印加装置
２ クライオスタット
３、３ｅ 第一電磁石
４ 第二電磁石
５、５ｅ 荷重伝達部材
６ 被試験体
７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄ 支持部材
８ａ、８ｂ 電流源（電源装置）
９ 変位計測機器
１０ バネ部材（弾性体）
１１、１１ｂ トップフランジ
１２ａ、１２ｂ 電磁力方向
１３、１３ｅ 荷重支持部材
１４ 局所変位計
１５ａ、１５ｂ、１５ｃ 電流リード
１６ 突起部
１７ａ、１７ｂ 掴み具
１８ 頭部
１９ａ、１９ｂ 吊り部
２１ 第三電磁石
２２ 開口部
２３ 吊り支持部材
２４ａ、２４ｂ ボルト
２５ａ、２５ｂ ナット
1A, 1B, 1C, 1D, 1E, 1F, 1H Load application device 2 Cryostat 3, 3e First electromagnet 4 Second electromagnet 5, 5e Load transmitting member 6 Test objects 7a, 7b, 7c, 7d Support members 8a, 8b Current source (power supply)
9 Displacement measuring device 10 Spring member (elastic body)
11, 11b Top flange 12a, 12b Electromagnetic force direction 13, 13e Load support member 14 Local displacement meter 15a, 15b, 15c Current lead 16 Protrusion 17a, 17b Grasping tool 18 Head 19a, 19b Lifting part 21 Third electromagnet 22 Opening Part 23 Suspension support member 24a, 24b Bolt 25a, 25b Nut
Claims (6)
前記クライオスタット内に備えられ、被試験体と対向する位置に配置される環状の第１電磁石と、
前記クライオスタット内に備えられ、前記第１電磁石と略同軸上に配置される環状の第２電磁石と、
前記第１電磁石と前記第２電磁石を連結するバネ部材と、
前記第１電磁石に設置され、前記第１電磁石と前記被試験体との間に備えられる荷重伝達部材と
前記被試験体を挟んで、前記荷重伝達部材と対向する位置に配置される荷重支持部材とを有し、
前記バネ部材は、前記荷重伝達部材より剛性が小さくなるように構成されていることを特徴とする荷重印加装置。 With cryostat,
An annular first electromagnet provided in the cryostat and disposed at a position facing the device under test;
An annular second electromagnet provided in the cryostat and disposed substantially coaxially with the first electromagnet;
A spring member connecting the first electromagnet and the second electromagnet;
A load transmission member installed on the first electromagnet and disposed between the first electromagnet and the device under test and a load support member disposed at a position facing the load transmission member across the device under test. And
The load applying device is characterized in that the spring member is configured to be less rigid than the load transmitting member.
前記荷重支持部材に備えられる複数の突起部が、前記被試験体と接するように配置され、
前記荷重伝達部材の、前記被試験体に接する部分の荷重方向の投影面が、前記突起部のうち、２つの前記被試験体に接する部分の、荷重方向の投影面の間にあることを特徴とする荷重印加装置。 In the load application apparatus according to claim 1,
A plurality of protrusions provided on the load support member are arranged so as to contact the test object,
A load direction projection surface of a portion of the load transmission member in contact with the object to be tested is between the projection surfaces in a load direction of portions of the protrusion that are in contact with the two objects to be tested. A load applying device.
前記荷重支持部材の平面部材が前記被試験体と接し、
前記荷重伝達部材の平面部材が前記被試験体と接し、
前記荷重支持部材と前記荷重伝達部材の前記平面部材は、互いに対向する位置であって、略平行に配置されることを特徴とする荷重印加装置。 In the load application apparatus according to claim 1,
A planar member of the load support member is in contact with the test object;
A planar member of the load transmitting member is in contact with the device under test;
The load applying device, wherein the load supporting member and the planar member of the load transmitting member are arranged in parallel to each other at positions facing each other.
前記荷重支持部材と前記荷重伝達部材は、それぞれ前記被試験体と連結していることを特徴とする荷重印加装置。 In the load application apparatus according to claim 1,
The load applying device, wherein the load supporting member and the load transmitting member are connected to the device under test, respectively.
前記クライオスタットの上面のトップフランジが開口部を有し、
前記開口部を通して、クライオスタット内外に貫く吊り支持部材を有しており、
前記吊り支持部材は、頭部と吊り部を有し、
前記頭部は、クライオスタット外部に位置し、
前記吊り部は、クライオスタット内部に位置し、前記被試験体及び前記荷重支持部材を支持し、
前記吊り部と前記被試験体と前記荷重支持部材を合わせた部材は、その内部の任意の点において、最外幅が前記開口部の直径よりも小さくなるような切断面を有していることを特徴とする荷重印加装置。 In the load application device according to any one of claims 1 to 4,
The top flange on the top surface of the cryostat has an opening,
A suspension support member that penetrates into and out of the cryostat through the opening;
The suspension support member has a head portion and a suspension portion,
The head is located outside the cryostat;
The hanging portion is located inside the cryostat, and supports the device under test and the load supporting member.
The member that combines the suspension part, the DUT, and the load support member has a cut surface whose outermost width is smaller than the diameter of the opening at any point inside. A load applying device characterized by the above.
前記クライオスタット内に環状の第３電磁石を有し、
前記第３電磁石は、前記被試験体を挟んで前記第２電磁石と略対称な位置に、略平行に設置されていることを特徴とする極低温荷重印加装置。 In the load application device according to any one of claims 1 to 5,
An annular third electromagnet in the cryostat;
The cryogenic load application device, wherein the third electromagnet is installed substantially in parallel with the second electromagnet with the DUT interposed therebetween.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2012172485A JP5865206B2 (en) | 2012-08-03 | 2012-08-03 | Load application device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2012172485A JP5865206B2 (en) | 2012-08-03 | 2012-08-03 | Load application device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2014032103A JP2014032103A (en) | 2014-02-20 |
| JP5865206B2 true JP5865206B2 (en) | 2016-02-17 |
Family
ID=50282031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2012172485A Expired - Fee Related JP5865206B2 (en) | 2012-08-03 | 2012-08-03 | Load application device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5865206B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109142040B (en) * | 2018-10-31 | 2024-04-30 | 西安建筑科技大学 | Remote control's sudden load test device |
| CN111398050B (en) * | 2020-03-26 | 2023-06-20 | 中国科学院电工研究所 | Superconducting linear energy measuring device based on conduction cooling |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR541253A (en) * | 1919-09-04 | 1922-07-25 | Signal Gmbh | Method and apparatus for testing materials |
| JPS60154138A (en) * | 1984-01-24 | 1985-08-13 | Science & Tech Agency | Testing apparatus of cryogenic material |
| JPS6236534A (en) * | 1985-08-12 | 1987-02-17 | Motoki Yagawa | Tester |
| JPH04215036A (en) * | 1990-09-28 | 1992-08-05 | Shinken:Kk | Fatigue testing method by optional wave impact force and fatigue testing machine therefor |
| JP4096034B2 (en) * | 1999-01-26 | 2008-06-04 | 学校法人日本大学 | Creep test method |
-
2012
- 2012-08-03 JP JP2012172485A patent/JP5865206B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2014032103A (en) | 2014-02-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5534713B2 (en) | Superconducting magnet | |
| US8228147B2 (en) | Supported superconducting magnet | |
| CN102735902B (en) | High-temperature superconducting wire tensile force testing device | |
| US10601247B2 (en) | System for the wireless transmission of energy and/or signals, the conversion of energy and/or signals into other forms of energy and/or forms of signal, and the application and detection of same in peripheral regions of said system | |
| JP5865206B2 (en) | Load application device | |
| JP6239750B2 (en) | Superconducting magnet | |
| US10281539B2 (en) | Superconducting magnet device or magnetic resonance imaging apparatus including a support member having a coefficient of thermal expansion highter than that of a columnar member | |
| US9864022B2 (en) | Superconducting magnet device and magnetic resonance imaging device | |
| US20100109824A1 (en) | Unitary multi-cell concentric cylindrical box girder coldmass apparatus for open air mri to avoid superconducting magnet quench | |
| JP2013242242A (en) | Tensile test jig | |
| Or et al. | Development of magnetorheological dampers with embedded piezoelectric force sensors for structural vibration control | |
| CN109267666A (en) | A kind of multidirectional lamination variation rigidity marmem damper and its installation method | |
| JP7151173B2 (en) | Superconducting coil body and superconducting equipment | |
| CN101825693B (en) | Method for progressively introducing current into a superconducting coil mounted on a former | |
| JP2016217818A (en) | Ac loss measurement device | |
| JP5984819B2 (en) | Magnetic resonance imaging apparatus, operation method thereof, and quench prevention apparatus | |
| JP4772525B2 (en) | Testing device for electromagnetic force support device using superconducting magnet device | |
| JP2007139577A (en) | Test equipment of basic characteristics of high-temperature superconductive current lead | |
| JP2020535926A (en) | MRI electromagnet with mechanical support structure | |
| JP4843469B2 (en) | Magnetic resonance imaging system | |
| JP3647266B2 (en) | Superconducting magnet device | |
| WO2021033311A1 (en) | Superconducting coil device and mri device | |
| JP2006141614A (en) | Magnet system, method of installing magnet system, and magnetic resonance image diagnostic apparatus | |
| JP4772492B2 (en) | Electromagnetic force support device using superconducting magnet device | |
| JP2019091803A (en) | Superconducting magnet device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150129 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20151130 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20151201 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20151225 |
|
| R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5865206 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |