JP2007139577A - Test equipment of basic characteristics of high-temperature superconductive current lead - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide test equipment of the basic characteristics of a high-temperature superconductive current lead (HTS lead) capable of testing various characteristics related to the current, magnetic field and temperature of the HTS lead low in heat penetration and heat evolution under a rapid and accurate condition and capable of obtaining the data related to the design guideline of a superconductive magnet device in which the HTS lead is incorporated. <P>SOLUTION: The test equipment of the basic characteristics of the high-temperature superconductive current lead is equipped with a heat shield main body 1, the permanent magnet 3 supported on the heat shield main body 1, the high-temperature superconductive current lead test body 2 arranged in the magnetic field due to the permanent magnet 3 and a temperature setting means for setting the temperature applied to the high-temperature superconductive current lead test body 2 through a lead connection part. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、高温超電導電流リード(HTSリード)基礎特性試験装置に係り、特に、HTSリードの電気的特性、熱的特性等の基礎特性を評価するための装置に関するものである。   The present invention relates to a high-temperature superconducting current lead (HTS lead) basic characteristic testing apparatus, and more particularly to an apparatus for evaluating basic characteristics such as electrical characteristics and thermal characteristics of an HTS lead.

HTSリードは低発熱かつ低熱侵入といった特長を有しており、常温から低温環境下へ電流を供給する際の、電流入出経路の一部として応用が進んでいる。   The HTS lead has features such as low heat generation and low heat penetration, and its application is progressing as a part of the current input / output path when supplying current from room temperature to a low temperature environment.

より具体的には、図8及び図9に示すように、HTSリードを組み込んだ磁場発生装置が提案されている(非特許文献1参照)。すなわち、図8に示すように、樹脂含浸により機械的強度を向上した高温超電導体を用いたHTSリード101が超電導コイル102の接続部に配置されるようになっている。なお、103は冷凍機、104はタンク外槽、105は液体ヘリウム溜の熱シールド、106は液体ヘリウム溜、107はパワーリード、108は80Kアンカー、109は超電導コイル102の熱シールド、110は超電導コイル102の外槽である。   More specifically, as shown in FIGS. 8 and 9, a magnetic field generator incorporating an HTS lead has been proposed (see Non-Patent Document 1). That is, as shown in FIG. 8, the HTS lead 101 using the high-temperature superconductor whose mechanical strength is improved by resin impregnation is arranged at the connection portion of the superconducting coil 102. In addition, 103 is a refrigerator, 104 is a tank outside the tank, 105 is a heat shield of a liquid helium reservoir, 106 is a liquid helium reservoir, 107 is a power lead, 108 is an 80K anchor, 109 is a heat shield of the superconducting coil 102, 110 is a superconductor This is an outer tank of the coil 102.

また、図9は樹脂含浸HTSリードの平面図を示しており、200はHTSリード、201は高温側端子、202は低温側端子、203は樹脂部分、204は高温超電導体を示している。
低温工学 39巻3号 2004年 pp80−84
FIG. 9 is a plan view of a resin-impregnated HTS lead, in which 200 is an HTS lead, 201 is a high-temperature side terminal, 202 is a low-temperature side terminal, 203 is a resin portion, and 204 is a high-temperature superconductor.
Low Temperature Engineering Vol.39 No.3 2004 pp80-84

しかしながら、かかるHTSリードは過酷な雰囲気にあるため、そのHTSリードの信頼性を確保するには、十分なるHTSリード基礎特性試験が必要である。   However, since the HTS lead is in a harsh atmosphere, a sufficient HTS lead basic characteristic test is necessary to ensure the reliability of the HTS lead.

本発明は、上記状況に鑑みて、迅速、かつ的確にHTSリードの基礎特性を試験できるHTSリード基礎特性試験装置を提供することを目的とする。   In view of the above situation, an object of the present invention is to provide an HTS lead basic characteristic test apparatus capable of testing the basic characteristics of an HTS lead quickly and accurately.

本発明は、上記目的を達成するために、
〔1〕HTSリード基礎特性試験装置において、熱シールド本体と、この熱シールド本体に支持される磁石と、この磁石による磁場内に配置されるHTSリード試験体と、このHTSリード試験体にリード接続部を介して印加される温度を設定する温度設定手段とを具備することを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention provides
[1] In the HTS lead basic characteristic testing apparatus, a heat shield body, a magnet supported by the heat shield body, an HTS lead specimen placed in a magnetic field by the magnet, and lead connection to the HTS lead specimen Temperature setting means for setting a temperature applied via the unit.

〔2〕上記〔1〕記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記永久磁石を温度調節することにより、印加磁場の大きさを制御することを特徴とする。   [2] The high-temperature superconducting current lead basic characteristic test apparatus according to [1], wherein the magnitude of the applied magnetic field is controlled by adjusting the temperature of the permanent magnet.

〔3〕上記〔1〕記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記永久磁石による磁気回路を前記高温超電導電流リード試験体に対してローレンツ力の働く向きを考慮して構成することを特徴とする。   [3] The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to [1], wherein the permanent magnet magnetic circuit is configured in consideration of the direction in which Lorentz force acts on the high-temperature superconducting current lead test specimen. And

〔4〕上記〔1〕〜〔3〕の何れか一項記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記高温超電導電流リード試験体はリードアダプタを付設し、該リードアダプタの付け替えにより、各種の高温超電導電流リードの試験および前記高温超電導電流リード試験体の熱侵入量の試験を可能にすることを特徴とする。   [4] In the high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to any one of [1] to [3], the high-temperature superconducting current lead test body is provided with a lead adapter, and various types of reed adapters can be obtained by replacing the lead adapter. The high-temperature superconducting current lead can be tested and the amount of heat penetration of the high-temperature superconducting current lead specimen can be tested.

〔5〕上記〔1〕〜〔4〕の何れか一項記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記高温超電導電流リード試験体に直列に通電用高温超電導電流リードを配置することを特徴とする。   [5] The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to any one of [1] to [4], wherein a high-temperature superconducting current lead for energization is arranged in series with the high-temperature superconducting current lead test body. And

〔6〕上記〔1〕〜〔5〕の何れか一項記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記温度設定手段が前記高温超電導電流リードにリード接続部を介して印加される温度を調整可能なヒータ温度調整付き冷凍機であることを特徴とする。   [6] In the high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to any one of [1] to [5], the temperature setting means is configured to set a temperature applied to the high-temperature superconducting current lead via a lead connection portion. It is a refrigerator with an adjustable heater temperature adjustment.

〔7〕上記〔6〕記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記温度設定手段による温度設定範囲が2K〜100Kであることを特徴とする。   [7] The high-temperature superconducting current lead basic characteristic test apparatus according to [6], wherein a temperature setting range by the temperature setting means is 2K to 100K.

〔8〕上記〔6〕記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、Y系高温超電導電流リードの温度が4K〜80Kであることを特徴とする。   [8] The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to [6] above, wherein the temperature of the Y-based high-temperature superconducting current lead is 4K to 80K.

〔9〕上記〔6〕記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記冷凍機が前記高温超電導電流リード試験体の第1の接続リードの温度を設定する第1の冷凍機と、前記高温超電導電流リード試験体の第2の接続リードの温度を設定する第2の冷凍機とを具備することを特徴とする。   [9] The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to [6], wherein the refrigerator sets a temperature of a first connection lead of the high-temperature superconducting current lead test specimen, and the high temperature And a second refrigerator for setting the temperature of the second connection lead of the superconducting current lead test specimen.

〔10〕上記〔9〕記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記第1の接続リードの温度が50〜100K、第2の接続リードの温度が20K以下であることを特徴とする。   [10] The high-temperature superconducting current lead basic characteristic test apparatus according to [9], wherein the temperature of the first connection lead is 50 to 100K, and the temperature of the second connection lead is 20K or less.

〔11〕上記〔9〕又は〔10〕の何れか一項記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記第1の接続リードと前記第2の接続リードは伝熱板に接続され温度を一定に保持することを特徴とする。   [11] In the high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing device according to any one of [9] or [10], the first connection lead and the second connection lead are connected to a heat transfer plate to adjust the temperature. It is characterized by being held constant.

〔12〕上記〔11〕記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記伝熱板を用いて熱流束計によって熱侵入量を測定することを特徴とする。   [12] The high-temperature superconducting current lead basic characteristic test apparatus according to [11], wherein the heat penetration amount is measured by a heat flux meter using the heat transfer plate.

〔13〕上記〔9〕又は〔10〕の何れか一項記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記第1の接続リードと前記第2の接続リードはヒータを取り付けて高温超電導電流リードの温度調整を可能にすることを特徴とする。   [13] The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to any one of [9] or [10], wherein the first connecting lead and the second connecting lead are attached with a heater to provide a high-temperature superconducting current lead. It is possible to adjust the temperature.

〔14〕上記〔1〕〜〔13〕の何れか一項記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記リード接続部に電気絶縁性が高く熱伝導性が良い窒化アルミニウムを用いることを特徴とする。   [14] The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to any one of [1] to [13], wherein the lead connection portion is made of aluminum nitride having high electrical insulation and good thermal conductivity. And

〔15〕上記〔1〕記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記永久磁石を熱アンカに固定することを特徴とする。   [15] The high-temperature superconducting current lead basic characteristic test apparatus according to [1], wherein the permanent magnet is fixed to a thermal anchor.

〔16〕上記〔1〕〜〔15〕の何れか一項記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、冷却ステージと磁石固定フレームを分離して支持できる吊り下げ構造を有する。   [16] The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to any one of [1] to [15], wherein the cooling stage and the magnet fixing frame can be supported separately.

本発明によれば、迅速、かつ的確にHTSリード基礎特性試験を行うことができる。   According to the present invention, an HTS lead basic characteristic test can be performed quickly and accurately.

本発明のHTSリード基礎特性試験装置は、熱シールド本体と、この熱シールド本体に支持される永久磁石と、この永久磁石による磁場内に配置されるHTSリード試験体と、このHTSリードにリード接続部を介して印加される温度を設定する温度設定手段とを具備する。   The HTS lead basic characteristic test apparatus according to the present invention includes a heat shield body, a permanent magnet supported by the heat shield body, an HTS lead test body disposed in a magnetic field by the permanent magnet, and lead connection to the HTS lead. Temperature setting means for setting the temperature applied via the unit.

以下、本発明の実施の形態について詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail.

HTSリードは低発熱かつ低熱侵入といった特長を有しており、常温から低温環境下へ電流を供給する際の、電流入出経路の一部として応用が進んでおり、その特性試験の信頼度を高める必要がある。   HTS leads have the features of low heat generation and low heat penetration, and their application is progressing as part of the current input / output path when supplying current from room temperature to low temperature environment, increasing the reliability of the characteristic test There is a need.

図1は本発明の第1実施例を示すHTSリード基礎特性の試験装置(両端温度差あり)の模式図である。   FIG. 1 is a schematic view of an HTS lead basic characteristic test apparatus (with temperature difference at both ends) showing a first embodiment of the present invention.

この図において、1は断熱容器、2はHTSリード(試験体)、3は永久磁石、4は低温側電流リード、4Aは低温側電流リード接続部、5は高温側電流リード、5Aは高温側電流リード接続部、6は冷却用冷凍機、6Aは冷却用冷凍機のコールドヘッド、7は試験体の低温側温度調整用ヒータ、8は試験体の高温側温度調整用ヒータ、9は永久磁石温度調整用ヒータ、10Aは第1の常温電流端子、10Bは第2の常温電流端子である。   In this figure, 1 is a heat insulating container, 2 is an HTS lead (test body), 3 is a permanent magnet, 4 is a low temperature side current lead, 4A is a low temperature side current lead connection part, 5 is a high temperature side current lead, and 5A is a high temperature side. Current lead connection portion, 6 is a cooling refrigerator, 6A is a cold head of the cooling refrigerator, 7 is a heater for adjusting the low temperature side temperature of the specimen, 8 is a heater for adjusting the high temperature temperature of the specimen, and 9 is a permanent magnet A temperature adjusting heater, 10A is a first room temperature current terminal, and 10B is a second room temperature current terminal.

このように、本発明のHTSリード基礎特性の試験装置は、断熱容器1と、この断熱容器1に支持される永久磁石3と、この永久磁石3による磁場内に配置されるHSTリード試験体2と、このHST試験体2にリード接続部を介して印加される温度を設定する温度設定手段とを備えている。   As described above, the HTS lead basic characteristic testing apparatus according to the present invention includes the heat insulating container 1, the permanent magnet 3 supported by the heat insulating container 1, and the HST lead test body 2 disposed in the magnetic field of the permanent magnet 3. And a temperature setting means for setting the temperature applied to the HST specimen 2 via the lead connection portion.

ここで、低温側電流リード接続部4Aの温度をTSL、高温側電流リード接続部5Aの温度をTSHとすると、TSL≦TSHであり、例えば、4K<TSL<80K、80K<TSH<300Kである。この温度は温度設定手段により任意に設定が可能である。 Here, assuming that the temperature of the low temperature side current lead connection portion 4A is T SL and the temperature of the high temperature side current lead connection portion 5A is T SH , T SL ≦ T SH , for example, 4K <T SL <80K, 80K < T SH <300K. This temperature can be arbitrarily set by the temperature setting means.

また、永久磁石の温度(TPM)の調整により磁場の強度を任意に設定することができる。 Further, the intensity of the magnetic field can be arbitrarily set by adjusting the temperature ( TPM ) of the permanent magnet.

図2は本発明の第2実施例を示すHTSリード基礎特性の試験装置(両端温度差あり)の断面図、図3は図2のA−A矢視図、図4は図2のB−B矢視図(試験体の配置部分の平面図)、図5はそのHTSリード基礎特性の試験装置の上面図である。   2 is a cross-sectional view of an HTS lead basic characteristic test apparatus (with temperature difference at both ends) showing a second embodiment of the present invention, FIG. 3 is a view taken along the line AA in FIG. 2, and FIG. FIG. 5B is a top view of the test apparatus for the basic characteristics of the HTS lead.

これらの図において、11は熱シールド本体、12はHTSリード(試験体)、12Aは通電用HTSリード(保護リード付)13は永久磁石、13Aは磁石固定フレーム、14は第1の低温側電流リード、14Aは第1の低温側電流リード接続部、15は第2の低温側電流リード、15Aは第2の低温側電流リード接続部、16は伝熱板、17は第2の冷却用冷凍機、18は第2の冷却用冷凍機のコールドヘッド、19は常温側電流リード、20は熱シールド冷却伝熱板、21は熱シールド支持体、22は取付フランジ、23は第1の冷却用冷凍機、24は第1の冷却用冷凍機23のコールドヘッド、23Aは冷却ベース、25は第1の常温電流端子、26は第2の常温電流端子、27は排気ポート、28は計測ポート、29は真空計である。   In these drawings, 11 is a heat shield main body, 12 is an HTS lead (test body), 12A is an HTS lead for energization (with a protective lead) 13 is a permanent magnet, 13A is a magnet fixing frame, and 14 is a first low-temperature side current. 14A is a first low temperature side current lead connection portion, 15 is a second low temperature side current lead connection portion, 15A is a second low temperature side current lead connection portion, 16 is a heat transfer plate, and 17 is a second cooling refrigeration. , 18 is the cold head of the second cooling refrigerator, 19 is the room temperature side current lead, 20 is the heat shield cooling heat transfer plate, 21 is the heat shield support, 22 is the mounting flange, and 23 is the first cooling Refrigerator, 24 is a cold head of the first cooling refrigerator 23, 23A is a cooling base, 25 is a first room temperature current terminal, 26 is a second room temperature current terminal, 27 is an exhaust port, 28 is a measurement port, 29 is a vacuum gauge .

ここで、本発明のHTSリード基礎特性試験装置の主要性能としては、(1)最大通電電流が1,000A、(2)最大印加磁場が0.5T以上、(3)設定温度範囲は、HTSリードの高温側端子が50〜100K、HTSリードの低温側端子が20K以下である。   Here, the main performance of the HTS lead basic characteristic test apparatus of the present invention is as follows: (1) Maximum energization current is 1,000 A, (2) Maximum applied magnetic field is 0.5 T or more, and (3) Set temperature range is HTS. The high temperature side terminal of the lead is 50 to 100K, and the low temperature side terminal of the HTS lead is 20K or less.

また、本発明のHTSリード基礎特性試験の内容は、超電導特性確認試験の場合、次の3条件を組み合わせ、超電導状態を満足する限界条件を確認する。   Moreover, the content of the HTS lead basic characteristic test of the present invention is the superconducting characteristic confirmation test, and the following three conditions are combined to confirm the limit condition that satisfies the superconducting state.

(1)任意の電流条件(1,000A以下)
(2)任意の磁場条件(ゼロ磁場あるいは0.5T以上のある一定値のいずれか)
(3)任意の温度条件(両端の温度差あり又は均一温度条件)
次に、熱侵入量測定試験においては、HTSリードそのものの熱侵入量を測定する。
(1) Arbitrary current conditions (1,000A or less)
(2) Arbitrary magnetic field conditions (either zero magnetic field or a fixed value of 0.5T or more)
(3) Arbitrary temperature conditions (with temperature difference at both ends or uniform temperature conditions)
Next, in the heat penetration amount measurement test, the heat penetration amount of the HTS lead itself is measured.

本発明のHTSリード基礎試験装置については以下の点に留意する必要がある。   Regarding the HTS lead basic test apparatus of the present invention, it is necessary to pay attention to the following points.

(1)電流リード及び回路
ローレンツ力の働く向きを考慮して磁気回路を構成する。また、リードアダプタの付け替えにより種々のHTSリード(例:Y系、Dy系、Gd系、Bi系他)の評価を可能にする。
(1) Current lead and circuit A magnetic circuit is configured in consideration of the direction in which Lorentz force works. In addition, it is possible to evaluate various HTS leads (for example, Y-type, Dy-type, Gd-type, Bi-type, etc.) by changing the lead adapter.

図4に示すように、HTSリードを2本として、通電余裕が大小のものを組み合わせできるようにする(通電余裕の少ない方の限界性能評価を行う)。また、図4に示すように、保護リード(金属系)付きの通電用HTSリード12Aを取り付け、試験用HTSリード12と分離する。さらに、バイパス回路(保護リード等)を設ける。なお、保護リード材料としては、例えば、SUSを用いる。常温側電流リード(液体窒素温度より高温側で使用する部分で銅合金あるいは真鍮製)19を取替え可能にする。また、熱容量型の常温側電流リードとする。   As shown in FIG. 4, two HTS leads are used so that those with a large energization allowance can be combined (performance evaluation with a smaller energization allowance is performed). Further, as shown in FIG. 4, a current-carrying HTS lead 12 </ b> A with a protective lead (metal) is attached and separated from the test HTS lead 12. Further, a bypass circuit (protective lead or the like) is provided. For example, SUS is used as the protective lead material. The room temperature side current lead (copper alloy or brass made at a portion higher than the liquid nitrogen temperature) 19 can be replaced. Also, a heat capacity room temperature side current lead is used.

また、常温側電流リード19と、HTS(液体窒素温度より低温側で使用する部分)電流リードの交換は可能であり、試験体に応じた常温側電流リードとHTSリードの評価ができる。   Further, the room temperature side current lead 19 and the HTS (part used at a temperature lower than the liquid nitrogen temperature) current lead can be exchanged, and the room temperature side current lead and the HTS lead can be evaluated according to the test body.

さらに、非定常無冷却タイプの常温側電流リードの温度測定ができる。   Furthermore, it is possible to measure the temperature of the unsteady uncooled type room temperature side current lead.

(2)温度調節機構
限界温度(HTSリードの通電可能温度)の試験をする。限界温度測定を種々のタイプのHTSリードに対して行うことができる。例えば、Y系,Dy系電流リードは4K〜90Kの間で使用する。冷凍機を用いて温度設定が容易にできる。
(2) Temperature control mechanism The limit temperature (temperature at which the HTS lead can be energized) is tested. Critical temperature measurements can be made on various types of HTS leads. For example, Y-system and Dy-system current leads are used between 4K and 90K. The temperature can be easily set using a refrigerator.

雰囲気ガス(例:ヘリウム、窒素等)による冷却も可能である。   Cooling with atmospheric gas (eg, helium, nitrogen, etc.) is also possible.

磁場印加用永久磁石、リードの両端を独立に温度制御可能である。   Temperature control is possible independently for both ends of the permanent magnet for magnetic field application and the lead.

冷凍機1台でHTSリード低温端の温度を制御、高温端の温度は液体窒素等で補償することもできる。   The temperature of the HTS lead low temperature end can be controlled by one refrigerator, and the temperature of the high temperature end can be compensated with liquid nitrogen or the like.

冷凍機複数台で電流リードの両端温度や磁場印加用永久磁石を独立に温度制御することができる。   The temperature of both ends of the current lead and the permanent magnet for applying a magnetic field can be independently controlled by a plurality of refrigerators.

永久磁石の温度制御をヒータにより可能にする。   The temperature of the permanent magnet can be controlled by a heater.

熱アンカ分離、熱シールド分離を行う。   Perform heat anchor separation and heat shield separation.

リード接続部に窒化アルミニウムを用いて、伝熱と電気絶縁を同時に実現する。   Using aluminum nitride for the lead connection, heat transfer and electrical insulation are realized simultaneously.

(3)非一定常温度での試験装置
図2〜図5に示すように、冷凍機2台(第1の冷凍機23と第2の冷凍機17)により、HTSリードの両端の温度調整が可能である。温度差の評価のために保護リード有無のHTSリード2本を配置する。また、永久磁石は、熱アンカに固定して配置する。
(3) Testing apparatus at non-stationary temperature As shown in FIGS. 2 to 5, the temperature adjustments at both ends of the HTS lead can be performed by two refrigerators (first refrigerator 23 and second refrigerator 17). Is possible. Two HTS leads with or without protective leads are arranged for evaluation of the temperature difference. Further, the permanent magnet is fixed to the thermal anchor.

(4)一定温度での試験装置
図6〜図7に示すように、HTSリードの温度を一定の状態に維持して測定する。つまり、伝熱板(アンカ板)によって温度を一定に保持して測定する。試料スペースを冷凍機に直付けして、温度差を小さくできる。試験台の熱容量を小さくして温度の均一性を高めることができる。リードにヒータを取り付けてHTSリード温度調節を行う。
(4) Test apparatus at a constant temperature As shown in FIGS. 6 to 7, the temperature of the HTS lead is maintained in a constant state and measured. That is, the temperature is kept constant by the heat transfer plate (anchor plate) and measured. By directly attaching the sample space to the refrigerator, the temperature difference can be reduced. The heat capacity of the test bench can be reduced to increase temperature uniformity. A heater is attached to the lead to adjust the HTS lead temperature.

(5)熱侵入量測定装置
伝熱板と熱流束計を用いて熱侵入量を測定できる。さらに、アダプター付け替えによりHTSリードの熱侵入量測定が可能である。
(5) Heat penetration amount measuring device The heat penetration amount can be measured using a heat transfer plate and a heat flux meter. Furthermore, the heat penetration amount of the HTS lead can be measured by changing the adapter.

(6)支持機構
冷却ステージと磁石固定フレームを分離して支持できる吊り下げ構造とする。
(6) Support mechanism A suspension structure that can support the cooling stage and the magnet fixing frame separately is adopted.

(7)永久磁石
第2実施例では、Nd−Fe−B等の高保持力の永久磁石13を用いた磁気回路構造(サンプルホルダ付)とした。したがって、構造を簡便にすることができる。
(7) Permanent magnet In the second embodiment, a magnetic circuit structure (with a sample holder) using a permanent magnet 13 having a high holding force such as Nd-Fe-B is used. Therefore, the structure can be simplified.

さらに、永久磁石の温度を制御することにより、残留磁場の高い温度で永久磁石を使用する。   Furthermore, by controlling the temperature of the permanent magnet, the permanent magnet is used at a high temperature of the residual magnetic field.

そして、永久磁石13を用いてHTSリード12に磁場を印加する。なお、鉄ヨークを用いて磁場を集中させてHTSリード12に磁場を印加することができる。その場合、FRPで熱絶縁するサンプルホルダ構成とする。永久磁石ヨーク以外に鉄を使用しない。また、サンプル位置を移動して磁場に変化を与えることができる。永久磁石の向きを変えてHTSリードの耐磁場特性を把握することができる。HTSリードの支持では、歪み、撓みを防止する構成となっている。   Then, a magnetic field is applied to the HTS lead 12 using the permanent magnet 13. Note that a magnetic field can be applied to the HTS lead 12 by concentrating the magnetic field using an iron yoke. In that case, it is set as the sample holder structure thermally insulated by FRP. Use no iron other than the permanent magnet yoke. Further, the sample position can be moved to change the magnetic field. The magnetic field resistance characteristics of the HTS lead can be grasped by changing the direction of the permanent magnet. The support of the HTS lead is configured to prevent distortion and bending.

また、永久磁石として、ハルバッハ型磁石を用いることもできる。このハルバッハ型磁石は、コアギャップ内部には強力で平坦な磁場を発生し、外部への磁場漏れはコアから少し離した位置に鉄板をおいて遮蔽する〔第14回加速器科学研究発表会予稿集,1p−028(2003)〕。かかるコアギャップ内部にHTSリード試験体を配置して試験を行うようにしてもよい。   A Halbach magnet can also be used as the permanent magnet. This Halbach-type magnet generates a strong and flat magnetic field inside the core gap, and shields the magnetic field leakage to the outside by placing an iron plate at a position slightly away from the core. [Preliminary Proceedings of the 14th Accelerator Science Conference] , 1p-028 (2003)]. The test may be performed by placing an HTS lead test body inside the core gap.

このような永久磁石を用いてHTSリード12に磁場を印加する。   A magnetic field is applied to the HTS lead 12 using such a permanent magnet.

次に、HTSリード(試験体)の試験に際しては、
(1)熱暴走監視システムを設ける。
Next, when testing the HTS lead (specimen),
(1) Establish a thermal runaway monitoring system.

(2)永久磁石表面にホール素子を付けて中心磁場を予測する。   (2) A Hall element is attached to the permanent magnet surface to predict the central magnetic field.

(3)温度センサをHTSリードの端子部に取り付ける。   (3) A temperature sensor is attached to the terminal portion of the HTS lead.

(4)電圧、温度によるHTSリードの劣化の検知を行う。   (4) HTS lead deterioration due to voltage and temperature is detected.

(5)HTSリードに電圧端子を設ける。   (5) A voltage terminal is provided on the HTS lead.

上記したように、第1及び第2実施例によれば、
(1)通電電流の試験は、電気抵抗がゼロ状態のままHTSリード(試験体)12に流れる電流と電圧の関係を測定することにより、HTSリード(試験体)12の通電電流特性を試験することができる。
As mentioned above, according to the first and second embodiments,
(1) In the test of the energization current, the energization current characteristic of the HTS lead (test body) 12 is tested by measuring the relationship between the current flowing through the HTS lead (test body) 12 and the voltage while the electric resistance is zero. be able to.

(2)印加磁場の試験は、永久磁石13によるHTSリード(試験体)12への磁場の印加により行う。   (2) The applied magnetic field is tested by applying a magnetic field to the HTS lead (test body) 12 by the permanent magnet 13.

(3)温度の試験は、HTSリード(試験体)12の高温側端子を50K〜100K、低温側端子を20K以下へと種々設定することができる。つまり、第1の冷却用冷凍機23と第2の冷却用冷凍機17のそれぞれの冷凍条件を変化させることにより、一端は例えば80K、他端は例えば4Kとすることにより、HTSリード(試験体)12の温度勾配を与えた場合の通電特性の試験を行うことができる。   (3) The temperature test can be variously set such that the high-temperature side terminal of the HTS lead (test body) 12 is 50K to 100K and the low-temperature side terminal is 20K or less. That is, by changing the refrigeration conditions of the first cooling refrigerator 23 and the second cooling refrigerator 17, one end is set to, for example, 80K, and the other end is set to, for example, 4K. ) It is possible to test the energization characteristics when a temperature gradient of 12 is given.

図6は本発明の第3実施例を示すHTSリードの試験装置(両端温度一定)の断面図、図7は図6のC−C矢視図である。   FIG. 6 is a cross-sectional view of an HTS lead test apparatus (constant temperature at both ends) showing a third embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a view taken along the line CC in FIG.

これらの図において、31は熱シールド本体、32はHTSリード(試験体)、33は永久磁石、33Aは永久磁石固定フレーム、34,35は低温側電流リード、37は冷却ベース、38は高温側電流リード、39は熱シールド冷却伝熱板、40は熱シールド支持体、41は取付フランジ、42は冷却用冷凍機、43は冷却用冷凍機42のコールドヘッド、44は第1の常温電流端子、45は第2の常温電流端子である。   In these drawings, 31 is a heat shield body, 32 is an HTS lead (test body), 33 is a permanent magnet, 33A is a permanent magnet fixing frame, 34 and 35 are low-temperature side current leads, 37 is a cooling base, and 38 is a high-temperature side. Current lead, 39 is a heat shield cooling heat transfer plate, 40 is a heat shield support, 41 is a mounting flange, 42 is a cooling refrigerator, 43 is a cold head of the cooling refrigerator, and 44 is a first room temperature current terminal. , 45 are second room temperature current terminals.

このように構成したので、
(1)通電電流の試験は、HTSリード(試験体)32に流れる電流と電圧の関係を測定することにより、HTSリード(試験体)32の通電電流特性を試験することができる。
Because it was configured like this,
(1) In the test of the energization current, the energization current characteristic of the HTS lead (test body) 32 can be tested by measuring the relationship between the current flowing through the HTS lead (test body) 32 and the voltage.

(2)印加磁場の試験は、永久磁石33によるHTSリード(試験体)32への磁場の印加により行う。   (2) The applied magnetic field is tested by applying a magnetic field to the HTS lead (test body) 32 by the permanent magnet 33.

(3)温度の試験は、HTSリード(試験体)32の設定温度範囲を、冷却用冷凍機42の冷凍条件を変化させることにより、HTSリード(試験体)32の印加温度を変化させて試験を行うことができる。   (3) The temperature test is performed by changing the application temperature of the HTS lead (test body) 32 by changing the refrigeration condition of the cooling refrigerator 42 in the set temperature range of the HTS lead (test body) 32. It can be performed.

なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨に基づき種々の変形が可能であり、これらを本発明の範囲から排除するものではない。   In addition, this invention is not limited to the said Example, Based on the meaning of this invention, a various deformation | transformation is possible and these are not excluded from the scope of the present invention.

本発明のHTSリード基礎特性試験装置は、磁気浮上式鉄道車両に搭載される超電導磁石装置に組み込まれるHTSリードの高信頼性の試験装置として利用可能である。   The HTS lead basic characteristic testing apparatus of the present invention can be used as a highly reliable testing apparatus for HTS leads incorporated in a superconducting magnet apparatus mounted on a magnetically levitated railway vehicle.

本発明の第1実施例を示すHTSリード基礎特性の試験装置(両端温度差あり)の模式図である。It is a schematic diagram of the test apparatus (with temperature difference at both ends) of the HTS lead basic characteristics showing the first embodiment of the present invention. 本発明の第2実施例を示すHTSリード基礎特性の試験装置(両端温度差あり)の断面図である。It is sectional drawing of the testing apparatus (with temperature difference between both ends) of the HTS lead basic characteristic which shows 2nd Example of this invention. 図2のA−A矢視図である。It is an AA arrow line view of FIG. 図2のB−B矢視図(試験体の配置部分の平面図)である。FIG. 3 is a view taken along the line B-B of FIG. 本発明の第2実施例を示すHTSリード基礎特性試験装置の上面図である。It is a top view of the HTS lead basic characteristic testing apparatus which shows 2nd Example of this invention. 本発明の第3実施例を示すHTSリード基礎特性試験装置(両端温度一定)の断面図である。It is sectional drawing of the HTS lead basic characteristic test apparatus (both-ends temperature constant) which shows 3rd Example of this invention. 図6のC−C矢視図である。It is CC arrow line view of FIG. 従来のHTSリードを組み込んだ磁場発生装置の模式図である。It is a schematic diagram of the magnetic field generator incorporating the conventional HTS lead. 従来の樹脂含浸HTSリードの平面図である。It is a top view of the conventional resin impregnation HTS lead.

符号の説明Explanation of symbols

1 断熱容器
11,31 熱シールド本体
2,12,32 HTSリード(試験体)
3,13,33 永久磁石
4,34,35 低温側電流リード
4A 低温側電流リード接続部
5,19,38 高温側電流リード
5A 高温側電流リード接続部
6,42 冷却用冷凍機
6A,43 冷却用冷凍機のコールドヘッド
7 試験体の低温側端子温度調整用ヒータ
8 試験体の高温側端子温度調整用ヒータ
9 永久磁石温度調整用ヒータ
10A,25,44 第1の常温電流端子
10B,26,45 第2の常温電流端子
12A 通電用HTSリード(保護リード付)
13A,33A 磁石固定フレーム
14 第1の低温側電流リード
14A 第1の低温側電流リード接続部
15 第2の低温側電流リード
15A 第2の低温側電流リード接続部
16 伝熱板
17 第2の冷却用冷凍機
18 第2の冷却用冷凍機のコールドヘッド
20,39 熱シールド冷却伝熱板
21,40 熱シールド支持体
22,41 取付フランジ
23 第1の冷却用冷凍機
23A,37 冷却ベース
24 第1の冷却用冷凍機のコールドヘッド
27 排気ポート
28 計測ポート
29 真空計
1 Insulated container 11, 31 Heat shield body 2, 12, 32 HTS lead (test body)
3, 13, 33 Permanent magnet 4, 34, 35 Low temperature side current lead 4A Low temperature side current lead connection 5, 19, 38 High temperature side current lead 5A High temperature side current lead connection 6, 42 Cooling refrigerator 6A, 43 Cooling Cold head of refrigerator for refrigerator 7 Heater for adjusting low temperature side terminal temperature of test specimen 8 Heater for adjusting high temperature side terminal temperature of test specimen 9 Heater for adjusting permanent magnet temperature 10A, 25, 44 First room temperature current terminal 10B, 26, 45 Second room temperature current terminal 12A HTS lead for energization (with protective lead)
13A, 33A Magnet fixed frame 14 First low-temperature side current lead 14A First low-temperature side current lead connection 15 Second low-temperature side current lead 15A Second low-temperature side current lead connection 16 Heat transfer plate 17 Second Cooling refrigerator 18 Cold head of second cooling refrigerator 20, 39 Heat shield cooling heat transfer plate 21, 40 Heat shield support 22, 41 Mounting flange 23 First cooling refrigerator 23A, 37 Cooling base 24 Cold head of first cooling refrigerator 27 Exhaust port 28 Measurement port 29 Vacuum gauge

Claims (16)

(a)熱シールド本体と、
(b)該熱シールド本体に支持される永久磁石と、
(c)該永久磁石による磁場内に配置される高温超電導電流リード試験体と、
(d)該高温超電導電流リード試験体にリード接続部を介して印加される温度を設定する温度設定手段とを具備することを特徴とする高温超電導電流リード基礎特性試験装置。
(A) a heat shield body;
(B) a permanent magnet supported by the heat shield body;
(C) a high-temperature superconducting current lead specimen placed in the magnetic field of the permanent magnet;
(D) A high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus comprising temperature setting means for setting a temperature applied to the high-temperature superconducting current lead test body through a lead connection portion.
請求項1記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記永久磁石を温度調節することにより、印加磁場の大きさを制御することを特徴とする高温超電導電流リード基礎特性試験装置。   2. The high temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to claim 1, wherein the magnitude of the applied magnetic field is controlled by adjusting the temperature of the permanent magnet. 請求項1記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記永久磁石による磁気回路を前記高温超電導電流リード試験体に対してローレンツ力の働く向きを考慮して構成することを特徴とする高温超電導電流リード基礎特性試験装置。   2. The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to claim 1, wherein the magnetic circuit by the permanent magnet is configured in consideration of the direction of Lorentz force acting on the high-temperature superconducting current lead specimen. Current lead basic characteristic testing equipment. 請求項1〜3の何れか一項記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記高温超電導電流リード試験体はリードアダプタを付設し、該リードアダプタの付け替えにより、各種の高温超電導電流リードの試験および前記高温超電導電流リード試験体の熱侵入量の試験を可能にすることを特徴とする高温超電導電流リード基礎特性試験装置。   The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the high-temperature superconducting current lead test specimen is provided with a lead adapter, and by replacing the lead adapter, various high-temperature superconducting current lead A high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus, characterized by enabling testing and a test of a heat penetration amount of the high-temperature superconducting current lead specimen. 請求項1〜4の何れか一項記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記高温超電導電流リード試験体に直列に通電用高温超電導電流リードを配置することを特徴とする高温超電導電流リード基礎特性試験装置。   5. The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to claim 1, wherein a high-temperature superconducting current lead for energization is arranged in series with the high-temperature superconducting current lead test body. Basic characteristic test equipment. 請求項1〜5の何れか一項記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記温度設定手段が前記高温超電導電流リードにリード接続部を介して印加される温度を調整可能なヒータ温度調整付き冷凍機であることを特徴とする高温超電導電流リード基礎特性試験装置。   The high temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the temperature setting means is capable of adjusting a temperature applied to the high temperature superconducting current lead via a lead connection portion. A high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing device, characterized by being a refrigerator with a heater. 請求項6記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記温度設定手段による温度設定範囲が2K〜100Kであることを特徴とする高温超電導電流リード基礎特性試験装置。   7. The high temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to claim 6, wherein a temperature setting range by the temperature setting means is 2K to 100K. 請求項6記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、Y系高温超電導電流リードの温度が4K〜80Kであることを特徴とする高温超電導電流リード基礎特性試験装置。   The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to claim 6, wherein the temperature of the Y-based high-temperature superconducting current lead is 4K to 80K. 請求項6記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記冷凍機が前記高温超電導電流リード試験体の第1の接続リードの温度を設定する第1の冷凍機と、前記高温超電導電流リード試験体の第2の接続リードの温度を設定する第2の冷凍機とを具備することを特徴とする高温超電導電流リード基礎特性試験装置。   7. The high temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to claim 6, wherein the refrigerator sets a temperature of a first connection lead of the high temperature superconducting current lead test body, and the high temperature superconducting current lead test. A high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus comprising: a second refrigerator that sets a temperature of a second connection lead of the body. 請求項9記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記第1の接続リードの温度が50〜100K、第2の接続リードの温度が20K以下であることを特徴とする高温超電導電流リード基礎特性試験装置。   10. The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to claim 9, wherein the temperature of the first connecting lead is 50 to 100K, and the temperature of the second connecting lead is 20K or less. Characteristic test equipment. 請求項9又は10の何れか一項記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記第1の接続リードと前記第2の接続リードは伝熱板に接続され温度を一定に保持することを特徴とする高温超電導電流リード基礎特性試験装置。   11. The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to claim 9, wherein the first connection lead and the second connection lead are connected to a heat transfer plate to maintain a constant temperature. High temperature superconducting current lead basic characteristic testing equipment. 請求項11記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記伝熱板を用いて熱流束計によって熱侵入量を測定することを特徴とする高温超電導電流リード基礎特性試験装置。   12. The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to claim 11, wherein a heat penetration amount is measured by a heat flux meter using the heat transfer plate. 請求項9又は10の何れか一項記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記第1の接続リードと前記第2の接続リードはヒータを取り付けて高温超電導電流リードの温度調整を可能にすることを特徴とする高温超電導電流リード基礎特性試験装置。   11. The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to claim 9, wherein the first connecting lead and the second connecting lead are attached with a heater to enable temperature adjustment of the high-temperature superconducting current lead. 11. A high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus characterized by: 請求項1〜13の何れか一項記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記リード接続部に電気絶縁性が高く熱伝導性が良い窒化アルミニウムを用いることを特徴とする高温超電導電流リード基礎特性試験装置。   14. The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to claim 1, wherein the lead connecting portion is made of aluminum nitride having high electrical insulation and good thermal conductivity. Basic characteristic test equipment. 請求項1記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、前記永久磁石を熱アンカに固定することを特徴とする高温超電導電流リード基礎特性試験装置。   2. The high temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to claim 1, wherein the permanent magnet is fixed to a thermal anchor. 請求項1〜15の何れか一項記載の高温超電導電流リード基礎特性試験装置において、冷却ステージと磁石固定フレームを分離して支持できる吊り下げ構造を有する高温超電導電流リード基礎特性試験装置。   16. The high-temperature superconducting current lead basic characteristic testing apparatus according to claim 1, wherein the cooling-stage and the magnet fixing frame are separately supported to have a suspended structure.
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