JP5861546B2 - Object movement control device and Fourier transform infrared spectrophotometer - Google Patents

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Description

本発明は、リニアガイドに沿って一直線上を移動する対象物の移動制御装置と、その移動制御装置を備えた装置の一例としてのフーリエ変換型赤外分光光度計(以下、FTIRという)に関するものである。   The present invention relates to a movement control device for an object that moves on a straight line along a linear guide, and a Fourier transform infrared spectrophotometer (hereinafter referred to as FTIR) as an example of a device including the movement control device. It is.

FTIRは物質の定性分析や定量分析に用いられ、有機物質及び無機物質を問わず幅広い物質に対して利用することができる。FTTRでは移動鏡を往復移動させて干渉信号を取得することにより分析を行うが、検出器が周波数特性を持つため、データ収集をする際に移動鏡が一定速度で移動することが重要である。一定速度にするために、現在速度を取得して目標速度との誤差を修正するフィードバック制御を行う。現在速度の取得のためにはレーザ干渉計が利用される。移動鏡の位置が変わるとレーザ干渉信号の強度が変わり、移動鏡が−定速度で動くとレーザ干渉信号は一定周波数の正弦波として検出される。この干渉信号をグラウンドレベルからプラス方向とマイナス方向の振幅を持つ信号(フリンジ信号と呼ぶ)として扱うと、立ち上がりゼロクロス(グラウンドレベルから立ち上がる時点)から次の立ち上がりゼロクロスまでの区間の時間を計測することで、レーザ1波長分に相当する光路差の距離だけ移動鏡が移動したときの時間が計測できる。つまり、移動鏡の速度が計測できる。   FTIR is used for qualitative analysis and quantitative analysis of substances, and can be used for a wide range of substances regardless of organic substances and inorganic substances. In FTTR, analysis is performed by reciprocating the moving mirror to acquire an interference signal. However, since the detector has frequency characteristics, it is important that the moving mirror moves at a constant speed when collecting data. In order to obtain a constant speed, feedback control is performed to acquire the current speed and correct an error from the target speed. A laser interferometer is used to obtain the current speed. When the position of the moving mirror changes, the intensity of the laser interference signal changes. When the moving mirror moves at a constant speed, the laser interference signal is detected as a sine wave having a constant frequency. If this interference signal is treated as a signal with positive and negative amplitudes (called a fringe signal) from the ground level, the time from the rising zero cross (when rising from the ground level) to the next rising zero cross is measured. Thus, the time when the movable mirror moves by the distance of the optical path difference corresponding to one wavelength of the laser can be measured. That is, the speed of the movable mirror can be measured.

本発明者は、移動鏡がその初期的なつりあい位置が重力方向になるように吊り下げられた方式のものであるコントロール干渉計を備えた移動鏡制御装置を備え、移動鏡の現在位置と現在速度の測定値を用い、移動鏡のつりあい位置からの距離、移動鏡の現在速度、及び移動鏡の現在速度と目標速度との差のそれぞれにゲインをかけて得られる値に基づいて、移動鏡の移動速度が目標速度になるように移動鏡を駆動するために与える電流をフィードバック制御するFTIRを提案している(特許文献1参照。)そこでは、複数のゲインのうちの少なくとも一部のゲインを可変パラメータとして、調整時に移動鏡の移動速度が目標速度になるようにするために、可変パラメータが最適値となるように調整している。   The present inventor has a moving mirror control device including a control interferometer that is a system in which the moving mirror is suspended so that its initial balance position is in the direction of gravity. Based on the values obtained by multiplying each of the distance from the balance position of the moving mirror, the current speed of the moving mirror, and the difference between the current speed of the moving mirror and the target speed by using the measured value of the speed, the moving mirror FTIR that feedback-controls the current applied to drive the movable mirror so that the moving speed of the moving mirror becomes the target speed is proposed (see Patent Document 1). As a variable parameter, the variable parameter is adjusted to an optimum value so that the moving speed of the movable mirror becomes the target speed at the time of adjustment.

本発明は、対象物として、そのような移動鏡ではなく、リニアガイドに沿って一直線上を移動する対象物をとり上げる。その対象物は移動鏡自体であることもあるが、他の物体であることもある。他の物体の場合には移動鏡が一体として装着されている。リニアガイドに沿って一直線上を移動する移動鏡では、移動鏡の移動を駆動するコイルに電圧を印加して、コイルに流れる電流と磁石が作る磁界による電磁力で移動鏡がリニアガイド上を移動するため、移動鏡の速度は移動鏡の移動を駆動するコイルに与える電圧を逐次変化させることによって制御する。   The present invention picks up an object that moves on a straight line along a linear guide, instead of such a moving mirror. The object may be a moving mirror itself, but may be another object. In the case of other objects, a movable mirror is attached as a unit. In a moving mirror that moves on a straight line along the linear guide, a voltage is applied to the coil that drives the movement of the moving mirror, and the moving mirror moves on the linear guide by the electromagnetic force generated by the current flowing through the coil and the magnetic field generated by the magnet. Therefore, the speed of the movable mirror is controlled by sequentially changing the voltage applied to the coil that drives the movement of the movable mirror.

特開2009−139352号公報JP 2009-139352 A

リニアガイドの品質が悪い場合や、経年劣化を起こすなど種々の原因によって比例係数等の制御パラメータの最適値は装置状態によって異なる。制御パラメータが適切な値でない場合には装置の性能が十分に出なかったり、計測時にエラーとなってしまったりするような事態も考えられる。したがって、装置の性能を引き出すためには制御パラメータを適切な値に保つ必要があるが、制御パラメータの決定には工数を要する。   The optimum value of the control parameter such as the proportional coefficient varies depending on the state of the apparatus due to various causes such as poor quality of the linear guide or aging deterioration. If the control parameter is not an appropriate value, there may be a situation where the performance of the apparatus is not sufficient or an error occurs during measurement. Therefore, in order to draw out the performance of the apparatus, it is necessary to keep the control parameter at an appropriate value, but it takes time to determine the control parameter.

本発明は制御パラメータの決定を自動的に行うことができるようにすることを目的とするものである。   An object of the present invention is to enable automatic determination of control parameters.

本発明では、リニアガイドに沿って一直線上を移動する対象物の移動を制御するために、PID制御によるフィードバック制御を行う。PID制御は入力値の制御を出力値と目標値との偏差、その積分及び微分の3つの要素によって行うフィードバック制御方法である。PID制御では、駆動用のコイルに与える電圧は次のようなPID制御式を用いて決定する。   In the present invention, feedback control by PID control is performed in order to control the movement of the object that moves on a straight line along the linear guide. PID control is a feedback control method in which an input value is controlled by three elements: a deviation between an output value and a target value, its integration, and differentiation. In PID control, the voltage applied to the drive coil is determined using the following PID control equation.

n=CPerr+CDΔV+CIΣVerr+CF (1)
ここで、
n:求める電圧(今回印加する電圧)、
err:速度誤差、
ΔV:前回と今回の速度の差、
ΣVerr:速度誤差の和、
P:比例係数、
D:微分係数、
I:積分係数、
F:摩擦係数
である。
V n = C P V err + C D ΔV + C I ΣV err + C F (1)
here,
V n : a desired voltage (voltage to be applied this time),
V err : Speed error,
Δ V : Difference between the previous speed and current speed,
ΣV err : Sum of speed errors,
C P : proportional coefficient,
C D : differential coefficient,
C I : integration coefficient,
C F : Coefficient of friction.

比例係数CP、微分係数CD、積分係数CI及び摩擦係数CFを制御パラメータと呼び、CPerrを比例項、CDΔVを微分項、CIΣVerrを積分項、CFを摩擦項と呼ぶ。制御パラメータは、従来は実験的又は経験的に決定されているが、本発明では自動的に決定する。 Proportional coefficient C P , differential coefficient C D , integral coefficient C I and friction coefficient C F are called control parameters, C P V err is a proportional term, C D ΔV is a differential term, C I ΣV err is an integral term, C F is called the friction term. The control parameter is conventionally determined experimentally or empirically, but is automatically determined in the present invention.

リニアガイドでは、可動範囲のある部分は滑りがよく、その隣の部分は滑りが悪いというようなことが生じる。このことは先に本発明者が特許文献1において提案した吊り下げ式の移動機構とは異なる点である。リニアガイドでは、滑りの悪い部分の制御のために高い電圧をかけるが、その状態のままで滑りの良い部分に入った場合、移動鏡の速度は一気に速くなってしまう。その際、速度を抑える方向(逆方向)に電圧を加えることになるが、抑える方向の電庄が大きすぎると移動鏡が停止してしまい、移動鏡を再度移動させて速度誤差が小さくなるまでに時間を要することになる。そのため、逆方向の印加電圧はある程度以上はかけないようにしなければならない。一方、逆方向の印加電圧が小さすぎても、速度が速くなってしまった後に速度誤差が大きい部分が続いてしまうためある程度以上の電圧が必要となる。この逆方向印加電圧の最大電圧VAも重要な量であり、そのため、本発明では逆方向最大電圧VAも制御パラメータとして扱う。 In the linear guide, a part with a movable range is slippery, and a part adjacent to the part is slippery. This is a point different from the suspension type moving mechanism previously proposed by the present inventor in Patent Document 1. In the linear guide, a high voltage is applied to control a part with poor slip, but when the part enters a part with good slip in that state, the speed of the movable mirror increases rapidly. At that time, voltage is applied in the direction to suppress the speed (reverse direction), but if the voltage in the direction to suppress is too large, the moving mirror stops, and the moving mirror is moved again until the speed error becomes small It will take time. Therefore, the applied voltage in the reverse direction must not be applied beyond a certain level. On the other hand, even if the applied voltage in the reverse direction is too small, a portion where the speed error is large continues after the speed is increased, so that a voltage higher than a certain level is required. The maximum voltage V A of the reverse direction applied voltage is also an important amount. Therefore, the reverse maximum voltage V A is also treated as a control parameter in the present invention.

本発明では、干渉計制御のために使用しているCPUを利用し、そのCPUで実行するプログラムに制御パラメータを変更する機能や速度誤差を取得する機能を設ける。その機能を利用して速度誤差が小さく、測定が停止しないような適切な制御パラメータになるように自動的に決定する。   In the present invention, a CPU used for interferometer control is used, and a function for changing control parameters and a function for acquiring a speed error are provided in a program executed by the CPU. Using this function, the speed error is small, and the control parameters are automatically determined so that the measurement does not stop.

本発明の対象物移動制御装置は、ビームスプリッタと固定鏡又は移動鏡との間に位相板を配置し、ビームスプリッタで合波された干渉信号から2つの偏光成分を分離して検出し、互いに位相がずれている両検出信号の位相関係と波数とから移動鏡の移動方向と位置とを検出する方式の干渉計を備えている。移動鏡はコイルに印加される電圧により流れる電流により発生する電磁力により駆動され、リニアガイドに沿って一直線上を往復方向に移動するように支持されている。   The object movement control device of the present invention arranges a phase plate between a beam splitter and a fixed mirror or a moving mirror, separates and detects two polarization components from an interference signal combined by the beam splitter, and detects each other. There is provided an interferometer that detects the moving direction and position of the movable mirror from the phase relationship and wave number of both detection signals that are out of phase. The movable mirror is driven by an electromagnetic force generated by a current flowing by a voltage applied to the coil, and is supported so as to move in a reciprocating direction on a straight line along the linear guide.

移動鏡を駆動するためにコイルに印加する電圧を制御するために制御部を備えている。その制御部は、干渉計駆動部、制御パラメータ保持部及びパラメータ調整部を備えている。   A control unit is provided for controlling the voltage applied to the coil to drive the movable mirror. The control unit includes an interferometer driving unit, a control parameter holding unit, and a parameter adjusting unit.

干渉計駆動部は、移動鏡の現在位置と現在速度の測定値を用い前記移動鏡の移動速度が設定された目標速度になるように移動鏡を駆動するために与える電圧を、PID制御式の比例係数CP、微分係数CD、積分係数CI、摩擦係数CF、及びフィードバック制御の際に移動鏡の速度を抑える方向に印加する逆方向電圧の最大値である逆方向最大電圧VAを制御パラメータとして、リニアガイドの設定された動作範囲にわたってPID方式でフィードバック制御する。 The interferometer drive unit uses a measured value of the current position and current speed of the movable mirror to determine a voltage to be applied to drive the movable mirror so that the moving speed of the movable mirror becomes a set target speed. Proportional coefficient C P , differential coefficient C D , integral coefficient C I , friction coefficient C F , and reverse maximum voltage V A that is the maximum value of the reverse voltage applied in the direction to suppress the moving mirror speed during feedback control. As a control parameter, feedback control is performed by the PID method over the set operation range of the linear guide.

制御パラメータ保持部は干渉計駆動部で使用される制御パラメータを保持する。   The control parameter holding unit holds control parameters used in the interferometer driving unit.

パラメータ調整部は、比例係数CP、微分係数CD、積分係数CI及び摩擦係数CFのうちの少なくとも1つと逆方向最大電圧VAについて、フィードバック制御を行って現在速度の測定値と目標速度との誤差に基づく評価関数により制御パラメータの最適値を決定する。決定された制御パラメータは制御パラメータ保持部に保持され、すでにその制御パラメータが保持されている場合は決定された新たな制御パラメータにより更新する。 The parameter adjustment unit performs feedback control on at least one of the proportional coefficient C P , the differential coefficient C D , the integral coefficient C I, the friction coefficient C F , and the reverse maximum voltage V A to measure the current speed measurement value and the target The optimum value of the control parameter is determined by an evaluation function based on the error from the speed. The determined control parameter is held in the control parameter holding unit, and when the control parameter is already held, it is updated with the determined new control parameter.

ここでは、制御部は「コイルに印加する電圧を制御する」という表現を用いているが、コイルに電圧を印加するのはコイルに電流を流すためであるので、これは「コイルに流す電流を制御する」ことと同じことである。したがって、本発明はコイルに流す電流を対象にしてPID制御するものも含んでいる。   Here, the control unit uses the expression “controls the voltage applied to the coil”. However, since the voltage is applied to the coil in order to pass a current through the coil, It is the same as “control”. Therefore, the present invention includes a device that performs PID control on the current flowing through the coil.

好ましい一実施形態では、干渉計駆動部は目標速度を変更できるようになっている。その場合、パラメータ調整部は目標速度が変更されたときは制御パラメータの新たな最適値を求め、制御パラメータ保持部に保持されている制御パラメータを更新する。   In a preferred embodiment, the interferometer driver can change the target speed. In that case, when the target speed is changed, the parameter adjustment unit obtains a new optimum value of the control parameter, and updates the control parameter held in the control parameter holding unit.

他の好ましい実施形態では、干渉計駆動部は動作範囲を変更できるようになっている。その場合、パラメータ調整部は動作範囲が変更されたときは制御パラメータの新たな最適値を求め、制御パラメータ保持部に保持されている制御パラメータを更新する。   In another preferred embodiment, the interferometer driver can change the operating range. In that case, when the operating range is changed, the parameter adjustment unit obtains a new optimum value of the control parameter and updates the control parameter held in the control parameter holding unit.

このような対象物移動制御装置を利用した装置の一例はFTIRである。そのFTIRでは、試料の測定を行なう主干渉計のビームスプリッタと固定鏡又は移動鏡との間に位相板を配置し、ビームスプリッタで合波された干渉信号から2つの偏光成分を分離して検出し、互いに位相がずれている両検出信号の位相関係と波数とから移動鏡の移動方向と位置とを検出する方式のコントロール干渉計を備えた移動鏡制御装置を備えており、その移動鏡制御装置として本発明の対象物移動制御装置を使用する。   An example of an apparatus using such an object movement control apparatus is FTIR. In FTIR, a phase plate is placed between the beam splitter of the main interferometer that measures the sample and the fixed or moving mirror, and the two polarization components are separated from the interference signal combined by the beam splitter and detected. And a moving mirror control device equipped with a control interferometer that detects the moving direction and position of the moving mirror from the phase relationship and wave number of both detection signals that are out of phase with each other. The object movement control device of the present invention is used as the device.

本発明の対象物移動制御装置では、制御パラメータを自動的に決定することができるので、対象物移動制御装置やその構成部品の個体差や経年変化による性能への影響を軽減することができる。そして、制御パラメータを調整する知識をもった技術者が調整する必要がないため、生産時のみでなく装置据え付け時や移動時などの任意のタイミングで調整を実施できるため、装置の性能を引き出すことが容易になり、調整工数の短縮が期待できる。   In the object movement control device of the present invention, since the control parameter can be automatically determined, it is possible to reduce the influence on the performance due to individual differences and aging of the object movement control device and its components. In addition, since it is not necessary for an engineer with knowledge to adjust control parameters to make adjustments, it is possible to make adjustments at any time, not only during production, but also during installation and movement of the equipment, thereby drawing out the performance of the equipment. This makes it easier to reduce the adjustment man-hours.

この対象物移動制御装置を移動鏡制御装置として使用したFTIRについても、同じ効果を達成することができるようになる。   The same effect can be achieved for FTIR using the object movement control device as a moving mirror control device.

本発明が適用されるFTIRの一例の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of an example of FTIR to which this invention is applied. 同FTIRにおける移動鏡制御機構を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the movable mirror control mechanism in the same FTIR. 同FTIRにおける制御部の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the control part in the same FTIR. 同制御部の機能を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the function of the control part. 一実施例の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of one Example.

図1に本発明が適用されるFTIRの一例を示す。ビームスプリッタ及びコンペンセータ(単にビームスプリッタという)2は、固定鏡4及び移動鏡6により干渉計が構成されており、ビームスプリッタ2は固定鏡4の法線方向及び移動鏡6の法線方向に対して30度の傾きをもって配置されている。固定鏡4は固定鏡支持ブロック8に搭載され、移動鏡6は摺動機構14に支持され、摺動機構14はリニアモータ16によって移動鏡6をビームスプリッタ2に近づく方向と遠ざかる方向の往復方向に移動させる。リニアモータ16にはパワーアンプ18から電流が流され、リニアモータ16に流す電流は摺動コントローラ20からパワーアンプ18を介して制御される。   FIG. 1 shows an example of FTIR to which the present invention is applied. The beam splitter and compensator (simply referred to as a beam splitter) 2 includes an interferometer composed of a fixed mirror 4 and a moving mirror 6, and the beam splitter 2 has a normal direction of the fixed mirror 4 and a normal direction of the moving mirror 6. Are arranged with an inclination of 30 degrees. The fixed mirror 4 is mounted on a fixed mirror support block 8, the moving mirror 6 is supported by a sliding mechanism 14, and the sliding mechanism 14 is reciprocated in a direction in which the moving mirror 6 is moved toward and away from the beam splitter 2 by a linear motor 16. Move to. A current is supplied to the linear motor 16 from the power amplifier 18, and the current supplied to the linear motor 16 is controlled from the sliding controller 20 via the power amplifier 18.

ビームスプリッタ2、固定鏡4及び移動鏡6とともに主干渉計を構成して赤外分光測定系とするために、赤外光源22が設けられ、光源22からの赤外線は集光鏡24、アパーチャ26、コリメータミラー28を経てビームスプリッタ2に入射され、この干渉計で変調される。変調光はミラー30、集光鏡32から試料室34を通過した後、楕円面鏡36を経て赤外検出器38で受光されて電気信号に変換される。検出器38の検出信号を増幅するためにプリアンプ40が設けられ、プリアンプ40で増幅された検出信号はフィルタ42及びオートゲインアンプ44を経てサンプルホールドアンプ46でサンプリングされ、AD変換器48でデジタル信号に変換されてCPUバスライン84へ送出される。   In order to configure the main interferometer together with the beam splitter 2, the fixed mirror 4, and the movable mirror 6 to form an infrared spectroscopic measurement system, an infrared light source 22 is provided, and infrared rays from the light source 22 are collected by a condensing mirror 24 and an aperture 26. Then, the light enters the beam splitter 2 through the collimator mirror 28 and is modulated by the interferometer. The modulated light passes through the sample chamber 34 from the mirror 30 and the condensing mirror 32, and then is received by the infrared detector 38 through the ellipsoidal mirror 36 and converted into an electrical signal. A preamplifier 40 is provided for amplifying the detection signal of the detector 38. The detection signal amplified by the preamplifier 40 is sampled by a sample hold amplifier 46 through a filter 42 and an auto gain amplifier 44, and is converted into a digital signal by an AD converter 48. And is sent to the CPU bus line 84.

ビームスプリッタ2、固定鏡4及び移動鏡6とともにコントロール干渉計を構成するために、光源としてHe−Neレーザ50が設けられている。レーザ50からのレーザビームはハーフミラー54によりビームスプリッタ2に入射させられる。ビームスプリッタ2で反射され、固定鏡4で反射されて再びビームスプリッタ2に戻るレーザビームを直線偏光から円偏光に変えるために、ビームスプリッタ2と固定鏡4の間に(λ/8)板56が設けられている。(λ/8板)56は、その偏光軸が入射レーザビームの偏波面から45度傾くように設置されている。   In order to constitute a control interferometer together with the beam splitter 2, the fixed mirror 4 and the movable mirror 6, a He—Ne laser 50 is provided as a light source. The laser beam from the laser 50 is incident on the beam splitter 2 by the half mirror 54. In order to change the laser beam reflected by the beam splitter 2, reflected by the fixed mirror 4, and returned to the beam splitter 2 again from linearly polarized light to circularly polarized light, a (λ / 8) plate 56 is provided between the beam splitter 2 and the fixed mirror 4. Is provided. The (λ / 8 plate) 56 is installed such that its polarization axis is inclined 45 degrees from the polarization plane of the incident laser beam.

この干渉計で変調され、ハーフミラー58で反射された干渉光をP波とS波の各偏光成分に分割するために偏光ビームスプリッタ60が設けられている。偏光ビームスプリッタ60を透過した一方の偏光成分を受光する検出器としてフォトダイオード62が設けられ、偏光ビームスプリッタ60で反射された他方の偏光成分を受光する検出器としてフォトダイオード64が設けられている。フォトダイオード62,64で検出される信号はフリンジ信号である。フォトダイオード62はプリアンプ66に接続され、フォトダイオード64はプリアンプ68に接続されている。プリアンプ66,68で増幅されたそれぞれの偏光成分の検出信号は波形整形器78,80によってパルス列の信号a,bに変えられる。波形成形された2個のパルス信号a,bはアップ/ダウン・カウンタ82に入力される。アップ/ダウン・カウンタ82は両入力信号の位相関係からアップ/ダウンのモードを定めるとともに、入力信号のパルス数を計数し、CPUバスライン84へ送出する。   A polarization beam splitter 60 is provided to divide the interference light modulated by the interferometer and reflected by the half mirror 58 into P-wave and S-wave polarization components. A photodiode 62 is provided as a detector that receives one polarization component transmitted through the polarization beam splitter 60, and a photodiode 64 is provided as a detector that receives the other polarization component reflected by the polarization beam splitter 60. . A signal detected by the photodiodes 62 and 64 is a fringe signal. The photodiode 62 is connected to the preamplifier 66, and the photodiode 64 is connected to the preamplifier 68. Detection signals of the respective polarization components amplified by the preamplifiers 66 and 68 are converted into pulse train signals a and b by waveform shapers 78 and 80, respectively. The two waveform shaped pulse signals a and b are input to the up / down counter 82. The up / down counter 82 determines the up / down mode from the phase relationship between the two input signals, counts the number of pulses of the input signal, and sends it to the CPU bus line 84.

フォトダイオード62の検出信号が波形整形されて生成されたパルス信号aはまた、摺動コントローラ20とサンプルホールドアンプ46、AD変換器48へも送られる。CPUバスライン84には制御部86、プログラム格納メモリ88、データ格納メモリ90、外部記憶装置92、LCD(液晶ディスプレー)94、プロッタ96及びオートゲインアンプ44、AD変換器48、アップ/ダウン・カウンタ82が接続されている。   The pulse signal a generated by shaping the detection signal of the photodiode 62 is also sent to the sliding controller 20, the sample hold amplifier 46, and the AD converter 48. The CPU bus line 84 includes a control unit 86, a program storage memory 88, a data storage memory 90, an external storage device 92, an LCD (liquid crystal display) 94, a plotter 96, an auto gain amplifier 44, an AD converter 48, and an up / down counter. 82 is connected.

図2は同実施例における移動鏡制御機構を示している。移動鏡6はボイスコイル17に取り付けられ、ボイスコイル17は磁石19と組み合わされている。ボイスコイル17はリニアガイド15に沿って一直線上を往復方向に移動するように支持されていることにより、移動鏡6はボイスコイル17の移動に伴ってリニアガイド15に沿って移動する。移動鏡6はボイスコイル17に印加される電圧により流れる電流により発生する電磁力により駆動されて移動する。   FIG. 2 shows a movable mirror control mechanism in the same embodiment. The movable mirror 6 is attached to a voice coil 17, and the voice coil 17 is combined with a magnet 19. Since the voice coil 17 is supported so as to move in a reciprocating direction along a straight line along the linear guide 15, the movable mirror 6 moves along the linear guide 15 as the voice coil 17 moves. The movable mirror 6 is driven and moved by an electromagnetic force generated by a current flowing by a voltage applied to the voice coil 17.

移動鏡6の移動を制御するための制御系は図1に詳細に示されているので、図2では概略的にブロック図で示されている。コントロール干渉計を構成するビームスプリッタ2、固定鏡4、移動鏡6及びレーザ光源50と、フリンジ信号生成部60,62,64,82と、制御部であるCPU86と、摺動コントローラ20を代表するDAコンバータ20が概略的に示されている。   Since the control system for controlling the movement of the movable mirror 6 is shown in detail in FIG. 1, it is schematically shown in a block diagram in FIG. The beam splitter 2, the fixed mirror 4, the movable mirror 6, and the laser light source 50 that constitute the control interferometer, the fringe signal generation units 60, 62, 64, and 82, the CPU 86 that is the control unit, and the sliding controller 20 are represented. A DA converter 20 is schematically shown.

制御部86には、図3に示すように、干渉計制御CPU100、データ処理CPU102及び移動鏡6の駆動用電圧値の計算に用いる制御バラメータを記憶するEEPROM(電気的に消去可能なPROM)88aが含まれる。制御部86には外部のPC(パーソナルコンピュータ)104が接続されている。   As shown in FIG. 3, the controller 86 includes an interferometer control CPU 100, a data processing CPU 102, and an EEPROM (electrically erasable PROM) 88a for storing control parameters used to calculate driving voltage values for the movable mirror 6. Is included. An external PC (personal computer) 104 is connected to the control unit 86.

制御部86を機能として示すと図4のようになる。干渉計駆動部は干渉計駆動CPU100に該当し、移動鏡6の現在位置と現在速度の測定値を用い移動鏡6の移動速度が設定された目標速度になるように移動鏡6を駆動するために与える電圧を、PID制御式の比例係数CP、微分係数CD、積分係数CI、摩擦係数CF、及び逆方向最大電圧VAを制御パラメータとして、リニアガイド15の設定された動作範囲にわたってPID方式でフィードバック制御する。制御パラメータ保持部はEEPROM88aにより実現され、干渉計駆動部で使用される制御パラメータを保持する。パラメータ調整部106はデータ処理CPU102により実現され、比例係数CP、微分係数CD、積分係数CI及び摩擦係数CFのうちの少なくとも1つと逆方向最大電圧VAについて、フィードバック制御を行って現在速度の測定値と目標速度との誤差に基づく評価関数により最適値を求めることにより制御パラメータを決定する。その決定された制御パラメータは制御パラメータ保持部に保持されるか、すでに制御パラメータ保持部に制御パラメータが保持されている場合はその保持されている制御パラメータが新たな決定された制御パラメータで更新される。 FIG. 4 shows the control unit 86 as a function. The interferometer driving unit corresponds to the interferometer driving CPU 100 and drives the moving mirror 6 so that the moving speed of the moving mirror 6 becomes the set target speed using the current position of the moving mirror 6 and the measured value of the current speed. The operating range of the linear guide 15 is set with the voltage to be applied to the PID control equation using the proportional coefficient C P , the differential coefficient C D , the integral coefficient C I , the friction coefficient C F , and the reverse maximum voltage V A as control parameters. The feedback control is performed by the PID method. The control parameter holding unit is realized by the EEPROM 88a and holds control parameters used in the interferometer driving unit. The parameter adjustment unit 106 is realized by the data processing CPU 102 and performs feedback control on at least one of the proportional coefficient C P , the differential coefficient C D , the integral coefficient C I, and the friction coefficient C F and the reverse maximum voltage V A. A control parameter is determined by obtaining an optimum value by an evaluation function based on an error between the measured value of the current speed and the target speed. The determined control parameter is held in the control parameter holding unit, or when the control parameter is already held in the control parameter holding unit, the held control parameter is updated with the newly determined control parameter. The

このFTIRの動作を説明する。
(a)コントロール干渉計の動作:
偏光ビームスプリッタ60で分割された互いに位相の異なるレーザ干渉光はそれぞれフォトダイオード62,64で受光され、それぞれのフォトダイオード62,64の検出信号は波形整形され、パルス信号となってアップ/ダウン・カウンタ82の2個の入力信号a,bとして取り込まれる。アップ/ダウン・カウンタ82ではアップ/ダウンのモードを両入力信号の位相関係から求める。すなわち、移動鏡6がビームスプリッタ2に近づく方向であれば、一方の信号aは他方の信号bに対して位相が90度進み、逆に移動鏡6がビームスプリッタ2から離れる方向であれば信号aはbに対して位相が90度遅れるからである。また、アップ/ダウン・カウンタ82で計数される入力信号のパルス数は、移動鏡6の位置に依存した信号となる。アップ/ダウン・カウンタ82の出力信号はバスライン84を介して制御部86の干渉計制御CPU100に取り込まれ、移動鏡の摺動の異常を検出し、また赤外分光測定のインターフェログラムの積分を行う際の信号として用いられる。
The operation of this FTIR will be described.
(A) Operation of the control interferometer:
The laser interference light beams having different phases separated by the polarization beam splitter 60 are received by the photodiodes 62 and 64, respectively, and the detection signals of the respective photodiodes 62 and 64 are waveform-shaped to be pulse signals. It is taken in as two input signals a and b of the counter 82. The up / down counter 82 obtains the up / down mode from the phase relationship between both input signals. That is, if the moving mirror 6 is in the direction approaching the beam splitter 2, the signal a is advanced in phase by 90 degrees with respect to the other signal b. This is because the phase of a is delayed by 90 degrees with respect to b. The number of pulses of the input signal counted by the up / down counter 82 is a signal depending on the position of the movable mirror 6. The output signal of the up / down counter 82 is taken into the interferometer control CPU 100 of the control unit 86 via the bus line 84 to detect an abnormal sliding of the moving mirror and to integrate the interferogram of the infrared spectroscopic measurement. It is used as a signal when performing

摺動コントローラ20は、フォトダイオード62の検出信号の周波数が一定になるように、パワーアンプ18を介してリニアモータ16に印加する電圧を制御する。フォトダイオード62の検出出力が整形されたもの(a信号)はまた、サンプルホールドアンプ46のサンプリング信号としても、A/D変換器48の変換スタート信号としても用いられる。   The sliding controller 20 controls the voltage applied to the linear motor 16 via the power amplifier 18 so that the frequency of the detection signal of the photodiode 62 becomes constant. A signal obtained by shaping the detection output of the photodiode 62 (a signal) is also used as a sampling signal of the sample hold amplifier 46 and a conversion start signal of the A / D converter 48.

(b)赤外データ収集の動作:
赤外光源22から射出されて干渉計で変調され、試料室34を経て赤外検出器38で電気信号に変換された信号は、プリアンプ40からフィルタ42、オートゲインアンプ44を経てサンプルホールドアンプ46でサンプリングされ、A/D変換器48でデジタル信号に変換されてバスライン84に取り込まれる。移動鏡6の移動に伴なってインターフェログラムが生成する。コントロール干渉計の干渉信号である信号aを用いてA/D変換器48のA/D変換が起動される。クアドラチュア・コントロールにより移動鏡6の現在位置がリアルタイムで検出されており、この現在位置信号はアップ/ダウン・カウンタ82により生成され、一連のインターフェログラムのデータ収集開始点、終了点を知るために逐次、制御部86の干渉計制御CPU100により認識され、移動鏡6の往復方向でデータ収集が行われる。
(B) Infrared data collection operation:
A signal emitted from the infrared light source 22, modulated by an interferometer, converted into an electrical signal by the infrared detector 38 through the sample chamber 34, the filter 42, the auto gain amplifier 44, the sample hold amplifier 46. The A / D converter 48 converts the signal into a digital signal and takes it in the bus line 84. An interferogram is generated as the movable mirror 6 moves. A / D conversion of the A / D converter 48 is activated using the signal a which is an interference signal of the control interferometer. The current position of the movable mirror 6 is detected in real time by the quadrature control, and this current position signal is generated by the up / down counter 82 in order to know the data collection start and end points of a series of interferograms. In succession, the interferometer control CPU 100 of the control unit 86 recognizes and collects data in the reciprocating direction of the movable mirror 6.

図5に一実施例の動作をフローチャートにより示す。
(1)制御パラメータの初期値を設定する(ステップS1)。制御パラメータは比例係数CP、微分係数CD、積分係数CI、摩擦係数CF及び逆方向最大電圧VAの5つである。これらの5つの制御パラメータ全てについてそれぞれの初期値を設定する。制御パラメータの初期値はいくつかの装置を用いて実験的に決めた値を用いればよい。その初期値から開始することで調整時間の短縮も期待できる。
FIG. 5 is a flowchart showing the operation of the embodiment.
(1) The initial value of the control parameter is set (step S1). There are five control parameters: proportional coefficient C P , differential coefficient C D , integral coefficient C I , friction coefficient C F, and reverse maximum voltage V A. Initial values are set for all these five control parameters. The initial value of the control parameter may be a value experimentally determined using some devices. The adjustment time can be shortened by starting from the initial value.

(2)制御パラメータを変化させる探索範囲を設定する(ステップS2)。探索範囲の設定法はいくつか考えられる。設定法の例を2つあげる。 (2) A search range for changing the control parameter is set (step S2). There are several methods for setting the search range. Two examples of setting methods are given.

a)初期値から一定の範囲内だけ探索する方法。この方法をとると、最適なところが見つけられないかもしれないが、調整時間が短縮できる。この場合、5つの制御パラメータ全てについて一定の範囲内だけ探索する方法と、探索する制御パラメータの数を制限して選択した制御パラメータについてのみ一定の範囲内だけ探索する方法がある。後者の場合、比例係数CP、微分係数CD、積分係数CI及び摩擦係数CFのうちの1〜3種類と逆方向最大電圧VAに絞って探索する。より簡便にするには比例係数CP、微分係数CD、積分係数CI及び摩擦係数CFのうちの1種類と逆方向最大電圧VAに絞って探索すればよい。 a) A method of searching only within a certain range from the initial value. If this method is adopted, the optimum place may not be found, but the adjustment time can be shortened. In this case, there are a method for searching only within a certain range for all five control parameters, and a method for searching only within a certain range only for control parameters selected by limiting the number of control parameters to be searched. In the latter case, the search is limited to 1 to 3 types among the proportionality coefficient C P , the differential coefficient C D , the integral coefficient C I, and the friction coefficient C F and the reverse maximum voltage V A. In order to make it simpler, the search may be limited to one of the proportional coefficient C P , the differential coefficient C D , the integral coefficient C I and the friction coefficient C F and the reverse maximum voltage V A.

b)広い範囲を探索する方法。この方法は調整時間がかかる代わりに最適なところを見つけ出せる可能性が高くなる。この方法でも探索する制御パラメータの種類に関しては、上のa)で述べたことが当てはまる。   b) A method for searching a wide range. This method increases the possibility of finding the optimum place instead of taking adjustment time. With regard to the types of control parameters to be searched for in this method as well, what has been described in a) above applies.

(3)移動鏡の動作を開始する(ステップS3)。 (3) The operation of the movable mirror is started (step S3).

(4)速度誤差を測定する(ステップS4)。速度誤差は各フリンジにおいて測定できるため、フリンジごとの速度誤差Verrを記憶しておく。ここで、探索する制御パラメータについて探索の為に設定した値によっては移動鏡が正しく制御できずに停止してしまうことがある。停止した場合は規定時間内に速度誤差の取得が完了しなかったとして、設定した制御パラメータの値は評価の対象から外す。 (4) The speed error is measured (step S4). Since the speed error can be measured at each fringe, the speed error V err for each fringe is stored. Here, depending on the values set for the search for the control parameters to be searched, the movable mirror may not be controlled correctly and may stop. In the case of stopping, it is determined that the acquisition of the speed error is not completed within the specified time, and the set control parameter value is excluded from the evaluation target.

(5)所定の範囲にわたる移動鏡の移動を終了すると(ステップS5)、評価関数を計算する(ステップS6)。評価関数f(CP,CD,CI,CF,VA)の一例を次に示す。
f(CP,CD,CI,CF,VA)=α|Verrave+β|Verrmax
ここで、α、βは重み係数、|Verraveは速度誤差Verrの絶対値の平均値、|Verrmaxは速度誤差Verrの絶対値の最大値を意味する。
(5) When the movement of the movable mirror over a predetermined range is completed (step S5), an evaluation function is calculated (step S6). An example of the evaluation function f (C P , C D , C I , C F , V A ) is shown below.
f (C P , C D , C I , C F , V A ) = α | Verr | ave + β | Verr | max
Here, α and β are weighting factors, | V err | ave is an average value of the absolute values of the speed error V err , and | V err | max is a maximum value of the absolute value of the speed error V err .

さらに、速度誤差が急変するような状況は避けるべきであるため、速度誤差が規定の値を超える箇所がある場合には評価関数の値を大きくするなどして評価関数値を与える。   Furthermore, since a situation where the speed error changes suddenly should be avoided, if there is a part where the speed error exceeds a specified value, an evaluation function value is given by increasing the value of the evaluation function.

上記の評価関数は一例であり、他の評価関数を使用することもできる。例えば、速度誤差の絶対値の平均値に替えて速度誤差Verrの絶対値の自乗の平均値を使用したり、速度誤差の絶対値の最大値に替えて速度誤差Verrの絶対値の最大値と最小値の差を使用したりすることもできる。 The above evaluation function is an example, and other evaluation functions can be used. For example, the average value of the absolute value of the speed error V err is used instead of the average value of the absolute value of the speed error, or the maximum value of the absolute value of the speed error V err is used instead of the maximum value of the absolute value of the speed error. The difference between the value and the minimum value can also be used.

(6)探索すべき制御パラメータについて探索範囲の探索が終了すれば(ステップS7)、それまでに計算した評価関数値から最適な制御パラメータを抽出して新たな制御パラメータとする(ステップS8)。上記のような評価関数を選択した場合、その値を最小にするような制御パラメータを最適値として選択すればよい。 (6) When the search of the search range for the control parameter to be searched is completed (step S7), the optimum control parameter is extracted from the evaluation function values calculated so far and set as a new control parameter (step S8). When the evaluation function as described above is selected, a control parameter that minimizes the value may be selected as the optimum value.

(7)探索が終了していない場合には(ステップS9)、探索する新たな制御パラメータを設定して、ステップ3からステップ6までを繰り返す。新たなパラメータの設定法としては次のような方法が考えられる。 (7) If the search is not completed (step S9), a new control parameter to be searched is set, and steps 3 to 6 are repeated. The following method can be considered as a new parameter setting method.

(a)任意の幅で制御パラメータを増減させる。 (A) The control parameter is increased or decreased by an arbitrary width.

(b)それまでの評価関数計算結果をもとにして制御パラメータの増減方向と増減値を決める。この場合には探索終了条件として、探索回数や収束条件を与えればよい。収束条件としては、例えば制御パラメータを増減させたときの評価関数の値が所定の範囲内に収まったことなどを挙げることができる。 (B) The control parameter increase / decrease direction and increase / decrease value are determined based on the evaluation function calculation results obtained so far. In this case, the number of searches and the convergence condition may be given as the search end condition. As the convergence condition, for example, the value of the evaluation function when the control parameter is increased or decreased can be included in a predetermined range.

以上が本発明の流れであり、求められた制御パラメータはこのFTIR内のEEPROMからなる制御パラメータ保持部88aに保存しておく。制御パラメータ保持部はこのFTIRに接続された外部コンピュータ、例えばパーソナルコンビュータ(PC)に設けてもよい。   The above is the flow of the present invention, and the obtained control parameters are stored in the control parameter holding unit 88a composed of the EEPROM in the FTIR. The control parameter holding unit may be provided in an external computer connected to the FTIR, such as a personal computer (PC).

移動鏡の動作速度によって制御パラメータは変わるため、FTIRが移動鏡の動作速度を変更できるようになっている場合には、動作速度が変更されたときはその動作速度に対して探索を実行して最適な制御パラメータを求めて制御パラメータ保持部88aに保存されている制御パラメータを更新する。   Since the control parameters vary depending on the operating speed of the moving mirror, if the FTIR can change the operating speed of the moving mirror, when the operating speed is changed, a search is performed for that operating speed. An optimum control parameter is obtained, and the control parameter stored in the control parameter holding unit 88a is updated.

移動鏡の動作範囲によっても制御パラメータの最適値が変わる場合がある。例えば、リニアガイドの端の方では加工精度が悪いような場合、中央付近のみ使用する場合と端まで使用する場合で適切な制御パラメータが異なることが考えられる。したがって、FTIRが移動鏡の動作範囲を変更できるようになっている場合には、動作範囲が変更されたときはその動作範囲に対して探索を実行して最適な制御パラメータを求めて制御パラメータ保持部88aに保存されている制御パラメータを更新する。   The optimal value of the control parameter may change depending on the operating range of the movable mirror. For example, if the processing accuracy is poor at the end of the linear guide, it is conceivable that the appropriate control parameters differ depending on whether only the center is used or when the end is used up to the end. Therefore, when the FTIR can change the operating range of the movable mirror, when the operating range is changed, a search is performed on the operating range to obtain an optimal control parameter and the control parameter is retained. The control parameter stored in the unit 88a is updated.

実施例では対象物としてFTIRの移動鏡自体である場合をとり上げて説明したが、対象物が移動鏡自体でなくても、他の物体である場合にも本発明を適用することができる。その場合はその物体に移動鏡が一体として取り付けられる。そのため、本発明は、対象物をリニアガイドに沿って一直線上で一定速度で移動させるように制御することを要求される幅広い分野に対して適用可能である。   In the embodiment, the case where the object is the FTIR moving mirror itself has been described, but the present invention can also be applied to another object even if the object is not the moving mirror itself. In that case, the movable mirror is integrally attached to the object. Therefore, the present invention can be applied to a wide range of fields in which it is required to control an object to move along a linear guide on a straight line at a constant speed.

2 ビームスプリッタ
4 固定鏡
6 移動鏡
15 リニアガイド
16 リニアモータ
86 制御部
88a 制御パラメータ保持部
100 干渉計制御部
106 パラメータ調整部
2 Beam splitter 4 Fixed mirror 6 Moving mirror 15 Linear guide 16 Linear motor 86 Control unit 88a Control parameter holding unit 100 Interferometer control unit 106 Parameter adjustment unit

Claims (4)

ビームスプリッタと固定鏡又は移動鏡との間に位相板を配置し、前記ビームスプリッタで合波された干渉信号から2つの偏光成分を分離して検出し、互いに位相がずれている両検出信号の位相関係と波数とから移動鏡の移動方向と位置とを検出する方式の干渉計を備えた対象物移動制御装置において、
前記移動鏡はコイルに印加される電圧により流れる電流により発生する電磁力により駆動され、リニアガイドに沿って一直線上を往復方向に移動するように支持されており、
前記移動鏡を駆動するために前記コイルに印加する電圧を制御する制御部は、移動鏡の現在位置と現在速度の測定値を用い前記移動鏡の移動速度が設定された目標速度になるように移動鏡を駆動するために与える電圧を、PID制御式の比例係数CP、微分係数CD、積分係数CI、摩擦係数CF、及びフィードバック制御の際に前記移動鏡の速度を抑える方向に印加する逆方向電圧の最大値である逆方向最大電圧を制御パラメータとして、前記リニアガイドの設定された動作範囲にわたってPID方式でフィードバック制御する干渉計駆動部と、
前記干渉計駆動部で使用される制御パラメータを保持する制御パラメータ保持部と、
比例係数CP、微分係数CD、積分係数CI及び摩擦係数CFのうちの少なくとも1つと逆方向最大電圧について、フィードバック制御を行って現在速度の測定値と目標速度との誤差に基づく評価関数により制御パラメータの最適値を決定するパラメータ調整部と、
を備えていることを特徴とする対象物移動制御装置。
A phase plate is arranged between the beam splitter and the fixed or moving mirror, and the two polarization components are separated and detected from the interference signal combined by the beam splitter, and the two detection signals that are out of phase with each other are detected. In the object movement control device equipped with an interferometer of a method for detecting the moving direction and position of the moving mirror from the phase relationship and wave number,
The movable mirror is driven by an electromagnetic force generated by a current flowing by a voltage applied to a coil, and is supported so as to move in a reciprocating direction on a straight line along a linear guide.
The controller that controls the voltage applied to the coil to drive the moving mirror uses the current position of the moving mirror and the measured value of the current speed so that the moving speed of the moving mirror becomes a set target speed. The voltage applied to drive the movable mirror is proportional to the proportional coefficient C P , the differential coefficient C D , the integral coefficient C I , the friction coefficient C F of the PID control equation, and the direction in which the speed of the movable mirror is suppressed during feedback control. An interferometer driver that performs feedback control in a PID manner over the set operating range of the linear guide, with a reverse maximum voltage that is the maximum value of the reverse voltage applied as a control parameter;
A control parameter holding unit for holding control parameters used in the interferometer driving unit;
At least one of the proportional coefficient C P , the differential coefficient C D , the integral coefficient C I, the friction coefficient C F and the reverse maximum voltage is evaluated based on an error between the measured value of the current speed and the target speed by performing feedback control. A parameter adjustment unit that determines the optimum value of the control parameter by a function;
An object movement control device comprising:
前記干渉計駆動部は前記目標速度を変更できるようになっており、前記パラメータ調整部は目標速度が変更されたときは制御パラメータの新たな最適値を求め、前記制御パラメータ保持部に保持されている制御パラメータを更新するものである請求1に記載の対象物移動制御装置。   The interferometer drive unit can change the target speed, and the parameter adjustment unit obtains a new optimum value of the control parameter when the target speed is changed, and is held in the control parameter holding unit. The object movement control device according to claim 1, wherein the control parameter is updated. 前記干渉計駆動部は前記動作範囲を変更できるようになっており、前記パラメータ調整部は動作範囲が変更されたときは制御パラメータの新たな最適値を求め、前記制御パラメータ保持部に保持されている制御パラメータを更新するものである請求1又は2に記載の対象物移動制御装置。   The interferometer drive unit can change the operation range, and the parameter adjustment unit obtains a new optimum value of the control parameter when the operation range is changed, and is held in the control parameter holding unit. The object movement control device according to claim 1 or 2, wherein the control parameter is updated. 試料の測定を行なう主干渉計のビームスプリッタと固定鏡又は移動鏡との間に位相板を配置し、前記ビームスプリッタで合波された干渉信号から2つの偏光成分を分離して検出し、互いに位相がずれている両検出信号の位相関係と波数とから移動鏡の移動方向と位置とを検出する方式のコントロール干渉計を備えた移動鏡制御装置を備えたフーリエ変換型赤外分光光度計において、
前記移動鏡制御装置は請求項1から3のいずれか一項に記載の対象物移動制御装置であることを特徴とするフーリエ変換型赤外分光光度計。
A phase plate is arranged between the beam splitter of the main interferometer for measuring the sample and the fixed mirror or moving mirror, and the two polarization components are separated and detected from the interference signal combined by the beam splitter. In a Fourier transform infrared spectrophotometer equipped with a moving mirror control device equipped with a control interferometer that detects the moving direction and position of the moving mirror from the phase relationship and wave number of both detection signals that are out of phase ,
The Fourier transform infrared spectrophotometer, wherein the moving mirror control device is the object movement control device according to any one of claims 1 to 3.
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