JP5843358B2 - 半導体集積回路のテストパターン生成方法、プログラム、およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の一実施形態に係るテストパターン生成方法の概略フローを示す。なお、下記のテストパターン生成方法は、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータに実行させることにより実施することができる。
Pi=(1+D(i,SAi,adj))×Pbase(i,SAi)
D(i,SAi,adj)=(Pd(i,SAi,adj)−Pd(i,0))/Pd(i,0)
空間的な温度均一化を実現するテストパターン系列20が得られたなら、次は、時間的な温度均一化を実現するように、テストパターン系列20を変形することが望ましい。以下、時間的温度均一化のためのテストパターン生成方法の一例について説明する。
Claims (8)
- スキャン設計された半導体集積回路のテストパターン生成方法であって、
ドントケアを含む複数のテストパターンからなる原テストパターン系列からテストパターンを順次選択するステップと、
前記半導体集積回路のレイアウト領域を略等分割した各領域について、前記選択したテストパターンにドントケア値を設定して当該テストパターンが前記半導体集積回路に印加された場合の消費電力を見積もるステップと、
前記選択したテストパターンについて、ドントケア値の変更および前記各領域の消費電力の見積もりを繰り返して、前記各領域の消費電力のばらつきが極小となるようなドントケア値を探索するステップと、
前記探索によって得られたドントケア値を前記選択したテストパターンのドントケア値として決定し、ドントケアを含まない複数のテストパターンからなる第1の新テストパターン系列を生成するステップとを備えている
ことを特徴とするテストパターン生成方法。 - 請求項1のテストパターン生成方法において、
前記第1の新テストパターン系列に含まれる各テストパターンが前記半導体集積回路に順次印加された場合の前記半導体集積回路の温度変化を見積もり、テスト時の前記半導体集積回路の時間的温度変動が小さくなるように前記第1の新テストパターン系列に含まれる各テストパターンの印加順序を並べ替えて第2の新テストパターン系列を生成するステップを備えている
ことを特徴とするテストパターン生成方法。 - 請求項2のテストパターン生成方法において、
前記第2の新テストパターン系列を生成するステップは、
前記第1の新テストパターン系列に含まれる各テストパターンが前記半導体集積回路に順次印加された場合の前記半導体集積回路の消費電力の平均値を見積もるステップと、
前記見積もった前記半導体集積回路の消費電力の平均値から、前記第1の新テストパターン系列が前記半導体集積回路に印加された場合の前記半導体集積回路の平均温度を見積もるステップと、
前記半導体集積回路の温度を前記見積もった平均温度に設定して前記半導体集積回路のテストが開始された場合に当該テスト終了時の前記半導体集積回路の温度が前記見積もった平均温度を基準とする所定の相対温度の範囲に収まるように、前記第1の新テストパターン系列を1または複数のテストパターンからなる複数のサブ系列に分割するステップと、
テスト時の前記半導体集積回路の時間的温度変動が小さくなるように前記サブ系列を並べ替えるステップとを有する
ことを特徴とするテストパターン生成方法。 - 請求項3のテストパターン生成方法において、
前記サブ系列を並べ替えるステップは、
前記半導体集積回路の温度を前記見積もった平均温度に設定して前記半導体集積回路のテストが開始されて第n番目までのサブ系列の印加が終わった場合の前記半導体集積回路の温度を見積もるステップと、
前記見積もった温度が前記所定の相対温度近傍にあるときには、第n+1番目のサブ系列として残りのサブ系列の中からより少ないテストパターンを含むものを選択し、それ以外のときにはより多くのテストパターンを含むものを選択するステップとを有する
ことを特徴とするテストパターン生成方法。 - コンピュータにスキャン設計された半導体集積回路のテストパターンを生成させるためのプログラムであって、
ドントケアを含む複数のテストパターンからなる原テストパターン系列からテストパターンを順次選択する手段、
前記半導体集積回路のレイアウト領域を略等分割した各領域について、前記選択したテストパターンにドントケア値を設定して当該テストパターンが前記半導体集積回路に印加された場合の消費電力を見積もる手段、
前記選択したテストパターンについて、ドントケア値の変更および前記各領域の消費電力の見積もりを繰り返して、前記各領域の消費電力のばらつきが極小となるようなドントケア値を探索する手段、
前記探索によって得られたドントケア値を前記選択したテストパターンのドントケア値として決定し、ドントケアを含まない複数のテストパターンからなる第1の新テストパターン系列を生成する手段、
としてコンピュータを機能させるためのプログラム。 - 請求項5のプログラムにおいて、
前記第1の新テストパターン系列に含まれる各テストパターンが前記半導体集積回路に順次印加された場合の前記半導体集積回路の温度変化を見積もり、テスト時の前記半導体集積回路の時間的温度変動が小さくなるように前記第1の新テストパターン系列に含まれる各テストパターンの印加順序を並べ替えて第2の新テストパターン系列を生成する手段、
としてコンピュータを機能させるためのプログラム。 - コンピュータにスキャン設計された半導体集積回路のテストパターンを生成させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、
ドントケアを含む複数のテストパターンからなる原テストパターン系列からテストパターンを順次選択する手段、
前記半導体集積回路のレイアウト領域を略等分割した各領域について、前記選択したテストパターンにドントケア値を設定して当該テストパターンが前記半導体集積回路に印加された場合の消費電力を見積もる手段、
前記選択したテストパターンについて、ドントケア値の変更および前記各領域の消費電力の見積もりを繰り返して、前記各領域の消費電力のばらつきが極小となるようなドントケア値を探索する手段、
前記探索によって得られたドントケア値を前記選択したテストパターンのドントケア値として決定し、ドントケアを含まない複数のテストパターンからなる第1の新テストパターン系列を生成する手段、
としてコンピュータを機能させるためのプログラムを記録した記録媒体。 - 請求項7の記録媒体において、
前記第1の新テストパターン系列に含まれる各テストパターンが前記半導体集積回路に順次印加された場合の前記半導体集積回路の温度変化を見積もり、テスト時の前記半導体集積回路の時間的温度変動が小さくなるように前記第1の新テストパターン系列に含まれる各テストパターンの印加順序を並べ替えて第2の新テストパターン系列を生成する手段、
としてコンピュータを機能させるためのプログラムを記録した記録媒体。
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