JP5837324B2 - 密度トレース発生方法及び試験測定機器 - Google Patents

Description

本発明は、試験測定機器、特に、周波数領域ビットマップ用の密度測定に関する。

本出願人のテクトロニクス社製ＲＳＡ６１００シリーズ及びＲＳＡ３４００シリーズの如き実時間スペクトラム・アナライザは、ＲＦ信号を実時間でトリガし、捕捉し、分析する。これら試験測定機器は、ＲＦ信号をシームレスに捕捉するので、従来の掃引型スペクトラム・アナライザ及びベクトル信号アナライザと異なり、特定の帯域幅内でデータを逃すことがない。

図１は、従来の実時間スペクトラム・アナライザのブロック図を示す。実時間スペクトラム・アナライザ１００は、無線周波数（ＲＦ）入力信号を受け、オプションとして、ミキサ１０５、局部発振器（ＬＯ）１１０及びフィルタ１１５を用いて、ＲＦ入力信号をダウン・コンバージョンして、中間周波数（ＩＦ）信号を発生する。アナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ）１２０は、ＩＦ信号をデジタル化して、デジタル・サンプルの連続ストリームを発生する。これらデジタル・サンプルを循環バッファ１２５に入力すると共に、トリガ検出器１３０にも入力する。トリガ検出器１３０は、デジタル・サンプルを実時間で処理し、処理済みサンプルをユーザ指定トリガしきい値と比較する。処理済みサンプルがトリガしきい値を違反すると、トリガ検出器１３０は、トリガ信号を発生する。このトリガ信号により、取込みメモリ１３５は、循環バッファ１２５に保持されたデジタル・サンプルを蓄積する。なお、「トリガしきい値に違反」とは、ユーザ指定パラメータに基づいて、処理済みサンプルがトリガしきい値を「超える」か、又はトリガしきい値「未満」であることを意味する。蓄積されたデジタル・サンプルを後（ポスト）分析プロセッサ（post-analysis processor）１４０により分析し、その結果を表示器１４５に表示するか、又は蓄積装置（図示せず）に蓄積できる。

テクトロニクス社の実時間スペクトラム・アナライザは、「デジタル・フォスファ」又は「ＤＰＸ（登録商標）」と呼ばれる技術を用いている。ＤＰＸを可能（イネーブル）にした実時間スペクトラム・アナライザは、連続時間プロセッサ（continuous-time processor）１５０を用いて、ＡＤＣ１２０からのデジタル・サンプルの連続ストリームを実時間で処理し、その結果を表示器１４５に表示する。図２は、図１に示す連続時間プロセッサ１５０の機能ブロック図である。連続時間プロセッサ１５０は、高速フーリエ変換（ＦＦＴ）、チャープＺ変換などの如き周波数変換手段２０５を用いて、デジタル・サンプルの連続ストリームを数千のスペクトラム２１０に刻々と変換する。次に、スペクトラム２１０を組合せて、「ビットマップ・データベース」２２０と呼ばれるデータ構造を形成する。一例において、各スペクトラム２１０がラスタ化されて、「ラスタ化スペクトラム」２１５を発生する。ラスタ化スペクトラムは、一連の行及び列に配置されたセルの配列を具え、各行が特定の振幅値を示し、各列が特定の周波数値を示す。各セルの値は、「１」又は「０」である。「１」は、「ヒット」と呼ばれ、測定期間中に振幅対周波数空間の特定場所に入力信号が存在したことを示す。「０」は、図において、ブランクのセルとして示し、入力信号が存在しないことを示す。ラスタ化スペクトラム２１５の対応セルの値を互いに加算して、ビットマップ・データベース２２０を形成する。次に、ビットマップ・データベース２２０の各セルの値をラスタ化スペクトラム２１５の総数で除算するので、これは、測定期間中のヒットの総数をラスタ化スペクトラム２１５の総数での除算することを示すか、又は、振幅対周波数空間内の特定場所を入力信号が占めた時間の測定期間における百分率と等化であり、「ＤＰＸ密度（DPX Density）」（商標）と呼ばれる。ラスタ化スペクトラム２１５及びビットマップ・データベース２２０が図示されるが、図を簡単にするために１０行及び１１列とする。しかし、特定例において、ラスタ化スペクトラム２１５及びビットマップ・データベース２２０は、数百の列及び行を有してもよいことが理解できよう。ビットマップ・データベース２２０は、本質的には、３次元ヒストグラムであり、ｘ軸が周波数で、ｙ軸が振幅で、ｚ軸が密度である。ビットマップ・データベース２２０は、表示器１４５上で「ビットマップ」と呼ばれるイメージとして表示され、各セルの密度を色グレードのピクセルで表す。代わりに、ビットマップ・データベース２２０を蓄積装置（図示せず）に蓄積してもよい。ＤＰＸ取込み及び表示技術は、従来のスペクトラム・アナライザ及びベクトル信号アナライザが完全に捕捉できない短期間のイベント又は希のイベントの如き信号の細部を示す。ＤＰＸに関するより詳細な情報は、テクトロニクス社が２００９年８月２０日に発行した技術情報文献「DPX Acquisition Technology for Spectrum Analyzers Fundamentals（スペクトラム・アナライザ用ＤＰＸ取込み技術の基本）」に記載されている。

ＤＰＸ機能を与えた実時間スペクトラム・アナライザは、「密度測定」又はその代わりに「占有測定」と呼ばれる測定機能を有する。占有測定は、振幅対周波数空間内の特定場所を入力信号が占める時間の測定期間に対する百分率を示す。ユーザは、ビットマップの単一のピクセルの占有を測定できるか、又は、代わりに、ユーザは、多数のピクセルを取り囲むビットマップ内の特定の矩形領域内での占有を測定できる。ピクセルの密度は、そのピクセルのヒットの数を、ピクセルを発生するのに用いるスペクトラムの数で除算した値に等しく、次のようになる。
［ピクセルの密度］＝［ヒットの数］／［スペクトラムの数］

例えば、１００個のスペクトラムを処理した後に特定ピクセルが１つのヒットを含んでいれば、そのピクセルの密度は、１／１００＝１％に等しい。

矩形領域内の密度は、その領域内の全ピクセルの密度の和をその領域でくくられた列の数で除算した値に等しく、次のようになる。
［領域の密度］＝［領域内の全ピクセルの密度の和］／［領域でくくられた列の数］

例えば、領域が全部で９ピクセルの３行及び３列を含み、各ピクセルの密度が１％ならば、その領域の密度は、［９×１％］／３＝３％となる。図３は、かかる占有測定を有するビットマップ３００を示す。実際のビットマップの一層現実的な描写を提供するために、図において、ビットマップ３００を数百の行及び列として表し、グリッドラインを示さず、ビットマップ３００のカラー・グレーディングをグレースケールとして表し、グレーのより暗い影は、信号がよりしばしば現れることを示す。占有測定は、矩形３０５内に検出された信号エネルギーが、収集されたデータの時間の６２．６１４％であることを示す。占有測定に関する詳細な情報は、２００９年３月１３日に出願された米国特許出願第６１／１６０２１６号「周波数領域ビットマップでの占有測定及びトリガ」（特開２０１０-２１７１８１号公報に対応）に記載されている。

特開２０１０-２１７１８１号公報

Tektronix, Inc. 2009年発行の「DPX Acquisition Technology for Spectrum Analyzers Fundamentals」、インターネット＜URL:http://www2.tek.com/cmsreplive/tirep/4540/37W_19638_4_2010.12.30.12.30.40_4540_EN.pdf＞

上述の従来の密度測定は、振幅対周波数空間の限られた数の領域内で信号占有を測定するのに有用であるが、ビットマップの全ての列での占有測定をユーザが望む場合には便利ではない。

従来の密度測定の他の欠点は、ある機器又はコンピュータから他に密度データを迅速に伝送することが困難であった。従来の方法は、ビットマップ・データベースをファイルにセーブし、その全体のファイルを伝送している。この方法は判りやすいが、ファイルのサイズが非常に大きいため、一般的に利用可能な伝送方法を用いたのでは、ファイルを実時間で伝送できない。

そこで、多くの列に対する占有を効果的に定義し且つ表現できる方法が望まれている。また、一般的に利用可能な伝送方法を用いて、ある機器又はコンピュータから他に密度データを迅速に伝送する方法も望まれている。

本発明の概念は、次の通りである。
（１）アナログ信号をデジタル化し、複数のデジタル・サンプルを発生し；該複数のデジタル・サンプルを複数のスペクトラムに変換し；該複数のスペクトラムを組合せてビットマップ・データベースを発生し、該ビットマップ・データベースが行及び列の配列に配置された複数のセルを有し、該セルの各々の値が密度を示し；複数のポイントを有する密度トレースを計算し、関連振幅しきい値よりも上の上記ビットマップ・データベースの１つ以上の列の上記密度を、上記ポイントの各々の値が表す密度トレース発生方法。
（２）上記関連振幅しきい値よりも上のビットマップ・データベースの１つ以上の列の密度が、上記関連振幅しきい値よりも上の上記ビットマップ・データベースの１つ以上の列内の全てのセルの密度の和を１つ以上の列内の全てのセルの密度の和で除算した値に等しい概念１の密度トレース発生方法。
（３）上記組合せステップは；上記複数のスペクトラムをラスタ化して、複数のラスタ化スペクトラムを発生し、各ラスタ化スペクトラムが、行及び列の配列内に配置された複数のセルを有し；上記ラスタ化素ペン各々の対応セルの値を加算して、上記ビットマップ・データベースを形成し；上記ビットマップ・データベースの各セルの値をスペクトラムの総数で除算して密度を示す概念１の密度トレース発生方法。
（４）概念１の方法によって密度トレースを発生し；上記密度トレースの任意のポイントが関連した密度しきい値に違反したときに、トリガ信号を発生し；上記トリガ信号に応答して複数のデジタル・サンプルをメモリに蓄積するデジタル・サンプル取込み方法。
（５）上記関連した密度しきい値が密度値のレンジを有する概念４のデジタル・サンプル取込み方法。
（６）上記発生ステップは、上記密度トレースの値が上記密度値のレンジ内の時に上記トリガ信号を発生する概念５のデジタル・サンプル取込み方法。
（７）上記発生ステップは、上記密度トレースのポイントの値が上記密度値のレンジ外の時に上記トリガ信号を発生する概念５のデジタル・サンプル取込み方法。
（８）トリガ信号を発生するステップは、上記密度トレースが上記関連密度しきい値を違反する時間長を測定し；特定のパラメータに応じて、上記時間長が特定時間値よりも短い時か、長い時か又は等しい時に上記トリガ信号を発生する概念４のデジタル・サンプル取込み方法。
（９）アナログ信号をデジタル化して、デジタル・サンプルの連続ストリームを発生するアナログ・デジタル変換器と；上記デジタル・サンプルの連続ストリーム処理して、密度トレースを発生する連続時間プロセッサとを具え；該連続時間プロセッサは；上記複数のデジタル・サンプルを複数のスペクトラムに変換し；該複数のスペクトラムを組合せて、行及び列の配列に配置された複数のセルを有し該セル各々の値が密度を示すビットマップ・データベースを発生し；複数のポイントを有する密度トレースを計算し；関連振幅しきい値よりも上の上記ビットマップ・データベースの１つ以上の列の上記密度を上記ポイントの各々の値が表すことを特徴とする試験測定機器。
（１０）上記密度トレースを表示する表示器を更に具える概念９の試験測定機器。
（１１）上記密度トレースを蓄積する蓄積装置を更に具える概念９の試験測定機器。
（１２）アナログ信号をデジタル化して、デジタル・サンプルの連続ストリームを発生するアナログ・デジタル変換器と；上記デジタル・サンプルの連続ストリームを受け、トリガ信号を発生するトリガ検出器と；上記トリガ信号に応答して上記複数のデジタル・サンプルを蓄積するメモリとを具え；上記トリガ検出器は；上記複数のデジタル・サンプルを複数のスペクトラムに変換し；該複数のスペクトラムを組合せて、行及び列の配列に配置された複数のセルを有し該セル各々の値が密度を示すビットマップ・データベースを発生し；関連振幅しきい値よりも上の上記ビットマップ・データベースの１つ以上の列の上記密度を各々の値が表す複数のポイントを有する密度トレースを計算し；上記密度トレースのポイントが関連密度しきい値を違反したときに上記トリガ信号を発生することを特徴とする試験測定機器。
（１３）上記トリガ検出器は；上記密度トレースが上記関連密度しきい値に違反する時間長を測定し；上記時間長が特定パラメータに応じて上記時間長が特定時間値よりも短い時か、長い時か又は等しい時に上記トリガ信号を発生する概念１２の試験測定機器。

よって、本発明の実施例による「密度トレース」は、ユーザ指定の「振幅しきい値」よりも上の周波数領域ビットマップの各列の密度を測定することにより、形成される。各列の密度は、振幅しきい値よりも上の列内の全ピクセルの密度の和を、列内の全ピクセルの密度の和で除算した値に等しい。密度トレースは、多数の列に対する占有を定義し表す便利な方法を提供し、ある機器又はコンピュータから他に迅速に密度データを伝送できる。実施例において、密度トレースは、試験測定機器のトリガ検出器に組み込まれ、この密度トレースを用いてトリガ信号を発生する。トリガ検出器は、密度トレースをユーザ指定「密度しきい値」と比較し、密度トレースの任意のポイントの値が密度しきい値に違反したときにトリガ信号を発生する。

本発明の目的、利点及びその他の新規な特徴は、添付図を参照した以下の説明から明らかになろう。

本発明にも用いる従来の実時間スペクトラム・アナライザのブロック図である。 図１に示す連続時間プロセッサの機能ブロック図である。 従来の占有測定を有するビットマップを示す図である。 本発明の実施例による振幅しきい値を有するビットマップを示す図である。 本発明の実施例による密度トレースを示す図である。 本発明の他の実施例による密度トレースを示す図である。 本発明の実施例によるトリガ検出器の機能ブロック図である。 本発明の実施例による振幅マスクを有するビットマップを示す図である。 本発明の実施例による密度マスクを有する密度トレースを示す図である。

本発明は、図１に示す従来の実時間スペクトラム・アナライザと同様の構成を用いており、ＲＦ信号の取込みは従来と同じであるが、取り込んだ信号の処理が従来と異なる点に留意されたい。よって、以下の説明では、図１に示す実時間スペクトラム・アナライザで上述のように取り込んだデータ・サンプルの処理について説明する。図４を参照して、本発明の実施例による「密度トレース」の計算方法を説明する。ユーザ指定「振幅しきい値」４２０よりも上のビットマップ４００の各列の密度を測定することにより、密度トレースを形成する。各列の密度は、振幅しきい値よりも上の列での全ピクセルの密度の和を、その列の全ピクセルの密度の和で除算した値に等しく、次のようになる。
［列の密度］＝［振幅しきい値よりも上の列内の全ピクセルの密度の和］／［列内の全ピクセルの密度の和］

例えば、ビットマップ４００の特定列が１００ピクセルを有し、その内の９０ピクセルが振幅しきい値４２０よりも上で、その列の各ピクセルの密度が１％であると、その列の密度は、［９０×１％］／［１００×１％］＝９０％となる。

密度は、ヒットの総数をスペクトラムの総数で除算した値に等しいので、振幅しきい値よりも上の列の密度は、振幅しきい値よりも上の列の全ピクセル内に含まれるヒットの数を、それを発生するのに用いたスペクトラムの数で除算した値として等価的に定義でき、次のようになる。
［列の密度］＝［振幅しきい値よりも上の列内の全ピクセル内のヒットの数］／［スペクトラムの数］

例えば、１００スペクトラムを処理した後に、ビットマップ４００の特定の列が１００ピクセルを有し、その９０ピクセルが振幅しきい値４２０よりも上で、この列内のこれらピクセルの各々が１ヒットを含んでいると、その列の密度は、９０／１００＝９０％に等しくなる。

密度測定は、ビットマップ４００の各列に対して実行する。密度測定の結果の一組は、図５に示すように、密度対周波数のグラフ５００として表示できる。測定した密度は、場所５０５にて低く、場所５１０にて高く、場所５１５にて更に高い。この理由は、図４に示すように、測定期間中、振幅しきい値４２０を超した信号は、場所４０５にて少なく、場所４１０にて多く、場所４１５にてより多いためである。

密度トレースに必要とされるデータ量は、完全なビットマップ・データベースよりも非常に少ない。その理由は、各列の各行に１つの値の代わりに、各列に１つの値のみが必要なためである。すなわち、密度トレースは、密度データを蓄積するのに要する次元の数を減らす。例えば、２００行２００列を有するビットマップ・データベースは、２００×２００＝４００００個の値を必要とするが、同じビットマップ・データベースに対する密度トレースは、わずか２００個の値、即ち、ビットマップ・データベースの値の０．５％を必要とするだけである。密度トレースは、非常に少ないデータでよいので、商用のデータ・バスを介して非常に高速に密度トレースを伝送できる。

密度トレースの実際的なアプリケーションの１つは、「チャネル占有」と呼ばれる通信チャネルが占める時間の百分率を測定することである。掃引スペクトラム・アナライザ及びベクトル信号アナライザを用いる測定チャネルの従来の方法は、データ取込みが連続的でないという欠点を受けるので、掃引又は取込みの間の時間に信号イベントが生じると、これら信号イベントを逃してしまう。一方、実時間スペクトラム・アナライザからの密度トレースに基づくチャネル占有測定は、シームレスなデータ捕捉に基づいているので、最短期間条件に合う信号に対してデータを逃すことがない。

ビットマップの各列の占有をレポートするのではなく、密度トレースが、「ビン」と呼ばれる多数の隣接する列の占有をレポートする。多数の連続した列を単一のビンに組合せると、レポートされた複合の占有値は、含まれた列の占有値の最大か、含まれた列の占有値の平均か、又は他の任意の測定値である。例えば、図６は、密度トレース６００を示し、図５の列の全てが７つのビンで表され、各ビンは、含まれる占有値の最大を示す。例えば、１つのビン当たりの数を指定したり、スタート周波数及びストップ周波数の観点から「チャネル」を特定したりして、ユーザは、列対ビンのマッピングを種々の方法で指定できる。これらの種類の密度トレースの伝送は、一層高速である。その理由は、ファイル又はデータ・ストリームに少ないデータ・ポイントしかないためである。

本発明の要旨を逸脱することなく、密度トレースに種々の変更を適用できることが理解できよう。例えば、図５に示すライン・グラフ、図６に示す列チャートなどの如き任意のプロット・スタイルにより密度トレースを表示できる。密度トレースのビンを図６に示すように互いに直接的に隣接する必要はなく、ビンの間に周波数ギャップが存在するか、代わりに、ビンが周波数的に重なっても良い。密度トレースのビンを等間隔にする必要はなく、間隔を不均一としても良い。密度トレースのビンを等しい幅にする必要はなく、異なる幅としても良い。

密度トレースは、測定として有用なだけではなく、試験測定機器のトリガ検出器に組み込んで、トリガ信号を発生できることが理解できよう。例えば、図７に示すように、トリガ検出器７００は、周波数変換手段（ＦＦＴ）７０５を用いて、ＡＤＣからのデジタル・サンプルの連続ストリームを数千のスペクトラム７１０に刻々と変換する。例えば、各スペクトラム７１０をラスタ化してラスタ化スペクトラム７１５を発生し、ラスタ化スペクトラム７１５の対応セルの値を互いに加算してビットマップ・データベース７２０を形成し、ビットマップ・データベース７２０の各セルの値を分割してその値が密度を表すようにすることにより、スペクトラム７１０を組合せてビットマップ・データベース７２０を形成する。振幅しきい値７２５より上のビットマップ７２０の各列の密度を測定して、密度トレース７３０を発生する。密度トレース７３０をユーザ指定「密度しきい値」７３５と比較する。密度トレース７３０の任意のポイントの値が密度しきい値７３５を違反すると、トリガ信号が発生して、試験測定機器は、デジタル・サンプルをメモリに蓄積できる。

他の実施例において、トリガ検出器７００は、密度トレース７３０が密度しきい値７３５に違反した時間長を測定する１つ以上の時間クオリファイア（図示せず）を具えている。この時間長がユーザ指定パラメータに応じて、ユーザ指定時間値よりも短いか、長いか、又は等しいと、トリガ信号を発生する。

図４に示すように、ビットマップの全ての列に対して単一の振幅しきい値を用いることを特定するよりは、ユーザは、周波数対振幅のグラフ８００である図８に示すように、ユーザは、各列（場所８０５、８１０、８１５など）に対して異なる振幅しきい値８２０を特定できる。これは、いくつかの列においてノイズ・フロアが他の列よりも高い場合に有用である。更に、振幅しきい値をビットマップの全ての列に適用するように特定する代わりに、ユーザは、列の単一又は複数のサブセットのみに振幅しきい値を適用するように、ユーザが特定できる。

同様に、図７に示すように、密度トレースの全てのポイントに対して単一の密度しきい値を用いるように特定するよりはむしろ、周波数対密度のグラフである図９に示すように、各ポイント９０５、９１０、９１５などに対して異なる密度しきい値９２０をユーザが特定できる。更に、密度トレースの全てのポイントに密度しきい値を適用するように特定する代わりに、ポイントの単一又は複数のサブセットのみの密度しきい値を適用するようにユーザが特定できる。更に、密度しきい値を単一の密度値で構成するように特定する代わりに、密度しきい値を密度値のレンジで構成するようにユーザが特定できる。すなわち、測定密度が密度値のレンジ内に入ったときに、トリガ信号を発生するようにユーザが特定できる。代わりに、測定密度が密度値のレンジの外になったときに、トリガ信号を発生するように、ユーザが特定できる。

振幅しきい値よりも上の列の密度の特定の定義について上述したが、種々の他の実施例において、ほぼ類似の結果を得るのに他の定義を用いてもよいことが明らかである。更に他の実施例において、振幅しきい値よりも上の列の密度を、振幅しきい値よりも上の列の全てのピクセルの密度値の和、振幅しきい値よりも上の列の全てのピクセルの平均密度値、振幅しきい値よりも上の列の全てのピクセルの最大密度などとして定義してもよい。

ビットマップのピクセルを測定することに関して実施例を説明したが、ビットマップの各ピクセルがビットマップ・データベースのセルを表すので、これは、ビットマップ・データベースのセルを測定することと等価であるとみなせることが理解できよう。

上述では多くのパラメータを「ユーザ指定」として説明したが、代わりにこれらパラメータを試験測定機器が自動的に決定してもよいことが明らかである。

種々の実施例において、後分析プロセッサ１４０及び連続時間プロセッサ１５０は、ハードウェア、ソフトウェア又はこれら２つの組合せにより実現できるし、汎用プロセッサ、デジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ）、用途限定集積回路（ＡＳＩＣ）、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）などで構成できる。

図示し上述した実施例は、本発明を実時間スペクトラム・アナライザに用いたが、掃引型スペクトラム・アナライザ、信号アナライザ、ベクトル信号アナライザ、オシロスコープなどの周波数領域信号を測定する種々の試験測定機器で都合よく本発明を利用できることが明らかである。

本発明は、周波数領域ビットマップ用の密度測定の分野で顕著な効果を奏することが上述から明らかである。単なる説明のために本発明の特定の実施例を図示し説明したが、本発明の要旨を逸脱することなく種々の変更を可能なことが理解できよう。

１００ 実時間スペクトラム・アナライザ
１０５ ミキサ
１１０ 局部発振器
１１５ フィルタ
１２０ アナログ・デジタル変換器
１２５ 循環バッファ
１３０ トリガ検出器
１３５ 取込みメモリ
１４０ 後分析プロセッサ
１４５ 表示器
１５０ 連続時間プロセッサ
２０５ 周波数変換手段
２１０ スペクトラム
２１５ ラスタ化スペクトラム
２２０ ビットマップ・データベース
３００ ビットマップ
３０５ 矩形
４００ ビットマップ
４２０ 振幅しきい値
５００ 密度対周波数のグラフ
６００ 密度トレース
７００ トリガ検出器
７０５ 周波数変換手段
７１０ スペクトラム
７１５ ラスタ化スペクトラム
７２０ ビットマップ・データベース

Claims (4)

1. アナログ信号をデジタル化し、複数のデジタル・サンプルを発生するステップと、
   該複数のデジタル・サンプルを複数のスペクトラムに変換するステップと、
   該複数のスペクトラムを組合せて、行及び列の配列に配置された複数のセルを有し、該セルの各々の値が密度を示すビットマップ・データベースを発生するステップと、
   上記ビットマップ・データベースの１つ以上の上記列において、関連する振幅しきい値よりも上にある上記密度の値を各々が示す複数のポイントを有する密度トレースを計算するステップと
   を具える密度トレース発生方法。
2. アナログ信号をデジタル化し、複数のデジタル・サンプルを発生するステップと、
   該複数のデジタル・サンプルを複数のスペクトラムに変換するステップと、
   該複数のスペクトラムを組合せて、行及び列の配列に配置された複数のセルを有し、該セルの各々の値が密度を示すビットマップ・データベースを発生するステップと、
   上記ビットマップ・データベースの１つ以上の上記列において、関連する振幅しきい値よりも上にある上記密度の値を各々が示す複数のポイントを有する密度トレースを計算するステップと、
   上記密度トレースの任意のポイントが、関連する密度しきい値に違反したときに、トリガ信号を発生するステップと、
   上記トリガ信号に応答して上記複数のデジタル・サンプルをメモリに蓄積するステップと
   を具えるデジタル・サンプル取込み方法。
3. アナログ信号をデジタル化して、デジタル・サンプルの連続ストリームを発生するアナログ・デジタル変換器と、
   上記デジタル・サンプルの連続ストリーム処理して、密度トレースを発生する連続時間プロセッサとを具え、
   該連続時間プロセッサが、
   上記複数のデジタル・サンプルを複数のスペクトラムに変換する手段と、
   該複数のスペクトラムを組合せて、行及び列の配列に配置された複数のセルを有し、該セル各々の値が密度を示すビットマップ・データベースを発生する手段と、
   上記ビットマップ・データベースの１つ以上の上記列において、関連する振幅しきい値よりも上にある上記密度の値を各々が示す複数のポイントを有する上記密度トレースを計算する手段と
   を有する試験測定機器。
4. アナログ信号をデジタル化して、デジタル・サンプルの連続ストリームを発生するアナログ・デジタル変換器と、
   上記デジタル・サンプルの連続ストリームを受け、トリガ信号を発生するトリガ検出器と、
   上記トリガ信号に応答して上記複数のデジタル・サンプルを蓄積するメモリとを具え、
   上記トリガ検出器が、
   上記複数のデジタル・サンプルを複数のスペクトラムに変換する手段と、
   該複数のスペクトラムを組合せて、行及び列の配列に配置された複数のセルを有し、該セル各々の値が密度を示すビットマップ・データベースを発生する手段と、
   上記ビットマップ・データベースの１つ以上の上記列において、関連する振幅しきい値よりも上にある上記密度の値を各々が示す複数のポイントを有する密度トレースを計算する手段と、
   上記密度トレースの任意のポイントが関連する密度しきい値に違反したときに上記トリガ信号を発生する手段と
   を有する試験測定機器。

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