JP5835627B2 - Circuit equipment - Google Patents
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Description
本発明は、回路装置に関し、特に非同期の複数のクロックを用いて動作する回路装置に関する。 The present invention relates to a circuit device, and more particularly to a circuit device that operates using a plurality of asynchronous clocks.
従来、SDH(Synchronous Digital Hierarchy)/SONET(Synchronous Optical NETwork)/ETHERNET(登録商標)の信号を伝送する伝送装置では、1つのASIC(Application Specific Integrated Circuit)でSDH/SONET系、ETHERNET系、制御系など複数の系が動作している。これらの系は動作周波数が異なるため、ASICには周波数の異なる複数のクロックが入力されている(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, in a transmission apparatus that transmits SDH (Synchronous Digital Hierarchy) / SONET (Synchronous Optical NETwork) / ETHERNET (registered trademark) signals, an SDH / SONET system, an ETHERNET system, and a control system using one application specific integrated circuit (ASIC) Several systems are operating. Since these systems have different operating frequencies, a plurality of clocks having different frequencies are input to the ASIC (see, for example, Patent Document 1).
通常、ASICは、クロック断検出回路を用いて入力クロックの異常を検出しているが、クロック断検出回路は、数クロックにわたって断状態が継続しないと異常を検出することが難しい。また、クロックの瞬断や、クロックの瞬間的な周波数異常を検出する周波数監視回路は回路的な規模が大きいので、それぞれの入力クロックに対する周波数監視回路をASIC内に設けることは難しい。 Normally, the ASIC detects an abnormality of the input clock using a clock interruption detection circuit, but it is difficult for the clock interruption detection circuit to detect an abnormality unless the interruption state continues for several clocks. In addition, since the frequency monitoring circuit for detecting an instantaneous interruption of a clock or an instantaneous frequency abnormality of the clock has a large circuit scale, it is difficult to provide a frequency monitoring circuit for each input clock in the ASIC.
本発明はこうした状況に鑑みてなされたものであり、その目的は、非同期の複数のクロックを用いて動作する制御回路において、クロックの異常を容易に検出できる技術を提供することにある。 The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a technique capable of easily detecting a clock abnormality in a control circuit that operates using a plurality of asynchronous clocks.
上記課題を解決するために、本発明のある態様の回路装置は、第1周波数の第1クロックと、第1周波数より高く且つ非同期である第2周波数の第2クロックとを受信する受信部と、第1クロックの1つのハイレベル期間またはローレベル期間における第2クロックの立ち上がりまたは立ち下がりエッジをカウントするカウント部と、カウント部のカウント値に基づいて第1クロックおよび/または第2クロックの異常を検出する異常検出部と、を備える。 In order to solve the above problem, a circuit device according to an aspect of the present invention includes a receiving unit that receives a first clock having a first frequency and a second clock having a second frequency that is higher than the first frequency and asynchronous. A counting unit that counts rising or falling edges of the second clock in one high level period or low level period of the first clock, and an abnormality in the first clock and / or the second clock based on the count value of the counting unit And an abnormality detection unit for detecting.
なお、以上の構成要素の任意の組合せ、本発明の表現を装置、方法、システム、プログラム、プログラムを格納した記録媒体などの間で変換したものもまた、本発明の態様として有効である。 It should be noted that any combination of the above-described constituent elements and a representation of the present invention converted between an apparatus, a method, a system, a program, a recording medium storing the program, etc. are also effective as an aspect of the present invention.
本発明によれば、非同期の複数のクロックを用いて動作する制御回路において、クロックの異常を容易に検出することができる。 According to the present invention, it is possible to easily detect a clock abnormality in a control circuit that operates using a plurality of asynchronous clocks.
以下、図面を参照しつつ、本発明の実施形態について説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
図1は、本発明の実施形態に係るASIC10が搭載されたパッケージ100の構成を示す。このパッケージ100は、シェルフ(図示せず)のスロットに挿入され、主信号処理を行う。例えば、パッケージ100は、クライアント回線から入力されたETHERNET信号を処理し、SDH/SONET信号として出力するパッケージであってよい。
FIG. 1 shows a configuration of a
パッケージ100は、主信号を処理するASIC10と、ASIC10に動作クロックを供給する第1発振器21および第2発振器22とを備える。
The
第1発振器21は、第1周波数f1(Hz)の第1クロックCLK1とをASIC10に供給する。第2発振器22は、第2周波数f2(Hz)の第2クロックCLK2をASIC10に供給する。第1クロックCLK1と第2クロックCLK2は、非同期である。第2クロックCLK2の第2周波数f2は、第1クロックCLK1の第1周波数f1よりも高い。例えばASIC10がETHERNET信号とSDH/SONET信号を処理する場合、第1発振器21は、SDH/SONET信号の処理用として第1周波数f1=155MHzの第1クロックCLK1を供給し、第2発振器22は、ETHERNET信号の処理用として第2周波数f2=200MHzの第2クロックCLK2を供給する。
The
ASIC10は、受信部11と、カウント部12と、異常検出部13と、警報部14と、リセット部15と、主信号処理部20とを備える。
The ASIC 10 includes a
受信部11は、第1発振器21からの第1クロックCLK1と、第2発振器22からの第2クロックCLK2とを受信する。
The
カウント部12は、第1クロックCLK1の1つのハイレベル期間における第2クロックの立ち上がりエッジをカウントする。カウント部12のカウント値mは、異常検出部13に送られる。
The
異常検出部13は、カウント部12のカウント値mに基づいて第1クロックCLK1および/または第2クロックCLK2の異常を検出する。より具体的には、異常検出部13は、カウント部12のカウント値mが第1周波数f1および第2周波数f2により定まる所定値でない場合、第1クロックCLK1および/または第2クロックCLK2に異常が発生したと判定する。
The
警報部14は、異常検出部13により第1クロックCLK1および/または第2クロックCLK2の異常が検出された場合、上位装置に警報を発出する。
The
リセット部15は、異常検出部13により第1クロックCLK1および/または第2クロックCLK2の異常が検出された場合、ASIC10をリセットする。第1クロックCLK1および/または第2クロックCLK2に瞬断などの異常が発生した場合、ASIC10がデットロック状態となるおそれがある。このような場合にリセット部15によりASIC10をリセットすることで、デットロック状態が長時間続くのを回避できる。
The
主信号処理部20は、外部から入力された主信号に所定の処理を施した後、出力する。例えば、主信号処理部20は、入力されたETHERNET信号を処理し、SDH/SONET信号として出力するものであってよい。主信号処理部20は、受信部11で受信した第1クロックCLK1および第2クロックCLK2を動作クロックとして主信号処理を行う。
The main
図2は、本実施形態に係るASIC10の動作を説明するための図である。図2に示すように、カウント部12は、第1クロックCLK1の1つのハイレベル期間における第2クロックの立ち上がりエッジをカウントする。第1クロックCLK1と第2クロックCLK2とが非同期であっても、第1周波数f1および第2周波数f2は各発振器で決まっているので、カウント部12のカウント値mは第1周波数f1および第2周波数f2により定まる所定値となる。従って、カウント部12のカウント値mが所定値となっていれば第1クロックCLK1および第2クロックCLK2に瞬断等の異常が発生していないと判定できる。一方、カウント部12のカウント値mが所定値となっていない場合、第1クロックCLK1および/または第2クロックCLK2に瞬断等の異常が発生していると判定できる。
FIG. 2 is a diagram for explaining the operation of the
図3は、カウント部12のカウント値mを説明するための図である。本実施形態では、第1クロックCLK1と第2クロックCLK2は非同期であるので、図3に示すように第1クロックCLK1の立ち上がりエッジのタイミングと第2クロックCLK2の立ち上がりエッジのタイミングが一致することがある。このような場合、第2クロックCLK2の立ち上がりエッジで第1クロックCLK1のレベルが不定となる。すなわち、第2クロックCLK2の立ち上がりエッジで第1クロックCLK1がハイレベルであるかローレベルであるか判定できない。同様のことが、第1クロックCLK1の立ち下がりエッジのタイミングと第2クロックCLK2の立ち上がりエッジのタイミングが一致した場合にも起こる。従って、第1クロックCLK1と第2クロックCLK2の位相関係によって、カウント部12のカウント値mは増減する。
FIG. 3 is a diagram for explaining the count value m of the
そこで、本実施形態に係るASIC10においては、以下のようにクロックの異常判定を行う。まず、異常検出部13は、f2/f1−1(小数点以下切り捨て)を算出する(これをXとする)。そして、異常検出部13は、レベル不定領域に起因するカウント値mの増減を考慮して、カウント値mがX,X−1,X+1のいずれかである場合、第1クロックCLK1および第2クロックCLK2が正常であると判定する。一方、異常検出部13は、カウント値mがカウント値mがX,X−1,X+1のいずれかでない場合、第1クロックCLK1および/または第2クロックCLK2に異常が発生したと判定する。このような判定方法を用いることにより、クロック異常の判定精度を向上できる。
Therefore, in the
但し、第1周波数f1と第2周波数f2が近い場合、第1クロックCLK1の1つのハイレベル期間にカウントできる第2クロックCLK2の立ち上がりエッジ数が制限されるので、上記の判定方法ではクロック異常を判定できない可能性がある。この点について以下説明する。 However, when the first frequency f1 and the second frequency f2 are close, the number of rising edges of the second clock CLK2 that can be counted in one high level period of the first clock CLK1 is limited. Judgment may not be possible. This point will be described below.
図4(a)および(b)は、1<f2/f1<2であるときの第1クロックCLK1および第2クロックCLK2を示す。ここでは、第1周波数f1=155MHz、第2周波数f2=200MHzとする。この場合、f2/f1−1=200/155−1≒0.2903となるので、小数点以下を切り捨てると、X=0となる。従って、上記の判定方法では、カウント値mが−1,0,1のいずれかとなれば正常であり、カウント値mが−1,0,1のいずれかでなければ異常ということになる。 FIGS. 4A and 4B show the first clock CLK1 and the second clock CLK2 when 1 <f2 / f1 <2. Here, the first frequency f1 = 155 MHz and the second frequency f2 = 200 MHz. In this case, since f2 / f1-1 = 200 / 155-1≈0.2903, when the decimal part is rounded down, X = 0. Therefore, in the above determination method, if the count value m is -1, 0, 1, it is normal, and if the count value m is not -1, 0, 1, it is abnormal.
図4(a)は、第1クロックCLK1および第2クロックCLK2が正常の場合を示す。この場合、図4(a)に示すように、第1クロックCLK1の1つのハイレベル期間にカウントされる第2クロックCLK2の立ち上がりエッジ数は、0または1個となる。上述の方法を用いると、第1クロックCLK1および第2クロックCLK2が正常であるとを判定される。 FIG. 4A shows a case where the first clock CLK1 and the second clock CLK2 are normal. In this case, as shown in FIG. 4A, the number of rising edges of the second clock CLK2 counted during one high level period of the first clock CLK1 is 0 or 1. When the above-described method is used, it is determined that the first clock CLK1 and the second clock CLK2 are normal.
図4(b)は、第1クロックCLK1に1クロック抜けが発生した場合を示す。この場合も、第1クロックCLK1の1つのハイレベル期間にカウントされる第2クロックCLK2の立ち上がりエッジ数は、0または1個となる。従って、上述の方法を用いると、第2クロックCLK2にクロック抜けが発生しているにもかかわらず、第1クロックCLK1および第2クロックCLK2が正常であると判定されてしまう。このように、1<f2/f1<2のとき、上記の判定方法は使えない。 FIG. 4B shows a case where one clock loss has occurred in the first clock CLK1. Also in this case, the number of rising edges of the second clock CLK2 counted during one high level period of the first clock CLK1 is 0 or 1. Therefore, when the above-described method is used, it is determined that the first clock CLK1 and the second clock CLK2 are normal despite the occurrence of clock omission in the second clock CLK2. Thus, when 1 <f2 / f1 <2, the above determination method cannot be used.
図5(a)および(b)は、2≦f2/f1<3であるときの第1クロックCLK1および第2クロックCLK2を示す。ここでは、第1周波数f1=155MHz、第2周波数f2=400MHzとする。この場合、f2/f1−1=400/155−1≒1.5806となるので、小数点以下を切り捨てると、X=1となる。従って、上記の判定方法を用いると、カウント値mが0,1,2のいずれかとなれば正常であり、カウント値mが0,1,2のいずれかでなければ異常ということになる。 FIGS. 5A and 5B show the first clock CLK1 and the second clock CLK2 when 2 ≦ f2 / f1 <3. Here, the first frequency f1 = 155 MHz and the second frequency f2 = 400 MHz. In this case, since f2 / f1-1 = 400 / 155-1≈1.5806, if the decimal part is rounded down, X = 1. Therefore, when the above determination method is used, it is normal if the count value m is 0, 1, or 2, and it is abnormal if the count value m is 0, 1, or 2.
図5(a)は、第1クロックCLK1および第2クロックCLK2が正常の場合を示す。この場合、図5(a)に示すように、第1クロックCLK1の1つのハイレベル期間にカウントされる第2クロックCLK2の立ち上がりエッジ数は、1または2個となる。上述の方法を用いると、第1クロックCLK1および第2クロックCLK2が正常であるとを判定される。 FIG. 5A shows a case where the first clock CLK1 and the second clock CLK2 are normal. In this case, as shown in FIG. 5A, the number of rising edges of the second clock CLK2 counted during one high level period of the first clock CLK1 is one or two. When the above-described method is used, it is determined that the first clock CLK1 and the second clock CLK2 are normal.
図5(b)は、第1クロックCLK1に1クロック抜けが発生した場合を示す。この場合も、第1クロックCLK1の1つのハイレベル期間にカウントされる第2クロックCLK2の立ち上がりエッジ数は、0,1,2個のいずれかとなる。従って、上述の方法を用いると、第2クロックCLK2にクロック抜けが発生しているにもかかわらず、第1クロックCLK1および第2クロックCLK2が正常であると判定されてしまう。このように、2≦f2/f1<3のとき、上記の判定方法は使えない。 FIG. 5B shows a case where one clock is lost in the first clock CLK1. Also in this case, the number of rising edges of the second clock CLK2 counted during one high level period of the first clock CLK1 is either 0, 1, or 2. Therefore, when the above-described method is used, it is determined that the first clock CLK1 and the second clock CLK2 are normal despite the occurrence of clock omission in the second clock CLK2. Thus, when 2 ≦ f2 / f1 <3, the above determination method cannot be used.
図6(a)〜(d)は、3≦f2/f1<4であるときの第1クロックCLK1および第2クロックCLK2を示す。ここでは、第1周波数f1=155MHz、第2周波数f2=600MHzとする。この場合、f2/f1−1=600/155−1≒2.8709となるので、小数点以下を切り捨てると、X=2となる。従って、上記の判定方法を用いると、カウント値mが1,2,3のいずれかとなれば正常であり、カウント値mが1,2,3のいずれかでなければ異常ということになる。 6A to 6D show the first clock CLK1 and the second clock CLK2 when 3 ≦ f2 / f1 <4. Here, the first frequency f1 = 155 MHz and the second frequency f2 = 600 MHz. In this case, since f2 / f1-1 = 600 / 155-1≈2.8709, when the decimal part is rounded down, X = 2. Therefore, when the above determination method is used, it is normal if the count value m is 1, 2 or 3, and it is abnormal if the count value m is 1, 2, or 3.
図6(a)は、第1クロックCLK1および第2クロックCLK2が正常の場合を示す。図6(a)では、第1クロックCLK1の1つのハイレベル期間にカウントされる第2クロックCLK2の立ち上がりエッジ数は2個である。図6(b)もまた、第1クロックCLK1および第2クロックCLK2が正常の場合を示す。図6(b)は、第1クロックCLK1と第2クロックCLK2の位相関係が図6(a)と異なる。図6(b)では、第1クロックCLK1の立ち上がりエッジと第2クロックCLK2の立ち上がりエッジが一致しており、第1クロックCLK1の立ち下がりエッジと第2クロックCLK2の立ち上がりエッジが一致している。この場合、第1クロックCLK1の立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジがハイレベルとローレベルのいずれに判断されるか不定であるので、第1クロックCLK1の1つのハイレベル期間にカウントされる第2クロックCLK2の立ち上がりエッジ数は1,2,3個のいずれかとなる。図6(a)および(b)において上述の方法を用いると、第1クロックCLK1および第2クロックCLK2が正常であるとを判定される。 FIG. 6A shows a case where the first clock CLK1 and the second clock CLK2 are normal. In FIG. 6A, the number of rising edges of the second clock CLK2 counted during one high level period of the first clock CLK1 is two. FIG. 6B also shows a case where the first clock CLK1 and the second clock CLK2 are normal. FIG. 6B is different from FIG. 6A in the phase relationship between the first clock CLK1 and the second clock CLK2. In FIG. 6B, the rising edge of the first clock CLK1 matches the rising edge of the second clock CLK2, and the falling edge of the first clock CLK1 matches the rising edge of the second clock CLK2. In this case, since it is uncertain whether the rising edge and the falling edge of the first clock CLK1 are determined as high level or low level, the second clock CLK2 counted during one high level period of the first clock CLK1. The number of rising edges is 1, 2, or 3. When the above-described method is used in FIGS. 6A and 6B, it is determined that the first clock CLK1 and the second clock CLK2 are normal.
図6(c)は、第1クロックCLK1に1クロック抜けが発生した場合を示す。図6(c)では、第1クロックCLK1の1つのハイレベル期間にカウントされる第2クロックCLK2の立ち上がりエッジ数は、2個である。図6(d)もまた、第1クロックCLK1に1クロック抜けが発生した場合を示す。図6(d)は、第1クロックCLK1と第2クロックCLK2の位相関係が図6(c)と異なる。図6(d)では、第1クロックCLK1の立ち上がりエッジと第2クロックCLK2の立ち上がりエッジが一致しており、第1クロックCLK1の立ち下がりエッジと第2クロックCLK2の立ち上がりエッジが一致している。この場合、クロック抜けが発生した箇所では、カウント値mが0個となる。すなわち、第1クロックCLK1の1つのハイレベル期間にカウントされる第2クロックCLK2の立ち上がりエッジ数が1,2,3個のいずれかとはならないので、第1クロックCLK1の異常を検出できる。 FIG. 6C shows a case where one clock is lost in the first clock CLK1. In FIG. 6C, the number of rising edges of the second clock CLK2 counted during one high level period of the first clock CLK1 is two. FIG. 6D also shows a case where one clock loss occurs in the first clock CLK1. FIG. 6D is different from FIG. 6C in the phase relationship between the first clock CLK1 and the second clock CLK2. In FIG. 6D, the rising edge of the first clock CLK1 matches the rising edge of the second clock CLK2, and the falling edge of the first clock CLK1 matches the rising edge of the second clock CLK2. In this case, the count value m is 0 at the location where the clock loss has occurred. That is, since the number of rising edges of the second clock CLK2 counted during one high level period of the first clock CLK1 does not become one of 1, 2, or 3, the abnormality of the first clock CLK1 can be detected.
以上、1<f2/f1<3の範囲について考察したが、4≦f2/f1の範囲についても上記の判定方法は有効である。従ってまとめると、f2/f1が3以上のとき上記の判定方法は有効である。 As described above, the range of 1 <f2 / f1 <3 has been considered, but the above determination method is also effective for the range of 4 ≦ f2 / f1. Therefore, in summary, the above determination method is effective when f2 / f1 is 3 or more.
なお、上記では第1クロックCLK1に1クロック抜けが発生した場合について説明したが、第1クロックCLK1に複数のクロック抜けが発生した場合も同様に異常を検出できる。また、第2クロックCLK2に抜けが発生した場合も、カウント値mがX,X−1,X+1のいずれかとは異なる値になるので、異常を検出できる。 In the above description, the case where one clock omission occurs in the first clock CLK1 has been described, but an abnormality can be detected in the same manner when a plurality of omissions occur in the first clock CLK1. In addition, even when the second clock CLK2 is missing, the count value m is different from any of X, X-1, and X + 1, so that an abnormality can be detected.
本実施形態において、カウント部12は、f2/f1が3未満の場合、f2/f1が3以上となるように第1クロックCLK1を分周し、分周された第1クロックCLK1の1つのハイレベル期間における第2クロックCLK2の立ち上がりエッジをカウントする。これにより、異常検出部13は、上記の判定方法を用いて好適にクロックの異常を判定できる。
In the present embodiment, when f2 / f1 is less than 3, the
また、カウント部12は、f2/f1が3未満である場合、f2/f1が3以上となるように第2クロックCLK2を逓倍し、第1クロックCLK1の1つのハイレベル期間における逓倍された第2クロックCLK2の立ち上がりエッジをカウントしてもよい。この場合も、異常検出部13は、上記の判定方法を用いて好適にクロックの異常を判定できる。
Further, when f2 / f1 is less than 3, the
また、カウント部12は、f2/f1が3未満である場合、f2/f1が3以上となるように第1クロックCLK1を分周および第2クロックCLK2を逓倍し、分周された第1クロックCLK1の1つのハイレベル期間における逓倍された第2クロックの立ち上がりエッジをカウントしてもよい。
When f2 / f1 is less than 3, the
図7は、本実施形態に係るASIC10の別の動作を説明するための図である。カウント部12は、図7に示すように、第1クロックCLK1の1つのハイレベル期間における第2クロックの立ち下がりエッジをカウントしてもよい。この場合も、カウント部12のカウント値nがX,X−1,X+1のいずれかとなっているか否か判定することで、第1クロックCLK1および/または第2クロックCLK2の異常を判定できる。
FIG. 7 is a diagram for explaining another operation of the
また、カウント部12は、第1クロックCLK1の1つのローレベル期間における第2クロックの立ち下がりまたは立ち上がりエッジをカウントしてもよい。上記と同様に第1クロックCLK1および/または第2クロックCLK2の異常を判定できる。
Further, the
以上説明したように、本実施形態に係るASIC10によれば、第1クロックCLK1の1つのハイレベル期間またはローレベル期間における第2クロックCLK2の立ち上がりまたは立ち下がりエッジをカウントするだけの簡単な構成で、第1クロックCLK1および/または第2クロックCLK2の異常を検出できる。クロックの異常を検出した場合、リセット部15でASIC10をリセットすることで、デットロック状態が長時間続くのを回避でき、パッケージ100を安定して動作させることができる。
As described above, the
以上、本発明を実施の形態をもとに説明した。この実施の形態は例示であり、それらの各構成要素や各処理プロセスの組合せによりいろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。 The present invention has been described based on the embodiments. This embodiment is an exemplification, and it will be understood by those skilled in the art that various modifications are possible depending on the combination of each component and each processing process, and such modifications are within the scope of the present invention. is there.
例えば、上述の実施形態では、入力クロックは2つであったが、複数の非同期クロックがASICに入力されてもよい。 For example, in the above-described embodiment, there are two input clocks, but a plurality of asynchronous clocks may be input to the ASIC.
10 ASIC、 11 受信部、 12 カウント部、 13 異常検出部、 14 警報部、 15 リセット部、 20 主信号処理部、 21 第1発振器、 22 第2発振器、 100 パッケージ。 10 ASIC, 11 receiving unit, 12 counting unit, 13 abnormality detecting unit, 14 alarm unit, 15 reset unit, 20 main signal processing unit, 21 first oscillator, 22 second oscillator, 100 package.
Claims (6)
前記第1クロックの1つのハイレベル期間またはローレベル期間における前記第2クロックの立ち上がりまたは立ち下がりエッジをカウントするカウント部と、
前記カウント部のカウント値に基づいて前記第1クロックおよび/または前記第2クロックの異常を検出する異常検出部と、
を備え、
前記異常検出部は、前記カウント部のカウント値が前記第1周波数および前記第2周波数により定まる所定値でない場合、前記第1クロックおよび/または前記第2クロックに異常が発生したと判定し、
前記第1周波数をf1とし、前記第2周波数をf2とし、f2/f1−1(小数点以下切り捨て)をXとしたとき、
前記異常検出部は、前記カウント部のカウント値がX,X−1,X+1のいずれかでない場合、前記第1クロックおよび/または前記第2クロックに異常が発生したと判定することを特徴とする回路装置。 A receiving unit that receives a first clock of a first frequency and a second clock of a second frequency that is higher than the first frequency and asynchronous;
A counting unit for counting rising or falling edges of the second clock in one high level period or low level period of the first clock;
An abnormality detection unit that detects an abnormality of the first clock and / or the second clock based on a count value of the counting unit;
Equipped with a,
The abnormality detecting unit determines that an abnormality has occurred in the first clock and / or the second clock when the count value of the counting unit is not a predetermined value determined by the first frequency and the second frequency;
When the first frequency is f1, the second frequency is f2, and f2 / f1-1 (truncated after the decimal point) is X,
The abnormality detecting unit determines that an abnormality has occurred in the first clock and / or the second clock when the count value of the counting unit is not any of X, X-1, and X + 1. Circuit device.
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