JP5834148B2 - 高分子側鎖の分析方法および分析装置 - Google Patents
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Description
2)前記グラフの総座標のうち、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標または原点から最も遠い座標より原点により近い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値を計算し、予め設定された回帰式の説明力(R2)の基準値を超えるかを判断するステップと、
3)計算された回帰式の説明力(R2)の値が予め設定された回帰式の説明力(R2)の基準値を超えると、計算された回帰式の説明力(R2)の値を用いて最大直線区間を示す臨界点として算出するステップとを含むことを特徴とする高分子側鎖の分析方法を提供する。
前記グラフの総座標のうち、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標または原点から最も遠い座標より原点により近い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値を計算し、予め設定された回帰式の説明力(R2)の基準値を超えるかを判断する分析部と、
計算された回帰式の説明力(R2)の値が予め設定された回帰式の説明力(R2)の基準値を超えると、計算された回帰式の説明力(R2)の値を用いて最大直線区間を示す臨界点として算出する第1算出部とを含むことを特徴とする高分子側鎖の分析装置を提供する。
2)前記グラフの総座標のうち、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標または原点から最も遠い座標より原点により近い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値を計算し、予め設定された回帰式の説明力(R2)の基準値を超えるかを判断するステップと、
3)計算された回帰式の説明力(R2)の値が予め設定された回帰式の説明力(R2)の基準値を超えると、計算された回帰式の説明力(R2)の値を用いて最大直線区間を示す臨界点として算出するステップとを含むことを特徴とする高分子側鎖の分析方法を提供する。
測定されたグラフの総座標のうち、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標より原点により近い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値を計算し、前記初期値(A1)より大きいかを判断するステップと、
計算された回帰式の説明力(R2)の値が前記初期値(A1)より大きければ、初期値(A1)を計算された回帰式の説明力(R2)の値に代替するステップとを含むことができる。
前記グラフの総座標のうち、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標または原点から最も遠い座標より原点により近い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値を計算し、予め設定された回帰式の説明力(R2)の基準値を超えるかを判断する分析部と、
計算された回帰式の説明力(R2)の値が予め設定された回帰式の説明力(R2)の基準値を超えると、計算された回帰式の説明力(R2)の値を用いて最大直線区間を示す臨界点として算出する第1算出部とを含むことを特徴とする高分子側鎖の分析装置を提供する。
測定されたグラフの総座標のうち、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標より原点により近い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値を計算し、前記初期値(A1)より大きいかを判断し、
計算された回帰式の説明力(R2)の値が前記初期値(A1)より大きければ、初期値(A1)を計算された回帰式の説明力(R2)の値に代替することができる。
<試験例>
(1)誤差の推定による妥当性の検証(回帰式の説明力(R2)が0.9858)
図5に示されたグラフは、回帰式の説明力(R2)が0.9858であり、最大直線区間を示す臨界点はLog(Mw)=6.0のグラフである。
図3に示されたグラフは、回帰式の説明力(R2)が0.9990であり、最大直線区間を示す臨界点はLog(Mw)=6.0のグラフである。前記グラフに対して、本発明にかかる高分子側鎖の分析方法によりLog(Mw)の最大値を減少させて回帰式の説明力(R2)を測定した結果は、図7に示されており、求められた最大直線区間を示す臨界点はLog(Mw)=6.1である。
前記(1)および(2)のような実験を、回帰式の説明力(R2)が0.9898、0.9933、0.9958、0.9978および0.9998に対しても実施し、回帰式の説明力(R2)に対する相対誤差のグラフを、図8に示した。
Claims (17)
- 高分子側鎖の分析方法であって、
1)高分子の分子量と粘度に対するログスケール(log scale)グラフを表示するステップと、
2)前記グラフの総座標のうち、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標または原点から最も遠い座標より原点により近い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値を計算し、予め設定された回帰式の説明力(R2)の基準値を超えるかを判断するステップと、
3)計算された回帰式の説明力(R2)の値が予め設定された回帰式の説明力(R2)の基準値を超えると、計算された回帰式の説明力(R2)の値を用いて最大直線区間を示す臨界点として算出するステップとを含んでなることを特徴とする、高分子側鎖の分析方法。 - 前記ステップ2)が、
原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値を初期値(A1)に設定するステップと、
測定されたグラフの総座標のうち、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標より原点により近い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値を計算し、前記初期値(A1)より大きいかを判断するステップと、
計算された回帰式の説明力(R2)の値が前記初期値(A1)より大きければ、初期値(A1)を計算された回帰式の説明力(R2)の値に代替するステップとを含むことを特徴とする、請求項1に記載の高分子側鎖の分析方法。 - 前記ステップ2)が、前記グラフのうち、座標データの個数がNの時、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標よりk〔前記kは整数で、1≦k<Nである〕だけ原点により近い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値を計算するステップを含むことを特徴とする、請求項1又は2に記載の高分子側鎖の分析方法。
- 前記ステップ2)で計算された回帰式の説明力(R2)の値が予め設定された回帰式の説明力(R2)の基準値を超えなければ、k/Nの値を計算し、予め設定された比率値と等しいか大きいかを判断するステップを含むことを特徴とする、請求項3に記載の高分子側鎖の分析方法。
- 前記計算されたk/Nの値が予め設定された比率値より小さければ、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標よりk+1だけ原点により近い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値を計算するステップを含むことを特徴とする、請求項4に記載の高分子側鎖の分析方法。
- 前記計算されたk/Nの値が予め設定された比率値と等しいか大きければ、計算された回帰式の説明力(R2)の値を用いて最大直線区間を示す臨界点として算出するステップを含むことを特徴とする、請求項4に記載の高分子側鎖の分析方法。
- 前記ステップ3)で算出された回帰式の説明力(R2)の値を、回帰分析法を用いて補正するステップをさらに含むことを特徴とする、請求項1〜6の何れか一項に記載の高分子側鎖の分析方法。
- 前記補正するステップが、前記ステップ3)で算出された回帰式の説明力(R2)の値と、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標より原点により近い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値との差が、予め設定された比較値と等しいか小さいかを判断するステップを含むことを特徴とする、請求項7に記載の高分子側鎖の分析方法。
- 請求項1〜8の何れか一項に記載の方法を実行するためのプログラムが記録された、コンピュータ読み取り可能な記録媒体。
- 高分子側鎖の分析装置であって、
高分子の分子量と粘度に対するログスケール(log scale)グラフを表示する表示部と、
前記グラフの総座標のうち、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標または原点から最も遠い座標より原点により近い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値を計算し、予め設定された回帰式の説明力(R2)の基準値を超えるかを判断する分析部と、 計算された回帰式の説明力(R2)の値が予め設定された回帰式の説明力(R2)の基準値を超えると、計算された回帰式の説明力(R2)の値を用いて最大直線区間を示す臨界点として算出する第1算出部とを含むことを特徴とする、高分子側鎖の分析装置。 - 前記分析部が、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値を初期値(A1)に設定し、
測定されたグラフの総座標のうち、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標より原点により近い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値を計算し、前記初期値(A1)より大きいかを判断し、
計算された回帰式の説明力(R2)の値が前記初期値(A1)より大きければ、初期値(A1)を計算された回帰式の説明力(R2)の値に代替することを特徴とする、請求項10に記載の高分子側鎖の分析装置。 - 前記分析部が、前記グラフのうち、座標データの個数がNの時、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標よりk〔前記kは整数であり、1≦k<Nである〕だけ原点により近い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値を計算する第1計算部を含みことを特徴とする、請求項10又は11に記載の高分子側鎖の分析装置。
- 前記分析部が、前記計算部で計算された回帰式の説明力(R2)の値が予め設定された回帰式の説明力(R2)の基準値を超えなければ、k/Nの値を計算し、予め設定された比率値と等しいか大きいかを判断する比較部を含むことを特徴とする、請求項12に記載の高分子側鎖の分析装置。
- 前記分析部が、前記比較部で計算されたk/Nの値が予め設定された比率値より小さければ、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標よりk+1だけ原点により近い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値を計算する第2計算部を含むことを特徴とする、請求項13に記載の高分子側鎖の分析装置。
- 前記分析部が、前記比較部で計算されたk/Nの値が予め設定された比率値と等しいか大きければ、計算された回帰式の説明力(R2)の値を用いて最大直線区間を示す臨界点として算出する第2算出部を含むことを特徴とする、請求項13に記載の高分子側鎖の分析装置。
- 前記第1算出部で算出された回帰式の説明力(R2)の値を補正する補正部をさらに含むことを特徴とする、請求項10〜15の何れか一項に記載の高分子側鎖の分析装置。
- 前記補正部が、前記第1算出部で算出された回帰式の説明力(R2)の値と、原点に最も近い座標と、原点から最も遠い座標より原点により近い座標との間の回帰式の説明力(R2)の値との差が、予め設定された比較値と等しいか小さいかを判断することを特徴とする、請求項16に記載の高分子側鎖の分析装置。
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