JP5828359B2 - ラマン共鳴の機械的検出 - Google Patents
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Description
本出願は、2011年6月30日に提出された米国仮出願番号61/503,457及び2011年7月18日に提出された米国仮出願番号61/508,965の利得を有し、参考としてここに組み込まれる。
政府の支援
Claims (10)
- 関心のサンプルを採用する(engaging)プローブチップであって、該プローブチップは前記プローブチップを振動させ得る構造に結合される、プローブチップと、
第1及び第2電磁波源であって、前記第1電磁波源は、周波数v1の第1電磁波放射線を前記プローブチップ上に放出するように構成され、前記第2電磁波源は、周波数v2の第2電磁波放射線を前記プローブチップ上に放出するように構成され、前記周波数v1及び周波数v2は、前記プローブチップ及び前記サンプル間にラマン力相互作用を誘発するサンプル上のラマン効果を誘導するように選択される、第1及び第2電磁波源と、
前記プローブチップ及び前記サンプル間のラマン力相互作用による前記プローブチップの振動を測定するように構成されるセンサーと、
を備える、原子力顕微鏡ベースの装置。 - 前記周波数v1及び周波数v2は、前記周波数v1及び周波数v2間の差がラマン共鳴周波数と同一となるように選択される、請求項1に記載の原子力顕微鏡ベースの装置。
- 前記第1及び第2電磁波源のそれぞれは、固定波長レーザー及び同調可能レーザーのいずれか一つである、請求項1に記載の原子力顕微鏡ベースの装置。
- 前記第1及び第2電磁波源はそれぞれ周波数fm1及びfm2で変調されて混合周波数f0+fm1+fm2、f0−fm1−fm2、f0+fm1−fm2、及びf0−fm1+fm2でラマン力を生成し、ここで、周波数f0は、前記プローブチップを持つ構造の駆動周波数である、請求項1に記載の原子力顕微鏡ベースの装置。
- 前記周波数fm1及びfm2は、前記混合周波数f0+fm1+fm2、f0−fm1−fm2、f0+fm1−fm2、及びf0−fm1+fm2のいずれか一つが、前記プローブチップを持つ構造の第2共鳴モード周波数f1の付近にあるように選択される、請求項4に記載の原子力顕微鏡ベースの装置。
- 関心のサンプルに対するラマン効果を検出する方法であって、
プローブチップを前記サンプル上に配置する段階であって、前記プローブチップは、前記プローブチップを振動させ得る構造に結合される、段階と、
周波数v1の第1電磁波放射線及び周波数v2の第2電磁波放射線を前記プローブチップ上に放出する段階であって、前記周波数v1及び周波数v2は、前記プローブチップ及び前記サンプル間にラマン力相互作用を誘発するサンプル上のラマン効果を誘導するように選択される、段階と、
前記プローブチップ及び前記サンプル間のラマン力相互作用による前記プローブチップの振動を測定する段階と、
を含む、方法。 - 前記周波数v1及び周波数v2は、前記周波数v1及び周波数v2間の差がラマン共鳴周波数と同一となるように選択される、請求項6に記載の方法。
- 周波数v1の第1電磁波放射線及び周波数v2の第2電磁波放射線は、固定波長レーザー及び同調可能レーザーの少なくとも一方から放出される、請求項6に記載の方法。
- 周波数v1の第1電磁波放射線及び周波数v2の第2電磁波放射線はそれぞれ周波数fm1及びfm2で変調されて混合周波数f0+fm1+fm2、f0−fm1−fm2、f0 +fm1−fm2、及びf0−fm1+fm2でラマン力を生成し、ここで、周波数f0は、前記プローブチップを持つ構造の駆動周波数である、請求項6に記載の方法。
- 前記周波数fm1及びfm2は、前記混合周波数f0+fm1+fm2、f0−fm1−fm2、f0 +fm1−fm2、及びf0−fm1+fm2のいずかれ一つが、前記プローブチップを持つ構造の第2共鳴モード周波数f1の付近にあるように選択される、請求項9に記載の方法。
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Family Cites Families (6)
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GB0718094D0 (en) * | 2007-04-09 | 2007-10-24 | Univ Bristol | Probe microscopy and probe position monitoring apparatus |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102634134B1 (ko) * | 2021-11-05 | 2024-02-06 | 한국표준과학연구원 | 2 이상의 광원들을 이용하여 광유도력을 측정하는 방법 및 광유도력 현미경 |
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