JP5814487B1 - Protective film forming film - Google Patents

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Abstract

保護膜の強度が高く、保護膜付チップの生産性の向上に寄与し、高信頼性の保護膜付チップを得ることができる保護膜形成用フィルムを提供する。本発明に係る保護膜形成用フィルムは、半導体チップを保護する保護膜を形成するための保護膜形成用フィルムであって、エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物を含むエポキシ系熱硬化性成分を含有する。Provided is a film for forming a protective film that has a high protective film strength, contributes to improvement in productivity of the chip with protective film, and can obtain a highly reliable chip with protective film. The protective film-forming film according to the present invention is a protective film-forming film for forming a protective film for protecting a semiconductor chip, and includes an epoxy-based thermosetting component containing a condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group Containing.

Description

本発明は、チップに接着強度の高い保護膜を効率良く形成でき、かつ信頼性の高い保護膜付チップを製造することが可能な保護膜形成用シートに関する。特にいわゆるフェースダウン(face down)方式で実装される半導体チップの製造に用いられる保護膜形成用フィルムに関する。  The present invention relates to a protective film-forming sheet capable of efficiently forming a protective film with high adhesive strength on a chip and capable of manufacturing a highly reliable chip with a protective film. In particular, the present invention relates to a protective film forming film used for manufacturing a semiconductor chip mounted by a so-called face down method.

近年、いわゆるフェースダウン(face down)方式と呼ばれる実装法を用いた半導体装置の製造が行われている。フェースダウン方式においては、回路面上にバンプなどの電極を有する半導体チップ(以下、単に「チップ」ともいう。)が用いられ、該電極が基板と接合される。このため、チップの回路面とは反対側の面(チップ裏面)は剥き出しとなることがある。  2. Description of the Related Art In recent years, semiconductor devices have been manufactured using a so-called “face down” mounting method. In the face-down method, a semiconductor chip (hereinafter simply referred to as “chip”) having electrodes such as bumps on a circuit surface is used, and the electrodes are bonded to a substrate. For this reason, the surface (chip back surface) opposite to the circuit surface of the chip may be exposed.

この剥き出しとなったチップ裏面は、有機膜により保護されることがある。従来、この有機膜からなる保護膜を有するチップは、液状の樹脂をスピンコート法によりウエハ裏面に塗布し、乾燥し、硬化してウエハとともに保護膜を切断して得られる。しかしながら、このようにして形成される保護膜の厚み精度は充分でないため、製品の歩留まりが低下することがあった。  The exposed back surface of the chip may be protected by an organic film. Conventionally, a chip having a protective film made of an organic film is obtained by applying a liquid resin to the back surface of a wafer by spin coating, drying and curing, and cutting the protective film together with the wafer. However, since the thickness accuracy of the protective film formed in this way is not sufficient, the product yield may be lowered.

上記問題を解決するため、特許文献1には、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を含む着色ウエハ裏面保護フィルムが記載されている。  In order to solve the above problem, Patent Document 1 describes a colored wafer back surface protective film containing a thermosetting resin such as an epoxy resin.

特開2010−199541号公報JP 2010-199541 A

本発明者らは、特定の化合物を含むエポキシ系熱硬化成分を用いることで、保護膜形成用フィルムを硬化して得られる保護膜の高強度化、保護膜付チップの生産性の向上が可能になり、また、高信頼性の保護膜付チップを製造できることを見出し、本発明を完成させるに至った。すなわち、本発明の課題は、保護膜の強度が高く、保護膜付チップの生産性の向上に寄与し、高信頼性の保護膜付チップを得ることができる保護膜形成用フィルムを提供することである。  The present inventors can increase the strength of a protective film obtained by curing a protective film-forming film and improve the productivity of a chip with a protective film by using an epoxy-based thermosetting component containing a specific compound. In addition, the present inventors have found that a highly reliable chip with a protective film can be manufactured, and have completed the present invention. That is, an object of the present invention is to provide a protective film-forming film that has a high protective film strength, contributes to an improvement in the productivity of the protective film-coated chip, and can obtain a highly reliable chip with a protective film. It is.

本発明は、以下の要旨を含む。
〔1〕半導体チップを保護する保護膜を形成するための保護膜形成用フィルムであって、
エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物を含むエポキシ系熱硬化性成分を含有する保護膜形成用フィルム。
The present invention includes the following gist.
[1] A protective film-forming film for forming a protective film for protecting a semiconductor chip,
A protective film-forming film containing an epoxy-based thermosetting component containing a condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group.

〔2〕エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物が、下記の一般式(I)または(II)で表される化合物である〔1〕に記載の保護膜形成用フィルム。

Figure 0005814487

(ただし、一般式(I)において、CRは縮合環式芳香族炭化水素を示し、Rは水素原子または炭素数1〜10のアルキル基を示し、mは2〜6の整数を示す。)
Figure 0005814487

(ただし、一般式(II)において、CRおよびCRは縮合環式芳香族炭化水素を示し、これらの縮合環式芳香族炭化水素は同一でも異なっていてもよく、Rは二価の炭化水素基を示し、該炭化水素基は置換基を有していてもよく、Rは水素原子、炭素数1〜10のアルキル基、またはグリシジルエーテル基を示し、nは1〜3の整数を示し、pは0〜10の整数であり、pが0の場合にはRは単結合を示し、qは1〜3の整数を示す。)
[2] The film for forming a protective film according to [1], wherein the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group is a compound represented by the following general formula (I) or (II).
Figure 0005814487

(However, in the general formula (I), CR represents a condensed cyclic aromatic hydrocarbon, R 1 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, and m represents an integer of 2 to 6)
Figure 0005814487

(However, in the general formula (II), CR 1 and CR 2 represent fused cyclic aromatic hydrocarbons, and these fused cyclic aromatic hydrocarbons may be the same or different, and R 2 is a divalent ring. A hydrocarbon group, which may have a substituent, R 3 represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, or a glycidyl ether group, and n is an integer of 1 to 3 P is an integer of 0 to 10, and when p is 0, R 2 represents a single bond and q represents an integer of 1 to 3. )

〔3〕縮合環式芳香族化合物の縮合環がナフタレン環である〔1〕または〔2〕に記載の保護膜形成用フィルム。[3] The film for forming a protective film according to [1] or [2], wherein the condensed ring of the condensed cyclic aromatic compound is a naphthalene ring.

〔4〕エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物のエポキシ当量が、160〜170g/eqである〔1〕〜〔3〕のいずれかに記載の保護膜形成用フィルム。[4] The protective film-forming film according to any one of [1] to [3], wherein an epoxy equivalent of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group is 160 to 170 g / eq.

〔5〕エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物が、下記の一般式(III)で表される化合物である〔1〕〜〔4〕のいずれかに記載の保護膜形成用フィルム。

Figure 0005814487
(ただし、Rは単結合または二価の炭化水素基を示し、該炭化水素基は置換基を有していてもよい。) [5] The film for forming a protective film according to any one of [1] to [4], wherein the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group is a compound represented by the following general formula (III).
Figure 0005814487
(However, R 4 represents a single bond or a divalent hydrocarbon group, and the hydrocarbon group may have a substituent.)

〔6〕アクリル重合体を含有する〔1〕〜〔5〕のいずれかに記載の保護膜形成用フィルム。[6] The film for forming a protective film according to any one of [1] to [5], which contains an acrylic polymer.

〔7〕厚みが1〜100μmである〔1〕〜〔6〕のいずれかに記載の保護膜形成用フィルム。[7] The film for forming a protective film according to any one of [1] to [6], having a thickness of 1 to 100 μm.

〔8〕上記〔1〕〜〔7〕のいずれかに記載の保護膜形成用フィルムが、支持シート上に積層されてなる保護膜形成用シート。[8] A protective film-forming sheet obtained by laminating the protective film-forming film according to any one of [1] to [7] on a support sheet.

〔9〕以下の工程(1)〜(4)を含む半導体装置の製造方法;
工程(1):上記〔8〕に記載の保護膜形成用シートの保護膜形成用フィルムを被着体に貼付する工程、
工程(2):保護膜形成用フィルムを加熱硬化して保護膜を得る工程、
工程(3):保護膜形成用フィルムまたは保護膜と、支持シートとを分離する工程、および、
工程(4):被着体と、保護膜形成用フィルムまたは保護膜とをダイシングする工程。
[9] A method of manufacturing a semiconductor device including the following steps (1) to (4);
Step (1): A step of attaching the protective film-forming film of the protective film-forming sheet according to [8] above to an adherend,
Step (2): a step of heat-curing the protective film-forming film to obtain a protective film,
Step (3): a step of separating the protective film-forming film or protective film and the support sheet, and
Step (4): a step of dicing the adherend and the protective film-forming film or protective film.

本発明の保護膜形成用フィルムによれば、高信頼性の保護膜付チップを製造することができる。また、該保護膜は強度が高く、短時間で硬化するため、保護膜付チップの生産性を向上させることができる。  According to the protective film-forming film of the present invention, a highly reliable chip with a protective film can be produced. Further, since the protective film has high strength and is cured in a short time, the productivity of the chip with the protective film can be improved.

第1の態様の保護膜形成用シートを示す。The sheet | seat for protective film formation of a 1st aspect is shown. 第2の態様の保護膜形成用シートを示す。The sheet | seat for protective film formation of a 2nd aspect is shown. 第3の態様の保護膜形成用シートを示す。The sheet | seat for protective film formation of a 3rd aspect is shown. 第4の態様の保護膜形成用シートを示す。The sheet | seat for protective film formation of a 4th aspect is shown.

以下、本発明の保護膜形成用フィルムの詳細を説明する。  Hereinafter, the details of the protective film-forming film of the present invention will be described.

[保護膜形成用フィルム]
本発明に係る保護膜形成用フィルムは、半導体チップを保護する保護膜を形成するためのフィルムであって、少なくともエポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物を含むエポキシ系熱硬化性成分を含有する。
[Film for forming a protective film]
A film for forming a protective film according to the present invention is a film for forming a protective film for protecting a semiconductor chip, and contains an epoxy-based thermosetting component containing at least a condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group. .

エポキシ系熱硬化性成分
エポキシ系熱硬化性成分は、少なくともエポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物を含み、エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物と熱硬化剤を組み合わせたものを用いることが好ましい。また、エポキシ系熱硬化性成分として、エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物以外のエポキシ基を有する化合物(以下、単に「他のエポキシ化合物」と記載することがある。)を用いることもできる。
Epoxy-based thermosetting component The epoxy-based thermosetting component contains at least a condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group, and a combination of a condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group and a thermosetting agent is used. preferable. In addition, as the epoxy thermosetting component, a compound having an epoxy group other than the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group (hereinafter, simply referred to as “other epoxy compound”) may be used. .

エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物
本発明において、エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物とは、縮合環かつ芳香環から構成される縮合環式芳香族炭化水素に、エポキシ基が直接またはアルコキシ基を介して結合している化合物をいう。縮合環式芳香族炭化水素の炭素数は特に限定されないが、好ましくは8〜55、より好ましくは12〜45、さらに好ましくは16〜35である。
エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物を含むことで、保護膜形成用フィルムを短時間で硬化でき、また、保護膜形成用フィルムを硬化して得られる保護膜の高強度化を図ることができる。つまり、エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物を含むことで、保護膜形成用フィルムの硬化性に優れる。その結果、本発明に係る保護膜形成用フィルムを用いて製造される保護膜付チップの信頼性及び生産性が向上する。
In the present invention, the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group refers to a condensed cyclic aromatic hydrocarbon having a condensed ring and an aromatic ring, wherein the epoxy group is directly or A compound bonded through an alkoxy group. Although carbon number of condensed cyclic aromatic hydrocarbon is not specifically limited, Preferably it is 8-55, More preferably, it is 12-45, More preferably, it is 16-35.
By containing a condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group, the protective film-forming film can be cured in a short time, and the protective film obtained by curing the protective film-forming film can be strengthened. it can. That is, by including the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group, the curability of the protective film-forming film is excellent. As a result, the reliability and productivity of the chip with protective film manufactured using the film for forming a protective film according to the present invention is improved.

エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物としては、縮合環(Condensed Ring)にグリシジルエーテル基が結合(メトキシ基を介してエポキシ基が結合)したものとして、例えば、下記一般式(I)または(II)で表される化合物が挙げられる。

Figure 0005814487

(ただし、一般式(I)において、CRは縮合環式芳香族炭化水素を示し、Rは水素原子または炭素数1〜10のアルキル基を示し、mは2〜6の整数を示す。Rがアルキル基の場合、その炭素数は1〜6が好ましい。また、mは2〜4が好ましい。)
Figure 0005814487

(ただし、一般式(II)において、CRおよびCRは縮合環式芳香族炭化水素を示し、これらの縮合環式芳香族炭化水素は同一でも異なっていてもよく、Rは二価の炭化水素基を示し、該炭化水素基は置換基aを有していてもよく、Rは水素原子、炭素数1〜10のアルキル基、またはグリシジルエーテル基を示し、nは1〜3の整数を示し、pは0〜10の整数であり、pが0の場合にはRは単結合を示し、qは1〜3の整数を示す。Rの炭素数は1〜6が好ましい。また、Rがアルキル基の場合、その炭素数は1〜6が好ましい。nは1〜2が好ましく、pは0〜4が好ましく、qは1〜2が好ましい。)

Examples of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group include those in which a glycidyl ether group is bonded to a condensed ring (an epoxy group is bonded via a methoxy group), for example, the following general formula (I) or ( And a compound represented by II).
Figure 0005814487

(In the general formula (I), CR represents a condensed cyclic aromatic hydrocarbon, R 1 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, and m represents an integer of 2 to 6.) When 1 is an alkyl group, the number of carbon atoms is preferably 1-6, and m is preferably 2-4.)
Figure 0005814487

(However, in the general formula (II), CR 1 and CR 2 represent fused cyclic aromatic hydrocarbons, and these fused cyclic aromatic hydrocarbons may be the same or different, and R 2 is a divalent ring. Represents a hydrocarbon group, and the hydrocarbon group may have a substituent a, R 3 represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, or a glycidyl ether group, and n represents 1 to 3 P represents an integer of 0 to 10, and when p is 0, R 2 represents a single bond, q represents an integer of 1 to 3. R 2 preferably has 1 to 6 carbon atoms. When R 3 is an alkyl group, the number of carbon atoms is preferably 1 to 6. n is preferably 1 to 2, p is preferably 0 to 4, and q is preferably 1 to 2.)

一般式(II)におけるRの置換基aとしては、フェニル基または置換基bを有するフェニル基などが挙げられる。置換基bとしては、炭素数1〜6のアルキル基、またはグリシジルエーテル基などが挙げられ、好ましくは炭素数1〜4のアルキル基である。Examples of the substituent a of R 2 in the general formula (II) include a phenyl group or a phenyl group having a substituent b. Examples of the substituent b include an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms or a glycidyl ether group, and an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms is preferable.

上記の縮合環式芳香族化合物の縮合環としては、ナフタレン環、アントラセン環、フェナントレン環または3,4−ベンゾピレン環などが挙げられ、これらの中でも保護膜形成用フィルムの硬化性の観点からナフタレン環が好ましい。  Examples of the condensed ring of the condensed cyclic aromatic compound include a naphthalene ring, an anthracene ring, a phenanthrene ring, or a 3,4-benzopyrene ring. Among these, a naphthalene ring is used from the viewpoint of curability of the protective film-forming film. Is preferred.

一般式(I)または(II)で表され、縮合環としてナフタレン環を有する具体的な化合物の例としては、下記一般式(III)で表される1,1−ビス(2,7−ジグリシジルオキシ−1−ナフチル)アルカン、下記一般式(IV)で表される1−(2,7−ジグリシジルオキシ−1−ナフチル)−1−(2−グリシジルオキシ−1−ナフチル)アルカン、または下記一般式(V)で表される1,1−ビス(2−グリシジルオキシ−1−ナフチル)アルカンを挙げることができる。

Figure 0005814487
Figure 0005814487
Figure 0005814487

(ただし、Rは、単結合または二価の炭化水素基を示し、該炭化水素基は置換基を有していてもよい。なお、前記一般式(III)〜(V)の化合物を併用する場合、Rは同一でも異なっていてもよい。) Specific examples of the compound represented by the general formula (I) or (II) and having a naphthalene ring as a condensed ring include 1,1-bis (2,7-disilane represented by the following general formula (III). Glycidyloxy-1-naphthyl) alkane, 1- (2,7-diglycidyloxy-1-naphthyl) -1- (2-glycidyloxy-1-naphthyl) alkane represented by the following general formula (IV), or A 1,1-bis (2-glycidyloxy-1-naphthyl) alkane represented by the following general formula (V) can be exemplified.
Figure 0005814487
Figure 0005814487
Figure 0005814487

(However, R 4 represents a single bond or a divalent hydrocarbon group, and the hydrocarbon group may have a substituent. The compounds of the general formulas (III) to (V) are used in combination. R 4 may be the same or different.

一般式(III)〜(V)のRは、下記式にて示される置換基を有していてもよい二価の炭化水素基であることがさらに好ましい。

Figure 0005814487

(上記式中、炭素に結合する上下方向の結合手は、それぞれナフタレン環に結合し、RおよびRは、それぞれ独立に水素原子、炭素数1〜10のアルキル基、フェニル基または置換基cを有するフェニル基を示す。RおよびRが置換基cを有するフェニル基の場合、その置換基cとしては、炭素数1〜10のアルキル基、またはグリシジルエーテル基などが挙げられ、好ましくは水素原子または炭素数1〜6のアルキル基である。RおよびRとしては、保護膜形成用フィルムの硬化性の観点から水素原子が特に好ましい。上記式中、nは0〜4、好ましくは0〜3の整数であり、さらに好ましくは1である。なお、nが0の場合、上記式の構造は単結合を示す。) R 4 in the general formulas (III) to (V) is more preferably a divalent hydrocarbon group which may have a substituent represented by the following formula.
Figure 0005814487

(In the above formula, the bonds in the vertical direction bonded to carbon are bonded to the naphthalene ring, and R 5 and R 6 are each independently a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a phenyl group, or a substituent. a phenyl group having c. When R 5 and R 6 are phenyl groups having a substituent c, examples of the substituent c include an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a glycidyl ether group, and the like. Is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, and R 5 and R 6 are particularly preferably a hydrogen atom from the viewpoint of curability of the protective film-forming film, wherein n is 0 to 4, Preferably it is an integer of 0 to 3, more preferably 1. In addition, when n is 0, the structure of the above formula represents a single bond.)

一般式(III)〜(V)で表される化合物の中でも、保護膜形成用フィルムの硬化性の観点から、一般式(III)で表される化合物が好ましく、特に一般式(III)中のRがメチレン(−CH−)である化合物が好ましい。Among the compounds represented by the general formulas (III) to (V), the compound represented by the general formula (III) is preferable from the viewpoint of curability of the protective film-forming film, and the compound represented by the general formula (III) is particularly preferable. A compound in which R 4 is methylene (—CH 2 —) is preferred.

また、エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物のエポキシ当量は、好ましくは150〜180g/eqであり、より好ましくは160〜170g/eqである。エポキシ当量を上記範囲とすることで、保護膜形成用フィルムの硬化性に優れる。  Moreover, the epoxy equivalent of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group is preferably 150 to 180 g / eq, more preferably 160 to 170 g / eq. By making an epoxy equivalent into the said range, it is excellent in sclerosis | hardenability of the film for protective film formation.

エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物の硬化物のガラス転移温度は、好ましくは220℃以上、より好ましくは220〜350℃、さらに好ましくは240〜345℃、特に好ましくは300〜330℃である。エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物の硬化物のガラス転移温度を上記範囲とすることで、保護膜形成用フィルムの硬化性を向上できる。
エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物の硬化物のガラス転移温度は、以下の方法で測定できる。エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物100gに対して、硬化剤として2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール(四国化成工業製 キュアゾール2PHZ)2gを添加し、硬化温度160℃、硬化時間120分にてエポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物を硬化させる。次いで、エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物の硬化物を幅4.5mm、長さ20.0mm、厚み0.18mmの短冊状に切断して試験片を作製する。その後、粘弾性測定装置(TA instruments社製 DMA
Q800)を用いて、引張モードにて、試験片のtanδ(損失弾性率と貯蔵弾性率との比)を、周波数11Hz、昇温速度3℃/分、大気雰囲気下で0〜350℃にて測定する。この温度範囲においてtanδが最大値を示す温度を読み取り、エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物の硬化物のガラス転移温度(Tg)とする。
The glass transition temperature of the cured product of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group is preferably 220 ° C. or higher, more preferably 220 to 350 ° C., further preferably 240 to 345 ° C., and particularly preferably 300 to 330 ° C. . The sclerosis | hardenability of the film for protective film formation can be improved by making the glass transition temperature of the hardened | cured material of the condensed cyclic aromatic compound which has an epoxy group into the said range.
The glass transition temperature of the cured product of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group can be measured by the following method. To 100 g of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group, 2 g of 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole (Cureazole 2PHZ, manufactured by Shikoku Kasei Kogyo) is added as a curing agent, a curing temperature of 160 ° C., and a curing time of 120 The condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group is cured in minutes. Next, a cured product of the fused cyclic aromatic compound having an epoxy group is cut into a strip shape having a width of 4.5 mm, a length of 20.0 mm, and a thickness of 0.18 mm to prepare a test piece. Then, viscoelasticity measuring device (DMA manufactured by TA instruments)
Q800), in tensile mode, the tan δ (ratio of loss elastic modulus to storage elastic modulus) of the test piece is a frequency of 11 Hz, a heating rate of 3 ° C./min, and 0 to 350 ° C. in an air atmosphere. taking measurement. The temperature at which tan δ exhibits the maximum value in this temperature range is read and used as the glass transition temperature (Tg) of the cured product of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group.

エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物の軟化点は、好ましくは60〜110℃、より好ましくは70〜100℃、特に好ましくは80〜97℃、特に好ましくは90〜95℃である。エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物の軟化点を上記範囲とすることで、保護膜形成用フィルムの硬化性を向上できる。エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物の軟化点は、JIS K 2207:2006に準拠して測定する(環球法)。水又はグリセリンの浴中の支え環中央に一定重量の球を置き、浴温を規定の速さで上昇させた後、球の重みによって試料が垂れ下がった温度を測定し、軟化点とする。  The softening point of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group is preferably 60 to 110 ° C, more preferably 70 to 100 ° C, particularly preferably 80 to 97 ° C, and particularly preferably 90 to 95 ° C. By setting the softening point of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group within the above range, the curability of the protective film-forming film can be improved. The softening point of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group is measured according to JIS K 2207: 2006 (ring and ball method). A ball of a constant weight is placed in the center of a support ring in a water or glycerin bath, the bath temperature is raised at a specified speed, and the temperature at which the sample hangs down by the weight of the ball is measured to obtain the softening point.

エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物の溶融粘度は、好ましくは1.0〜25.0dPa・s、より好ましくは2.0dPa・sを超え15.0dPa・s以下、さらに好ましくは2.5〜7.0dPa・sである。エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物のの溶融粘度を上記範囲とすることで、保護膜形成用フィルムの硬化性を向上できる。エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物の溶融粘度は、キャピラリーレオメーター(例えば、島津製作所製 CFT−100D)により、測定温度150℃、測定周波数1Hzの条件で測定される粘度である。  The melt viscosity of the fused cyclic aromatic compound having an epoxy group is preferably 1.0 to 25.0 dPa · s, more preferably more than 2.0 dPa · s and not more than 15.0 dPa · s, still more preferably 2.5. It is -7.0dPa * s. By setting the melt viscosity of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group within the above range, the curability of the protective film-forming film can be improved. The melt viscosity of the fused cyclic aromatic compound having an epoxy group is a viscosity measured with a capillary rheometer (for example, CFT-100D manufactured by Shimadzu Corporation) at a measurement temperature of 150 ° C. and a measurement frequency of 1 Hz.

また、エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物の数平均分子量(Mn)は、好ましくは200〜1000、より好ましくは300〜900、さらに好ましくは400〜800、特に好ましくは450〜750である。エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物の数平均分子量(Mn)を上記範囲とすることで、保護膜形成用フィルムの硬化性を向上できる。エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物の数平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法により測定したポリスチレン換算の値である。  The number average molecular weight (Mn) of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group is preferably 200 to 1000, more preferably 300 to 900, still more preferably 400 to 800, and particularly preferably 450 to 750. By setting the number average molecular weight (Mn) of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group within the above range, the curability of the protective film-forming film can be improved. The number average molecular weight of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group is a value in terms of polystyrene measured by a gel permeation chromatography (GPC) method.

エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物の含有量は、保護膜形成用フィルムを構成する全固形分100質量部に対して、好ましくは1〜20質量部、より好ましくは2〜18質量部、さらに好ましくは2.5〜15質量部である。エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物の含有量を上記範囲とすることで、保護膜形成用フィルムの硬化性を向上できる。  The content of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group is preferably 1 to 20 parts by mass, more preferably 2 to 18 parts by mass, with respect to 100 parts by mass of the total solid content constituting the protective film-forming film. More preferably, it is 2.5-15 mass parts. By making content of the condensed cyclic aromatic compound which has an epoxy group into the said range, sclerosis | hardenability of the film for protective film formation can be improved.

本発明の保護膜形成用フィルムにおいては、エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物と共に他のエポキシ化合物を併用することもできる。  In the protective film-forming film of the present invention, another epoxy compound can be used in combination with the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group.

他のエポキシ化合物
他のエポキシ化合物としては、縮合環式芳香族構造を有しない従来公知の各種エポキシ化合物を用いることができる。具体的には、ビスフェノールAジグリシジルエーテルやその水添物、o−クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェニレン骨格型エポキシ樹脂など、分子中に2官能以上有するエポキシ化合物が挙げられる。これらは1種単独で、または2種以上を組み合わせて用いることができる。
Other epoxy compounds As the other epoxy compounds, various conventionally known epoxy compounds having no condensed cyclic aromatic structure can be used. Specifically, bisphenol A diglycidyl ether and hydrogenated products thereof, o-cresol novolac type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, phenylene skeleton An epoxy compound having two or more functional groups in the molecule, such as a type epoxy resin. These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

他のエポキシ化合物を用いる場合には、その含有量は、保護膜形成用フィルムを構成する全固形分100質量部に対して、好ましくは5〜40質量部、より好ましくは10〜35質量部、さらに好ましくは15〜30質量部である。他のエポキシ化合物の含有量を上記範囲とすることで、保護膜形成用フィルムを硬化して得られる保護膜の半導体チップに対する接着性が向上する。また、保護膜形成用フィルムを支持シート上に積層する場合には、保護膜形成用フィルムと支持シートとの剥離力を制御でき、その結果、保護膜形成用フィルムの転写不良が防止される。  When using another epoxy compound, the content thereof is preferably 5 to 40 parts by mass, more preferably 10 to 35 parts by mass, with respect to 100 parts by mass of the total solid content constituting the protective film-forming film. More preferably, it is 15-30 mass parts. By making content of another epoxy compound into the said range, the adhesiveness with respect to the semiconductor chip of the protective film obtained by hardening | curing the film for protective film formation improves. Moreover, when laminating | stacking the protective film formation film on a support sheet, the peeling force of the film for protective film formation and a support sheet can be controlled, As a result, the transfer defect of the film for protective film formation is prevented.

熱硬化剤
熱硬化剤は、エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物や他のエポキシ化合物に対する硬化剤として機能する。好ましい熱硬化剤としては、1分子中にエポキシ基と反応しうる官能基を2個以上有する化合物が挙げられる。その官能基としてはフェノール性水酸基、アルコール性水酸基、アミノ基、カルボキシル基または酸無水物などが挙げられる。これらのうち好ましくはフェノール性水酸基、アミノ基または酸無水物などが挙げられ、さらに好ましくはフェノール性水酸基またはアミノ基が挙げられる。
Thermosetting agent A thermosetting agent functions as a hardening | curing agent with respect to the condensed cyclic aromatic compound which has an epoxy group, and another epoxy compound. A preferable thermosetting agent includes a compound having two or more functional groups capable of reacting with an epoxy group in one molecule. Examples of the functional group include phenolic hydroxyl groups, alcoholic hydroxyl groups, amino groups, carboxyl groups, and acid anhydrides. Of these, phenolic hydroxyl groups, amino groups, or acid anhydrides are preferable, and phenolic hydroxyl groups or amino groups are more preferable.

フェノール系硬化剤の具体的な例としては、多官能系フェノール樹脂、ビフェノール、ノボラック型フェノール樹脂、ジシクロペンタジエン系フェノール樹脂、ザイロック型フェノール樹脂、またはアラルキルフェノール樹脂が挙げられる。
アミン系硬化剤の具体的な例としては、DICY(ジシアンジアミド)が挙げられる。
これらは、1種単独で、または2種以上混合して使用することができる。
Specific examples of the phenolic curing agent include polyfunctional phenolic resin, biphenol, novolac type phenolic resin, dicyclopentadiene type phenolic resin, zylock type phenolic resin, or aralkylphenolic resin.
A specific example of the amine curing agent is DICY (dicyandiamide).
These can be used individually by 1 type or in mixture of 2 or more types.

熱硬化剤の含有量は、エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物と他のエポキシ化合物の合計100質量部に対して、好ましくは0.1〜500質量部、より好ましくは1〜200質量部、さらに好ましくは2〜10質量部である。熱硬化剤の含有量を上記範囲とすることで、保護膜形成用フィルムを硬化して得られる保護膜の半導体チップに対する接着性や、保護膜形成用フィルムの半導体ウエハへの貼付適性に優れる。  The content of the thermosetting agent is preferably 0.1 to 500 parts by mass, more preferably 1 to 200 parts by mass with respect to a total of 100 parts by mass of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group and another epoxy compound. More preferably, it is 2 to 10 parts by mass. By setting the content of the thermosetting agent in the above range, the adhesive property of the protective film obtained by curing the protective film forming film to the semiconductor chip and the suitability of the protective film forming film to the semiconductor wafer are excellent.

硬化促進剤
保護膜形成用フィルムの熱硬化の速度を調整するために、硬化促進剤を用いてもよい。好ましい硬化促進剤としては、トリエチレンジアミン、ベンジルジメチルアミン、トリエタノールアミン、ジメチルアミノエタノール、トリス(ジメチルアミノメチル)フェノールなどの3級アミン類;2−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾールなどのイミダゾール類;トリブチルホスフィン、ジフェニルホスフィン、トリフェニルホスフィンなどの有機ホスフィン類;テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、トリフェニルホスフィンテトラフェニルボレートなどのテトラフェニルボロン塩などが挙げられる。これらは1種単独で、または2種以上混合して使用することができる。
In order to adjust the rate of thermal curing of the film for forming a curing accelerator protective film, a curing accelerator may be used. Preferred curing accelerators include tertiary amines such as triethylenediamine, benzyldimethylamine, triethanolamine, dimethylaminoethanol, tris (dimethylaminomethyl) phenol; 2-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl- Imidazoles such as 4-methylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole; Organic phosphines such as tributylphosphine, diphenylphosphine, triphenylphosphine; And tetraphenylboron salts such as tetraphenylphosphonium tetraphenylborate and triphenylphosphinetetraphenylborate. These can be used individually by 1 type or in mixture of 2 or more types.

硬化促進剤は、エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物、他のエポキシ化合物および熱硬化剤の合計100質量部に対して、好ましくは0.01〜10質量部、さらに好ましくは0.1〜3質量部の量で含まれる。硬化促進剤の含有量を上記範囲とすることにより、高温度高湿度下に曝されても、保護膜形成用フィルムを硬化して得られる保護膜の半導体チップに対する接着性に優れ、また、厳しいリフロー条件に曝された場合であっても高い信頼性を達成することができる。  The curing accelerator is preferably 0.01 to 10 parts by mass, more preferably 0.1 to 0.1 parts by mass with respect to 100 parts by mass in total of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group, another epoxy compound and a thermosetting agent. It is included in an amount of 3 parts by mass. By setting the content of the curing accelerator in the above range, the protective film obtained by curing the protective film-forming film is excellent in adhesiveness to the semiconductor chip even when exposed to high temperature and high humidity, and is severe. High reliability can be achieved even when exposed to reflow conditions.

エネルギー線硬化性成分
本発明の保護膜形成用フィルムは、上述したエポキシ系熱硬化性成分の他に、エネルギー線硬化性成分を含有してもよい。保護膜形成用フィルムがエネルギー線硬化性成分を含有する場合には、エネルギー線照射により保護膜形成用フィルムを予備的に硬化することができるため、後述する保護膜付チップの製造工程において、保護膜形成用フィルムの凝集力を上げ、保護膜形成用フィルムと支持シートとの間の接着力を低下できる。その結果、保護膜形成用フィルム付チップを支持シートから分離しやすくなり、保護膜形成用フィルム付チップのピックアップ性に優れる。エネルギー線硬化性成分は、反応性二重結合基を有する化合物としてエネルギー線反応性化合物を単独で用いてもよいが、エネルギー線反応性化合物と光重合開始剤を組み合わせたものを用いることが好ましい。
Energy ray curable component The protective film-forming film of the present invention may contain an energy ray curable component in addition to the above-described epoxy-based thermosetting component. In the case where the protective film-forming film contains an energy ray-curable component, the protective film-forming film can be preliminarily cured by energy ray irradiation. The cohesive force of the film-forming film can be increased, and the adhesive force between the protective film-forming film and the support sheet can be reduced. As a result, it becomes easy to separate the chip with a protective film-forming film from the support sheet, and the pickup property of the chip with the protective film-forming film is excellent. The energy ray-curable component may be an energy ray-reactive compound alone as a compound having a reactive double bond group, but it is preferable to use a combination of an energy ray-reactive compound and a photopolymerization initiator. .

エネルギー線反応性化合物
エネルギー線反応性化合物としては、具体的には、トリメチロールプロパントリアクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレート、ジペンタエリスリトールモノヒドロキシペンタアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレートあるいは1,4−ブチレングリコールジアクリレート、1,6−ヘキサンジオールジアクリレート、ジシクロペンタジエン骨格含有多官能アクリレート等のアクリレート系化合物が挙げられ、また、オリゴエステルアクリレート、ウレタンアクリレート系オリゴマー、エポキシアクリレート、ポリエーテルアクリレートおよびイタコン酸オリゴマーなどのアクリレート系化合物等の重合構造を有するアクリレート化合物であって、比較的低分子量のものが挙げられる。このような化合物は、分子内に少なくとも1つの重合性の炭素−炭素二重結合を有する。
Energy ray reactive compounds As energy ray reactive compounds, specifically, trimethylolpropane triacrylate, pentaerythritol triacrylate, pentaerythritol tetraacrylate, dipentaerythritol monohydroxypentaacrylate, dipentaerythritol hexaacrylate or 1, Examples include acrylate compounds such as 4-butylene glycol diacrylate, 1,6-hexanediol diacrylate, and polyfunctional acrylates containing dicyclopentadiene skeleton, and also oligoester acrylates, urethane acrylate oligomers, epoxy acrylates, polyether acrylates And acrylate compounds having a polymerized structure such as acrylate compounds such as itaconic acid oligomers. Include the relatively low molecular weight. Such a compound has at least one polymerizable carbon-carbon double bond in the molecule.

エネルギー線反応性化合物の含有量は、保護膜形成用フィルムを構成する全固形分100質量部に対して、好ましくは1〜5質量部、より好ましくは2〜4質量部である。  The content of the energy ray reactive compound is preferably 1 to 5 parts by mass, more preferably 2 to 4 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total solid content constituting the protective film-forming film.

光重合開始剤
エネルギー線反応性化合物に光重合開始剤を組み合わせることで、重合硬化時間を短くし、ならびに光線照射量を少なくすることができる。
By combining the photopolymerization initiator with the photopolymerization initiator energy beam reactive compound, the polymerization curing time can be shortened and the amount of light irradiation can be reduced.

このような光重合開始剤として具体的には、ベンゾフェノン、アセトフェノン、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテル、ベンゾイン安息香酸、ベンゾイン安息香酸メチル、ベンゾインジメチルケタール、2,4−ジエチルチオキサンソン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、ベンジルジフェニルサルファイド、テトラメチルチウラムモノサルファイド、アゾビスイソブチロニトリル、ベンジル、ジベンジル、ジアセチル、1,2−ジフェニルメタン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−[4−(1−メチルビニル)フェニル]プロパノン、2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルフォスフィンオキサイドおよびβ−クロールアンスラキノンなどが挙げられる。光重合開始剤は1種類単独で、または2種類以上を組み合わせて用いることができる。  Specific examples of such photopolymerization initiators include benzophenone, acetophenone, benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin isobutyl ether, benzoin benzoic acid, methyl benzoin benzoate, benzoin dimethyl ketal, 2, 4-diethylthioxanthone, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, benzyldiphenyl sulfide, tetramethylthiuram monosulfide, azobisisobutyronitrile, benzyl, dibenzyl, diacetyl, 1,2-diphenylmethane, 2-hydroxy-2-methyl -1- [4- (1-Methylvinyl) phenyl] propanone, 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide and β-claw Anthraquinone and the like. A photoinitiator can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

光重合開始剤の含有量は、エネルギー線反応性化合物100質量部に対して、好ましくは0.1〜10質量部、より好ましくは1〜7質量部である。
光重合開始剤の含有量が0.1質量部未満であると光重合の不足で満足な硬化性が得られないことがあり、10質量部を超えると光重合に寄与しない残留物が生成し、不具合の原因となることがある。
The content of the photopolymerization initiator is preferably 0.1 to 10 parts by mass, more preferably 1 to 7 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the energy ray reactive compound.
If the content of the photopolymerization initiator is less than 0.1 parts by mass, sufficient curability may not be obtained due to insufficient photopolymerization, and if it exceeds 10 parts by mass, a residue that does not contribute to photopolymerization is generated. May cause malfunctions.

重合体成分
保護膜形成用フィルムは、重合体成分を含有してもよい。重合体成分は、保護膜形成用フィルムにシート形状維持性を付与することを主目的として保護膜形成用フィルムに添加される。
The polymer component protective film-forming film may contain a polymer component. The polymer component is added to the protective film-forming film mainly for the purpose of imparting sheet shape maintaining property to the protective film-forming film.

上記の目的を達成するため、重合体成分の重量平均分子量(Mw)は、通常20,000以上であり、20,000〜3,000,000であることが好ましい。重量平均分子量(Mw)の値は、ゲル・パーミエーション・クロマトグラフィー法(GPC)法(ポリスチレン標準)により測定される場合の値である。このような方法による測定は、たとえば、東ソー社製の高速GPC装置「HLC−8120GPC」に、高速カラム「TSK gurd column HXL−H」、「TSK Gel GMHXL」、「TSK Gel G2000 HXL」(以上、全て東ソー社製)をこの順序で連結したものを用い、カラム温度:40℃、送液速度:1.0mL/分の条件で、検出器を示差屈折率計として行われる。
なお、後述する硬化性重合体と区別する便宜上、重合体成分は後述する硬化機能官能基を有しない。
In order to achieve the above object, the weight average molecular weight (Mw) of the polymer component is usually 20,000 or more, preferably 20,000 to 3,000,000. The value of the weight average molecular weight (Mw) is a value when measured by a gel permeation chromatography method (GPC) method (polystyrene standard). The measurement by such a method is carried out by, for example, using a high-speed GPC device “HLC-8120GPC” manufactured by Tosoh Corporation, a high-speed column “TSK gold column H XL- H”, “TSK Gel GMH XL ”, “TSK Gel G2000 H XL ”. (The above, all manufactured by Tosoh Corporation) are connected in this order, and the detector is used as a differential refractometer at a column temperature of 40 ° C. and a liquid feed rate of 1.0 mL / min.
In addition, for the convenience of distinguishing from the curable polymer mentioned later, a polymer component does not have a hardening functional functional group mentioned later.

重合体成分としては、アクリル重合体、ポリエステル、フェノキシ樹脂(後述する硬化性重合体と区別する便宜上、エポキシ基を有しないものに限る。)、ポリカーボネート、ポリエーテル、ポリウレタン、ポリシロキサン、ゴム系重合体等を用いることができる。また、これらの2種以上が結合したもの、たとえば、水酸基を有するアクリル重合体であるアクリルポリオールに、分子末端にイソシアネート基を有するウレタンプレポリマーを反応させることにより得られるアクリルウレタン樹脂等であってもよい。さらに、2種以上が結合した重合体を含め、これらの2種以上を組み合わせて用いてもよい。  Polymer components include acrylic polymers, polyesters, phenoxy resins (for the purpose of distinguishing from curable polymers described later, limited to those having no epoxy group), polycarbonates, polyethers, polyurethanes, polysiloxanes, rubber-based polymers. A coalescence or the like can be used. In addition, an acrylic urethane resin obtained by reacting a urethane prepolymer having an isocyanate group at a molecular terminal with an acrylic polyol having an hydroxyl group and an acrylic polyol having a combination of two or more of these, Also good. Furthermore, two or more of these may be used in combination, including a polymer in which two or more are bonded.

重合体成分の含有量は、保護膜形成用フィルムを構成する全固形分100質量部に対して、好ましくは10〜60質量部、より好ましくは15〜40質量部、さらに好ましくは15〜30質量部である。保護膜形成用フィルムにおける重合体成分の含有量を上記範囲とすることで、重合体成分を種々組み合わせた場合には、保護膜形成用フィルムの被着体への貼付適性を安定して得ることが容易となる。  The content of the polymer component is preferably 10 to 60 parts by mass, more preferably 15 to 40 parts by mass, and still more preferably 15 to 30 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total solid content constituting the protective film-forming film. Part. By making the content of the polymer component in the protective film-forming film within the above range, when various polymer components are combined, the suitability of the protective film-forming film to the adherend can be stably obtained. Becomes easy.

アクリル重合体
重合体成分としては、アクリル重合体が好ましく用いられる。アクリル重合体のガラス転移温度(Tg)は、好ましくは−60〜50℃、より好ましくは−50〜40℃、さらに好ましくは−40〜30℃の範囲にある。アクリル重合体のガラス転移温度が高いと保護膜形成用フィルムの被着体(半導体ウエハ等)に対する接着性が低下し、被着体に転写できなくなることや、転写後に被着体から保護膜形成用フィルムまたは該保護膜形成用フィルムを硬化して得られる保護膜が剥離する等の不具合を生じることがある。また、アクリル重合体のガラス転移温度が低いと保護膜形成用フィルムと支持シートとの剥離力が大きくなって保護膜形成用フィルムの転写不良が起こることがある。
なお、アクリル重合体のTgは、FOXの式から求めた値である。
The acrylic polymer polymer component, the acrylic polymer is preferably used. The glass transition temperature (Tg) of the acrylic polymer is preferably in the range of −60 to 50 ° C., more preferably −50 to 40 ° C., and further preferably −40 to 30 ° C. If the glass transition temperature of the acrylic polymer is high, the adhesion of the protective film-forming film to the adherend (semiconductor wafer, etc.) will decrease, making it impossible to transfer to the adherend, or forming a protective film from the adherend after transfer In some cases, the protective film obtained by curing the protective film or the protective film-forming film peels off. Further, when the glass transition temperature of the acrylic polymer is low, the peeling force between the protective film-forming film and the support sheet is increased, and transfer failure of the protective film-forming film may occur.
The Tg of the acrylic polymer is a value determined from the FOX equation.

アクリル重合体の重量平均分子量(Mw)は、100,000〜1,500,000であることが好ましい。アクリル重合体の重量平均分子量が高いと保護膜形成用フィルムの初期接着性が低下し、被着体に転写できなくなることがある。また、アクリル重合体の重量平均分子量が低いと保護膜形成用フィルムと支持シートとの接着性が高くなり、保護膜形成用フィルムの転写不良が起こることがある。  The weight average molecular weight (Mw) of the acrylic polymer is preferably 100,000 to 1,500,000. If the weight average molecular weight of the acrylic polymer is high, the initial adhesiveness of the protective film-forming film may be reduced, and transfer to the adherend may not be possible. Further, when the weight average molecular weight of the acrylic polymer is low, the adhesion between the protective film-forming film and the support sheet is increased, and transfer failure of the protective film-forming film may occur.

アクリル重合体は、少なくとも構成する単量体に、(メタ)アクリル酸エステルモノマーあるいはその誘導体を含む。なお、本明細書で(メタ)アクリルは、アクリルおよびメタクリルの両者を包含する意味で用いることがある。  The acrylic polymer contains a (meth) acrylic acid ester monomer or a derivative thereof in at least a constituent monomer. In the present specification, (meth) acryl may be used to include both acrylic and methacrylic.

(メタ)アクリル酸エステルモノマーあるいはその誘導体としては、アルキル基の炭素数が1〜18である(メタ)アクリル酸アルキルエステル、環状骨格を有する(メタ)アクリル酸エステル、水酸基を有する(メタ)アクリル酸エステル、アミノ基を有する(メタ)アクリル酸エステル、カルボキシル基を有する(メタ)アクリル酸エステルが挙げられる。  (Meth) acrylic acid ester monomers or derivatives thereof include (meth) acrylic acid alkyl esters having an alkyl group having 1 to 18 carbon atoms, (meth) acrylic acid esters having a cyclic skeleton, and (meth) acrylic having a hydroxyl group. Examples include acid esters, (meth) acrylic acid esters having an amino group, and (meth) acrylic acid esters having a carboxyl group.

アルキル基の炭素数が1〜18である(メタ)アクリル酸アルキルエステルとしては、例えば(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸プロピル、(メタ)アクリル酸ブチル、(メタ)アクリル酸ペンチル、(メタ)アクリル酸ヘキシル、(メタ)アクリル酸へプチル、(メタ)アクリル酸オクチル、(メタ)アクリル酸2−エチルヘキシル、(メタ)アクリル酸ノニル、(メタ)アクリル酸デシル、(メタ)アクリル酸ラウリル、(メタ)アクリル酸テトラデシル、(メタ)アクリル酸オクタデシル等が挙げられる。  Examples of the (meth) acrylic acid alkyl ester having 1 to 18 carbon atoms of the alkyl group include, for example, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, Pentyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, heptyl (meth) acrylate, octyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, nonyl (meth) acrylate, (meth) acrylic acid Examples include decyl, lauryl (meth) acrylate, tetradecyl (meth) acrylate, octadecyl (meth) acrylate, and the like.

環状骨格を有する(メタ)アクリル酸エステルとしては、例えば(メタ)アクリル酸シクロアルキルエステル、(メタ)アクリル酸ベンジルエステル、イソボルニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンタニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンテニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンテニルオキシエチル(メタ)アクリレート、イミド(メタ)アクリレート等が挙げられる。  Examples of (meth) acrylic acid ester having a cyclic skeleton include (meth) acrylic acid cycloalkyl ester, (meth) acrylic acid benzyl ester, isobornyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate, dicyclopentenyl ( Examples thereof include (meth) acrylate, dicyclopentenyloxyethyl (meth) acrylate, and imide (meth) acrylate.

水酸基を有する(メタ)アクリル酸エステルとしては、例えば2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート等が挙げられる。  Examples of the (meth) acrylic acid ester having a hydroxyl group include 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-hydroxybutyl (meth) acrylate and the like.

アミノ基を有する(メタ)アクリル酸エステルとしては、例えばモノエチルアミノ(メタ)アクリレート、ジエチルアミノ(メタ)アクリレート等が挙げられる。  Examples of the (meth) acrylic acid ester having an amino group include monoethylamino (meth) acrylate and diethylamino (meth) acrylate.

カルボキシル基を有する(メタ)アクリル酸エステルとしては、例えば2−(メタ)アクリロイロキシエチルフタレート、2−(メタ)アクリロイロキシプロピルフタレート等が挙げられる。  Examples of the (meth) acrylic acid ester having a carboxyl group include 2- (meth) acryloyloxyethyl phthalate and 2- (meth) acryloyloxypropyl phthalate.

これらは1種単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。  These may be used alone or in combination of two or more.

アクリル重合体を構成する単量体として、水酸基を有する単量体を用いることが好ましい。このような単量体を用いることで、アクリル重合体に水酸基が導入され、保護膜形成用フィルムがエネルギー線硬化性成分を含有する場合に、これとアクリル重合体との相溶性が向上する。水酸基を有する単量体としては、上記の水酸基を有する(メタ)アクリル酸エステルの他に、ビニルアルコール、N−メチロール(メタ)アクリルアミド等が挙げられる。  As the monomer constituting the acrylic polymer, a monomer having a hydroxyl group is preferably used. By using such a monomer, when a hydroxyl group is introduced into the acrylic polymer and the protective film-forming film contains an energy ray-curable component, the compatibility between this and the acrylic polymer is improved. Examples of the monomer having a hydroxyl group include vinyl alcohol and N-methylol (meth) acrylamide in addition to the above-mentioned (meth) acrylic acid ester having a hydroxyl group.

アクリル重合体を構成する単量体として、カルボキシル基を有する単量体を用いてもよい。このような単量体を用いることで、アクリル重合体にカルボキシル基が導入され、保護膜形成用フィルムが、エネルギー線硬化性成分を含有する場合に、これとアクリル重合体との相溶性が向上する。カルボキシル基を有する単量体としては、上記のカルボキシル基を有する(メタ)アクリル酸エステルの他に、(メタ)アクリル酸、マレイン酸、フマル酸、イタコン酸等が挙げられる。ただし、当該カルボキシル基とエポキシ系熱硬化性成分中のエポキシ基が反応してしまうため、カルボキシル基を有する単量体の使用量は少ないことが好ましい。  As the monomer constituting the acrylic polymer, a monomer having a carboxyl group may be used. By using such a monomer, when a carboxyl group is introduced into the acrylic polymer and the protective film-forming film contains an energy ray-curable component, the compatibility between this and the acrylic polymer is improved. To do. Examples of the monomer having a carboxyl group include (meth) acrylic acid, maleic acid, fumaric acid, and itaconic acid in addition to the above (meth) acrylic acid ester having a carboxyl group. However, since the said carboxyl group and the epoxy group in an epoxy-type thermosetting component will react, it is preferable that the usage-amount of the monomer which has a carboxyl group is small.

アクリル重合体を構成する単量体として、このほか(メタ)アクリロニトリル、(メタ)アクリルアミド、酢酸ビニル、スチレン、エチレン、α−オレフィン等を用いてもよい。  In addition, (meth) acrylonitrile, (meth) acrylamide, vinyl acetate, styrene, ethylene, α-olefin and the like may be used as the monomer constituting the acrylic polymer.

また、アクリル重合体は架橋されていてもよい。架橋は、架橋される前のアクリル重合体が水酸基等の架橋性官能基を有しており、保護膜形成用フィルムを形成するための組成物中に架橋剤を添加することで架橋性官能基と架橋剤の有する官能基が反応することにより行われる。アクリル重合体を架橋することにより、保護膜形成用フィルムの凝集力を調節することが可能となる。また、アクリル重合体の架橋密度を調整することで、保護膜形成用フィルムの熱硬化後のガラス転移温度を制御することができる。架橋密度は後述する架橋剤の添加量で制御できる。  The acrylic polymer may be cross-linked. In the crosslinking, the acrylic polymer before crosslinking has a crosslinkable functional group such as a hydroxyl group, and a crosslinkable functional group is added by adding a crosslinker to the composition for forming a protective film-forming film. And the functional group of the crosslinking agent reacts. By crosslinking the acrylic polymer, the cohesive force of the protective film-forming film can be adjusted. Moreover, the glass transition temperature after thermosetting of the film for protective film formation is controllable by adjusting the crosslinking density of an acrylic polymer. The crosslinking density can be controlled by the addition amount of a crosslinking agent described later.

架橋剤としては有機多価イソシアネート化合物、有機多価イミン化合物などが挙げられる。  Examples of the crosslinking agent include organic polyvalent isocyanate compounds and organic polyvalent imine compounds.

有機多価イソシアネート化合物としては、芳香族多価イソシアネート化合物、脂肪族多価イソシアネート化合物、脂環族多価イソシアネート化合物およびこれらの有機多価イソシアネート化合物の三量体、ならびにこれら有機多価イソシアネート化合物とポリオール化合物とを反応させて得られる末端イソシアネートウレタンプレポリマー等を挙げることができる。  Examples of organic polyvalent isocyanate compounds include aromatic polyvalent isocyanate compounds, aliphatic polyvalent isocyanate compounds, alicyclic polyvalent isocyanate compounds, trimers of these organic polyvalent isocyanate compounds, and these organic polyvalent isocyanate compounds. Examples thereof include terminal isocyanate urethane prepolymers obtained by reacting with a polyol compound.

有機多価イソシアネート化合物として、具体的には、2,4−トリレンジイソシアネート、2,6−トリレンジイソシアネート、1,3−キシリレンジイソシアネート、1,4−キシレンジイソシアネート、ジフェニルメタン−4,4’−ジイソシアネート、ジフェニルメタン−2,4’−ジイソシアネート、3−メチルジフェニルメタンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート、ジシクロヘキシルメタン−4,4’−ジイソシアネート、ジシクロヘキシルメタン−2,4’−ジイソシアネート、リジンイソシアネート、およびこれらの多価アルコールアダクト体が挙げられる。  Specifically, as the organic polyvalent isocyanate compound, 2,4-tolylene diisocyanate, 2,6-tolylene diisocyanate, 1,3-xylylene diisocyanate, 1,4-xylene diisocyanate, diphenylmethane-4,4′- Diisocyanate, diphenylmethane-2,4′-diisocyanate, 3-methyldiphenylmethane diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, isophorone diisocyanate, dicyclohexylmethane-4,4′-diisocyanate, dicyclohexylmethane-2,4′-diisocyanate, and lysine isocyanates thereof Examples thereof include polyhydric alcohol adducts.

有機多価イミン化合物として、具体的には、N,N’−ジフェニルメタン−4,4’−ビス(1−アジリジンカルボキシアミド)、トリメチロールプロパン−トリ−β−アジリジニルプロピオネート、テトラメチロールメタン−トリ−β−アジリジニルプロピオネートおよびN,N’−トルエン−2,4−ビス(1−アジリジンカルボキシアミド)トリエチレンメラミン等を挙げることができる。  Specific examples of organic polyvalent imine compounds include N, N′-diphenylmethane-4,4′-bis (1-aziridinecarboxamide), trimethylolpropane-tri-β-aziridinylpropionate, tetramethylol. Mention may be made of methane-tri-β-aziridinylpropionate and N, N′-toluene-2,4-bis (1-aziridinecarboxamide) triethylenemelamine.

架橋剤は架橋する前のアクリル重合体100質量部に対して通常0.01〜20質量部、好ましくは0.1〜10質量部、より好ましくは0.5〜5質量部の比率で用いられる。  The crosslinking agent is usually used in a ratio of 0.01 to 20 parts by mass, preferably 0.1 to 10 parts by mass, more preferably 0.5 to 5 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the acrylic polymer before crosslinking. .

本発明において、保護膜形成用フィルムを構成する成分の含有量の態様について、重合体成分の含有量を基準として定める場合、重合体成分が架橋されたアクリル重合体であるときは、その基準とする含有量は、架橋される前のアクリル重合体の含有量である。  In the present invention, when determining the content of the component constituting the protective film-forming film based on the content of the polymer component, when the polymer component is a cross-linked acrylic polymer, the standard and The content to be used is the content of the acrylic polymer before being crosslinked.

非アクリル系樹脂
また、重合体成分として、ポリエステル、フェノキシ樹脂(後述する硬化性重合体と区別する便宜上、エポキシ基を有しないものに限る。)、ポリカーボネート、ポリエーテル、ポリウレタン、ポリシロキサン、ゴム系重合体またはこれらの2種以上が結合したものから選ばれる非アクリル系樹脂を用いてもよい。非アクリル系樹脂は1種単独または2種以上を組み合わせて用いることもできる。このような樹脂としては、重量平均分子量が20,000〜100,000のものが好ましく、20,000〜80,000のものがさらに好ましい。
Non-acrylic resin In addition, as a polymer component, polyester, phenoxy resin (for the purpose of distinguishing from the curable polymer described later, limited to those having no epoxy group), polycarbonate, polyether, polyurethane, polysiloxane, rubber system A non-acrylic resin selected from a polymer or a combination of two or more of these may be used. Non-acrylic resins can be used alone or in combination of two or more. Such a resin preferably has a weight average molecular weight of 20,000 to 100,000, and more preferably 20,000 to 80,000.

非アクリル系樹脂のガラス転移温度は、好ましくは−30〜150℃、さらに好ましくは−20〜120℃の範囲にある。  The glass transition temperature of the non-acrylic resin is preferably -30 to 150 ° C, more preferably -20 to 120 ° C.

非アクリル系樹脂を、上述のアクリル重合体と併用した場合には、保護膜形成用シートを用いて被着体へ保護膜形成用フィルムを転写する際に、支持シートと保護膜形成用フィルムとの層間剥離をさらに容易に行うことができ、さらに転写面に保護膜形成用フィルムが追従しボイドなどの発生を抑えることができる。  When a non-acrylic resin is used in combination with the above-mentioned acrylic polymer, when the protective film-forming film is transferred to the adherend using the protective film-forming sheet, the support sheet and the protective film-forming film are Can be more easily peeled off, and the protective film-forming film can follow the transfer surface to prevent the generation of voids.

非アクリル系樹脂を、上述のアクリル重合体と併用する場合には、非アクリル系樹脂の含有量は、非アクリル系樹脂とアクリル重合体との質量比(非アクリル系樹脂:アクリル重合体)において、好ましくは1:99〜70:30、より好ましくは1:99〜60:40の範囲にある。非アクリル系樹脂の含有量がこの範囲にあることにより、上記の効果を得ることができる。  When a non-acrylic resin is used in combination with the above-mentioned acrylic polymer, the content of the non-acrylic resin is determined by the mass ratio of the non-acrylic resin to the acrylic polymer (non-acrylic resin: acrylic polymer). , Preferably in the range of 1:99 to 70:30, more preferably 1:99 to 60:40. When the content of the non-acrylic resin is in this range, the above effect can be obtained.

硬化性重合体成分
保護膜形成用フィルムには、硬化性重合体成分を添加することもできる。硬化性重合体成分は、エポキシ系熱硬化性成分またはエネルギー線硬化性成分の性質と、重合体成分の性質とを兼ね備えている。
A curable polymer component may be added to the curable polymer component protective film-forming film. The curable polymer component combines the properties of an epoxy-based thermosetting component or energy ray curable component with the properties of the polymer component.

硬化性重合体成分は、硬化機能官能基を有する重合体である。硬化機能官能基は、互いに反応して三次元網目構造を構成しうる官能基であり、加熱により反応する官能基や、エネルギー線により反応する官能基が挙げられる。硬化機能官能基は、硬化性重合体成分の骨格となる連続構造の単位中に付加していてもよいし、末端に付加していてもよい。硬化機能官能基が硬化性重合体成分の骨格となる連続構造の単位中に付加している場合、硬化機能官能基は側鎖に付加していてもよいし、主鎖に直接付加していてもよい。硬化性重合体成分の重量平均分子量(Mw)は、保護膜形成用フィルムにシート形状維持性を付与する目的を達成する観点から、通常20,000以上である。  The curable polymer component is a polymer having a curing functional group. The curing functional group is a functional group that can react with each other to form a three-dimensional network structure, and examples thereof include a functional group that reacts by heating and a functional group that reacts by energy rays. The functional functional group may be added to the unit of a continuous structure that becomes the skeleton of the curable polymer component or may be added to the terminal. When the functional functional group is added in the unit of the continuous structure that becomes the skeleton of the curable polymer component, the functional functional group may be added to the side chain or directly to the main chain. Also good. The weight average molecular weight (Mw) of the curable polymer component is usually 20,000 or more from the viewpoint of achieving the purpose of imparting sheet shape maintainability to the protective film-forming film.

加熱により反応する官能基としてはエポキシ基が挙げられる。エポキシ基を有する硬化性重合体成分としては、高分子量のエポキシ基含有化合物や、エポキシ基を有するフェノキシ樹脂が挙げられる。高分子量のエポキシ基含有化合物は、たとえば、特開2001−261789に開示されている。
また、上述のアクリル重合体と同様の重合体であって、単量体として、エポキシ基を有する単量体を用いて重合したもの(エポキシ基含有アクリル重合体)であってもよい。エポキシ基を有する単量体としては、たとえばグリシジル(メタ)アクリレート等のエポキシ基を有する(メタ)アクリル酸エステルなどが挙げられる。
エポキシ基含有アクリル重合体を用いる場合、その好ましい態様はエポキシ基以外についてアクリル重合体と同様である。
An example of a functional group that reacts by heating is an epoxy group. Examples of the curable polymer component having an epoxy group include a high molecular weight epoxy group-containing compound and a phenoxy resin having an epoxy group. High molecular weight epoxy group-containing compounds are disclosed, for example, in JP-A-2001-261789.
Moreover, it is the polymer similar to the above-mentioned acrylic polymer, Comprising: What polymerized using the monomer which has an epoxy group as a monomer (epoxy group containing acrylic polymer) may be sufficient. Examples of the monomer having an epoxy group include (meth) acrylic acid ester having an epoxy group such as glycidyl (meth) acrylate.
When an epoxy group-containing acrylic polymer is used, its preferred embodiment is the same as that of the acrylic polymer except for the epoxy group.

エポキシ基を有する硬化性重合体成分を用いる場合には、上述した熱硬化剤や、硬化促進剤を併用してもよい。  When using the curable polymer component which has an epoxy group, you may use together the thermosetting agent mentioned above and a hardening accelerator.

エネルギー線により反応する官能基としては、(メタ)アクリロイル基が挙げられる。エネルギー線により反応する官能基を有する硬化性重合体成分としては、ポリエーテルアクリレートなどの重合構造を有するアクリレート系化合物等であって、高分子量のものを用いることができる。
また、たとえば側鎖に水酸基等の官能基Xを有する原料重合体に、官能基Xと反応しうる官能基Y(たとえば、官能基Xが水酸基である場合にはイソシアネート基等)およびエネルギー線照射により反応する官能基を有する低分子化合物を反応させて調製した重合体を用いてもよい。
この場合において、原料重合体が上述のアクリル重合体に該当するときは、その原料重合体の好ましい態様は、アクリル重合体と同様である。
Examples of the functional group that reacts with energy rays include a (meth) acryloyl group. As the curable polymer component having a functional group that reacts with energy rays, an acrylate compound having a polymer structure such as polyether acrylate, and the like having a high molecular weight can be used.
In addition, for example, a raw material polymer having a functional group X such as a hydroxyl group in a side chain, a functional group Y that can react with the functional group X (for example, an isocyanate group when the functional group X is a hydroxyl group) and energy beam irradiation Alternatively, a polymer prepared by reacting a low molecular compound having a functional group that reacts with the above may be used.
In this case, when the raw material polymer corresponds to the above-mentioned acrylic polymer, the preferred mode of the raw material polymer is the same as that of the acrylic polymer.

エネルギー線により反応する官能基を有する硬化性重合体成分を用いる場合には、エネルギー線硬化性成分を用いる場合と同様、光重合開始剤を併用してもよい。  When a curable polymer component having a functional group that reacts with energy rays is used, a photopolymerization initiator may be used in the same manner as in the case of using an energy ray curable component.

無機フィラー
保護膜形成用フィルムは、無機フィラーを含有することが好ましい。無機フィラーを保護膜形成用フィルムに配合することにより、硬化後の保護膜における熱膨張係数を調整することが容易になり、被着体に対して硬化後の保護膜の熱膨張係数を最適化することで保護膜付チップの信頼性を向上させることができる。また、硬化後の保護膜の吸湿率を低減させることも可能となる。
さらに、保護膜にレーザーマーキングを施すことにより、レーザー光により削り取られた部分に無機フィラーが露出して、反射光が拡散するために白色に近い色を呈する。これにより、保護膜形成用フィルムが後述する着色剤を含有する場合、レーザーマーキング部分と他の部分にコントラスト差が得られ、印字が明瞭になるという効果がある。
The film for forming an inorganic filler protective film preferably contains an inorganic filler. By blending an inorganic filler into the protective film-forming film, it becomes easy to adjust the thermal expansion coefficient of the cured protective film, and the thermal expansion coefficient of the cured protective film is optimized for the adherend. By doing so, the reliability of the chip with protective film can be improved. Moreover, it becomes possible to reduce the moisture absorption rate of the protective film after hardening.
Furthermore, by applying laser marking to the protective film, the inorganic filler is exposed at the portion scraped off by the laser beam, and the reflected light diffuses to exhibit a color close to white. Thereby, when the film for protective film formation contains the coloring agent mentioned later, there is an effect that a contrast difference is obtained between the laser marking portion and other portions, and the printing becomes clear.

好ましい無機フィラーとしては、シリカ、アルミナ、タルク、炭酸カルシウム、酸化チタン、酸化鉄、炭化珪素、窒化ホウ素等の粉末、これらを球形化したビーズ、単結晶繊維およびガラス繊維等が挙げられる。これらのなかでも、シリカフィラーおよびアルミナフィラーが好ましい。上記無機フィラーは単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
上述の効果をより確実に得るための、無機フィラーの含有量は、保護膜形成用フィルムを構成する全固形分100質量部に対して、好ましくは10〜70質量部、より好ましくは40〜70質量部、特に好ましくは50〜65質量部である。
Preferred inorganic fillers include powders of silica, alumina, talc, calcium carbonate, titanium oxide, iron oxide, silicon carbide, boron nitride, and the like, beads formed by spheroidizing these, single crystal fibers, glass fibers, and the like. Among these, silica filler and alumina filler are preferable. The said inorganic filler can be used individually or in mixture of 2 or more types.
The content of the inorganic filler for obtaining the above-described effects more reliably is preferably 10 to 70 parts by mass, more preferably 40 to 70 parts per 100 parts by mass of the total solid content constituting the protective film-forming film. Part by mass, particularly preferably 50 to 65 parts by mass.

また、無機フィラーの平均粒子径は、好ましくは0.02〜20μm、より好ましくは0.05〜10μmである。無機フィラーの平均粒子径は、電子顕微鏡で無作為に選んだ無機フィラー20個の長軸径を測定し、その算術平均値として算出される個数平均粒子径とする。  The average particle size of the inorganic filler is preferably 0.02 to 20 μm, more preferably 0.05 to 10 μm. The average particle diameter of the inorganic filler is the number average particle diameter calculated as an arithmetic average value by measuring the major axis diameters of 20 randomly selected inorganic fillers with an electron microscope.

着色剤
保護膜形成用フィルムには、着色剤を配合することができる。着色剤を配合することで、赤外線等を遮断することができるため、周囲の装置から発生する赤外線等による半導体装置の誤作動を防止することができる。また、レーザーマーキング等の手段により保護膜に刻印を行った場合に、文字、記号等のマークが認識しやすくなるという効果がある。すなわち、保護膜が形成された半導体チップでは、保護膜の表面に品番等が通常レーザーマーキング法(レーザー光により保護膜表面を削り取り印字を行う方法)により印字されるが、保護膜が着色剤を含有することで、保護膜のレーザー光により削り取られた部分とそうでない部分のコントラスト差が充分に得られ、視認性が向上する。
A colorant can be blended in the colorant protective film-forming film. By blending the colorant, infrared rays and the like can be blocked, so that malfunction of the semiconductor device due to infrared rays and the like generated from surrounding devices can be prevented. In addition, when the protective film is engraved by means such as laser marking, there is an effect that marks such as characters and symbols can be easily recognized. That is, in a semiconductor chip on which a protective film is formed, the product number or the like is usually printed on the surface of the protective film by a laser marking method (a method in which the surface of the protective film is scraped off by laser light and printed). By containing, the contrast difference of the part scraped off with the laser beam of the protective film and the part which is not so is fully obtained, and visibility improves.

着色剤としては、有機または無機の顔料および染料が用いられる。これらの中でも電磁波や赤外線遮蔽性の点から黒色顔料が好ましい。黒色顔料としては、カーボンブラック、酸化鉄、二酸化マンガン、アニリンブラック、活性炭等が用いられるが、これらに限定されることはない。保護膜付チップが組み込まれた半導体装置の信頼性を高める観点から、カーボンブラックが特に好ましい。着色剤は1種単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
着色剤の含有量は、保護膜形成用フィルムを構成する全固形分100質量部に対して、好ましくは0.1〜35質量部、さらに好ましくは0.5〜25質量部、特に好ましくは1〜15質量部である。
As the colorant, organic or inorganic pigments and dyes are used. Among these, black pigments are preferable from the viewpoint of electromagnetic wave and infrared shielding properties. Examples of the black pigment include carbon black, iron oxide, manganese dioxide, aniline black, activated carbon, and the like, but are not limited thereto. Carbon black is particularly preferable from the viewpoint of improving the reliability of the semiconductor device in which the chip with protective film is incorporated. A coloring agent may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.
The content of the colorant is preferably 0.1 to 35 parts by mass, more preferably 0.5 to 25 parts by mass, particularly preferably 1 with respect to 100 parts by mass of the total solid content constituting the protective film-forming film. -15 parts by mass.

カップリング剤
無機物と反応する官能基および有機官能基と反応する官能基を有するカップリング剤を、保護膜形成用フィルムの被着体に対する接着性、密着性および/または保護膜の凝集性を向上させるために用いてもよい。また、カップリング剤を使用することで、保護膜形成用フィルムを硬化して得られる保護膜の耐熱性を損なうことなく、その耐水性を向上させることができる。このようなカップリング剤としては、チタネート系カップリング剤、アルミネート系カップリング剤、シランカップリング剤等が挙げられる。これらのうちでも、シランカップリング剤が好ましい。
Coupling agent Improved adhesiveness, adhesion and / or cohesiveness of the protective film to the adherend of the protective film-forming film by using a coupling agent having a functional group that reacts with an inorganic substance and a functional group that reacts with an organic functional group. It may be used to Moreover, the water resistance can be improved by using a coupling agent, without impairing the heat resistance of the protective film obtained by hardening | curing the film for protective film formation. Examples of such coupling agents include titanate coupling agents, aluminate coupling agents, silane coupling agents, and the like. Of these, silane coupling agents are preferred.

シランカップリング剤としては、その有機官能基と反応する官能基が、エポキシ系熱硬化性成分、重合体成分または硬化性重合体成分などが有する官能基と反応する基であるシランカップリング剤が好ましく使用される。
このようなシランカップリング剤としてはγ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、γ−(メタクリロキシプロピル)トリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−6−(アミノエチル)−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−6−(アミノエチル)−γ−アミノプロピルメチルジエトキシシラン、N−フェニル−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−ウレイドプロピルトリエトキシシラン、γ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、γ−メルカプトプロピルメチルジメトキシシラン、ビス(3−トリエトキシシリルプロピル)テトラスルファン、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラン、イミダゾールシランなどが挙げられる。これらは1種単独で、または2種以上混合して使用することができる。
As the silane coupling agent, there is a silane coupling agent whose functional group that reacts with the organic functional group is a group that reacts with a functional group of an epoxy thermosetting component, a polymer component, a curable polymer component, or the like. Preferably used.
Examples of such silane coupling agents include γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, γ- (methacryloxy). Propyl) trimethoxysilane, γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-6- (aminoethyl) -γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-6- (aminoethyl) -γ-aminopropylmethyldiethoxysilane, N -Phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-ureidopropyltriethoxysilane, γ-mercaptopropyltrimethoxysilane, γ-mercaptopropylmethyldimethoxysilane, bis (3-triethoxysilylpropyl) tetrasulfane, methyltri Methoxysilane , Methyltriethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, vinyltriacetoxysilane, and imidazolesilane. These can be used individually by 1 type or in mixture of 2 or more types.

シランカップリング剤の含有量は、保護膜形成用フィルムを構成する全固形分100質量部に対して、通常0.1〜20質量部、好ましくは0.2〜10質量部、より好ましくは0.3〜5質量部である。シランカップリング剤の含有量が0.1質量部未満だと上記の効果が得られない可能性があり、20質量部を超えるとアウトガスの原因となる可能性がある。  The content of the silane coupling agent is usually 0.1 to 20 parts by mass, preferably 0.2 to 10 parts by mass, and more preferably 0 with respect to 100 parts by mass of the total solid content constituting the protective film-forming film. 3 to 5 parts by mass. If the content of the silane coupling agent is less than 0.1 parts by mass, the above effect may not be obtained, and if it exceeds 20 parts by mass, it may cause outgassing.

汎用添加剤
保護膜形成用フィルムには、上記の他に、必要に応じて各種添加剤が配合されてもよい。各種添加剤としては、レベリング剤、可塑剤、帯電防止剤、酸化防止剤、ゲッタリング剤、連鎖移動剤、剥離剤などが挙げられる。
In addition to the above, various additives may be added to the general-purpose additive protective film-forming film as necessary. Examples of various additives include leveling agents, plasticizers, antistatic agents, antioxidants, gettering agents, chain transfer agents, release agents, and the like.

保護膜形成用フィルムは、特定の化合物を含むエポキシ系熱硬化性成分と、必要に応じて配合される上記各成分とを適宜の割合で混合して得られる組成物(保護膜形成用組成物)を用いて得られる。保護膜形成用組成物は予め溶媒で希釈しておいてもよく、また混合時に溶媒に加えてもよい。また、保護膜形成用組成物の使用時に、溶媒で希釈してもよい。
かかる溶媒としては、酢酸エチル、酢酸メチル、ジエチルエーテル、ジメチルエーテル、アセトン、メチルエチルケトン、アセトニトリル、ヘキサン、シクロヘキサン、トルエン、ヘプタンなどが挙げられる。
The protective film-forming film is a composition obtained by mixing an epoxy-based thermosetting component containing a specific compound and each of the above-mentioned components blended as necessary (protective film-forming composition). ). The composition for forming a protective film may be diluted with a solvent in advance, or may be added to the solvent during mixing. Moreover, you may dilute with a solvent at the time of use of the composition for protective film formation.
Examples of such a solvent include ethyl acetate, methyl acetate, diethyl ether, dimethyl ether, acetone, methyl ethyl ketone, acetonitrile, hexane, cyclohexane, toluene, heptane and the like.

保護膜形成用フィルムは、初期接着性と硬化性とを有し、未硬化状態では常温または加熱下で被着体に押圧することで容易に接着する。また押圧する際に保護膜形成用フィルムを加熱してもよい。そして硬化を経て最終的には耐衝撃性の高い保護膜を与えることができ、接着強度にも優れ、厳しい高温度高湿度条件下においても十分な信頼性を保持し得る。なお、保護膜形成用フィルムは単層構造であってもよく、また多層構造であってもよい。  The protective film-forming film has initial adhesiveness and curability, and in an uncured state, is easily adhered by pressing against an adherend at room temperature or under heating. Moreover, you may heat the film for protective film formation, when pressing. Then, after curing, a protective film having high impact resistance can be provided, the adhesive strength is excellent, and sufficient reliability can be maintained even under severe high temperature and high humidity conditions. The protective film-forming film may have a single layer structure or a multilayer structure.

保護膜形成用フィルムの厚さは、好ましくは1〜100μm、より好ましくは2〜90μm、特に好ましくは3〜80μmである。  The thickness of the protective film-forming film is preferably 1 to 100 μm, more preferably 2 to 90 μm, and particularly preferably 3 to 80 μm.

[保護膜形成用シート]
本発明に係る保護膜形成用シートは、上述した保護膜形成用フィルムが支持シート上に積層されてなる。保護膜形成用シートは、各種の被着体に貼付され、場合によっては、保護膜形成用シート上で被着体にダイシング等の所要の加工が施される。その後、保護膜形成用フィルムを被着体に固着残存させて支持シートを剥離する。すなわち、保護膜形成用フィルムを、支持シートから被着体に転写する工程を含むプロセスに使用される。
[Protective film forming sheet]
The protective film-forming sheet according to the present invention is formed by laminating the above-described protective film-forming film on a support sheet. The protective film forming sheet is affixed to various adherends, and in some cases, the adherend is subjected to required processing such as dicing on the protective film forming sheet. Thereafter, the support film is peeled off by allowing the protective film-forming film to remain adhered to the adherend. That is, it is used in a process including a step of transferring a protective film-forming film from a support sheet to an adherend.

保護膜形成用シートの形状は、枚葉のものに限られず、長尺の帯状のものであってもよく、これを巻収してもよい。保護膜形成用フィルムは、支持シートと同形状とすることができる。また、保護膜形成用シートは、保護膜形成用フィルムが、ウエハと略同形状又はウエハの形状をそっくり含むことのできる形状に調製されたものであり、保護膜形成用フィルムよりも大きなサイズの支持シート上に積層されている、事前成形構成をとっていてもよい。  The shape of the protective film-forming sheet is not limited to a single sheet, but may be a long strip, or may be rolled up. The protective film-forming film can have the same shape as the support sheet. In addition, the protective film forming sheet is prepared in such a manner that the protective film forming film has substantially the same shape as the wafer or can include the shape of the wafer, and has a larger size than the protective film forming film. It may have a pre-molded configuration laminated on the support sheet.

支持シートとしては、剥離シートが挙げられ、また、後述する粘着シートを用いることもできる。  Examples of the support sheet include a release sheet, and an adhesive sheet described later can also be used.

剥離シートとしては、例えば、ポリエチレンフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリブテンフィルム、ポリブタジエンフィルム、ポリメチルペンテンフィルム、ポリ塩化ビニルフィルム、塩化ビニル共重合体フィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンナフタレートフィルム、ポリブチレンテレフタレートフィルム、ポリウレタンフィルム、エチレン酢酸ビニル共重合体フィルム、アイオノマー樹脂フィルム、エチレン・(メタ)アクリル酸共重合体フィルム、エチレン・(メタ)アクリル酸エステル共重合体フィルム、ポリスチレンフィルム、ポリカーボネートフィルム、ポリイミドフィルム、フッ素樹脂フィルム等が用いられる。またこれらの架橋フィルムも用いられる。さらにこれらの積層フィルムであってもよい。  As the release sheet, for example, polyethylene film, polypropylene film, polybutene film, polybutadiene film, polymethylpentene film, polyvinyl chloride film, vinyl chloride copolymer film, polyethylene terephthalate film, polyethylene naphthalate film, polybutylene terephthalate film, Polyurethane film, ethylene vinyl acetate copolymer film, ionomer resin film, ethylene / (meth) acrylic acid copolymer film, ethylene / (meth) acrylic acid ester copolymer film, polystyrene film, polycarbonate film, polyimide film, fluorine A resin film or the like is used. These crosslinked films are also used. Furthermore, these laminated films may be sufficient.

剥離シートの保護膜形成用フィルムに接する面の表面張力は、好ましくは40mN/m以下、さらに好ましくは37mN/m以下、特に好ましくは35mN/m以下である。下限値は通常25mN/m程度である。このような表面張力が比較的低い剥離シートは、材質を適宜に選択して得ることが可能であるし、また剥離シートの表面に剥離剤を塗布して剥離処理を施すことで得ることもできる。  The surface tension of the surface of the release sheet that contacts the protective film-forming film is preferably 40 mN / m or less, more preferably 37 mN / m or less, and particularly preferably 35 mN / m or less. The lower limit is usually about 25 mN / m. Such a release sheet having a relatively low surface tension can be obtained by appropriately selecting the material, and can also be obtained by applying a release agent to the surface of the release sheet and performing a release treatment. .

剥離処理に用いられる剥離剤としては、アルキッド系、シリコーン系、フッ素系、不飽和ポリエステル系、ポリオレフィン系、ワックス系などが用いられるが、特にアルキッド系、シリコーン系、フッ素系の剥離剤が耐熱性を有するので好ましい。  As the release agent used for the release treatment, alkyd, silicone, fluorine, unsaturated polyester, polyolefin, wax, and the like are used. In particular, alkyd, silicone, and fluorine release agents are heat resistant. This is preferable.

上記の剥離剤を用いて剥離シートの基体となるフィルム等の表面を剥離処理するためには、剥離剤をそのまま無溶剤で、または溶剤希釈やエマルション化して、グラビアコーター、メイヤーバーコーター、エアナイフコーター、ロールコーターなどにより塗布して、剥離剤が塗布された剥離シートを常温下または加熱下に供するか、または電子線により硬化させて剥離剤層を形成させればよい。  In order to release the surface of a film or the like as a substrate of a release sheet using the above release agent, the release agent can be used without any solvent, or can be diluted or emulsified in a solvent to obtain a gravure coater, Mayer bar coater, air knife coater. The release sheet coated with a release coater may be applied at room temperature or under heating, or may be cured with an electron beam to form a release agent layer.

また、ウェットラミネーションやドライラミネーション、熱溶融ラミネーション、溶融押出ラミネーション、共押出加工などによりフィルムの積層を行うことにより剥離シートの表面張力を調整してもよい。すなわち、少なくとも一方の面の表面張力が、上述した剥離シートの保護膜形成用フィルムと接する面のものとして好ましい範囲内にあるフィルムを、当該面が保護膜形成用フィルムと接する面となるように、他のフィルムと積層した積層体を製造し、剥離シートとしてもよい。  Further, the surface tension of the release sheet may be adjusted by laminating films by wet lamination, dry lamination, hot melt lamination, melt extrusion lamination, coextrusion processing, or the like. That is, a film in which the surface tension of at least one surface is within a preferable range as the surface in contact with the protective film-forming film of the release sheet described above is such that the surface is in contact with the protective film-forming film. Alternatively, a laminate laminated with another film may be manufactured and used as a release sheet.

保護膜形成用シート上で被着体にダイシング等の所要の加工が施される場合には、基材上に粘着剤層を形成した粘着シートを支持シートとして用いることが好ましい。この態様においては、保護膜形成用フィルムは、支持シートに設けられた粘着剤層上に積層される。粘着シートの基材としては、剥離シートとして例示した上記のフィルムが挙げられる。粘着剤層は、保護膜形成用フィルムを剥離できる程度の粘着力を有する弱粘着性のものを使用してもよいし、エネルギー線照射により粘着力が低下するエネルギー線硬化性のものを使用してもよい。粘着剤層は、従来より公知の種々の粘着剤(例えば、ゴム系、アクリル系、シリコーン系、ウレタン系、ビニルエーテル系などの汎用粘着剤、表面凹凸のある粘着剤、エネルギー線硬化型粘着剤、熱膨張成分含有粘着剤等)により形成できる。  When required processing such as dicing is performed on the adherend on the protective film-forming sheet, it is preferable to use a pressure-sensitive adhesive sheet having a pressure-sensitive adhesive layer formed on a substrate as a support sheet. In this embodiment, the protective film-forming film is laminated on the pressure-sensitive adhesive layer provided on the support sheet. As a base material of an adhesive sheet, said film illustrated as a peeling sheet is mentioned. The pressure-sensitive adhesive layer may be a weakly-adhesive layer having an adhesive strength that can peel off the protective film-forming film, or an energy-ray-curing layer that decreases in adhesive strength when irradiated with energy rays. May be. The pressure-sensitive adhesive layer includes various conventionally known pressure-sensitive adhesives (for example, rubber-based, acrylic-based, silicone-based, urethane-based, vinyl ether-based general-purpose pressure-sensitive adhesives, pressure-sensitive adhesives, energy ray-curable pressure-sensitive adhesives, A thermal expansion component-containing pressure-sensitive adhesive or the like).

保護膜形成用シートの構成がかかる構成であると、保護膜形成用シートが、ダイシング工程において被着体を支持するためのダイシングシートとして機能する場合に支持シートと保護膜形成用フィルムの間の密着性が保たれ、ダイシング工程において保護膜形成用フィルム付チップが支持シートから剥がれることを抑制するという効果が得られる。保護膜形成用シートが、ダイシング工程において被着体を支持するためのダイシングシートとして機能する場合、ダイシング工程において保護膜形成用フィルム付ウエハに別途ダイシングシートを貼り合せてダイシングをする必要がなくなり、半導体装置の製造工程を簡略化できる。  When the configuration of the protective film forming sheet is such a configuration, when the protective film forming sheet functions as a dicing sheet for supporting the adherend in the dicing step, the protective film forming sheet is provided between the support sheet and the protective film forming film. Adhesiveness is maintained and the effect of suppressing that the chip | tip with a film for protective film formation peels from a support sheet in a dicing process is acquired. When the protective film forming sheet functions as a dicing sheet for supporting the adherend in the dicing process, there is no need to dice by separately attaching a dicing sheet to the wafer with the protective film forming film in the dicing process, The manufacturing process of the semiconductor device can be simplified.

保護膜形成用シートが事前成形構成をとる場合においては、保護膜形成用シートを次の第1、第2または第3の構成としてもよい。以下、保護膜形成用シート10の各構成について図1〜3を用いて説明する。なお、図1〜3では、支持シートとして粘着シートを用いる構成を示す。  In the case where the protective film forming sheet has a pre-formed configuration, the protective film forming sheet may have the following first, second, or third configuration. Hereinafter, each structure of the protective film forming sheet 10 will be described with reference to FIGS. In addition, in FIGS. 1-3, the structure which uses an adhesive sheet as a support sheet is shown.

第1の構成は、図1に示すように、保護膜形成用フィルム4の片面に、基材1上に粘着剤層2が形成された粘着シート3が剥離可能に形成された構成である。第1の構成を採用する場合には、保護膜形成用シート10は、その外周部において粘着シート3の粘着剤層2により治具7に貼付される。  A 1st structure is a structure by which the adhesive sheet 3 in which the adhesive layer 2 was formed on the base material 1 was formed so that peeling was possible on the single side | surface of the film 4 for protective film formation, as shown in FIG. When the first configuration is adopted, the protective film forming sheet 10 is attached to the jig 7 by the adhesive layer 2 of the adhesive sheet 3 at the outer peripheral portion thereof.

第1の構成を採用する場合には、該粘着剤層をエネルギー線硬化型粘着剤で構成し、保護膜形成用フィルムが積層される領域に予めエネルギー線照射を行い、粘着性を低減させておく一方、他の領域はエネルギー線照射を行わず、粘着力を高いまま維持しておいてもよい。他の領域のみにエネルギー線照射を行わないようにするには、たとえば粘着シートの他の領域に対応する領域に印刷等によりエネルギー線遮蔽層を設け、粘着シートの基材側からエネルギー線照射を行えばよい。また、この構成を採用する場合、粘着剤層を未硬化の状態で使用し、後述する分離工程(工程(3))の前に、粘着剤層にエネルギー線照射を行い、粘着性を低減してもよい。粘着性を低減することで分離工程を円滑に実施できるようになる。  In the case of adopting the first configuration, the pressure-sensitive adhesive layer is composed of an energy ray-curable pressure-sensitive adhesive, and the region where the protective film-forming film is laminated is irradiated with energy rays in advance to reduce the adhesiveness. On the other hand, other regions may be maintained with high adhesive strength without being irradiated with energy rays. In order not to perform energy beam irradiation only in other regions, for example, an energy beam shielding layer is provided by printing or the like in a region corresponding to another region of the pressure-sensitive adhesive sheet, and energy beam irradiation is performed from the base material side of the pressure-sensitive adhesive sheet. Just do it. Moreover, when this structure is adopted, the pressure-sensitive adhesive layer is used in an uncured state, and the pressure-sensitive adhesive layer is irradiated with energy rays before the separation step (step (3)) to be described later, thereby reducing the adhesiveness. May be. By reducing the adhesiveness, the separation process can be carried out smoothly.

第2の構成は、図2に示すように、保護膜形成用シート10の粘着剤層2上に、保護膜形成用フィルム10と重ならない領域に別途治具接着層5を設けた構成である。治具接着層としては、粘着剤層単体からなる粘着部材、基材と粘着剤層から構成される粘着部材や、芯材の両面に粘着剤層を有する両面粘着部材を採用することができる。  As shown in FIG. 2, the second configuration is a configuration in which a jig adhesive layer 5 is separately provided on the pressure-sensitive adhesive layer 2 of the protective film forming sheet 10 in a region that does not overlap with the protective film forming film 10. . As a jig | tool adhesion layer, the adhesive member which consists of an adhesive layer single-piece | unit, the adhesive member comprised from a base material and an adhesive layer, and the double-sided adhesive member which has an adhesive layer on both surfaces of a core material are employable.

治具接着層は、環状(リング状)であり、空洞部(内部開口)を有し、リングフレーム等の治具7に固定可能な大きさを有する。  The jig adhesive layer is annular (ring-shaped), has a cavity (internal opening), and has a size that can be fixed to the jig 7 such as a ring frame.

治具接着層の粘着剤層を形成する粘着剤としては、特に制限されないが、たとえばアクリル粘着剤、ゴム系粘着剤、またはシリコーン粘着剤からなることが好ましい。
芯材の両面に粘着剤層を有する両面粘着部材を治具接着層として用いる場合には、治具接着層の一方の粘着剤層(粘着シートと積層される粘着剤層、以下において「積層用粘着剤層」と記載することがある。)と、他方の粘着剤層(治具に貼付される粘着剤層、以下において「固定用粘着剤層」と記載することがある。)は同種の粘着剤を用いてもよいし、異なる粘着剤を用いてもよい。
これらのうちで、リングフレーム等の治具からの再剥離性の観点からはアクリル粘着剤が好ましい。なお、上記粘着剤は、単独で用いても、二種以上混合して用いてもよい。
Although it does not restrict | limit especially as an adhesive which forms the adhesive layer of a jig | tool adhesion layer, For example, it is preferable to consist of an acrylic adhesive, a rubber-type adhesive, or a silicone adhesive.
When a double-sided pressure-sensitive adhesive member having pressure-sensitive adhesive layers on both sides of the core material is used as a jig adhesive layer, one pressure-sensitive adhesive layer of the jig adhesive layer (pressure-sensitive adhesive layer laminated with the pressure-sensitive adhesive sheet, hereinafter referred to as “for lamination”) The pressure-sensitive adhesive layer ”) and the other pressure-sensitive adhesive layer (the pressure-sensitive adhesive layer affixed to the jig, sometimes referred to as“ fixing pressure-sensitive adhesive layer ”below) are the same type. An adhesive may be used, or a different adhesive may be used.
Among these, an acrylic adhesive is preferable from the viewpoint of removability from a jig such as a ring frame. In addition, the said adhesive may be used independently or may be used in mixture of 2 or more types.

治具接着層の基材や芯材としては、上述した基材と同様のものを用いることができる。  As the base material and core material of the jig adhesive layer, the same materials as those described above can be used.

治具接着層の粘着剤層の厚さは、好ましくは2〜20μm、より好ましくは3〜15μm、さらに好ましくは4〜10μmであり、基材や芯材の厚さは、好ましくは15〜200μm、より好ましくは30〜150μm、さらに好ましくは40〜100μmである。  The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer of the jig adhesive layer is preferably 2 to 20 μm, more preferably 3 to 15 μm, still more preferably 4 to 10 μm, and the thickness of the base material or the core material is preferably 15 to 200 μm. More preferably, it is 30-150 micrometers, More preferably, it is 40-100 micrometers.

第3の構成は、図3に示すように、保護膜形成用フィルム4と粘着剤層2の間に、さらに保護膜形成用フィルムの形状をそっくり含むことのできる形状の界面接着調整層6を設けた構成である。界面接着調整層は、所定のフィルムであってもよいし、界面接着調整粘着剤層であってもよい。界面接着調整粘着剤層は、エネルギー線硬化性の粘着剤に予めエネルギー線照射を行い硬化させたものであることが好ましい。  As shown in FIG. 3, the third configuration includes an interface adhesion adjusting layer 6 having a shape that can completely include the shape of the protective film-forming film between the protective film-forming film 4 and the pressure-sensitive adhesive layer 2. This is a configuration provided. The interface adhesion adjusting layer may be a predetermined film or an interface adhesion adjusting pressure-sensitive adhesive layer. The interfacial adhesion-adjusting pressure-sensitive adhesive layer is preferably a layer obtained by previously irradiating an energy ray-curable pressure-sensitive adhesive and curing it.

保護膜形成用シートを、これらの第1から第3の構成とすることで、保護膜形成用フィルムを取り囲む領域においては、粘着剤層または治具接着層の十分な接着性により、保護膜形成用シートを治具に接着することができる。それとともに、保護膜形成用フィルムと粘着剤層または界面接着調整層との界面における接着性を制御し、保護膜形成用フィルムまたは保護膜の固着したチップのピックアップを容易とすることができる。  By forming the protective film forming sheet in the first to third configurations, the protective film is formed in the region surrounding the protective film forming film due to sufficient adhesiveness of the adhesive layer or the jig adhesive layer. The sheet can be bonded to a jig. At the same time, the adhesiveness at the interface between the protective film-forming film and the pressure-sensitive adhesive layer or the interfacial adhesion adjusting layer can be controlled to facilitate the pickup of the protective film-forming film or the chip to which the protective film is fixed.

保護膜形成用シートが事前成形構成をとらない場合、すなわち、図4に示すように、保護膜形成用フィルム4と支持シート(図4においては、基材1上に粘着剤層2が形成された粘着シート3)とを同形状とした場合において、保護膜形成用フィルム4の表面の外周部には、治具接着層5が設けられていてもよい。治具接着層としては、第2の構成で説明したものと同じものを用いることができる。なお、芯材の両面に粘着剤層を有する両面粘着部材を治具接着層とする場合には、積層用粘着剤層は保護膜形成用フィルムと積層される。  When the protective film forming sheet does not have a pre-molded configuration, that is, as shown in FIG. 4, the protective film forming film 4 and the support sheet (in FIG. 4, the pressure-sensitive adhesive layer 2 is formed on the substrate 1. When the adhesive sheet 3) has the same shape, a jig adhesive layer 5 may be provided on the outer peripheral portion of the surface of the protective film forming film 4. As the jig adhesive layer, the same one as described in the second configuration can be used. In addition, when using the double-sided adhesive member which has an adhesive layer on both surfaces of a core material as a jig | tool adhesion layer, the adhesive layer for lamination | stacking is laminated | stacked with the film for protective film formation.

支持シートの厚さは、通常は10〜500μm、好ましくは15〜300μm、特に好ましくは20〜250μmである。支持シートが基材上に粘着剤層を形成した粘着シートの場合には、支持シート中3〜50μmが粘着剤層の厚さである。  The thickness of the support sheet is usually 10 to 500 μm, preferably 15 to 300 μm, and particularly preferably 20 to 250 μm. In the case where the support sheet is a pressure-sensitive adhesive sheet in which a pressure-sensitive adhesive layer is formed on a substrate, 3 to 50 μm in the support sheet is the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer.

保護膜形成用フィルムの支持シートに貼付される面とは反対面には、カバーフィルムを仮着しておいてもよい。カバーフィルムは、支持シートが粘着シートである場合の粘着剤層や、治具接着層を覆っていてもよい。カバーフィルムは、上述の剥離シートと同じものを用いることができる。  A cover film may be temporarily attached to the surface opposite to the surface to be attached to the support sheet of the protective film-forming film. The cover film may cover the pressure-sensitive adhesive layer when the support sheet is a pressure-sensitive adhesive sheet or the jig adhesive layer. The same cover film as the above-described release sheet can be used.

カバーフィルムの膜厚は、通常は5〜300μm、好ましくは10〜200μm、特に好ましくは20〜150μm程度である。  The film thickness of the cover film is usually about 5 to 300 μm, preferably about 10 to 200 μm, and particularly preferably about 20 to 150 μm.

このような保護膜形成用シートの保護膜形成用フィルムは、被着体の保護膜とすることができる。保護膜形成用フィルムはフェースダウン方式のチップ用半導体ウエハまたは半導体チップの裏面に貼付され、適当な手段により硬化されて封止樹脂の代替として半導体ウエハまたは半導体チップを保護する機能を有する。半導体ウエハに貼付した場合には、保護膜がウエハを補強する機能を有するためにウエハの破損等を防止しうる。  Such a protective film forming film of the protective film forming sheet can be used as a protective film of an adherend. The protective film-forming film is affixed to the back surface of the face-down chip semiconductor wafer or semiconductor chip, and is cured by an appropriate means to have a function of protecting the semiconductor wafer or semiconductor chip as an alternative to the sealing resin. When pasted on a semiconductor wafer, the protective film has a function of reinforcing the wafer, so that damage to the wafer can be prevented.

[保護膜形成用シートの製造方法]
保護膜形成用シートの製造方法について、図1に示す保護膜形成用シートを例に具体的に説明するが、本発明の保護膜形成用シートは、このような製造方法により得られるものに限定されない。
[Method for producing protective film-forming sheet]
The method for producing a protective film-forming sheet will be specifically described by taking the protective film-forming sheet shown in FIG. 1 as an example, but the protective film-forming sheet of the present invention is limited to that obtained by such a production method. Not.

まず、基材の表面に粘着剤層を形成し、粘着シートを得る。基材の表面に粘着剤層を設ける方法は特に限定されない。
例えば、剥離シート(第1剥離シート)上に所定の膜厚になるように、粘着剤を塗布し乾燥して、粘着剤層を形成する。次いで、粘着剤層を基材の表面に転写することで、粘着シートを得ることができる。また、基材の表面に粘着剤を直接塗布、乾燥して粘着剤層を形成し、粘着シートを得ることもできる。
剥離シートとしては、上述した基材として例示したフィルムを用いることができる。
First, an adhesive layer is formed on the surface of a substrate to obtain an adhesive sheet. The method for providing the pressure-sensitive adhesive layer on the surface of the substrate is not particularly limited.
For example, the pressure-sensitive adhesive is applied on the release sheet (first release sheet) so as to have a predetermined film thickness and dried to form the pressure-sensitive adhesive layer. Subsequently, an adhesive sheet can be obtained by transferring an adhesive layer to the surface of a substrate. Alternatively, the pressure-sensitive adhesive sheet can be obtained by directly applying and drying the pressure-sensitive adhesive on the surface of the substrate to form a pressure-sensitive adhesive layer.
As a release sheet, the film illustrated as a base material mentioned above can be used.

また、別の剥離シート(第2剥離シート)上に保護膜形成用組成物を塗布し保護膜形成用フィルムを形成する。次いで、別の剥離シート(第3剥離シート)を保護膜形成用フィルム上に積層し、第2剥離シート/保護膜形成用フィルム/第3剥離シートの積層体を得る。  Moreover, the composition for protective film formation is apply | coated on another peeling sheet (2nd peeling sheet), and the film for protective film formation is formed. Next, another release sheet (third release sheet) is laminated on the protective film-forming film to obtain a laminate of second release sheet / protective film-forming film / third release sheet.

次いで、保護膜形成用フィルムに貼付される被着体と略同形状あるいは被着体の形状をそっくり含むことのできる形状に、保護膜形成用フィルムを切込み、残余の部分を除去する。第2剥離シート/保護膜形成用フィルム/第3剥離シートの積層体が長尺の帯状体である場合には、第3剥離シートを切り込まずにおくことで、長尺の第3剥離シートに連続的に保持された複数の第2剥離シート/保護膜形成用フィルム/第3剥離シートの積層体を得ることができる。  Next, the protective film-forming film is cut into a shape that can substantially include the shape of the adherend to be adhered to the protective film-forming film or the shape of the adherend, and the remaining portion is removed. When the laminate of the second release sheet / protective film forming film / third release sheet is a long strip-like body, the third release sheet is not cut, so that the long third release sheet A laminate of a plurality of second release sheets / protective film-forming films / third release sheets that are continuously held in the substrate can be obtained.

そして、上記で得られた粘着シートの粘着剤層上に、第2剥離シート/保護膜形成用フィルム/第3剥離シートの積層体から第2剥離シートを剥離しながら、保護膜形成用フィルムを積層し、基材/粘着剤層/保護膜形成用フィルム/第3剥離シートからなる積層体を得る。その後、第3剥離シートを除去することで、本発明の図1の態様に係る保護膜形成用シートを得る。なお、第3剥離シートは、上述のカバーフィルムとして機能する。  And, on the pressure-sensitive adhesive layer of the pressure-sensitive adhesive sheet obtained above, the protective film-forming film was peeled off while peeling the second release sheet from the laminate of the second release sheet / protective film-forming film / third release sheet. Lamination is performed to obtain a laminate composed of the base material / adhesive layer / protective film forming film / third release sheet. Then, the sheet | seat for protective film formation which concerns on the aspect of FIG. 1 of this invention is obtained by removing a 3rd peeling sheet. The third release sheet functions as the above cover film.

[半導体装置の製造方法]
次に本発明に係る保護膜形成用シートの利用方法について、図1に示す第1の構成の保護膜形成用シートを半導体装置の製造方法に適用した場合を例にとって説明する。
[Method for Manufacturing Semiconductor Device]
Next, a method for using the protective film forming sheet according to the present invention will be described by taking as an example the case where the protective film forming sheet having the first configuration shown in FIG. 1 is applied to a method for manufacturing a semiconductor device.

保護膜形成用フィルムに貼付される被着体は、シリコンウエハであってもよく、またガリウム・砒素などの化合物半導体ウエハや、ガラス基板、セラミック基板、FPC等の有機材料基板、又は精密部品等の金属材料など種々の物品を挙げることができる。以下の説明においては、保護膜形成用フィルムに貼付される被着体としてシリコンウエハを用いた例で説明する。  The adherend adhered to the protective film-forming film may be a silicon wafer, a compound semiconductor wafer such as gallium / arsenic, a glass substrate, a ceramic substrate, an organic material substrate such as an FPC, or a precision component. Various articles such as metal materials can be listed. In the following description, an example in which a silicon wafer is used as an adherend to be attached to the protective film forming film will be described.

本発明に係る半導体装置の製造方法は、上記保護膜形成用シートの保護膜形成用フィルムを半導体ウエハに貼付し、保護膜を有する半導体チップ(保護膜付チップ)を得る工程を含み。具体的には、以下の工程(1)〜(4)を含む。
工程(1):表面に回路が形成されたシリコンウエハの裏面に、保護膜形成用シートの保護膜形成用フィルムを貼付する工程、
工程(2):保護膜形成用フィルムを加熱硬化して保護膜を得る工程
工程(3):保護膜形成用フィルムまたは保護膜と、支持シートとを分離する工程、および、
工程(4):シリコンウエハと、保護膜形成用フィルムまたは保護膜とをダイシングする工程。
なお、上述したように、保護膜形成用シートを、ダイシング工程においてシリコンウエハを支持するためのダイシングシートとして機能させる場合には、半導体装置の製造工程を簡略化する観点から、工程(4)を工程(3)の前に行うことが好ましい。
A manufacturing method of a semiconductor device according to the present invention includes a step of attaching a protective film forming film of the protective film forming sheet to a semiconductor wafer to obtain a semiconductor chip having a protective film (chip with protective film). Specifically, the following steps (1) to (4) are included.
Step (1): A step of attaching a protective film-forming film of the protective film-forming sheet to the back surface of the silicon wafer having a circuit formed on the front surface,
Step (2): Step of heat-curing the protective film-forming film to obtain a protective film Step (3): Step of separating the protective film-forming film or protective film and the support sheet, and
Step (4): A step of dicing the silicon wafer and the protective film-forming film or protective film.
As described above, when the protective film forming sheet functions as a dicing sheet for supporting the silicon wafer in the dicing process, the process (4) is performed from the viewpoint of simplifying the manufacturing process of the semiconductor device. It is preferable to carry out before the step (3).

また、本発明に係る半導体装置の製造方法は、上記工程(1)〜(4)の他に、下記の工程(5)をさらに含んでいてもよい。
工程(5):保護膜形成用フィルムまたは保護膜にレーザー印字する工程。
The method for manufacturing a semiconductor device according to the present invention may further include the following step (5) in addition to the steps (1) to (4).
Step (5): A step of laser printing on the protective film-forming film or the protective film.

シリコンウエハ表面への回路の形成はエッチング法、リフトオフ法などの従来より汎用されている方法を含む様々な方法により行うことができる。次いで、ウエハの回路面の反対面(裏面)を研削する。研削法は特に限定はされず、グラインダーなどを用いた公知の手段で研削してもよい。裏面研削時には、表面の回路を保護するために回路面に、表面保護シートと呼ばれる粘着シートを貼付する。裏面研削は、ウエハの回路面側(すなわち表面保護シート側)をチャックテーブル等により固定し、回路が形成されていない裏面側をグラインダーにより研削する。ウエハの研削後の厚みは特に限定はされないが、通常は50〜500μm程度である。  A circuit can be formed on the surface of the silicon wafer by various methods including conventionally used methods such as an etching method and a lift-off method. Next, the opposite surface (back surface) of the circuit surface of the wafer is ground. The grinding method is not particularly limited, and grinding may be performed by a known means using a grinder or the like. At the time of back surface grinding, an adhesive sheet called a surface protection sheet is attached to the circuit surface in order to protect the circuit on the surface. In the back surface grinding, the circuit surface side (that is, the surface protection sheet side) of the wafer is fixed by a chuck table or the like, and the back surface side on which no circuit is formed is ground by a grinder. The thickness of the wafer after grinding is not particularly limited, but is usually about 50 to 500 μm.

その後、必要に応じ、裏面研削時に生じた破砕層を除去する。破砕層の除去は、ケミカルエッチングや、プラズマエッチングなどにより行われる。  Thereafter, if necessary, the crushed layer generated during back grinding is removed. The crushed layer is removed by chemical etching, plasma etching, or the like.

次いで、ウエハの裏面に、上記保護膜形成用シートの保護膜形成用フィルムを貼付する(工程(1))。その後、工程(2)〜(4)を行う。工程(2)〜(4)の順序は特に限定されないが、例えば、工程(2)、(3)、(4)の順、工程(3)、(2)、(4)の順または工程(2)、(4)、(3)の順のいずれかの順序で行うことが好ましい。このプロセスの詳細については、特開2002−280329号公報に詳述されている。一例として、工程(3)、(2)、(4)の順で行う場合について説明する。なお、工程(5)は任意の順で行うことができるが、以下の説明においては、工程(4)の後に行っている。  Next, the protective film-forming film of the protective film-forming sheet is attached to the back surface of the wafer (step (1)). Thereafter, steps (2) to (4) are performed. Although the order of process (2)-(4) is not specifically limited, For example, order of process (2), (3), (4), order of process (3), (2), (4) or process ( It is preferable to carry out in any one of the order of 2), (4), and (3). Details of this process are described in detail in JP-A-2002-280329. As an example, a case where the steps (3), (2), and (4) are performed in this order will be described. In addition, although process (5) can be performed in arbitrary orders, in the following description, it is performed after process (4).

まず、表面に回路が形成されたウエハの裏面に、上記保護膜形成用シートの保護膜形成用フィルムを貼付する。次いで保護膜形成用フィルムから支持シートを剥離し、ウエハと保護膜形成用フィルムとの積層体を得る。次いで保護膜形成用フィルムを硬化し、ウエハの全面に保護膜を形成する。具体的には、熱硬化により保護膜形成用フィルムを硬化する。この結果、ウエハ裏面に硬化樹脂からなる保護膜が形成され、ウエハ単独の場合と比べて強度が向上するので、薄くなったウエハの取扱い時の破損を低減できる。また、ウエハやチップの裏面に直接保護膜用の塗布液を塗布・被膜化するコーティング法と比較して、保護膜の厚さの均一性に優れる。  First, the protective film-forming film of the protective film-forming sheet is attached to the back surface of the wafer having a circuit formed on the front surface. Next, the support sheet is peeled from the protective film forming film to obtain a laminate of the wafer and the protective film forming film. Next, the protective film-forming film is cured, and a protective film is formed on the entire surface of the wafer. Specifically, the protective film-forming film is cured by thermosetting. As a result, a protective film made of a cured resin is formed on the back surface of the wafer, and the strength is improved as compared with the case of the wafer alone, so that damage during handling of the thinned wafer can be reduced. In addition, the thickness of the protective film is excellent compared to a coating method in which a coating liquid for the protective film is directly applied to the back surface of the wafer or chip.

次いで、ウエハと保護膜との積層体を、ウエハ表面に形成された回路毎にダイシングする。ダイシングは、ウエハと保護膜をともに切断するように行われる。ウエハのダイシングは、ダイシングシートを用いた常法により行われる。この結果、ダイシングシート上に個片化された、裏面に保護膜を有するチップ群が得られる。  Next, the laminated body of the wafer and the protective film is diced for each circuit formed on the wafer surface. Dicing is performed so as to cut both the wafer and the protective film. The wafer is diced by a conventional method using a dicing sheet. As a result, a chip group that has been separated on the dicing sheet and that has a protective film on the back surface is obtained.

次いで、保護膜にレーザー印字する。レーザー印字はレーザーマーキング法により行われ、レーザー光の照射により保護膜の表面を削り取ることで保護膜に品番等をマーキングする。  Next, laser printing is performed on the protective film. Laser printing is performed by a laser marking method, and the surface of the protective film is scraped off by laser light irradiation to mark a product number or the like on the protective film.

最後に、裏面に保護膜を有するチップ(保護膜付チップ)をコレット等の汎用手段によりピックアップすることで、保護膜付チップが得られる。そして、保護膜付チップをフェースダウン方式で所定の基台上に実装することで半導体装置を製造することができる。また、裏面に保護膜を有する半導体チップを、ダイパッド部または別の半導体チップなどの他の部材上(チップ搭載部上)に接着することで、半導体装置を製造することもできる。このような本発明によれば、厚みの均一性の高い保護膜を、チップ裏面に簡便に形成でき、ダイシング工程やパッケージングの後のクラックが発生しにくくなる。  Finally, a chip having a protective film (chip with a protective film) is picked up by a general-purpose means such as a collet to obtain a chip with a protective film. Then, the semiconductor device can be manufactured by mounting the chip with protective film on a predetermined base by the face-down method. Further, a semiconductor device can be manufactured by adhering a semiconductor chip having a protective film on the back surface to another member (on the chip mounting portion) such as a die pad portion or another semiconductor chip. According to the present invention as described above, a protective film having high thickness uniformity can be easily formed on the back surface of the chip, and cracks after the dicing process and packaging are less likely to occur.

なお、ウエハの裏面に、上記保護膜形成用シートの保護膜形成用フィルムを貼付した後、工程(4)を工程(3)の前に行う場合(例えば、工程(2)、(4)、(3)の順で行う場合)、保護膜形成用シートがダイシングシートとしての役割を果たすことができる。つまり、ダイシング工程の最中にウエハを支持するためのシートとして用いることができる。この場合、保護膜形成用シートの内周部に保護膜形成用フィルムを介してウエハが貼着され、保護膜形成用シートの外周部がリングフレーム等の他の治具と接合することで、ウエハに貼付された保護膜形成用シートが装置に固定され、ダイシングが行われる。  In addition, after affixing the protective film-forming film of the protective film-forming sheet to the back surface of the wafer, the step (4) is performed before the step (3) (for example, the steps (2), (4), When performing in order of (3)), the protective film forming sheet can serve as a dicing sheet. That is, it can be used as a sheet for supporting the wafer during the dicing process. In this case, the wafer is attached to the inner peripheral portion of the protective film forming sheet via the protective film forming film, and the outer peripheral portion of the protective film forming sheet is joined to another jig such as a ring frame, The protective film forming sheet affixed to the wafer is fixed to the apparatus, and dicing is performed.

以下、本発明を実施例により説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。なお、以下の実施例または比較例において、<保護膜付チップの信頼性評価>は以下のように行った。  EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention, this invention is not limited to these Examples. In the following examples or comparative examples, <Reliability evaluation of chip with protective film> was performed as follows.

<保護膜付チップの信頼性評価>
(1)保護膜付チップの製造
#2000研磨したシリコンウエハ(200mm径、厚さ280μm)の研磨面に、実施例および比較例の保護膜形成用シートの保護膜形成用フィルムをテープマウンター(リンテック社製 Adwill RAD-3600F/12)により70℃に加熱しながら貼付した。次いで、加熱(130℃、2時間)により保護膜形成用フィルムの硬化を行い、保護膜形成用フィルムと支持シートとを分離し、シリコンウエハと保護膜との積層体を得た。
<Reliability evaluation of chip with protective film>
(1) Manufacture of chip with protective film The protective film forming film of the protective film forming sheet of Example and Comparative Example was mounted on a polished surface of a # 2000 polished silicon wafer (200 mm diameter, 280 μm thick) as a tape mounter (Lintec). It was affixed while heating to 70 ° C. by Adwill RAD-3600F / 12). Next, the protective film-forming film was cured by heating (130 ° C., 2 hours), and the protective film-forming film and the support sheet were separated to obtain a laminate of the silicon wafer and the protective film.

シリコンウエハの保護膜側をダイシングテープ(リンテック社製 Adwill D-676H)に貼付し、ダイシング装置(ディスコ社製 DFD651)を使用して、シリコンウエハと保護膜との積層体を3mm×3mmサイズにダイシングすることで、信頼性評価用の保護膜付チップを得た。  Attach the protective film side of the silicon wafer to dicing tape (Adwill D-676H manufactured by Lintec) and use a dicing machine (DFD651 manufactured by Disco) to make the laminate of the silicon wafer and protective film 3 mm x 3 mm size A chip with a protective film for reliability evaluation was obtained by dicing.

(2)評価
そして、保護膜付チップが実際に実装されるプロセスを模倣したプレコンディションに投入した。プレコンディションの条件として、保護膜付チップをベイキング(125℃、20時間)し、85℃、85%RHの条件下で168時間吸湿させ、取り出し直後にプレヒート160℃、ピーク温度260℃のIRリフロー炉に3回通した。
(2) Evaluation And it put into the precondition which imitated the process in which the chip with a protective film is actually mounted. As preconditioning conditions, the chip with protective film was baked (125 ° C, 20 hours), absorbed for 168 hours under conditions of 85 ° C and 85% RH, and immediately after removal, IR reflow with preheating 160 ° C and peak temperature 260 ° C Three passes through the furnace.

この保護膜付チップ25個を冷熱衝撃装置(ESPEC製 TSE-11-A)内に投入し、−65℃(保持時間:10分)と150℃(保持時間:10分)のサイクルを1000回繰り返した。  Twenty-five chips with protective film were put into a thermal shock apparatus (TSE-11-A made by ESPEC), and a cycle of -65 ° C. (holding time: 10 minutes) and 150 ° C. (holding time: 10 minutes) was performed 1000 times. Repeated.

その後、冷熱衝撃装置から取り出した保護膜付チップについて、チップと保護膜との接合部での浮き・剥がれ、クラックの有無を、走査型超音波探傷装置(日立建機ファインテック製 Hye-Focus)及び断面観察により評価した。チップと保護膜との接合部に、0.5mm以上の幅の剥離が観察された場合を剥離している(接合部の浮き・剥がれ、クラックあり)と判断して、剥離しているチップの個数(不良品数)を数えた。結果を表2に示す(不良品数/試験数)。不良品数が2以下であれば、高信頼性の保護膜付チップが得られていると評価した。  After that, for the chip with a protective film taken out from the thermal shock device, a scanning ultrasonic flaw detector (Hye-Focus made by Hitachi Construction Machinery Finetech) And it evaluated by cross-sectional observation. The case where peeling of a width of 0.5 mm or more is observed at the joint between the chip and the protective film is peeled off (the joint is lifted / peeled and cracked) The number (number of defective products) was counted. The results are shown in Table 2 (number of defective products / number of tests). If the number of defective products was 2 or less, it was evaluated that a highly reliable chip with a protective film was obtained.

<保護膜形成用組成物>
保護膜形成用フィルムを構成する各成分を下記に示す。
・エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物:1,1−ビス(2,7−ジグリシジルオキシ−1−ナフチル)メタン(硬化物のガラス転移温度:326℃、軟化点:92℃、溶融粘度:4.5dPa・s、数平均分子量:550)
・エポキシ化合物A:ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱化学製 jER828、硬化物のガラス転移温度:180℃、数平均分子量:370)
・エポキシ化合物B:ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂(DIC製 エピクロンHP−7200HH、硬化物のガラス転移温度:210℃、軟化点:88℃、溶融粘度:8dPa・s、数平均分子量:760)
・熱硬化剤:ジシアンジアミド(旭電化製 アデカバードナー3636AS)
・硬化促進剤:2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール(四国化成工業製 キュアゾール2PHZ)
・アクリル重合体A:アクリル酸ブチル10質量部、メタクリル酸メチル70質量部、アクリル酸2−ヒドロキシエチル15質量部、及びメタクリル酸グリシジル5質量部からなるアクリル重合体(重量平均分子量:27万、ガラス転移温度:−1℃)
・アクリル重合体B:アクリル酸ブチル15質量部、メタクリル酸メチル65質量部、アクリル酸2−ヒドロキシエチル15質量部、及びメタクリル酸グリシジル5質量部からなるアクリル重合体(重量平均分子量:44万、ガラス転移温度:−4℃)
・無機フィラー:シリカフィラー(溶融石英フィラー、平均粒径8μm)
・着色剤:カーボンブラック(三菱化学製 MA600B)
・カップリング剤A:シランカップリング剤(信越化学工業製 X-41-1056)
・カップリング剤B:シランカップリング剤(信越化学工業製 KBE-403)
・カップリング剤C:シランカップリング剤(信越化学工業製 KBM-403)
<Composition for protective film formation>
Each component which comprises the film for protective film formation is shown below.
Condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group: 1,1-bis (2,7-diglycidyloxy-1-naphthyl) methane (glass transition temperature of cured product: 326 ° C., softening point: 92 ° C., melt viscosity : 4.5 dPa · s, number average molecular weight: 550)
Epoxy compound A: bisphenol A type epoxy resin (JER828 manufactured by Mitsubishi Chemical, glass transition temperature of cured product: 180 ° C., number average molecular weight: 370)
Epoxy compound B: dicyclopentadiene type epoxy resin (DIC made Epicron HP-7200HH, glass transition temperature of cured product: 210 ° C., softening point: 88 ° C., melt viscosity: 8 dPa · s, number average molecular weight: 760)
-Thermosetting agent: Dicyandiamide (Asahi Denka Adecover Donor 3636AS)
Curing accelerator: 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole (Curesol 2PHZ, manufactured by Shikoku Chemicals)
Acrylic polymer A: an acrylic polymer comprising 10 parts by mass of butyl acrylate, 70 parts by mass of methyl methacrylate, 15 parts by mass of 2-hydroxyethyl acrylate, and 5 parts by mass of glycidyl methacrylate (weight average molecular weight: 270,000, (Glass transition temperature: -1 ° C)
-Acrylic polymer B: acrylic polymer (weight average molecular weight: 440,000, consisting of 15 parts by mass of butyl acrylate, 65 parts by mass of methyl methacrylate, 15 parts by mass of 2-hydroxyethyl acrylate, and 5 parts by mass of glycidyl methacrylate. (Glass transition temperature: -4 ° C)
Inorganic filler: Silica filler (fused quartz filler, average particle size 8 μm)
・ Coloring agent: Carbon black (Mitsubishi Chemical MA600B)
・ Coupling agent A: Silane coupling agent (X-41-1056 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)
・ Coupling agent B: Silane coupling agent (KBE-403, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)
Coupling agent C: Silane coupling agent (Shin-Etsu Chemical KBM-403)

(実施例および比較例)
上記各成分を表1に記載の量で配合し、保護膜形成用組成物を得た。また、剥離シートとして、片面に剥離処理を行ったポリエチレンテレフタレートフィルム(リンテック社製
SP−PET381031、厚さ38μm、表面張力30mN/m未満、融点200℃以上)を用意した。
上記保護膜形成層用組成物のメチルエチルケトン溶液(固形濃度61重量%)を、上記剥離シートの剥離処理面上に乾燥後25μmの厚みになるように塗布、乾燥(乾燥条件:オーブンにて120℃、3分間)して、剥離シート上に保護膜形成用フィルムを形成した。次いで、別の剥離シートを保護膜形成用フィルム上に積層し、剥離シートに保護膜形成用フィルムが挟持された積層体を得た。その後、一方の剥離シートは完全に型抜きせず、他方の剥離シートと保護膜形成用フィルムは完全に型抜きするように、積層体をシリコンウエハと同サイズ(直径200mm)に型抜きし、一方の剥離シート上に円形に型抜きされた保護膜形成用フィルムを残し、残余の保護膜形成用フィルムと他方の剥離シートは除去した。
(Examples and Comparative Examples)
The above components were blended in the amounts shown in Table 1 to obtain a protective film forming composition. In addition, a polyethylene terephthalate film (SP-PET 381031, manufactured by Lintec Corporation, thickness 38 μm, surface tension less than 30 mN / m, melting point 200 ° C. or higher) was prepared as a release sheet.
A methyl ethyl ketone solution (solid concentration: 61% by weight) of the composition for forming a protective film is applied onto the release-treated surface of the release sheet so as to have a thickness of 25 μm and dried (drying condition: 120 ° C. in an oven). 3 minutes) to form a protective film-forming film on the release sheet. Next, another release sheet was laminated on the protective film-forming film to obtain a laminate in which the protective film-forming film was sandwiched between the release sheets. Thereafter, the laminate is die-cut to the same size as the silicon wafer (diameter 200 mm) so that one release sheet is not completely die-cut and the other release sheet and the protective film-forming film are completely die-cut. The protective film-forming film punched in a circular shape was left on one release sheet, and the remaining protective film-forming film and the other release sheet were removed.

また、支持シートとして粘着シート(リンテック社製 Adwill D-676H)を用意した。  In addition, an adhesive sheet (Adwill D-676H manufactured by Lintec Corporation) was prepared as a support sheet.

上記粘着シートの粘着剤層上に上記の保護膜形成用フィルムを貼付し、リングフレームに対する糊しろの外径(直径260mm)に合わせて同心円状に型抜きした。その後、保護膜形成用フィルム上の剥離シートを剥離し、図1の態様の保護膜形成用シートを得た。  The film for forming a protective film was stuck on the pressure-sensitive adhesive layer of the pressure-sensitive adhesive sheet, and die-cut concentrically according to the outer diameter (diameter 260 mm) of the margin for the ring frame. Thereafter, the release sheet on the protective film-forming film was peeled off to obtain the protective film-forming sheet of the embodiment shown in FIG.

Figure 0005814487
Figure 0005814487

得られた保護膜形成用シートを用いて<保護膜付チップの信頼性評価>を行った。結果を表2に示す。  <Reliability evaluation of chip with protective film> was performed using the obtained protective film-forming sheet. The results are shown in Table 2.

Figure 0005814487
Figure 0005814487

実施例の保護膜形成用シートの保護膜形成用フィルムを硬化した保護膜は優れた信頼性を示した。この結果から、本発明に係る保護膜形成用フィルムあるいは保護膜形成用シートを用いることで、高信頼性の保護膜付チップが得られることが確認された。したがって、該保護膜付チップを用いることで、信頼性に優れる半導体装置を製造できる。  The protective film which hardened | cured the film for protective film formation of the sheet | seat for protective film formation of an Example showed the outstanding reliability. From this result, it was confirmed that a highly reliable chip with a protective film can be obtained by using the protective film-forming film or the protective film-forming sheet according to the present invention. Therefore, a semiconductor device having excellent reliability can be manufactured by using the chip with protective film.

10:保護膜形成用シート
1 :基材
2 :粘着剤層
3 :支持シート
4 :保護膜形成用フィルム
5 :治具接着層
6 :界面接着調整層
7 :治具
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10: Sheet | seat for protective film formation 1: Base material 2: Adhesive layer 3: Support sheet 4: Film for protective film formation 5: Jig adhesion layer 6: Interface adhesion adjustment layer 7: Jig

Claims (8)

半導体チップを保護する保護膜を形成するための保護膜形成用フィルムであって、
エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物を含むエポキシ系熱硬化性成分を含有し、
エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物が、下記の一般式(III)、(IV)または(V)で表される化合物のうち少なくとも一つを含有する保護膜形成用フィルム。
Figure 0005814487

Figure 0005814487

Figure 0005814487
(ただし、R は、単結合または二価の炭化水素基を示し、該炭化水素基は置換基を有していてもよい。なお、前記一般式(III)〜(V)の化合物を併用する場合、R は同一でも異なっていてもよい。)
A protective film forming film for forming a protective film for protecting a semiconductor chip,
Containing an epoxy-based thermosetting component containing a condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group,
A film for forming a protective film, wherein the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group contains at least one of compounds represented by the following general formula (III), (IV) or (V) .
Figure 0005814487

Figure 0005814487

Figure 0005814487
(However, R 4 represents a single bond or a divalent hydrocarbon group, and the hydrocarbon group may have a substituent. The compounds of the general formulas (III) to (V) are used in combination. R 4 may be the same or different.
エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物のエポキシ当量が、160〜170g/eqである請求項1に記載の保護膜形成用フィルム。 The film for forming a protective film according to claim 1 , wherein an epoxy equivalent of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group is 160 to 170 g / eq. アクリル重合体を含有する請求項1または2に記載の保護膜形成用フィルム。 The film for forming a protective film according to claim 1 or 2 , comprising an acrylic polymer. 厚みが1〜100μmである請求項1〜3のいずれかに記載の保護膜形成用フィルム。 The film for forming a protective film according to any one of claims 1 to 3, which has a thickness of 1 to 100 µm. エポキシ系熱硬化性成分が、縮合環式芳香族構造を有しないエポキシ化合物を含む請求項1〜4のいずれかに記載の保護膜形成用フィルム。The protective film-forming film according to any one of claims 1 to 4, wherein the epoxy thermosetting component contains an epoxy compound having no condensed cyclic aromatic structure. エポキシ基を有する縮合環式芳香族化合物の含有量が、保護膜形成用フィルムを構成する全固形分100質量部に対して2.5〜15質量部である請求項1〜5のいずれかに記載の保護膜形成用フィルム。The content of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group is 2.5 to 15 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total solid content constituting the protective film-forming film. The film for protective film formation of description. 請求項1〜6のいずれかに記載の保護膜形成用フィルムが、支持シート上に積層されてなる保護膜形成用シート。   A protective film-forming sheet obtained by laminating the protective film-forming film according to claim 1 on a support sheet. 以下の工程(1)〜(4)を含む半導体装置の製造方法;
工程(1):請求項7に記載の保護膜形成用シートの保護膜形成用フィルムを被着体に貼付する工程、
工程(2):保護膜形成用フィルムを加熱硬化して保護膜を得る工程、
工程(3):保護膜形成用フィルムまたは保護膜と、支持シートとを分離する工程、および、
工程(4):被着体と、保護膜形成用フィルムまたは保護膜とをダイシングする工程。
A method of manufacturing a semiconductor device including the following steps (1) to (4);
Step (1): a step of attaching the protective film-forming film of the protective film-forming sheet according to claim 7 to an adherend,
Step (2): Step of obtaining a protective film by heating and curing the protective film-forming film,
Step (3): a step of separating the protective film-forming film or protective film and the support sheet, and
Step (4): a step of dicing the adherend and the protective film-forming film or protective film.
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109789666A (en) * 2017-03-30 2019-05-21 琳得科株式会社 Composite sheet is used in protective film formation
WO2019172439A1 (en) * 2018-03-09 2019-09-12 リンテック株式会社 Protective film-forming composite sheet and method for manufacturing semiconductor chip provided with protective film
JP7290989B2 (en) * 2019-04-26 2023-06-14 リンテック株式会社 Composite sheet for protective film formation

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009147277A (en) * 2007-12-18 2009-07-02 Furukawa Electric Co Ltd:The Chip protective film
JP2013108027A (en) * 2011-11-24 2013-06-06 Sekisui Chem Co Ltd Insulating material
JP2014123743A (en) * 2013-12-27 2014-07-03 Nitto Denko Corp Dicing tape integrated film for semiconductor back surface

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5180507B2 (en) * 2007-03-30 2013-04-10 リンテック株式会社 Protective film forming sheet for chip and semiconductor chip with protective film
KR101333859B1 (en) * 2007-09-28 2013-12-19 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 Copolymer, resin composition, spacer for display panel, planarization film, thermosetting protective film, microlens, and process for producing copolymer
JP5456440B2 (en) 2009-01-30 2014-03-26 日東電工株式会社 Dicing tape integrated wafer back surface protection film
US20110291300A1 (en) * 2009-02-12 2011-12-01 Takashi Hirano Dicing sheet-attached film for forming semiconductor protection film, method for producing semiconductor device using the same, and semiconductor device
JP5681374B2 (en) * 2010-04-19 2015-03-04 日東電工株式会社 Dicing tape integrated semiconductor backside film
JP5666335B2 (en) * 2011-02-15 2015-02-12 日東電工株式会社 Protective layer forming film
JP5792592B2 (en) * 2011-11-02 2015-10-14 積水化学工業株式会社 Manufacturing method of semiconductor device, semiconductor device, adhesive film, and bonding method of adhesive film
JP6117547B2 (en) * 2012-12-21 2017-04-19 新日鉄住金化学株式会社 Thermosetting composition, cured film and color filter

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009147277A (en) * 2007-12-18 2009-07-02 Furukawa Electric Co Ltd:The Chip protective film
JP2013108027A (en) * 2011-11-24 2013-06-06 Sekisui Chem Co Ltd Insulating material
JP2014123743A (en) * 2013-12-27 2014-07-03 Nitto Denko Corp Dicing tape integrated film for semiconductor back surface

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