JP5795720B2 - 測定プローブ - Google Patents

Description

本発明は、測定プローブの本体接続プラグ部分の安全規格に対応するプラグ部分の改良に関し、プラグ長の短縮量を最小に抑えるための測定プローブに関する。

４つ割形プラグの金属部分（導電部）はＩＥＣ（International Electrotechnical Commission・・・国際電気標準会議）で定められたテストフィンガが触れられない形状を実現するものであって測定プローブ全般に応用される。但し、プラグを覆うスリーブ内径はアプリケーション（機種）によるため、内径を小さく出来ない場合はこの限りではない。

従来の測定プローブのプラグにおいては、テストフィンガがプラグの金属部分（導電部）に触れない様にするために４つ割形のプラグやバナナプラグ等の場合はプラグ長を短くする。又はスリーブ内径を小さくする等の対策が取られていた。
また、その他のプラグ形状の物は先端に樹脂製のキャップを取り付ける等の対応が取られていた。

図３（ａ〜ｄ）はこのような測定プローブの従来のプラグにおけるスリーブとプラグとテストフィンガーの関係を示す要部断面図である。
図３（ａ，ｂ）において、１は図示しない配線が配置される空間１ａを有する測定プローブであり、一端には測定プローブ１を構成する支持部１ｂから所定の高さL１を有する円筒状のスリーブ２が突出して形成されている。

３はスリーブ内２に配置され、スリーブの底部に形成されたねじ孔に一端がねじ込まれ、スリーブの高さL１よりも低い高さL２を有するプラグ（導電部）である。このプラグは図示しない本体側ジャックの挿入が容易なように先端部の断面が台形状に加工されるとともに４つ割形に形成されている。図３（ａ）ではテストフインガ５をスリーブ２内に挿入したときに、その先端がプラグに接触した状態を示している。

このような測定プローブにおいて、先端５ａが半円状に形成されＩＥＣで定められた寸法を有するテストフィンガ５がプラグの金属部分（導電部）に触れない様にするには、図３（ｂ）に示すように、プラグ３の先端までの高さをＳだけ削ることによりテストフィンガ５の先端がプラグ２に接触しないようにしている。
なお、テストフィンガの先端がプラグに接触しないようにするためにはスリーブ２内径を小さくすることもできる。

図３（ｃ，ｄ）はテストフィンガ５をプラグに接触させないための他の従来例を示す要部断面図である。図において１は図３（ａ，ｂ）と同様の機能を有する測定プローブである。この例ではプラグ（導電部）３は、中央部付近を膨らませた導電体３ｂに別の棒状の導電体３ｃを挿入した状態とされている。

そしてこの従来例においては、プラグ３の先端に絶縁キャップ６をねじ込んだ状態を示している。
このような構成によれば、プラグ３にテストフィンガ５を挿入しても先端５ａが絶縁キャップ６に当接するのでテストフィンガ５の先端がプラグに接触することを防止することができる。

特開昭６１−２２１６８２号公報 特開平１−９３０７８号公報 特開２００６−２２８６１７号公報 特開２００４−７２７６１号公報

ところで、図３に示す従来例においては、
スリーブ内径を小さくする場合、測定プローブの外形の規制からアプリケーションによってはテストフィンガの接触を避けるに至らないことがある。（その場合、安全規格に適合しない）

プラグ長を短くした場合、図４（ａ）に示すように、本体側のジャック７との接触長さＰが減少する、また場合によっては接触できなくなる等の問題が発生する。
また、樹脂製キャップを取り付ける場合、図４（ｂ）に示すように、絶縁キャップ６を取り付けるための部品数の増加及び絶縁キャップ６を取り付けのための追加加工（ねじ加工）等によるコスト増が発生する。という課題があった。

従って本発明は、プラグ先端形状をテストフィンガと接触させない様に「プラグ先端中央部を凹ませる」形状とする事でプラグ長の短縮量を最小に抑え、また部品を追加せずにプラグの導電部分に触れることのないプラグを実現することを目的としている。

本発明は上記課題を解決するためになされたもので、請求項１の測定プローブにおいて
は、
挿入部が円筒状に形成された本体側ジャック及びテーパの先端が半球状に形成されＩＥＣで定められたテストフィンガが挿入される測定プローブであって、
前記測定プローブは、
前記測定プローブを構成する支持部に一端が固定され先端までの高さが所定の高さを有して形成された円筒状のスリーブと、
このスリーブの中心の底部に一端が固定され前記スリーブの先端よりも低い所定の高さに形成されたプラグを有し、
前記テストフィンガが前記円筒状のスリーブに挿入され、前記テストフィンガの外径が前記スリーブの内径に当接したときに、前記テストフィンガの半球状に形成された先端部が前記プラグの先端に接触せず、かつ、前記本体側ジャックが前記円筒状のスリーブに挿入され、前記本体側ジャックの先端に前記プラグの先端が挿入されてその先端同士が接触したときに、所定の接触長を確保するために前記プラグの先端を外径側から中心に向かって凹状に形成したことを特徴とする。

請求項２においては、請求項１に記載の測定プローブにおいて、
前記プラグの凹部は円錐、円柱，半球状のいずれかに形成されたことを特徴とする。

以上説明したことから明らかなように本発明の請求項１、２によれば、
測定プローブを構成する支持部に一端が固定され先端までの高さが所定の高さを有して形成された円筒状のスリーブと、
このスリーブの中心の底部に一端が固定され前記スリーブの先端よりも低い所定の高さに形成されたプラグを有し、
テストフィンガが円筒状のスリーブに挿入され、テストフィンガの外径がスリーブの内径に当接したときに、テストフィンガの半球状に形成された先端部がプラグの先端に接触せず、かつ、本体側ジャックが円筒状のスリーブに挿入され、本体側ジャックの先端にプラグの先端が挿入されてその先端同士が接触したときに、所定の接触長を確保するためにプラグの先端を外径側から中心に向かって凹ませて円錐、円柱、半球状に形成したので、絶縁部品を追加せずテストフィンガの接触を防ぐ事ができ、テストフィンガとの接触を防ぎかつ、本体側ジャックとプラグの接触を確実に行う事ができる。

本発明の測定プローブの実施形態の一例を示す断面図である。 本発明の測定プローブの先端形状を示す断面図である。 従来の測定プローブのプラグ先端の一例を示す断面図である。 従来の測定プローブの本体側ジャックとの接続例を示す図（ａ）及びプラグに絶縁キャップを取付けた状態を示す図（ｂ）である。

図１は本発明の実施形態の一例を示すもので、図３（ａ）、（ｂ）に示す従来例とはプラグ４の先端形状のみが異なっている。
即ち本発明においては、図１（ａ）に示すように、プラグ４の先端が外径側から中心に向かって凹状とされて凹部４ａが形成されている。

このような凹部４ａを形成にすることにより、図１（ａ）に示すｇ部のようにプラグの長さL２を短くすることなくテストフィンガとの接触を回避することができる。そのため図１（ｂ）に示すようにプラグ４を本体側ジャック７に挿入した場合に接触長L３を確保することができる。

図１（ｃ）及び(ｄ)はプラグの先端形状によるテストフィンガ５との間隔の詳細を示すもので、図１（ｃ）に示す従来のプラグ３では台形状部３ａの始まり部分（ｈ）で示す部分を、この実施例では図１（ｄ）に示すようにプラグ４の先端を外径側から中心に向かって凹部４ａの始まりとしている（スリーブ２の先端から距離L４で示す部分）。

従来は図１(ｃ)のｅに示すようにテストフィンガ５の先端とプラグ３の先端が接触状態にあったが、図１（ｄ）のｅ１に示すように凹状に形成することによりテストフィンガ５の先端とはL５で示す距離を離すことができ接触を防止することができる。

図２（ａ〜ｃ）はプラグ先端の凹部の形状を示すもので、図（ａ）は円錐形、図（ｂ）は円柱形、図（ｃ）は球形に形成した場合を示している。

なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。従って本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形を含むものである。

１ 測定プローブ
２ スリーブ
３、４ プラグ（導電部）
４ａ 凹部
５ テストフィンガ
６ 絶縁キャップ
７ 本体側ジャック

Claims (2)

1. 挿入部が円筒状に形成された本体側ジャック及びテーパの先端が半球状に形成されＩＥＣで定められたテストフィンガが挿入される測定プローブであって、
   前記測定プローブは、
   前記測定プローブを構成する支持部に一端が固定され先端までの高さが所定の高さを有して形成された円筒状のスリーブと、
   このスリーブの中心の底部に一端が固定され前記スリーブの先端よりも低い所定の高さに形成されたプラグを有し、
   前記テストフィンガが前記円筒状のスリーブに挿入され、前記テストフィンガの外径が前記スリーブの内径に当接したときに、前記テストフィンガの半球状に形成された先端部が前記プラグの先端に接触せず、かつ、前記本体側ジャックが前記円筒状のスリーブに挿入され、前記本体側ジャックの先端に前記プラグの先端が挿入されてその先端同士が接触したときに、所定の接触長を確保するために前記プラグの先端を外径側から中心に向かって凹状に形成したことを特徴とする測定プローブ。
2. 前記プラグの凹部は円錐、円柱，半球状のいずれかに形成されたことを特徴とする請求
   項１に記載の測定プローブ。

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