JP5782510B2 - 半導体集積回路 - Google Patents
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Description
図1は、第1の実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す回路図である。図1の半導体集積回路は、例えばアドレスデコーダであり、入力される、複数のアドレス信号に応じて、所望の論理値の信号OUTを出力する。具体的に、アドレス信号AD[0],AD[1],AD[2]がすべてLOW(第1の状態)のときに、クロック信号CLKがLOWからHIGHに変化すると、出力信号OUTがLOWからHIGHに変化する。一方、アドレス信号AD[0],AD[1],AD[2]のいずれか一つでもHIGH(第2の状態)の場合は、出力信号OUTはLOWに保たれる。このアドレスデコーダは、第1のダイナミック回路10と、第1のトランジスタであるNMOSトランジスタTJ1と、第2のトランジスタであるNMOSトランジスタTD2と、第2のダイナミック回路20と、保持回路30と、インバータ40とを備えている。
図7は、第2の実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す回路図である。図1および図7における共通の符号は、同一の構成要素を示すため、その説明を省略する。図1および図7の相違点は、図1の保持回路30の代わりに、保持回路30Aを設け、この保持回路30Aの導通制御を、補償回路200への入力信号によって行っている点である。
図8は、第3の実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す回路図である。図1および図8における共通の符号は、同一の構成要素を示すため、その説明を省略する。図8に示す構成では、アドレス信号AD[0],AD[1],AD[2]のうちの1つを、リセット信号RESETに変更し、第2のプリチャージ回路210を省略している点が図1の構成と異なる。なお、図8において、図1に示す保持回路30を簡略化して記載している。
図9は、第4の実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す回路図である。図1および図9における共通の符号は、同一の構成要素を示すため、その説明を省略する。図9では、補償回路200Aの回路構成が図1の補償回路200と異なる。なお、図9において、図1に示す保持回路30を簡略化して記載している。
図10は、第5の実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す回路図である。図1および図10における共通の符号は、同一の構成要素を示すため、その説明を省略する。図10では、補償回路200Bの回路構成が図1の補償回路200と異なる。なお、図10において、図1に示す保持回路30を簡略化して記載している。
図12は、第6の実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す回路図である。図10および図12における共通の符号は、同一の構成要素を示すため、その説明を省略する。図12では、保持回路30Bの回路構成が、上述した各実施形態の保持回路30と異なる。
図13は、第7の実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す回路図である。図12および図13における共通の符号は、同一の構成要素を示すため、その説明を省略する。図13に示す半導体集積回路は、例えばアドレス信号を比較するコンパレータである。なお、図13において、補償回路200Bを簡略化して記載している。
30,30A,30B 保持回路
20 第2のダイナミック回路
200,200A,200B 補償回路
230 ラッチ回路
TJ1 第1のトランジスタ
TD2 第2のトランジスタ
TEC1,TECU 第3のトランジスタ
TECU1,TECU2,TECU3 第3のトランジスタ
TECD 第4のトランジスタ
TKP1,TECU2 第5のトランジスタ
306,308,310 第5のトランジスタ
ML1 第1のダイナミックノード
ML2 第2のダイナミックノード
CLK 第1のクロック信号,第2のクロック信号
OUT 出力信号
AD[0],AD[1],AD[2],AD_A[0],AD_B[0],AD_A[1],AD_B[1],AD_A[2],AD_B[2] アドレス信号(複数の入力信号)
Claims (15)
- 複数の入力信号および第1のクロック信号を受けて、第1のダイナミックノードのレベルを制御する第1のダイナミック回路と、
第2のダイナミックノードと第1の電源との間に設けられ、前記第1のダイナミックノードのレベルに応じて導通制御される第1のトランジスタと、
前記第2のダイナミックノードと前記第1の電源との間に、前記第1のトランジスタと直列に設けられ、第2のクロック信号に応じて導通制御される第2のトランジスタと、
前記第2のダイナミックノードのレベルに応じた論理値の出力信号を出力する第2のダイナミック回路とを備え、
前記第1のダイナミック回路は、
前記複数の入力信号が第1の状態であるときは、前記第1のダイナミックノードのレベルを、前記第1のトランジスタを導通させる第1のレベルに保つ一方、前記複数の入力信号が前記第1の状態以外の第2の状態であるときは、前記第1のダイナミックノードのレベルを、前記第1のクロック信号に応じて、前記第1のレベルと、前記第1のトランジスタを導通させない第2のレベルとに切り替えるものであり、
前記第2のダイナミック回路は、
前記第2のダイナミックノードと第2の電源との間に設けられ、前記複数の入力信号が前記第2の状態であり、かつ前記第1のダイナミックノードのレベルが前記第1のレベル以外であるとき、前記第2のダイナミックノードを前記第2の電源に接続することで、前記第2のダイナミックノードのレベルを補償する補償回路を有する
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1の半導体集積回路において、
前記補償回路は、
前記第2のダイナミックノードと前記第2の電源との間に設けられ、前記複数の入力信号の状態に応じて導通制御され、前記複数の入力信号が前記第2の状態であるときに導通する第3のトランジスタを有する
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1の半導体集積回路において、
前記補償回路は、前記第2のダイナミックノードと前記第2の電源との間に設けられ、前記第1のダイナミックノードのレベルに応じて導通制御され、前記第1のダイナミックノードが前記第2のレベルであるときに導通する第3のトランジスタを有する
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1の半導体集積回路において、
前記補償回路は、
前記第2のダイナミックノードと前記第2の電源との間に設けられ、前記複数の入力信号の反転信号の状態に応じて導通制御され、前記反転信号が、前記複数の入力信号が前記第2の状態であるときの状態のとき、導通する第3のトランジスタを有する
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項4の半導体集積回路において、
前記補償回路は、
前記第2のダイナミックノードと前記第2の電源との間に、前記第3のトランジスタと直列に設けられ、前記第1のクロック信号に応じて導通制御され、前記第1のクロック信号が、前記第1のダイナミックノードのレベルが前記第2のレベルになるときの状態であるとき、導通する第4のトランジスタを有する
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項2の半導体集積回路において、
前記第1のダイナミックノードと前記第2の電源との間に設けられ、前記第3のトランジスタのゲートへの入力信号に応じて導通制御され、前記第3のトランジスタが非導通状態であるとき、導通する第5のトランジスタを有する保持回路を備えている
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項2の半導体集積回路において、
前記複数の入力信号には、前記第2のダイナミックノードのレベルを、初期レベルに戻すためのリセット信号が含まれており、
前記第3のトランジスタは、前記リセット信号がアクティブであるとき、導通する
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1の半導体集積回路において、
前記第1のダイナミックノードと前記第2の電源との間に設けられ、前記第1のダイナミックノードのレベルが前記第1のレベルである場合に、前記第1のダイナミックノードのレベルを前記第1のレベルに保持する保持回路を備えている
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項8の半導体集積回路において、
前記保持回路は、前記第1のダイナミックノードと前記第2の電源との間に設けられ、前記第2のダイナミックノードのレベルに応じて導通制御され、前記第2のダイナミックノードが前記第1の電源に接続されているとき、導通する第5のトランジスタを有する
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項8の半導体集積回路において、
前記保持回路は、
前記第1のダイナミックノードと前記第2の電源との間に設けられ、前記複数の入力信号の状態に応じて導通制御され、前記複数の入力信号が前記第1の状態であるときに導通する第5のトランジスタを有する
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1の半導体集積回路において、
前記第2のトランジスタは、前記第2のダイナミックノードと前記第1のトランジスタとの間に接続されている
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1の半導体集積回路において、
前記第2のダイナミックノードのレベルをラッチするラッチ回路を備えている
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1の半導体集積回路において、
前記第1および第2のクロック信号は、同一の信号である
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1の半導体集積回路は、アドレスデコーダであり、
前記複数の入力信号はそれぞれ、アドレス信号である
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 請求項1の半導体集積回路は、コンパレータである
ことを特徴とする半導体集積回路。
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