JP5762315B2 - 画像処理方法 - Google Patents
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Description
(1)ドットの列が一直線にならず、外側に向けて膨らんだ曲線となっている、
(2)外周左下部分が変形していびつな形状となっている、
(3)ウェル内の液面の位置に対応してウェル領域の見た目の大きさが変化している、
という歪みが表れている。
P1(floor(x’),floor(y'))、
P2(floor(x’)+1,floor(y'))、
P3(floor(x’),floor(y')+1)、
P4(floor(x’)+1,floor(y')+1)、
により表すことができる。ここで、符号floor(x’)、floor(y’)は、それぞれ補正基準点T’の座標値x’、y’の整数部分を意味するものとする。
J. Weng, P. Cohen and M. Herniou, "Camera calibration with distortion models and accuracy evaluation", IEEE Trans. Pattern Analysis and Machine Intelligence, vol.14, no.10, pp. 965-980, 1992.
に記載された技術を適用することが可能である。そのため、本明細書では放射状歪み補正についての詳しい説明を省略する。
13 撮像ユニット
114 画像処理部
118 表示部
M マイクロプレート
S201 輪郭検出工程
S202 理想輪郭特定工程
S203〜S206 補正画像作成工程
S104 放射歪み補正工程
S105 サイズ補正工程
Ci 理想輪郭円
Cm (ウェル画像の)輪郭部
W ウェル(窪部)
Claims (7)
- 断面形状が略円形である窪部に流動体を注入して作成した試料を該窪部の輪郭とともに撮像してなる原画像の歪みを補正する画像処理方法において、
前記原画像から前記窪部の輪郭に対応する輪郭部を検出する輪郭検出工程と、
検出された前記輪郭を円近似した理想輪郭円を特定する理想輪郭特定工程と、
前記原画像の各原画素のうち前記輪郭部内に位置する原画素の画素値に基づき作成した補正画素を前記理想輪郭円内に配した補正画像を作成する補正画像作成工程と
を備え、前記補正画像作成工程では、
前記補正画素のそれぞれについて、前記理想輪郭円の半径に対する前記理想輪郭円の中心から当該補正画素を通って前記輪郭部に至る線分の長さの比を当該補正画素の補正係数と定義したとき、
当該補正画素の画素値を、前記線分上の点であって前記理想輪郭円の中心からの距離が前記理想輪郭円の中心と当該補正画素との距離に前記補正係数を乗じた距離である補正基準点の近傍に位置する前記原画素の画素値に基づいて求める
ことを特徴とする画像処理方法。 - 断面形状が略円形である窪部に流動体を注入して作成した試料を該窪部の輪郭とともに撮像してなる原画像の歪みを補正する画像処理方法において、
前記原画像から前記窪部の輪郭に対応する輪郭部を検出する輪郭検出工程と、
検出された前記輪郭を円近似した理想輪郭円を特定する理想輪郭特定工程と、
前記原画像の各原画素のうち前記輪郭部内に位置する原画素の画素値に基づき作成した補正画素を前記理想輪郭円内に配した補正画像を作成する補正画像作成工程と
を備え、前記補正画像作成工程では、
前記補正画素のそれぞれについて、前記理想輪郭円の半径をR0、前記理想輪郭円の中心から当該補正画素を通って前記輪郭部に至る線分の長さをR1、前記理想輪郭円の中心から当該補正画素までの距離をR2と定義したとき、
当該補正画素の画素値を、前記線分上の点であって前記理想輪郭円の中心からの距離がR1×R2/R0で表される補正基準点の近傍に位置する前記原画素の画素値に基づいて求める
ことを特徴とする画像処理方法。 - 前記理想輪郭特定工程では、前記輪郭検出工程で検出された前記輪郭部の最小半径外接円を前記理想輪郭円とする請求項1または2に記載の画像処理方法。
- 前記補正画像作成工程では、前記補正基準点上の前記原画素の画素値と、該原画素に隣接する少なくとも1つの前記原画素の画素値とに基づき前記補正画素の画素値を求める請求項1ないし3のいずれかに記載の画像処理方法。
- 各原画素の画素値を当該原画素の前記補正基準点からの距離に応じて荷重平均した値を前記補正画素の画素値とする請求項4に記載の画像処理方法。
- 前記補正画像に対して放射状の歪みの補正を行う放射歪み補正工程をさらに備える請求項1ないし5のいずれかに記載の画像処理方法。
- 前記補正画像の直径が予め設定された基準直径と一致するように前記補正画像を拡大または縮小するサイズ補正工程をさらに備える請求項1ないし6のいずれかに記載の画像処理方法。
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