JP5746294B2 - センシングユニット - Google Patents

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Description

本発明は、センシングユニット及びその製造方法に関するものである。
加速度センサ(加速度計:accelerometer)として、従来より、MEMS技術を用いたシリコン加速度センサが知られている。
このシリコン加速時センサのセンシングユニットは、一般的には、図11に示すような工程を経て作製される。すなわち、シリコン加速度センサのセンシングユニット110を作製する際には、まず、図11の(a)部分に示すように、シリコン基板100上に平行に並ぶストライプパターンを有するフォトマスク102を形成する。そして、そのフォトマスク102を利用したディープエッチング(エッチング深さ25〜30μm)をおこない、平行に並ぶ複数のトレンチ104を形成する。さらに、図11の(b)部分に示すように、基板100上面及びトレンチ104の内壁面にSiO膜106を成膜する。その後、図11の(c)部分に示すように、トレンチ104の底面部分を等方性エッチングにより部分的に除去して、隣り合うトレンチ104同士をその底面部分で連通させる。その結果、隣り合うトレンチ104の間に、基板100の面方向に平行な一方向(すなわち、並設方向)に往復動可能な片持ち梁(cantilever)部分108が形成される。
そして、図11のような構造を有するセンシングユニット110においては、片持ち梁部分(可動部)108の揺動に伴う静電容量の変化に基づいて、加速度の測定がおこなわれる。
しかしながら、前述した従来のセンシングユニットにおいては、センサ部を設ける場合、センサ部ごとに配線を設ける必要があったため、部品点数が多くなり、その結果、構造が複雑になってしまうという問題があった。
本発明は、上述の課題を解決するためになされたものであり、構造の簡素化が図られたセンシングユニット及びその製造方法を提供することを目的とする。
本発明に係るセンシングユニットは、基板上に設けられた支持部と、支持部によって基板に対して浮動可能に支持された可動部とを有し、且つ、導電性材料で構成されているバネ部と、バネ部の可動部に設けられ、可動部における変位を検出し、変位に関する信号をバネ部を介して伝達するセンサ部とを備える。
このセンシングユニットにおいては、支持部と可動部とを有するバネ部が導電性を有している。そして、バネ部の可動部に設けられたセンサ部の信号は、このバネ部を介して伝達される。従って、本発明に係るセンシングユニットは、必ずしもセンサ部ごとに配線を設ける必要がなく、部品点数の少ない簡素な構成となる。それにより、製作コストの削減及び作製の容易化等が実現される。
また、基板には凹部が形成され、バネ部の支持部は凹部の縁部に位置し、且つ、バネ部の可動部は平板コイル状であって凹部上方に位置する態様でもよい。この場合、可動部は、基板面に平行ないずれの方向にも揺動可能となっている。その上、可動部は、その中心側の端部の振幅が最大となるように、基板の厚さ方向にも揺動可能となっている。従って、一方向にのみ揺動する従来のセンシングユニットよりも測定方向に関する自由度が高くなっている。
また、基板が鉛直方向に延在するように保持されている態様でもよく、基板が水平方向に延在するように保持されている態様でもよい。基板の延在方向を適宜決定することで、所望の方向における感度が高いセンシングユニットを得ることができる。
また、可動部の両端部が、一対の支持部によって支持されており、可動部の一部が、一対の支持部の並び方向に延びており、且つ、並び方向に沿う方向に揺動する態様でもよい。
また、バネ部がめっき成形によって形成されている態様でもよい。この場合、ディープエッチングによってバネ部の可動部を形成する場合に比べて、厚さの薄い可動部を形成することができる。
また、センサ部がGMRセンサで構成されている態様でもよい。この場合、センサ部の小型化が実現され、それにより、センシングユニットの小型化を図ることができる。
本発明に係るセンシングユニットの製造方法は、基板上に設けられた支持部と、支持部によって基板に対して浮動可能に支持された可動部とを有するバネ部と、バネ部の可動部に設けられ、可動部における変位を検出し、変位に関する信号をバネ部を介して伝達するセンサ部とを備えるセンシングユニットの製造方法であって、バネ部の可動部が形成される第1の領域が、支持部が形成される第2の領域よりも低くなっている基板を準備する工程と、第1の領域をレジスト層で埋めて基板を平坦にする工程と、バネ部となるべきめっき層を、可動部となる部分が第1の領域のレジスト層上に位置し、支持部となる部分が第2の領域に位置するように形成する工程と、可動部となる部分のめっき層にセンサ部を形成する工程と、レジスト層を除去する工程とを含む。
このセンシングユニットの製造方法においては、導電性を有するバネ部は、めっき層で形成される。そして、バネ部の可動部となる部分に、バネ部を介して信号を伝達するセンサ部が形成される。従って、本発明に係るセンシングユニットの製造方法によれば、必ずしもセンサ部ごとに配線を設ける必要がなく、部品点数の少ない簡素な構成を有するセンシングユニットを得ることができる。それにより、センシングユニットの製作コストの削減及び作製の容易化等が実現される。
本発明によれば、構造の簡素化が図られたセンシングユニットを提供できる。
本発明の第1実施形態に係るセンシングユニットを示した概略斜視図である。 図1に示したセンシングユニットのII−II線断面図である。 めっき層上に形成されたセンサ部の概略構成を示した図である。 図1のII−II線断面においてセンシングユニットを作製する手順を示した図である。 図1のII−II線断面においてセンシングユニットを作製する手順を示した図である。 図1のVI−VI線断面においてセンシングユニットを作製する手順を示した図である。 本発明の第2実施形態に係るセンシングユニットを示した概略平面図である。 図7のVIII−VIII線断面においてセンシングユニットを作製する手順を示した図である。 本発明の第3実施形態に係るセンシングユニットを示した概略平面図である。 本発明の第4実施形態に係るセンシングユニットを示した概略平面図である。 従来技術に係るセンシングユニットを作製する手順を示した図である。
以下、添付図面を参照して本発明を実施するにあたり最良と思われる形態について詳細に説明する。なお、同一又は同等の要素については同一の符号を付し、説明が重複する場合にはその説明を省略する。
以下、本発明の実施形態に係るセンシングユニットとして、加速度センサに利用されるセンシングユニットについて説明する。このセンシングユニットは、所定の制御部に変位に関する信号を伝達することで、センシングユニットに加わる加速度を検出可能となっている。
(第1実施形態)
図1は、本発明の第1実施形態に係るセンシングユニット10を示した概略斜視図である。図2は、図1に示したセンシングユニット10のII−II線断面図であり、(a)部分は伸長していない状態、(b)部分は伸長した状態を示している。図1及び図2に示すように、センシングユニット10は、基板20と、その基板20上に設けられたバネ部30とを備えて構成されている。
基板20は、例えばAlで構成されており、その表面20aが平坦な基板である。そして、基板20の表面20aには、断面が略円形のホール(凹部)22が設けられている。このホール22の深さは、例えば、浅くする場合には0.5〜3.0μm程度、深くする場合には3.0〜10μm程度である。
バネ部30は、基板20の基板面20aに平行に延在する薄膜部材であり、CuやNi等の導電性材料のめっき成形によって形成されている。そして、このバネ部30は、支持部32と可動部34とによって構成されている。また、バネ部30は、図3に示すように、めっき層56が絶縁膜54によって横並びに3つの領域(56A,56B,56C)に分割された構成となっている。
バネ部30のうちの支持部32は、ホール22の縁に位置する帯状部分であり、ホール22からせり出すように延びている。バネ部30のうちの可動部34は、支持部32のせり出した端部から連続的に設けられており、基板20のホール22の上方に位置している。この可動部34は、ホール22全体を覆う平板コイル状の形状を有しており、ホール22の中心部周りを螺旋状に複数回だけ周回している。
上記構成を有するバネ部30においては、可動部34は、ホール上方において支持部32により浮動可能に支持されており、且つ、弾性変形が生じやすい形状(すなわち、平板形状)及び構成材料(すなわち、CuやNi等の金属材料)となっている。そのため、可動部34は、基板面20aの面方向(基板面に平行な全方向)に揺動することができ、且つ、図2の(b)部分に示すように基板20の厚さ方向に揺動(伸長)することができる。
そして、バネ部30の可動部34の中心側の端部には、他の部分に比べて幅広の重り部36が形成されている。このような比較的体積の大きな重り部36を中心側の端部に設けることで、可動部34の揺動量の増大が図られている。なお、必要に応じて、この重り部36の上面や下面に突起を設けて、さらなる重量増大を図り、可動部34の揺動量を増すようにしてもよい。
さらに、上述したバネ部30の可動部34には、3つのセンサ部40(40A〜40C)が設けられている。センサ部40は、GMRセンサ(巨大磁気抵抗効果センサ)であり、可動部34の上面に一体的に実装されている。これらのセンサ部40は、可動部34が特定方向に変位(伸縮)した際に電気抵抗値が変化するものであり、その抵抗変化により可動部34の変位量(揺動量)及び変位方向(揺動方向)を検出するものである。
センサ部40は、例えば、図3に示すような構造を有している。図3は、めっき層56上に形成されたセンサ部40の概略構成を示した図である。すなわち、センサ部40は、めっき層56上に絶縁膜41を介して、Fe−Ni合金(パーマロイ)からなるボトムシールド層42とトップシールド層43とが形成されており、その間にジャンクション部44が上下に挟まれたサンドイッチ構造となっている。そして、そのジャンクション部44を左右から挟むように一対の電極部45,46が形成されている。なお、図示は省略しているが、電極部45,46それぞれは異なるめっき層56A,56B,56Cと電気的に接続されている。
ここで、図1に示すように、3つのセンサ部40のうち、センサ部40Aは、可動部34のうちの支持部32に近接する位置に設けられている。この位置は、可動部34の中で最も変位量が大きいため、この位置にセンサ部40Aを設けることで、可動部34のわずかな揺動を検出することができ、センサ部40における測定精度の向上が図られる。
各センサ部40は、変位に関する信号として電気抵抗値を、導電性を有する可動部34を介して、図示しない制御部に伝達する。
また、センサ部40は、バネ部30の可動部34の幅方向に関しては、中心部よりも端部側に配置することが好ましい。これは、可動部34が揺動して部分的に湾曲する際、その中心部よりも端部の方が大きく伸縮するため、わずかな伸縮を検出でき、センサ部40における測定精度が向上するためである。
すなわち、センシングユニット10においては、バネ部30の可動部34は、基板20に形成されたホール上方において浮動可能に支持されている。そのため、この可動部34は、基板面20aに平行ないずれの方向にも揺動可能となっている。その上、可動部34は、その中心側の端部の振幅が最大となるように、基板の厚さ方向にも揺動可能となっている。そして、この可動部34にセンサ部40が設けられている。そのため、センシングユニット10は、一方向にのみ揺動する従来のセンシングユニットよりも測定方向に関する自由度が高くなっている。
また、バネ部30が導電性材料で構成されているため、バネ部30をセンサ部40の信号伝達経路として利用することができる。つまり、このセンシングユニット10においては、別途の配線を設けることなくセンサ部40を設置することができる。そのため、部品点数の少ない簡素な構成となり、製作コストの削減及び作製の容易化が実現される。上述した実施形態においては、バネ部30には3つの信号伝達経路(すなわち、めっき層56A、めっき層56B及びめっき層56C)が設けられており、センサ部40にはその中から2つの信号伝達経路が利用される。
また、バネ部30に含まれる絶縁膜54はキャパシタとしての利用が可能であり、このようなキャパシタによりキャパシタンスブリッジを構成してもよい。さらに、バネ部30がめっき成形によって形成されているため、ディープエッチングによってバネ部の可動部を形成する場合(図11の(c)部分に示したセンシングユニット110)に比べて、厚さの薄い可動部34を形成することができる。
また、センサ部40がGMRセンサで構成されているため、センサ部の小型化が実現されており、それにより、センシングユニット10の小型化が実現されている。さらに、可動部34に3つセンサ部40が設けられているため、センシングユニットの測定方向の多様化(例えば、2軸方向や3軸方向の測定)が実現でき、さらに、それらの検出信号から変位量の差分や平均を求めてより高い測定精度を実現することができる。
なお、可動部34は平板形状であるため、図2の(b)部分に示すように基板20の厚さ方向に揺動しやすく、その結果、センシングユニット10は上記厚さ方向に関する感度が高くなっている。そのため、基板20が鉛直方向に延在するように保持することで、水平方向の揺動について高い感度を有するセンシングユニット10を得ることができる。また、基板20が水平方向に延在するように保持することで、鉛直方向の揺動について高い感度を有するセンシングユニット10を得ることができる。
次に、上述したセンシングユニット10を作製する手順について、図4〜図6を参照しつつ説明する。
ここで、図4は、図1のII−II線断面においてセンシングユニット10を作製する手順を示した図であり、その(a)〜(d)部分は各工程段階における断面を示している。また、図5も、図1のII−II線断面においてセンシングユニット10を作製する手順を示した図であり、その(a)〜(c)部分は各工程段階における断面を示している。さらに、図6は、図1のVI−VI線断面においてセンシングユニット10を作製する手順を示した図であり、その(a)及び(b)部分は各工程段階における断面を示している。
センシングユニット10を作製する際には、まず所定形状のAl基板20を用意する。この基板20は、バネ部30の可動部34が形成される第1の領域に、断面円形のホール22が形成されている。つまり、ホール22(第1の領域)は、支持部32が形成されるホール22の縁部(第2の領域)よりも、その表面高さが低くなっている。
そして、第1の領域のホール22が完全に埋まって平坦になるようにフォトレジスト(レジスト層)50を塗布成形した後、フォトレジスト50が覆われるように基板20全面にAl層52を成膜する(図4の(a)部分参照)。
次に、化学機械研磨(CMP)により、基板20に達する位置まで研磨してホール22を露出させる。それにより、基板20に形成されたホール22がフォトレジスト50で埋められて平坦になる(図4の(b)部分参照)。
続いて、平坦になった基板20上にAl絶縁膜54Aを成膜し、断面矩形状の第1のめっき層56Aを、上述したバネ部30と同様の形状となるようにめっき形成する。さらに、その第1のめっき層56Aを覆うようにして基板20表面にAl絶縁膜54Bを成膜し、上記第1のめっき層56Aの両側に、第1のめっき層56Aよりも高くなるように略矩形状の第2及び第3のめっき層56B,56Cをめっき形成する(図4の(c)部分参照)。これらのめっき層56(56A,56B,56C)が、最終的に上述したバネ部30となる。そのため、めっき層56は、支持部32となる部分がホール22の縁部(第2の領域)に位置し、可動部34となる部分がホール22(第1の領域)内のフォトレジスト50上に位置するように形成される。
その後、めっき層56の形成領域以外のAl絶縁膜をエッチング除去し、さらに、ホール22の対応領域にフォトレジスト(レジスト層)60を形成して、その上からAl層62で覆う(図4の(d)部分参照)。
次に、CMPにより、第1のめっき層56Aが露出する位置まで、Al層62、フォトレジスト60及びめっき層56B,56Cを研磨する(図5の(a)部分参照)。
続いて、基板20のホール22の対応領域に形成されたフォトレジスト60及びフォトレジスト50を除去して、めっき層56の周囲及び下方に空間を形成する(図5の(b)部分参照)。それにより、Al絶縁膜54(54A,54B)で分離された3つのめっき層56A,56B,56Cからなるバネ部30が形成される。
最後に、基板20上のAl層62を選択的にエッチング除去して、上述したセンシングユニット10のバネ部30の作製が完了する(図5の(c)部分参照)。
なお、センサ部40は、図5の(a)部分に示した段階で形成される。すなわち、図6の(a)部分に示すように、バネ部30となるめっき層56が、フォトレジスト60,50及びAl層62で埋められて、基板表面が平坦になっている状態で、可動部34となるめっき層56上に絶縁膜41を介してセンサ部40を形成する。
そして、上記センサ部40の作製が完了した後、上述したとおり、基板20のホール22の対応領域に形成されたフォトレジスト60及びフォトレジスト50を除去すると共に、基板20上のAl層62を選択的にエッチング除去して、センシングユニット10の作製が完了する(図6の(b)部分参照)。
以上で説明した製造方法によれば、3つの導電経路(すなわち、第1のめっき層56A、第2のめっき層56B及び第3のめっき層56C)に分割されたバネ部30が作製される。このように、バネ部30が複数の導電経路を有する場合には、複数のうちの2つを適宜選択することで、別途の配線を設けることなくセンサ部40の信号がバネ部30を介して制御部に伝達される。なお、導電経路が分割されていないバネ部(すなわち、1つのめっき層のみで構成されたバネ部)であっても、別途に1つの配線のみを設けるだけで、センサ部40の信号を伝達できるようになるため、この場合でも、1対の配線が必要な絶縁性のバネ部を有する従来のセンシングユニットに比べて、部品点数の少ない簡素な構成のセンシングユニットが得られる。
(第2実施形態)
次に、本発明の第2実施形態に係るセンシングユニット10Aについて説明する。図7は、センシングユニット10Aを示した概略平面図である。
図7に示すように、センシングユニット10Aは、基板20Aには、2つの台座部24(例えば、高さ約0.5〜〜10μm)が設けられており、これら台座部24の間に、導電性を有するバネ部30Aが掛架されている。バネ部30Aは、上述したバネ部30同様、基板20Aの基板面20aに平行に延在する薄膜部材であり、CuやNi等の導電性材料のめっき成形によって形成されている。
バネ部30Aは、基板20Aの台座部24上に設けられた一対の支持部32と、その間に位置する可動部34とによって構成されている。そのため、バネ部30Aの可動部34が形成された領域(第1の領域)が、支持部32が形成された領域(第2の領域)よりも低くなっている。
そして、バネ部30Aの可動部34は、一対の支持部32の並び方向に平行な仮想線L1上に沿って延びる中央部34aと、上記並び方向から傾斜して延びる両側の連結部34bとによって構成されている。従って、このセンシングユニット10Aにおいては、バネ部30Aは、可動部34の中央部34aが支持部32の並び方向(図7のX方向)に沿う方向に揺動可能な状態で支持されている。
可動部34のうちの中央部34aに、上述したセンサ部と同様のセンサ部40が設けられている。そのため、このセンサ部40は、可動部34の中央部34aにおけるX方向の揺動を検出する。
第2実施形態に係るセンシングユニット10Aの製造方法は、用いる基板20Aが異なる点以外は第1実施形態と同様である。ここで、図8は、図7のVIII−VIII線断面においてセンシングユニット10Aを作製する手順を示した図であり、その(a)〜(d)部分は各工程段階における断面を示している。
すなわち、センシングユニット10Aを作製する際には、まず所定形状のAl基板20Aを用意する。この基板20Aの表面20aには、バネ部30Aの支持部32が形成される領域に台座部24が設けられている(図8の(a)部分参照)。この台座部24は、基板20Aのエッチング成形により一体的に設けてもよく、また基板材料とは異なる材料で成膜成形してもよい。
次に、バネ部30Aの可動部34が形成される領域(台座部の残余領域)を、フォトレジスト(レジスト層)80で埋めて基板を平坦にする(図8の(b)部分参照)。この平坦化処理は、上述したセンシングユニット10の製造方法と同様に、Al層で一旦フォトレジスト80を覆った後、CMPにより台座部24の上端面が露出する位置まで研磨する。
続いて、平坦になった基板20A上に、断面矩形状のめっき層56を、上述したバネ部30Aと同様の形状となるようにめっき形成する(図8の(c)部分参照)。このとき、めっき層56を、支持部32となる部分が台座部24上に位置し、可動部34となる部分がフォトレジスト80上に位置するように形成する。
その後、上述したセンシングユニット10の製造方法と同様の手順に従って、可動部34の中央部34aに対応する部分のめっき層56上にセンサ部40を形成すると共に、フォトレジスト80を除去して、センシングユニット10Aの作製が完了する(図8の(d)部分参照)。
以上で説明した第2実施形態においては、第1実施形態同様、センシングユニット10Aのバネ部30Aが導電性材料で構成されているため、バネ部30Aをセンサ部40の信号伝達経路として利用することができる。つまり、このセンシングユニット10Aにおいても、別途の配線を設けることなくセンサ部40を設置することができる。そのため、部品点数の少ない簡素な構成となり、製作コストの削減及び作製の容易化が実現される。
(第3実施形態)
次に、本発明の第3実施形態に係るセンシングユニット10Bについて説明する。図9は、センシングユニット10Bを示した概略平面図である。
図9に示すように、センシングユニット10Bは、上述したセンシングユニット10Aと相似の構成を有しており、センシングユニット10Bのバネ部30Bは、上述したバネ部30,30A同様、導電性材料のめっき成形によって形成されている。このセンシングユニット10Bでは、基板20Bの台座部24は、上記X方向に直交するY方向に並んでいる。そして、バネ部Bの可動部34の中央部34aは、台座部24に設けられた一対の支持部32の並び方向(Y方向)に平行な仮想線L2上に沿って延びている。従って、このセンシングユニット10Bにおいては、バネ部30Bは、可動部34の中央部34aが支持部32の並び方向(図9のY方向)に沿う方向に揺動可能な状態で支持されている。
従って、可動部34のうちの中央部34aに設けられたセンサ部40は、可動部34の中央部34aにおけるY方向の揺動を検出する。
このようなセンシングユニット10Bは、単独で用いてもよく、センシングユニット10Aと合わせて用いてもよい。センシングユニット10Bとセンシングユニット10Aとの両方を利用した場合には、センサ部40の検出信号から、基板20A,20BのX−Y面における全方位の加速度を検出することができる。
(第4実施形態)
次に、本発明の第4実施形態に係るセンシングユニット10Cについて説明する。図10は、センシングユニット10Cを示した概略平面図である。
図10に示すように、センシングユニット10Cはバネ部30Cを有しており、バネ部30Cは、上述したバネ部30,30A,30B同様、導電性材料のめっき成形によって形成されている。このバネ部30Cは、Y方向に関して鏡像関係にある一対のバネ部31A,31Bによって構成されている。各バネ部31A,31Bは、上述したセンシングユニット10Aが連続した形状であり、X方向に等間隔で並ぶ3つの台座部24によってそれぞれ支持されている。このバネ部30Cを構成する各バネ部31A,31Bは、2つの支持部24の間の構成は第2実施形態のバネ部30Aと同一であるため、センサ部40によってX方向における揺動が検出される。
本実施形態においては、複数のセンサ部40により、測定精度の向上等を図ることができる。例えば、各センサ部40の検出信号から変位量の差分や平均を求めてより高い測定精度を実現することができる。
本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、様々な変形が可能である。例えば、センサ部は、GMRセンサに限らず、公知のセンサ(MRセンサ等)に適宜変更してもよい。また、導電性を有するバネ部は、必要に応じてその断面を絶縁膜で複数に分割してもよい。
10,10A…センシングユニット、20,20A…基板、22…ホール(凹部)、30,30A…バネ部、32…支持部、34…可動部、40(40A,40B,40C)…センサ部。

Claims (2)

  1. 基板上に設けられた支持部と、前記支持部によって前記基板に対して浮動可能に支持された可動部とを有し、且つ、導電性材料で構成されているバネ部と、
    前記バネ部の可動部に設けられ、前記可動部における変位を検出し、前記変位に関する信号を前記バネ部を介して伝達するセンサ部と
    を備え、
    前記可動部の両端部が、一対の前記支持部によって支持されており、
    前記可動部の一部が、前記一対の支持部の並び方向に延びており、且つ、前記並び方向に沿う方向に揺動し、
    前記バネ部がめっき成形によって形成されている、センシングユニット。
  2. 前記センサ部がGMRセンサで構成されている、請求項1に記載のセンシングユニット。
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