JP5741819B2 - Display performance measuring device, display performance measuring method, and projector device - Google Patents

Display performance measuring device, display performance measuring method, and projector device Download PDF

Info

Publication number
JP5741819B2
JP5741819B2 JP2011061047A JP2011061047A JP5741819B2 JP 5741819 B2 JP5741819 B2 JP 5741819B2 JP 2011061047 A JP2011061047 A JP 2011061047A JP 2011061047 A JP2011061047 A JP 2011061047A JP 5741819 B2 JP5741819 B2 JP 5741819B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test pattern
image
gradation
imaging
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2011061047A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2012198306A (en
Inventor
山岸　英一
英一 山岸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2011061047A priority Critical patent/JP5741819B2/en
Publication of JP2012198306A publication Critical patent/JP2012198306A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5741819B2 publication Critical patent/JP5741819B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Projection Apparatus (AREA)
  • Transforming Electric Information Into Light Information (AREA)
  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)

Description

本発明は、表示性能測定装置、表示性能測定方法、およびプロジェクター装置に関する。   The present invention relates to a display performance measuring device, a display performance measuring method, and a projector device.

検査対象である液晶パネルに検査画像を表示させてその画像光をフロントタイプの投射スクリーンに投射させ、この投射スクリーンに表示された検査画像をカメラにより検出させて当該液晶パネルの点欠陥の有無を検査する液晶パネル検査装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。   An inspection image is displayed on the liquid crystal panel to be inspected, and the image light is projected onto a front-type projection screen, and the inspection image displayed on the projection screen is detected by a camera to determine whether there is a point defect in the liquid crystal panel. A liquid crystal panel inspection apparatus for inspection is known (see, for example, Patent Document 1).

また、所定間隔に配置される複数の表示点を示す画像光を透過スクリーンの一方の面に投射させて他方の面に画像を表示させ、その他方の面の前面に配置した透明物体を通して得られる表示画像をカメラにより撮像させて、当該透明物体の透視歪を検査する歪検査装置が知られている（例えば、特許文献２参照）。   Further, the image light indicating a plurality of display points arranged at predetermined intervals is projected on one surface of the transmission screen to display an image on the other surface, and obtained through a transparent object disposed on the front surface of the other surface. There is known a distortion inspection apparatus that inspects a perspective distortion of a transparent object by capturing a display image with a camera (see, for example, Patent Document 2).

特開２００４−４５６７５号公報JP 2004-45675 A 国際公開第２００８／１４９７１２号International Publication No. 2008/149712

特許文献１に開示された液晶パネル検査装置において、フロントタイプの投射スクリーンに表示された検査画像を高精細に、例えば画素を解析可能に撮影するためには、カメラを投射スクリーンに近付けて撮影することが有効である。しかしながら、カメラを投射スクリーンに近付け過ぎると、投射される画像光をカメラが遮ることとなるため、その接近距離には限界がある。   In the liquid crystal panel inspection apparatus disclosed in Patent Document 1, in order to photograph an inspection image displayed on a front-type projection screen with high definition, for example, so that pixels can be analyzed, the camera is brought close to the projection screen. It is effective. However, if the camera is too close to the projection screen, the camera blocks the image light that is projected, so that the approach distance is limited.

この問題を回避するために、焦点距離がより長いレンズを装備したカメラを用いる方法が考えられるが、カメラに微小振動が発生した場合に、その微小振動が撮像画像に与える影響が大きくなるため、画素レベルの解析を行うための高精細画像の撮影には向いていない。
また、特許文献２に開示された歪検査装置のように、背面投射型方式を採用することも考えられるが、透過スクリーンの光拡散作用によって画像光の偏光特性が変化し、画素レベルの高精度な計測に支障を来たしてしまう。 In order to avoid this problem, a method using a camera equipped with a lens having a longer focal length can be considered, but when a minute vibration occurs in the camera, the influence of the minute vibration on the captured image becomes large. It is not suitable for photographing high-definition images for pixel-level analysis.
In addition, as in the distortion inspection apparatus disclosed in Patent Document 2, it may be possible to adopt a rear projection type, but the polarization characteristics of the image light change due to the light diffusing action of the transmission screen, and the pixel level has high accuracy. It will interfere with the measurement.

そこで、本発明は、上記問題点を解決するためになされたものであり、画像光を出力する画像光出力装置の画素の表示性能を高精度に測定する、表示性能測定装置、表示性能測定方法、およびプロジェクター装置を提供することを目的とする。   Accordingly, the present invention has been made to solve the above problems, and a display performance measuring apparatus and a display performance measuring method for measuring the display performance of a pixel of an image light output device that outputs image light with high accuracy. And a projector device.

［１］上記の課題を解決するため、本発明の一態様である表示性能測定装置は、複数の矩形領域に区分され、隣接する矩形領域同士で異なり且つ一矩形領域内で一様な階調または輝度を有する画像に含まれるテストパターンを発生させて、前記テストパターンを含む画像を検査対象である画像光出力装置に供給するテストパターン発生部と、前記画像光出力装置から出力される、前記テストパターンを含む画像の画像光の照射を受けてテストパターン画像を表示するスクリーンと、前記スクリーンの表示面内に撮像面を配置して設けられ、前記テストパターン画像を撮像して画像信号を生成する撮像部と、前記撮像部が生成した前記画像信号を取り込み、前記画像信号におけるテストパターン画像に基づいて、前記画像光出力装置における画素の表示性能を測定して測定情報を生成するテストパターン解析部と、を備え、前記テストパターン解析部は、前記画像信号にテストパターン画像が含まれていないと判定した場合、前記画像信号から階調または輝度の情報を検出して、前記階調または輝度の情報と位置変更指示情報とを前記テストパターン発生部に供給し、前記テストパターン発生部は、前記テストパターン解析部から供給された前記階調または輝度の情報と前記位置変更指示情報とを取り込むと、前記階調または輝度の情報が示す階調または輝度と同一の階調または輝度を有する範囲内で前記テストパターンの位置を変更した画像を発生させることを特徴とする。
ここで、画像光出力装置は、例えばプロジェクター装置である。また、スクリーンは、前面投射型の投射スクリーン（フロントスクリーン）である。
このように構成したことにより、撮像部は、検査対象である画像光出力装置から出力される画像光を遮ることなく受光することができる。また、撮像部は、撮像レンズ光学系を備えていないため、当該撮像レンズ光学系による光学歪の影響を排除することができる。
また、撮像部自体の解像度に依存した分解能による画像解析を行うことができる。また、透過スクリーン（拡散スクリーン）が有する光拡散作用がないため、画像光の偏光特性が変化して画素レベルの高精度な計測に支障を来たすことがない。 [1] In order to solve the above-described problem, a display performance measuring apparatus which is one embodiment of the present invention is divided into a plurality of rectangular areas, which are different between adjacent rectangular areas and have a uniform gradation within one rectangular area. or by generating a test pattern contained in the image having a luminance, and the test pattern generating section to the image light outputting apparatus to be inspected an image containing the test pattern is outputted from the image light outputting apparatus, the A screen for displaying a test pattern image upon receiving image light irradiation of an image including a test pattern, and an image pickup surface disposed within the display surface of the screen, and generating an image signal by picking up the test pattern image An image capturing unit that captures the image signal generated by the image capturing unit and based on a test pattern image in the image signal. And a test pattern analysis unit for generating measurement information display performance measured by the said test pattern analysis unit, if it is determined that the image signal does not include the test pattern image, the floor from the image signal Tone or luminance information is detected, and the gradation or luminance information and position change instruction information are supplied to the test pattern generator, and the test pattern generator is supplied from the test pattern analyzer. When the gradation or luminance information and the position change instruction information are captured, the position of the test pattern is changed within a range having the same gradation or luminance as the gradation or luminance indicated by the gradation or luminance information. An image is generated .
Here, the image light output device is, for example, a projector device. The screen is a front projection type projection screen (front screen).
With this configuration, the imaging unit can receive the image light output from the image light output device to be inspected without being blocked. In addition, since the imaging unit does not include the imaging lens optical system, it is possible to eliminate the influence of optical distortion caused by the imaging lens optical system.
In addition, image analysis can be performed with a resolution that depends on the resolution of the imaging unit itself. Further, since the light diffusing action of the transmission screen (diffusion screen) is not present, the polarization characteristics of the image light are not changed, and the high-precision measurement at the pixel level is not hindered.

このように構成したことにより、画像光出力装置とスクリーンとの配置関係によって生ずるスクリーン上の表示画像の位置ずれや歪みの影響をなくして、撮像部が確実にテストパターン画像を取り込むことができる。
［２］上記［１］記載の表示性能測定装置において、前記テストパターン解析部は、前記画像信号におけるテストパターン画像に基づいて、前記画像光出力装置における画素に相当する画像領域同士の位置ずれ量と前記画素に相当する画像領域におけるフレアとの少なくとも一方を測定して測定情報を生成することを特徴とする。
［３］上記［１］または［２］いずれか記載の表示性能測定装置において、前記撮像部は、前記スクリーンの表示面と前記撮像面とを平行にして設けられることを特徴とする。
［４］上記［１］から［３］いずれか一項記載の表示性能測定装置において、前記撮像部は、減光フィルターと赤外光カットフィルターとの少なくとも一方を備えることを特徴とする。
［５］上記［１］から［４］いずれか一項記載の表示性能測定装置において、前記テストパターンは、前記画像光出力装置における赤色画素と青色画素と緑色画素とが相互に近接して構成されることを特徴とする。
ここで、近接は、画素同士がＸ軸方向またはＹ軸方向に隣接すること、および画素同士が一画素分ずれることを含む。 With the arrangements as this, to eliminate the influence of the displacement or distortion of the displayed image on the screen caused by the arrangement relationship between an image light outputting apparatus and the screen, the imaging unit can capture reliably test pattern image .
[2] In the display performance measuring device of the above-mentioned [1] Symbol mounting, the test pattern analysis unit based on the test pattern image in the image signal, the positional deviation of the image area with each other corresponds to a pixel in the image light output device Measurement information is generated by measuring at least one of a quantity and a flare in an image area corresponding to the pixel.
[3] In the above-mentioned [1] or [2] serial mounting of the display performance measuring device or the imaging unit may be provided in the parallel and the display surface and the imaging surface of the screen.
[ 4 ] The display performance measuring apparatus according to any one of [1] to [ 3 ], wherein the imaging unit includes at least one of a neutral density filter and an infrared light cut filter.
[ 5 ] The display performance measuring apparatus according to any one of [1] to [ 4 ], wherein the test pattern is configured such that red pixels, blue pixels, and green pixels in the image light output device are close to each other. It is characterized by being.
Here, the proximity includes that the pixels are adjacent to each other in the X-axis direction or the Y-axis direction, and that the pixels are shifted by one pixel.

［６］上記の課題を解決するため、本発明の一態様である表示性能測定方法は、テストパターン発生部が、複数の矩形領域に区分され、隣接する矩形領域同士で異なり且つ一矩形領域内で一様な階調または輝度を有する画像に含まれるテストパターンを発生させて、前記テストパターンを含む画像を検査対象である画像光出力装置に供給するテストパターン発生ステップと、前記画像光出力装置が出力する、前記テストパターンを含む画像の画像光の照射を受けてテストパターン画像をスクリーンに表示させる表示ステップと、前記スクリーンの表示面内に撮像面を配置して設けられた撮像部が、前記テストパターン画像を撮像して画像信号を生成する撮像ステップと、テストパターン解析部が、前記撮像ステップにおいて前記撮像部が生成した前記画像信号を取り込み、前記画像信号におけるテストパターン画像に基づいて、前記画像光出力装置における画素に相当する画像領域同士の位置ずれ量と前記画素に相当する画像領域におけるフレアとの少なくとも一方を測定して測定情報を生成する解析ステップと、を有し、前記テストパターン解析部が、前記画像信号にテストパターン画像が含まれていないと判定した場合、前記画像信号から階調または輝度の情報を検出して、前記階調または輝度の情報と位置変更指示情報とを前記テストパターン発生部に供給し、前記テストパターン発生部が、前記テストパターン解析部から供給された前記階調または輝度の情報と前記位置変更指示情報とを取り込むと、前記階調または輝度の情報が示す階調または輝度と同一の階調または輝度を有する範囲内で前記テストパターンの位置を変更した画像を発生させることを特徴とする。 [ 6 ] In order to solve the above-described problem, in the display performance measurement method according to one aspect of the present invention, the test pattern generation unit is divided into a plurality of rectangular areas, and is different between adjacent rectangular areas and within one rectangular area. A test pattern generation step of generating a test pattern included in an image having a uniform gradation or brightness and supplying an image including the test pattern to an image light output device to be inspected, and the image light output device but outputs, a display step of displaying a test pattern image on the screen upon exposure to image light of the image containing the test pattern, imaging section provided by placing the imaging surface in a display plane of the screen, an imaging step of generating an image signal by imaging the test pattern image, the test pattern analysis unit, raw previous SL imaging unit Te said imaging step smell The image signal is captured, and based on the test pattern image in the image signal, at least one of a positional deviation amount between image areas corresponding to pixels in the image light output device and a flare in the image area corresponding to the pixels is obtained. measuring and possess an analysis step of generating the measurement information, wherein the test pattern analysis unit, if it is determined not to include the test pattern image on the image signal, tone or brightness information from the image signal And the gradation or luminance information and the position change instruction information are supplied to the test pattern generation unit, and the test pattern generation unit detects the gradation or luminance supplied from the test pattern analysis unit. When the information and the position change instruction information are captured, the same gradation or brightness as the gradation or brightness indicated by the gradation or brightness information is obtained. An image in which the position of the test pattern is changed within a range having a degree is generated .

［７］上記の課題を解決するため、本発明の一態様であるプロジェクター装置は、複数の矩形領域に区分され、隣接する矩形領域同士で異なり且つ一矩形領域内で一様な階調または輝度を有する画像に含まれるテストパターンを生成するテストパターン生成部と、前記テストパターン生成部が生成した前記テストパターンを含む画像を形成する表示部と、前記表示部に形成された前記画像の画像光を投射する投射光学系と、前記投射光学系が投射した前記画像光が照射されて表示されるテストパターン画像を撮像して画像信号を生成する撮像部と、前記撮像部が生成した前記画像信号を取り込み、前記画像信号におけるテストパターン画像に基づいて、前記画像における画素に相当する画像領域同士の位置ずれ量と前記画素に相当する画像領域におけるフレアとの少なくとも一方を測定して測定情報を生成するテストパターン解析部と、を備え、前記テストパターン解析部は、前記画像信号にテストパターン画像が含まれていないと判定した場合、前記画像信号から階調または輝度の情報を検出して、前記階調または輝度の情報と位置変更指示情報とを前記テストパターン発生部に供給し、前記テストパターン発生部は、前記テストパターン解析部から供給された前記階調または輝度の情報と前記位置変更指示情報とを取り込むと、前記階調または輝度の情報が示す階調または輝度と同一の階調または輝度を有する範囲内で前記テストパターンの位置を変更した画像を発生させることを特徴とする。 [ 7 ] In order to solve the above-described problem, a projector device according to one embodiment of the present invention is divided into a plurality of rectangular areas, and is different between adjacent rectangular areas and has a uniform gradation or luminance within one rectangular area. a test pattern generator for the test pattern to generate included in the image with the test and display the pattern generator to form an image including the test pattern generated, the image of the image formed on the display unit A projection optical system that projects light, an imaging unit that captures a test pattern image that is displayed by being irradiated with the image light projected by the projection optical system, and generates an image signal; and the image that the imaging unit generates Based on the test pattern image in the image signal, the amount of positional deviation between the image areas corresponding to the pixels in the image and the image corresponding to the pixels And a test pattern analysis unit for generating measurement information by measuring at least one of the flare in frequency, the test pattern analysis unit, if it is determined that the image signal does not include the test pattern image, wherein Gradation or luminance information is detected from the image signal, and the gradation or luminance information and position change instruction information are supplied to the test pattern generation unit, and the test pattern generation unit is supplied from the test pattern analysis unit. When the supplied gradation or luminance information and the position change instruction information are taken in, the test pattern is within a range having the same gradation or luminance as the gradation or luminance indicated by the gradation or luminance information. An image whose position is changed is generated .

［８］上記［７］記載のプロジェクター装置において、前記テストパターン解析部が生成した前記測定情報に基づいて前記画像を補正する補正処理部をさらに備えることを特徴とする。 [ 8 ] The projector device according to [ 7 ], further including a correction processing unit that corrects the image based on the measurement information generated by the test pattern analysis unit.

上記本発明の各態様によれば、画像光を出力する画像光出力装置の画素の表示性能を高精度に測定することができる。   According to each aspect of the present invention, the display performance of the pixels of the image light output device that outputs image light can be measured with high accuracy.

本発明の第１実施形態である表示性能測定装置を適用した測定システムの概略構成を示すブロック図である。1 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a measurement system to which a display performance measuring apparatus according to a first embodiment of the present invention is applied. 同実施形態における撮像装置の概略の機能構成を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram illustrating a schematic functional configuration of the imaging apparatus according to the embodiment. 同実施形態における画像解析部の機能構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the function structure of the image analysis part in the embodiment. 同実施形態において、投射スクリーンに表示されるプロジェクター装置のフレーム画像と、当該投射スクリーンに配設される９台の撮像装置それぞれの撮像部の撮像面との対応関係を模式的に示す図である。In the embodiment, it is a figure which shows typically the correspondence of the frame image of the projector apparatus displayed on a projection screen, and the imaging surface of each imaging part of nine imaging devices arrange | positioned at the said projection screen. . 図４における撮像面３３１にテストパターンが形成された様子を模式的に表す図である。It is a figure which represents typically a mode that the test pattern was formed in the imaging surface 331 in FIG. 画像データにおけるテストパターンを模式的に表す図である。It is a figure which represents typically the test pattern in image data. 画素ずれ量情報のデータ構成を示す図である。It is a figure which shows the data structure of pixel deviation | shift amount information. フレア情報のデータ構成を示す図である。It is a figure which shows the data structure of flare information. 同実施形態における画像評価装置の処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence of the image evaluation apparatus in the embodiment. 同実施形態の第１変形例において、投射スクリーンに表示されるプロジェクター装置のフレーム画像と、当該投射スクリーンに配設される９台の撮像装置それぞれの撮像部の撮像面との対応関係を模式的に示す図である。In the first modification of the embodiment, the correspondence relationship between the frame image of the projector device displayed on the projection screen and the imaging surfaces of the imaging units of each of the nine imaging devices arranged on the projection screen is schematically shown. FIG. 本発明の第２実施形態である表示性能測定装置を適用した測定システムの概略構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows schematic structure of the measurement system to which the display performance measuring apparatus which is 2nd Embodiment of this invention is applied. 同実施形態における画像解析部の機能構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the function structure of the image analysis part in the embodiment. 同実施形態におけるプロジェクター装置の処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence of the projector apparatus in the embodiment. 液晶パネル表示装置を検査対象装置とした場合に、撮像装置が測定を行っている様子を模式的に表す側面図である。It is a side view which represents typically a mode that an imaging device is measuring, when a liquid crystal panel display device is used as a device to be examined.

以下、本発明を実施するための形態について、図面を参照して詳細に説明する。
［第１の実施の形態］
図１は、本発明の第１実施形態である表示性能測定装置を適用した測定システムの概略構成を示すブロック図である。
同図に示すように、測定システム１は、プロジェクター装置１０と、投射スクリーン２０と、撮像装置（撮像部）３０−１〜３０−９と、画像評価装置４０と、表示装置５０とを含んで構成される。
なお、本実施形態では、撮像装置３０−１〜３０−９のいずれか１台を指す場合に、撮像装置３０と呼ぶこともある。また、本実施形態では、撮像装置３０を９台用いた例について説明するが、その台数は９台に限られることなく、１台でも複数台でもよい。 Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[First Embodiment]
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a measurement system to which a display performance measuring apparatus according to a first embodiment of the present invention is applied.
As shown in the figure, the measurement system 1 includes a projector device 10, a projection screen 20, imaging devices (imaging units) 30-1 to 30-9, an image evaluation device 40, and a display device 50. Composed.
In the present embodiment, when referring to any one of the imaging devices 30-1 to 30-9, the imaging device 30 may be referred to. In this embodiment, an example in which nine imaging devices 30 are used will be described. However, the number is not limited to nine, and may be one or more.

プロジェクター装置１０は、測定システム１における検査対象の画像光出力装置である。プロジェクター装置１０は、画像評価装置４０から供給されるテストパターンデータを取り込み、そのテストパターンデータによるテストパターン画像の画像光ＰＬを、投射光学系から投射スクリーン２０に向けて投射する。プロジェクター装置１０は、例えば、光源と、導光光学系と、液晶パネル（表示部）と、投射光学系とを装備した液晶プロジェクター装置により実現される。   The projector device 10 is an image light output device to be inspected in the measurement system 1. The projector device 10 takes in the test pattern data supplied from the image evaluation device 40 and projects the image light PL of the test pattern image based on the test pattern data onto the projection screen 20 from the projection optical system. The projector device 10 is realized by, for example, a liquid crystal projector device equipped with a light source, a light guide optical system, a liquid crystal panel (display unit), and a projection optical system.

投射スクリーン２０は、前面投射型（フロントタイプ）のスクリーンであり、プロジェクター装置１０から投射される画像光ＰＬを受けてテストパターン画像を表示する。   The projection screen 20 is a front projection type (front type) screen, and receives the image light PL projected from the projector device 10 and displays a test pattern image.

撮像装置３０−１〜３０−９は、各受光側（撮像面側）をプロジェクター装置１０の投射光学系側に向けて、投射スクリーン２０の所定位置に配設される。撮像装置３０−１〜３０−９は、到来する画像光ＰＬにより形成される像を撮像して得る第１画像信号〜第９画像信号を画像評価装置４０に供給する。投射スクリーン２０における撮像装置３０−１〜３０−９の配置については後述する。   The imaging devices 30-1 to 30-9 are arranged at predetermined positions on the projection screen 20 with each light receiving side (imaging surface side) facing the projection optical system side of the projector device 10. The imaging devices 30-1 to 30-9 supply the image evaluation device 40 with first to ninth image signals obtained by capturing an image formed by the incoming image light PL. The arrangement of the imaging devices 30-1 to 30-9 on the projection screen 20 will be described later.

画像評価装置４０は、テストパターンデータを生成してプロジェクター装置１０に供給する。また、画像評価装置４０は、撮像装置３０から供給される画像信号を取り込み、この画像信号による画像データ（例えば、６４０画素×６４０画素）にテストパターンが含まれている場合に、このテストパターンを解析してプロジェクター装置１０の表示性能を測定する。   The image evaluation device 40 generates test pattern data and supplies it to the projector device 10. Further, the image evaluation device 40 takes in the image signal supplied from the imaging device 30, and if the image data (for example, 640 pixels × 640 pixels) based on the image signal includes the test pattern, Analysis is performed to measure the display performance of the projector device 10.

画像評価装置４０は、その機能構成として、画像解析部４１と、テストパターン発生部４２とを備える。
テストパターン発生部４２は、テストパターンを含むフレーム画像（例えば、１９２０画素×１０８０画素）のデータであるテストパターンデータを発生させて、このテストパターンデータをプロジェクター装置１０に供給する。また、テストパターン発生部４２は、画像解析部４１からテストパターンの位置の変更指示（位置変更指示情報）を受けると、フレーム画像におけるテストパターンの位置をずらして配置したテストパターンデータを発生させて、このテストパターンデータをプロジェクター装置１０に供給する。これは、プロジェクター装置１０とスクリーン２０との配置関係によって生ずるスクリーン２０上の表示画像の位置ずれや歪みの影響をなくして、撮像装置３０が確実にテストパターン画像を取り込むための処理である。 The image evaluation apparatus 40 includes an image analysis unit 41 and a test pattern generation unit 42 as functional configurations.
The test pattern generation unit 42 generates test pattern data that is data of a frame image (for example, 1920 pixels × 1080 pixels) including the test pattern, and supplies the test pattern data to the projector device 10. Further, upon receiving a test pattern position change instruction (position change instruction information) from the image analysis unit 41, the test pattern generation unit 42 generates test pattern data arranged by shifting the position of the test pattern in the frame image. The test pattern data is supplied to the projector device 10. This is processing for reliably capturing the test pattern image by the imaging device 30 without the influence of the positional deviation or distortion of the display image on the screen 20 caused by the arrangement relationship between the projector device 10 and the screen 20.

画像解析部４１は、撮像装置３０−１〜３０−９の中から１台を選択し、この選択した撮像装置３０から供給される画像信号を取り込みんで、この画像信号を画像データに変換する。そして、画像解析部４１は、その画像データにテストパターンが含まれている場合に、このテストパターンを解析し、フレーム画像における画素の位置ずれと画素のフレアとを測定して測定情報を記憶する。また、画像解析部４１は、撮像装置３０の画像データにテストパターンが含まれていない場合に、テストパターン発生部４２にテストパターンの位置を変更させる。また、画像解析部４１は、記憶した測定情報に基づいて測定結果情報を生成し、この測定結果情報を表示装置５０に供給する。   The image analysis unit 41 selects one of the imaging devices 30-1 to 30-9, takes in an image signal supplied from the selected imaging device 30, and converts the image signal into image data. Then, when the image data includes a test pattern, the image analysis unit 41 analyzes the test pattern, measures the pixel positional deviation and the pixel flare in the frame image, and stores the measurement information. . Further, the image analysis unit 41 causes the test pattern generation unit 42 to change the position of the test pattern when the image data of the imaging device 30 does not include the test pattern. Further, the image analysis unit 41 generates measurement result information based on the stored measurement information, and supplies this measurement result information to the display device 50.

表示装置５０は、画像評価装置４０から供給される測定結果情報を表示する。表示装置５０は、例えば、液晶ディスプレイ装置により実現される。   The display device 50 displays the measurement result information supplied from the image evaluation device 40. The display device 50 is realized by a liquid crystal display device, for example.

図２は、撮像装置３０の概略の機能構成を示すブロック図である。同図に示すように、撮像装置３０は、減光フィルター３１と、赤外光カットフィルター３２と、カメラ本体３３とを備える。
減光フィルター３１は、透過する光の量を減少させる光学フィルターであり、例えば、ＮＤ（Ｎｅｕｔｒａｌ Ｄｅｎｓｉｔｙ）フィルターである。減光フィルター３１は、画像光ＰＬを直接受光する位置（撮像装置３０における初段）に設けられる。光量の減光割合がそれぞれ異なる複数の減光フィルター３１の中からいずれかの減光フィルター３１を選択して用いることにより、撮像装置３０の感度調整を任意に行うことができる。
赤外光カットフィルター３２は、可視光を透過させ、赤外光をカットする光学フィルターである。赤外光カットフィルター３２は、減光フィルター３１の次段に設けられる。 FIG. 2 is a block diagram illustrating a schematic functional configuration of the imaging apparatus 30. As shown in the figure, the imaging device 30 includes a neutral density filter 31, an infrared light cut filter 32, and a camera body 33.
The neutral density filter 31 is an optical filter that reduces the amount of transmitted light, and is, for example, an ND (Neutral Density) filter. The neutral density filter 31 is provided at a position (first stage in the imaging device 30) that directly receives the image light PL. The sensitivity adjustment of the imaging device 30 can be arbitrarily performed by selecting and using any one of the plurality of neutral density filters 31 having different ratios of light intensity attenuation.
The infrared light cut filter 32 is an optical filter that transmits visible light and cuts infrared light. The infrared light cut filter 32 is provided at the next stage of the neutral density filter 31.

カメラ本体３３は、撮像装置３０の本体部分であり、赤外光カットフィルター３２の次段に設けられる。カメラ本体３３は、撮像素子３３ａを備え、撮像レンズ光学系を備えていない。つまり、カメラ本体３３は、画像光ＰＬを減光フィルター３１と赤外光カットフィルター３２とを通過させて到来する光束を撮像素子３３ａに直接受光させる。撮像素子３３ａは、固体撮像素子であり、例えば、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）イメージセンサーまたはＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサーである。撮像素子３３ａは、例えば６４０画素×６４０画素の解像度を有し、画像光ＰＬが感度調整されさらに赤外光成分がカットされた光束を撮像する。そして、カメラ本体３３は、撮像素子３３ａが撮像して得た画像データを画像信号にして出力する。   The camera main body 33 is a main body portion of the imaging device 30 and is provided at the next stage of the infrared light cut filter 32. The camera body 33 includes an image sensor 33a and does not include an imaging lens optical system. That is, the camera body 33 causes the image pickup element 33a to directly receive the light flux that has passed through the image light PL through the neutral density filter 31 and the infrared light cut filter 32. The image sensor 33a is a solid-state image sensor, for example, a CCD (Charge Coupled Device) image sensor or a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) image sensor. The image sensor 33a has a resolution of, for example, 640 pixels × 640 pixels, and images a light beam whose sensitivity is adjusted for the image light PL and the infrared light component is cut. The camera body 33 outputs the image data obtained by the imaging element 33a as an image signal.

なお、撮像装置３０は、画像光ＰＬを直接受光する位置（撮像装置３０における初段）に赤外光カットフィルター３２を設け、次段に減光フィルター３１を設けて構成してもよい。また、撮像装置３０は、減光フィルター３１と赤外光カットフィルター３２とのうちいずれか一方を備えるようにしてもよい。   Note that the imaging apparatus 30 may be configured by providing the infrared light cut filter 32 at a position (first stage in the imaging apparatus 30) that directly receives the image light PL and providing the neutral density filter 31 at the next stage. In addition, the imaging device 30 may include any one of the neutral density filter 31 and the infrared light cut filter 32.

図３は、画像解析部４１の機能構成を示すブロック図である。同図に示すように、画像解析部４１は、選択部４１１と、選択制御部４１２と、画像取得部４１３と、テストパターン解析部４１４と、測定情報記憶部４１５と、測定結果情報生成部４１７とを備える。
選択部４１１は、撮像装置３０−１〜３０−９から供給される９系統の画像信号（第１画像信号〜第９画像信号）のうち、選択制御部４１２により指定される１系統の画像信号を選択し、その画像信号を画像取得部４１３に供給する。 FIG. 3 is a block diagram illustrating a functional configuration of the image analysis unit 41. As shown in the figure, the image analysis unit 41 includes a selection unit 411, a selection control unit 412, an image acquisition unit 413, a test pattern analysis unit 414, a measurement information storage unit 415, and a measurement result information generation unit 417. With.
The selection unit 411 includes one image signal specified by the selection control unit 412 among nine image signals (first image signal to ninth image signal) supplied from the imaging devices 30-1 to 30-9. And the image signal is supplied to the image acquisition unit 413.

選択制御部４１２は、９系統の画像信号のうち画像取得部４１３に供給する１系統の画像信号を選択するための選択制御信号を選択部４１１に供給する。例えば、選択制御部４１２は、オペレーターによる図示しない操作部の操作や図示しない外部装置と通信することによって実現される当該外部装置からの遠隔操作により、第１画像信号〜第９画像信号の中から画像取得部４１３に供給すべき所望の画像信号を選択するための選択制御信号を選択部４１１に供給する。または、選択制御部４１２は、画像評価装置４０が備える図示しないＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）が制御プログラムを実行することにより、時分割で第１画像信号〜第９画像信号から画像信号を択一的に選択するよう選択制御信号を生成して選択部４１１に供給する。   The selection control unit 412 supplies a selection control signal for selecting one image signal to be supplied to the image acquisition unit 413 among the nine image signals to the selection unit 411. For example, the selection control unit 412 operates from among the first image signal to the ninth image signal by an operation of an operation unit (not shown) by an operator or a remote operation from the external device realized by communicating with an external device (not shown). A selection control signal for selecting a desired image signal to be supplied to the image acquisition unit 413 is supplied to the selection unit 411. Alternatively, the selection control unit 412 is configured to select an image signal from the first image signal to the ninth image signal in a time division manner by executing a control program (not shown) provided in the image evaluation apparatus 40 by a CPU (Central Processing Unit). A selection control signal is generated so as to be selected and supplied to the selection unit 411.

画像取得部４１３は、選択部４１１から供給される１系統の画像信号を取り込み、この画像信号を画像データに変換してテストパターン解析部４１４に供給する。
テストパターン解析部４１４は、画像取得部４１３から供給される画像データを取り込み、この画像データにおけるテストパターンの有無を判定する。例えば、テストパターン解析部４１４は、公知のパターンマッチング法を用いてテストパターンの有無を判定する。そして、テストパターン解析部４１４は、画像データからテストパターンを検出した場合、このテストパターンを解析し、フレーム画像における画素の位置ずれと画素のフレアとの少なくとも一方を測定し、測定結果である測定情報を測定情報記憶部４１５に記憶させる。また、テストパターン解析部４１４は、画像データからテストパターンを検出しない場合、テストパターンの移動指示命令であるテストパターン移動コマンド（位置変更指示情報）を生成し、このテストパターン移動コマンドをテストパターン発生部４２に供給する。 The image acquisition unit 413 takes in one image signal supplied from the selection unit 411, converts the image signal into image data, and supplies the image data to the test pattern analysis unit 414.
The test pattern analysis unit 414 takes in the image data supplied from the image acquisition unit 413 and determines whether or not there is a test pattern in the image data. For example, the test pattern analysis unit 414 determines the presence / absence of a test pattern using a known pattern matching method. Then, when the test pattern analysis unit 414 detects the test pattern from the image data, the test pattern analysis unit 414 analyzes the test pattern, measures at least one of the pixel misalignment and the pixel flare in the frame image, and measures the measurement result. Information is stored in the measurement information storage unit 415. When the test pattern analysis unit 414 does not detect a test pattern from the image data, the test pattern analysis unit 414 generates a test pattern movement command (position change instruction information) that is a test pattern movement instruction command, and generates the test pattern movement command as a test pattern generation command. To the unit 42.

測定情報記憶部４１５は、テストパターン解析部４１４の測定結果である測定情報を記憶する。測定情報記憶部４１５は、半導体記憶装置、磁気ハードディスク装置等の記憶装置により実現される。
測定結果情報生成部４１７は、測定情報記憶部４１５から測定情報を読み出して測定結果情報を生成し、この測定結果情報を表示装置５０に供給する。具体的には、測定結果情報生成部４１７は、測定情報記憶部４１５から測定情報を読み出し、この測定情報に画素の位置ずれの測定結果が含まれている場合には、その測定結果に基づいて画素ずれ量情報を生成し、また測定情報に画素のフレアの測定結果が含まれている場合には、その測定結果に基づいてフレア情報を生成する。そして、測定結果情報生成部４１７は、画素ずれ量情報とフレア情報とを測定結果情報として表示装置５０に供給する。測定結果情報のデータ構成については、後述する。 The measurement information storage unit 415 stores measurement information that is a measurement result of the test pattern analysis unit 414. The measurement information storage unit 415 is realized by a storage device such as a semiconductor storage device or a magnetic hard disk device.
The measurement result information generation unit 417 reads the measurement information from the measurement information storage unit 415 to generate measurement result information, and supplies this measurement result information to the display device 50. Specifically, the measurement result information generation unit 417 reads the measurement information from the measurement information storage unit 415, and when the measurement information includes the measurement result of the positional deviation of the pixel, based on the measurement result. Pixel shift amount information is generated, and when the measurement information includes a pixel flare measurement result, flare information is generated based on the measurement result. Then, the measurement result information generation unit 417 supplies pixel shift amount information and flare information to the display device 50 as measurement result information. The data structure of the measurement result information will be described later.

次に、投射スクリーン２０における撮像装置３０−１〜３０−９の配置について説明する。
図４は、投射スクリーン２０に表示されるプロジェクター装置１０のフレーム画像と、投射スクリーン２０に配設される撮像装置３０−１〜３０−９それぞれの撮像素子３３ａの撮像面との対応関係を模式的に示す図である。ただし、同図は、投射スクリーン２０の表示面の中心点とフレーム画像の中心点とが一致し、表示面に対するフレーム画像の回転および歪がない状態での対応図である。
同図に示すように、投射スクリーン２０の表示面には、フレーム画像２１が表示されている。フレーム画像２１は、１９２０画素×１０８０画素の解像度を有する。そして、投射スクリーン２０の表示面におけるフレーム画像２１の大きさは、８００ｍｍ×４５０ｍｍである。 Next, the arrangement of the imaging devices 30-1 to 30-9 on the projection screen 20 will be described.
FIG. 4 schematically illustrates the correspondence between the frame image of the projector device 10 displayed on the projection screen 20 and the imaging surfaces of the imaging elements 33a of the imaging devices 30-1 to 30-9 disposed on the projection screen 20. FIG. However, this figure is a correspondence diagram in a state in which the center point of the display surface of the projection screen 20 matches the center point of the frame image, and there is no rotation and distortion of the frame image relative to the display surface.
As shown in the figure, a frame image 21 is displayed on the display surface of the projection screen 20. The frame image 21 has a resolution of 1920 pixels × 1080 pixels. The size of the frame image 21 on the display surface of the projection screen 20 is 800 mm × 450 mm.

また、投射スクリーン２０には、撮像装置３０−１〜３０−９が配設されている。図４においては、撮像装置３０−１〜３０−９それぞれの撮像素子３３ａの撮像面３３１−１〜３３１−９を図示してフレーム画像２１に対応付けている。なお、以下において、撮像面３３１−１〜３３１−９のいずれか一つを指す場合に、撮像面３３１と呼ぶこともある。投射スクリーン２０の表示面における撮像面３３１−１〜３３１−９それぞれの大きさは、１０ｍｍ×１０ｍｍであり、フレーム画像２１における２４画素×２４画素に相当する。   The projection screen 20 is provided with imaging devices 30-1 to 30-9. In FIG. 4, the imaging surfaces 331-1 to 331-9 of the imaging elements 33 a of the imaging devices 30-1 to 30-9 are illustrated and associated with the frame image 21. Hereinafter, when any one of the imaging surfaces 331-1 to 331-9 is indicated, it may be referred to as an imaging surface 331. The size of each of the imaging surfaces 331-1 to 331-9 on the display surface of the projection screen 20 is 10 mm × 10 mm, and corresponds to 24 pixels × 24 pixels in the frame image 21.

図４に示すように、撮像装置３０−１は、フレーム画像２１の左上端からＸ軸正方向およびＹ軸正方向にそれぞれ１０ｍｍずれた位置に撮像面３３１−１の左上端部を一致させて設けられる。撮像装置３０−２は、フレーム画像２１の右上端からＸ軸負方向およびＹ軸正方向にそれぞれ１０ｍｍずれた位置に撮像面３３１−２の右上端部を一致させて設けられる。撮像装置３０−３は、フレーム画像２１の左上端からＸ軸正方向およびＹ軸正方向にそれぞれ３０ｍｍずれた位置に撮像面３３１−３の左上端部を一致させて設けられる。撮像装置３０−４は、フレーム画像２１の右上端からＸ軸負方向およびＹ軸正方向にそれぞれ３０ｍｍずれた位置に撮像面３３１−４の右上端部を一致させて設けられる。撮像装置３０−５は、フレーム画像２１の中心位置に撮像面３３１−５の中心点を一致させて設けられる。撮像装置３０−６は、フレーム画像２１の左下端からＸ軸正方向およびＹ軸負方向にそれぞれ３０ｍｍずれた位置に撮像面３３１−６の左下端部を一致させて設けられる。撮像装置３０−７は、フレーム画像２１の右下端からＸ軸負方向およびＹ軸負方向にそれぞれ３０ｍｍずれた位置に撮像面３３１−７の右下端部を一致させて設けられる。撮像装置３０−８は、フレーム画像２１の左下端からＸ軸正方向およびＹ軸負方向にそれぞれ１０ｍｍずれた位置に撮像面３３１−８の左下端部を一致させて設けられる。撮像装置３０−９は、フレーム画像２１の右下端からＸ軸負方向およびＹ軸負方向にそれぞれ１０ｍｍずれた位置に撮像面３３１−９の右下端部を一致させて設けられる。   As illustrated in FIG. 4, the imaging device 30-1 matches the upper left end portion of the imaging surface 331-1 with a position that is shifted by 10 mm from the upper left end of the frame image 21 in the X axis positive direction and the Y axis positive direction. Provided. The imaging device 30-2 is provided by aligning the upper right end portion of the imaging surface 331-2 with a position shifted by 10 mm in the X axis negative direction and the Y axis positive direction from the upper right end of the frame image 21, respectively. The imaging device 30-3 is provided by aligning the upper left end portion of the imaging surface 331-3 with a position shifted from the upper left end of the frame image 21 by 30 mm in each of the X axis positive direction and the Y axis positive direction. The imaging device 30-4 is provided by aligning the upper right end portion of the imaging surface 331-4 with a position shifted by 30 mm in the X axis negative direction and the Y axis positive direction from the upper right end of the frame image 21, respectively. The imaging device 30-5 is provided with the center point of the imaging surface 331-5 aligned with the center position of the frame image 21. The imaging device 30-6 is provided by aligning the lower left end of the imaging surface 331-6 with a position shifted from the lower left end of the frame image 21 by 30 mm in the X-axis positive direction and the Y-axis negative direction, respectively. The imaging device 30-7 is provided by aligning the lower right end portion of the imaging surface 331-7 with a position shifted by 30 mm in the X axis negative direction and the Y axis negative direction from the lower right end of the frame image 21, respectively. The imaging device 30-8 is provided with the left lower end portion of the imaging surface 331-8 aligned at a position displaced from the lower left end of the frame image 21 by 10 mm in each of the X axis positive direction and the Y axis negative direction. The imaging device 30-9 is provided by aligning the lower right end portion of the imaging surface 331-9 with a position shifted by 10 mm from the lower right end of the frame image 21 in the X axis negative direction and the Y axis negative direction, respectively.

また、撮像装置３０−１〜３０−９は、撮像面３３１−１〜３３１−９を投射スクリーン２０の表示面に平行にして設けられる。好ましくは、撮像装置３０−１〜３０−９は、撮像面３３１−１〜３３１−９を投射スクリーン２０の表示面に略一致（一致を含む）させて設けられる。
例えば、撮像装置３０−１〜３０−９は、投射スクリーン２０に９個の開口部を設け、これら開口部を通して固定される。 Further, the imaging devices 30-1 to 30-9 are provided with the imaging surfaces 331-1 to 331-9 parallel to the display surface of the projection screen 20. Preferably, the imaging devices 30-1 to 30-9 are provided with imaging surfaces 331-1 to 331-9 substantially matched (including matching) with the display surface of the projection screen 20.
For example, the imaging devices 30-1 to 30-9 are provided with nine openings in the projection screen 20, and are fixed through these openings.

図５は、図４における撮像面３３１にテストパターンが形成された様子を模式的に表す図である。図５に示すように、撮像面３３１は、１０ｍｍ×１０ｍｍの大きさを有し、６４０画素×６４０画素の解像度を有する。この解像度は、プロジェクター装置１０のフレーム画像（１９２０画素×１０８０画素）における２４画素×２４画素の解像度に相当する。
また、同図の撮像面３３１には、テストパターンＴＰが形成されている。テストパターンＴＰは、二つの緑色画素領域ＧＵ，ＧＤが一画素領域分の空き領域を挟んでＹ軸方向に配置され、さらに、赤色画素領域Ｒと青色画素領域Ｂとが前記の一画素領域分の空き領域をはさんでＸ軸方向に配置されるものである。同図においては、上側（Ｙ軸負方向側）が緑色画素領域ＧＵ、下側（Ｙ軸正方向側）が緑色画素領域ＧＤ、左側（Ｘ軸負方向側）が赤色画素領域Ｒ、および右側（Ｘ軸正方向側）が青色画素領域Ｂである。これら緑色画素領域ＧＵ，ＧＤ、赤色画素領域Ｒ、および青色画素領域Ｂそれぞれは、プロジェクター装置１０のフレーム画像における一画素であり、撮像素子３３ａの画像データ（６４０画素×６４０画素）における２６画素×２６画素の領域に相当する。 FIG. 5 is a diagram schematically illustrating a state in which a test pattern is formed on the imaging surface 331 in FIG. As shown in FIG. 5, the imaging surface 331 has a size of 10 mm × 10 mm and has a resolution of 640 pixels × 640 pixels. This resolution corresponds to a resolution of 24 pixels × 24 pixels in the frame image (1920 pixels × 1080 pixels) of the projector apparatus 10.
In addition, a test pattern TP is formed on the imaging surface 331 in FIG. The test pattern TP are two green pixel region G U, are arranged in the Y-axis direction across the free space G D is one pixel region worth further one pixel of the red pixel region R and the blue pixel region B is the It is arranged in the X-axis direction across a space area. In the figure, the upper side (Y-axis negative direction side) is the green pixel region G U , the lower side (Y-axis positive direction side) is the green pixel region G D , and the left side (X-axis negative direction side) is the red pixel region R, The right side (X-axis positive direction side) is the blue pixel region B. Each of these green pixel regions G U , G D , red pixel region R, and blue pixel region B is one pixel in the frame image of the projector device 10, and 26 in the image data (640 pixels × 640 pixels) of the image sensor 33 a. This corresponds to a pixel × 26 pixel region.

なお、図５におけるテストパターンＴＰは一例であり、例えば、テストパターンＴＰを時計回りに９０度、１８０度、および２７０度にそれぞれ回転させて得られるパターンとしてもよい。また、テストパターンＴＰは、フレーム画像における赤色画素と青色画素と緑色画素とが相互に近接して構成されているものでもよい。ここで、近接は、画素同士がＸ軸方向またはＹ軸方向に隣接すること、および画素同士が一画素分ずれることを含む。   Note that the test pattern TP in FIG. 5 is an example. For example, the test pattern TP may be a pattern obtained by rotating the test pattern TP clockwise by 90 degrees, 180 degrees, and 270 degrees. Further, the test pattern TP may be configured such that red pixels, blue pixels, and green pixels in a frame image are close to each other. Here, the proximity includes that the pixels are adjacent to each other in the X-axis direction or the Y-axis direction, and that the pixels are shifted by one pixel.

次に、画像解析部４１のテストパターン解析部４１４がテストパターンＴＰを解析し、プロジェクター装置１０の画素の位置ずれと画素のフレアとを測定する方法の一例について図６を参照して説明する。
テストパターン解析部４１４は、テストパターンＴＰの緑色画素領域ＧＵ、緑色画素領域ＧＤ、赤色画素領域Ｒ、および青色画素領域Ｂそれぞれについて、最も輝度が高い領域を検出してその領域の重心位置を計算する。そして、テストパターン解析部４１４は、緑色画素領域ＧＵおよび赤色画素領域Ｒそれぞれの重心位置間の距離を計算し、基準画素ピッチに対するずれ量を計算する。つまり、テストパターン解析部４１４は、プロジェクター装置１０のフレーム画像における緑色画素ＧＵと赤色画素Ｒとの相対的なずれ量を計算する。同様に、テストパターン解析部４１４は、緑色画素領域ＧＤおよび青色画素領域Ｂそれぞれの重心位置間の距離を計算し、基準画素ピッチに対するずれ量を計算する。つまり、テストパターン解析部４１４は、プロジェクター装置１０のフレーム画像における緑色画素ＧＤと青色画素Ｂとの相対的なずれ量を計算する。 Next, an example of a method in which the test pattern analysis unit 414 of the image analysis unit 41 analyzes the test pattern TP and measures the pixel misalignment and the pixel flare of the projector device 10 will be described with reference to FIG.
The test pattern analysis unit 414 detects a region having the highest luminance for each of the green pixel region G U , the green pixel region G D , the red pixel region R, and the blue pixel region B of the test pattern TP, and the barycentric position of the region Calculate Then, the test pattern analysis unit 414, the distance between the green pixel region G U and the red pixel region R, respectively of the center-of-gravity position is calculated, and calculates a shift amount with respect to the reference pixel pitch. In other words, the test pattern analysis unit 414 calculates the relative deviation between the green pixel G U and the red pixel R in the frame image of the projector apparatus 10. Similarly, the test pattern analysis unit 414 calculates the distance between the barycentric positions of the green pixel region G D and the blue pixel region B, and calculates the shift amount with respect to the reference pixel pitch. In other words, the test pattern analysis unit 414 calculates the relative deviation between the green pixel G D and the blue pixel B in the frame image of the projector apparatus 10.

具体的には、テストパターン解析部４１４は、テストパターンＴＰの緑色画素領域ＧＵ、緑色画素領域ＧＤ、赤色画素領域Ｒ、および青色画素領域Ｂそれぞれから、輝度値があらかじめ決定された閾値を超える領域を、当該画素領域において最も輝度が高い領域として抽出する。そして、テストパターン解析部４１４は、これら抽出した領域それぞれの重心位置を計算してその重心位置に対応する座標を取得する。座標とは、例えば、画像データにおける画素位置である。そして、テストパターン解析部４１４は、緑色画素領域ＧＵおよび赤色画素領域Ｒそれぞれの重心位置間の距離として、Ｘ軸方向成分である距離ＸＲＧとＹ軸方向成分である距離ＹＲＧとを計算する。距離とは、例えば、画像データにおける画素数である。そして、テストパターン解析部４１４は、Ｘ軸方向基準画素ピッチ（例えば、２６画素）から距離ＸＲＧを減算してＸ軸方向の画素ピッチに対するずれ量を計算し、Ｙ軸方向基準画素ピッチ（例えば、２６画素）から距離ＹＲＧを減算してＹ軸方向の画素ピッチに対するずれ量を計算する。同様に、テストパターン解析部４１４は、緑色画素領域ＧＤおよび青色画素領域Ｂそれぞれの重心位置間の距離として、Ｘ軸方向成分である距離ＸＢＧとＹ軸方向成分である距離ＹＢＧとを計算する。そして、テストパターン解析部４１４は、Ｘ軸方向基準画素ピッチから距離ＸＢＧを減算してＸ軸方向の画素ピッチに対するずれ量を計算し、Ｙ軸方向基準画素ピッチから距離ＹＢＧを減算してＹ軸方向の画素ピッチに対するずれ量を計算する。 Specifically, the test pattern analysis unit 414 sets threshold values for which luminance values are determined in advance from the green pixel region G U , the green pixel region G D , the red pixel region R, and the blue pixel region B of the test pattern TP. The region that exceeds is extracted as the region having the highest luminance in the pixel region. Then, the test pattern analysis unit 414 calculates the centroid position of each of the extracted regions, and acquires the coordinates corresponding to the centroid position. The coordinates are, for example, pixel positions in the image data. Then, the test pattern analysis unit 414, as the distance between the green pixel region G U and the red pixel region R each gravity center position, calculates the distance Y RG is a distance X RG and the Y-axis direction component is the X-axis direction component To do. The distance is, for example, the number of pixels in the image data. Then, the test pattern analysis unit 414 subtracts the distance XRG from the X-axis direction reference pixel pitch (for example, 26 pixels) to calculate a deviation amount with respect to the X-axis direction pixel pitch, and the Y-axis direction reference pixel pitch (for example, 26 pixels), the distance Y RG is subtracted to calculate the amount of deviation with respect to the pixel pitch in the Y-axis direction. Similarly, the test pattern analysis unit 414, as the distance between the green pixel region G D and the blue pixel regions B each gravity center position, and a distance Y BG is a distance X BG and the Y-axis direction component is the X-axis direction component calculate. Then, the test pattern analysis unit 414 subtracts the distance XBG from the X-axis direction reference pixel pitch to calculate a deviation amount with respect to the X-axis direction pixel pitch, and subtracts the distance YBG from the Y-axis direction reference pixel pitch. A deviation amount with respect to the pixel pitch in the Y-axis direction is calculated.

また、テストパターン解析部４１４は、テストパターンＴＰの緑色画素領域ＧＵ、緑色画素領域ＧＤ、赤色画素領域Ｒ、および青色画素領域Ｂそれぞれについて、フレア外領域の外接矩形の辺長を計算する。 Further, the test pattern analysis unit 414 calculates the side length of the circumscribed rectangle of the outer flare region for each of the green pixel region G U , the green pixel region G D , the red pixel region R, and the blue pixel region B of the test pattern TP. .

具体的には、テストパターン解析部４１４は、テストパターンＴＰの緑色画素領域ＧＵ、緑色画素領域ＧＤ、赤色画素領域Ｒ、および青色画素領域Ｂそれぞれから、当該画素領域における最高輝度値の所定割合以下の領域をフレアと判定し、このフレアを除く領域をフレア外領域としてこのフレア外領域の外接矩形を検出し、この外接矩形の辺長を計算する。辺長は、例えば、画像データにおける画素数である。つまり、図６に示す例では、テストパターン解析部４１４は、緑色画素領域ＧＵについて辺長ＸＧＵおよび辺長ＹＧＵ、緑色画素領域ＧＤについて辺長ＸＧＤおよび辺長ＹＧＤ、赤色画素領域Ｒについて辺長ＸＲおよび辺長ＹＲ、ならびに青色画素領域Ｂについて辺長ＸＢおよび辺長ＹＢをそれぞれ計算する。 Specifically, the test pattern analysis unit 414 determines the maximum luminance value in the pixel area from the green pixel area G U , the green pixel area G D , the red pixel area R, and the blue pixel area B of the test pattern TP. The area below the ratio is determined to be a flare, the area excluding the flare is regarded as a non-flare area, a circumscribed rectangle of the non-flare area is detected, and the side length of the circumscribed rectangle is calculated. The side length is, for example, the number of pixels in the image data. That is, in the example shown in FIG. 6, the test pattern analysis unit 414, side length and side length X GU for the green pixel region G U Y GU, the green pixel region G side length for D X GD and side length Y GD, red pixel The side length X R and the side length Y R are calculated for the region R , and the side length X B and the side length Y B are calculated for the blue pixel region B , respectively.

次に、画像解析部４１の測定結果情報生成部４１７が生成する測定結果情報について図７および図８を参照して説明する。
図７は、画素ずれ量情報のデータ構成を示す図である。同図に示すように、画素ずれ量情報は、「撮像装置番号」と、「緑色画素対赤色画素ずれ量」と、「緑色画素対青色画素ずれ量」との各項目を対応付けたデータテーブルである。撮像装置番号は、撮像装置３０−１〜３０−９を特定する番号（数字）である。この撮影装置番号は、番号の他、文字、記号、またはこれらの組み合わせによる識別情報であってもよい。緑色画素対赤色画素ずれ量は、プロジェクター装置１０の緑色画素ＧＵと赤色画素Ｒとの相対的なずれ量を、プロジェクター装置１０の画素単位で表現したものである。具体的には、ΔＸＲＧは、画像データにおけるＸ軸方向基準画素ピッチから距離ＸＲＧを減算して得られたＸ軸方向の画素ピッチに対するずれ量であり、ΔＹＲＧは、画像データにおけるＹ軸方向基準画素ピッチから距離ＹＲＧを減算して得られたＹ軸方向の画素ピッチに対するずれ量である。同様に、緑色画素対青色画素ずれ量は、プロジェクター装置１０の緑色画素ＧＤと青色画素Ｂとの相対的なずれ量をプロジェクター装置１０の画素単位で表現したものである。具体的には、ΔＸＢＧは、画像データにおけるＸ軸方向基準画素ピッチから距離ＸＢＧを減算して得られたＸ軸方向の画素ピッチに対するずれ量であり、ΔＹＢＧは、画像データにおけるＹ軸方向基準画素ピッチから距離ＹＢＧを減算して得られたＹ軸方向の画素ピッチに対するずれ量である。 Next, measurement result information generated by the measurement result information generation unit 417 of the image analysis unit 41 will be described with reference to FIGS.
FIG. 7 is a diagram illustrating a data configuration of pixel shift amount information. As shown in the figure, the pixel shift amount information is a data table in which items of “imaging device number”, “green pixel vs. red pixel shift amount”, and “green pixel vs. blue pixel shift amount” are associated with each other. It is. The imaging device number is a number (number) that identifies the imaging devices 30-1 to 30-9. The photographing apparatus number may be identification information based on characters, symbols, or a combination thereof in addition to the number. Green pixel pairs red pixel shift amount is one in which the relative displacement amount between the green pixel G U and the red pixel R of the projector apparatus 10, expressed in pixel units of the projector apparatus 10. Specifically, ΔX RG is a shift amount with respect to the pixel pitch in the X-axis direction obtained by subtracting the distance X RG from the X-axis direction reference pixel pitch in the image data, and ΔY RG is the Y-axis in the image data. This is the amount of deviation from the pixel pitch in the Y-axis direction obtained by subtracting the distance YRG from the direction reference pixel pitch. Similarly, the green pixel pair blue pixel shift amount is a representation of a relative shift amount between the green pixel G D and the blue pixel B of the projector apparatus 10 in pixel units of the projector apparatus 10. Specifically, ΔX BG is a shift amount with respect to the pixel pitch in the X-axis direction obtained by subtracting the distance X BG from the X-axis direction reference pixel pitch in the image data, and ΔY BG is the Y-axis in the image data. This is the amount of deviation from the pixel pitch in the Y-axis direction obtained by subtracting the distance YBG from the direction reference pixel pitch.

図８は、フレア情報のデータ構成を示す図である。同図に示すように、フレア情報は、「撮像装置番号」と、「第１緑色画素フレア情報」と、「第２緑色画素フレア情報」と、「赤色画素フレア情報」と、「青色画素フレア情報」との各項目を対応付けたデータテーブルである。撮像装置番号は、撮像装置３０−１〜３０−９を特定する番号（数字）である。この撮影装置番号は、番号の他、文字、記号、またはこれらの組み合わせによる識別情報であってもよい。第１緑色画素フレア情報は、緑色画素領域ＧＵのフレア外領域の外接矩形の辺長である。第２緑色画素フレア情報は、緑色画素領域ＧＤのフレア外領域の外接矩形の辺長である。赤色画素フレア情報は、赤色画素領域Ｒのフレア外領域の外接矩形の辺長である。青色画素フレア情報は、青色画素領域Ｂのフレア外領域の外接矩形の辺長である。具体的には、第１緑色画素フレア情報は、緑色画素領域ＧＵの辺長ＸＧＵおよび辺長ＹＧＵである。第２緑色画素フレア情報は、緑色画素領域ＧＤの辺長ＸＧＤおよび辺長ＹＧＤである。赤色画素フレア情報は、赤色画素領域Ｒの辺長ＸＲおよび辺長ＹＲである。青色画素フレア情報は、青色画素領域Ｂの辺長ＸＢおよび辺長ＹＢである。 FIG. 8 is a diagram illustrating a data configuration of flare information. As shown in the figure, the flare information includes “imaging device number”, “first green pixel flare information”, “second green pixel flare information”, “red pixel flare information”, and “blue pixel flare”. It is a data table in which each item “information” is associated. The imaging device number is a number (number) that identifies the imaging devices 30-1 to 30-9. The photographing apparatus number may be identification information based on characters, symbols, or a combination thereof in addition to the number. The first green pixel flare information is the side length of the circumscribed rectangle of the flare area outside of the green pixel region G U. The second green pixel flare information is the side length of the circumscribed rectangle of the flare area outside of the green pixel region G D. The red pixel flare information is a side length of a circumscribed rectangle of the flare outside region of the red pixel region R. The blue pixel flare information is a side length of a circumscribed rectangle of the flare outside region of the blue pixel region B. Specifically, the first green pixel flare information is the side length X GU and side length Y GU green pixel region G U. The second green pixel flare information is the side length X GD and side length Y GD of the green pixel region G D. Red pixel flare information is the side length X R and side length Y R of the red pixel region R. Blue pixel flare information is the side length X B and side length Y B of the blue pixel region B.

次に、測定システム１の動作について説明する。なお、ここでは、９台の撮像装置３０−１〜３０−９のうち、撮像装置３０−１を代表して用いた例について説明する。
図９は、本実施形態における画像評価装置４０の処理手順を示すフローチャートである。
まず、ステップＳ１において、画像評価装置４０は、フレーム画像における初期位置にテストパターンを配置したテストパターンデータを生成し、このテストパターンデータをプロジェクター装置１０に供給する。具体的には、画像評価装置４０のテストパターン発生部４２は、図５に示したテストパターンＴＰをフレーム画像（例えば、１９２０画素×１０８０画素）の左上端に配置したテストパターンデータを生成し、このテストパターンデータをプロジェクター装置１０に供給する。 Next, the operation of the measurement system 1 will be described. Here, an example in which the imaging device 30-1 is representatively used among the nine imaging devices 30-1 to 30-9 will be described.
FIG. 9 is a flowchart showing a processing procedure of the image evaluation apparatus 40 in the present embodiment.
First, in step S <b> 1, the image evaluation device 40 generates test pattern data in which a test pattern is arranged at an initial position in a frame image, and supplies the test pattern data to the projector device 10. Specifically, the test pattern generation unit 42 of the image evaluation device 40 generates test pattern data in which the test pattern TP illustrated in FIG. 5 is arranged at the upper left corner of the frame image (for example, 1920 pixels × 1080 pixels), This test pattern data is supplied to the projector device 10.

次に、プロジェクター装置１０は、画像評価装置４０から供給されるテストパターンデータを取り込み、そのテストパターンデータによるテストパターン画像の画像光ＰＬを、投射光学系から投射スクリーン２０に向けて投射する。
次に、撮像装置３０−１は、到来する画像光ＰＬを減光フィルター３１と赤外光カットフィルター３２とを通して撮像素子３３ａの撮像面３３１−１に結像させ撮像して第１画像信号を生成し、この第１画像信号を画像評価装置４０に供給する。 Next, the projector device 10 takes in the test pattern data supplied from the image evaluation device 40 and projects the image light PL of the test pattern image based on the test pattern data onto the projection screen 20 from the projection optical system.
Next, the imaging device 30-1 forms an image of the incoming image light PL on the imaging surface 331-1 of the imaging element 33a through the neutral density filter 31 and the infrared light cut filter 32 and captures the first image signal. The first image signal is generated and supplied to the image evaluation device 40.

次に、ステップＳ２において、画像評価装置４０は、撮像装置３０−１から供給される第１画像信号を取り込み、この第１画像信号による画像データにおけるテストパターンの有無を判定する。具体的には、画像評価装置４０の画像解析部４１の選択部４１１を介して画像取得部４１３が第１画像信号を取り込むと、この第１画像信号を画像データに変換し、この画像データをテストパターン解析部４１４に供給する。   Next, in step S <b> 2, the image evaluation device 40 takes in the first image signal supplied from the imaging device 30-1 and determines whether or not there is a test pattern in the image data based on the first image signal. Specifically, when the image acquisition unit 413 takes in the first image signal via the selection unit 411 of the image analysis unit 41 of the image evaluation device 40, the first image signal is converted into image data, and the image data is converted into the image data. This is supplied to the test pattern analysis unit 414.

次に、テストパターン解析部４１４は、画像取得部４１３から供給される画像データを取り込み、この画像データにおけるテストパターンの有無を、例えば公知のパターンマッチング法を用いて判定する。
そして、テストパターン解析部４１４が画像データからテストパターンを検出した場合は、ステップＳ３の処理に移る。一方、テストパターン解析部４１４が画像データからテストパターンを検出しなかった場合は、ステップＳ５の処理に移る。 Next, the test pattern analysis unit 414 takes in the image data supplied from the image acquisition unit 413, and determines the presence or absence of a test pattern in the image data using, for example, a known pattern matching method.
If the test pattern analysis unit 414 detects a test pattern from the image data, the process proceeds to step S3. On the other hand, when the test pattern analysis unit 414 does not detect the test pattern from the image data, the process proceeds to step S5.

ステップＳ３において、画像評価装置４０は、画像データに含まれるテストパターンを解析し、プロジェクター装置１０の表示性能を測定する。具体的には、テストパターン解析部４１４は、画像データに含まれるテストパターンを解析し、フレーム画像における画素の位置ずれと画素のフレアとの少なくとも一方を測定する。   In step S <b> 3, the image evaluation device 40 analyzes the test pattern included in the image data and measures the display performance of the projector device 10. Specifically, the test pattern analysis unit 414 analyzes a test pattern included in the image data, and measures at least one of pixel positional deviation and pixel flare in the frame image.

次に、ステップＳ４において、画像評価装置４０は、測定結果である測定情報を記憶する。具体的には、テストパターン解析部４１４は、測定情報を測定情報記憶部４１５に記憶させる。   Next, in step S4, the image evaluation apparatus 40 stores measurement information that is a measurement result. Specifically, the test pattern analysis unit 414 stores measurement information in the measurement information storage unit 415.

一方、ステップＳ５において、画像評価装置４０は、フレーム画像におけるテストパターンの位置をずらして配置したテストパターンデータを生成させ、このテストパターンデータをプロジェクター装置１０に供給する。具体的には、テストパターン解析部４１４は、テストパターン移動コマンドを生成し、このテストパターン移動コマンドをテストパターン発生部４２に供給する。   On the other hand, in step S <b> 5, the image evaluation device 40 generates test pattern data arranged by shifting the position of the test pattern in the frame image, and supplies the test pattern data to the projector device 10. Specifically, the test pattern analysis unit 414 generates a test pattern movement command and supplies the test pattern movement command to the test pattern generation unit 42.

次に、テストパターン発生部４２は、テストパターン解析部４１４から供給されるテストパターン移動コマンドを取り込むと、フレーム画像におけるテストパターンの位置を所定画素分ずらして配置したテストパターンデータを発生させ、このテストパターンデータをプロジェクター装置１０に供給する。所定画素分は、例えば一画素分または複数画素分である。また、テストパターンをずらす方向は、フレーム画像におけるＸ軸方向またはＹ軸方向である。つまり、テストパターン発生部４２は、テストパターンを例えばＸ軸正方向にずらすことを基本とし、テストパターンがＸ軸の右端まで到達した場合は、Ｙ軸正方向に所定画素分ずらし且つＸ軸左端に移動させる。
次に、ステップＳ２の処理に戻る。 Next, when the test pattern generation unit 42 receives the test pattern movement command supplied from the test pattern analysis unit 414, the test pattern generation unit 42 generates test pattern data in which the position of the test pattern in the frame image is shifted by a predetermined number of pixels. Test pattern data is supplied to the projector device 10. The predetermined pixel is, for example, one pixel or a plurality of pixels. The direction in which the test pattern is shifted is the X-axis direction or the Y-axis direction in the frame image. In other words, the test pattern generation unit 42 basically shifts the test pattern in the positive direction of the X axis, for example, and when the test pattern reaches the right end of the X axis, shifts the predetermined pattern in the positive direction of the Y axis and the left end of the X axis. Move to.
Next, the process returns to step S2.

以上、撮像装置３０−１を用いた例についての測定システム１の動作について説明したが、撮像装置３０−２〜３０−９を用いた場合についても同様であるため、説明を省略する。   The operation of the measurement system 1 for the example using the imaging device 30-1 has been described above, but the same applies to the case where the imaging devices 30-2 to 30-9 are used, and thus the description thereof is omitted.

本発明の第１実施形態によれば、撮像装置３０−１〜３０−９は、撮像面３３１−１〜３３１−９を投射スクリーン２０の表示面に平行に、好ましくは、撮像面３３１−１〜３３１−９を投射スクリーン２０の表示面に略一致（一致を含む）させて設けるようにした。このように構成したことにより、撮像装置３０−１〜３０−９は、プロジェクター装置１０から投射される画像光ＰＬをなんら遮ることなく受光することができる。   According to the first embodiment of the present invention, the imaging devices 30-1 to 30-9 have the imaging surfaces 331-1 to 331-9 parallel to the display surface of the projection screen 20, preferably the imaging surface 331-1. ˜331-9 are provided so as to be substantially coincident (including coincidence) with the display surface of the projection screen 20. With such a configuration, the imaging devices 30-1 to 30-9 can receive the image light PL projected from the projector device 10 without being interrupted at all.

また、撮像装置３０−１〜３０−９は、撮像レンズ光学系を備えない構成、すなわち、減光フィルター３１と赤外光カットフィルター３２とを通過させて到来する光束を撮像素子３３ａの撮像面３３１−１〜３３１−９に直接結像させて撮像する構成とした。このように構成したことにより、撮像装置３０−１〜３０−９は、撮像レンズ光学系による光学歪の影響を排除することができる。また、撮像素子３３１自体の解像度に依存した分解能による画像解析を行うことができる。   In addition, the imaging devices 30-1 to 30-9 have a configuration that does not include an imaging lens optical system, that is, an imaging surface of the imaging element 33a that transmits a light beam that passes through the neutral density filter 31 and the infrared light cut filter 32. It was set as the structure imaged directly on 331-1 to 331-9 and imaged. With this configuration, the imaging devices 30-1 to 30-9 can eliminate the influence of optical distortion caused by the imaging lens optical system. In addition, image analysis can be performed with a resolution that depends on the resolution of the image sensor 331 itself.

また、投射スクリーン２０は、前面投射型のスクリーンであるため、透過スクリーン（拡散スクリーン）が有する光拡散作用がなく、よって画像光ＰＬの偏光特性が変化して画素レベルの高精度な計測に支障を来たすことがない。   Further, since the projection screen 20 is a front projection type screen, it does not have the light diffusing action of the transmission screen (diffusion screen), so that the polarization characteristic of the image light PL changes and hinders high-precision measurement at the pixel level. Never come.

よって、本実施形態によれば、画像光ＰＬを投射して投射スクリーン２０に表示させるプロジェクター装置１０の画素の表示性能を高精度に測定することができる。   Therefore, according to the present embodiment, the display performance of the pixels of the projector device 10 that projects the image light PL and displays the image light PL on the projection screen 20 can be measured with high accuracy.

［第１の実施の形態の変形例］
図１０は、投射スクリーン２０に表示されるプロジェクター装置１０のフレーム画像と、投射スクリーン２０に配設される撮像装置３０−１〜３０−９それぞれの撮像素子３３ａの撮像面との対応関係を模式的に示す図である。ただし、同図は、投射スクリーン２０の表示面の中心点とフレーム画像の中心点とが略一致（一致を含む）し、表示面に対してフレーム画像が反時計方向に数度程度傾いた状態での対応図である。
同図に示すように、投射スクリーン２０の表示面には、フレーム画像２１ａが表示されている。フレーム画像２１ａは、第１実施形態と同様に１９２０画素×１０８０画素の解像度を有する。そして、投射スクリーン２０の表示面におけるフレーム画像２１ａの大きさは、第１実施形態と同様に８００ｍｍ×４５０ｍｍである。
フレーム画像２１ａは、例えば７個の矩形領域Ｂ１〜Ｂ７に区分されている。矩形領域Ｂ１〜Ｂ７それぞれは、隣接する矩形領域同士で異なり且つ一矩形領域内で一様な階調を有している。 [Modification of First Embodiment]
FIG. 10 schematically shows the correspondence between the frame image of the projector device 10 displayed on the projection screen 20 and the imaging surfaces of the imaging elements 33a of the imaging devices 30-1 to 30-9 arranged on the projection screen 20. FIG. However, in this figure, the center point of the display surface of the projection screen 20 and the center point of the frame image are substantially coincident (including coincidence), and the frame image is tilted about several degrees counterclockwise with respect to the display surface. FIG.
As shown in the figure, a frame image 21 a is displayed on the display surface of the projection screen 20. The frame image 21a has a resolution of 1920 pixels × 1080 pixels as in the first embodiment. And the magnitude | size of the frame image 21a in the display surface of the projection screen 20 is 800 mm x 450 mm similarly to 1st Embodiment.
The frame image 21a is divided into, for example, seven rectangular areas B1 to B7. Each of the rectangular areas B1 to B7 is different between adjacent rectangular areas and has a uniform gradation within one rectangular area.

投射スクリーン２０に対してプロジェクター装置１０を設置する際には、投射スクリーン２０の表示面にフレーム画像２１ａを表示させたときに、矩形領域Ｂ１内に表示面３３１−１および表示面３３１−８、矩形領域Ｂ２内に表示面３３１−３および表示面３３１−６、矩形領域Ｂ４内に表示面３３１−５、矩形領域Ｂ６内に表示面３３１−４および表示面３３１−７、ならびに、矩形領域Ｂ７内に表示面３３１−２および表示面３３１−９がそれぞれ含まれるよう、プロジェクター装置１０の投射方向を調節する。   When installing the projector apparatus 10 with respect to the projection screen 20, when the frame image 21a is displayed on the display surface of the projection screen 20, the display surface 331-1 and the display surface 331-8 in the rectangular area B1, The display surface 331-3 and the display surface 331-6 in the rectangular region B2, the display surface 331-5 in the rectangular region B4, the display surface 331-4 and the display surface 331-7 in the rectangular region B6, and the rectangular region B7 The projection direction of the projector apparatus 10 is adjusted so that the display surface 331-2 and the display surface 331-9 are included therein.

本変形例において、テストパターン解析部４１４は、画像取得部４１３から取り込んだ画像データからテストパターンを検出しない場合、その画像データから階調情報を検出し、テストパターン移動コマンドとその階調情報との一対のデータをテストパターン発生部４２に供給する。
そして、テストパターン発生部４２は、画像解析部４１からテストパターン移動コマンドと階調情報との一対のデータが供給されると、この一対のデータを取り込んで階調情報を記憶し、この階調情報が前回取り込んで記憶した階調情報と同一であるか否かを判定する。そして、テストパターン発生部４２は、同一であると判定した場合は、テストパターンの位置をフレーム画像のＸ軸正方向に所定画素分ずらして配置したテストパターンデータを発生させて、このテストパターンデータをプロジェクター装置１０に供給する。一方、テストパターン発生部４２は、同一でないと判定した場合は、テストパターンの位置をフレーム画像のＹ軸正方向に所定画素分ずらすとともに、Ｘ軸負方向に矩形領域の幅に相当する画素分移動させて配置したテストパターンデータを発生させて、このテストパターンデータをプロジェクター装置１０に供給する。つまり、テストパターン発生部４２は、階調が同一である範囲内においてテストパターンを走査させる。
なお、階調の替わりに輝度を用いるようにしてもよい。 In this modification, when the test pattern analysis unit 414 does not detect the test pattern from the image data captured from the image acquisition unit 413, the test pattern analysis unit 414 detects the gradation information from the image data, and detects the test pattern movement command and the gradation information. Are supplied to the test pattern generator 42.
Then, when the pair of data of the test pattern movement command and the gradation information is supplied from the image analysis unit 41, the test pattern generation unit 42 takes in the pair of data and stores the gradation information. It is determined whether or not the information is the same as the gradation information that was previously acquired and stored. If the test pattern generator 42 determines that they are the same, the test pattern generator 42 generates test pattern data in which the position of the test pattern is shifted by a predetermined pixel in the positive X-axis direction of the frame image. Is supplied to the projector device 10. On the other hand, if the test pattern generation unit 42 determines that they are not the same, the test pattern generation unit 42 shifts the position of the test pattern by a predetermined pixel in the positive Y-axis direction of the frame image and the pixel corresponding to the width of the rectangular area in the negative X-axis direction. The test pattern data moved and arranged is generated, and this test pattern data is supplied to the projector device 10. That is, the test pattern generator 42 scans the test pattern within a range where the gradation is the same.
Note that luminance may be used instead of gradation.

本変形例のように構成することにより、テストパターン解析部４１４がテストパターンを探索する速度を高速化することができる。   By configuring as in the present modification, the test pattern analysis unit 414 can increase the speed of searching for a test pattern.

［第２の実施の形態］
本発明の第２実施形態は、上述した第１実施形態における画像評価装置４０の機能をプロジェクター装置１０に組み込んだ形態である。
図１１は、本発明の第２実施形態である表示性能測定装置を適用した測定システムの概略構成を示すブロック図である。なお、本実施形態において、第１実施形態と同一の構成については同一の符号を付してその説明を省略する。
同図に示すように、測定システム１ａは、プロジェクター装置１０ａと、投射スクリーン２０と、撮像装置３０とを含んで構成される。 [Second Embodiment]
The second embodiment of the present invention is a form in which the function of the image evaluation device 40 in the first embodiment described above is incorporated in the projector device 10.
FIG. 11 is a block diagram showing a schematic configuration of a measurement system to which the display performance measuring apparatus according to the second embodiment of the present invention is applied. In the present embodiment, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.
As shown in the figure, the measurement system 1a includes a projector device 10a, a projection screen 20, and an imaging device 30.

プロジェクター装置１０ａは、測定システム１ａにおける検査対象の画像光出力装置である。プロジェクター装置１０ａは、本来のプロジェクター装置の画像光投射機能に加え、テストパターンデータによるテストパターン画像の画像光ＰＬを、投射光学系から投射スクリーン２０に向けて投射する。プロジェクター装置１０ａは、例えば、光源と、導光光学系と、液晶パネル（表示部）と、投射光学系とを装備した液晶プロジェクター装置により実現される。また、プロジェクター装置１０ａは、撮像装置３０から取得する画像信号による画像データのテストパターンを解析して自プロジェクター装置の表示性能を測定し、この測定結果に基づいて画質を補正する。   The projector device 10a is an image light output device to be inspected in the measurement system 1a. In addition to the image light projection function of the original projector device, the projector device 10 a projects the image light PL of the test pattern image based on the test pattern data from the projection optical system toward the projection screen 20. The projector device 10a is realized by, for example, a liquid crystal projector device equipped with a light source, a light guide optical system, a liquid crystal panel (display unit), and a projection optical system. In addition, the projector apparatus 10a measures the display performance of the projector apparatus by analyzing the test pattern of the image data based on the image signal acquired from the imaging apparatus 30, and corrects the image quality based on the measurement result.

プロジェクター装置１０ａは、画像解析部４１ａと、テストパターン発生部４２ａと、補正処理部４３とを備える。
画像解析部４１ａは、テストパターンを発生させるためのテストパターン発生コマンドをテストパターン発生部４２ａに供給する。また、画像解析部４１ａは、撮像装置３０から供給される画像信号を取り込みんで、この画像信号を画像データ（例えば、６４０画素×６４０画素）に変換する。そして、画像解析部４１ａは、その画像データに含まれるテストパターンを解析して画素の位置ずれと画素のフレアとを測定し、測定結果である測定情報を記憶する。また、画像解析部４１ａは、記憶した測定情報を読み出して補正処理部４３に供給する。 The projector device 10a includes an image analysis unit 41a, a test pattern generation unit 42a, and a correction processing unit 43.
The image analysis unit 41a supplies a test pattern generation command for generating a test pattern to the test pattern generation unit 42a. Further, the image analysis unit 41a takes in an image signal supplied from the imaging device 30, and converts the image signal into image data (for example, 640 pixels × 640 pixels). Then, the image analysis unit 41a analyzes the test pattern included in the image data, measures the pixel positional deviation and the pixel flare, and stores the measurement information that is the measurement result. The image analysis unit 41 a reads the stored measurement information and supplies it to the correction processing unit 43.

テストパターン発生部４２ａは、画像解析部４１ａから供給されるテストパターン発生コマンドを取り込むと、テストパターンを含むフレーム画像（例えば、１９２０画素×１０８０画素）のデータであるテストパターンデータを発生させる。
補正処理部４３は、画像解析部４１ａから供給される測定情報を取り込み、この測定情報が示す画素の位置ずれと画素のフレアとを補正した画像を液晶パネルに形成させる。 When the test pattern generation unit 42a receives the test pattern generation command supplied from the image analysis unit 41a, the test pattern generation unit 42a generates test pattern data which is data of a frame image (eg, 1920 pixels × 1080 pixels) including the test pattern.
The correction processing unit 43 takes in the measurement information supplied from the image analysis unit 41a, and causes the liquid crystal panel to form an image in which the pixel position shift and the pixel flare indicated by the measurement information are corrected.

撮像装置３０は、第１実施形態における撮像装置３０と同様であるが、例えば、一般的に用いられるデジタルカメラを用いてもよい。
撮像装置３０とプロジェクター装置１０ａとは、例えばＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ Ｓｅｒｉａｌ Ｂｕｓ）やＢｌｕｅｔｏｏｔｈによるインターフェースによって接続される。 The imaging device 30 is the same as the imaging device 30 in the first embodiment, but a commonly used digital camera may be used, for example.
The imaging device 30 and the projector device 10a are connected by an interface such as USB (Universal Serial Bus) or Bluetooth, for example.

図１２は、画像解析部４１ａの機能構成を示すブロック図である。同図に示すように、画像解析部４１ａは、画像取得部４１３と、テストパターン解析部４１４ａと、測定情報記憶部４１５と、測定情報供給部４１８とを備える。
テストパターン解析部４１４ａは、テストパターン発生コマンドを生成し、このテストパターン発生コマンドをテストパターン発生部４２ａに供給する。また、テストパターン解析部４１４ａは、画像取得部４１３から供給される画像データを取り込み、このテストパターンを解析して画素の位置ずれと画素のフレアとの少なくとも一方を測定し、測定結果である測定情報を測定情報記憶部４１５に記憶させる。
測定情報供給部４１８は、測定情報記憶部４１５から測定情報を読み出して補正処理部４３に供給する。 FIG. 12 is a block diagram illustrating a functional configuration of the image analysis unit 41a. As shown in the figure, the image analysis unit 41a includes an image acquisition unit 413, a test pattern analysis unit 414a, a measurement information storage unit 415, and a measurement information supply unit 418.
The test pattern analysis unit 414a generates a test pattern generation command and supplies the test pattern generation command to the test pattern generation unit 42a. In addition, the test pattern analysis unit 414a takes in the image data supplied from the image acquisition unit 413, analyzes the test pattern, measures at least one of pixel misalignment and pixel flare, and measures the measurement result. Information is stored in the measurement information storage unit 415.
The measurement information supply unit 418 reads the measurement information from the measurement information storage unit 415 and supplies it to the correction processing unit 43.

次に、測定システム１ａの動作について説明する。ここでは、プロジェクター装置１０ａのテストパターン発生部４２ａは、投射スクリーン２０の表示面の４隅付近それぞれに表示される４種類のテストパターンデータを保有するものとする。また、撮像装置３０は、テストパターンが表示される位置に応じて、例えばオペレーターによって配置が変更されるものとする。   Next, the operation of the measurement system 1a will be described. Here, it is assumed that the test pattern generation unit 42a of the projector device 10a holds four types of test pattern data displayed in the vicinity of the four corners of the display surface of the projection screen 20. Further, it is assumed that the arrangement of the imaging device 30 is changed by an operator, for example, according to the position where the test pattern is displayed.

図１３は、本実施形態におけるプロジェクター装置１０ａの処理手順を示すフローチャートである。
まず、ステップＳ１１において、プロジェクター装置１０ａは、テストパターンデータを生成し、このテストパターンデータの画像光ＰＬを、投射光学系から投射スクリーン２０に向けて投射する。 FIG. 13 is a flowchart illustrating a processing procedure of the projector apparatus 10a according to the present embodiment.
First, in step S <b> 11, the projector device 10 a generates test pattern data, and projects the image light PL of the test pattern data from the projection optical system toward the projection screen 20.

次に、ステップＳ１２において、オペレーターは、撮像装置３０を、画像光ＰＬを受光可能な向きにして投射スクリーン２０の表示面付近に設置する。例えば、オペレーターは、画像光ＰＬが照射され、テストパターンが表示される箇所に撮像面３３１が位置するように、撮像装置３０を投射スクリーン２０の表示面付近に設置する。
なお、このステップＳ１２の作業は、本フローチャートの開始前にあらかじめ行うようにしてもよい。
次に、撮像装置３０は、到来する画像光ＰＬを減光フィルター３１と赤外光カットフィルター３２とを通して撮像素子３３ａの撮像面３３１に結像させ撮像して画像信号を生成し、この画像信号を画像プロジェクター装置１０ａの画像解析部４１ａに供給する。 Next, in step S12, the operator installs the imaging device 30 in the vicinity of the display surface of the projection screen 20 in a direction in which the image light PL can be received. For example, the operator installs the imaging device 30 in the vicinity of the display surface of the projection screen 20 so that the imaging surface 331 is positioned at a location where the image light PL is irradiated and the test pattern is displayed.
The operation in step S12 may be performed in advance before the start of this flowchart.
Next, the imaging device 30 forms an image by imaging the incoming image light PL on the imaging surface 331 of the imaging element 33a through the neutral density filter 31 and the infrared light cut filter 32, and generates the image signal. Is supplied to the image analysis unit 41a of the image projector device 10a.

次に、ステップＳ１３において、画像解析部４１ａの画像取得部４１３は、撮像装置３０から供給される画像信号を取り込み、この画像信号を画像データに変換してテストパターン解析部４１４ａに供給する。
次に、ステップＳ１４において、テストパターン解析部４１４ａは、画像取得部４１３から供給される画像データを取り込み、この画像データに含まれるテストパターンを解析し、フレーム画像における画素の位置ずれと画素のフレアとの少なくとも一方を測定する。
次に、ステップＳ１５において、テストパターン解析部４１４ａは、測定情報を測定情報記憶部４１５に記憶させる。 Next, in step S13, the image acquisition unit 413 of the image analysis unit 41a takes in the image signal supplied from the imaging device 30, converts the image signal into image data, and supplies the image data to the test pattern analysis unit 414a.
Next, in step S14, the test pattern analysis unit 414a takes in the image data supplied from the image acquisition unit 413, analyzes the test pattern included in the image data, and detects pixel displacement and pixel flare in the frame image. And at least one of them is measured.
Next, in step S15, the test pattern analysis unit 414a stores the measurement information in the measurement information storage unit 415.

次に、ステップＳ１６において、投射スクリーン２０の表示面上の所望の箇所全て（４箇所）についての計測が完了した場合は、ステップＳ１７の処理に移り、未計測の箇所が残っている場合は、ステップＳ１２の処理に移る。   Next, in step S16, when the measurement for all desired locations (four locations) on the display surface of the projection screen 20 is completed, the process proceeds to step S17, and when an unmeasured location remains, The process proceeds to step S12.

ステップＳ１７において、測定情報供給部４１８は、測定情報記憶部４１５から測定情報を読み出して補正処理部４３に供給する。
次に、補正処理部４３は、画像解析部４１ａから供給される測定情報を取り込み、この測定情報が示す画素の位置ずれと画素のフレアとを補正した画像を液晶パネルに形成させる。 In step S <b> 17, the measurement information supply unit 418 reads the measurement information from the measurement information storage unit 415 and supplies it to the correction processing unit 43.
Next, the correction processing unit 43 takes in the measurement information supplied from the image analysis unit 41a, and causes the liquid crystal panel to form an image in which the pixel position shift and the pixel flare indicated by the measurement information are corrected.

本発明の第２実施形態によれば、プロジェクター装置１０ａは、自装置の画素の表示性能を高精度に測定し、この測定結果に基づいて補正した画像光を照射することができる。   According to the second embodiment of the present invention, the projector device 10a can measure the display performance of the pixels of its own device with high accuracy and irradiate the image light corrected based on the measurement result.

なお、上述した第１実施形態および第２実施形態は、プロジェクター装置１０，１０ａだけでなく、透過型表示素子を用いて構成した表示装置、例えば、液晶パネル表示装置、有機ＥＬ（Ｅｌｅｃｔｒｏ−Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）表示装置等のフラットパネル表示装置に応用することができる。   In the first and second embodiments described above, not only the projector device 10 or 10a but also a display device configured using a transmissive display element, for example, a liquid crystal panel display device, an organic EL (Electro-Luminescence). The present invention can be applied to flat panel display devices such as display devices.

図１４は、液晶パネル表示装置を検査対象とした場合に、撮像装置３０が測定を行っている様子を模式的に表す側面図である。同図に示すように、液晶パネル表示装置６０は、バックライト６１の前面に液晶パネル６２が配設され、さらにその前面にカバーガラス６３が配設された構成を有する。撮像装置３０は、減光フィルター３１をカバーガラス６３に正対させて密着させて設けられる。
このように設置した状態で、液晶パネル表示装置６０にテストパターンを表示させ、撮像装置３０にテストパターンが表示された画面を撮像させて画像信号を生成させ、画像評価装置４０に画像データを解析させることにより、液晶パネル表示装置６０の表示性能を測定することができる。 FIG. 14 is a side view schematically illustrating a state in which the imaging device 30 performs measurement when the liquid crystal panel display device is an inspection target. As shown in the figure, the liquid crystal panel display device 60 has a configuration in which a liquid crystal panel 62 is disposed on the front surface of a backlight 61 and a cover glass 63 is disposed on the front surface thereof. The imaging device 30 is provided with the neutral density filter 31 facing the cover glass 63 so as to be in close contact therewith.
In such a state, the test pattern is displayed on the liquid crystal panel display device 60, the screen on which the test pattern is displayed is captured on the imaging device 30, an image signal is generated, and the image evaluation device 40 analyzes the image data. By doing so, the display performance of the liquid crystal panel display device 60 can be measured.

以上、本発明の実施の形態について図面を参照して詳述したが、具体的な構成はその実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計等も含まれる。   As mentioned above, although embodiment of this invention was explained in full detail with reference to drawings, the specific structure is not restricted to that embodiment, The design of the range which does not deviate from the summary of this invention, etc. are included.

１，１ａ 測定システム
１０，１０ａ プロジェクター装置
２０ 投射スクリーン
３０，３０−１〜３０−９ 撮像装置（撮像部）
３１ 減光フィルター
３２ 赤外光カットフィルター
３３ カメラ本体
３３ａ 撮像素子
４０ 画像評価装置
４１，４１ａ 画像解析部
４２，４２ａ テストパターン発生部
４３ 補正処理部
５０ 表示装置
６０ 液晶パネル表示装置
６１ バックライト
６２ 液晶パネル
６３ カバーガラス
３３１，３３１−１〜３３１−９ 表示面
４１１ 選択部
４１２ 選択制御部
４１３ 画像取得部
４１４，４１４ａ テストパターン解析部
４１５ 測定情報記憶部
４１７ 測定結果情報生成部
４１８ 測定情報供給部 1, 1a Measurement system 10, 10a Projector device 20 Projection screen 30, 30-1 to 30-9 Imaging device (imaging unit)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 31 Neutral filter 32 Infrared light cut filter 33 Camera body 33a Image sensor 40 Image evaluation apparatus 41, 41a Image analysis part 42, 42a Test pattern generation part 43 Correction processing part 50 Display apparatus 60 Liquid crystal panel display apparatus 61 Backlight 62 Liquid crystal Panel 63 Cover glass 331, 331-1 to 331-9 Display surface 411 Selection unit 412 Selection control unit 413 Image acquisition unit 414, 414a Test pattern analysis unit 415 Measurement information storage unit 417 Measurement result information generation unit 418 Measurement information supply unit

Claims (8)

複数の矩形領域に区分され、隣接する矩形領域同士で異なり且つ一矩形領域内で一様な階調または輝度を有する画像に含まれるテストパターンを発生させて、前記テストパターンを含む画像を検査対象である画像光出力装置に供給するテストパターン発生部と、
前記画像光出力装置から出力される、前記テストパターンを含む画像の画像光の照射を受けてテストパターン画像を表示するスクリーンと、
前記スクリーンの表示面内に撮像面を配置して設けられ、前記テストパターン画像を撮像して画像信号を生成する撮像部と、
前記撮像部が生成した前記画像信号を取り込み、前記画像信号におけるテストパターン画像に基づいて、前記画像光出力装置における画素の表示性能を測定して測定情報を生成するテストパターン解析部と、
を備え、
前記テストパターン解析部は、前記画像信号にテストパターン画像が含まれていないと判定した場合、前記画像信号から階調または輝度の情報を検出して、前記階調または輝度の情報と位置変更指示情報とを前記テストパターン発生部に供給し、
前記テストパターン発生部は、前記テストパターン解析部から供給された前記階調または輝度の情報と前記位置変更指示情報とを取り込むと、前記階調または輝度の情報が示す階調または輝度と同一の階調または輝度を有する範囲内で前記テストパターンの位置を変更した画像を発生させる
ことを特徴とする表示性能測定装置。 A test pattern included in an image that is divided into a plurality of rectangular areas, is different between adjacent rectangular areas, and has a uniform gradation or luminance within one rectangular area, and an image including the test pattern is inspected A test pattern generator for supplying to the image light output device,
A screen for displaying a test pattern image by irradiation of the output from the image light outputting apparatus, an image light of the image containing the test pattern,
An imaging unit provided by arranging an imaging surface within a display surface of the screen, and imaging the test pattern image to generate an image signal;
A test pattern analysis unit that captures the image signal generated by the imaging unit and generates measurement information by measuring display performance of pixels in the image light output device based on a test pattern image in the image signal;
Equipped with a,
When the test pattern analysis unit determines that the image signal does not include a test pattern image, the test pattern analysis unit detects gradation or luminance information from the image signal, and the gradation or luminance information and position change instruction Information to the test pattern generator,
When the test pattern generation unit takes in the gradation or luminance information and the position change instruction information supplied from the test pattern analysis unit, the test pattern generation unit is the same as the gradation or luminance indicated by the gradation or luminance information. A display performance measuring apparatus for generating an image in which a position of the test pattern is changed within a range having gradation or luminance . 前記テストパターン解析部は、前記画像信号におけるテストパターン画像に基づいて、前記画像光出力装置における画素に相当する画像領域同士の位置ずれ量と前記画素に相当する画像領域におけるフレアとの少なくとも一方を測定して測定情報を生成する
ことを特徴とする請求項１記載の表示性能測定装置。 The test pattern analysis unit calculates at least one of a positional shift amount between image areas corresponding to pixels in the image light output device and a flare in an image area corresponding to the pixels based on a test pattern image in the image signal. measurements to claim 1 Symbol placement display performance measuring device and generates measurement information. 前記撮像部は、前記スクリーンの表示面と前記撮像面とを平行にして設けられる
ことを特徴とする請求項１または２いずれか記載の表示性能測定装置。 The imaging unit, the screen of the display surface in claim 1 or 2 or serial mounting of the display performance measuring device, characterized in that provided in parallel with said imaging surface. 前記撮像部は、減光フィルターと赤外光カットフィルターとの少なくとも一方を備える
ことを特徴とする請求項１から３いずれか一項記載の表示性能測定装置。 The imaging unit, dimming filter and display performance measuring device according to claim 1 or et 3 any one claim, characterized in that it comprises at least one of the infrared light cut filter. 前記テストパターンは、前記画像光出力装置における赤色画素と青色画素と緑色画素とが相互に近接して構成される
ことを特徴とする請求項１から４いずれか一項記載の表示性能測定装置。 The test pattern display performance measuring device of claim 1, wherein 4 to any one claim that constituted the red and blue pixels and green pixels in the image light output device in close proximity to each other. テストパターン発生部が、複数の矩形領域に区分され、隣接する矩形領域同士で異なり且つ一矩形領域内で一様な階調または輝度を有する画像に含まれるテストパターンを発生させて、前記テストパターンを含む画像を検査対象である画像光出力装置に供給するテストパターン発生ステップと、
前記画像光出力装置が出力する、前記テストパターンを含む画像の画像光の照射を受けてテストパターン画像をスクリーンに表示させる表示ステップと、
前記スクリーンの表示面内に撮像面を配置して設けられた撮像部が、前記テストパターン画像を撮像して画像信号を生成する撮像ステップと、
テストパターン解析部が、前記撮像ステップにおいて前記撮像部が生成した前記画像信号を取り込み、前記画像信号におけるテストパターン画像に基づいて、前記画像光出力装置における画素に相当する画像領域同士の位置ずれ量と前記画素に相当する画像領域におけるフレアとの少なくとも一方を測定して測定情報を生成する解析ステップと、
を有し、
前記テストパターン解析部が、前記画像信号にテストパターン画像が含まれていないと判定した場合、前記画像信号から階調または輝度の情報を検出して、前記階調または輝度の情報と位置変更指示情報とを前記テストパターン発生部に供給し、
前記テストパターン発生部が、前記テストパターン解析部から供給された前記階調または輝度の情報と前記位置変更指示情報とを取り込むと、前記階調または輝度の情報が示す階調または輝度と同一の階調または輝度を有する範囲内で前記テストパターンの位置を変更した画像を発生させる
ことを特徴とする表示性能測定方法。 The test pattern generation unit generates a test pattern that is divided into a plurality of rectangular areas, is different between adjacent rectangular areas, and is included in an image having a uniform gradation or brightness within one rectangular area, and the test pattern A test pattern generation step of supplying an image including the image light output device to be inspected,
Output from the image light outputting apparatus, and a display step of displaying a test pattern image by irradiation of an image light of the image on the screen including the test pattern,
An imaging step in which an imaging unit provided by arranging an imaging surface within the display surface of the screen captures the test pattern image and generates an image signal; and
Test pattern analysis unit, takes in the image signal previous SL imaging unit generated Te said imaging step odor, based on the test pattern image in the image signal, the position of the image region each other corresponds to a pixel in the image light output device An analysis step of generating measurement information by measuring at least one of a shift amount and a flare in an image region corresponding to the pixel;
I have a,
When the test pattern analysis unit determines that the image signal does not include a test pattern image, it detects gradation or luminance information from the image signal, and the gradation or luminance information and position change instruction Information to the test pattern generator,
When the test pattern generation unit takes in the gradation or luminance information and the position change instruction information supplied from the test pattern analysis unit, it is the same as the gradation or luminance indicated by the gradation or luminance information. A display performance measuring method , comprising: generating an image in which a position of the test pattern is changed within a range having gradation or luminance . 複数の矩形領域に区分され、隣接する矩形領域同士で異なり且つ一矩形領域内で一様な階調または輝度を有する画像に含まれるテストパターンを生成するテストパターン生成部と、
前記テストパターン生成部が生成した前記テストパターンを含む画像を形成する表示部と、
前記表示部に形成された前記画像の画像光を投射する投射光学系と、
前記投射光学系が投射した前記画像光が照射されて表示されるテストパターン画像を撮像して画像信号を生成する撮像部と、
前記撮像部が生成した前記画像信号を取り込み、前記画像信号におけるテストパターン画像に基づいて、前記画像における画素に相当する画像領域同士の位置ずれ量と前記画素に相当する画像領域におけるフレアとの少なくとも一方を測定して測定情報を生成するテストパターン解析部と、
を備え、
前記テストパターン解析部は、前記画像信号にテストパターン画像が含まれていないと判定した場合、前記画像信号から階調または輝度の情報を検出して、前記階調または輝度の情報と位置変更指示情報とを前記テストパターン発生部に供給し、
前記テストパターン発生部は、前記テストパターン解析部から供給された前記階調または輝度の情報と前記位置変更指示情報とを取り込むと、前記階調または輝度の情報が示す階調または輝度と同一の階調または輝度を有する範囲内で前記テストパターンの位置を変更した画像を発生させる
ことを特徴とするプロジェクター装置。 Is divided into a plurality of rectangular areas, and the adjacent test pattern generator to a test pattern contained in an image having a uniform gradation or brightness different and one rectangular region rectangular region between to generate,
A display unit for forming an image including the test pattern generated by the test pattern generation unit;
A projection optical system for projecting image light of the image formed on the display unit;
An imaging unit that captures a test pattern image displayed by being irradiated with the image light projected by the projection optical system and generates an image signal;
The image signal generated by the imaging unit is captured, and based on a test pattern image in the image signal, at least a displacement amount between image areas corresponding to pixels in the image and a flare in an image area corresponding to the pixels A test pattern analyzer that measures one and generates measurement information;
Equipped with a,
When the test pattern analysis unit determines that the image signal does not include a test pattern image, the test pattern analysis unit detects gradation or luminance information from the image signal, and the gradation or luminance information and position change instruction Information to the test pattern generator,
When the test pattern generation unit takes in the gradation or luminance information and the position change instruction information supplied from the test pattern analysis unit, the test pattern generation unit is the same as the gradation or luminance indicated by the gradation or luminance information. A projector device that generates an image in which the position of the test pattern is changed within a range having gradation or luminance . 前記テストパターン解析部が生成した前記測定情報に基づいて前記画像を補正する補正処理部
をさらに備えることを特徴とする請求項７記載のプロジェクター装置。 The projector device according to claim 7 , further comprising: a correction processing unit that corrects the image based on the measurement information generated by the test pattern analysis unit.
JP2011061047A 2011-03-18 2011-03-18 Display performance measuring device, display performance measuring method, and projector device Active JP5741819B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011061047A JP5741819B2 (en) 2011-03-18 2011-03-18 Display performance measuring device, display performance measuring method, and projector device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011061047A JP5741819B2 (en) 2011-03-18 2011-03-18 Display performance measuring device, display performance measuring method, and projector device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012198306A JP2012198306A (en) 2012-10-18
JP5741819B2 true JP5741819B2 (en) 2015-07-01

Family

ID=47180614

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011061047A Active JP5741819B2 (en) 2011-03-18 2011-03-18 Display performance measuring device, display performance measuring method, and projector device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5741819B2 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015114430A (en) * 2013-12-10 2015-06-22 株式会社リコー Projection system, device to be projected and projection device
JP7270025B2 (en) * 2019-02-19 2023-05-09 富士フイルム株式会社 PROJECTION DEVICE, CONTROL METHOD AND CONTROL PROGRAM THEREOF
JP7351525B2 (en) 2020-07-08 2023-09-27 ｔｏｎａｒｉ株式会社 system
CN112629828B (en) * 2020-11-27 2023-07-04 奥比中光科技集团股份有限公司 Optical information detection method, device and equipment
CN113840137B (en) * 2021-09-14 2023-09-15 四川长虹网络科技有限责任公司 Verification method and system for mobile detection sensitivity of network camera

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05249562A (en) * 1991-10-29 1993-09-28 Sanyo Electric Co Ltd Liquid crystal projector
JPH11337870A (en) * 1998-05-28 1999-12-10 Sony Corp Method for adjustment of focus or the like in crt projection display device
JP4133303B2 (en) * 2002-03-29 2008-08-13 富士フイルム株式会社 Display image quality measurement system
JP4830511B2 (en) * 2006-01-25 2011-12-07 日本電気株式会社 Flare inspection apparatus, flare inspection method, flare inspection program, and recording medium
JP4715703B2 (en) * 2006-09-29 2011-07-06 日本電気株式会社 Optical flare inspection apparatus and inspection method
JP5110911B2 (en) * 2007-02-28 2012-12-26 日本放送協会 Image projection system and image projection method
JP2008242100A (en) * 2007-03-27 2008-10-09 Seiko Epson Corp Manufacturing equipment for optical device, position adjustment method, position adjustment program, and recording medium
JP5298507B2 (en) * 2007-11-12 2013-09-25 セイコーエプソン株式会社 Image display device and image display method
JP2010102100A (en) * 2008-10-23 2010-05-06 Seiko Epson Corp Device for manufacturing optical device, position adjusting method, and position adjusting program

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012198306A (en) 2012-10-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7252387B2 (en) System and method for mechanically adjusting projector pose with six degrees of freedom for image alignment
KR100622965B1 (en) Testing method and testing device of imaging device
TWI390195B (en) Inspection method and inspection apparatus of display panel
JP3624887B2 (en) Displacement sensor
JP5741819B2 (en) Display performance measuring device, display performance measuring method, and projector device
US20100239124A1 (en) Image processing apparatus and method
US7643061B2 (en) Scintillation measuring method of display device and scintillation measuring device
JP4080514B2 (en) Inspection device, inspection method, inspection program, and computer-readable recording medium
KR20120104635A (en) Transparent object detection system and transparent flat plate detection system
US7909471B2 (en) Rear projection type display apparatus
JP2014035261A (en) Information processing method, information processor, program, imaging apparatus, inspection method, inspection device, and method of manufacturing substrate
US10812764B2 (en) Display apparatus, display system, and method for controlling display apparatus
JP2008180602A (en) Inspection apparatus, testing method, inspection program, and computer readable medium
JP2015002241A (en) Substrate imaging device, and substrate imaging method
JP2003167530A (en) Method and device for display picture inspection
JP2016001108A (en) Colorimetric system
JP2011002401A (en) Correction coefficient calculating method in luminance measuring apparatus, and luminance measuring apparatus
JP2004186789A (en) Image evaluation apparatus
JP2008175768A (en) Device and method for inspecting defect of display panel
JP2008102818A (en) Method for correcting output value of imaging means, shading correction method, defect detection method, defect detection program, and defect detection apparatus
JP2008275487A (en) Shape inspection device and shape inspection method
JP2022070696A (en) Three-dimensional shape measuring method and three-dimensional shape measuring device
JP2011117856A (en) Apparatus and method for measurement of line width, and method of manufacturing color filter substrate
JP7074400B2 (en) Optical measuring device
JP3904208B2 (en) Image defect correction method for image sensor and inspection apparatus using the same

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140214

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20141017

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20141111

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20141212

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150401

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150414

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5741819

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350