JP5735079B2 - 自動利得制御ループ内の増幅器の少なくとも1つの入力信号を減衰させるためのユニットを有する電子回路 - Google Patents

自動利得制御ループ内の増幅器の少なくとも1つの入力信号を減衰させるためのユニットを有する電子回路 Download PDF

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Description

本発明は、自動利得制御ループ内の入力増幅器の少なくとも1つの入力信号を減衰させるためのユニットを有する電子回路に関する。入力増幅器に加え、電子回路は自動利得制御ユニットを更に備え、これは検出した増幅レベルに応じた適応化信号を減衰ユニットに供給する。従って減衰ユニットは、入力増幅器の出力において検出した振幅レベルに関連する適応化信号に基づいて、少なくとも1つの入力信号の振幅を減衰させることができる。
従来の様式で、入力増幅器のための自動利得制御ループを有する電子回路を、データ又は制御無線周波数信号受信機又はいずれのタイプのデータ受信器若しくは伝送器に配設することができる。所定のキャリア周波数のデータ信号を受信すると、これらの信号はアンテナで拾われ、従来の整形ステージで整形される。整形された信号は電子回路の入力増幅器に供給される。
通常、入力増幅器の出力はミキサユニットに接続することができるか、又は多くの場合復調ユニット若しくはアナログ−デジタル変換器に直接接続することができる。ミキサユニットは局部発振器からの少なくとも1つの発振信号を用いて、アンテナが拾って入力増幅器が増幅した信号の周波数を変換することができる。従って、復調器でのデータ又は制御信号復調動作の前に、ミキサユニットの出力において供給される1つ又は複数の中間信号を低周波数に変換することができ、ベース帯域にまで直接変換することさえできる。中間信号からデータを適切に復調できるようにするために、入力増幅器が増幅した信号の振幅を電子回路の自動利得制御ループに適応させなければならない。増幅器の適応化においては、入力増幅器が線形動作モードで動作することができなければならないという事実も考慮する。
入力増幅器に供給される信号の振幅は大き過ぎることがあり、これは入力信号の有意な変動マージンを生成する。このような状況では、VGA又はLNA増幅器であってよい入力増幅器は非線形になり得、これは電子回路を適切に動作させることができるようにするためには望ましくない。従って、入力信号の振幅を容易に減衰させるために、入力増幅器の入力に様々な可変シャント抵抗を配置してよい。これにより、増幅器は線形に動作することができる。この可変抵抗の抵抗値は、電子回路の自動利得制御ループにおいて制御することができ、これは所望の基準振幅レベルと比較した入力増幅器の出力における振幅レベルに基づくものである。
図1は従来の電子回路を示し、これは入力増幅器2の少なくとも1つの入力信号VINを減衰させる手段を備える。この先行技術例では、直列抵抗RSを通して少なくとも1つの入力信号VINを入力増幅器2に供給するための正弦波電圧VSを示す。しかしながら、1つ又は複数の入力信号は好ましくは、図示しないアンテナが拾う信号に由来するものであることは極めて明らかである。
VGA増幅器であってよい入力増幅器2の利得は、自動利得制御ループにおいて2つの方法で調整することができる。従って、増幅器2の利得は、VGA増幅器2の実際の利得を変更することによって、及び例えば並列に配設された1つ又は複数のCMOSトランジスタで形成してよい可変入力抵抗RINを調整することによっても調整することができる。入力抵抗の抵抗値の低減により、入力信号の振幅及びこれに伴って入力増幅器の利得の振幅も低減される。使用するCMOSトランジスタ(図示せず)において、ドレイン及びソース端子は入力増幅器2の入力及びアース端子に接続される。各トランジスタのゲートは、自動利得制御ループの適応化信号によって制御される。
よって、自動利得制御ループは入力増幅器2、ピーク検出器3、増幅器−比較器4又は相互コンダクタンス増幅器、第1の駆動部品6及び第2の駆動部品7で形成される。交番信号である入力増幅器の出力信号VOUTは一般に、入力信号のキャリア周波数に左右される。出力信号は従来のピーク検出器3が、出力において整流信号VPを供給するためにピーク検出器3に供給され、この整流信号VPは連続信号であってよく、入力増幅器2によって増幅される入力信号VINの振幅を示す。この整流信号VPをピーク検出器3のキャパシタCPに保持してよい。
増幅器−比較器4は、整流信号VPを受信するためにピーク検出器に接続される。この増幅器−比較器4は、入力増幅器2が増幅した信号VOUTの振幅を示す整流信号VPと、所定の振幅閾値を示す基準信号VRとの間のエラーを決定する。整流信号及び基準信号は一般に、増幅器−比較器4の入力に供給される整流電圧VP及び基準電圧VRである。整流電圧VPは増幅器−比較器4の正入力に供給され、その一方で基準電圧VRは増幅器−比較器4の負入力に供給される。
2つの比較電圧間で決定されたエラーに従って、適応電流又は電圧VAGCの形態の適応信号が増幅器−比較器4によって供給される。増幅器−比較器の出力信号が電流の形態である場合、増幅器−比較器4の出力に積分キャパシタCINTも配設する。適応化信号VAGCを第1の駆動部品6に供給して入力増幅器2の利得を直ちに適応化し、また、第2の駆動部品7に供給してシャント抵抗RINを適応化する。
入力増幅器2の利得は、整流電圧VPと基準電圧VRの間の差異がほぼゼロになるまで、2つの異なる方法で安定動作値に適応化される。しかしながら、適切な減衰値への上記シャント抵抗RINの適応化を図1に示す構成において達成するのは比較的難しく、これがひとつの欠点である。
このタイプの先行技術の電子回路1の第2の実施形態を図2に示すが、これは図1を参照して上述した実施形態と同様の設計を有する。この場合では、VGA増幅器であってよい入力増幅器2は2つの入力を有する。2つの入力は、第1の入力信号VIN+と、第1の入力信号VIN+から180°位相シフトした第2の入力信号VIN-とを受信するよう配設される。これらの入力信号は一般に、アンテナが拾って従来の整形ステージで整形された信号由来のものである。
自動制御ループは入力増幅器2及び自動利得制御ユニット5を更に含み、自動利得制御ユニット5は図1を参照して説明したように、ピーク検出器及び増幅器−比較器で形成してよい。AGCユニットは適応化信号VAGCを第1の駆動部品6に供給して入力増幅器2の利得を直ちに適応化し、また、第2の駆動部品7に供給してシャント抵抗RINを適応化する。この例では、このシャント抵抗RINは少なくとも1つのMOSトランジスタ、例えばPMOSトランジスタであり、そのドレインは第1の入力VIN+に接続され、そのソースは第2の入力VIN-に接続され、そのゲートは第2の駆動部品7によって制御される。一般に、シャント抵抗RINを滑らかに適応化するのは困難であり、これは入力増幅器のこのタイプの入力減衰の欠点を構成し得る。ソース抵抗がRSである場合、信号は因数RIN/(RIN+RS)で減衰させなければならない。
最後に、このタイプの先行技術の電子回路1の第3の実施形態を図3に示すが、これは様々な基準電圧レベルに応じたデジタルコマンドと等価の可変入力抵抗の調整を含む。電子回路1は自動利得制御ループを含み、その原理は図1、2を参照して説明したものと同様である。自動利得制御ループはまた、2つの入力VIN+、VIN-を有する入力増幅器2及び自動利得制御ユニット5を含み、自動利得制御ユニット5は図1を参照して説明したように、ピーク検出器及び増幅器−比較器で形成してよい。AGCユニットは適応化電圧VAGCを供給し、これは複数のヒステリシス比較器11、12、13において複数の基準レベルVREF1、VREF2、VREF3と比較される。複数の並列なシャント抵抗RIN1、RIN2、RINNはそれぞれPMOSトランジスタで形成され、これらはそのドレイン及びソースを介して2つの入力VIN+、VIN-に接続される。これらシャント抵抗はそれぞれ、対応する比較器によって制御される。
よって、N個の基準電圧VREF1、VREF2、VREFNに応じてデジタルコマンドを印加し、電圧VAGCのレベルに応じてN個の抵抗の伝導又は非伝導を制御することができる。こうして、シャント抵抗を並列に配置することによって達成される入力インピーダンスは、極めて広い範囲にわたって入力増幅器2の入力信号を減衰させる。これにより、単一の比較器、及びシャント抵抗として単一のPMOSトランジスタを用いる場合と比較して、増幅器の利得のより細やかな調整が可能となる。しかしながら、入力信号減衰及びこれに伴う入力増幅器の利得の適応化は様々な電圧レベルで起るため、調整の実行が複雑になる。その上、比較器のこのような配置は全ての所望の適応化状況において適切にはなり得ず、これがひとつの欠点である。
特許文献1は、減衰器を有するコントローラ回路について記載している。この減衰器は分極回路に接続される。減衰器はシャントFETトランジスタを含み、そのソースはアースに接続され、そのドレインは減衰器の抵抗性経路のノードに接続される。シャントトランジスタのゲートは分極回路のFETトランジスタのゲート又はドレインに接続され、そのソースはアースに接続される。分極回路のシャントトランジスタ及び減衰器のシャントトランジスタの配置は電流ミラーを形成する。しかしながら、自動利得制御ループの増幅器の入力信号の滑らかな減衰のためには何も設けられていない。
特許文献2は、増幅器の入力に減衰器を有する電子回路について記載している。この減衰器は自動利得制御ユニットで制御され、この自動利得制御ユニットは増幅器の出力と減衰器の制御入力との間に接続される。自動利得制御ユニットは、増幅器の出力電圧に応じて制御電圧を減衰器に供給し、増幅器の入力電圧を比例的に調整する。減衰器は主に、増幅器の入力信号の経路上の抵抗要素を用いて連続的に可変であるパッシブ型減衰器である。しかしながら、増幅器の出力レベルと基準信号との間の比較に応じて自動利得制御ループの増幅器の入力信号を滑らかに減衰させるためには何も設けられていない。
特許文献3は、トランジスタの配置について記載しており、このトランジスタは、例えば増幅器の入力抵抗である入力抵抗の抵抗値を適応化するために、制御電圧によって制御することができる。しかしながら、増幅器の出力レベルに応じた増幅器の入力の滑らかな減衰を提供するための方法については何ら記載されていない。
米国特許出願第2009/0201091A1号 米国特許第4839611号 国際公開特許出願第2011/080536A1号
従って本発明の目的は、入力増幅器の少なくとも1つの入力信号を減衰させるためのユニットを設けた電子回路を提供することによって、上述の先行技術の欠点を克服することができ、このユニットは1つ又は複数の入力信号を滑らかに減衰させ、電子回路の信頼性を向上させると同時に容易に実装することができる。
従って本発明は、独立請求項1に記載の特徴を含む、入力増幅器の少なくとも1つの入力信号を減衰させるためのユニットを設けた電子回路に関する。
入力増幅器の少なくとも1つの入力信号を減衰させるためのユニットを設けた電子回路の特定の実施形態は、従属請求項2〜12において規定している。
入力増幅器の少なくとも1つの入力信号を減衰させるためのユニットを設けた電子回路の1つの利点は、1つ又は複数の入力信号の減衰が、入力信号の所期の振幅値付近の滑らかな遷移によって行われるという事実にある。これを達成するために、減衰ユニットは電流又は電圧を比較する手段を備える。電流又は電圧比較手段は、適応化電流と基準電流との間の差又は適応化電圧と基準電圧との間の差に応じて、減衰電流をレプリカトランジスタに提供する。適応化電流又は適応化電圧は、入力増幅器の出力信号の検出された振幅レベルに基づいて、自動利得制御ユニットによって供給される。レプリカトランジスタは、入力増幅器の1つ又は2つの入力に接続されるシャント抵抗を形成するシャントトランジスタと並列に配設される。よって、1つ又は複数の入力信号の振幅は、シャントトランジスタに接続されたレプリカトランジスタの配設により、動的に連続的に減衰される。
入力増幅器の少なくとも1つの入力信号を減衰させるためのユニットを設けた電子回路の目的、利点及び特徴は、図面に例示した非限定的な実施形態に基づく以下の説明においてより明らかになるであろう。
図1は、上述の通り、先行技術の自動利得制御ループにおける、入力増幅器の少なくとも1つの入力信号を減衰させる手段を有する電子回路の第1の実施例を示す。 図2は、上述の通り、先行技術の自動利得制御ループにおける、入力増幅器の複数の入力信号を減衰させる手段を有する電子回路の第2の実施例を示す。 図3は、上述の通り、先行技術の自動利得制御ループにおける、入力増幅器の複数の入力信号を減衰させる手段を有する電子回路の第3の実施例を示す。 図4は、入力増幅器の少なくとも1つの入力信号を減衰させるためのユニットを設けた電子回路の、ある実施形態を示す。 図5は、本発明による電子回路の自動利得制御ユニットによって供給される適応化信号に対する、少なくとも1つの入力信号を減衰させるためのシャント抵抗の抵抗値のグラフである。 図6は、減衰ユニットのヒステリシスを考慮した本発明による電子回路の自動利得制御ユニットによって供給される適応化信号に対する、少なくとも1つの入力信号を減衰させるためのシャント抵抗の抵抗値のグラフである。
以下の説明では、自動利得制御ループの入力増幅器の少なくとも1つの入力信号を減衰させるためのユニットを設けた電子回路の、当該技術分野で当業者に公知の全ての電子構成部品については、簡略化した様式でしか説明しない。
図4は、入力増幅器2の入力信号VIN+、VIN-のための減衰ユニット10を特に設けた、電子回路1のある実施形態を示す。これら2つの設定周波数入力信号は互いに対して180°位相シフトしたものであってよく、VGA又はLNA増幅器であってよい入力増幅器2の2つの入力に供給される。これら2つの信号VIN+、VIN-は、アンテナが拾って入力増幅器の前の整形ステージで整形された信号由来のものであってよい。しかしながら、入力増幅器2は単一の入力信号のみを、この単一の入力信号の振幅を減衰させるために配設される減衰ユニット10を用いて受信してもよい。
自動利得制御ループにおいて電子回路1は、入力増幅器2に加えて、図4には図示していない自動利得制御ユニットを更に含む。この自動利得制御ユニットは入力増幅器2の出力に直接接続され、入力増幅器2の出力信号VOUTの振幅を決定することができる。検出した振幅に基づいて、信号VAGCが入力信号減衰ユニット10に供給されるが、特定の実施形態ではこれを入力増幅器にも供給してよい。従って、入力増幅器2の利得は従来、入力増幅器における利得の即時適応化によって適応化することができるが、本発明によると、少なくとも1つの入力信号のための減衰ユニット10によっても適応化することができる。
自動利得制御ユニットにおいてピーク検出器を用いて、入力増幅器2の出力信号VOUTの振幅レベルを検出してよい。AGCユニットはまた、ピーク検出器からの整流信号と、所望の出力信号振幅に応じた基準信号との比較のための、増幅器−比較器も含んでよい。これによりAGCユニットは、減衰ユニット10のための適応化信号VAGCを供給することができる。
適応化信号VAGCは適応化電圧VAGCであってよく、又はここでは図示しないが以下で説明する実施形態においては適応化電流であってもよい。適応化電圧VAGCのレベルは、入力増幅器2の出力信号の振幅レベルVOUTに直接的に左右される。出力信号の振幅VOUTが所定の基準閾値より高い場合、適応化電圧は減衰ユニット10に影響を及ぼして、入力増幅器2の1つ又は複数の入力信号VIN+、VIN-の振幅をより大きく又はより小さく減衰させる。しかしながら、これと逆の場合、即ち出力信号の振幅VOUTが所定の基準閾値より低い場合、以下に説明するように、減衰は殆ど実行されないか、又は全く実行されない。このような場合、減衰ユニット10の出力には高い値のシャント抵抗のみが残り、入力増幅器2の2つの入力、又は電圧供給端子(図示せず)の1つの入力と1つの端子を接続する。
図4に示すように、減衰ユニット10は、基準信号VREFと適応化信号VAGCとを比較するための比較手段を含む。比較手段の出力は減衰電流を制御する。減衰電流の強度は、0Aであってよい最小値と、基準電流IREF等、分極電流源IPによって事前に設定された第1の電流によって決定してよい最大値との間に設定される。
減衰電流は、レプリカトランジスタM2に供給されるよう設定され、このレプリカトランジスタM2はダイオード接続トランジスタであり、第1のタイプの伝導性を有し、制御電極を介して第1のタイプの伝導性を有するシャントトランジスタM1を制御する。このシャントトランジスタM1の電流電極はそれぞれ、電圧供給源の少なくとも1つの入力及び少なくとも1つの端子、並びに好ましくは入力増幅器2の2つの入力に接続される。レプリカトランジスタM2を通過する電流値に応じて、トランジスタM1によって設定されるシャント抵抗RINは最小抵抗値と最大抵抗値との間で変化する。
一般に、最小電流値は、自動利得制御ユニットにおいて入力増幅器2の出力信号VOUTの振幅が所定の基準閾値より小さいという事実を示す。このような状況では、減衰ユニット10はシャントトランジスタM1を動作させるよう設定されず、よってシャント抵抗は最大値RMAXである。反対に、最大電流値は、入力増幅器2の出力信号VOUTの振幅が所定の基準閾値より理論的に有意に小さいという事実を示す。このような状況では、減衰ユニット10はシャントトランジスタM1を動作させるよう設定され、よってシャント抵抗は最小値RMINである。
当然、シャント抵抗RINの抵抗値の動的適応化は、レプリカトランジスタM2を通る電流の滑らかな変化によって実行することができる。このトランジスタM2の電流電極のうち、ドレイン又はコレクタ電極である1つの電極は、ゲート又はベース電極である制御電極に接続される。トランジスタM2の他方の電流電極、即ちソース又はエミッタ電極は、電圧バッファセル20を介して同相電圧VCMに接続され、これは、1つ又は複数の交番入力信号VIN+、VIN-の同相電圧でもある。この同相電圧VCMは、1つ又は複数の入力信号の平均電圧DCである。結果として、同一サイズの2つのトランジスタである2つのトランジスタM1、M2は、レプリカトランジスタM2で電流ミラーを形成することができ、これはシャントトランジスタM1を制御する。
レプリカトランジスタM2がシャントトランジスタM1とほぼ同一であるとすると、電圧VCMをレプリカトランジスタM2のソース又はエミッタに印加することが重要であることに留意されたい。一般に、同相電圧VCMは供給電圧源の高電圧VDDと等しくてよい。従って、レプリカトランジスタM2のソースを高電圧VDDに直接接続することは極めて容易であり、これにより、電圧バッファセル20を除去することができる。
この実施形態では、2つのトランジスタM1、M2は好ましくはPMOSトランジスタであり、レプリカトランジスタM2のソースは電圧バッファセル20に接続され、シャントトランジスタM1のソースは入力増幅器2の第1の入力に接続される。シャントトランジスタM1のドレインは、単一の入力を有する入力増幅器のための供給電圧源の端子のうちの1つ、又は入力増幅器2の第2の入力に接続される。
減衰ユニット10の基準信号VREFと適応化信号VAGCを比較する手段について、ここで詳細に説明する。好ましくは、この実施形態の比較手段は基準電圧VREFと、自動利得制御ユニットが供給する適応化電圧VAGCとを比較する。基準電圧VREFは、自動利得制御ユニットの振幅基準閾値に関連する値に近い値に設定してよい。適応化電圧VAGCが低いほど、即ち基準電圧VREF未満であると、入力増幅器2の出力信号VOUTの振幅は小さくなる。しかしながら、適応化電圧VAGCが基準電圧VREFと等しいか又はこれより高いと、入力増幅器2の出力信号VOUTの振幅は大きくなりすぎる。この出力信号VOUTの振幅は、入力増幅器2の入力においてシャント抵抗RINを適応化することにより、理論的に減衰させなければならない。
図4に示すように、比較手段は、トランジスタM1、M2と同様に第1のタイプの伝導性を有する入力トランジスタM7、M8の対を含む。入力トランジスタM7、M8のソース又はエミッタは分極電流源IPに接続され、これは電圧供給源の第1の端子に接続され、この第1の端子は高電位端子VDDであってよい。第1の入力トランジスタM7のゲート又はベースは、基準電圧VREFを受信するよう配設され、その一方で第2の入力トランジスタM8のゲート又はベースは、適応化電圧VAGCを受信するよう配設される。この実施形態では、これら入力トランジスタM7、M8は好ましくは、同一の寸法を有するPMOSトランジスタである。
第1のPMOS入力トランジスタM7のドレインは、電流ミラーの第2のタイプの伝導性を有する第1のダイオード接続トランジスタM5に接続され、この第1のダイオード接続トランジスタM5は好ましくはNMOSトランジスタである。このダイオード接続トランジスタM5のソースは供給電圧源の第2の端子に接続され、この端子は低電位端子VSSであってよい。電流ミラーの第2のNMOSトランジスタM4は、そのゲートを介して第1のダイオード接続トランジスタM5のゲートに接続される。第2のNMOSトランジスタM4のソースは、供給電圧源の低電位端子VSSに接続され、その一方で第2のNMOSトランジスタM4のドレインは、第1のダイオード接続トランジスタM5を通過する第1の電流IREFに対応する電流を引くよう配設される。第2のトランジスタM4のドレインは第2のPMOS入力トランジスタM8のドレインに接続され、また、第2のタイプの伝導性を有する比較手段の出力トランジスタM3のソース又はエミッタにも接続される。この出力トランジスタM3は好ましくはNMOSトランジスタである。
出力トランジスタM3のゲートは所定の分極電圧VBN1で制御され、その一方で電流ミラーの第1のトランジスタM4及び第2のトランジスタM5のゲートは、ダイオード接続トランジスタM5を通過する電流に応じて決定される動作電圧VBN2である。出力トランジスタM3のドレインは、ダイオード接続レプリカトランジスタM2のゲート及びドレインに接続され、適応化電圧VAGCと基準電圧VREFとの間の比較に基づく比較手段からの出力減衰電流をそこに供給する。
入力増幅器2の出力信号VOUTが、自動利得制御ユニットで決定される基準閾値未満のレベルである場合、減衰ユニット10に供給される適応化電圧VAGCもまた基準電圧VREF未満である。分極電流IPは主に第2の入力トランジスタM8を通過して第2の電流を生成し、この第2の電流は適応化電流IAGCである。従って、第1の入力トランジスタM7を通る基準電流IREFである第1の電流は、電流(IP−IAGC)に等しい。この第2の適応化電流IAGCは電流ミラーの第2のトランジスタM4のドレインに供給される。
このような場合、第2の電流IAGCが第1の電流IREFより大きいため、派生電流は0A未満である。従って、減衰電流は出力トランジスタM3及びレプリカトランジスタM2を通過しない。よってトランジスタM3はバッファトランジスタとして機能し、第1の電流IREFと第2の電流IAGCとの間の減算を実行する。よって、シャントトランジスタM1が定義する抵抗RINは、最大抵抗値RMAXである。
減衰ユニット10に供給される、基準電圧VREFに等しい適応化電圧VAGCに関して、分極電流IPは各入力トランジスタM7、M8に実質的に等しく分配される。基準電流IREFである第1の電流は、適応化電流IAGCである第2の電流に実質的に等しい。出力トランジスタM3を通る派生減衰電流はほぼ0Aであり、これはシャントトランジスタM1が定義する抵抗RINの抵抗値に影響を与えない。しかしながら、適応化電圧VAGCが基準電圧VREFより高くなった瞬間から、分極電流IPは主に第1の入力トランジスタM7を通過する。よって、出力トランジスタM3及びレプリカトランジスタM2を通る派生減衰電流は0Aより大きく、これは結果として、シャントトランジスタM1が定義するシャント抵抗RINを最小値RMINまで低下させる。適応化電圧VAGCが基準電圧VREFに対して50〜100mV大きい場合、派生減衰電流IREF−IAGCはIPに等しい最大値である。
入力増幅器2の利得適応化は、所望の出力信号VOUTの振幅付近で滑らかに実行されるため、シャント抵抗RINの最大抵抗値と最小抵抗値との間の遷移もまた、減衰ユニット10によって滑らかに実行される。図5は最大抵抗値RMAXから最小抵抗値RMINへの、又はその逆のこのような遷移を、本発明の減衰ユニットの基準電圧VREFに対する適応化電圧VAGCに関するカーブbで示す。
対照的に、図5はまた、図3に示すような先行技術の単一の比較器を用いた、シャント抵抗RINのデジタル制御適応化に関するカーブaを示す。このカーブaでは、最大抵抗値RMAXから最小抵抗値RMINへの、又はその逆の遷移が比較的急激に実行される。これによって入力増幅器の入力信号を滑らかに減衰させることはできず、入力増幅器の出力信号VOUTの振幅レベルに応じて行われる動的適応化は存在しない。
ノイズに対する回路の抵抗を増大させることができるようにするために、比較手段のために別のヒステリシス経路を設けることができる。これを達成するために、第1のタイプの伝導性を有するヒステリシストランジスタM6は、レプリカトランジスタM2に並列に接続される。このヒステリシストランジスタM6は好ましくはPMOSトランジスタであり、そのソースは、電圧バッファセル20を通して同相電圧VCMへの接続のために、レプリカトランジスタM2のソースに接続される。ヒステリシストランジスタM6のゲートはレプリカトランジスタM2のゲート及びドレインに接続され、その一方でヒステリシストランジスタM6のドレインは電流ミラーの第1のダイオード接続トランジスタM5のゲート及びドレインに接続される。このアセンブリは、シャントトランジスタM1によって形成され、レプリカトランジスタM2及びヒステリシストランジスタM6もまたカレントミラーを形成し、ここで各トランジスタ内の電流は、ダイオード接続レプリカトランジスタM2で制御することができる。
適応化電圧VAGCが基準電圧VREFに等しい瞬間に、第1の電流は第2の電流に等しく、これは即ち、出力トランジスタM3がダイオード接続レプリカトランジスタM2にまだいずれの減衰電流も供給していないことを意味している。従って、ヒステリシストランジスタM6において複製された電流もまた0Aに等しい。適応化電圧VAGCが基準電圧VREFより高くなる時、第1の電流IREFは第2の電流IAGCより大きくなる。出力トランジスタM3は、ヒステリシストランジスタM6をまだ考慮に入れないうちに、IREF−IAGCに対応する減衰電流を供給する。この減衰電流はヒステリシストランジスタM6において複製される。従って、第1のダイオード接続トランジスタM5は、トランジスタM6から第1の電流IREF及びヒステリシス電流Ihystを受信する。この場合の減衰電流は、(IREF+Ihyst)−IAGCとなる。これは、電流を0Aに等しくするためには、基準電圧VREFに対応する適応化電圧VAGCを電圧振幅ΔVに印加、付加しなければならないことを意味する。よって、ヒステリシス効果は、単にシャント抵抗RINの動的抵抗変化のためにPMOSヒステリシストランジスタM6を接続して入力増幅器の利得を適応化することによって得られる。
ヒステリシス経路の効果は図6に見ることができ、この図は、適応化電圧の変動に対するシャント抵抗の抵抗値のカーブを示す。適応化電圧VAGCが、減衰電流が0Aに等しい初期値から増大する際、シャント抵抗の抵抗値は、図6の右端のカーブで最大値RMAXから最小値RMINへと変動する。しかしながら、適応化電圧VAGCが減少して減衰抵抗の抵抗値が最小値RMINから最大値RMAXへと変動する場合、この抵抗値の変化は左端のカーブに従う。これは、電流ミラーの第1のダイオード接続トランジスタで第1の電流に付加されるヒステリシス電流の変動によるものである。
図4に示す非限定的な実施形態の例として、電子回路1の供給電圧は1.2V〜3.6Vに設定してよく、これは当然半導体技術に依る。この技術は、例えばバイポーラ技術又は好ましくはCMOS技術であってよい。使用する技術に応じて、供給電圧は約0.8Vの値を有することさえできる。確立された分極電流IPに従って、通常第1の電流及び第2の電流は約100nAである最大値まで変動することができるが、使用する技術に応じて1μAの値まで変動することもできる。基準電圧VREFは0.7Vに設定してよく、適応化電圧VAGCは0.7V付近で変動し得る。出力トランジスタM3のゲート電圧VBN1は0.9Vに設定してよく、電流ミラーのゲート電圧はほぼ0.7Vである。シャントトランジスタM1が定義するシャント抵抗の最小抵抗値RMINは約100kΩであってよく、シャントトランジスタM1が非伝導性である場合のシャント抵抗の最大抵抗値RMAXは約1〜10MΩであってよい。同相電圧VCMは例えば約1.2Vであってよい。
電子回路の変形実施形態によると、減衰ユニット10の比較手段によって電流比較を行ってよい。この電流比較のために、図4を参照して説明した構造を再び使用してよい。しかしながら、分極電流源IP並びに第1の入力トランジスタM7及び第2の入力トランジスタM8はもはや使用しない。基準電流源IREFのみが残されており、これは電流ミラーの第1のダイオード接続トランジスタM5に連続固定基準電流IREFを供給する。この電流比較のために、自動制御ユニットは、入力増幅器2の出力信号VOUTの振幅に反比例して変動する適応化電流IAGCを供給するために配設される。これは、出力信号VOUTの振幅が大きくなるほど電流IAGCが弱くなり、逆に出力信号VOUTの振幅が小さくなるほど電流IAGCが強くなることを意味している。従って、出力信号VOUTの振幅が自動利得制御ユニットの所定の振幅基準閾値を超えている場合、適応化電流IAGCは基準電流IREFより小さくなければならない。これは、シャント抵抗RINを低い抵抗値に適応化して、これにより、入力増幅器の利得をそれに応じて減少させることができることを意味している。
ヒステリシス経路もまた、図4を参照して説明したように、電流比較手段のために使用される。PMOSヒステリシストランジスタM6によって供給されるヒステリシス電流は、ダイオード接続NMOSトランジスタM5の基準電流に付加される。シャント抵抗の抵抗値に対する適応化電流IAGCに実質的に相当する変動カーブは、上で説明した図6に示したものであってよい。
図4に示す減衰ユニット10を有する電子回路1は、各PMOSトランジスタを、第1のタイプの伝導性を有するものと定義されたNMOSトランジスタに置き換えることにより、逆の構造で作製してよいことにも留意されたい。更に、図4の各NMOSトランジスタを、第2のタイプの伝導性を有するものと定義されたPMOSトランジスタに置き換える。しかしながら、この新規の実施形態においてPMOSトランジスタM4、M5で形成される電流ミラーは、供給電圧源の高電位端子VDDに接続され、その一方で、分極電流源IPは供給電圧源の低電位端子VSSに接続される。NMOSレプリカトランジスタM2及びNMOSヒステリシストランジスタM6のソースは、同相電圧VCMに接続される。NMOSシャントトランジスタはそのゲートを介して、レプリカトランジスタM2のゲート及び入力増幅器2の1つ又は2つの入力に接続される。
トランジスタM1、M2、M6はこれらのソースによって同一の同相電圧VCMに接続され、これにより、レプリカトランジスタM2の減衰電流を他の2つのトランジスタM1、M6において適切に複製することが重要である。入力増幅器2のゲインを適応化するために、シャント抵抗の変動を滑らかに実施する。この実施形態では同相電圧をほぼ0Vとすることができるが、図4を参照して説明した実施形態では必ずしもそうではなかった。
当然、減衰ユニットにおける電流比較の、上で説明したものとは逆の変形例のために、図4に示す全てのNMOSトランジスタをPMOSトランジスタに置き換えてもよい。図4の他の全てのPMOSトランジスタもまた、NMOSトランジスタに置き換えなければならない。電圧供給源の端子の接続は、上述の変形実施形態で説明したものと同様に行わなければならない。
電子回路の減衰ユニットは、図4に示したものと同一の配置を用いて、バイポーラトランジスタで形成してもよい。しかしながら、レプリカトランジスタM2を有するシャントトランジスタM1に関しては、入力増幅器の入力においてシャント抵抗を適切に制御するために、並びに供給電圧、温度又は電子回路の製造方法に関するいずれの変動を制御するために、MOSトランジスタを使用する方が遥かに容易である。
当業者は以上の説明から、自動利得制御ループ内の入力増幅器の少なくとも1つの入力信号を減衰させるためのユニットを備える電子回路の複数の変形例を、請求項に定義された本発明の範囲から逸脱することなく考案することができる。入力増幅器の1つ又は2つの信号を減衰させるために少なくとも2つの減衰ユニットを接続することが想定できる。それぞれの減衰ユニットは、全シャント抵抗を適応化するために、互いにわずかに異なる適応化信号との比較のための基準信号を有する。減衰電流を線形化するために、電流ミラー内に抵抗を直列に追加してよい。LNA又はVGA入力増幅器は、アンテナが拾ったFSK又はPSK無線周波数信号を増幅させることができてよい。変換された中間周波数信号を増幅するために、信号ミキサの後に入力増幅器を配設してもよい。

Claims (14)

  1. 自動利得制御ループ内に、入力増幅器(2)、前記入力増幅器(2)の出力信号(VOUT)のレベルを検出するために前記入力増幅器(2)の出力に接続された自動利得制御ユニット(5)、及び前記自動利得制御ユニット(5)が供給する適応化信号(VAGC)に基づいて前記入力増幅器(2)の少なくとも1つの入力信号(VIN)を減衰させるためのユニット(10)を含む、電子回路(1)であって、
    前記減衰ユニット(10)は、前記適応化信号(VAGC)を基準信号(VREF)と比較するための、及び前記適応化信号(VAGC)と前記基準信号(VREF)との間の差に応じた強度の減衰電流を第1のタイプの伝導性を有するダイオード接続レプリカトランジスタ(M2)に供給するための、比較手段を含み、
    前記ダイオード接続レプリカトランジスタ(M2)は、ソース又はエミッタによって前記入力増幅器(2)の前記入力信号(VIN)に応じた同相電圧(VCM)に接続され、
    前記ダイオード接続レプリカトランジスタ(M2)は、第1のタイプの伝導性を有するシャントトランジスタ(M1)を制御し、
    前記シャントトランジスタ(M1)は前記入力増幅器(2)に接続されるシャント抵抗を定義し、前記シャント抵抗の抵抗値は、
    前記ダイオード接続レプリカトランジスタ(M2)を通過する前記減衰電流の強度に左右される
    ことを特徴とする、電子回路(1)。
  2. 前記入力増幅器(2)は交番入力信号(VIN)を受信するための入力を含み、
    前記シャントトランジスタ(M1)は前記レプリカトランジスタ(M2)と同一のトランジスタであること、
    前記シャントトランジスタ(M1)のソー又はエミッタは、前記入力増幅器(2)の前記入力に接続されること、及び
    前記シャントトランジスタ(M1)のドレイン又はコレクタは、供給電圧源の端子に接続されること
    を特徴とする、請求項1に記載の電子回路(1)。
  3. 前記入力増幅器(2)は、互いに対して180°位相シフトされた所定の周波数の2つの入力信号(VIN+、VIN-)を受信するための2つの入力を含み、
    前記シャントトランジスタ(M1)は、前記レプリカトランジスタ(M2)と同一のトランジスタであること、
    前記シャントトランジスタ(M1)の前記ソー又は前記エミッタは、前記入力増幅器(2)の第1の前記入力に接続されること、及び
    前記シャントトランジスタ(M1)の前記ドレイン又は前記コレクタは、前記入力増幅器(2)の第2の前記入力に接続されること
    を特徴とする、請求項1に記載の電子回路(1)。
  4. 前記比較手段は、適応化電圧(VAGC)の形態の前記適応化信号と、基準電圧(VREF)の形態の前記基準信号とを比較するために配設され、
    前記比較手段は、第1のタイプの伝導性を有する入力トランジスタ(M7、M8)の対を含み、各前記入力トランジスタ(M7、M8)はソース又はエミッタを介して分極電流源(IP)に接続され、前記分極電流源(IP)は給電圧源の第1の端子に接続され、第1の前記入力トランジスタ(M7)のゲート又はベースは前記基準電圧(VREF)を受信し、第2の前記入力トランジスタ(M8)のゲート又はベースは前記適応化電圧(VAGC)を受信すること、
    前記第1の入力トランジスタ(M7)のドレイン又はコレクタは、電流ミラーの第2のタイプの伝導性を有する第1のダイオード接続トランジスタ(M5)に接続され、前記電流ミラーは、第2のタイプの伝導性を有しかつゲート又はベースを介して前記第1のダイオード接続トランジスタ(M5)のゲート又はベースに接続される第2のトランジスタ(M4)を含み、前記電流ミラーの前記第1のトランジスタ(M5)及び前記第2のトランジスタ(M4)のソース又はエミッタは、前記供給電圧源の第2の端子に接続されること、並びに
    前記電流ミラーの前記第2のトランジスタ(M4)のドレイン又はコレクタは、前記第2の入力トランジスタ(M8)のドレイン又はコレクタに接続され、前記ダイオード接続レプリカトランジスタ(M2)に前記減衰電流を供給するよう配設されること
    を特徴とする、請求項1に記載の電子回路(1)。
  5. 前記比較手段は、第2のタイプの伝導性を有する出力トランジスタ(M3)を含み、前記出力トランジスタ(M3)は、前記電流ミラーの前記第2のトランジスタ(M4)の前記ドレイン又は前記コレクタと、前記ダイオード接続レプリカトランジスタ(M2)のゲート又はベース及びドレイン又はコレクタとの間に配設され、前記減衰電流を供給するための前記出力トランジスタ(M3)の伝導作用は、前記出力トランジスタ(M3)のゲート又はベースを通る分極電圧(VBN1)によって制御されることを特徴とする、請求項4に記載の電子回路(1)。
  6. 前記比較手段は、適応化電流(IAGC)の形態の前記適応化信号と、基準電流(IREF)の形態の前記基準信号とを比較するために配設され、
    前記比較手段は、流ミラーの第2のタイプの伝導性を有する前記第1のダイオード接続トランジスタ(M5)に前記基準電流(IREF)を供給するための基準電流源を含み、前記基準電流源は給電圧源の前記第1の端子に接続され、
    前記電流ミラーは、第2のタイプの伝導性を有しかつ前記ゲート又は前記ベースを介して前記第1のダイオード接続トランジスタ(M5)の前記ゲート又は前記ベースに接続される前記第2のトランジスタ(M4)を含み、前記電流ミラーの前記第1のトランジスタ(M5)及び前記第2のトランジスタ(M4)の前記ソース又は前記エミッタは、前記供給電圧源の前記第2の端子に接続されること、並びに
    前記電流ミラーの前記第2のトランジスタ(M4)の前記ドレイン又は前記コレクタは、前記自動利得制御ユニットから前記適応化電流(IAGC)を受信し、前記基準電流と前記適応化電流との間の差に応じて、前記ダイオード接続レプリカトランジスタ(M2)に前記減衰電流を供給するよう配設されること
    を特徴とする、請求項1に記載の電子回路(1)。
  7. 前記比較手段は、第2のタイプの伝導性を有する力トランジスタ(M3)を含み、前記出力トランジスタ(M3)は、前記電流ミラーの前記第2のトランジスタ(M4)の前記ドレイン又は前記コレクタと、前記ダイオード接続レプリカトランジスタ(M2)のート又はース及びレイン又はレクタとの間に配設され、前記減衰電流を供給するための前記出力トランジスタ(M3)の伝導作用は、前記出力トランジスタ(M3)のート又はースを通る分極電圧(VBN1)によって制御されることを特徴とする、請求項6に記載の電子回路(1)。
  8. 前記シャントトランジスタ(M1)、前記レプリカトランジスタ(M2)、並びに前記第1の入力トランジスタ(M7)及び前記第2の入力トランジスタ(M8)は、PMOSトランジスタであること、
    前記電流ミラーの前記第1のトランジスタ(M5)及び前記第2のトランジスタ(M4)並びに前記出力トランジスタ(M3)はNMOSトランジスタであること、並びに
    前記分極電流源(IP)は前記供給電圧源の高電位端子(VDD)に接続され、前記電流ミラーの前記第1のトランジスタ(M5)及び前記第2のトランジスタ(M4)は前記供給電圧源の低電位端子(VSS)に接続されること
    を特徴とする、請求項4または5に記載の電子回路(1)。
  9. 前記シャントトランジスタ(M1)、前記レプリカトランジスタ(M2)、並びに前記第1の入力トランジスタ(M7)及び前記第2の入力トランジスタ(M8)は、NMOSトランジスタであること、
    前記電流ミラーの前記第1のトランジスタ(M5)及び前記第2のトランジスタ(M4)並びに前記出力トランジスタ(M3)はPMOSトランジスタであること、並びに
    前記分極電流源(IP)は前記供給電圧源の低電位端子(VSS)に接続され、前記電流ミラーの前記第1のトランジスタ(M5)及び前記第2のトランジスタ(M4)は前記供給電圧源の高電位端子(VDD)に接続されること
    を特徴とする、請求項4または5に記載の電子回路(1)。
  10. 前記シャントトランジスタ(M1)及び前記レプリカトランジスタ(M2)は、PMOSトランジスタであること、
    前記電流ミラーの前記第1のトランジスタ(M5)及び前記第2のトランジスタ(M4)並びに前記出力トランジスタ(M3)はNMOSトランジスタであること、並びに
    前記分極電流源(I P )は前記供給電圧源の高電位端子(V DD )に接続され、前記電流ミラーの前記第1のトランジスタ(M5)及び前記第2のトランジスタ(M4)は前記供給電圧源の低電位端子(V SS )に接続されること
    を特徴とする、請求項6または7に記載の電子回路(1)。
  11. 前記シャントトランジスタ(M1)及び前記レプリカトランジスタ(M2)は、NMOSトランジスタであること、
    前記電流ミラーの前記第1のトランジスタ(M5)及び前記第2のトランジスタ(M4)並びに前記出力トランジスタ(M3)はPMOSトランジスタであること、並びに
    前記分極電流源(I P )は前記供給電圧源の低電位端子(V SS )に接続され、前記電流ミラーの前記第1のトランジスタ(M5)及び前記第2のトランジスタ(M4)は前記供給電圧源の高電位端子(V DD )に接続されること
    を特徴とする、請求項6または7に記載の電子回路(1)。
  12. 前記同相電圧(V CM )は、電圧バッファセル(20)を介して前記ダイオード接続レプリカトランジスタ(M2)のソース又はエミッタに供給されることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか1項に記載の電子回路(1)。
  13. 前記比較手段は、第1のタイプの伝導性を有するヒステリシストランジスタ(M6)を含み、前記ヒステリシストランジスタ(M6)は前記ダイオード接続レプリカトランジスタ(M2)に並列に接続され、前記ヒステリシストランジスタ(M6)のソース又はエミッタは、前記レプリカトランジスタ(M2)の前記ソース又は前記エミッタに接続され、前記ヒステリシストランジスタ(M6)のゲート又はベースは、前記ダイオード接続レプリカトランジスタ(M2)の前記ゲート又は前記ベースに接続されること、及び
    前記ヒステリシストランジスタ(M6)のドレイン又はコレクタは、前記電流ミラーの前記第1のダイオード接続トランジスタ(M5)の前記ゲート又は前記ベース及びドレイン又はコレクタに接続されること
    を特徴とする、請求項4または6に記載の電子回路(1)。
  14. 前記ヒステリシストランジスタ(M6)は、前記レプリカトランジスタ(M2)及び前記シャントトランジスタ(M1)と同様、PMOS又はNMOSトランジスタであることを特徴とする、請求項13に記載の電子回路(1)。
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