JP5709040B2 - 分光画像撮像装置 - Google Patents

分光画像撮像装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5709040B2
JP5709040B2 JP2010241074A JP2010241074A JP5709040B2 JP 5709040 B2 JP5709040 B2 JP 5709040B2 JP 2010241074 A JP2010241074 A JP 2010241074A JP 2010241074 A JP2010241074 A JP 2010241074A JP 5709040 B2 JP5709040 B2 JP 5709040B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
image
region
image sensor
spectral
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010241074A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012095124A (ja
Inventor
平井 秀明
秀明 平井
小林 正典
正典 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2010241074A priority Critical patent/JP5709040B2/ja
Priority to US13/275,572 priority patent/US8593631B2/en
Priority to EP11186131.6A priority patent/EP2447685B1/en
Publication of JP2012095124A publication Critical patent/JP2012095124A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5709040B2 publication Critical patent/JP5709040B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2823Imaging spectrometer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0208Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors; performing aberration correction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0224Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using polarising or depolarising elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0229Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using masks, aperture plates, spatial light modulators or spatial filters, e.g. reflective filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0256Compact construction
    • G01J3/0259Monolithic
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/18Diffraction gratings
    • G02B5/1814Diffraction gratings structurally combined with one or more further optical elements, e.g. lenses, mirrors, prisms or other diffraction gratings
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters

Description

本発明は、所定の撮像領域内における各地点の波長成分をそれぞれの地点に対応づけて2次元表現した分光画像を得るための分光画像撮像装置に関するものである。
従来、分光スペクトルを取得する装置として分光器が広く利用されている。一般的な分光器は、入射光をプリズムや回折格子を用いて複数の波長成分に分解し、各波長成分の光強度を受光素子で検出する。このような一般的な分光器では、入射光の分光スペクトルをその入射光の位置情報と対応付けて得ることはできない。近年、所定の撮像領域内における各地点からの光の波長成分をそれぞれの地点に対応づけて2次元表現した分光画像を撮像できる分光画像撮像装置が注目されている。この分光画像は、撮像領域内における各地点の波長成分の2次元分布を表現した画像であり、撮像領域内における各地点の波長成分を例えば階調の違いによって表現したものが挙げられる。分光スペクトルを取得する方式は、主として、波長選択フィルタ(バンドパスフィルタ、ローパス・ハイパスフィルタ)を用いる方式、プリズムや回折格子などの分散素子を用いる方式、フーリエ分光法を用いる方式の3つの方式に大別できる。従来、これらの方式をそれぞれ利用した分光画像撮像装置が提案されている。
波長選択フィルタを用いる方式を利用して分光画像を撮像可能な装置としては、例えば、特許文献1に記載された分光カメラヘッドが知られている。この分光カメラヘッドでは、波長選択フィルタを介して被写体からの入射光を2次元撮像素子で受光することにより、その波長選択フィルタに対応した波長成分の分光画像を得る。この分光カメラヘッドは、波長選択フィルタとして液晶波長チューナブルフィルタを利用することにより、動的に透過波長を切り替えることができる。よって、波長選択フィルタの透過波長を切り替えながら撮像することで、互いに異なる波長成分で撮像された複数の画像が得られる。これらの画像を合成することにより、撮像領域内における各地点の波長成分をそれぞれの地点に対応づけて2次元表現した分光画像を得ることができる。
分散素子を用いる方式を利用して分光画像を撮像可能な装置としては、例えば、非特許文献1に記載された平面分光測定器が知られている。この平面分光測定器は、直線状に並んだ各地点の位置情報の測定とスペクトル情報を同時に測定可能なイメージング分光器を用いる。このイメージング分光器を当該各地点の並び方向に対して直交する方向へ走査しながら撮像することにより、撮像領域内における各地点の波長成分をそれぞれの地点に対応づけて2次元表現した分光画像を得ることができる。
フーリエ分光法を用いる方式を利用した撮像装置としては、例えば、特許文献2に記載された分光装置が知られている。この分光装置は、入射光を2つの光路又は2つの偏光成分に分け、一方に位相差を与えることによって互いを干渉させる。そして、これにより得られる検出信号を計算機上でフーリエ変換することにより、分光スペクトルを得ることができる。この分光装置を用いて分光画像を得る場合には、例えば、互いに直交する2つの光路又は2つの偏光成分に与える位相差を変化させながら検出を行うことで、所定の波長範囲にわたる分光スペクトルの2次元分布を得ることが可能である。
ところが、上述した各方式で分光画像を得る場合、いずれも分光画像を得るまでに要する処理時間が長いので、分光画像をリアルタイムで高速に撮像する用途には適用することが困難であるという問題があった。
具体的には、波長選択フィルタを用いる方式においては、1回の撮像動作では1つの波長成分について2次元分布しか得られない。そのため、分光画像を得るには、互いに異なる波長成分で撮像された複数の画像を撮像し、これらの画像を合成する必要がある。そのため、複数回の撮像動作や複数の画像を合成する処理に時間がかかるので、分光画像を得るのに要する処理時間が長い。
また、分散素子を用いる方式において、分光画像を得るには、上記イメージング分光器を走査しながら撮像する必要があるため、その走査時間が必要な分だけ分光画像を得るのに要する処理時間が長くなる。
また、フーリエ分光法を用いる方式において、分光画像を得るには、2つの光路又は2つの偏光成分に与える位相差を変化させながら検出を行う必要があり、その検出に時間がかかる結果、分光画像を得るのに時間を要する。
本発明は、以上の問題に鑑みなされたものであり、その目的とするところは、分光画像を得るまでに要する処理時間が短い分光画像撮像装置を提供することである。
上記目的を達成するために、請求項1の発明は、所定の撮像領域内における各地点の波長成分をそれぞれの地点に対応づけて2次元表現した分光画像を得るために、該所定の撮像領域からの光を、光学フィルタを介して、2次元配置された画素アレイを有する画像センサで検出し、その検出結果を出力する分光画像撮像装置であって、上記光学フィルタとして、上記画像センサ上における1つの画素又は2以上の画素群で構成される単位領域に対応した格子パターンであって、所定の偏光成分を遮光する遮光領域と該所定の偏光成分を透過する透過領域とを交互に配置した格子パターンを有する回析格子を用い、上記遮光領域は、上記所定の偏光成分の偏光方向に沿って延びる多数の溝を該偏光方向に対して直交する方向に並べて配置した偏光子で構成されており、上記回析格子を通過した光の回析角度に応じた上記画像センサ上の干渉地点の違いにより、隣接する2つの単位領域間における受光量の差分値が異なるように構成し、隣接する2つの単位領域間における受光量の差分値を上記画像センサの検出結果に基づいて算出し、算出した各差分値に基づく差分値画像を出力することを特徴とするものである
た、請求項の発明は、請求項の分光画像撮像装置において、上記遮光領域の溝が伸びる方向に対して45°傾斜した方向に伸びる偏光部材を、光路上に設けたことを特徴とするものである。
また、請求項の発明は、請求項の分光画像撮像装置において、偏光解消部材を光路上に配置したことを特徴とするものである。
また、請求項4の発明は、所定の撮像領域内における各地点の波長成分をそれぞれの地点に対応づけて2次元表現した分光画像を得るために、該所定の撮像領域からの光を、光学フィルタを介して、2次元配置された画素アレイを有する画像センサで検出し、その検出結果を出力する分光画像撮像装置であって、上記光学フィルタとして、上記画像センサ上における1つの画素又は2以上の画素群で構成される単位領域に対応した格子パターンであって、非偏光を透過する透過領域と前記非偏光を遮光する遮光領域とを交互に配置した格子パターンを有する回析格子を用い、該回析格子を通過した光の回析角度に応じた上記画像センサ上の干渉地点の違いにより、隣接する2つの単位領域間における受光量の差分値が異なるように構成し、隣接する2つの単位領域間における受光量の差分値を上記画像センサの検出結果に基づいて算出し、算出した各差分値に基づく差分値画像を出力することを特徴とするものである。
また、請求項5の発明は、所定の撮像領域内における各地点の波長成分をそれぞれの地点に対応づけて2次元表現した分光画像を得るために、該所定の撮像領域からの光を、光学フィルタを介して、2次元配置された画素アレイを有する画像センサで検出し、その検出結果を出力する分光画像撮像装置であって、上記光学フィルタとして、上記画像センサ上における1つの画素又は2以上の画素群で構成される単位領域に対応した格子パターンであって、第1の偏光成分の光と第2の偏光成分の光の双方を透過する透過領域と前記第1の偏光成分は透過し前記第2の偏光成分の光は遮光する半透過領域とを交互に配置した格子パターンを有する回析格子を用い、該回析格子を通過した光の回析角度に応じた上記画像センサ上の干渉地点の違いにより、隣接する2つの単位領域間における受光量の差分値が異なるように構成し、隣接する2つの単位領域間における受光量の差分値を上記画像センサの検出結果に基づいて算出し、算出した各差分値に基づく差分値画像を出力することを特徴とするものである。
回析格子を通過した光が回析する際、その光の波長に応じて回析角度が変わってくるので、画像センサ上の干渉地点の位置も変わってくる。回析格子で回析させる光は、偏光でも非偏光でもよい。非偏光の場合は、例えば、非偏光を全透過させる領域と非偏光を全遮光させる領域とを交互に配置した格子パターンを有する回析格子を利用すればよい。一方、偏光の場合は、例えば、特定の偏光成分を透過する領域と当該特定の偏光成分を遮光する領域とを交互に配置した格子パターンを有する回析格子を利用すればよい。本発明においては、回析格子を通過して光の回析によって生じる干渉地点の違いが、隣接する2つの単位領域間における受光量の差に現れるように構成されている。よって、本発明において、隣接する2つの単位領域間における受光量の差分値(輝度値の差)から、当該隣接する2つの単位領域に対応した撮像領域内の地点からの光の波長成分を特定することができる。したがって、当該各差分値に基づく差分値画像は、所定の撮像領域内における各地点の波長成分をそれぞれの地点に対応づけて2次元表現した分光画像として用いることができる。なお、差分値画像は、当該各差分値の違いを、その差分値画像の画素ごとに、例えば、階調の違いで表したり、色の違いで表したりしたものが挙げられる。また、差分値画像は、当該差分値をそのまま輝度の違いや色の違いで表したものでもよいが、例えば、当該差分値を、当該隣接する2つの単位領域の受光量の合計値で割った指標値を階調の違いや色の違いで表したものでもよい。
そして、本発明によれば、1回の撮像動作で、分光画像として用いることができる差分値画像を得ることができるので、波長選択フィルタを用いる方式を利用した従来の分光画像撮像装置と比較して、分光画像を得るのに要する処理時間が短い。また、その撮像動作に際して、分散素子を用いる方式を利用した従来の分光画像撮像装置のように機器を走査したり、フーリエ分光法を用いる方式を利用した従来の分光画像撮像装置のように2つの光路又は2つの偏光成分に与える位相差を変化させながら検出を行ったりする必要がないので、これらの従来装置と比較しても分光画像を得るのに要する処理時間が短い。
以上、本発明によれば、分光画像撮像装置において分光画像を得るまでに要する処理時間を短くすることができるという優れた効果が得られる。
実施形態における撮像装置の概略構成を示す説明図である。 同撮像装置における光学フィルタと画像センサとを示す拡大図である。 同光学フィルタの格子パターンと同画像センサの画素との対応関係を示す説明図である。 同光学フィルタの偏光領域として利用可能なワイヤグリッド偏光子の拡大写真である。 構成例1における光学フィルタの説明図である。 同光学フィルタに、S偏光成分の光を入射させたときの測定結果を示す画像である。 構成例2における光学フィルタの説明図である。 同光学フィルタの斜視拡大図である。 同光学フィルタに、S偏光成分の光を入射させたときの測定結果を示す画像である。 構成例3における光学フィルタの偏光領域を、画像センサ上に重ねて示した説明図である。 同光学フィルタに、S偏光成分の光を入射させたときの測定結果を示す画像である。 (a)〜(c)は、分光画像生成方法1において、3種類の単一波長(450nm、550nm、650nm)の光を入射したときに信号処理部から出力される撮像画像の一部を示した拡大写真である。 (a)〜(c)は、分光画像生成方法1において、3種類の単一波長(450nm、550nm、650nm)の光を入射したときの画像センサ上の各画素の受光量(輝度値)のヒストグラムである。 分光画像生成方法1において、3種類の単一波長(450nm、550nm、650nm)の光を入射して得られる撮像画像のコントラスト指標値Icをプロットしたグラフである。 (a)〜(c)は、分光画像生成方法2において、3種類の単一波長(450nm、550nm、650nm)の光を入射したときに信号処理部5から出力される撮像画像の全体を示した写真である。 図15(a)〜(c)中の破線で囲った部分について、コントラスト指標値SPcの分布を計測した結果を示すヒストグラムである。 市販されているカラーチャートを撮影し、コントラスト指標値SPcに基づいて得られた分光画像である。 図17中のRで示す箇所、Gで示す箇所、Bで示す箇所について、コントラスト指標値SPcの分布を計測した結果を示すヒストグラムである。 偏光解消板の一例を示す説明図である。
以下、本発明に係る分光画像撮像装置(以下、単に「撮像装置」という。)の一実施形態について説明する。
図1は、本実施形態における撮像装置の概略構成を示す説明図である。
この撮像装置は、主に、撮像レンズ1と、光学フィルタ2と、2次元配置された画素アレイを有する画像センサ4を含んだセンサ基板3と、センサ基板3から出力されるアナログ電気信号をデジタル電気信号に変換した撮像画像データを生成して出力する信号処理部5と、信号処理部5から出力された撮像画像データから分光画像データを生成して出力する分光画像処理部6とから構成されている。被写体(被検物)を含む撮像領域からの光は、撮像レンズ1を通り、光学フィルタ2を透過して、画像センサ4でその光強度に応じた電気信号に変換される。信号処理部5では、画像センサ4から出力される電気信号(アナログ信号)が入力されると、その電気信号から、撮像画像データとして、画像センサ4上における各画素の明るさ(輝度)を示すデジタル信号を、画像の水平・垂直同期信号とともに後段の機器へ出力する。分光画像処理部6での画像処理の詳細については後述する。
図2は、光学フィルタ2と画像センサ4とを示す拡大図である。
画像センサ4は、CCD(Charge Coupled Device)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)などを用いたイメージセンサであり、その受光素子にはフォトダイオード4aを用いている。フォトダイオード4aは、画素ごとに2次元的にアレイ配置されており、フォトダイオード4aの集光効率を上げるために、各フォトダイオード4aの入射側にはマイクロレンズ4bが設けられている。この画像センサ4がワイヤボンディングなどの手法によりPWB(printed wiring board)に接合されてセンサ基板3が形成されている。画像センサ4のマイクロレンズ4b側の面には、光学フィルタ2が近接配置されている。光学フィルタ2の画像センサ4側の面には、図3に示すように、光を透過する透過領域2aと光を遮蔽する遮光領域2bとが2次元方向で交互に隣接するように格子状に配置されて市松状に領域分割された格子パターン(領域分割パターン)を有している。個々の透過領域2a及び遮光領域2bは、図3に示すように、それぞれ、画像センサ4上の一画素(1つのフォトダイオード4a)に対応するように配置されている。
本実施形態において、光学フィルタ2の透過領域2aを通過した光は遮光領域2bの背面側に回り込むように回析する。回折現象は波長依存性を有するものであり、長い波長ほど回折角は大きくなる(光束が広がる)。本実施形態は、後述するとおり、波長に応じた回折角の違いを利用して、分光画像を得るものである。
本実施形態の光学フィルタ2は、透過領域と遮光領域とをガラス平板上に形成したものを用いることができる。なお、本実施形態の狙いの回折を生じさせるためには、その格子パターンの周期が1波長から10波長程度とするのが好ましい。画像センサ4の画素サイズが数μmである場合、格子パターンの周期はその一画素分のサイズに形成すればよい。もちろん、格子パターンの格子幅と画像センサ4の画素サイズの幅とは1対1で対応していなくてもよく、例えば、1対M、すなわち、1つの格子幅が画素M個分の幅に対応したものであってもよい。また、光学フィルタ2の格子パターンは、2次元の周期構造である必要はなく、例えば、1次元の周期構造のものであってもよい。
また、光学フィルタ2は、透過領域2aと遮光領域2bを格子状に配置したものに限らず、例えば、光を完全に遮光する遮光領域2bに代えて特定の偏光成分のみを遮光する偏光領域を用いてもよい。このような偏光領域の一例としては、P偏光成分は透過するがS偏光成分は遮光するような偏光子として機能する偏光領域が挙げられる。仮に、本実施形態の光学フィルタ2において、遮光領域2bに代えて偏光領域を形成した場合、光学フィルタ2を透過する光のうちのS偏光成分は、偏光領域では遮光され、透過領域では回折する。一方、P偏光成分は、光学フィルタ2の全領域において全透過することになる。なお、ここでは、偏光成分として、互いに直交する2つの偏光成分(P偏光成分とS偏光成分)を例に挙げているが、偏光方向が互いに異なる偏光成分であれば同様である。
透過領域と偏光領域とからなる光学フィルタ2の場合、その偏光領域としては、例えば、液晶ディスプレイなどに用いられるヨウ素や染料を利用した有機系材料による偏光子を用いてもよいし、耐久性に優れたワイヤグリッド偏光子を用いてもよい。ワイヤグリッド偏光子は、図4に示すように、アルミニウムなどの金属で構成された導電体線が特定のピッチで格子状に配列されたものである。ワイヤグリッド偏光子のピッチが入射光(例えば可視光の波長である400〜800nm)に比べて十分に短いピッチ(例えば入射光の1/2以下)であれば、導電体線に対して平行に振動する電場ベクトル成分の光をほとんど反射し、導電体線に対して垂直な電場ベクトル成分の光をほとんど透過させることができるので、単一偏光を作り出す偏光子として使用できる。
ワイヤグリッド偏光子は、よく知られる半導体プロセス、すなわちアルミニウム薄膜を蒸着した後にパターニングを行い、メタルエッチングなどの手法によりワイヤグリッドのサブ波長凹凸構造を形成することで、製造することができる。なお、本実施形態のような格子パターンを形成するにあたっては、一様なワイヤグリッド層から上述した格子パターンに応じてワイヤグリッド部を除く方法と、一様にアルミニウムを蒸着した後に、格子パターンとワイヤグリッドの凹部形成を一括で作製する手法とが考えられる。後者の方が、工程数が少なくて済む。
なお、ワイヤグリッド偏光子を用いる場合の留意事項としては、金属ワイヤの断面積が増加すると消光比が増加してしまうことが挙げられる。また、周期幅に対する所定の幅以上の金属ワイヤでは透過率が減少してしまうことが挙げられる。また、金属ワイヤの長手方向に直交する断面形状がテーパ形状であると、広い帯域において透過率、偏光度の波長分散性が少なく、高い消光比特性を示してしまうことが挙げられる。金属ワイヤが配置されている面の耐擦傷性や防汚性を高めるために樹脂などで封止するのが好ましい。
〔構成例1〕
以下、本実施形態における光学フィルタ2の一構成例(以下、本構成例を「構成例1」という。)について説明する。
図5は、本構成例1における光学フィルタ2の説明図である。
本構成例1に係る光学フィルタ2は、P偏光成分もS偏光成分も透過する透過領域2aと、P偏光成分は透過するがS偏光成分は遮光する偏光領域2cとが、2次元方向で交互に隣接するように格子状に配置されて市松状に領域分割された格子パターンを有している。格子パターンの周期(格子幅)は、画像センサ4の画素ピッチに合わせて形成されている。
図6は、本発明者らが試作した本構成例1における光学フィルタ2に、S偏光成分の光を入射させたときの測定結果を示す画像である。試作した光学フィルタ2は、一つの格子サイズが約6μmとなるように、ワイヤグリッドがある領域とワイヤグリッドがない領域とをガラス平板上に形成したものであり、前者の領域が偏光領域2cとなり、後者の領域が透過領域2aとなっている。測定は、当該光学フィルタ2の裏面(出射面)にモノクロ輝度カメラを取り付け、当該光学フィルタ2に対してS偏光成分の光を照射し、当該光学フィルタ2を通過した光を当該モノクロ輝度カメラで撮影して行った。図6に示すように、黒くなっている部分は遮光されていることを示すものであり、S偏光成分の光はワイヤグリッドが形成されている偏光領域2cでは良好にカットされていることが確認できる。
〔構成例2〕
以下、本実施形態における光学フィルタ2の他の構成例(以下、本構成例を「構成例2」という。)について説明する。
図7は、本構成例2における光学フィルタ2の説明図である。
本構成例2に係る光学フィルタ2は、P偏光成分もS偏光成分も透過する透過領域2aと、P偏光成分は透過するがS偏光成分は遮光する偏光領域2cとが、1次元方向で交互に隣接するように格子状に配置されてストライプ状に領域分割された格子パターンを有している。格子パターンの周期(格子幅)は、画像センサ4の画素ピッチに合わせて形成されている。このようなストライプ状の格子パターンを有する光学フィルタ2であれば、画像センサ4との位置調整を行うにあたって、X方向のみの位置調整を行えばよく、市松状の格子パターンを有する光学フィルタ2と比べて、実装精度が緩和されるという利点がある。
図8は、本構成例2における光学フィルタ2の斜視拡大図である。
本構成例2における光学フィルタ2は、ガラス平板上にワイヤグリッドが形成された凹凸の周期構造を有するものであり、凸部はワイヤグリッドのサブ波長凹凸構造が形成されてなる。
図9は、本発明者らが試作した本構成例2における光学フィルタ2に、S偏光成分の光を入射させたときの測定結果を示す画像である。試作した光学フィルタ2は、ストライプ幅が約6μmとなるように、ワイヤグリッドがある領域とワイヤグリッドがない領域とをガラス平板上に形成したものであり、前者の領域が偏光領域2cとなり、後者の領域が透過領域2aとなっている。測定は、上記構成例1の場合と同様である。図9に示すように、黒くなっている部分は遮光されていることを示すものであり、S偏光成分の光はワイヤグリッドが形成されている偏光領域2cでは良好にカットされていることが確認できる。
〔構成例3〕
以下、本実施形態における光学フィルタ2の更に他の構成例(以下、本構成例を「構成例3」という。)について説明する。
図10は、本構成例3における光学フィルタ2の偏光領域2cを、画像センサ4上に重ねて示した説明図である。
本構成例3に係る光学フィルタ2は、透過領域2aと偏光領域2cとが1次元方向で交互に隣接するように格子状に配置されてストライプ状に領域分割された格子パターンを有している点で上記構成例2と同様である。しかしながら、上記構成例2では、偏光領域2cの長尺方向がY方向に並ぶ画素列の列方向と一致していたのに対し、本構成例3では、偏光領域2cの長尺方向が、Y方向に並ぶ画素列の列方向にもX方向に並ぶ画素列の列方向にも一致していない点で異なっている。
本構成例3の光学フィルタ2において、偏光領域2cは、図10に示すように、X方向に画像センサ4の一画素分の幅をもち、Y方向に画像センサ4の二画素分の幅を持っており、X方向一画素分についてY方向二画素分変位するように、画像センサ4上のX方向及びY方向に対して斜めに配置される。このような特殊な格子パターンと信号処理を組み合わせることによって、画像センサ4の画素配列と光学フィルタ2とを接合する際の位置合せの精度が悪くても、画面全体で光学フィルタの透過画像を再現することを可能とし、低コストを実現できる。
図11は、本発明者らが試作した本構成例3における光学フィルタ2に、S偏光成分の光を入射させたときの測定結果を示す画像である。試作した光学フィルタ2は、ストライプ幅が約6μmとなるように、ワイヤグリッドがある領域とワイヤグリッドがない領域とをガラス平板上に形成したものであり、前者の領域が偏光領域2cとなり、後者の領域が透過領域2aとなっている。測定は、上記構成例1の場合と同様である。図11に示すように、黒くなっている部分は遮光されていることを示すものであり、S偏光成分の光はワイヤグリッドが形成されている偏光領域2cでは良好にカットされていることが確認できる。
これらの構成例1〜3を含む本実施形態の光学フィルタ2は、画像センサ4の前段に設置される。その設置方法は、光学フィルタ2の凹凸構造面を画像センサ4の受光面と対向するような向きで近接配置の上、固定する。固定方法としては、画像センサ4の受光面周辺にスペーサを配置して光学フィルタ2を保持する方法や、光学フィルタ2の凹凸構造面と画像センサ4との間に接着剤を充填して接着する方法などが挙げられる。後者の方法の場合、光学フィルタ2と画像センサ4との間に接着剤が充填されるため、これらの間が空気層である場合と同程度の透過率性能を得るためには、高アスペクト比の構造とする必要があり、製造が難しくなる。この点で、前者の方法の方が好ましい。
光学フィルタ2を画像センサ4に取り付ける方法としては、画像センサ4をワイヤボンディングなどの手法によりPWB上に設置したセンサ基板3に、光学フィルタ2を後から固定(ASSY)する方法と、光学フィルタ2と画像センサ4を予め固着したものをPWB上に実装する方法とが考えられる。より望ましくは、画像センサ4のウエハと光学フィルタ2が形成されたウエハとを接着したものをダイシング加工することで低コストに作製することができる。
〔分光画像生成例1〕
次に、本実施形態における分光画像の生成方法の一例(以下「分光画像生成例1」という。)について説明する。
ここでは、透過領域2aと遮光領域2bとが2次元方向で交互に隣接するように格子状に配置された市松状の格子パターンを有する光学フィルタ2を用いた場合を例に挙げて説明する。
図12(a)〜(c)は、3種類の単一波長(450nm、550nm、650nm)の光を入射したときに信号処理部5から出力される撮像画像(RAW画像)の一部を示した拡大写真である。
この光学フィルタ2は、格子状に領域分割された各領域(透過領域2aと遮光領域2b)が画像センサ4の各画素に1対1で対応しているため、撮像画像中の明暗パターンは画素単位の繰り返しパターンである。図12(a)〜(c)に示すように、撮像画像の明暗パターンのコントラストは、入射光の波長によって変化していることが確認できる。なお、3種類の単一波長(450nm、550nm、650nm)の光は、白色光を、市販されているバンドパスフィルタに白色光を通過させて得たものである。これらのバンドパスフィルタは、650nm、550nm、450nmをそれぞれ中心波長とするものであり、いずれも透過波長幅は±40nmである。
入射光の波長によって撮像画像の明暗パターンのコントラストに違いが出るのは、光学フィルタ2の格子パターンの種類や、光学フィルタ2及び画像センサ4の配置等に起因する光学特性に依存するものである。ここでいう光学特性は、光学フィルタ2の分光透過率や散乱など様々な因子に起因するものであるが、主として、光学フィルタ2の格子パターンに起因した回折現象の影響を強く受ける。この回析現象の影響で、ある透過領域2aを通過した光束は、その透過領域2aに対応する画素だけでなく、これに隣接する画素にまで広がって受光される。そして、回折現象は波長依存性を有しており、長い波長ほど回折角が大きくなる傾向があるので、透過領域2aを通過した光の波長が長いほど、隣接画素に受光される光量が増え、逆に当該透過領域2aに対応する画素に受光される光量が減る。よって、透過領域2aを通過した光の波長が長いほど、透過領域2aに対応する画素とこれに隣接する遮光領域2bに対応する画素との間の受光量(輝度値)の差が小さくなり、コントラストが低くなる。
図13(a)〜(c)は、3種類の単一波長(450nm、550nm、650nm)の光を入射したときの画像センサ4上の各画素の受光量(輝度値)のヒストグラムである。
図13(a)〜(c)に示すように、いずれも、遮光領域2bに対応する画素(暗部の画素)の輝度値(低い方の輝度値)と、透過領域2aに対応する画素(明部の画素)の輝度値(高い方の輝度値)とで、ピークを示している。しかしながら、これらのピーク間における輝度差は、光学フィルタ2を通過した光の波長ごとに異なっている。具体的には、透過領域2aを通過した光の波長が長いほど、2つのピーク間の輝度差が小さくなっていることがわかる。
明部の輝度値をI1、暗部の輝度値をI2としたとき、明部と暗部のコントラストを示す指標値としては、明部の輝度値I1と暗部の輝度値I2との差分値(I1−I2)を用いることができるが、ここでは、この差分値を輝度合計値(I1+I2)で割った下記式(1)に示すコントラスト指標値Icを用いる。
Ic = (I1−I2)/(I1+I2) ・・・(1)
図14は、3種類の単一波長(450nm、550nm、650nm)の光を入射して得られる撮像画像のコントラスト指標値Icをプロットしたグラフである。
図14に示すように、コントラスト指標値Icは、波長依存性を示していることが確認できる。したがって、明部に対応する画素と暗部に対応する画素との間の輝度差分値を示すコントラスト指標値Icを演算することでこれらの画素に向けて入射している光の波長を算出することができる。
本実施形態では、隣接する2つの画素はそれぞれ明部と暗部に対応しているので、隣接する2つの画素のコントラスト指標値Icを算出することで、当該隣接する2つの画素に入射する光の波長を把握することができる。したがって、撮像画像全体について、隣接する2つの画素のコントラスト指標値Icを算出し、当該隣接する2つの画素に対応する位置に当該コントラスト指標値Icを配置してコントラスト指標値Icの2次元分布を作成すれば、その2次元分布は、撮像領域内における各地点の波長成分をそれぞれの地点に対応づけたものとなる。したがって、この2次元分布を、例えばコントラスト指標値Icの違いを階調の違いで表現した画像(差分値画像)で示せば、その画像を分光画像として用いることができる。
〔分光画像生成例2〕
次に、本実施形態における分光画像の生成方法の他の例(以下「分光画像生成例2」という。)について説明する。
ここでは、透過領域2aと偏光領域2cとが2次元方向で交互に隣接するように格子状に配置された市松状の格子パターンを有する光学フィルタ2を用いた場合を例に挙げて説明する。
上述した分光画像生成例1では、コントラスト指標値として、上記式(1)に示したように、Ic=(I1−I2)/(I1+I2)を用いた場合であるが、本分光画像生成例2では、コントラスト指標値SPcとして、SPc=(S−P)/(S+P)を用いる。ここで、「P」は、「P」はP偏光成分の透過強度であり、具体的には、P偏光成分は透過するがS偏光成分は遮光する偏光領域2cに対応する画素の輝度値である。一方、「S」は、S偏光成分の透過強度であり、透過領域2aに対応する画素の輝度値から、偏光領域2cに対応する画素の輝度値であるPを差し引いた値を用いている。
図15(a)〜(c)は、3種類の単一波長(450nm、550nm、650nm)の光を入射したときに信号処理部5から出力される撮像画像(RAW画像の一部)の全体を示した写真である。
図16は、図15(a)〜(c)中の破線で囲った部分について、コントラスト指標値SPc=(S−P)/(S+P)の分布を計測した結果を示すヒストグラムである。
図16に示すように、コントラスト指標値SPcは、波長依存性を有しており、具体的には、長い波長ほどコントラスト指標値SPcがマイナス方向へシフトする傾向がある。したがって、隣接する2つの画素の輝度値を利用してコントラスト指標値SPcを算出することにより、当該隣接する2つの画素に入射する光の波長を把握することができる。したがって、撮像画像全体について、隣接する2つの画素のコントラスト指標値SPcを算出し、当該隣接する2つの画素に対応する位置に当該コントラスト指標値SPcを配置してコントラスト指標値SPcの2次元分布を作成すれば、その2次元分布は、撮像領域内における各地点の波長成分をそれぞれの地点に対応づけたものとなる。したがって、この2次元分布を、例えばコントラスト指標値SPcの違いを階調の違いで表現した画像(差分値画像)で示せば、その画像を分光画像として用いることができる。
なお、図16に示すヒストグラムでは、コントラスト指標値SPcを−1以上+1以下の範囲で標記しているが、実際の画像出力として例えば256階調の階調の違いで表現する場合、例えば、同ヒストグラムの+1を黒とし−1を白として階調表現すれば、256階調のグレースケールの分光画像を得ることができる。このような分光画像をみれば、撮像領域の分光状態(波長の2次元分布)を可視情報として認識することができる。もちろん、すでに述べたとおり、波長に応じたカラーテーブルで表現してもよい。
図17は、本実施形態の撮像装置を用いて市販されているカラーチャートを撮影し、コントラスト指標値SPcに基づいて得られた分光画像である。図17中符号Rで示す箇所は赤色箇所であり、図17中符号Gで示す箇所は緑色箇所であり、図17中符号Bで示す箇所は青色箇所である。
図18は、図17中のRで示す箇所、Gで示す箇所、Bで示す箇所について、コントラスト指標値SPc=(S−P)/(S+P)の分布を計測した結果を示すヒストグラムである。
図17に示す分光画像上では、色の違い(波長の違い)が階調の違いによって現れていることが確認できる。また、図18に示すヒストグラムを見ても、色の違い(波長の違い)によってコントラスト指標値SPcが異なっていることがわかる。したがって、隣接する2つの画素の輝度値を利用してコントラスト指標値SPcを算出し、そのコントラスト指標値SPcの違いを階調の違いで表現した図17に示す画像は、所定の撮像領域内における各地点の波長成分をそれぞれの地点に対応づけて2次元表現した分光画像として用いることができる。
以上より、本実施形態の分光画像撮像装置によれば、撮像領域内の波長の2次元分布を画像(分光画像)として撮像できるので、1回の撮像動作で分光画像を得ることができる。また、隣接画素間の輝度値の差分値に基づくコントラスト指標値Ic,SPcを演算するだけで分光画像が得られるので、複数の画像データを合成するなどの画像処理を行う場合よりも処理負荷が少なく、処理時間も短時間で済む。その結果、従来に比べて高速に分光画像を撮影できるという利点がある。
しかも、本実施形態によれば、走査機構等の移動手段や液晶等のアクティブデバイスなどの動的な機構(分光画像の撮像に際して動作制御が必要となる機構)を用いず、スタティックな機構だけの構成で分光画像を撮像できる。したがって、耐候性、耐振動などに対して高信頼性のある撮像装置が実現できることに加える。しかも、アクティブデバイスを用いる場合には駆動回路なども必要となるが、本実施形態であればこのような駆動回路が必要ないので、安価でシンプルな構成を実現できる。その結果、従来に比べて小型な構成で分光画像が撮影できる。
特に、上述した構成例1〜3で説明したように、光学フィルタ2として、透過領域2aと、ワイヤグリッド偏光子が形成された偏光領域2cとからなる格子パターンのものを利用した場合、回析現象を利用したコントラスト指標値Icと、S偏光成分及びP偏光成分の関係を利用したコントラスト指標値SPcの両方のコントラスト指標値を一度の撮像動作で得ることができる。ただし、偏光情報と分光情報が混在しているシーンにおいては、それぞれを分離して評価したい場合がある。このような場合には、どちらか一方の情報を取り出し、取り出した情報から分光画像を生成すればよい。
例えば、偏光情報を排除して分光情報のみから分光画像を生成したい場合、撮像レンズ1の前段に、光学フィルタ2の偏光領域2cに形成されたグリッド線方向に対して45度回転させたグリッド線をもつ偏光子を配置すればよい。または、このような偏光子に代えて偏光解消板を配置してもよい。偏光解消板は、偏光状態から非偏光状態を作り出すものであり、例えば図19のように2枚の偏光子の偏光軸(偏光を通す方向)を直交するように貼り合わせることで作製できる。
逆に、分光情報を排除して偏光情報のみから分光画像を生成したい場合、特定の波長成分のみを透過するバンドパスフィルタを撮像レンズ1の前段に配置すればよい。
以上のような本実施形態に係る分光画像撮像装置は、例えば、食品、農業、FA(factory automation)などの各種計測装置に利用することが有用である。
具体的には、農作物の成長状態、収穫予測などを目的とした農業リモートセンシングに利用できる。この場合、基礎データとして、まず農場に植えられている葉の先端部のスペクトルデータを採取し、その位置でのタンパク含有量や収穫量などをサンプリング的に測定し、衛星画像から得られる分光画像から相関情報に基づき成長状態などを判断する。
また、食材の鮮度や味覚情報、可視化あるいは数値化して簡単に知るための用途にも利用できる。消費者においては、品質管理や食品としての安全性の確認のみならず、生産および流通技術面で鮮度や風味などに関する情報を生かすことも必要になっている。このような食品は主に近赤外域にスペクトル情報をもつことが知られているため、事前に食品情報或いはその状態変化に応じたスペクトル情報のテーブルを用意しておき、本実施形態の撮像装置で取得した分光画像と照らし合わせて、被検物情報として出力することが可能である。
また、近年、車両制御や運転者への警告などのために車両に撮像装置が搭載されてなる。このような車両搭載用の撮像装置として本実施形態の分光画像撮像装置を用いてもよい。例えば、本実施形態の分光画像撮像装置で得られる分光画像を用いれば、対向車及び先行車と、それ以外の反射体や発光帯のスペクトルとの違いを認識できるので、それぞれの光源の種類を識別して、対向車や先行車にはヘッドランプを当てないで、それ以外の対象にヘッドランプを当てるなど、夜間のヘッドランプの配光制御に利用できる。
また、近年、製造ラインの自動化が進んでおり、ロボットアームが物体認識してライン上を流れてきた多品種の部品から適宜判別の上、ピッキングするという技術が進化しているが、所謂モノクロ画像だけでは同一形状で色が異なる部品の判別はできない。そのような場合において、本実施形態の分光画像撮像装置を用いれば、そのような部品についても分類可能となる。
以上、本実施形態に係る分光画像撮像装置は、所定の撮像領域内における各地点の波長成分をそれぞれの地点に対応づけて2次元表現した分光画像を得るために、当該所定の撮像領域からの光を、光学フィルタ2を介して、2次元配置された画素アレイを有する画像センサ4で検出し、その検出結果を出力する。この分光画像撮像装置の光学フィルタ2は、画像センサ4上における1つの画素又は2以上の画素群(Y方向に直線状に並んだ多数の画素群や、斜め方向に直線状に並んだ多数の画素群)で構成される単位領域に対応した格子パターンを有する回析格子が用いられており、その回析格子を通過した光の回析角度に応じた画像センサ4上の干渉地点の違いにより、隣接する2つの単位領域間における受光量I1,I2の差分値(輝度差分値)が異なるように、格子幅や光学フィルタ2と画像センサ4との距離などが設定されている。本分光画像撮像装置によれば、隣接する2つの単位領域間における輝度差分値に相当するコントラスト指標値Ic=(I1−I2)/(I1+I2)を、画像センサの検出結果に基づいて算出し、そのコントラスト指標値Icに基づく差分値画像(当該隣接する2つの単位領域のコントラスト指標値Icの違いを階調の違いで表現した画像)を出力する。上記分光画像生成方法1で説明したとおり、出力される差分値画像において、コントラスト指標値Icの2次元分布は、撮像領域内における各地点の波長成分をそれぞれの地点に対応づけたものであるため、例えばコントラスト指標値Icの違いを階調の違いで表現した差分値画像は、分光画像として用いることができる。
また、光学フィルタ2として、所定の偏光成分であるS偏光成分を遮光する偏光領域2cとS偏光成分を透過する透過領域2aとを交互に配置した格子パターンを有する回析格子を用いてもよい。この場合、偏光領域2cに対応した単位領域で受光したP偏光成分についての受光量Pと、これに隣接する単位領域で受光した受光量から得られるS偏光成分についての受光量Sとの差分値に相当するコントラスト指標値SPc=(S−P)/(S+P)を、画像センサ4の検出結果に基づいて算出し、算出したコントラスト指標値SPcに基づく差分値画像(当該隣接する2つの単位領域のコントラスト指標値SPcの違いを階調の違いで表現した画像)を出力する。上記分光画像生成方法2で説明したとおり、出力される差分値画像において、コントラスト指標値SPcの2次元分布は、撮像領域内における各地点の波長成分をそれぞれの地点に対応づけたものであるため、例えばコントラスト指標値SPcの違いを階調の違いで表現した差分値画像は、分光画像として用いることができる。
また、本実施形態において、上記光学フィルタ2としては、上記偏光領域2cが、S偏光成分の偏光方向に沿って延びる多数の溝であるワイヤグリッドを当該偏光方向に対して直交する方向に並べて配置した偏光子で構成された回析格子を用いることができる。この場合、偏光情報と分光情報の両方を反映させた分光画像を得ることが可能となる。
ただし、偏光情報を排除して分光情報のみから分光画像を生成したい場合には、ワイヤグリッドが伸びる方向(S偏光成分の偏光方向)に対して45°傾斜した方向に伸びる偏光部材を光路上に設けたり、偏光解消部材を光路上に配置したりすればよい。
1 撮像レンズ
2 光学フィルタ
2a 透過領域
2b 遮光領域
2c 偏光領域
3 センサ基板
4 画像センサ
4a フォトダイオード
4b マイクロレンズ
5 信号処理部
6 分光画像処理部
Ic,SPc コントラスト指標値
特開2005−57541号公報 特開2005−31007号公報
「光アライアンス」,日本工業出版,1999年11月,p.4−9

Claims (5)

  1. 所定の撮像領域内における各地点の波長成分をそれぞれの地点に対応づけて2次元表現した分光画像を得るために、該所定の撮像領域からの光を、光学フィルタを介して、2次元配置された画素アレイを有する画像センサで検出し、その検出結果を出力する分光画像撮像装置であって、
    上記光学フィルタとして、上記画像センサ上における1つの画素又は2以上の画素群で構成される単位領域に対応した格子パターンであって、所定の偏光成分を遮光する遮光領域と該所定の偏光成分を透過する透過領域とを交互に配置した格子パターンを有する回析格子を用い、
    上記遮光領域は、上記所定の偏光成分の偏光方向に沿って延びる多数の溝を該偏光方向に対して直交する方向に並べて配置した偏光子で構成されており、
    上記回析格子を通過した光の回析角度に応じた上記画像センサ上の干渉地点の違いにより、隣接する2つの単位領域間における受光量の差分値が異なるように構成し、
    隣接する2つの単位領域間における受光量の差分値を上記画像センサの検出結果に基づいて算出し、算出した各差分値に基づく差分値画像を出力することを特徴とする分光画像撮像装置。
  2. 請求項の分光画像撮像装置において、
    上記遮光領域の溝が伸びる方向に対して45°傾斜した方向に伸びる偏光部材を、光路上に設けたことを特徴とする分光画像撮像装置。
  3. 請求項の分光画像撮像装置において、
    偏光解消部材を光路上に配置したことを特徴とする分光画像撮像装置。
  4. 所定の撮像領域内における各地点の波長成分をそれぞれの地点に対応づけて2次元表現した分光画像を得るために、該所定の撮像領域からの光を、光学フィルタを介して、2次元配置された画素アレイを有する画像センサで検出し、その検出結果を出力する分光画像撮像装置であって、
    上記光学フィルタとして、上記画像センサ上における1つの画素又は2以上の画素群で構成される単位領域に対応した格子パターンであって、非偏光を透過する透過領域と前記非偏光を遮光する遮光領域とを交互に配置した格子パターンを有する回析格子を用い、
    該回析格子を通過した光の回析角度に応じた上記画像センサ上の干渉地点の違いにより、隣接する2つの単位領域間における受光量の差分値が異なるように構成し、
    隣接する2つの単位領域間における受光量の差分値を上記画像センサの検出結果に基づいて算出し、算出した各差分値に基づく差分値画像を出力することを特徴とする分光画像撮像装置。
  5. 所定の撮像領域内における各地点の波長成分をそれぞれの地点に対応づけて2次元表現した分光画像を得るために、該所定の撮像領域からの光を、光学フィルタを介して、2次元配置された画素アレイを有する画像センサで検出し、その検出結果を出力する分光画像撮像装置であって、
    上記光学フィルタとして、上記画像センサ上における1つの画素又は2以上の画素群で構成される単位領域に対応した格子パターンであって、第1の偏光成分の光と第2の偏光成分の光の双方を透過する透過領域と前記第1の偏光成分は透過し前記第2の偏光成分の光は遮光する半透過領域とを交互に配置した格子パターンを有する回析格子を用い、
    該回析格子を通過した光の回析角度に応じた上記画像センサ上の干渉地点の違いにより、隣接する2つの単位領域間における受光量の差分値が異なるように構成し、
    隣接する2つの単位領域間における受光量の差分値を上記画像センサの検出結果に基づいて算出し、算出した各差分値に基づく差分値画像を出力することを特徴とする分光画像撮像装置。
JP2010241074A 2010-10-27 2010-10-27 分光画像撮像装置 Expired - Fee Related JP5709040B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010241074A JP5709040B2 (ja) 2010-10-27 2010-10-27 分光画像撮像装置
US13/275,572 US8593631B2 (en) 2010-10-27 2011-10-18 Spectral image acquiring apparatus
EP11186131.6A EP2447685B1 (en) 2010-10-27 2011-10-21 Spectral image acquiring apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010241074A JP5709040B2 (ja) 2010-10-27 2010-10-27 分光画像撮像装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012095124A JP2012095124A (ja) 2012-05-17
JP5709040B2 true JP5709040B2 (ja) 2015-04-30

Family

ID=45065645

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010241074A Expired - Fee Related JP5709040B2 (ja) 2010-10-27 2010-10-27 分光画像撮像装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8593631B2 (ja)
EP (1) EP2447685B1 (ja)
JP (1) JP5709040B2 (ja)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012093248A (ja) * 2010-10-27 2012-05-17 Ricoh Co Ltd 分光画像撮像装置
JP5995140B2 (ja) * 2012-01-19 2016-09-21 株式会社リコー 撮像装置及びこれを備えた車両システム並びに画像処理方法
JP5929338B2 (ja) * 2012-03-09 2016-06-01 株式会社リコー 撮像装置、分光情報作成方法
JP2014041332A (ja) * 2012-07-23 2014-03-06 Ricoh Co Ltd 偏光装置及び撮像装置
WO2016086043A1 (en) * 2014-11-24 2016-06-02 Massachusetts Institute Of Technology Methods and apparatus for spectral imaging
JP2017097121A (ja) * 2015-11-20 2017-06-01 シャープ株式会社 分光デバイス及び撮像装置
JP6744005B2 (ja) * 2016-03-02 2020-08-19 国立大学法人 香川大学 分光測定装置
CN108174059B (zh) 2016-12-08 2021-04-13 松下知识产权经营株式会社 摄像装置
WO2019032735A1 (en) 2017-08-08 2019-02-14 Massachusetts Institute Of Technology SYSTEMS AND METHODS FOR RAMAN SPECTROMETER WITH MINIATURIZED FOURIER TRANSFORM
CN111788824B (zh) * 2018-03-06 2022-07-08 索尼公司 图像处理设备、成像设备以及图像处理方法
WO2020006337A1 (en) 2018-06-28 2020-01-02 Massachusetts Institute Of Technology Systems and methods for raman spectroscopy
US10983003B2 (en) 2019-02-11 2021-04-20 Massachusetts Institute Of Technology High-performance on-chip spectrometers and spectrum analyzers

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2567036B2 (ja) * 1988-05-10 1996-12-25 キヤノン株式会社 光学式エンコーダ
US5020910A (en) 1990-03-05 1991-06-04 Motorola, Inc. Monolithic diffraction spectrometer
JPH0821703B2 (ja) 1990-07-17 1996-03-04 株式会社東芝 固体撮像素子
US5731874A (en) * 1995-01-24 1998-03-24 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Discrete wavelength spectrometer
US5812629A (en) * 1997-04-30 1998-09-22 Clauser; John F. Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
US7219086B2 (en) * 1999-04-09 2007-05-15 Plain Sight Systems, Inc. System and method for hyper-spectral analysis
US7050675B2 (en) 2000-11-27 2006-05-23 Advanced Interfaces, Llc Integrated optical multiplexer and demultiplexer for wavelength division transmission of information
AU2002333890A1 (en) * 2001-08-31 2003-03-10 Centre National De La Recherche Scientifique Optical transmission apparatus with directionality and divergence control
JP2005031007A (ja) 2003-07-10 2005-02-03 Tatsuo Uchida 液晶を用いた分光装置
JP2005057541A (ja) 2003-08-05 2005-03-03 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> 分光カメラヘッド
JP4192867B2 (ja) * 2004-08-30 2008-12-10 ソニー株式会社 物理情報取得装置、複数の単位構成要素が配列されてなる物理量分布検知の半導体装置、並びに半導体装置の製造方法
WO2007044612A2 (en) * 2005-10-07 2007-04-19 Bioptigen, Inc. Imaging systems using unpolarized light and related methods and controllers
JP2008191097A (ja) * 2007-02-07 2008-08-21 Tohoku Univ 分光計測装置
JP5039621B2 (ja) * 2008-03-25 2012-10-03 富士フイルム株式会社 電子内視鏡装置
JP5610254B2 (ja) 2008-06-18 2014-10-22 株式会社リコー 撮像装置及び路面状態判別方法
JP2011089895A (ja) * 2009-10-22 2011-05-06 Arata Satori ハイパースペクトル撮像装置及びハイパースペクトル撮像方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012095124A (ja) 2012-05-17
US8593631B2 (en) 2013-11-26
US20120105843A1 (en) 2012-05-03
EP2447685A1 (en) 2012-05-02
EP2447685B1 (en) 2017-02-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5709040B2 (ja) 分光画像撮像装置
Cao et al. A prism-mask system for multispectral video acquisition
US11209664B2 (en) 3D imaging system and method
KR101721455B1 (ko) 멀티-스펙트럼 이미징
JP6524617B2 (ja) 撮像装置および方法
KR101265432B1 (ko) 촬상 소자 및 이것을 사용하는 촬상 장치
JP2016090576A (ja) 撮像装置、分光システム、および分光方法
EP2201752A2 (en) One chip image sensor for measuring vitality of subject
US20170019663A1 (en) Depth-spatial frequency-response assessment
CN108259865A (zh) 一种基于单像素探测器的彩色成像方法和系统
US10319764B2 (en) Image sensor and electronic device
US9426383B1 (en) Digital camera for capturing spectral and spatial information
US9188480B2 (en) Color filter array and image sensor
KR101125842B1 (ko) 3파장 디지털 홀로그래픽 현미경의 자료처리 방법
JP6923897B2 (ja) フィルタ、画像撮影装置および画像撮影システム
Garcia et al. A 1300× 800, 700 mW, 30 fps spectral polarization imager
JP2014003433A (ja) 撮像装置
JP2015513824A (ja) イメージング
JP2012093248A (ja) 分光画像撮像装置
JP2015210124A (ja) 農業用監視カメラ
CN103335712B (zh) 基于三边滤波的光谱时空域传播方法
JP5929338B2 (ja) 撮像装置、分光情報作成方法
WO2022234753A1 (ja) 固体撮像装置及び電子機器
WO2024047944A1 (ja) 校正用部材、筐体装置、校正装置、校正方法、及びプログラム
SHINODA Multispectral Polarization Filter Array

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130919

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140414

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140530

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140707

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150206

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150219

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5709040

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees