JP5662052B2 - Elastic wave device - Google Patents

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Description

本発明は、弾性表面波(SAW:Surface Acoustic Wave)装置や圧電薄膜共振器(FBAR:Film Bulk Acoustic Resonator)等の弾性波装置及びその製造方法に関する。   The present invention relates to an acoustic wave device such as a surface acoustic wave (SAW) device and a piezoelectric thin film resonator (FBAR), and a method for manufacturing the same.

基板と、基板の主面上に設けられた弾性波素子と、弾性波素子を封止するカバーと、基板の主面に立てて設けられ、カバーを貫通する端子とを有する弾性波装置が知られている(例えば特許文献1)。このような弾性波装置では、弾性波素子上には、カバーにより、弾性波の伝搬を容易化するための振動空間が形成されている。特許文献1の技術では、振動空間は直方体状に形成され、また、端子は円柱状に形成されている。   An acoustic wave device having a substrate, an acoustic wave element provided on the principal surface of the substrate, a cover for sealing the acoustic wave element, and a terminal provided on the principal surface of the substrate and penetrating the cover is known. (For example, Patent Document 1). In such an elastic wave device, a vibration space for facilitating the propagation of elastic waves is formed on the elastic wave element by a cover. In the technique of Patent Document 1, the vibration space is formed in a rectangular parallelepiped shape, and the terminal is formed in a cylindrical shape.

特開2002−232260号公報JP 2002-232260 A

本願発明者は、実験により、弾性波装置に過酷な温度変化を生じさせた場合、端子の周囲を起点としてカバーにクラックが発生することを発見した。そして、鋭意検討の結果、本願発明者は、そのクラックの原因として、端子周囲においては、カバーの外壁面又は内壁面と、端子の側面との間において、カバーが薄肉になり、応力が集中し易いことが挙げられることを突き止めた。   The inventor of the present application has discovered through experiments that cracks are generated in the cover starting from the periphery of the terminal when a severe temperature change is caused in the acoustic wave device. As a result of intensive studies, the inventor of the present application, as a cause of the crack, the cover is thin between the outer wall surface or inner wall surface of the cover and the side surface of the terminal around the terminal, and stress is concentrated. I found out that it was easy.

一方、端子は、カバーからの抜けを抑制するためなどに、ある程度の太さ(断面積)で形成されることが好ましく、また、カバーは小型化が要求されている。これらの要求は、端子周囲におけるカバーの肉厚増大の要求とトレードオフの関係にある。   On the other hand, the terminals are preferably formed with a certain thickness (cross-sectional area) in order to prevent the terminal from coming off, and the cover is required to be downsized. These requirements are in a trade-off relationship with the requirement for increasing the thickness of the cover around the terminals.

本発明の目的は、カバーの端子付近における強度向上を図ることが可能な弾性波装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide an elastic wave device capable of improving strength in the vicinity of a terminal of a cover.

本発明の第1の観点に係る弾性波装置は、基板と、前記基板の主面に設けられた弾性波素子と、前記弾性波素子を収容する振動空間の一部を構成する内壁面、および前記振動空間とは面しない外側の面である外壁面を有するカバーと、前記主面に配置され、前記内壁面と前記外壁面との間において前記カバーを縦方向に貫通する端子と、を有し、前記主面の平面視において、前記内壁面又は前記外壁面の一部である所定壁面と、前記端子の側面のうち前記所定壁面側に位置する近接面との幾何学的関係は、前記所定壁面と、前記端子の断面形状に収まる最大の仮想円の円周との幾何学的関係よりも、平行に近い。   An elastic wave device according to a first aspect of the present invention includes a substrate, an elastic wave element provided on a main surface of the substrate, an inner wall surface constituting a part of a vibration space that houses the elastic wave element, and A cover having an outer wall surface that is an outer surface that does not face the vibration space; and a terminal that is disposed on the main surface and penetrates the cover in a vertical direction between the inner wall surface and the outer wall surface. In a plan view of the main surface, a geometrical relationship between a predetermined wall surface that is a part of the inner wall surface or the outer wall surface and a proximity surface located on the predetermined wall surface side of the side surface of the terminal is The geometrical relationship between the predetermined wall surface and the circumference of the largest virtual circle that fits in the cross-sectional shape of the terminal is closer to parallel.

本発明の第2の観点に係る弾性波装置は、基板と、前記基板の主面に設けられた弾性波素子と、前記弾性波素子を収容する振動空間の一部を構成する内壁面、および前記振動空間とは面しない外側の面である外壁面を有するカバーと、前記主面に配置され、前記内壁面と前記外壁面との間において前記カバーを縦方向に貫通する端子と、を有し、前記端子は、前記端子の側面から突出して前記カバーの上面に積層されるフランジを有し、前記主面の平面視において、前記端子の前記フランジを含む上端面は、三角形、若しくは、五角形以上の多角形、又は、曲線の輪郭を含む形状に形成されており、前記内壁面又は前記外壁面である所定壁面と、前記端子の前記上端面の外周縁部のうち前記所定壁面側に位置する近接縁部との幾何学的関係は、前記所定壁面と、前記端子の前記上端面に収まる最大の仮想円の円周との幾何学的関係よりも、平行に近い。   An acoustic wave device according to a second aspect of the present invention includes a substrate, an acoustic wave element provided on a main surface of the substrate, an inner wall surface constituting a part of a vibration space that houses the acoustic wave element, and A cover having an outer wall surface that is an outer surface that does not face the vibration space; and a terminal that is disposed on the main surface and penetrates the cover in a vertical direction between the inner wall surface and the outer wall surface. The terminal has a flange that protrudes from a side surface of the terminal and is stacked on the upper surface of the cover, and an upper end surface including the flange of the terminal in a plan view of the main surface has a triangular or pentagonal shape. It is formed in the shape including the above polygon or the contour of the curve, and is located on the predetermined wall surface side among the predetermined wall surface which is the inner wall surface or the outer wall surface and the outer peripheral edge portion of the upper end surface of the terminal. The geometric relationship with the adjacent edge Wherein the predetermined wall surface, than the geometric relationship between the circumference of the largest imaginary circle that will fit in the upper end surface of the terminal, nearly parallel.

上記の構成によれば、カバーの端子付近における強度向上を図ることができる。   According to said structure, the strength improvement in the terminal vicinity of a cover can be aimed at.

本発明の第1の実施形態に係るSAW装置の外観斜視図である。1 is an external perspective view of a SAW device according to a first embodiment of the present invention. 図1のSAW装置を一部を破断した状態で示す概略斜視図である。FIG. 2 is a schematic perspective view showing the SAW device of FIG. 1 in a partially broken state. 図1のSAW装置の基板の主面上の配線構造を示す模式的な平面図である。FIG. 2 is a schematic plan view showing a wiring structure on a main surface of a substrate of the SAW device of FIG. 1. 図3のIV−IV線における断面図である。It is sectional drawing in the IV-IV line of FIG. 図5(a)〜図5(d)は図1のSAW装置の製造方法を説明する断面図である。5A to 5D are cross-sectional views illustrating a method for manufacturing the SAW device of FIG. 図6(a)〜図6(c)は図5(d)の続きを示す断面図である。6 (a) to 6 (c) are cross-sectional views showing a continuation of FIG. 5 (d). 第1の実施形態の効果を説明する模式的な平面図である。It is a typical top view explaining the effect of a 1st embodiment. 第2の実施形態に係るSAW装置を説明する模式的な平面図である。It is a typical top view explaining the SAW device concerning a 2nd embodiment. 第3の実施形態に係るSAW装置を示す基板の主面に平行な断面図である。It is sectional drawing parallel to the main surface of the board | substrate which shows the SAW apparatus which concerns on 3rd Embodiment. 第4の実施形態に係るSAW装置を示す基板の主面に平行な断面図である。It is sectional drawing parallel to the main surface of the board | substrate which shows the SAW apparatus which concerns on 4th Embodiment. 第5の実施形態に係るSAW装置を示す図4に相当する断面図である。It is sectional drawing equivalent to FIG. 4 which shows the SAW apparatus which concerns on 5th Embodiment. 図12(a)〜図12(c)は図11のSAW装置の製造方法を説明する断面図である。12A to 12C are cross-sectional views illustrating a method for manufacturing the SAW device of FIG. 第6の実施形態に係るSAW装置を示す基板の主面に平行な断面図の一部拡大図である。It is a partially expanded view of a cross-sectional view parallel to the main surface of a substrate showing a SAW device according to a sixth embodiment. 第7の実施形態に係るSAW装置を示す基板の主面に平行な断面図の一部拡大図である。It is a partially expanded view of a cross-sectional view parallel to the main surface of a substrate showing a SAW device according to a seventh embodiment. 第8の実施形態に係るSAW装置を示す図4に相当する断面図である。It is sectional drawing equivalent to FIG. 4 which shows the SAW apparatus which concerns on 8th Embodiment.

以下、本発明の実施形態に係るSAW装置について、図面を参照して説明する。なお、以下の説明で用いられる図は模式的なものであり、図面上の寸法比率等は現実のものとは必ずしも一致していない。   Hereinafter, a SAW device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Note that the drawings used in the following description are schematic, and the dimensional ratios and the like on the drawings do not necessarily match the actual ones.

また、説明対象の実施形態において、既に説明された実施形態と同一又は類似する構成については、既に説明された実施形態と同一の符号を付すことがあり、また、説明を省略することがある。   In the embodiment to be described, the same or similar configuration as the already described embodiment may be denoted by the same reference numeral as the already described embodiment, and the description may be omitted.

符号は、同一又は類似する構成のものについて、「第1端子7A〜第6端子7F」などのように、大文字のアルファベットの付加符号を付すことがある。また、この場合において、単に「端子7」というなど、名称の頭の番号、及び、上記の付加符号を省略することがあるものとする。   For the same or similar configuration, an uppercase alphabetic additional code may be added, such as “first terminal 7A to sixth terminal 7F”. In this case, the number at the beginning of the name, such as simply “terminal 7”, and the above additional code may be omitted.

<第1の実施形態>
(SAW装置の構成)
図1は、本発明の第1の実施形態に係るSAW装置1の外観斜視図である。
<First Embodiment>
(Configuration of SAW device)
FIG. 1 is an external perspective view of a SAW device 1 according to the first embodiment of the present invention.

SAW装置1は、いわゆるウェハレベルパッケージ(WLP)形のSAW装置により構成されている。SAW装置1は、基板3と、基板3に固定されたカバー5と、カバー5から露出する第1端子7A〜第6端子7Fと、基板3のカバー5とは反対側に設けられた裏面部9とを有している。   The SAW device 1 is a so-called wafer level package (WLP) type SAW device. The SAW device 1 includes a substrate 3, a cover 5 fixed to the substrate 3, first terminals 7 </ b> A to 6 </ b> F exposed from the cover 5, and a back surface portion provided on the side opposite to the cover 5 of the substrate 3. 9.

SAW装置1は、複数の端子7のいずれかを介して信号の入力がなされる。入力された信号は、SAW装置1によりフィルタリングされる。そして、SAW装置1は、フィルタリングした信号を複数の端子7のいずれかを介して出力する。SAW装置1は、例えば、カバー5側の面を不図示の回路基板等の実装面に対向させて当該実装面に載置された状態で樹脂封止されることにより、端子7を実装面上の端子に接続した状態で実装される。   Signals are input to the SAW device 1 via any of the plurality of terminals 7. The input signal is filtered by the SAW device 1. Then, the SAW device 1 outputs the filtered signal via any of the plurality of terminals 7. The SAW device 1 is, for example, resin-sealed in a state where the surface on the cover 5 side faces a mounting surface such as a circuit board (not shown) and is placed on the mounting surface, whereby the terminal 7 is placed on the mounting surface. It is mounted while connected to the terminal.

基板3は、圧電基板により構成されている。具体的には、例えば、基板3は、タンタル酸リチウム単結晶,ニオブ酸リチウム単結晶等の圧電性を有する直方体状の単結晶基板である。基板3は、第1主面3aと、その背面側の第2主面3bとを有している。基板3の平面形状は適宜に設定されてよいが、例えば、Y方向を長手方向とする矩形である。基板3の大きさは適宜に設定されてよいが、例えば、厚さは0.2mm〜0.5mm、1辺の長さは0.5mm〜2mmである。   The substrate 3 is composed of a piezoelectric substrate. Specifically, for example, the substrate 3 is a rectangular parallelepiped single crystal substrate having piezoelectricity such as a lithium tantalate single crystal or a lithium niobate single crystal. The board | substrate 3 has the 1st main surface 3a and the 2nd main surface 3b of the back side. The planar shape of the substrate 3 may be set as appropriate. For example, the substrate 3 is a rectangle whose longitudinal direction is the Y direction. Although the magnitude | size of the board | substrate 3 may be set suitably, for example, thickness is 0.2 mm-0.5 mm, and the length of 1 side is 0.5 mm-2 mm.

カバー5は、第1主面3aを覆うように設けられている。カバー5の平面形状は、例えば、基板3の平面形状と同様であり、本実施形態では、Y方向を長手方向とする矩形である。カバー5は、例えば、第1主面3aと概ね同等の広さを有し、第1主面3aの概ね全面を覆っている。   The cover 5 is provided so as to cover the first main surface 3a. The planar shape of the cover 5 is, for example, the same as the planar shape of the substrate 3, and in the present embodiment, it is a rectangle having the Y direction as the longitudinal direction. The cover 5 has, for example, a width approximately equal to that of the first main surface 3a and covers almost the entire surface of the first main surface 3a.

複数の端子7は、カバー5の上面(基板3とは反対側の面)から露出している。複数の端子7の数及び配置位置は、SAW装置1の内部の電子回路の構成に応じて適宜に設定される。本実施形態では、6つの端子7がカバー5の外周に沿って配列されている。   The plurality of terminals 7 are exposed from the upper surface of the cover 5 (surface opposite to the substrate 3). The number and arrangement position of the plurality of terminals 7 are appropriately set according to the configuration of the electronic circuit inside the SAW device 1. In the present embodiment, six terminals 7 are arranged along the outer periphery of the cover 5.

裏面部9は、特に図示しないが、例えば、第2主面3bの概ね全面を覆う裏面電極と、裏面電極を覆う絶縁性の保護層とを有している。裏面電極により、温度変化等により基板3表面にチャージされた電荷が放電される。保護層により、基板3の損傷が抑制される。なお、以下では、裏面部9は、図示や説明が省略されることがある。   Although not particularly illustrated, the back surface portion 9 includes, for example, a back electrode that covers substantially the entire second main surface 3b and an insulating protective layer that covers the back electrode. The back surface electrode discharges the charge charged on the surface of the substrate 3 due to a temperature change or the like. Damage to the substrate 3 is suppressed by the protective layer. In addition, below, illustration and description of the back surface part 9 may be omitted.

図2は、カバー5の一部を破断して示すSAW装置1の斜視図である。   FIG. 2 is a perspective view of the SAW device 1 with a part of the cover 5 cut away.

カバー5は、枠状に形成され、第1主面3a上に配置された枠部35と、枠部35の開口を塞ぐ蓋部37とを有している。そして、第1主面3a(厳密には後述する保護層25)、枠部35及び蓋部37により囲まれた空間により、後述するSAW素子11(図3参照)の振動を容易化する第1振動空間10A及び第2振動空間10Bが形成されている。   The cover 5 is formed in a frame shape, and includes a frame portion 35 disposed on the first main surface 3 a and a lid portion 37 that closes the opening of the frame portion 35. The first main surface 3a (strictly, a protective layer 25 described later), a space surrounded by the frame portion 35 and the lid portion 37, facilitates vibration of the SAW element 11 (see FIG. 3) described later. A vibration space 10A and a second vibration space 10B are formed.

カバー5は、内側に面して振動空間10を構成する内壁面5a、及び、外側に面する外壁面5bを有している。なお、内壁面5aは、枠部35により構成されている。外壁面5bは、枠部35及び蓋部37により構成されている。   The cover 5 has an inner wall surface 5a that faces the inner side and forms the vibration space 10, and an outer wall surface 5b that faces the outer side. The inner wall surface 5a is constituted by a frame portion 35. The outer wall surface 5 b includes a frame part 35 and a lid part 37.

枠部35は、概ね一定の厚さの層に振動空間10となる開口が形成されることにより構成されている。枠部35の厚さ(振動空間10の高さ)は、例えば、数μm〜30μmである。蓋部37は、枠部35上に積層される、概ね一定の厚さの層により構成されている。蓋部37の厚さは、例えば、数μm〜30μmである。   The frame portion 35 is configured by forming an opening that becomes the vibration space 10 in a layer having a substantially constant thickness. The thickness of the frame part 35 (height of the vibration space 10) is, for example, several μm to 30 μm. The lid portion 37 is configured by a layer having a substantially constant thickness that is stacked on the frame portion 35. The thickness of the lid part 37 is, for example, several μm to 30 μm.

枠部35及び蓋部37は、例えば、感光性の樹脂により形成されている。感光性の樹脂は、例えば、アクリル基やメタクリル基などのラジカル重合により硬化する、ウレタンアクリレート系、ポリエステルアクリレート系、エポキシアクリレート系の樹脂である。   The frame part 35 and the cover part 37 are made of, for example, photosensitive resin. The photosensitive resin is, for example, a urethane acrylate-based, polyester acrylate-based, or epoxy acrylate-based resin that is cured by radical polymerization of an acryl group or a methacryl group.

枠部35及び蓋部37は、同一の材料により形成されていてもよいし、互いに異なる材料により形成されていてもよい。本願では、説明の便宜上、枠部35と蓋部37との境界線を明示しているが、現実の製品においては、枠部35と蓋部37とが同一材料により形成され、一体的に形成されていてもよい。   The frame part 35 and the cover part 37 may be formed of the same material, or may be formed of different materials. In the present application, for convenience of explanation, the boundary line between the frame portion 35 and the lid portion 37 is clearly shown. However, in an actual product, the frame portion 35 and the lid portion 37 are formed of the same material and are integrally formed. May be.

端子7は、図2では第6端子7Fにおいてよく表れているように、第1主面3aに立てて設けられており、カバー5に形成された孔部5hを介してカバー5の上面に露出している。具体的には、端子7は、内壁面5aと外壁面5bとの間において、枠部35及び蓋部37を第1主面3aの面する方向へ貫通している。   The terminal 7 is provided upright on the first main surface 3a and is exposed to the upper surface of the cover 5 through a hole 5h formed in the cover 5, as is apparent from the sixth terminal 7F in FIG. doing. Specifically, the terminal 7 passes through the frame portion 35 and the lid portion 37 between the inner wall surface 5a and the outer wall surface 5b in the direction in which the first main surface 3a faces.

また、端子7は、柱状に形成された柱状部7aと、柱状部7aの側面から突出するフランジ7bとを有している。柱状部7aは、カバー5を貫通し、フランジ7bは、カバー5の上面に積層されている。端子7の、フランジ7bを含む上端面は、回路基板などに接続されるランド7cを構成している。   Moreover, the terminal 7 has the columnar part 7a formed in the column shape, and the flange 7b which protrudes from the side surface of the columnar part 7a. The columnar portion 7 a penetrates the cover 5, and the flange 7 b is laminated on the upper surface of the cover 5. The upper end surface of the terminal 7 including the flange 7b constitutes a land 7c connected to a circuit board or the like.

フランジ7bは、柱状部7aの全周に亘って形成されるとともに、概ね一定の幅で形成されている。従って、ランド7cの形状は、柱状部7aの第1主面3aに平行な断面の形状に対して、一周り大きい相似形となっている。   The flange 7b is formed over the entire circumference of the columnar portion 7a and has a substantially constant width. Therefore, the shape of the land 7c is similar to that of the cross section parallel to the first main surface 3a of the columnar portion 7a.

第1主面3aには、SAW素子11(図3)に接続された第1パッド13A〜第6パッド13F(図2では一部のみ示す)が設けられている。端子7は、パッド13上に設けられることにより、SAW素子11と接続されている。なお、パッド13の平面形状は、端子7がその範囲に収まるものであればどのようなものでもよいが、柱状部7aの第1主面3aに平行な断面の形状に対して、一周り大きい相似形となっていることが好ましい。   The first main surface 3a is provided with a first pad 13A to a sixth pad 13F (only a part is shown in FIG. 2) connected to the SAW element 11 (FIG. 3). The terminal 7 is connected to the SAW element 11 by being provided on the pad 13. The planar shape of the pad 13 may be any as long as the terminal 7 is within the range, but is slightly larger than the shape of the cross section parallel to the first main surface 3a of the columnar portion 7a. A similar shape is preferred.

図3は、基板3の第1主面3aにおける配線構造を示す模式的な平面図である。なお、図3においては、振動空間10の範囲(内壁面5aの形状)、柱状部7aの断面形状、及び、ランド7c(フランジ7b)の形状を2点鎖線で示している。また、この平面図を参照する説明においては、基板3の輪郭を外壁面5bの輪郭として参照することがある。   FIG. 3 is a schematic plan view showing a wiring structure on the first main surface 3 a of the substrate 3. In FIG. 3, the range of the vibration space 10 (the shape of the inner wall surface 5a), the cross-sectional shape of the columnar portion 7a, and the shape of the land 7c (flange 7b) are indicated by a two-dot chain line. In the description with reference to the plan view, the outline of the substrate 3 may be referred to as the outline of the outer wall surface 5b.

第1主面3aには、第1SAW素子11A及び第2SAW素子11Bが設けられている。第1SAW素子11Aは、例えば、SAW共振子であり、第2SAW素子11Bは、例えば、SAWフィルタである。   A first SAW element 11A and a second SAW element 11B are provided on the first main surface 3a. The first SAW element 11A is, for example, a SAW resonator, and the second SAW element 11B is, for example, a SAW filter.

SAW素子11は、1以上のIDT(InterDigital Transducer)電極15と、IDT電極15の、SAWの伝搬方向(X方向)両側に配置された2つの反射器17とを有している。   The SAW element 11 includes one or more IDT (InterDigital Transducer) electrodes 15 and two reflectors 17 disposed on both sides of the SAW propagation direction (X direction) of the IDT electrode 15.

IDT電極15は、一対の電極から構成されている。この一対の電極は、弾性表面波の伝搬方向(X方向)に延びるバスバー15aと、バスバー15aから上記伝搬方向に直交する方向(Y方向)に伸びる複数の電極指15bとを有し、電極指15bが互いに噛合うように配置されている。なお、図3は模式図であることから、電極指15bは、実際の数よりも少ない数で示されている。   The IDT electrode 15 is composed of a pair of electrodes. The pair of electrodes includes a bus bar 15a extending in the propagation direction (X direction) of the surface acoustic wave, and a plurality of electrode fingers 15b extending from the bus bar 15a in a direction (Y direction) perpendicular to the propagation direction. It arrange | positions so that 15b may mutually mesh. Since FIG. 3 is a schematic diagram, the number of electrode fingers 15b is smaller than the actual number.

複数のパッド13及び複数のSAW素子11は、複数の配線27を介して適宜に接続されている。なお、複数の配線27の一部は、絶縁体21を介して互いに立体交差している。   The plurality of pads 13 and the plurality of SAW elements 11 are appropriately connected via a plurality of wirings 27. Note that some of the plurality of wirings 27 cross each other through the insulator 21.

第1振動空間10Aは、第1SAW素子11A上に形成されており、第2振動空間10Bは、第2SAW素子11B上に形成されている。2つの振動空間10は、基板3の長手方向において配列されている。   The first vibration space 10A is formed on the first SAW element 11A, and the second vibration space 10B is formed on the second SAW element 11B. The two vibration spaces 10 are arranged in the longitudinal direction of the substrate 3.

図2及び図3に示すように、各振動空間10は、概略、6角形状に形成され、6つの角部はすべて鈍角とされている。別の観点では、各振動空間10は、基板3の短手方向を長手方向とする矩形に形成され、角部が面取りされていると捉えることもできる。なお、第1振動空間10Aは、複数の配線27の立体交差部を収容するように一部が拡張されている。   As shown in FIGS. 2 and 3, each vibration space 10 is generally formed in a hexagonal shape, and all six corners are obtuse. From another point of view, each vibration space 10 is formed in a rectangle whose longitudinal direction is the short direction of the substrate 3, and the corners can be regarded as chamfered. The first vibration space 10 </ b> A is partially expanded so as to accommodate the three-dimensional intersections of the plurality of wirings 27.

各振動空間10に対して、複数の端子7は、各振動空間10を矩形と捉えたときにおける、振動空間10の4隅に隣接して配置されている。そして、複数の端子7は、振動空間10の鈍角とされた角部を構成する2つの辺の一方の辺に対応する内壁面の一部(以下、面取り面5cとも称する)と対向している。   For each vibration space 10, the plurality of terminals 7 are arranged adjacent to the four corners of the vibration space 10 when each vibration space 10 is regarded as a rectangle. The plurality of terminals 7 are opposed to a part of the inner wall surface (hereinafter also referred to as a chamfered surface 5c) corresponding to one of the two sides constituting the corner portion of the vibration space 10 that is an obtuse angle. .

各端子7の柱状部7aは、その側面のうち、内壁面5a及び外壁面5b側に位置する面が、内壁面5a及び外壁面5bに平行になるように形成されている。具体的には、各端子7の柱状部7aは、内壁面5aに平行な内側近接面7aaと、外壁面5bに平行な外側近接面7abとを有している。   The columnar portion 7a of each terminal 7 is formed such that, of its side surfaces, the surfaces located on the inner wall surface 5a and the outer wall surface 5b side are parallel to the inner wall surface 5a and the outer wall surface 5b. Specifically, the columnar portion 7a of each terminal 7 has an inner proximity surface 7aa parallel to the inner wall surface 5a and an outer proximity surface 7ab parallel to the outer wall surface 5b.

カバー5の角部に配置された第1端子7A、第3端子7C、第4端子7D及び第6端子7Fは、外壁面5bの直交する2平面に隣接していることから、2つの外側近接面7abを有している。また、これら4つの端子7は、1つの振動空間10に隣接していることから、1つの内側近接面7aaを有している。そして、これら4つの端子7の柱状部7aは、第1主面3aの平面視において、全体として、概略、内側近接面7aaを斜辺とする直角三角形に形成されている。ただし、鋭角の角部は平面により面取りされており、柱状部7aは、五角形と捉えられることもできる。   Since the first terminal 7A, the third terminal 7C, the fourth terminal 7D, and the sixth terminal 7F arranged at the corners of the cover 5 are adjacent to two orthogonal planes of the outer wall surface 5b, the two outer proximity It has a surface 7ab. Further, since these four terminals 7 are adjacent to one vibration space 10, they have one inner proximity surface 7aa. The columnar portions 7a of the four terminals 7 are generally formed in a right triangle having the inner proximity surface 7aa as a hypotenuse in plan view of the first main surface 3a. However, the acute corner is chamfered by a flat surface, and the columnar portion 7a can be regarded as a pentagon.

残りの第2端子7B及び第5端子7Eは、外壁面5bの1平面に隣接していることから、1つの外側近接面7abを有している。また、これら2つの端子7は、2つの振動空間10に挟まれていることから、2つの内側近接面7aaを有している。そして、これら2つの端子7の柱状部7aは、第1主面3aの平面視において、全体として、概略、外側近接面7abを底辺とする2等辺三角形に形成されている。ただし、底角の角部は平面により面取りされており、柱状部7aは、五角形と捉えられることもできる。   The remaining second terminal 7B and fifth terminal 7E are adjacent to one plane of the outer wall surface 5b, and thus have one outer proximity surface 7ab. Further, since these two terminals 7 are sandwiched between the two vibration spaces 10, they have two inner proximity surfaces 7aa. The columnar portions 7a of the two terminals 7 are generally formed in an isosceles triangle having the outer proximity surface 7ab as a base in plan view of the first main surface 3a. However, the corner portion of the base angle is chamfered by a flat surface, and the columnar portion 7a can be regarded as a pentagon.

各端子7のランド7cは、上述のように、柱状部7aの断面形状と相似の形状を有している。従って、柱状部7aと同様に、ランド7cは、外周縁部において、内壁面5aに平行な内側近接縁部7caと、外壁面5bに平行な外側近接縁部7cbとを有している。なお、ランド7cの形状は、柱状部7aの形状と相似であるので、カバー5の4隅の端子7、及び、他の2つの端子7の形状の説明は省略する。   As described above, the land 7c of each terminal 7 has a shape similar to the cross-sectional shape of the columnar portion 7a. Accordingly, similarly to the columnar portion 7a, the land 7c has an inner adjacent edge portion 7ca parallel to the inner wall surface 5a and an outer adjacent edge portion 7cb parallel to the outer wall surface 5b at the outer peripheral edge portion. Since the shape of the land 7c is similar to the shape of the columnar portion 7a, the description of the shapes of the terminals 7 at the four corners of the cover 5 and the other two terminals 7 is omitted.

図4は図3のIV−IV線における断面図である。ただし、図4は、図3よりも概念的に描かれており、SAW素子11は図3よりも模式的に示されている。   4 is a cross-sectional view taken along line IV-IV in FIG. However, FIG. 4 is drawn more conceptually than FIG. 3, and the SAW element 11 is shown more schematically than FIG.

SAW装置1は、第1主面3aに設けられた第1導電層19と、第1導電層19及び第1主面3aに積層された保護層25とを有している。カバー5は、保護層25に積層されている。端子7は、カバー5に対して成膜された下地層39と、下地層39に包まれた中実部41とにより構成されている。   The SAW device 1 includes a first conductive layer 19 provided on the first main surface 3a, and a protective layer 25 stacked on the first conductive layer 19 and the first main surface 3a. The cover 5 is laminated on the protective layer 25. The terminal 7 includes a base layer 39 formed on the cover 5 and a solid portion 41 surrounded by the base layer 39.

第1導電層19は、第1主面3a上における回路素子や配線等の構成に関して基本となる層である。具体的には、第1導電層19は、SAW素子11、パッド13、及び、複数の配線27の一部を構成している。第1導電層19は、例えば、Al−Cu合金等のAl合金により形成されており、その厚さは、例えば、100〜300nmである。   The first conductive layer 19 is a basic layer regarding the configuration of circuit elements, wirings, and the like on the first major surface 3a. Specifically, the first conductive layer 19 constitutes a part of the SAW element 11, the pad 13, and the plurality of wirings 27. The first conductive layer 19 is formed of, for example, an Al alloy such as an Al—Cu alloy, and the thickness thereof is, for example, 100 to 300 nm.

保護層25は、SAW素子11の酸化防止等に寄与するものである。保護層25は、例えば、酸化珪素(SiOなど)、酸化アルミニウム、酸化亜鉛、酸化チタン、窒化珪素、又は、シリコンにより形成されている。保護層25の厚さは、例えば、第1導電層19の厚さの1/10程度(10〜30nm)である。保護層25は、パッド13の配置位置以外においては、第1主面3a全体に亘って形成されている。 The protective layer 25 contributes to the oxidation prevention of the SAW element 11 and the like. The protective layer 25 is made of, for example, silicon oxide (such as SiO 2 ), aluminum oxide, zinc oxide, titanium oxide, silicon nitride, or silicon. The thickness of the protective layer 25 is, for example, about 1/10 (10 to 30 nm) of the thickness of the first conductive layer 19. The protective layer 25 is formed over the entire first main surface 3a except for the position where the pad 13 is disposed.

下地層39は、例えば、銅若しくはチタンなどの金属により形成されている。下地層39は、孔部5hの底面、孔部5hの内周面、及び、カバー5の上面の、孔部5hの周囲部分に成膜されている。下地層39の厚さは、概ね均一である。当該厚さは、適宜に設定されてよいが、例えば、下地層39が銅からなる場合は300nm〜1μm、下地層39がチタンからなる場合は10nm〜100nmである。   The underlayer 39 is formed of a metal such as copper or titanium, for example. The underlayer 39 is formed on the bottom surface of the hole 5 h, the inner peripheral surface of the hole 5 h, and the upper surface of the cover 5 around the hole 5 h. The thickness of the foundation layer 39 is substantially uniform. The thickness may be set as appropriate. For example, when the base layer 39 is made of copper, the thickness is 300 nm to 1 μm, and when the base layer 39 is made of titanium, the thickness is 10 nm to 100 nm.

中実部41は、例えば、銅により形成されている。中実部41は、下地層39の内側において孔部5hに充填されている。また、中実部41は、孔部5hにおいてカバー5の上面よりも高く形成されるとともに、カバー5の上面の、孔部5hの周囲部分において下地層39上に形成されている。   The solid part 41 is made of, for example, copper. The solid portion 41 is filled in the hole 5 h inside the base layer 39. Further, the solid portion 41 is formed higher than the upper surface of the cover 5 in the hole portion 5h, and is formed on the base layer 39 in the peripheral portion of the upper surface of the cover 5 around the hole portion 5h.

(SAW装置の製造方法)
図5(a)〜図6(c)は、SAW装置1の製造方法を説明する、図4(図3のIV−IV線)に対応する断面図である。製造工程は、図5(a)から図6(c)まで順に進んでいく。
(Method for manufacturing SAW device)
FIG. 5A to FIG. 6C are cross-sectional views corresponding to FIG. 4 (IV-IV line in FIG. 3) for explaining the method for manufacturing the SAW device 1. The manufacturing process proceeds in order from FIG. 5 (a) to FIG. 6 (c).

以下に説明する工程は、いわゆるウエハプロセスにおいて実現される。すなわち、分割されることによって基板3となる母基板を対象に、薄膜形成やフォトリソグラフィー法などが行われ、その後、ダイシングされることにより、多数個分のSAW装置1が並行して形成される。ただし、図5(a)〜図6(c)では、1つのSAW装置1に対応する部分のみを図示する。また、導電層や絶縁層は、プロセスの進行に伴って形状が変化するが、変化の前後で共通の符号を用いる。   The steps described below are realized in a so-called wafer process. That is, a thin film formation, a photolithography method, or the like is performed on the mother substrate that becomes the substrate 3 by being divided, and then a large number of SAW devices 1 are formed in parallel by dicing. . However, in FIG. 5A to FIG. 6C, only a portion corresponding to one SAW device 1 is illustrated. In addition, although the shape of the conductive layer and the insulating layer changes with the progress of the process, a common code is used before and after the change.

図5(a)に示すように、まず、基板3の第1主面3a上には、第1導電層19が形成される。具体的には、まず、スパッタリング法、蒸着法またはCVD(Chemical Vapor Deposition)法等の薄膜形成法により、第1主面3a上に第1導電層19となる金属層が形成される。次に、金属層に対して、縮小投影露光機(ステッパー)とRIE(Reactive Ion Etching)装置とを用いたフォトリソグラフィー法等によりパターニングが行われる。パターニングにより、SAW素子11、パッド13、及び、複数の配線27の一部が形成される。すなわち、第1導電層19が形成される。   As shown in FIG. 5A, first, the first conductive layer 19 is formed on the first main surface 3 a of the substrate 3. Specifically, first, a metal layer to be the first conductive layer 19 is formed on the first main surface 3a by a thin film forming method such as a sputtering method, a vapor deposition method, or a CVD (Chemical Vapor Deposition) method. Next, the metal layer is patterned by a photolithography method using a reduction projection exposure machine (stepper) and an RIE (Reactive Ion Etching) apparatus. By patterning, the SAW element 11, the pad 13, and a part of the plurality of wirings 27 are formed. That is, the first conductive layer 19 is formed.

第1導電層19が形成されると、図5(b)に示すように、保護層25が形成される。具体的には、まず、適宜な薄膜形成法により保護層25となる薄膜が形成される。薄膜形成法は、例えば、スパッタリング法若しくはCVD法である。次に、第1導電層19のうちパッド13を構成する部分が露出するように、フォトリソグラフィー法によって薄膜の一部が除去される。これにより、保護層25が形成される。   When the first conductive layer 19 is formed, a protective layer 25 is formed as shown in FIG. Specifically, first, a thin film to be the protective layer 25 is formed by an appropriate thin film forming method. The thin film forming method is, for example, a sputtering method or a CVD method. Next, a part of the thin film is removed by photolithography so that the portion of the first conductive layer 19 that constitutes the pad 13 is exposed. Thereby, the protective layer 25 is formed.

特に図示しないが、保護層25が形成されると、絶縁体21(図3)、及び、絶縁体21に積層される配線27を構成する第2導電層23(図3)が形成される。具体的には、まず、絶縁体21となる薄膜がCVD法または蒸着法等の薄膜形成法により形成される。そして、フォトリソグラフィー法によって薄膜の一部が除去され、絶縁体21が形成される。次に、第1導電層19と同様に、金属層の形成及びパターニングが行われ、第1導電層19により構成された配線27に絶縁体21を介して立体交差する他の配線27が形成される。すなわち、第2導電層23が形成される。   Although not particularly illustrated, when the protective layer 25 is formed, the insulator 21 (FIG. 3) and the second conductive layer 23 (FIG. 3) constituting the wiring 27 stacked on the insulator 21 are formed. Specifically, first, a thin film to be the insulator 21 is formed by a thin film forming method such as a CVD method or a vapor deposition method. Then, a part of the thin film is removed by photolithography, and the insulator 21 is formed. Next, similarly to the first conductive layer 19, the metal layer is formed and patterned, and another wiring 27 that three-dimensionally intersects the wiring 27 constituted by the first conductive layer 19 via the insulator 21 is formed. The That is, the second conductive layer 23 is formed.

第2導電層23が形成されると、図5(c)に示すように、枠部35となる薄膜が形成される。薄膜は、例えば、感光性樹脂により形成されたフィルムが貼り付けられることにより、又は、保護層25と同様の薄膜形成法により形成される。   When the second conductive layer 23 is formed, a thin film that becomes the frame portion 35 is formed as shown in FIG. The thin film is formed, for example, by attaching a film formed of a photosensitive resin or by a thin film forming method similar to that for the protective layer 25.

枠部35となる薄膜が形成されると、図5(d)に示すように、フォトリソグラフィー法等により、薄膜の一部が除去され、振動空間10を構成する開口、及び、孔部5hの下方部分である孔部35hが形成される。また、薄膜は、ダイシングライン上においても、一定の幅で除去される。このようにして枠部35は形成される。   When the thin film to be the frame portion 35 is formed, as shown in FIG. 5D, a part of the thin film is removed by a photolithography method or the like, and the openings constituting the vibration space 10 and the holes 5h are formed. A hole 35h which is a lower portion is formed. The thin film is also removed with a constant width on the dicing line. In this way, the frame portion 35 is formed.

枠部35が形成されると、図6(a)に示すように、蓋部37が形成される。具体的には、まず、蓋部37となる薄膜が形成される。薄膜は、例えば、感光性樹脂のフィルムが貼り付けられることにより形成される。そして、薄膜が形成されることにより、枠部35の開口が塞がれて、振動空間10が構成される。薄膜は、フォトリソグラフィー法等により、パッド13上の部分及びダイシングライン上の部分が除去される。これにより、蓋部37が形成される。   When the frame portion 35 is formed, a lid portion 37 is formed as shown in FIG. Specifically, first, a thin film that becomes the lid portion 37 is formed. The thin film is formed, for example, by attaching a photosensitive resin film. When the thin film is formed, the opening of the frame portion 35 is closed, and the vibration space 10 is configured. In the thin film, a portion on the pad 13 and a portion on the dicing line are removed by a photolithography method or the like. Thereby, the cover part 37 is formed.

このとき形成される孔部5h(孔部35h含む)の第1主面3aに平行な断面の形状は、先に説明した、各端子7の柱状部7aの第1主面3aに平行な断面の形状と同一である。   The shape of the cross section parallel to the first main surface 3a of the hole 5h (including the hole 35h) formed at this time is the cross section parallel to the first main surface 3a of the columnar portion 7a of each terminal 7 described above. The shape is the same.

蓋部37が形成されると、図6(b)に示すように、下地層39及びレジスト層53が順に形成される。下地層39は、カバー5の上面及び孔部5hの内部に亘って形成される。下地層39は、例えば、スパッタ法により形成される。   When the lid portion 37 is formed, the base layer 39 and the resist layer 53 are sequentially formed as shown in FIG. The foundation layer 39 is formed over the upper surface of the cover 5 and the inside of the hole 5h. The underlayer 39 is formed by, for example, a sputtering method.

レジスト層53は、孔部5h及びその周囲において、下地層39が露出するように形成される。レジスト層53は、例えば、スピンコート等により感光性樹脂の薄膜が形成され、その薄膜がフォトリソグラフィーによりパターニングされることにより形成される。   The resist layer 53 is formed so that the base layer 39 is exposed at and around the hole 5h. The resist layer 53 is formed, for example, by forming a photosensitive resin thin film by spin coating or the like, and patterning the thin film by photolithography.

このとき形成される、レジスト層53の、下地層39を露出させる孔部53hの第1主面3aに平行な断面の形状は、先に説明した、各端子7のランド7cの形状と同一である。   The shape of the cross section of the resist layer 53 formed at this time parallel to the first main surface 3a of the hole 53h exposing the base layer 39 is the same as the shape of the land 7c of each terminal 7 described above. is there.

レジスト層53が形成されると、図6(c)に示すように、電気めっき処理により、下地層39の露出部分に金属を析出させ、中実部41を形成する。   When the resist layer 53 is formed, as shown in FIG. 6C, metal is deposited on the exposed portion of the base layer 39 by electroplating to form the solid portion 41.

その後、下地層39のレジスト層53に被覆されていた部分及びレジスト層53が除去される。これにより、下地層39及び中実部41からなり、先に説明した断面形状を有する端子7が形成される。なお、端子7のカバー5からの露出面は、ニッケルや金などにより構成されてもよい。   Thereafter, the portion of the base layer 39 covered with the resist layer 53 and the resist layer 53 are removed. Thereby, the terminal 7 which consists of the base layer 39 and the solid part 41 and has the cross-sectional shape described above is formed. The exposed surface of the terminal 7 from the cover 5 may be made of nickel, gold, or the like.

図7は、本実施形態の効果を、第4端子7Dを例にとって説明する模式的な平面図である。なお、図7は、柱状部7aの説明にも、ランド7cの説明にも利用できる数学的な図であることから、柱状部7aの符号に加えて、ランド7cの符号を括弧内に付している。また、図7において、端子7は、三角形(五角形)の角部が曲面により面取りされている。   FIG. 7 is a schematic plan view for explaining the effect of the present embodiment, taking the fourth terminal 7D as an example. Note that FIG. 7 is a mathematical diagram that can be used for the description of the columnar portion 7a and the description of the land 7c. Therefore, in addition to the reference numeral of the columnar portion 7a, the reference numeral of the land 7c is given in parentheses. ing. In FIG. 7, the terminal 7 has a triangular (pentagonal) corner chamfered by a curved surface.

端子7の柱状部7aに収まる最大の仮想円C1を考える。本実施形態の端子7は、このような仮想円C1と同一の断面形状の柱状部を有する端子を基準にして考えると、内壁面5aとの最短距離Lを短くすることなく、柱状部7aの断面積を大きくすることができている。換言すれば、柱状部7aの断面積を十分に確保しつつも、カバー5を大型化することなく、柱状部7aと内壁面5aとの間の肉厚を確保できる。そして、肉厚の確保により、応力集中に起因するクラックの発生が抑制される。   Consider the maximum virtual circle C1 that fits in the columnar portion 7a of the terminal 7. The terminal 7 of the present embodiment is based on such a terminal having a columnar part having the same cross-sectional shape as the virtual circle C1, and without shortening the shortest distance L from the inner wall surface 5a, The cross-sectional area can be increased. In other words, the wall thickness between the columnar portion 7a and the inner wall surface 5a can be ensured without increasing the size of the cover 5 while ensuring a sufficient cross-sectional area of the columnar portion 7a. And generation | occurrence | production of the crack resulting from stress concentration is suppressed by ensuring thickness.

このような効果は、内側近接面7aaと内壁面5aとの幾何学的関係が、仮想円C1の円周と内壁面5a(直線)との幾何学的関係よりも、平行に近いことにより奏されると捉えることができる。   Such an effect is achieved because the geometric relationship between the inner proximity surface 7aa and the inner wall surface 5a is closer to the parallel than the geometric relationship between the circumference of the virtual circle C1 and the inner wall surface 5a (straight line). Can be seen.

ここでいう、より平行に近いとは、内壁面5aの位置の変化に対する、内壁面5aと、内側近接面7aa(又は仮想円C1の円周)との、内壁面5aの法線上の距離の変化がより小さいことをいうものとする。   Here, closer to parallel means the distance on the normal line of the inner wall surface 5a between the inner wall surface 5a and the inner proximity surface 7aa (or the circumference of the virtual circle C1) with respect to the change in the position of the inner wall surface 5a. Let the change be smaller.

例えば、仮想円C1に関しては、内壁面5a上の位置P1における内壁面5aと仮想円C1との距離y1と、位置P1から内壁面5aに沿って距離r(仮想円C1の半径)離間した位置P2における内壁面5aと仮想円C1との距離y2とでは、距離rの差が生じている。   For example, regarding the virtual circle C1, the distance y1 between the inner wall surface 5a and the virtual circle C1 at the position P1 on the inner wall surface 5a, and the position separated from the position P1 by the distance r (radius of the virtual circle C1) along the inner wall surface 5a. There is a difference in the distance r between the distance y2 between the inner wall surface 5a and the virtual circle C1 in P2.

一方、本実施形態の端子7の内側近接面7aaに関しては、位置P1における内壁面5aと内側近接面7aaとの距離y1と、位置P2における内壁面5aと内側近接面7aaとの距離y3とは同一である。   On the other hand, regarding the inner proximity surface 7aa of the terminal 7 of the present embodiment, the distance y1 between the inner wall surface 5a and the inner proximity surface 7aa at the position P1 and the distance y3 between the inner wall surface 5a and the inner proximity surface 7aa at the position P2 are: Are the same.

すなわち、内壁面5aにおける位置P1から位置P2への変化に対する、内壁面5aと内側近接面7aaとの距離の変化(0)は、内壁面5aにおける位置P1から位置P2への変化に対する、内壁面5aと仮想円C1の円周との距離の変化(r)よりも小さい。   That is, the change (0) of the distance between the inner wall surface 5a and the inner proximity surface 7aa with respect to the change from the position P1 to the position P2 on the inner wall surface 5a is the inner wall surface with respect to the change from the position P1 to the position P2 on the inner wall surface 5a. It is smaller than the change (r) in the distance between 5a and the circumference of the virtual circle C1.

そして、このような距離の変化が小さいことにより、端子7の内壁面5a側への突出量が端子の断面積に対して相対的に抑制され、ひいては、上述のような、カバーの小型化、端子の断面積の確保、及び、カバーの端子付近における強度向上の効果が奏される。   And since the change of such a distance is small, the protrusion amount to the inner wall surface 5a side of the terminal 7 is restrained relatively with respect to the cross-sectional area of the terminal. As a result, the downsizing of the cover as described above, The effects of securing the cross-sectional area of the terminal and improving the strength in the vicinity of the terminal of the cover are exhibited.

なお、上記の説明から理解されるように、本願においては、平行の語は、直線又は平面について説明する語に限定されないものとする。すなわち、本願においては、曲線又は曲面についても、平行の語を用いて説明することがあるものとする。   In addition, as understood from the above description, in the present application, parallel words are not limited to words describing straight lines or planes. That is, in the present application, a curved line or a curved surface may be described using parallel words.

また、位置P1と位置P2との間隔を極めて小さくすると、内壁面5aと仮想円C1との関係も平行に近いということになってしまうから(内壁面5aと仮想円C1の接線との関係を判定することになってしまうから)、平行の程度を比較する判定においては、位置P1と位置P2との距離を十分な大きさ(例えば仮想円の半径程度)とすることが好ましい。   Further, if the distance between the position P1 and the position P2 is extremely small, the relationship between the inner wall surface 5a and the virtual circle C1 is also almost parallel (the relationship between the inner wall surface 5a and the tangent line of the virtual circle C1 is the same). Therefore, in the determination of comparing the degree of parallelism, it is preferable that the distance between the position P1 and the position P2 is sufficiently large (for example, about the radius of the virtual circle).

内側近接面7aaと内壁面5aとの関係について説明したが、外側近接面7abと外壁面5bとの関係についても、仮想円C1を基準として同様のことがいえる。また、平面視における肉厚だけでなく、3次元的な肉厚に関して考えれば、内側近接縁部7caと内壁面5aとの関係、及び、外側近接縁部7cbと外壁面5bとの関係についても、ランド7cに収まる最大の仮想円を基準として同様のことがいえる。   Although the relationship between the inner proximity surface 7aa and the inner wall surface 5a has been described, the same can be said for the relationship between the outer proximity surface 7ab and the outer wall surface 5b with reference to the virtual circle C1. Further, considering not only the thickness in plan view but also the three-dimensional thickness, the relationship between the inner adjacent edge portion 7ca and the inner wall surface 5a and the relationship between the outer adjacent edge portion 7cb and the outer wall surface 5b are also considered. The same can be said with reference to the maximum virtual circle that fits in the land 7c.

次に、端子7の柱状部7aの第1主面3aに平行な断面の面積と同等の面積を有する仮想円C2を考える。本実施形態の端子7は、このような仮想円C2と同一の断面形状の柱状部を有する端子を基準にして考えると、断面積を減じることなく、内壁面5aとの最短距離を長くすることが可能である。換言すれば、柱状部7aの断面積を十分に確保しつつも、カバー5を大型化することなく、柱状部7aと内壁面5aとの間の肉厚を確保できる。そして、肉厚の確保により、応力集中に起因するクラックの発生が抑制される。   Next, a virtual circle C2 having an area equivalent to the area of the cross section parallel to the first main surface 3a of the columnar portion 7a of the terminal 7 is considered. The terminal 7 according to the present embodiment can increase the shortest distance from the inner wall surface 5a without reducing the cross-sectional area when the terminal having the columnar portion having the same cross-sectional shape as the virtual circle C2 is considered as a reference. Is possible. In other words, the wall thickness between the columnar portion 7a and the inner wall surface 5a can be ensured without increasing the size of the cover 5 while ensuring a sufficient cross-sectional area of the columnar portion 7a. And generation | occurrence | production of the crack resulting from stress concentration is suppressed by ensuring thickness.

このような効果は、内側近接面7aaと内壁面5aとの幾何学的関係が、仮想円C2の円周と内壁面5a(直線)との幾何学的関係よりも、平行に近いことにより奏されると捉えることができる。   Such an effect is achieved by the fact that the geometric relationship between the inner proximity surface 7aa and the inner wall surface 5a is more parallel than the geometric relationship between the circumference of the virtual circle C2 and the inner wall surface 5a (straight line). Can be seen.

なお、平行の考え方や平行に近いことによる作用の説明は、仮想円C1を基準とした場合と同様であり、説明は省略する。また、内側近接面7aaと内壁面5aとの関係について説明したが、外側近接面7abと外壁面5bとの関係についても、仮想円C2を基準として同様のことがいえる。内側近接縁部7caと内壁面5aとの関係、及び、外側近接縁部7cbと外壁面5bとの関係についても、ランド7cの面積と同等の面積を有する仮想円を基準として同様のことがいえる。   In addition, description of the effect | action by a parallel view and being close to parallel is the same as that on the basis of the virtual circle C1, and description is abbreviate | omitted. Further, the relationship between the inner proximity surface 7aa and the inner wall surface 5a has been described, but the same can be said for the relationship between the outer proximity surface 7ab and the outer wall surface 5b with reference to the virtual circle C2. The same applies to the relationship between the inner adjacent edge portion 7ca and the inner wall surface 5a and the relationship between the outer adjacent edge portion 7cb and the outer wall surface 5b with reference to a virtual circle having an area equivalent to the area of the land 7c. .

上記の説明では、仮想円との比較において相対的に平行に近いことにより本実施形態の効果が奏されることを述べたが、当然に、幾何学的関係が平行そのものであれば、カバーの小型化、端子の断面積の確保、及び、カバーの端子付近における強度向上の効果は好適に図られる。すなわち、好適には、内側近接面7aaと内壁面5aとの幾何学的関係、外側近接面7abと外壁面5bとの幾何学的関係、内側近接縁部7caと内壁面5aとの幾何学的関係、及び、外側近接縁部7cbと外壁面5bとの幾何学的関係は、内壁面5a若しくは外壁面5bとの距離が変化しない関係である。   In the above description, it has been described that the effect of the present embodiment is achieved by being relatively parallel in comparison with the virtual circle, but of course, if the geometric relationship is parallel itself, The effects of downsizing, securing the cross-sectional area of the terminal, and improving the strength in the vicinity of the terminal of the cover are preferably achieved. That is, preferably, the geometric relationship between the inner proximity surface 7aa and the inner wall surface 5a, the geometric relationship between the outer proximity surface 7ab and the outer wall surface 5b, and the geometric relationship between the inner proximity edge 7ca and the inner wall surface 5a. The relationship and the geometric relationship between the outer proximity edge portion 7cb and the outer wall surface 5b are relationships in which the distance from the inner wall surface 5a or the outer wall surface 5b does not change.

第1主面3aの平面視において、端子7の内側近接面7aa及び内壁面5aは、互いに平行な直線状に形成されている。従って、形状がシンプルであり、設計が容易である。なお、同様のことは、外側近接面7abと外壁面5bとの関係、内側近接縁部7caと内壁面5aとの関係、及び、外側近接縁部7cbと外壁面5bとの関係についてもいえる。   In the plan view of the first main surface 3a, the inner proximity surface 7aa and the inner wall surface 5a of the terminal 7 are formed in straight lines parallel to each other. Therefore, the shape is simple and the design is easy. The same applies to the relationship between the outer proximity surface 7ab and the outer wall surface 5b, the relationship between the inner proximity edge portion 7ca and the inner wall surface 5a, and the relationship between the outer proximity edge portion 7cb and the outer wall surface 5b.

第1主面3aの平面視において、振動空間10は、内壁面5aに面取り面5cが形成されることにより角部が面取りされており、端子7は、面取り面5cに近接し、上記の幾何学的関係を有している。従って、振動空間10を大きく確保しつつ、内壁面5aと端子7との間の肉厚を大きくする効果が増進される。   In the plan view of the first main surface 3a, the vibration space 10 is chamfered at the corners by forming the chamfered surface 5c on the inner wall surface 5a, and the terminal 7 is close to the chamfered surface 5c, and the geometrical shape described above. Have an academic relationship. Therefore, the effect of increasing the thickness between the inner wall surface 5a and the terminal 7 while ensuring a large vibration space 10 is enhanced.

なお、上述した幾何学的関係が平行に近いことによる効果は、別の観点では、第1主面3aの平面視において、端子7の内側近接面7aa(外側近接面7ab、内側近接縁部7ca、外側近接縁部7cb)が柱状部7a(ランド7c)の面積と同等の面積を有する仮想円よりも曲率が小さいことにより奏されると捉えることもできる。   Note that the effect of the above-described geometrical relationship being nearly parallel is that, from another viewpoint, in the plan view of the first main surface 3a, the inner proximity surface 7aa (outer proximity surface 7ab, inner proximity edge portion 7ca) of the terminal 7 is obtained. It can also be understood that the outer adjacent edge portion 7cb) is played by a smaller curvature than a virtual circle having an area equivalent to the area of the columnar portion 7a (land 7c).

以上の実施形態において、SAW装置1は本発明の弾性波装置の一例であり、SAW素子11は本発明の弾性波素子の一例であり、内側近接面7aa、外側近接面7ab、内側近接縁部7ca及び外側近接縁部7cbは本発明の近接面の一例である。   In the above embodiment, the SAW device 1 is an example of the acoustic wave device of the present invention, the SAW element 11 is an example of the acoustic wave device of the present invention, and the inner proximity surface 7aa, the outer proximity surface 7ab, and the inner proximity edge portion. 7ca and the outer proximity edge 7cb are examples of the proximity surface of the present invention.

<第2の実施形態>
図8は、第2の実施形態に係るSAW装置の図7に相当する模式的な平面図である。なお、図8も、図7と同様に、柱状部107aの説明だけでなく、ランド107cの説明にも利用できるものであることから、括弧内にランド107cの符号を付している。
<Second Embodiment>
FIG. 8 is a schematic plan view corresponding to FIG. 7 of the SAW device according to the second embodiment. Note that FIG. 8 can be used not only for the description of the columnar portion 107a but also for the description of the land 107c, as in FIG. 7, and therefore, the reference numeral of the land 107c is given in parentheses.

第2の実施形態の端子107においても、第1の実施形態と同様に、内側近接面107aaと内壁面5aとの幾何学的関係、外側近接面107abと外壁面5bとの幾何学的関係、内側近接縁部107caと内壁面5aとの幾何学的関係、及び、外側近接縁部107cbと外壁面5bとの幾何学的関係は、仮想円C1又はC2の円周と直線との幾何学的関係よりも、平行に近い。そして、第1の実施形態と同様の効果を奏する。   Also in the terminal 107 of the second embodiment, as in the first embodiment, the geometric relationship between the inner proximity surface 107aa and the inner wall surface 5a, the geometric relationship between the outer proximity surface 107ab and the outer wall surface 5b, The geometric relationship between the inner adjacent edge portion 107ca and the inner wall surface 5a and the geometric relationship between the outer adjacent edge portion 107cb and the outer wall surface 5b are the geometrical relationship between the circumference of the virtual circle C1 or C2 and a straight line. Closer to parallel than relationship. And there exists an effect similar to 1st Embodiment.

ただし、内側近接面107aa、外側近接面107ab、内側近接縁部107ca及び外側近接縁部107cbは、第1主面3aの平面視において直線状に形成されておらず、仮想円C1又はC2よりも曲率が小さい弧状に形成されている。   However, the inner proximity surface 107aa, the outer proximity surface 107ab, the inner proximity edge portion 107ca, and the outer proximity edge portion 107cb are not formed linearly in a plan view of the first main surface 3a, and are more than the virtual circle C1 or C2. It is formed in an arc shape with a small curvature.

第2の実施形態の端子107は、第1の実施形態に比較すると、円形に近い。この場合、第1の実施形態において例示した端子の形成方法(カバー5を覆う下地層39に電圧を印加して金属を析出させ、孔部内に金属を充填し、端子を形成する方法)において、孔部内への金属の充填が好適に行われるというメリットがある。   The terminal 107 of the second embodiment is close to a circle as compared to the first embodiment. In this case, in the terminal formation method exemplified in the first embodiment (a method in which a voltage is applied to the underlayer 39 covering the cover 5 to deposit metal, and the hole is filled with metal to form a terminal). There is an advantage that the metal is suitably filled in the hole.

<第3の実施形態>
図9は、第3の実施形態に係るSAW装置の枠部235の上面の位置における、第1主面3aに平行な断面を示す図である。
<Third Embodiment>
FIG. 9 is a view showing a cross section parallel to the first main surface 3a at the position of the upper surface of the frame portion 235 of the SAW device according to the third embodiment.

第3の実施形態の端子207においても、第1の実施形態と同様に、内側近接面207aaと内壁面205aとは平行になっている。すなわち、内側近接面207aaと内壁面205aとの距離は一定である。   Also in the terminal 207 of the third embodiment, the inner proximity surface 207aa and the inner wall surface 205a are parallel to each other as in the first embodiment. That is, the distance between the inner proximity surface 207aa and the inner wall surface 205a is constant.

ただし、第3の実施形態では、内側近接面207aaは凹状に形成されている。具体的には、以下のとおりである。   However, in the third embodiment, the inner proximity surface 207aa is formed in a concave shape. Specifically, it is as follows.

振動空間210は、長円形(若しくは楕円形)に形成されている。振動空間210は、矩形の四隅が曲面状の面取り面205cにより面取りされていると捉えることもできる。面取り面205cは、外側を凸とする曲面である。   The vibration space 210 is formed in an oval shape (or an oval shape). The vibration space 210 can also be understood as having four corners of a rectangle chamfered by a curved chamfered surface 205c. The chamfered surface 205c is a curved surface having a convex outer side.

端子207は、面取り面205cに近接して配置されている。内側近接面207aaは、面取り面205cとの距離が一定になるように、振動空間10側を凹として湾曲して形成されている。   The terminal 207 is disposed close to the chamfered surface 205c. The inner proximity surface 207aa is formed to be curved with the vibration space 10 side as a concave so that the distance from the chamfered surface 205c is constant.

第3の実施形態においても、第1の実施形態と同様に、カバーの小型化、端子の断面積の確保、及び、カバーの端子付近における強度向上を図ることができる。また、当該効果は、第1の実施形態と同様に、内側近接面207aaと内壁面205aとの幾何学的関係が、柱状部207aに収まる最大の仮想円(図示省略)などの円周と直線との幾何学的関係よりも、平行に近いことにより奏されると捉えることができる。   In the third embodiment, similarly to the first embodiment, it is possible to reduce the size of the cover, secure the cross-sectional area of the terminal, and improve the strength in the vicinity of the terminal of the cover. Further, as in the first embodiment, the effect is that the geometrical relationship between the inner proximity surface 207aa and the inner wall surface 205a is a circle and a straight line such as a maximum virtual circle (not shown) that fits in the columnar portion 207a. It can be understood that it is played by being close to parallel rather than the geometrical relationship.

なお、内壁面205aは湾曲しているが、このような場合であっても、第1の実施形態と同様に、相対的に平行に近いか否かの判定ができる。すなわち、内壁面205aの位置P1から位置P2への変化(位置P1と位置P2との内壁面205aに沿う距離は例えば仮想円の半径)に対する、内壁面205aと、内側近接面207aaとの、内壁面205aの法線Ln1及びLn2上の距離y1及びy3の変化が、図7に示した仮想円に関する距離y1及びy2の変化より小さいか否かにより、仮想円及び直線に比較して平行に近いか否か判定できる。   Although the inner wall surface 205a is curved, even in such a case, it can be determined whether or not it is relatively parallel, as in the first embodiment. That is, the inner wall surface 205a and the inner proximity surface 207aa are changed with respect to the change of the inner wall surface 205a from the position P1 to the position P2 (the distance between the position P1 and the position P2 along the inner wall surface 205a is, for example, the radius of a virtual circle). Depending on whether the changes in the distances y1 and y3 on the normals Ln1 and Ln2 of the wall surface 205a are smaller than the changes in the distances y1 and y2 with respect to the virtual circle shown in FIG. It can be determined whether or not.

なお、ランド207cの内側近接縁部207caと内壁面205aとの幾何学的関係も、内側近接面207aaと内壁面205aとの幾何学的関係と同様である。   The geometric relationship between the inner proximity edge 207ca of the land 207c and the inner wall surface 205a is the same as the geometric relationship between the inner proximity surface 207aa and the inner wall surface 205a.

<第4の実施形態>
図10は、第4の実施形態に係るSAW装置の枠部335の上面の位置における、第1主面3aに平行な断面を示す図である。
<Fourth Embodiment>
FIG. 10 is a view showing a cross section parallel to the first main surface 3a at the position of the upper surface of the frame portion 335 of the SAW device according to the fourth embodiment.

第4の実施形態の端子307においても、第1の実施形態と同様に、内側近接面307aaと内壁面305aとは平行になっている。すなわち、内側近接面307aaと内壁面305aとの距離は一定である。   Also in the terminal 307 of the fourth embodiment, the inner proximity surface 307aa and the inner wall surface 305a are parallel to each other as in the first embodiment. That is, the distance between the inner proximity surface 307aa and the inner wall surface 305a is constant.

ただし、第4の実施形態では、柱状部307aは断面形状が円形に形成されている。換言すれば、柱状部307aは、振動空間310側へ膨らんでいる。そして、内壁面305aが端子307とは反対側へ膨らむことにより、内側近接面307aaと内壁面305aとは平行になっている。   However, in the fourth embodiment, the columnar portion 307a has a circular cross-sectional shape. In other words, the columnar portion 307a swells toward the vibration space 310 side. The inner wall surface 307aa and the inner wall surface 305a are parallel to each other when the inner wall surface 305a swells to the opposite side of the terminal 307.

第4の実施形態においても、第1の実施形態と同様に、カバーの小型化、端子の断面積の確保、及び、カバーの端子付近における強度向上を図ることができる。また、当該効果は、第1の実施形態と同様に、内側近接面307aaと内壁面305aとの幾何学的関係が、柱状部307aに収まる最大の仮想円(図示省略)などの円周と直線との幾何学的関係よりも、平行に近いことにより奏されると捉えることができる。   In the fourth embodiment, similarly to the first embodiment, it is possible to reduce the size of the cover, secure the cross-sectional area of the terminal, and improve the strength in the vicinity of the terminal of the cover. In addition, as in the first embodiment, the effect is that the geometric relationship between the inner proximity surface 307aa and the inner wall surface 305a is a circle and a straight line such as a maximum virtual circle (not shown) that can be accommodated in the columnar portion 307a. It can be understood that it is played by being close to parallel rather than the geometrical relationship.

なお、ランド307cの内側近接縁部307caと内壁面305aとの幾何学的関係も、内側近接面307aaと内壁面305aとの幾何学的関係と同様である。   The geometric relationship between the inner proximity edge 307ca of the land 307c and the inner wall surface 305a is the same as the geometric relationship between the inner proximity surface 307aa and the inner wall surface 305a.

<第5の実施形態>
図11は、第5の実施形態に係るSAW装置401の図4に相当する断面図である。
<Fifth Embodiment>
FIG. 11 is a cross-sectional view corresponding to FIG. 4 of the SAW device 401 according to the fifth embodiment.

SAW装置401は、端子407が、カバーの内部にフランジ407dを有している点のみが第1の実施形態のSAW装置1と相違する。なお、端子407において、柱状部7a及びフランジ7bの形状は、第1の実施形態と同様である。   The SAW device 401 is different from the SAW device 1 of the first embodiment only in that the terminal 407 has a flange 407d inside the cover. In the terminal 407, the shapes of the columnar portion 7a and the flange 7b are the same as those in the first embodiment.

フランジ407dは、枠部35と蓋部37との間に配置されている。また、フランジ407dの平面形状は、フランジ7bと同一形状である。すなわち、特に図示しないが、フランジ407dにおいて、内側近接縁部と内壁面5aとの幾何学的関係、及び、外側近接縁部と外壁面5bとの幾何学的関係は、フランジ407dに収まる最大の仮想円などの円周と直線との幾何学的関係よりも平行に近い。   The flange 407 d is disposed between the frame portion 35 and the lid portion 37. The planar shape of the flange 407d is the same as that of the flange 7b. That is, although not particularly illustrated, in the flange 407d, the geometric relationship between the inner adjacent edge and the inner wall surface 5a and the geometric relationship between the outer adjacent edge and the outer wall surface 5b are the maximum that can be accommodated in the flange 407d. It is closer to the parallel than the geometrical relationship between a circumference such as a virtual circle and a straight line.

図12(a)〜図12(c)は、第5の実施形態のSAW装置401の製造方法を説明する断面図である。   12A to 12C are cross-sectional views illustrating a method for manufacturing the SAW device 401 according to the fifth embodiment.

枠部35の形成までは、第5の実施形態は、第1の実施形態と同様である。すなわち、第5の実施形態においても、第1の実施形態の図5(a)〜図5(d)までの工程が行われる。   Until the formation of the frame portion 35, the fifth embodiment is the same as the first embodiment. That is, also in the fifth embodiment, the steps from FIG. 5A to FIG. 5D of the first embodiment are performed.

次に、図12(a)に示すように、第1下地層39A及び第1レジスト層53Aが順に形成される。第1下地層39Aは、枠部35の上面及び孔部35hの内部に亘って形成される。第1レジスト層53Aは、孔部35h及びその周囲において、第1下地層39Aが露出するように形成される。   Next, as shown in FIG. 12A, a first base layer 39A and a first resist layer 53A are formed in order. The first base layer 39A is formed over the upper surface of the frame portion 35 and the inside of the hole portion 35h. The first resist layer 53A is formed so that the first base layer 39A is exposed at and around the hole 35h.

第1レジスト層53Aが形成されると、図12(b)に示すように、電気めっき処理により、第1下地層39Aの露出部分に金属を析出させ、端子407の下方部分の第1中実部41Aを形成する。そして、第1レジスト層53A、及び、第1下地層39Aのうち第1レジスト層53Aに覆われた部分は除去される。   When the first resist layer 53A is formed, as shown in FIG. 12B, metal is deposited on the exposed portion of the first base layer 39A by electroplating, and the first solid portion in the lower portion of the terminal 407 is formed. A portion 41A is formed. Then, portions of the first resist layer 53A and the first base layer 39A that are covered with the first resist layer 53A are removed.

その後は、図12(c)に示すように、第1の実施形態の図6(a)以降の工程と同様の工程が行われる。すなわち、蓋部37の形成、第2下地層39B及び第2レジスト層53Bの形成、めっき処理による金属の析出、第2レジスト層53B等の除去が行われる。ただし、金属の析出では、端子407の上方側の第2中実部41Bが形成される。   Thereafter, as shown in FIG. 12C, the same steps as those in FIG. 6A and subsequent steps of the first embodiment are performed. That is, the lid 37 is formed, the second base layer 39B and the second resist layer 53B are formed, the metal is deposited by plating, and the second resist layer 53B is removed. However, in the metal deposition, the second solid portion 41B on the upper side of the terminal 407 is formed.

なお、本実施形態では、フランジ407dが第1下地層39A及び第1中実部41Aにより形成される場合を示したが、図12(a)の工程の後、第1レジスト層53A、及び、第1下地層39Aのうち第1レジスト層53Aが積層された部分を除去し、次いで、図6(a)以降の工程を行うことにより、第1下地層39Aのみによりフランジ407dを形成することもできる。   In the present embodiment, the case where the flange 407d is formed by the first base layer 39A and the first solid portion 41A is shown, but after the step of FIG. 12A, the first resist layer 53A and The portion where the first resist layer 53A is laminated is removed from the first base layer 39A, and then the steps after FIG. 6A are performed to form the flange 407d only by the first base layer 39A. it can.

フランジ407dは、端子7がカバー5から引き抜かれることを抑制することに寄与しうる。その結果、柱状部7aの断面積を小さくすることが可能であり、ひいては、平行に近い幾何学的関係により奏される効果を増進させることができる。   The flange 407d can contribute to suppressing the terminal 7 from being pulled out from the cover 5. As a result, it is possible to reduce the cross-sectional area of the columnar portion 7a, and as a result, it is possible to enhance the effect exhibited by the geometrical relationship close to parallel.

<第6の実施形態>
図13は、第6の実施形態に係るSAW装置の枠部の上面の位置における第1主面3aに平行な断面図の一部拡大図である。
<Sixth Embodiment>
FIG. 13 is a partially enlarged view of a cross-sectional view parallel to the first main surface 3a at the position of the upper surface of the frame portion of the SAW device according to the sixth embodiment.

第6の実施形態の端子507において、柱状部7aの形状は、第1の実施形態の端子7の柱状部7aの形状と同様である。ただし、第6の実施形態の端子507において、ランド307cの形状は、第4の実施形態のランド307cの形状と同様である。すなわち、第6の実施形態の端子507は、柱状部7aのみが、内壁面5a及び外壁面5bに対して平行な部分を有している。   In the terminal 507 of the sixth embodiment, the shape of the columnar portion 7a is the same as the shape of the columnar portion 7a of the terminal 7 of the first embodiment. However, in the terminal 507 of the sixth embodiment, the shape of the land 307c is the same as the shape of the land 307c of the fourth embodiment. That is, in the terminal 507 of the sixth embodiment, only the columnar portion 7a has portions parallel to the inner wall surface 5a and the outer wall surface 5b.

第6の実施形態においては、ランドの形状として円形を例示したが、ランドの形状は、矩形等の適宜な形状とされてよい。このように、柱状部のみにおいて、平行な幾何学的関係による効果を得るようにすることにより、ランドの形状については、SAW装置が実装される回路基板側のランドの形状などを考慮して設計することができる。   In the sixth embodiment, a circular shape is illustrated as the shape of the land, but the shape of the land may be an appropriate shape such as a rectangle. As described above, by obtaining the effect of the parallel geometric relationship only in the columnar portion, the shape of the land is designed in consideration of the shape of the land on the circuit board side on which the SAW device is mounted. can do.

<第7の実施形態>
図14は、第7の実施形態に係るSAW装置の枠部の上面の位置における第1主面3aに平行な断面図の一部拡大図である。
<Seventh Embodiment>
FIG. 14 is a partially enlarged view of a cross-sectional view parallel to the first main surface 3a at the position of the upper surface of the frame portion of the SAW device according to the seventh embodiment.

第7の実施形態の端子607は、第6の実施形態とは逆に、ランド7cのみが、内壁面5a及び外壁面5bに対して平行な部分を有している。端子607の柱状部307aの断面形状は、第4の実施形態の柱状部307aの断面形状と同様の円形である。   In the terminal 607 of the seventh embodiment, contrary to the sixth embodiment, only the land 7c has portions parallel to the inner wall surface 5a and the outer wall surface 5b. The cross-sectional shape of the columnar portion 307a of the terminal 607 is a circle similar to the cross-sectional shape of the columnar portion 307a of the fourth embodiment.

このような端子607においては、ランド7cにおいて、平行な幾何学的関係によるカバー5の強度向上等の効果を得つつ、柱状部307aにおいては、金属の充填を行いやすいという効果が得られる。   In such a terminal 607, the effect of improving the strength of the cover 5 due to the parallel geometrical relationship is obtained in the land 7c, and the effect of facilitating metal filling in the columnar portion 307a is obtained.

<第8の実施形態>
図15は、第8の実施形態に係るSAW装置501の図4に相当する断面図である。
SAW装置501は、端子507を縦方向(紙面の上下方向)に切断したときの断面形状が第1の実施形態のSAW装置1と相違する。
<Eighth Embodiment>
FIG. 15 is a cross-sectional view corresponding to FIG. 4 of the SAW device 501 according to the eighth embodiment.
The SAW device 501 is different from the SAW device 1 of the first embodiment in the cross-sectional shape when the terminal 507 is cut in the vertical direction (vertical direction of the paper surface).

すなわち、SAW装置501では端子507は、第1主面3a側が第1主面3aとは反対側よりも径が大きくなっているテーパ部を有している。端子507がこのような形状を有していることにより、端子507がカバー5から引き抜かれることを抑制することができる。なお、端子507の第1主面3aに平行な断面の形状は、第1の実施形態のSAW装置1と同じである。   That is, in the SAW device 501, the terminal 507 has a tapered portion having a diameter larger on the first main surface 3a side than on the opposite side to the first main surface 3a. Since the terminal 507 has such a shape, the terminal 507 can be prevented from being pulled out from the cover 5. The shape of the cross section of the terminal 507 parallel to the first major surface 3a is the same as that of the SAW device 1 of the first embodiment.

本発明は、以上の実施形態及び変形例に限定されず、種々の態様で実施されてよい。   The present invention is not limited to the above embodiments and modifications, and may be implemented in various aspects.

弾性波装置は、SAW装置に限定されない。例えば、弾性波装置は、圧電薄膜共振器であってもよい。   The elastic wave device is not limited to the SAW device. For example, the acoustic wave device may be a piezoelectric thin film resonator.

弾性波装置において、保護層(25)は省略されてもよいし、逆に、他の適宜な層などが形成されてもよい。例えば、パッド13と端子7との間に介在する接続強化層、枠部と蓋部との間に形成される回路構成層が設けられてもよい。   In the acoustic wave device, the protective layer (25) may be omitted, or conversely, other appropriate layers may be formed. For example, a connection reinforcing layer interposed between the pad 13 and the terminal 7 and a circuit configuration layer formed between the frame portion and the lid portion may be provided.

また蓋部上に蓋部を補強するための金属層を設けてもよい。蓋部上に金属層を設けることによって外部から大きな圧力が印加された場合であっても蓋部が変形するのを抑制して振動空間が大きく歪むのを防止することができる。このような金属層は例えばCuからなり、端子を形成するのと同じプロセスでめっきにより作製することができる。   Moreover, you may provide the metal layer for reinforcing a cover part on a cover part. By providing the metal layer on the lid, even when a large pressure is applied from the outside, the lid can be prevented from being deformed and the vibration space can be prevented from being greatly distorted. Such a metal layer is made of Cu, for example, and can be produced by plating in the same process as forming the terminal.

端子は、主面に平行な断面の面積及び形状が、主面側からカバーの上面側へ亘って一定でなくてもよい。例えば、端子は、主面側が拡径する、若しくは、主面側が縮径するテーパ状に形成されていてもよい。   The area and shape of the cross section of the terminal parallel to the main surface may not be constant from the main surface side to the upper surface side of the cover. For example, the terminal may be formed in a taper shape in which the diameter of the main surface side is increased or the diameter of the main surface side is reduced.

1…弾性表面波装置(弾性波装置)、3…基板、3a…第1主面(主面)、5…カバー、5a…内壁面、5b…外壁面、5c…面取り面(所定壁面)、7…端子、7aa…内側近接面、7ab…外側近接面、10…振動空間、11…SAW素子(弾性波素子)、C1…仮想円。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Surface acoustic wave apparatus (elastic wave apparatus), 3 ... Board | substrate, 3a ... 1st main surface (main surface), 5 ... Cover, 5a ... Inner wall surface, 5b ... Outer wall surface, 5c ... Chamfering surface (predetermined wall surface), 7 ... Terminal, 7aa ... Inner proximity surface, 7ab ... Outer proximity surface, 10 ... Vibration space, 11 ... SAW element (elastic wave element), C1 ... Virtual circle.

Claims (6)

基板と、
前記基板の主面に設けられた弾性波素子と、
前記弾性波素子を収容する振動空間の一部を構成する内壁面、および前記振動空間とは面しない外側の面である外壁面を有するカバーと、
前記主面に配置され、前記内壁面と前記外壁面との間において前記カバーを縦方向に貫通する端子と、
を備え、
前記主面の平面視において、前記内壁面の一部である所定壁面と、前記端子の側面のうち前記所定壁面側に位置する近接面との幾何学的関係は、前記主面に平行で前記端子の外側に位置する直線と、前記端子の断面形状に収まる最大の仮想円の円周との幾何学的関係よりも、平行に近く、
前記主面の平面視において、前記端子の前記近接面は、前記所定壁面側に膨らんでおり、前記所定壁面は、前記端子とは反対側に膨らんでいる
弾性波装置。
A substrate,
An acoustic wave element provided on a main surface of the substrate;
A cover having an inner wall surface that constitutes a part of a vibration space that houses the acoustic wave element, and an outer wall surface that is an outer surface that does not face the vibration space;
A terminal disposed on the main surface and penetrating the cover in a vertical direction between the inner wall surface and the outer wall surface;
With
In a plan view of the main surface, a geometrical relationship between a predetermined wall surface that is a part of the inner wall surface and a proximity surface located on the predetermined wall surface side of the side surface of the terminal is parallel to the main surface and the Nearer parallel than the geometrical relationship between the straight line located outside the terminal and the circumference of the largest virtual circle that fits in the cross-sectional shape of the terminal,
In the plan view of the main surface, the proximity surface of the terminal swells to the predetermined wall surface side, and the predetermined wall surface swells to the side opposite to the terminal.
前記主面の平面視において、前記所定壁面と、前記端子の前記近接面との幾何学的関係は、前記直線と、前記端子の面積と同等の面積を有する仮想円の円周との幾何学的関係よりも、平行に近い
請求項1に記載の弾性波装置。
In a plan view of the main surface, the geometric relationship between the predetermined wall surface and the proximity surface of the terminal is a geometry of the straight line and the circumference of a virtual circle having an area equivalent to the area of the terminal. The elastic wave device according to claim 1, wherein the elastic wave device is closer to parallel than the target relationship.
前記主面の平面視において、前記端子の前記近接面と前記所定壁面とは平行である
請求項1又は2に記載の弾性波装置。
The elastic wave device according to claim 1, wherein the proximity surface of the terminal and the predetermined wall surface are parallel in a plan view of the main surface.
前記端子は、前記側面から突出して前記カバーの上面に積層されるフランジを有し、
前記主面の平面視において、前記所定壁面と、前記端子の前記フランジを含む上端面の外周縁部のうち前記所定壁面側に位置する近接縁部との幾何学的関係は、前記直線と、前記端子の前記上端面に収まる最大の仮想円の円周との幾何学的関係よりも、平行に近い
請求項1〜3のいずれか1項に記載の弾性波装置。
The terminal has a flange protruding from the side surface and laminated on the upper surface of the cover,
In the plan view of the main surface, the geometric relationship between the predetermined wall surface and the adjacent edge portion located on the predetermined wall surface side of the outer peripheral edge portion of the upper end surface including the flange of the terminal is the straight line, The elastic wave device according to any one of claims 1 to 3, wherein the elastic wave device is closer to parallel than a geometrical relationship with a circumference of a maximum virtual circle that fits on the upper end surface of the terminal.
基板と、
前記基板の主面に設けられた弾性波素子と、
前記弾性波素子を収容する振動空間の一部を構成する内壁面、および前記振動空間とは面しない外側の面である外壁面を有するカバーと、
前記主面に配置され、前記内壁面と前記外壁面との間において前記カバーを縦方向に貫通する端子と、
を備え、
前記端子は、前記端子の側面から突出して前記カバーの上面に積層されるフランジを有し、
前記主面の平面視において、前記端子の前記フランジを含む上端面は、曲線の輪郭を含む形状に形成されており、前記内壁面の一部である所定壁面と、前記端子の前記上端面の外周縁部のうち前記所定壁面側に位置する近接縁部との幾何学的関係は、前記主面に平行で前記フランジの外側に位置する直線と、前記端子の前記上端面に収まる最大の仮想円の円周との幾何学的関係よりも、平行に近く、
前記主面の平面視において、前記端子の前記近接縁部は、前記所定壁面側に膨らんでおり、前記所定壁面は、前記端子とは反対側に膨らんでいる
弾性波装置。
A substrate,
An acoustic wave element provided on a main surface of the substrate;
A cover having an inner wall surface that constitutes a part of a vibration space that houses the acoustic wave element, and an outer wall surface that is an outer surface that does not face the vibration space;
A terminal disposed on the main surface and penetrating the cover in a vertical direction between the inner wall surface and the outer wall surface;
With
The terminal has a flange that protrudes from a side surface of the terminal and is laminated on an upper surface of the cover,
In a plan view of the main surface, an upper end surface including the flange of the terminal is formed in a shape including a curved outline, and a predetermined wall surface that is a part of the inner wall surface, and the upper end surface of the terminal The geometrical relationship between the outer peripheral edge portion and the adjacent edge portion located on the predetermined wall surface side is the largest virtual line that fits in the straight line parallel to the main surface and located outside the flange and the upper end surface of the terminal. It is closer to parallel than the geometric relationship with the circumference of the circle,
In the plan view of the main surface, the adjacent edge portion of the terminal swells toward the predetermined wall surface, and the predetermined wall surface swells on the side opposite to the terminal.
前記主面の平面視において、前記端子の断面形状が円形である
請求項1〜5のいずれか1項に記載の弾性波装置。
In a plan view of the major surface, the cross-sectional shape of the pin is circular
The elastic wave apparatus of any one of Claims 1-5 .
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