JP5658171B2 - 内部観察装置 - Google Patents
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Description
以下、本発明の実施の形態を、光散乱性を有する観察対象として生体組織を例にした内部観察装置について図を参照して説明する。
x ≧ 2.8 × z
とすればよいことが分かった。とくに従来の光学的観察では難しかった3mm以上の深さの情報を得るためには、距離301を約8mm以上に設定すればよいことが判明した。
図8に、走査部501を組み込んだ装置の1例を示す。
図9に、実施例の1つとして、照明光107と後方散乱光108を同一光学系に通す構成のブロック図を示す。
x ≧ 2.8 × z
となるように規定したことを特徴とする。
D ≦ W
(前記検出領域の1方向の大きさをD、前記第2の生体組織の把握したい大きさをWとした)。
このような1態様によれば、第2の生体組織の有無の情報を、ノイズに埋もれることなく検出することが可能となる。 (A20)当該内部観察装置は、前記第1の生体組織への(照明部の出射から組織の入射までの)照射端において前記照明光が平行光となるように、NA調整光学系を備えたことを特徴とする。
以下に説明する本発明の第2の側面の1または1以上の態様は、上述した第1の側面の1または1以上の態様と組み合わせて使用されてもよい。また、第2の側面に示される1の態様が単独で、または1または1以上の態様が組み合わされて使用されてもよい。
図14は本発明の第3の実施形態に係る散乱体内部計測装置1401のブロック構成図である。同図に示すように、散乱体内部計測装置1401は、可動性の光照射部1410、検出部1411、制御/解析部1412、メモリ1413、表示部1414、入力部1415を具備している。
次に、本発明の第4の実施形態を説明する。図19は、第4の実施形態に係る散乱体内部計測装置1900のブロック構成図である。本散乱体内部計測装置1900においては、光照明部1909及び検出部1910が可動可能に備えられる。
散乱体内部の測定対象(すなわち観察対象)の情報を取得する散乱体内部計測装置(すなわち散乱体内部観察装置)であって、前記測定対象と前記散乱体とで光学特性の異なる光を前記散乱体に照射するように構成された照明部(すなわち光照射部)と、前記照明部により照射された光の後方散乱光を検出するように構成された検出部と、前記検出部により取得されたデータにおいて前記測定対象の存在の有無を確認し、前記照射位置と前記測定対象が確認された位置との距離から、前記散乱体における前記測定対象の深度を含めた位置情報を求めるように構成された解析部とを備え、前記照明部と前記検出部が前記散乱体に非接触で計測が行われることを特徴とする散乱体内部計測装置並びに該装置を用いた計測方法。
本発明は、更に、散乱体による後方散乱光を計測することにより散乱体内部を観測する装置及び方法に関する。以下に説明する本発明の第3の側面の1または1以上の態様は、上述した第1の側面および/または第2の側面の1または1以上の態様と組み合わせて使用されてもよい。また、第3の側面に示される1の態様が単独で、または1または1以上の態様が組み合わされて使用されてもよい。
図20は第3の側面の一つの実施形態に係る散乱体内部観測装置2001のブロック構成図である。同図に示すように、散乱体内部観測装置2001は、光照射部2010、検出部2011、制御部2012、表示部2014、入力部2015を具備している。
照明部によって、散乱体に光を照射し、検出部によって該照射された光の後方散乱光を検出し、後方散乱光の光強度データを取得する。次いで、画像化分によって、取得された光強度データが解析され、それぞれ深度が異なる複数の断層画像が作製される。
前記散乱体を構成する散乱媒質と前記異質部分とで光学特性の異なる波長を少なくとも含む光を前記散乱体に照射するように構成された照明部(即ち、光照射部)と、
前記照明部により照射された光の後方散乱光を検出し、該後方散乱光の光強度データを取得するように構成された検出部と、
前記取得された光強度データを解析し、それぞれ深度が異なる複数の断層画像を作製するように構成された画像化部(即ち、画像構築部)と、
前記作製された複数の断層画像から、前記異質部分が表示された断層画像を選択するように構成された解析部(即ち、選択部)と、
前記選択された断層画像を表示するように構成された表示部を備えることを特徴とする、散乱体内部観測装置。
前記散乱体を構成する散乱媒質と前記異質部分とで光学特性の異なる波長を少なくとも含む光を前記散乱体に照射するように構成された照明部と、
前記照明部により照射された光の後方散乱光を検出し、該後方散乱光の光強度データを取得するように構成された検出部と、
前記取得された光強度データを解析し、それぞれ深度が異なる複数の断層画像を作製するように構成された画像化部と、
作製された断層画像を表示するように構成された表示部と、
前記表示された複数の断層画像から、所望の断層画像を選択して表示させるように構成された入力部とを備えることを特徴とする、散乱体内部観測装置。
(a) 前記散乱体を構成する散乱媒質と前記異質部分とで光学特性の異なる波長を少なくとも含む光を前記散乱体に照射する工程と、
(b) 前記照射された光の後方散乱光を検出し、該後方散乱光の光強度データを取得する工程と、
(c) 前記工程により取得された光強度データを解析し、それぞれ深度が異なる複数の断層画像を作製する工程と、
(d) 前記作製された複数の断層画像から、前記異質部分が表示された断層画像を選択する工程と、
(e) 前記工程により選択された断層画像を表示する工程と、
を含むことを特徴とする方法。
(a) 前記散乱体を構成する散乱媒質と前記異質部分とで光学特性の異なる波長を少なくとも含む光を前記散乱体に照射する工程と、
(b) 前記照射された光の後方散乱光を検出し、該後方散乱光の光強度データを取得する工程と、
(c) 前記工程により取得された光強度データを解析し、それぞれ深度が異なる複数の断層画像を作製する工程と、
(d) 前記作製された断層画像を表示する工程と、
(e) 前記表示された複数の断層画像から、所望の画像を選択して表示させる工程と、
を含むことを特徴とする方法。
前記工程(e)において選択された断層画像と同じ条件の断層画像が選択されて表示が更新されることを特徴とする前記(B13)に記載の方法。
本発明に従う第4の側面において、散乱体の表層付近から生じるノイズを除去する機能を備えた散乱体内部観測装置が提供される。以下に説明する本発明の第4の側面の1または1以上の態様は、上述した第1の側面、第2の側面および/または第3の側面の1または1以上の態様と組み合わせて使用されてもよい。また、第4の側面に示される1の態様が単独で、または1または1以上の態様が組み合わされて使用されてもよい。
本態様における散乱体内部観測装置は、散乱体の表面や表層付近によるノイズを除去した、深部処理画像を作製するものである。検出部によって検出される後方散乱光には、散乱体の表面からの反射光も含まれている。散乱体の表面には、微小な凹凸が存在するため、反射光が散乱して強弱を生じ、断層画像を作製する際のノイズとなり得る。また、検出される後方散乱光には比較的浅い深度からの後方散乱光も含まれており、深部からの後方散乱光によって断層画像を作製する際にはこれもノイズとなる。
前記散乱体を構成する散乱媒質と前記異質部分とで光学特性の異なる波長を少なくとも含む光を前記散乱体に照射する工程と、
前記照射された光の後方散乱光を検出し、該後方散乱光の光強度データを取得する工程と、
前記工程により取得された光強度データを解析し、散乱体表面における検出領域を決定する工程と、
前記工程により決定された検出領域の後方散乱光を検出し、光強度データを取得する工程と、
前記工程により取得された光強度データから、前記散乱体の断層画像を作製する画像処理工程を含むことを特徴とする方法。
第5の側面によれば、後方散乱光を良好に画像化する方法およびそれを利用する生体内部を観察する装置が提供される。
図27に、第5の側面において使用できる第7の実施形態の1例である内部観察装置を示す。図27は、本実施形態の装置全体の構成を示すブロック構成図である。本観察装置は、オペレータが数値および測定条件などの所望の情報を入力するように構成された入力部と、被写体を照射するための光源と、前記光源からの照射光からの光を被写体表面に対して照射口を通して照射するように構成された照明用光学系と、被写体表面から出てくる後方散乱光を捉えるように構成された検出用光学系と、前記後方散乱光を電気信号に変換するように構成された検出器と、前記被写体表面上における照射位置と検出位置を走査させるように構成された走査機構と、前記光源と前記走査機構を制御するように構成された制御部と、前記検出器からの電気信号の強度を測定するように構成された計測部と、前記走査した際に、測定された電気信号の強度に基づいて画像を生成するように構成された画像化部と、前記走査の経路と調整内容を演算するように構成された演算部と、前記生成された画像を表示するように構成された表示部と、を備える。
図28に、第5の側面において使用できる第8の実施形態の1例である内部観察装置を示す。図28は、本実施形態の装置全体の構成を示すブロック構成図である。
図29に第5の側面において使用できる第9の実施形態の1例である内部観察装置を示す。図29は、本実施形態の装置全体の構成を示すブロック構成図である。
図30は、第7の実施形態〜第9の実施形態の観察装置の被写体側末端を模式的に示す図である。観察装置の被写体側末端には、被写体に光を照射する照射用光学系の照射口と、被写体からの光を受け取る検出用光学系の検出口が円で示される。照明口と検出口のそれぞれの中心の間の距離を、中心間距離といい、d1で示される。
<撮像方法>
第5の側面に従う検出方法の1例を図32Bに示したフローチャートを用いて説明する。
上述したように、一般的な観測装置では、図33(a)に示すように、d1<d2である。従って、観察距離(WD)が小さいか(即ち、近いか)、大きいか(即ち、遠いか)によりd2の大きさは変化する。従って、被写体表面と、照射口および検出口との観察距離(WD)が、近い場合には背景を含む画像がより明るくなり、当該距離が遠くなると背景を含む画像全体が暗くなる(図33(a)右側図、図33(b)を参照)。
第11の実施形態は、次のように、同一画面内において、各撮影点での距離d2を調整する方法である。
図38を用いて、第11の実施形態の1例である撮像方法を説明する。
S386では、制御部が、中心間距離調整光学系および走査機構に指示して、補正された距離d2を維持するように照明用光学系および検出用光学系を移動して配置した状態で、撮像を行う。更に、制御部が、表示部に得られた画像を表示させる。
例2は、動画撮影時により適切な例1の変形例である。動画撮影時には、画像を取得するためにフィルタリング処理を行い、それにより背景の強度分布を算出し、その値から、距離d2に必要な補正値Δを算出すればよい。その際、予め、背景分布の強度と補正値Δとの関係を対応付けるデータをLUTとして記憶部に記憶しておくことも可能である。それにより、撮影時に参照することが可能である。
例3は、更なる例1の変形例であり、背景の検出強度の分布を計測するための撮影において、走査点の間引きを行う構成とすることにより、短時間で補正値を得ることが可能である。図40を参照して説明する。
制御ユニットの構成の1例を図41を参照しながら以下に説明する。
Claims (22)
- 光散乱性を有する対象とその深部に存在し得る被観察物体とにおいて前記対象から前記物体の存在を観察する内部観察装置であって、
前記対象と前記物体とで光学特性の異なる波長を少なくとも含む光を前記対象に照射するように構成された照明部と、
前記照明部により照射された照明光の後方散乱光のうち、特定の検出領域からの光を検出し光強度データを取得するように構成された検出部と、
前記取得された光強度データを解析し画像を構成するように構成された画像化部と、
前記画像を表示するように構成された表示部と、
を備え、
前記特定の検出領域の面積が前記照明光の前記対象の表面における照明領域よりも大きく、
前記検出領域からの後方散乱光を単一の検出素子に入射させる光学系と、
前記照明部による照明位置と前記検出部による検出位置とを、前記対象に対して走査するように構成された走査部と、
を更に備え、
前記画像化部は、前記走査に対応させた画像を構成するように構成され、
前記検出部において、前記走査部を通して導光された前記後方散乱光のうち、前記検出領域からの後方散乱光のみを抽出するためのアパーチャを配置したことを特徴とする内部観察装置。 - 前記照明領域と前記検出領域の距離を規定するように、前記照明部と前記検出部とを配した請求項1に記載の内部観察装置。
- 前記照明領域と前記検出領域の距離において、前記検出領域に少なくとも前記照明領域は含まれないように前記照明部と前記検出部とを配した請求項2に記載の内部観察装置。
- 前記照明光の前記対象の表面における位置と前記検出部が検出する後方散乱光の前記対象の表面における位置との中心間距離 x が、前記物体が存在する位置の前記対象の表面からのおおよその深さ z に対して、
x ≧ 2.8 × z
となるように規定された、請求項2または3に記載の内部観察装置。 - 前記照明部による照明位置と前記検出部による検出位置とを、前記対象の表面にそれぞれ2個以上に配する複数照明検出部を備え、前記照明位置と前記検出位置に対応させた画像を構成するように構成された画像化部とを備える、請求項1〜4の何れか1項に記載の内部観察装置。
- 前記検出領域の大きさが隣接検出領域との中心間距離よりも大きく、隣接する検出領域の間で交わりが生じるようにした請求項1または5に記載の内部観察装置。
- 前記検出領域の大きさを前記検出領域に少なくとも前記照明領域は含まれないようにした、請求項1〜6の何れか1項に記載の内部観察装置。
- 前記画像化部において、検出した前記光強度データを、前記走査時の間隔に対応させて画像を構成するようにした請求項1、5〜7の何れか1項に記載の内部観察装置。
- 前記検出部において、走査部を通して導光された前記後方散乱光のうち、前記検出領域からの後方散乱光のみを抽出するためのアパーチャを導光する光学系における前記検出領域と共役な位置に配置した請求項1に記載の内部観察装置。
- 前記検出部において、走査部を通して導光された前記後方散乱光のうち、前記検出領域からの後方散乱光のみの切り出しを容易にするために、前記走査部と前記アパーチャとの間に倍率調整光学系を備えた、請求項1または9に記載の内部観察装置。
- 前記照明光と前記後方散乱光とを、同一の光学系へ導光する導光光学系と、前記照明部からの照明光を前記導光光学系へ入射させ、前記導光光学系からの前記後方散乱光より前記検出領域からの後方散乱光のみを抽出する分離光学系とを備える、請求項1、8〜10の何れか1項に記載の内部観察装置。
- 前記照明部において、光源としてレーザー光源を用いた、請求項1〜11の何れか1項に記載の内部観察装置。
- 前記レーザー光源を前記照明部の後段へ導光するために光ファイバを用いた、請求項12に記載の内部観察装置。
- 前記照明光を導光する際に、少なくとも照明部から出射した照明光が対象内部へ入射するまでの光路における照射端において、前記照明光が平行光となるように、NA調整光学系を備えた請求項1、9〜13の何れか1項に記載の内部観察装置。
- 前記光散乱性を有する対象は第1の生体組織であり、前記被観察物体は前記第1の生体組織の深部に分布する第2の生体組織であり、前記特定の検出領域は、前記第1の生体組織の表面の検出領域であり、第1の生体組織表面から第2の生体組織の分布を観察する生体内部観察装置として機能するように構成されたことを特徴とする請求項1〜14の何れか1項に記載の内部観察装置。
- 前記照明光の第1の生体組織の表面における位置と前記検出部が検出する後方散乱光の前記第1の生体組織の表面における位置との中心間距離が、8mm以上となるように規定された請求項15に記載の内部観察装置。
- 前記検出領域の面積をS、前記照明光の帯域幅をBWL、前記検出領域での検出光密度をP、前期検出光を前記光強度データへ変換する変換係数をG、前記検出部のノイズフロアをN、前記検出の際の露光時間をt、前記第2の生体組織の有無による前記光強度データの変化率をrとしたとき、
- 前記検出領域の1方向の大きさをD、前記第2の生体組織の把握したい大きさをWとしたとき、D≦Wをみたすように前記検出領域の大きさを決めた、請求項15〜17の何れか1項に記載の内部観察装置。
- 前記第2の生体組織がヘモグロビンを含有し、前記第1の生体組織が血管以外の生体組織で、前記照明光の波長が400〜600nmまたは800〜1000nmまたは1350〜1550nmを少なくとも含む光である、請求項15〜18の何れか1項に記載の内部観察装置。
- 前記第2の生体組織が血管であり、前記第1の生体組織が血管以外の生体組織であり、前記照明光の波長が900〜1000nmを少なくとも含む光である、請求項15〜18の何れか1項に記載の生体内部観察装置。
- 医療用内視鏡として機能するように構成されたことを特徴とする請求項15〜20の何れか1項に記載の内部観察装置。
- 硬性内視鏡として機能するように構成されたことを特徴とする請求項15〜20の何れか1項に記載の内部観察装置。
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