JP5657552B2 - 気流中の荷電浮遊粒子の粒度分布の経時的進展を特徴付けるための装置 - Google Patents
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Description
気流への浮遊粒子の流入のための吸気口、
装置に入る浮遊粒子を荷電することによって荷電浮遊粒子の粒度分布を作り出す粒子荷電ユニット、
少なくとも1つの時間間隔中に少なくとも第1の濃度レベルと第2の濃度レベルの間で荷電粒子の濃度の変動を生じることができる濃度変動部、
第1の濃度レベルと対応する第1の測定信号I1及び第2の濃度レベルと対応する第2の測定信号I2を生成することができる粒子検出部、並びに、第1の測定信号I1及び第2の測定信号I2及び基準粒径dp,refから、荷電浮遊粒子の粒度分布の粒子数濃度N及び平均粒径dp,avを推定するデータ評価ユニット。基準粒径dp,refに対する推定平均粒径dp,avの変化は設定最大変化によって境界される。
いかなる特定の手順又は理論にも制約されることを望まず、以下に該装置の例示的な方法及び実施形態がより詳細に説明される。評価ユニット29は、該装置を通過するサンプル気流中の荷電浮遊粒子の粒度分布の粒子数濃度N及び平均粒径dp,avを推定するようになっている。基本的に、WO2007/000710A2に記載の従来技術によれば、図1aにおける基本センサは次式に従ってφ=φ*においてN,dp,av及びLの評価が可能である。
dp,0、これは所定の基準粒径であり、好適には20nm≦dp,0≦100nmであるように選ばれる。
I1,ref、これは好適には0‐10fAの範囲の値に設定される数値を持つ所定の基準測定信号である。
f、これは1より大きい、好適には1.001≦f≦1.1である所定パラメータである。
Claims (14)
- 気流中の荷電浮遊粒子の粒度分布の経時的進展を特徴付けるための装置であって、
気流への浮遊粒子の流入のための吸気口と、
前記装置に入る浮遊粒子を荷電することによって前記荷電浮遊粒子の粒度分布を作り出す粒子荷電ユニットと、
少なくとも1つの時間間隔中に少なくとも第1の濃度レベルと第2の濃度レベルの間で荷電粒子の濃度の変動を作り出すことができる濃度変動部と、
前記第1の濃度レベルと対応する第1の測定信号I1及び前記第2の濃度レベルと対応する第2の測定信号I2を生成することができる粒子検出部と、
前記第1の測定信号I1及び前記第2の測定信号I2及び基準粒径dp,refから、前記荷電浮遊粒子の粒度分布の粒子数濃度N及び平均粒径dp,avを推定するデータ評価ユニットであって、前記基準粒径dp,refに対する前記推定平均粒径dp,avの変化が設定最大変化によって制限される、データ評価ユニットとを有する、装置。 - 前記荷電浮遊粒子の粒度分布の前記第1の測定信号I1、前記第2の測定信号I2、及び前記推定平均粒径dp,avに基づいて前記粒子数濃度Nが推定される、請求項1に記載の装置。
- 前記濃度変動部が、少なくとも1つの時間間隔中に前記荷電浮遊粒子の粒度分布の少なくとも一部を電気的に沈殿させることができる電気沈殿ユニットである、請求項1に記載の装置。
- 前記第1の濃度レベルが、前記作られた荷電浮遊粒子の粒度分布の濃度レベルと実質的に同じである、請求項1に記載の装置。
- 前記基準粒径dp,refが所定粒径dp,0である、請求項1に記載の装置。
- 前記所定粒径dp,0 が20‐100nmの粒度範囲内の値に設定される、請求項5に記載の装置。
- 前記基準粒径dp,refが予め推定される平均粒径である、請求項1に記載の装置。
- 前記第1の測定信号I1が前記第2の測定信号I2以下であるとき、前記推定平均粒径dp,avが前記基準粒径dp,refと等しいと考えられる、請求項1乃至7のいずれか一項に記載の装置。
- 前記第1の測定信号I1が所定基準信号I1,ref以下であるとき、前記推定平均粒径dp,avが前記基準粒径dp,refと等しいと考えられる、請求項1乃至8のいずれか一項に記載の装置。
- 前記推定平均粒径dp,avと前記推定粒子数濃度Nの数学的積N*dp,avが前記第1の測定信号I1に比例するように設定される、請求項1に記載の装置。
- 前記設定最大変化が、それぞれ前記2つの測定信号I1及びI2の少なくとも1つの大きさに依存する、請求項1に記載の装置。
- 一連の第1の測定信号I1(tk),I1(tk+2),I1(tk+4),……及び一連の第2の測定信号I2(tk+1),I2(tk+3),I2(tk+5),……が、時間における連続的瞬間tk,tk+1,tk+2,……において連続的に生成され、kは整数をあらわし、前記データ評価ユニットが、前記第1の測定信号I1又は前記第2の測定信号I2のいずれかが生成される各瞬間tk,tk+1,tk+2,……において前記荷電浮遊粒子の粒度分布の粒子数濃度N及び平均粒径dp,avを推定する、請求項1に記載の装置。
- 前記装置が、直径5‐500nmの粒度範囲の荷電超微粒子である、荷電浮遊粒子の粒度分布の特性の経時的進展を測定する、請求項1乃至12のいずれか一項に記載の装置。
- 前記装置が、直径10‐300nmの粒度範囲の荷電超微粒子である、荷電浮遊粒子の粒度分布の特性の経時的進展を測定する、請求項1乃至12のいずれか一項に記載の装置。
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