JP5647868B2 - Electrical contact and socket for electrical parts - Google Patents

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Description

この発明は、半導体装置(以下「ICパッケージ」という)等の電気部品に接続される電気接触子及び、この電気接触子が配設された電気部品用ソケットに関するものである。   The present invention relates to an electrical contact connected to an electrical component such as a semiconductor device (hereinafter referred to as “IC package”), and an electrical component socket in which the electrical contact is disposed.

従来からこの種の電気接触子としては、筒体部材の中空部の中に、コイルスプリング及びプランジャを挿入してなるものが知られている(特許文献1参照)。   Conventionally, as this type of electrical contact, one in which a coil spring and a plunger are inserted into a hollow portion of a cylindrical member is known (see Patent Document 1).

このようなものにあっては、電気部品等がプランジャを押すと、コイルスプリングが圧縮され、この圧縮力によって、電気部品とプランジャとが所定の接触圧で接触し、筒体部材と配線基板とが所定の接触圧で接触する。これにより、電気部品と配線基板とが、電気接触子を介して電気的に接続される。   In such a case, when the electric component or the like presses the plunger, the coil spring is compressed, and the compression force causes the electric component and the plunger to contact at a predetermined contact pressure, and the cylindrical member and the wiring board Contact at a predetermined contact pressure. Thereby, an electrical component and a wiring board are electrically connected via an electrical contact.

従来、このような金属製の筒体部材の中空部は、例えば金属棒をドリルで切削すること等によって、形成されていた。   Conventionally, the hollow part of such a cylindrical member made of metal has been formed, for example, by cutting a metal rod with a drill.

特開2007−316023号公報。Unexamined-Japanese-Patent No. 2007-316023.

近年、ICパッケージの端子のピッチが狭くなる傾向にあり、このため、例えば直径0.28mm程度の非常に細い電気接触子が必要な場合もある。   In recent years, the pitch of terminals of an IC package tends to be narrowed. For this reason, for example, a very thin electric contact having a diameter of about 0.28 mm may be required.

しかしながら、このような非常に細い電気接触子において、金属棒を切削することによって筒体部材に中空部を形成するためには、ドリルも非常に細いものを用いなければならないので破損し易く、ある程度の深さを有する中空部を形成することは非常に難しいものである。   However, in such a very thin electric contact, in order to form a hollow portion in a cylindrical member by cutting a metal rod, a drill must also be used so that it is easy to break. It is very difficult to form a hollow portion having a depth of 1 mm.

そこで、この発明は、非常に細い場合でも容易に製造することができる電気接触子及びこれを用いた電気部品用ソケットを提供することを課題としている。   Therefore, an object of the present invention is to provide an electrical contact that can be easily manufactured even when it is very thin, and an electrical component socket using the electrical contact.

かかる課題を達成するために、第1の発明は、導電性板材を円筒状に曲げ加工すると共に一端側の開口端を縮径してなる筒部を有する筒体部材と、該筒部の前記一端側の開口端よりも小さい径の第1接触部と該開口端よりも大きい径の本体部とを有し、該筒部内に上下動自在に挿入された第1接触部材と、該第1接触部材を付勢して前記第1接触部を前記一端側の開口端から突出させるために、該筒部内に挿入されたコイルスプリングと、前記筒部の、他端側の開口端側に該筒部と一体に形成され、該他端側の開口端を塞ぐ方向に曲げ加工されて、内側面で前記コイルスプリングの一端に当接する固定部と、前記筒部の、前記他端側の前記開口端側に該筒部と一体に形成され、前記固定部の外側面に接近する方向に弾性変形し得ると共に、該固定部の該外側面に当接することで該弾性変形が規制されるように、曲げ加工された第2接触部とを備える電気接触子としたことを特徴とする。 In order to achieve such a subject, the first invention is a cylindrical member having a cylindrical portion formed by bending a conductive plate into a cylindrical shape and reducing the diameter of the opening end on one end side, and A first contact member having a first contact portion having a diameter smaller than an opening end on one end side and a main body portion having a diameter larger than the opening end, and being inserted into the cylindrical portion so as to be movable up and down; In order to bias the contact member so that the first contact portion protrudes from the opening end on the one end side, a coil spring inserted into the tube portion and the opening end side on the other end side of the tube portion A fixed portion that is formed integrally with the cylindrical portion, is bent in a direction to close the opening end of the other end side, and is in contact with one end of the coil spring on the inner surface; It is formed integrally with the cylindrical portion on the opening end side, and can be elastically deformed in a direction approaching the outer surface of the fixed portion, and As the elastic deformation is restricted by abutting the outer side of the tough, characterized in that the electrical contacts and a second contact portion which is bent.

他の特徴は、前記第2接触部が、外側に向けて突出する略半球状の突出部を備えることにある。   Another feature is that the second contact portion includes a substantially hemispherical protrusion that protrudes outward.

第2の発明は、配線基板上に配置され、上側に電気部品が収容されるソケット本体と、該ソケット本体に複数設けられ、前記電気部品に前記第1接触部又は前記第2接触部の一方が接触し且つ前記配線基板に前記第1接触部又は前記第2接触部の他方が接触する、第1の発明の電気接触子とを有している電気部品用ソケットとしたことを特徴とする。   According to a second aspect of the present invention, there is provided a socket body that is disposed on the wiring board and accommodates an electrical component on the upper side, and a plurality of the socket body is provided, and the electrical component has one of the first contact portion and the second contact portion. And the other one of the first contact portion and the second contact portion is in contact with the wiring board. .

第1、第2の発明によれば、電気接触子の筒部及び第2接触部を、導電性板材を円筒状に曲げ加工すると共に一端側の開口端を縮径し、他端側の開口端側に該筒部と一体に形成された第2接触部を該他端側の開口端を塞ぐ方向に曲げ加工することによって形成したので、電気接触子が非常に細い場合でも容易に製造することができる。   According to the first and second inventions, the cylindrical portion and the second contact portion of the electric contact are bent into a cylindrical shape of the conductive plate material, the opening end on one end side is reduced in diameter, and the opening on the other end side is formed. Since the second contact portion formed integrally with the cylindrical portion on the end side is formed by bending in a direction to close the opening end on the other end side, it is easily manufactured even when the electrical contact is very thin. be able to.

更に、第1、第2の発明によれば、コイルスプリングの一端に当接する固定部を設けると共に、第2接触部を弾性変形時に固定部に当接するように曲げ加工したので、固定部と第2接触部とを二枚重ねとすることで強度を向上させることができると共に、この第2接触部に弾性を持たせることにより配線基板等に対して良好な接触を確保でき、しかも、第2接触部を固定部に接触させることで導通性能を向上させることができる。 Furthermore, according to the first and second aspects of the invention , the fixing portion that contacts the one end of the coil spring is provided , and the second contact portion is bent so as to contact the fixing portion during elastic deformation. The strength of the two contact portions can be improved by stacking the two contact portions, and the second contact portion can be ensured in good contact with the wiring board by giving elasticity to the second contact portion. The contact performance can be improved by bringing the contact with the fixed portion.

他の特徴によれば、外側に突出する略半球状の突出部を第2接触部に設けたので、第2接触部による接触をほぼ点接触として、良好な接触を確保できる。   According to another feature, since the substantially hemispherical protruding portion protruding outward is provided in the second contact portion, the contact by the second contact portion is substantially point contact, and good contact can be ensured.

この発明の実施の形態に係るICソケットの正面図である。1 is a front view of an IC socket according to an embodiment of the present invention. 同実施の形態に係るコンタクトピンを示す図で、(a)は正面図、(b)は(a)の縦断面図である。It is a figure which shows the contact pin which concerns on the embodiment, (a) is a front view, (b) is a longitudinal cross-sectional view of (a). 同実施の形態に係る製造工程を示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view showing a manufacturing process concerning the embodiment. 同実施の形態に係る動作を示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view which shows the operation | movement which concerns on the same embodiment.

以下、この発明の実施の形態について説明する。   Embodiments of the present invention will be described below.

図1〜図4には、この発明の実施の形態を示す。   1 to 4 show an embodiment of the present invention.

まず構成を説明すると、図1中符号11は、「電気部品用ソケット」としてのICソケットで、このICソケット11は、配線基板P上に配設されるようになっており、「電気部品」であるICパッケージ12(図4(c)参照)等のバーンイン試験等を行うために、このICパッケージ12の球状端子12aとその配線基板Pとの電気的接続を図るものである。   First, the configuration will be described. Reference numeral 11 in FIG. 1 denotes an IC socket as a “socket for electrical parts”. The IC socket 11 is arranged on the wiring board P. In order to perform a burn-in test or the like of the IC package 12 (see FIG. 4C) or the like, the spherical terminal 12a of the IC package 12 and its wiring board P are electrically connected.

ICソケット11は、図1に示すように、配線基板P上に固定され、ICパッケージ12が収容されるソケット本体14を有している。   As shown in FIG. 1, the IC socket 11 is fixed on the wiring board P and has a socket body 14 in which the IC package 12 is accommodated.

より詳しくは、そのソケット本体14は、四角形の枠形状の外枠18内にコンタクトモジュール19が配設され、外枠18とコンタクトモジュール19との間にはスプリング21が配設されている。   More specifically, in the socket body 14, a contact module 19 is disposed in a rectangular frame-shaped outer frame 18, and a spring 21 is disposed between the outer frame 18 and the contact module 19.

このコンタクトモジュール19には、複数の「電気接触子」であるコンタクトピン20が配設されると共に、上側にICパッケージが収容されるようになっている。このコンタクトモジュール19は、図4に示すように、上側保持部材22、下側保持部材23、フローティングプレート24等を備えている。この上側保持部材22と下側保持部材23とは所定の間隔で保持され、この上側保持部材22の上側には、フローティングプレート24が、図示省略のスプリングにより上方に付勢されている。そして、これら上側保持部材22、下側保持部材23、フローティングプレート24の貫通孔22a、23a、24aにコンタクトピン20が挿通されて配設されている。   The contact module 19 is provided with a plurality of contact pins 20 which are “electrical contacts” and accommodates an IC package on the upper side. As shown in FIG. 4, the contact module 19 includes an upper holding member 22, a lower holding member 23, a floating plate 24, and the like. The upper holding member 22 and the lower holding member 23 are held at a predetermined interval, and a floating plate 24 is urged upward by a spring (not shown) above the upper holding member 22. The contact pins 20 are inserted into the through holes 22 a, 23 a, and 24 a of the upper holding member 22, the lower holding member 23, and the floating plate 24.

コンタクトピン20は、図2に示すように、筒体部材20aと、「第1接触部材」としてのプランジャ20fと、コイルスプリング20iとを有し、この筒体部材20aには、筒体20bと、「固定部」としての固定片20jと、「第2接触部」としての接触片20kとが一体に形成されている。   As shown in FIG. 2, the contact pin 20 includes a cylindrical member 20a, a plunger 20f as a “first contact member”, and a coil spring 20i. The cylindrical member 20a includes a cylindrical member 20b, The fixed piece 20j as the “fixed portion” and the contact piece 20k as the “second contact portion” are integrally formed.

筒体部材20aは、導電性板材の両端面が接合面20nで相互に当接するように円筒状に曲げ加工された筒部20bを有し、この筒部20bの上側開口端(一端側の開口端)20d側が縮径されている。この筒部20bの側面には、複数の突起20cが設けられている。   The cylindrical member 20a has a cylindrical portion 20b that is bent into a cylindrical shape so that both end surfaces of the conductive plate are in contact with each other at the joint surface 20n, and an upper opening end (opening on one end side) of the cylindrical portion 20b. End) The diameter is reduced on the 20d side. A plurality of protrusions 20c are provided on the side surface of the cylindrical portion 20b.

プランジャ20fは、筒部20bの上側開口端20dよりも小さい径の接触部20gと、上側開口端20dよりも大きい径の本体部20hとを有し、筒部20b内に上下動自在に挿入される。この接触部20gは、ICパッケージ12の球状端子12aに当接するようになっている。   The plunger 20f has a contact portion 20g having a diameter smaller than that of the upper opening end 20d of the cylindrical portion 20b, and a main body portion 20h having a diameter larger than that of the upper opening end 20d, and is inserted into the cylindrical portion 20b so as to be movable up and down. The The contact portion 20g comes into contact with the spherical terminal 12a of the IC package 12.

コイルスプリング20iは、筒部20b内に挿入され、プランジャ20fを上方向に付勢して接触部20gを上側開口端20dから突出させる。   The coil spring 20i is inserted into the cylindrical portion 20b and biases the plunger 20f upward to cause the contact portion 20g to protrude from the upper opening end 20d.

固定片20jは、図3(e)に示すように略円板形状を呈し、筒部20bの下側開口端(他端側の開口端)20eに筒部20bと一体に形成され、この下側開口端20eを塞ぐ方向に折り曲げられている。これにより、固定片20jの上面は、コイルスプリング20iの下端に当接する。   The fixed piece 20j has a substantially disk shape as shown in FIG. 3 (e), and is formed integrally with the cylindrical portion 20b at the lower opening end (opening end on the other end side) 20e of the cylindrical portion 20b. It is bent in the direction to close the side opening end 20e. Thereby, the upper surface of the fixed piece 20j contacts the lower end of the coil spring 20i.

接触片20kは、筒部20bの下側開口端20eに筒部20bと一体に形成され、下側開口端20eを塞ぐ方向に弾性変形可能に折り曲げられている。接触片20kの下面には、下側(外側)に向けて突出する略半球状の突出部20mが設けられている。接触片20kは開口と直角な状態ではなく、少し開いた状態で安定している(図2(b)等参照)。これにより、接触片20kは、弾性変形可能な状態になる。接触片20kは、配線基板Pの電極13に押圧されると弾性変形し、固定片20jに当接する(図4(b)参照)。   The contact piece 20k is formed integrally with the cylindrical portion 20b at the lower opening end 20e of the cylindrical portion 20b, and is bent so as to be elastically deformable in a direction to close the lower opening end 20e. A substantially hemispherical protrusion 20m that protrudes downward (outside) is provided on the lower surface of the contact piece 20k. The contact piece 20k is stable in a slightly opened state, not in a state perpendicular to the opening (see FIG. 2B and the like). Thereby, the contact piece 20k will be in the state which can be elastically deformed. The contact piece 20k is elastically deformed when pressed against the electrode 13 of the wiring board P, and comes into contact with the fixed piece 20j (see FIG. 4B).

次に、コンタクトピン20の製造工程について、図3を用いて説明する。   Next, the manufacturing process of the contact pin 20 will be described with reference to FIG.

まず、打ち抜き加工等により、導電性板材から、筒部20b、固定片20j及び接触片20kとなる部分が一体形成された平板を作製する。   First, a flat plate in which portions that become the cylindrical portion 20b, the fixed piece 20j, and the contact piece 20k are integrally formed is produced from a conductive plate material by punching or the like.

さらに、この平板にプレス加工等を施すことで、筒部20bの突起20c及び接触片20kの突出部20mを形成する。   Further, the flat plate is pressed or the like to form the projection 20c of the cylindrical portion 20b and the protruding portion 20m of the contact piece 20k.

そして、この平板を筒状に曲げ加工することにより、図3(a)及び(e)に示したような筒部20bを作製する。   Then, by bending the flat plate into a cylindrical shape, a cylindrical portion 20b as shown in FIGS. 3A and 3E is produced.

次に、プランジャ20f及びコイルスプリング20iを挿入し、その後、図3(b)に示したように、固定片20jとなる部分を、下側開口端20eを塞ぐ方向に折り曲げる。   Next, the plunger 20f and the coil spring 20i are inserted, and then, as shown in FIG. 3 (b), the portion to be the fixed piece 20j is bent in a direction to close the lower opening end 20e.

さらに、図3(c)に示したように、接触片20kとなる部分を、下側開口端20eを塞ぐ方向に折り曲げる。この折り曲げ加工では、固定片20jがあるために接触片20kが90゜近傍までしか折り曲げられず、このため、折り曲げ加工の後は、接触片20kが下側開口端20eから少し開いた状態で安定する(図3(d)参照)。   Further, as shown in FIG. 3C, the portion that becomes the contact piece 20k is bent in a direction to close the lower opening end 20e. In this bending process, since the fixed piece 20j is present, the contact piece 20k can be bent only to the vicinity of 90 °. Therefore, after the bending process, the contact piece 20k is stable in a state of being slightly opened from the lower opening end 20e. (See FIG. 3D).

次に、かかるICソケット11の使用方法について、図4を用いて説明する。   Next, a method of using the IC socket 11 will be described with reference to FIG.

まず、ICソケット11のコンタクトモジュール19を配線基板Pへ配設する前の状態では、図4(a)に示すように、筒部20bの突起20cが下側保持部材23の貫通孔23aの上側外縁部分に係止され、これにより、コンタクトピン20は下側保持部材23に保持される。また、この状態では、接触片20kが下側開口端20eから少し開いた状態になっている。   First, in a state before the contact module 19 of the IC socket 11 is disposed on the wiring board P, the projection 20c of the cylindrical portion 20b is located above the through hole 23a of the lower holding member 23 as shown in FIG. The contact pin 20 is held by the lower holding member 23 by being locked to the outer edge portion. In this state, the contact piece 20k is slightly opened from the lower opening end 20e.

そして、コンタクトモジュール19を配線基板Pへ配設する際には、コンタクトピン20の接触片20kが、配線基板Pの電極13に当接する。その後、さらに上側保持部材22及び下側保持部材23が配線基板Pに接近すると、筒部20bの突起20cが、上側保持部材22の貫通孔22aの下側外縁部分に当接し、この下側外縁部分がコンタクトピン20を下方向に押圧する。これにより、図4(b)に示すように、コンタクトピン20の接触片20kが弾性変形して、固定片20jに押し当てられる。   When the contact module 19 is disposed on the wiring board P, the contact piece 20 k of the contact pin 20 comes into contact with the electrode 13 of the wiring board P. Thereafter, when the upper holding member 22 and the lower holding member 23 further approach the wiring board P, the protrusion 20c of the cylindrical portion 20b comes into contact with the lower outer edge portion of the through hole 22a of the upper holding member 22, and this lower outer edge. The portion presses the contact pin 20 downward. As a result, as shown in FIG. 4B, the contact piece 20k of the contact pin 20 is elastically deformed and pressed against the fixed piece 20j.

続いて、ICソケット11のフローティングプレート24上にICパッケージ12がセットされ、ICパッケージ12が下方に押圧されると、フローティングプレート24がスプリングの付勢力に抗して下降され、このICパッケージ12の球状端子12aが、プランジャ20fの接触部20gに当接し、この接触部20gを押圧する。これにより、プランジャ20fは、コイルスプリング20iの付勢力に抗して下方に押し下げられ、図4(c)に示したような状態になる。このようにして、ICパッケージ12の球状端子12aと配線基板Pの電極13とが、電気的に接続される。   Subsequently, when the IC package 12 is set on the floating plate 24 of the IC socket 11 and the IC package 12 is pressed downward, the floating plate 24 is lowered against the urging force of the spring. The spherical terminal 12a contacts the contact portion 20g of the plunger 20f and presses the contact portion 20g. As a result, the plunger 20f is pushed downward against the urging force of the coil spring 20i, resulting in a state as shown in FIG. In this way, the spherical terminal 12a of the IC package 12 and the electrode 13 of the wiring board P are electrically connected.

この状態で、ICパッケージ12に電流を流してバーンイン試験等を行う。   In this state, a current is passed through the IC package 12 to perform a burn-in test or the like.

このように、上記実施の形態では、コンタクトピン20の筒部20b及び接触片20kを、導電性板材を円筒状に曲げ加工すると共に上側開口端20dを縮径すること及び、筒部20bの下側開口端20eに接触片20kを一体に形成して下側開口端20eを塞ぐ方向に曲げ加工することによって、形成した。このため、非常に細いコンタクトピン20を、容易に製造することができる。   As described above, in the above-described embodiment, the cylindrical portion 20b and the contact piece 20k of the contact pin 20 are bent into a cylindrical shape while the upper opening end 20d is reduced in diameter, and the bottom of the cylindrical portion 20b. The contact piece 20k is formed integrally with the side opening end 20e, and is formed by bending in a direction to close the bottom opening end 20e. For this reason, the very thin contact pin 20 can be manufactured easily.

また、上記実施の形態では、接触片20kが固定片20jを押し当てる構成により、押圧力が固定片20j及び接触片20kに分散するので、接触片20kの強度を向上させることができる。   Moreover, in the said embodiment, since the pressing force is disperse | distributed to the fixed piece 20j and the contact piece 20k by the structure which the contact piece 20k presses the fixed piece 20j, the intensity | strength of the contact piece 20k can be improved.

また、接触片20kが固定片20jに当接しているため、筒部20b全体に電流が流れ易くなり、コンタクトピン20の導通性能が向上する。   In addition, since the contact piece 20k is in contact with the fixed piece 20j, current easily flows through the entire cylindrical portion 20b, and the conduction performance of the contact pin 20 is improved.

さらには、接触片20kを弾性変形可能に形成したので、配線基板Pの表面の凹凸等を吸収することができ、このため接触片20kと電極13との接触を良好なものにできる。   Furthermore, since the contact piece 20k is formed so as to be elastically deformable, irregularities on the surface of the wiring board P can be absorbed, so that the contact between the contact piece 20k and the electrode 13 can be improved.

なお、従来においては、上下両端側にプランジャを設けたコンタクトピンが知られている。しかし、両端側にプランジャを設けると、コンタクトピンの全長が非常に長くなってしまい、このためにコンタクトピンの高周波特性が悪化してしまう。コンタクトピンの全長を短くする方法としては、コイルスプリングを短くする方法も考えられるが、あまりに短くすると、接触部の弾性力を十分に大きくすることができない。これに対して、上記実施の形態では、上記一方のプランジャの代りに、接触片20kを、折り曲げ加工により弾性変形可能に形成したので、コイルスプリング20iの全長を従来よりも長くして弾性力を確保できると共に、コンタクトピン20の全長を短くすることができる。   Conventionally, a contact pin provided with plungers on both upper and lower ends is known. However, if the plungers are provided on both ends, the total length of the contact pin becomes very long, which deteriorates the high frequency characteristics of the contact pin. As a method of shortening the total length of the contact pin, a method of shortening the coil spring can be considered, but if it is too short, the elastic force of the contact portion cannot be sufficiently increased. On the other hand, in the above embodiment, instead of the one plunger, the contact piece 20k is formed so as to be elastically deformable by bending, so that the overall length of the coil spring 20i is made longer than before and the elastic force is increased. This can be ensured and the total length of the contact pin 20 can be shortened.

上記実施の形態では、「電気部品用ソケット」として、ICソケット11に、この発明を適用したが、これに限らず、他の装置にも適用できることは勿論である。   In the above embodiment, the present invention is applied to the IC socket 11 as the “electrical component socket”. However, the present invention is not limited to this, and can be applied to other devices.

また、上記実施の形態では、プランジャ20fを上側にし且つ接触片20kを下側にした状態で使用したが、接触片20kを上側にし且つプランジャ20fを下側にした状態で使用することもできる。   In the above-described embodiment, the plunger 20f is used with the contact piece 20k on the upper side and the contact piece 20k on the lower side. However, it can be used with the contact piece 20k on the upper side and the plunger 20f on the lower side.

11 ICソケット(電気部品用ソケット)
12 ICパッケージ(電気部品)
12a 球状端子
13 電極
14 ソケット本体
18 外枠
19 コンタクトモジュール
20 コンタクトピン(電気接触子)
20a 筒体部材
20b 筒体
20c 突起
20d 上側開口端(一端側の開口端)
20e 下側開口端(他端側の開口端)
20f プランジャ(第1接触部材)
20g 接触部
20h 本体部
20i コイルスプリング
20j 固定片(固定部)
20k 接触片(第2接触部)
20m 突出部
21 スプリング
22 上側保持部材
23 下側保持部材
24 フローティングプレート
22a, 23a, 24a 貫通孔
P 配線基板
11 IC socket (socket for electrical parts)
12 IC package (electrical parts)
12a spherical terminal
13 electrodes
14 Socket body
18 Outer frame
19 Contact module
20 Contact pin (electric contact)
20a Tubular member
20b cylinder
20c protrusion
20d Upper open end (open end on one end)
20e Lower open end (open end on the other end)
20f Plunger (first contact member)
20g contact area
20h body
20i coil spring
20j Fixed piece (fixed part)
20k contact piece (second contact part)
20m protrusion
21 Spring
22 Upper holding member
23 Lower holding member
24 Floating plate
22a, 23a, 24a Through hole P Wiring board

Claims (3)

導電性板材を円筒状に曲げ加工すると共に一端側の開口端を縮径してなる筒部を有する筒体部材と、
該筒部の前記一端側の開口端よりも小さい径の第1接触部と該開口端よりも大きい径の本体部とを有し、該筒部内に上下動自在に挿入された第1接触部材と、
該第1接触部材を付勢して前記第1接触部を前記一端側の開口端から突出させるために、該筒部内に挿入されたコイルスプリングと、
前記筒部の、他端側の開口端側に該筒部と一体に形成され、該他端側の開口端を塞ぐ方向に曲げ加工されて、内側面で前記コイルスプリングの一端に当接する固定部と、
前記筒部の、前記他端側の前記開口端側に該筒部と一体に形成され、前記固定部の外側面に接近する方向に弾性変形し得ると共に、該固定部の該外側面に当接することで該弾性変形が規制されるように、曲げ加工された第2接触部と、
を備えることを特徴とする電気接触子。
A cylindrical member having a cylindrical portion formed by bending the conductive plate into a cylindrical shape and reducing the diameter of the opening end on one end side;
A first contact member having a first contact portion having a diameter smaller than the opening end on the one end side of the cylindrical portion and a main body portion having a diameter larger than the opening end, and is inserted into the cylindrical portion so as to be movable up and down. When,
A coil spring inserted into the cylindrical portion to urge the first contact member to project the first contact portion from the open end on the one end side;
The cylindrical portion is formed integrally with the cylindrical portion on the opening end side on the other end side, is bent in a direction to close the opening end on the other end side, and is fixed to come into contact with one end of the coil spring on the inner surface. And
The cylindrical portion is formed integrally with the cylindrical portion on the opening end side of the other end side, and can be elastically deformed in a direction approaching the outer surface of the fixing portion, and is in contact with the outer surface of the fixing portion. A second contact portion that is bent so that the elastic deformation is regulated by contact;
An electrical contact comprising:
前記第2接触部が、外側に向けて突出する略半球状の突出部を備えることを特徴とする請求項1に記載の電気接触子。The electrical contact according to claim 1, wherein the second contact portion includes a substantially hemispherical protrusion that protrudes outward. 配線基板上に配置され、上側に電気部品が収容されるソケット本体と、A socket body disposed on the wiring board and containing electrical components on the upper side;
該ソケット本体に複数設けられ、前記電気部品に前記第1接触部材又は前記第2接触部の一方が接触し且つ前記配線基板に前記第1接触部又は前記第2接触部の他方が接触する、請求項1又は2に記載の電気接触子と、A plurality of the socket main body, one of the first contact member or the second contact portion is in contact with the electrical component, and the other of the first contact portion or the second contact portion is in contact with the wiring board; The electrical contact according to claim 1 or 2,
を有していることを特徴とする電気部品用ソケット。A socket for electrical parts, comprising:
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JP2003031194A (en) * 2001-07-17 2003-01-31 Bandai Co Ltd Contact terminal for cell
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