JP5641036B2 - Antireflection article and image display device - Google Patents
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Description
本発明は、反射防止物品、及び画像表示装置に関する。 The present invention relates to an antireflection article and an image display device.
近年、フィルム形状の反射防止物品である反射防止フィルムに関して、透明基材(透明フィルム)の表面に多数の微小突起を密接して配置することにより、反射防止を図る方法が提案されている(特許文献1〜3参照)。この方法は、入射光に対する屈折率を厚み方向に連続的に変化させ、これにより屈折率の不連続界面を消失させて反射防止を図るものである。 In recent years, regarding an antireflection film, which is a film-shaped antireflection article, there has been proposed a method for preventing reflection by arranging a large number of microprotrusions closely on the surface of a transparent substrate (transparent film) (patent) References 1-3). In this method, the refractive index with respect to incident light is continuously changed in the thickness direction, thereby eliminating the discontinuous interface of the refractive index and preventing reflection.
多数の微小突起を有する上記フィルムは、高い反射防止性能を有する。しかしながら、その表面構造のため、皮脂等の汚れが付着し易く、また当該汚れは微小突起間の溝奥まで入り込むため、除去が困難であり、表面外観が悪化し易いという問題があった。 The film having a large number of microprojections has high antireflection performance. However, due to its surface structure, dirt such as sebum is likely to adhere, and the dirt penetrates into the groove between the microprotrusions, so that it is difficult to remove and the surface appearance tends to deteriorate.
特許文献4では、汚染物の除去性に優れるとともに、耐擦傷性を兼備する微細凹凸構造体として、特定の活性エネルギー線硬化性樹脂組成物の硬化物からなる微細凹凸構造体が記載されている。特許文献4には、上記特定の樹脂組成物の硬化物は、当該樹脂組成物が特定の組成を有することにより、架橋密度を高くして、硬化物の弾性率と硬度を高くし、耐擦傷性に優れたものとすることができること、及び、適度な親水性を有し、微細凹凸構造体の表面と、当該表面に付着する汚染物との間に水を侵入させやすくすることにより汚染物の除去性に優れること、が記載されている。
特許文献4の手法によれば、架橋密度を高くして微細凹凸構造体の硬度を上げているため当該微細凹凸構造体は変形しにくく、拭取り時に、微細凹凸構造体の隙間まで届きにくかった。そのため、汚染物を拭き取る際は、水やアルコールを含んだクリーナー等で汚れを浮かび上がらせて拭取る必要があり、乾拭きで汚れを除去することは困難であった。
Patent Document 4 describes a fine concavo-convex structure made of a cured product of a specific active energy ray-curable resin composition as a fine concavo-convex structure excellent in contaminant removal and also having scratch resistance. . In Patent Document 4, the cured product of the specific resin composition described above has a specific composition, whereby the crosslink density is increased, the elastic modulus and hardness of the cured product are increased, and the scratch resistance is increased. Contaminant by making it easy to allow water to enter between the surface of the fine concavo-convex structure and the contaminant adhering to the surface. It is described that it has excellent removability.
According to the method of Patent Document 4, since the cross-linking density is increased to increase the hardness of the fine concavo-convex structure, the fine concavo-convex structure is difficult to deform, and it is difficult to reach the gaps of the fine concavo-convex structure during wiping. . Therefore, when wiping off the contaminants, it is necessary to lift off the dirt with a cleaner or the like containing water or alcohol, and it is difficult to remove the dirt by dry wiping.
微細凹凸層を含む反射防止物品において、微小突起間の溝奥まで入り込んだ汚れを除去する場合、従来、上述の特許文献4などのように、水やアルコール等を含んだ布などを用いて、汚れを浮かび上がらせて拭き取っていた。しかしながら、例えば、携帯電話などの電子機器に備えられた画像表示装置等では水拭きが好ましくないため、乾拭きで汚れを拭き取り可能な微細凹凸層を含む反射防止物品が求められている。 In the antireflection article including the fine uneven layer, when removing dirt that has penetrated to the back of the groove between the microprojections, conventionally, using a cloth containing water, alcohol, etc. The dirt surfaced and was wiped off. However, for example, an image display device provided in an electronic device such as a mobile phone is not preferable to wipe with water, and thus an antireflection article including a fine uneven layer that can be wiped off with dry wiping is required.
本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであり、反射防止性能を低下することなく、乾拭きで汚れを拭き取ることが可能な微細凹凸層を含む反射防止物品、及び、反射防止性能を低下することなく、乾拭きで汚れを拭き取ることが可能な画像表示装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and the antireflection article including a fine uneven layer capable of wiping dirt with dry wiping without reducing the antireflection performance, and the antireflection performance is lowered. An object of the present invention is to provide an image display device capable of wiping off dirt by dry wiping.
本発明に係る反射防止物品は、透明基材の少なくとも一面側に、樹脂組成物の硬化物からなり、且つ前記透明基材と反対側の面に微細凹凸形状を有する微細凹凸層を含む反射防止物品であって、
前記微細凹凸層の表面は、微小突起が集合してなる微小突起群を備えた微細凹凸形状を有し、前記微小突起は、反射防止を図る光の波長帯域の最短波長をΛmin、当該微小突起の隣接突起間隔dの最大値をdmaxとしたときに、
dmax≦Λmin
なる関係を有し、且つ、前記微小突起の深さ方向と直交する水平面で切断したと仮定したときの水平断面内における当該微小突起を形成する材料部分の断面積占有率が、当該微小突起の頂部から最深部方向に近づくに従い連続的に漸次増加する構造を有し、
前記樹脂組成物の硬化物の25℃における貯蔵弾性率(E’)が1MPa以上300MPa以下であり、且つ、前記樹脂組成物の硬化物の25℃における貯蔵弾性率(E’)に対する損失弾性率(E”)の比(tanδ(=E”/E’))が0.2以下であることを特徴とする。
The antireflective article according to the present invention includes an antireflective layer comprising at least one surface side of a transparent substrate, which is made of a cured resin composition and has a fine uneven layer having a fine uneven shape on the surface opposite to the transparent substrate. Goods,
The surface of the fine concavo-convex layer has a fine concavo-convex shape provided with a group of fine protrusions formed by a collection of fine protrusions, and the microprotrusions have the shortest wavelength of the wavelength band of light for preventing reflection as Λ min . When the maximum value of the distance d between adjacent protrusions of the protrusion is dmax ,
d max ≦ Λ min
And the cross-sectional area occupancy rate of the material portion forming the microprojection in the horizontal cross section when it is assumed that the microprojection is cut in a horizontal plane perpendicular to the depth direction of the microprojection is It has a structure that increases gradually and gradually as it approaches the deepest part from the top,
The storage elastic modulus (E ′) at 25 ° C. of the cured product of the resin composition is 1 MPa or more and 300 MPa or less, and the loss elastic modulus with respect to the storage elastic modulus (E ′) at 25 ° C. of the cured product of the resin composition. The ratio (tan δ (= E ″ / E ′)) of (E ″) is 0.2 or less.
本発明に係る反射防止物品においては、前記樹脂組成物の硬化物の表面における、n−ヘキサデカンの接触角が30度以下、又はオレイン酸の接触角が25度以下であることが、乾拭き後の視認性が良好になる点から好ましい。 In the antireflection article according to the present invention, the contact angle of n-hexadecane on the surface of the cured product of the resin composition is 30 degrees or less, or the contact angle of oleic acid is 25 degrees or less. This is preferable from the viewpoint of improved visibility.
本発明に係る反射防止物品においては、前記樹脂組成物が、炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する化合物を含有することが、付着した汚れを除去し易く、且つ、乾拭き後の視認性が良好になる点から好ましい。 In the antireflection article according to the present invention, the resin composition contains a compound having a long-chain alkyl group having 10 or more carbon atoms, so that attached dirt can be easily removed and the visibility after dry wiping is improved. It is preferable from the point of becoming good.
本発明に係る画像表示装置は、表示パネルの少なくとも一面側に、前記本発明に係る反射防止物品を備えることを特徴とする。 The image display device according to the present invention includes the antireflection article according to the present invention on at least one side of a display panel.
本発明によれば、反射防止性能を低下することなく、乾拭きで汚れを拭き取ることが可能な微細凹凸層を含む反射防止物品、及び、反射防止性能を低下することなく、乾拭きで汚れを拭き取ることが可能な画像表示装置を提供することができる。 According to the present invention, an antireflection article including a fine uneven layer that can be wiped off by dry wiping without deteriorating the antireflection performance, and wiping off dirt by dry wiping without deteriorating the antireflection performance. It is possible to provide an image display device capable of performing the above.
以下、本発明に係る反射防止物品、及び画像表示装置について、順に詳細に説明する。
なお、本発明において(メタ)アクリルとは、アクリル又はメタアクリルのいずれかであることを意味し、(メタ)アクリレートとは、アクリレート又はメタクリレートのいずれかであることを意味する。
Hereinafter, the antireflection article and the image display device according to the present invention will be described in detail in order.
In the present invention, (meth) acryl means either acryl or methacryl, and (meth) acrylate means either acrylate or methacrylate.
[反射防止物品]
本発明に係る反射防止物品は、透明基材の少なくとも一面側に、樹脂組成物の硬化物からなり、且つ前記透明基材と反対側の面に微細凹凸形状を有する微細凹凸層を含む反射防止物品であって、
前記微細凹凸層の表面は、微小突起が集合してなる微小突起群を備えた微細凹凸形状を有し、前記微小突起は、反射防止を図る光の波長帯域の最短波長をΛmin、当該微小突起の隣接突起間隔dの最大値をdmaxとしたときに、
dmax≦Λmin
なる関係を有し、且つ、前記微小突起の深さ方向と直交する水平面で切断したと仮定したときの水平断面内における当該微小突起を形成する材料部分の断面積占有率が、当該微小突起の頂部から最深部方向に近づくに従い連続的に漸次増加する構造を有し、
前記樹脂組成物の硬化物の25℃における貯蔵弾性率(E’)が300MPa以下であり、且つ、前記樹脂組成物の硬化物の25℃における貯蔵弾性率(E’)に対する損失弾性率(E”)の比(tanδ(=E”/E’)、以下、損失正接という場合がある)が0.2以下であることを特徴とする。
[Anti-reflective article]
The antireflective article according to the present invention includes an antireflective layer comprising at least one surface side of a transparent substrate, which is made of a cured resin composition and has a fine uneven layer having a fine uneven shape on the surface opposite to the transparent substrate. Goods,
The surface of the fine concavo-convex layer has a fine concavo-convex shape provided with a group of fine protrusions formed by a collection of fine protrusions, and the microprotrusions have the shortest wavelength of the wavelength band of light for preventing reflection as Λ min . When the maximum value of the distance d between adjacent protrusions of the protrusion is dmax ,
d max ≦ Λ min
And the cross-sectional area occupancy rate of the material portion forming the microprojection in the horizontal cross section when it is assumed that the microprojection is cut in a horizontal plane perpendicular to the depth direction of the microprojection is It has a structure that increases gradually and gradually as it approaches the deepest part from the top,
The storage elastic modulus (E ′) at 25 ° C. of the cured product of the resin composition is 300 MPa or less, and the loss elastic modulus (E) relative to the storage elastic modulus (E ′) at 25 ° C. of the cured product of the resin composition. ”) (Tan δ (= E ″ / E ′), hereinafter may be referred to as loss tangent) is 0.2 or less.
上記本発明に係る反射防止物品について図を参照して説明する。図1は、本発明に係る反射防止物品の一例を模式的に示す断面図である。図1に示す反射防止物品10は、透明基材1の一面側に、微細凹凸形状を有する微細凹凸層2を有する。
前記微細凹凸層2の表面は、微小突起3が集合してなる微小突起群を備えた微細凹凸形状を有し、前記微小突起3は、反射防止を図る光の波長帯域の最短波長をΛmin、当該微小突起3の隣接突起間隔d(図1)の最大値をdmaxとしたときに、
dmax≦Λmin
なる関係を有し、且つ、前記微小突起の深さ方向と直交する水平面で切断したと仮定したときの水平断面内における当該微小突起3を形成する材料部分の断面積占有率が、当該微小突起3の頂部から最深部方向に近づくに従い連続的に漸次増加する構造を有している。微細凹凸層2がこのような構造を有することにより、Λmin以上の波長を有する光の反射防止を図ることができる。
The antireflection article according to the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing an example of an antireflection article according to the present invention. An antireflection article 10 shown in FIG. 1 has a fine uneven layer 2 having a fine uneven shape on one surface side of a transparent substrate 1.
The surface of the fine uneven layer 2 has a fine uneven shape with a fine projection group fine projections 3 will be set, the microprojections 3, the shortest wavelength in the wavelength band of light to improve the anti-reflection lambda min When the maximum value of the adjacent protrusion interval d (FIG. 1) of the minute protrusion 3 is d max ,
d max ≦ Λ min
And the cross-sectional area occupancy rate of the material portion forming the microprojections 3 in the horizontal cross section when it is assumed that the microprojections are cut in a horizontal plane perpendicular to the depth direction of the microprojections is 3 has a structure that increases gradually and gradually from the top to the deepest part. When the fine concavo-convex layer 2 has such a structure, it is possible to prevent reflection of light having a wavelength of Λ min or more.
本発明の反射防止物品は、前記微細凹凸層が樹脂組成物の硬化物からなり、当該樹脂組成物の硬化物の25℃における貯蔵弾性率(E’)が300MPa以下であり、且つ、当該樹脂組成物の硬化物の25℃における貯蔵弾性率(E’)に対する損失弾性率(E”)の比(tanδ(=E”/E’))が0.2以下であることにより、微細凹凸形状の復元性に優れ、乾拭きで汚れを拭き取ることが可能となる。 In the antireflection article of the present invention, the fine concavo-convex layer is made of a cured product of the resin composition, the storage elastic modulus (E ′) at 25 ° C. of the cured product of the resin composition is 300 MPa or less, and the resin The ratio of the loss elastic modulus (E ″) to the storage elastic modulus (E ′) at 25 ° C. of the cured product of the composition (tan δ (= E ″ / E ′)) is 0.2 or less. It is possible to wipe off dirt by dry wiping.
本発明者らは、微細凹凸層表面に付着した汚染物を拭取る際に、微小突起に圧力がかかることに着目した。本発明者らは、拭取る際の圧力により、微小突起が変形して、突起間の溝が広がる、或いは、突起間の溝が埋まるように設計することにより、微小突起間に付着した汚染物を機械的に掻き出し易くなり、乾拭きで汚れを拭取ることが可能となると考えた。
従来の反射防止物品は、耐擦傷性の点から、微小突起の硬度が高いものが広く用いられてきた。硬度の高い微小突起は、拭取り時に圧力がかかってもほとんど変形しないため、乾拭きで汚れを拭き取ることは困難であった。
一方、圧力により容易に変形可能な微小突起は、圧力により当該突起が潰れたり、スティッキングが生じやすく、拭いた箇所に拭き痕が残ってしまう場合があった。
本発明においては、微細凹凸層として上記特定の物性を有する樹脂組成物の硬化物を用いる。当該樹脂組成物の硬化物は、貯蔵弾性率(E’)が300MPa以下、且つ、損失正接(tanδ)が0.2以下であることにより、当該微細凹凸層の微小突起は、拭取る程度の圧力で変形し、且つ、優れた弾性復元性を備えている。そのため、乾拭きで汚れを拭取る際には、その圧力により微小突起が変形して、微小突起間に付着した汚れを機械的に掻き出し易くなり、その後、圧力が取り除かれると、塑性変形を生じることなく元の微小突起の形状に復元する。このようなことから、本発明の反射防止物品は、乾拭きであっても、反射防止性能を低下させることなく、汚れを拭取ることが可能である。
なお、本発明における拭取り時の圧力の大きさは、特に限定されるものではないが、通常、およそ2〜5kg/cm2程度の圧力である。
以下、本発明に係る反射防止物品に含まれる透明基材、微細凹凸層について、順に説明する。
The present inventors have paid attention to the fact that pressure is applied to the fine protrusions when wiping the contaminants attached to the surface of the fine uneven layer. The present inventors have designed that the microprotrusions are deformed by the pressure at the time of wiping and the grooves between the protuberances are widened, or the grooves between the protuberances are filled, so that the contaminants adhered between the microprotrusions. We thought that it would be easy to scrape out mechanically and that it would be possible to wipe off the dirt with dry wiping.
Conventional antireflective articles have been widely used in which the hardness of the microprojections is high from the viewpoint of scratch resistance. Since the fine protrusions with high hardness hardly deform even when pressure is applied during wiping, it is difficult to wipe off the dirt by dry wiping.
On the other hand, the microprotrusions that can be easily deformed by the pressure are likely to be crushed or sticking by the pressure, so that a wiping mark may remain at the wiped portion.
In this invention, the hardened | cured material of the resin composition which has the said specific physical property is used as a fine uneven | corrugated layer. The cured product of the resin composition has a storage elastic modulus (E ′) of 300 MPa or less and a loss tangent (tan δ) of 0.2 or less. It is deformed by pressure and has excellent elastic resilience. Therefore, when wiping dirt with dry wiping, the micro-protrusions are deformed by the pressure, making it easy to mechanically scrape the dirt adhering between the micro-protrusions, and then plastic deformation occurs when the pressure is removed It restores the original shape of the microprojections. For this reason, the antireflection article of the present invention can wipe off dirt without deteriorating the antireflection performance even when it is dry wiped.
The size of the pressure when Ri wipe in the invention is not particularly limited, usually, is about 2~5kg / cm 2 pressure of about.
Hereinafter, the transparent base material and the fine uneven layer included in the antireflection article according to the present invention will be described in order.
<透明基材>
本発明に用いられる透明基材は、反射防止物品に用いられる公知の透明基材の中から用途に応じて適宜選択して用いることができる。透明基材に用いられる材料の具体例としては、例えば、トリアセチルセルロース等のアセチルセルロース系樹脂、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル系樹脂、ポリエチレンやポリメチルペンテン等のオレフィン系樹脂、アクリル系樹脂、ポリウレタン系樹脂、ポリエーテルサルホンやポリカーボネート、ポリスルホン、ポリエーテル、ポリエーテルケトン、アクロニトリル、メタクリロニトリル、シクロオレフィンポリマー、シクロオレフィンコポリマー等の透明樹脂や、ソーダ硝子、カリ硝子、鉛ガラス等の硝子、PLZT等のセラミックス、石英、蛍石等の透明無機材料等が挙げられる。
<Transparent substrate>
The transparent base material used for this invention can be suitably selected and used according to a use from the well-known transparent base materials used for an antireflection article. Specific examples of materials used for the transparent substrate include, for example, acetyl cellulose resins such as triacetyl cellulose, polyester resins such as polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate, olefin resins such as polyethylene and polymethylpentene, and acrylic resins. Transparent resins such as resin, polyurethane resin, polyethersulfone, polycarbonate, polysulfone, polyether, polyetherketone, acrylonitrile, methacrylonitrile, cycloolefin polymer, cycloolefin copolymer, soda glass, potassium glass, lead glass And glass, ceramics such as PLZT, transparent inorganic materials such as quartz and fluorite, and the like.
前記透明基材は、可視光領域における透過率が80%以上であることが好ましく、90%以上であることがより好ましい。ここで、透明基材の透過率は、JIS K7361−1(プラスチック−透明材料の全光透過率の試験方法)により測定することができる。 The transparent substrate preferably has a transmittance in the visible light region of 80% or more, and more preferably 90% or more. Here, the transmittance | permeability of a transparent base material can be measured by JISK7361-1 (the test method of the total light transmittance of a plastic-transparent material).
前記透明基材の厚みは、本発明の反射防止物品の用途に応じて適宜設定することができ、特に限定されないが、通常20〜5000μmであり、前記透明基材は、ロールの形で供給されるもの、巻き取れるほどには曲がらないが負荷をかけることによって湾曲するもの、完全に曲がらないもののいずれであってもよい。 Although the thickness of the said transparent base material can be suitably set according to the use of the antireflective article of this invention, Although it does not specifically limit, Usually, it is 20-5000 micrometers, The said transparent base material is supplied with the form of a roll. However, it may be any one of those that do not bend to the extent that they can be wound, but that can be bent by applying a load, or those that do not bend completely.
本発明に用いられる透明基材の構成は、単一の層からなる構成に限られるものではなく、複数の層が積層された構成を有してもよい。複数の層が積層された構成を有する場合は、同一組成の層が積層されてもよく、また、異なった組成を有する複数の層が積層されてもよい。
また、透明基材と後述する微細凹凸層との密着性を向上させ、ひいては耐摩耗性(耐傷性)を向上させるためのプライマー層を透明基材上に形成してもよい。このプライマー層は、透明基材および微細凹凸構造体との双方に密着性を有し、可視光を透過するものが好ましい。
The configuration of the transparent substrate used in the present invention is not limited to a configuration consisting of a single layer, and may have a configuration in which a plurality of layers are laminated. When it has the structure by which the several layer was laminated | stacked, the layer of the same composition may be laminated | stacked, and the several layer which has a different composition may be laminated | stacked.
Moreover, you may form the primer layer for improving the adhesiveness of a transparent base material and the fine uneven | corrugated layer mentioned later, and by extension, abrasion resistance (scratch resistance) on a transparent base material. This primer layer preferably has adhesion to both the transparent substrate and the fine concavo-convex structure and transmits visible light.
<微細凹凸層>
微細凹凸層の表面は、微小突起が集合してなる微小突起群を備えた微細凹凸形状を有する。微小突起の形状は、当該微小突起の深さ方向と直交する水平面で切断したと仮定したときの水平断面内における当該微小突起を形成する材料部分の断面積占有率が、当該微小突起の頂部から最深部方向に近づくに従い連続的に漸次増加する構造を有するものの中から適宜選択すればよい。このような微小突起の形状の具体例としては、半円状、半楕円状、三角形状、放物状、釣鐘状等の垂直断面形状を有するものが挙げられる。複数ある微小突起は同一の形状を有していても異なる形状を有していてもよい。微小突起が上記の形状を有することにより、微細凹凸等の深さ方向に屈折率が連続的に変化するため、反射防止性が付与される。
<Fine uneven layer>
The surface of the fine concavo-convex layer has a fine concavo-convex shape provided with a group of fine protrusions formed by a collection of fine protrusions. The shape of the microprotrusions is such that the cross-sectional area occupancy of the material part forming the microprotrusions in the horizontal cross section when it is assumed that the microprojections are cut in a horizontal plane perpendicular to the depth direction of the microprotrusions is What is necessary is just to select suitably from what has a structure which increases gradually gradually as it approaches the deepest part direction. Specific examples of the shape of such microprojections include those having a vertical cross-sectional shape such as a semicircular shape, a semi-elliptical shape, a triangular shape, a parabolic shape, and a bell shape. The plurality of microprojections may have the same shape or different shapes. Since the fine protrusion has the above-described shape, the refractive index continuously changes in the depth direction such as fine unevenness, and thus antireflection properties are imparted.
本発明において隣接突起間隔d及び微小突起の高さHは以下の方法により測定される。
(1)先ず、原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope:AFM)又は走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope:SEM)を用いて突起の面内配列(突起配列の平面視形状)を検出する。
In the present invention, the distance d between adjacent protrusions and the height H of the minute protrusions are measured by the following method.
(1) First, an in-plane arrangement of projections (planar shape of the projection arrangement) is detected using an atomic force microscope (AFM) or a scanning electron microscope (SEM).
(2)続いてこの求められた面内配列から各突起の高さの極大点(以下、単に極大点と称する。)を検出する。なお極大点を求める方法としては、平面視形状と対応する断面形状の拡大写真とを逐次対比して極大点を求める方法、平面視拡大写真の画像処理によって極大点を求める方法等、種々の手法を適用することができる。 (2) Subsequently, a maximum point of the height of each protrusion (hereinafter simply referred to as a maximum point) is detected from the obtained in-plane arrangement. There are various methods for obtaining the maximum point, such as a method of sequentially comparing the planar view shape and the enlarged photograph of the corresponding cross-sectional shape to obtain the maximum point, and a method of obtaining the maximum point by image processing of the plan view enlarged photo. Can be applied.
(3)次に検出した極大点を母点とするドロネー図(Delaunary Diagram)を作成する。ここでドロネー図とは、各極大点を母点としてボロノイ分割を行った場合に、ボロノイ領域が隣接する母点同士を隣接母点と定義し、各隣接母点同士を線分で結んで得られる3角形の集合体からなる網状図形である。各3角形は、ドロネー3角形と呼ばれ、各3角形の辺(隣接母点同士を結ぶ線分)は、ドロネー線と呼ばれる。図3は、ドロネー図(白色の線分により表される図である)を原画像と重ね合わせた図である。 (3) Next, a Delaunay diagram with the detected maximum point as a generating point is created. Here, Delaunay diagram is obtained by dividing the Voronoi region adjacent to the Voronoi region when the Voronoi division is performed with each local maximum as the generating point, and connecting the adjacent generating points with line segments. This is a net-like figure made up of triangular aggregates. Each triangle is called a Delaunay triangle, and a side of each triangle (a line segment connecting adjacent generating points) is called a Delaunay line. FIG. 3 is a diagram in which a Delaunay diagram (a diagram represented by a white line segment) is superimposed on the original image.
(4)次に、各ドロネー線の線分長の度数分布、すなわち隣接する極大点間の距離(以下、隣接突起間距離という。)の度数分布を求める。図4は、図3のドロネー図から作成した度数分布のヒストグラムである。なお、突起の頂部に溝状等の凹部が存在したり、あるいは頂部が複数の峰に分裂している場合は、求めた度数分布から、このような突起の頂部に凹部が存在する微細構造、頂部が複数の峰に分裂している微細構造に起因するデータを除去し、突起本体自体のデータのみを選別して度数分布を作成する。 (4) Next, the frequency distribution of the line segment length of each Delaunay line, that is, the frequency distribution of the distance between adjacent maximum points (hereinafter referred to as the distance between adjacent protrusions) is obtained. FIG. 4 is a histogram of the frequency distribution created from the Delaunay diagram of FIG. In addition, when there is a groove-like recess at the top of the protrusion, or when the top is split into a plurality of peaks, from the obtained frequency distribution, the microstructure in which there is a recess at the top of such protrusion, The data resulting from the fine structure in which the top part is divided into a plurality of peaks is removed, and only the data of the projection body itself is selected to create a frequency distribution.
具体的には、突起の頂部に凹部が存在する微細構造、頂部が複数の峰に分裂している微小突起(多峰性の微小突起)に係る微細構造においては、このような微細構造を備えていない微小突起(単峰性の微小突起)の場合の数値範囲から、隣接突起間距離が明らかに大きく異なることになる。これによりこの特徴を利用して対応するデータを除去することにより突起本体自体のデータのみを選別して度数分布を検出する。より具体的には、例えば微小突起(群)の平面視の拡大写真から、5〜20個程度の互いに隣接する単峰性の微小突起を選んで、その隣接突起間距離の値を標本抽出し、この標本抽出して求められる数値範囲から明らかに外れる値(通常、標本抽出して求められる隣接突起間距離平均値に対して、値が1/2以下のデータ)を除外して度数分布を検出する。図4の例では、隣接突起間距離が56nm以下のデータ(矢印Aにより示す左端の小山)を除外する。なお図4は、このような除外する処理を行う前の度数分布を示すものである。 Specifically, a fine structure in which a concave portion exists on the top of the protrusion, or a fine structure related to a fine protrusion (multi-modal micro protrusion) in which the top is divided into a plurality of peaks has such a fine structure. The distance between adjacent protrusions is clearly different from the numerical range in the case of non-protruding microprotrusions (single-peak microprotrusions). Thus, by removing the corresponding data using this feature, only the data of the projection body itself is selected and the frequency distribution is detected. More specifically, for example, about 5 to 20 adjacent single-peaked microprojections are selected from an enlarged photograph of the microprojections (group) in plan view, and the value of the distance between the adjacent projections is sampled. The frequency distribution is excluded by excluding values that are clearly out of the numerical range obtained by sampling (usually, data having a value of 1/2 or less of the average distance between adjacent protrusions obtained by sampling). To detect. In the example of FIG. 4, data having a distance between adjacent protrusions of 56 nm or less (the leftmost small mountain indicated by the arrow A) is excluded. FIG. 4 shows a frequency distribution before such exclusion processing is performed.
(5)このようにして求めた隣接突起間距離dの度数分布から平均値dAVG及び標準偏差σを求める。ここでこのようにして得られる度数分布を正規分布とみなして平均値dAVG及び標準偏差σを求めると、図4の例では、平均値dAVG=158nm、標準偏差σ=38nmとなった。これにより隣接突起間距離dの最大値を、dmax=dAVG+2σとし、この例ではdmax=234nmとなる。 (5) The average value d AVG and the standard deviation σ are obtained from the frequency distribution of the distance d between adjacent protrusions thus obtained. Here, when the frequency distribution obtained in this manner is regarded as a normal distribution and the average value d AVG and the standard deviation σ are obtained, the average value d AVG = 158 nm and the standard deviation σ = 38 nm are obtained in the example of FIG. Thus, the maximum value of the distance d between adjacent protrusions is set to d max = d AVG + 2σ, and in this example, d max = 234 nm.
なお同様の手法を適用して突起の高さを定義する。この場合、上述の(2)により求められる極大点から、特定の基準位置からの各極大点位置の相対的な高さの差を取得してヒストグラム化する。図5は、このようにして求められる突起付け根位置を基準(高さ0)とした突起高さHの度数分布のヒストグラムを示す図である。このヒストグラムによる度数分布から突起高さの平均値HAVG、標準偏差σを求める。ここでこの図5の例では、平均値HAVG=178nm、標準偏差σ=30nmである。これによりこの例では、突起の高さは、平均値HAVG=178nmとなる。なお図5に示す突起高さHのヒストグラムにおいて、多峰性の微小突起の場合は、頂点を複数有していることにより、1つの突起に対してこれら複数のデータが混在することになる。そこでこの場合は麓部が同一の微小突起に属するそれぞれ複数の頂点の中から高さの最も高い頂点を、当該微小突起の突起高さとして採用して度数分布を求める。 The same method is applied to define the height of the protrusion. In this case, a relative height difference of each local maximum point position from a specific reference position is acquired from the local maximum point obtained by the above (2), and is histogrammed. FIG. 5 is a diagram showing a histogram of the frequency distribution of the protrusion height H with the protrusion root position obtained in this way as a reference (height 0). The average value HAVG of the protrusion height and the standard deviation σ are obtained from the frequency distribution based on the histogram. Here in the example of FIG. 5, the mean value H AVG = 178 nm, the standard deviation sigma = 30 nm. Thus in this example, the height of the projections is an average value H AVG = 178 nm. In the histogram of the projection height H shown in FIG. 5, in the case of a multi-peak microprojection, the plurality of data are mixed for one projection because of having a plurality of vertices. Therefore, in this case, the frequency distribution is obtained by adopting the vertex having the highest height from among the plurality of vertices belonging to the same microprotrusion as the protuberance.
前記微小突起群中の各微小突起が同一の高さHを有し、当該微小突起が一定周期で規則正しく配置されている場合、隣接突起間隔dは、微小突起配列の周期pと一致するため、dmax=pとなる。よって、反射防止効果を奏し得る条件は、dmax=p≦Λminであり、微小突起配列の周期p以上の波長を有する光に対して反射防止効果を奏することができる(例えば、特開昭50−70040号公報、特許第4632589号公報、特許第4270806号公報を参照することができる)。従って、例えば、可視光線帯域の全波長に対して反射防止効果を得るためには、可視光線帯域の最短波長を380nmとした場合、微小突起配列の周期を380nm以下とすればよい。また、微小突起の高さHは、反射防止効果を得ようとする波長のうち最長波長Λmaxの0.2倍以上であることが好ましい(H≧0.2×Λmax)。従って、例えば可視光線帯域の全波長に対して優れた反射防止効果を得ようとするためには、可視光線帯域の最長波長を780nmとした場合、H≧0.2×780nm=156nmであることが好ましい。 When each microprotrusion in the microprotrusion group has the same height H and the microprotrusions are regularly arranged with a constant period, the adjacent protrusion interval d matches the period p of the microprotrusion array. d max = p. Therefore, the condition that can exhibit the antireflection effect is d max = p ≦ Λ min , and the antireflection effect can be exhibited for light having a wavelength longer than the period p of the microprojection array (for example, see Japanese Patent Application Laid-Open (JP-A)). No. 50-70040, Japanese Patent No. 4632589, and Japanese Patent No. 4270806). Therefore, for example, in order to obtain an antireflection effect for all wavelengths in the visible light band, when the shortest wavelength in the visible light band is 380 nm, the period of the microprojection array may be set to 380 nm or less. The height H of the microprojections is preferably 0.2 times or more of the longest wavelength Λ max among the wavelengths for obtaining the antireflection effect (H ≧ 0.2 × Λ max ). Therefore, for example, in order to obtain an excellent antireflection effect for all wavelengths in the visible light band, when the longest wavelength in the visible light band is 780 nm, H ≧ 0.2 × 780 nm = 156 nm. Is preferred.
突起が不規則に配置されている場合には、上述のようにして求めた隣接突起間距離dの最大値dmax=dAVG+2σが、dmax≦Λminを満たすことが必要であり、微小突起の高さHの平均値HAVGが、HAVG≧0.2×Λmaxを満たすことが好ましい。例えば、可視光線帯域の全波長に対して反射防止効果を奏し得るためには、dmax=dAVG+2σ≦380nmとすればよい。可視光線帯域の全波長に対する反射防止効果をより確実に奏し得る好ましい条件は、dmax≦300nmであり、更に好ましい条件は、dmax≦200nmである。また反射防止効果の発現及び反射率の等方性(低角度依存性)の確保等の理由から、通常、dmax≧50nmであり、好ましくは、dmax≧100nmとされる。また突起高さHについては、十分な反射防止効果を発現する為には、反射防止を図る光の波長帯域の最短波長をΛmaxとしたときに、HAVG≧0.2×Λmaxとなることが好ましく、可視光線帯域の全波長に対して反射防止効果を奏し得るためにはHAVG≧0.2×780nm=156nmであることが好ましく、HAVG≧170nmとすることがより好ましい。突起の高さHAVGは、反射防止効果の点から、通常350nm以下とされる。また、突起の高さの分布は、通常50〜350nmである。 When the protrusions are irregularly arranged, the maximum value d max = d AVG + 2σ of the distance d between adjacent protrusions obtained as described above needs to satisfy d max ≦ Λ min. It is preferable that the average value H AVG of the height H of the protrusion satisfies H AVG ≧ 0.2 × Λ max . For example, d max = d AVG + 2σ ≦ 380 nm may be set so that the antireflection effect can be obtained for all wavelengths in the visible light band. A preferable condition that can more reliably exhibit an antireflection effect for all wavelengths in the visible light band is d max ≦ 300 nm, and a more preferable condition is d max ≦ 200 nm. Further, for the reasons such as the expression of the antireflection effect and the securing of the isotropic (low angle dependency) of the reflectance, d max ≧ 50 nm is usually satisfied, and preferably d max ≧ 100 nm. The projections for the height H, in order to exhibit a sufficient anti-reflection effect, the shortest wavelength in the wavelength band of light to improve the antireflection when a lambda max, the H AVG ≧ 0.2 × Λ max it is preferred, is preferably H AVG ≧ 0.2 × 780nm = 156nm in order to can achieve an antireflection effect for all wavelengths of visible light band, it is more preferably a H AVG ≧ 170 nm. The height HAVG of the protrusion is usually 350 nm or less from the viewpoint of the antireflection effect. Further, the height distribution of the protrusions is usually 50 to 350 nm.
微細突起のアスペクト比(平均突起高さHAVG/平均隣接突起間隔dAVG)は0.8〜2.5であることが好ましく、更に、0.8〜2.1であることがより好ましい。 Preferably fine aspect ratio of projections (average projection height H AVG / average adjacent protrusions distance d AVG) is 0.8 to 2.5, further more preferably 0.8 to 2.1.
微細凹凸層の厚み(図1におけるT)は、適宜調整すればよいが、3μm〜30μmであることが好ましく、5μm〜10μmであることがより好ましい。なお、本発明において微細凹凸層の厚みTは、当該微細凹凸層の透明基材との界面から、最も高い微小突起の頂部までの厚みで定義される。 The thickness of the fine uneven layer (T in FIG. 1) may be adjusted as appropriate, but is preferably 3 μm to 30 μm, and more preferably 5 μm to 10 μm. In the present invention, the thickness T of the fine concavo-convex layer is defined as the thickness from the interface of the fine concavo-convex layer to the transparent base material to the top of the highest minute protrusion.
本発明において微細凹凸層は、樹脂組成物の硬化物からなる。なお、本発明において硬化物とは、化学反応を経て硬くなったもののことをいい、硬化性とは、化学反応を経て硬くなる性質をいう。以下、樹脂組成物の硬化物の物性について説明し、次いで、樹脂組成物の組成について説明する。 In this invention, a fine uneven | corrugated layer consists of the hardened | cured material of a resin composition. In the present invention, the cured product refers to a material that has become hard through a chemical reaction, and the curability refers to a property that becomes hard through a chemical reaction. Hereinafter, the physical properties of the cured product of the resin composition will be described, and then the composition of the resin composition will be described.
(樹脂組成物の硬化物)
樹脂組成物の硬化物は、後述する樹脂組成物を、光及び/又は熱の作用により硬化させて得られたものである。後述する製造方法により、当該硬化物は所定の微細凹凸形状が付与された微細凹凸層とすることができる。
(Hardened resin composition)
The cured product of the resin composition is obtained by curing a resin composition described later by the action of light and / or heat. By the manufacturing method described later, the cured product can be made into a fine uneven layer provided with a predetermined fine uneven shape.
本発明において、樹脂組成物の硬化物の25℃における貯蔵弾性率(E’)は300MPa以下である。E’を300MPa以下とすることにより、拭取り時の圧力によって微小突起が変形し、微小突起間の隙間に入り込んだ汚れを、乾拭きで除去することが可能となる。中でも貯蔵弾性率(E’)が、1〜250MPaであることが好ましく、1〜100MPaであることがより好ましい。 In the present invention, the cured product of the resin composition has a storage elastic modulus (E ′) at 25 ° C. of 300 MPa or less. By setting E ′ to 300 MPa or less, the minute protrusions are deformed by the pressure during wiping, and the dirt that has entered the gap between the minute protrusions can be removed by dry wiping. Among them, the storage elastic modulus (E ′) is preferably 1 to 250 MPa, and more preferably 1 to 100 MPa.
また、本発明においては、前記樹脂組成物の硬化物の25℃における貯蔵弾性率(E’)に対する損失弾性率(E”)の比(tanδ(=E”/E’)損失正接)が0.2以下である。損失正接を0.2以下とすることにより、拭取り時に変形した微小突起が、弾性復元され、元の形状に戻りやすい。これにより、突起の塑性変形やスティッキングが抑制され、反射防止性能を低下することなく、乾拭きで汚れを拭取ることが可能になる。中でも、tanδが0.18以下であることが好ましい。 In the present invention, the ratio of the loss elastic modulus (E ″) to the storage elastic modulus (E ′) at 25 ° C. of the cured product of the resin composition (tan δ (= E ″ / E ′) loss tangent) is 0. .2 or less. By setting the loss tangent to 0.2 or less, the minute protrusions deformed at the time of wiping are elastically restored and easily return to the original shape. Thereby, the plastic deformation and sticking of the protrusions are suppressed, and the dirt can be wiped off by dry wiping without deteriorating the antireflection performance. Among them, tan δ is preferably 0.18 or less.
本発明において貯蔵弾性率(E’)及び損失弾性率(E”)は、JIS K7244に準拠して、以下の方法により測定される。
まず、微細凹凸層形成用の樹脂組成物を、2000mJ/cm2のエネルギーの紫外線を1分以上照射することにより十分に硬化させて、基材及び微細凹凸形状を有しない、厚さ1mm、幅5mm、長さ30mmの単膜とする。
次いで、25℃下、上記樹脂組成物の硬化物の長さ方向に10Hzで25gの周期的外力を加え、動的粘弾性を測定することにより、25℃における、E’、E”が求められる。測定装置としては、例えば、UBM製 Rheogel E400を用いることができる。
In the present invention, the storage elastic modulus (E ′) and the loss elastic modulus (E ″) are measured by the following method in accordance with JIS K7244.
First, a resin composition for forming a fine uneven layer is sufficiently cured by irradiating ultraviolet rays having an energy of 2000 mJ / cm 2 for 1 minute or more, and does not have a substrate and fine uneven shapes, a thickness of 1 mm, a width A single film having a length of 5 mm and a length of 30 mm is used.
Next, by applying a cyclic external force of 25 g at 10 Hz in the length direction of the cured product of the resin composition at 25 ° C. and measuring dynamic viscoelasticity, E ′ and E ″ at 25 ° C. are obtained. As a measuring device, for example, Rhegel E400 manufactured by UBM can be used.
前記樹脂組成物の硬化物は、当該硬化物の表面において、n−ヘキサデカンの接触角が30度以下、又はオレイン酸の接触角が25度以下であることが好ましい。樹脂組成物の硬化物の表面が上記のような親油性を有することにより、微細凹凸層の表面に付着した油性の汚れが完全に拭取れなかった場合であっても、微細凹凸層の表面に薄く広がるため、当該汚れが目立たなくなり、拭取り後の視認性が良好になる。
また、前記樹脂組成物の硬化物は、表面の拭取り性の点から、当該硬化物の表面における水の接触角が、70度以上であることが好ましい。
The cured product of the resin composition preferably has a contact angle of n-hexadecane of 30 ° or less or a contact angle of oleic acid of 25 ° or less on the surface of the cured product. Even if the oily dirt adhering to the surface of the fine concavo-convex layer is not completely wiped off because the surface of the cured product of the resin composition has the lipophilicity as described above, the surface of the fine concavo-convex layer is not removed. Since it spreads thinly, the dirt becomes inconspicuous and visibility after wiping is improved.
Moreover, it is preferable that the contact angle of the water on the surface of the said hardened | cured material is 70 degree | times or more from the point of the wiping property of the surface of the hardened | cured material of the said resin composition.
本発明において接触角は、以下のように測定される。
まず、透明基材上に微細凹凸層用の樹脂組成物を塗布して、2000mJ/cm2のエネルギーの紫外線を1分以上照射することにより硬化させて、微細凹凸形状を有しない塗膜を形成する。当該塗膜側を上面にして、粘着層つきの黒アクリル板に水平に貼り付ける。次いで、前記微細凹凸層に接触角を測定しようとする溶剤(水、n−ヘキサデカン、又はオレイン酸)1.0μLの液滴を滴下し、着滴10秒後の接触角を計測した。測定装置は、例えば、協和界面科学社製 接触角計DM 500を用いることができる。
In the present invention, the contact angle is measured as follows.
First, a resin composition for a fine concavo-convex layer is applied on a transparent substrate, and cured by irradiating ultraviolet rays with an energy of 2000 mJ / cm 2 for 1 minute or longer to form a coating film having no fine concavo-convex shape. To do. Adhere horizontally to a black acrylic plate with an adhesive layer with the coating side facing up. Next, a droplet of 1.0 μL of a solvent (water, n-hexadecane, or oleic acid) whose contact angle is to be measured was dropped on the fine uneven layer, and the contact angle 10 seconds after the landing was measured. As the measuring device, for example, a contact angle meter DM 500 manufactured by Kyowa Interface Science Co., Ltd. can be used.
本発明の反射防止物品において、微細凹凸層表面の弾性率は、柔軟性に優れる点から、200〜500MPaであることが好ましく、220〜400MPaであることが好ましい。
微細凹凸層表面の最大押し込み深さは、変形し易く、拭取り性に優れる点から、1.0〜2.0μmであることが好ましく、1.2〜1.8μmであることがより好ましい。
また、微細凹凸層表面の弾性復元率は、塑性変形が少なく、拭き痕が生じにくい点から、80%以上であることが好ましく、85〜98%であることがより好ましい。
In the antireflection article of the present invention, the elastic modulus of the surface of the fine uneven layer is preferably 200 to 500 MPa, more preferably 220 to 400 MPa, from the viewpoint of excellent flexibility.
The maximum indentation depth on the surface of the fine concavo-convex layer is preferably 1.0 to 2.0 μm, and more preferably 1.2 to 1.8 μm from the viewpoint of being easily deformable and excellent in wiping properties.
In addition, the elastic recovery rate of the surface of the fine concavo-convex layer is preferably 80% or more, and more preferably 85 to 98% from the viewpoint that the plastic deformation is small and wiping marks are not easily generated.
本発明において、弾性率、最大押し込み深さ、及び弾性復元率は、以下のように測定される。
反射防止物品の微細凹凸層側表面に、下記特定の条件で圧子を押し込んで、フィルム表面の弾性率、最大押し込み深さ、弾性復元率を測定することができる。
測定装置は、例えば、フィッシャーインストルメンツ社製PICODENTER HM−500を用いることができる。
<測定条件>
・荷重速度 1mN/10秒
・保持時間 10秒
・荷重除荷速度 1mN/10秒
・圧子 ビッカース
・測定温度 25℃
In the present invention, the elastic modulus, the maximum indentation depth, and the elastic recovery rate are measured as follows.
An indenter is pressed into the surface of the anti-reflective article on the fine uneven layer side under the following specific conditions, and the elastic modulus, maximum indentation depth, and elastic recovery rate of the film surface can be measured.
As the measuring apparatus, for example, PICODENER HM-500 manufactured by Fischer Instruments can be used.
<Measurement conditions>
・ Loading speed 1mN / 10 seconds ・ Holding time 10 seconds ・ Load unloading speed 1 mN / 10 seconds ・ Indenter Vickers ・ Measurement temperature 25 ℃
(樹脂組成物)
微細凹凸層用の樹脂組成物は、熱硬化性成分及び/又は光硬化性成分を含み、硬化後に上記物性が得られるものが用いられる。中でも、光硬化性成分を含む光硬化性樹脂組成物であることが好ましい。
上記光硬化性成分としては、エチレン性不飽和結合を有する化合物を含む組成物であることが好ましく、(メタ)アクリレートを含む組成物であることがより好ましい。
光硬化性樹脂組成物は、少なくとも上記光硬化性成分を含有していればよく、必要に応じて、更に他の成分を含有してもよい。
また、上記樹脂組成物は、硬化物表面の親油性が向上し、微小突起が柔軟性に優れる点から、炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する化合物を含有することが好ましい。
以下、光硬化性成分として好ましく用いられる(メタ)アクリレートを含む組成物中の各成分について順に説明する。
(Resin composition)
As the resin composition for the fine uneven layer, a resin composition containing a thermosetting component and / or a photocurable component and having the above physical properties after curing is used. Especially, it is preferable that it is a photocurable resin composition containing a photocurable component.
As said photocurable component, it is preferable that it is a composition containing the compound which has an ethylenically unsaturated bond, and it is more preferable that it is a composition containing (meth) acrylate.
The photocurable resin composition should just contain the said photocurable component at least, and may contain another component as needed.
Moreover, it is preferable that the said resin composition contains the compound which has a C10 or more long-chain alkyl group from the point that the lipophilicity of hardened | cured material surface improves and a microprotrusion is excellent in a softness | flexibility.
Hereinafter, each component in the composition containing (meth) acrylate which is preferably used as the photocurable component will be described in order.
(1)(メタ)アクリレート
(メタ)アクリレートは、(メタ)アクリロイル基を1分子中に1個有する単官能(メタ)アクリレートであっても、(メタ)アクリロイル基を1分子中に2個以上有する多官能アクリレートであってもよく、単官能(メタ)アクリレートと多官能(メタ)アクリレートとを併用するものであってもよい。
中でも、硬化物が上記物性を満たし、微小突起が柔軟性と弾性復元性を両立する点から、単官能(メタ)アクリレートと多官能(メタ)アクリレートとを併用することが好ましい。
(1) (Meth) acrylate (meth) acrylate is a monofunctional (meth) acrylate having one (meth) acryloyl group in one molecule, but two or more (meth) acryloyl groups in one molecule It may be a polyfunctional acrylate having a monofunctional (meth) acrylate and a polyfunctional (meth) acrylate.
Among these, it is preferable to use a monofunctional (meth) acrylate and a polyfunctional (meth) acrylate in combination from the viewpoint that the cured product satisfies the above physical properties and the microprotrusions have both flexibility and elastic resilience.
単官能(メタ)アクリレートの具体例としては、例えば、メチル(メタ)アクリレート、ヘキシル(メタ)アクリレート、デシル(メタ)アクリレート、アリル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、ブトキシエチル(メタ)アクリレート、ブトキシエチレングリコール(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、ジシクロペンタニル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレート、グリセロール(メタ)アクリレート、グリシジル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、イソボニル(メタ)アクリレート、イソデキシル(メタ)アクリレート、イソオクチル(メタ)アクリレート、ラウリル(メタ)アクリレート、2−メトキシエチル(メタ)アクリレート、メトキシエチレングリコール(メタ)アクリレート、フェノキシエチル(メタ)アクリレート、ステアリル(メタ)アクリレート、ドデシル(メタ)アクリレート、トリデシル(メタ)アクリレート、ビフェニロキシエチルアクリレート、ビスフェノールAジグリシジル(メタ)アクリレート、ビフェニリロキシエチル(メタ)アクリレート、エチレンオキサイド変性ビフェニリロキシエチル(メタ)アクリレート、ビスフェノールAエポキシ(メタ)アクリレート等が挙げられる。中でも、硬化物表面の親油性が向上し、微小突起が柔軟性に優れる点から、炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する単官能(メタ)アクリレートが好ましく、中でも、炭素数12以上であることがより好ましく、トリデシル(メタ)アクリレート、及びドデシル(メタ)アクリレートの少なくとも1種を含むことが更により好ましい。これらの単官能(メタ)アクリル酸エステルは、1種単独で、又は2種以上を組み合わせて用いることができる。なお、炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する単官能(メタ)アクリレートを用いる場合、後述する炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する化合物の特性を兼ね備える。 Specific examples of monofunctional (meth) acrylates include, for example, methyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, decyl (meth) acrylate, allyl (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate, butoxyethyl (meth) acrylate , Butoxyethylene glycol (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, glycerol (meth) acrylate, glycidyl (meth) acrylate, 2-hydroxyethyl (meth) ) Acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, isodexyl (meth) acrylate, isooctyl (meth) acrylate, lauryl (meth) acrylate Relate, 2-methoxyethyl (meth) acrylate, methoxyethylene glycol (meth) acrylate, phenoxyethyl (meth) acrylate, stearyl (meth) acrylate, dodecyl (meth) acrylate, tridecyl (meth) acrylate, biphenyloxyethyl acrylate, bisphenol A diglycidyl (meth) acrylate, biphenylyloxyethyl (meth) acrylate, ethylene oxide modified biphenylyloxyethyl (meth) acrylate, bisphenol A epoxy (meth) acrylate, and the like. Among these, a monofunctional (meth) acrylate having a long-chain alkyl group having 10 or more carbon atoms is preferable from the viewpoint that the lipophilicity of the cured product surface is improved and the microprotrusions are excellent in flexibility. It is even more preferable that it contains at least one of tridecyl (meth) acrylate and dodecyl (meth) acrylate. These monofunctional (meth) acrylic acid esters can be used alone or in combination of two or more. In addition, when using the monofunctional (meth) acrylate which has a C10 or more long-chain alkyl group, it has the characteristic of the compound which has a C10 or more long-chain alkyl group mentioned later.
単官能(メタ)アクリレートの含有量は、光硬化性樹脂組成物の全固形分に対して、5〜40質量%であることが好ましく、10〜30質量%であることがより好ましい。 It is preferable that content of monofunctional (meth) acrylate is 5-40 mass% with respect to the total solid of a photocurable resin composition, and it is more preferable that it is 10-30 mass%.
また、多官能アクリレートの具体例としては、例えば、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、プロピレンジ(メタ)アクリレート、ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、テトラブロモビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、ビスフェノールSジ(メタ)アクリレート、ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、フタル酸ジ(メタ)アクリレート、エチレンオキサイド変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、トリス(アクリロキシエチル)イソシアヌレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、ウレタントリ(メタ)アクリレート、エステルトリ(メタ)アクリレート、ウレタンヘキサ(メタ)アクリレート、エチレンオキサイド変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート等が挙げられる。中でも、微小突起が柔軟性及び復元性に優れる点から、アルキレンオキサイドを含む多官能(メタ)アクリレートを用いることが好ましく、エチレンオキサイド変性多官能(メタ)アクリレートを用いることがより好ましく、エチレンオキサイド変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、エチレンオキサイド変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、及び、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレートの少なくとも1種を含むことが更により好ましい。 Specific examples of the polyfunctional acrylate include, for example, ethylene glycol di (meth) acrylate, diethylene glycol di (meth) acrylate, propylene di (meth) acrylate, hexanediol di (meth) acrylate, and polyethylene glycol di (meth) acrylate. Bisphenol A di (meth) acrylate, tetrabromobisphenol A di (meth) acrylate, bisphenol S di (meth) acrylate, butanediol di (meth) acrylate, di (meth) acrylate phthalate, ethylene oxide modified bisphenol A di ( (Meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, tri (Acryloxyethyl) isocyanurate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, urethane tri (meth) acrylate, ester tri (meth) acrylate, urethane hexa (meth) acrylate, ethylene oxide modified tri Examples include methylolpropane tri (meth) acrylate. Among these, from the viewpoint that the microprotrusions are excellent in flexibility and restorability, it is preferable to use a polyfunctional (meth) acrylate containing an alkylene oxide, more preferably an ethylene oxide modified polyfunctional (meth) acrylate, and an ethylene oxide modified Even more preferably, at least one of bisphenol A di (meth) acrylate, ethylene oxide-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, and polyethylene glycol di (meth) acrylate is included.
上記多官能(メタ)アクリレートの含有量は、光硬化性樹脂組成物の全固形分に対して、10〜95質量%であることが好ましく、15〜90質量%であることがより好ましい。 It is preferable that content of the said polyfunctional (meth) acrylate is 10-95 mass% with respect to the total solid of a photocurable resin composition, and it is more preferable that it is 15-90 mass%.
(2)炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する化合物
本発明において用いられる樹脂組成物は、硬化物表面の親油性が向上し、微小突起が柔軟性に優れる点から、炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する化合物を含有することが好ましく、炭素数12以上の長鎖アルキル基を有する化合物を含有することがより好ましい。
炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する化合物の具体例としては、例えば、デカン、ドデカン、トリデカン、テトラデカン、ペンタデカン、ヘキサデカンを有する化合物等が挙げられる。また、本発明の効果を損なわない限り、更に置換基を有していてもよい。置換基の具体例としては、フッ素、塩素、臭素等のハロゲン原子、水酸基、カルボキシ基、アミノ基、スルホ基の他、ビニル基、(メタ)アクリロイル基等のエチレン性不飽和二重結合を有する基等が挙げられる。中でも、光硬化性を備える点から、エチレン性不飽和二重結合を有することが好ましく、(メタ)アクリロイル基を有することがより好ましい。
なお、炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する化合物が(メタ)アクリロイル基を有する場合、当該化合物は、前記(メタ)アクリレートにも該当し得る。
(2) Compound having a long-chain alkyl group having 10 or more carbon atoms The resin composition used in the present invention has 10 or more carbon atoms because the lipophilicity of the cured product surface is improved and the microprojections are excellent in flexibility. A compound having a long-chain alkyl group is preferably contained, and a compound having a long-chain alkyl group having 12 or more carbon atoms is more preferably contained.
Specific examples of the compound having a long chain alkyl group having 10 or more carbon atoms include compounds having decane, dodecane, tridecane, tetradecane, pentadecane, hexadecane, and the like. Moreover, unless the effect of this invention is impaired, you may have a substituent further. Specific examples of the substituent include halogen atoms such as fluorine, chlorine and bromine, hydroxyl groups, carboxy groups, amino groups and sulfo groups, as well as ethylenically unsaturated double bonds such as vinyl groups and (meth) acryloyl groups. Groups and the like. Especially, it is preferable to have an ethylenically unsaturated double bond from a point provided with photocurability, and it is more preferable to have a (meth) acryloyl group.
In addition, when the compound which has a C10 or more long-chain alkyl group has a (meth) acryloyl group, the said compound may correspond also to the said (meth) acrylate.
炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する化合物を用いる場合、当該化合物の含有量は、光硬化性樹脂組成物の全固形分に対して、5〜30質量%であることが好ましく、10〜20質量%であることがより好ましい。 When using a compound having a long-chain alkyl group having 10 or more carbon atoms, the content of the compound is preferably 5 to 30% by mass with respect to the total solid content of the photocurable resin composition. More preferably, it is 20 mass%.
本発明において好ましく用いられる光硬化性樹脂組成物は、硬化物の貯蔵弾性率、損失正接を上記所定の範囲に調整しやすく、且つ親油性に調整しやすく、優れた乾拭き取り性を得ることができる点から、少なくとも、炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する(メタ)アクリレートと、エチレンオキサイド変性多官能(メタ)アクリレートとを含有することが特に好ましい。中でも、炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する(メタ)アクリレートの含有割合が、エチレンオキサイド変性多官能(メタ)アクリレート100質量部に対して、5〜30質量部であることが好ましく、10〜15質量部であることがより好ましい。 The photo-curable resin composition preferably used in the present invention can easily adjust the storage modulus and loss tangent of the cured product to the above-mentioned predetermined ranges, and can easily be adjusted to be oleophilic, thereby obtaining excellent dry wiping properties. It is particularly preferable that at least a (meth) acrylate having a long-chain alkyl group having 10 or more carbon atoms and an ethylene oxide-modified polyfunctional (meth) acrylate are contained. Especially, it is preferable that the content rate of the (meth) acrylate which has a C10 or more long-chain alkyl group is 5-30 mass parts with respect to 100 mass parts of ethylene oxide modified polyfunctional (meth) acrylate. More preferably, it is -15 mass parts.
(3)光重合開始剤
上記(メタ)アクリレートの硬化反応を開始又は促進させるために、必要に応じて光重合開始剤を適宜選択して用いても良い。光重合開始剤の具体例としては、例えば、ビスアシルフォスフィノキサイド、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン、2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン、1−[4−(2−ヒドロキシエトキシ)−フェニル]−2−ヒドロキシ−2−メチル−1−プロパン−1−オン、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノプロパン−1−オン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタノン−1、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニル−プロパン−1−ケトン、2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルフォスフィンオキサイド、フェニルビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−フォスフィンオキサイド、フェニル(2,4,6−トリメチルベンゾイル)ホスフィン酸エチル等が挙げられる。これらは、単独あるいは2種以上を組み合わせて用いることができる。
(3) Photopolymerization initiator In order to initiate or accelerate the curing reaction of the (meth) acrylate, a photopolymerization initiator may be appropriately selected and used as necessary. Specific examples of the photopolymerization initiator include, for example, bisacylphosphinoxide, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropan-1-one, and 2,2-dimethoxy-1. , 2-Diphenylethane-1-one, 1- [4- (2-hydroxyethoxy) -phenyl] -2-hydroxy-2-methyl-1-propan-1-one, 2-methyl-1- [4- (Methylthio) phenyl] -2-morpholinopropan-1-one, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone-1,2-hydroxy-2-methyl-1-phenyl -Propane-1-ketone, 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide, phenylbis (2,4,6-trimethylbenzene) Benzoyl) - phosphine oxide, phenyl (2,4,6-trimethylbenzoyl) ethyl phosphinic acid and the like. These can be used alone or in combination of two or more.
光重合開始剤を用いる場合、当該光重合開始剤の含有量は、通常、光硬化性樹脂組成物の全固形分に対して0.8〜20質量%であり、0.9〜10質量%であることが好ましい。 When using a photoinitiator, content of the said photoinitiator is 0.8-20 mass% normally with respect to the total solid of a photocurable resin composition, and 0.9-10 mass% It is preferable that
(4)帯電防止剤
本発明においては、前記樹脂組成物中に帯電防止剤を含有することが好ましい。帯電防止剤を含有することにより、微細凹凸層表面に汚れが付着することを抑制することができ、また、拭取り時に汚れが落ちやすい。
帯電防止剤は、従来公知のもの中から適宜選択して用いることができる。帯電防止剤の具体例としては、例えば、4級アンモニウム塩、ピリジニウム塩、1級〜3級アミノ基等のカチオン性基を有する各種のカチオン性化合物、スルホン酸塩基、硫酸エステル塩基、リン酸エステル塩基、ホスホン酸塩基等のアニオン性基を有するアニオン性化合物、アミノ酸系、アミノ硫酸エステル系等の両性化合物、アミノアルコール系、グリセリン系、ポリエチレングリコール系等のノニオン性化合物、スズおよびチタンのアルコキシドのような有機金属化合物およびそれらのアセチルアセトナート塩のような金属キレート化合物等が挙げられる。中でも、カチオン性化合物が好ましく、3級アミノ基を有するカチオン性化合物がより好ましく、N,N−ジオクチル−1−オクタンアミン等のトリアルキルアミンであることが更により好ましい。
(4) Antistatic agent In this invention, it is preferable to contain an antistatic agent in the said resin composition. By containing the antistatic agent, it is possible to prevent the dirt from adhering to the surface of the fine concavo-convex layer, and the dirt is easily removed during wiping.
The antistatic agent can be appropriately selected from conventionally known ones. Specific examples of the antistatic agent include, for example, various cationic compounds having a cationic group such as a quaternary ammonium salt, a pyridinium salt, and a primary to tertiary amino group, a sulfonate group, a sulfate ester base, and a phosphate ester. Bases, anionic compounds having an anionic group such as phosphonic acid bases, amphoteric compounds such as amino acid series and aminosulfate ester series, nonionic compounds such as amino alcohol series, glycerin series and polyethylene glycol series, tin and titanium alkoxides And metal chelate compounds such as acetylacetonate salts thereof. Of these, cationic compounds are preferred, cationic compounds having a tertiary amino group are more preferred, and trialkylamines such as N, N-dioctyl-1-octaneamine are even more preferred.
帯電防止剤を用いる場合、当該帯電防止剤の含有量は、通常、光硬化性樹脂組成物の全固形分に対して1〜20質量%であり、2〜10質量%であることが好ましい。 When using an antistatic agent, content of the said antistatic agent is 1-20 mass% normally with respect to the total solid of a photocurable resin composition, and it is preferable that it is 2-10 mass%.
(5)溶剤
本発明において樹脂組成物は、塗工性などを付与する点から溶剤を用いてもよい。溶剤を用いる場合、当該溶剤は、組成物中の各成分とは反応せず、当該各成分を溶解乃至分散可能な溶剤の中から適宜選択して用いることができる。このような溶剤の具体的としては、例えば、ベンゼン、ヘキサン等の炭化水素系溶剤、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン系溶剤、テトラヒドロフラン、1,2−ジメトキシエタン、プロピレングリコールモノエチルエーテル(PGME)等のエーテル系溶剤、クロロホルム、ジクロロメタン等のハロゲン化アルキル系溶剤、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等のエステル系溶剤、N,N−ジメチルホルムアミド等のアミド系溶剤、およびジメチルスルホキシド等のスルホキシド系溶剤、シクロヘキサン等のアノン系溶剤、メタノール、エタノール、およびプロパノール等のアルコール系溶剤を例示することができるが、これらに限られるものではない。また、樹脂組成物に用いられる溶剤は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上の溶剤の混合溶剤でもよい。
(5) Solvent In the present invention, the resin composition may use a solvent from the viewpoint of imparting coatability and the like. In the case of using a solvent, the solvent does not react with each component in the composition, and can be appropriately selected from solvents that can dissolve or disperse each component. Specific examples of such solvents include hydrocarbon solvents such as benzene and hexane, ketone solvents such as methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone, tetrahydrofuran, 1,2-dimethoxyethane, propylene glycol monoethyl ether ( PGME) ether solvents such as chloroform and dichloromethane, halogenated alkyl solvents such as methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and other amide solvents such as N, N-dimethylformamide And sulfoxide solvents such as dimethyl sulfoxide, anone solvents such as cyclohexane, and alcohol solvents such as methanol, ethanol, and propanol, but are not limited thereto. Not to. Moreover, the solvent used for a resin composition may be used individually by 1 type, and the mixed solvent of two or more types of solvents may be sufficient as it.
樹脂組成物全量に対する、固形分の割合は20〜70質量%であることが好ましく、30〜60質量%であることがより好ましい。なお本発明において固形分とは、樹脂組成物中の溶剤以外のすべての成分を表す。 The ratio of the solid content with respect to the total amount of the resin composition is preferably 20 to 70% by mass, and more preferably 30 to 60% by mass. In addition, in this invention, solid content represents all components other than the solvent in a resin composition.
(6)その他の成分
本発明において用いられる微細凹凸層用の樹脂組成物は、本発明の効果を損なわない範囲で、更にその他の成分を含有してもよい。その他の成分としては、例えば、濡れ性調整のための界面活性剤、密着性向上のためのシランカップリング剤、安定化剤、消泡剤、ハジキ防止剤、酸化防止剤、凝集防止剤、粘度調製剤、離型剤等が挙げられる。
(6) Other components The resin composition for fine concavo-convex layers used in the present invention may further contain other components as long as the effects of the present invention are not impaired. Other components include, for example, a surfactant for adjusting wettability, a silane coupling agent for improving adhesion, a stabilizer, an antifoaming agent, a repellency inhibitor, an antioxidant, an anti-aggregation agent, and a viscosity. Preparation agents, release agents and the like can be mentioned.
<その他の層>
本発明の反射防止物品は、本発明の効果を損なわない範囲において、更にその他の層を有していてもよい。透明基材の微細凹凸層を有しない面側には、光学フィルム用途に用いられる従来公知の各種層を有していてもよい。例えば、従来公知の単層或いは多層構成の反射防止層、光拡散による防眩性(或いは反射防止)を付与する層、傷付き防止等の為に従来公知のハードコート層等が挙げられる。
<Other layers>
The antireflection article of the present invention may further have other layers as long as the effects of the present invention are not impaired. The surface side of the transparent substrate that does not have the fine uneven layer may have various conventionally known layers used for optical film applications. For example, a conventionally known single layer or multilayer antireflection layer, a layer imparting antiglare property (or antireflection) by light diffusion, a conventionally known hard coat layer for preventing scratches, and the like can be mentioned.
本発明の反射防止物品は、可視光領域における透過率が80%以上であることが好ましく、90%以上であることがより好ましい。ここで、反射防止性物品の透過率は、JIS K7361−1(プラスチック−透明材料の全光透過率の試験方法)により測定することができる。 In the antireflection article of the present invention, the transmittance in the visible light region is preferably 80% or more, and more preferably 90% or more. Here, the transmittance of the antireflective article can be measured by JIS K7361-1 (a test method for the total light transmittance of plastic-transparent material).
<反射防止物品の用途>
本発明に係る反射防止物品は、後述する画像表示装置の他、各種物品に用いることができる。
例えば、店舗のショーウィンドウや、美術館の展示物の展示窓;時計等、各種計測機器の表示窓表面;道路標識や、ポスター等の各種印刷物;自動車、航空機等の乗り物や、各種建築物の窓等の前面又は両面に配置して、視認性を向上することができる。また、眼鏡、カメラ、望遠鏡、顕微鏡等の各種光学機器や、各種照明機器の窓材として用いることもできる。
<Use of anti-reflective article>
The antireflection article according to the present invention can be used for various articles in addition to the image display device described later.
For example, shop windows, exhibition windows for museum exhibits; display windows for clocks and other measuring instruments; various printed materials such as road signs and posters; vehicles such as automobiles and aircraft; and windows for various buildings Visibility can be improved by arranging it on the front surface or both surfaces. It can also be used as a window material for various optical devices such as glasses, cameras, telescopes, microscopes, and various illumination devices.
また、上述の実施形態においては、反射防止を図る電磁波の波長帯域を、専ら、可視光線帯域として説明したが、本発明はこれに限らず、反射防止を図る電磁波の波長帯域を赤外線、紫外線等の可視光線以外の波長帯域に設定してもよい。その場合は前記の各条件式中において、電磁波の波長帯域の最短波長Λmin及び最長波長Λmaxを、それぞれ、赤外線、紫外線等の波長帯域に於ける反射防止効果を希望する最短波長及び最長波長にそれぞれ設定すればよい。例えば、最短波長Λminが850nmの赤外線帯域の反射防止を希望する場合は、隣接突起間距離d(若しくは其の最大値dmax)を850nm以下、例えば、dmax=800nmと設計すればよい。 In the above-described embodiment, the wavelength band of the electromagnetic wave for preventing reflection has been described as the visible light band, but the present invention is not limited to this, and the wavelength band of the electromagnetic wave for preventing reflection is infrared, ultraviolet, or the like. The wavelength band other than visible light may be set. In that case, in each of the above conditional expressions, the shortest wavelength Λ min and the longest wavelength Λ max of the wavelength band of the electromagnetic wave are respectively set to the shortest wavelength and the longest wavelength for which an antireflection effect is desired in the wavelength band of infrared rays, ultraviolet rays, etc. It is sufficient to set each. For example, when it is desired to prevent reflection in the infrared band where the shortest wavelength Λ min is 850 nm, the distance d between adjacent protrusions (or its maximum value d max ) may be designed to be 850 nm or less, for example, d max = 800 nm.
<反射防止物品の製造方法>
本発明の反射防止物品の製造方法は、透明基材上に微細凹凸層を形成する従来公知の方法の中から適宜選択すればよい。
例えば、まず透明基材上に、微細凹凸層形成用の樹脂組成物を塗布し、所望の微細凹凸形状を有する微細凹凸層形成用原版の凹凸形状を、前記樹脂組成物の塗膜に賦型した後、該樹脂組成物を硬化させることにより微細凹凸層を形成し、前記微細凹凸層形成用原版から剥離する方法等が挙げられる。前記樹脂組成物を硬化させる方法は、該樹脂組成物の種類等に応じて適宜選択することができる。
<Method for producing antireflection article>
What is necessary is just to select suitably the manufacturing method of the reflection preventing article of this invention from the conventionally well-known method of forming a fine uneven | corrugated layer on a transparent base material.
For example, first, a resin composition for forming a fine concavo-convex layer is applied onto a transparent substrate, and the concavo-convex shape of the original substrate for forming a fine concavo-convex layer having a desired fine concavo-convex shape is formed into a coating film of the resin composition. Thereafter, the resin composition is cured to form a fine concavo-convex layer, and then peeled off from the fine concavo-convex layer forming original plate. The method for curing the resin composition can be appropriately selected according to the type of the resin composition.
前記微細凹凸層形成用原版としては、繰り返し使用した際に変形および摩耗するものでなければ、特に限定されるものではなく、金属製であっても良く、樹脂製であっても良いが、通常、金属製が好適に用いられる。耐変形性および耐摩耗性に優れているからである。
前記微細凹凸層形成用原版の微細凹凸形状を有する面は、特に限定されないが、酸化されやすく、陽極酸化による加工が容易である点から、アルミニウムからなることが好ましい。
前記微細凹凸層形成用原版は、具体的には、例えば、ステンレス、銅、アルミニウム等の金属製の母材の表面に、直接に又は各種の中間層を介して、スパッタリング等により純度の高いアルミニウム層が設けられ、当該アルミニウム層に凹凸形状を形成したものが挙げられる。前記母材は、前記アルミニウム層を設ける前に、電解溶出作用と、砥粒による擦過作用の複合による電解複合研磨法によって母材の表面を超鏡面化しても良い。
前記微細凹凸層形成用原版に微細凹凸形状を形成する方法としては、例えば、陽極酸化法によって前記アルミニウム層の表面に複数の微細孔を形成する陽極酸化工程と、前記アルミニウム層をエッチングすることにより前記微細孔の開口部にテーパー形状を形成する第1エッチング工程と、前記アルミニウム層を前記第1エッチング工程のエッチングレートよりも高いエッチングレートでエッチングすることにより前記微細孔の孔径を拡大する第2エッチング工程とを順次繰り返し実施することによって形成することができる。
微細な凹凸形状を形成する際には、アルミニウム層の純度(不純物量)や結晶粒径、陽極酸化処理及び/又はエッチング処理の諸条件を適宜調整することによって、所望の形状とすることができる。前記陽極酸化処理において、より具体的には、液温、印加する電圧、陽極酸化に供する時間等の管理により、微細な孔をそれぞれ目的とする深さ及び微小突起形状に対応する形状に作製することができる。
このようにして、前記微細凹凸層形成用原版は、深さ方向に徐々に孔径が小さくなる多数の微細孔が密に作製される。当該微細凹凸層形成用原版を用いて製造される微細凹凸層には、前記微細孔に対応して、頂部に近付くに従って徐々に径が小さくなる微小突起群を備えた微細凹凸が形成され、すなわち、当該微細凹凸の深さ方向と直交する水平面で切断したと仮定したときの水平断面内における当該微細凹凸を形成する材料部分の断面積占有率が、当該微細凹凸の頂部から最深部方向に近づくに従い連続的に漸次増加する微細凹凸形状が形成される。
The master for forming the fine uneven layer is not particularly limited as long as it is not deformed and worn when repeatedly used, and may be made of metal or resin, Metal is preferably used. This is because it is excellent in deformation resistance and wear resistance.
The surface having the fine concavo-convex shape of the original plate for forming the fine concavo-convex layer is not particularly limited, but is preferably made of aluminum from the viewpoint of being easily oxidized and easily processed by anodization.
Specifically, the master for forming the fine uneven layer is, for example, a high-purity aluminum by sputtering or the like directly on the surface of a metal base material such as stainless steel, copper, or aluminum, or through various intermediate layers. A layer is provided, and the aluminum layer is formed with an uneven shape. Prior to providing the aluminum layer, the surface of the base material may be made into a super mirror surface by an electrolytic composite polishing method in which electrolytic elution action and abrasion action by abrasive grains are combined.
As a method of forming a fine uneven shape on the original plate for forming a fine uneven layer, for example, an anodic oxidation step of forming a plurality of fine holes on the surface of the aluminum layer by an anodic oxidation method, and etching the aluminum layer A first etching step for forming a tapered shape in the opening of the microhole, and a second for enlarging the hole diameter of the microhole by etching the aluminum layer at an etching rate higher than the etching rate of the first etching step. It can be formed by sequentially repeating the etching process.
When forming a fine concavo-convex shape, a desired shape can be obtained by appropriately adjusting the purity (amount of impurities), crystal grain size, anodizing treatment and / or etching conditions of the aluminum layer. . In the anodizing treatment, more specifically, by controlling the liquid temperature, the voltage to be applied, the time for the anodizing, etc., fine holes are formed into shapes corresponding to the target depth and the shape of the fine protrusions, respectively. be able to.
In this way, in the original plate for forming a fine concavo-convex layer, a large number of fine holes whose pore diameter gradually decreases in the depth direction are densely produced. In the fine concavo-convex layer manufactured using the fine concavo-convex layer forming original plate, fine concavo-convex portions having a small protrusion group that gradually decreases in diameter as it approaches the top corresponding to the fine holes are formed. The cross-sectional area occupancy rate of the material portion forming the fine unevenness in the horizontal cross section when it is assumed to be cut in a horizontal plane perpendicular to the depth direction of the fine unevenness approaches the deepest portion direction from the top of the fine unevenness. As a result, a fine concavo-convex shape that gradually increases gradually is formed.
また、前記微細凹凸層形成用原版の形状としては、所望の形状を賦型することができるものであれば特に限定されるものではなく、例えば、平板状であっても良く、ロール状であっても良いが、前記微細凹凸層形成用原版は、生産性向上の観点からは、ロール状の金型(以下、「ロール金型」と称する場合がある。)を用いることが好ましい。
本発明において用いられるロール金型としては、例えば、母材として、円筒形状の金属材料を用い、当該母材の周側面に、直接に又は各種の中間層を介して設けられたアルミニウム層に、上述したように、陽極酸化処理、エッチング処理の繰り返しにより、微細な凹凸形状が作製されたものが挙げられる。
Further, the shape of the original plate for forming a fine uneven layer is not particularly limited as long as it can shape a desired shape. For example, it may be a flat plate shape or a roll shape. However, it is preferable to use a roll-shaped mold (hereinafter sometimes referred to as a “roll mold”) from the viewpoint of improving productivity.
As a roll mold used in the present invention, for example, as a base material, a cylindrical metal material is used, and an aluminum layer provided directly or via various intermediate layers on the peripheral side surface of the base material, As described above, there may be mentioned those in which fine irregularities are produced by repeating anodizing treatment and etching treatment.
図6に、微細凹凸層形成用の樹脂組成物として光硬化性樹脂組成物を用い、微細凹凸層形成用原版としてロール金型を用いた場合に、透明基材上に微細凹凸層を形成する方法の一例を示す。
図6に示す方法では、樹脂供給工程において、ダイ11により帯状フィルム形態の透明基材1に、未硬化で液状の光硬化性樹脂組成物を塗布し、微小突起形状の受容層2’を形成する。なお光硬化性樹脂組成物の塗布については、ダイ11による場合に限らず、各種の手法を適用することができる。続いて、押圧ローラ13により、微細凹凸層形成用原版であるロール金型12の周側面に透明基材1を加圧押圧し、これにより透明基材1に受容層2’を密着させると共に、ロール金型12の周側面に作製された微細な凹凸形状の凹部に、受容層2’を構成する光硬化性樹脂組成物を充分に充填する。この状態で、紫外線の照射により光硬化性樹脂組成物を硬化させ、これにより透明基材1の表面に微細凹凸層2を作製する。続いて剥離ローラ14を介してロール金型12から、硬化した微細凹凸構造体2と一体に透明基材1を剥離する。必要に応じてこの透明基材1に粘着層等を作製した後、所望の大きさに切断して反射防止物品1を作製する。これにより反射防止物品は、ロール材による長尺の透明基材1に、微細凹凸層形成用原版であるロール金型12の周側面に作製された微細凹凸形状を順次賦型して、効率良く大量生産される。
In FIG. 6, when a photocurable resin composition is used as the resin composition for forming the fine uneven layer and a roll mold is used as the original plate for forming the fine uneven layer, the fine uneven layer is formed on the transparent substrate. An example of the method is shown.
In the method shown in FIG. 6, in the resin supplying step, an uncured and liquid photocurable resin composition is applied to the transparent base material 1 in the form of a strip with a die 11 to form a microprojection-shaped receiving layer 2 ′. To do. In addition, about application | coating of a photocurable resin composition, not only the case by the die | dye 11 but various methods are applicable. Subsequently, the pressing roller 13 presses and presses the transparent base material 1 against the peripheral side surface of the roll mold 12 which is a master for forming a fine uneven layer, thereby bringing the receiving layer 2 ′ into close contact with the transparent base material 1, A fine concavo-convex recess formed on the peripheral side surface of the roll mold 12 is sufficiently filled with the photocurable resin composition constituting the receiving layer 2 ′. In this state, the photocurable resin composition is cured by irradiation with ultraviolet rays, whereby the fine uneven layer 2 is produced on the surface of the transparent substrate 1. Subsequently, the transparent substrate 1 is peeled off from the roll die 12 through the peeling roller 14 together with the hardened fine uneven structure 2. If necessary, an adhesive layer or the like is produced on the transparent substrate 1 and then cut to a desired size to produce the antireflection article 1. As a result, the anti-reflective article is formed by sequentially molding the fine concavo-convex shape produced on the peripheral side surface of the roll mold 12 which is the original plate for forming the fine concavo-convex layer on the long transparent base material 1 made of a roll material, and efficiently. Mass production.
また上述の実施形態では、ロール金型を使用した賦型処理によりフィルム形状の反射防止物品を生産する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、反射防止物品の形状に係る透明基材の形状に応じて、例えば平板、特定の曲面形状による賦型用金型を使用した枚葉の処理により反射防止物品を作成する場合等、賦型処理に係る工程、微小突起構造体形成用原版は、反射防止物品の形状に係る透明基材の形状に応じて適宜変更することができる。 In the above-described embodiment, the case where a film-shaped antireflection article is produced by a forming process using a roll mold is described. However, the present invention is not limited to this, and the transparent substrate according to the shape of the antireflection article is used. Depending on the shape of the substrate, for example, when creating an antireflection article by processing a flat plate or a sheet using a mold for molding with a specific curved shape, a step relating to the molding process, a master for forming a microprojection structure Can be appropriately changed according to the shape of the transparent substrate according to the shape of the antireflection article.
[画像表示装置]
本発明に係る画像表示装置は、表示パネルの少なくとも一面側に、前記本発明に係る反射防止物品を備えることを特徴とする。
[Image display device]
The image display device according to the present invention includes the antireflection article according to the present invention on at least one side of a display panel.
本発明の画像表示装置20は、図2に示すように、表示パネル4の少なくとも一面側に、前記本発明に係る反射防止物品10を備えている。当該反射防止物品10は、表示パネル4と直接貼り合わされてもよく、本発明の効果を損なわない範囲で、反射防止物品10と、表示パネル4との間に、他の部材を有していてもよい。当該他の部材としては、例えば、公知のタッチパネル部材等が挙げられる。
なお、本発明の画像表示装置にあっては、単に表示機能のみを有する装置(例えば、LCDモニター、CRTモニター等)でも良いが、装置の機能の一部として表示機能を有する装置も該当する。例えば、携帯情報端末、カーナビゲーションシステム等である。
As shown in FIG. 2, the image display device 20 of the present invention includes the antireflection article 10 according to the present invention on at least one surface side of the display panel 4. The antireflection article 10 may be directly bonded to the display panel 4, and has another member between the antireflection article 10 and the display panel 4 as long as the effects of the present invention are not impaired. Also good. As said other member, a well-known touch panel member etc. are mentioned, for example.
The image display device of the present invention may be a device having only a display function (for example, an LCD monitor, a CRT monitor, etc.), but a device having a display function as a part of the function of the device is also applicable. For example, a portable information terminal, a car navigation system, or the like.
本発明の画像表示装置は、反射防止性能を低下することなく、乾拭きで汚れを拭き取ることが可能であるため、優れた反射防止性を保持することができる。そのため、特に、表示装置表面に指で直接触れることが多い、タッチパネル部材を備えた画像表示装置においても好適に用いることができる。 Since the image display device of the present invention can wipe off dirt by dry wiping without degrading the antireflection performance, it can maintain excellent antireflection properties. Therefore, in particular, it can be suitably used also in an image display device provided with a touch panel member, which often touches the display device surface directly with a finger.
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。 The present invention is not limited to the above embodiment. The above-described embodiment is an exemplification, and the present invention has any configuration that has substantially the same configuration as the technical idea described in the claims of the present invention and that exhibits the same effects. Are included in the technical scope.
(製造例1 微細凹凸層形成用原版の作製)
純度99.50%の圧延されたアルミニウム板を、その表面が、十点平均粗さRz30nm、且つ周期1μmの凹凸形状となるように研磨後、0.02Mシュウ酸水溶液の電解液中で、化成電圧40V、20℃の条件にて120秒間、陽極酸化を実施した。次に、第一エッチング処理として、陽極酸化後の電解液で60秒間エッチング処理を行った。続いて、第二エッチング処理として、1.0Mリン酸水溶液で150秒間孔径処理を行った。さらに、上記処理を繰り返し、これらを合計5回追加実施した。これにより、アルミニウム基板上に微細な凹凸形状が形成された陽極酸化アルミニウム層が形成された。最後に、フッ素系離型剤を塗布し、余分な離型剤を洗浄することで、微細凹凸層形成用原版を得た。なお、アルミニウム層に形成された微細な凹凸形状は、平均隣接微細孔間距離が100nm、平均深さが200nmで、深さ方向に徐々に孔径が小さくなる多数の微細孔が密に形成された形状であった。
(Production Example 1 Preparation of a fine uneven layer forming original)
A rolled aluminum plate having a purity of 99.50% is polished so that its surface has an irregular shape with a 10-point average roughness Rz of 30 nm and a period of 1 μm, and then formed in an electrolyte solution of 0.02 M oxalic acid aqueous solution. Anodization was performed for 120 seconds under conditions of a voltage of 40 V and 20 ° C. Next, as a first etching process, an etching process was performed for 60 seconds with the electrolytic solution after anodization. Subsequently, as the second etching treatment, a pore size treatment was performed with a 1.0 M phosphoric acid aqueous solution for 150 seconds. Furthermore, the said process was repeated and these were added and implemented 5 times in total. As a result, an anodized aluminum layer having fine irregularities formed on the aluminum substrate was formed. Finally, a fluorine-based mold release agent was applied and the excess mold release agent was washed to obtain an original plate for forming a fine uneven layer. In addition, the fine uneven shape formed in the aluminum layer has an average distance between adjacent micropores of 100 nm, an average depth of 200 nm, and a large number of micropores that are gradually reduced in the depth direction. It was a shape.
(製造例2 微細凹凸層形成用樹脂組成物Aの調製)
以下の各成分を混合し、希釈溶剤として、メチルエチルケトン及びメチルイソブチルケトンを用いて、固形分45質量%の微細凹凸層形成用樹脂組成物Aを調製した。
<樹脂組成物Aの組成>
・エチレンオキサイド変性(EO変性)ビスフェノールAジアクリレート 55質量部
・EO変性トリメチロールプロパントリアクリレート 35質量部
・トリデシルアクリレート 5質量部
・ドデシルアクリレート 5質量部
・ジフェニル(2,4,6−トリメトキシベンゾイル)ホスフィンオキシド(ルシリンTPO) 1質量部
(Production Example 2 Preparation of Resin Composition A for Forming Fine Uneven Layer)
The following components were mixed, and a resin composition A for forming a fine uneven layer having a solid content of 45% by mass was prepared using methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone as diluent solvents.
<Composition of Resin Composition A>
-Ethylene oxide modified (EO modified) bisphenol A diacrylate 55 parts by mass-EO modified trimethylolpropane triacrylate 35 parts by mass-Tridecyl acrylate 5 parts by mass-Dodecyl acrylate 5 parts by mass-Diphenyl (2,4,6-trimethoxy Benzoyl) phosphine oxide (Lucirin TPO) 1 part by mass
(製造例3 微細凹凸層形成用樹脂組成物Bの調製)
以下の各成分を混合し、希釈溶剤として、メチルエチルケトン及びメチルイソブチルケトンを用いて、固形分45質量%の微細凹凸層形成用樹脂組成物Bを調製した。
<樹脂組成物Bの組成>
・EO変性ビスフェノールAジアクリレート 50質量部
・EO変性トリメチロールプロパントリアクリレート 30質量部
・トリデシルアクリレート 5質量部
・ドデシルアクリレート 5質量部
・メチルメタクリレート 5質量部
・ヘキシルメタクリレート 5質量部
・ジフェニル(2,4,6−トリメトキシベンゾイル)ホスフィンオキシド(ルシリンTPO) 1質量部
(Production Example 3 Preparation of Resin Composition B for Forming Fine Uneven Surface)
The following components were mixed, and a resin composition B for forming a fine uneven layer having a solid content of 45% by mass was prepared using methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone as diluent solvents.
<Composition of Resin Composition B>
-EO-modified bisphenol A diacrylate 50 parts by mass-EO-modified trimethylolpropane triacrylate 30 parts by mass-tridecyl acrylate 5 parts by mass-dodecyl acrylate 5 parts by mass-methyl methacrylate 5 parts by mass-hexyl methacrylate 5 parts by mass-diphenyl (2 , 4,6-Trimethoxybenzoyl) phosphine oxide (Lucillin TPO) 1 part by mass
(比較製造例1 微細凹凸層形成用樹脂組成物Cの調製)
以下の各成分を混合し、希釈溶剤として、メチルエチルケトン及びメチルイソブチルケトンを用いて、固形分45質量%の微細凹凸層形成用樹脂組成物Cを調製した。
<樹脂組成物Cの組成>
・EO変性ビスフェノールAジアクリレート 30質量部
・EO変性トリメチロールプロパントリアクリレート 20質量部
・ドデシルアクリレート 50質量部
・ジフェニル(2,4,6−トリメトキシベンゾイル)ホスフィンオキシド(ルシリンTPO) 1質量部
(Comparative Production Example 1 Preparation of Resin Composition C for Forming Fine Uneven Layer)
The following components were mixed, and a resin composition C for forming a fine uneven layer having a solid content of 45% by mass was prepared using methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone as diluent solvents.
<Composition of Resin Composition C>
-EO-modified bisphenol A diacrylate 30 parts by mass-EO-modified trimethylolpropane triacrylate 20 parts by mass-dodecyl acrylate 50 parts by mass-diphenyl (2,4,6-trimethoxybenzoyl) phosphine oxide (lucillin TPO) 1 part by mass
(比較製造例2 微細凹凸層形成用の樹脂組成物Dの調製)
以下の各成分を混合し、希釈溶剤として、メチルエチルケトン及びメチルイソブチルケトンを用いて、固形分45質量%の微細凹凸層形成用樹脂組成物Dを調製した。
<樹脂組成物Dの組成>
・ペンタエリスリトールトリアクリレート 15質量部
・2,4,4−トリメチルヘキサメチレンジイソシアネート 15質量部
・ポリエチレングリコールジアクリレート 70質量部
・ジフェニル(2,4,6−トリメトキシベンゾイル)ホスフィンオキシド(ルシリンTPO) 1質量部
(Comparative Production Example 2 Preparation of Resin Composition D for Forming Fine Uneven Surface Layer)
The following components were mixed, and a resin composition D for forming a fine uneven layer having a solid content of 45% by mass was prepared using methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone as diluent solvents.
<Composition of Resin Composition D>
Pentaerythritol triacrylate 15 parts by mass 2,4,4-trimethylhexamethylene diisocyanate 15 parts by mass Polyethylene glycol diacrylate 70 parts by mass Diphenyl (2,4,6-trimethoxybenzoyl) phosphine oxide (lucillin TPO) 1 Parts by mass
(実施例1)
製造例2で得られた微細凹凸層形成用樹脂組成物Aを、製造例1で得られた微細凹凸層形成用原版の微細凹凸面が覆われ、硬化後の微細凹凸層の厚さが20μmとなるように塗布、充填し、その上に透明基材として厚さ80μmのトリアセチルセルロースフィルム(TAC)(富士フィルム社製)を斜めから貼り合わせた後、貼り合わせられた貼合体をゴムローラーで10N/cm2の加重で圧着した。原版全体に均一な組成物が塗布されたことを確認し、透明基材側から2000mJ/cm2のエネルギーで紫外線を照射して微細凹凸層形成用樹脂組成物を硬化させた。その後、原版より剥離し、実施例1の反射防止物品Aを得た。
Example 1
The fine concavo-convex layer forming resin composition A obtained in Production Example 2 is covered with the fine concavo-convex surface of the fine concavo-convex layer forming original plate obtained in Production Example 1, and the thickness of the fine concavo-convex layer after curing is 20 μm. After coating and filling so as to become a transparent base material, a triacetyl cellulose film (TAC) (manufactured by Fuji Film Co., Ltd.) having a thickness of 80 μm is laminated from an oblique direction, and then the laminated body is a rubber roller. And crimped with a load of 10 N / cm 2 . After confirming that the uniform composition was applied to the entire original plate, ultraviolet rays were irradiated from the transparent substrate side with an energy of 2000 mJ / cm 2 to cure the resin composition for forming a fine uneven layer. Then, it peeled from the original plate and obtained the antireflection article A of Example 1.
(実施例2)
実施例1において、微細凹凸層形成用樹脂組成物Aの代わりに、製造例2で得られた微細凹凸層形成用樹脂組成物Bを用いた以外は、実施例1と同様にして反射防止物品Bを得た。
(Example 2)
In Example 1, instead of the resin composition A for forming a fine uneven layer, an antireflection article was prepared in the same manner as in Example 1 except that the resin composition B for forming a fine uneven layer obtained in Production Example 2 was used. B was obtained.
(比較例1)
実施例1において、微細凹凸層形成用樹脂組成物Aの代わりに、比較製造例1で得られた微細凹凸層形成用樹脂組成物Cを用いた以外は、実施例1と同様にして反射防止物品Cを得た。
(Comparative Example 1)
In Example 1, in place of the resin composition A for forming a fine uneven layer, the antireflection was applied in the same manner as in Example 1 except that the resin composition C for forming a fine uneven layer obtained in Comparative Production Example 1 was used. Article C was obtained.
(比較例2)
実施例1において、微細凹凸層形成用樹脂組成物Aの代わりに、比較製造例2で得られた微細凹凸層形成用樹脂組成物Dを用いた以外は、実施例1と同様にして反射防止物品Dを得た。
(Comparative Example 2)
In Example 1, in place of the resin composition A for forming a fine uneven layer, the antireflection was applied in the same manner as in Example 1 except that the resin composition D for forming a fine uneven layer obtained in Comparative Production Example 2 was used. Article D was obtained.
[評価]
<貯蔵弾性率(E’)及びtanδの測定>
微細凹凸層形成用樹脂組成物A〜Dをそれぞれ2000mJ/cm2のエネルギーの紫外線を1分以上照射することにより十分に硬化させて、基材及び微細凹凸形状を有しない、厚さ1mm、幅5mm、長さ30mmの試験用単膜A〜Dをそれぞれ得た。
次いで、JIS K7244に準拠し、25℃下、上記樹脂組成物の硬化物の長さ方向に10Hzで25gの周期的外力を加え、動的粘弾性を測定することにより、25℃における、貯蔵弾性率E’、及び損失弾性率E”を求めた。また、当該E’及びE”の結果からtanδを算出した。測定装置はUBM製 Rheogel E400を用いた。結果を表1に示す。
[Evaluation]
<Measurement of storage elastic modulus (E ′) and tan δ>
Each of the resin compositions A to D for forming a fine uneven layer is sufficiently cured by irradiating ultraviolet rays having an energy of 2000 mJ / cm 2 for 1 minute or more, and does not have a substrate and fine uneven shapes, a thickness of 1 mm, a width Test single films A to D each having a length of 5 mm and a length of 30 mm were obtained.
Next, in accordance with JIS K7244, by applying a periodic external force of 25 g at 25 Hz at 10 Hz in the length direction of the cured product of the resin composition, and measuring the dynamic viscoelasticity, the storage elasticity at 25 ° C. The modulus E ′ and the loss modulus E ″ were obtained. Further, tan δ was calculated from the results of E ′ and E ″. As a measuring device, Rheogel E400 made by UBM was used. The results are shown in Table 1.
<接触角の測定>
トリアセチルセルロースフィルム上に微細凹凸層形成用樹脂組成物A〜Dを塗布して、2000mJ/cm2のエネルギーの紫外線を1分以上照射することにより硬化させて、微細凹凸形状を有しない塗膜を形成した。当該塗膜側表面を上面にして、粘着層つきの黒アクリル板に貼り付けたものの上に、水1.0μLの液滴を滴下し、着滴5秒後の水の接触角を計測した。水の代わりに、n−ヘキサデカン及びオレイン酸をそれぞれ用いて、各溶媒の接触角をそれぞれ計測した。結果を表1に示す。
測定装置は協和界面科学社製 接触角計DM 500を用いた。
<Measurement of contact angle>
The coating composition which does not have a fine uneven | corrugated shape by apply | coating the resin composition AD for fine uneven | corrugated layer formation on a triacetyl cellulose film, and making it harden | cure by irradiating the ultraviolet-ray of energy of 2000 mJ / cm < 2 > for 1 minute or more. Formed. The surface of the coating film side was used as the upper surface, and a droplet of 1.0 μL of water was dropped on the surface adhered to a black acrylic plate with an adhesive layer, and the contact angle of water 5 seconds after the landing was measured. The contact angle of each solvent was measured using n-hexadecane and oleic acid, respectively, instead of water. The results are shown in Table 1.
As a measuring device, a contact angle meter DM 500 manufactured by Kyowa Interface Science Co., Ltd. was used.
<弾性率、最大押し込み深さ、弾性復元率の測定>
実施例1、2及び比較例1、2で得られた反射防止物品A〜Dの微細凹凸層側表面に、下記特定の条件で圧子を押し込んで、微細凹凸層側表面の弾性率、最大押し込み深さ、弾性復元率を測定した。測定装置は、フィッシャーインストルメンツ社製PICODENTER HM−500を用いた。結果を表1に示す。
<測定条件>
・荷重速度 1mN/10秒
・保持時間 10秒
・荷重除荷速度 1mN/10秒
・圧子 ビッカース
・測定温度 25℃
<Measurement of elastic modulus, maximum indentation depth, elastic recovery rate>
The indentation is pushed into the surface of the fine uneven layer side of the antireflection articles A to D obtained in Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 and 2 under the following specific conditions, the elastic modulus of the surface of the fine uneven layer, the maximum push Depth and elastic recovery were measured. The measuring device used was PICODENER HM-500 manufactured by Fisher Instruments. The results are shown in Table 1.
<Measurement conditions>
・ Loading speed 1mN / 10 seconds ・ Holding time 10 seconds ・ Load unloading speed 1 mN / 10 seconds ・ Indenter Vickers ・ Measurement temperature 25 ℃
<指紋拭き取り試験>
実施例1、2及び比較例1、2で得られた反射防止物品A〜Dの微細凹凸層側表面を上面にして、粘着層つきの黒アクリル板に貼り付けた後、指を押し付けて指紋を付着させた。その後、ザヴィーナミニマックス(富士ケミカル製)にて指紋を乾拭きした。乾拭きは3kg/cm2程度の力で10往復行い、拭取り後の外観を評価した。結果を表1に示す。
[指紋拭き取り試験評価基準]
A:指紋汚れが視認できない。
B:指紋付着跡に若干の色味の変化が視認される。
C:指紋がほぼ拭取られない。
<Fingerprint wiping test>
The anti-reflective articles A to D obtained in Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 and 2 were attached to a black acrylic plate with an adhesive layer with the surface of the fine uneven layer side as the upper surface, and then the finger was pressed to print the fingerprint. Attached. Thereafter, the fingerprint was wiped dry with Zavina Minimax (Fuji Chemical). Dry wiping was performed 10 times with a force of about 3 kg / cm 2 , and the appearance after wiping was evaluated. The results are shown in Table 1.
[Fingerprint wiping test evaluation criteria]
A: Fingerprint stains are not visible.
B: A slight color change is visually recognized on the fingerprint adhesion mark.
C: Fingerprints are hardly wiped off.
<摺動性試験>
実施例1、2及び比較例1、2で得られた反射防止物品A〜Dの微細凹凸層側表面を上面にして、粘着層つきの黒アクリル板に貼り付けた後、ザヴィーナミニマックス(富士ケミカル製)にて3kg/cm2程度の力で10往復擦った。擦過1分後の視認性の評価を下記基準で行った。結果を表1に示す。
[摺動性試験評価基準]
A:擦り痕が視認されない。
B:擦り痕に若干色味の変化がある。
C:擦り痕が明らかに白濁する。
<Slidability test>
The anti-reflective articles A to D obtained in Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 and 2 were attached to a black acrylic plate with an adhesive layer with the fine uneven layer side surface as the upper surface, and then Xavina Minimax (Fuji (Chemical) was rubbed 10 times with a force of about 3 kg / cm 2 . The visibility after 1 minute of rubbing was evaluated according to the following criteria. The results are shown in Table 1.
[Slidability test evaluation criteria]
A: Scratch marks are not visually recognized.
B: The tint has a slight change in color.
C: Scratch marks are clearly cloudy.
[結果のまとめ]
25℃において、貯蔵弾性率(E’)が300MPa以下であり、且つ、tanδが0.2以下である樹脂組成物の硬化物を用いて形成された微細凹凸層を有する実施例1及び実施例2の反射防止物品は、乾拭きであっても指紋を拭取ることが可能で、拭取り跡が確認されなかった。tanδが0.69の比較例1は、拭取り時の圧力により微細突起が塑性変形を生じたり、スタッキングが発生したものと推定される。貯蔵弾性率E’が330MPaの比較例2は、微小突起が変形しにくく、乾拭きでは十分に指紋汚れを落とすことができなかった。
[Summary of results]
Example 1 and Example which have a fine uneven | corrugated layer formed using the hardened | cured material of the resin composition whose storage elastic modulus (E ') is 300 Mpa or less and tan-delta is 0.2 or less in 25 degreeC. The anti-reflective article 2 was able to wipe fingerprints even with dry wiping, and no wiping trace was confirmed. In Comparative Example 1 where tan δ is 0.69, it is presumed that fine protrusions caused plastic deformation or stacking occurred due to the pressure during wiping. In Comparative Example 2 having a storage elastic modulus E ′ of 330 MPa, the fine protrusions were not easily deformed, and the fingerprint stain could not be sufficiently removed by dry wiping.
1 透明基材
2 微細凹凸層
2’ 受容層
3 微小突起
4 表示パネル
10 反射防止物品
11 ダイ
12 ロール金型
13 押圧ローラ
14 剥離ローラ
20 画像表示装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Transparent base material 2 Fine uneven | corrugated layer 2 'Receptive layer 3 Minute protrusion 4 Display panel 10 Antireflection article 11 Die 12 Roll metal mold 13 Press roller 14 Peeling roller 20 Image display apparatus
Claims (4)
前記微細凹凸層の表面は、微小突起が集合してなる微小突起群を備えた微細凹凸形状を有し、前記微小突起は、反射防止を図る光の波長帯域の最短波長をΛmin、当該微小突起の隣接突起間隔dの最大値をdmaxとしたときに、
dmax≦Λmin
なる関係を有し、且つ、前記微小突起の深さ方向と直交する水平面で切断したと仮定したときの水平断面内における当該微小突起を形成する材料部分の断面積占有率が、当該微小突起の頂部から最深部方向に近づくに従い連続的に漸次増加する構造を有し、
前記樹脂組成物の硬化物の25℃における貯蔵弾性率(E’)が1MPa以上300MPa以下であり、且つ、前記樹脂組成物の硬化物の25℃における貯蔵弾性率(E’)に対する損失弾性率(E”)の比(tanδ(=E”/E’))が0.2以下であることを特徴とする、反射防止物品。 An antireflective article comprising a fine concavo-convex layer comprising a cured product of the resin composition on at least one surface side of the transparent base material and having a fine concavo-convex shape on the surface opposite to the transparent base material,
The surface of the fine concavo-convex layer has a fine concavo-convex shape provided with a group of fine protrusions formed by a collection of fine protrusions, and the microprotrusions have the shortest wavelength of the wavelength band of light for preventing reflection as Λ min . When the maximum value of the distance d between adjacent protrusions of the protrusion is dmax ,
d max ≦ Λ min
And the cross-sectional area occupancy rate of the material portion forming the microprojection in the horizontal cross section when it is assumed that the microprojection is cut in a horizontal plane perpendicular to the depth direction of the microprojection is It has a structure that increases gradually and gradually as it approaches the deepest part from the top,
The storage elastic modulus (E ′) at 25 ° C. of the cured product of the resin composition is 1 MPa or more and 300 MPa or less, and the loss elastic modulus with respect to the storage elastic modulus (E ′) at 25 ° C. of the cured product of the resin composition. A ratio of (E ″) (tan δ (= E ″ / E ′)) is 0.2 or less, an antireflection article,
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