JP5593782B2 - Communication distance evaluation apparatus and communication distance evaluation method - Google Patents

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Description

本発明は、非接触型ICタグを備えた製品の評価に関する。特に、通信距離の評価に係る技術である。   The present invention relates to evaluation of a product including a non-contact type IC tag. In particular, it is a technique related to evaluation of communication distance.

近年、非接触型のIC(Integrated Circuit)チップをアンテナモジュールなどと組み合わせたICタグが各種製品に搭載され、使用される分野が急激に広がっている。その代表的な製品が、形状がカード状であるICカードである。そのほかにもICタグは、シート、シール、リング、コインなど様々な形状で製品に内臓あるいは貼り付けられて使用されるなど、その使用例は多く、たとえば食品や工業製品のパッケージに設けることでこれらの履歴、生産工程や流通過程を把握したり、入退出管理など正確な個体識別が必要な様々な場面において必須なものとなりつつある。   In recent years, IC tags in which a non-contact type IC (Integrated Circuit) chip is combined with an antenna module are mounted on various products, and the field of use is rapidly expanding. A typical product is an IC card having a card shape. In addition, IC tags are used in various forms such as sheets, seals, rings, coins, etc., which are built into or attached to products. For example, these tags can be used in food or industrial product packages. It is becoming indispensable in various scenes that require accurate individual identification, such as grasping history, production process and distribution process, and entrance / exit management.

これらICカードをはじめとする非接触型ICタグを用いた製品は、その性質から高い信頼性、耐久性が求められ、電子マネーやパスポートなど、用途によっては更に長寿命をも求められる。したがって適切な方法で信頼性評価、試験を行なうことが非常に重要である。
ICカードをはじめとする非接触型ICタグは、リーダライターとの通信距離に応じて「密着型」「近接型」「近傍型」「遠隔型」の4種類に区別され、カード型では通信距離10cm以下の近接型が主流である。それ以外のICタグは形状の自由度が高く、使用用途も広範であるため目的によって使い分けられるが、パスポートなど高セキュリティが求められる製品では、一般に「近接型」以下の短い通信距離のものが用いられる。
Products using non-contact type IC tags such as these IC cards are required to have high reliability and durability due to their properties, and longer life is required depending on applications such as electronic money and passports. Therefore, it is very important to perform reliability evaluation and testing by an appropriate method.
IC cards and other non-contact IC tags are classified into four types: “contact type”, “proximity type”, “near type”, and “remote type” depending on the communication distance with the reader / writer. The proximity type of 10 cm or less is the mainstream. Other IC tags have a high degree of freedom in shape and have a wide range of uses, so they can be used properly depending on the purpose. However, products that require high security such as passports generally have a short communication distance of "proximity type" or less. It is done.

現在、この非接触型ICカード、ICタグには標準的な評価、試験方法がない。このため、接触型における評価、試験方法を応用して、各種信頼性試験、環境試験等が行われているが、当然、一般的な形状、物理強度、耐久性のように機能残存の判定を初期応答の有無で判定するものと異なり、通信距離性能に関しては明確に定められていない。そのため、その評価には多くの方法が考案されている。   At present, there is no standard evaluation and test method for this non-contact type IC card and IC tag. For this reason, various reliability tests, environmental tests, etc. have been carried out by applying evaluation and test methods in contact type, but naturally the function remaining judgment such as general shape, physical strength, durability etc. Unlike what is determined based on the presence or absence of an initial response, the communication distance performance is not clearly defined. Therefore, many methods have been devised for the evaluation.

その一例として、開放端子を有する磁界検出用コイルに近接して設置したICタグとリーダライターとの距離を調整して通信を行い、その際の電圧、電流、または電力等の変化から電磁誘導の強さを測定することで、タグアンテナの共振周波数が合っているかどうか、および通信可能距離を確認するといった装置が、特許文献1に記載されている。
また単純に、金属により発生する渦電流の影響を避けるため、設置部を長いアームで金属部品から離し、アーム支持部にかかる負担を軽減するための機能を備えた駆動部でアームの上下移動やリーダライターの水平移動を行ってICカードとリーダライター間の距離を変え、その各々で通信の可否を見ることでICカードの最大通信距離を調べる装置が、特許文献2に記載されている。
As an example, communication is performed by adjusting the distance between the IC tag installed in the vicinity of the magnetic field detection coil having an open terminal and the reader / writer, and electromagnetic induction is detected from changes in voltage, current, or power at that time. Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-228561 describes an apparatus that confirms whether the resonance frequency of a tag antenna is matched and the communicable distance by measuring strength.
Also, simply to avoid the influence of eddy currents generated by metal, the installation part is separated from the metal parts with a long arm, and the arm is moved up and down by a drive part equipped with a function to reduce the burden on the arm support part. Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-228867 describes an apparatus for examining the maximum communication distance of an IC card by moving the reader / writer horizontally to change the distance between the IC card and the reader / writer and checking whether or not communication is possible.

特開2005−202881号公報JP 2005-202881 A 特開2007−156724号公報JP 2007-156724 A

しかしいずれも、ICカード、ICタグの設置部は共に、ICカード、ICタグの形状のまま測定を行うことを前提とした自由度の低いものとなっている。たとえばICタグは実装後、製品の形になったものを非破壊で検査しなければならないことも多いが、このような場合の使用には適当でない。また製品の形になったもの、特にシート、シールなど薄い形状のものはしばしば反り、たわみなどが生じることもあり、たとえば環境試験などを経るとこの傾向が強まるが、このような試料の評価を行う状況について考慮されているとは云い難い。   However, in both cases, the IC card and the IC tag installation part are both low in the degree of freedom on the assumption that the measurement is performed with the IC card and the IC tag in the shape. For example, an IC tag often has to be inspected in a non-destructive manner after being mounted, but it is not suitable for use in such a case. In addition, products that are in the form of products, especially those with thin shapes such as sheets and seals, often warp and bend. For example, this tendency is strengthened through environmental tests. It is hard to say that the situation is being considered.

更に装置の部品、たとえば駆動部に金属部品を用いているものでは、この金属部品からなる部分と試料の設置部を離す必要から、装置が大型化、複雑化する傾向にある。
そこで、本発明では、上述の問題を鑑み、ICカードをはじめとする非接触型ICタグおよびそれらを用いた製品について、製品に実装される前の初期状態だけでなく、実装後に、更には非破壊での正確な性能評価を行うに当たり、比較的容易かつ安価にそれを可能とする評価装置と、それを用いた評価方法を提供することを目的とする。
Further, in the case of parts of the apparatus, for example, those using metal parts for the drive unit, the apparatus tends to be large and complicated because it is necessary to separate the part made of the metal parts from the installation part of the sample.
Accordingly, in the present invention, in view of the above-described problems, not only the initial state before being mounted on the product but also the non-contact type IC tag including the IC card and the product using the same are not further removed after the mounting. It is an object of the present invention to provide an evaluation apparatus that enables it to be performed comparatively easily and inexpensively, and an evaluation method using the same, when performing accurate performance evaluation at breakage.

上記課題を解決するために、本発明のうち請求項1に記載した発明は、非接触型ICタグを備えた測定対象物の通信距離を評価するための通信距離評価装置であって、
上記測定対象物の形状を目的の形状に矯正した状態に拘束して固定するサンプル設置部と、上記サンプル設置部に固定された上記測定対象物と対向する位置にあるリーダライターの設置部と、上記リーダライターの設置部に対し、上記サンプル設置部を進退させる方向に案内する案内部と、上記サンプル設置部の進退量を計測可能な計測部と、を備え、上記測定対象物は、板状若しくはシート状の形状であり、上記サンプル設置部は、それぞれ非接触型ICが位置する部分が開口し且つ積層される上板と下板と、その2枚の上板と下板の間に固定された中板とを備え、その中板には、上記測定対象物を配置する部分に当該測定対象物の大きさに合わせた切欠きが形成されており、上記上板と上記下板の間に上記測定対象物を介挿することで、上記測定対象物の形状を平らな形状に矯正した状態に拘束し、上記計測部は、上記案内部から離れて設置されており、上記サンプル設置部を進退させる方向に延びる計測部支柱と、上記計測部支柱に設けられた目盛りと、上記サンプル設置部に固定されると共に、上記計測部支柱に跨架して上記計測部支柱に沿って移動可能なスライダ部と、からなることを特徴とするものである。
In order to solve the above problems, the invention described in claim 1 of the present invention is a communication distance evaluation apparatus for evaluating the communication distance of a measurement object including a non-contact type IC tag,
A sample setting part that restrains and fixes the shape of the measurement object in a corrected state to a target shape, and an installation part of a reader / writer located at a position facing the measurement object fixed to the sample setting part, to installation of the reader writer includes a guide portion for guiding a direction for advancing and retracting the sample installation part, and a measurement unit capable of measuring the advancing and retreating amount of the sample installation part, the measuring object, the plate Alternatively, it is a sheet-like shape, and each of the sample mounting portions is fixed between an upper plate and a lower plate on which a portion where the non-contact type IC is located is opened and laminated, and the two upper plates and the lower plate. An intermediate plate, and a notch that matches the size of the measurement object is formed in a portion where the measurement object is disposed, and the measurement object is provided between the upper plate and the lower plate. By inserting things, The shape of serial measurement object is restrained in a state of being corrected to the flat shape, the measuring unit is installed away from the guide section, a measuring section struts extending in a direction for advancing and retracting the sample installation part, the The scale comprises a scale provided on the measurement unit strut, and a slider unit that is fixed to the sample installation unit and is movable along the measurement unit support straddling the measurement unit support column. Is.

次に、請求項2に記載した発明は、請求項1に記載した構成に対し、上記サンプル設置部は、上記案内部に着脱可能に支持されることを特徴とするものである。
次に、請求項3に記載した発明は、請求項1又は請求項2に記載した構成に対し、上記通信距離評価装置を構成する全部品は、非金属からなることを特徴とするものである
Next, the invention described in claim 2 is characterized in that, in contrast to the structure described in claim 1, the sample installation part is detachably supported by the guide part.
Next, the invention described in claim 3 is characterized in that, with respect to the configuration described in claim 1 or claim 2, all the parts constituting the communication distance evaluation device are made of non-metal. .

に、請求項に記載した発明は、上記請求項1〜請求項のいずれか1項に記載した通信距離評価装置を使用して、上記サンプル設置部に上記測定対象物を固定すると共に、上記リーダライターの設置部にリーダライターを設置して、
上記測定対象物から上記リーダライターへの応答を確認しながら、上記リーダライターの設置部から上記サンプル設置部を離す方向に移動させ、上記測定対象物からの応答が途切れた時点での距離によって、当該測定対象物の最大通信距離を評価することを特徴とする通信距離評価方法を提供するものである。
In the following, the invention described in claim 4, using the communication distance evaluation apparatus according to any one of the above claims 1 to 3, together with fixing the measuring object in the sample installation part , Install a reader / writer in the reader / writer installation section,
While confirming the response from the measurement object to the reader / writer, move the sample installation part away from the reader / writer installation part, and depending on the distance at which the response from the measurement object is interrupted, The present invention provides a communication distance evaluation method characterized by evaluating the maximum communication distance of the measurement object.

本発明によれば、非接触型ICタグおよびそれらを用いた製品について、反り、たわみなどが生じたり、あるいは一般的なカード、タグの形状から外れた製品であっても、比較的容易に測定を行うことが可能になる。
また本発明によれば、装置を安価かつ簡便に作成し、評価を行うことが可能になる。
According to the present invention, non-contact type IC tags and products using them can be measured relatively easily even if they are warped, bent, or products that deviate from the shape of a general card or tag. It becomes possible to do.
Further, according to the present invention, it is possible to create and evaluate an apparatus inexpensively and easily.

本発明に基づく実施形態に係る通信距離評価装置の概要を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the outline | summary of the communication distance evaluation apparatus which concerns on embodiment based on this invention. 本発明に基づく実施形態に係る第1のサンプル設置部を説明する図である。It is a figure explaining the 1st sample installation part which concerns on embodiment based on this invention. 本発明に基づく実施形態に係る第2のサンプル設置部を説明する図である。It is a figure explaining the 2nd sample installation part which concerns on embodiment based on this invention. 本発明に基づく実施形態に係る中板の形状を示す図である。It is a figure which shows the shape of the intermediate board which concerns on embodiment based on this invention. サンプルの取り付けを示す図である。It is a figure which shows attachment of a sample. 本発明に基づく実施形態に係る通信距離評価を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the communication distance evaluation which concerns on embodiment based on this invention.

以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
図1は装置全体の概要を示すための斜視図である。
(通信距離評価装置)
台1から支柱3及び支持壁8が立設している。支持壁8は、くの字状に配置されている。サンプル設置部2は、支柱3及び支持壁8に着脱可能に支持されると共に、上記台1の上面に対し進退可能となっている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a perspective view showing an outline of the entire apparatus.
(Communication distance evaluation device)
A column 3 and a support wall 8 are erected from the base 1. The support wall 8 is arranged in a U shape. The sample setting portion 2 is detachably supported by the support column 3 and the support wall 8 and can be moved back and forth with respect to the upper surface of the table 1.

サンプル設置部2に対し上側に延びる接合部4が設けられ、その接合部4に対し上下に延びるラック部4aが固定されている。上記接合部4及びラック部4aは、上記支柱3に沿って配置されて、当該支柱3に沿って上下方向にスライド可能となっている。なお、ラック部4aの下方に位置する台1位置には穴1bが開口していることで、ラック部4aの可動範囲を高め、サンプル設置部2を台1表面まで降ろすことが可能、つまりサンプル設置部2とリーダライターを密着させることが出来るようにしている。   A joint part 4 extending upward is provided with respect to the sample setting part 2, and a rack part 4 a extending vertically is fixed to the joint part 4. The joint portion 4 and the rack portion 4 a are disposed along the support column 3 and are slidable in the vertical direction along the support column 3. In addition, since the hole 1b is opened in the position of the base 1 located below the rack part 4a, the movable range of the rack part 4a can be increased, and the sample setting part 2 can be lowered to the surface of the base 1, that is, the sample The installation unit 2 and the reader / writer can be brought into close contact with each other.

上記ラック部4aに対し、ピニオンギア5が連結する。
ピニオンギア5は、支柱3壁に回転可能に支持されていると共に、ピニオンギア5の回転軸にハンドル6が連結している。これによって、ハンドル6の回転によって、サンプル設置部2は上下に移動可能となってる。
A pinion gear 5 is connected to the rack portion 4a.
The pinion gear 5 is rotatably supported on the wall of the column 3, and a handle 6 is connected to the rotation shaft of the pinion gear 5. Thereby, the sample setting part 2 can be moved up and down by the rotation of the handle 6.

また、支持壁8に対し計測部7が固定されている。計測部7は、上下に延びる計測部支柱7bと、その計測部支柱7bに設けられた目盛り7cと、サンプル設置部2に固定されると共に、上記計測部支柱7bに跨架して当該計測部支柱7bに沿って移動可能なスライダ部7aと、からなる。   Further, the measuring unit 7 is fixed to the support wall 8. The measurement unit 7 is fixed to the measurement unit column 7b extending vertically, the scale 7c provided on the measurement unit column 7b, and the sample setting unit 2 and straddling the measurement unit column 7b. And a slider portion 7a movable along the column 7b.

上記計測部支柱7b及びスライダ部7aによっても、サンプル設置部2は、上下に移動可能な状態で支持される。そして、サンプル設置部2の上下移動量(台1に対する進退量)は上記目盛り7cによって計測することが可能である。
ここで、上記支柱3及びラック&ピニオン機構、計測部支柱7b及びスライダ部7aは案内部を構成する。
The sample placement unit 2 is also supported by the measurement unit column 7b and the slider unit 7a so as to be movable up and down. Then, the vertical movement amount (advancing / retreating amount with respect to the table 1) of the sample setting unit 2 can be measured by the scale 7c.
Here, the support column 3, the rack and pinion mechanism, the measurement unit support column 7b, and the slider unit 7a constitute a guide unit.

そして、上記サンプル設置部2の下方に位置する、台1上面をリーダライターの設置部1aとする。
ここで、上記構成の通信距離評価装置は、全て樹脂や木材など非金属を用いて構成することが好ましい。少なくとも、台1及びサンプル設置部2は、樹脂や木材など非金属を用いて構成することが必要である。
The upper surface of the table 1 located below the sample installation unit 2 is set as a reader / writer installation unit 1a.
Here, it is preferable that the communication distance evaluation apparatus having the above configuration is configured using non-metal such as resin and wood. At least the base 1 and the sample installation part 2 need to be configured using a nonmetal such as resin or wood.

(サンプル設置部)
ここで、本実施形態における無線ICタグを備えた製品としての測定対象物(以下、サンプルSとも呼ぶ。)は、板状若しくはシート状の形状をしたシート、カードなど比較的薄い製品とする。このような形状の場合には、サンプルSに、反りや撓みなどが発生する可能性がある。
(Sample installation part)
Here, a measurement object (hereinafter also referred to as a sample S) as a product including the wireless IC tag in the present embodiment is a relatively thin product such as a sheet or a card having a plate shape or a sheet shape. In the case of such a shape, the sample S may be warped or bent.

(第1例のサンプル設置部)
このサンプル設置部2は、図2に示すように、上板2a及び下板2bからなる上下2枚の平板を備える。その上板2a及と下板2bとの間にサンプルSを設置した際に、サンプルSの有するICタグのある箇所にあたる位置がくり抜かれて開口部としての窓2fが形成されている。窓2fをあけたことで測定時の上板2aと下板2bによる影響をより排除することが可能である。
(Sample installation part of the first example)
As shown in FIG. 2, the sample setting unit 2 includes two upper and lower flat plates including an upper plate 2 a and a lower plate 2 b. When the sample S is installed between the upper plate 2a and the lower plate 2b, a position corresponding to a location where the IC tag of the sample S is located is cut out to form a window 2f as an opening. By opening the window 2f, it is possible to further eliminate the influence of the upper plate 2a and the lower plate 2b during measurement.

なお、上記上板2a及び下板2bの対向面には、サンプルSを設置位置を特定するマーキングや段差などを設けておくと良い。
そして、上板2a及と下板2bとの間にサンプルSを設置して、当該上板2a及と下板2bとの間にサンプルSを介挿した状態で、非金属素材からなるネジやクリップなどのジグ2dを用いて上板2aと下板2bとを固定する。これによって、サンプルSに反りやたわみがあっても、平らな状態に矯正されてサンプル設置部2に固定される。
In addition, it is good to provide the marking or step which specifies the installation position of the sample S in the opposing surface of the said upper board 2a and the lower board 2b.
Then, a sample S is installed between the upper plate 2a and the lower plate 2b, and a screw made of a non-metallic material is inserted with the sample S interposed between the upper plate 2a and the lower plate 2b. The upper plate 2a and the lower plate 2b are fixed using a jig 2d such as a clip. As a result, even if the sample S is warped or bent, the sample S is corrected to a flat state and fixed to the sample setting portion 2.

なお、サンプル設置部2は、接合部4と非金属素材からなるネジ、あるいはタボのような凹凸のかみ合せなど、取り外し可能な構造で繋ぐようになっている。
ここで、上板2aの質量によっては、下板2bの上に上板2aを載せるだけでサンプルSの形状を矯正可能であるので、この場合には、上記ジグ2dは無くても良い。
In addition, the sample installation part 2 is connected by the structure which can be removed, such as the joining part 4 and the screw | thread which consists of a nonmetallic material, or the uneven | corrugated engagement like a tab.
Here, depending on the mass of the upper plate 2a, the shape of the sample S can be corrected only by placing the upper plate 2a on the lower plate 2b. In this case, the jig 2d may be omitted.

(第2例のサンプル設置部)
このサンプル設置部2は、図3に示すように、上板2a及び下板2bの間に中板2cを介挿して積層して構成したものである。
上記中板2cには、図4に示すように、サンプルSの大きさに合わせた寸法の切欠き2eが形成されている。
その他の構成は、第1例のサンプル設置部2の構成と同様である。
(Sample installation part of the second example)
As shown in FIG. 3, the sample installation portion 2 is configured by laminating an intermediate plate 2 c between an upper plate 2 a and a lower plate 2 b.
As shown in FIG. 4, the intermediate plate 2 c is formed with a notch 2 e having a size corresponding to the size of the sample S.
Other configurations are the same as the configuration of the sample setting unit 2 of the first example.

この場合には、図5のように、サンプルSを上記切欠き2eに差し込むことで、サンプルSの形状を矯正しつつサンプル設置部2に固定させる。
なお、上板2a、中板2c、及び下板2bを貼り合わせて一体物としておいても良いし、第1例と同様に、非金属のジグ2dによって固定するようにしても良い。
In this case, as shown in FIG. 5, by inserting the sample S into the notch 2e, the shape of the sample S is corrected and fixed to the sample setting portion 2.
Note that the upper plate 2a, the middle plate 2c, and the lower plate 2b may be bonded together to form an integrated object, or may be fixed by a non-metal jig 2d as in the first example.

(評価方法)
図6は、通信距離評価装置を用いた通信距離測定操作の概念図である。
図6に示すように、サンプル設置部2にサンプルSを設置すると共に、台1上面のリーダライター9の設置部に対し、リーダライター9を設置する。リーダライター9にはパーソナルコンピュータ10を接続しておく。
(Evaluation method)
FIG. 6 is a conceptual diagram of a communication distance measurement operation using the communication distance evaluation apparatus.
As shown in FIG. 6, the sample S is installed in the sample installation unit 2, and the reader / writer 9 is installed on the installation unit of the reader / writer 9 on the upper surface of the table 1. A personal computer 10 is connected to the reader / writer 9.

そして、ハンドル6を回してサンプル設置部2を下げ、下に置いたリーダライター9にサンプルSを密着させる。このときリーダライター9は、上板2a、下板2bをくりぬいた窓2f、つまりサンプルSのICタグがある箇所の真下に設置する。
密着させた状態でリーダライター9につながったパーソナルコンピュータ10でリーダライター9を介したサンプルSの応答を確認し、計測部支柱7bに設けた目盛り7cを読む。
Then, the handle 6 is turned to lower the sample setting portion 2, and the sample S is brought into close contact with the reader / writer 9 placed below. At this time, the reader / writer 9 is installed immediately below the window 2f in which the upper plate 2a and the lower plate 2b are hollowed, that is, the location where the IC tag of the sample S is present.
The response of the sample S through the reader / writer 9 is confirmed by the personal computer 10 connected to the reader / writer 9 in the close contact state, and the scale 7c provided on the measuring unit column 7b is read.

次に、パーソナルコンピュータ10でサンプルSからの応答を確認しつつ、ハンドル6を回してサンプル設置部2を上げ、リーダライター9とサンプルSの距離を離していく。サンプルSからの応答が途絶えた時点で再び計測部支柱7bに設けた目盛り7cを読み、サンプル設置部2の移動距離を通信距離とする。   Next, while confirming the response from the sample S with the personal computer 10, the handle 6 is turned to raise the sample setting unit 2, and the distance between the reader / writer 9 and the sample S is increased. When the response from the sample S stops, the scale 7c provided on the measuring unit support column 7b is read again, and the moving distance of the sample installing unit 2 is set as the communication distance.

以上のように、本装置を使用することで、非接触型ICタグおよびそれらを用いたサンプルSについて、反り、たわみなどが生じたり、あるいは一般的なカード、タグの形状から外れた製品であっても、比較的容易に測定を行うことが可能になる。   As described above, by using this apparatus, the non-contact type IC tag and the sample S using the same are warped or bent, or are out of the shape of a general card or tag. However, the measurement can be performed relatively easily.

また、装置を安価かつ簡便に作成し、評価を行うことが可能になる。
ここで、上記実施形態では、サンプル設置部2として、ここでは上板2aと下板2bでサンプルSを挟む例、当該サンプルSの大きさに合わせた中板2cを挟んで貼りあわせた隙間に脇から差し込む例を挙げたが、これはサンプルSの形状や厚さに合わせ、スライダ部7aと連動して上下動が可能なものであれば、部材に非金属を使う限り自由に設定してよい。また、サンプル設置部2と接合部4、サンプル設置部2とスライダ部7aも、取り外し可能な方法であればネジ等に限らず、部材に非金属を使う限り自由に設定してよい。予め貼り合せた隙間からサンプルSを差し込む形でもよい。
In addition, it is possible to create and evaluate an apparatus inexpensively and easily.
Here, in the above embodiment, as the sample setting portion 2, here, an example in which the sample S is sandwiched between the upper plate 2a and the lower plate 2b, and a gap between which the intermediate plate 2c matching the size of the sample S is sandwiched Although an example of inserting from the side was given, this can be set freely as long as non-metal is used for the member as long as it can move up and down in conjunction with the slider part 7a according to the shape and thickness of the sample S Good. Moreover, the sample setting part 2 and the joining part 4, and the sample setting part 2 and the slider part 7a are not limited to screws or the like as long as they are removable, and may be freely set as long as a nonmetal is used for the member. The sample S may be inserted from a gap that has been bonded in advance.

またここでは材料として、安価で入手、加工しやすい樹脂を用いたが、例えば木材、カーボンファーバー、セラミックなど非金属であればどのような素材を用いてもよい。   In this case, a cheap and easy-to-process and easy-to-process resin is used as the material. However, any material may be used as long as it is a non-metal such as wood, carbon fiber, and ceramic.

次に、上記実施形態で説明した構成に基づく実施例を示す。
装置を構成する、台1〜計測部7の構成部材は全て樹脂を用いた。接合部4とスライダ部7aは、それぞれ背面にコの字型に曲げたレール状の部材を接着し、この部分を支柱3、計測部支柱7bに差し込むことで上下可動な状態(案内可能な状態)で固定した。
リーダライター9のリーダライターの設置部1aには位置合わせのための印を設け、それに合わせてリーダライター9を設置した。
Next, examples based on the configuration described in the above embodiment will be described.
Resin was used for all the constituent members of the platform 1 to the measuring unit 7 constituting the apparatus. The joint portion 4 and the slider portion 7a are each movable in a vertically movable state (a guideable state) by bonding a U-shaped rail-shaped member to the back surface and inserting this portion into the column 3 and the measurement unit column 7b. ).
The reader / writer installation portion 1a of the reader / writer 9 was provided with a mark for alignment, and the reader / writer 9 was installed accordingly.

サンプルSを、当該サンプルSのICタグのある箇所にあたる位置をくりぬいたサンプル設置部2を構成する上板2aと下板2bで挟み、ICタグの位置を窓2f部分に合わせて周囲を樹脂製のクリップで固定し、サンプル設置部2と接合部4、サンプル設置部2とスライダ部7aは樹脂製のネジで固定した。
このようにサンプルSを取り付けたサンプル設置部2を、ハンドル6を回して下げ、設置したリーダライター9にサンプルSを密着させたのち、徐々にリーダライター9とサンプルSの距離を離し、計測部支柱7bに設けた目盛り7cで、開始点とサンプルSからの応答が途絶えた点との距離を記録し、これを当該サンプルSの通信距離とした。
The sample S is sandwiched between the upper plate 2a and the lower plate 2b constituting the sample installation part 2 where the position corresponding to the IC tag of the sample S is hollowed, and the periphery of the sample tag is made of resin by matching the position of the IC tag with the window 2f portion. The sample setting part 2 and the joining part 4, and the sample setting part 2 and the slider part 7a were fixed with resin screws.
After the sample setting part 2 with the sample S attached is lowered by turning the handle 6, the sample S is brought into close contact with the installed reader / writer 9, the distance between the reader / writer 9 and the sample S is gradually increased, and the measurement part The distance between the start point and the point at which the response from the sample S ceased was recorded on the scale 7c provided on the column 7b, and this was used as the communication distance of the sample S.

本発明によれば、非接触型ICタグおよびそれらを用いた製品について、反り、たわみなどが生じたり、あるいは一般的なカード、タグの形状から外れた製品であっても、安価かつ簡便な装置で容易に通信距離測定を行うことを可能とすることで、対象物の通信性能評価を容易にし、製品評価プロセスの効率化、製品の信頼性向上や長寿命化に寄与することが出来る。 According to the present invention, a non-contact type IC tag and a product using the same are inexpensive and simple even if the product is warped, bent, or deviated from the shape of a general card or tag. By making it possible to easily measure the communication distance, it is possible to easily evaluate the communication performance of the object, and contribute to the efficiency of the product evaluation process, the improvement of the reliability of the product, and the extension of the service life.

1 台
1a リーダライターの設置部
2 サンプル設置部
2a 上板
2b 下板
2c 中板
2d ジグ
2e 切欠き
2f 窓
3 支柱
4 接合部
4a ラック部
5 ピニオンギア
6 ハンドル
7 計測部
7a スライダ部
7b 計測部支柱
7c 目盛り
8 支持壁
9 リーダライター
S サンプル
1 unit 1a Reader / writer installation unit 2 Sample installation unit 2a Upper plate 2b Lower plate 2c Middle plate 2d Jig 2e Notch 2f Window 3 Post 4 Joint 4a Rack unit 5 Pinion gear 6 Handle 7 Measuring unit 7a Slider unit 7b Measuring unit Column 7c Scale 8 Support wall 9 Leader writer S Sample

Claims (4)

非接触型ICタグを備えた測定対象物の通信距離を評価するための通信距離評価装置であって、
上記測定対象物の形状を目的の形状に矯正した状態に拘束して固定するサンプル設置部と、
上記サンプル設置部に固定された上記測定対象物と対向する位置にあるリーダライターの設置部と、
上記リーダライターの設置部に対し、上記サンプル設置部を進退させる方向に案内する案内部と、
上記サンプル設置部の進退量を計測可能な計測部と、を備え、
上記測定対象物は、板状若しくはシート状の形状であり、
上記サンプル設置部は、それぞれ非接触型ICが位置する部分が開口し且つ積層される上板と下板と、その2枚の上板と下板の間に固定された中板とを備え、その中板には、上記測定対象物を配置する部分に当該測定対象物の大きさに合わせた切欠きが形成されており、上記上板と上記下板の間に上記測定対象物を介挿することで、上記測定対象物の形状を平らな形状に矯正した状態に拘束し、
上記計測部は、上記案内部から離れて設置されており、上記サンプル設置部を進退させる方向に延びる計測部支柱と、上記計測部支柱に設けられた目盛りと、上記サンプル設置部に固定されると共に、上記計測部支柱に跨架して上記計測部支柱に沿って移動可能なスライダ部と、からなることを特徴とする通信距離評価装置。
A communication distance evaluation apparatus for evaluating a communication distance of a measurement object having a non-contact type IC tag,
A sample installation part that restrains and fixes the shape of the measurement object to a state corrected to a target shape;
An installation part of a reader / writer at a position facing the measurement object fixed to the sample installation part;
A guide unit that guides the reader / writer installation unit in a direction to advance and retract the sample installation unit,
A measurement unit capable of measuring the amount of advance and retreat of the sample installation unit,
The measurement object is a plate-like or sheet-like shape,
Each of the sample mounting portions includes an upper plate and a lower plate in which a portion where the non-contact type IC is located is opened and stacked, and a middle plate fixed between the two upper plates and the lower plate. In the plate, a notch that matches the size of the measurement object is formed in the part where the measurement object is arranged, and by inserting the measurement object between the upper plate and the lower plate, Constrain the shape of the measurement object to a flat shape,
The measurement unit is installed apart from the guide unit, and is fixed to the measurement unit column extending in the direction of moving the sample installation unit back and forth, the scale provided on the measurement unit column, and the sample installation unit A communication distance evaluation apparatus comprising: a slider portion straddling the measurement unit support column and movable along the measurement unit support column.
上記サンプル設置部は、上記案内部に着脱可能に支持されることを特徴とする請求項1に記載した通信距離評価装置。   The communication distance evaluation apparatus according to claim 1, wherein the sample installation unit is detachably supported by the guide unit. 上記通信距離評価装置を構成する全部品は、非金属からなることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載した通信距離評価装置。   The communication distance evaluation apparatus according to claim 1 or 2, wherein all components constituting the communication distance evaluation apparatus are made of non-metal. 上記請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載した通信距離評価装置を使用して、上記サンプル設置部に上記測定対象物を固定すると共に、上記リーダライターの設置部にリーダライターを設置して、Using the communication distance evaluation apparatus according to any one of claims 1 to 3, the measurement object is fixed to the sample setting portion, and a reader / writer is set to the reader / writer setting portion. do it,
上記測定対象物から上記リーダライターへの応答を確認しながら、上記リーダライターの設置部から上記サンプル設置部を離す方向に移動させ、上記測定対象物からの応答が途切れた時点での距離によって、当該測定対象物の最大通信距離を評価することを特徴とする通信距離評価方法。While confirming the response from the measurement object to the reader / writer, move the sample installation part away from the reader / writer installation part, and depending on the distance at which the response from the measurement object is interrupted, A communication distance evaluation method characterized by evaluating a maximum communication distance of the measurement object.
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JPS58195101A (en) * 1982-05-08 1983-11-14 Mitsutoyo Mfg Co Ltd Height gage
JPS61165855A (en) * 1985-01-16 1986-07-26 Comput Services Corp Holding and fixing device for optical memory card
JPH1085243A (en) * 1996-09-11 1998-04-07 G C:Kk Working length setting tool for dental root canal forming instrument
JPH10141901A (en) * 1996-11-07 1998-05-29 Kazuo Naka Person's height meter for home use
JPH10309796A (en) * 1997-05-13 1998-11-24 Sankyo Seiki Mfg Co Ltd Stamper
JP2000011130A (en) * 1998-03-26 2000-01-14 Toshiba Corp Storage device and card type storage device and electronic device
JP2004171315A (en) * 2002-11-21 2004-06-17 Dainippon Printing Co Ltd Ic card holder and using method of the same
JP2007156724A (en) * 2005-12-02 2007-06-21 Sony Corp Ic card communication inspection device

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