JP5592486B2 - 画像取込システムにおける欠陥を推定するための方法および関連したシステム - Google Patents
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Description
・互いに対するまたはセンサに対する光学エレメントの形状および位置という不確実性であって、画像取込システムの製造における不確実性に特に依存している、フィールドにおける測色の変化の欠陥。
・互いに対するまたはセンサに対する光学エレメントの形状および位置という不確実性であって、画像取込システムの製造における不確実性に特に依存している、フィールドにおける輝度の変化の欠陥。
・互いに対するまたはセンサに対する光学エレメントの形状および位置という不確実性であって、画像取込システムの製造における不確実性に特に依存している、フィールドにおけるシャープネスの変化の欠陥。
・上記第1の画像のフィールドの少なくとも第1の部分において、上記第1の画像の上記特性に関連した測定を算出するステップ。
および
・上記第1の画像のフィールドの少なくとも第2の部分において、上記欠陥の推定された大きさを取得するステップ。ここで、上記大きさは、算出された測定に依存しており、上記第1の画像の上記特性のフィールドの内部における、上記欠陥により生成された変化と同一オーダの変化を有している。
・上記方法は、取得された大きさから、上記画像取込システムにより取り込まれた少なくとも1つの第2の画像に対する、上記欠陥の少なくとも1つの補正パラメータを決定するステップを更に含んでいる。ここで、上記第2の画像は、上記第1の画像と異なっているか、または同一である。上記欠陥の推定のために用いられる上記第1の画像と異なる第2の画像または複数の第2の画像を補正できることにより、処理が省かれる。
・上記補正パラメータは、上記第2の画像のフィールド全体に対して決定される。
・上記方法は、上記補正パラメータを考慮する画像取込パラメータにより取り込まれた第2の画像を処理するステップを更に含んでいる。
・上記第1の画像は、上記第2の画像より低い解像度、少ない数のチャネル、および/または、少ない数の次元を有している。
・上記第1の画像の少なくとも1つの特性のフィールドの内部における、上記欠陥に生成された変化は、上記第1の画像の少なくとも1つの画像取込パラメータおよび/または画像取込条件に依存しており、上記第2の画像は、上記第1の画像と同一のまたは同様の画像取込パラメータおよび/または画像取込条件を伴って、上記画像取込システムにより取り込まれる。このようにして、先行技術においては、キャリブレーション後に適切に補正され得なかったタイプの欠陥、または、全くキャリブレートされ得なかったタイプの欠陥
を推定し得る。
・上記第1の画像の少なくとも1つの特性のフィールドの内部における、上記欠陥により生成された変化は、上記画像取込システムに対して固有のものである。この場合、コストの掛かるユニット毎のキャリブレーションは回避される。
・上記欠陥は、上記画像取込システムの製造における少なくとも1つの不確実性に依存している。
・上記画像取込システムは、輝度の口径食、色の口径食、非均一なブラー、同一チャネルにおける隣接する感光性エレメント間の比の非均一な変化、非均一なノイズ、形状歪み、横方向の色収差、長手方向の色収差、非点収差、フレア、および、非均一な黒レベルの少なくとも1つを含んでいる。
・上記方法は、上記第1の画像のフィールドの少なくとも第1の部分において、均一のゾーンの組を識別するステップを含んでいる。ここで、上記均一のゾーンの各々の内部において、上記算出された測定が、上記第1の画像の上記特性のフィールドの内部における、上記欠陥により生成された変化と同一オーダだけ変化する。上記大きさは、上記識別された均一のゾーンを考慮することにより取得される。
・上記大きさは、上記均一のゾーンの組の1つの均一のゾーンの内側において、上記算出された測定を、上記第1の画像の上記特性に関連する、上記均一のゾーンの基準点にて算出された測定に関連付けることにより取得される。
・上記第1の画像の上記フィールドの少なくとも1つの第1の部分において、上記第1の画像の上記特性に関連する測定を算出するためのユニット。
・上記第1の画像の上記フィールドの少なくとも1つの第2の部分において、上記欠陥に対する推定された大きさを取得するためのユニット。ここで、上記大きさは、上記算出された測定に依存しており、上記第1の画像の上記特性のフィールドの内部における、上記背景により生成された変化と同一オーダの変化を有している。
i)νにおける変化およびμ(I)における変化は、均一なゾーン内において局所的に近接している。
ii)関数νは、(均一なゾーンのエッジ、および、特に背景Sに起因する変化のために任意の均一なゾーンに属していない点にて不連続性を有し得るμ(I)とは異なり)あらゆる場所において正則である。
・例えば、当該大きな画像においてゾーンを決定し、各ゾーンから少なくとも1つの画素を選択することによるか、または、各ゾーンの画素を平均化することにより取得されてもよい。
・当該ゾーンは、当該大きな画像を、正則化グリッドまたは非正則化グリッドにサブ分割することにより取得されてもよい。
・当該ゾーンは、画像の内容に依存していてもよく、画像の内容から独立していてもよい。
・画像取込条件および/または画像取込パラメータ
および
・対応する測定μ(I)または大きさνもしくは補正パラメータc
の全体的な(完全な)または部分的なヒストリーが、1つ以上の画像Iに対して保存される。
・均一なゾーンZiの内側では、
・均一なゾーンZiの内側では、
・均一なゾーンZiでは、
Claims (15)
- 画像取込システム(1)の少なくとも1つの欠陥を推定するための方法であって、
上記欠陥は、上記画像取込システムにより取り込まれた任意の少なくとも1つの第1の画像(I)であって、任意の背景(S)を表している任意の少なくとも1つの第1の画像(I)に対して、上記第1の画像の少なくとも1つの特性のフィールドの内部における変化を生成し、
上記変化は、上記背景によりもたらされた、上記第1の画像の上記特性の上記フィールドの内部における変化よりも統計的に1オーダ小さく、
上記方法は、
上記第1の画像の上記フィールドの少なくとも第1の部分において、上記第1の画像の上記特性に関連した測定μ(I)を算出するステップと、
上記第1の画像の上記フィールドの少なくとも第2の部分において、上記欠陥の推定された大きさ(ν)を取得するステップと、
上記画像取込システムにより取り込まれた少なくとも1つの第2の画像(I’)に対して、上記取得された大きさ(ν)から上記欠陥の少なくとも1つの補正パラメータ(c)を決定するステップと、
を含んでおり、
上記大きさは、上記算出された測定に依存しつつ、上記第1の画像の上記特性の上記フィールドの内部における、上記欠陥により生成された変化と同一オーダの変化を有しており、
上記第2の画像は、上記第1の画像とは異なる、
ことを特徴とする方法。 - 上記第2の画像(I’)は、上記第1の画像(I)の直後に上記画像取込システムにより取り込まれる、
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 上記第1の画像(I)は、プリキャプチャ画像またはプレビュー画像である、
ことを特徴とする請求項1または2に記載の方法。 - 上記補正パラメータ(c)は、上記第2の画像(I’)のフィールド全体に対して決定される、
ことを特徴とする請求項1から3の何れか1項に記載の方法。 - 上記画像取込システム(1)により取り込まれた上記第2の画像(I’)を、上記補正パラメータ(c)を考慮して処理するステップを更に含んでいる、
ことを特徴とする請求項1から4の何れか1項に記載の方法。 - 上記第1の画像(I)は、上記第2の画像(I’)よりも低い解像度、少ない数のチャネル、および/または、少ない数の次元を有している、
ことを特徴とする請求項1から5の何れか1項に記載の方法。 - 上記第1の画像(I)の少なくとも1の特性の上記フィールドの内部における、上記欠陥により生成された上記変化は、上記第1の画像の少なくとも1つの画像取込パラメータおよび/または画像取込条件に依存しており、
上記第2の画像(I’)は、上記第1の画像と同一または同様である上記画像取込パラメータおよび/または画像取込条件を伴って、上記画像取込システム(1)により取り込まれる、
ことを特徴とする請求項1から6の何れか1項に記載の方法。 - 上記第1の画像(I)の少なくとも1つの特性の上記フィールドの内部における、上記欠陥により生成された上記変化は、上記画像取込システム(1)に固有のものである、
ことを特徴とする請求項1から7の何れか1項に記載の方法。 - 上記欠陥は、上記画像取込システム(1)の製造において、少なくとも1つの不確実性に依存している、
ことを特徴とする請求項8に記載の方法。 - 上記画像取込システム(1)の上記欠陥は、輝度の口径食、色の口径食、非均一なブラー、同一チャネルにおける隣接する感光性エレメント間の比の非均一な変化、非均一なノイズ、形状歪み、横方向の色収差、長手方向の色収差、非点収差、フレア、および、非均一な黒レベルの少なくとも1つを含んでいる、
ことを特徴とする請求項1から9の何れか1項に記載の方法。 - 上記第1の画像の上記フィールドの上記少なくとも第1の部分において、均一なゾーンの組(3、4)を識別するステップを含んでおり、
上記算出された測定(μ(I))は、上記均一なゾーンの各々の内部において、上記第1の画像(I)の上記特性の上記フィールドの内部における、上記欠陥により生成された上記変化と同一オーダだけ変化し、
上記大きさは、上記識別された均一なゾーンを考慮することにより取得される、
ことを特徴とする請求項1から10の何れか1項に記載の方法。 - 上記大きさ(ν)は、上記均一なゾーンの組の1つの均一なゾーンの内側において、上記算出された測定を、上記第1の画像(I)の上記特性に関する測定であって、上記均一なゾーンの基準点(7、8)にて算出された測定に関連付けることにより取得される、
ことを特徴とする請求項11に記載の方法。 - 画像取込システム(1)の少なくとも1つの欠陥を推定するためのシステムであって、
上記欠陥は、上記画像取込システムにより取り込まれた少なくとも任意の1つの第1の画像(I)であって、任意の背景(S)を表している少なくとも任意の1つの第1の画像(I)に対して、上記第1の画像の少なくとも1つの特性のフィールドの内部における変化を生成し、
上記変化は、上記第1の画像の上記特性の上記フィールドの内部における、上記背景によりもたらされた変化よりも統計的に1オーダ小さく、
上記システムは、
上記第1の画像の上記フィールドの少なくとも1つの第1の部分において、上記第1の画像の上記特性に関連した測定μ(I)を算出するためのユニットと、
上記第1の画像の上記フィールドの少なくとも1つの第2の部分において、上記欠陥の推定された大きさ(ν)を取得するためのユニットと、
上記画像取込システムにより取り込まれた少なくとも1つの第2の画像(I’)に対して、上記取得された大きさ(ν)から上記欠陥の少なくとも1つの補正パラメータ(c)を決定するためのユニットと、
を備えており、
上記大きさは、上記算出された測定に依存しつつ、上記第1の画像の上記特性の上記フィールドの内部における、上記欠陥により生成された変化と同一オーダの変化を有しており、
上記第2の画像は、上記第1の画像とは異なる、
ことを特徴としているシステム。 - 画像取込システム(1)の少なくとも1つの欠陥を推定するための、請求項1から12の何れか1項に記載の方法を実行するためのコード命令を含んでいるコンピュータプログラム。
- 画像取込システム(1)の少なくとも1つの欠陥を推定するための、請求項1から12の何れか1項に記載の方法を実行するための電子回路。
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