JP5575865B2 - 紫外線防御効果の評価方法、評価装置、及び評価プログラム - Google Patents

紫外線防御効果の評価方法、評価装置、及び評価プログラム Download PDF

Info

Publication number
JP5575865B2
JP5575865B2 JP2012270006A JP2012270006A JP5575865B2 JP 5575865 B2 JP5575865 B2 JP 5575865B2 JP 2012270006 A JP2012270006 A JP 2012270006A JP 2012270006 A JP2012270006 A JP 2012270006A JP 5575865 B2 JP5575865 B2 JP 5575865B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
filter
light
light source
spectral transmittance
evaluation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2012270006A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014115204A (ja
Inventor
直人 羽生
栄一 根岸
和彦 三林
隆文 住山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shiseido Co Ltd
Original Assignee
Shiseido Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2012270006A priority Critical patent/JP5575865B2/ja
Application filed by Shiseido Co Ltd filed Critical Shiseido Co Ltd
Priority to US14/647,148 priority patent/US9310293B2/en
Priority to CN201380063504.1A priority patent/CN104823040B/zh
Priority to PCT/JP2013/082866 priority patent/WO2014092024A1/ja
Priority to KR1020167017604A priority patent/KR101885095B1/ko
Priority to KR1020157014141A priority patent/KR20150070409A/ko
Priority to EP13862243.6A priority patent/EP2933628B1/en
Priority to TW102145685A priority patent/TWI597486B/zh
Publication of JP2014115204A publication Critical patent/JP2014115204A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5575865B2 publication Critical patent/JP5575865B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/33Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using ultraviolet light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59Transmissivity

Description

本発明は、紫外線防御効果の評価方法、評価装置、及び評価プログラムに関する。
ヒト皮膚で測定されるSPF(Sun Protection Factor)値は、日焼け(Sunburn)を防止する紫外線防止用化粧品等の効果を表す世界的指標として認められている。また、従来では、実生活のシーンで照射される紫外線環境や利用条件に対する紫外線防御効果の高精度な評価を実現するための評価方法が知られている(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1に示されている手法では、所定の波長領域における測定試料の分光透過スペクトルの経時変化を所定の波長間隔で測定し、測定した分光透過スペクトルの経時変化に基づき、光照射時間と、測定試料の紅斑効果量から1MEDあたりの紅斑効果量を除算することで得られる所定時間単位の紅斑効果量との相関関係を設定し、設定された相関関係から時間積分した累積紅斑効果量が1MEDに到達するまでの時間によって測定試料におけるin vitro SPF予測値を算出している。
特開2012−63323号公報
しかしながら、上述したような従来手法において、試料塗布部分を透過した光を集光するために積分球を使用する場合、積分球は集光効率が悪いため、検出器に高感度な光電子増倍管等を使用しなければならない。また、従来手法では、分光のためにモノクロメータ等を使用して機械的に逐次走査してスペクトル結果を取得する必要が生じる。
また、従来手法では、ダイナミックレンジを拡大するため光電子増倍管の増幅率も逐次変更している。また、変更後には、所定の安定期間が必要となる。このため、従来手法では、例えば1つのスペクトルを取得するために2分程度の長い時間がかかる場合がある。
また、紫外線防御効果の評価装置においては、分光透過率測定用光源の分光放射強度は波長依存が少ないほうが望ましい。一方、紫外線照射用光源の分光放射強度は、疑似太陽光としての性質を持つ必要性から波長依存性が高く、測定範囲の短波長側で分光放射強度が非常に小さい。
ここで、例えば上述した特許文献1に示すような手法において、試料塗布部分への紫外線照射用光源と分光透過率測定用光源の分光放射強度は兼用している。そのため、分光放射強度が非常に小さい測定範囲短波長側では、透過率の小さな暗い試料で分光透過率測定の精度が悪くなる可能性がある。
1つの側面では、本発明は、短時間で高精度に紫外線防御効果の評価を行うことを目的とする。
一態様における評価方法は、塗布対象部材に塗布された測定試料における紫外線防御効果の評価を行う評価方法において、予め設定された光照射条件による紫外線を含む光源の光照射により、所定の波長領域における光劣化前の分光透過率を測定する第1のフィルタに切り換えて分光透過率を測定する第1のステップと、前記第1のステップにより測定後に、紫外線照射用の第2のフィルタに切り換え、前記光源の光照射により、前記塗布対象部材を所定時間光劣化させた後、前記第1のフィルタに切り換えて分光透過率を測定する第2のステップと、前記第2のステップを所定時間又は所定回数繰り返して得られる前記分光透過率の時間変化に基づいて、前記紫外線防御効果の評価を行う第3のステップとを有し、前記第1のフィルタ及び前記第2のフィルタは、それぞれに対応する複数の光源フィルタを有し、前記第1のフィルタは、前記複数の光源フィルタのうち、前記光源の光量に応じて切り換えられるNDフィルタを含むことを特徴とする。
なお、本発明の構成要素、表現又は構成要素の任意の組み合わせを、方法、装置、システム、コンピュータプログラム、記録媒体、データ構造等に適用したものも本発明の態様として有効である。
短時間で高精度に紫外線防御効果の評価を行うことができる。
本実施形態における評価システムの一例を示す図である。 PCの機能構成の一例を示す図である。 評価処理が実現可能なハードウェア構成の一例を示す図である。 本実施形態における評価処理の一例を示すフローチャートである。 フィルタ部が有する各フィルタ構成の一例を示す図である。 ハイダイナミックレンジ処理の一例を示す図である。 画面例について説明するための図である。 本実施形態におけるSPF値の結果の一例を示す図である。 ガラスフィルタを用いた分光透過率の一例を示す図(その1)である。 ガラスフィルタを用いた分光透過率の一例を示す図(その2)である。 ガラスフィルタを用いた分光透過率の一例を示す図(その3)である。 ガラスフィルタを用いた分光透過率の一例を示す図(その4)である。 ガラスフィルタを用いた分光透過率の一例を示す図(その5)である。 分光光度計との相関関係の一例を示す図である。
<本発明について>
本発明は、例えば複数の光学フィルタ切り換え機能を有し、光源に対する分光放射強度を、試料塗布部分への紫外線照射用と、試料塗布部分の分光透過率測定用とで適時切り換える構成を有する。
また、本発明は、例えば一次元イメージセンサを用いたスペクトロメータ(評価システム)を使用する。これにより、本実施形態では、試料塗布部分を透過した光の分光強度を指定波長域全体について同時に短時間(例えば、0.01〜10秒の範囲で選択可能)で取得することができる。したがって、本実施形態における評価処理で使用される分光透過率測定用フィルタへの切り換え時間等を短縮することができる。
以下に、上述したような特徴を有する本発明における紫外線防御効果の評価方法、評価装置、及び評価プログラムを好適に実施した形態について、図面を用いて詳細に説明する。
<評価システムについて>
ここで、本実施形態における紫外線防御効果の評価システムについて図を用いて説明する。図1は、本実施形態における評価システムの一例を示す図である。なお、図1の例では、評価システム10の側面図と正面図とを示している。
図1に示す評価システム10は、評価装置の一例としてのPC(Personal Computer)11と、光源12と、フィルタ部13と、フィルタ切換手段14と、ロッドレンズ15と、ライトパイプ16と、分光器17とを有する。なお、図1に示す評価システム10において、光源12と、フィルタ部13と、フィルタ切換手段14とは、筐体21内に設けられてもよいが、これに限定されるものではない。また、ロッドレンズ15には、ミラー22を有する。また、評価システム10は、測定試料(サンプル)を塗布した塗布プレート(塗布対象部材)30を載置して移動可能なホルダ23を有する。また、ライトパイプ16には、集光レンズ24等を有する。
PC11は、評価システム10における各装置を制御して予め設定された処理を実行し、対応する測定値を取得する。また、PC11は、取得した測定値等の結果に基づいて紫外線防御効果の評価等を行う。PC11は、汎用のPCに限定されるものではなく、例えばサーバやノート型PC、タブレット端末、スマートフォン等の各種の情報処理装置であってもよい。
光源12は、例えば紫外線防御効果の評価を行うために、PC11からの制御信号により所定のタイミングで所定の波長からなる紫外線等を照射する。
フィルタ部13は、1又は複数の光学フィルタを有する。フィルタ部13は、フィルタ切換手段14により選択された所定の光学フィルタを、光源12から照射された紫外線の光路上に設置する。なお、フィルタ部13には、通過させる光の帯域の異なる複数の光学フィルタを有する。これにより、フォルタ部13の光学フィルタを通過する光の波長を所定の帯域の波長に切り換えることができる。
フィルタ切換手段(フィルタチェンジャ)14は、PC11からの制御信号によりフィルタ部13に設けられた1又は複数の光学フィルタを所定の条件に基づいて切り換える。なお、図1の例では、複数の異なる光学フィルタが設けられた円形状のプレート等を、そのプレートの中心を軸に回転させ、光軸上に所定のフィルタを位置付けることで、フィルタの切り換えを行っているが、これに限定されるものではなく、例えばスライド上のプレートに用いて、そのプレートを所定方向にスライドさせることで、所定の光学フィルタを光軸上に位置付けることもできる。
ロッドレンズ15は、フィルタ部13の光学フィルタを介して得られる紫外線の光路に対してレンズを移動させて平面上における照射面積の拡大又は縮小を行う。具体的には、ロッドレンズ15内では、光の均一化及び光路面積の拡大等が行われる。
また、ロッドレンズ15は、ミラー22によりライトパイプ16側へ光路を変更する。なお、光路を変更する必要がない場合には、ロッドレンズ15にミラー22を設けていなくてもよい。
ライトパイプ16は、ロッドレンズ15側から塗布プレート30を通過した光を集光レンズ24に入光させ、集光レンズ24等により入力された紫外線の光を集光し、分光器17に出力する。ライトパイプ16は、ピント調整が可能であり、例えば集光出力が最大となるように調整することができるが、これに限定されるものではない。また、集光レンズ24は、例えばφ40mmとするが、これに限定されるものではなく、必要に応じて任意に設定することができる。
ライトパイプ16は、例えば合成石英ライトパイプ(例えば、六角柱)等を用いることができるが、これに限定されるものではない。また、ライトパイプ16は、分光器17に集光した光を出力する場合に、例えば光ファイバ等を用いることができる。したがって、ライトパイプ16の端面に集光された光は、ライトパイプ16内を反射しながら均一化され、その一部が分光器17の入力用のφ0.6mmファイバを通して分光器17に入光される。これにより、送信時の光劣化を防止することができる。
分光器17は、ライトパイプ16から入力した光を検知し、その検知した光から得られる情報(例えば、光の電磁波スペクトル、強度等の物理量等)をPC11に出力する。また、分光器17は、例えば石英製の透過型ホログラフィックグレーティングを採用し、入力した光を一次元イメージセンサ等によりイメージとして取得し、取得したイメージデータを測定結果としてPC11に出力してもよい。例えば、分光器17は、「CCD(Charge Coupled Device) UV(ultraviolet) Spectrometer」等で取得された光の情報をPC11に出力してもよい。更に、分光器17は、HDR(ハイダイナミックレンジ)処理を行うこともできる。
つまり、本実施形態では、分光器17として、上述したように分光と検出が一体化された可動部のない半導体一次元イメージセンサを用いた機械可動部のないスペクトロメータを用いることで、試料塗布部分を透過した光の分光強度を指定波長域全体について同時に短時間で取得することができる。これにより、例えば分光透過率測定用フィルタへの切り換え時間を短縮することができる。
また、本実施形態では、上述したようにレンズや合成石英ライトパイプ等を用いることで、集光効率を上げることができる。一次元イメージセンサの場合は、露光(蓄積)時間を変化(例えば、0.01〜10秒の範囲で選択可能)させ、連続して取得した複数の結果をPC11にて合成することで最終的なダイナミックレンジを拡大させることができる。
更に、本実施形態では、複数の光学フィルタを切り換えるフィルタ切換手段14を有することで、各フィルタを適切に選択して光劣化に対応した別の紫外線防御効果の評価方法に対応することが可能となる。具体的には、例えば光劣化UVA−PF測定等への対応が可能になるが、これに限定されるものではない。
また、本実施形態では、上述した図1に示す評価システム10のホルダ23にペルチェ素子等を有していてもよい。電流を与えることで生じるペルチェ素子からの熱によりホルダ23を加熱することで、ホルダ23に取り付けられた塗布プレート30やサンプル等の温度調整が可能となる。したがって、例えばISO24443プロトコルで規定されているように、照射時にサンプル温度を約25〜35℃に温度調整することができる。
また、上述したように本実施形態における光源12の強度としては、約0.001〜20.0MED/min程度とすることができ、サンプルの塗布量としては、約0.01〜10.0mg/cm程度とすることができるが、これに限定されるものではない。また、塗布プレート30の算術平均粗さ(Sa値)は、約0.01〜400μm程度とすることができるが、これに限定されるものではない。塗布プレート30は、測定試料として、例えば紫外線防止用化粧品を塗ったプレートを用いてもよく、測定の再現性を高めるためガラスフィルタを用いてもよい。
<PC11の機能構成例>
次に、上述したPC(評価装置)11の機能構成例について、図を用いて説明する。図2は、PCの機能構成の一例を示す図である。図2に示す評価装置の一例としてのPC11は、入力手段41と、出力手段42と、記憶手段43と、光源制御手段44と、フィルタ切換制御手段45と、分光透過率測定手段46と、評価手段47と、画面生成手段48と、送受信手段49と、制御手段50とを有する。
入力手段41は、PC11を使用するユーザ等からの各種指示の開始や終了、設定の入力等の各種入力を受け付ける。具体的には、入力手段41は、例えば本実施形態における光源制御指示、フィルタ切換制御指示、分光透過率測定指示、評価指示、画面生成指示、送受信指示等の各指示を受け付ける。
入力手段41により取得される情報の入力は、例えばキーボードやマウス等の入力インターフェース等による入力でもよく、また画面を用いたタッチパネル形式での入力でもよく、操作キー等を用いての入力でもよい。更に、入力手段41は、例えばマイクロフォン等により音声を入力する音声入力手段を有していてもよい。
出力手段42は、入力手段41により入力された内容や、入力内容に基づいて実行された内容等の出力を行う。なお、出力手段42は、例えば画面表示により出力する場合には、ディスプレイやモニタ等の表示手段を有し、音声により出力する場合には、例えばスピーカ等の音声出力手段を有していてもよい。また、入力手段41と出力手段42とは、例えばタッチパネル等のように入出力が一体型であってもよい。
記憶手段43は、本実施形態において必要となる各種情報を記憶する。具体的には、記憶手段43は、測定時における各種設定情報や各種処理の実行経過、実行結果等を記憶する。また、記憶手段43は、記憶された各種情報を必要に応じて所定のタイミングで読み出したり、書き込んだりすることができる。なお、記憶手段43は、例えばハードディスクやメモリ等からなる。
光源制御手段44は、分光透過率の測定を行う場合に、光源12における照射タイミングや強さ等の制御を行い、その制御信号を光源12に出力して、光源12から所定の波長からなる紫外線等を照射させる。
フィルタ切換制御手段45は、分光透過率の測定を行う場合に、フィルタ切換手段14により切り換えられるフィルタ部13に設けられた1又は複数のフィルタのうち、所定のフィルタを選択すると共に、そのフィルタへの切り換えのタイミングを制御する。なお、フィルタ切換制御手段45は、フィルタ切換制御信号を生成し、生成した信号をフィルタ切換手段14に出力することで、所定のフィルタへの切り換えが行われる。
分光透過率測定手段46は、上述した図1に示す評価システム10を用いて、例えば紫外線防御効果を評価するための分光透過率の測定を行う。具体的には、分光透過率測定手段46は、光源制御手段41による光源制御や、フィルタ切換制御手段45によるフィルタの切り換え制御等を行い、所定の条件に基づく分光透過率の測定結果を取得する。
具体的には、分光透過率測定手段46は、例えば第1の測定手段と第2の測定手段とを有する。第1の測定手段とは、例えば最初に分光透過率測定用のフィルタに切り換えて、光劣化する前の分光透過率を測定することをいう。また、第2の測定手段とは、例えば上述した第1の測定手段による測定を実施後に、紫外線照射用のフィルタに切り換えてサンプル塗布部分の光劣化を所定時間行い、その後に再度分光透過率測定用のフィルタに切り換えて、紫外線が所定時間経過したことによる光劣化された後の分光透過率を測定することをいう。なお、上述した第1及び第2の測定手段の内容については、これに限定されるものではない。
評価手段47は、上述した分光透過率測定手段46により得られる測定結果等に基づいて、例えば実生活の利用条件や利用環境等で照射される紫外線に対する防御効果の高精度な評価等を行う。
具体的には、評価手段47は、例えば上述した第2の測定手段における光劣化と分光透過率測定とを1サイクルとして、所定時間分の分光透過率の時間変化による測定結果を継続して取得し、その分光透過率の時間変化を記憶手段43等に記録する。また、評価手段47は、所定時間分の分光透過率の時間変化を測定した場合に、分光透過率の時間変化から光劣化を考慮した紫外線防御効果の評価処理等を行う。
画面生成手段48は、上述した各構成により得られる結果や、各種設定の入力等を行う設定画面等を生成し、生成した画面を出力手段42に出力させる。なお、画面生成手段48において生成される画面例については後述する。
送受信手段49は、例えばインターネットやLAN(Local Area Network)、その他の各種ケーブル等に接続される通信ネットワークを介して光源11やフィルタ切換手段14、分光器17等の外部装置や、その他の外部装置等とデータの送受信を行うための通信手段である。送受信手段49は、外部装置等にすでに記憶されている各種情報等を受信することができ、またPC11で処理された結果を、通信ネットワーク等を介して外部装置等に送信することもできる。
制御手段49は、PC11の各構成部全体の制御を行う。具体的には、制御手段49は、例えばユーザ等からの指示等に基づいて、紫外線防御効果の評価に関する各制御を行う。ここで、各制御とは、例えば上述した光源制御手段44による光源12の制御や、フィルタ切換制御手段45によるフィルタ切換制御、分光透過率測定手段46による分光透過率の測定、評価手段47による紫外線防御効果の評価、画面生成手段48による画面制御等があるが、これに限定されるものではない。これらの制御は、プログラムの実行やユーザ等の指示による所定のイベントやコマンド等の実行に基づいて行われてもよいが、これに限定されるものではない。
<評価装置のハードウェア構成例>
ここで、上述した評価装置においては、各機能をコンピュータに実行させることができる実行プログラム(評価プログラム)を生成し、例えば汎用のPCやサーバ等にその実行プログラムをインストールすることにより、本実施形態における評価処理を実現することができる。ここで、本実施形態における評価処理が実現可能なコンピュータのハードウェア構成例について図を用いて説明する。
図3は、評価処理が実現可能なハードウェア構成の一例を示す図である。図3におけるコンピュータ本体には、入力装置61と、出力装置62と、ドライブ装置63と、補助記憶装置64と、主記憶装置65と、CPU(Central Processing Unit)66と、ネットワーク接続装置67とを有するよう構成されており、これらはシステムバスBで相互に接続されている。
入力装置61は、例えば評価装置を使用するユーザ等が操作するキーボード及びマウス等のポインティングデバイスや、マイクロフォン等の音声入力デバイスを有している。入力装置61は、ユーザ等からのプログラムの実行指示、各種操作情報、ソフトウェアを起動するための情報等を入力する。
出力装置62は、本実施形態における処理を行うためのコンピュータ本体を操作するのに必要な各種ウィンドウやデータ等を表示するディスプレイを有し、CPU66が有する制御プログラムによりプログラムの実行経過や結果等を表示することができる。また、出力装置62は、上述の処理結果等を紙等の印刷媒体に印刷して、ユーザ等に提示することができる。
ここで、本実施形態においてコンピュータ本体にインストールされる実行プログラムは、例えば、Universal Serial Bus(USB)メモリやCD−ROM、DVD等の可搬型の記録媒体68等により提供される。プログラムを記録した記録媒体68は、ドライブ装置63にセット可能であり、CPU66からの制御信号に基づき、記録媒体68に含まれる実行プログラムが、記録媒体68からドライブ装置63を介して補助記憶装置64にインストールされる。
補助記憶装置64は、CPU66からの制御信号に基づき、本実施形態における実行プログラムやコンピュータに設けられた制御プログラム、実行経過や実行結果等を記憶する。また、補助記憶装置64は、CPU66からの制御信号等に基づいて、記憶された各情報から必要な情報を読み出したり、書き込むことができる。
なお、補助記憶装置64は、例えばHard Disk Drive(HDD)やSolid State Drive(SSD)等からなり、例えば上述した記憶手段43に対応している。
主記憶装置65は、CPU66により補助記憶装置64から読み出された実行プログラム等を格納する。なお、主記憶装置65は、Read Only Memory(ROM)やRandom Access Memory(RAM)等からなる。
CPU66は、オペレーティングシステム等の制御プログラム、及び主記憶装置65に格納されている実行プログラムに基づいて、各種演算や各ハードウェア構成部とのデータの入出力等、コンピュータ全体の処理を制御して各処理を実現することができる。なお、プログラムの実行中に必要な各種情報等は、補助記憶装置64から取得することができ、また実行結果等を格納することもできる。
具体的には、CPU66は、例えば入力装置61から得られるプログラムの実行指示等に基づき、補助記憶装置64にインストールされた評価プログラムを実行させることにより、主記憶装置65上でプログラムに対応する処理を行う。
例えば、CPU66は、評価プログラムを実行させることで、例えば上述した光源制御手段44による光源12の制御や、フィルタ切換制御手段45によりフィルタ切換制御、分光透過率測定手段46による分光透過率の測定、評価手段47による紫外線防御効果の評価等の制御を行う。なお、CPU66における処理内容は、上述した内容に限定されるものではない。CPU66により実行された内容(実行経過や実行結果)等は、必要に応じて補助記憶装置64に記憶させることができる。
ネットワーク接続装置67は、CPU66からの制御信号に基づき、通信ネットワーク等と接続することにより、実行プログラムやソフトウェア、各種命令等を、通信ネットワークに接続されている外部装置等から取得する。また、ネットワーク接続装置67は、プログラムを実行することで得られた実行結果又は本実施形態における実行プログラム自体を外部装置等に提供することができる。
上述したようなハードウェア構成により、本実施形態におけるデータベースに対する評価処理を実行することができる。また、プログラムをインストールすることにより、汎用のPC等で本実施形態における評価処理を容易に実現することができる。
<評価処理例>
次に、本実施形態における評価処理例について図を用いて説明する。図4は、本実施形態における評価処理の一例を示すフローチャートである。なお、図4に示す例では、測定処理部分を含めた評価処理について説明する。
図4において、評価処理は、フィルタ切換制御手段45からの制御によるフィルタ切換手段14おけるフィルタの切り換えにより、予め設定された複数のフィルタのうち、分光透過率測定用のフィルタに切り換えて(S01)、予め設定された光照射条件による紫外線を含む光源の光照射により、所定の波長領域における光劣化する前の分光透過率を測定(例えば、10秒程度)する(S02)。なお、上述したS01,S02の処理は、第1のステップ(第1の測定手段)に対応する。
その後、評価処理は、紫外線照射用のフィルタに切り換えて(S03)、試料塗布部分の光劣化を所定時間行う(S04)。なお、S03の処理において切り換えられるフィルタは、S01の処理において用いられたフィルタとは異なり、このフィルタの切り換えはフィルタ切換手段14により行われる。また、S04における所定時間とは、例えば約2分程度であるのが好ましいが、これに限定されるものではない。
次に、評価処理は、再度分光透過率測定用のフィルタに切り換えて(S05)、紫外線が所定時間経過したことによる光劣化された後の分光透過率を測定(例えば、10秒程度)する(S06)。なお、上述したS03〜S06の処理は、第2のステップ(第2の測定手段)に対応する。
この後、評価処理は、上述した光劣化と分光透過率測定とを1サイクルとして、所定時間分の分光透過率の時間変化による測定結果を続けていき、分光透過率の時間変化を記憶手段43等に記録する。つまり、評価処理は、所定時間分の分光透過率の時間変化を測定したか否かを判断し(S07)、測定していない場合(S07において、NO)、S03に戻る。また、評価処理は、所定時間分の分光透過率の時間変化を測定した場合(S07において、YES)、分光透過率の時間変化から光劣化を考慮した紫外線防御効果の評価処理を行う(S08)。なお、上述したS07,S08の処理は、第3のステップ(評価手段)に対応する。
なお、S08の処理については、例えば、試料(サンプル)の透過光量から「紅斑効果量」を算出し、この値を照射時間で累積した「累積紅斑効果量」より反応終点を決定し、SPF値を算出することで、紫外線防御効果の評価を行う。なお、上述した手法は、例えば特許文献1に示すような評価内容を用いることができるため、ここでの具体的な説明は省略する。
また、上述した処理では、光劣化と分光透過率測定とを1サイクルとして、所定時間分の分光透過率の時間変化による測定結果を続けているが、これに限定されるものではなく、所定回数分の分光透過率の時間変化による測定結果を続け、その分光透過率の時間変化を記憶手段43等に記録してもよい。その場合には、S07の処理では、所定回数分の分光透過率の時間変化を測定したか否かが判断される。
<フィルタ部13について>
ここで、フィルタ部13について具体的に説明する。図5は、フィルタ部が有する各フィルタ構成の一例を示す図である。図5の例では、フィルタ識別情報(No.)、測定対象、用途、関連事項等の項目が示されている。本実施形態におけるフィルタ部13に設けられる光源フィルタの種類としては、例えば分光透過率測定用光源フィルタ(SPF測定用)や照射用(紫外線劣化用)光源フィルタ(UVA−PF測定用)等を用いることができるが、これに限定されるものではない。
つまり、フィルタ部13は、光源フィルタを用途毎に複数用意しておく。これにより、例えば、SPF測定では、フィルタを切り換えることで、照射用光源スペクトルに対して短波長側及び長波長側がカットされていない測定用光源スペクトルを使用することができ、短波長側及び長波長側で精度よく透過率を測定できる。特に、短波長側の透過率はSPF値の計算で大きな重み付けがあるためSPF測定値に大きく影響する。
なお、図5の例では、SPF測定として、5種類のフィルタが用意され、用途は照射(%RCEE適応)や、複数の分光透過率測定(例えば、1MED/min、2MED/min、3MED/min、4MED/min相当の光量時)等に対応するフィルタを有するがこれに限定されるものではない。
上述した%RCEEとは、例えば相対積算紅斑効果(Relative Cumulative Erythemal Effectiveness)を示す。また、MEDとは、最小紅斑量(Minimal Erythema Dose)を意味し、ヒト皮膚でのMEDは、紫外線を照射して16−24 時間後に、被照射部位の2/3以上の面積に境界明瞭な、僅かな紅斑を最初に惹起する最小の紫外線量(紫外線量をどの単位で表示するかは規定なし)である。これを踏まえると、SPF値は、(測定試料で皮膚への紫外線を防御した場合の最小紅斑量)/(直接皮膚に紫外線を照射した場合の最小紅斑量)として算出できる。
また、複数の分光透過率測定用のフィルタは、光源の光量に応じてNDフィルタ(減光フィルタ)を切り換えることで、分光透過率測定のダイナミックレンジを最適化することができる。これは、ダイナミックレンジが狭くなるほど1スキャンにかかる時間は短くなるためである。
また、図5の例では、UVA−PF測定として、照射(ISO24443対応)や、分光透過率測定(1測定当たり0.2J/cm未満)等に対応するフィルタを有するがこれに限定されるものではない。また、フィルタの種類も図5の例に限定されるものではない。
照射用光源フィルタは、例えば複数枚のフィルタを重ねて光源の帯域を調整することができる。また、分光透過率測定用光源フィルタは、例えば反射型NDフィルタを用いることができ、例えばND1%とND5%とを各1枚、計2枚重ねてND0.05%(0.0005=0.01×0.05)の光源フィルタとして使用することができるが、これに限定されるものではない。なお、NDとは、ニュートラル・デンシティ(Neutral Density)の頭文字を取ったものであり、“NDxx%”は、例えば透過率の仕様値等を示す。
<分光器17におけるHDR(ハイダイナミックレンジ)処理について>
ここで、本実施形態の分光器17におけるHDR処理の一例について、図を用いて説明する。図6は、ハイダイナミックレンジ処理の一例を示す図である。なお、図6(A)は、イメージセンサ出力の蓄積時間の依存性を説明するための図を示し、横軸は蓄積時間[msec]を示し、縦軸はセンサ出力値[Counts]を示している。また、図6(B)は、スペクトル取得例を示し、横軸は波長[nm]を示し、縦軸はセンサ出力値/積算時間[counts/msec]を示している。
図6(A)の例に示す測定時に用いられたイメージセンサは、16bitの分解能であるが蓄積時間を10〜10000msecまで変化させることができる。これを応用して、スペクトルを取得するプログラムを作成して直線性を保ったままダイナミックレンジを拡大させることを検証した。
図6(A)に示すセンサ出力の蓄積時間依存性では、センサが飽和しない領域内では、蓄積時間に対してセンサ出力の直線性が保たれている。したがって、本実施形態では、データ取得手順として、まず蓄積時間を変えたスペクトル群を取得し、蓄積時間が長いデータから順に、センサ出力が16bit上限近傍(実際は、63500)になったところで、1つ短い蓄積時間のスペクトルデータに切り換える。次に、本実施形態では、センサ出力を蓄積時間で割って出力を合成することで、最終的なスペクトルデータを求めることができる。
図6(A)に示すように、センサ出力値[Counts]は、入射強度[mW/cm2]に比例した値となる。したがって、センサが飽和しない領域内では、蓄積時間に対してセンサ出力の直線性が保たれている(R2=0.99999程度)。
図6(B)の例では、センサ自体のノイズ(入光なしのデータ)が「(センサ出力)/(蓄積時間)」で1〜1.7となった。また、ダイナミックレンジは、3桁弱(合成した出力で:1.7〜6553.5)であった。また、最大レンジでは、10数秒以内で200〜400nmのスペクトル取得が可能となった。なお、ダイナミックレンジが、上2桁程度でよい場合は、1秒以内でスペクトル取得が可能となる。
更に、スキャン速度が、従来(120秒程度)の1/10〜1/100となり高速化が可能となった。なお、図6(B)において、センサ出力値[Counts]は、入射強度[mW/cm2]に比例した値となる。
<画面例>
次に、画面生成手段48により生成される画面例について図を用いて説明する。図7は、画面例について説明するための図である。図7に示す画面70は、測定パラメータ設定領域71と、カウント状態表示領域72と、透過スペクトル結果表示領域73と、SPF値算出結果表示領域74とを有する。なお、本実施形態において、画面に表示される表示内容やレイアウト等については、これに限定されるものではない。
本実施形態では、ユーザが入力手段41等により測定パラメータ設定領域71に示される各設定情報に対して、各種の測定パラメータを設定する。その後、実行処理を行うことで、リアルタイムでの測定に対するカウント状態をカウント状態表示領域72に表示するし、その結果を透過スペクトル結果表示領域73に表示する。
また、本実施形態では、皮膚の感受性は、人毎に異なるため、その重み付け(例えば、紅斑係数等)を考慮し、面積の時間変化からSPF値を算出して、SPF値算出結果表示領域74に表示することもできる。
<SPF値の結果例>
次に、本実施形態におけるSPF値の結果例について、図を用いて説明する。図8は、本実施形態におけるSPF値の結果の一例を示す図である。なお、図8の例では、本実施形態における評価システム10と比較する装置として、分光光度計と、例えば特許文献1等に示すような従来装置の例を示し、フィルタは「BG18」、「ND2%」、「ND3%」、「ND5.2%」、「ND10%」の各フィルタに対するSPF値の測定結果が示されている。なお、BG18とは、ショット(SCHOTT AG)社製のガラスフィルタであり、各種NDガラスフィルタ以外で、より透過率(%T)の波長依存性が大きいガラスフィルタの一例として用いている。
また、図9〜図13は、ガラスフィルタを用いた分光透過率の一例を示す図(その1〜その5)である。なお、図9〜図13は、図8の結果例に対応している。
つまり、図9は、BG18を用いた分光透過率を示し、図10は、ND2%を用いた分光透過率を示し、図11は、ND3%を用いた分光透過率を示し、図12は、ND5.2%を用いた分光透過率を示し、図13は、ND10%を用いた分光透過率を示している。
また、図9〜図13は、分光光度計と、従来装置と、本実施形態とにおける波長280〜400nmに対する透過率(%T)の結果を示している。
ここで、図8の例に示すように、BG18の場合には、分光光度計、従来装置、及び本実施形態が共にほぼ同様の透過率を測定することができる。しかしながら、図10〜図13の例に示すように、ガラスフィルタND2%、ND3%、ND5.2%、ND10%の場合には、従来装置の場合には、例えば波長が約290nm〜320nm程度の間で光量が足りず、透過率(紅斑透過光量)が正確に測定されていない(安定性が悪い)ことがわかる。一方、本実施形態では、上述した何れのフィルタに対しての分光光度計と同様に正確な値を取得することができる。
ここで、図14は、分光光度計との相関関係の一例を示す図である。なお、図14(A)は、分光光度計と従来装置との相関を示し、図14(B)は、分光光度計と、本実施形態との相関を示している。
図14(A)の例と図14(B)の例とを比較すると、図14(A)の相関係数が0.973であるのに対し、図14(B)の相関係数は0.995であるため、本実施形態における評価システム10の構成の方が従来装置の構成よりも分光光度計との相関が取れていることが分かる。なお、本実施形態では、上述した図9〜図14に示す各図についても、上述した画面生成手段48により生成することができ、生成した画面を出力手段42により表示してユーザ等に提示することができる。
上述したように、本実施形態によれば、短時間で高精度に紫外線防御効果の評価を行うことができる。具体的には、本実施形態では、複数の光学フィルタを切り換える手段を有し、試料塗布部分への紫外線照射用と、試料塗布部の分光透過率測定用とで適切な光学フィルタを選択して分光放射強度を測定することで、例えば短波長側の測定精度を向上させることができる。また、本実施形態を用いることにより、光劣化を考慮した紫外線防御効果評価結果の安定性を向上させることができる。
また、本実施形態では、従来手法のように光電子増倍管及びモノクロメータを使用して約2分かけて機械的に逐次走査するかわりに、一次元イメージセンサを用いた機械可動部のないスペクトロメータを使用する。これにより、本実施形態では、試料塗布部分を透過した光の分光強度を指定波長域全体について同時に短時間(例えば、スペクトロメータでは、0.01〜10秒の範囲で選択可能)で取得することができる。したがって、分光透過率測定用フィルタへの切り換え時間を短縮することができる。
また、本実施形態では、集光効率の悪い積分球ではなく、レンズと合成石英ライトパイプ等を用いることで集光効率を上げることができる。また、従来手法における光電子増倍管では、信号増幅率を変化させることでダイナミックレンジを拡大しているが、本実施形態に示すような一次元イメージセンサの場合は、信号増幅率ではなく、露光(蓄積)時間を変化させて連続取得した複数の結果を評価装置にて合成することで最終的なダイナミックレンジを拡大させることができる。
以上本発明の好ましい実施例について詳述したが、本発明は係る特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形、変更が可能である。
10 評価システム
11 PC(評価装置)
12 光源
13 フィルタ部
14 フォルタ切換手段
15 ロッドレンズ
16 ライトパイプ
17 分光器
21 筐体
22 ミラー
23 ホルダ
24 集光レンズ
30 塗布プレート
41 入力手段
42 出力手段
43 記憶手段
44 光源制御手段
45 フィルタ切換制御手段
46 分光透過率測定手段
47 評価手段
48 画面生成手段
49 送受信手段
50 制御手段
61 入力装置
62 出力装置
63 ドライブ装置
64 補助記憶装置
65 主記憶装置
66 CPU
67 ネットワーク接続装置
68 記録媒体
70 画面
71 測定パラメータ設定領域
72 カウント状態表示領域
73 透過スペクトル結果表示領域
74 SPF値算出結果表示領域

Claims (8)

  1. 塗布対象部材に塗布された測定試料における紫外線防御効果の評価を行う評価方法において、
    予め設定された光照射条件による紫外線を含む光源の光照射により、所定の波長領域における光劣化前の分光透過率を測定する第1のフィルタに切り換えて分光透過率を測定する第1のステップと、
    前記第1のステップにより測定後に、紫外線照射用の第2のフィルタに切り換え、前記光源の光照射により、前記塗布対象部材を所定時間光劣化させた後、前記第1のフィルタに切り換えて分光透過率を測定する第2のステップと、
    前記第2のステップを所定時間又は所定回数繰り返して得られる前記分光透過率の時間変化に基づいて、前記紫外線防御効果の評価を行う第3のステップとを有し、
    前記第1のフィルタ及び前記第2のフィルタは、それぞれに対応する複数の光源フィルタを有し、前記第1のフィルタは、前記複数の光源フィルタのうち、前記光源の光量に応じて切り換えられるNDフィルタを含むことを特徴とする評価方法。
  2. 前記第1のステップ及び前記第2のステップにより得られる分光透過率は、
    一次元イメージセンサを用いて前記塗布対象部材を透過した光の分光強度を取得することを特徴とする請求項1に記載の評価方法。
  3. 前記光源から照射された光に対して所定のレンズと合成石英ライトパイプとを用いて集光させることを特徴とする請求項1又は2に記載の評価方法。
  4. 塗布対象部材に塗布された測定試料における紫外線防御効果の評価を行う評価装置において、
    予め設定された光照射条件による紫外線を含む光源を照射するように制御する光源制御手段と、
    前記光源の波長領域を調整する複数のフィルタを切り換えるフィルタ切換制御手段と、
    前記光源制御手段と前記フィルタ切換制御手段とを用いて前記光源による前記塗布対象部材の分光透過率を測定する分光透過率測定手段とを有し、
    前記分光透過率測定手段は、前記光源の光照射により、所定の波長領域における光劣化前の分光透過率を測定する第1のフィルタに切り換えて分光透過率を測定する第1の測定手段と、前記第1の測定手段の後、測定した後に紫外線照射用の第2のフィルタに切り換え、前記光源の光照射により、前記塗布対象部材を所定時間光劣化させた後、前記第1のフィルタに切り換えて分光透過率を測定する第2の測定手段とを有し、
    前記第1のフィルタ及び前記第2のフィルタは、それぞれに対応する複数の光源フィルタを有し、前記第1のフィルタは、前記複数の光源フィルタのうち、前記光源の光量に応じて切り換えられるNDフィルタを含むことを特徴とする評価装置。
  5. 前記第2の測定手段による測定を所定時間又は所定回数繰り返して得られる前記分光透過率の時間変化に基づいて、前記紫外線防御効果の評価を行う評価手段を有することを特徴とする請求項4に記載の評価装置。
  6. 前記第1の測定手段及び前記第2の測定手段により得られる分光透過率は、
    一次元イメージセンサを用いて前記塗布対象部材を透過した光の分光強度を取得することを特徴とする請求項4又は5に記載の評価装置。
  7. 前記光源から照射された光に対して所定のレンズと合成石英ライトパイプとを用いて集光させることを特徴とする請求項4乃至6の何れか1項に記載の評価装置。
  8. コンピュータを、請求項4乃至7の何れか1項に記載の評価装置として機能させるための評価プログラム。
JP2012270006A 2012-12-11 2012-12-11 紫外線防御効果の評価方法、評価装置、及び評価プログラム Active JP5575865B2 (ja)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012270006A JP5575865B2 (ja) 2012-12-11 2012-12-11 紫外線防御効果の評価方法、評価装置、及び評価プログラム
CN201380063504.1A CN104823040B (zh) 2012-12-11 2013-12-06 紫外线防御效果的评价方法及评价装置、以及记录介质
PCT/JP2013/082866 WO2014092024A1 (ja) 2012-12-11 2013-12-06 紫外線防御効果の評価方法及び評価装置並びに記録媒体
KR1020167017604A KR101885095B1 (ko) 2012-12-11 2013-12-06 자외선 방어 효과의 평가 방법, 평가 장치 및 기록 매체
US14/647,148 US9310293B2 (en) 2012-12-11 2013-12-06 Method and apparatus for evaluating ultraviolet radiation protection effect, and recording medium
KR1020157014141A KR20150070409A (ko) 2012-12-11 2013-12-06 자외선 방어 효과의 평가 방법, 평가 장치 및 기록 매체
EP13862243.6A EP2933628B1 (en) 2012-12-11 2013-12-06 Method for evaluating ultraviolet light protection effect, evaluation device, and computer-readable storage medium
TW102145685A TWI597486B (zh) 2012-12-11 2013-12-11 Evaluation method, evaluation device and evaluation program

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012270006A JP5575865B2 (ja) 2012-12-11 2012-12-11 紫外線防御効果の評価方法、評価装置、及び評価プログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014115204A JP2014115204A (ja) 2014-06-26
JP5575865B2 true JP5575865B2 (ja) 2014-08-20

Family

ID=50934315

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012270006A Active JP5575865B2 (ja) 2012-12-11 2012-12-11 紫外線防御効果の評価方法、評価装置、及び評価プログラム

Country Status (7)

Country Link
US (1) US9310293B2 (ja)
EP (1) EP2933628B1 (ja)
JP (1) JP5575865B2 (ja)
KR (2) KR20150070409A (ja)
CN (1) CN104823040B (ja)
TW (1) TWI597486B (ja)
WO (1) WO2014092024A1 (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014151061A2 (en) 2013-03-15 2014-09-25 Authentic8, Inc. Secure web container for a secure online user environment
US9645873B2 (en) * 2013-06-03 2017-05-09 Red Hat, Inc. Integrated configuration management and monitoring for computer systems
JP2018533013A (ja) * 2015-10-20 2018-11-08 カレッジ・アンド・カザカ・エレクトロニック・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング 日焼け止め剤又は他の放射線防護剤のサンプロテクションファクタの光学的確認
CN107303173B (zh) * 2016-04-20 2020-03-17 元盛生医电子股份有限公司 个体最小红斑量的检测方法及检测装置
KR102399947B1 (ko) * 2016-07-05 2022-05-20 서울바이오시스 주식회사 자외선 발광 장치를 포함하는 피부 측정 기구 및 피부 측정 시스템
EP3511700B1 (en) * 2016-09-06 2023-10-04 Keio University Method for measuring a uv or infrared protection effect of an aqueous composition and device for preparing a measurement sample
US10801892B2 (en) 2017-05-01 2020-10-13 HallStar Beauty and Personal Care Innovations Company Methods and systems for quantitatively measuring photoprotection
US11474038B2 (en) 2018-02-05 2022-10-18 Shiseido Company, Ltd. Method for evaluating protective effect against external damage to skin
TWI685803B (zh) * 2018-05-25 2020-02-21 凱威科技股份有限公司 行為回饋方法、伺服器以及計算機裝置
US20210338551A1 (en) * 2018-08-10 2021-11-04 Shiseido Company, Ltd. Cosmetic product
KR102466257B1 (ko) * 2020-09-10 2022-11-14 주식회사 더웨이브톡 다중 광원을 활용한 분광 장치
US20230175956A1 (en) * 2021-12-02 2023-06-08 The Boeing Company System, apparatus and method for rapid evaluation of light transmission through opaque coatings and films
CN115963127B (zh) * 2023-03-16 2023-06-23 苏州六晶医疗科技有限公司 一种x射线防护装置的防护效果智能评估的方法及系统

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1385689A (zh) * 2001-05-15 2002-12-18 华南师范大学 纺织品防紫外线性能的测试方法
WO2004110366A2 (en) * 2003-05-29 2004-12-23 Sun Pharmaceuticals Corporation Sunscreen composition
DE10337877A1 (de) 2003-08-18 2005-03-17 Basf Ag Verfahren zur Detektion der durch einen Umwelteinfluss hervorgerufenen Eigenschaftsänderung einer Probe
JP5575355B2 (ja) * 2006-10-06 2014-08-20 株式会社 資生堂 紫外線防御効果の評価装置
US8159656B2 (en) * 2006-10-06 2012-04-17 Shiseido Company, Ltd. Method and apparatus for evaluating ultraviolet radiation protection effect
GB0823282D0 (en) * 2008-12-20 2009-01-28 Univ Strathclyde Dose responsive UV indicator
JP5717375B2 (ja) 2010-08-24 2015-05-13 株式会社ミキモト 真珠品質の非破壊判定方法
JP5006958B2 (ja) * 2010-09-17 2012-08-22 株式会社 資生堂 紫外線防御効果の評価方法、評価装置、評価プログラム、及び該プログラムが記録された記録媒体
JP5819637B2 (ja) * 2011-05-18 2015-11-24 株式会社 資生堂 紫外線防御効果の評価装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR20150070409A (ko) 2015-06-24
EP2933628B1 (en) 2018-02-14
US20150308945A1 (en) 2015-10-29
TWI597486B (zh) 2017-09-01
US9310293B2 (en) 2016-04-12
EP2933628A4 (en) 2016-11-09
KR101885095B1 (ko) 2018-08-03
JP2014115204A (ja) 2014-06-26
KR20160084490A (ko) 2016-07-13
TW201432244A (zh) 2014-08-16
WO2014092024A1 (ja) 2014-06-19
CN104823040A (zh) 2015-08-05
EP2933628A1 (en) 2015-10-21
CN104823040B (zh) 2017-05-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5575865B2 (ja) 紫外線防御効果の評価方法、評価装置、及び評価プログラム
US8598535B2 (en) Ultraviolet protection effect evaluation method, evaluation apparatus, and recording medium
US20110280277A1 (en) Methods and systems for extending the range for fiber optic distributed temperature (dts) systems
JP2014021124A5 (ja)
KR20160042815A (ko) 광량자계
US10101210B2 (en) Portable analyzer and method for determining a composition of a sample
JP2017502305A (ja) 物質濃度を測定するための非侵襲的なシステムおよび方法
JP2016511420A (ja) 高分解能mems応用アダマール分光法
Stuik et al. Absolute calibration of a multilayer-based XUV diagnostic
US9134246B2 (en) Light source adjustment unit, optical measurement device, subject information obtaining system, and wavelength adjustment program
Firago et al. Radiometric calibration of fiber optic spectrophotometers
JP6112025B2 (ja) 粒度分布測定用データ処理装置及びこれを備えた粒度分布測定装置、並びに、粒度分布測定用データ処理方法及び粒度分布測定用データ処理プログラム
Frassetto et al. Extreme-ultraviolet compact spectrometer for the characterization of the harmonics content in the free-electron-laser radiation at FLASH
JP2016211945A (ja) 粒子径分布測定装置、粒子径分布測定方法及び粒子径分布測定プログラム
JP2006300808A (ja) ラマン分光測定装置
Gromelski et al. Absolute calibration of LIBS data
CN117387763B (zh) 光谱仪测试标定方法、装置及设备
Kamaram et al. Multifrequency variability study of flat-spectrum radio quasar PKS 0346-27
JP5441856B2 (ja) X線検出システム
JP6787278B2 (ja) 粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定方法
CN106909083B (zh) 基于拉曼散射的测量区域温度实时控制系统和方法
RU2580896C1 (ru) Дисперсионный спектрометр
JP2015025800A (ja) 分光データ処理装置、及び分光データ処理方法
JP2019032214A (ja) 分析装置およびプログラム
Belyaev et al. Portable PVS-02 spectrometer for transfer of the spectral radiance scale in the 0.4-2.5 μm range.

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140328

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140415

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140611

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140701

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140702

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5575865

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250