JP5560494B2 - 2つの光電子センサを備える撮像装置の欠陥を測定する装置 - Google Patents
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- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 title claims description 21
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims description 13
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 40
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- 230000004075 alteration Effects 0.000 claims description 12
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 3
- 238000003491 array Methods 0.000 claims description 2
- 238000012886 linear function Methods 0.000 claims description 2
- 210000001525 retina Anatomy 0.000 description 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 206010010071 Coma Diseases 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 206010044565 Tremor Diseases 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001010 compromised effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000010943 off-gassing Methods 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 230000002207 retinal effect Effects 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/36—Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
- G02B7/38—Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals measured at different points on the optical axis, e.g. focussing on two or more planes and comparing image data
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- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
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Description
・異なるデフォーカシングレベルでなされたシミュレーションと比較することによる方法(しかし、このような方法はあまり正確ではない)
・波面を解析することによる方法(しかし、これは複雑なシステムを使用してのみ実施できる)
・再焦点調整機構の変更と最良のフォーカシングの選択とからなる測定方法を利用することによる方法(しかし、これを実施するのは複雑である)
・特定の装置または線形の光分割器(「DIVOLI」と呼ばれる)を使用する方法。この装置は、ピア検出器が地上に完全に光学的に整列されていることを必要とし、かつまた光学的な組み合わせにガラスを導入する。
基準のストリップの網膜がd0だけデフォーカスされる。
−搭載している機器のモデルによって2つの像間の変形をモデリングすること(特に、AOCS測定が極めて正確である場合にはそれらを使用する)、
−または、相関モデルを構成する像相関によって像毎に直接モデリングすること(像処理において周知である)
のいずれか一方によって、および他方では、像のPSDを変換するために最適な補間器を使用して、同じジオメトリーにある対を形成する像に対して、実行し得る再サンプリングを行うことによって解決されている。
Claims (10)
- 複数の検出素子を含む第1の光電子センサ(4、7)を備える撮像装置の光学的欠陥を測定するための静的装置であって、
前記第1の光電子センサを含む平面に対しておよび前記撮像装置の光学軸に対して傾斜した平面内に位置決めされ、かつ前記第1の光電子センサと同じ領域を撮像する少なくとも1つの第2の光電子センサ(5、8)と、前記第1の光電子センサと前記第2の光電子センサの各素子に影響を及ぼす光学収差を計算する装置とを含み、この傾斜平面が、前記第1の光電子センサと前記第2の光電子センサをリンクしかつ前記第1の光電子センサを含む前記平面内に含まれる直線(6)を含むことを特徴とする、静的装置。 - デフォーカシング現象の測定に適用される装置であって、
2つのセンサの列または列の群によって得られた各像間のパワースペクトル密度(PSD)の比の最大値によって与えられかつ取得ノイズのPSDの概算によって補正される前記デフォーカシングの値を計算する手段を含み、この比(Ri(f))は:
d0は前記第1のセンサの前記デフォーカシングの値であり、diは、前記第1のセンサに対する前記第2のセンサのピクセルまたはi列のピクセルの相対的なデフォーカシングであり、そのデフォーカシングは、式:di=i*前記傾斜ストリップ上のピクセルの幅*sinα(iは、前記傾斜ストリップの中心から数えられる)によるi*sinαの一次関数であり、FTMdefoc(d)は、前記像の空間周波数fおよびデフォーカシングdに対する変調伝達関数である)
によって与えられることを特徴とする、請求項1に記載の装置。 - 前記第2のセンサに対する前記第1のセンサの傾斜角度(α)が、前記撮像装置の評価された最大のデフォーカシングの関数であることを特徴とする請求項1または2に記載の装置。
- 位相ダイバーシティ方法を実施する手段を含むことを特徴とする請求項1または2に記載の装置。
- 前記第2のセンサに対する前記第1のセンサの傾斜角度(α)が、前記位相ダイバーシティ方法を実施するのに必要な前記デフォーカシングの関数であることを特徴とする請求項4に記載の装置。
- 前記2つのセンサが、光電子検出素子の線形ストリップであることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の装置。
- 前記2つのセンサが、光電子検出素子の矩形マトリックスアレイであることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の装置。
- 光電子センサを備える撮像装置の光学収差を補正する装置であって、
ロックドループにおいて、請求項1〜7のいずれか一項に記載のこれらの欠陥を測定するための装置を含むことを特徴とする装置。 - スペースクラフトに搭載される光電子機器に配置されることを特徴とする請求項1〜8のいずれか一項に記載の装置。
- 飛行機、ヘリコプタまたは無人飛行物体に搭載される光電子機器に配置されることを特徴とする請求項1〜8のいずれか一項に記載の装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR0707967 | 2007-11-13 | ||
FR0707967A FR2923619B1 (fr) | 2007-11-13 | 2007-11-13 | Dispositif de mesure de defauts d'un instrument d'imagerie a capteur opto-electronique et dispositif de correction le comportant |
PCT/EP2008/065133 WO2009062890A1 (fr) | 2007-11-13 | 2008-11-07 | Dispositif de mesure de defauts d'un instrument d'imagerie a deux capteurs opto-electronique |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011503565A JP2011503565A (ja) | 2011-01-27 |
JP5560494B2 true JP5560494B2 (ja) | 2014-07-30 |
Family
ID=39590749
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010532604A Expired - Fee Related JP5560494B2 (ja) | 2007-11-13 | 2008-11-07 | 2つの光電子センサを備える撮像装置の欠陥を測定する装置 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8415599B2 (ja) |
EP (1) | EP2208099B1 (ja) |
JP (1) | JP5560494B2 (ja) |
ES (1) | ES2395593T3 (ja) |
FR (1) | FR2923619B1 (ja) |
IL (1) | IL205714A (ja) |
RU (1) | RU2476914C2 (ja) |
WO (1) | WO2009062890A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2974899B1 (fr) * | 2011-05-05 | 2013-05-17 | Thales Sa | Telescope multispectral a balayage comportant des moyens d'analyses de front d'onde |
CN115061271B (zh) * | 2017-09-29 | 2024-02-02 | 徕卡生物系统成像股份有限公司 | 实时自动对焦聚焦算法 |
CN111695013B (zh) * | 2020-04-24 | 2023-05-30 | 中国资源卫星应用中心 | 一种卫星轨道与成像条带资源监测的方法及装置 |
CN113702000B (zh) * | 2021-08-18 | 2023-05-19 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 一种光学成像镜头的像差检测系统及像差检测方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5719703A (en) * | 1980-07-10 | 1982-02-02 | Ricoh Co Ltd | Range-finding system |
DE3471529D1 (en) * | 1984-06-18 | 1988-06-30 | Hell Rudolf Dr Ing Gmbh | Method and appliance for the acoustic control of the adjustment of optical devices |
JP3390106B2 (ja) * | 1995-06-06 | 2003-03-24 | 株式会社日立国際電気 | 自動合焦点装置を備えた光学顕微鏡 |
US5610707A (en) * | 1995-07-07 | 1997-03-11 | Lockheed Missiles & Space Co., Inc. | Wavefront sensor for a staring imager |
JPH10227971A (ja) * | 1997-02-17 | 1998-08-25 | Nikon Corp | 焦点位置検出装置 |
JP2000068934A (ja) * | 1998-08-24 | 2000-03-03 | Nec Corp | 衛星搭載用光通信機器 |
GB9820664D0 (en) * | 1998-09-23 | 1998-11-18 | Isis Innovation | Wavefront sensing device |
US6771422B1 (en) * | 1999-04-09 | 2004-08-03 | Natalie Clark | Real time optical information processing system |
JP2001013412A (ja) * | 1999-07-01 | 2001-01-19 | Mitsubishi Electric Corp | 反射光学系 |
DE10319182B4 (de) * | 2003-04-29 | 2008-06-12 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Bestimmung der Fokusposition bei der Abbildung einer Probe |
US7813579B2 (en) * | 2004-05-24 | 2010-10-12 | Hamamatsu Photonics K.K. | Microscope system |
US7531774B2 (en) * | 2006-06-05 | 2009-05-12 | General Dynamics Advanced Information Systems, Inc. | Measurement-diverse imaging and wavefront sensing with amplitude and phase estimation |
-
2007
- 2007-11-13 FR FR0707967A patent/FR2923619B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-11-07 EP EP08848818A patent/EP2208099B1/fr not_active Not-in-force
- 2008-11-07 WO PCT/EP2008/065133 patent/WO2009062890A1/fr active Application Filing
- 2008-11-07 US US12/742,614 patent/US8415599B2/en active Active
- 2008-11-07 RU RU2010123946/28A patent/RU2476914C2/ru active
- 2008-11-07 JP JP2010532604A patent/JP5560494B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2008-11-07 ES ES08848818T patent/ES2395593T3/es active Active
-
2010
- 2010-05-12 IL IL205714A patent/IL205714A/en active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2923619A1 (fr) | 2009-05-15 |
EP2208099A1 (fr) | 2010-07-21 |
EP2208099B1 (fr) | 2012-10-17 |
WO2009062890A1 (fr) | 2009-05-22 |
IL205714A0 (en) | 2010-11-30 |
ES2395593T3 (es) | 2013-02-13 |
RU2010123946A (ru) | 2011-12-20 |
US8415599B2 (en) | 2013-04-09 |
IL205714A (en) | 2014-12-31 |
RU2476914C2 (ru) | 2013-02-27 |
US20100278378A1 (en) | 2010-11-04 |
JP2011503565A (ja) | 2011-01-27 |
FR2923619B1 (fr) | 2009-11-20 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20111107 |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140311 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140319 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140522 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5560494 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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