JP5553493B2 - 形状変化測定装置及び方法 - Google Patents
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Description
レンズ及び受像面を含み、測定対象マークを観測して画像データを取得する第1の観測
装置と、
画像を出力する画像出力装置と、
前記第1の観測装置及び前記画像出力装置を制御する制御装置と
を有し、
前記第1の観測装置のレンズの光軸に一致するW軸、該レンズの主点を通過してW軸に直交し、かつ相互に直交するU軸及びV軸により、UVW座標系を定義したとき、
前記制御装置は、
測定対象物に対応する解析モデルを複数の有限要素に区分し、該有限要素の節点の、三次元のグローバル座標系における位置を記憶し、
前記第1の観測装置で取得された前記画像データを解析することにより、前記第1の観測装置に固定され、前記UVW座標系のU座標及びV座標からなる二次元の第1のローカル座標系において、前記測定対象マークの各々の位置情報の時刻暦を求め、
前記節点の前記グローバル座標系における位置を、W軸を基準とした極角θとUW平面を基準とした方位角φからなる第1のローカル極座標系における位置に変換し、
前記第1の観測装置から取得した前記第1のローカル座標系における前記測定対象マークの位置情報の時刻暦に基づいて、前記節点の各々の前記第1のローカル極座標系における変位量を算出し、
前記節点の各々の前記第1のローカル極座標系における変位量を、前記グローバル座標系における変位量に変換し、
前記節点の各々の前記グローバル座標系における変位量に基づいて、前記測定対象物の形状または姿勢の変化を、前記画像出力装置に表示させる形状変化測定装置が提供される。
測定対象物に対応する解析モデルを複数の有限要素に区分し、有限要素同士の節点の、三次元のグローバル座標系における位置を確定する工程と、
前記測定対象物に固定された複数の測定対象マークを、レンズ及び受像面を含む第1の観測装置で観測し、前記第1の観測装置のレンズの光軸に一致するW軸、該レンズの主点を通過してW軸に直交し、かつ相互に直交するU軸及びV軸により、UVW座標系を定義したとき、U座標及びV座標からなる二次元の第1のローカル座標系における該測定対象マークの位置情報の時刻歴を取得する工程と、
前記グローバル座標系における前記節点の位置を、W軸を基準とした極角θとUW平面を基準とした方位角φからなる第1のローカル極座標系における位置に変換する工程と、
前記測定対象マークの各々の、前記第1のローカル座標系における位置情報の時刻歴に基づいて、前記節点の各々の前記第1のローカル極座標系における変位量を算出する工程と、
前記節点の各々の前記第1のローカル極座標系における変位量を、前記グローバル座標系における変位量に変換する工程と、
前記節点の各々の、前記グローバル座標系における変位量の時刻暦に基づいて、前記測定対象物の形状の変化を画像として表示する工程と
を有する形状変化測定方法が提供される。
ΔU=fu(U,V,t)
ΔV=fv(U,V,t)
ステップSA8において、レンズ特性を考慮して、受像面上の(U,V)座標を、第1のローカル座標系のW軸を基準とした極角θ、及びUW面を基準とした方位角φに変換する。さらに、変位量ΔU及びΔVも、極角の変化量Δθ及び方位角の変化量Δφに変換する。以下、変換方法について説明する。
Δθ=fθ(θ,φ,t)
Δφ=fφ(θ,φ,t)
ステップSA9において、図8に示した角度変化量テーブルに基づいて、第1の観測装置20で観測されている表面上の節点Bの各々の角度変化量(Δθ,Δφ)を、観測時刻ごとに算出する。
11 マーク表示部材
20 第1の観測装置
30 第2の観測装置
40 処理装置
41 画像表示装置
42 対象物表示領域
43 操作部
44 経過時間表示バー
45 表示指令部
A、C 観測対象マーク
B 節点
XYZ グローバル座標系
UVW 第1のローカル座標系
RST 第2のローカル座標系
Claims (4)
- レンズ及び受像面を含み、測定対象マークを観測して画像データを取得する第1の観測装置と、
画像を出力する画像出力装置と、
前記第1の観測装置及び前記画像出力装置を制御する制御装置と
を有し、
前記第1の観測装置のレンズの光軸に一致するW軸、該レンズの主点を通過してW軸に直交し、かつ相互に直交するU軸及びV軸により、UVW座標系を定義したとき、
前記制御装置は、
測定対象物に対応する解析モデルを複数の有限要素に区分し、該有限要素の節点の、三次元のグローバル座標系における位置を記憶し、
前記第1の観測装置で取得された前記画像データを解析することにより、前記第1の観測装置に固定され、前記UVW座標系のU座標及びV座標からなる二次元の第1のローカル座標系において、前記測定対象マークの各々の位置情報の時刻暦を求め、
前記節点の前記グローバル座標系における位置を、W軸を基準とした極角θとUW平面を基準とした方位角φからなる第1のローカル極座標系における位置に変換し、
前記第1の観測装置から取得した前記第1のローカル座標系における前記測定対象マークの位置情報の時刻暦に基づいて、前記節点の各々の前記第1のローカル極座標系における変位量を算出し、
前記節点の各々の前記第1のローカル極座標系における変位量を、前記グローバル座標系における変位量に変換し、
前記節点の各々の前記グローバル座標系における変位量に基づいて、前記測定対象物の形状または姿勢の変化を、前記画像出力装置に表示させる形状変化測定装置。 - 前記制御装置は、
前記第1の観測装置から取得した前記第1のローカル座標系における前記測定対象マークの位置情報の時刻暦に基づいて、前記節点の各々の前記第1のローカル極座標系における変位量を算出するときに、
前記第1の観測装置から取得した前記第1のローカル座標系における前記測定対象マー
クの位置情報の時刻暦に基づいて、前記測定対象マークの前記第1のローカル座標系における変位量を求め、
前記測定対象マークの前記第1のローカル座標系における変位量に基づいて、UV面内の複数の抽出点の前記第1のローカル座標系における変位量を求め、
前記抽出点の前記第1のローカル座標系における変位量を、前記第1のローカル極座標系の極角の変化量、及び位角の変化量に換算し、
前記抽出点の前記極角の変化量及び前記方位角の変化量に基づいて、前記節点の各々の、前記第1の極座標系における極角の変化量と方位角の変化量とを求める請求項1に記載の形状変化測定装置。 - さらに、測定対象マークを観測する第2の観測装置であって、該第2の観測装置に固定された二次元の第2のローカル座標系における該測定対象マークの位置情報を取得する第2の観測装置(30)を有し、
前記第2の観測装置は、レンズと受像面とを含み、該レンズを介して該受像面上に投影された画像の画像データを前記制御装置に出力し、
前記第2の観測装置の前記レンズの光軸に一致するT軸、該レンズの主点を通過してT軸に直交し、かつ相互に直交するR軸及びS軸によりRST座標系を定義したとき、
前記制御装置は、
前記節点の各々の前記グローバル座標系における変位量を算出する際に、前記節点の各々の、前記第1のローカル極座標系の極角の変化量及び方位角の変化量のみならず、T軸を基準とした極角の変化量及びRT平面を基準とした方位角の変化量に基づいて、前記節点の各々の前記グローバル座標系における変位量を算出する請求項2に記載の形状変化測定装置。 - 測定対象物に対応する解析モデルを複数の有限要素に区分し、有限要素同士の節点の、三次元のグローバル座標系における位置を確定する工程と、
前記測定対象物に固定された複数の測定対象マークを、レンズ及び受像面を含む第1の観測装置で観測し、前記第1の観測装置のレンズの光軸に一致するW軸、該レンズの主点を通過してW軸に直交し、かつ相互に直交するU軸及びV軸により、UVW座標系を定義したとき、U座標及びV座標からなる二次元の第1のローカル座標系における該測定対象マークの位置情報の時刻歴を取得する工程と、
前記グローバル座標系における前記節点の位置を、W軸を基準とした極角θとUW平面を基準とした方位角φからなる第1のローカル極座標系における位置に変換する工程と、
前記測定対象マークの各々の、前記第1のローカル座標系における位置情報の時刻歴に基づいて、前記節点の各々の前記第1のローカル極座標系における変位量を算出する工程と、
前記節点の各々の前記第1のローカル極座標系における変位量を、前記グローバル座標系における変位量に変換する工程と、
前記節点の各々の、前記グローバル座標系における変位量の時刻暦に基づいて、前記測定対象物の形状の変化を画像として表示する工程と
を有する形状変化測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008218317A JP5553493B2 (ja) | 2008-08-27 | 2008-08-27 | 形状変化測定装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008218317A JP5553493B2 (ja) | 2008-08-27 | 2008-08-27 | 形状変化測定装置及び方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010054283A JP2010054283A (ja) | 2010-03-11 |
JP5553493B2 true JP5553493B2 (ja) | 2014-07-16 |
Family
ID=42070381
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008218317A Expired - Fee Related JP5553493B2 (ja) | 2008-08-27 | 2008-08-27 | 形状変化測定装置及び方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5553493B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9437005B2 (en) * | 2011-07-08 | 2016-09-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus and information processing method |
KR101349541B1 (ko) * | 2013-04-15 | 2014-01-08 | 주식회사백상 | 대형 구조물의 삼차원 변위 측정 장치 및 방법 |
CN115655214B (zh) * | 2022-12-26 | 2023-05-23 | 山东省国土空间生态修复中心 | 一种勘察用地面沉降测量装置及使用方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06186141A (ja) * | 1992-12-16 | 1994-07-08 | Hitachi Ltd | 残留応力予測法 |
JPH11108630A (ja) * | 1997-09-30 | 1999-04-23 | Shiseido Co Ltd | 三次元形状測定方法及びそれを用いた皮膚表面の歪と応力の解析方法 |
JP2001025464A (ja) * | 1999-05-13 | 2001-01-30 | Shiseido Co Ltd | 個人別表情変形過程の解析方法 |
JP4273219B2 (ja) * | 1999-07-30 | 2009-06-03 | 三菱電機株式会社 | 変形曲面表示装置 |
JP4166988B2 (ja) * | 2002-02-20 | 2008-10-15 | 株式会社トプコン | ステレオ画像用処理装置及び方法 |
JP4516740B2 (ja) * | 2003-12-08 | 2010-08-04 | 財団法人日本船舶技術研究協会 | 形状推定装置 |
WO2007010875A1 (ja) * | 2005-07-15 | 2007-01-25 | Asahi Glass Company, Limited | 形状検査方法および装置 |
JP2007298343A (ja) * | 2006-04-28 | 2007-11-15 | Tokyo Institute Of Technology | 溶接変形および残留応力の評価方法 |
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2008
- 2008-08-27 JP JP2008218317A patent/JP5553493B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010054283A (ja) | 2010-03-11 |
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A977 | Report on retrieval |
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A521 | Written amendment |
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