JP5538681B2 - Optical imprint mold, optical imprint method, magnetic recording medium, and manufacturing method thereof - Google Patents

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Description

本発明は、基板の両面を同時に光インプリントする際の位置合わせが容易な光インプリント用モールド及び該光インプリント用モールドを用いた光インプリント方法、並びに磁気記録媒体及びその製造方法に関する。   The present invention relates to an optical imprint mold that can be easily aligned when optically imprinting both surfaces of a substrate at the same time, an optical imprint method using the optical imprint mold, a magnetic recording medium, and a manufacturing method thereof.

ディスクリート媒体(DTM)及びパターンド媒体(BPM)を光インプリント法により作製する際には、サーボ性能向上のためにディスク中心に対して転写パターンを正確に位置合わせすることが非常に重要となる。そこで、光インプリント法における位置合わせ方法について種々の提案がなされている(特許文献1〜3参照)。これらの提案は、いずれも基板の一方の面とモールドとの位置合わせを行い、光インプリントするものであり、スループットが悪いという問題がある。
そこで、1組の光インプリント用モールドを用いて基板の表裏両面を同時に光インプリントする方法が検討されている。しかし、この方法では、両面に位置する1組の光インプリント用モールドの位置合わせが困難であるという問題がある。また、光インプリント用モールドは透明であるため表裏の判別が困難である。更に、微細なサーボパターンの角座標を外観から判別することは困難であるという課題がある。
When producing discrete media (DTM) and patterned media (BPM) by the optical imprint method, it is very important to accurately align the transfer pattern with respect to the center of the disc in order to improve servo performance. . Therefore, various proposals have been made regarding the alignment method in the optical imprint method (see Patent Documents 1 to 3). Each of these proposals involves the alignment of one surface of the substrate with the mold and optical imprinting, and has a problem of poor throughput.
Therefore, a method of simultaneously optically imprinting both the front and back surfaces of a substrate using a set of optical imprinting molds has been studied. However, this method has a problem that it is difficult to align a pair of optical imprint molds located on both sides. Moreover, since the mold for optical imprinting is transparent, it is difficult to discriminate between the front and the back. Furthermore, there is a problem that it is difficult to determine the angular coordinates of a fine servo pattern from the appearance.

特開2006−286871号公報JP 2006-286871 A 特開2007−234153号公報JP 2007-234153 A 特開2007−190734号公報JP 2007-190734 A

本発明は、従来における前記諸問題を解決し、以下の目的を達成することを課題とする。即ち、本発明は、基板の両面に位置するモールドの位置合わせが可能となり、両面同時の光インプリントを高精度に行うことができ、スループットが向上する光インプリント用モールド及び該光インプリント用モールドを用いた光インプリント方法、並びに磁気記録媒体及び磁気記録媒体の製造方法を提供することを目的とする。
また、本発明は、モールドの表裏の判別が容易になり、工程上のミスを低減することができ、表裏のパターンの角座標を一致させることが可能になり、所望のサーボ信号のモールド上の位置が明確となり、目的箇所の観察が容易である光インプリント用モールド及び該光インプリント用モールドを用いた光インプリント方法、並びに磁気記録媒体及び磁気記録媒体の製造方法を提供することを目的とする。
An object of the present invention is to solve the above-described problems and achieve the following objects. That is, the present invention makes it possible to align the molds located on both sides of the substrate, perform optical imprinting on both sides simultaneously with high accuracy, and improve the throughput, and the optical imprinting mold. It is an object of the present invention to provide an optical imprint method using a mold, a magnetic recording medium, and a method for manufacturing the magnetic recording medium.
In addition, the present invention makes it easy to discriminate between the front and back of the mold, can reduce errors in the process, makes it possible to match the angular coordinates of the front and back patterns, and the desired servo signal on the mold. An object of the present invention is to provide an optical imprint mold in which the position is clear and the target portion can be easily observed, an optical imprint method using the optical imprint mold, a magnetic recording medium, and a method for manufacturing the magnetic recording medium. And

前記課題を解決するための手段としては以下の通りである。即ち、
<1> 樹脂組成物が塗布された基板の両面に凹凸パターンを形成するための一組の光インプリント用モールドであって、
前記一組の光インプリント用モールドが、いずれもインプリントの際に前記基板の両面における該一組の光インプリント用モールドの相対位置関係を決定するためのアライメントマークを少なくとも2つ有し、
前記アライメントマークが、前記モールドと前記基板とが接触しない非接触領域に設けられていることを特徴とする光インプリント用モールドである。
<2> 非接触領域が、基板の外延を超え、かつモールドの外周縁部までの領域である前記<1>に記載の光インプリント用モールドである。
<3> 非接触領域が、基板の中央開口部である前記<1>から<2>のいずれかに記載の光インプリント用モールドである。
<4> アライメントマークが、モールドの表裏を判別可能な形状を有する前記<1>から<3>のいずれかに記載の光インプリント用モールドである。
<5> アライメントマークの形状が、モールドの半径軸に対し左右非対称形状である前記<4>に記載の光インプリント用モールドである。
<6> ディスクリート媒体及びパターンド媒体を製造するための凹凸パターンを有し、アライメントマークの位置から特定のサーボパターンの角座標を判別可能である前記<1>から<5>のいずれかに記載の光インプリント用モールドである。
<7> 前記<1>から<6>のいずれかに記載の光インプリント用モールドを用いて位置合わせを行い、樹脂組成物が塗布された基板の両面に凹凸パターンをインプリントすることを特徴とする光インプリント方法である。
<8> 前記<1>から<6>のいずれかに記載の光インプリント用モールドを、磁気記録媒体の基板上に形成されたインプリントレジスト層に押圧して前記モールド構造体に形成された凹凸パターンを転写する転写工程と、
前記凹凸パターンが転写されたインプリントレジスト層をマスクにして、前記磁気記録媒体の基板の表面に形成された磁性層をエッチングして、前記凹凸パターンに基づく磁性パターン部を前記磁性層に形成する磁性パターン部形成工程と、
前記磁性層上に形成された凹部に非磁性材料を埋め込む非磁性パターン部形成工程と、を少なくとも含むことを特徴とする磁気記録媒体の製造方法である。
<9> 前記<8>に記載の磁気記録媒体の製造方法によって作製されたことを特徴とする磁気記録媒体である。
Means for solving the above problems are as follows. That is,
<1> A set of optical imprint molds for forming a concavo-convex pattern on both surfaces of a substrate coated with a resin composition,
The set of optical imprint molds has at least two alignment marks for determining the relative positional relationship of the set of optical imprint molds on both sides of the substrate during imprinting,
The alignment mark is provided in a non-contact region where the mold and the substrate do not come into contact with each other.
<2> The mold for optical imprinting according to <1>, wherein the non-contact region is a region exceeding the outer extension of the substrate and extending to the outer peripheral edge of the mold.
<3> The optical imprint mold according to any one of <1> to <2>, wherein the non-contact region is a central opening of the substrate.
<4> The optical imprint mold according to any one of <1> to <3>, wherein the alignment mark has a shape capable of distinguishing the front and back of the mold.
<5> The optical imprint mold according to <4>, wherein the alignment mark has an asymmetric shape with respect to the radial axis of the mold.
<6> The device according to any one of <1> to <5>, which has a concavo-convex pattern for manufacturing a discrete medium and a patterned medium, and can determine angular coordinates of a specific servo pattern from the position of an alignment mark. This is a mold for optical imprinting.
<7> Alignment is performed using the optical imprint mold according to any one of <1> to <6>, and the uneven pattern is imprinted on both surfaces of the substrate on which the resin composition is applied. The optical imprint method.
<8> The mold structure is formed by pressing the optical imprint mold according to any one of <1> to <6> against an imprint resist layer formed on a substrate of a magnetic recording medium. A transfer process for transferring the concavo-convex pattern;
Using the imprint resist layer to which the concavo-convex pattern is transferred as a mask, the magnetic layer formed on the surface of the substrate of the magnetic recording medium is etched to form a magnetic pattern portion based on the concavo-convex pattern in the magnetic layer. A magnetic pattern portion forming step;
And a non-magnetic pattern portion forming step of embedding a non-magnetic material in the concave portion formed on the magnetic layer.
<9> A magnetic recording medium produced by the method for producing a magnetic recording medium according to <8>.

本発明によると、従来における問題を解決することができ、基板の両面に位置するモールドの位置合わせが可能となり、両面同時に光インプリントを高精度に行うことができ、スループットが向上し、また表裏の判別が容易になり、工程上のミスを低減することができ、表裏のパターンの角座標を一致させることが可能となり、更に所望のサーボ信号のモールド上の位置が明確となり、目的箇所の観察が容易である光インプリント用モールド及び該光インプリント用モールドを用いた光インプリント方法、並びに磁気記録媒体及び磁気記録媒体の製造方法を提供することができる。   According to the present invention, conventional problems can be solved, alignment of molds located on both sides of a substrate can be performed, optical imprinting can be performed with high accuracy at the same time on both sides, throughput is improved, and front and back sides are improved. Can be easily identified, process errors can be reduced, the angular coordinates of the front and back patterns can be matched, and the position of the desired servo signal on the mold can be clarified, and the target location can be observed. It is possible to provide a mold for optical imprinting, a method for optical imprinting using the mold for optical imprinting, a magnetic recording medium, and a method for manufacturing the magnetic recording medium.

(光インプリント用モールド)
本発明の光インプリント用モールドは、樹脂組成物が塗布された基板の両面に凹凸パターンを形成するための一組のモールドであり、一対のモールドであることが好ましい。なお、前記一組のモールドは、前記基板の両面に凹凸パターンをインプリントするのに用いられるが、個々のモールドは、基板の一方の面のみに凹凸パターンを光インプリントすることも可能である。
(Mold for optical imprint)
The mold for optical imprinting of the present invention is a set of molds for forming a concavo-convex pattern on both surfaces of a substrate coated with a resin composition, and is preferably a pair of molds. The set of molds is used to imprint a concavo-convex pattern on both surfaces of the substrate, but each mold can also be optically imprinted with a concavo-convex pattern on only one surface of the substrate. .

前記一組の光インプリント用モールドが、いずれもインプリントの際に前記基板の両面における該一組の光インプリント用モールドの相対位置関係を決定するためのアライメントマークを少なくとも2つ有する。
前記アライメントマークは、前記モールドと前記基板とが接触しない非接触領域に設けられている。
Each of the set of optical imprint molds has at least two alignment marks for determining the relative positional relationship of the set of optical imprint molds on both surfaces of the substrate during imprinting.
The alignment mark is provided in a non-contact area where the mold and the substrate do not contact.

<アライメントマーク>
前記アライメントマークは、前記一組の光インプリント用モールドの両方に設けられており、これにより基板と一組のモールドとの位置合わせが可能となる。
前記アライメントマークは、その数、大きさ、形状、位置などは特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、前記アライメントマークの数は、個々の光インプリント用モールドにおいて、少なくとも2つであり、2〜4つが好ましい。前記アライメントマーク数が2つ未満であると、基板と一組のモールドとの位置合わせが困難となることがある。
<Alignment mark>
The alignment mark is provided on both of the set of optical imprint molds, thereby enabling alignment between the substrate and the set of molds.
The number, size, shape, position, etc. of the alignment marks are not particularly limited and can be appropriately selected according to the purpose. The number of the alignment marks is at least 2 in each optical imprint mold. 2 to 4 are preferable. If the number of alignment marks is less than 2, it may be difficult to align the substrate and the set of molds.

前記アライメントマークの位置は、前記モールドと前記基板とが接触しない非接触領域に設けられ、モールドの表側及び裏側のいずれであってもよい。ここで、モールドの表側とは、転写パターンを有する側の面を意味する。
前記非接触領域としては、(1)基板の外延を超えかつモールドの外周縁部までの領域、(2)基板の中央開口部、などが挙げられる。前記(1)及び(2)の少なくともいずれかの領域に少なくとも2つのアライメントマークを有することが好ましい。
前記アライメントマークの形状としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えばライン、円、円弧、十字状、コの字状、三角形、四角形、矢印状、文字、記号などが挙げられる。これらの中でも、モールドの表裏を判別可能である点から、基板の半径軸に対し左右非対称形状であることが好ましい。
前記基板の半径軸に対し左右非対称形状としては、例えば図1〜図4に示すような形状などが挙げられる。これら図1〜図4に示す形状のアライメントマークであれば、モールドの裏側から見たのと、モールドの表側から見たものとで形状が異なるので、モールドの裏表の判別が容易に可能となる。
The position of the alignment mark is provided in a non-contact region where the mold and the substrate do not contact, and may be on either the front side or the back side of the mold. Here, the front side of the mold means the surface having the transfer pattern.
Examples of the non-contact region include (1) a region exceeding the outer extension of the substrate and extending to the outer peripheral edge of the mold, and (2) a central opening of the substrate. It is preferable to have at least two alignment marks in at least one of the areas (1) and (2).
The shape of the alignment mark is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the purpose. For example, the alignment mark may be a line, circle, arc, cross, U-shape, triangle, quadrangle, arrow, character, symbol, etc. Is mentioned. Among these, it is preferable that the shape is asymmetrical with respect to the radial axis of the substrate because the front and back of the mold can be distinguished.
Examples of the asymmetric shape with respect to the radial axis of the substrate include shapes as shown in FIGS. In the case of the alignment marks having the shapes shown in FIGS. 1 to 4, since the shapes are different from those seen from the back side of the mold and those seen from the front side of the mold, it is possible to easily distinguish the front and back sides of the mold. .

また、前記光インプリント用モールドは、前記ディスクリート媒体及びパターンド媒体を製造するための凹凸パターンを有し、アライメントマークの位置から特定のサーボパターンの角座標を判別可能であることが好ましい。これにより、製造後の媒体検査時にエラーが発生した際、エラー発生位置をサーボ信号から特定した後、モールド上のエラー発生位置に該当するパターンに欠落や目詰まり等の欠陥が生じているか検査することが容易となる。
前記特定のサーボパターンの角座標としては、セクタサーボ信号により規定される円周方向の位置情報などがある。セクタサーボ信号とは、セクタサーボ方式と呼ばれる位置決め制御方式において、ディスクを扇形のセクタと呼ばれる領域に等分割した際の、各セクタの先頭に記録される円周方向の位置を表すサーボ信号のことを指す。
前記アライメントマーク材質としては、例えばモールド上の凹凸パターン、金属膜パターン、蛍光体パターン、などが挙げられる。
前記アライメントマークの大きさとしては、目的に応じて適宜選択することができ、1μm以上が好ましく、10μm以上であることがより好ましい。前記アライメントマークの大きさが1μm未満であると、顕微鏡による検出が困難となり正確に位置合わせできない可能性がある。
The optical imprint mold preferably has a concavo-convex pattern for producing the discrete medium and the patterned medium, and can determine the angular coordinates of a specific servo pattern from the position of the alignment mark. As a result, when an error occurs during inspection of the medium after manufacturing, the error occurrence position is specified from the servo signal, and then the pattern corresponding to the error occurrence position on the mold is inspected for defects such as missing or clogged. It becomes easy.
The angular coordinates of the specific servo pattern include circumferential position information defined by sector servo signals. The sector servo signal refers to a servo signal that represents a circumferential position recorded at the head of each sector when the disk is equally divided into areas called sector-shaped sectors in a positioning control system called a sector servo system. .
Examples of the alignment mark material include an uneven pattern on a mold, a metal film pattern, and a phosphor pattern.
The size of the alignment mark can be appropriately selected according to the purpose, and is preferably 1 μm or more, and more preferably 10 μm or more. If the size of the alignment mark is less than 1 μm, detection with a microscope becomes difficult and there is a possibility that the alignment cannot be performed accurately.

前記アライメントマークの形成方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば周知のフォトリソグラフィ技術とエッチング技術を利用した形成方法や、ナノインプリント技術を利用した形成方法などが挙げられる。
なお、前記アライメントマークを用いた光インプリント方法(位置合わせを含む)については後述する。
A method for forming the alignment mark is not particularly limited and may be appropriately selected according to the purpose. For example, a method using a known photolithography technique and an etching technique, a method using a nanoimprint technique, and the like. Can be mentioned.
An optical imprint method (including alignment) using the alignment mark will be described later.

<基板>
前記基板としては、その形状、構造、大きさ、材質等については特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、前記形状としては、情報記録媒体である場合には、円板状である。また、前記構造としては、単層構造であってもよいし、積層構造であってもよい。また、前記材質としては、基板材料として公知のものの中から、適宜選択することができ、例えば、ニッケル、アルミニウム、ガラス、シリコン、石英、透明樹脂、などが挙げられる。これらの基板材料は、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。これらの中でも、透明性の点から、石英、ガラス、透明樹脂が好ましく、石英が特に好ましい。
前記基板は、適宜合成したものであってもよいし、市販品を使用してもよい。
前記基板の厚みとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、50μm以上が好ましく、100μm以上がより好ましい。前記基板の厚みが50μm未満であると、加工対象物とモールドとの密着時にモールド側に撓みが発生し、均一な密着状態を確保できない可能性がある。
<Board>
The shape, structure, size, material and the like of the substrate are not particularly limited and can be appropriately selected according to the purpose. For example, the shape is a circle when an information recording medium is used. It is plate-shaped. Further, the structure may be a single layer structure or a laminated structure. In addition, the material can be appropriately selected from those known as substrate materials, and examples thereof include nickel, aluminum, glass, silicon, quartz, and transparent resin. These board | substrate materials may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types together. Among these, quartz, glass and transparent resin are preferable from the viewpoint of transparency, and quartz is particularly preferable.
The substrate may be appropriately synthesized or a commercially available product may be used.
There is no restriction | limiting in particular as thickness of the said board | substrate, According to the objective, it can select suitably, 50 micrometers or more are preferable and 100 micrometers or more are more preferable. When the thickness of the substrate is less than 50 μm, there is a possibility that bending occurs on the mold side when the workpiece and the mold are in close contact, and a uniform contact state cannot be ensured.

<樹脂組成物>
前記樹脂組成物としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、紫外線照射により硬化して樹脂層を形成可能な紫外線硬化樹脂組成物であることが好ましい。
前記紫外線硬化樹脂組成物は、少なくとも紫外線硬化性樹脂と、反応性希釈剤と、光重合開始剤とを含み、更に必要に応じてその他の成分を含有してなる。
<Resin composition>
There is no restriction | limiting in particular as said resin composition, Although it can select suitably according to the objective, It is preferable that it is an ultraviolet curable resin composition which can be hardened | cured by ultraviolet irradiation and can form a resin layer.
The ultraviolet curable resin composition contains at least an ultraviolet curable resin, a reactive diluent, and a photopolymerization initiator, and further contains other components as necessary.

前記紫外線硬化樹脂としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えばウレタン(メタ)アクリレート、エポキシ(メタ)アクリレート、ポリエステル(メタ)アクリレート等のアクリレート系樹脂を用いることができる。これらの中でも、エポキシ(メタ)アクリレートは、硬化物の硬度や硬化速度を向上させる機能があるため、ウレタン(メタ)アクリレート及びポリエステル(メタ)アクリレートの少なくともいずれかと併用して用いるのが好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as said ultraviolet curable resin, According to the objective, it can select suitably, For example, using acrylate-type resin, such as urethane (meth) acrylate, epoxy (meth) acrylate, polyester (meth) acrylate, is used. it can. Among these, epoxy (meth) acrylate has a function of improving the hardness and curing rate of the cured product, and therefore it is preferable to use it in combination with at least one of urethane (meth) acrylate and polyester (meth) acrylate.

前記反応性希釈剤としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば1分子中に(メタ)アクリロイル基を少なくとも1個有する(メタ)アクリレート化合物などが挙げられる。これらの成分としては、(メタ)アクリロイル基を1つだけ有する単官能化合物、又は2つ以上有する多官能化合物のいずれかの化合物を用いてもよく、樹脂の粘度、反応性の調整、あるいは硬化物の弾性率、ガラス転移温度等の物理特性を制御する目的で、適当な比率で併用してもよい。   There is no restriction | limiting in particular as said reactive diluent, According to the objective, it can select suitably, For example, the (meth) acrylate compound etc. which have at least 1 (meth) acryloyl group in 1 molecule are mentioned. As these components, either a monofunctional compound having only one (meth) acryloyl group, or a polyfunctional compound having two or more compounds may be used, and adjustment of viscosity or reactivity of the resin, or curing. For the purpose of controlling physical properties such as the elastic modulus and glass transition temperature of the object, they may be used in an appropriate ratio.

前記光重合開始剤としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば1−ヒドロキシ−シクロヘキシル−フェニルケトン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニル−プロパン−1−オン、2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン、1−[4−(2−ヒドロキシエトキシ)−フェニル]−2−ヒドロキシ−2−メチル−1−プロパン−1−オン、2−ヒドロキシ−1−{4−[4−(2−ヒドロキシ−2−メチル−プロピオニル)−ベンジル]−フェニル}−2−メチル−プロパン−1−オン、2−メチル−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルホリノ−1−プロパノン、2−クロロチオキサントン、2,4−ジメチルチオキサントン、2,4−ジイソプロピルチオキサントン、イソプロピルチオキサントン、フェニルグリオキシリックアシッドメチルエステル、ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−フェニルホスフィンオキサイド、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタノン−1、2−ジメチルアミノ−2−(4−メチル−ベンジル)−1−(4−モリフォリン−4−イル−フェニル)−ブタン−1−オン、2,4,6−トリメチルベンゾイル−ジフェニル−ホスフィンオキサイド、などが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。   The photopolymerization initiator is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose. For example, 1-hydroxy-cyclohexyl-phenyl ketone, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenyl-propane-1- ON, 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one, 1- [4- (2-hydroxyethoxy) -phenyl] -2-hydroxy-2-methyl-1-propan-1-one, 2-hydroxy-1- {4- [4- (2-hydroxy-2-methyl-propionyl) -benzyl] -phenyl} -2-methyl-propan-1-one, 2-methyl- [4- (methylthio) Phenyl] -2-morpholino-1-propanone, 2-chlorothioxanthone, 2,4-dimethylthioxanthone, 2,4-diisopropylthioxanthone, isopropyl Luthioxanthone, phenylglyoxylic acid methyl ester, bis (2,4,6-trimethylbenzoyl) -phenylphosphine oxide, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone-1, 2-dimethylamino-2- (4-methyl-benzyl) -1- (4-morpholin-4-yl-phenyl) -butan-1-one, 2,4,6-trimethylbenzoyl-diphenyl-phosphine oxide, etc. Is mentioned. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together.

<光インプリント用モールド>
前記光インプリント用モールドとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、例えば円板状の基板と、該基板の一方の表面に、該表面を基準として複数の凸部が配列されたことによって形成された凹凸部を有してなり、更に必要に応じてその他の構成を有してなる。
<Mold for optical imprint>
The optical imprint mold is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose.For example, a disk-shaped substrate and one surface of the substrate may have a plurality of protrusions on the basis of the surface. It has a concavo-convex part formed by arranging the parts, and further has other configurations as necessary.

前記モールドの材料としては、透明性を有すれば特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、石英、及び透明樹脂のいずれかの材料が好適である。
前記樹脂としては、例えばポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリカーボネート(PC)、低融点フッ素樹脂などが挙げられる。
前記モールドとしては、紫外線の照射性の点から、紫外線に対して30%以上の透過率を有することが好ましく、石英が特に好ましい。
The material of the mold is not particularly limited as long as it has transparency, and can be appropriately selected according to the purpose. However, any material of quartz and transparent resin is preferable.
Examples of the resin include polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), polycarbonate (PC), and a low melting point fluororesin.
The mold preferably has a transmittance of 30% or more with respect to ultraviolet rays, and quartz is particularly preferable from the viewpoint of ultraviolet radiation.

ここで、図5は、前記モールドの一実施形態における構成を示す部分斜視図である。なお、図5のモールドではアライメントマークは省略している。
図5に示すように、モールド1は、円盤状をなす基板2の一方の表面2a(以下、基準面2aということがある)に、複数の凸部3a及び凹部3bが同心円状に形成されてなる。この場合、凸部3aと、複数の凸部3a間に形成された凹部3bとを総称して凹凸部3とする。
また、前記基板2の厚みは、0.1mm以上10mm以下であることが好ましい。前記基板の厚みが、0.1mm未満であると、加工対象物とモールドとが密着時にモールド側に撓みが発生し、均一な密着状態を確保できない可能性があり、10mmを超えると、加工対象物とモールドとが密着時にモールドの弾性変形が小さいため、加工対象物が大きく変形し該加工対象物が破損し、或いは局所的に圧力が印加された状態となり、パターン破損が発生することがある。
また、前記同心円の半径方向(凸部3aが列設されている方向)における凹部3bの断面形状は、例えば、矩形をなしている。
なお、前記凹部3bの断面形状は、矩形に限られず、目的に応じて、後述するエッチン工程を制御することにより、任意の形状を選択することができる。
本発明において、前記「断面(形状)」とは、特に断りがない限り、前記同心円の半径方向(凸部3aが列設されている方向)における断面(形状)を指す。
Here, FIG. 5 is a partial perspective view showing a configuration in an embodiment of the mold. Note that the alignment mark is omitted in the mold of FIG.
As shown in FIG. 5, the mold 1 has a plurality of convex portions 3 a and concave portions 3 b formed concentrically on one surface 2 a (hereinafter sometimes referred to as a reference surface 2 a) of a disc-shaped substrate 2. Become. In this case, the convex portion 3 a and the concave portion 3 b formed between the plurality of convex portions 3 a are collectively referred to as the concave and convex portion 3.
The thickness of the substrate 2 is preferably 0.1 mm or more and 10 mm or less. If the thickness of the substrate is less than 0.1 mm, the workpiece and the mold may be bent on the mold side when in close contact, and a uniform contact state may not be ensured. Since the elastic deformation of the mold is small when the object and the mold are in close contact with each other, the object to be processed is greatly deformed and the object to be processed is damaged, or a pressure is applied locally, and pattern damage may occur. .
Moreover, the cross-sectional shape of the recessed part 3b in the radial direction of the said concentric circle (direction where the convex part 3a is arranged in a line) has comprised the rectangle, for example.
The cross-sectional shape of the recess 3b is not limited to a rectangle, and an arbitrary shape can be selected by controlling an etching process described later according to the purpose.
In the present invention, the “cross section (shape)” refers to a cross section (shape) in the radial direction of the concentric circles (the direction in which the convex portions 3a are arranged) unless otherwise specified.

(光インプリント方法)
本発明の光インプリント方法は、本発明の前記光インプリント用モールドを用いて位置合わせを行い、基板の両面に凹凸パターンをインプリントする。
(Optical imprint method)
In the optical imprinting method of the present invention, alignment is performed using the optical imprinting mold of the present invention, and a concavo-convex pattern is imprinted on both surfaces of the substrate.

本発明の光インプリント方法においては、前記基板の表裏両面に紫外線硬化樹脂組成物を塗布し、インプリントレジスト層を形成する。次に、該インプリントレジスト層に前記モールドの凹凸パターンを押し付け、紫外線を照射して紫外線硬化樹脂組成物を硬化させる。この際、両面に位置するモールドの相対位置関係を決定するためのアライメントマークを基板とモールドとの非接触領域に少なくとも2つ有するので、基板とモールドとの位置合わせが容易に行える。
前記アライメントマークの位置合わせは、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、目視、顕微鏡による観察、CCDカメラによる観察、などが挙げられる。
In the photoimprint method of the present invention, an ultraviolet curable resin composition is applied to both the front and back surfaces of the substrate to form an imprint resist layer. Next, the concave / convex pattern of the mold is pressed against the imprint resist layer, and ultraviolet rays are irradiated to cure the ultraviolet curable resin composition. At this time, since at least two alignment marks for determining the relative positional relationship between the molds located on both surfaces are provided in the non-contact region between the substrate and the mold, the alignment between the substrate and the mold can be easily performed.
The alignment of the alignment mark is not particularly limited and can be appropriately selected according to the purpose. Examples thereof include visual observation, observation with a microscope, observation with a CCD camera, and the like.

前記基板の両面への紫外線硬化樹脂組成物の塗布方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えばスピンコート法、キャスト法、ロールコート法、フローコート法、プリント法、ディップコート法、流延成膜法、バーコート法、グラビア印刷法などが挙げられる。   The method for applying the ultraviolet curable resin composition to both surfaces of the substrate is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the purpose. For example, spin coating, casting, roll coating, flow coating, printing Method, dip coating method, cast film forming method, bar coating method, gravure printing method and the like.

−紫外線の照射−
前記紫外線照射は、基板の両面に満遍なく照射することが好ましい。前記紫外線光源としては、高圧水銀ランプ、メタルハライドランプ等が用いられ、例えば、波長365nmで100mJ/cm〜2,000mJ/cmのエネルギー量を照射する。
-UV irradiation-
The ultraviolet irradiation is preferably performed uniformly on both sides of the substrate. Examples of the ultraviolet light source, a high-pressure mercury lamp, a metal halide lamp or the like is used, for example, irradiation energy of 100mJ / cm 2 ~2,000mJ / cm 2 at a wavelength of 365 nm.

本発明の光インプリント方法は、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、モールドの製造(複製)、磁気記録媒体等の各種情報記録媒体の製造などに好適に用いられる。   The optical imprinting method of the present invention is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose. .

ここで、本発明の光インプリント用モールドを用いた光インプリント方法について図面を参照して説明する。
図6Aは、本発明の光インプリント用モールドを用いて光インプリントを行う際の位置決めを行う様子を示す平面図であり、図6Bは、図6Aの一部断面側面図である。
図6Bに示す上面モールド1bと下面モールド1aには、基板の外延を超え、かつモールドの外周縁部までの非接触領域に、図7に示すモールドの半径軸に対し非対称形状のアライメントマーク6が2つ設けられている。
まず、下側モールド1aをインプリント装置のステージ9に設置する。この際、インプリント装置のステージ1には下面モールド位置合わせ用の十字形状のアライメントマーク8,8が予め設けられている(図7参照)ので、下側モールド1aのアライメントマーク6,6とインプリント装置のステージのアライメントマーク8,8とが一致するように、CCDカメラ10,10で観察しながら、位置決めを行う。
次に、両面に紫外線硬化性樹脂組成物を塗布したディスク基板4を下面モールド1a上に基板搬送用ロボットを使用してステージに配置する。なお、基板の中心がアライメントマーク8,8の中心と一致する位置に基板が配置されるように基板搬送用ロボットをあらかじめ設定しておく。
次に、ディスク基板上に上面モールド1bを配置し、下面モールド1aのアライメントマーク6と、上面モールド1bのアライメントマーク6とが一致するように、CCDカメラ10,10で観察しながら、位置決めを行う。これにより、図7最下図に示すように、上面モールド1bのアライメントマーク6と、下面モールド1aのアライメントマーク6と、インプリント装置のステージ9のアライメントマーク8とが重なる。
次いで、両側からモールドを加圧し、高圧水銀灯で両面に向けて紫外線を照射した後、両面のモールドを剥離する。
Here, an optical imprint method using the optical imprint mold of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 6A is a plan view showing a state in which positioning is performed when optical imprinting is performed using the optical imprinting mold of the present invention, and FIG. 6B is a partial cross-sectional side view of FIG. 6A.
The upper surface mold 1b and the lower surface mold 1a shown in FIG. 6B have alignment marks 6 that are asymmetrical with respect to the radial axis of the mold shown in FIG. 7 in a non-contact area that extends beyond the outer periphery of the substrate and extends to the outer peripheral edge of the mold. Two are provided.
First, the lower mold 1a is set on the stage 9 of the imprint apparatus. At this time, the stage 1 of the imprint apparatus is previously provided with cross-shaped alignment marks 8 and 8 for positioning the lower surface mold (see FIG. 7). Positioning is performed while observing with the CCD cameras 10 and 10 so that the alignment marks 8 and 8 on the stage of the printing apparatus coincide.
Next, the disk substrate 4 coated with the ultraviolet curable resin composition on both sides is placed on the stage on the lower mold 1a using a substrate transfer robot. The substrate transfer robot is set in advance so that the substrate is arranged at a position where the center of the substrate coincides with the center of the alignment marks 8 and 8.
Next, the upper surface mold 1b is arranged on the disk substrate, and positioning is performed while observing with the CCD cameras 10 and 10 so that the alignment mark 6 of the lower surface mold 1a matches the alignment mark 6 of the upper surface mold 1b. . As a result, as shown in the bottom diagram of FIG. 7, the alignment mark 6 of the upper surface mold 1b, the alignment mark 6 of the lower surface mold 1a, and the alignment mark 8 of the stage 9 of the imprint apparatus overlap.
Next, the mold is pressurized from both sides, irradiated with ultraviolet rays toward both sides with a high-pressure mercury lamp, and then the molds on both sides are peeled off.

また、図8Aは、本発明の光インプリント用モールドを用いて光インプリントを行う際の位置決めを行う様子を示す別の平面図であり、図8Bは、図8Aの一部断面側面図である。
図8Bに示す上面モールド1bと下面モールド1aには、基板の外延を超え、かつモールドの外周縁部までの非接触領域に、図7に示すモールドの半径軸に対し非対称形状のアライメントマーク6が2つ設けられている。また、基板の中央開口部の非接触領域に、十字形状のアライメントマーク11が2つ設けられている。なお、基板の中央開口部の非接触領域に設けるアライメントマーク11は非対称形状であって構わない。
まず、下側モールド1aをインプリント装置のステージ9に設置する。この際、インプリント装置のステージ1には下面モールド位置合わせ用の十字形状のアライメントマーク8,8が予め設けられている(図7参照)ので、下側モールド1aのアライメントマーク6,6とインプリント装置のステージのアライメントマーク8,8とが一致するように、CCDカメラ10で観察しながら、位置決めを行う。
次に、両面に紫外線硬化性樹脂組成物を塗布したディスク基板4を下面モールド1a上に、ディスク基板4の端面と下面モールド1aのアライメントマーク11とが一致するようにCCDカメラ10で観察することにより位置決めして配置する。
次に、ディスク基板上に上面モールド1bを配置し、下面モールド1aのアライメントマーク6と、上面モールド1bのアライメントマーク6とが一致するように、CCDカメラ10で観察しながら、位置決めを行う。これにより、図7最下図に示すように、上面モールド1bのアライメントマーク6と、下面モールド1aのアライメントマーク6と、インプリント装置のステージ9のアライメントマーク8とが重なる。
次いで、両側からモールドを加圧し、高圧水銀灯で両面に向けて紫外線を照射した後、両面のモールドを剥離する。
FIG. 8A is another plan view showing the positioning when performing optical imprinting using the optical imprinting mold of the present invention, and FIG. 8B is a partial sectional side view of FIG. 8A. is there.
The upper surface mold 1b and the lower surface mold 1a shown in FIG. 8B have alignment marks 6 that are asymmetric with respect to the radial axis of the mold shown in FIG. 7 in a non-contact region that extends beyond the outer periphery of the substrate and extends to the outer peripheral edge of the mold. Two are provided. In addition, two cross-shaped alignment marks 11 are provided in the non-contact area of the central opening of the substrate. In addition, the alignment mark 11 provided in the non-contact area | region of the center opening part of a board | substrate may be asymmetrical shape.
First, the lower mold 1a is set on the stage 9 of the imprint apparatus. At this time, the stage 1 of the imprint apparatus is previously provided with cross-shaped alignment marks 8 and 8 for positioning the lower surface mold (see FIG. 7). Positioning is performed while observing with the CCD camera 10 so that the alignment marks 8, 8 on the stage of the printing apparatus coincide with each other.
Next, the disk substrate 4 coated with the ultraviolet curable resin composition on both sides is observed with the CCD camera 10 on the lower surface mold 1a so that the end surface of the disk substrate 4 and the alignment mark 11 of the lower surface mold 1a coincide. Position and arrange with.
Next, the upper surface mold 1b is disposed on the disk substrate, and positioning is performed while observing with the CCD camera 10 so that the alignment mark 6 of the lower surface mold 1a matches the alignment mark 6 of the upper surface mold 1b. As a result, as shown in the bottom diagram of FIG. 7, the alignment mark 6 of the upper surface mold 1b, the alignment mark 6 of the lower surface mold 1a, and the alignment mark 8 of the stage 9 of the imprint apparatus overlap.
Next, the mold is pressurized from both sides, irradiated with ultraviolet rays toward both sides with a high-pressure mercury lamp, and then the molds on both sides are peeled off.

本発明の光インプリント用モールドを用いた光インプリント方法によれば、基板の両面に位置するモールドの位置合わせが可能となり、両面同時の光インプリントを高精度に行うことができ、スループットが向上する。
また、本発明の光インプリント用モールドを用いた光インプリント方法によれば、モールドの表裏の判別が容易になり、工程上のミスを低減することができ、表裏のパターンの角座標を一致させることが可能になり、所望のサーボ信号のモールド上の位置が明確となり、目的箇所の観察が容易である。
According to the optical imprinting method using the optical imprinting mold of the present invention, it is possible to align the molds located on both sides of the substrate, the optical imprinting on both sides can be performed with high accuracy, and the throughput is high. improves.
In addition, according to the optical imprint method using the optical imprint mold of the present invention, the front and back of the mold can be easily distinguished, process errors can be reduced, and the angular coordinates of the front and back patterns match. Therefore, the position of the desired servo signal on the mold is clarified, and the target location can be easily observed.

本発明の光インプリント用モールドは、以下に説明する本発明の磁気記録媒体の製造方法に特に好適である。   The mold for optical imprinting of the present invention is particularly suitable for the method for producing a magnetic recording medium of the present invention described below.

<磁気記録媒体の製造方法>
本発明の磁気記録媒体の製造方法は、本発明の前記光インプリント用モールドを、磁気記録媒体の基板上に形成したインプリントレジスト層に押圧して前記モールドに形成された凹凸パターンを転写する転写工程と、
前記インプリントレジスト層に転写された凹凸パターンを硬化させ、モールド構造体を剥離する硬化工程と、
前記凹凸パターンが転写されたインプリントレジスト層をマスクにして、前記磁気記録媒体の基板の表面に形成された磁性層をエッチングして、前記凹凸パターンに基づく磁性パターン部を前記磁性層に形成する磁性パターン部形成工程と、
前記磁性層上に形成された凹部に非磁性材料を埋め込む非磁性パターン部形成工程と、を少なくとも含み、更に必要に応じてその他の工程を含んでなる。
以下、ディスクリートトラックメディア、パターンドメディア等の磁気記録媒体の製造方法の一例について図9を参照して説明する。
<Method of manufacturing magnetic recording medium>
In the method for producing a magnetic recording medium of the present invention, the optical imprint mold of the present invention is pressed against an imprint resist layer formed on a substrate of the magnetic recording medium to transfer the concavo-convex pattern formed on the mold. A transfer process;
A curing step of curing the concavo-convex pattern transferred to the imprint resist layer and peeling the mold structure;
Using the imprint resist layer to which the concavo-convex pattern is transferred as a mask, the magnetic layer formed on the surface of the substrate of the magnetic recording medium is etched to form a magnetic pattern portion based on the concavo-convex pattern in the magnetic layer. A magnetic pattern portion forming step;
A non-magnetic pattern portion forming step of embedding a non-magnetic material in the concave portion formed on the magnetic layer, and further including other steps as necessary.
Hereinafter, an example of a method for manufacturing a magnetic recording medium such as a discrete track medium or a patterned medium will be described with reference to FIG.

[転写工程]
図9のAに示すように、アルミニウム、ガラス、シリコン、石英等の基板40の両面に、Fe又はFe合金、Co又はCo合金等の磁性層50を有する磁気記録媒体中間体の磁性層50上にアクリレート系樹脂等のインプリントレジスト液を塗布してなるインプリントレジスト層24を形成したレジスト層付き磁気記録媒体中間体に対して、表面に凹凸パターンが形成された光インプリント用モールド1,1を上下方向から押し当て、加圧することにより、モールド上に形成された凹凸パターンをインプリントレジスト層24,24に転写する。
[Transfer process]
As shown in FIG. 9A, a magnetic recording medium intermediate magnetic layer 50 having a magnetic layer 50 of Fe, Fe alloy, Co, Co alloy or the like on both surfaces of a substrate 40 of aluminum, glass, silicon, quartz, or the like. An optical imprint mold 1 having a concavo-convex pattern formed on the surface of a magnetic recording medium intermediate with a resist layer in which an imprint resist layer 24 formed by applying an imprint resist solution such as an acrylate resin is formed on By pressing 1 from above and below and applying pressure, the concavo-convex pattern formed on the mold is transferred to the imprint resist layers 24 and 24.

[硬化工程]
−光照射による硬化−
図9のBに示すように、インプリントレジスト層24を形成するインプリントレジスト組成物に、紫外線を光インプリント用モールド1,1を介してインプリントレジスト層24,24に照射すると、該インプリントレジスト層が硬化して、凹凸パターンが転写される。
なお、位置決め方法及び紫外線の照射条件などは上記発明の光インプリント方法と同様である。
[Curing process]
-Curing by light irradiation-
As shown in FIG. 9B, when the imprint resist composition for forming the imprint resist layer 24 is irradiated with ultraviolet rays through the optical imprint molds 1, 1, the imprint resist layers 24, 24 are irradiated. The printed resist layer is cured and the concavo-convex pattern is transferred.
The positioning method, ultraviolet irradiation conditions, and the like are the same as those of the optical imprint method of the present invention.

[磁性パターン部形成工程]
次に、図9のCに示すように、凹凸部のパターンが転写されたインプリントレジスト層をマスクにして、ドライエッチングを行い、インプリントレジスト層に形成された凹凸パターン形状に基づく凹凸形状を磁性層50に形成する。
前記ドライエッチングとしては、磁性層に凹凸形状を形成できるものであれば特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、イオンミリング法、反応性イオンエッチング(RIE)、スパッタエッチング、等が挙げられる。これらの中でも、イオンミリング法、反応性イオンエッチング(RIE)が特に好ましい。
前記イオンミリング法は、イオンビームエッチングとも言われ、イオン源にAr等の不活性ガスを導入し、イオンを生成した。これを、グリッドを通して加速して、試料基板に衝突させてエッチングするものである。前記イオン源としては、例えばカウフマン型、高周波型、電子衝撃型、デュオプラズマトロン源、フリーマン型、ECR(電子サイクロトロン共鳴)型、Closed drift型、などが挙げられる。
イオンビームエッチングでのプロセスガスとしてはAr、RIEのエッチャントとしてはCO+NH、塩素ガス、CF系ガス、CH系ガス、又はこれらのガスに酸素、窒素、水素ガスを添加したものなどを用いることができる。
[Magnetic pattern formation process]
Next, as shown in FIG. 9C, using the imprint resist layer to which the pattern of the concavo-convex portion is transferred as a mask, dry etching is performed, and the concavo-convex shape based on the concavo-convex pattern shape formed on the imprint resist layer is formed. Formed on the magnetic layer 50.
The dry etching is not particularly limited as long as it can form a concavo-convex shape in the magnetic layer, and can be appropriately selected according to the purpose. Examples thereof include ion milling, reactive ion etching (RIE), and sputter etching. , Etc. Among these, ion milling and reactive ion etching (RIE) are particularly preferable.
The ion milling method is also called ion beam etching. An inert gas such as Ar is introduced into an ion source to generate ions. This is accelerated through the grid and collides with the sample substrate for etching. Examples of the ion source include a Kaufman type, a high frequency type, an electron impact type, a duoplasmatron source, a Freeman type, an ECR (electron cyclotron resonance) type, and a closed drift type.
Process gas in ion beam etching is Ar, and RIE etchant is CO + NH 3 , chlorine gas, CF gas, CH gas, or a gas obtained by adding oxygen, nitrogen or hydrogen gas to these gases. it can.

[非磁性パターン部形成工程]
次に、図9のDに示すように、形成された凹部に非磁性材料70を埋め込み、表面を平坦化した後、必要に応じて、保護膜などを形成して磁気記録媒体100を作製することができる。
前記非磁性材料としては、例えばSiO、カーボン、アルミナ、ポリメタアクリル酸メチル(PMMA)、ポリスチレン(PS)等のポリマー、円滑油などが挙げられる。
前記保護膜としては、ダイヤモンドカーボン(DLC)、スパッタカーボン等が好ましく、該保護膜の上に更に潤滑剤層を設けてもよい。
[Non-magnetic pattern part forming process]
Next, as shown in FIG. 9D, after the non-magnetic material 70 is embedded in the formed recess and the surface is flattened, a protective film or the like is formed as necessary to produce the magnetic recording medium 100. be able to.
Examples of the nonmagnetic material include polymers such as SiO 2 , carbon, alumina, polymethyl methacrylate (PMMA), polystyrene (PS), and smooth oil.
As the protective film, diamond carbon (DLC), sputtered carbon or the like is preferable, and a lubricant layer may be further provided on the protective film.

本発明の磁気記録媒体の製造方法により製造された磁気記録媒体は、ディスクリート型磁気記録媒体及びパターンドメディア型磁気記録媒体の少なくともいずれかであることが好適である。   The magnetic recording medium manufactured by the magnetic recording medium manufacturing method of the present invention is preferably at least one of a discrete magnetic recording medium and a patterned media magnetic recording medium.

以下、本発明の実施例を説明するが、本発明は、これらの実施例に何ら限定されるものではない。   Examples of the present invention will be described below, but the present invention is not limited to these examples.

(実施例1)
<モールド製造方法>
−Si原盤の作製−
6インチSi基板上に、レジストを塗布し、該レジスト層にEB描画により、100nmピッチの同心円パターンとアライメントマークを形成し、Siエッチング(深さ100nm)し、洗浄した。
なお、アライメントマークは、基板の外径が65mmであるため、基盤の中心から50mmの位置に幅20μm/長さ100μmの図7に示す形状のマークを2箇所ずつ描画(180度)した。
Example 1
<Mold manufacturing method>
-Production of Si master-
A resist was applied on a 6-inch Si substrate, and a 100 nm pitch concentric pattern and an alignment mark were formed on the resist layer by EB drawing, and Si etching (depth 100 nm) was performed for cleaning.
Since the alignment mark has an outer diameter of 65 mm, two marks (180 degrees) having the shape shown in FIG. 7 each having a width of 20 μm and a length of 100 μm are drawn at a position 50 mm from the center of the substrate.

−石英モールドの作製−
6インチの石英基板上に、厚み100nmとなるようにレジスト(光硬化性樹脂:PAK01、東洋合成工業株式会社製)を塗布し、インプリントレジスト層を形成した。該インプリントレジスト層に上記Si原盤で光インプリントし、石英エッチング(深さ100nm)し、洗浄した。以上により、上面及び下面の石英モールドを作製した。
-Production of quartz mold-
A resist (photocurable resin: PAK01, manufactured by Toyo Gosei Co., Ltd.) was applied on a 6-inch quartz substrate so as to have a thickness of 100 nm, thereby forming an imprint resist layer. The imprint resist layer was optically imprinted with the Si master, quartz etched (depth 100 nm), and washed. Thus, the upper and lower quartz molds were produced.

−光インプリント方法−
図6A及び図6Bに示すように、CCDカメラ10で下面の石英モールド1aのアライメントマークを観察しながら、インプリント装置のステージ9に下面側のモールド1aを設置した。なお、インプリント装置のステージには下面モールド位置合わせ用のアライメントマーク8が予め設けられている。
次に、ディスク基板(ガラス製、内径20mm、外径65mm)4の両面に、厚みが100nmとなるようにレジスト(光硬化性樹脂:PAK01、東洋合成工業株式会社製)を塗布した。
次に、レジストを塗布済みのディスク基板4を下面モールド1a上に設置した。ディスク基板はインプリント装置の所定の位置に設置されるように設定されている(誤差5μm以内)。
次に、CCDカメラ10で設置済みモールドの基板密着領域以外のアライメントマーク6を観察しながら、上面及び下面モールド1a,1bの基板密着領域以外のアライメントマーク6,6が一致するように上面モールド1bを設置した。
次いで、両側から1MPaで1分間加圧し、365nmピーク波長の高圧水銀灯で上下両面に向けて100mJ/cmで照射した後、両面のモールドを剥離した。
得られた樹脂パターン付ガラス基板を顕微鏡で観察し、焦点距離を変えることにより、上下面の同心円パターン位置合わせ精度を測定したところ、10μm以内にあることを確認できた。
-Optical imprint method-
As shown in FIGS. 6A and 6B, the lower mold 1a was placed on the stage 9 of the imprint apparatus while observing the alignment mark of the lower quartz mold 1a with the CCD camera 10. An alignment mark 8 for aligning the lower surface mold is provided in advance on the stage of the imprint apparatus.
Next, a resist (photocurable resin: PAK01, manufactured by Toyo Gosei Co., Ltd.) was applied to both surfaces of a disk substrate (made of glass, inner diameter 20 mm, outer diameter 65 mm) 4 so as to have a thickness of 100 nm.
Next, the resist-coated disk substrate 4 was placed on the lower surface mold 1a. The disk substrate is set to be installed at a predetermined position of the imprint apparatus (within 5 μm error).
Next, while observing the alignment mark 6 other than the substrate adhesion area of the mold that has been installed with the CCD camera 10, the upper surface mold 1b is aligned so that the alignment marks 6, 6 other than the substrate adhesion area of the upper and lower molds 1a, 1b coincide. Was installed.
Next, pressurization was performed at 1 MPa from both sides for 1 minute, and irradiation was performed at 100 mJ / cm 2 toward the upper and lower surfaces with a high-pressure mercury lamp having a peak wavelength of 365 nm, and then the molds on both surfaces were peeled off.
The obtained glass substrate with a resin pattern was observed with a microscope, and the concentric pattern alignment accuracy of the upper and lower surfaces was measured by changing the focal length. As a result, it was confirmed that it was within 10 μm.

(実施例2)
実施例1において、図8A及び図8Bに示すように、基板の中央開口部の非接触領域にも、十字形状のアライメントマーク11を2つ設けた以外は、実施例1と同様にして、位置決めを行う、光インプリントを行った。
得られた樹脂パターン付ガラス基板を顕微鏡で観察し、焦点距離を変えることにより、上下面の同心円パターン位置合わせ精度を測定したところ、10μm以内にあることを確認できた。
(Example 2)
In Example 1, as shown in FIGS. 8A and 8B, positioning is performed in the same manner as in Example 1 except that two cross-shaped alignment marks 11 are also provided in the non-contact region of the central opening of the substrate. The optical imprint was performed.
The obtained glass substrate with a resin pattern was observed with a microscope, and the concentric pattern alignment accuracy of the upper and lower surfaces was measured by changing the focal length. As a result, it was confirmed that it was within 10 μm.

本発明の光インプリント用モールド及びこれを用いた光インプリント方法は、モールドの製造(複製)、ディスクリート媒体(DTM)及びパターンド媒体(BPM)等の磁気記録媒体の製造などに好適である。   The mold for optical imprinting and the optical imprinting method using the same according to the present invention are suitable for manufacturing (duplicating) molds, manufacturing magnetic recording media such as discrete media (DTM) and patterned media (BPM). .

図1は、半径軸に対し非体対称形状のアライメントマークの一例を示す図である。FIG. 1 is a diagram illustrating an example of an alignment mark having a non-body-symmetric shape with respect to a radial axis. 図2は、半径軸に対し非体対称形状のアライメントマークの他の一例を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating another example of the alignment mark having a non-body-symmetric shape with respect to the radial axis. 図3は、半径軸に対し非体対称形状のアライメントマークの他の一例を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating another example of the alignment mark having a non-body-symmetric shape with respect to the radial axis. 図4は、半径軸に対し非体対称形状のアライメントマークの他の一例を示す図である。FIG. 4 is a diagram illustrating another example of the alignment mark having a non-body-symmetric shape with respect to the radial axis. 図5は、光インプリント用モールドの一例を示す部分斜視図である。FIG. 5 is a partial perspective view showing an example of a mold for optical imprinting. 図6Aは、本発明の光インプリント用モールドを用いて光インプリントを行う際の位置決めを行う様子を示す平面図である。FIG. 6A is a plan view showing how positioning is performed when optical imprinting is performed using the optical imprinting mold of the present invention. 図6Bは、図6Aの一部断面側面図である。6B is a partial cross-sectional side view of FIG. 6A. 図7は、光インプリント方法によるアライメントマークの位置合わせ状態を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing the alignment state of the alignment mark by the optical imprint method. 図8Aは、本発明の光インプリント用モールドを用いて光インプリントを行う際の位置決めを行う様子を示す平面図である。FIG. 8A is a plan view showing a state in which positioning is performed when optical imprinting is performed using the optical imprinting mold of the present invention. 図8Bは、図8Aの一部断面側面図である。8B is a partial cross-sectional side view of FIG. 8A. 図9は、本発明の磁気記録媒体の製造方法の一例を示す工程図である。FIG. 9 is a process diagram showing an example of a method for manufacturing a magnetic recording medium of the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 モールド
2 基板
3 凹凸部
3a 凸部
3b 凹部
4 基板
5 転写パターン
6 アライメントマーク
7 中央開口部
8 インプリント装置のアライメントマーク
9 インプリント装置のステージ
10 CCDカメラ
11 アライメントマーク
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Mold 2 Substrate 3 Uneven part 3a Convex part 3b Concave part 4 Substrate 5 Transfer pattern 6 Alignment mark 7 Center opening 8 Imprint apparatus alignment mark 9 Imprint apparatus stage 10 CCD camera 11 Alignment mark

Claims (8)

樹脂組成物が塗布された基板の両面に凹凸パターンを形成するための一組の光インプリント用モールドであって、
前記一組の光インプリント用モールドが、いずれもインプリントの際に前記基板の両面における該一組の光インプリント用モールドの相対位置関係を決定するためのアライメントマークを少なくとも2つ有し、
前記アライメントマークが、前記モールドと前記基板とが接触しない非接触領域に設けられており、
前記非接触領域が、前記基板の外延を超え、かつ前記モールドの外周縁部までの領域であることを特徴とする光インプリント用モールド。
A set of optical imprint molds for forming a concavo-convex pattern on both sides of a substrate coated with a resin composition,
The set of optical imprint molds has at least two alignment marks for determining the relative positional relationship of the set of optical imprint molds on both sides of the substrate during imprinting,
The alignment mark is provided in a non-contact region where the mold and the substrate do not contact ;
The mold for optical imprinting , wherein the non-contact area is an area extending beyond an outer periphery of the substrate and extending to an outer peripheral edge of the mold.
アライメントマークが、基板の中央開口部である非接触領域にも設けられている請求項1に記載の光インプリント用モールド。The mold for optical imprinting according to claim 1, wherein the alignment mark is also provided in a non-contact region that is a central opening of the substrate. アライメントマークが、モールドの表裏を判別可能な形状を有する請求項1から2のいずれかに記載の光インプリント用モールド。The mold for optical imprinting according to claim 1, wherein the alignment mark has a shape capable of distinguishing the front and back of the mold. アライメントマークの形状が、モールドの半径軸に対し左右非対称形状である請求項3に記載の光インプリント用モールド。The mold for optical imprinting according to claim 3, wherein the shape of the alignment mark is asymmetrical with respect to the radial axis of the mold. ディスクリート媒体及びパターンド媒体を製造するための凹凸パターンを有し、アライメントマークの位置から特定のサーボパターンの角座標を判別可能である請求項1から4のいずれかに記載の光インプリント用モールド。5. The mold for optical imprinting according to claim 1, comprising an uneven pattern for producing a discrete medium and a patterned medium, and capable of determining angular coordinates of a specific servo pattern from the position of the alignment mark. . 請求項1から5のいずれかに記載の光インプリント用モールドを用いて位置合わせを行い、樹脂組成物が塗布された基板の両面に凹凸パターンをインプリントすることを特徴とする光インプリント方法。An optical imprint method comprising: aligning using the optical imprint mold according to any one of claims 1 to 5; and imprinting a concavo-convex pattern on both sides of a substrate coated with a resin composition. . 光インプリント用モールドを、磁気記録媒体の基板上に形成されたインプリントレジスト層に押圧して前記モールド構造体に形成された凹凸パターンを転写する転写工程と、A transfer step of transferring the concavo-convex pattern formed on the mold structure by pressing the optical imprint mold against the imprint resist layer formed on the substrate of the magnetic recording medium;
前記凹凸パターンが転写された前記インプリントレジスト層をマスクにして、前記磁気記録媒体の前記基板の表面に形成された磁性層をエッチングして、前記凹凸パターンに基づく磁性パターン部を前記磁性層に形成する磁性パターン部形成工程と、The magnetic layer formed on the surface of the substrate of the magnetic recording medium is etched using the imprint resist layer to which the concave / convex pattern has been transferred as a mask, and the magnetic pattern portion based on the concave / convex pattern is used as the magnetic layer. A magnetic pattern portion forming step to be formed;
前記磁性層上に形成された凹部に非磁性材料を埋め込む非磁性パターン部形成工程と、を少なくとも含み、A non-magnetic pattern portion forming step of embedding a non-magnetic material in the concave portion formed on the magnetic layer,
前記光インプリント用モールドが、樹脂組成物が塗布された基板の両面に凹凸パターンを形成するための一組の光インプリント用モールドであって、The optical imprint mold is a set of optical imprint molds for forming a concavo-convex pattern on both surfaces of a substrate coated with a resin composition,
前記一組の光インプリント用モールドが、いずれもインプリントの際に前記基板の両面における該一組の光インプリント用モールドの相対位置関係を決定するためのアライメントマークを少なくとも2つ有し、The set of optical imprint molds has at least two alignment marks for determining the relative positional relationship of the set of optical imprint molds on both sides of the substrate during imprinting,
前記アライメントマークが、前記モールドと前記基板とが接触しない非接触領域に設けられていることを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。The method of manufacturing a magnetic recording medium, wherein the alignment mark is provided in a non-contact region where the mold and the substrate do not contact each other.
非接触領域が、基板の外延を超え、かつモールドの外周縁部までの領域である請求項7に記載の磁気記録媒体の製造方法。The method of manufacturing a magnetic recording medium according to claim 7, wherein the non-contact area is an area extending beyond the outer periphery of the substrate and extending to the outer peripheral edge of the mold.
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