JP5533748B2 - 粒度測定方法及び粒度測定装置 - Google Patents
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Description
10 ガラス基板
10a 一端
10b 他端
11 掃引体
20〜23 孔群
30 平坦部
40 シート
40a 一端
40b 他端
A スラリー
Claims (12)
- 表面に、長手方向の一端から他端に向かって開口面積が連続的にまたは不連続的に大きくなり、かつ厚み方向に貫通しない複数の孔群を有する基板を用意する工程と、
試料を、前記複数の孔群のうち開口面積が小さい基板の一端側に塗布する工程と、
前記試料を、前記複数の孔群のうち開口面積が小さい基板の一端側から大きい他端側に向かって掃引する工程と、
前記複数の孔群に入り込んだ前記試料の粒子の有無から前記試料の粒度を測定する工程と、を有する、粒度測定方法。 - 基板と、当該基板の表面に備えられ、長手方向の一端から他端に向かって開口面積が連続的にまたは不連続的に大きくなり、かつ一面から他面に貫通する複数の孔群を有するシートと、を用意する工程と、
試料を、前記複数の孔群のうち開口面積が小さいシートの一端側に塗布する工程と、
前記試料を、前記複数の孔群のうち開口面積が小さいシートの一端側から大きい他端側に向かって掃引する工程と、
前記複数の孔群に入り込んだ前記試料の粒子の有無から前記試料の粒度を測定する工程と、を有する、粒度測定方法。 - 前記試料を掃引した後に、前記シートを前記基板から離脱する工程をさらに有する請求項2に記載の粒度測定方法。
- 前記複数の孔群の容積が異なる複数のシートを用いて行われる、請求項2又は3に記載の粒度測定方法。
- 掃引工程時に、前記掃引体の掃引速度を変更させる、請求項1〜4のいずれかに記載の粒度測定方法。
- 掃引される試料の量を変化させて前記試料の粒度を測定する、請求項1〜5のいずれかに記載の粒度測定方法。
- 表面に、長手方向の一端から他端に向かって開口面積が連続的にまたは不連続的に大きくなり、かつ厚み方向に貫通しない複数の孔群を有する基板と、
前記複数の孔群のうち開口面積が小さい基板の一端側に塗布された試料を、前記複数の孔群のうち開口面積が小さい基板の一端側から大きい他端側に向かって掃引する掃引体と、を有する、粒度測定装置。 - 基板と、
前記基板の表面に備えられ、長手方向の一端から他端に向かって開口面積が連続的にまたは不連続的に大きくなり、かつ一面から他面に貫通する複数の孔群を有するシートと、
前記シートの複数の孔群のうち開口面積が小さい一端側に塗布された試料を、前記複数の孔群のうち開口面積が小さいシートの一端側から大きい他端側に向かって掃引する掃引体と、を有する、粒度測定装置。 - 前記シートは、前記基板から離脱可能である、請求項8に記載の粒度測定装置。
- 前記複数の孔群の容積が異なる複数のシートを有する、請求項8又は9に記載の粒度測定装置。
- 前記掃引体の掃引速度が変更可能に構成されている、請求項7〜10のいずれかに記載の粒度測定装置。
- 掃引する試料の量が定量的に調整可能に構成されている、請求項7〜11のいずれかに記載の粒度測定装置。
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CA2249175C (en) * | 1997-10-06 | 2000-12-26 | Michael Engel Industries, Inc. | Machine for measuring sizes of particles and for determining color differences in a substance |
US6379031B1 (en) * | 2000-01-20 | 2002-04-30 | Aggregate Research Industries, Llc | Method for manufacturing concrete |
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- 2011-03-16 JP JP2011058090A patent/JP5533748B2/ja not_active Expired - Fee Related
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