JP5533038B2 - 観察装置および観察セル - Google Patents
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Description
12 第1部品
14 観察面
16 金属粒子
18 第2部品
20 照射部
22 観察部
Claims (8)
- 観察対象である観察面を保持する第1部品と、
観察面から離間して設けられた金属粒子を保持する第2部品と、
光を前記第1部品または前記第2部品を介し前記観察面または前記金属粒子が設けられた面に照射する照射部と、
前記観察面または前記金属粒子が設けられた面を反射または透過した前記光から前記観察面の状態を観察する観察部と、
を具備し、
前記第1部品および前記第2部品は、前記観察面および前記金属粒子が前記光の電磁場内となるように、前記観察面および前記金属粒子を保持することを特徴とする観察装置。 - 前記観察部は、前記光のうち前記観察面と前記金属粒子との配置方向に偏光した光から、前記観察面の状態を観察することを特徴とする請求項1記載の観察装置。
- 前記光は、前記第1部品内を通過した後、前記観察面で全反射し、前記全反射した前記光は前記第1部品内を通過した後、前記観察部に至ることを特徴とする請求項1または2記載の観察装置。
- 前記光は、前記第2部品内を通過した後、前記金属粒子が設けられた面で全反射し、前記全反射した前記光は前記第2部品内を通過した後、前記観察部に至ることを特徴とする請求項1または2記載の観察装置。
- 前記第1部品および前記第2部品は、前記観察面および前記金属粒子を前記光のエバネッセント場内に保持することを特徴とする請求項3または4記載の観察装置。
- 前記光は、前記第1部品および前記第2部品の一方内を通過した後、前記観察面および前記金属粒子を通過し、前記通過した前記光は前記第1部品および前記第2部品の他方内を通過した後、前記観察部に至ることを特徴とする請求項1または2記載の観察装置。
- 前記観察部は、前記観察面または前記金属粒子が設けられた面を反射または透過した前記光の吸収スペクトルから前記観察面の状態を観察することを特徴とする請求項1から6のいずれか一項記載の観察装置。
- 観察対象である観察面を保持する第1部品と、
観察面から離間して設けられた金属粒子を保持する第2部品と、
を具備し、
前記第1部品および前記第2部品は、前記観察面および前記金属粒子が前記第1部品または前記第2部品を介し観察面または前記金属粒子が設けられた面に照射された光の電磁場内となるように、前記観察面および前記金属粒子を保持することを特徴とする観察セル。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010045932A JP5533038B2 (ja) | 2010-03-02 | 2010-03-02 | 観察装置および観察セル |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010045932A JP5533038B2 (ja) | 2010-03-02 | 2010-03-02 | 観察装置および観察セル |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011180043A JP2011180043A (ja) | 2011-09-15 |
JP5533038B2 true JP5533038B2 (ja) | 2014-06-25 |
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ID=44691688
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2010045932A Expired - Fee Related JP5533038B2 (ja) | 2010-03-02 | 2010-03-02 | 観察装置および観察セル |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5533038B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5626066B2 (ja) * | 2011-03-29 | 2014-11-19 | 富士通株式会社 | 観察装置 |
JP6145861B2 (ja) * | 2012-08-15 | 2017-06-14 | 富士フイルム株式会社 | 光電場増強デバイス、光測定装置および方法 |
CN103558697B (zh) * | 2013-10-30 | 2017-01-18 | 上海飞机制造有限公司 | 用于激光脉冲喷丸技术中激光能量调制的电光调制装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2988788B2 (ja) * | 1992-09-18 | 1999-12-13 | 科学技術振興事業団 | 走査型近接場光学顕微鏡 |
JPH07229829A (ja) * | 1994-02-18 | 1995-08-29 | Hitachi Ltd | 全反射プリズムセル |
JP3452837B2 (ja) * | 1999-06-14 | 2003-10-06 | 理化学研究所 | 局在プラズモン共鳴センサー |
JP2004061211A (ja) * | 2002-07-26 | 2004-02-26 | Shimadzu Corp | 蛍光検出方法及び装置 |
JP2006003217A (ja) * | 2004-06-17 | 2006-01-05 | Kyoto Univ | センサチップ及びそれを用いたセンサ装置 |
JP2006258641A (ja) * | 2005-03-17 | 2006-09-28 | Nec Corp | 光学計測方法 |
JP2007255948A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Tokyo Institute Of Technology | 電界センサ |
FR2924723B1 (fr) * | 2007-12-11 | 2010-12-17 | Centre Nat Rech Scient | Support solide revetu d'au moins un film de metal et d'au moins une couche d'oxyde transparent et conducteur pour la detection par spr et/ou par une methode electrochimique |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011180043A (ja) | 2011-09-15 |
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