JP5515039B2 - 画像測定装置 - Google Patents
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Description
次に、本発明の第1実施形態に係る画像測定装置について図面を参照して詳細に説明する。
Claims (5)
- ワークに直線状の光を照射する光源と、
前記ワークを撮像する撮像装置と、
前記撮像装置の受光量によって前記光源の発光量を調整する制御部とを有し、
前記撮像装置は、受光素子が配列形成されて前記ワークの画像を行方向または列方向に逐次的に受光し、
前記制御部は、
各受光素子の受光時に、受光量が最大値を超えた受光素子が存在する場合には次の受光時における前記光源の光量を低下させ、受光量が前記最大値を超えた受光素子が存在しない場合には次の受光時における前記光源の光量を増加させ、
更に、前記受光素子の受光時に、前記光源の光量が最大光量に達し、且つ受光量が最小値を下回っている場合には、次の受光時における前記光源の光量を最小光量にする
ことを特徴とする画像測定装置。 - 前記制御部は、前記光源の光量を最小光量にした場合、次回またはn回後(nは2以上の整数)受光時に前記光源の光量を最大光量または最大光量と最小光量の間の光量にすることを特徴とする請求項1記載の画像測定装置。
- 前記撮像装置は、前記光源から前記ワークへの光の照射方向に対して所定の角度をなす方向で前記ワークからの反射光を受光することを特徴とする請求項1または2記載の画像測定装置。
- 前記撮像装置は、前記光源からの直線上の光に対してほぼ直交する方向に配列された受光素子列を、当該受光素子列と直交する方向に順次受光走査させるローリングシャッター機能を有するCMOS素子を有することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項記載の画像測定装置。
- ワークに直線状の光を照射する光源と、
前記ワークを撮像する撮像装置と、
前記撮像装置の受光量によって前記光源の発光量を調整する制御部とを有し、
前記撮像装置は、受光素子が配列形成されて前記ワークの画像を行方向または列方向に逐次的に受光し、
前記制御部は、
各受光素子の受光時に、受光量が最大値を超えた受光素子が存在する場合には次の受光時における前記光源の光量を低下させ、受光量が前記最大値を超えた受光素子が存在しない場合には次の受光時における前記光源の光量を増加させ、
更に、前記受光素子の受光時に、前記光源の光量が最大光量に達し、且つ受光量が最小値を下回っている場合には、次の受光時以降は受光時毎に前記光源の光量を最小光量とこれよりも大きい光量とに交互に設定する
ことを特徴とする画像測定装置。
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