JP5505026B2 - Amplifier circuit and transmission circuit including the amplifier circuit - Google Patents

Amplifier circuit and transmission circuit including the amplifier circuit Download PDF

Info

Publication number
JP5505026B2
JP5505026B2 JP2010075936A JP2010075936A JP5505026B2 JP 5505026 B2 JP5505026 B2 JP 5505026B2 JP 2010075936 A JP2010075936 A JP 2010075936A JP 2010075936 A JP2010075936 A JP 2010075936A JP 5505026 B2 JP5505026 B2 JP 5505026B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
complementary
amplifier
gate
capacitance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010075936A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2011211410A (en
Inventor
浩一 神田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2010075936A priority Critical patent/JP5505026B2/en
Publication of JP2011211410A publication Critical patent/JP2011211410A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5505026B2 publication Critical patent/JP5505026B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Amplifiers (AREA)

Description

高周波数を有する信号の増幅に使用可能な増幅回路及びその増幅回路を含む送信回路。   An amplifier circuit that can be used to amplify a signal having a high frequency, and a transmission circuit including the amplifier circuit.

パワーアンプを含む無線通信用のRFトランシーバにおいて、取り扱う搬送信号の高周波数化及び高出力電力化が進められている(非特許文献1、非特許文献2参照。)。取り扱う搬送信号の高周波数化及び高出力電力化を行うと、RFトランシーバから出力される搬送信号(キャリヤ)の周波数帯域(チャネル)が隣接する搬送信号の周波数帯域にはみ出す現象が起きる。そのため、RFトランシーバから出力される搬送信号の隣接チャネル漏洩比率(ACPR:Adjacent channel leakage Power Ratio)を低下させる技術についても開発が進められている。   In RF transceivers for wireless communication including power amplifiers, higher carrier signal handling and higher output power are being promoted (see Non-Patent Document 1 and Non-Patent Document 2). When the frequency of the carrier signal to be handled is increased and the output power is increased, a phenomenon occurs in which the frequency band (channel) of the carrier signal (carrier) output from the RF transceiver protrudes into the frequency band of the adjacent carrier signal. Therefore, a technique for reducing the adjacent channel leakage power ratio (ACPR) of the carrier signal output from the RF transceiver is also being developed.

ここで、隣接する搬送信号の周波数帯域にはみ出す現象は、パワーアンプに含まれる入力信号を増幅するNMOSトランジスタによって、入力信号に対してパワーアンプから出力される出力信号の位相が変化することが原因であるとされている。具体的には、バイアスされたNMOSトランジスタに大信号が入力され、ゲート電位が閾値付近になると、NMOSトランジスタのゲート−ソース間容量が大きく変化し、NMOSトランジスタによって出力される信号の位相が、入力信号の位相から変化することが上記の現象の原因であるとされている。   Here, the phenomenon that protrudes to the frequency band of the adjacent carrier signal is caused by the change of the phase of the output signal output from the power amplifier relative to the input signal by the NMOS transistor that amplifies the input signal included in the power amplifier. It is said that. Specifically, when a large signal is input to the biased NMOS transistor and the gate potential is close to the threshold value, the gate-source capacitance of the NMOS transistor changes greatly, and the phase of the signal output by the NMOS transistor It is said that the above phenomenon is caused by a change from the phase of the signal.

そこで、NMOSトランジスタのゲート電位に対するゲート−ソース間容量の変化の特性が逆となるPMOSトランジスタのゲート電極を、NMOSトランジスタのゲート電極に接続することにより、NMOSトランジスタのゲート電位に対するゲート−ソース間容量の変化を補償する技術が提案された(非特許文献3参照。)。その結果、NMOSトランジスタのゲート−ソース間容量はほぼ一定となり、入力信号の位相に対する出力信号の位相の変化が減少し、隣接チャネル漏洩比率(ACPR)が改善すると考えられた。   Therefore, by connecting the gate electrode of the PMOS transistor whose characteristics of the change in the gate-source capacitance with respect to the gate potential of the NMOS transistor are reversed to the gate electrode of the NMOS transistor, the gate-source capacitance with respect to the gate potential of the NMOS transistor. A technique for compensating for the change in the above has been proposed (see Non-Patent Document 3). As a result, it was considered that the gate-source capacitance of the NMOS transistor became substantially constant, the change in the phase of the output signal with respect to the phase of the input signal decreased, and the adjacent channel leakage ratio (ACPR) improved.

しかし、NMOSトランジスタの閾値とPMOSトランジスタの閾値は独立してバラツキ、ゲート−ソース間容量の変化点が異なるため、NMOSトランジスタのゲート−ソース間容量の変化が常に補償されるとは限られない。   However, the threshold value of the NMOS transistor and the threshold value of the PMOS transistor vary independently, and the change point of the gate-source capacitance is different. Therefore, the change of the gate-source capacitance of the NMOS transistor is not always compensated.

Patrick Reynaert, Michiel S.J. Steyaert, “A 1.75-GHz Polar Modulated CMOS RF Power Amplifier for GSM-EDGE”, IEEE Journal of Solid-state circuit, Vol. 40, No. 12, December 2005Patrick Reynaert, Michiel S.J.Steyaert, “A 1.75-GHz Polar Modulated CMOS RF Power Amplifier for GSM-EDGE”, IEEE Journal of Solid-state circuit, Vol. 40, No. 12, December 2005 Debopriyo Chowdhury, Christopher D. Hull, Ofir B. Degani, Pankaj Goyal, Yanjie Wang, M. Niknejad, “A Single-Chip Highly Linear 2.4GHz 30dBm Power Amplifier in 90nm CMOS”, ISSCC 2009/SESSION 22/PA AND ANTENNA INTERFACE/22.3Debopriyo Chowdhury, Christopher D. Hull, Ofir B. Degani, Pankaj Goyal, Yanjie Wang, M. Niknejad, “A Single-Chip Highly Linear 2.4GHz 30dBm Power Amplifier in 90nm CMOS”, ISSCC 2009 / SESSION 22 / PA AND ANTENNA INTERFACE /22.3 Chengzhou Wang, Mani Vaidyanathan, Lawrence E. Larson, “A Capacitance-Compensation Technique for Improved Linearity in CMOS Class-AB Power Amplifiers”, IEEE Journal of Solid-state circuit, Vol. 39, No. 11, November 2004Chengzhou Wang, Mani Vaidyanathan, Lawrence E. Larson, “A Capacitance-Compensation Technique for Improved Linearity in CMOS Class-AB Power Amplifiers”, IEEE Journal of Solid-state circuit, Vol. 39, No. 11, November 2004

パワーアンプに含まれる信号増幅用のNMOSトランジスタのゲート・ソース間容量の変化を抑制し、隣接チャネル漏洩比率(ACPR)が改善されたパワーアンプを提供することを目的とする。   An object of the present invention is to provide a power amplifier in which a change in gate-source capacitance of an NMOS transistor for signal amplification included in the power amplifier is suppressed and an adjacent channel leakage ratio (ACPR) is improved.

本発明の第1の側面によれば、第1相補信号を増幅して得た、第2相補信号を出力する第1増幅器と前記第2相補信号を増幅して得た、第3相補信号を出力する第2増幅器と、前記第1相補信号と前記第3相補信号との位相差を検出し、前記第2相補信号の電圧に応じて、前記第2相補信号が伝搬する信号線に付加する容量の電圧依存性を、前記位相差が最小となるように制御する容量補正回路と、を備えることを特徴とする増幅回路が提供される。   According to the first aspect of the present invention, a first amplifier that outputs the second complementary signal obtained by amplifying the first complementary signal and a third complementary signal obtained by amplifying the second complementary signal are obtained. A phase difference between the second amplifier to be output and the first complementary signal and the third complementary signal is detected and added to a signal line on which the second complementary signal propagates according to the voltage of the second complementary signal. There is provided an amplifier circuit comprising: a capacitor correction circuit that controls the voltage dependency of the capacitor so that the phase difference is minimized.

本発明によれば、隣接チャネル漏洩比率(ACPR)が改善された増幅回路を提供することができる。   According to the present invention, an amplifier circuit having an improved adjacent channel leakage ratio (ACPR) can be provided.

図1はRFトランシーバ(transceiver)10、ディスプレー8、及び、スピーカー9を示す図である。FIG. 1 is a view showing an RF transceiver 10, a display 8, and a speaker 9. 図2はパワーアンプ3を説明する回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram illustrating the power amplifier 3. 図3A、図3Bは容量補正回路60に含まれる位相比較器64及びフィルター63について説明する図である。3A and 3B are diagrams for explaining the phase comparator 64 and the filter 63 included in the capacitance correction circuit 60. FIG. 図4はパワーアンプ3に容量補正回路60が接続するノードの容量の変化を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a change in capacitance of a node where the capacitance correction circuit 60 is connected to the power amplifier 3. 図5は実施例2のパワーアンプ80を示す。FIG. 5 shows a power amplifier 80 according to the second embodiment. 図6は実施例3のパワーアンプ100を示す。FIG. 6 shows a power amplifier 100 according to the third embodiment. 図7はNMOSトランジスタ91のバックゲート−ゲート間の容量と、NMOSトランジスタ35のゲート−ソース間の容量の和を、信号Zを伝送する信号線の電位に対して表した図である。FIG. 7 shows the sum of the back gate-gate capacitance of the NMOS transistor 91 and the gate-source capacitance of the NMOS transistor 35 with respect to the potential of the signal line for transmitting the signal Z. 図8は実施例4のパワーアンプ120を示す。FIG. 8 shows a power amplifier 120 of the fourth embodiment. 図9は実施例5のパワーアンプ200を示す図である。FIG. 9 is a diagram illustrating a power amplifier 200 according to the fifth embodiment.

本発明は、以下に説明する実施例に対し、当業者が想到可能な、設計上の変更が加えられたもの、及び、実施例に現れた構成要素の組み換えが行われたものも含む。また、本発明は、その構成要素が同一の作用効果を及ぼす他の構成要素へ置き換えられたもの等も含み、以下の実施例に限定されない。   The present invention includes the embodiments described below that have been modified by the design that can be conceived by those skilled in the art, and those in which the components shown in the embodiments have been recombined. Further, the present invention includes those in which the constituent elements are replaced with other constituent elements having the same operational effects, and are not limited to the following embodiments.

図1はRFトランシーバ(transceiver)10、ディスプレー8、及び、スピーカー9を示す図である。RFトランシーバ10はアンテナ1、フィルター2(filter)、パワーアンプ3(PA:Power Amplifier)、電圧制御発振器4(VCO:Voltage Control Oscillator)、位相ロックループ型周波数同調器5(PLL−FS:Phase lock loop -frequency synthesizer)、ローパスフィルタ6(LPF:low Pass Filter)、ベースバンドLSI7(Baseband LSI)を含む。   FIG. 1 is a view showing an RF transceiver 10, a display 8, and a speaker 9. The RF transceiver 10 includes an antenna 1, a filter 2 (filter), a power amplifier 3 (PA), a voltage controlled oscillator 4 (VCO: Voltage Control Oscillator), and a phase lock loop type frequency tuner 5 (PLL-FS: Phase lock). a loop-frequency synthesizer), a low-pass filter 6 (LPF), and a baseband LSI 7 (Baseband LSI).

ベースバンドLSI7は画像データや音声データ等を表すデータ信号それぞれを、画像信号、音声信号等の無線用の信号に変換し、ローパスフィルタ6へ出力する半導体回路である。
ローパスフィルタ6は画像信号、音声信号の高調波を遮断するフィルターである。
位相ロックループ型周波数同調器5は、内蔵の発振器から発生するクロック信号に、電圧制御発振器4から発生する搬送波を同調する同調器である。
The baseband LSI 7 is a semiconductor circuit that converts data signals representing image data, audio data, and the like into wireless signals such as image signals and audio signals and outputs the signals to the low-pass filter 6.
The low-pass filter 6 is a filter that blocks harmonics of the image signal and the audio signal.
The phase lock loop type frequency tuner 5 is a tuner that tunes a carrier wave generated from the voltage controlled oscillator 4 to a clock signal generated from a built-in oscillator.

電圧制御発振器4は、搬送波を発生するとともに、その搬送波を、ローパスフィルタ6から受けた画像信号、音声信号により変調する回路である。すなわち、電圧制御発振器4は、搬送波を画像信号等により変調するミキサの役割を果たす。
パワーアンプ3は電圧制御発振器4から発生された、変調がかかった搬送波を増幅する増幅器である。
フィルター2は増幅された搬送波から雑音信号を除去するフィルターである。アンテナ1はフィルター2からの変調された搬送波を放射するアンテナである。
The voltage controlled oscillator 4 is a circuit that generates a carrier wave and modulates the carrier wave with an image signal and an audio signal received from the low-pass filter 6. That is, the voltage controlled oscillator 4 serves as a mixer that modulates a carrier wave with an image signal or the like.
The power amplifier 3 is an amplifier that amplifies the modulated carrier wave generated from the voltage controlled oscillator 4.
The filter 2 is a filter that removes a noise signal from the amplified carrier wave. The antenna 1 is an antenna that radiates a modulated carrier wave from the filter 2.

図2はパワーアンプ3を説明する回路図である。パワーアンプ3は、増幅器20、増幅器30、増幅器40、トランス50、58、容量51、52、54、抵抗53、55、56、57、59、及び、容量補正回路60、70を含む。   FIG. 2 is a circuit diagram illustrating the power amplifier 3. The power amplifier 3 includes an amplifier 20, an amplifier 30, an amplifier 40, transformers 50 and 58, capacitors 51, 52 and 54, resistors 53, 55, 56, 57 and 59, and capacitance correction circuits 60 and 70.

入力端子とグランド端子との間に容量51とトランス50の1次側のコイルは直列に接続されている。トランス50の2次側のコイルから出力される相補信号X、/Xを、増幅器20は受け、相補信号Y、/Yを出力する。   The capacitor 51 and the primary coil of the transformer 50 are connected in series between the input terminal and the ground terminal. The amplifier 20 receives the complementary signals X and / X output from the secondary coil of the transformer 50, and outputs the complementary signals Y and / Y.

増幅器20は増幅器20の第1端子及び第2端子間に直列に接続されている抵抗21及び抵抗22、抵抗21と抵抗22が接続されており、電圧Vg1が印加されている接続ノード及びグランド端子との間に接続されている抵抗23、第2端子とNMOSトランジスタ26のゲート電極とに接続する抵抗25、ソースがグランド線とバックゲートに接続するNMOSトランジスタ26、第1端子とNMOSトランジスタ27のゲート電極とに接続する抵抗24、ソースがグランド線とバックゲートに接続するNMOSトランジスタ27、NMOSトランジスタ27のドレインとNMOSトランジスタ26のドレインとを接続し、その中間点において電源線Vddと接続するインダクタンス28とを含む。   The amplifier 20 has a resistor 21 and a resistor 22 connected in series between the first terminal and the second terminal of the amplifier 20, the resistor 21 and the resistor 22 are connected, and a connection node and a ground terminal to which the voltage Vg1 is applied. A resistor 23 connected between the second terminal and the gate electrode of the NMOS transistor 26; an NMOS transistor 26 whose source is connected to the ground line and the back gate; and a first terminal and the NMOS transistor 27 The resistor 24 connected to the gate electrode, the NMOS transistor 27 whose source is connected to the ground line and the back gate, the drain of the NMOS transistor 27 and the drain of the NMOS transistor 26 are connected, and the inductance connected to the power supply line Vdd at the intermediate point 28.

相補信号Y、/Yそれぞれが伝送される信号線に対して、容量52及び抵抗53と、容量54及び抵抗55とは直列に接続される。増幅器30は、上記の容量及び抵抗通過後の相補信号Y、/Yを受けた後、相補信号Z、/Zを出力する。   The capacitor 52 and the resistor 53, and the capacitor 54 and the resistor 55 are connected in series to the signal line through which the complementary signals Y and / Y are transmitted. The amplifier 30 outputs the complementary signals Z and / Z after receiving the complementary signals Y and / Y after passing through the capacitance and the resistance.

増幅器30は増幅器30の第1端子及び第2端子間に直列に接続されている抵抗31及び抵抗32、抵抗31と抵抗32が接続されており、電圧Vg2が印加されている接続ノード及びグランド端子との間に接続されている抵抗33、第2端子とゲート電極とが接続されており、ソースがグランド線とバックゲートに接続するNMOSトランジスタ26、第1端子とゲート電極とが接続されており、ソースがグランド線とバックゲートに接続するNMOSトランジスタ27、NMOSトランジスタ27のドレインとNMOSトランジスタ26のドレインとを接続し、その中間点において電源線Vddと接続するインダクタンス28とを含む。   The amplifier 30 has a resistor 31 and a resistor 32 connected in series between the first terminal and the second terminal of the amplifier 30, the resistor 31 and the resistor 32 are connected, and a connection node and a ground terminal to which the voltage Vg2 is applied. The resistor 33, the second terminal and the gate electrode are connected to each other, the NMOS transistor 26 whose source is connected to the ground line and the back gate, and the first terminal and the gate electrode are connected. The NMOS transistor 27 has a source connected to the ground line and the back gate, the drain of the NMOS transistor 27 is connected to the drain of the NMOS transistor 26, and an inductance 28 is connected to the power supply line Vdd at an intermediate point thereof.

相補信号Z、/Zそれぞれが伝送される信号線に対して、インダクタンス56、57は直列に接続する。増幅器40は、上記のインダクタンスを通過後の相補信号Z、/Zを受けた後、相補信号W、/Wをトランス58の1次側のコイルに出力する。トランス58は抵抗59を介してグランド端子と接続する出力端子に相補信号W、/Wを出力する。なお、増幅器40は、増幅器30と同様な部品を含み、その部品間の接続も同様である。ただし、抵抗31と抵抗32が接続する接続ノードに印加されている電圧は電圧Vg3である。   Inductances 56 and 57 are connected in series to the signal lines through which the complementary signals Z and / Z are transmitted. The amplifier 40 receives the complementary signals Z and / Z after passing through the inductance, and then outputs the complementary signals W and / W to the primary coil of the transformer 58. The transformer 58 outputs complementary signals W and / W to an output terminal connected to the ground terminal via the resistor 59. The amplifier 40 includes the same components as the amplifier 30, and the connection between the components is the same. However, the voltage applied to the connection node where the resistor 31 and the resistor 32 are connected is the voltage Vg3.

容量補正回路60は、相補信号W、/Wの内の信号Wと、相補信号Y、/Yの内の信号Yとを受け、信号Wと信号Yの位相差に応じた容量を、インダクタンス57と増幅器40との接続ノードに付加する回路である。
容量補正回路70は、相補信号W、/Wの内の信号/Wと、相補信号Y、/Yの内の信号/Yとを受け、信号/Wと信号/Yの位相差に応じた容量を、インダクタンス56と増幅器40との接続ノードに付加する回路である。
The capacitance correction circuit 60 receives the signal W of the complementary signals W and / W and the signal Y of the complementary signals Y and / Y, and converts the capacitance according to the phase difference between the signal W and the signal Y into the inductance 57. And a circuit added to the connection node of the amplifier 40.
The capacitance correction circuit 70 receives the signal / W of the complementary signals W and / W and the signal / Y of the complementary signals Y and / Y, and has a capacitance corresponding to the phase difference between the signal / W and the signal / Y. Is added to the connection node between the inductance 56 and the amplifier 40.

容量補正回路60は、位相比較器64、増幅器62、フィルター(filter)63、PMOSトランジスタ61を含む。位相比較器64は信号Wと信号Yとを受け、位相を比較し、その位相差に比例する電圧差を有する相補信号を出力する。増幅器62は位相比較器64が出力する信号の電圧を増幅する。例えば、信号Wと信号Yの位相差は、信号W又は信号Yはクロック信号であるから、その1周期を180度とした場合、マイナス数度からプラス数度程度である。   The capacitance correction circuit 60 includes a phase comparator 64, an amplifier 62, a filter 63, and a PMOS transistor 61. The phase comparator 64 receives the signal W and the signal Y, compares the phases, and outputs a complementary signal having a voltage difference proportional to the phase difference. The amplifier 62 amplifies the voltage of the signal output from the phase comparator 64. For example, since the signal W or the signal Y is a clock signal, the phase difference between the signal W and the signal Y is about minus several degrees to plus several degrees when one period is 180 degrees.

そこで、信号Wと信号Yの位相差を受けて、位相比較器64は信号Yに比較し信号Wが遅れているときには、マイナス数十mV程度の電圧を有し、信号Yに比較し信号Wが進んでいるときには、プラス数十mV程度の電圧を有する相補信号を出力する。そうすると、増幅器62は、その相補信号を受けて、その相補信号の電圧差を増幅するとともに、オフセット電圧を加えて約0.5Vから0.9Vまでの電圧を有する信号をPMOSトランジスタ61のバックゲートに出力する。   Therefore, in response to the phase difference between the signal W and the signal Y, the phase comparator 64 has a voltage of about minus several tens mV when the signal W is delayed compared to the signal Y, and the signal W is compared with the signal Y. Is advanced, a complementary signal having a voltage of about plus several tens mV is output. Then, the amplifier 62 receives the complementary signal, amplifies the voltage difference between the complementary signals, and adds a signal having a voltage of about 0.5 V to 0.9 V by adding an offset voltage to the back gate of the PMOS transistor 61. Output to.

PMOSトランジスタ61は閾値がマイナス0.3V程度であり、ソース、ドレイン、バックゲートをショートしたPMOSトランジスタである。
そうすると、増幅器62から出力される信号が0.5Vから0.9V程度変化するとPMOSトランジスタ61がオンするゲート電圧閾値は0.2Vから0.6V程度まで変化し、さらにゲート電圧が増加してPMOSトランジスタ61がオフし始めると急激に、PMOSトランジスタ61のゲートとソース間の容量は減少することになる。
The PMOS transistor 61 has a threshold value of about minus 0.3 V and is a PMOS transistor whose source, drain, and back gate are short-circuited.
Then, when the signal output from the amplifier 62 changes by about 0.5V to 0.9V, the gate voltage threshold value at which the PMOS transistor 61 is turned on changes from about 0.2V to about 0.6V, and the gate voltage further increases to increase the PMOS. When the transistor 61 starts to turn off, the capacitance between the gate and the source of the PMOS transistor 61 decreases suddenly.

ここで、信号Yに比較し信号Wの位相が遅れているときには、増幅器40のNMOSトランジスタ45のゲートに掛かる電圧が増加したときに、ゲートとソース間の容量が大きくなるように変化すると推測される。そこで、PMOSトランジスタ61のゲートとソース間の容量の減少するタイミングを0.9Vの方向に変化させて遅らせるようにすれば、増幅器40のNMOSトランジスタ45のゲートとソース間の容量が大きくなるように変化することを防止することになる。   Here, when the phase of the signal W is delayed as compared with the signal Y, it is estimated that when the voltage applied to the gate of the NMOS transistor 45 of the amplifier 40 increases, the capacitance between the gate and the source changes. The Therefore, if the timing of decreasing the capacitance between the gate and the source of the PMOS transistor 61 is changed in the direction of 0.9 V and delayed, the capacitance between the gate and the source of the NMOS transistor 45 of the amplifier 40 is increased. It will prevent changes.

一方、信号Yに比較し信号Wの位相が早くなっているときには、増幅器40のNMOSトランジスタ45のゲートに掛かる電圧が増加したときに、ゲートとソース間の容量が小さくなるように変化すると推測される。そこで、そこで、PMOSトランジスタ61のゲートとソース間の容量の減少するタイミングを0.5Vの方向に変化させて早めれば、増幅器40のNMOSトランジスタ45のゲートとソース間の容量が小さくなるように変化することを防止することになる。   On the other hand, when the phase of the signal W is earlier than that of the signal Y, it is estimated that when the voltage applied to the gate of the NMOS transistor 45 of the amplifier 40 increases, the capacitance between the gate and the source changes so as to decrease. The Therefore, if the timing of decreasing the capacitance between the gate and the source of the PMOS transistor 61 is changed in the direction of 0.5 V and advanced, the capacitance between the gate and the source of the NMOS transistor 45 of the amplifier 40 is reduced. It will prevent changes.

従って、増幅器40のNMOSトランジスタ45のオンするタイミングと、PMOSトランジスタ62のオフするタイミングとが、ほぼ一致し、増幅器40のNMOSトランジスタ45の閾値前後で、ゲートとソース間の容量が大きく変化しないように、PMOSトランジスタ62のオフするタイミングが制御される。   Therefore, the timing at which the NMOS transistor 45 of the amplifier 40 is turned on and the timing at which the PMOS transistor 62 is turned off substantially coincide with each other so that the capacitance between the gate and the source does not change greatly before and after the threshold value of the NMOS transistor 45 of the amplifier 40. In addition, the timing for turning off the PMOS transistor 62 is controlled.

図3A、図3Bは容量補正回路60に含まれる位相比較器64及びフィルター63について説明する図である。
図3Aは、位相比較器64の回路図である。位相比較器64は、抵抗641、642、NMOSトランジスタ643、644、645、646、647、648、及び、649を含む。
3A and 3B are diagrams for explaining the phase comparator 64 and the filter 63 included in the capacitance correction circuit 60. FIG.
FIG. 3A is a circuit diagram of the phase comparator 64. The phase comparator 64 includes resistors 641 and 642 and NMOS transistors 643, 644, 645, 646, 647, 648, and 649.

抵抗641と、NMOSトランジスタ643は電源Vddと、NMOSトランジスタ645のドレインとの間に直列に接続されており、NMOSトランジスタ643のゲート電極には、第1入力端子が接続し、その第1入力端子には信号Yが入力されている。
抵抗642と、NMOSトランジスタ644は電源Vddと、NMOSトランジスタ645のドレインとの間に直列に接続されており、NMOSトランジスタ644のゲート電極には第1固定電位が入力されている。
The resistor 641 and the NMOS transistor 643 are connected in series between the power supply Vdd and the drain of the NMOS transistor 645, and the first input terminal is connected to the gate electrode of the NMOS transistor 643. The signal Y is input to.
The resistor 642 and the NMOS transistor 644 are connected in series between the power supply Vdd and the drain of the NMOS transistor 645, and the first fixed potential is input to the gate electrode of the NMOS transistor 644.

NMOSトランジスタ645のソースはNMOSトランジスタ649のドレインと接続されており、ゲート電極は信号Wが入力されている。
NMOSトランジスタ646のドレインは抵抗641と接続するとともに第1出力端子と接続しており、NMOSトランジスタ646のソースは、NMOSトランジスタ648のドレインと接続し、NMOSトランジスタ646のゲート電極はNMOSトランジスタ644のゲート電極と接続するとともに、第1固定電位が入力されている。
The source of the NMOS transistor 645 is connected to the drain of the NMOS transistor 649, and the signal W is input to the gate electrode.
The drain of the NMOS transistor 646 is connected to the resistor 641 and the first output terminal, the source of the NMOS transistor 646 is connected to the drain of the NMOS transistor 648, and the gate electrode of the NMOS transistor 646 is the gate of the NMOS transistor 644. The first fixed potential is input while being connected to the electrode.

NMOSトランジスタ647のドレインは抵抗642と接続するとともに第2出力端子と接続しており、NMOSトランジスタ647のソースは、NMOSトランジスタ648のドレインと接続し、NMOSトランジスタ647のゲート電極は第1入力端子が接続し、その第1入力端子には信号Yが入力されている。   The drain of the NMOS transistor 647 is connected to the resistor 642 and the second output terminal, the source of the NMOS transistor 647 is connected to the drain of the NMOS transistor 648, and the gate electrode of the NMOS transistor 647 has a first input terminal. The signal Y is input to the first input terminal.

NMOSトランジスタ648のソースはNMOSトランジスタ649のドレインと接続されており、ゲート電極には第2固定電位が入力されている。
NMOSトランジスタ649のソースにはグランド電源が接続されており、ゲート電極には第3固定電位を有するバイアスが入力されている。
The source of the NMOS transistor 648 is connected to the drain of the NMOS transistor 649, and the second fixed potential is input to the gate electrode.
A ground power supply is connected to the source of the NMOS transistor 649, and a bias having a third fixed potential is input to the gate electrode.

抵抗641とNMOSトランジスタ646からなる第1電流経路に流れる電流と、抵抗642とNMOSトランジスタ647からなる第2電流経路にに流れる電流の比率は、NMOSトランジスタ644、643へ流れる電流を考慮しない場合、第1の固定電位と、第1入力端子に入力されている相補信号の正信号の電位に応じたものとなる。
ここで、NMOSトランジスタ643による電流経路が上記第1電流経路に、NMOSトランジスタ644による電流経路が上記第2電流経路に、第1入力端子に入力される信号の論理”H”の期間と、第2入力端子に入力される信号の論理”H”の期間とが重なる期間、接続される。また、NMOSトランジスタ643による電流経路には第1入力端子に入力されている相補信号の逆信号の電位に応じた電流がながれ、NMOSトランジスタ644による電流経路には第1の固定電位に応じた電流がながれる。
そうすると、抵抗641と、抵抗642には、NMOSトランジスタ646、NMOSトランジスタ647への電流に加えて、第1入力端子に入力される信号の論理”H”の期間と、第2入力端子に入力される信号の論理”H”の期間とが重なる期間において、NMOSトランジスタ643、NMOSトランジスタ644への電流が流れる。その結果、抵抗641、642の片端の電位は、入力されている相補信号の電位に応じた電位に加えて、第1入力端子に入力される信号と第2入力端子に入力される信号の位相差に応じた電位が加わることになる。
すなわち、第1入力端子に入力されたクロック信号の立ち上がりに対する、第2入力端子に入力されたクロック信号の立ち上がりの位相差に応じて、出力信号の電位が決定される。
When the ratio of the current flowing through the first current path consisting of the resistor 641 and the NMOS transistor 646 and the current flowing through the second current path consisting of the resistor 642 and the NMOS transistor 647 does not consider the current flowing through the NMOS transistors 644 and 643, This corresponds to the first fixed potential and the positive signal potential of the complementary signal input to the first input terminal.
Here, the current path by the NMOS transistor 643 is in the first current path, the current path by the NMOS transistor 644 is in the second current path, and the logic “H” period of the signal input to the first input terminal, The connection is made during a period that overlaps the logic "H" period of the signal input to the two input terminals. Further, a current according to the potential of the reverse signal of the complementary signal input to the first input terminal flows through the current path by the NMOS transistor 643, and a current according to the first fixed potential flows through the current path by the NMOS transistor 644. I can run.
Then, in addition to the current to the NMOS transistor 646 and the NMOS transistor 647, the resistor 641 and the resistor 642 are input to the second input terminal during the logic “H” period of the signal input to the first input terminal. In a period that overlaps with the logic “H” period of the signal, current flows to the NMOS transistor 643 and the NMOS transistor 644. As a result, the potential at one end of the resistors 641 and 642 is the level of the signal input to the first input terminal and the signal input to the second input terminal in addition to the potential corresponding to the potential of the complementary signal being input. A potential corresponding to the phase difference is applied.
That is, the potential of the output signal is determined according to the phase difference of the rising edge of the clock signal input to the second input terminal with respect to the rising edge of the clock signal input to the first input terminal.

図3Bは、フィルター63の例を示す回路図である。フィルター63は、抵抗631、容量632を含む。抵抗631の一端は入力端子の一つと接続し、他端は容量632の一端と第1出力端子に接続している。容量632の他端は第2入力端子と、第2出力端子と接続している。
フィルター63は、入力端子から入力された入力信号に対して、高周波数成分を取り除くフィルター回路である。その結果、フィルター63に入力された信号の直流成分はそのまま通過するが、ノイズ成分は除去される。
FIG. 3B is a circuit diagram illustrating an example of the filter 63. The filter 63 includes a resistor 631 and a capacitor 632. One end of the resistor 631 is connected to one of the input terminals, and the other end is connected to one end of the capacitor 632 and the first output terminal. The other end of the capacitor 632 is connected to the second input terminal and the second output terminal.
The filter 63 is a filter circuit that removes a high-frequency component from an input signal input from an input terminal. As a result, the DC component of the signal input to the filter 63 passes as it is, but the noise component is removed.

図4は、パワーアンプ3に容量補正回路60が接続するノードの容量の変化を示す図である。パワーアンプ3に容量補正回路60が接続するノードには、パワーアンプ3のPMOSトランジスタ61のゲート及びNMOSトランジスタ45のゲートが接続している。
図4には、NMOSトランジスタ35のゲート−ソース間容量(Cgs)、PMOSトランジスタ61のゲート−ソース間容量(Cgs)の変化をパワーアンプ3に容量補正回路60が接続するノードの電位に対して示されている。また、NMOSトランジスタ45のゲート−ソース間容量(Cgs)、PMOSトランジスタ61のゲート−ソース間容量(Cgs)の総和も、ノードの電位に対して示されている。
FIG. 4 is a diagram showing a change in capacitance of a node where the capacitance correction circuit 60 is connected to the power amplifier 3. The node of the power amplifier 3 connected to the capacitance correction circuit 60 is connected to the gate of the PMOS transistor 61 and the gate of the NMOS transistor 45 of the power amplifier 3.
FIG. 4 shows changes in the gate-source capacitance (Cgs) of the NMOS transistor 35 and the gate-source capacitance (Cgs) of the PMOS transistor 61 with respect to the potential of the node where the capacitance correction circuit 60 is connected to the power amplifier 3. It is shown. Further, the sum of the gate-source capacitance (Cgs) of the NMOS transistor 45 and the gate-source capacitance (Cgs) of the PMOS transistor 61 is also shown with respect to the node potential.

NMOSトランジスタ45のゲート−ソース間容量(Cgs)は、ノードの電位が0V付近であるときに4.0E−13ファラッド程度であり、ノードの電位が0.3V付近に向けて2.5E−13ファラッド程度まで減少する。その後、0.3V付近にあるNMOSトランジスタ45の閾値を超えると急激に上昇し、ノード電位が0.4V付近になると、4.0E−13ファラッド程度になる。その後は、ノード電位が増加するに従って、緩やかに5.0E−13ファラッド程度まで上昇する。   The gate-source capacitance (Cgs) of the NMOS transistor 45 is about 4.0E-13 Farad when the node potential is around 0V, and 2.5E-13 toward the node potential near 0.3V. Decreases to about Farad. After that, when the threshold value of the NMOS transistor 45 near 0.3V is exceeded, it rapidly rises, and when the node potential becomes around 0.4V, it becomes about 4.0E-13 Farad. Thereafter, it gradually rises to about 5.0E-13 Farad as the node potential increases.

PMOSトランジスタ61のゲート−ソース間容量(Cgs)は、ノードの電位が0V付近であるときに5.0E−13ファラッド程度であり、ノードの電位が2.5V付近まではそれ程変化せず、5.0E−13ファラッド程度である。その後、ノードの電位が2.5Vを超えて、2.5V付近にあるPMOSトランジスタ61の閾値を超えると、急激にゲート−ソース間容量(Cgs)は減少し、ノード電位が0.3V付近になると3.5E−13ファラッドまで減少する。なお、PMOSトランジスタ61の閾値が、シフトしていくと、PMOSトランジスタ61の容量が急激に減少する点もシフトする。   The gate-source capacitance (Cgs) of the PMOS transistor 61 is about 5.0E-13 Farad when the node potential is around 0V, and does not change so much until the node potential is around 2.5V. About 0E-13 Farad. After that, when the potential of the node exceeds 2.5V and exceeds the threshold value of the PMOS transistor 61 near 2.5V, the gate-source capacitance (Cgs) decreases rapidly, and the node potential becomes near 0.3V. It will decrease to 3.5E-13 Farad. As the threshold value of the PMOS transistor 61 shifts, the point at which the capacitance of the PMOS transistor 61 rapidly decreases also shifts.

PMOSトランジスタ61のゲート−ソース間容量(Cgs)と、NMOSトランジスタ45のゲート−ソース間容量(Cgs)との和(ほぼノードの容量に等しい)は、ノードの電位が0V付近であるときに1.5E−12ファラッド程度であり、ノードの電位が0.3V付近に向けて8.5E−13ファラッド程度まで減少する。ノードの電位が0.3Vから0.4Vまで上昇するとき、NMOSトランジスタ45のゲート−ソース間容量(Cgs)は急激に上昇し、PMOSトランジスタ61のゲート−ソース間容量(Cgs)は急激に減少する。従って、ノードの電位が0.3Vから0.4Vまで上昇するとき、それらの和(ほぼノードの容量)は急激な変化をせず、8.5E−13ファラッドから8.0E−13ファラッドに変化する。さらに、ノードの電位が0.4Vから0.6Vまで上昇しても、それらの和(ほぼノードの容量)は8.0E−13ファラッドのままである。その後、ノードの電位が0.6Vから0.7Vまでの間に、それらの和(ほぼノードの容量)は微増する。   The sum of the gate-source capacitance (Cgs) of the PMOS transistor 61 and the gate-source capacitance (Cgs) of the NMOS transistor 45 (substantially equal to the node capacitance) is 1 when the node potential is near 0V. About 5E-12 Farad, and the potential of the node decreases to about 8.5E-13 Farad toward 0.3V. When the node potential rises from 0.3 V to 0.4 V, the gate-source capacitance (Cgs) of the NMOS transistor 45 rises rapidly, and the gate-source capacitance (Cgs) of the PMOS transistor 61 sharply decreases. To do. Therefore, when the potential of the node rises from 0.3 V to 0.4 V, the sum (almost the capacity of the node) does not change abruptly and changes from 8.5E-13 Farad to 8.0E-13 Farad. To do. Furthermore, even if the potential of the node rises from 0.4 V to 0.6 V, their sum (almost the capacity of the node) remains 8.0E-13 Farad. After that, while the potential of the node is from 0.6V to 0.7V, their sum (approximately the capacitance of the node) slightly increases.

ここで、PMOSトランジスタ61の閾値が、容量補正回路60の動作によって、0.25V程度から0.35V程度へ変更されると、ノード電位が0.3Vから0.4Vまでの範囲において、PMOSトランジスタ61のゲート−ソース間容量(Cgs)と、NMOSトランジスタ45のゲート−ソース間容量(Cgs)との和は斜め方向を示す黒矢印が示すように変化する。なお、パワーアンプ3に対する回路シミレーションの結果、黒三角の頂点で示した線で表されるように、PMOSトランジスタ61のゲート−ソース間容量(Cgs)と、NMOSトランジスタ35のゲート−ソース間容量(Cgs)との和が変化する場合に、信号Yと信号Wの位相差が最小となることがわかっている。従って、容量補正回路60は、位相差が最小となるように、PMOSトランジスタ61のバックゲート電位を制御する。   Here, if the threshold value of the PMOS transistor 61 is changed from about 0.25 V to about 0.35 V by the operation of the capacitance correction circuit 60, the PMOS transistor 61 has a node potential in the range from 0.3 V to 0.4 V. The sum of the gate-source capacitance (Cgs) 61 and the gate-source capacitance (Cgs) of the NMOS transistor 45 changes as indicated by the black arrow indicating the oblique direction. As a result of circuit simulation for the power amplifier 3, the gate-source capacitance (Cgs) of the PMOS transistor 61 and the gate-source capacitance of the NMOS transistor 35 are represented by the line indicated by the vertex of the black triangle. It has been found that the phase difference between signal Y and signal W is minimized when the sum of (Cgs) changes. Accordingly, the capacitance correction circuit 60 controls the back gate potential of the PMOS transistor 61 so that the phase difference is minimized.

実施例1では、PMOSトランジスタ61の閾値を相補信号Yと相補信号Wの位相差に応じて、位相差が最小となるように調整している。そうすると、ゲート電位の上昇とともにNMOSトランジスタ45のゲートとソース間の容量はその閾値付近で急激に上昇するが、PMOSトランジスタ61のゲートとソース間の容量は、同様な電位点において、急激に減少するので、NMOSトランジスタ45のゲートとソース間の容量とPMOSトランジスタ61のゲートとソース間の容量の和はほぼ一定となる。すなわち、NMOSトランジスタ45のゲートとPMOSトランジスタ61のゲートが接続するノードの容量はほぼ一定となる。 In the first embodiment, the threshold value of the PMOS transistor 61 is adjusted according to the phase difference between the complementary signal Y and the complementary signal W so as to minimize the phase difference. Then, as the gate potential rises, the capacitance between the gate and the source of the NMOS transistor 45 rapidly increases near the threshold value, but the capacitance between the gate and the source of the PMOS transistor 61 rapidly decreases at a similar potential point. Therefore, the sum of the capacitance between the gate and source of the NMOS transistor 45 and the capacitance between the gate and source of the PMOS transistor 61 is substantially constant. That is, the capacitance of the node connecting the gate of the NMOS transistor 45 and the gate of the PMOS transistor 61 is substantially constant.

その結果、相補信号Yと相補信号Wの位相を比較して、その位相差を低減するように、PMOSトランジスタ61のソース−ドレイン間容量の変化点を調整すれば、NMOSトランジスタ45のゲートとソース間の容量変化は補償される。   As a result, by comparing the phase of the complementary signal Y and the complementary signal W and adjusting the change point of the source-drain capacitance of the PMOS transistor 61 so as to reduce the phase difference, the gate and source of the NMOS transistor 45 are adjusted. Capacitance changes between are compensated.

上記の増幅回路(パワーアンプ3)においては、NMOSトランジスタ45のゲート・ソース間容量はほぼ一定となり、パワーアンプ3の入力信号の位相に対する出力信号の位相差が減少し、隣接チャネル漏洩比率(ACPR)が改善する。   In the above amplifier circuit (power amplifier 3), the gate-source capacitance of the NMOS transistor 45 becomes substantially constant, the phase difference of the output signal with respect to the phase of the input signal of the power amplifier 3 decreases, and the adjacent channel leakage ratio (ACPR) ) Will improve.

上記の送信回路(RFレシーバ10)においては、増幅回路(パワーアンプ3)を使用しているため、搬送波を送信する際に、隣接チャネル漏洩比率(ACPR)が改善する。   Since the transmission circuit (RF receiver 10) uses the amplification circuit (power amplifier 3), the adjacent channel leakage ratio (ACPR) is improved when a carrier wave is transmitted.

図5は実施例2のパワーアンプ80を示す。パワーアンプ80は、増幅器20、増幅器30、増幅器40、トランス50、58、及び、容量補正回路60、70を含む。ただし、容量補正回路60、70の接続点が増幅器20と増幅器30の間である点で、パワーアンプ3とは異なる。すなわち、実施例2のパワーアンプ80は実施例1のパワーアンプ3の変形例である。   FIG. 5 shows a power amplifier 80 according to the second embodiment. The power amplifier 80 includes an amplifier 20, an amplifier 30, an amplifier 40, transformers 50 and 58, and capacitance correction circuits 60 and 70. However, it differs from the power amplifier 3 in that the connection point between the capacity correction circuits 60 and 70 is between the amplifier 20 and the amplifier 30. That is, the power amplifier 80 of the second embodiment is a modification of the power amplifier 3 of the first embodiment.

容量補正回路60、70の動作は、実施例1において説明したように動作する。そうすると、容量補正回路60、70によって、容量の補正が行われるノードは、増幅器30のNMOSトランジスタ35のゲート及びNMOSトランジスタ34のゲートとなる。   The operations of the capacitance correction circuits 60 and 70 operate as described in the first embodiment. Then, the nodes whose capacitance is corrected by the capacitance correction circuits 60 and 70 become the gate of the NMOS transistor 35 and the gate of the NMOS transistor 34 of the amplifier 30.

その結果、増幅器30のNMOSトランジスタ35のゲートーソース間の容量は相補信号Yに電位の変動があっても、ほぼ一定の値となる。そうすると、パワーアンプ80の入力信号の位相に対する出力信号の位相の変化が減少し、隣接チャネル漏洩比率(ACPR)が改善する。   As a result, the capacitance between the gate and the source of the NMOS transistor 35 of the amplifier 30 becomes a substantially constant value even if the potential of the complementary signal Y varies. Then, the change in the phase of the output signal with respect to the phase of the input signal of the power amplifier 80 is reduced, and the adjacent channel leakage ratio (ACPR) is improved.

図6は実施例3のパワーアンプ100を示す。パワーアンプ100は、増幅器20、増幅器30、増幅器40、トランス50、58、及び、容量補正回路90、95を含む。
増幅器20、増幅器30、増幅器40、及び、トランス50、58は実施例1で説明した回路と同様なものであるため、説明を省略する。
FIG. 6 shows a power amplifier 100 according to the third embodiment. The power amplifier 100 includes an amplifier 20, an amplifier 30, an amplifier 40, transformers 50 and 58, and capacitance correction circuits 90 and 95.
Since the amplifier 20, the amplifier 30, the amplifier 40, and the transformers 50 and 58 are similar to the circuit described in the first embodiment, the description thereof is omitted.

パワーアンプ100の入力端子はトランス50に接続し、トランス50は増幅器20に接続する。増幅器20は増幅器30に接続し、増幅器40に接続する。増幅器40はトランス58に接続し、トランス58はパワーアンプ100の出力端子に接続する。   The input terminal of the power amplifier 100 is connected to the transformer 50, and the transformer 50 is connected to the amplifier 20. The amplifier 20 is connected to the amplifier 30 and is connected to the amplifier 40. The amplifier 40 is connected to the transformer 58, and the transformer 58 is connected to the output terminal of the power amplifier 100.

容量補正回路90はNMOSトランジスタ91、抵抗92、及び、抵抗93を含む。抵抗92はNMOSトランジスタ91のバックゲートとソースとの間に接続されている。抵抗93はNMOSトランジスタ91のバックゲートとドレインとの間に接続されている。
NMOSトランジスタ91のゲートはバイアス電源と接続されている。バイアス電源の電圧は、NMOSトランジスタ91の閾値の2倍の電圧である。NMOSトランジスタ91のバックゲートは増幅器30から増幅器40へ出力される相補信号Zの信号Zを伝送する信号線に接続される。なお、信号Zを伝送する信号線は増幅器40のNMOSトランジスタ45のゲートに接続している。
The capacitance correction circuit 90 includes an NMOS transistor 91, a resistor 92, and a resistor 93. The resistor 92 is connected between the back gate and the source of the NMOS transistor 91. The resistor 93 is connected between the back gate and the drain of the NMOS transistor 91.
The gate of the NMOS transistor 91 is connected to a bias power source. The voltage of the bias power supply is twice the threshold voltage of the NMOS transistor 91. The back gate of the NMOS transistor 91 is connected to a signal line that transmits the signal Z of the complementary signal Z output from the amplifier 30 to the amplifier 40. A signal line for transmitting the signal Z is connected to the gate of the NMOS transistor 45 of the amplifier 40.

容量補正回路95はNMOSトランジスタ96、抵抗97、及び、抵抗98を含む。抵抗96はNMOSトランジスタ95のバックゲートとソースとの間に接続されている。抵抗97はNMOSトランジスタ95のバックゲートとドレインとの間に接続されている。
NMOSトランジスタ95のゲートはバイアス電源と接続されている。バイアス電源の電圧は、NMOSトランジスタ95の閾値の2倍の電圧である。NMOSトランジスタ95のバックゲートは増幅器30から増幅器40へ出力される相補信号Zの信号/Zを伝送する信号線に接続される。なお、信号/Zを伝送する信号線は増幅器40のNMOSトランジスタ44のゲートに接続している。
The capacitance correction circuit 95 includes an NMOS transistor 96, a resistor 97, and a resistor 98. The resistor 96 is connected between the back gate and the source of the NMOS transistor 95. The resistor 97 is connected between the back gate and the drain of the NMOS transistor 95.
The gate of the NMOS transistor 95 is connected to a bias power source. The voltage of the bias power supply is a voltage twice the threshold value of the NMOS transistor 95. The back gate of the NMOS transistor 95 is connected to a signal line that transmits the signal / Z of the complementary signal Z output from the amplifier 30 to the amplifier 40. A signal line for transmitting the signal / Z is connected to the gate of the NMOS transistor 44 of the amplifier 40.

図7はNMOSトランジスタ91のバックゲート−ゲート間の容量と、NMOSトランジスタ35のゲート−ソース間の容量の和を、信号Zを伝送する信号線の電位に対して表した図である。
図7において、点線は実施例1で示したPMOSトランジスタ61のゲート−ソース間の容量とNMOSトランジスタ45のゲート−ソース間の容量の和の、信号線の電位に対する変化を示したものである。実線はNMOSトランジスタ91のバックゲート−ゲート間の容量と、NMOSトランジスタ45のゲート−ソース間の容量の和の、信号線の電位に対する変化を示したものである。
FIG. 7 shows the sum of the back gate-gate capacitance of the NMOS transistor 91 and the gate-source capacitance of the NMOS transistor 35 with respect to the potential of the signal line for transmitting the signal Z.
In FIG. 7, the dotted line shows the change of the sum of the gate-source capacitance of the PMOS transistor 61 and the gate-source capacitance of the NMOS transistor 45 shown in the first embodiment with respect to the potential of the signal line. The solid line shows the change of the sum of the back gate-gate capacitance of the NMOS transistor 91 and the gate-source capacitance of the NMOS transistor 45 with respect to the potential of the signal line.

図7の実線と点線の対比からわかるように、PMOSトランジスタ61のゲート−ソース間の容量とNMOSトランジスタ45のゲート−ソース間の容量の和と、NMOSトランジスタ91のバックゲート−ゲート間の容量と、NMOSトランジスタ45のゲート−ソース間の容量の和とは同様な変化を示す。その理由は以下である。
まず、NMOSトランジスタ91のバックゲートに印加されている電圧を増加させると、NMOSトランジスタ91の閾値は大きくなる方向にシフトする。従って、NMOSトランジスタ91のゲートに印加されているバイアス電圧をNMOSトランジスタ91の閾値が超えると、NMOSトランジスタ91のバックゲート−ゲート間の容量は急激に減少することになる。すなわち、NMOSトランジスタ91のバックゲート−ゲート間の容量のバックゲート電圧依存性は、PMOSトランジスタ61のゲート−ソース間の容量のゲート電圧依存性と同様である。従って、上記のような結論となる。
As can be seen from the comparison between the solid line and the dotted line in FIG. 7, the sum of the capacitance between the gate and the source of the PMOS transistor 61 and the capacitance between the gate and the source of the NMOS transistor 45, and the capacitance between the back gate and the gate of the NMOS transistor 91. The sum of the capacitance between the gate and the source of the NMOS transistor 45 shows the same change. The reason is as follows.
First, when the voltage applied to the back gate of the NMOS transistor 91 is increased, the threshold value of the NMOS transistor 91 is shifted in the direction of increasing. Therefore, when the threshold voltage of the NMOS transistor 91 exceeds the bias voltage applied to the gate of the NMOS transistor 91, the capacitance between the back gate and the gate of the NMOS transistor 91 decreases rapidly. That is, the back gate voltage dependency of the capacitance between the back gate and the gate of the NMOS transistor 91 is the same as the gate voltage dependency of the capacitance between the gate and the source of the PMOS transistor 61. Therefore, the above conclusion is reached.

ところで、容量補正回路90において、抵抗92、93を増加させると、図7の太線矢印のように、NMOSトランジスタ91のバックゲート電圧を増加させた場合において、NMOSトランジスタ91のバックゲート−ゲート間の容量とNMOSトランジスタ45のゲート−ソース間の容量の和の増加が抑制される。抵抗92、93の抵抗値が高くなることによって、バックゲート電圧が高い領域において、電荷の移動が抑制されるため、容量の増加も抑制されるものと推定される。   By the way, when the resistors 92 and 93 are increased in the capacitance correction circuit 90, when the back gate voltage of the NMOS transistor 91 is increased as shown by the thick arrows in FIG. An increase in the sum of the capacitance and the capacitance between the gate and the source of the NMOS transistor 45 is suppressed. By increasing the resistance values of the resistors 92 and 93, it is presumed that the movement of charges is suppressed in a region where the back gate voltage is high, so that an increase in capacitance is also suppressed.

以上より、実施例3のパワーアンプ100においても、実施例1のパワーアンプ3と同様な効果が生じる。
実施例1では、NMOSトランジスタ45の急激な容量変化を補正するため、PMOSトランジスタ61を使用しているが、実施例3ではNMOSトランジスタ91を使用している。そうすると、NMOSトランジスタ45の閾値と、NMOSトランジスタ91の閾値はプロセスがばらついても、同じNMOSトランジスタ同士なため、同一方向にばらつく。その結果、NMOSトランジスタ91のゲート電極に印加されるバイアスは一定値であったとしても、NMOSトランジスタ45の容量が急激に変化する点と、NMOSトランジスタ91の容量が急激に変化する点とのずれは小さく抑えられると推定される。
As described above, also in the power amplifier 100 of the third embodiment, the same effect as that of the power amplifier 3 of the first embodiment is produced.
In the first embodiment, the PMOS transistor 61 is used to correct a sudden capacitance change of the NMOS transistor 45, but in the third embodiment, the NMOS transistor 91 is used. Then, even if the process varies, the threshold value of the NMOS transistor 45 and the threshold value of the NMOS transistor 91 are in the same direction because they are the same NMOS transistor. As a result, even if the bias applied to the gate electrode of the NMOS transistor 91 is a constant value, the difference between the point where the capacitance of the NMOS transistor 45 changes suddenly and the point where the capacitance of the NMOS transistor 91 changes suddenly. Is estimated to be small.

しかし、次の実施例4に示すように、相補信号Yと相補信号Wの位相を比較して、その位相差によって、バイアスを制御すれば、さらにNMOSトランジスタ91のバックゲート−ゲート間の容量とNMOSトランジスタ45のゲート−ソース間の容量の和に、急激な変化が生じることを防止することができる。   However, as shown in the fourth embodiment, if the phases of the complementary signal Y and the complementary signal W are compared and the bias is controlled by the phase difference, the capacitance between the back gate and the gate of the NMOS transistor 91 can be further increased. It is possible to prevent an abrupt change from occurring in the sum of the capacitance between the gate and source of the NMOS transistor 45.

図8は、実施例4のパワーアンプ120を示す。パワーアンプ120は、増幅器20、増幅器30、増幅器40、トランス50、58、及び、容量補正回路105、115を含む。
増幅器20、増幅器30、増幅器40、及び、トランス50、58は実施例1で説明した回路と同様なものであるため、説明を省略する。
パワーアンプ120の入力端子はトランス50に接続し、トランス50は増幅器20に接続する。増幅器20は増幅器30に接続し、増幅器40に接続する。増幅器40はトランス58に接続し、トランス58はパワーアンプ100の出力端子に接続する。
FIG. 8 illustrates a power amplifier 120 according to the fourth embodiment. The power amplifier 120 includes an amplifier 20, an amplifier 30, an amplifier 40, transformers 50 and 58, and capacitance correction circuits 105 and 115.
Since the amplifier 20, the amplifier 30, the amplifier 40, and the transformers 50 and 58 are similar to the circuit described in the first embodiment, the description thereof is omitted.
The input terminal of the power amplifier 120 is connected to the transformer 50, and the transformer 50 is connected to the amplifier 20. The amplifier 20 is connected to the amplifier 30 and is connected to the amplifier 40. The amplifier 40 is connected to the transformer 58, and the transformer 58 is connected to the output terminal of the power amplifier 100.

容量補正回路105はNMOSトランジスタ106、抵抗107、抵抗108、増幅器109、フィルタ110、及び、位相比較器111を含む。抵抗107はNMOSトランジスタ106のバックゲートとソースとの間に接続されている。抵抗108はNMOSトランジスタ106のバックゲートとドレインとの間に接続されている。
位相比較器111は、増幅器20から出力される相補信号の内の信号Yと、増幅器40から出力される相補信号の内の信号Wとの位相を比較し、位相差に応じた電圧を出力する。フィルタ110は位相比較器111からの信号のノイズを遮断するフィルタである。増幅器109はフィルタ110からの出力を増幅し、NMOSトランジスタ106のゲートへバイアス電圧を出力する。なお、バイアス電圧はNMOSトランジスタ106の閾値の2倍の電圧を中心として大小にふれる電圧値である。NMOSトランジスタ106のゲートは増幅器109と接続されている。
NMOSトランジスタ106のバックゲートは増幅器30から増幅器40へ出力される相補信号の内の信号Zを伝送する信号線に接続される。なお、信号Zを伝送する信号線は増幅器40のNMOSトランジスタ45のゲートに接続している。
The capacitance correction circuit 105 includes an NMOS transistor 106, a resistor 107, a resistor 108, an amplifier 109, a filter 110, and a phase comparator 111. The resistor 107 is connected between the back gate and the source of the NMOS transistor 106. The resistor 108 is connected between the back gate and the drain of the NMOS transistor 106.
The phase comparator 111 compares the phases of the signal Y in the complementary signal output from the amplifier 20 and the signal W in the complementary signal output from the amplifier 40, and outputs a voltage corresponding to the phase difference. . The filter 110 is a filter that blocks noise of the signal from the phase comparator 111. The amplifier 109 amplifies the output from the filter 110 and outputs a bias voltage to the gate of the NMOS transistor 106. Note that the bias voltage is a voltage value that varies in magnitude around a voltage that is twice the threshold value of the NMOS transistor 106. The gate of the NMOS transistor 106 is connected to the amplifier 109.
The back gate of the NMOS transistor 106 is connected to a signal line for transmitting the signal Z among the complementary signals output from the amplifier 30 to the amplifier 40. A signal line for transmitting the signal Z is connected to the gate of the NMOS transistor 45 of the amplifier 40.

容量補正回路115はNMOSトランジスタ116、抵抗117、抵抗118、増幅器119、フィルタ120、及び、位相比較器121を含む。抵抗117はNMOSトランジスタ116のバックゲートとソースとの間に接続されている。抵抗118はNMOSトランジスタ116のバックゲートとドレインとの間に接続されている。
位相比較器121は、増幅器20から出力される相補信号の内の信号/Yと、増幅器40から出力される相補信号の内の信号/Wとの位相を比較し、位相差に応じた電圧を出力する。フィルタ120は位相比較器121からの信号のノイズを遮断するフィルタである。増幅器119はフィルタ120からの出力を増幅し、NMOSトランジスタ119のゲートへバイアス電圧を出力する。なお、バイアス電圧はNMOSトランジスタ119の閾値の2倍の電圧を中心として大小にふれる電圧値である。NMOSトランジスタ116のゲートは増幅器119と接続されている。
The capacitance correction circuit 115 includes an NMOS transistor 116, a resistor 117, a resistor 118, an amplifier 119, a filter 120, and a phase comparator 121. The resistor 117 is connected between the back gate and the source of the NMOS transistor 116. The resistor 118 is connected between the back gate and the drain of the NMOS transistor 116.
The phase comparator 121 compares the phase of the signal / Y in the complementary signal output from the amplifier 20 with the signal / W in the complementary signal output from the amplifier 40, and outputs a voltage corresponding to the phase difference. Output. The filter 120 is a filter that blocks signal noise from the phase comparator 121. The amplifier 119 amplifies the output from the filter 120 and outputs a bias voltage to the gate of the NMOS transistor 119. Note that the bias voltage is a voltage value that varies in magnitude around a voltage that is twice the threshold value of the NMOS transistor 119. The gate of the NMOS transistor 116 is connected to the amplifier 119.

NMOSトランジスタ116のバックゲートは増幅器30から増幅器40へ出力される相補信号の内の信号/Zを伝送する信号線に接続される。なお、信号/Zを伝送する信号線は増幅器40のNMOSトランジスタ44のゲートに接続している。   The back gate of the NMOS transistor 116 is connected to a signal line for transmitting a signal / Z among complementary signals output from the amplifier 30 to the amplifier 40. A signal line for transmitting the signal / Z is connected to the gate of the NMOS transistor 44 of the amplifier 40.

実施例4のパワーアンプ120によれば、NMOSトランジスタ106、116には約閾値の2倍のバイアス電圧が印加されているため、実施例3のパワーアンプ100と同様な効果を生じる。さらに、実施例4のパワーアンプ120では、そのバイアス電圧がNMOSトランジスタ106、116の閾値の2倍の電圧を中心として相補信号Yと相補信号Wの位相差に応じて大小する。従って、NMOSトランジスタ106、116のバックゲート−ゲート間の容量が急激に変化する点と、NMOSトランジスタ45、44のゲート−ソース間の容量が急激に変化する点を一致させることができ、実施例3のパワーアンプ100におけるよりもさらにNMOSトランジスタ106、116のバックゲート−ゲート間の容量とNMOSトランジスタ35、34のゲート−ソース間の容量の和に急激な変化を生じることを防止することができる。   According to the power amplifier 120 of the fourth embodiment, a bias voltage that is approximately twice the threshold value is applied to the NMOS transistors 106 and 116, and thus the same effect as that of the power amplifier 100 of the third embodiment is produced. Further, in the power amplifier 120 according to the fourth embodiment, the bias voltage is increased or decreased according to the phase difference between the complementary signal Y and the complementary signal W with a voltage that is twice the threshold value of the NMOS transistors 106 and 116 as the center. Therefore, the point at which the capacitance between the back gate and the gate of the NMOS transistors 106 and 116 changes abruptly can be matched with the point at which the capacitance between the gate and the source of the NMOS transistors 45 and 44 changes abruptly. It is possible to prevent a sudden change in the sum of the back gate-gate capacitances of the NMOS transistors 106 and 116 and the gate-source capacitances of the NMOS transistors 35 and 34 as compared with the third power amplifier 100. .

図9は実施例5のパワーアンプ200を示す図である。パワーアンプ200は増幅器210、220、230、容量補正器240、発振器201、トランス202、トランス203、容量204、205、インダクタンス206、容量207、トランス208、及び、抵抗209を含む。   FIG. 9 is a diagram illustrating a power amplifier 200 according to the fifth embodiment. The power amplifier 200 includes amplifiers 210, 220 and 230, a capacity corrector 240, an oscillator 201, a transformer 202, a transformer 203, capacitors 204 and 205, an inductance 206, a capacitor 207, a transformer 208, and a resistor 209.

発振器201は搬送波を発生する回路である。トランス202は発振器201から出力された搬送波を増幅器210へ伝達するトランスである。   The oscillator 201 is a circuit that generates a carrier wave. The transformer 202 is a transformer that transmits the carrier wave output from the oscillator 201 to the amplifier 210.

増幅器210は搬送波を増幅し、増幅器220へ出力する増幅器である。増幅器220は搬送波を増幅し、増幅器230へ出力する増幅器である。増幅器230はインダクタンス206へ増幅した搬送波を出力する増幅器である。インダクタンス206は容量207へ信号を伝達するインダクタンスである。容量207はトランス208へ信号を出力する。   The amplifier 210 amplifies the carrier wave and outputs it to the amplifier 220. The amplifier 220 amplifies the carrier wave and outputs it to the amplifier 230. The amplifier 230 is an amplifier that outputs the amplified carrier wave to the inductance 206. An inductance 206 is an inductance that transmits a signal to the capacitor 207. The capacitor 207 outputs a signal to the transformer 208.

容量204は増幅器230とインダクタンス206間のノードと共通線203あとに接続する容量である。容量205はインダクタンス206と容量207間のノードと共通線203aとに接続する容量である。トランス203bは共通線203aとグランド線とを接続するトランスである。   The capacitor 204 is a capacitor connected to the node between the amplifier 230 and the inductance 206 and the common line 203. The capacitor 205 is a capacitor connected to the node between the inductance 206 and the capacitor 207 and the common line 203a. The transformer 203b is a transformer that connects the common line 203a and the ground line.

容量補正器240は増幅器210から出力される信号と、増幅器230から出力される信号とを受け、双方の信号の位相を比較を行い、双方の信号の位相差に応じた容量を、増幅器220と増幅器230との間のノードに接続する。容量補正器240は位相比較器244、フィルタ243、増幅器242、PMOSトランジスタ241を含み、それらは、実施例1の位相比較器64、増幅器62、フィルター63、PMOSトランジスタ61と同様なものであり、説明を省く。   The capacity corrector 240 receives the signal output from the amplifier 210 and the signal output from the amplifier 230, compares the phase of both signals, and sets the capacity according to the phase difference between the two signals to that of the amplifier 220. Connect to node between amplifier 230. The capacitance corrector 240 includes a phase comparator 244, a filter 243, an amplifier 242, and a PMOS transistor 241, which are the same as the phase comparator 64, the amplifier 62, the filter 63, and the PMOS transistor 61 of the first embodiment. Omit the explanation.

増幅器210は容量211、抵抗212、NMOSトランジスタ213、インダクタンス214を含む。増幅器210の入力端子は容量211の一端と接続する。容量211の他端は、抵抗212の一端と、NMOSトランジスタ213のゲートと接続する。抵抗212の他端はバイアスと接続する。NMOSトランジスタ213のソースは共通線203aと接続し、ドレインはインダクダンス214の一端及び出力端子と接続する。インダクタンス214の他端は電源線と接続する。増幅器210は入力端子より入力された単層の入力信号をNMOSトランジスタ213によって増幅して出力端子より増幅した信号を出力する。   The amplifier 210 includes a capacitor 211, a resistor 212, an NMOS transistor 213, and an inductance 214. The input terminal of the amplifier 210 is connected to one end of the capacitor 211. The other end of the capacitor 211 is connected to one end of the resistor 212 and the gate of the NMOS transistor 213. The other end of the resistor 212 is connected to a bias. The source of the NMOS transistor 213 is connected to the common line 203a, and the drain is connected to one end of the inductance 214 and the output terminal. The other end of the inductance 214 is connected to the power line. The amplifier 210 amplifies the single layer input signal input from the input terminal by the NMOS transistor 213 and outputs the amplified signal from the output terminal.

増幅器220は増幅器210と同様な増幅器である。また、増幅器230は、増幅器230と同様な増幅器であるが、ただし、入力端子と接続する、バイアスと接続する抵抗212及び容量211とが、増幅器230には含まれていない。

以上より、実施例5のパワーアンプ200は、単層搬送波を増幅するパワーアンプ200である。そして、増幅器220と増幅器230間の容量を補正する容量補正器240が接続されているため、実施例1のパワーアンプ3と同様に、増幅器220から増幅器23への出力信号の電位が変化しても、増幅器220と増幅器230間の容量の信号線の容量の変化を抑えることができる。
The amplifier 220 is an amplifier similar to the amplifier 210. The amplifier 230 is an amplifier similar to the amplifier 230 except that the amplifier 230 does not include the resistor 212 and the capacitor 211 connected to the bias, which are connected to the input terminal.

As described above, the power amplifier 200 according to the fifth embodiment is the power amplifier 200 that amplifies the single layer carrier wave. Since the capacity corrector 240 for correcting the capacity between the amplifier 220 and the amplifier 230 is connected, the potential of the output signal from the amplifier 220 to the amplifier 23 changes as in the power amplifier 3 of the first embodiment. In addition, it is possible to suppress a change in the capacitance of the signal line between the amplifier 220 and the amplifier 230.

本発明によれば、隣接チャネル漏洩比率(ACPR)が改善された増幅回路を提供することができる。   According to the present invention, an amplifier circuit having an improved adjacent channel leakage ratio (ACPR) can be provided.

1 アンテナ
2 フィルター
3、80、100、120、200 パワーアンプ
4 VCO
5 PLL−FS
6 LPF
7 ベースバンドLSI
8 ディスプレー
9 スピーカー
10 RFトランシーバー
20、30、40、210、220、230 増幅器
60、70、90、95、105、115、240 容量補正回路
1 Antenna 2 Filter 3, 80, 100, 120, 200 Power Amplifier 4 VCO
5 PLL-FS
6 LPF
7 Baseband LSI
8 Display 9 Speaker 10 RF transceiver 20, 30, 40, 210, 220, 230 Amplifier 60, 70, 90, 95, 105, 115, 240 Capacity correction circuit

Claims (8)

第1相補信号を増幅して得た、第2相補信号を出力する第1増幅器と
前記第2相補信号を増幅して得た、第3相補信号を出力する第2増幅器と、
前記第1相補信号と前記第3相補信号との位相差を検出し、記第2相補信号が伝搬する信号線に付加する容量の増減によって、前記第2相補信号をゲートで受ける、前記第2増幅器を構成するMOSトランジスタのゲート容量の前記第2相補信号の電圧に応じた増減を相殺するタイミングを制御することによって、前記位相差を減少させる容量補正回路と、を備えることを特徴とする増幅回路。
A first amplifier that outputs a second complementary signal obtained by amplifying the first complementary signal ;
A second amplifier for outputting a third complementary signal obtained by amplifying the second complementary signal;
The first detects a phase difference between the complementary signal and the third complementary signal, the previous SL capacity increase or decrease the second complementary signal is added to the signal lines propagating receives at the gate the second complementary signal, the first And a capacitance correction circuit that reduces the phase difference by controlling timing for canceling the increase / decrease of the gate capacitance of the MOS transistor constituting the two amplifiers according to the voltage of the second complementary signal. Amplification circuit.
第1相補信号を増幅して得た、第2相補信号を出力する第1増幅器と
前記第2相補信号を増幅して得た、第3相補信号を出力する第2増幅器と、
前記第1相補信号と前記第3相補信号との位相差を検出し、記第1相補信号が伝搬する信号線に付加する容量の増減によって、前記第1相補信号をゲートで受ける、前記第1増幅器を構成するMOSトランジスタのゲート容量の前記第1相補信号の電圧に応じた増減を相殺するタイミングを制御することによって、前記位相差を減少させる容量補正回路と、を備えることを特徴とする増幅回路。
A first amplifier that outputs a second complementary signal obtained by amplifying the first complementary signal ;
A second amplifier for outputting a third complementary signal obtained by amplifying the second complementary signal;
The first detects a phase difference between the complementary signal and the third complementary signal, the previous SL capacity increase or decrease the first complementary signal is added to the signal lines propagating receives at the gate the first complementary signal, the first And a capacitance correction circuit for reducing the phase difference by controlling timing for canceling the increase / decrease of the gate capacitance of the MOS transistor constituting one amplifier according to the voltage of the first complementary signal. Amplification circuit.
第1相補信号を増幅して得た、第2相補信号を出力する第1増幅器と、
前記第2相補信号を増幅して得た、第3相補信号を出力するNMOSトランジスタからなる第2増幅器と、
前記第1相補信号と前記第3相補信号との位相差を検出し、前記第2相補信号が伝搬する信号線に付加する容量の増減によって、前記第2相補信号をゲートで受ける、前記第2増幅器のNMOSトランジスタのゲート容量の前記第2相補信号の電圧に応じた増減を相殺するタイミングを制御することによって、前記位相差を減少させる容量補正回路と、を備え、
前記容量補正回路は、
前記検出された前記位相差に応じた電圧を有する第1信号を出力する位相比較器と、
前記第1信号の高周波ノイズを除去するフィルターと、ソース、ドレイン、及び、バックゲートが相互に接続され、高周波ノイズ除去後の前記第1信号がバックゲートに入力されるとともに、ゲートに前記第2相補信号の内の一方の信号が入力されるPMOSトランジスタと、を備えることを特徴とする増幅回路。
A first amplifier that outputs a second complementary signal obtained by amplifying the first complementary signal;
A second amplifier comprising an NMOS transistor that outputs a third complementary signal obtained by amplifying the second complementary signal;
Detecting a phase difference between the first complementary signal and the third complementary signal and receiving the second complementary signal at a gate by increasing or decreasing a capacitance added to a signal line through which the second complementary signal propagates; A capacitance correction circuit that reduces the phase difference by controlling the timing to cancel the increase / decrease according to the voltage of the second complementary signal of the gate capacitance of the NMOS transistor of the amplifier,
The capacitance correction circuit includes:
A phase comparator that outputs a first signal having a voltage corresponding to the detected phase difference;
A filter that removes high-frequency noise from the first signal, a source, a drain, and a back gate are connected to each other, and the first signal after high-frequency noise removal is input to the back gate and the second to the gate. amplification circuit it, comprising a PMOS transistor, the one of the signal is input of the complementary signal.
前記容量補正回路は、
ソース、ドレイン、及び、バックゲートが相互に接続され、前記第2相補信号の内の一方の信号がバックゲートに入力されるとともに、ゲートにバイアス電圧が接続される、NMOSトランジスタと、を備えることを特徴とする請求項1記載の増幅回路。
The capacitance correction circuit includes:
An NMOS transistor having a source, a drain, and a back gate connected to each other, and one of the second complementary signals is input to the back gate and a bias voltage is connected to the gate. The amplifier circuit according to claim 1.
第1相補信号を増幅して得た、第2相補信号を出力する第1増幅器と、
前記第2相補信号を増幅して得た、第3相補信号を出力するNMOSトランジスタからなる第2増幅器と、
前記第1相補信号と前記第3相補信号との位相差を検出し、前記第2相補信号が伝搬する信号線に付加する容量の増減によって、前記第2相補信号をゲートで受ける、前記第2増幅器のNMOSトランジスタのゲート容量の前記第2相補信号の電圧に応じた増減を相殺するタイミングを制御することによって、前記位相差を減少させる容量補正回路と、を備え、
前記容量補正回路は、
前記検出された前記位相差に応じた電圧を有する第1信号を出力する位相比較器と、
前記第1信号の高周波ノイズを除去するフィルターと、ソース、ドレイン、及び、バックゲートが相互に接続され、前記第2相補信号の内の一方の信号がバックゲートに入力されるとともに、ゲートに高周波ノイズ除去後の前記第1信号が入力されるNMOSトランジスタと、を備えることを特徴とする増幅回路。
A first amplifier that outputs a second complementary signal obtained by amplifying the first complementary signal;
A second amplifier comprising an NMOS transistor that outputs a third complementary signal obtained by amplifying the second complementary signal;
Detecting a phase difference between the first complementary signal and the third complementary signal and receiving the second complementary signal at a gate by increasing or decreasing a capacitance added to a signal line through which the second complementary signal propagates; A capacitance correction circuit that reduces the phase difference by controlling the timing to cancel the increase / decrease according to the voltage of the second complementary signal of the gate capacitance of the NMOS transistor of the amplifier ,
The capacitance correction circuit includes:
A phase comparator that outputs a first signal having a voltage corresponding to the detected phase difference;
A filter for removing high frequency noise of the first signal, a source, a drain, and a back gate are connected to each other, and one of the second complementary signals is input to the back gate, and a high frequency is applied to the gate. amplification circuit comprising: the NMOS transistor, the said first signal after the noise removal inputted.
第1信号を増幅して得た、第2信号を出力する第1増幅器と
前記第2信号を増幅して得た、第3信号を出力する第2増幅器と、
前記第1信号と前記第3信号との位相差を検出し、記第2信号が伝搬する信号線に付加する容量の増減によって、前記第2信号をゲートで受ける、前記第2増幅器を構成するMOSトランジスタのゲート容量の前記第2信号の電圧に応じた増減を相殺するタイミングを制御することによって、前記位相差を減少させる容量補正回路と、を備えることを特徴とする増幅回路。
A first amplifier for amplifying the first signal and outputting a second signal ;
A second amplifier for outputting a third signal obtained by amplifying the second signal;
Wherein detecting a phase difference between the first signal and the third signal, the previous SL capacity increase or decrease the second signal is added to the signal lines propagating receives at the gate the second signal, configuring the second amplifier And a capacitance correction circuit for reducing the phase difference by controlling timing for canceling the increase / decrease of the gate capacitance of the MOS transistor according to the voltage of the second signal .
第1信号を増幅して得た、第2信号を出力する第1増幅器と、
前記第2信号を増幅して得た、第3信号を出力するNMOSトランジスタからなる第2増幅器と、
前記第1信号と前記第3信号との位相差を検出し、前記第2信号が伝搬する信号線に付加する容量の増減によって、前記第2信号をゲートで受ける、前記第2増幅器のNMOSトランジスタのゲート容量の前記第2信号の電圧に応じた増減を相殺するタイミングを制御することによって、前記位相差を減少させる容量補正回路と、を備え、
前記容量補正回路は、
前記検出された前記位相差に応じた電圧を有する第4信号を出力する位相比較器と、
前記第4信号の高周波ノイズを除去するフィルターと、ソース、ドレイン、及び、バックゲートが相互に接続され、高周波ノイズ除去後の前記第4信号がバックゲートに入力されるとともに、ゲートに前記第2信号が入力されるPMOSトランジスタと、を備えることを特徴とする増幅回路。
A first amplifier for amplifying the first signal and outputting a second signal;
A second amplifier comprising an NMOS transistor that outputs the third signal, obtained by amplifying the second signal;
An NMOS transistor of the second amplifier that detects a phase difference between the first signal and the third signal and receives the second signal at a gate by increasing or decreasing a capacitance added to a signal line through which the second signal propagates A capacitance correction circuit that reduces the phase difference by controlling the timing of canceling the increase / decrease of the gate capacitance according to the voltage of the second signal,
The capacitance correction circuit includes:
A phase comparator that outputs a fourth signal having a voltage corresponding to the detected phase difference;
A filter for removing high frequency noise of the fourth signal, the source, drain, and back gate connected to each other, together with the fourth signal after removing high-frequency noise is input to the back gate, the gate second amplification circuit you, comprising a PMOS transistor which signal is input.
データ信号を無線信号へ変換するベースバンドと、
第1相補型搬送波を発生し、前記無線信号により、前記第1相補型搬送波を変調するミキサと、
変調された前記第1相補型搬送波を増幅する増幅回路と、を備え、
前記増幅器は、
前記第1相補型搬送波を増幅して得た、第2相補型搬送波を出力する第1増幅器と、
前記第2相補型搬送波を増幅して得た、第3相補型搬送波を出力する第2増幅器と、
前記第1相補型搬送波と前記第3相補型搬送波との位相差を検出し、前記第2相補型搬送波が伝搬する信号線に付加する容量の増減によって、前記第1相補型搬送波をゲートで受ける、前記第1増幅器を構成するMOSトランジスタのゲート容量の前記第1相補型搬送波の電圧に応じた増減を相殺するタイミングを制御することによって、前記位相差を減少させる容量補正回路と、を備えることを特徴とする送信回路。
Baseband for converting data signals to radio signals;
A mixer that generates a first complementary carrier and modulates the first complementary carrier with the wireless signal;
An amplification circuit for amplifying the modulated first complementary carrier wave,
The amplifier is
A first amplifier that outputs a second complementary carrier wave obtained by amplifying the first complementary carrier wave;
A second amplifier for outputting a third complementary carrier wave obtained by amplifying the second complementary carrier wave;
The first complementary carrier is received by the gate by detecting a phase difference between the first complementary carrier and the third complementary carrier and increasing or decreasing the capacitance added to the signal line on which the second complementary carrier propagates. And a capacitance correction circuit for reducing the phase difference by controlling timing for canceling the increase / decrease of the gate capacitance of the MOS transistor constituting the first amplifier according to the voltage of the first complementary carrier wave. A transmission circuit characterized by the above.
JP2010075936A 2010-03-29 2010-03-29 Amplifier circuit and transmission circuit including the amplifier circuit Expired - Fee Related JP5505026B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010075936A JP5505026B2 (en) 2010-03-29 2010-03-29 Amplifier circuit and transmission circuit including the amplifier circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010075936A JP5505026B2 (en) 2010-03-29 2010-03-29 Amplifier circuit and transmission circuit including the amplifier circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011211410A JP2011211410A (en) 2011-10-20
JP5505026B2 true JP5505026B2 (en) 2014-05-28

Family

ID=44942033

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010075936A Expired - Fee Related JP5505026B2 (en) 2010-03-29 2010-03-29 Amplifier circuit and transmission circuit including the amplifier circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5505026B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3101215B1 (en) 2019-09-23 2022-06-17 Macom Tech Solutions Holdings Inc ADDITIONAL DATA STREAM FOR NOISE REDUCTION
US11409691B2 (en) 2020-12-19 2022-08-09 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. High speed on die shared bus for multi-channel communication

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62147918U (en) * 1986-03-13 1987-09-18
JPS6333910A (en) * 1986-07-29 1988-02-13 Mitsubishi Electric Corp Fet amplifier
JPH03255710A (en) * 1990-03-06 1991-11-14 Fujitsu Ltd Power amplifier
JP4679883B2 (en) * 2004-11-18 2011-05-11 パナソニック株式会社 Power amplifier, power amplifier, and distortion compensation circuit

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011211410A (en) 2011-10-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2443742B1 (en) Detection circuit for overdrive conditions in a wireless device
US7768350B2 (en) Output gain stage for a power amplifier
US8787850B2 (en) Compensating for non-linear capacitance effects in a power amplifier
US8305145B2 (en) Receiving circuit
JP6229369B2 (en) Power amplifier
WO2011137635A1 (en) Power amplifier and method for amplifying signals based on the same
JP5239451B2 (en) Differential single phase converter circuit
US20080303591A1 (en) Amplifying circuit and associated linearity improving method
US20150105032A1 (en) Dynamic bias to improve switch linearity
US8219049B2 (en) Generating a process and temperature tracking bias voltage
JP5505026B2 (en) Amplifier circuit and transmission circuit including the amplifier circuit
US10263649B2 (en) Fully integrated power amplifier employing transformer combiner with enhanced back-off efficiency
JP5829957B2 (en) Wireless communication device
KR100998758B1 (en) Wide-band low noise amplifier
JPWO2008114311A1 (en) Low noise amplifier
JP6177422B2 (en) Active balun circuit and transformer
US20160134243A1 (en) Bias-boosting circuit with dual current mirrors for rf power amplifier
CN110661494A (en) High-frequency amplifier circuit and semiconductor device
KR101038854B1 (en) Wide-band low noise amplifier
KR101682375B1 (en) Drive amplifier
US20100148868A1 (en) Differential amplifier
CN113273079B (en) Bias circuit and power amplifier circuit
TWI696345B (en) Signal processing device
JP2010109710A (en) Variable gain amplifier
KR101069918B1 (en) Differential valtage controlled oscillator and driving method thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130206

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130906

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130924

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131121

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140218

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140303

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5505026

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees