JP5486139B2 - ソフトエラーのクリティカリティの分類およびクリティカリティに基づくソフトエラーの緩和 - Google Patents
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Description
1つ以上の実施の形態は、一般に、集積回路におけるソフトエラーに関し、より特定的には、集積回路の記憶におけるソフトエラーの緩和に関する。
集積回路の記憶ノードにおけるソフトエラーは、集積回路の状態の持続的な破損を引き起こす。集積回路の不適切な動作を防止するためには、ソフトエラーが検出され、分離され、訂正されるべきである。ソフトエラーの検出後に、集積回路は、ソフトエラーを分離および訂正するためにリセットまたは再設定され得る。しかしながら、集積回路のリセットは、全システム復帰にかなりの時間を必要とし得る。
ソフトエラーを緩和するためのシステムは、プログラマブルロジックおよび相互接続リソースと、設定メモリとを含むプログラマブル集積回路を備え、プログラマブルロジックおよび相互接続リソースは、設定メモリに記憶された設定データに応じてユーザ設計を実行し、システムは、プログラマブル集積回路に結合される不揮発性メモリをさらに備える。不揮発性メモリは、ユーザ設計のための設定データを記憶する。ユーザ設計は、三重冗長ソフトエラーマネジメント回路を含み、三重冗長ソフトエラーマネジメント回路は、エラー検出コードを用いて設定メモリ内の複数の記憶ビットのうちの破損した1つにおけるソフトエラーを繰り返しチェックするチェック回路と、チェック回路に結合される分類回路とを有し、分類回路は、各記憶ビットに対して複数のクリティカリティクラスのうちの1つを特定するマップを用いて、チェック回路に応答して破損した記憶ビットのクリティカリティクラスを決定するように構成され、三重冗長ソフトエラーマネジメント回路は、クリティカリティクラスに関連した複数の緩和技術を開始するための、分類回路に結合される訂正回路をさらに有し、訂正回路は、分類回路によって決定されたクリティカリティクラスに関連した緩和技術を開始するように構成される。
図1は、集積回路におけるソフトエラーを緩和するためのプロセスのフローチャートである。あり得るソフトエラーは、クリティカリティクラスに分離され、検出された各ソフトエラーのクリティカリティクラスに基づいて適当な緩和技術が選択されるとともに実行される。いくつかの検出されたソフトエラーは、集積回路の全リセットよりも厳しくない緩和技術で扱われるので、複数のソフトエラーの緩和に必要とされるダウン時間が低減される。
Claims (14)
- ソフトエラーを緩和するためのシステムであって、
プログラマブルロジックおよび相互接続リソースと、設定メモリとを含むプログラマブル集積回路を備え、
前記プログラマブルロジックおよび相互接続リソースは、前記設定メモリに記憶された設定データに応じてユーザ設計を実行し、
前記システムは、
前記プログラマブル集積回路に結合される不揮発性メモリをさらに備え、
前記不揮発性メモリは、前記ユーザ設計のための前記設定データを記憶し、
前記ユーザ設計は、三重冗長ソフトエラーマネジメント回路を含み、
前記三重冗長ソフトエラーマネジメント回路は、
エラー検出コードを用いて前記設定メモリ内の複数の記憶ビットのうちの破損した1つにおける前記ソフトエラーを繰り返しチェックするチェック回路を有し、
各記憶ビットは、前記ユーザ設計の複数のコードブロックのうちの1つのコードブロックの部分を実行し、
前記三重冗長ソフトエラーマネジメント回路は、
状態レジスタをさらに有し、
前記状態レジスタは、前記プログラマブル集積回路において実行される複数のコードブロックのうちの1つのコードブロックがクリティカルデータ上で動作しているか否かを示し、
前記三重冗長ソフトエラーマネジメント回路は、
前記チェック回路に結合される分類回路をさらに有し、
前記分類回路は、前記状態レジスタの状態と、各記憶ビットに対して前記状態レジスタの可能な状態に対するそれぞれのクリティカリティクラスを特定するマップとを用いて、前記チェック回路に応答して前記破損した記憶ビットの前記クリティカリティクラスを決定するように構成され、
前記三重冗長ソフトエラーマネジメント回路は、
前記クリティカリティクラスに関連した複数の緩和技術を開始するための、前記分類回路に結合される訂正回路をさらに有し、
前記訂正回路は、前記分類回路によって決定された前記クリティカリティクラスに関連した前記緩和技術を開始するように構成される、システム。 - 第1の前記緩和技術は、冗長なロジックへのフェイルオーバーを実行することを含み、
第2の前記緩和技術は、前記設定メモリを再初期化することを含み、
第3の前記緩和技術は、前記破損した記憶ビットを訂正することを含む、請求項1に記載のシステム。 - 前記訂正回路は、前記破損した記憶ビットに対して前記マップにおいて特定された前記クリティカリティクラスに関連する前記緩和技術に応答して前記破損した記憶ビットを訂正するようにさらに構成され、
前記訂正回路は、エラー訂正コードである前記エラー検出コードを用いて前記破損した記憶ビットを訂正するようにさらに構成される、請求項1または2に記載のシステム。 - 前記マップは、前記設定メモリ内に記憶される、請求項1または2に記載のシステム。
- 前記マップは、前記不揮発性メモリ内に記憶される、請求項1または2に記載のシステム。
- 前記チェック回路は、エラー検出および訂正コードを用いて前記記憶ビットを読み取るとともにチェックすることによって前記ソフトエラーを繰り返しチェックする、請求項1または2に記載のシステム。
- 設定メモリを含む集積回路におけるソフトエラーを緩和する方法であって、
設計記述から前記集積回路の仕様を統合するステップと、
各プラグマがコードブロックの1つのクリティカリティクラスを宣言する、前記設計記述における前記コードブロックに関連するプラグマに対して、前記統合された仕様における前記クリティカリティクラスを保存するステップと、
前記統合された仕様からマップを生成するステップとを含み、
前記マップは、前記設定メモリにおける複数の記憶ビットのうちの各記憶ビットの前記クリティカリティクラスが、前記記憶ビットが統合される前記コードブロックの前記クリティカリティクラスであると特定し、
前記方法は、
エラー検出コードを用いて前記設定メモリ内の前記複数の記憶ビットの破損した1つにおける前記ソフトエラーを繰り返しチェックするステップと、
各記憶ビットに対する複数のクリティカリティクラスの1つを特定する前記生成されたマップを用いて前記破損した記憶ビットのクリティカリティクラスを決定するステップと、
複数の緩和技術の1つを開始するステップとをさらに含み、
開始された前記緩和技術は、前記破損した記憶ビットの前記クリティカリティクラスに関連する、方法。 - 第1の前記緩和技術は、冗長なロジックへのフェイルオーバーを実行することを含み、
第2の前記緩和技術は、前記設定メモリを再初期化することを含み、
第3の前記緩和技術は、前記破損した記憶ビットを訂正することを含む、請求項7に記載の方法。 - 第4の前記緩和技術は、前記ソフトエラーの通知を送信するとともに、前記破損した記憶ビットを訂正することを含み、
第5の前記緩和技術は、前記ソフトエラーの通知を送信し、そうでなければ前記破損した記憶ビットを無視することを含む、請求項8に記載の方法。 - 前記マップは、前記記憶ビットの1つおよび複数の状態の1つの各組み合わせに対するそれぞれの前記クリティカリティクラスの1つを特定し、
前記設定するステップは、前記破損した記憶ビットおよび前記状態レジスタの状態の前記組み合わせに対して前記マップにおいて特定されたそれぞれの前記クリティカリティクラスを決定するステップを含み、
前記開始するステップは、それぞれの前記クリティカリティクラスの各々に関連した前記緩和技術を開始するステップを含む、請求項7〜9のいずれか1項に記載の方法。 - 前記マップは、前記集積回路の外部のメモリに記憶される、請求項7〜9のいずれか1項に記載の方法。
- 前記マップは、前記集積回路内のメモリに記憶される、請求項7〜9のいずれか1項に記載の方法。
- 前記繰り返しチェックするステップは、エラー検出および訂正コードを用いて前記記憶ビットを繰り返し読み取るとともにチェックするステップを含む、請求項7〜9のいずれか1項に記載の方法。
- 通信製品であって、
設定メモリを有する集積回路と、
前記集積回路に結合され、エラー検出コードを用いて設定メモリ内の複数の記憶ビットの破損した1つにおけるソフトエラーを繰り返しチェックするチェック回路とを備え、
各記憶ビットは、前記ユーザ設計の複数のコードブロックのうちの1つのコードブロックの部分を実行し、
前記通信製品は、
状態レジスタをさらに備え、
前記状態レジスタは、前記プログラマブル集積回路において実行される複数のコードブロックのうちの1つのコードブロックがクリティカルデータ上で動作しているか否かを示し、
前記通信製品は、
前記チェック回路に結合される分類回路をさらに備え、
前記分類回路は、前記状態レジスタと、各記憶ビットに対して前記状態レジスタの可能な状態に対するそれぞれのクリティカリティクラスを特定するマップとを用いて、前記チェック回路に応答して前記破損した記憶ビットの前記クリティカリティクラスを決定するように構成され、
前記通信製品は、
前記クリティカリティクラスに関連した複数の緩和技術を開始するための、前記分類回路に結合される訂正回路をさらに備え、
前記訂正回路は、前記分類回路によって決定された前記クリティカリティクラスに関連した前記緩和技術を開始するように構成される、通信製品。
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US20070011513A1 (en) * | 2005-06-13 | 2007-01-11 | Intel Corporation | Selective activation of error mitigation based on bit level error count |
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US7647543B2 (en) * | 2006-02-01 | 2010-01-12 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Reprogrammable field programmable gate array with integrated system for mitigating effects of single event upsets |
US7617437B2 (en) * | 2006-02-21 | 2009-11-10 | Freescale Semiconductor, Inc. | Error correction device and method thereof |
US20080189481A1 (en) | 2007-02-07 | 2008-08-07 | Peter Mayer | Methods and systems for storing data based on a reliability requirement |
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CN101349994B (zh) * | 2008-09-23 | 2011-04-20 | 成都市华为赛门铁克科技有限公司 | 一种定位程序错误的方法、系统及装置 |
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