JP5479946B2 - マイクロチャンネルプレートアセンブリ - Google Patents
マイクロチャンネルプレートアセンブリ Download PDFInfo
- Publication number
- JP5479946B2 JP5479946B2 JP2010044224A JP2010044224A JP5479946B2 JP 5479946 B2 JP5479946 B2 JP 5479946B2 JP 2010044224 A JP2010044224 A JP 2010044224A JP 2010044224 A JP2010044224 A JP 2010044224A JP 5479946 B2 JP5479946 B2 JP 5479946B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frame
- microchannel plate
- shaped portion
- peripheral edge
- inner peripheral
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 79
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 8
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 229910001026 inconel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000009191 jumping Effects 0.000 description 1
- 229910001120 nichrome Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000623 nickel–chromium alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 239000013585 weight reducing agent Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J43/00—Secondary-emission tubes; Electron-multiplier tubes
- H01J43/04—Electron multipliers
- H01J43/06—Electrode arrangements
- H01J43/18—Electrode arrangements using essentially more than one dynode
- H01J43/24—Dynodes having potential gradient along their surfaces
- H01J43/246—Microchannel plates [MCP]
Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
マイクロチャンネル2は、このように多数のチャンネル22を集合した構造であることから、小型化が必要な用途であれば、小さくカットして用いればよく、プレートとしてのサイズが変化しても性能や寿命が特段に影響されないことから、小型の装置に適していることもあり、近年、多く用いられてきている。
このようなマイクロチャンネルプレート2によるイオン、電子等のエネルギー線の検出装置が、特許文献1、特許文献2に記載されている。
ところが、各電極3’、4’がマイクロチャンネル2を押さえるように接触するため、各電極3’、4’の内周端縁部3E’、4E’がマイクロチャンネルプレート2と接する箇所からノイズとなる電子が発生する。特に、その箇所がマイクロチャンネルプレート2のチャンネルが存在する有効面である場合、チャンネル内壁が電極による押圧力で痛められて発生する電子がノイズの原因となる。出力電極4’の内周端縁部4E’での接触部から発生した電子e1がアノード9に入射するとノイズとなって本来の検出信号とともに、出力されることになる。また、入力電極3’の内周端縁部3E’での接触部で発生した電子に起因する電子e2がマイクロチャンネルプレート2の下面から、アノード9に入射した場合もノイズとなって本来の検出信号とともに、出力されることになる。
本発明者は、従来のマイクロチャンネルプレートアセンブリのこのような不都合を知見するとともに、電極の構造を改良することによってこれらの不都合を解決できることを新たに見出し、本発明をなし得たものである。
すなわち、図11のとおり、出力電極4’とマイクロチャンネルプレート2との接触部から発生する電子e1がアノード9にノイズとなって入射することを、防止できないことに加え、例えば入力電極3’とマイクロチャンネルプレート2との接触部から発生した電子に起因する電子e2が、出力電極4’の内周端縁部4E’の上向きのテーパ部に入射した際に、さらに2次電子e3が発生して、アノード9にノイズとして入射する状況も発生する。一般に、金属材料内部で発生した2次電子は、発生箇所から飛び出す方向での表面までの距離がごく短い場合にしか外に飛び出すことができないが、図のように大きく傾斜した面では、上方からの距離としては比較的深い内部で発生した2次電子も短い距離で斜面から飛び出すことができることから、ノイズとなる2次電子の生じる可能性が高まる。
図1(A)(B)は、本発明の各実施形態に共通するマイクロチャンネルプレート2を示す斜視図であり、平面視が円形の場合と矩形の場合を示している。図1(A)では、チャンネル22の断面を示すために一部を破断して描いている。概略の構造は上記の背景技術に記載したとおりであり、多数のチャンネル22を備えるガラス製のウエハ21からなっており、上面及び下面には導電膜23,24が蒸着されている。全体形状は平面視が円形の円盤状であって、例えば、直径が約25mm、厚さが約0.3mmのサイズである。
多数のチャンネル22は、上下方向に対してバイアスと呼ばれる数度〜十数度程度の僅かな傾斜を有している、例えば直径約6μmの孔によって形成される。この場合、直径が約6μmで長さが約300μmであるから、マイクロチャンネルプレートの利得特性に関わるチャンネル径に対する長さの比で定義される規格化長(α)は、50倍となる。
導電膜23、24の材料は、インコネル(商標名)やニクロム(商標名)などのニッケル合金、ニッケルクロム合金が望ましいが、他の導電性の金属材料でもよい。導電膜23、24は、ウエハ21の表裏の面の全面に蒸着して形成してもよく、あるいは外周部に形成しない部分を残してもよいが、もちろん、導電膜23,24が入出力電極と十分にコンタクトできる面積は必要である。また、導電膜23、24は、ウエハ21の表裏の面から、各チャンネル22の管内壁に、チャンネル22の直径と同程度かその前後の長さだけ、延びて形成されている。
また、用途によっては、このような円盤状のマイクロチャンネルプレートを平面視で矩形(正方形又は長方形)に切断して、図1(B)のように、矩形の板状として使用される。
マイクロチャンネルプレート2としては、ここでは、2枚のマイクロチャンネルプレート2−1、2−2を重ねて使用している。このマイクロチャンネルプレート2の上面の外周部上には、入力電極3が配置され、下面の外周部上には出力電極4が配置される。図10、図11と同様に、入力電極3及び出力電極4とも、平面視で中央部には、空間3S、42Sが形成されるように、枠状とされている。
本発明において、枠状とは、平面視における中央部が空間となっていて、その空間を囲むように構成される形状を意味しており、マイクロチャンネルプレート2が平面視で円形であれば、各電極の内周及び外周は円形、すなわち環状とし、マイクロチャンネルプレート2が平面視で矩形であれば、各電極の内周及び外周も矩形とすることを基本としている。ただし、各電極の内周及び外周の形状は、必ずしも、マイクロチャンネルプレート2と全く同じ相似形である必要はない。
詳細に説明すると、第2枠状部42の内周端縁部42Eは第1枠状部41の内周端縁部41Eよりも平面視で内方に位置している。そして、第2枠状部42のマイクロチャンネルプレート2側の面すなわち上面における内周端縁42FEから第1枠状部41の内周端縁部41Eに接続する箇所42FTまでの面はマイクロチャンネルプレート2と平行な平坦面42Fとされている。図示の例では、第1枠状部41、第2枠状部42とも、内周端縁部41E、42Eは各枠状部の上面、下面と垂直に形成されている。
また、入力電極3との位置関係においては、第2枠状部42における平坦面42Fの内周端縁42FEが、入力電極3の内周端縁部3Eがマイクロチャンネルプレート2と接する箇所3EMよりも、平面視において内方に位置するようにされている。
入力電極3、出力電極4は、非磁性の鋼製であって、例えばSUS316Lのようなステンレス鋼製で、厚さが例えば約1mmとされている。
検出対象のイオンや電子等のエネルギー線が、入力電極3の中央部の空間3Sからマイクロチャンネルプレート2に入射すると、チャンネル内において内壁面に衝突して2次電子を生じる。増倍した2次電子は、出力電極4の第2枠状部42の中央部空間42Sから出射し、下方のアノード9で捕集されて検出信号として出力される。
ここで、出力電極4の第1枠状部41がマイクロチャンネルプレート2を押さえるように接触していることから、第1枠状部41の内周端縁部41Eがマイクロチャンネルプレート2と接する箇所41EMから下方に向けて、電子e1が放射されて、アノード9に捕集されると、図10,図11で説明したように検出信号のノイズとなる。ところが、本実施形態では、出力電極4には第2枠状部42が設けられており、その上面には平坦面42Fが形成されていることから、ノイズとなる恐れのあった電子e1は、平坦面42Fで吸収されて、ノイズの発生を低減することができる。
しかし、この場合も、第2枠状部の平坦面42Fが存在することから、放出された電子は平坦面42Fに吸収される。
しかも、この例のように、第2枠状部42の内周端縁42FEが、入力電極3の内周端縁部3Eがマイクロチャンネルプレート2と接する箇所3EMよりも、平面視において内方に位置させておけば、第1枠状部41の内周端縁部41Eがマイクロチャンネルプレート2と接することで発生する電子e1と同様に、電子e2を確実に平坦面42Fにおいて吸収することができる。
図の上方から順に説明をすると、最上位には入力電極3や出力電極4と同様に平面視で中央部に空間を有する枠状のメッシュ電極5が配置される。
メッシュ電極5は、その下方のメッシュ6に電圧をかけるための電極である。メッシュ6は、導電性の金属で形成される微細な網状体であり、その下方のインシュレータ7と上方のメッシュ電極5によって挟持されている。インシュレータ7は、メッシュ電極5及びメッシュ6とその下方の入力電極3との間の電気的絶縁を確保するための絶縁体であり、平面視での中央部に空間を有している。
インシュレータ7の下方には、図2によって説明したとおり、入力電極3、マイクロチャンネルプレート2、さらに第1枠状部41と第2枠状部42からなる出力電極4が配置されている。その下方には、インシュレータ7と同様の枠形状の絶縁体からなり、場合によっては、後記のとおり、メッシュ電極5から出力電極4までの保持体の役割も兼ねることのできるホルダー8が配置されている。その下方には、アノード9が設置される。
アノード9の回路には、図のとおりに、抵抗R、コンデンサCが介装されており、アノード9に捕集された電子による信号をコンデンサCの下流において検出するようにされている。
検出対象のエネルギー線が負イオンや電子等の負の電荷の粒子であれば、入力電極3は正の電位とされ、負イオン等の粒子は、メッシュ6から入力電極3により正の電位を与えられたマイクロチャンネルプレート2の表面に向けて加速されて、チャンネルに入射する。
チャンネル内において、発生した2次電子は、電位差V1によって加速され、かつ電子増倍されてマイクロチャンネルプレート2から出射して、アノード9によって検出される。
また、検出対象が陽イオン等の正の電荷の粒子であれば、入力電極3は負の電位とされる。さらに、場合によっては、入力電極3は接地電位とされることもある。
マイクロチャンネルプレート2に入射した後の2次電子については、負の電荷の場合と同様である。
そして、信号検出の際に、出力電極4の第2枠状部42の平坦面42Fによって、ノイズの発生が抑制できることは、図2によって説明したとおりである。
図4は、本実施形態のマイクロチャンネルプレートアセンブリを含む装置の全体図であり、図5は、そのうちのマイクロチャンネルプレートアセンブリの構成要素を示す展開図である。
図4のとおり、全体装置1は、ベース10とベース10の中央上部に取り付けられたケース11を備えている。ケース11は、互いに螺合して組み立てられる下ケース111と上ケース112とから構成されている。上ケース112は、平面視における中央部は、空間部とされ、空間部を形成する内周縁部は、メッシュ電極5から連続的に拡大する空間部を形成するようなテーパ状となっている。
下ケース111の内部中央には、逆円錐台形状のアノード9が取り付けられている。
また、下ケース111の上部には、メッシュ電極5からホルダー8までが、図3で説明した順序で積層されている。なお、メッシュ6はメッシュ電極5とインシュレータ7の間に配置されるが、図示を省略している。
組み立ての際は、下ケース111の上にこれらの各要素を載置した後に、上ケース112を螺合すればよい。
そのため、図4に示す例では、マイクロチャンネルプレート2を含むメッシュ電極5からホルダー8までの各要素及び上ケース112、下ケース111の平面形状は円形の場合が適している。しかし、上ケース112を下ケース111に螺合させずに取り付けるものであれば、平面形状が矩形にも適用できることはいうまでもない。
また、下ケースには、貫通孔111a、111bが形成されて、それぞれの孔内に、入力電極3のコンタクトピン3bと接続する端子を備える配線、及び出力電極4と接続するための端子を備える配線を設けるようにしている。なお、出力電極4に接続される配線には、ブリーダー抵抗Rbが介装されている。
入力電極3の下面には、その下方のマイクロチャンネルプレート2−1の上面側一部を嵌め込んで位置決めする凹部3aと、その凹部3aの底面周縁にはさらに溝3a1が形成されている。この溝3a1は、マイクロチャンネルプレート2−1の周縁部が入力電極3の凹部3aの底面と接触して損傷を受けることを防止するための逃げの空間を構成する。
また、入力電極3の下面の一箇所には、円柱状の突起であるコンタクトピン3bが形成されており、最下部のホルダー8の孔8a内に突出し、下ケース111の貫通孔111aを通して配置される配線の端子に接続される。
出力電極4は、第1枠状部41と第2枠状部42から構成され、これらが互いに重なるように接して配置される。第1枠状部41の上面には、入力電極3の下面と同様に、凹部41aとその底面周縁部の溝41a1が形成されている。凹部41aには、その上方のマイクロチャンネルプレート2−2の下面側一部が嵌め込んで位置決めされ、また、溝41a1は、マイクロチャンネルプレート2−2の周縁部が第1枠状部41の凹部41aの底面と接触して損傷を受けることを防止する。なお、図3、5、8以外の説明図においては、これらの凹部や溝の描画を省略している。
また、入力電極3の突起3bと出力電極4とが接触しないように、第1枠状部41、第2枠状部42には、それぞれ切欠き41b、42bが形成されている。
最下部のホルダー8には、入力電極3との接続のための配線端子、及び出力電極4の接続のための配線端子を配置するための孔8a、8bが形成されている。これらの孔は、下ケースの貫通孔111a、111bと連通している。
ここで、入力電極3の下面に形成されたコンタクトピン3bは、出力電極4の第2枠状部42の下面よりも下方まで延びて、その先端で高電圧電源Hvと接続するための配線端子に接続される。そのため、組み立ての際に誤って、この高電圧電源Hvと接続するための配線端子が出力電極4の第2枠状部42と接続するための孔8b、111b側に配置されても、この端子は、第2枠状部の下面までは達しないから安全性が保たれる。
このように構成することにより、入力電極3がマイクロチャンネルプレート2と接触することで、入力電極3の内周端縁部3Eがマイクロチャンネルプレート2と接する箇所3EMにおいて発生し、マイクロチャンネルプレート2内のチャンネルで増倍されてマイクロチャンネルプレート2下面から出射された電子e2は、出力電極4の第1枠状部41によって吸収され、ノイズとなることが防止できる。
第3実施形態においては、マイクロチャンネルプレート2への入射空間32Sが出射空間42Sよりも狭くされていることから、マイクロチャンネルプレート2からアノード9に向けて出射する2次電子が第2枠状部42によって吸収されて、検出信号のゲインが不均一となることを防止できる。
なお、第3実施形態では、入力電極3の第3枠状部31の内周端縁部31Eと出力電極4の第1枠状部41の内周端縁部41Eとは、平面視でほぼ同じ位置にあり、図2の例に対応している。しかし、図6の例に対応させて、第1枠状部41の内周端縁部41Eがマイクロチャンネルプレート2と接する箇所41EMが、入力電極3の第3枠状部31の内周端縁部31Eがマイクロチャンネルプレート2と接する箇所31EMよりも、平面視において内方に位置するようにしてもよい。
なお、図9(B)の場合は、第1枠状部41と第2枠状部42とを、第1枠状部41の内周端縁部において中間部4mを介して接続しているが、これは、図9(A)や図2等に示す出力電極4において、第1枠状部41の機能上必要部分であるマイクロチャンネルプレート2への接触箇所と内周端縁部と、第2枠状部42の機能上必要部分である平坦面部のみを薄手の板状体によって形成したものでもある。
この図9(B)の場合、さらに材料の節約や軽量化の利点が大きいとともに、金属板からプレス加工等の板金加工によって製造することも可能になる。
さらに、この図9(A)(B)における例は、図7の第3実施形態における入力電極3の第3枠状部31と第4枠状部32とにおいても適用できる。
さらに、ノイズの原因となる電子が、第1枠状部41がマイクロチャンネルプレート2と接する箇所41EMより、少し内側にずれて発生した場合や、入力電極3がマイクロチャンネルプレート2と接する箇所3EMで発生した電子に起因する2次電子が、マイクロチャンネルプレート2のチャンネルの傾斜等の原因によって、上記41EMより内側にずれて放出される場合も考慮すると、平坦面42Fの幅は、0.3mm程度以上あることが好ましい。
Claims (7)
- マイクロチャンネルプレートと、前記マイクロチャンネルプレートの一方の面の外周部上に配置され、平面視における中央部に検出対象のエネルギー線が入射される空間が形成される枠状の入力電極と、前記マイクロチャンネルプレートの他方の面の外周部上に配置され、平面視における中央部に電子増倍された2次電子が放出される空間が形成される枠状の出力電極とを備えるマイクロチャンネルプレートアセンブリにおいて、
前記出力電極は、
前記マイクロチャンネルプレートに接触する第1枠状部と、
前記第1枠状部と同心状であって、前記第1枠状部における前記マイクロチャンネルプレートとは反対側の面に設けられ、内周端縁部が前記第1枠状部の内周端縁部よりも平面視において内方に位置し、前記マイクロチャンネルプレート側の面における内周端縁から前記第1枠状部の内周端縁部に接続する箇所までの面は前記マイクロチャンネルプレートと平行な平坦面とされている第2枠状部とから構成されることを特徴とするマイクロチャンネルプレートアセンブリ。 - 前記第2枠状部の前記平坦面における内周端縁が、前記入力電極の内周端縁部が前記マイクロチャンネルプレートと接する箇所よりも、平面視において内方に位置することを特徴とする請求項1に記載のマイクロチャンネルプレートアセンブリ。
- 前記第1枠状部の内周端縁部が前記マイクロチャンネルプレートと接する箇所が、前記入力電極の内周端縁部が前記マイクロチャンネルプレートと接する箇所よりも、平面視において内方に位置することを特徴とする請求項1又は2に記載のマイクロチャンネルプレートアセンブリ。
- 前記入力電極は、
前記マイクロチャンネルプレートに接触する第3枠状部と、
前記第3枠状部と同心状であって、前記第3枠状部における前記マイクロチャンネルプレートとは反対側の面に設けられ、内周端縁部が前記第2枠状部の内周端縁部よりも平面視において内方に位置する第4枠状部とから構成されることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のマイクロチャンネルプレートアセンブリ。 - 前記第3枠状部と前記第4枠状部とは一体に形成されていることを特徴とする請求項4に記載のマイクロチャンネルプレートアセンブリ。
- 前記第1枠状部と前記第2枠状部とは一体に形成されていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載のマイクロチャンネルプレートアセンブリ。
- 前記出力電極は、前記第2枠状部の外周端縁部が前記第1枠状部の外周端縁部よりも平面視において内方に位置することを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載のマイクロチャンネルプレートアセンブリ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010044224A JP5479946B2 (ja) | 2010-03-01 | 2010-03-01 | マイクロチャンネルプレートアセンブリ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010044224A JP5479946B2 (ja) | 2010-03-01 | 2010-03-01 | マイクロチャンネルプレートアセンブリ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011181336A JP2011181336A (ja) | 2011-09-15 |
JP5479946B2 true JP5479946B2 (ja) | 2014-04-23 |
Family
ID=44692648
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010044224A Active JP5479946B2 (ja) | 2010-03-01 | 2010-03-01 | マイクロチャンネルプレートアセンブリ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5479946B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014078502A (ja) * | 2013-09-19 | 2014-05-01 | Hamamatsu Photonics Kk | Mcpユニット、mcp検出器および飛行時間型質量分析器 |
CN111584329B (zh) * | 2020-05-09 | 2022-07-08 | 北方夜视技术股份有限公司 | 微通道板复丝排屏装置 |
JP7432459B2 (ja) | 2020-07-15 | 2024-02-16 | 浜松ホトニクス株式会社 | チャネル型電子増倍体およびイオン検出器 |
CN114501758A (zh) * | 2022-01-11 | 2022-05-13 | 长春理工大学 | 一种高通量x射线源 |
-
2010
- 2010-03-01 JP JP2010044224A patent/JP5479946B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011181336A (ja) | 2011-09-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8022606B2 (en) | Electron multipler and electron detector | |
US10312068B2 (en) | Charged particle detector | |
EP2297763B1 (en) | Charged particle detection system and method | |
US9934952B2 (en) | Charged-particle detector and method of controlling the same | |
US8288718B2 (en) | Ion mobility spectrometer and detecting method using the same | |
JP5479946B2 (ja) | マイクロチャンネルプレートアセンブリ | |
EP0622825B1 (en) | Photomultiplier | |
US7492097B2 (en) | Electron multiplier unit including first and second support members and photomultiplier including the same | |
JP2017037783A (ja) | 荷電粒子検出器およびその制御方法 | |
TWI808203B (zh) | 微通道板總成及帶電粒子檢測器 | |
JP5049167B2 (ja) | マイクロチャネルプレート組立体 | |
TWI808202B (zh) | 微通道板總成及帶電粒子檢測器 | |
JP4921248B2 (ja) | 電子管 | |
CN113808903A (zh) | 离子检测器 | |
WO2007111103A1 (ja) | 光電子増倍管および放射線検出装置 | |
WO2022229917A1 (en) | Micro channel cartridge for mass spectrometer | |
CN113808904A (zh) | 离子检测器 | |
JP2023108257A (ja) | 荷電粒子検出器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130228 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131224 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140121 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140213 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5479946 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |