JP5476858B2 - Ranging sensor - Google Patents

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Description

本発明は、三角測距法によって被検査物までの距離や変位を測定する光学式測距センサに関するものである。   The present invention relates to an optical distance measuring sensor that measures the distance and displacement to an inspection object by a triangulation method.

近年、光学式の測距センサは、便座の蓋空けや、モバイルPCの省エネ、自動ドアの開閉といった人感センサとしての用途が開け、小型化、低コスト化が進められている。   In recent years, optical distance measuring sensors have been opened for use as human sensors such as opening a toilet seat cover, energy saving of a mobile PC, and opening and closing of an automatic door, and miniaturization and cost reduction have been promoted.

三角測距法によって被検査物までの距離や変位を測定するための光学式測距センサとしては、現在PSD(Position Sensitive Detector)と呼ばれるスポット状の光の位置を検出できる光センサを用いたものが一般的に使われている。PSDを用いた測距センサについて、特許文献1(特開昭58−42007号公報)を例に挙げて説明する。特許文献1に記載の測距センサは、光源にLEDを用いる。LEDから出射された光は投射用レンズL1を介して被写体Ob(被検査物)に照射される。被写体Obで散乱した光のうち、斜め方向に反射した光の成分を、レンズL2を介して、PSDで検出する。レンズL1と被写体Obの距離lが変わるとPSD上のスポット位置が線形に変わるので、PSD出力信号から被写体の変位を知ることができる。   As an optical distance measuring sensor for measuring the distance and displacement to the object to be inspected by the triangulation method, an optical sensor that can detect the position of the spot-like light currently called PSD (Position Sensitive Detector) is used. Is commonly used. A distance measuring sensor using a PSD will be described with reference to Patent Document 1 (Japanese Patent Laid-Open No. 58-42007) as an example. The distance measuring sensor described in Patent Document 1 uses an LED as a light source. The light emitted from the LED is irradiated to the subject Ob (inspection object) through the projection lens L1. Among the light scattered by the subject Ob, the component of the light reflected in the oblique direction is detected by the PSD via the lens L2. When the distance l between the lens L1 and the subject Ob changes, the spot position on the PSD changes linearly, so that the displacement of the subject can be known from the PSD output signal.

このような従来のPSDを用いた測距センサにおいて位置情報の分解能を高めるには、レンズL1とL2の距離を広げるか、レンズL2の焦点距離fを長くする必要がある。このため、高分解能と小型化はトレードオフな関係にあり、両方の性能を満たすことができない。また、PSDを用いた測距センサは、被検査物の変位を測定するときに被検査物がレンズL1に近いところにあると、PSD上の光点位置が広く動くので、大きなサイズのPSDを必要とする。   In order to increase the resolution of position information in such a conventional distance measuring sensor using PSD, it is necessary to increase the distance between the lenses L1 and L2 or to increase the focal length f of the lens L2. For this reason, there is a trade-off between high resolution and miniaturization, and both performances cannot be satisfied. In addition, the distance measuring sensor using the PSD moves the light spot position on the PSD widely when the object to be inspected is close to the lens L1 when measuring the displacement of the object to be inspected. I need.

ところで、体積ホログラムを使ったチルトセンサがある。これを、特許文献2(特開2004−279191号公報)を例に挙げて説明する。特許文献2に記載のチルトセンサは、光源に発光ダイオード151を用いる。発光ダイオード151を出射した光はコリメートレンズ152で平行光にされ、光ディスク15照射される。光ディスク15で反射された光は体積ホログラム153に入射するが、入射する光の入射角に応じて回折効率が変わる。ここで、回折光L+1とL−1の差分をとることで、光の入射角に対して線形な信号(回折効率差)を得ることができる。従って、特許文献2によると、被検査物である光ディスク15の傾きに応じて、線形な信号を取得することができる。   By the way, there is a tilt sensor using a volume hologram. This will be described by taking Patent Document 2 (Japanese Patent Laid-Open No. 2004-279191) as an example. The tilt sensor described in Patent Document 2 uses a light emitting diode 151 as a light source. The light emitted from the light emitting diode 151 is collimated by the collimator lens 152 and irradiated on the optical disk 15. The light reflected by the optical disk 15 enters the volume hologram 153, but the diffraction efficiency changes according to the incident angle of the incident light. Here, by taking the difference between the diffracted lights L + 1 and L−1, a linear signal (diffractive efficiency difference) can be obtained with respect to the incident angle of the light. Therefore, according to Patent Document 2, a linear signal can be acquired according to the inclination of the optical disk 15 that is the inspection object.

本発明は、かかる事情の下になされたものであり、その第1の目的は、測距センサのサイズに関わらず感度を高める、もしくは低くすることのできる測距センサを実現することにある。また本発明の第2の目的は、被検査物が近くにある場合も、検出部分のサイズを大きくすること無く小型な測距センサを実現することにある。   The present invention has been made under such circumstances, and a first object thereof is to realize a distance measuring sensor capable of increasing or decreasing the sensitivity regardless of the size of the distance measuring sensor. A second object of the present invention is to realize a small distance measuring sensor without increasing the size of a detection portion even when an object to be inspected is nearby.

上記課題を解決するために本発明に係る測距センサは、具体的には下記(1)〜(3)に記載の技術的特徴を有する。
(1):被検査物に対して略平行光を照射する光源と、前記被検査物と光源とを結ぶ直線上とは異なる位置に配置され、当該被検査物で散乱された光を回折する体積ホログラムと、前記体積ホログラムで回折した光のうち+n次光と、−n次光(但し、nは整数)とをそれぞれ個別に受光する光検出器と、前記光検出器の出力から、被検査物の変位量を出力する演算回路部と、を備え、前記体積ホログラムは、前記被検査物が変位測定範囲の中心にあるときに、当該被検査物で散乱された光に対して入射角が0度になるように配置されていて、かつ当該体積ホログラムの溝形状は、被検査物で散乱された光に対して平行であると共に矩形形状であり、前記演算回路部は、前記体積ホログラムの+n次光の回折効率をη(n)、前記体積ホログラムの−n次光の回折効率をη(−n)、前記光源と前記被検査物との距離をL、前記光源と前記体積ホログラムとの距離をA、としたときに、前記被検査物が、当該被検査物と前記光源とを結ぶ直線上を変位した距離ΔLを以下の式で求めることを特徴とする測距センサである。
ΔL=−(L +A )tanΔθ/(A+LtanΔθ)
Δθ=(η(n)−η(−n))/(η(n)+η(−n))×1/C
ただし、Cは定数である。
In order to solve the above problems, the distance measuring sensor according to the present invention specifically has the technical features described in the following (1) to (3) .
(1): It is arranged at a position different from a light source that irradiates substantially parallel light to the object to be inspected and a straight line connecting the object to be inspected and the light source, and diffracts the light scattered by the object to be inspected. From a volume hologram, a photodetector that individually receives + n-order light and -n-order light (where n is an integer) of the light diffracted by the volume hologram, and an output of the photodetector e Bei and a calculation circuit for outputting a displacement amount of the test substance, the volume hologram, wherein when the object to be inspected is in the center of the displacement measuring range, incident on light scattered in the object to be inspected The volume hologram has a groove shape that is arranged to have an angle of 0 degrees and is parallel to the light scattered by the object to be inspected and is rectangular, and the arithmetic circuit unit has the volume The diffraction efficiency of the + n-order light of the hologram is η (n), and the volume hologram When the diffraction efficiency of the −n-order light of the system is η (−n), the distance between the light source and the inspection object is L, and the distance between the light source and the volume hologram is A, the inspection object Is a distance measuring sensor characterized in that a distance ΔL displaced on a straight line connecting the object to be inspected and the light source is obtained by the following equation .
ΔL = − (L 2 + A 2 ) tan Δθ / (A + Ltan Δθ)
Δθ = (η (n) −η (−n)) / (η (n) + η (−n)) × 1 / C
However, C is a constant.

上記(1)の構成によれば、体積ホログラムの溝深さ、屈折率差を変えることで、測距センサのサイズに関わらず感度を高める、もしくは低くすることが可能になる。また、体積ホログラムで回折した光のうち+n次光(nは整数)と、−n次光とをそれぞれ個別に受光する光検出器を用いることで、被検査物が近くにある場合も、検出部分のサイズを大きくすること無く被検査物の変位量を計測することができる。   According to the configuration of (1), it is possible to increase or decrease the sensitivity regardless of the size of the distance measuring sensor by changing the groove depth and refractive index difference of the volume hologram. In addition, by using a photodetector that individually receives + n-order light (n is an integer) and -n-order light among the light diffracted by the volume hologram, even when the object to be inspected is detected The displacement amount of the inspection object can be measured without increasing the size of the portion.

また上記(1)の構成によれば、体積ホログラムが、被検査物で散乱した光に対して入射角が0度になるように配置されており、かつその溝形状は垂直な矩形形状であることによって、被検査物の変位量測定開始の演算回路部からの出力信号を0とし、出力信号の正負に応じて、被検査物が遠ざかる、もしくは近づいているかを判別することが可能になる。 Further , according to the configuration of (1) , the volume hologram is arranged so that the incident angle is 0 degree with respect to the light scattered by the object to be inspected, and the groove shape is a vertical rectangular shape. Thus, the output signal from the arithmetic circuit unit for starting the measurement of the displacement amount of the inspection object is set to 0, and it is possible to determine whether the inspection object is moving away or approaching according to the positive / negative of the output signal.

(2):被検査物に対して略平行光を照射する光源と、前記被検査物と光源とを結ぶ直線上とは異なる位置に配置され、当該被検査物で散乱された光を回折する体積ホログラムと、前記体積ホログラムで回折した光のうち+n次光と、−n次光(但し、nは整数)とをそれぞれ個別に受光する光検出器と、前記光検出器の出力から、被検査物の変位量を出力する演算回路部と、を備え、前記体積ホログラムは、前記光源から前記被検査物へ向かう光に対して垂直に配置されていて、かつ当該体積ホログラムの溝形状は、前記被検査物が変位測定範囲の中心にあるときに、当該被検査物で散乱された光に対して平行であり、前記演算回路部は、前記体積ホログラムの+n次光の回折効率をη(n)、前記体積ホログラムの−n次光の回折効率をη(−n)、前記光源と前記被検査物との距離をL、前記光源と前記体積ホログラムとの距離をA、としたときに、前記被検査物が、当該被検査物と前記光源とを結ぶ直線上を変位した距離ΔLを以下の式で求めることを特徴とする測距センサである。(2): It is arranged at a position different from a light source that irradiates the object to be inspected with substantially parallel light and a straight line connecting the object to be inspected and the light source, and diffracts light scattered by the object to be inspected From a volume hologram, a photodetector that individually receives + n-order light and -n-order light (where n is an integer) of the light diffracted by the volume hologram, and an output of the photodetector An arithmetic circuit unit that outputs a displacement amount of the inspection object, wherein the volume hologram is arranged perpendicular to the light from the light source toward the inspection object, and the groove shape of the volume hologram is: When the inspection object is at the center of the displacement measurement range, it is parallel to the light scattered by the inspection object, and the arithmetic circuit unit sets the diffraction efficiency of + n-order light of the volume hologram to η ( n) The diffraction efficiency of -n-order light of the volume hologram is expressed as η (-N) When the distance between the light source and the inspection object is L, and the distance between the light source and the volume hologram is A, the inspection object is the inspection object and the light source. The distance measuring sensor is characterized in that a distance ΔL displaced on a connecting straight line is obtained by the following equation.
ΔL=−(L    ΔL = − (L 2 +A+ A 2 )tanΔθ/(A+LtanΔθ)) TanΔθ / (A + LtanΔθ)
Δθ=(η(n)−η(−n))/(η(n)+η(−n))×1/C    Δθ = (η (n) −η (−n)) / (η (n) + η (−n)) × 1 / C
ただし、Cは定数である。  However, C is a constant.

上記(2)の構成によれば、体積ホログラムの溝深さ、屈折率差を変えることで、測距センサのサイズに関わらず感度を高める、もしくは低くすることが可能になる。また、体積ホログラムで回折した光のうち+n次光(nは整数)と、−n次光とをそれぞれ個別に受光する光検出器を用いることで、被検査物が近くにある場合も、検出部分のサイズを大きくすること無く被検査物の変位量を計測することができる。
また上記(2)の構成によれば、体積ホログラムが、光源から被検査物へ向かう光に対して垂直に配置されており、かつその溝形状は被検査物で散乱した光に対して平行になるように形成されている。これによって、上記(1)の構成と同様、被検査物の変位量測定開始の演算回路部からの出力信号を0とし、出力信号の正負に応じて、被検査物が遠ざかる、もしくは近づいているかを判別することが可能になる。
According to the configuration of (2) above, it is possible to increase or decrease the sensitivity regardless of the size of the distance measuring sensor by changing the groove depth and refractive index difference of the volume hologram. In addition, by using a photodetector that individually receives + n-order light (n is an integer) and -n-order light among the light diffracted by the volume hologram, even when the object to be inspected is detected The displacement amount of the inspection object can be measured without increasing the size of the portion.
In the above-described configuration (2), a volume hologram is arranged perpendicularly to the light toward the object to be inspected from the light source, and the groove shape is parallel to the light scattered by the object to be inspected It is formed to become. As a result, as in the configuration of (1) above, the output signal from the arithmetic circuit unit for starting the measurement of the displacement of the inspection object is set to 0, and the inspection object moves away or approaches depending on whether the output signal is positive or negative Can be determined.

(3):前記光源を中心に、当該光源から前記被検査物へ向かう光に対して垂直な面内に、前記体積ホログラム及び前記光検出器が、それぞれ複数配置されていることを特徴とする上記(1)または(2)に記載の測距センサである。 (3) : A plurality of volume holograms and a plurality of photodetectors are arranged in a plane perpendicular to the light from the light source toward the object to be inspected, centering on the light source. The distance measuring sensor according to (1) or (2) .

上記(3)の構成によれば、光源を中心に、光源から被検査物へ向かう光に対して垂直な面内に前記体積ホログラム、光検出器を、複数配置したことにより、前記体積ホログラム、光検出器を複数配置することで、測定範囲を複数に増やすことが可能になる。 According to the configuration of the above (3) , by arranging a plurality of the volume holograms and photodetectors in a plane perpendicular to the light from the light source toward the object to be inspected around the light source, the volume hologram, By arranging a plurality of photodetectors, the measurement range can be increased to a plurality.

本発明によれば、測距センサのサイズに関わらず感度を高める、もしくは低くすることのできると共に、被検査物が近くにある場合も、検出部分のサイズを大きくすること無く小型な測距センサを提供することができる。   According to the present invention, the sensitivity can be increased or decreased regardless of the size of the distance measuring sensor, and the small distance measuring sensor without increasing the size of the detection portion even when the object to be inspected is nearby. Can be provided.

本発明に係る測距センサの実施形態の一例を示す概略図である。It is the schematic which shows an example of embodiment of the ranging sensor which concerns on this invention. 本実施形態における三角測距の原理を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the principle of the triangulation in this embodiment. 体積ホログラムの構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure of a volume hologram. 平面ホログラムと体積ホログラムとの回折効率の違いを示すグラフである。It is a graph which shows the difference in the diffraction efficiency of a plane hologram and a volume hologram. 本発明に係る測距センサのその他の実施形態の一例を示す概略図である。It is the schematic which shows an example of other embodiment of the ranging sensor which concerns on this invention. 体積ホログラムの回折効率と角度変化量との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the diffraction efficiency of a volume hologram, and an angle variation. 測距センサの演算回路部の構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure of the arithmetic circuit part of a ranging sensor. 演算回路部の出力信号を示すグラフである。It is a graph which shows the output signal of an arithmetic circuit part. 体積ホログラムの配置位置をパラメータにしたときの信号演算部の出力信号を示すグラフである。It is a graph which shows the output signal of a signal calculating part when the arrangement position of a volume hologram is used as a parameter. 本発明に係る測距センサにおいて複数の測距範囲における測定を実現するための構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure for implement | achieving the measurement in a some ranging range in the ranging sensor which concerns on this invention.

本発明に係る測距センサは、被検査物3に対して略平行光を照射する光源1,2と、前記被検査物3と光源1,2とを結ぶ直線上とは異なる位置に配置され、当該被検査物3で散乱された光を回折する体積ホログラム4と、前記体積ホログラム4で回折した光のうち+n次光と、−n次光(但し、nは整数)とをそれぞれ個別に受光する光検出器6,7と、前記光検出器6,7の出力から、被検査物3の変位量を出力する演算回路部8と、を備えることを特徴とする。
次に、本発明に係る測距センサについて図面を参照しながらさらに詳細に説明する。
尚、以下に述べる実施の形態は、本発明の好適な実施形態であるから技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範囲は以下の説明において本発明を限定する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるものではない。
The distance measuring sensor according to the present invention is disposed at a position different from the light sources 1 and 2 that irradiate substantially parallel light to the inspection object 3 and a straight line connecting the inspection object 3 and the light sources 1 and 2. The volume hologram 4 that diffracts the light scattered by the object 3 to be inspected, and the + n-order light and the −n-order light (where n is an integer) of the light diffracted by the volume hologram 4 are individually provided. Photodetectors 6 and 7 that receive light, and an arithmetic circuit unit 8 that outputs a displacement amount of the inspection object 3 from outputs of the photodetectors 6 and 7.
Next, the distance measuring sensor according to the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.
Although the embodiments described below are preferred embodiments of the present invention, various technically preferred limitations are given, but the scope of the present invention is intended to limit the present invention in the following description. As long as there is no description, it is not restricted to these aspects.

<光源1,2>
図1は本発明に係る測距センサの実施形態の一例を示す概略図である。
点光源1にはLD、もしくはLEDを用いる。点光源1から出射された発散光はコリメートレンズ2によって平行光束になる。
本発明における光源とは、被検査物3に対して略平行光を照射可能であれば如何なる形態であっても良いが、本実施形態では、点光源1とコリメートレンズ2を併せて光源とし用いる。コリメートレンズ2には、従来公知のものをそのまま適用できる。
<Light sources 1, 2>
FIG. 1 is a schematic view showing an example of an embodiment of a distance measuring sensor according to the present invention.
An LD or LED is used for the point light source 1. The divergent light emitted from the point light source 1 is converted into a parallel light flux by the collimator lens 2.
The light source in the present invention may be in any form as long as it can irradiate substantially parallel light onto the object 3 to be inspected, but in this embodiment, the point light source 1 and the collimating lens 2 are used together as a light source. . As the collimating lens 2, a conventionally known lens can be applied as it is.

<光検出器6,7>
次いで、平行光束は被検査物3に照射される。被検査物3は例えば人体、衣服などの表面形状の粗い散乱体を想定している。この被検査物3で斜め方向に散乱された光の一部を後述する体積ホログラム4で回折し、検出レンズ5で集光する。体積ホログラム(回折ホログラム)4で回折した光のうち、次数nの数値の揃った回折光±n次光をそれぞれ光検出器A6、光検出器B7で受光する。ここで、nは整数を表す。
<Photodetectors 6, 7>
Next, the parallel light beam is irradiated onto the inspection object 3. The inspection object 3 is assumed to be a scatterer having a rough surface shape such as a human body or clothes. A part of the light scattered in the oblique direction by the inspection object 3 is diffracted by a volume hologram 4 to be described later and condensed by the detection lens 5. Of the light diffracted by the volume hologram (diffraction hologram) 4, diffracted light ± n-order light having a numerical value of the order n is received by the photodetector A 6 and the photodetector B 7, respectively. Here, n represents an integer.

各光検出器6,7の出力は、演算回路部8で差動演算を行い、変位信号ΔL(変位量)を得る。点光源1と被検査物3を結ぶ軸をx軸とすると、被検査物3がx軸上を動くと、変位信号ΔLが変化する。
光検出器6,7には、従来公知のものをそのまま適用できる。
The outputs of the photodetectors 6 and 7 are subjected to differential calculation by the arithmetic circuit unit 8 to obtain a displacement signal ΔL (displacement amount). If the axis connecting the point light source 1 and the inspection object 3 is the x axis, the displacement signal ΔL changes when the inspection object 3 moves on the x axis.
As the photodetectors 6 and 7, a conventionally known one can be applied as it is.

<体積ホログラム4>
本実施形態における三角測距法について図2を元に説明する。コリメートレンズ2からx軸方向にL離れた位置に被検査物3がある。また、コリメートレンズ2からy軸方向にA離れたところに体積ホログラム4を設置する。ここで、コリメートレンズ2−被検査物3−体積ホログラム4のなす角をθとする。このとき体積ホログラム4は、θ≠0degとなるように、即ち被検査物3と光源1,2とを結ぶ直線上とは異なる位置に配置される。
今、被検査物3がx軸方向にΔL変位し、移動後の位置3’に移動したとする。この時、コリメートレンズ2−移動後の位置3’−体積ホログラム4のなす角をθ+Δθとすると、以下の2式が成り立つ。
<Volume hologram 4>
The triangulation method in this embodiment will be described with reference to FIG. The inspection object 3 is located at a position L away from the collimating lens 2 in the x-axis direction. Further, the volume hologram 4 is installed at a position A away from the collimating lens 2 in the y-axis direction. Here, the angle formed by the collimating lens 2 -the inspection object 3 -the volume hologram 4 is defined as θ. At this time, the volume hologram 4 is arranged so that θ ≠ 0 deg, that is, at a position different from the straight line connecting the inspection object 3 and the light sources 1 and 2.
Now, it is assumed that the inspection object 3 is displaced by ΔL in the x-axis direction and moved to the position 3 ′ after the movement. At this time, if the angle formed by the collimating lens 2 -position 3 'after movement and the volume hologram 4 is θ + Δθ, the following two equations are established.

A/L=tanθ ・・・式(1)
A/(L+ΔL)=tan(θ+Δθ) ・・・式(2)
A / L = tan θ (1)
A / (L + ΔL) = tan (θ + Δθ) (2)

これをΔLについて解くと、角度の変化量Δθの関数で表されることが分かる。   When this is solved for ΔL, it can be seen that it is expressed as a function of the angle variation Δθ.

ΔL=−(L+A)tanΔθ/(A+LtanΔθ) ・・・式(3) ΔL = − (L 2 + A 2 ) tan Δθ / (A + LtanΔθ) (3)

本発明で用いられる体積ホログラム4について図3を元に説明する。体積ホログラム4は、凹凸面を境に、屈折率の異なる硝材(硝材13、硝材14)で構成される。
体積ホログラムについて説明する。例えば、小山、西原著の「光波電子光学」(コロナ社)117頁〜132頁に記載されている如く、ホログラムには、一般的に平面ホログラムと体積ホログラムとがある。平面ホログラムであるか体積ホログラムであるかは、次の式(4)で算出されるパラメータQの値(Q値)によって判断される。ここで、λは入射光の波長、Tは凹凸格子の溝深さ、n1は硝材13の屈折率、n2は硝材14の屈折率、Pは溝間隔である。
The volume hologram 4 used in the present invention will be described with reference to FIG. The volume hologram 4 is composed of glass materials (glass material 13 and glass material 14) having different refractive indexes with the uneven surface as a boundary.
The volume hologram will be described. For example, as described in “Lightwave Electro-Optics” (Corona), pages 117 to 132, by Oyama and Nishihara, holograms generally include planar holograms and volume holograms. Whether it is a planar hologram or a volume hologram is determined by the value (Q value) of the parameter Q calculated by the following equation (4). Here, λ is the wavelength of the incident light, T is the groove depth of the concavo-convex grating, n1 is the refractive index of the glass material 13, n2 is the refractive index of the glass material 14, and P is the groove spacing.

Q=2πλT/P/(n1−n2) ・・・式(4) Q = 2πλT / P 2 / (n1−n2) (4)

通常、Q≦0.5の場合が平面ホログラム、Q≧5の場合が体積ホログラムと呼ばれている。平面ホログラムと体積ホログラムの性質の違いの一つは、回折効率の入射角依存性の有無である。例えば図4に示されるように、平面ホログラムでは光の入射角に関係なく回折効率はほぼ一定であるが、体積ホログラムでは光の入射角により回折効率は大きく変化し、特定の入射角θ(ブラッグ角)のときに回折効率が最大となる。 Usually, the case of Q ≦ 0.5 is called a planar hologram, and the case of Q ≧ 5 is called a volume hologram. One of the differences between the properties of a planar hologram and a volume hologram is whether or not the diffraction efficiency depends on the incident angle. For example, as shown in FIG. 4, the diffraction efficiency of a planar hologram is almost constant regardless of the incident angle of light. However, in the volume hologram, the diffraction efficiency changes greatly depending on the incident angle of light, and a specific incident angle θ B ( The diffraction efficiency is maximized at the Bragg angle.

次に、体積ホログラムを用いた角度の変化量Δθを測定する技術について説明する。硝材13の屈折率n1=1.71、硝材14の屈折率n2=1.5、凹凸格子の溝深さT=6.5μm、溝間隔P=5μmの体積ホログラムを例にとり説明する。この設計例では、λ=0.83μmであるときにQ=6.46になり、体積ホログラムと定義される。   Next, a technique for measuring an angle change amount Δθ using a volume hologram will be described. A volume hologram having a refractive index n1 = 1.71 of the glass material 13, a refractive index n2 = 1.5 of the glass material 14, a groove depth T = 6.5 μm, and a groove interval P = 5 μm will be described as an example. In this design example, Q = 6.46 when λ = 0.83 μm, which is defined as a volume hologram.

本実施形態において、Δθ=0degは、体積ホログラム4に入射する光が垂直に入射する場合を示す。つまり、図1において、被検査物3で散乱した光に対して、体積ホログラム4を垂直に配置する。
即ち、体積ホログラム4は、被検査物3が変位測定範囲の中心にあるΔθ=0degのときに、当該被検査物3で散乱された光に対して入射角が0度になるように配置されていて、かつ、その溝形状は、被検査物3で散乱された光に対して平行である。また、溝形状は矩形形状であることが好ましい。
In the present embodiment, Δθ = 0 deg indicates a case where light incident on the volume hologram 4 is incident vertically. That is, in FIG. 1, the volume hologram 4 is arranged perpendicular to the light scattered by the inspection object 3.
That is, the volume hologram 4 is arranged so that the incident angle is 0 degree with respect to the light scattered by the inspection object 3 when Δθ = 0 deg, which is the center of the displacement measurement range. In addition, the groove shape is parallel to the light scattered by the inspection object 3. The groove shape is preferably a rectangular shape.

もしくは、図5に示すように、体積ホログラム4の溝だけを入射する光に対して平行になるように構成してもよい。
即ち、体積ホログラム4は、光源1,2から被検査物3へ向かう光に対して垂直に配置されていて、かつその溝形状は、被検査物3が変位測定範囲の中心にあるときに、被検査物3で散乱された光に対して平行である。
Alternatively, as shown in FIG. 5, only the groove of the volume hologram 4 may be configured to be parallel to the incident light.
That is, the volume hologram 4 is arranged perpendicularly to the light from the light sources 1 and 2 toward the inspection object 3 and the groove shape is such that the inspection object 3 is at the center of the displacement measurement range. It is parallel to the light scattered by the inspection object 3.

この体積ホログラム4に入射する光の入射角(角度の変化量)Δθをパラメータにしたときの、回折効率の計算結果を図6に示す。この時、+1次光の回折効率η1と−1次光の回折効率η2はそれぞれ0degを境に線対称な特性を示す。そこで、角度信号SΔθを式(5)で定義すると、光検出器に入射する光量によらず、安定した信号を得ることが可能になる。   FIG. 6 shows the calculation result of the diffraction efficiency when the incident angle (angle change amount) Δθ of the light incident on the volume hologram 4 is used as a parameter. At this time, the diffraction efficiency η1 of the + 1st order light and the diffraction efficiency η2 of the −1st order light exhibit line-symmetric characteristics with 0 deg as a boundary. Therefore, if the angle signal SΔθ is defined by the equation (5), a stable signal can be obtained regardless of the amount of light incident on the photodetector.

SΔθ=(η1−η2)/(η1+η2) ・・・式(5)   SΔθ = (η1−η2) / (η1 + η2) (5)

特に角度の変化量±3degの範囲では、SΔθはほぼ線形な特性が得られる。すなわち、式(6)の関係が成り立つ。   In particular, in the range of the angle variation ± 3 deg, SΔθ has a substantially linear characteristic. That is, the relationship of Formula (6) is established.

SΔθ=C×Δθ ・・・式(6)   SΔθ = C × Δθ (6)

<演算回路部8>
本発明の測距センサの演算回路部(信号演算部)8は、図7に示すような回路で構成される。光検出器A6、及び光検出器B7の出力は、引き算回路9によって引き算され、信号Aが得られる。また、光検出器A6、及び光検出器B7の出力は、足し算回路10によって足し算され、信号Bが得られる。そして割り算回路11によって信号Aを信号Bで割ることで、式(5)にある角度信号SΔθを得ることができる。さらに、その出力信号に対して、1/Cに信号を増幅することで、Δθの変化量そのものを測定することができる。変位量演算回路12は、式(3)を演算する。これにより、被検査物3の変位ΔL(変位量)を測定することが可能になる。ここで、図1に構成において、L=100mm、A=20mmとしたとき、被検査物3をx軸方向に動かしたときの変位信号SΔLを図8に示す。本実施形態においては、L=100mm±25mmにおいて線形な信号が得られている。ここで、コリメートレンズ2と体積ホログラム4の間隔Aを変えると、表1に示すように、被検査物の測定範囲を変えることが可能になる。
<Operation circuit unit 8>
The arithmetic circuit unit (signal arithmetic unit) 8 of the distance measuring sensor of the present invention is configured by a circuit as shown in FIG. Outputs of the photodetectors A6 and B7 are subtracted by a subtracting circuit 9, and a signal A is obtained. Further, the outputs of the photodetectors A6 and B7 are added by the addition circuit 10, and a signal B is obtained. Then, by dividing the signal A by the signal B by the division circuit 11, the angle signal SΔθ in the equation (5) can be obtained. Furthermore, the amount of change in Δθ itself can be measured by amplifying the output signal to 1 / C. The displacement amount calculation circuit 12 calculates Expression (3). This makes it possible to measure the displacement ΔL (displacement amount) of the inspection object 3. Here, in the configuration shown in FIG. 1, when L = 100 mm and A = 20 mm, a displacement signal SΔL when the inspection object 3 is moved in the x-axis direction is shown in FIG. In the present embodiment, a linear signal is obtained at L = 100 mm ± 25 mm. Here, when the distance A between the collimating lens 2 and the volume hologram 4 is changed, as shown in Table 1, the measurement range of the inspection object can be changed.

Figure 0005476858
Figure 0005476858

このとき、信号は図9に示されるような応答を示す。   At this time, the signal shows a response as shown in FIG.

ここで、図10(A)、図10(B)に示すように、光源1,2から被検査物3へ向かう光に対して垂直な面内に、体積ホログラム4,54,64,74と、検出レンズ5,55,65,75と、光検出器A6,56,66,76と、光検出器B7,57,67,77と、をそれぞれ複数用いて、コリメートレンズ2を中心として、体積ホログラムの設置位置をA1、A2、A3、A4と変えることで、複数の測定範囲を一つの光源(点光源1+コリメートレンズ2)で検出することが可能になる。(検出レンズ65,75、光検出器A66,76、光検出器B67,77については図示を省略する。)   Here, as shown in FIGS. 10 (A) and 10 (B), volume holograms 4, 54, 64, 74 are formed in a plane perpendicular to the light from the light sources 1, 2 toward the object 3 to be inspected. , Detection lenses 5, 55, 65, and 75, photodetectors A6, 56, 66, and 76, and photodetectors B7, 57, 67, and 77, respectively. By changing the installation position of the hologram to A1, A2, A3, A4, it becomes possible to detect a plurality of measurement ranges with one light source (point light source 1 + collimating lens 2). (The detection lenses 65 and 75, the photodetectors A66 and 76, and the photodetectors B67 and 77 are not shown.)

以上説明した実施形態に係る測距センサによれば、測距センサのサイズに関わらず感度を高める、もしくは低くすることのできると共に、被検査物が近くにある場合も、検出部分のサイズを大きくすること無く小型化が実現できた。   According to the distance measuring sensor according to the embodiment described above, the sensitivity can be increased or decreased regardless of the size of the distance measuring sensor, and the size of the detection portion is increased even when the object to be inspected is nearby. Miniaturization could be realized without doing so.

1 点光源(LD、LED)
2 コリメートレンズ
3 非検査物
4 体積ホログラム
5 検出レンズ
6 光検出器A
7 光検出器B
8 演算回路部
9 引き算回路
10 足し算回路
11 割り算回路
12 変位量演算回路
13 硝材1
14 硝材2
54 第2の体積ホログラム
55 第2の検出レンズ
56 第2の光検出器A
57 第2の光検出器B
64 第3の体積ホログラム
65 第3の検出レンズ
66 第3の光検出器A
67 第3の光検出器B
74 第4の体積ホログラム
75 第4の検出レンズ
76 第4の光検出器A
77 第4の光検出器B
1 Point light source (LD, LED)
2 Collimating lens 3 Non-inspection object 4 Volume hologram 5 Detection lens 6 Photodetector A
7 Photodetector B
8 arithmetic circuit unit 9 subtraction circuit 10 addition circuit 11 division circuit 12 displacement amount calculation circuit 13 glass material 1
14 Glass 2
54 Second volume hologram 55 Second detection lens 56 Second photodetector A
57 Second photodetector B
64 Third volume hologram 65 Third detection lens 66 Third photodetector A
67 Third photodetector B
74 Fourth volume hologram 75 Fourth detection lens 76 Fourth photodetector A
77 Fourth Photodetector B

特表2006−503313号公報(第3図)JP-T-2006-503313 (FIG. 3) 特開2003−202708号公報(図7(A),(B),図8(A))Japanese Patent Laying-Open No. 2003-202708 (FIGS. 7A, 7B, 8A)

Claims (3)

被検査物に対して略平行光を照射する光源と、
前記被検査物と光源とを結ぶ直線上とは異なる位置に配置され、当該被検査物で散乱された光を回折する体積ホログラムと、
前記体積ホログラムで回折した光のうち+n次光と、−n次光(但し、nは整数)とをそれぞれ個別に受光する光検出器と、
前記光検出器の出力から、被検査物の変位量を出力する演算回路部と、を備え、
前記体積ホログラムは、前記被検査物が変位測定範囲の中心にあるときに、当該被検査物で散乱された光に対して入射角が0度になるように配置されていて、かつ当該体積ホログラムの溝形状は、被検査物で散乱された光に対して平行であると共に矩形形状であり、
前記演算回路部は、前記体積ホログラムの+n次光の回折効率をη(n)、前記体積ホログラムの−n次光の回折効率をη(−n)、前記光源と前記被検査物との距離をL、前記光源と前記体積ホログラムとの距離をA、としたときに、前記被検査物が、当該被検査物と前記光源とを結ぶ直線上を変位した距離ΔLを以下の式で求めることを特徴とする測距センサ。
ΔL=−(L +A )tanΔθ/(A+LtanΔθ)
Δθ=(η(n)−η(−n))/(η(n)+η(−n))×1/C
ただし、Cは定数である。
A light source that emits substantially parallel light to the object to be inspected;
A volume hologram that is arranged at a position different from the straight line connecting the inspection object and the light source, and diffracts light scattered by the inspection object;
A photodetector that individually receives + n-order light and -n-order light (where n is an integer) among the light diffracted by the volume hologram;
From the output of the photodetector, e Bei and a calculation circuit for outputting a displacement amount of the object to be inspected,
The volume hologram is arranged so that an incident angle becomes 0 degrees with respect to light scattered by the inspection object when the inspection object is at the center of a displacement measurement range, and the volume hologram The groove shape is parallel to the light scattered by the object to be inspected and is a rectangular shape,
The arithmetic circuit unit has a diffraction efficiency of + n order light of the volume hologram η (n), a diffraction efficiency of −n order light of the volume hologram η (−n), and a distance between the light source and the object to be inspected. Is the distance L between the light source and the volume hologram, and the distance ΔL by which the inspection object is displaced on the straight line connecting the inspection object and the light source is obtained by the following equation: Ranging sensor characterized by
ΔL = − (L 2 + A 2 ) tan Δθ / (A + Ltan Δθ)
Δθ = (η (n) −η (−n)) / (η (n) + η (−n)) × 1 / C
However, C is a constant.
被検査物に対して略平行光を照射する光源と、  A light source that emits substantially parallel light to the object to be inspected;
前記被検査物と光源とを結ぶ直線上とは異なる位置に配置され、当該被検査物で散乱された光を回折する体積ホログラムと、  A volume hologram that is arranged at a position different from the straight line connecting the inspection object and the light source, and diffracts light scattered by the inspection object;
前記体積ホログラムで回折した光のうち+n次光と、−n次光(但し、nは整数)とをそれぞれ個別に受光する光検出器と、  A photodetector that individually receives + n-order light and -n-order light (where n is an integer) among the light diffracted by the volume hologram;
前記光検出器の出力から、被検査物の変位量を出力する演算回路部と、を備え、  From the output of the photodetector, an arithmetic circuit unit that outputs the amount of displacement of the inspection object,
前記体積ホログラムは、前記光源から前記被検査物へ向かう光に対して垂直に配置されていて、かつ当該体積ホログラムの溝形状は、前記被検査物が変位測定範囲の中心にあるときに、当該被検査物で散乱された光に対して平行であり、  The volume hologram is arranged perpendicular to the light from the light source toward the inspection object, and the groove shape of the volume hologram is such that the inspection object is at the center of the displacement measurement range. Parallel to the light scattered by the object under test,
前記演算回路部は、前記体積ホログラムの+n次光の回折効率をη(n)、前記体積ホログラムの−n次光の回折効率をη(−n)、前記光源と前記被検査物との距離をL、前記光源と前記体積ホログラムとの距離をA、としたときに、前記被検査物が、当該被検査物と前記光源とを結ぶ直線上を変位した距離ΔLを以下の式で求めることを特徴とする測距センサ。  The arithmetic circuit unit has a diffraction efficiency of + n order light of the volume hologram η (n), a diffraction efficiency of −n order light of the volume hologram η (−n), and a distance between the light source and the object to be inspected. Is the distance L between the light source and the volume hologram, and the distance ΔL by which the inspection object is displaced on the straight line connecting the inspection object and the light source is obtained by the following equation: Ranging sensor characterized by
ΔL=−(L    ΔL = − (L 2 +A+ A 2 )tanΔθ/(A+LtanΔθ)) TanΔθ / (A + LtanΔθ)
Δθ=(η(n)−η(−n))/(η(n)+η(−n))×1/C    Δθ = (η (n) −η (−n)) / (η (n) + η (−n)) × 1 / C
ただし、Cは定数である。  However, C is a constant.
前記光源を中心に、当該光源から前記被検査物へ向かう光に対して垂直な面内に、前記体積ホログラム及び前記光検出器が、それぞれ複数配置されていることを特徴とする請求項1または2に記載の測距センサ。  The volume hologram and a plurality of the photodetectors are respectively disposed in a plane perpendicular to the light from the light source toward the inspection object with the light source as a center. 2. The distance measuring sensor according to 2.
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