JP5438268B2 - 試験装置 - Google Patents
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Description
を備え、光ドライバ部は、タイミング信号を発生するタイミング発生器、タイミング発生器に同期して動作する複数の光ドライバであって、それぞれが電気的な試験信号を発生するプログラム発生器およびプログラム発生器の出力した電気的な試験信号を光試験信号に変換する電気光変換部を有する複数の光ドライバ、並びに、複数の光ドライバの発生した光試験信号を合波して複合被光試験信号を発生する光マルチプレクサを含み、光コンパレータは、タイミング信号に同期したパルス光信号を発生するパルス光源、パルス光信号に同期して動作し、受信した複合被光試験信号を複数の個別光信号に分岐させる光デマルチプレクサ、光デマルチプレクサが出力する複数の個別光信号を個々に電気信号に変換する複数の光電気変換部、および、光電気変換部の出力をプログラム発生器の発生した試験信号と比較して被試験デバイスの動作を評価するデータ比較部を含む試験装置が提供される。
Claims (7)
- タイミング信号に基づいて生成された複数の電気的な試験信号をシリアル変換して、高速な光信号に変換した複合光試験信号を被試験デバイスに送信して前記被試験デバイスにおいて処理させる光ドライバ部と、
前記被試験デバイスにおいて処理された複合被光試験信号を受信して前記被試験デバイスの動作を評価する光コンパレータと
を備えた試験装置であって、
前記光ドライバ部は、
タイミング信号を発生するタイミング発生器と、
前記タイミング発生器に同期して動作する複数の光ドライバであって、それぞれが電気的な試験信号を発生するプログラム発生器およびプログラム発生器の出力した前記電気的な試験信号を光試験信号に変換する電気光変換部を有する複数の光ドライバと、
前記複数の光ドライバの発生した光試験信号を合波して光電気変換素子の動作限界を越える速度を有する複合光試験信号を発生する光マルチプレクサと
を含み、
前記光コンパレータは、
前記被試験デバイスにおいて処理された、光電気変換素子の動作限界を越える速度を有する前記複合被光試験信号を波長帯域毎に複数の個別光信号に分岐するアレイド・ウェイブ・ガイドと、
前記タイミング信号に同期したパルス光信号を発生するパルス光源と、
前記パルス光信号に同期して動作し、前記複数の個別光信号の各々を更に複数の個別光信号に分岐させる光デマルチプレクサと、
前記光デマルチプレクサが出力する複数の個別光信号を個々に電気信号に変換する複数の光電気変換部と、
前記光電気変換部の出力を前記プログラム発生器の発生した前記試験信号と比較して前記被試験デバイスの動作を評価するデータ比較部と
を含む
試験装置。 - 前記光デマルチプレクサは、可変遅延線を介して前記パルス光を受ける請求項1に記載の試験装置。
- 前記光デマルチプレクサは、
互いに異なる波長を有する制御光を出力する制御光源と、
前記制御光および特定波長を有する前記複合被光試験信号が時間的に重畳して入力された場合に、前記制御光の波長に応じた互いに異なる波長に前記複合被光試験信号の波長を変換して波長変換光として出力する波長変換素子と、
前記波長変換素子から出力された前記波長変換光が入力され、その波長に応じて互いに異なる光導波路に伝播させる光分岐器と
を備える請求項1に記載の試験装置。 - 前記波長変換素子は、入力された前記複合被光試験信号および前記制御光の和周波または差周波である前記波長変換光を出力する、周期的な分極反転構造を有する非線形光学素子を含む請求項3に記載の試験装置。
- 前記制御光源は、波長帯域が隣接する互いに異なる発光波長を有する複数の光源と、前記複数の光源のいずれかの発生した光を選択的に外部に出力させる光スイッチと、前記光を動作させる波長制御信号源とを含む請求項4に記載の試験装置。
- 前記複数の光電気変換部は、前記タイミング信号に同期して変換動作する請求項1に記載の試験装置。
- 前記データ比較部は、前記複数の光電気変換部のそれぞれにより変換された前記電気信号を、前記プログラム発生器の各々が出力した試験信号に対応した信号に分離し、当該分離した信号と、前記試験信号とを比較する請求項1から請求項6までのいずれか一項に記載の試験装置。
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