JP5413715B2 - セラミックハニカム構造体の検査方法 - Google Patents
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Description
本発明のセラミックハニカム構造体の検査方法において、音響信号の発信側探触子と受信側探触子とが隔壁方向と一致するように配置された第1の探触子と、前記隔壁方向と略直交する隔壁方向と一致するように配置された第2の探触子とを前記外周壁に当接し、前記セラミックハニカム構造体の流路方向の複数箇所で音響信号を受信し、前記第1の探触子で前記複数箇所で受信した受信値の最大値U1maxと最小値U1minとの比U1=(U1max-U1min)/U1max、及び、前記第2の探触子で前記複数箇所で受信した受信値の最大値U2maxと最小値U2minとの比U2=(U2max-U2min)/U2maxを、予め設定した値U0と比較することで、次の作用効果を有する。つまり、従来技術のように受信値の閾値でクラックが生じた製品と良品とを判別してしまうと、セラミックハニカム構造体の隔壁が変形していて、受信値が低下し受信値が閾値を下回っている場合もクラックと判別してしまう。しかし、第1の探触子11a、11bで前記複数箇所で受信した受信値(図2のU11、U12、U13、U14、U15・・・)の最大値U1maxと最小値U1minとの比U1=(U1max-U1min)/U1maxを、予め設定した値U0と比較することで、セラミックハニカム構造体の隔壁が変形していて、受信値が低下して閾値を下回っている場合でも、クラックが生じた製品と良品との判別を正しく行なえる。そして、U0≦U1の場合にクラックが存在していると判別される。一方、U1<U0の場合、第1の探触子で検査した部位にはクラックが存在しないと判別でき、第2の探触子で検査した部位での判別に委ねられる。そして、第2の探触子12a、12bで前記複数箇所で受信した受信値の最大値U2maxと最小値U2minとの比U2=(U2max-U2min)/U2maxが、U0≦U2の場合には、第2の探触子で検査した部位にクラックが存在していると判別される。一方、U2<U0であると、第2の探触子で検査した部位にもクラックが存在しないと判別でき、検査したハニカム構造体は合格判定とすることができる。
(U0max-U0min)/U0maxをU0とする。
(実施例1)
図1は、本発明のセラミックハニカム構造体の検査方法に係る検査装置20に、セラミックハニカム構造体10を載置した状態を示した模式図である。図1に示す検査装置20は、セラミックハニカム構造体10を載置した時の固定部21が2箇所設けられており、その固定部21の一方には、黒マジックで丸印Mが付されている。そして、第1の発信側探触子11aと受信側探触子11bとが直線上に対向して配置され、これら発信側探触子11aと受信側探触子11bと直交する位置に、第2の発信側探触子12aと第2の受信側探触子12bとが直線上に対向して配置され、昇降可能な把持部材22に設置されている。
(U0max-U0min)/U0maxを算出すると0.6であった。この値をU0とする。
この検査済みのセラミックハニカム構造体を切断して、クラックの有無を確認したが、クラックは生じていないことが確認された。
実施例1と同様に他のセラミックハニカム構造体を測定した。尚、セラミックハニカム構造体のC軸方向(四角形流路の対角線方向)の外周壁に、黒インクで印Mを付け、この印Mを固定部21の一方に付された印mと一致するように設置した。測定の結果、U1は0.4、U2は0.7となり、U1はU0の値より小さいが、U2はU0の値より大きいため、NG判定した。
この検査済みのセラミックハニカム構造体を切断して、クラックの有無を確認したところ、クラックが生じていることが確認された。
実施例2と同様に他のセラミックハニカム構造体を測定した。U1は0.4、U2は0.7となり、U1はU0の値より小さいが、U2はU0の値より大きいため、NG判定した。
この検査済みのセラミックハニカム構造体を切断して、クラックの有無を確認したところ、クラックが生じていることが確認された。
実施例2と同様にして、100個のセラミックハニカム構造体の検査を行なった。その結果、5個のセラミックハニカム構造体でのU1もしくはU2の値がU0よりも大きく、NG判定を行なった。
これら5個の検査済みのセラミックハニカム構造体を切断して、クラックの有無を確認したところ、何れもクラックが生じていることが確認された。
実施例2と同様にして、100個のセラミックハニカム構造体の検査を行い、受信した音響信号U11〜U15、U21〜U25を次のように判定した。予め、クラックが生じていることが確認されているセラミックハニカム構造体で測定した音響信号U01〜U05のうち、受信値の最小値U0minを閾値とした。そして、20個のセラミックハニカム構造体での受信値の最小値U1minもしくはU2minの値が、閾値U0minの値よりも小さかったので、NG判定を行なった。
これら20個の検査済みのセラミックハニカム構造体を切断して、クラックの有無を確認したところ、5個のセラミックハニカム構造体にはクラックが生じていることが確認されたが、残りの15個にはクラックが生じていないことが確認された。
2:隔壁
3、4:流路
5、6:封止部
7:流入側
8:流出側
10:セラミックハニカム構造体(セラミックハニカムフィルタ)
11a:第1の発信側探触子
11b:第1の受信側探触子
12a:第2の発信側探触子
12b:第2の受信側探触子
20:検査装置
21:固定部
22:把持部材
111、121:シリンダー
M:外周壁に付された印
m:固定部21に付された印
Claims (2)
- 外周壁とこの外周壁の内側で隔壁により囲まれた流路を有する多孔質セラミックハニカム構造体の検査方法であって、音響信号の発信側探触子と受信側探触子とが隔壁方向と一致するように配置された第1の探触子と、前記隔壁方向と略直交する隔壁方向と一致するように配置された第2の探触子とを前記外周壁に当接し、前記セラミックハニカム構造体の流路方向の複数箇所で音響信号を受信し、前記第1の探触子で前記複数箇所で受信した受信値の最大値U1maxと最小値U1minとの比U1=(U1max-U1min)/U1max、及び、前記第2の探触子で前記複数箇所で受信した受信値の最大値U2maxと最小値U2minとの比U2=(U2max-U2min)/U2maxを、予め設定した値U0と比較することで、欠陥の有無を検査するセラミックハニカム構造体の検査方法。
- 前記探触子を前記外周壁に当接した際に、前記隔壁方向と略一致するように、前記外周壁に印を付すことを特徴とする請求項1に記載のセラミックハニカム構造体の検査方法。
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