JP5390754B2 - Appearance inspection method and apparatus using image processing - Google Patents
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Description
本発明は、光透過性の材料により形成された物品に付着した異物が除去可能な異物か否かを判断する画像処理による外観検査方法およびその装置に関するものである。 The present invention relates to an appearance inspection method by image processing for determining whether or not a foreign matter attached to an article formed of a light-transmitting material is a removable foreign matter and an apparatus therefor.
一般に、物品の製造時に物品に付着する異物には、図9のように、物品Bの表面に付着して除去可能な異物F1と、物品Bの内部に埋入されて除去不能な異物F2と、物品Bの内部に一部が埋入されて除去不能な異物F3とがある。以下では、異物F1が物品Bの表面に付着して除去可能である状態を「異物付着」、異物F2の全体が物品Bに埋入されて除去不能な状態を「異物混入」、異物F3の一部が物品Bに埋入されて除去不能な状態を「異物部分混入」と呼ぶ。異物混入や異物部分混入は、異物F2,F3を除去することができず物品Bの品質が損なわれるから、欠陥品として処分することが要求される。 In general, as shown in FIG. 9, the foreign matter F1 that adheres to the surface of the article B and can be removed, and the foreign matter F2 that is embedded inside the article B and cannot be removed, as shown in FIG. There is a foreign matter F3 that is partially embedded in the article B and cannot be removed. In the following, the state in which the foreign matter F1 adheres to the surface of the article B and can be removed is “foreign matter adhesion”, the state in which the entire foreign matter F2 is embedded in the article B and cannot be removed is “foreign matter mixed”, and the foreign matter F3 A state in which a part is embedded in the article B and cannot be removed is referred to as “foreign matter partial mixing”. Foreign matter contamination and foreign matter partial contamination cannot be removed from the foreign matters F2 and F3, and the quality of the article B is impaired. Therefore, disposal as a defective product is required.
一方、異物付着の場合にはブラシやエアブローによって異物F1を簡単に除去することができるから、欠陥品と誤認されないように欠陥品とは区別する必要がある。異物付着を異物混入と誤認すれば、良品を欠陥品と判断して処分してしまういわゆる無駄ばねが生じて歩留まりが低下する。 On the other hand, in the case of foreign matter adhesion, the foreign matter F1 can be easily removed by a brush or air blow, so it is necessary to distinguish it from a defective product so that it is not mistaken for a defective product. If it is mistaken that foreign matter is adhering to foreign matter, a so-called useless spring is generated in which a non-defective product is judged as a defective product and disposed, and the yield decreases.
物品Bの外観を撮像した濃淡画像を用いて異物の有無を判断する方法としては、検査領域内の画素の微分値を求め、微分値の平均値(平均微分値)と適宜の閾値との大小を比較し、平均微分値が閾値よりも大きいときに異物が存在すると判断する技術が知られている(たとえば、特許文献1参照)。 As a method of determining the presence or absence of a foreign substance using a grayscale image obtained by imaging the appearance of the article B, a differential value of a pixel in an inspection region is obtained, and the difference between the average value of the differential value (average differential value) and an appropriate threshold value is determined. Is known, and when the average differential value is larger than a threshold value, it is determined that a foreign substance exists (see, for example, Patent Document 1).
特許文献1に記載の技術では、異物と刻印とを区別するために、平均微分値に適用する閾値を2段階に設定しており、平均微分値が小さいほうの閾値以下であるときには異物が存在しないと判断し、平均微分値が大きいほうの閾値よりも大きいときには異物が存在すると判断し、平均微分値が両閾値の間であれば異物と刻印とのいずれかが存在すると判断している。
特許文献1に記載の技術を採用すると、撮像した濃淡画像に含まれる情報を用いて物品に異物が付着しているか否かを判断することができる。しかしながら、光透過材料により形成された物品では、物品内に埋入された部分が画像内に含まれるから、異物混入あるいは異物部分混入と、異物付着とを区別することができない。その結果、異物を簡単に除去できるにもかかわらず欠陥品と誤認することによる無駄ばねを防止することができない。
When the technique described in
ところで、異物付着、異物混入、異物部分混入に対応してそれぞれ図10(a)〜(c)に示すような濃淡画像が得られる場合に、微分画像では図11(a)〜(c)に示すようにいずれもが微分値を持つ。一方、微分画像のうち適宜の閾値以上の微分値を持つ画素を抽出したエッジ画像では、図12(a)〜(c)に示すように、異物混入でエッジが検出されないようにすると、異物付着と異物部分混入とのいずれにおいてもエッジが検出される。したがって、エッジ画像を用いても異物付着と異物部分混入とは区別することが困難である。 By the way, when a grayscale image as shown in FIGS. 10A to 10C is obtained corresponding to foreign matter adhesion, foreign matter contamination, and foreign matter partial mixing, respectively, in the differential image, FIGS. 11A to 11C are used. As shown, all have differential values. On the other hand, in an edge image obtained by extracting pixels having a differential value equal to or greater than an appropriate threshold value from the differential image, as shown in FIGS. Edges are detected both in the case of foreign matter and foreign matter. Therefore, it is difficult to distinguish between foreign matter adhesion and foreign matter part mixture even using an edge image.
本発明は上記事由に鑑みて為されたものであり、その目的は、光透過性の材料により形成された物品において、異物の全体または一部が埋入されているか異物が表面に付着しているかを判別することを可能にした画像処理による外観検査方法およびその装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above-mentioned reasons, and the object thereof is that an article formed of a light-transmitting material has the whole or part of the foreign matter embedded therein or the foreign matter adheres to the surface. It is an object of the present invention to provide an appearance inspection method by image processing and an apparatus thereof that make it possible to discriminate whether or not.
請求項1の発明は、光透過性の材料により形成された物品を撮像手段により撮像し、撮像により得られた濃淡画像を用いて異物を判別する外観検査方法であって、撮像により得られた濃淡画像を二値化した二値画像において、異物に相当する画素値を有しかつ規定した画素数以上の画素からなる連結領域を異物の存在する候補領域とし、候補領域の重心位置を中心としかつ候補領域の幅寸法に基づいて候補領域を囲むように設定した領域を検査領域とし、濃淡画像からエッジを抽出するにあたり、検査領域内の濃淡画像を微分した微分画像を生成し、微分画像において、物品の内部に埋入された異物と物品の表面に露出する異物との輪郭線が併せて抽出されるように規定した第1の閾値以上の微分値である画素からエッジを抽出する第1のエッジ抽出処理と、微分画像において、物品の表面に露出する異物の輪郭線が抽出され物品の内部に埋入された異物の輪郭線が抽出されないように規定した第2の閾値以上の微分値である画素からエッジを抽出する第2のエッジ抽出処理とを行い、第1のエッジ抽出処理に用いる閾値は前記第2のエッジ抽出処理に用いる閾値よりも小さい値であって、第1のエッジ抽出処理により抽出したエッジの長さと第2のエッジ抽出処理により抽出したエッジの長さとの変化が規定した判定閾値以下であるときに除去可能な異物と判定することを特徴とする。
The invention of
請求項2の発明は、光透過性の材料により形成された物品を撮像手段により撮像し、撮像により得られた濃淡画像を用いて異物を判別する外観検査方法であって、撮像により得られた濃淡画像を二値化した二値画像において、異物に相当する画素値を有しかつ規定した画素数以上の画素からなる連結領域を異物の存在する候補領域とし、候補領域の重心位置を中心としかつ候補領域の幅寸法に基づいて候補領域の内側に設定した内側領域を除外した領域を検査領域とし、濃淡画像からエッジを抽出するにあたり、検査領域内の濃淡画像を微分した微分画像を生成し、微分画像において、物品の内部に埋入された異物と物品の表面に露出する異物との輪郭線が併せて抽出されるように規定した第1の閾値以上の微分値である画素からエッジを抽出する第1のエッジ抽出処理と、微分画像において、物品の表面に露出する異物の輪郭線が抽出され物品の内部に埋入された異物の輪郭線が抽出されないように規定した第2の閾値以上の微分値である画素からエッジを抽出する第2のエッジ抽出処理とを行い、第1のエッジ抽出処理に用いる閾値は前記第2のエッジ抽出処理に用いる閾値よりも小さい値であって、第1のエッジ抽出処理により抽出したエッジの長さと第2のエッジ抽出処理により抽出したエッジの長さとの変化が規定した判定閾値以下であるときに除去可能な異物と判定することを特徴とする。
The invention of
請求項3の発明は、光透過性の材料により形成された物品を撮像手段により撮像し、撮像により得られた濃淡画像を用いて異物を判別する外観検査方法であって、撮像により得られた濃淡画像を二値化した二値画像において、異物に相当する画素値を有しかつ規定した画素数以上の画素からなる連結領域を異物の存在する候補領域とし、候補領域の重心位置を中心としかつ候補領域の幅寸法に基づいて候補領域を囲むように設定した外側領域から候補領域の重心位置を中心としかつ候補領域の幅寸法に基づいて候補領域の内側に設定した内側領域を除外した領域を検査領域とし、濃淡画像からエッジを抽出するにあたり、検査領域内の濃淡画像を微分した微分画像を生成し、微分画像において、物品の内部に埋入された異物と物品の表面に露出する異物との輪郭線が併せて抽出されるように規定した第1の閾値以上の微分値である画素からエッジを抽出する第1のエッジ抽出処理と、微分画像において、物品の表面に露出する異物の輪郭線が抽出され物品の内部に埋入された異物の輪郭線が抽出されないように規定した第2の閾値以上の微分値である画素からエッジを抽出する第2のエッジ抽出処理とを行い、第1のエッジ抽出処理に用いる閾値は前記第2のエッジ抽出処理に用いる閾値よりも小さい値であって、第1のエッジ抽出処理により抽出したエッジの長さと第2のエッジ抽出処理により抽出したエッジの長さとの変化が規定した判定閾値以下であるときに除去可能な異物と判定することを特徴とする。
The invention of
請求項4の発明は、光透過性の材料により形成された物品を撮像する撮像手段と、撮像により得られた濃淡画像を二値化した二値画像を生成する二値化手段と、二値画像の各画素のうち異物に相当する画素値を有しかつ規定した画素数以上の画素からなる連結領域を異物の存在する候補領域として抽出する候補領域抽出手段と、候補領域の重心位置を中心としかつ候補領域の幅寸法に基づいて候補領域を囲むように設定した外側領域から候補領域の重心位置を中心としかつ候補領域の幅寸法に基づいて候補領域の内側に設定した内側領域を除外した領域を検査領域とする検査領域設定手段と、検査領域内の濃淡画像を微分した微分画像を生成する微分手段と、微分画像において、物品の内部に埋入された異物と物品の表面に露出する異物との輪郭線が併せて抽出されるように規定した第1の閾値以上の微分値である画素からエッジを抽出する第1のエッジ抽出手段と、微分画像において、物品の表面に露出する異物の輪郭線が抽出され物品の内部に埋入された異物の輪郭線が抽出されないように第1の閾値よりも大きい値に設定した第2の閾値以上の微分値である画像からエッジを抽出する第2のエッジ抽出手段と、第1のエッジ抽出手段により抽出したエッジの長さと第2のエッジ抽出手段により抽出したエッジの長さとの変化が規定した判定閾値以下であるときに除去可能な異物と判定する判定手段とを備えることを特徴とする。 According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an imaging means for imaging an article formed of a light-transmitting material, a binarizing means for generating a binary image obtained by binarizing a grayscale image obtained by imaging, and a binary Candidate area extraction means for extracting a connected area having pixels corresponding to a foreign substance and having a pixel value corresponding to a foreign substance among the pixels of the image as a candidate area where the foreign substance exists, and center of gravity of the candidate area And from the outer area set to surround the candidate area based on the width dimension of the candidate area, the inner area set around the center of gravity of the candidate area and set inside the candidate area based on the width dimension of the candidate area is excluded and inspection area setting means to the inspection area an area, a differentiating means for generating a differential image which the grayscale image obtained by differentiating in the examination region, Oite the differential image, inside the implanted foreign object and the surface of the article of the article With exposed foreign matter A first edge extraction means for extracting a first edge of the pixel is the threshold or more differential value defined as Guo lines are extracted together, Oite the differential image, a foreign matter is exposed to the surface of the article An edge is extracted from an image having a differential value equal to or larger than a second threshold value set to a value larger than the first threshold value so that a contour line is extracted and a contour line of a foreign substance embedded in the article is not extracted. A foreign substance that can be removed when a change between the edge length extracted by the first edge extracting means and the edge length extracted by the second edge extracting means is equal to or less than a prescribed determination threshold value; And determining means for determining.
請求項1、請求項2、請求項3の発明に共通の構成によれば、微分画像において、物品の内部に埋入された異物と物品の表面に露出する異物との輪郭線が併せて抽出されるように規定した第1の閾値以上の微分値である画素からエッジを抽出する第1のエッジ抽出処理と、微分画像において、物品の表面に露出する異物の輪郭線が抽出され物品の内部に埋入された異物の輪郭線が抽出されないように規定した第2の閾値以上の微分値である画素からエッジを抽出する第2のエッジ抽出処理とを設けているから、第1のエッジ抽出処理では異物の全体または一部が物品に埋入されている異物混入あるいは異物部分混入か表面に付着している異物付着かにかかわらず異物の輪郭線の大部分を含むエッジが抽出され、第2のエッジ抽出処理では物品の表面に露出している異物の輪郭線を含むエッジが抽出される。
According to the configuration common to the inventions of
すなわち、第1のエッジ抽出処理により検出されたエッジと第2のエッジ抽出処理により抽出されたエッジとの長さを比較すれば、異物が物品に埋入されている程度がわかることになる。異物が物品に完全に埋入されているときには、第2のエッジ抽出処理では異物の輪郭に相当するエッジが抽出されず、異物が物品に埋入されずに付着しているときには、第1のエッジ抽出処理と第2のエッジ抽出処理とで得られるエッジの長さの差が小さく、異物の一部が物品に埋入されているときには、第1のエッジ抽出処理と第2のエッジ抽出処理とで得られるエッジの長さの差が大きくなるのである。 That is, by comparing the lengths of the edges detected by the first edge extraction process and the edges extracted by the second edge extraction process, the extent to which foreign matter is embedded in the article can be understood. When the foreign object is completely embedded in the article, the edge corresponding to the outline of the foreign object is not extracted in the second edge extraction process, and when the foreign object adheres without being embedded in the article, the first When the difference in edge length obtained between the edge extraction process and the second edge extraction process is small and a part of the foreign matter is embedded in the article, the first edge extraction process and the second edge extraction process Thus, the difference in edge length obtained by the above becomes large.
このような性質を利用することにより、除去可能な異物か否かを画像処理により判断することが可能になり、除去可能な異物が付着しているときに、欠陥品として処理する無駄ばねを防止することができ、結果的に歩留まりの向上につながる。 By using these properties, it is possible to determine whether or not a foreign object is removable by image processing, and it is possible to prevent useless springs that are treated as defective when a removable foreign object is attached. Can result in improved yield.
しかも、第1のエッジ抽出処理と第2のエッジ抽出処理とにおいてエッジを抽出する際に微分値に対する閾値との大小を比較する方法を採用しており閾値を異ならせるだけであるから、第1のエッジ抽出処理と第2のエッジ抽出処理とは閾値を変更するだけで実質的な処理内容の変更がなく実現が容易になる。たとえば、第1のエッジ抽出処理と第2のエッジ抽出処理とを異なる内容の処理とする場合に比較するとプログラムサイズの増加が抑制され、しかも微分演算の後には閾値との大小を比較するだけの軽負荷になるから、処理負荷の増加も抑制できる。 In addition, since the first edge extraction process and the second edge extraction process employ a method of comparing the magnitude of the differential value with the threshold value when extracting an edge, only the threshold value is changed. The edge extraction process and the second edge extraction process can be easily realized by only changing the threshold value and without substantially changing the processing contents. For example, when the first edge extraction process and the second edge extraction process are processed with different contents, the increase in the program size is suppressed, and after the differential operation, only the magnitude of the threshold value is compared. Since the load is light, an increase in processing load can be suppressed.
とくに、請求項1の発明の構成によれば、撮像により得られた濃淡画像を二値化した二値画像において、異物に相当する画素値を有しかつ規定した画素数以上の画素からなる連結領域を異物の存在する候補領域とし、候補領域の重心位置を中心としかつ候補領域の幅寸法に基づいて候補領域を囲むように設定した領域を検査領域としているから、異物の存在する候補領域に基づいて検査領域を候補領域が含まれる制限された領域に設定され、異物に関するエッジを抽出する際に照度むらや物品の輪郭線などによるエッジが含まれる可能性を低減でき、異物に関するエッジを抽出する精度が高くなる。しかも、検査領域を狭い範囲に制限するから、処理対象となる画素数が制限され、結果的に処理負荷が軽減され処理速度の向上につながる。 In particular, according to the configuration of the first aspect of the present invention, in a binary image obtained by binarizing a grayscale image obtained by imaging, a connected image having a pixel value corresponding to a foreign object and having a prescribed number of pixels or more. Since the area is set as a candidate area where a foreign object exists, and the center area of the candidate area is set to surround the candidate area based on the width dimension of the candidate area, the inspection area is set as the inspection area. Based on this, the inspection area is set to a limited area that includes candidate areas, and the possibility of including edges due to uneven illuminance or outlines of articles when extracting edges related to foreign objects can be reduced, and edges related to foreign objects can be extracted. The accuracy to do becomes high. Moreover, since the inspection area is limited to a narrow range, the number of pixels to be processed is limited, resulting in a reduction in processing load and an increase in processing speed.
請求項2の発明の構成によれば、撮像により得られた濃淡画像を二値化した二値画像において、異物に相当する画素値を有しかつ規定した画素数以上の画素からなる連結領域を異物の存在する候補領域とし、候補領域の重心位置を中心としかつ候補領域の幅寸法に基づいて候補領域の内側に設定した内側領域を除外した領域を検査領域としているから、異物の存在する候補領域に基づいて候補領域の内側の一部を除くように制限された領域を検査領域に設定され、異物に関するエッジを抽出する際に異物の表面状態の影響によるエッジが含まれる可能性を低減でき、異物の輪郭付近のエッジを抽出する精度が高くなる。言い換えると、異物の内側で生じるノイズを除去することができる。
According to the configuration of the invention of
請求項3の発明の構成によれば、撮像により得られた濃淡画像を二値化した二値画像において、異物に相当する画素値を有しかつ規定した画素数以上の画素からなる連結領域を異物の存在する候補領域とし、候補領域の重心位置を中心としかつ候補領域の幅寸法に基づいて候補領域を囲むように設定した外側領域から候補領域の重心位置を中心としかつ候補領域の幅寸法に基づいて候補領域の内側に設定した内側領域を除外した領域を検査領域としているから、異物の存在する候補領域に基づいて検査領域を候補領域の輪郭付近に制限された領域に設定され、異物に関するエッジを抽出する際に照度むらや物品の輪郭線などによるエッジが含まれる可能性を低減できるとともに、異物の内側形状についても無視することができ、異物に関するエッジを抽出する精度が高くなる。しかも、請求項3の発明よりもさらに検査領域が狭い範囲に制限されるから、処理負荷の一層の軽減がなされ、処理速度の向上につながる。
According to the configuration of the invention of
請求項4の発明の構成によれば、請求項1の発明と同様に、異物について物品の表面に露出している部分と物品に埋入されている部分とを判別することができ。したがって、除去可能な異物が物品に付着している場合に欠陥品として処理する無駄ばねを防止することができ、歩留まりの向上につながるという利点がある。また、第1のエッジ抽出手段と第2のエッジ抽出手段とは実質的に同処理であり、比較する閾値が異なるだけであるから、第1のエッジ抽出手段と第2のエッジ抽出手段との構成を共通化することが可能になり構成が簡単になる。さらに、二値画像を用いて異物の存在する候補領域を求め、候補領域の重心位置を中心としかつ候補領域の幅寸法に基づいて候補領域を囲むように検査領域を設定することにより、検査領域を候補領域の輪郭付近に制限するから、異物に関するエッジを抽出する際に照度むらや物品の輪郭線などによるエッジが含まれる可能性を低減できるとともに、異物の内側形状についても無視することができ、異物に関するエッジを抽出する精度が高くなる上に、処理対象の画素数が少なく処理負荷の軽減がなされ処理速度の向上につながる。
According to the configuration of the invention of claim 4, as in the invention of
本実施形態は、図1に示すように、物品Bを撮像する撮像手段としてのTVカメラ11と、物品Bを照明する照明装置12とを備える。照明装置12は、物品Bの表面に陰影が形成されないように無影灯(リング照明)を用いるのが望ましい。物品Bは光透過性材料からなり、透明な合成樹脂成形品に限らず、不透明に着色された合成樹脂成形品であっても表面付近が光透過性を有するものであれば光透過性材料の物品Bに含まれる。たとえば、白色系に着色した合成樹脂成形品は光透過性材料に含まれる。また、合成樹脂材料以外にもガラス材料など光透過性を有する物品Bであれば、本発明の技術思想は適用できる。
As shown in FIG. 1, the present embodiment includes a
TVカメラ11で得られた濃淡画像(明度値を画素値とするデジタル画像)は、画像処理装置2に入力される。画像処理装置2は、画像を取り込むためのインターフェース29および画像記憶用の画像記憶手段20を備え、TVカメラ11からの濃淡画像は画像記憶手段20に一旦格納される。画像記憶手段20は後述する処理で生成される各画像の記憶にも用いられる。画像処理装置2は、コンピュータを主構成とする装置であり、適宜のプログラムを実行することにより、以下の処理を可能にする。
A grayscale image (digital image having a lightness value as a pixel value) obtained by the
画像記憶手段20に格納された濃淡画像に対して物品Bが含まれる範囲に処理対象領域が設定される。処理対象領域は、濃淡画像をモニタ装置の画面に表示して人手で設定することも可能であるが、本実施形態では、濃淡画像を適宜の閾値で二値化することにより物品Bと背景とを分離する対象領域抽出手段21により処理対象領域を物品Bを含む領域として自動的に抽出する。
A processing target area is set in a range in which the article B is included in the grayscale image stored in the
すなわち、物品Bと背景とは明度が異なるから、適宜の閾値を設定して二値化し、物品B側の画素値を持つ連結領域(ここでは、二値画像において各画素に隣接する画素が異物Fに相当する画素値を有する画素の集合)を抽出し、各連結領域の画素数を評価すれば、物品Bか否かを判別することができる。したがって、物品Bとみなせる領域の画素について水平方向(X方向)と垂直方向(Y方向)との座標値の最大値と最小値とから、物品Bを囲むように、矩形状あるいは円状などの処理対象領域を設定することができる。 That is, since the brightness of the article B and the background is different, binarization is performed by setting an appropriate threshold value, and a connected area having pixel values on the article B side (here, pixels adjacent to each pixel in the binary image are foreign objects). If a set of pixels having a pixel value corresponding to F) is extracted and the number of pixels in each connected region is evaluated, it is possible to determine whether the item is an article B or not. Therefore, the pixels in the region that can be regarded as the article B are rectangular or circular so as to surround the article B from the maximum and minimum coordinate values in the horizontal direction (X direction) and the vertical direction (Y direction). A processing target area can be set.
処理対象領域が決まると、処理対象領域の内部で特徴抽出を行い、異物の存否の可能性を判断する。また、異物が存在する可能性のある領域を候補領域とし、候補領域が存在する場合には、候補領域を囲むように検査領域を設定する。 When the processing target area is determined, feature extraction is performed inside the processing target area to determine the possibility of the presence or absence of foreign matter. In addition, an area in which a foreign object may exist is set as a candidate area. When a candidate area exists, an inspection area is set so as to surround the candidate area.
特徴抽出には、濃淡画像を適宜の閾値で二値化した二値画像を生成する二値化手段22と、二値画像から背景(物品B)とは異なる画素値を有しかつ規定した画素数以上の画素からなる連結領域を候補領域として抽出する候補領域抽出手段23とを用いる。二値化手段22において設定する閾値は、異物Fが物品Bに埋入されているか付着しているかにかかわらず、異物の存在範囲を抽出することができるように設定される。 For feature extraction, binarization means 22 for generating a binary image obtained by binarizing a grayscale image with an appropriate threshold value, and a pixel having a pixel value different from the background (article B) from the binary image and defined Candidate area extraction means 23 for extracting a connected area consisting of a plurality of pixels as a candidate area is used. The threshold value set in the binarizing means 22 is set so that the presence range of the foreign matter can be extracted regardless of whether the foreign matter F is embedded in or attached to the article B.
すなわち、物品Bと異物Fとの反射率および透過率の相違に起因した濃淡画像内での明度の差を利用して物品Bと異物Fとを区別する。また、異物Fは画像内である程度の大きさを有しているから、連結領域の画素数を評価し、画素数が規定した閾値以上であるときに、当該連結領域を異物Fが存在する候補領域とみなす。 That is, the article B and the foreign matter F are distinguished from each other by using the difference in brightness in the grayscale image caused by the difference in reflectance and transmittance between the article B and the foreign matter F. In addition, since the foreign matter F has a certain size in the image, the number of pixels in the connected region is evaluated, and when the number of pixels is equal to or greater than a prescribed threshold, the candidate that the foreign matter F exists in the connected region. Consider it an area.
二値化手段22と候補領域抽出手段23とを併せた機能は対象領域抽出手段21の機能と同様であり、基本的には二値画像を生成する際の閾値と連結領域の画素数に対する閾値とが異なるだけであるから、構成を共通化することが可能である。すなわち、プログラムにおいて共通のサブルーチンを用い、条件判断のための数値のみを引数としてサブルーチンに引き渡せばよい。 The function of combining the binarizing means 22 and the candidate area extracting means 23 is the same as the function of the target area extracting means 21, and basically a threshold for generating a binary image and a threshold for the number of pixels in the connected area. Are different, and the configuration can be made common. In other words, a common subroutine may be used in the program, and only numerical values for condition determination may be passed to the subroutine as arguments.
候補領域抽出手段23で候補領域が抽出されると、候補領域の内部を検査領域とし、微分手段25において検査領域内の濃淡画像を微分した微分画像を生成する。画像処理装置2は、物品Bの表面に露出している異物Fと物品Bに埋入されている異物Fとの輪郭線を含むエッジを微分画像から抽出する第1のエッジ抽出手段26と、物品Bの表面に露出している異物Fの輪郭線を含み物品Bの内部に埋入されている異物Fの輪郭線を含まないエッジを微分画像から抽出する第2のエッジ抽出手段27とを備える。第1のエッジ抽出手段26と第2のエッジ抽出手段27とは、微分画像の画素値に対して適宜の閾値を適用することにより、上述の処理を行う。
When the candidate area is extracted by the candidate area extracting means 23, the inside of the candidate area is set as the inspection area, and the differentiation means 25 generates a differential image obtained by differentiating the grayscale image in the inspection area. The
いま、微分画像が図2(a)のような形で得られるものとする。図示例では異物Fの輪郭線付近の領域Dmを楕円状に記載しているが、実際には異物Fの状態に応じて楕円状に記載している領域Dmの周辺で微分値が変化する。たとえば、図示する楕円の長径方向の両端部付近に着目すると、図2(b)のように、異物付着(実線)、異物混入(破線)、異物部分混入(一点鎖線)では、微分値が異なる分布を示す。異物部分混入は、図の左端部で異物Fが物品Bの表面に露出し、右端部で異物Fが物品Bに埋入している状態を示している。要するに、物品Bから露出している部位では明度変化が大きくなるから大きな微分値が得られ、物品Bに埋入されている部位では明度変化が相対的に小さくなるから微分値も小さくなる。 Now, it is assumed that the differential image is obtained in the form as shown in FIG. In the illustrated example, the region Dm in the vicinity of the contour line of the foreign substance F is described in an elliptical shape, but in practice, the differential value changes around the region Dm described in an elliptical shape according to the state of the foreign object F. For example, when attention is paid to the vicinity of both ends in the major axis direction of the ellipse shown in the figure, the differential value differs depending on the foreign matter adhesion (solid line), foreign matter contamination (broken line), and foreign matter partial contamination (one-dot chain line) as shown in FIG. Show the distribution. The foreign matter part mixing indicates a state in which the foreign matter F is exposed on the surface of the article B at the left end portion of the drawing and the foreign matter F is embedded in the article B at the right end portion. In short, since a change in brightness is large at a portion exposed from the article B, a large differential value is obtained, and since a change in brightness is relatively small at a portion embedded in the article B, the differential value is also small.
このことを利用すれば、図2(b)のように、微分値に対して適宜の閾値Tha,Thbを適用することにより、物品Bの表面に露出している部位と埋入されている部位とを分離することができる。ここに、閾値Thaと閾値ThbとはTha>Thbとし、閾値Thbは、微分値が閾値Thbを超えている画素に、物品Bの表面に露出している異物Fの輪郭線と物品Bの内部に埋入されている異物Fの輪郭線とがともに含まれるように設定する。また、閾値Thaは、微分値が閾値Thaを超えている画素に、物品Bの表面に露出している異物Fの輪郭線が含まれ物品Bの内部に埋入されている異物Fの輪郭線が含まれないように設定する。 If this is utilized, as shown in FIG. 2B, by applying appropriate threshold values Tha and Thb to the differential value, the part exposed on the surface of the article B and the part embedded therein And can be separated. Here, the threshold value Tha and the threshold value Thb are set as Tha> Thb. The threshold value Thb is a pixel whose differential value exceeds the threshold value Thb, and the outline of the foreign matter F exposed on the surface of the article B and the inside of the article B. Are set so as to include both the outline of the foreign substance F embedded in the. In addition, the threshold value Tha includes the contour line of the foreign matter F exposed on the surface of the article B in the pixel whose differential value exceeds the threshold value Tha, and the contour line of the foreign matter F embedded in the article B. Set so that is not included.
第1のエッジ抽出手段26では、微分値が閾値Thbを超える画素に対し、画素幅を1画素幅にする細線化処理を施してエッジを抽出する。また、第2のエッジ抽出手段27では、微分値が閾値Thaを超える画素に対し、画素幅を1画素幅にする細線化処理を施してエッジを抽出する。細線化処理には中心線を抽出する処理のほか周知の技術を採用することができる。
In the first edge extraction means 26, an edge is extracted by subjecting a pixel having a differential value exceeding the threshold Thb to a thinning process with a pixel width of 1 pixel width. In addition, the second
後述するエッジ長の比較のために、第1のエッジ抽出手段26により得られたエッジ上の画素のうちで、第2のエッジ抽出手段27において設定した閾値Thaを超える画素を第2のエッジ抽出手段27で抽出する画素とするのが望ましい。つまり、第2のエッジ抽出手段27では、第1のエッジ抽出手段26で得られたエッジ上の画素の範囲内でエッジ上の画素を抽出するのが望ましい。
In order to compare edge lengths, which will be described later, out of the pixels on the edge obtained by the first
なお、第1のエッジ抽出手段26と第2のエッジ抽出手段27とは微分画像に対して適用する閾値が異なるが、他の処理は共通しているから、両エッジ抽出手段26,27として共通のサブルーチンを用い、閾値となる引数をサブルーチンに与えることで実現することができる。つまり、両エッジ抽出手段26,27が異なる内容の処理を行う場合に比較するとプログラムサイズの増加が抑制され、しかも微分手段25で得られた微分値と閾値との大小を比較し、細線化するという軽負荷の処理であるから、処理負荷の増加が抑制でき高速な処理が期待できる。
The first
上述したように、第1のエッジ抽出手段26では、物品Bに埋入されているか否かにかかわらず異物Fの輪郭線に相当するエッジを抽出することができ、第2のエッジ抽出手段27では、物品Bの表面に露出する異物Fの輪郭線に相当するエッジのみを抽出することができる。したがって、異物付着では両エッジ抽出手段26,27でともにエッジが抽出され、異物混入では第1のエッジ抽出手段26でエッジが抽出されるが、第2のエッジ抽出手段27ではエッジが抽出されないことになる。
As described above, the first
ところで、異物部分混入の場合には、異物付着の場合と同様に、両エッジ抽出手段26,27でともにエッジが抽出される。ただし、異物部分混入では、異物Fの一部が物品Bの表面に露出し、一部が物品Bの内部に埋入されているから、第1のエッジ抽出手段26で抽出したエッジの長さに対して、第2のエッジ抽出手段27で抽出したエッジの長さが短くなる。
By the way, in the case of foreign matter part mixing, the edges are extracted by both
図3〜図5に、それぞれ異物付着、異物混入、異物部分混入の各場合について、濃淡画像(各図(a))、検査領域抽出手段24で設定される検査領域Dp(各図(b))、第2のエッジ抽出手段26で得られるエッジ画像(各図(c))、第1のエッジ抽出手段26で得られるエッジ画像(各図(d))の一例を示す。各図(c)(d)は実際のエッジ画像ではエッジが白画素になるが、図の都合上、白黒を反転して表記している。また、検査領域Dpは、異物Fの大きさが同じであれば、異物付着、異物混入、異物部分混入にかかわらずほぼ同じ大きさになる。 3 to 5, for each case of foreign matter adhesion, foreign matter contamination, and foreign matter partial contamination, a grayscale image (each diagram (a)), an inspection region Dp set by the inspection region extraction means 24 (each diagram (b)). ), An example of an edge image (each figure (c)) obtained by the second edge extraction means 26 and an edge image (each figure (d)) obtained by the first edge extraction means 26. In each of the drawings (c) and (d), the edge is a white pixel in an actual edge image, but for the convenience of the drawing, black and white are reversed and shown. In addition, if the size of the foreign matter F is the same, the inspection area Dp has almost the same size regardless of foreign matter adhesion, foreign matter contamination, or foreign matter partial contamination.
本実施形態では、上述の性質を利用することにより、異物付着と異物混入と異物部分混入とを区別する。すなわち、第1のエッジ抽出手段26と第2のエッジ抽出手段27とで抽出したエッジの長さの差分を求め、差分値に応じて異物付着と異物混入と異物部分混入とを判別する判定手段28を設けている。
In this embodiment, by using the above-described properties, foreign matter adhesion, foreign matter contamination, and foreign matter partial contamination are distinguished. That is, a determination unit that obtains a difference between the lengths of the edges extracted by the first
異物付着では、第1のエッジ抽出手段26と第2のエッジ抽出手段27とで求められるエッジの長さに大きな変化が生じないから、判定手段28では、上記差分に対して適宜の閾値を設定しておき、上記差分が当該閾値以下であれば、異物Fが物品Bの表面に付着している異物付着と判断する。 In the case of foreign matter adhesion, since there is no significant change in the edge length obtained by the first edge extraction means 26 and the second edge extraction means 27, the determination means 28 sets an appropriate threshold for the difference. If the difference is equal to or less than the threshold value, it is determined that the foreign matter F is attached to the surface of the article B.
また、異物混入では、第1のエッジ抽出手段26と第2のエッジ抽出手段27とで求められるエッジの長さに大きな変化が生じるから、判定手段28では、上記差分に対して適宜の閾値を設定しておき、上記差分が当該閾値以上であれば、異物Fの全体が物品Bに埋入されている異物混入であると判断する。
In addition, when foreign matter is mixed, a large change occurs in the edge length obtained by the first
さらに、異物付着と異物混入との間の適宜範囲を異物部分混入と判断すればよい。ただし、異物部分混入と異物混入とはともに異物Fが物品Bから除去できない欠陥品として処分するから、判定手段28では、異物混入と異物部分混入とをとくに区別せず、異物付着か否かのみを判別するようにしてもよい。 Furthermore, an appropriate range between the foreign matter adhesion and the foreign matter contamination may be determined as foreign matter partial contamination. However, since both foreign matter contamination and foreign matter contamination are disposed as defective products in which the foreign matter F cannot be removed from the article B, the determination means 28 does not particularly distinguish foreign matter contamination from foreign matter contamination, and only whether or not foreign matter is attached. You may make it discriminate | determine.
本実施形態の動作を図6にまとめる。まず、撮像手段であるTVカメラ11により撮像された濃淡画像を画像記憶手段20に格納し、処理対象領域を設定する(S1)。次に、二値化手段22および検査領域抽出手段24により、特徴抽出(二値化)を行って候補領域を抽出し、さらに、候補領域に基づいて異物Fの輪郭線を含むように検査領域Dpを設定する(S2)。
The operation of this embodiment is summarized in FIG. First, the grayscale image imaged by the
検査領域Dpが決まると、微分手段25で検査領域Dp内の画素の微分値を求め、微分値に対して第1のエッジ抽出手段26および第2のエッジ抽出手段27でそれぞれ閾値Tha,Thbを適用してエッジを求める(S3〜S5)。
When the inspection area Dp is determined, the differential value of the pixels in the inspection area Dp is obtained by the differentiating
図6に示す動作例では、第1のエッジ抽出手段26によりエッジを抽出するのに先立って第2のエッジ抽出手段27によりエッジを抽出し、第2のエッジ抽出手段27でエッジが検出されない場合には(S4)、第1のエッジ抽出手段26によるエッジの抽出を待たずに異物混入と判断している(S9)。エッジが抽出されないとは、画像内でエッジとなる画素値を持つ画素からなる連結領域が存在しないか、連結領域に含まれる画素数が規定した閾値以下である場合を意味する。
In the operation example shown in FIG. 6, the edge is extracted by the second
また、第2のエッジ抽出手段27によりエッジが抽出された場合には、第1のエッジ抽出手段26によるエッジの抽出を行い(S5)、両エッジ抽出手段26,27で得られたエッジの画素数の差分を求め、この差分を規定の閾値(基準値)と比較する(S6)。ステップS6において、差分が基準値以下であれば異物付着と判断し(S7)、差分が基準値を超えているときには異物部分混入と判断する(S8)。 If an edge is extracted by the second edge extracting means 27, the edge is extracted by the first edge extracting means 26 (S5), and the edge pixels obtained by the both edge extracting means 26, 27 are extracted. A difference in number is obtained, and this difference is compared with a prescribed threshold value (reference value) (S6). In step S6, if the difference is equal to or smaller than the reference value, it is determined that foreign matter is attached (S7), and if the difference exceeds the reference value, it is determined that foreign matter is mixed (S8).
なお、上述の動作例では、第2のエッジ抽出手段27によるエッジの抽出を第1のエッジ抽出手段26によるエッジの抽出に先行させ、第2のエッジ抽出手段27によるエッジの抽出結果のみで異物混入を判定しているが、第1のエッジ抽出手段26と第2のエッジ抽出手段27とによるエッジの抽出を行った後に、エッジ長の差分を適宜の閾値と比較することにより異物混入を判定することも可能である。また、判定手段28において、エッジ長の変化を用いて異物付着と異物混入と異物部分混入とを判別する際に、エッジ長の差分ではなくエッジ長の比を用いることも可能である。
In the above-described operation example, the edge extraction by the second
ところで、検査領域設定手段24では、以下の手順で候補領域から検査領域Dpを設定する。すなわち、検査領域設定手段24では、候補領域抽出手段23で図7(a)のように候補領域Dsが抽出されると、図7(b)のように候補領域Dsの重心Gの位置を求める。さらに、図7(c)のように、重心Gの位置を中心として候補領域Dsを囲むように設定した楕円形の検査領域Dpを設定する。検査領域Dpが候補領域Dsを囲むために、候補領域Dsの水平方向(X方向)と垂直方向(Y方向)との幅寸法Lx,Ly(各方向の最大値と最小値との差)を求め、水平方向と垂直方向との幅寸法Lx,Lyにそれぞれ規定の余裕値α,βを加算した値をそれぞれ長径と短径とする楕円形の検査領域Dpを設定する。なお、上述の設定により検査領域Dpは円形になる場合もある。なお、図示例では円形または楕円形の検査領域Dpを設定しているが矩形状など他の形状の領域を設定してもよい。
By the way, the inspection area setting means 24 sets the inspection area Dp from the candidate area in the following procedure. That is, when the candidate
上述のように検査領域Dpを設定することにより、異物Fの存在する候補領域Dsを囲むように候補領域Dsの周部を境界とする検査領域Dpを設定することができ、検査領域Dpが局所に限定されるから、異物Fに関するエッジを抽出する際に照度むらや物品Bの輪郭線などのノイズによるエッジが含まれる可能性を低減でき、結果的に、異物Fに関するエッジを抽出する精度が高くなる。また、検査領域Dpが制限されるから、微分手段25による微分の対象となる画素数が制限されることになり、処理負荷が軽減されて処理速度の向上につながる。
By setting the inspection region Dp as described above, it is possible to set the inspection region Dp with the periphery of the candidate region Ds as a boundary so as to surround the candidate region Ds in which the foreign substance F exists. Therefore, it is possible to reduce the possibility of including edges due to noise such as illuminance unevenness and the contour line of the article B when extracting the edge related to the foreign matter F, and as a result, the accuracy of extracting the edge related to the foreign matter F is improved. Get higher. Further, since the inspection area Dp is limited, the number of pixels to be differentiated by the differentiating
図7に示した例では、検査領域Dpが候補領域Dsを囲むように設定しているが、候補領域Dsの内側の一部を除外するように検査領域Dpを設定してもよい。すなわち、検査領域設定手段24において、図8のように候補領域Dsの重心を中心とし、候補領域Dsの内側に含まれる内側領域Dtを設定し、内側領域Dtの内部を検査領域Dpから除外するのである。 In the example illustrated in FIG. 7, the inspection region Dp is set so as to surround the candidate region Ds, but the inspection region Dp may be set so as to exclude a part of the candidate region Ds. That is, the inspection area setting means 24 sets the inner area Dt included inside the candidate area Ds with the center of the center of the candidate area Ds as shown in FIG. 8, and excludes the inside of the inner area Dt from the inspection area Dp. It is.
内側領域Dtは、候補領域Dsの水平方向と垂直方向との幅寸法Lx,Lyから規定の除外値γ,δを減算した値をそれぞれ長径と短径とする楕円形の領域を採用することができる。要するに、水平方向においてLx−γ、垂直方向においてLy−δを長径または短径とする楕円形の内側領域Dtを除外した領域を処理対象の検査領域Dpに用いる。検査領域Dpは円形になる場合もある。また、矩形状などの他の形状の検査領域Dpを設定することもできる。 The inner region Dt may be an elliptical region having a major axis and a minor axis, respectively, obtained by subtracting prescribed exclusion values γ and δ from the horizontal dimensions Lx and Ly of the candidate area Ds in the horizontal and vertical directions. it can. In short, a region excluding the elliptical inner region Dt whose major axis or minor axis is Lx-γ in the horizontal direction and Ly-δ in the vertical direction is used as the inspection region Dp to be processed. The inspection area Dp may be circular. Also, the inspection area Dp having another shape such as a rectangular shape can be set.
このように、検査領域Dpから候補領域Dsの内側の一部領域を除外することにより、異物Fの内側の形状により生じるエッジが検出されないようにし、結果的に異物Fの内側で生じるノイズを除去することができる。なお、内側領域Dtを設定することができるのは、候補領域Dsの輪郭線に大きな凹凸が存在しない場合であって、内側領域Dtの境界が候補領域Dsの輪郭線と交差しない場合に限られる。 In this way, by excluding a partial area inside the candidate area Ds from the inspection area Dp, an edge caused by the shape inside the foreign substance F is prevented from being detected, and as a result, noise generated inside the foreign substance F is removed. can do. The inner region Dt can be set only when there is no large unevenness in the contour line of the candidate region Ds, and when the boundary of the inner region Dt does not intersect the contour line of the candidate region Ds. .
上述した例では、検査領域Dpが候補領域Dsを囲むように設定する例と、候補領域Dsの内側の一部領域を検査領域Dpから除外する例とを示したが、両者を併せて検査領域Dpを設定してもよい。すなわち、候補領域Dsを囲むように外側領域を設定するとともに、候補領域Dsの内側の一部を除外し、外側領域と内側領域Dsとに囲まれた領域を検査領域Dpとすることができる。 In the above-described example, the example in which the inspection region Dp is set so as to surround the candidate region Ds and the example in which a partial region inside the candidate region Ds is excluded from the inspection region Dp are shown. Dp may be set. That is, the outer region is set so as to surround the candidate region Ds, and a part inside the candidate region Ds can be excluded, and the region surrounded by the outer region and the inner region Ds can be set as the inspection region Dp.
要するに、候補領域Dsの重心を中心として、水平方向においてLx+α、垂直方向においてLy+βを長径または短径とする楕円形の外側領域(検査領域Dp)から、水平方向においてLx−γ、垂直方向においてLy−δを長径または短径とする楕円形の内側領域Dtを除外した領域を処理対象の検査領域Dpに用いる。 In short, centering on the center of gravity of the candidate region Ds, Lx + α in the horizontal direction and Ly + β in the vertical direction from the elliptical outer region (inspection region Dp) having a major axis or a minor axis to Lx−γ in the horizontal direction and Ly in the vertical direction. A region excluding the elliptical inner region Dt whose major axis or minor axis is −δ is used as the inspection region Dp to be processed.
上述した処理手順から明らかなように、候補領域Dsのうち必要な情報は候補領域Dsの輪郭線に関する情報であるから、輪郭線付近の画素のみを抽出すれば異物付着、異物混入、異物部分混入を区別することができる。したがって、検査領域設定手段24において、外側領域と内側領域Dtとの間の領域を検査領域Dpとして設定すると、異物Fの輪郭線付近のみに着目して以後の処理を行うことができ、ノイズの影響を大幅に低減することができ、また処理負荷の大幅な軽減が可能になる。
As is clear from the processing procedure described above, the necessary information in the candidate area Ds is information related to the contour line of the candidate area Ds. Therefore, if only the pixels near the contour line are extracted, foreign matter adhesion, foreign matter contamination, and foreign matter partial contamination are included. Can be distinguished. Therefore, when the inspection
上述のように、異物付着と異物部分混入と異物混入とを画像処理によって区別することが可能になったことにより、除去可能な異物Fが物品Bに付着している異物付着を欠陥品として処理する無駄ばねを防止することができ、歩留まりの向上につながる。なお、検査領域Dpは上述のように候補領域Dsを基準として設定するのが望ましいが、候補領域Dsを含んでいればより広い領域を検査領域Dpに用いることも可能である。 As described above, since foreign matter adhesion, foreign matter partial contamination, and foreign matter contamination can be distinguished by image processing, the foreign matter adhesion in which the removable foreign matter F adheres to the article B is treated as a defective product. It is possible to prevent the useless spring, which leads to an improvement in yield. The inspection region Dp is desirably set with the candidate region Ds as a reference as described above, but a wider region can be used as the inspection region Dp as long as the candidate region Ds is included.
11 TVカメラ(撮像手段)
12 照明装置
20 画像記憶手段
21 対象領域抽出手段
22 二値化手段
23 候補領域抽出手段
24 検査領域設定手段
25 微分手段
26 第1のエッジ抽出手段
27 第2のエッジ抽出手段
28 判定手段
B 物品
Dp 検査領域
Ds 候補領域
Dt 内側領域
F 異物
G 重心
11 TV camera (imaging means)
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