JP5371624B2 - プラズマ発光分析方法およびその装置 - Google Patents
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Description
このバリア放電により有機ハロゲン類がプラズマ状態となって解離し、ハロゲン元素に特有の波長の光が発光する。
この自動測定装置にあっては、図8に示すように、排ガスをフィルタ11に通して除塵し、冷却器12で冷却して水分を除去する。ついで、金属銀などの無機ハロゲン除去剤が充填された無機ハロゲン除去筒13に送り込んで排ガス中の塩化水素などの無機ハロゲン化合物を除去する。
ついで、この排ガスは第1の切替弁14を介して第1の吸着筒15または第2の吸着筒16に送られる。第1の切替弁14は、排ガスの流路を切り替えて第1の吸着筒15または第2の吸着筒16に排ガスを流すとともに、後述する脱着用ガス(ヘリウムキャリアガス)の流路を切り替えて第1の吸着筒15または第2の吸着筒16に流すためのものである。
排ガスは第1の吸着筒15に導入され、温度50〜200℃で吸着される。第1の吸着筒15が破過する前に第1および第2の切替弁14、17を切り替えて第2の吸着筒16に排ガスを流し、第1の吸着筒15には脱着用ガス源18からのヘリウムガスを第1の切替弁14を介して送り込み、ここに吸着されている有機ハロゲン類を温度400〜450℃で脱着する。
請求項1にかかる発明は、放電管内に被測定ガスとヘリウムキャリアガスを導入してバリア放電を生じさせ、被測定ガス中の被測定元素の特有の発光を観測するプラズマ発光分析方法であって、
放電管内にヒータを設け、このヒータの温度を50〜500℃の範囲に調節して放電管内に導入するヘリウムキャリアガスを加熱するとともに、放電管内に導入するヘリウムキャリアガスの流量を調整することにより、ヘリウムに起因する発光の光強度が10000〜30000カウント内のいずれかの値で時間的に一定となるように常時制御することを特徴とするプラズマ発光分析方法である。
被測定ガスとヘリウムキャリアガスを導入する放電管と、この放電管に交流電圧を印加してバリア放電を生じさせる高周波電源と、前記放電管に導入されるヘリウムキャリアガスを加熱するヒータと、このヒータの温度を50〜500℃に制御する温度制御部と、前記放電管に導入されるヘリウムキャリアガスの流量を、ヘリウムに起因する発光の光強度を10000〜30000カウント内のいずれかの値で時間的に一定となるように常時制御する流量制御部を備えたことを特徴とするプラズマ発光分析装置である。
また、ヘリウムの放電管内への導入流量を制御することで、プラズマ状態が安定化し、これによりハロゲン元素などの被測定元素に起因する発光も安定してその濃度の測定値のバラツキがなくなり、測定値の信頼性が高くなる。
これらの光は、分光器によって分光されたのち、CCDなどの受光素子で受光されその光強度がカウント数として求められる。このような光強度がカウント数で表示される分光光度計としては、「USB4000」(商品名、オーシャンオプティクス社製)などがある。
この相関関係に着目してハロゲン元素分析感度を一定とするために、ヘリウム光強度を常時一定となるように制御することが考えられる。
この結果から、ヘリウムガスの流量をある範囲に制御することによって、ヘリウム光強度を時間的に一定にできる可能性があることが判明した。また、ヘリウムガスの流量が少ない場合にはプラズマの初期点灯が難しいこともわかった。
この結果から、放電管内に導入するヘリウムガスの温度をある範囲に制御することで、ヘリウム光強度を時間的に一定にできる可能性があることが判明した。また、高温のヘリウムガスを導入するとプラズマの初期点灯が確実に行われることがわかった。
これにより有機ハロゲン類の安定した定量分析が行え、その自動測定が可能になった。
被測定ガスである燃焼排ガスは、図8に示した従来の測定装置と同様に、図示略のフィルタに通されて除塵され、冷却器にて冷却されて水分が除去され、さらに無機ハロゲン除去筒に通されて塩化水素などの無機ハロゲン化合物が除去されたのち、第1の切替弁14に送られ、第1の切替弁14を介して第1の吸着筒15または第2の吸着筒16に送られる。
排ガスは第1の吸着筒15に導入され、温度50〜200℃で吸着される。この吸着操作により排ガス中の沸点が100℃以上の高沸点有機ハロゲン類が選択的に吸着され、沸点が100℃未満の低沸点有機ハロゲン類は吸着されず、第2の切替弁17を経て系外に排出される。
第2の吸着筒16では同様の吸着操作がなされ、破過前に流路が切り替えられて同様の脱着操作が行われ、以下、タイマーなどにより自動的にこの操作が交互に所定時間毎に繰り返される。
この吸脱着操作により被測定ガス中の沸点が100℃以上の高沸点有機ハロゲン類が分離されて後段のプラズマ発光分析装置に連続的に送られることになる。
そして、ヒータ21の温度は温度制御部22からのプログラム制御信号に基づいて、50〜500℃に調節されるようになっており、ヒータ21を出たガスの温度もほぼこの温度範囲に調節されるようになっている。
ついで、ヒータ温度を50〜200℃、好ましくは100〜160℃とし、ヘリウム光強度が10000〜30000カウント、好ましくは15000〜20000カウントとなるようにヘリウムガスの流量調整を行い、この状態で第1または第2の吸着筒15、16から脱着した高沸点有機ハロゲン類を導入する方法が採用される。
そして、分光光度計7で計測されたハロゲン光強度から被測定ガス中の高沸点有機ハロゲン類の濃度を算出し、この高沸点有機ハロゲン類濃度から被測定ガス中のダイオキシン類濃度を推定する。
図4に示した装置において、ヘリウムガスのみを流し、排ガスを流さない状態でプラズマ初期点灯およびヘリウム光強度変化について検討した。
高周波高圧電源4の初期設定を周波数43kHz、電圧4.2kVとし、点灯後の電源電圧の変動は成り行きにまかせた。ヒータ21を500℃に加熱し、ヘリウムガスを流量500ml/分として放電管3に送り込んだ。
その結果、高周波電力印加後数秒でプラズマが点灯した。
プラズマ点灯後、ヘリウム光強度が18000カウントとなるように流量制御部23においてヘリウムの流量を制御し、同時にヒータ21の温度を制御した。
図6に示したグラフは、従来の測定装置によるヘリウム光強度の変化を示すもので、常温のヘリウムを流量200ml/分で流し続けたときのもので、ヘリウム光強度が時間の経過とともに徐々に高くなっていることがわかる。
Claims (2)
- 放電管内に被測定ガスとヘリウムキャリアガスを導入してバリア放電を生じさせ、被測定ガス中の被測定元素の特有の発光を観測するプラズマ発光分析方法であって、
放電管内にヒータを設け、このヒータの温度を50〜500℃の範囲に調節して放電管内に導入するヘリウムキャリアガスを加熱するとともに、放電管内に導入するヘリウムキャリアガスの流量を調整することにより、ヘリウムに起因する発光の光強度が10000〜30000カウント内のいずれかの値で時間的に一定となるように常時制御することを特徴とするプラズマ発光分析方法。 - 放電管内に被測定ガスとヘリウムキャリアガスを導入してバリア放電を生じさせ、被測定ガス中の被測定元素の特有の発光を観測するプラズマ発光分析装置であって、
被測定ガスとヘリウムキャリアガスを導入する放電管と、この放電管に交流電圧を印加してバリア放電を生じさせる高周波電源と、前記放電管に導入されるヘリウムキャリアガスを加熱するヒータと、このヒータの温度を50〜500℃に制御する温度制御部と、前記放電管に導入されるヘリウムキャリアガスの流量を、ヘリウムに起因する発光の光強度を10000〜30000カウント内のいずれかの値で時間的に一定となるように常時制御する流量制御部を備えたことを特徴とするプラズマ発光分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2009188311A JP5371624B2 (ja) | 2009-08-17 | 2009-08-17 | プラズマ発光分析方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011038961A JP2011038961A (ja) | 2011-02-24 |
JP5371624B2 true JP5371624B2 (ja) | 2013-12-18 |
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ID=43766882
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009188311A Expired - Fee Related JP5371624B2 (ja) | 2009-08-17 | 2009-08-17 | プラズマ発光分析方法およびその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5371624B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014125610A1 (ja) * | 2013-02-15 | 2014-08-21 | 株式会社島津製作所 | 放電イオン化電流検出器及びその調整方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4586368A (en) * | 1985-04-05 | 1986-05-06 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Atmospheric pressure helium afterglow discharge detector for gas chromatography |
JP3206870B2 (ja) * | 1994-08-24 | 2001-09-10 | 大陽東洋酸素株式会社 | アルゴンガス中の窒素ガス又は水蒸気の測定方法及びその装置、窒素ガス及び水蒸気の同時測定方法及びその装置 |
JP3383859B2 (ja) * | 2000-07-14 | 2003-03-10 | 大阪市 | 原子発光分析装置 |
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2009
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011038961A (ja) | 2011-02-24 |
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