JP5367528B2 - 投射型表示装置および表示素子位置調整方法 - Google Patents
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Description
この画素ずらし表示方式を用いて超高精細映像表示を実現する場合、表示素子の画素位置のずらし量(オフセット)を極めて高い精度で管理する必要がある。
この非特許文献1には、デュアルグリーンの投射型表示装置を用いてスクリーンに特定の測定用パターンを表示させ、スクリーンに表示されたパターンをデジタルカメラで撮影して、撮影画像からオフセット誤差を測定する技術が開示されている。具体的には、非特許文献1には、2つの緑色用表示素子それぞれに、同一の周波数で且つ異なる位相である正弦波を測定用パターンとして与え、表示画面に現れる折り返し成分に基づいてオフセット誤差を測定することが開示されている。
また、上記のオフセット誤差の測定方式では、相対的にそれほど高精度なオフセット誤差の測定が必要でない場合でも、比較的高いMTF性能や階調特性を有する撮影装置が必要であり、安価なデジタルカメラを用いることができない。さらに、上記の測定方式では、目視による簡易な評価を行うこともできない。
また、本発明は、上記問題を解決すべく、従来と同等精度のオフセット誤差の測定を、従来よりもMTF性能が低い撮影装置を用いて行うことのできる、投射型表示装置および表示素子位置調整方法を提供するものである。
[1]本発明の一態様による投射型表示装置は、第1の画像の読出し光を出力する第1の表示素子と、第2の画像の読出し光を出力する第2の表示素子と、前記第1および第2の画像の読出し光を投射する投射光学系と、前記投射された第1および第2の画像の読出し光が投影された投影面において、前記第1および第2の画像が水平方向および垂直方向のうち少なくとも一方の方向に所定画素分オフセットして表示されるように、前記第1および第2の表示素子を支持する支持部と、前記一方の方向に所定の表示周波数で同一パターンを繰り返す前記第1の画像を表示させる第1のテストパターンデータを前記第1の表示素子に供給するとともに、前記一方の方向に前記所定の表示周波数で同一パターンを繰り返す画像であって且つ前記第1の画像と逆位相である前記第2の画像を表示させる第2のテストパターンデータを前記第2の表示素子に供給するテストパターン出力部と、前記一方の方向に所定のレンズ周波数で繰り返すよう平面状に集束レンズを配列した複眼レンズ配列部と、を備え、前記所定の表示周波数は、前記所定のレンズ周波数のn倍(nは正整数)の近傍の値であり、前記第1および第2のテストパターンデータは、前記第1および第2の表示素子のナイキスト周波数とこのナイキスト周波数の2倍の周波数との間の値である所定周波数のパターンに基づいて生成されるデータである。
ここで、複眼レンズ配列部は、複数の集光レンズを、各光軸が平行となるようにして平面板上またはシート上に配列させて形成したレンズ板またはレンズシートであり、例えば、要素レンズと呼ばれる凸レンズをアレイ状に配置したレンズアレイや、多数のシリンドリカルレンズを配列したレンチキュラーレンズを用いることができる。レンチキュラーレンズを用いる場合、2枚のレンチキュラーレンズを、配列方向が直交する向きにして重ね合わせて用いてもよい。
また、複眼レンズ配列部は、投影面に投影された表示テストパターンの所定の表示周波数fdisp,pを当該複眼レンズ配列部で低域周波数方向に折り返すために、所定の表示周波数fdisp,pが所定のレンズ周波数flensのn倍(nは任意の正整数)の近傍の関係になる。
また、本発明は、従来よりもMTF性能が低い撮影装置を用いて、表示素子の画素位置のずらし量のずれの検出を行うことができる。
[第1の実施形態]
図1は、本発明の第1の実施形態を適用した投射型表示システムの全体構成図である。同図に示すように、投射型表示システム1は、RB(Red/Blue)投射型表示装置10と、デュアルグリーン投射型表示装置20と、拡散スクリーン30と、複眼レンズ配列40と、撮影装置50とを含んで構成される。
赤色表示素子および青色表示素子は、例えば、LCOS(Liquid Crystal on Silicon)等の反射型表示素子であり、拡散スクリーン30に表示される赤色画像と青色画像との画素ずれが生じないように光学ユニット内に設けられる。
例えば、RB投射型表示装置10は、従来の三板方式の投射型表示装置を適用することができ、その場合はR,B信号のみを用いればよい。
複眼レンズ配列40は、複数の集光レンズを、各光軸が平行となるようにして平面板上またはシート上に配列させて形成したレンズ板またはレンズシートである。複眼レンズ配列40は、例えば、多数の凸レンズをアレイ状に配置したレンズアレイや、多数のシリンドリカルレンズを配列したレンチキュラーレンズを用いることができる。レンチキュラーレンズを用いる場合、2枚のレンチキュラーレンズを、配列方向が直交する向きにして重ね合わせて用いてもよい。
撮影装置50は、表示素子位置調整装置22の制御にしたがって複眼レンズ配列40に表示される第1および第2の拡大表示テストパターンの一部分または全体を撮影し、その撮像データを表示素子位置調整装置22に供給する。撮影装置50は、例えばデジタルカメラを用いる。
テストパターン出力部222は、テストパターン記憶部221に記憶された第1および第2のテストパターンデータを読み出して、緑色表示素子214a,214bにそれぞれ供給する。
オフセット誤差検出部223bは、撮像データに含まれる第1および第2の拡大表示テストパターンの画像を解析して、第1の緑色画像に対する第2の緑色画像の0.5画素分のオフセットからのずれであるオフセット誤差の有無および程度を検出する。
位置調整機構制御部223cは、オフセット誤差の検出結果に基づいて、誤差をなくす方向に緑色表示素子214bを移動するように位置調整機構部224を制御する。
水平方向移動機構部224xおよび垂直方向移動機構部224yは、それぞれステッピングモータで構成する。各ステッピングモータは、1パルスの駆動信号が与えられると、支持部217に可動に取り付けられた緑色表示素子214bを、表示画面上の水平方向(垂直方向)に0.001画素分に相当する距離だけ移動するように駆動する。
一方、q≠0のとき(オフセット誤差がある場合)は、第2の表示テストパターンには、qに応じた表示周波数fdisp,pの周波数成分が表示される。
よって、複眼レンズ配列40に表示されるレンズ表示周波数fdisp,lは、fnyq,l≦fdisp,p≦2fnyq,lである場合、2fnyq,l−fdisp,pとなる。これを任意のfdisp,pについて一般化すると式(4)になる。
なお、緑色表示素子214a,214bにそれぞれ表示される第1の表示テストパターンと第2の表示テストパターンとの位相差Ppanelと、それらの第1および第2の表示テストパターンが複眼レンズ配列40を通して観察される第1および第2の拡大表示テストパターンとの位相差Plensは、それぞれ式(6),(7)で示され等しい値となる。
一方、緑色表示素子214aに対する緑色表示素子214bのオフセットが正確な位置からずれている場合は、第2の表示テストパターンの表示周波数fdisp,pの正弦波パターンの位相がずれることにより第2の拡大表示パターンのレンズ表示周波数fdisp,lの位相もずれ、第1および第2の拡大表示パターンを加算して観察した場合に、表示周波数fdisp,pの成分が出現する。
さらに、複眼レンズ配列40にレンチキュラーレンズを用いて水平方向の拡大表示テストパターンを観察すると図11に示すように、複眼レンズ配列40には、レンズ表示周波数fdisp,lの正弦波に従って変化する水平方向の濃淡分布が映し出される。同様にして、垂直方向の拡大表示テストパターンを観察すると図12に示すように、複眼レンズ配列40には、レンズ表示周波数fdisp,lの正弦波に従って変化する垂直方向の濃淡分布が映し出される。
実際の画素の測定分解能にはシステム全体のS/N比である[S/N]sysが影響する。カメラのS/N比を[S/N]camとすると、このシステム全体のS/N比は式(10)で表される。
そして、拡散スクリーン30は、投射された投射光DGを拡散透過して投射面の反対側の面に第1および第2の表示テストパターンを表示する。つまり、当該反対側の面には合成テストパターンが表示される。さらに、当該反対側の面に配置された複眼レンズ配列40は、第1および第2の表示テストパターンを拡大した第1および第2の拡大表示テストパターンを表示する。つまり、複眼レンズ配列40には拡大合成テストパターンが表示される。
つまり、位置調整機構制御部223cは、水平方向移動機構部224xを制御して、緑色表示素子214bを現在位置から水平方向の一方の向きに例えば0.005画素分ずつk回粗移動させる。その移動ごとに、撮影制御部223aは、撮影装置50を制御して、複眼レンズ配列40に表示された拡大合成テストパターンを撮影装置50に撮影させて撮像データを送信させ、これを受信する。その結果、撮影制御部223aは、k回の粗移動によって移動された位置それぞれにおける撮像データを撮影装置50から取得する。
次に、ステップS4において、画素ずれ検出部223bは、k個のレンズ表示周波数fdisp,lの成分について、2次多項式(ax2+bx+c)によるフィッティング曲線を算出する。このフィッティング曲線の算出方法は周知であるため、ここではその説明を省略する。
つまり、位置調整機構制御部223cは、水平方向移動機構部224xを制御して、緑色表示素子214bを、現在位置を中心位置として水平方向に例えば±0.001画素分だけ微細移動させる。その移動ごとに、撮影制御部223aは、撮影装置50を制御して、複眼レンズ配列40に表示された拡大合成テストパターンを撮影装置50に撮影させて撮像データを送信させ、これを受信する。その結果、撮影制御部223aは、−0.001画素の位置、中心位置である±0画素の位置、および+0.001画素の位置それぞれにおける撮像データを撮影装置50から取得する。
次に、ステップS9において、画素ずれ検出部223bは、第2’(ダッシュ)の撮像データに対応するレンズ表示周波数fdisp,lの成分が最小であるか否かを判定し、最小であると判定した場合は、微細調整が完了したと判断してステップS10の処理に移る。一方、ステップS9の処理において、最小でないと判定した場合は、微細調整は完了していないと判断してステップS11の処理に移る。
また、ステップS11において、位置調整機構制御部223cは、水平方向移動機構部224xを制御して、ステップS8の処理において抽出した3個のレンズ表示周波数fdisp,lの成分のうち最小のレンズ表示周波数fdisp,lが抽出された位置の方向に、例えば0.001画素分だけ緑色表示素子214bを微細移動させてからステップS7の処理に戻る。
また、第1の実施形態では、拡散スクリーン30に表示される表示周波数fdisp,pのパターンを、複眼レンズ配列40を通して拡大しレンズ表示周波数fdisp,lのパターンとして撮影または観察することができる。したがって、第1の実施形態によれば、従来と同等精度のオフセット誤差の検出を、従来よりもMTF性能が低い撮影装置を用いて行うことができる。
上述した第1の実施形態では、第1および第2のテストパターンデータとして正弦波パターンを用いた例について説明した。第2の実施形態では、第1および第2のテストパターンデータとして二次関数を用いる例について説明する。
なお、第2の実施形態における投射型表示システムのハードウェア構成は、第1の実施形態における投射型表示システム1の構成と同一であるため、その説明を省略する。
同図において、横軸は水平方向または垂直方向の位置を表し、縦軸は輝度を表す。同図に示すように、拡散スクリーン30には、緑色表示素子214aから出力され投射光学系220を通して投射された第1の表示テストパターンが、表示周波数fdisp,pの第1の放物線パターンとして表示される。また、第1の表示テストパターンの表示周波数fdisp,pは、複眼レンズ配列40の各レンズによって同図に示すような低域周波数成分である第1の拡大表示テストパターンのレンズ表示周波数fdisp,lに折り返される。
同図において、横軸は水平方向または垂直方向の位置を表し、縦軸は輝度を表す。同図に示すように、拡散スクリーン30には、緑色表示素子214bから出力され投射光学系220を通して投射された第2の表示テストパターンが、表示周波数fdisp,pの第2の放物線パターンとして表示される。オフセットが正確に0.5画素分である場合、上記の第1および第2の表示テストパターンは正確に逆位相になる。
第2の表示テストパターンの表示周波数fdisp,pは、複眼レンズ配列40の各レンズによって同図に示すような低域周波数成分である第2の拡大表示テストパターンのレンズ表示周波数fdisp,lに折り返される。
このとき、緑色表示素子214bが緑色表示素子214aに対して正確にオフセットされていれば、第1および第2の拡大表示テストパターンは正確に逆位相であるため、加算された拡大表示テストパターンのピークが等間隔になる。
そして、拡散スクリーン30は、投射された投射光DGを拡散透過して投射面の反対側の面に第1および第2の表示テストパターンを表示する。つまり、当該反対側の面には合成テストパターンが表示される。さらに、当該反対側の面に配置された複眼レンズ配列40は、第1および第2の表示テストパターンを拡大した第1および第2の拡大表示テストパターンを表示する。つまり、複眼レンズ配列40には拡大合成テストパターンが表示される。
次に、ステップS13において、画素ずれ検出部223bは、k枚の撮像データそれぞれについて輝度分布に基づくフィッティング曲線を算出し、フィッティング曲線ごとに輝度のピーク位置を検出してピーク位置間隔のばらつき(例えば、統計における分散)を算出する。
次に、ステップS17において、画素ずれ検出部223bは、3枚の撮像データそれぞれについて輝度分布に基づく輝度ピークの間隔を測定し、ピーク位置間隔のばらつき(例えば、統計における分散)を算出する。
次に、ステップS18において、画素ずれ検出部223bは、算出したピーク位置間隔のばらつきが極小となる結果があるか否かを判定し、極小となる結果があると判定した場合は、微細調整が完了したと判断してステップS19の処理に移る。一方、ステップS18の処理において、極小となる結果がないと判定した場合は、微細調整は完了していないと判断してステップS20の処理に移る。
また、ステップS20において、位置調整機構制御部223cは、水平方向移動機構部224xを制御して、ステップS17の処理において算出した3種類のピーク位置間隔のばらつきのうちばらつきが小さくなるピーク位置間隔に対応する位置の方向に、例えば0.001画素分だけ緑色表示素子214bを微細移動させてからステップS16の処理に戻る。
また、第2の実施形態では、拡散スクリーン30に表示される表示周波数fdisp,pのパターンを、複眼レンズ配列40を通して拡大しレンズ表示周波数fdisp,lのパターンとして撮影または観察することができる。したがって、第2の実施形態によれば、従来と同等精度のオフセット誤差の検出を、従来よりもMTF性能が低い撮影装置を用いて行うことができる。
上述した第2の実施形態では、二次関数による第1および第2のテストパターンデータとして、1/forg周期の第1の放物線データとこれから半周期だけ位相をずらした第2の放物線データを用いた例について説明した。第3の実施形態では、二次関数によるテストパターンデータのバリエーションについて説明する。
なお、第3の実施形態における投射型表示システムのハードウェア構成は、第1の実施形態における投射型表示システム1の構成と同一であるため、その説明を省略する。
同図に示すように、拡散スクリーン30には、緑色表示素子214aから出力され投射光学系220を通して投射された第1の表示テストパターンが、表示周波数fdisp,pの第1の放物線パターンとして表示される。また、第1の表示テストパターンの表示周波数fdisp,pは、複眼レンズ配列40の各レンズによって同図に示すような低域周波数成分である第1の拡大表示テストパターンのレンズ表示周波数fdisp,lに折り返される。
同図に示すように、拡散スクリーン30には、緑色表示素子214bから出力され投射光学系220を通して投射された第2の表示テストパターンが、表示周波数fdisp,pの第2の放物線パターンとして表示される。オフセットが正確に0.5画素分である場合、上記の第1および第2の表示テストパターンは正確に逆位相になる。
第2の表示テストパターンの表示周波数fdisp,pは、複眼レンズ配列40の各レンズによって同図に示すような低域周波数成分である第2の拡大表示テストパターンのレンズ表示周波数fdisp,lに折り返される。
このとき、緑色表示素子214bが緑色表示素子214aに対して正確にオフセットされていれば、第1および第2の拡大表示テストパターンは正確に逆位相であるため、加算された拡大表示テストパターンのピークが等間隔になる。
また、第3の実施形態では、拡散スクリーン30に表示される表示周波数fdisp,pのパターンを、複眼レンズ配列40を通して拡大しレンズ表示周波数fdisp,lのパターンとして撮影または観察することができる。したがって、第3の実施形態によれば、従来と同等精度のオフセット誤差の検出を、従来よりもMTF性能が低い撮影装置を用いて行うことができる。
さらに、第3の実施形態におけるピーク位置間隔は、第2の実施形態におけるピーク位置間隔の2倍の周期であるため、目視による位置ずれ測定および調整をすることに適している。
例えば、図21は、テストパターン全体を4分割して、図面上左上および右下を水平方向の測定用パターンとし、図面上右上および左下を垂直方向の測定用パターンとした場合に、レンズアレイを通して観察される輝度を模式的に表した図である。
また、図22は、上記の4分割したテストパターンがレンチキュラーレンズを通して観察される様子を模式的に表した図である。レンチキュラーレンズは、前述したように2枚のレンチキュラーレンズをシリンドリカルレンズが直交するように重ね合わせて用いてもよいし、1枚のレンチキュラーレンズ全体を4つの領域に分割して、隣接する分割領域におけるシリンドリカルレンズの列が直交するように配列させて形成したものを用いてもよい。
なお、分割数は上記の4分割に限らず9分割や16分割等、任意の数であってよい。
また、三角波やパルス波等の一定周期を有するパターンを用いることもできる。
すなわち、表示テストパターンの濃淡が変化する方向の軸をx軸とし、画面上でx軸に直交する軸をy軸とする。回転方向ずれ検出部が、画面上の2点(xa,ya)および(xb、yb)について、それぞれの正規の画素位置からのx軸方向のずれ量であるΔxaおよびΔxbを測定すると、緑色表示素子214aに対する緑色表示素子214bの回転量θは、式(13)で表される。但し、回転中心からそれぞれの点までの距離は等しく、回転中心を含む3点は同一直線状に存在するものとする。
10 RB投射型表示装置
20 デュアルグリーン投射型表示装置
21 デュアルグリーン光学ユニット
22 表示素子位置調整装置
30 拡散スクリーン
40 複眼レンズ配列
50 撮影装置
211 ダイクロイック素子
212 板状PBS
213,215,218 PBS
214a,214b 緑色表示素子
216,219 λ/2板
217 支持部
220 投射光学系
221 テストパターン記憶部
222 テストパターン出力部
223 位置ずれ調整部
223a 撮影制御部
223b オフセット誤差検出部
223c 位置調整機構制御部
224 位置調整機構部
224x 水平方向移動機構部
224y 垂直方向移動機構部
Claims (3)
- 第1の画像の読出し光を出力する第1の表示素子と、
第2の画像の読出し光を出力する第2の表示素子と、
前記第1および第2の画像の読出し光を投射する投射光学系と、
前記投射された第1および第2の画像の読出し光が投影された投影面において、前記第1および第2の画像が水平方向および垂直方向のうち少なくとも一方の方向に所定画素分オフセットして表示されるように、前記第1および第2の表示素子を支持する支持部と、
前記一方の方向に所定の表示周波数で同一パターンを繰り返す前記第1の画像を表示させる第1のテストパターンデータを前記第1の表示素子に供給するとともに、前記一方の方向に前記所定の表示周波数で同一パターンを繰り返す画像であって且つ前記第1の画像と逆位相である前記第2の画像を表示させる第2のテストパターンデータを前記第2の表示素子に供給するテストパターン出力部と、
前記一方の方向に所定のレンズ周波数で繰り返すよう平面状に集束レンズを配列した複眼レンズ配列部と、
を備え、
前記所定の表示周波数は、前記所定のレンズ周波数のn倍(nは正整数)の近傍の値であり、
前記第1および第2のテストパターンデータは、前記第1および第2の表示素子のナイキスト周波数とこのナイキスト周波数の2倍の周波数との間の値である所定周波数のパターンに基づいて生成されるデータである、
投射型表示装置。 - 前記支持部に支持された前記第1または第2の表示素子の位置を、前記一方の方向におけるオフセット量を変更するよう調整する位置調整機構部と、
前記複眼レンズ配列部に表示された、所定のレンズ表示周波数の周波数成分を撮像する撮影部と、
前記撮影部で撮像された撮像データに基づいて、前記第1および第2の画像の前記一方の方向における所望のオフセット量からのずれを検出するオフセット誤差検出部と、
前記オフセット誤差検出部によるずれの検出結果に基づいて、前記位置調整機構部を駆動制御する位置調整機構制御部と、
を備えることを特徴とする請求項1記載の投射型表示装置。 - 表示画面上水平方向および垂直方向のうち少なくとも一方の方向に所定の表示周波数で同一パターンを繰り返す第1の画像を表示させる第1のテストパターンデータを第1の表示素子に供給し、前記一方の方向に前記所定の表示周波数で同一パターンを繰り返す画像であって且つ前記第1の画像と逆位相である第2の画像を表示させる第2のテストパターンデータを第2の表示素子に供給するステップと、
前記第1および第2の表示素子からの前記第1および第2の画像の読出し光を投射するステップと、
前記投射された第1および第2の画像の読出し光が投影された投影面において、前記一方の方向に所定のレンズ周波数で繰り返すよう平面状に配列した集束レンズで拡大表示させるステップと、
を有し、
前記所定の表示周波数は、前記所定のレンズ周波数のn倍(nは正整数)の近傍の値であり、
前記第1および第2のテストパターンデータは、前記第1および第2の表示素子のナイキスト周波数とこのナイキスト周波数の2倍の周波数との間の値である所定周波数のパターンに基づいて生成されるデータである、
表示素子位置調整方法。
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