JP5328217B2 - Mask and mask manufacturing method - Google Patents
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Description
本発明は、例えば、厚さの略均一なスクリーン印刷又はボール搭載又は蒸着等に用い
られるメタルマスク及びその製造方法に関するものである。
The present invention relates to a metal mask used for, for example, screen printing with a substantially uniform thickness, ball mounting, vapor deposition, or the like, and a manufacturing method thereof.
めっきにより形成され、印刷パターン開口を有する層と、めっきにより形成され、メッシュパターン開口を有する層とが積層された2層構造のスクリーン印刷用マスクがある。 There is a mask for screen printing having a two-layer structure in which a layer formed by plating and having a printing pattern opening and a layer formed by plating and having a mesh pattern opening are laminated.
また、マスクを製造する場合に、導電性基材上の印刷パターン開口となる部分にレジストを形成し、電解めっきを行う方法がある。この方法では、電解めっきを行う際、レジスト付近の電流密度が高くなる。その結果、レジスト付近のめっき膜は、その他の部分に比べ厚く形成される。つまり、マスクの厚さが均一とならない。つまり、マスクの開口部分と開口を有さない部分との厚さに違いが出てしまう。このため、マスクの強度が弱い。
また、レジストが一部に集中している場合に、集中しているレジストの中心付近と外側付近とでも電流密度が異なる。その結果、集中しているレジストの中心付近のめっき膜に比べ、集中しているレジストの外側部分のめっき膜が薄くなる。つまり、マスクの開口が集中して形成されている場合には、開口が形成されている部分の中心と外側とのマスクの厚さも均一にならない。このため、開口が形成されている部分の中心と外側とで印刷されるハンダ量にバラツキが発生する。
Moreover, when manufacturing a mask, there exists the method of forming a resist in the part used as the printing pattern opening on an electroconductive base material, and performing electroplating. This method increases the current density in the vicinity of the resist when electrolytic plating is performed. As a result, the plating film near the resist is formed thicker than other portions. That is, the mask thickness is not uniform. In other words, a difference occurs in the thickness between the opening portion of the mask and the portion having no opening. For this reason, the strength of the mask is weak.
Further, when the resist is concentrated on a part, the current density is different between the vicinity of the center of the concentrated resist and the vicinity of the outside. As a result, the plating film on the outer portion of the concentrated resist becomes thinner than the plating film near the center of the concentrated resist. That is, when the openings of the mask are formed in a concentrated manner, the mask thickness at the center and outside of the portion where the openings are formed is not uniform. For this reason, variations occur in the amount of solder printed between the center and the outside of the portion where the opening is formed.
さらに、印刷パターン開口を有する層とメッシュパターン開口を有する層とが積層された2層構造のスクリーン印刷用マスクにおいて、マスクの厚さが均一とならないという課題を解決するため、印刷パターン開口を有する層にダミーの開口を形成する方法がある(特許文献1参照)。
つまり、印刷パターン開口を有する層を形成する際、印刷パターン開口となる部分以外にもダミーのレジストを形成し、電解めっきを行う。ダミーのレジストを形成することにより電流密度の集中を防止し、めっき膜の厚さを均一にする。ダミーの開口が形成された部分にはメッシュ開口は形成しないため、ダミーの開口部分に印刷が行われることはない。
That is, when forming a layer having a printed pattern opening, a dummy resist is formed in addition to the portion to be the printed pattern opening, and electrolytic plating is performed. By forming a dummy resist, concentration of current density is prevented and the thickness of the plating film is made uniform. Since the mesh opening is not formed in the portion where the dummy opening is formed, the dummy opening portion is not printed.
例えば、ボール搭載マスク等では、メッシュ開口を有する層等はない。そのため、ダミーの開口を設けてマスクの厚さの均一化を図った場合、ダミーの開口部分にも印刷が行われてしまう。
本発明は、例えば、ボール搭載マスク等メッシュを有さないマスクにおいて、印刷パターン以外の部分へ印刷されることのない厚さを均一なマスクを提供することを目的とする。
For example, a ball mounting mask or the like does not have a layer having a mesh opening. Therefore, when a dummy opening is provided to make the mask thickness uniform, printing is also performed on the dummy opening.
An object of the present invention is to provide a mask having a uniform thickness that is not printed on a portion other than a print pattern, for example, in a mask having no mesh such as a ball-mounted mask.
本発明に係るマスクは、例えば、めっきにより形成され、印刷部開口を有する第1のマスク層と、めっきにより形成され、印刷パターンに対応した印刷パターン開口を有する第2のマスク層とが積層されたマスクであり、上記第1のマスク層は、上記印刷パターン開口の略全面に重ねて形成された印刷部開口を有する印刷部と、印刷部開口を有さない非印刷部とを有し、上記第2のマスク層は、上記印刷パターン開口に加えて上記第1のマスク層の上記非印刷部と重なる部分にダミーの開口を有し、上記第1のマスク層は、印刷部開口を有する印刷部の厚さよりも、印刷部開口を有さない非印刷部の厚さは若干薄くされ、上記第2のマスク層は、上記印刷パターン開口を有する部分の厚さと、上記ダミーの開口を有する部分の厚さとは同一の厚さであり、上記第1のマスク層は、上記第2のマスク層と比べ薄い皮膜形成とすることにより、第1の皮膜の印刷部の厚さと非印刷部の厚さとの差を目立たないものとし、マスク全体で見た場合に印刷パターン開口を有する部分の厚さと、ダミーの開口を有する部分の厚さとが同一に近付くようにしたことを特徴とする。 The mask according to the present invention is formed by , for example, laminating a first mask layer formed by plating and having a printing part opening, and a second mask layer formed by plating and having a printing pattern opening corresponding to the printing pattern. The first mask layer has a printing part having a printing part opening formed so as to overlap substantially the entire surface of the printing pattern opening, and a non-printing part having no printing part opening, the second mask layer, in addition to the above print pattern opening possess the above the non-printing part and the overlapped part dummy opening of the first mask layer, said first mask layer having a printing opening The thickness of the non-printing portion that does not have the printing portion opening is slightly smaller than the thickness of the printing portion, and the second mask layer has the thickness of the portion having the printing pattern opening and the dummy opening. Same as part thickness The first mask layer is formed with a thinner film than the second mask layer, so that the difference between the thickness of the printed portion of the first coating and the thickness of the non-printed portion is not noticeable. The thickness of the portion having the printed pattern opening and the thickness of the portion having the dummy opening are close to the same when viewed from the whole mask .
上記第1のマスク層が有する印刷部開口は、上記印刷パターン開口と略同一の大きさかつ略同一形状であることを特徴とする。 The printing portion opening of the first mask layer has substantially the same size and the same shape as the printing pattern opening.
上記第2のマスク層が有する上記ダミーの開口は、上記印刷パターン開口の面積と略同一の面積であることを特徴とする。 The dummy opening of the second mask layer has an area substantially the same as the area of the print pattern opening.
本発明に係るマスクの製造方法は、例えば、基材に印刷パターン形状の第1のレジストを形成するステップと、上記第1のレジストが形成された領域を除いて上記基材にめっきをすることにより、上記基材に、印刷部開口を有する印刷部と、印刷部開口を有さない非印刷部とを備え、上記印刷部開口を有する印刷部の厚さよりも、上記印刷部開口を有さない非印刷部の厚さは若干薄くされる第1のマスク層をめっきにより形成するステップと、上記第1のマスク層の上に、上記印刷部と対応する印刷パターン形状と、上記非印刷部と対応するダミーの開口のパターン形状とを有する第2のレジストを形成するステップと、上記第2のレジストが形成された領域を除いて、上記第1のマスク層の上に印刷パターン開口を有する部分の厚さと、ダミーの開口を有する部分の厚さとが同一の厚さに形成された第2のマスク層をめっきにより形成するステップと、上記第1のレジストと第2のレジストとを除去するステップと、上記第1のマスク層と上記第2のマスク層とから上記基材を剥離するステップとを備え、上記第1のマスク層は、上記第2のマスク層と比べ薄い皮膜形成とすることにより、第1の皮膜の印刷部の厚さと非印刷部の厚さとの差を目立たないものとし、マスク全体で見た場合に上記印刷パターン開口を有する部分の厚さと、ダミーの開口を有する部分の厚さとが同一に近付くようにしたことを特徴とする。 The method for producing a mask according to the present invention includes, for example, forming a first resist having a printed pattern shape on a base material, and plating the base material except for the region where the first resist is formed. The substrate includes a printing unit having a printing unit opening and a non-printing unit having no printing unit opening, and has the printing unit opening rather than the thickness of the printing unit having the printing unit opening. A step of forming a first mask layer by plating, in which the thickness of the non-printing portion is slightly reduced , a printed pattern shape corresponding to the printing portion on the first mask layer, and the non-printing portion Forming a second resist having a pattern shape of a corresponding dummy opening, and having a printed pattern opening on the first mask layer except for the region where the second resist is formed and the thickness of the part, da Removing the step in which the thickness of the portion having an opening over is formed by plating a second mask layer formed in the same thickness, and the first resist and the second resist, the first A step of peeling the base material from the first mask layer and the second mask layer , wherein the first mask layer is formed as a thin film compared to the second mask layer, thereby The difference between the thickness of the printed portion of the film and the thickness of the non-printed portion is inconspicuous, and the thickness of the portion having the printed pattern opening and the thickness of the portion having the dummy opening when viewed from the whole mask. It is characterized by approaching the same .
本発明に係るマスクの製造方法は、例えば、基材に印刷パターン形状の第1のレジストを形成するステップと、上記第1のレジストが形成された領域を除いて上記基材にめっきをすることにより、上記基材に、印刷部開口を有する印刷部と、印刷部開口を有さない非印刷部とを備え、上記印刷部開口を有する印刷部の厚さよりも、上記印刷部開口を有さない非印刷部の厚さは若干薄くされる第1のマスク層をめっきにより形成するステップと、 上記第1のレジストを除去するステップと、上記第1のマスク層の上に、上記印刷部と対応する印刷パターン形状と、上記非印刷部と対応するダミーの開口のパターン形状とを有する第2のレジストを形成するステップと、上記第2のレジストが形成された領域を除いて、上記第1のマスク層の上に印刷パターン開口を有する部分の厚さと、ダミーの開口を有する部分の厚さとが同一の厚さに形成された第2のマスク層をめっきにより形成するステップと、上記第2のレジストを除去するステップと、上記第1のマスク層と上記第2のマスク層とから上記基材を剥離するステップとを備え、上記第1のマスク層は、上記第2のマスク層と比べ薄い皮膜形成とすることにより、第1の皮膜の印刷部の厚さと非印刷部の厚さとの差を目立たないものとし、マスク全体で見た場合に上記印刷パターン開口を有する部分の厚さと、ダミーの開口を有する部分の厚さとが同一に近付くようにしたことを特徴とする。 The method for producing a mask according to the present invention includes, for example, forming a first resist having a printed pattern shape on a base material, and plating the base material except for the region where the first resist is formed. The substrate includes a printing unit having a printing unit opening and a non-printing unit having no printing unit opening, and has the printing unit opening rather than the thickness of the printing unit having the printing unit opening. A thickness of the non-printing part is slightly reduced, the step of forming a first mask layer by plating, the step of removing the first resist, the printing part on the first mask layer, Except for the step of forming a second resist having a corresponding printed pattern shape and a pattern shape of a dummy opening corresponding to the non-printing portion, and the region where the second resist is formed, the first resist On the mask layer Forming a second mask layer formed by plating so that the thickness of the portion having the printed pattern opening is the same as the thickness of the portion having the dummy opening , and removing the second resist And peeling the substrate from the first mask layer and the second mask layer , wherein the first mask layer is formed with a thinner film than the second mask layer. Therefore, the difference between the thickness of the printed portion of the first film and the thickness of the non-printed portion is inconspicuous, and the thickness of the portion having the printed pattern opening and the portion having the dummy opening when viewed from the entire mask. It is characterized in that the thickness of each of the two approaches the same .
本発明に係るマスク及びマスクの製造方法によれば、ボール搭載マスク等のメッシュを有さないマスクにおいて、マスクの厚さを均一にすることができる。 According to the mask and the mask manufacturing method of the present invention, the mask thickness can be made uniform in a mask having no mesh such as a ball-mounted mask.
実施の形態1.
まず、図1から図3までに基づき、実施の形態1に係るマスク1の形状について説明する。
Embodiment 1 FIG.
First, the shape of the mask 1 according to the first embodiment will be described with reference to FIGS.
図1は、マスク1を印刷側(ワーク側)から見た状態を示す図である。マスク1に形成された印刷パターン開口2は印刷パターンに相当する開口である。また、ダミーの開口3は印刷パターンではない開口である。
図2は、マスク1をインク側から見た状態を示す図である。インク側とは、スキージにより印刷を行うマスクであれば、スキージが摺動する側である。マスク1に形成された印刷部開口4は、印刷パターン開口2と連結した開口である。
図3は、図1に示すA−A’断面図である。図3に示すようにマスク1は、印刷部開口4を有する層(第1のマスク層13)と、印刷パターン開口2とダミーの開口3とを有する層(第2のマスク層16)との2つの層を備える。印刷部開口4は、印刷パターン開口2と1対1で対応して設けられる。また、印刷部開口4は、印刷パターン開口2と略同一の大きさに形成され、略同じ位置に重ねて設けられる。言い換えると、印刷部開口4は、印刷パターン開口2の全面を覆っているような状態である。つまり、印刷部開口4と印刷パターン開口2との断面形状は同一である。一方、印刷部開口4は、ダミーの開口3とは連結されていない。つまり、ダミーの開口3は、インク側では塞がっており、貫通してい
ない。
マスク1を用いて印刷を行った場合、インクは、インク側から印刷部開口4を介して印刷パターン開口2から印刷側へ移動してワークへ付着する。ダミーの開口3はインク側で塞がっており印刷はされない。
FIG. 1 is a diagram showing a state in which the mask 1 is viewed from the printing side (work side). The
FIG. 2 is a diagram illustrating a state in which the mask 1 is viewed from the ink side. The ink side is the side on which the squeegee slides if it is a mask for printing with a squeegee. The printing part opening 4 formed in the mask 1 is an opening connected to the printing pattern opening 2.
3 is a cross-sectional view taken along line AA ′ shown in FIG. As shown in FIG. 3, the mask 1 includes a layer having a printing portion opening 4 (first mask layer 13), and a layer having a printing pattern opening 2 and a dummy opening 3 (second mask layer 16). With two layers. The printing part opening 4 is provided in one-to-one correspondence with the printing pattern opening 2. Moreover, the printing part opening 4 is formed in the substantially same magnitude | size as the printing pattern opening 2, and is piled up and provided in the substantially same position. In other words, the printing part opening 4 is in a state of covering the entire surface of the printing pattern opening 2. That is, the cross-sectional shape of the printing part opening 4 and the
When printing is performed using the mask 1, the ink moves from the ink side to the printing side through the printing unit opening 4 and adheres to the work. The
図3に示すように、第1のマスク層13は、印刷部開口4を有する部分(印刷部)の厚さ(W1)よりも、印刷部開口4を有さない部分(非印刷部)の厚さ(W2)は若干薄い。この理由については後述する。
一方、第2のマスク層16は、印刷パターン開口2を有する部分の厚さ(W3)と、ダミーの開口3を有する部分の厚さ(W4)とは略同一の厚さである。この理由についても後述する。
マスク1全体で見た場合、印刷パターン開口を有する部分の厚さ(W1+W3)と、ダミーの開口3を有する部分の厚さ(W2+W4)とは略同一であることが望ましい。つまり、マスク1の板厚の均一性を重視する。そこで、第1のマスク層13を極力薄い皮膜形成とする。特に、第1のマスク層13は、第2のマスク層16と比べ薄い皮膜形成とする。第2のマスク層16と比べ第1のマスク層13を薄くすることにより、第1のマスク層13の印刷部の厚さ(W1)と非印刷部の厚さ(W2)との差をマスク1全体で見た場合に目立たないものとする。その結果、マスク1全体で見た場合、印刷パターン開口を有する部分の厚さ(W1+W3)と、ダミーの開口3を有する部分の厚さ(W2+W4)とは略同一と言うことができる。
また、印刷パターン開口2の幅(W5)は、ダミーの開口3の幅(W7)と略同一であることが望ましい。詳細は後述するが、このように印刷パターン開口2の幅(W5)を、ダミーの開口3の幅(W7)と略同一とすることにより、印刷パターン開口を有する部分の厚さ(W3)と、印刷パターン開口を有さない部分の厚さ(W4)とを略同一にすることができる。つまり、印刷部開口4と印刷パターン開口2とダミーの開口3との断面形状は同一であることが望ましい。また、印刷パターン開口2の面積とダミーの開口3の面積とを略同一にするとしてもよい。
また、上述したように、印刷部開口4は、印刷パターン開口2と略同一の大きさに形成されているので、印刷部開口4の幅(W6)は、印刷パターン開口2の幅(W5)と略同一である。
As shown in FIG. 3, the
On the other hand, in the
When viewed as a whole of the mask 1, it is desirable that the thickness (W1 + W3) of the portion having the printed pattern opening and the thickness (W2 + W4) of the portion having the
Further, it is desirable that the width (W5) of the
Further, as described above, since the
次に、図4から図13までに基づき、実施の形態1に係るマスク1の製造方法について説明する。
まず、図4に示すように、基材10を準備し、その上にレジスト11(感光性樹脂,第1のレジスト)をラミネートする。基材10の材質は例えばSUS(ステンレス鋼,Stainless Used Steel)、鉄板、アルミニウム等の導電性基材を用いる事ができる。または、導電性皮膜が形成された非導電性基材でもよく、例えば、ガラスにNi,Cr、ITO(Indium Tin Oxide)膜等の導電性物質を蒸着した基材でもよい。
Next, a method for manufacturing the mask 1 according to the first embodiment will be described with reference to FIGS.
First, as shown in FIG. 4, a
次に、図5に示すように、レジスト11の上に印刷部開口4のパターンを有するパターンフィルム12を重ねて露光する。つまり、パターンフィルム12の印刷パターンの露光部分12−1が露光される。このように、フィルムを用いて印刷パターンをレジストに露光する方法に限られず、紫外線レーザー等を用いて印刷部開口4のパターンをレジストに直接描画しても構わない。そして、パターンフィルム12を取り外し、現像する。すると、図6に示すように、レジスト11は印刷部開口4のパターン形状に形成される。図7に示すように、ニッケル等のめっきを施すことにより、レジスト11が形成された領域を除いて、基材10の表面に第1のマスク層13を形成する。そして、レジスト11を剥離(除去)すると、図8に示すように、第1のマスク層13には印刷部開口4が形成される。
Next, as shown in FIG. 5, the
次に、図9に示すように、第1のマスク層13の上にレジスト14をラミネートする。そして、図10に示すように、レジスト14の上に印刷パターン(印刷パターン開口2のパターン)と、ダミーの開口3のパターンとを有するパターンフィルム15を重ねて露光する。つまり、パターンフィルム15の印刷パターンの露光部分15−1が露光される。ここでも上述したように、紫外線レーザー等を用いて印刷パターンをレジストに直接描画
しても構わない。そして、パターンフィルム15を取り外し、現像する。すると、図11に示すように、レジスト14は印刷パターン形状とダミーの開口3のパターン形状とに形成される。図12に示すように、ニッケル等のめっきを施すことにより、レジスト14が形成された領域を除いて、第1のマスク層13の表面に第2のマスク層16を形成する。そして、レジスト14を剥離(除去)して、第1のマスク層13と第2のマスク層16とから基材10を剥離する。すると、図13に示すように、印刷部開口4が形成された第1のマスク層13と、印刷パターン開口2とダミーの開口3とが形成された第2のマスク層16とが積層されたマスクが製造される。
Next, as shown in FIG. 9, a resist 14 is laminated on the
ここで、図7に示すように、めっきを施すことにより、第1のマスク層13を形成する際、レジスト11付近は厚くなり、その他の部分は薄くなる。つまり、上述したように、第1のマスク層13は、印刷部開口4を有する部分(印刷部)の厚さ(W1)よりも、印刷部開口4を有さない部分(非印刷部)の厚さ(W2)は若干薄くなる。これは、めっきを施す場合に、レジスト11付近の電流密度が他の部分に比べ高くなるためである。
一方、図12に示すように、めっきを施すことにより、第2のマスク層16を形成しても、第2のマスク層16は全体が略均一の厚さとなる。つまり、上述したように、第2のマスク層16は、印刷パターン開口2を有する部分の厚さ(W3)と、ダミーの開口3を有する部分の厚さ(W4)とは略同一の厚さである。これは、レジスト14が印刷パターン形状だけでなく、ダミーの開口3のパターンに形成されているため、電流密度が全体として略均一になるためである。ダミーの開口3は、印刷パターンが存在しない部分に一様に設けることにより、電流密度をより均一にすることができる。また、ダミーの開口3を印刷パターン開口2と同一の形状にすることにより、電流密度をより均一にすることができ、第2のマスク層16は全体を略均一の厚さとすることができる。ダミーの開口3を印刷パターン開口2と同一の形状ではなく、同一の面積としても同様に、電流密度を均一にすることができ、第2のマスク層16は全体が略均一の厚さとすることができる。
Here, as shown in FIG. 7, when the
On the other hand, as shown in FIG. 12, even if the
また、印刷パターン開口2が印刷部開口4よりも小さい場合、図11に示すように、印刷部開口4の上にレジスト13を形成することができない。そのため、上述したマスクの製造方法においては、印刷パターン開口2を印刷部開口4よりも若干大きくする必要がある。つまり、上記説明で、印刷パターン開口2と印刷部開口4とは略同一の大きさであるとしたが、この略同一の大きさとは、印刷パターン開口2が印刷部開口4よりも10μm程大きい場合も含むという意味である。
または、図8に示すように、レジスト11を剥離せず、レジスト11を残したままレジスト14をラミネートするようにしてもよい。この場合、印刷パターン開口2が印刷部開口4よりも小さくしても構わない。つまり、この場合、レジスト11は、レジスト14とともに、図13に示す工程で剥離される。さらに、この場合、レジスト11にも第2のマスク層16を形成する必要があるため、少なくともレジスト14が形成された領域を除いて、レジスト11上に導電性の皮膜を形成する必要がある。
Further, when the
Alternatively, as shown in FIG. 8, the resist 11 may be laminated without removing the resist 11 and leaving the resist 11. In this case, the
つまり、実施の形態1に係るマスクは、メッシュパターンを有さない2つの層が積層されたマスクである。そして、印刷側(ワーク側)の層である第2のマスク層16には、ダミーの開口3が形成されている。第2のマスク層16にダミーの開口3を形成することにより、第2のマスク層16の厚さを均一にしている。一方、インク側の層である第1のマスク層13にはダミーの開口3はなく、厚さが均一にならない。しかし、第1のマスク層13の厚さは、第2のマスク層16の厚さに比べ薄く、かつ、第1のマスク層13の厚さは非常に薄い。そのため、第1のマスク層13の厚さに斑があることはほとんど無視し得る程度である。
すなわち、実施の形態1に係るマスクは、略均一の厚みのメッシュパターンを有さないマスクである。
That is, the mask according to Embodiment 1 is a mask in which two layers that do not have a mesh pattern are stacked. A
That is, the mask according to Embodiment 1 is a mask that does not have a mesh pattern with a substantially uniform thickness.
上述したように、ダミーの開口3のパターンは、印刷パターン開口2と同一の形状にすることが望ましい。特に、印刷パターン開口2が一定のパターンの繰り返しになっているような場合には、ダミーの開口3のパターンもその一定のパターンを繰り返すように設けることが望ましい。この理由は、上記と同様であり、電流密度をより均一にすることができるためである。つまり、複数の印刷パターン開口2を有するチップのパターン2−1を複数有するマスク1の場合には、ダミーの開口3のパターンもチップのパターン2−1と同一の形状とすることが望ましい。
一例を図14、図15に示す。図14は、複数のチップのパターン2−1を有するマスク1を印刷側(ワーク側)から見た状態を示す図である。図15は、複数のチップのパターン2−1を有するマスク1をインク側から見た状態を示す図である。図14、図15において、太線で示した部分は、印刷パターン開口2と、複数の印刷パターン開口2を有するチップのパターン2−1とを示す。ここで、チップのパターン2−1は、すべて同一パターンである。また、図14において、細線で示した部分は、ダミーの開口3と、チップのパターン2−1に対応したダミーの開口の集合3−1とを示す。ここで、チップのパターン2−1と、ダミーの開口の集合3−1とは同一のパターンである。
つまり、ダミーの開口3のパターンは、印刷パターン開口2と所定の範囲で区切った場合に同一面積になるように設けることが望ましい。
As described above, it is desirable that the pattern of the
An example is shown in FIGS. FIG. 14 is a diagram illustrating a state in which the mask 1 having a plurality of chip patterns 2-1 is viewed from the printing side (working side). FIG. 15 is a diagram illustrating a state in which the mask 1 having a plurality of chip patterns 2-1 is viewed from the ink side. In FIGS. 14 and 15, a portion indicated by a bold line indicates a
That is, it is desirable that the pattern of the
また、印刷パターン開口2の外側に複数のダミーの開口3を設けることが望ましい。上記説明では、簡略化した図を用いて説明したが、実際にはめっきを施すと図16に示すようになるためである。つまり、レジスト17が密集している部分からレジスト17がない部分へ徐々にめっき18は薄くなっていく。そのため、印刷パターン開口2となるべき部分にめっき18が十分にされず、印刷不良の原因となる。そこで、図17に示すように、印刷パターン開口2のレジスト17の外側に複数のダミーの開口3のレジスト19を設けることにより、印刷パターン開口2となるべき部分にめっき18が十分にされる。つまり、ダミーの開口3を設けることにより、印刷パターン開口2となるべき部分にめっき18が十分にされるようにする。そして、めっき18が十分にされない部分を、印刷パターン開口2となるべき部分ではなく、ダミーの開口3の部分に発生させるのである。これは、図14に示す例でも同様である。つまり、図14に示すように、ダミーの開口3の繰り返し3−1を、印刷パターン開口2の外側に複数設けることが望ましい。
It is desirable to provide a plurality of
ここで、図16と図17との説明からわかるように、上記説明では、簡単のため第2のマスク層16は全体が略均一の厚さとなると説明したが、厳密には第2のマスク層16のダミーの開口3の外側の厚さは徐々に薄くなる。つまり、例えば図3では、第2のマスク層16は全体を均一の厚さで示しているが、実際には、図16と図17と同様に、ダミーの開口3の外側の厚さは徐々に薄くなる。すなわち、上記説明の第2のマスク層16全体が略均一の厚さとなるとは、厳密には第2のマスク層16の少なくとも印刷部が全体として略均一の厚さとなるということである。
Here, as can be seen from the description of FIG. 16 and FIG. 17, in the above description, the
また、上記説明では、印刷部の外側にダミーの開口3を設けるという表現を用いた。ここで、印刷部の外側にダミーの開口3を設けるとは、複数の印刷部が間を空けて存在する場合には、印刷部と印刷部との間にもダミーの開口3を設けるということを含むものである。
In the above description, the expression that the
以上をまとめると、この実施の形態に係るマスクの製造方法は、例えば、基材に印刷パターン形状の第1のレジストを形成するステップと、
上記第1のレジストが形成された領域を除いて上記基材にめっきをすることにより、上記基材に、開口を有する印刷部と、開口を有さない非印刷部とを備える第1のマスク層をめっきにより形成するステップと、
上記第1のレジストが形成された領域上に印刷パターン形状の第2のレジストを形成するとともに、上記第1のマスク層の上記非印刷部の表面に所定のパターンの第3のレジストを形成するステップと、
上記第2のレジストと上記第3のレジストとが形成された領域を除いて、上記第1のマスク層に第2のマスク層をめっきにより形成するステップと、
上記第1のレジストと上記第2のレジストと上記第3のレジストとを除去するステップと、
上記第1のマスク層と上記第2のマスク層とから上記基材を剥離するステップと
を備えることを特徴とするということができる。
To summarize the above, the mask manufacturing method according to this embodiment includes, for example, a step of forming a first resist having a printed pattern shape on a substrate;
A first mask provided with a printing part having an opening and a non-printing part having no opening on the base by plating the base except the region where the first resist is formed. Forming a layer by plating;
A second resist having a printed pattern shape is formed on the region where the first resist is formed, and a third resist having a predetermined pattern is formed on the surface of the non-printing portion of the first mask layer. Steps,
Forming a second mask layer by plating on the first mask layer, except for a region where the second resist and the third resist are formed;
Removing the first resist, the second resist, and the third resist;
It can be said that the method includes a step of peeling the base material from the first mask layer and the second mask layer.
1 マスク、2 印刷パターン開口、3 ダミーの開口、4 印刷部開口、10 基材、11,14,17,19 レジスト、12,15 パターンフィルム、13 第1のマスク層、16 第2のマスク層、18 めっき。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Mask, 2 Print pattern opening, 3 Dummy opening, 4 Print part opening, 10 Base material, 11, 14, 17, 19 Resist, 12, 15 Pattern film, 13 1st mask layer, 16
Claims (5)
する第2のマスク層とが積層されたマスクであり、
上記第1のマスク層は、上記印刷パターン開口の略全面に重ねて形成された印刷部開口を有する印刷部と、印刷部開口を有さない非印刷部とを有し、
上記第2のマスク層は、上記印刷パターン開口に加えて上記第1のマスク層の上記非印刷部と重なる部分にダミーの開口を有し、
上記第1のマスク層は、印刷部開口を有する印刷部の厚さよりも、印刷部開口を有さない非印刷部の厚さは若干薄くされ、
上記第2のマスク層は、上記印刷パターン開口を有する部分の厚さと、上記ダミーの開口を有する部分の厚さとは同一の厚さであり、
上記第1のマスク層は、上記第2のマスク層と比べ薄い皮膜形成とすることにより、第1の皮膜の印刷部の厚さと非印刷部の厚さとの差を目立たないものとし、マスク全体で見た場合に印刷パターン開口を有する部分の厚さと、ダミーの開口を有する部分の厚さとが同一に近付くようにしたことを特徴とするマスク。 A mask in which a first mask layer formed by plating and having a printing part opening and a second mask layer formed by plating and having a printing pattern opening corresponding to the printing pattern are laminated;
The first mask layer has a printing part having a printing part opening formed so as to overlap the substantially entire surface of the printing pattern opening, and a non-printing part having no printing part opening,
The second mask layer, in addition to the above print pattern opening possess the above the non-printing part and the overlapped part dummy opening of the first mask layer,
In the first mask layer, the thickness of the non-printing part not having the printing part opening is slightly thinner than the thickness of the printing part having the printing part opening,
In the second mask layer, the thickness of the portion having the printed pattern opening and the thickness of the portion having the dummy opening are the same thickness,
The first mask layer is formed with a thinner film than the second mask layer, so that the difference between the thickness of the printed portion of the first coating and the thickness of the non-printed portion is inconspicuous. A mask in which the thickness of the portion having the printed pattern opening and the thickness of the portion having the dummy opening are close to each other when viewed in FIG.
上記第1のレジストが形成された領域を除いて上記基材にめっきをすることにより、上記基材に、印刷部開口を有する印刷部と、印刷部開口を有さない非印刷部とを備え、上記印刷部開口を有する印刷部の厚さよりも、上記印刷部開口を有さない非印刷部の厚さは若干薄くされる第1のマスク層をめっきにより形成するステップと、
上記第1のマスク層の上に、上記印刷部と対応する印刷パターン形状と、上記非印刷部と対応するダミーの開口のパターン形状とを有する第2のレジストを形成するステップと、
上記第2のレジストが形成された領域を除いて、上記第1のマスク層の上に印刷パターン開口を有する部分の厚さと、ダミーの開口を有する部分の厚さとが同一の厚さに形成された第2のマスク層をめっきにより形成するステップと、
上記第1のレジストと第2のレジストとを除去するステップと、
上記第1のマスク層と上記第2のマスク層とから上記基材を剥離するステップとを備え、
上記第1のマスク層は、上記第2のマスク層と比べ薄い皮膜形成とすることにより、第1の皮膜の印刷部の厚さと非印刷部の厚さとの差を目立たないものとし、マスク全体で見た場合に上記印刷パターン開口を有する部分の厚さと、ダミーの開口を有する部分の厚さとが同一に近付くようにしたことを特徴とするマスクの製造方法。 Forming a first resist having a printed pattern shape on a substrate;
By plating the base material except for the region where the first resist is formed, the base material is provided with a printing part having a printing part opening and a non-printing part having no printing part opening. Forming a first mask layer by plating in which the thickness of the non-printing portion not having the printing portion opening is made slightly thinner than the thickness of the printing portion having the printing portion opening ;
Forming a second resist having a printed pattern shape corresponding to the printed portion and a dummy opening pattern shape corresponding to the non-printed portion on the first mask layer;
Except for the region where the second resist is formed, the thickness of the portion having the printed pattern opening on the first mask layer and the thickness of the portion having the dummy opening are formed to the same thickness. Forming a second mask layer by plating;
Removing the first resist and the second resist;
Peeling the substrate from the first mask layer and the second mask layer ,
The first mask layer is formed with a thinner film than the second mask layer, so that the difference between the thickness of the printed portion of the first coating and the thickness of the non-printed portion is inconspicuous. The mask manufacturing method is characterized in that the thickness of the portion having the printed pattern opening and the thickness of the portion having the dummy opening approach the same when viewed in FIG .
上記第1のレジストが形成された領域を除いて上記基材にめっきをすることにより、上記基材に、印刷部開口を有する印刷部と、印刷部開口を有さない非印刷部とを備え、上記印刷部開口を有する印刷部の厚さよりも、上記印刷部開口を有さない非印刷部の厚さは若干薄くされる第1のマスク層をめっきにより形成するステップと、
上記第1のレジストを除去するステップと、
上記第1のマスク層の上に、上記印刷部と対応する印刷パターン形状と、上記非印刷部
と対応するダミーの開口のパターン形状とを有する第2のレジストを形成するステップと、
上記第2のレジストが形成された領域を除いて、上記第1のマスク層の上に印刷パターン開口を有する部分の厚さと、ダミーの開口を有する部分の厚さとが同一の厚さに形成された第2のマスク層をめっきにより形成するステップと、
上記第2のレジストを除去するステップと、
上記第1のマスク層と上記第2のマスク層とから上記基材を剥離するステップとを備え、
上記第1のマスク層は、上記第2のマスク層と比べ薄い皮膜形成とすることにより、第1の皮膜の印刷部の厚さと非印刷部の厚さとの差を目立たないものとし、マスク全体で見た場合に上記印刷パターン開口を有する部分の厚さと、ダミーの開口を有する部分の厚さとが同一に近付くようにしたことを特徴とするマスクの製造方法。 Forming a first resist having a printed pattern shape on a substrate;
By plating the base material except for the region where the first resist is formed, the base material is provided with a printing part having a printing part opening and a non-printing part having no printing part opening. Forming a first mask layer by plating in which the thickness of the non-printing portion not having the printing portion opening is made slightly thinner than the thickness of the printing portion having the printing portion opening ;
Removing the first resist;
Forming a second resist having a printed pattern shape corresponding to the printed portion and a dummy opening pattern shape corresponding to the non-printed portion on the first mask layer;
Except for the region where the second resist is formed, the thickness of the portion having the printed pattern opening on the first mask layer and the thickness of the portion having the dummy opening are formed to the same thickness. Forming a second mask layer by plating;
Removing the second resist;
Peeling the substrate from the first mask layer and the second mask layer ,
The first mask layer is formed with a thinner film than the second mask layer, so that the difference between the thickness of the printed portion of the first coating and the thickness of the non-printed portion is inconspicuous. The mask manufacturing method is characterized in that the thickness of the portion having the printed pattern opening and the thickness of the portion having the dummy opening approach the same when viewed in FIG .
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