JP5309622B2 - Surface treatment agent - Google Patents

Surface treatment agent Download PDF

Info

Publication number
JP5309622B2
JP5309622B2 JP2008059693A JP2008059693A JP5309622B2 JP 5309622 B2 JP5309622 B2 JP 5309622B2 JP 2008059693 A JP2008059693 A JP 2008059693A JP 2008059693 A JP2008059693 A JP 2008059693A JP 5309622 B2 JP5309622 B2 JP 5309622B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
integer
group represented
following formula
formula
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008059693A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2009149835A (en
Inventor
大祐 白川
啓一 大西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Glass Co Ltd filed Critical Asahi Glass Co Ltd
Priority to JP2008059693A priority Critical patent/JP5309622B2/en
Publication of JP2009149835A publication Critical patent/JP2009149835A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5309622B2 publication Critical patent/JP5309622B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Lubricants (AREA)
  • Polyethers (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a surface treatment agent having high chemical stability and coating self-repairing ability, and high fixiability to a base material, and being capable of being subjected to an orientation process of terminal groups in the coating step to the base material by the irradiation of ultraviolet rays. <P>SOLUTION: A surface treatment agent comprising (X-)<SB>x</SB>(W-)<SB>w</SB>(Z-)<SB>z</SB>Y, wherein X, W, and Z each represents formulae (X), (W), and (Z), respectively; Y represents a perfluorinated saturated hydrocarbon group and the like of (x+w+z) value, wherein x is an integer of one or more; each w and z is an integer of 0 or above; and (x+w+z) is an integer of 3 or larger; and U-(CH<SB>2</SB>CH<SB>2</SB>O)<SB>a</SB>-(CH<SB>2</SB>)<SB>b</SB>-CF<SB>2</SB>O(CF<SB>2</SB>CF<SB>2</SB>O)<SB>c</SB>-...(X), R<SP>W</SP>-(CH<SB>2</SB>CH<SB>2</SB>O)<SB>d</SB>-(CH<SB>2</SB>)<SB>e</SB>-CF<SB>2</SB>O(CF<SB>2</SB>CF<SB>2</SB>O)<SB>f</SB>-...(W), R<SP>F</SP>O(CF<SB>2</SB>CF<SB>2</SB>O)<SB>g</SB>-...(Z), wherein, U represents an ultraviolet rays absorbing group; a and b are each an integer from 0 to 100; c is an integer from 1 to 200; R<SP>W</SP>represents HO-, HOC(O)- or the like; d and e are each an integer from 0 to 100; f is an integer from 1 to 200; R<SP>F</SP>represents a perfluoroalkyl group or the like; and g is an integer from 3 to 200. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、潤滑剤等の表面処理剤に関する。   The present invention relates to a surface treatment agent such as a lubricant.

外部記憶装置としては、記録媒体層を有するハードディスクを高速回転させて記録・再生用素子(ヘッド)が作動する方式(CSS方式)の外部記憶装置が一般的に用いられる。ハードディスクとしては、固定式磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク等があり、最も普及しているハードディスクは固定式磁気ディスクである。   As the external storage device, an external storage device of a system (CSS system) in which a recording / reproducing element (head) is operated by rotating a hard disk having a recording medium layer at a high speed is generally used. Hard disks include fixed magnetic disks, optical disks, magneto-optical disks, and the most popular hard disks are fixed magnetic disks.

外部記憶装置を大容量化するには、記録媒体層の面記録密度を増加する必要がある。そのためには、ビットサイズを小さくするためにヘッドとハードディスクとの間隔を狭くする必要がある。それに伴いハードディスクの表面の平滑性を上げる必要がある。しかし、ハードディスクの表面の平滑性を上げると、ハードディスクの表面にヘッドが吸着しやすくなる。
また、高速応答性を得るために、ハードディスクの回転速度を上げる必要もある。しかし、回転速度を上げると、ハードディスクとヘッドとの接触確率、摩耗等が増加する。
In order to increase the capacity of the external storage device, it is necessary to increase the surface recording density of the recording medium layer. For this purpose, it is necessary to reduce the distance between the head and the hard disk in order to reduce the bit size. Accordingly, it is necessary to increase the smoothness of the hard disk surface. However, increasing the smoothness of the surface of the hard disk makes it easier for the head to stick to the surface of the hard disk.
In addition, in order to obtain high-speed response, it is necessary to increase the rotation speed of the hard disk. However, increasing the rotational speed increases the probability of contact between the hard disk and the head, wear, and the like.

該問題を解決するために、ハードディスクの表面に表面処理剤の1種である潤滑剤を塗布することが行われている。該潤滑剤としては、下記のものが知られている。
(1)末端に2つの水酸基を有するポリフルオロ化されたポリエーテル化合物(以下、ポリフルオロ化されたポリエーテル化合物をPFPEと記す。)。
In order to solve this problem, a lubricant, which is a kind of surface treatment agent, is applied to the surface of a hard disk. The following are known as the lubricant.
(1) A polyfluorinated polyether compound having two hydroxyl groups at the terminals (hereinafter, the polyfluorinated polyether compound is referred to as PFPE).

しかし、(1)のPFPEは、ハードディスクの表面への定着性が低いため、ハードディスクの回転速度をさらに上げると、遠心力で潤滑剤がハードディスクの表面から移動、消失してしまう。該問題を解決するには、潤滑剤の塗布量を多くする方法が考えられる。
しかし、塗布量が多くなると、ハードディスクの表面の摺動抵抗が大きくなり、ハードディスクの表面へのヘッドの吸着力が増大して、ハードディスクがヘッドと接触し、破損する。
However, since the PFPE (1) has low fixability on the surface of the hard disk, if the rotational speed of the hard disk is further increased, the lubricant moves and disappears from the surface of the hard disk by centrifugal force. In order to solve this problem, a method of increasing the amount of lubricant applied can be considered.
However, when the coating amount increases, the sliding resistance of the surface of the hard disk increases, and the adsorption force of the head to the surface of the hard disk increases, so that the hard disk comes into contact with the head and breaks.

また、ハードディスクの表面への潤滑剤の塗布工程においては、ハードディスクの表面に潤滑剤を塗布した後、潤滑油の末端基を配向させる処理が行われる。該処理としては、紫外線照射処理または熱処理が知られている。紫外線照射処理は、工程所要時間が短い点で熱処理より有利である。
しかし、(1)のPFPEは、紫外線領域の波長に吸収を有さないため、(1)のPFPEのみを塗布した場合、紫外線照射処理を採用することができない。
Further, in the step of applying the lubricant to the surface of the hard disk, after the lubricant is applied to the surface of the hard disk, a process of orienting the end groups of the lubricating oil is performed. As the treatment, ultraviolet irradiation treatment or heat treatment is known. The ultraviolet irradiation treatment is more advantageous than the heat treatment in that the time required for the process is short.
However, since the PFPE of (1) does not absorb at wavelengths in the ultraviolet region, when only the PFPE of (1) is applied, the ultraviolet irradiation treatment cannot be adopted.

該問題を解決する潤滑剤としては、下記のものが提案されている。
(2)末端に2つの水酸基を有するPFPEの水酸基の1つに、紫外線領域に吸収波長を有する基を結合させたPFPE(特許文献1)。
しかし、(2)に分類されるPFPEでも、化学的安定性の低さ、塗布後の塗膜自己修復性能が低い問題は解決できていない。
As the lubricant for solving the problem, the following has been proposed.
(2) PFPE in which a group having an absorption wavelength in the ultraviolet region is bonded to one hydroxyl group of PFPE having two hydroxyl groups at the terminal (Patent Document 1).
However, even PFPE classified as (2) cannot solve the problems of low chemical stability and low coating film self-healing performance after coating.

特開2002−293787号公報JP 2002-293787 A

本発明は、高い化学的安定性、塗膜自己修復性を有しながら、基材への定着性が高く、かつ基材への塗布工程において、紫外線照射による末端基の配向処理が可能な表面処理剤を提供する。   The surface of the present invention has high chemical stability and coating film self-healing property, and has high fixability to the base material, and can be subjected to end group orientation treatment by ultraviolet irradiation in the coating process to the base material. A treatment agent is provided.

本発明の表面処理剤は、下式(A)で表わされる化合物を含むことを特徴とする。
(X−)(W−)(Z−)Y ・・・(A)。
ただし、Xは、下式(X)で表される基であり、Wは、下式(W)で表される基であり、Zは、下式(Z)で表わされる基であり、Yは、(x+w+z)価のペルフルオロ化飽和炭化水素基または該基の炭素−炭素原子間にエーテル性酸素原子が挿入された基であり、xは、1以上の整数であり、wは、0以上の整数であり、zは、0以上の整数であり、(x+w+z)は、3〜5の整数である。
U−(CHCHO)−(CH−CFO(CFCFO)− ・・・(X)、
−(CHCHO)−(CH−CFO(CFCFO)− ・・・(W)、
O(CFCFO)− ・・・(Z)。
ただし、Uは、下式(U1)で表される基、下式(U21)で表される基、下式(U31)で表される基、下式(U32)で表される基、下式(U33)で表される基、下式(U41)で表される基、下式(U51)で表される基のいずれかであり、aは、0〜100の整数であり、bは、0〜100の整数であり、cは、1〜200の整数であり、Rは、HO−であり、dは、0〜100の整数であり、eは、0〜100の整数であり、fは、1〜200の整数であり、Rは、炭素数が1〜20の直鎖のペルフルオロアルキル基または該基の炭素−炭素原子間にエーテル性酸素原子が挿入された基であり、gは、3〜200の整数である。

Figure 0005309622
Ph−O− ・・・(U21)、
CH =CH(CH NHC(O)− ・・・(U31)、
HO(CH NHC(O)− ・・・(U32)、
(HO(CH −) NC(O)− ・・・(U33)、
OC(O)− ・・・(U41)、
CH =CH(CH O− ・・・(U51)。
ただし、Rは、水素原子、塩素原子、−CH CH CH 、−NH 、−OPh、−OCH (CF Hまたは−OCH CF CF で表される基であり、Phは、置換基を有していてもよいフェニル基であり、pは、1〜8の整数であり、Rは、それぞれ同一であってもよく、異なっていてもよく、nは、1〜3の整数であり、R は、水素原子、炭素数が1〜4のアルキル基、炭素数が1〜4のハロゲン化アルキル基、アリール基、置換アリール基、アリールオキシ基または置換アリールオキシ基であり、qは、1〜3の整数である。 The surface treating agent of the present invention is characterized by containing a compound represented by the following formula (A).
(X−) x (W−) w (Z−) z Y (A).
However, X is group represented by the following Formula (X), W is group represented by the following Formula (W), Z is group represented by the following Formula (Z), Y Is a (x + w + z) -valent perfluorinated saturated hydrocarbon group or a group in which an etheric oxygen atom is inserted between carbon-carbon atoms of the group, x is an integer of 1 or more, and w is 0 or more Z is an integer of 0 or more, and (x + w + z) is an integer of 3 to 5 .
U- (CH 2 CH 2 O) a - (CH 2) b -CF 2 O (CF 2 CF 2 O) c - ··· (X),
R W - (CH 2 CH 2 O) d - (CH 2) e -CF 2 O (CF 2 CF 2 O) f - ··· (W),
R F O (CF 2 CF 2 O) g - ··· (Z).
However, U is a group represented by the following formula (U1), a group represented by the following formula (U21), a group represented by the following formula (U31), a group represented by the following formula (U32), A group represented by the formula (U33), a group represented by the following formula (U41), a group represented by the following formula (U51) , a is an integer of 0 to 100, and b is is an integer of 0 to 100, c is an integer of 1 to 200, R W is HO - a and, d is an integer of 0 to 100, e is an integer from 0 to 100 , F is an integer of 1 to 200, and R F is a linear perfluoroalkyl group having 1 to 20 carbon atoms or a group in which an etheric oxygen atom is inserted between carbon-carbon atoms of the group. , G is an integer from 3 to 200.
Figure 0005309622
Ph-O- (U21),
CH 2 = CH (CH 2) n NHC (O) - ··· (U31),
HO (CH 2 ) n NHC (O) − (U32),
(HO (CH 2 ) n −) 2 NC (O) − (U33),
R c OC (O) − (U41),
CH 2 = CH (CH 2) q O- ··· (U51).
Here, R is a hydrogen atom, a chlorine atom, -CH 2 CH 2 CH 3, -NH 2, -OPh, a group represented by -OCH 2 (CF 2) p H or -OCH 2 CF 2 CF 3 , Ph is an optionally substituted phenyl group, p is an integer of 1 to 8, R may be the same or different, and n is 1 And R c is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, a halogenated alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, an aryl group, a substituted aryl group, an aryloxy group or a substituted aryloxy group. And q is an integer of 1 to 3.

式(A)で表わされる化合物は、−OCFO−構造を有さないことが好ましい。
(x+w+z)は、3または4であることが好ましい。
Yは、下式(Y−1)で表される基〜下式(Y−4)で表される基、下式(Y−1)で表される基〜下式(Y−5)で表される基、下式(Y−1)で表される基のいずれかであることが好ましい。ただし、式(Y−4)は、ペルフルオロシクロヘキサン−1,3,5−トリイル基を示す。
The compound represented by the formula (A) preferably has no —OCF 2 O— structure.
(X + w + z) is preferably 3 or 4.
Y represents a group represented by the following formula (Y 3 -1) to a group represented by the following formula (Y 3 -4), a group represented by the following formula (Y 4 -1) to the following formula (Y 4 It is preferably any one of a group represented by -5) and a group represented by the following formula (Y 5 -1). However, the formula (Y 3 -4) shows a perfluoro-cyclohexane-1,3,5-triyl group.

Figure 0005309622
Figure 0005309622

式(X)で表される基は、下式(X1)で表される基または下式(X2)で表される基であることが好ましい。
−CH−CFO(CFCFO)− ・・・(X1)、
−CFO(CFCFO)− ・・・(X2)。
ただし、Uは、式(U1)で表される基式(U21)で表される基または式(U51)で表される基であり、Uは、式(U31)で表される基、式(U32)で表される基、式(U33)で表される基式(U41)で表される基または式(U51)で表される基であり、cは、1〜200の整数である。
The group represented by the formula (X) is preferably a group represented by the following formula (X1) or a group represented by the following formula (X2).
U 1 —CH 2 —CF 2 O (CF 2 CF 2 O) c − (X1),
U 2 —CF 2 O (CF 2 CF 2 O) c − (X2).
However, U 1 is a group represented by the formula (U1), a group represented by the group or the formula represented by the formula (U21) (U51), U 2 is represented by the formula (U31) A group represented by the formula (U32), a group represented by the formula (U33), a group represented by the formula (U41) or a group represented by the formula (U51), and c is 1 to 200 Is an integer.

式(W)で表される基は、下式(W1)で表される基であることが好ましい。
HO−CH−CFO(CFCFO)− ・・・(W1)。
ただし、fは、1〜200の整数である。
The group represented by the formula (W) is preferably a group represented by the following formula (W1).
HO—CH 2 —CF 2 O (CF 2 CF 2 O) f − (W1 ).
However , f is an integer of 1-200.

式(Z)で表される基は、下式(Z1)で表される基であることが好ましい。
CF(CF−O−(CFCFO)− ・・・(Z1)。
ただし、mは、0〜19の整数であり、gは、3〜200の整数である。
本発明の表面処理剤は、溶媒を含むことが好ましい。
The group represented by the formula (Z) is preferably a group represented by the following formula (Z1).
CF 3 (CF 2) m -O- (CF 2 CF 2 O) g - ··· (Z1).
However, m is an integer of 0-19 and g is an integer of 3-200.
The surface treating agent of the present invention preferably contains a solvent.

本発明の化合物は、下式(A3−1)で表される化合物である。   The compound of the present invention is a compound represented by the following formula (A3-1).

Figure 0005309622
Figure 0005309622

ただし、c1〜c3は、それぞれ1〜200の整数である。   However, c1-c3 is an integer of 1-200, respectively.

本発明の化合物は、下式(A4−1)で表される化合物である。   The compound of the present invention is a compound represented by the following formula (A4-1).

Figure 0005309622
Figure 0005309622

ただし、c1〜c3は、それぞれ1〜200の整数である。   However, c1-c3 is an integer of 1-200, respectively.

本発明の表面処理剤は、高い化学的安定性、塗膜自己修復性を有しながら、基材への定着性が高く、かつ基材への塗布工程において、紫外線照射による末端基の配向処理が可能である。   The surface treatment agent of the present invention has high chemical stability and coating film self-healing property, and has high fixability to the substrate, and in the coating step to the substrate, the end group is subjected to orientation treatment by ultraviolet irradiation. Is possible.

本明細書においては、式(A)で表される化合物を化合物(A)と記す。他の式で表される化合物も同様に記す。
また、式(X)で表される基を基(X)と記す。他の式で表される基も同様に記す。
In this specification, a compound represented by the formula (A) is referred to as a compound (A). The same applies to compounds represented by other formulas.
A group represented by the formula (X) is referred to as a group (X). Groups represented by other formulas are also described in the same manner.

本発明の表面処理剤は、化合物(A)を含む。
(X−)(W−)(Z−)Y ・・・(A)。
化合物(A)は、Yにx個のX、w個のWおよびz個のZが結合した化合物である。xは1以上の整数であり、wは0以上の整数であり、zは0以上の整数であり、(x+w+z)は3以上の整数である。すなわち、化合物(A)は、Yで表される3価以上の基に、1個以上のXが結合する。ZおよびWは任意に結合する基である。
The surface treating agent of the present invention contains a compound (A).
(X−) x (W−) w (Z−) z Y (A).
Compound (A) is a compound in which x X, w W and z Z are bonded to Y. x is an integer of 1 or more, w is an integer of 0 or more, z is an integer of 0 or more, and (x + w + z) is an integer of 3 or more. That is, in the compound (A), one or more Xs are bonded to a trivalent or higher group represented by Y. Z and W are optionally bonded groups.

Xは、基(X)である。
U−(CHCHO)−(CH−CFO(CFCFO)− ・・・(X)。
X is a group (X).
U- (CH 2 CH 2 O) a - (CH 2) b -CF 2 O (CF 2 CF 2 O) c - ··· (X).

aは、0〜100の整数であり、0〜10の整数が好ましく、0〜2の整数がより好ましく、0または1が特に好ましい。
bは、0〜100の整数であり、Uが結合末端に酸素原子を有する場合、1〜10の整数が好ましく、1または2が特に好ましく、Uが結合末端にカルボニル基(C=O)を有する場合、0が好ましい。
cは、1〜200の整数であり、3〜100の整数が好ましく、5〜50の整数がより好ましい。
a is an integer of 0 to 100, preferably an integer of 0 to 10, more preferably an integer of 0 to 2, and particularly preferably 0 or 1.
b is an integer of 0 to 100, and when U has an oxygen atom at the bond terminal, an integer of 1 to 10 is preferable, 1 or 2 is particularly preferable, and U is a carbonyl group (C═O) at the bond terminal. When it has, 0 is preferable.
c is an integer of 1 to 200, preferably an integer of 3 to 100, and more preferably an integer of 5 to 50.

Uは、紫外線領域に吸収波長を有する1価の基である。
Uとしては、シクロホスファゼン環、ベンゼン環、アミド結合、エステル結合、およびビニル基から選ばれる1種以上の構造を有する基が好ましく、アミド結合を有する基が特に好ましい。
U is a monovalent group having an absorption wavelength in the ultraviolet region.
U is preferably a group having at least one structure selected from a cyclophosphazene ring, a benzene ring, an amide bond, an ester bond, and a vinyl group, and particularly preferably a group having an amide bond.

Uがシクロホスファゼン環を有する基である場合のUとしては、基(U1)が挙げられる。   Examples of U when U is a group having a cyclophosphazene ring include group (U1).

Figure 0005309622
Figure 0005309622

ただし、Rは、水素原子、塩素原子、−CHCHCH、−NH、−OPh、−OCH(CFHまたは−OCHCFCFで表される基であり、Phは、置換基を有していてもよいフェニル基であり、pは、1〜8の整数である。Rは、それぞれ同一であってもよく、異なっていてもよく、すべて同一であるのが好ましい。
基(U1)としては、基(U11)が好ましい。
Here, R is a hydrogen atom, a chlorine atom, -CH 2 CH 2 CH 3, -NH 2, -OPh, a group represented by -OCH 2 (CF 2) p H or -OCH 2 CF 2 CF 3 , Ph is an optionally substituted phenyl group, and p is an integer of 1-8. R may be the same or different from each other, and preferably all are the same.
As the group (U1), a group (U11) is preferable.

Figure 0005309622
Figure 0005309622

ただし、Rは、水素原子、炭素数が1〜4のアルキル基、炭素数が1〜4のアルコキシ基、炭素数が1〜4のハロゲン化アルキル基、アリール基、置換アリール基、アリールオキシ基または置換アリールオキシ基である。 Rb is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, a halogenated alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, an aryl group, a substituted aryl group, aryloxy Group or a substituted aryloxy group.

Uがベンゼン環を有する基である場合のUとしては、基(U21)または基(U22)が挙げられる。
Ph−O− ・・・(U21)。
ただし、Phは、置換基を有していてもよいフェニル基である。
Examples of U in the case where U is a group having a benzene ring include group (U21) and group (U22).
Ph-O- (U21).
However, Ph is a phenyl group which may have a substituent.

Figure 0005309622
Figure 0005309622

Uがアミド結合を有する基である場合のUとしては、基(U31)〜基(U33)が挙げられる。なお、基(U31)は、ビニル基を有する基にも含めうる。
CH=CH(CHNHC(O)− ・・・(U31)、
HO(CHNHC(O)− ・・・(U32)、
(HO(CH−)NC(O)− ・・・(U33)。
ただし、nは、1〜3の整数である。
Examples of U when U is a group having an amide bond include groups (U31) to (U33). The group (U31) can also be included in a group having a vinyl group.
CH 2 = CH (CH 2) n NHC (O) - ··· (U31),
HO (CH 2 ) n NHC (O) − (U32),
(HO (CH 2) n - ) 2 NC (O) - ··· (U33).
However, n is an integer of 1-3.

Uがエステル結合を有する基である場合のUとしては、基(U41)が挙げられる。
OC(O)− ・・・(U41)。
ただし、Rは、水素原子、炭素数が1〜4のアルキル基、炭素数が1〜4のハロゲン化アルキル基、アリール基、置換アリール基、アリールオキシ基または置換アリールオキシ基である。
Examples of U in the case where U is a group having an ester bond include group (U41).
R c OC (O) − (U41).
However, Rc is a hydrogen atom, a C1-C4 alkyl group, a C1-C4 halogenated alkyl group, an aryl group, a substituted aryl group, an aryloxy group, or a substituted aryloxy group.

Uがビニル基を有する基である場合のUとしては、基(U51)が挙げられる。
CH=CH(CHO− ・・・(U51)。
ただし、qは1〜3の整数である。
Examples of U in the case where U is a group having a vinyl group include group (U51).
CH 2 = CH (CH 2) q O- ··· (U51).
However, q is an integer of 1-3.

基(X)としては、基(X1)または基(X2)が好ましい。
−CH−CFO(CFCFO)− ・・・(X1)、
−CFO(CFCFO)− ・・・(X2)。
ただし、Uは、シクロホスファゼン環、ベンゼン環またはビニル基を有する1価の基であり、Uは、アミド結合、エステル結合またはビニル基を有する1価の基である。
基(X)としては、化合物の入手のしやすさの点から、Uがアミド結合を有する基が好ましい。
The group (X) is preferably a group (X1) or a group (X2).
U 1 —CH 2 —CF 2 O (CF 2 CF 2 O) c − (X1),
U 2 —CF 2 O (CF 2 CF 2 O) c − (X2).
U 1 is a monovalent group having a cyclophosphazene ring, a benzene ring or a vinyl group, and U 2 is a monovalent group having an amide bond, an ester bond or a vinyl group.
The group (X) is preferably a group in which U has an amide bond from the viewpoint of easy availability of the compound.

Wは、基(W)である。
−(CHCHO)−(CH−CFO(CFCFO)− ・・・(W)。
W is a group (W).
R W - (CH 2 CH 2 O) d - (CH 2) e -CF 2 O (CF 2 CF 2 O) f - ··· (W).

は、HO−、HOC(O)−またはROC(O)−である。
は、アルキル基であり、炭素数1〜6の低級アルキル基が好ましい。
R W is HO—, HOC (O) —, or R a OC (O) —.
R a is an alkyl group and is preferably a lower alkyl group having 1 to 6 carbon atoms.

dは、0〜100の整数であり、0〜10の整数が好ましく、0〜2の整数がより好ましく、0または1が特に好ましい。
eは、0〜100の整数であり、Rが−OHである場合、1または2が好ましく、Rが−C(O)OHまたは−C(O)ORである場合、0が好ましい。
fは、1〜200の整数であり、3〜100の整数が好ましく、5〜50の整数がより好ましい。
d is an integer of 0 to 100, an integer of 0 to 10 is preferable, an integer of 0 to 2 is more preferable, and 0 or 1 is particularly preferable.
e is an integer from 0 to 100, when R W is -OH, preferably 1 or 2, if R W is -C (O) OH or -C (O) OR a, preferably 0 .
f is an integer of 1 to 200, preferably an integer of 3 to 100, and more preferably an integer of 5 to 50.

基(W)としては、基(W1)〜基(W3)が好ましい。
HO−CH−CFO(CFCFO)− ・・・(W1)、
HOC(O)−CFO(CFCFO)− ・・・(W2)、
OC(O)−CFO(CFCFO)− ・・・(W3)。
The group (W) is preferably a group (W1) to a group (W3).
HO—CH 2 —CF 2 O (CF 2 CF 2 O) f − (W1),
HOC (O) —CF 2 O (CF 2 CF 2 O) f − (W2),
R a OC (O) —CF 2 O (CF 2 CF 2 O) f − (W3).

Zは、基(Z)である。
O(CFCFO)− ・・・(Z)。
Z is a group (Z).
R F O (CF 2 CF 2 O) g - ··· (Z).

は、炭素数が1〜20の直鎖のペルフルオロアルキル基または該基の炭素−炭素原子間にエーテル性酸素原子が挿入された基である。
gは、3〜200の整数であり、3〜100の整数が好ましく、3〜70の整数がより好ましく、5〜50の整数が特に好ましい。
R F is a linear perfluoroalkyl group having 1 to 20 carbon atoms or a group in which an etheric oxygen atom is inserted between carbon-carbon atoms of the group.
g is an integer of 3 to 200, preferably an integer of 3 to 100, more preferably an integer of 3 to 70, and particularly preferably an integer of 5 to 50.

基(Z)は、末端に−CFを有する基であり、摩擦係数の低下に寄与しうる基である。基(Z)は、分子中における−CFの自由度が高くなる点から、ある程度の鎖長を有することが好ましい。
基(Z)としては、基(Z1)が好ましく、基(Z11)〜基(Z13)がより好ましい。
CF(CF−O−(CFCFO)− ・・・(Z1)、
CF−O−(CFCFO)− ・・・(Z11)、
CF(CF−O−(CFCFO)− ・・・(Z12)、
CF(CF−O−(CFCFO)− ・・・(Z13)。
ただし、mは、0〜19の整数である。
The group (Z) is a group having —CF 3 at the terminal and can contribute to the reduction of the friction coefficient. Group (Z) from the viewpoint of flexibility of the -CF 3 is high in the molecule preferably has a certain degree of chain length.
As the group (Z), a group (Z1) is preferable, and a group (Z11) to a group (Z13) are more preferable.
CF 3 (CF 2 ) m —O— (CF 2 CF 2 O) g − (Z1),
CF 3 —O— (CF 2 CF 2 O) g − (Z11),
CF 3 (CF 2 ) 2 —O— (CF 2 CF 2 O) g − (Z12),
CF 3 (CF 2) 5 -O- (CF 2 CF 2 O) g - ··· (Z13).
However, m is an integer of 0-19.

xは、1以上の整数であり、1〜(x+w+z)が好ましく、1〜3がより好ましい。
wは、0以上の整数であり、0〜1が好ましい。
zは、0以上の整数であり、0〜1が好ましい。
(x+w+z)は、3または4が好ましい。すなわち、Yは、3価または4価の基が好ましい。
x is an integer greater than or equal to 1, 1- (x + w + z) is preferable and 1-3 are more preferable.
w is an integer greater than or equal to 0, and 0-1 are preferable.
z is an integer greater than or equal to 0, and 0-1 are preferable.
(X + w + z) is preferably 3 or 4. That is, Y is preferably a trivalent or tetravalent group.

Yは、(x+w+z)価のペルフルオロ化飽和炭化水素基または該基の炭素−炭素原子間にエーテル性酸素原子が挿入された基である。Yは、−CFを有さないことが好ましい。Yが−CFを有する場合、−CFは4級炭素原子に結合することが好ましい。4級炭素原子とは、フッ素原子が結合していない炭素原子を意味する。
Yが、炭素−炭素原子間にエーテル性酸素原子が挿入された基である場合、エーテル性酸素原子の数は、1〜3が好ましい。エーテル性酸素原子は炭素−炭素原子間に存在することから、X、Z、Wに結合するYの末端にはエーテル性酸素原子は存在しない。
Y is a (x + w + z) -valent perfluorinated saturated hydrocarbon group or a group having an etheric oxygen atom inserted between carbon-carbon atoms of the group. Y preferably does not have —CF 3 . When Y has a -CF 3, -CF 3 is preferably bonded to a quaternary carbon atom. A quaternary carbon atom means a carbon atom to which no fluorine atom is bonded.
When Y is a group in which an etheric oxygen atom is inserted between carbon-carbon atoms, the number of etheric oxygen atoms is preferably 1 to 3. Since the etheric oxygen atom exists between carbon-carbon atoms, there is no etheric oxygen atom at the end of Y bonded to X, Z, and W.

Yが3価の基である場合のYとしては、基(Y−1)〜基(Y−4)が挙げられる。ただし、基(Y−4)は、ペルフルオロシクロヘキサン−1,3,5−トリイル基を示す。 Examples of Y in the case where Y is a trivalent group include groups (Y 3 -1) to groups (Y 3 -4). However, the group (Y 3 -4) represents a perfluorocyclohexane-1,3,5-triyl group.

Figure 0005309622
Figure 0005309622

Yが4価の基である場合のYとしては、基(Y−1)〜基(Y−5)が挙げられる。 Examples of Y in the case where Y is a tetravalent group include groups (Y 4 -1) to groups (Y 4 -5).

Figure 0005309622
Figure 0005309622

Yが5価の基である場合のYとしては、基(Y−1)が挙げられる。 Examples of Y in the case where Y is a pentavalent group include a group (Y 5 -1).

Figure 0005309622
Figure 0005309622

Yが3価の基である場合の化合物(A)としては、化合物(A−1)〜化合物(A−4)が好ましく、化合物(A−4)が特に好ましい。 As the compound (A) when Y is a trivalent group, the compound (A 3 -1) to the compound (A 3 -4) are preferable, and the compound (A 3 -4) is particularly preferable.

Figure 0005309622
Figure 0005309622

Yが4価の基である場合の化合物(A)としては、化合物(A−1)〜化合物(A−4)が好ましく、化合物(A−4)が特に好ましい。 As the compound (A) when Y is a tetravalent group, the compound (A 4 -1) to the compound (A 4 -4) are preferable, and the compound (A 4 -4) is particularly preferable.

Figure 0005309622
Figure 0005309622

化合物(A)は、化学的安定性の点から、−OCFO−構造を有さないことが好ましい。−OCFO−構造を有さない化合物とは、通常の分析手法(19F−NMR等。)では該構造の存在が検出できない化合物を意味する。 The compound (A) preferably has no —OCF 2 O— structure from the viewpoint of chemical stability. The compound having no —OCF 2 O— structure means a compound in which the presence of the structure cannot be detected by a normal analysis method ( 19 F-NMR, etc.).

化合物(A)としては、化合物(A3−1)または化合物(A4−1)が好ましい。   As the compound (A), the compound (A3-1) or the compound (A4-1) is preferable.

Figure 0005309622
Figure 0005309622

ただし、c1〜c3は、それぞれ1〜200の整数である。   However, c1-c3 is an integer of 1-200, respectively.

化合物(A)の数平均分子量(以下、Mnと記す。)は、500〜10万が好ましく、1000〜2万がより好ましい。
化合物(A)の分子量分布(以下、Mw/Mnと記す。)は、1.0〜1.5が好ましく、1.0〜1.25がより好ましい。
MnおよびMw/Mnが該範囲にあれば、粘度が低く、蒸発成分が少なく、溶媒に溶解した際の均一性に優れる。
Mnは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィ(以下、GPCと記す。)により測定される。Mw/Mnは、GPCにより測定されたMnおよびMw(質量平均分子量)から求める。
The number average molecular weight (hereinafter referred to as Mn) of the compound (A) is preferably 500 to 100,000, more preferably 1000 to 20,000.
1.0-1.5 are preferable and, as for molecular weight distribution (henceforth Mw / Mn) of a compound (A), 1.0-1.25 are more preferable.
If Mn and Mw / Mn are in this range, the viscosity is low, the evaporation component is small, and the uniformity when dissolved in the solvent is excellent.
Mn is measured by gel permeation chromatography (hereinafter referred to as GPC). Mw / Mn is determined from Mn and Mw (mass average molecular weight) measured by GPC.

化合物(A)の製造方法としては、国際公開第2005/068534号パンフレットに記載の方法により、化合物(A1)または化合物(B1)を製造し、該化合物の末端を、公知の手法により変換することにより製造するのが好ましい。
(ROC(O)−CFO(CFCFO)−)(W−)(Z−)Y ・・・(A1)、
(HO−(CH−CFO(CFCFO)−)(W−)(Z−)Y ・・・(B1)。
ただし、Rは、低級アルキル基である。
As a method for producing compound (A), compound (A1) or compound (B1) is produced by the method described in WO 2005/068534 pamphlet, and the terminal of the compound is converted by a known method. It is preferable to manufacture by.
(R d OC (O) -CF 2 O (CF 2 CF 2 O) c -) x (W-) w (Z-) z Y ··· (A1),
(HO- (CH 2) b -CF 2 O (CF 2 CF 2 O) c -) x (W-) w (Z-) z Y ··· (B1).
However, Rd is a lower alkyl group.

化合物(A1)および化合物(B1)を、国際公開第2005/068534号パンフレットに記載の液相フッ素化反応を経る方法により製造する場合で、かつ液相フッ素化反応の条件が厳しい場合、分子の末端の切断反応が起こりやすい。よって、液相フッ素化反応において、液相に吹き込むガスに含まれるフッ素濃度は、5.0〜50体積%が好ましく、10〜30体積%がより好ましい。   When the compound (A1) and the compound (B1) are produced by a method that undergoes a liquid phase fluorination reaction described in International Publication No. 2005/068534 pamphlet, and the conditions of the liquid phase fluorination reaction are severe, Terminal cleavage reaction is likely to occur. Therefore, in the liquid phase fluorination reaction, the fluorine concentration contained in the gas blown into the liquid phase is preferably 5.0 to 50% by volume, and more preferably 10 to 30% by volume.

たとえば、化合物(A)の製造方法としては、次の方法が例示できる。
(i)Uが基(U31)である化合物(A4)は、化合物(A1)に化合物(U31H)を反応させることにより製造できる。ただし、式中の記号は前記と同じ意味を示す。
CH=CH(CHNH ・・・(U31H)、
(CH=CH(CHNHC(O)−CFO(CFCFO)−)(W−)(Z−)Y ・・・(A4)。
For example, the following method can be illustrated as a manufacturing method of a compound (A).
(I) The compound (A4) in which U is a group (U31) can be produced by reacting the compound (A1) with the compound (U31H). However, the symbols in the formula have the same meaning as described above.
CH 2 = CH (CH 2) n NH 2 ··· (U31H),
(CH 2 = CH (CH 2 ) n NHC (O) -CF 2 O (CF 2 CF 2 O) c -) x (W-) w (Z-) z Y ··· (A4).

(ii)Uが基(U32)である化合物(A3)は、化合物(A1)に化合物(U32H)を反応させることにより製造できる。ただし、式中の記号は前記と同じ意味を示す。
HO(CHNH ・・・(U32H)、
(HO(CHNHC(O)−CFO(CFCFO)−)(W−)(Z−)Y ・・・(A3)。
(Ii) The compound (A3) in which U is a group (U32) can be produced by reacting the compound (A1) with the compound (U32H). However, the symbols in the formula have the same meaning as described above.
HO (CH 2 ) n NH 2 ... (U32H),
(HO (CH 2) n NHC (O) -CF 2 O (CF 2 CF 2 O) c -) x (W-) w (Z-) z Y ··· (A3).

(iii)Uが基(U33)である化合物(A5)は、化合物(A1)に化合物(U33H)を反応させることにより製造できる。ただし、式中の記号は前記と同じ意味を示す。
(HO(CH−)NH ・・・(U33H)、
((HO(CH−)NC(O)−CFO(CFCFO)−)(W−)(Z−)Y ・・・(A5)。
(Iii) Compound (A5) wherein U is a group (U33) can be produced by reacting compound (A1) with compound (U33H). However, the symbols in the formula have the same meaning as described above.
(HO (CH 2 ) n −) 2 NH (U33H),
((HO (CH 2) n -) 2 NC (O) -CF 2 O (CF 2 CF 2 O) c -) x (W-) w (Z-) z Y ··· (A5).

(iv)Uが基(U51)である化合物(A6)は、化合物(B1)に化合物(U51H)を反応させることにより製造できる。ただし、式中の記号は前記と同じ意味を示す。
CH=CH(CHBr ・・・(U51H)、
(CH=CH(CHO−(CH−CFO(CFCFO)−)(W−)(Z−)Y ・・・(A6)。
(Iv) Compound (A6) wherein U is a group (U51) can be produced by reacting compound (B1) with compound (U51H). However, the symbols in the formula have the same meaning as described above.
CH 2 = CH (CH 2 ) q Br (U51H),
(CH 2 = CH (CH 2 ) q O- (CH 2) b -CF 2 O (CF 2 CF 2 O) c -) x (W-) w (Z-) z Y ··· (A6).

(i)〜(iii)の反応は、アミド化反応の手法を適用することにより実施できる。
該反応は室温程度で反応が完遂するため、極めて高収率で目的物を得ることができる。
化合物(A)は、必要に応じて、精製されることが好ましい。精製方法としては、イオン吸着ポリマーによって金属不純物、陰イオン不純物等を除去する方法、超臨界抽出法、カラムクロマトグラフィ法が挙げられ、これらを組み合わせた方法が好ましい。
The reactions (i) to (iii) can be carried out by applying a method of amidation reaction.
Since the reaction is completed at about room temperature, the target product can be obtained in an extremely high yield.
It is preferable that a compound (A) is refine | purified as needed. Examples of the purification method include a method of removing metal impurities, anion impurities, and the like with an ion-adsorbing polymer, a supercritical extraction method, and a column chromatography method, and a combination of these methods is preferable.

本発明の表面処理剤は、化合物(A)を含む。該化合物(A)は、1種であってもよく、2種以上の化合物の混合物であってもよい。
2種以上の化合物とは、Yの種類が異なる2種以上の化合物、またはYが同一であってもX、WおよびZの結合数(x、wおよびz)がそれぞれ異なる2種以上の化合物を意味する。なお、Yが同一であり、x、wおよびzが同一であり、a〜gの数が同一または異なる化合物は、同一の化合物とする。
The surface treating agent of the present invention contains a compound (A). The compound (A) may be one kind or a mixture of two or more kinds.
Two or more compounds are two or more compounds having different types of Y, or two or more compounds having different X, W and Z bond numbers (x, w and z) even if Y is the same. Means. A compound in which Y is the same, x, w and z are the same and the numbers of a to g are the same or different is the same compound.

表面処理剤に含ませる化合物(A)は、1種の化合物が好ましい。また該1種の化合物は、通常はa〜gの数が異なる化合物からなり、a〜gの数は、モル平均値として表される。   The compound (A) contained in the surface treatment agent is preferably a single compound. Moreover, this 1 type of compound consists of a compound from which the number of ag normally differs, and the number of ag is represented as a molar average value.

本発明の表面処理剤は、他の化合物を含んでいてもよい。
他の化合物としては、化合物(A)以外のPFPE(以下、他のPFPEと記す。)が挙げられる。他のPFPEは、製造工程、塗布後の使用条件を考慮して適宜選択しうる。
他のPFPEとして末端に紫外線吸収基を有さないPFPEとしては、ソルベイ社製のFOMBLIN Z−DiOL、Z−TetraOL、ダイキン社製のDEMNUM SAが挙げられる。また、国際公開第2005/068534号パンフレットに記載されるPFPE等も好ましく用いうる。
他のPFPEとして末端に紫外線吸収基を有するPFPEとしては、ソルベイ社製のFOMBLIN Z−DIAC、Z−DEAL、AM2001、Z−DISOC、ダイキン社製のDEMNUM SH、SP、SY、松村石油社製のMoresco A20Hが挙げられる。
他のPFPEを含ませる場合の化合物(A)量は、化合物(A)と他のPFPEとの総質量に対して、0.01〜99.9質量%が好ましく、0.5〜60質量%が特に好ましく、1〜25質量%がとりわけ好ましい。
The surface treatment agent of the present invention may contain other compounds.
Examples of the other compound include PFPE other than the compound (A) (hereinafter referred to as other PFPE). Other PFPEs can be appropriately selected in consideration of the manufacturing process and use conditions after application.
Examples of other PFPEs that do not have an ultraviolet absorbing group at the terminal include FOMBLIN Z-DiOL and Z-TetraOL manufactured by Solvay, and DEMNUM SA manufactured by Daikin. Moreover, PFPE etc. which are described in the international publication 2005/068534 pamphlet can also be used preferably.
Other PFPEs having UV-absorbing groups at their ends include: FOLMBLIN Z-DIAC, Z-DEAL, AM2001, Z-DISOC manufactured by Solvay, DENMU SH, SP, SY manufactured by Daikin, and Matsumura Sekiyu Moresco A20H.
The amount of the compound (A) when other PFPE is included is preferably 0.01 to 99.9% by mass, and preferably 0.5 to 60% by mass with respect to the total mass of the compound (A) and the other PFPE. Is particularly preferable, and 1 to 25% by mass is particularly preferable.

本発明の表面処理剤は、溶媒を含む液状組成物として用いることが好ましい。
溶媒としては、ペルフルオロアミン類(ペルフルオロトリプロピルアミン、ペルフルオロトリブチルアミン等。)、ペルフルオロアルカン類(バートレルXF(デュポン社製)等。)またはヒドロフルオロエーテル類(AE−3000(旭硝子社製)等。)が好ましく、ヒドロフルオロエーテル類がより好ましい。溶媒は、塗布工程に適した沸点を有する溶媒から選択するのが好ましい。
The surface treating agent of the present invention is preferably used as a liquid composition containing a solvent.
Examples of the solvent include perfluoroamines (perfluorotripropylamine, perfluorotributylamine, etc.), perfluoroalkanes (Bertrel XF (manufactured by DuPont), etc.) or hydrofluoroethers (AE-3000 (manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.)). ) Are preferred, and hydrofluoroethers are more preferred. The solvent is preferably selected from solvents having a boiling point suitable for the coating process.

液状組成物は、溶液、懸濁液または乳化液のいずれであってもよく、溶液が好ましい。
液状組成物中の化合物(A)の濃度は、0.001〜50質量%が好ましく、0.01〜20質量%がより好ましい。
The liquid composition may be any of a solution, a suspension or an emulsion, and a solution is preferable.
The concentration of the compound (A) in the liquid composition is preferably 0.001 to 50% by mass, and more preferably 0.01 to 20% by mass.

液状組成物は、本発明の表面処理剤および溶媒以外の成分(以下、他の成分と記す。)を含んでいてもよい。
他の成分としては、ラジカルスカベンジャー(たとえば、X−1p(Dow Chemicals社製)等。)等が挙げられる。
The liquid composition may contain components other than the surface treatment agent and the solvent of the present invention (hereinafter referred to as other components).
Examples of other components include radical scavengers (for example, X-1p (manufactured by Dow Chemicals), etc.).

液状組成物を潤滑剤として用いる場合、液状組成物は、金属イオン類、陰イオン類、水分、低分子極性化合物、可塑剤等を含まないことが好ましい。
金属イオン類(Na、K、Ca、Al等。)は、陰イオンと結合してルイス酸触媒を生じ、PFPEの分解反応を促進する場合がある。
陰イオン類(F、Cl、NO、NO、PO、SO、C等。)は、基材の表面を腐食させる場合がある。
液状組成物の含水率は、2000ppm以下が好ましい。
When using a liquid composition as a lubricant, it is preferable that the liquid composition does not contain metal ions, anions, moisture, a low-molecular polar compound, a plasticizer, and the like.
Metal ions (Na, K, Ca, Al, etc.) may combine with an anion to produce a Lewis acid catalyst and promote the decomposition reaction of PFPE.
Anions (F, Cl, NO 2 , NO 3 , PO 4 , SO 4 , C 2 O 4, etc.) may corrode the surface of the substrate.
The water content of the liquid composition is preferably 2000 ppm or less.

本発明の表面処理剤からなる薄膜は、液状組成物を基材の表面に塗布し、乾燥し、ついで紫外線または短波長紫外線を照射することによって形成される。   The thin film comprising the surface treating agent of the present invention is formed by applying a liquid composition to the surface of a substrate, drying it, and then irradiating with ultraviolet rays or short wavelength ultraviolet rays.

塗布方法としては、ロールコート法、キャスト法、ディップコート法(浸漬法)、スピンコート法、水上キャスト法、ダイコート法、ラングミュア・プロジェット法、真空蒸着法等が挙げられ、薄膜の均一性、生産性の点から、浸漬法が好ましい。   Examples of the coating method include a roll coating method, a casting method, a dip coating method (dipping method), a spin coating method, a water casting method, a die coating method, a Langmuir-Projet method, a vacuum deposition method, and the like. From the viewpoint of productivity, the dipping method is preferred.

紫外線の波長は、184nm、253nm、またはこれらの混合波長が好ましい。
照射時間は、1〜120秒が好ましく、3〜60秒がより好ましく、5〜30秒が特に好ましい。
紫外線照射後の基材を、付着物の除去、余剰の表面処理剤の除去を目的に、フッ素系溶媒に洗浄してもよい。
The wavelength of the ultraviolet light is preferably 184 nm, 253 nm, or a mixed wavelength thereof.
The irradiation time is preferably 1 to 120 seconds, more preferably 3 to 60 seconds, and particularly preferably 5 to 30 seconds.
You may wash | clean the base material after ultraviolet irradiation to a fluorine-type solvent for the purpose of the removal of a deposit | attachment, and the removal of an excess surface treating agent.

紫外線照射を行うことにより、基材の表面において化合物(A)の末端基のXを配向させることができ、基材の表面への化合物(A)の吸着性を高めることができる。
また、化合物(A)の末端基が配向した表面処理剤からなる薄膜は、高い撥水性および高い撥油性を有する。よって、基材表面から水分等が基材内部へ侵入することが防止されるために、基材の腐食や劣化が防止される。また、薄膜が形成した表面は低表面エネルギーとなり、摩擦係数が低くなる利点も有する。
紫外線照射後の薄膜の表面における水接触角(室温)は、70°以上が好ましく、80°以上がより好ましく、85°以上が特に好ましい。
By performing ultraviolet irradiation, X of the terminal group of the compound (A) can be oriented on the surface of the substrate, and the adsorptivity of the compound (A) to the surface of the substrate can be enhanced.
Moreover, the thin film which consists of a surface treating agent with which the terminal group of the compound (A) orientated has high water repellency and high oil repellency. Therefore, moisture and the like are prevented from entering the inside of the base material from the surface of the base material, so that corrosion and deterioration of the base material are prevented. In addition, the surface on which the thin film is formed has the advantage of low surface energy and a low friction coefficient.
The water contact angle (room temperature) on the surface of the thin film after ultraviolet irradiation is preferably 70 ° or more, more preferably 80 ° or more, and particularly preferably 85 ° or more.

本発明の表面処理剤からなる薄膜は、透明であり、屈折率が低く、耐熱性もしくは耐薬品性に優れる。また、該薄膜は、高い潤滑性を保持し、かつ自己修復性をも有する。
該薄膜の厚さは、0.001〜50μmが好ましい。
The thin film comprising the surface treating agent of the present invention is transparent, has a low refractive index, and is excellent in heat resistance or chemical resistance. Further, the thin film retains high lubricity and also has a self-repairing property.
The thickness of the thin film is preferably 0.001 to 50 μm.

本発明の表面処理剤は、磁気ディスクのダイヤモンド状炭素保護膜(DLC膜)上に潤滑性を付与するための潤滑剤として用いられる。
また、本発明の表面処理剤の他の用途としては、表面改質剤、界面活性剤、電線被覆材、撥インク剤(塗装用撥インク剤、印刷機器(インクジェット等。用撥インク剤等。)、半導体素子用接着剤(LOC(リードオンチップ)テープ用接着剤等。)、半導体用保護コート(防湿コート剤、半田用這い上がり防止剤等。)、光学分野に用いる薄膜(ペリクル膜等。)への添加剤、ディスプレイ用反射防止膜の表面処理剤、レジスト用反射防止膜等が挙げられる。
本発明の表面処理剤を該用途に用いた場合、長期にわたり安定した性能を維持できる。
The surface treatment agent of the present invention is used as a lubricant for imparting lubricity to a diamond-like carbon protective film (DLC film) of a magnetic disk.
Other uses of the surface treatment agent of the present invention include a surface modifier, a surfactant, a wire coating material, an ink repellent agent (ink repellent agent for painting, an ink repellent agent for printing equipment (inkjet, etc., etc.). ), Semiconductor element adhesives (LOC (lead-on-chip) tape adhesives, etc.), semiconductor protective coatings (moisture-proof coating agents, solder scooping prevention agents, etc.), thin films used in the optical field (pellicle films, etc.) )), Surface treatment agents for antireflection films for displays, antireflection films for resists, and the like.
When the surface treatment agent of the present invention is used for such applications, stable performance can be maintained over a long period of time.

以下に実施例を挙げて本発明を詳細に説明するが、本発明はこれらの例によって限定されない。実施例において、
テトラメチルシランをTMS、
CClFCClFをR−113、
ジクロロペンタフルオロプロパンをR−225、
CClFCClFCFOCFCClFをCFE−419、
ヘキサフルオロイソプロピルアルコールをHFIP、
イソプロピルアルコールをIPAと記す。
The present invention will be described in detail below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples. In the examples:
Tetramethylsilane to TMS,
CCl 2 FCClF 2 as R-113,
Dichloropentafluoropropane as R-225,
CClF 2 CClFCF 2 OCF 2 CClF 2 the CFE-419,
Hexafluoroisopropyl alcohol HFIP,
Isopropyl alcohol is referred to as IPA.

(NMR分析)
H−NMR(300.4MHz)の基準物質としては、TMSを用いた。
19F−NMR(282.7MHz)の基準物質としては、CFClを用いた。
溶媒としては、特に記載しない限り、R−113を用いた。
(NMR analysis)
TMS was used as a reference material for 1 H-NMR (300.4 MHz).
CFCl 3 was used as a reference substance for 19 F-NMR (282.7 MHz).
As a solvent, R-113 was used unless otherwise specified.

(GPC分析)
特開2001−208736号公報に記載の方法にしたがって、下記の条件にてGPCによりMnおよびMwを測定し、Mw/Mnを求めた。
移動相:R−225(旭硝子社製、アサヒクリンAK−225SECグレード1)とHFIPとの混合溶媒(R−255/HFIP=99/1体積比)、
分析カラム:PLgel MIXED−Eカラム(ポリマーラボラトリーズ社製)を2本直列に連結したもの、
分子量測定用標準試料:Mw/Mnが1.1未満であり、分子量が2000〜10000のペルフルオロポリエーテルの4種およびMw/Mnが1.1以上であり、分子量が1300のペルフルオロポリエーテルの1種、
移動相流速:1.0mL/分、
カラム温度:37℃、
検出器:蒸発光散乱検出器。
(GPC analysis)
According to the method described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-208736, Mw and Mw were measured by GPC under the following conditions to obtain Mw / Mn.
Mobile phase: R-225 (Asahi Glass Co., Ltd., Asahi Clin AK-225 SEC grade 1) and HFIP mixed solvent (R-255 / HFIP = 99/1 volume ratio),
Analytical column: two PLgel MIXED-E columns (manufactured by Polymer Laboratories) connected in series,
Standard sample for molecular weight measurement: 4 types of perfluoropolyethers having a Mw / Mn of less than 1.1, a molecular weight of 2000 to 10000, and Mw / Mn of 1.1 or more and a molecular weight of 1300 seed,
Mobile phase flow rate: 1.0 mL / min,
Column temperature: 37 ° C
Detector: Evaporative light scattering detector.

〔例1〕
国際公開第2005/068534号パンフレットの実施例の例1に記載の方法と同様に、ポリオキシエチレングリセロールエーテル(日本油脂社製、ユニオックスG1200)に、FC(O)CF(CF)OCFCF(CF)O(CFFを反応させ、室温で液体の化合物(C1−1)を得た。NMR分析の結果、化合物(C1−1)の(c1+c2+c3)の平均値は20.5であり、Rは−CF(CF)OCFCF(CF)O(CFFであった。GPC分析の結果、化合物(C1−1)のMnは2600であり、Mw/Mnは1.15であった。
[Example 1]
Similar to the method described in Example 1 of the example of International Publication No. 2005/068534, polyoxyethylene glycerol ether (manufactured by NOF Corporation, UNIOX G1200) is added to FC (O) CF (CF 3 ) OCF 2. CF (CF 3 ) O (CF 2 ) 3 F was reacted to obtain a compound (C1-1) which was liquid at room temperature. As a result of NMR analysis, the average value of (c1 + c2 + c3) of the compound (C1-1) was 20.5, and R f was —CF (CF 3 ) OCF 2 CF (CF 3 ) O (CF 2 ) 3 F. It was. As a result of GPC analysis, Mn of compound (C1-1) was 2600, and Mw / Mn was 1.15.

Figure 0005309622
Figure 0005309622

H−NMR(溶媒:CDCl)δ(ppm):3.4〜3.8,4.5。
19F−NMR(溶媒:CDCl)δ(ppm):−76.0〜−81.0,−81.0〜−82.0,−82.0〜−82.5,−82.5〜−85.0,−128.0〜−129.2,−131.1,−144.7。
1 H-NMR (solvent: CDCl 3 ) δ (ppm): 3.4 to 3.8, 4.5.
19 F-NMR (solvent: CDCl 3 ) δ (ppm): −76.0 to −81.0, −81.0 to −82.0, −82.0 to −82.5, −82.5 to -85.0, -128.0 to -129.2, -131.1, -144.7.

〔例2〕
国際公開第2005/068534号パンフレットの実施例の例2−1に記載の方法において、R−113をCFE−419に変更し、化合物(D3−1)を化合物(C1−1)に変更した以外は同様に液相フッ素化反応を行い、化合物(C1−1)の水素原子の99.9モル%以上をフッ素原子に置換した。生成物は、化合物(D1−1)を主成分とする組成物(d1−1)であった。化合物(D1−1)が−OCFO−構造を有さないことを確認した。
[Example 2]
In the method described in Example 2-1 of Examples in the pamphlet of International Publication No. 2005/068534, except that R-113 is changed to CFE-419 and the compound (D3-1) is changed to the compound (C1-1). Similarly, liquid phase fluorination reaction was performed, and 99.9 mol% or more of the hydrogen atoms of the compound (C1-1) were substituted with fluorine atoms. The product was a composition (d1-1) containing the compound (D1-1) as a main component. It was confirmed that the compound (D1-1) did not have a —OCF 2 O— structure.

Figure 0005309622
Figure 0005309622

H−NMR δ(ppm):5.9〜6.4。
19F−NMR δ(ppm):−54.0,−77.5〜−86.0,−88.2〜−92.0,−120.0〜−139.0,−142.0〜−146.0。
1 H-NMR δ (ppm): 5.9 to 6.4.
19 F-NMR δ (ppm): −54.0, −77.5 to −86.0, −88.2 to −92.0, −120.0 to −139.0, −142.0 to − 146.0.

〔例3〕
国際公開第2005/068534号パンフレットの実施例の例3に記載の方法において、化合物(D5−1)を組成物(d1−1)に変更した以外は同様に熱分解反応を行い、化合物(D1−1)のエステル基の99.9モル%以上を熱分解して酸フルオリド基(−COF)に誘導した。生成物は、化合物(E1−1)を主成分とする組成物(e1−1)であった。化合物(E1−1)が−OCFO−構造を有さないことを確認した。
[Example 3]
In the method described in Example 3 of the example of the pamphlet of International Publication No. 2005/068534, a thermal decomposition reaction was similarly performed except that the compound (D5-1) was changed to the composition (d1-1), and the compound (D1 99.9 mol% or more of the ester group of -1) was thermally decomposed and derived into an acid fluoride group (-COF). The product was a composition (e1-1) containing the compound (E1-1) as a main component. It was confirmed that the compound (E1-1) did not have a —OCF 2 O— structure.

Figure 0005309622
Figure 0005309622

H−NMR δ(ppm):5.9〜6.4。
19F−NMR δ(ppm):12.7,−54.0,−78.1,−88.2〜−92.0,−135.0〜−139.0。
1 H-NMR δ (ppm): 5.9 to 6.4.
19 F-NMR δ (ppm): 12.7, −54.0, −78.1, −88.2 to −92.0, −135.0 to −139.0.

〔例4〕
国際公開第2005/068534号パンフレットの実施例の例4−1に記載の方法において、化合物(D5−1)を組成物(e1−1)に変更し、メタノールをエタノールに変更した以外は同様にして、化合物(E1−1)中の酸フルオリド基の99.9モル%以上をエチルエステル基に誘導した。生成物は、化合物(A1−1)を主成分とする組成物(a1−1)であった。GPC分析の結果、化合物(A1−1)のMnは2800であり、Mw/Mnは1.14であった。また、化合物(A1−1)が−OCFO−構造を有さないことを確認した。
[Example 4]
In the method described in Example 4-1 of the example of the pamphlet of International Publication No. 2005/068534, the same procedure was performed except that the compound (D5-1) was changed to the composition (e1-1) and methanol was changed to ethanol. Then, 99.9 mol% or more of the acid fluoride group in the compound (E1-1) was derived into an ethyl ester group. The product was a composition (a1-1) containing the compound (A1-1) as a main component. As a result of GPC analysis, Mn of the compound (A1-1) was 2800, and Mw / Mn was 1.14. In addition, it was confirmed that the compound (A1-1) does not have a —OCF 2 O— structure.

Figure 0005309622
Figure 0005309622

H−NMR δ(ppm):1.33,4.27。
19F−NMR δ(ppm):−54.0,−78.3,−88.2〜−92.0,−135.0〜−139.0。
1 H-NMR δ (ppm): 1.33, 4.27.
19 F-NMR δ (ppm): −54.0, −78.3, −88.2 to −92.0, −135.0 to −139.0.

〔例5〕
スターラーチップを投入した200mLの丸底フラスコを充分に窒素置換した。組成物(a1−1)の20.0g、R−225の20g、メタノールの20gを入れ、50℃に昇温して激しく撹拌した。1時間後、丸底フラスコの上部に設置した滴下漏斗より0.2N水酸化ナトリウム水溶液の0.1Lを0.5時間かけてゆっくりと滴下した。滴下終了後、50℃で6時間撹拌を継続して室温まで冷却した。
[Example 5]
A 200 mL round bottom flask charged with a stirrer chip was thoroughly purged with nitrogen. 20.0 g of the composition (a1-1), 20 g of R-225, and 20 g of methanol were added, and the mixture was heated to 50 ° C. and stirred vigorously. After 1 hour, 0.1 L of 0.2N sodium hydroxide aqueous solution was slowly added dropwise over 0.5 hours from a dropping funnel placed at the top of the round bottom flask. After completion of the dropwise addition, stirring was continued at 50 ° C. for 6 hours and cooled to room temperature.

0.05N塩化水素水溶液の0.1Lに粗液をクエンチし、分液漏斗に移液した。有機相を回収して、0.05N塩化水素水溶液の0.1Lで水洗する操作を4回実施した後、分液した有機相をエバポレーターで濃縮して、室温で無色液体である組成物(a2−1)の17.5gを得た。化合物(A1−1)のエチルエステル基の99.9モル%以上がカルボキシル基にケン化された。組成物(a2−1)は化合物(A2−1)が主成分であった。GPC分析の結果、化合物(A2−1)のMnは2500であり、Mw/Mnは1.19であった。また、化合物(A2−1)が−OCFO−構造を有さないことを確認した。 The crude liquid was quenched into 0.1 L of 0.05N aqueous hydrogen chloride solution and transferred to a separatory funnel. The organic phase was recovered and washed with 0.1 L of 0.05N aqueous hydrogen chloride solution four times, and then the separated organic phase was concentrated with an evaporator to give a composition (a2) that is a colorless liquid at room temperature. 17.5 g of -1) was obtained. 99.9 mol% or more of the ethyl ester group of the compound (A1-1) was saponified to a carboxyl group. The composition (a2-1) was mainly composed of the compound (A2-1). As a result of GPC analysis, Mn of the compound (A2-1) was 2500, and Mw / Mn was 1.19. In addition, it was confirmed that the compound (A2-1) does not have a —OCF 2 O— structure.

Figure 0005309622
Figure 0005309622

H−NMR δ(ppm):10.4。
19F−NMR δ(ppm):−54.0,−77.4,−88.2〜−92.0,−135.0〜−139.0。
1 H-NMR δ (ppm): 10.4.
19 F-NMR δ (ppm): −54.0, −77.4, −88.2 to −92.0, −135.0 to −139.0.

〔例6〕
スターラーチップを投入した100mLの丸底フラスコを充分に窒素置換する。組成物(a1−1)の20.0g、R−225の20gを入れ、激しく撹拌する。1時間後、丸底フラスコの上部に設置した滴下漏斗より化合物(U32H−1)の1.5gとR−225の20gの混合物を0.5時間かけてゆっくりと滴下する。滴下終了後、50℃に昇温して6時間撹拌を継続して室温まで冷却する。
HOCHCHNH ・・・(U32H−1)。
[Example 6]
A 100 mL round bottom flask charged with a stirrer chip is thoroughly purged with nitrogen. 20.0 g of composition (a1-1) and 20 g of R-225 are added and stirred vigorously. After 1 hour, a mixture of 1.5 g of compound (U32H-1) and 20 g of R-225 is slowly added dropwise over 0.5 hour from a dropping funnel placed at the top of the round bottom flask. After completion of dropping, the temperature is raised to 50 ° C., and stirring is continued for 6 hours to cool to room temperature.
HOCH 2 CH 2 NH 2 (U32H-1).

粗液をエバポレーターで濃縮し、残渣をn−ヘキサンの0.1Lで2回洗浄して、室温で無色液体である組成物(a3−1)の18.5gを得る。化合物(A1−1)の−C(O)OCHCHの99モル%以上が−C(O)NHCHCHOHに誘導化されている。組成物(a3−1)の主成分は化合物(A3−1)である。化合物(A3−1)のMnは3000であり、Mw/Mnは1.17である。また、化合物(A3−1)が−OCFO−構造を有さないことを確認する。 The crude liquid is concentrated with an evaporator, and the residue is washed twice with 0.1 L of n-hexane to obtain 18.5 g of a composition (a3-1) that is a colorless liquid at room temperature. Compound (A1-1) -C (O) over 99 mol% of OCH 2 CH 3 in is derivatized to -C (O) NHCH 2 CH 2 OH. The main component of the composition (a3-1) is the compound (A3-1). Mn of the compound (A3-1) is 3000, and Mw / Mn is 1.17. In addition, it is confirmed that the compound (A3-1) does not have a —OCF 2 O— structure.

Figure 0005309622
Figure 0005309622

〔例7〕
スターラーチップを投入した100mLの丸底フラスコを充分に窒素置換した。組成物(a1−1)の20.0g、R−225の20gを入れ、激しく撹拌した。1時間後、丸底フラスコの上部に設置した滴下漏斗より化合物(U31H−1)の1.5gとR−225の20gの混合物を0.5時間かけてゆっくりと滴下した。滴下終了後、50℃に昇温して6時間撹拌を継続して室温まで冷却した。
CH=CHCHNH ・・・(U31H−1)。
[Example 7]
A 100 mL round bottom flask charged with a stirrer chip was thoroughly purged with nitrogen. 20.0 g of the composition (a1-1) and 20 g of R-225 were added and vigorously stirred. After 1 hour, a mixture of 1.5 g of the compound (U31H-1) and 20 g of R-225 was slowly added dropwise over 0.5 hours from a dropping funnel placed at the top of the round bottom flask. After completion of the dropping, the temperature was raised to 50 ° C. and stirring was continued for 6 hours to cool to room temperature.
CH 2 = CHCH 2 NH 2 ··· (U31H-1).

粗液をエバポレーターで濃縮し、残渣をn−ヘキサンの0.1Lで2回洗浄して室温で無色液体である組成物(a4−1)の18.8gを得た。化合物(A1−1)の−C(O)OCHCHの99.9モル%以上が−C(O)NHCHCH=CHに誘導された。組成物(a4−1)は化合物(A4−1)が主成分であった。GPC分析の結果、化合物(A4−1)のMnは2900であり、Mw/Mnは1.14であった。また、化合物(A4−1)が−OCFO−構造を有さないことを確認した。 The crude liquid was concentrated with an evaporator, and the residue was washed twice with 0.1 L of n-hexane to obtain 18.8 g of a composition (a4-1) which was a colorless liquid at room temperature. Compound (A1-1) -C (O) or 99.9 mol% of OCH 2 CH 3 of was induced to -C (O) NHCH 2 CH = CH 2. The composition (a4-1) was mainly composed of the compound (A4-1). As a result of GPC analysis, Mn of the compound (A4-1) was 2900, and Mw / Mn was 1.14. In addition, it was confirmed that the compound (A4-1) does not have a —OCF 2 O— structure.

Figure 0005309622
Figure 0005309622

H−NMR δ(ppm):7.09,5.92,5.38〜5.20,3.72。
19F−NMR δ(ppm):−54.0,−77.6,−88.2〜−92.0,−135.0〜−139.0。
1 H-NMR δ (ppm): 7.09, 5.92, 5.38-5.20, 3.72.
19 F-NMR δ (ppm): −54.0, −77.6, −88.2 to −92.0, −135.0 to −139.0.

〔例8〕
国際公開第2005/068534号パンフレットの実施例の例5に記載の方法において、化合物(D7−1)を組成物(a1−1)に変更した以外は同様にして、組成物(b1−1)を得た。化合物(A1−1)のエチルエステル基の99.9モル%以上が還元された。組成物(b1−1)は化合物(B1−1)を主成分であった。GPC分析の結果、化合物(B1−1)のMnは2900であり、Mw/Mnは1.13であった。また、化合物(B1−1)が−OCFO−構造を有さないことを確認した。
[Example 8]
In the method described in Example 5 of the examples of WO 2005/068534 pamphlet, except that the compound (D7-1) is changed to the composition (a1-1), the composition (b1-1) Got. 99.9 mol% or more of the ethyl ester group of the compound (A1-1) was reduced. The composition (b1-1) was mainly composed of the compound (B1-1). As a result of GPC analysis, Mn of the compound (B1-1) was 2900, and Mw / Mn was 1.13. In addition, it was confirmed that the compound (B1-1) does not have a —OCF 2 O— structure.

Figure 0005309622
Figure 0005309622

H−NMR δ(ppm):3.94。
19F−NMR δ(ppm):−54.0,−80.1,−88.2〜−90.5,−135.0〜−139.0。
1 H-NMR δ (ppm): 3.94.
19 F-NMR δ (ppm): −54.0, −80.1, −88.2 to −90.5, −135.0 to −139.0.

〔例9〕
例4〜8で得た組成物は、C−C結合の開裂で生じた低極性成分を含む。よって、例4〜8で得た組成物を、下記のカラムクロマトグラフィ法により精製した。
粒状シリカゲル(エスアイテック社製、MS−Gel D75−120A)をR−225で希釈したものを、直径150mm、長さ500mmのカラムに充填し、高さ100mmのシリカゲル充填相を形成した。
例4〜8で得た組成物をシリカゲル充填相に投入した後、抽出溶媒としてR−225のみを流通して組成物中の低極性成分を溶出させる。ついで、抽出溶媒(R−225とHFIPまたはIPAとの混合溶媒)を用い、抽出溶媒中のHFIPまたはIPAの濃度を末端基の極性に応じて10〜100%へと徐々に高めながら目的物を溶出させた。
[Example 9]
The compositions obtained in Examples 4-8 contain a low polarity component resulting from cleavage of the C—C bond. Therefore, the compositions obtained in Examples 4 to 8 were purified by the following column chromatography method.
A silica gel packed phase having a diameter of 100 mm and a length of 500 mm was packed into a column having a diameter of 150 mm and a length of 500 mm by diluting granular silica gel (manufactured by S-Itech, MS-Gel D75-120A) with R-225.
After putting the composition obtained in Examples 4 to 8 into the silica gel packed phase, only R-225 is passed as an extraction solvent to elute low polar components in the composition. Next, using an extraction solvent (mixed solvent of R-225 and HFIP or IPA), the target product is gradually increased to 10 to 100% depending on the polarity of the terminal group, while the concentration of HFIP or IPA in the extraction solvent is gradually increased. Elute.

〔例10〕
〔例10−1〕
精製後の組成物(a1−1)〜組成物(a4−1)のそれぞれと、精製後の組成物(b1−1)とを、主成分の化合物の量比換算で1/1質量比で混合し、溶媒(Dupont社製、Vertrel−XF)で0.01質量%に希釈して、4種の液状組成物を調製する。
[Example 10]
[Example 10-1]
Each of the composition (a1-1) to the composition (a4-1) after purification and the composition (b1-1) after purification are 1/1 mass ratio in terms of the quantitative ratio of the main component compound. It mixes and dilutes to 0.01 mass% with a solvent (the product made from Dupont, Vertrel-XF), and prepares 4 types of liquid compositions.

〔例10−2〕
精製後の組成物(a1−1)〜組成物(a4−1)と、精製後の組成物(b1−1)とを、主成分の化合物の量比換算で1/100質量比で混合すること以外は例10−1と同様にして4種の液状組成物を調製した。
[Example 10-2]
The purified composition (a1-1) to the composition (a4-1) and the purified composition (b1-1) are mixed at a 1/100 mass ratio in terms of the quantitative ratio of the main component compound. Except that, four liquid compositions were prepared in the same manner as in Example 10-1.

〔例11〕
カーボンをターゲットとして用い、Ar雰囲気中で高周波マグネトロンスパッタにより、磁気ディスク用ガラスブランクス(旭硝子社製、2.5”ブランクス)にDLCを蒸着させてDLC膜を製膜し、模擬ディスクを作製した。Arのガス圧は、0.003Torrであり、スパッタ中の投入電力密度は、ターゲット面積あたり3W/cmである。DLC膜の厚さは、30nmとした。DLC膜の表面の水接触角は40度であった。
[Example 11]
Using carbon as a target, DLC was vapor-deposited on glass blanks for magnetic disks (2.5 "blanks manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.) by high-frequency magnetron sputtering in an Ar atmosphere to form a DLC film, and a simulated disk was produced. The gas pressure of Ar is 0.003 Torr, the input power density during sputtering is 3 W / cm 2 per target area, the thickness of the DLC film is 30 nm, and the water contact angle on the surface of the DLC film is It was 40 degrees.

〔例11−1〕
例10−1で得た液状組成物に模擬ディスクを30秒間浸漬し、6mm/秒の一定速度で引き上げる。紫外線照射装置(UVP社製、UVクロスリンカー CX−2000)を用い、液状組成物が塗布された模擬ディスクに紫外線を照射し、薄膜を形成する。紫外線の波長は、184nm、253nmの混合波長であり、照射時間は15秒とする。
[Example 11-1]
The simulated disk is immersed in the liquid composition obtained in Example 10-1 for 30 seconds and pulled up at a constant speed of 6 mm / second. Using a UV irradiation device (UV Crosslinker CX-2000, manufactured by UVP), the simulated disk coated with the liquid composition is irradiated with UV to form a thin film. The wavelength of ultraviolet rays is a mixed wavelength of 184 nm and 253 nm, and the irradiation time is 15 seconds.

紫外線照射処理で得たディスクを溶媒(Vertrel−XF)に30秒浸漬して洗浄する。洗浄の前後において薄膜の厚さをエリプソメーターにて測定する。定着性は、洗浄前の厚さに対する洗浄後の厚さを百分率で表す。定着性は70%以上である。
紫外線照射処理で得たディスクの薄膜の表面における水接触角およびヘキサデカン接触角は80゜以上である。
紫外線照射処理で得たディスクの薄膜の表面の摩擦係数は、薄膜形成前に比べ小さくなる。
The disk obtained by the ultraviolet irradiation treatment is immersed in a solvent (Vertrel-XF) for 30 seconds and washed. The thickness of the thin film is measured with an ellipsometer before and after cleaning. The fixability is expressed as a percentage of the thickness after cleaning with respect to the thickness before cleaning. Fixability is 70% or more.
The water contact angle and hexadecane contact angle on the surface of the thin film of the disk obtained by the ultraviolet irradiation treatment are 80 ° or more.
The friction coefficient of the surface of the disk thin film obtained by the ultraviolet irradiation treatment is smaller than that before the thin film formation.

〔例11−2〕
例10−2で得た4種の液状組成物、および組成物(b1−1)(比較例)をVertrel−XFで0.01質量%に希釈した液状組成物(b1−1)について例11−1と同様にディスクを作製し、紫外線処理前、紫外線照射後の定着率およびヘキサデカン接触角を測定した。結果を表1に示す。
さらに、液状組成物(b1−1)が処理された別のディスクを、恒温炉にて100℃で1時間熱処理した後に、同様の評価を行った結果、定着率は75%であり、ヘキサデカン接触角は72度であった。
[Example 11-2]
Example 11 on the four liquid compositions obtained in Example 10-2 and the liquid composition (b1-1) obtained by diluting the composition (b1-1) (Comparative Example) to 0.01% by mass with Vertrel-XF A disk was prepared in the same manner as in -1, and the fixing rate and the hexadecane contact angle before ultraviolet treatment and after ultraviolet irradiation were measured. The results are shown in Table 1.
Furthermore, after another disk treated with the liquid composition (b1-1) was heat-treated at 100 ° C. for 1 hour in a constant temperature furnace, the same evaluation was performed. As a result, the fixing rate was 75%, and hexadecane contact The angle was 72 degrees.

Figure 0005309622
Figure 0005309622

本発明の表面処理剤は、記録媒体(ハードディスク、8ミリビデオテープレコーダー用メタル蒸着テープ、デジタルビデオカセット用メタル蒸着テープ等。)等の表面に潤滑性を付与する潤滑剤として有用である。   The surface treating agent of the present invention is useful as a lubricant for imparting lubricity to the surface of a recording medium (hard disk, metal vapor-deposited tape for 8 mm video tape recorder, metal vapor-deposited tape for digital video cassette, etc.).

Claims (10)

下式(A)で表わされる化合物を含む、表面処理剤。
(X−)(W−)(Z−)Y ・・・(A)。
ただし、Xは、下式(X)で表される基であり、
Wは、下式(W)で表される基であり、
Zは、下式(Z)で表わされる基であり、
Yは、(x+w+z)価のペルフルオロ化飽和炭化水素基または該基の炭素−炭素原子間にエーテル性酸素原子が挿入された基であり、
xは、1以上の整数であり、
wは、0以上の整数であり、
zは、0以上の整数であり、
(x+w+z)は、3〜5の整数である。
U−(CHCHO)−(CH−CFO(CFCFO)− ・・・(X)、
−(CHCHO)−(CH−CFO(CFCFO)− ・・・(W)、
O(CFCFO)− ・・・(Z)。
ただし、Uは、下式(U1)で表される基、下式(U21)で表される基、下式(U31)で表される基、下式(U32)で表される基、下式(U33)で表される基、下式(U41)で表される基、下式(U51)で表される基のいずれかであり、aは、0〜100の整数であり、bは、0〜100の整数であり、cは、1〜200の整数であり、
は、HO−であり、dは、0〜100の整数であり、eは、0〜100の整数であり、fは、1〜200の整数であり、
は、炭素数が1〜20の直鎖のペルフルオロアルキル基または該基の炭素−炭素原子間にエーテル性酸素原子が挿入された基であり、gは、3〜200の整数である。
Figure 0005309622
Ph−O− ・・・(U21)、
CH =CH(CH NHC(O)− ・・・(U31)、
HO(CH NHC(O)− ・・・(U32)、
(HO(CH −) NC(O)− ・・・(U33)、
OC(O)− ・・・(U41)、
CH =CH(CH O− ・・・(U51)。
ただし、Rは、水素原子、塩素原子、−CH CH CH 、−NH 、−OPh、−OCH (CF Hまたは−OCH CF CF で表される基であり、Phは、置換基を有していてもよいフェニル基であり、pは、1〜8の整数であり、Rは、それぞれ同一であってもよく、異なっていてもよく、
nは、1〜3の整数であり、
は、水素原子、炭素数が1〜4のアルキル基、炭素数が1〜4のハロゲン化アルキル基、アリール基、置換アリール基、アリールオキシ基または置換アリールオキシ基であり、
qは、1〜3の整数である。
A surface treatment agent comprising a compound represented by the following formula (A).
(X−) x (W−) w (Z−) z Y (A).
However, X is group represented by the following Formula (X),
W is a group represented by the following formula (W),
Z is a group represented by the following formula (Z):
Y is a (x + w + z) -valent perfluorinated saturated hydrocarbon group or a group having an etheric oxygen atom inserted between carbon-carbon atoms of the group,
x is an integer of 1 or more,
w is an integer of 0 or more,
z is an integer of 0 or more,
(X + w + z) is an integer of 3 to 5 .
U- (CH 2 CH 2 O) a - (CH 2) b -CF 2 O (CF 2 CF 2 O) c - ··· (X),
R W - (CH 2 CH 2 O) d - (CH 2) e -CF 2 O (CF 2 CF 2 O) f - ··· (W),
R F O (CF 2 CF 2 O) g - ··· (Z).
However, U is a group represented by the following formula (U1), a group represented by the following formula (U21), a group represented by the following formula (U31), a group represented by the following formula (U32), A group represented by the formula (U33), a group represented by the following formula (U41), a group represented by the following formula (U51) , a is an integer of 0 to 100, and b is , An integer from 0 to 100, c is an integer from 1 to 200,
R W is HO - a and, d is an integer of 0 to 100, e is an integer from 0 to 100, f is an integer of 1 to 200,
R F is a linear perfluoroalkyl group having 1 to 20 carbon atoms or a group having an etheric oxygen atom inserted between carbon-carbon atoms of the group, and g is an integer of 3 to 200.
Figure 0005309622
Ph-O- (U21),
CH 2 = CH (CH 2) n NHC (O) - ··· (U31),
HO (CH 2 ) n NHC (O) − (U32),
(HO (CH 2 ) n −) 2 NC (O) − (U33),
R c OC (O) − (U41),
CH 2 = CH (CH 2) q O- ··· (U51).
Here, R is a hydrogen atom, a chlorine atom, -CH 2 CH 2 CH 3, -NH 2, -OPh, a group represented by -OCH 2 (CF 2) p H or -OCH 2 CF 2 CF 3 , Ph is an optionally substituted phenyl group, p is an integer of 1 to 8, and R may be the same or different,
n is an integer of 1 to 3,
R c is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, a halogenated alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, an aryl group, a substituted aryl group, an aryloxy group or a substituted aryloxy group,
q is an integer of 1 to 3.
式(A)で表わされる化合物が、−OCFO−構造を有さない、請求項1に記載の表面処理剤。 Compound represented by the formula (A) is no -OCF 2 O-structure, surface treatment agent according to claim 1. (x+w+z)が、3または4である、請求項1または2に記載の表面処理剤。   The surface treating agent according to claim 1 or 2, wherein (x + w + z) is 3 or 4. Yが、下式(Y−1)で表される基〜下式(Y−4)で表される基、下式(Y−1)で表される基〜下式(Y−5)で表される基、下式(Y−1)で表される基のいずれかである、請求項1または2に記載の表面処理剤。ただし、式(Y3−4)は、ペルフルオロシクロヘキサン−1,3,5−トリイル基を示す。
Figure 0005309622
Y is a group represented by the following formula (Y 3 -1) to a group represented by the following formula (Y 3 -4), a group represented by the following formula (Y 4 -1) to the following formula (Y 4 groups represented by -5), any one of groups represented by the following formula (Y 5 -1), the surface treatment agent according to claim 1 or 2. However, Formula (Y3-4) represents a perfluorocyclohexane-1,3,5-triyl group.
Figure 0005309622
式(X)で表される基が、下式(X1)で表される基または下式(X2)で表される基である、請求項1〜4のいずれか一項に記載の表面処理剤。
−CH−CFO(CFCFO)− ・・・(X1)、
−CFO(CFCFO)− ・・・(X2)。
ただし、Uは、式(U1)で表される基式(U21)で表される基または式(U51)で表される基であり、Uは、式(U31)で表される基、式(U32)で表される基、式(U33)で表される基式(U41)で表される基または式(U51)で表される基であり、cは、1〜200の整数である。
The surface treatment according to any one of claims 1 to 4, wherein the group represented by the formula (X) is a group represented by the following formula (X1) or a group represented by the following formula (X2). Agent.
U 1 —CH 2 —CF 2 O (CF 2 CF 2 O) c − (X1),
U 2 —CF 2 O (CF 2 CF 2 O) c − (X2).
However, U 1 is a group represented by the formula (U1), a group represented by the group or the formula represented by the formula (U21) (U51), U 2 is represented by the formula (U31) A group represented by the formula (U32), a group represented by the formula (U33), a group represented by the formula (U41) or a group represented by the formula (U51), and c is 1 to 200 Is an integer.
式(W)で表される基が、下式(W1)で表される基である、請求項1〜のいずれか一項に記載の表面処理剤。
HO−CH−CFO(CFCFO)− ・・・(W1)。
ただし、fは、1〜200の整数である。
The surface treating agent according to any one of claims 1 to 5 , wherein the group represented by the formula (W) is a group represented by the following formula (W1).
HO—CH 2 —CF 2 O (CF 2 CF 2 O) f − (W1 ).
However , f is an integer of 1-200.
式(Z)で表される基が、下式(Z1)で表される基である、請求項1〜のいずれか一項に記載の表面処理剤。
CF(CF−O−(CFCFO)− ・・・(Z1)。
ただし、mは、0〜19の整数であり、gは、3〜200の整数である。
The surface treatment agent according to any one of claims 1 to 6 , wherein the group represented by the formula (Z) is a group represented by the following formula (Z1).
CF 3 (CF 2) m -O- (CF 2 CF 2 O) g - ··· (Z1).
However, m is an integer of 0-19 and g is an integer of 3-200.
溶媒を含む、請求項1〜のいずれか一項に記載の表面処理剤。 The surface treating agent according to any one of claims 1 to 7 , comprising a solvent. 下式(A3−1)で表される化合物。
Figure 0005309622
ただし、c1〜c3は、それぞれ1〜200の整数である。
A compound represented by the following formula (A3-1).
Figure 0005309622
However, c1-c3 is an integer of 1-200, respectively.
下式(A4−1)で表される化合物。
Figure 0005309622
ただし、c1〜c3は、それぞれ1〜200の整数である。
A compound represented by the following formula (A4-1).
Figure 0005309622
However, c1-c3 is an integer of 1-200, respectively.
JP2008059693A 2007-11-28 2008-03-10 Surface treatment agent Expired - Fee Related JP5309622B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008059693A JP5309622B2 (en) 2007-11-28 2008-03-10 Surface treatment agent

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007307751 2007-11-28
JP2007307751 2007-11-28
JP2008059693A JP5309622B2 (en) 2007-11-28 2008-03-10 Surface treatment agent

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009149835A JP2009149835A (en) 2009-07-09
JP5309622B2 true JP5309622B2 (en) 2013-10-09

Family

ID=40919345

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008059693A Expired - Fee Related JP5309622B2 (en) 2007-11-28 2008-03-10 Surface treatment agent

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5309622B2 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5614551B2 (en) * 2009-10-01 2014-10-29 旭硝子株式会社 Crosslinkable fluororubber composition and crosslinked rubber article
JPWO2011065312A1 (en) * 2009-11-26 2013-04-11 旭硝子株式会社 Ether compound, lubricant containing the same, and composition for lubricant
CN113603879A (en) * 2021-07-23 2021-11-05 武汉大学 Novel fluorine-containing hyperbranched polyglycidyl glycerin and preparation method thereof

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6010368B2 (en) * 1979-01-08 1985-03-16 ミネソタ・マイニング・アンド・マニユフアクチユアリング・コンパニ− magnetic recording medium
JP2733515B2 (en) * 1990-10-05 1998-03-30 株式会社ネオス Fluorine-containing allylamide derivative
JPH07262555A (en) * 1994-03-18 1995-10-13 Fuji Electric Co Ltd Production of magnetic recording medium
JP3124913B2 (en) * 1995-08-08 2001-01-15 信越化学工業株式会社 Purification method of fluorinated polyether having vinyl-containing acid amide group at terminal
JP2002293787A (en) * 2001-03-01 2002-10-09 Matsumura Sekiyu Kenkyusho:Kk Phosphazene compound
ATE432954T1 (en) * 2004-01-13 2009-06-15 Asahi Glass Co Ltd FLUORPOLYETHER COMPOUND
JP4759952B2 (en) * 2004-08-06 2011-08-31 旭硝子株式会社 Fluorinated ethers and their uses
JP4711331B2 (en) * 2005-04-28 2011-06-29 株式会社Moresco Perfluoropolyether compound, lubricant using the same, and magnetic disk
WO2007013412A1 (en) * 2005-07-27 2007-02-01 Asahi Glass Company, Limited Ether composition and solution composition

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009149835A (en) 2009-07-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4501111B2 (en) Perfluoropolyether derivative
CN105452333B (en) Fluoropolyether compound, lubricant, liquid composition and article
JP5613916B2 (en) Perfluoropolyether compound, method for producing the same, lubricant containing the compound, and magnetic disk
KR101089078B1 (en) Fluoropolyether compound
JP5499710B2 (en) Ether composition
JP6668560B2 (en) Organofluorine compound, lubricant and method for treating magnetic recording medium
US20120190603A1 (en) Ether compound, lubricant containing same, and composition for lubricant containing same
WO2008140121A1 (en) Perfluoropolyether compound, and lubricant and magnetic disk each using the same
JP5152199B2 (en) Ether composition
JP5309622B2 (en) Surface treatment agent
WO2009122988A1 (en) Perfluoropolyether compound, lubricant containing same, and magnetic disc
JP5795457B2 (en) Ether compound, lubricant, solvent composition, and method of manufacturing magnetic disk
US20140093641A1 (en) Lubricant compositions containing fluorooxiranes
JP6142915B2 (en) Fluorinated ether composition, surface modifier, surfactant, liquid composition, article
JP5397963B2 (en) Lubricating film, magnetic disk and magnetic head
JP2012184275A (en) Ether composition, and lubricant

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100915

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130131

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130226

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130408

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20130408

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20130408

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130604

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130617

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5309622

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees