JP5291534B2 - Environmental test equipment - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an environmental testing apparatus capable of lowering a frost formation onto an evaporator of a cooler, even when conducting a room temperature aeration test to be conducted by introducing the outside air into a test chamber. <P>SOLUTION: The environmental testing apparatus includes a supply device 14 capable of supplying a dried coolant gas to the test chamber S1 and a control device 16 which brings a gas supply section 20 of the supply device 14 to start supplying the dried coolant gas to the test chamber S1 prior to opening a suction port 2p and a blast port 2q to low-temperature dampers 7a, 7b in order to conduct a low-temperature aeration test, and then brings the gas supply section 20 to supply the dried coolant gas to the test chamber S1 in the process in which the temperature of the test chamber S1 is lowered. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、環境試験装置に関するものである。   The present invention relates to an environmental test apparatus.

従来、試料を高温の雰囲気に曝す高温曝し試験と、試料を低温の雰囲気に曝す低温曝し試験とをそれらの試験の間に試料を常温の雰囲気に曝す常温曝し試験を介して行うことが可能な環境試験装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。   Conventionally, a high-temperature exposure test in which a sample is exposed to a high-temperature atmosphere and a low-temperature exposure test in which a sample is exposed to a low-temperature atmosphere can be performed via a normal-temperature exposure test in which the sample is exposed to a normal-temperature atmosphere between those tests. Environmental test apparatuses are known (see, for example, Patent Document 1).

この特許文献1に開示された環境試験装置では、試験槽内に試験室と高温室と低温室とが設けられている。高温室は、試験室と連通しており、この高温室と試験室とを連通する連通口には高温ダンパが設けられている。この高温ダンパによって、高温室と試験室との間の連通口が開閉されるようになっている。また、低温室も試験室と連通しており、この低温室と試験室とを連通する連通口には低温ダンパが設けられている。この低温ダンパによって、低温室と試験室との間の連通口が開閉されるようになっている。また、試験槽には、試験室への外気導入用の開口部が設けられている。この開口部には、外気ダンパが設けられている。   In the environmental test apparatus disclosed in Patent Document 1, a test chamber, a high temperature chamber, and a low temperature chamber are provided in a test tank. The high greenhouse communicates with the test room, and a high temperature damper is provided at a communication port that communicates the high temperature room and the test room. The high temperature damper opens and closes the communication port between the high temperature chamber and the test chamber. The low temperature chamber also communicates with the test chamber, and a low temperature damper is provided at a communication port that communicates the low temperature chamber with the test chamber. The low temperature damper opens and closes the communication port between the low temperature chamber and the test chamber. The test tank is provided with an opening for introducing outside air into the test chamber. An external air damper is provided in the opening.

そして、高温曝し試験時には、高温ダンパによって高温室と試験室との間の連通口が開放され、高温室で加熱器によって生成された熱気が試験室に流入して試験室の温度が所定の高温に上昇する。これにより、試験室に収容された試料が高温の雰囲気に曝される。また、常温曝し試験時には、外気ダンパによって外気導入用の開口部が開放されて試験室に外気が導入されることにより、試験室に収容された試料が常温の雰囲気に曝される。そして、低温曝し試験時には、低温ダンパによって低温室と試験室との間の連通口が開放され、低温室で冷却器によって生成された冷気が試験室に流入して試験室の温度が所定の低温に降下する。これにより、試験室に収容された試料が低温の雰囲気に曝される。   During a high-temperature exposure test, the communication port between the high-temperature chamber and the test chamber is opened by the high-temperature damper, and hot air generated by the heater in the high-temperature chamber flows into the test chamber so that the temperature of the test chamber reaches a predetermined high temperature. To rise. Thereby, the sample accommodated in the test chamber is exposed to a high temperature atmosphere. Further, during the normal temperature exposure test, the external air introduction opening is opened by the external air damper and the external air is introduced into the test chamber, so that the sample accommodated in the test chamber is exposed to the normal temperature atmosphere. During the low temperature exposure test, the communication port between the low temperature chamber and the test chamber is opened by the low temperature damper, and the cold air generated by the cooler in the low temperature chamber flows into the test chamber, so that the temperature of the test chamber becomes a predetermined low temperature. To descend. Thereby, the sample accommodated in the test chamber is exposed to a low temperature atmosphere.

特許第2690969号公報Japanese Patent No. 2690969

しかしながら、上記特許文献1に開示された環境試験装置では、常温曝し試験時に試験室に外気が導入されるため、その外気に含まれる水分が試験室に取り込まれる。この水分は、常温曝し試験の後、低温曝し試験を行う際に低温室に入り込み、冷却器の蒸発器に着霜を生じさせる原因となる。蒸発器に着霜が生じると、冷却器の冷却能力が低下するため、蒸発器のデフロストを行う必要が生じる。デフロストを行うためには、実施中の環境試験を中断するか、あるいは、その試験の温度条件を乱すことになるため、試験の再現性や信頼性が低下する。   However, in the environmental test apparatus disclosed in Patent Document 1, since the outside air is introduced into the test room at the room temperature exposure test, moisture contained in the outside air is taken into the test room. This moisture enters the low temperature chamber during the low temperature exposure test after the normal temperature exposure test and causes frost formation in the evaporator of the cooler. When frosting occurs in the evaporator, the cooling capacity of the cooler is reduced, so that it is necessary to defrost the evaporator. In order to perform defrosting, the ongoing environmental test is interrupted or the temperature condition of the test is disturbed, so that the reproducibility and reliability of the test are lowered.

この発明は、上記の課題を解決するためになされたものであり、その目的は、試験室に外気を導入することによって常温曝し試験を行う場合でも、冷却器の蒸発器への着霜を低減することが可能な環境試験装置を提供することである。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and its purpose is to reduce frost formation on the evaporator of the cooler even when performing a room temperature exposure test by introducing outside air into the test chamber. It is an object of the present invention to provide an environmental test apparatus capable of performing the above.

上記目的を達成するために、この発明の環境試験装置は、試料を収容可能な試験室と前記試験室に連通口を介して繋がる低温室とが内部に設けられた試験槽と、前記低温室内で冷気を生成する冷却器と、前記連通口を開閉可能な低温ダンパと、前記試験室へ外気を導入可能な外気導入手段とを備え、前記低温ダンパに前記連通口を開放させて前記低温室から前記試験室に冷気を流入させることにより、その試験室に収容された試料を低温の雰囲気に曝す低温曝し試験と、前記外気導入手段によって前記試験室に外気を導入することによりその試験室に収容された試料を常温の雰囲気に曝す常温曝し試験とを行うことが可能な環境試験装置であって、乾燥ガスを前記試験室に供給可能な供給装置と、前記常温曝し試験から前記低温曝し試験への移行時において、前記低温ダンパに前記連通口を開放させるのに先立つタイミングで、前記供給装置に前記試験室への乾燥ガスの供給を開始させて前記試験室内の湿度を低下させるとともに、その後、前記試験室の温度が降下する過程においても前記供給装置に前記試験室への乾燥ガスの供給を行わせる制御装置とを備えている。 In order to achieve the above object, an environmental test apparatus according to the present invention includes a test chamber in which a test chamber capable of accommodating a sample and a low temperature chamber connected to the test chamber via a communication port are provided, and the low temperature chamber. A cooler that generates cold air, a low-temperature damper that can open and close the communication port, and an outside air introduction means that can introduce outside air into the test chamber, and the low-temperature damper opens the communication port to form the low-temperature chamber. The cold air is allowed to flow into the test chamber to expose the sample contained in the test chamber to a low temperature atmosphere, and the outside air is introduced into the test chamber by the outside air introducing means. An environmental test apparatus capable of performing a normal temperature exposure test in which a stored sample is exposed to a normal temperature atmosphere, a supply apparatus capable of supplying dry gas to the test chamber, and the low temperature exposure test from the normal temperature exposure test. To During the row, in Sakiritsu one timing for opening the said communication opening in said cold damper, together with lowering the humidity in the test chamber the to start supply of the dry gas to the test chamber to the supply device, then And a control device that causes the supply device to supply the dry gas to the test chamber even in the process in which the temperature of the test chamber decreases.

この環境試験装置では、制御装置が、低温曝し試験のために低温ダンパに連通口を開放させるのに先立って供給装置に試験室への乾燥ガスの供給を開始させる。このため、常温曝し試験時に外気導入手段により試験室に外気が導入されるのに伴って試験室に水分が取り込まれたとしても、その後、低温曝し試験のために連通口が開放されて試験室と低温室とが連通する前に試験室の湿度を乾燥ガスによって低下させることができる。その結果、低温曝し試験の際に試験室から低温室に入り込む水分の量を低減することができる。そのため、低温室に入り込む水分に起因する冷却器の蒸発器への着霜を低減することができる。従って、この環境試験装置では、試験室に外気を導入することによって常温曝し試験を行う場合でも、冷却器の蒸発器への着霜を低減することができる。   In this environmental test apparatus, the control apparatus causes the supply apparatus to start supplying the dry gas to the test chamber prior to opening the communication port to the low temperature damper for the low temperature exposure test. For this reason, even if moisture is taken into the test chamber as the outside air is introduced into the test chamber by the outside air introducing means during the normal temperature exposure test, the communication port is opened for the low temperature exposure test after that. The humidity in the test chamber can be reduced by dry gas before the low temperature chamber communicates with the low temperature chamber. As a result, the amount of moisture entering the low temperature chamber from the test chamber during the low temperature exposure test can be reduced. Therefore, it is possible to reduce frost formation on the evaporator of the cooler due to moisture entering the low temperature chamber. Therefore, in this environmental test apparatus, frosting on the evaporator of the cooler can be reduced even when the test is performed at room temperature by introducing outside air into the test room.

さらに、この環境試験装置では、低温曝し試験において試験室の温度が降下する過程においても供給装置が試験室へ乾燥ガスを供給する。このため、試験室の降温に伴って試験室の空気が収縮する際に、その空気の収縮を乾燥ガスで補うことができる。それにより、試験室の圧力低下を抑制することができる。試験室の圧力が試験槽の外部の圧力よりも低くなった場合には、水分を含む外気が試験室に侵入する虞があるが、この環境試験装置では、試験室の圧力低下を抑制することができるため、そのような水分を含んだ外気の試験室及び低温室への侵入を抑制することができる。このことは、外気に含まれる水分に起因する冷却器の蒸発器への着霜を抑制することに繋がる。従って、この環境試験装置では、低温曝し試験のために試験室の温度を降下させる際に外気に含まれる水分が低温室へ入り込むことによる冷却器の蒸発器への着霜を抑制することができる。   Further, in this environmental test apparatus, the supply device supplies the dry gas to the test chamber even in the process of lowering the temperature of the test chamber in the low temperature exposure test. For this reason, when the air in the test chamber contracts as the temperature of the test chamber decreases, the contraction of the air can be compensated by the dry gas. Thereby, the pressure drop in the test chamber can be suppressed. If the pressure in the test chamber is lower than the pressure outside the test chamber, there is a risk that outside air containing moisture will enter the test chamber. Therefore, it is possible to suppress the outside air containing such moisture from entering the test chamber and the low temperature chamber. This leads to suppression of frost formation on the evaporator of the cooler due to moisture contained in the outside air. Therefore, in this environmental test apparatus, when the temperature of the test chamber is lowered for the low temperature exposure test, frost formation on the evaporator of the cooler due to moisture contained in the outside air entering the low temperature chamber can be suppressed. .

上記環境試験装置において、前記供給装置は、前記乾燥ガスとして乾燥した冷却ガスを供給することが好ましい。   In the environmental test apparatus, it is preferable that the supply device supplies a dry cooling gas as the dry gas.

このように構成すれば、試験室の降温中に、供給装置から試験室へ乾燥した冷却ガスを供給してその試験室の降温を促進することができる。その結果、試験室の降温速度を上げることができる。   If comprised in this way, during the temperature fall of a test room, the cooling gas dried from the supply apparatus to the test room can be supplied, and the temperature fall of the test room can be accelerated | stimulated. As a result, the temperature lowering rate of the test room can be increased.

この場合において、前記供給装置は、液化冷却ガスを供給する冷却液供給源と、その冷却液供給源が供給する液化冷却ガスから乾燥した冷却ガスを生成可能な冷却ガス生成部と、その冷却ガス生成部において生成された乾燥した冷却ガスを前記試験室に導入可能なガス導入路とを含むことが好ましい。   In this case, the supply device includes a cooling liquid supply source that supplies the liquefied cooling gas, a cooling gas generation unit that can generate dry cooling gas from the liquefied cooling gas supplied by the cooling liquid supply source, and the cooling gas. It is preferable to include a gas introduction path through which the dried cooling gas generated in the generation unit can be introduced into the test chamber.

このように構成すれば、試験室に乾燥した冷却ガスを供給可能な供給装置の具体的な機構を構成することができる。   If comprised in this way, the specific mechanism of the supply apparatus which can supply the cooling gas dried to the test room can be comprised.

さらにこの場合において、前記供給装置は、前記冷却液供給源から供給される液化冷却ガスの一部を前記低温室と前記試験室の少なくとも一方に導入可能な冷却液導入部を含むことが好ましい。   Furthermore, in this case, it is preferable that the supply device includes a coolant introduction unit capable of introducing a part of the liquefied coolant gas supplied from the coolant supply source into at least one of the low temperature chamber and the test chamber.

この構成では、冷却液供給源から供給される液化冷却ガスの一部を冷却液導入部により低温室と試験室の少なくとも一方に導入することができるので、この液化冷却ガスを、低温曝し試験のために冷却器で生成した冷気によって試験室の温度を降下させる際の補助冷却手段として用いることができる。これにより、冷却器のみにより試験室の温度を降下させる場合に比べて試験室の降温をより促進することができる。このため、例えば、試験室に収容された試料が多くて試験室の温度が下がりにくい場合でも、試験室の温度を良好に降下させることができる。また、試験室の温度の降下速度を上げたいという要望がある場合でも、その要望に答えて試験室の温度の降下速度を上げることができる。   In this configuration, since a part of the liquefied cooling gas supplied from the cooling liquid supply source can be introduced into at least one of the low temperature chamber and the test chamber by the cooling liquid introduction unit, the liquefied cooling gas is subjected to the low temperature exposure test. Therefore, it can be used as auxiliary cooling means when the temperature of the test chamber is lowered by the cold air generated by the cooler. Thereby, compared with the case where the temperature of a test chamber is dropped only by a cooler, the temperature decrease of a test chamber can be further promoted. For this reason, for example, even when there are many samples accommodated in the test chamber and the temperature of the test chamber is difficult to decrease, the temperature of the test chamber can be lowered satisfactorily. In addition, even when there is a request to increase the rate of temperature decrease in the test chamber, the rate of decrease in the temperature of the test chamber can be increased in response to the request.

さらにこの場合において、前記冷却ガス生成部は、前記冷却液供給源から供給される液化冷却ガスから乾燥した冷却ガスを分離可能な気液分離タンクを含み、前記ガス導入路は、前記気液分離タンクにおいて分離された冷却ガスをその気液分離タンクから導出可能なように当該気液分離タンクに接続され、前記冷却液導入部は、前記気液分離タンクから液化冷却ガスを導出可能なように当該気液分離タンクに接続されていることが好ましい。   Furthermore, in this case, the cooling gas generation unit includes a gas-liquid separation tank capable of separating the dried cooling gas from the liquefied cooling gas supplied from the cooling liquid supply source, and the gas introduction path includes the gas-liquid separation The cooling gas separated in the tank is connected to the gas-liquid separation tank so as to be able to be led out from the gas-liquid separation tank, and the cooling liquid introduction unit is able to lead out the liquefied cooling gas from the gas-liquid separation tank. It is preferable to be connected to the gas-liquid separation tank.

液化冷却ガスから冷却ガスを生成する手段として、液化冷却ガスを加熱して強制的に気化させるヒータを用いることも考えられる。しかし、この場合には、ヒータの稼働にエネルギを消費するため、エネルギコストが増大する。これに対して、本構成では、気液分離タンクにおいて液化冷却ガスから乾燥した冷却ガスを自然に分離することができるので、前記ヒータのようなエネルギ消費を防ぐことができる。従って、本構成では、エネルギコストの増大を防ぎつつ、液化冷却ガスから乾燥した冷却ガスを生成してその乾燥した冷却ガスを試験室に導入することができる。   As a means for generating the cooling gas from the liquefied cooling gas, it is also conceivable to use a heater that heats the liquefied cooling gas and forcibly vaporizes it. However, in this case, energy costs are increased because energy is consumed to operate the heater. On the other hand, in this structure, since the dried cooling gas can be naturally separated from the liquefied cooling gas in the gas-liquid separation tank, energy consumption like the heater can be prevented. Therefore, in this configuration, it is possible to generate a dried cooling gas from the liquefied cooling gas and introduce the dried cooling gas into the test chamber while preventing an increase in energy cost.

上記供給装置がガス導入路を含む構成において、前記供給装置は、前記ガス導入路に設けられ、前記試験室に導入するガスを一旦貯留するための貯留タンクと、前記貯留タンクに乾燥空気を供給可能な乾燥空気供給部とを含むことが好ましい。   In the configuration in which the supply apparatus includes a gas introduction path, the supply apparatus is provided in the gas introduction path, and supplies a dry tank to the storage tank for temporarily storing the gas to be introduced into the test chamber. A possible dry air supply.

この構成では、乾燥空気供給部から供給された乾燥空気と冷却ガス生成部において生成されてガス導入路に導出された冷却ガスとを貯留タンク内で混合することができる。そして、この乾燥空気と冷却ガスの混合ガスを貯留タンクからガス導入路を通じて試験室に導入することができる。このため、乾燥空気の分、試験室への冷却ガスの供給量を削減することができる。その結果、冷却液供給源から供給する液化冷却ガスの消費量を低減することができる。   In this configuration, the dry air supplied from the dry air supply unit and the cooling gas generated in the cooling gas generation unit and led to the gas introduction path can be mixed in the storage tank. Then, the mixed gas of the dry air and the cooling gas can be introduced into the test chamber from the storage tank through the gas introduction path. For this reason, the amount of cooling gas supplied to the test chamber can be reduced by the amount of dry air. As a result, the consumption of the liquefied cooling gas supplied from the cooling liquid supply source can be reduced.

この場合において、前記乾燥空気供給部は、液化冷却ガスが導入された前記気液分離タンクの外面と熱交換することにより空気を冷却して除湿し、乾燥空気を生成する乾燥空気生成部を有することが好ましい。   In this case, the dry air supply unit has a dry air generation unit that generates air by cooling and dehumidifying air by exchanging heat with the outer surface of the gas-liquid separation tank into which the liquefied cooling gas is introduced. It is preferable.

ところで、乾燥空気を生成するためには、環境試験装置に乾燥機を設けてその乾燥機により空気を乾燥させることも考えられる。しかし、この場合には、環境試験装置の構成が複雑化するとともに、乾燥機の稼働にエネルギを消費するため、エネルギコストが増大する。これに対して、本構成では、乾燥空気生成部が、気液分離タンクとの熱交換により空気を冷却して除湿することによって、乾燥空気を生成する。すなわち、乾燥空気生成部において、液化冷却ガスが導入された気液分離タンクの冷熱を利用して乾燥空気を生成する。このため、エネルギコストの増大を防ぎながら、乾燥空気を生成することができる。また、本構成では、乾燥空気生成部と気液分離タンクとの熱交換の際、気液分離タンクが温められる。それによって、気液分離タンクでは、液化冷却ガスの気化が促進され、その結果、気液分離タンク内において冷却ガスを良好に生成することができる。   By the way, in order to generate dry air, it is conceivable to provide a dryer in the environmental test apparatus and dry the air with the dryer. However, in this case, the configuration of the environmental test apparatus becomes complicated, and energy is consumed for the operation of the dryer, which increases the energy cost. On the other hand, in this structure, a dry air production | generation part produces | generates dry air by cooling and dehumidifying air by heat exchange with a gas-liquid separation tank. That is, in the dry air generation unit, dry air is generated using the cold heat of the gas-liquid separation tank into which the liquefied cooling gas has been introduced. For this reason, dry air can be generated while preventing an increase in energy costs. In this configuration, the gas-liquid separation tank is warmed during the heat exchange between the dry air generation unit and the gas-liquid separation tank. Thereby, the vaporization of the liquefied cooling gas is promoted in the gas-liquid separation tank, and as a result, the cooling gas can be favorably generated in the gas-liquid separation tank.

上記供給装置がガス導入路を含む構成において、前記ガス導入路には、そのガス導入路を流れる乾燥した冷却ガスの温度を調整可能な加熱部が設けられ、前記制御装置は、前記低温曝し試験を行う前の前記常温曝し試験の最終段階において、前記外気導入手段による前記試験室への外気の導入を停止させるとともに、前記供給装置に前記加熱部により常温に調整させた乾燥した冷却ガスを前記試験室へ供給させることが好ましい。   In the configuration in which the supply device includes a gas introduction path, the gas introduction path is provided with a heating unit capable of adjusting the temperature of the dried cooling gas flowing through the gas introduction path, and the control device performs the low-temperature exposure test. In the final stage of the room temperature exposure test before performing the above, the introduction of the outside air into the test chamber by the outside air introduction means is stopped, and the dried cooling gas adjusted to the room temperature by the heating unit is supplied to the supply device. It is preferable to supply the test chamber.

この構成では、低温曝し試験を行う前の常温曝し試験の最終段階において、試験室への外気導入を停止する一方、供給装置の加熱部によって常温に調整された乾燥冷却ガスを試験室へ供給することができる。これにより、低温曝し試験を行う前の常温曝し試験の最終段階では、試験室の温度を常温に保ちつつ、試験室の湿度を低下させることができる。ところで、常温曝し試験による試験室への外気導入の後、低温曝し試験への移行時に試験室から低温室に水分が入り込んで冷却器の蒸発器に着霜が生じるのを防ぐためには、低温曝し試験に移行する前に試験室に乾燥ガスを導入する期間を別途設けて、試験室の湿度を低下させることも考えられる。しかし、この場合には、試験時間が増大するという問題が生じる。これに対して、本構成では、低温曝し試験を行う前の常温曝し試験の最終段階において、試験室の温度を常温に保ちつつ、試験室の湿度を低下させることができる。このため、常温曝し試験の後、すぐに低温曝し試験のために連通口を開放して低温室と試験室とを連通状態にしても、試験室から低温室へ入り込む水分の量を低減することができる。このため、本構成では、試験時間の増大を防ぎながら、冷却器の蒸発器に対する着霜を低減することができる。   In this configuration, in the final stage of the normal temperature exposure test before the low temperature exposure test, the introduction of the outside air into the test chamber is stopped, and the dry cooling gas adjusted to the normal temperature by the heating unit of the supply device is supplied to the test chamber. be able to. Thereby, in the final stage of the normal temperature exposure test before the low temperature exposure test is performed, the humidity of the test chamber can be lowered while keeping the temperature of the test chamber at the normal temperature. By the way, in order to prevent moisture from entering the cold room from the test room and frost formation in the cooler evaporator after the introduction of the outside air into the test room by the room temperature exposure test, the low temperature exposure is performed. It is also conceivable to reduce the humidity of the test room by providing a separate period for introducing the dry gas into the test room before shifting to the test. However, in this case, there is a problem that the test time increases. On the other hand, in this configuration, in the final stage of the normal temperature exposure test before performing the low temperature exposure test, the humidity of the test chamber can be reduced while maintaining the temperature of the test chamber at the normal temperature. For this reason, the amount of moisture entering the low temperature chamber from the test chamber should be reduced even after the room temperature exposure test and immediately opening the communication port for the low temperature exposure test to connect the low temperature chamber and the test chamber. Can do. For this reason, in this structure, frost formation with respect to the evaporator of a cooler can be reduced, preventing the increase in test time.

上記環境試験装置において、前記供給装置は、前記試験室に加えて前記低温室にも乾燥ガスを供給可能に構成され、前記制御装置は、前記低温曝し試験の準備段階において前記冷却器に冷気を生成させる際、前記供給装置に前記低温室への乾燥ガスの供給を行わせることが好ましい。   In the environmental test apparatus, the supply device is configured to be able to supply dry gas to the low temperature chamber in addition to the test chamber, and the control device supplies cool air to the cooler in the preparation stage of the low temperature exposure test. When generating, it is preferable that the supply device supply the dry gas to the low temperature chamber.

低温曝し試験の準備段階では、冷却器により冷気を生成して低温室の温度が低下するのに伴って低温室が試験槽の外部に対して負圧となる虞がある。この場合には、外気が、試験槽に存在する各種の微小な隙間を通じて低温室にわずかに侵入する虞がある。低温室に外気が侵入すると、その外気に含まれる水分が冷却器の蒸発器に対する着霜の原因となる。これに対して、本構成では、低温曝し試験の準備段階において冷却器に冷気を生成させる際、供給装置に低温室へ乾燥ガスを供給させるので、その際、低温室を比較的乾燥した状態にすることができるとともに、低温室を試験槽の外部に対して陽圧に保って前記微小な隙間を通じての低温室への外気の侵入を防ぐことができる。このため、低温曝し試験の準備段階での冷却器の蒸発器に対する着霜を低減することができる。   In the preparatory stage of the low temperature exposure test, there is a possibility that the low temperature chamber becomes negative pressure with respect to the outside of the test tank as the cool air is generated by the cooler and the temperature of the low temperature chamber is lowered. In this case, there is a possibility that the outside air slightly enters the low temperature chamber through various minute gaps existing in the test tank. When outside air enters the low greenhouse, the moisture contained in the outside air causes frost formation on the evaporator of the cooler. On the other hand, in this configuration, when the cooler generates cold air in the preparation stage for the low temperature exposure test, the supply device supplies the dry gas to the low temperature chamber. In addition, it is possible to keep the low temperature chamber at a positive pressure with respect to the outside of the test chamber and prevent the outside air from entering the low temperature chamber through the minute gap. For this reason, the frost formation with respect to the evaporator of the cooler in the preparation stage of a low-temperature exposure test can be reduced.

上記環境試験装置において、前記制御装置は、前記低温曝し試験中、前記試験室と前記低温室の圧力が前記試験槽の外部の圧力以上の圧力に保持されるように前記供給装置による前記試験室への乾燥ガスの供給を行わせることが好ましい。   In the environmental test apparatus, the control device may be configured so that the pressure of the test chamber and the low temperature chamber is maintained at a pressure equal to or higher than the pressure outside the test tank during the low temperature exposure test. It is preferable to supply a dry gas to the tank.

このように構成すれば、低温曝し試験中に試験室から冷気の流出が生じた場合でも、供給装置から供給される乾燥ガスにより、試験室及び低温室の圧力を試験槽の外部の圧力以上の圧力に保持することができる。このため、低温曝し試験中も試験室及び低温室に水分を含んだ外気が侵入するのを防ぐことができる。   With this configuration, even if cold air flows out from the test chamber during the low-temperature exposure test, the pressure in the test chamber and the low-temperature chamber exceeds the pressure outside the test chamber by the dry gas supplied from the supply device. Can be kept under pressure. For this reason, it is possible to prevent the outside air containing moisture from entering the test chamber and the low temperature chamber even during the low temperature exposure test.

上記供給装置が冷却液導入部を含む構成において、前記制御装置は、前記低温曝し試験中、前記試験室と前記低温室の圧力が前記試験槽の外部の圧力以上の圧力に保持されるように、前記供給装置による前記試験室への乾燥した冷却ガスの供給と、前記冷却液導入部による前記低温室と前記試験室の少なくとも一方への液化冷却ガスの導入とのうち少なくとも一方を行わせることが好ましい。   In the configuration in which the supply device includes a coolant introduction unit, the control device is configured so that the pressure in the test chamber and the low temperature chamber is maintained at a pressure equal to or higher than the pressure outside the test chamber during the low temperature exposure test. , Supplying at least one of supply of dry cooling gas to the test chamber by the supply device and introduction of liquefied cooling gas to at least one of the low temperature chamber and the test chamber by the cooling liquid introduction unit Is preferred.

このように構成すれば、低温曝し試験中に試験室から冷気の流出が生じた場合でも、供給装置から供給される乾燥した冷却ガス及び/又は冷却液導入部によって導入される液化冷却ガスにより、試験室及び低温室の圧力を試験槽の外部の圧力以上の圧力に保持することができる。このため、低温曝し試験中も試験室及び低温室に水分を含んだ外気が侵入するのを防ぐことができる。   With this configuration, even when cold air flows out from the test chamber during the low temperature exposure test, the dry cooling gas supplied from the supply device and / or the liquefied cooling gas introduced by the cooling liquid introduction unit The pressure in the test chamber and the low temperature chamber can be maintained at a pressure higher than the pressure outside the test chamber. For this reason, it is possible to prevent the outside air containing moisture from entering the test chamber and the low temperature chamber even during the low temperature exposure test.

上記環境試験装置において、前記制御装置は、前記低温曝し試験から前記常温曝し試験への移行時に前記外気導入手段により前記試験室に外気を導入するのに先立って、前記供給装置に乾燥ガスを前記試験室へ供給させることが好ましい。   In the environmental test apparatus, the control device supplies dry gas to the supply device prior to introducing outside air into the test chamber by the outside air introduction means when the low temperature exposure test is shifted to the room temperature exposure test. It is preferable to supply the test chamber.

低温曝し試験から常温曝し試験への移行時に、低温ダンパにより連通口が完全に閉鎖されるよりも先に外気導入手段による試験室への外気導入が開始された場合には、試験室に導入された外気に含まれる水分が低温室に侵入する虞がある。これに対して、本構成では、低温曝し試験から常温曝し試験への移行時に外気導入手段により試験室に外気を導入するのに先立って、供給装置により乾燥ガスを試験室へ供給することができる。このため、連通口が完全に閉鎖されるよりも先に試験室への外気導入が開始される場合であっても、試験室を比較的乾燥した状態に保って試験室から連通口を通じて低温室に侵入する水分の量を低減することができる。   When the introduction of outside air to the test room by the outside air introduction means is started before the communication port is completely closed by the low temperature damper during the transition from the low temperature exposure test to the normal temperature exposure test, it is introduced into the test room. There is a risk that moisture contained in the outside air may enter the low temperature chamber. On the other hand, in this configuration, the dry gas can be supplied to the test chamber by the supply device prior to the introduction of the outside air into the test chamber by the outside air introduction means at the time of the transition from the low temperature exposure test to the normal temperature exposure test. . For this reason, even if the introduction of outside air into the test chamber is started before the communication port is completely closed, the test chamber is kept in a relatively dry state and the low temperature chamber is passed through the communication port from the test chamber. It is possible to reduce the amount of moisture that enters the water.

以上説明したように、本発明の環境試験装置によれば、試験室に外気を導入することによって常温曝し試験を行う場合でも、冷却器の蒸発器への着霜を低減することができる。   As described above, according to the environmental test apparatus of the present invention, it is possible to reduce frost formation on the evaporator of the cooler even when the test is performed at room temperature by introducing outside air into the test room.

本発明の第1実施形態による環境試験装置の概略的な構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the environmental test apparatus by 1st Embodiment of this invention. 図1に示した第1実施形態による環境試験装置の供給装置の配管系統図である。It is a piping system diagram of the supply apparatus of the environmental test apparatus by 1st Embodiment shown in FIG. 本発明の第2実施形態による環境試験装置の供給装置の配管系統図である。It is a piping system diagram of a supply device of an environmental test apparatus according to a second embodiment of the present invention. 図3に示した供給装置に用いられる気液分離タンクの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the gas-liquid separation tank used for the supply apparatus shown in FIG. 本発明の第3実施形態による環境試験装置の供給装置の配管系統図である。It is a piping system diagram of the supply apparatus of the environmental test apparatus by 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4実施形態による環境試験装置のガス供給部の配管系統図である。It is a piping system diagram of the gas supply part of the environmental test apparatus by 4th Embodiment of this invention.

以下、本発明の実施形態を図面を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(第1実施形態)
まず、図1及び図2を参照して、本発明の第1実施形態による環境試験装置の構成について説明する。
(First embodiment)
First, with reference to FIG.1 and FIG.2, the structure of the environmental test apparatus by 1st Embodiment of this invention is demonstrated.

この第1実施形態による環境試験装置は、試験室S1に収容された試料Wを高温の雰囲気にさらす高温曝し試験と、その試料Wを低温の雰囲気にさらす低温曝し試験と、その試料Wを常温の雰囲気に曝す常温曝し試験とを行うことが可能な装置である。具体的には、この環境試験装置は、高温曝し試験、常温曝し試験、低温曝し試験をこの順番で行い、その後、再び常温曝し試験を行うような試験サイクルを繰り返し実施可能な試験装置である。このような環境試験装置の具体例としては、冷熱衝撃試験装置、振動環境複合試験装置、恒温恒湿装置などが挙げられる。   The environmental test apparatus according to the first embodiment includes a high temperature exposure test in which the sample W accommodated in the test chamber S1 is exposed to a high temperature atmosphere, a low temperature exposure test in which the sample W is exposed to a low temperature atmosphere, and the sample W at room temperature. It is an apparatus capable of performing a normal temperature exposure test in which it is exposed to the atmosphere. Specifically, this environmental test apparatus is a test apparatus capable of repeatedly performing a test cycle in which a high temperature exposure test, a normal temperature exposure test, and a low temperature exposure test are performed in this order, and then a normal temperature exposure test is performed again. Specific examples of such an environmental test apparatus include a thermal shock test apparatus, a vibration environment composite test apparatus, and a constant temperature and humidity apparatus.

そして、この環境試験装置は、試験槽2と、外気導入手段3と、高温ダンパ4a,4bと、加熱器5と、高温側送風機6と、低温ダンパ7a,7bと、冷却器8と、低温側送風機10と、補助加熱器12と、供給装置14と、制御装置16とを備えている。   And this environmental test apparatus has the test tank 2, the external air introduction means 3, the high temperature dampers 4a and 4b, the heater 5, the high temperature side blower 6, the low temperature dampers 7a and 7b, the cooler 8, and the low temperature. A side blower 10, an auxiliary heater 12, a supply device 14, and a control device 16 are provided.

試験槽2は、中空の箱体に形成されている。この試験槽2の内部には、試験室S1と、高温室S2と、低温室S3とが設けられている。すなわち、試験槽2の内部空間は、試験室S1と高温室S2と低温室S3とに区画されている。試験槽2は、試験室S1、高温室S2及び低温室S3を形成する複数の壁部を備えており、その各壁部は、断熱壁となっている。   The test tank 2 is formed in a hollow box. Inside the test chamber 2, a test chamber S1, a high temperature chamber S2, and a low temperature chamber S3 are provided. That is, the internal space of the test tank 2 is divided into a test chamber S1, a high temperature chamber S2, and a low temperature chamber S3. The test tank 2 includes a plurality of wall portions that form the test chamber S1, the high temperature chamber S2, and the low temperature chamber S3, and each wall portion is a heat insulating wall.

試験室S1は、試料Wを収容可能な空間である。この試験室S1は、試験槽2の内部空間の中央に配置されている。試験槽2は、試験室S1に試料Wを出し入れするための開口部2bが設けられた側壁2aを有している。この側壁2aには、開口部2bを開閉可能な扉部2cが取り付けられている。この扉部2cは、断熱性を有している。   The test chamber S1 is a space in which the sample W can be stored. The test chamber S1 is disposed in the center of the internal space of the test tank 2. The test tank 2 has a side wall 2a provided with an opening 2b for taking the sample W into and out of the test chamber S1. A door 2c that can open and close the opening 2b is attached to the side wall 2a. This door part 2c has heat insulation.

また、試験槽2には、前記開口部2bが設けられた側壁2aと対向配置された側壁2dが設けられている。この側壁2dのうち試験室S1を形成する部分には、試験室S1へ外気を導入するための外気導入手段3が設けられている。この外気導入手段3は、外気導入口2e及び排気口2fと、外気ダンパ3a,3bと、外気導入用送風機3cと、排気用送風機3dとによって構成されている。   In addition, the test tank 2 is provided with a side wall 2d disposed to face the side wall 2a provided with the opening 2b. A portion of the side wall 2d forming the test chamber S1 is provided with an outside air introduction means 3 for introducing outside air into the test chamber S1. The outside air introduction means 3 includes an outside air introduction port 2e and an exhaust port 2f, outside air dampers 3a and 3b, an outside air introduction fan 3c, and an exhaust fan 3d.

外気導入口2e及び排気口2fは、試験槽2の側壁2dのうち試験室S1を形成する部分に形成されている。外気導入口2eは、試験室S1に外気を導入するための開口部である。排気口2fは、外気導入口2eを通じて試験室S1に外気が導入される際に試験室S1から外部へその試験室S1内の空気を排出するための開口部である。   The outside air introduction port 2e and the exhaust port 2f are formed in a portion of the side wall 2d of the test tank 2 that forms the test chamber S1. The outside air introduction port 2e is an opening for introducing outside air into the test chamber S1. The exhaust port 2f is an opening for discharging the air in the test chamber S1 from the test chamber S1 to the outside when the external air is introduced into the test chamber S1 through the external air introduction port 2e.

外気ダンパ3a,3bは、試験槽2の側壁2dの外面に設けられている。一方の外気ダンパ3aは、外気導入口2eを開閉するためのものであり、他方の外気ダンパ3bは、外気導入口2fを開閉するためのものである。   The external air dampers 3 a and 3 b are provided on the outer surface of the side wall 2 d of the test tank 2. One outside air damper 3a is for opening and closing the outside air introduction port 2e, and the other outside air damper 3b is for opening and closing the outside air introduction port 2f.

外気導入用送風機3cは、外気導入口2eに設けられている。この外気導入用送風機3cが駆動されることにより、外気導入口2eを通じて試験室S1に外気が導入される。排気用送風機3dは、排気口2fに設けられている。この排気用送風機3dが駆動されることにより、排気口2fを通じて試験室S1内の空気が外部へ排出される。すなわち、この外気導入手段3では、外気ダンパ3a,3bにより外気導入口2e及び排気口2fを開放した状態で外気導入用送風機3c及び排気用送風機3dを駆動させることにより、外気導入口2eを通じて試験室S1に外気が導入されるとともに試験室S1内の空気が排気口2fを通じて外部へ排出されるという空気の流れが作り出されるようになっている。なお、外気導入用送風機3cと排気用送風機3dのうちいずれか一方を省略してもよい。   The outside air introduction blower 3c is provided at the outside air introduction port 2e. When the outside air introduction blower 3c is driven, outside air is introduced into the test chamber S1 through the outside air introduction port 2e. The exhaust fan 3d is provided at the exhaust port 2f. By driving the exhaust fan 3d, the air in the test chamber S1 is discharged to the outside through the exhaust port 2f. That is, in this outside air introduction means 3, the outside air introduction blower 3c and the exhaust blower 3d are driven while the outside air introduction ports 2e and the exhaust ports 2f are opened by the outside air dampers 3a and 3b, whereby the test is conducted through the outside air introduction port 2e. An outside air is introduced into the chamber S1, and an air flow is created in which the air in the test chamber S1 is discharged to the outside through the exhaust port 2f. One of the outside air introduction fan 3c and the exhaust fan 3d may be omitted.

また、試験槽2の側壁2dのうち試験室S1を形成する部分には、第1導入孔2gと、逃がし孔2hとが設けられている。   In addition, a first introduction hole 2g and an escape hole 2h are provided in a portion of the side wall 2d of the test tank 2 where the test chamber S1 is formed.

第1導入孔2gは、後述するガス供給部20から供給される乾燥ガスを試験室S1に導入するためのものである。この第1導入孔2gは、本発明の貫通孔の概念に含まれる。具体的には、この第1導入孔2gは、側壁2dを試験室S1側から試験槽2の外部側へ貫通するものである。この第1導入孔2gには、後述するガス供給部20のガス導入管25が気密状に挿通されている。ガス供給部20から供給される乾燥ガスは、ガス導入管25を通じて試験室S1に導入される。   The 1st introduction hole 2g is for introducing the dry gas supplied from the gas supply part 20 mentioned later into test room S1. The first introduction hole 2g is included in the concept of the through hole of the present invention. Specifically, the first introduction hole 2g penetrates the side wall 2d from the test chamber S1 side to the outside of the test chamber 2. A gas introduction pipe 25 of a gas supply unit 20 to be described later is inserted into the first introduction hole 2g in an airtight manner. The dry gas supplied from the gas supply unit 20 is introduced into the test chamber S <b> 1 through the gas introduction pipe 25.

逃がし孔2hは、前記側壁2dを試験室S1側から試験槽2の外部側へ貫通するものである。この逃がし孔2hには、逃がし管2iが挿嵌されている。この逃がし管2iは、試験室S1内の圧力が試験槽2の外部の圧力よりも高い場合に試験室S1内の空気やガスを試験槽2の外部へ逃がすためのものである。なお、逃がし管2i内には、スリットが形成された図略の膜体が当該逃がし管2i内の空気やガスの流通を遮るように取り付けられていてもよい。この場合には、試験室S1内の圧力が試験槽2の外部の圧力よりも高い場合に、試験室S1内の空気やガスは、逃がし管2i内を通るとともに膜体のスリット部分を通過して試験槽2の外部へ徐々に逃げることが可能となる。   The escape hole 2h penetrates the side wall 2d from the test chamber S1 side to the outside of the test chamber 2. An escape tube 2i is inserted into the escape hole 2h. The escape pipe 2i is for releasing air and gas in the test chamber S1 to the outside of the test chamber 2 when the pressure in the test chamber S1 is higher than the pressure outside the test chamber 2. In the escape pipe 2i, an unillustrated film body in which slits are formed may be attached so as to block the flow of air and gas in the escape pipe 2i. In this case, when the pressure in the test chamber S1 is higher than the pressure outside the test chamber 2, air and gas in the test chamber S1 pass through the escape pipe 2i and pass through the slit portion of the film body. Thus, it is possible to gradually escape to the outside of the test chamber 2.

高温室S2と低温室S3は、図1において試験室S1の上下両側に分かれて配置されている。高温室S2は、高温曝し試験の際に試験室S1に供給する熱気を生成するための部屋であり、低温室S3は、低温曝し試験の際に試験室S1に供給する冷気を生成するための部屋である。   The high greenhouse S2 and the low temperature room S3 are separately arranged on the upper and lower sides of the test room S1 in FIG. The high greenhouse S2 is a room for generating hot air to be supplied to the test room S1 during the high temperature exposure test, and the low temperature room S3 is for generating cold air to be supplied to the test room S1 during the low temperature exposure test. It is a room.

具体的には、高温室S2は、試験槽2内に設けられた高温側仕切り壁2jによって試験室S1と仕切られている。高温側仕切り壁2jには、吸入口2kと吹出し口2mとが設けられている。高温室S2は、吸入口2k及び吹出し口2mを介して試験室S1に繋がっている。吸入口2kは、試験室S1の空気を高温室S2に導入するための開口部であり、吹出し口2mは、高温室S2で生成された熱気を試験室S1に流入させるための開口部である。高温側仕切り壁2jには、吸入口2kを開閉可能な高温ダンパ4aと、吹出し口2mを開閉可能な高温ダンパ4bとが設けられている。   Specifically, the high temperature chamber S2 is partitioned from the test chamber S1 by a high temperature side partition wall 2j provided in the test tank 2. The high temperature side partition wall 2j is provided with an inlet 2k and an outlet 2m. The high greenhouse S2 is connected to the test room S1 through the inlet 2k and the outlet 2m. The suction port 2k is an opening for introducing the air in the test chamber S1 into the high temperature chamber S2, and the blowout port 2m is an opening for allowing the hot air generated in the high temperature chamber S2 to flow into the test chamber S1. . The high temperature side partition wall 2j is provided with a high temperature damper 4a capable of opening and closing the suction port 2k and a high temperature damper 4b capable of opening and closing the air outlet 2m.

そして、高温室S2には、加熱器5と、高温側送風機6とが設けられている。加熱器5は、高温室S2において空気を加熱して熱気を生成する。高温側送風機6は、高温曝し試験の際、加熱器5によって生成された熱気を前記吸入口2kと前記吹出し口2mを通じて高温室S2と試験室S1との間で循環させる。   In the high temperature chamber S2, a heater 5 and a high temperature side blower 6 are provided. The heater 5 generates hot air by heating air in the high temperature chamber S2. The high temperature side blower 6 circulates hot air generated by the heater 5 during the high temperature exposure test between the high temperature chamber S2 and the test chamber S1 through the suction port 2k and the blowout port 2m.

また、低温室S3は、試験槽2内に設けられた低温側仕切り壁2nによって試験室S1と仕切られている。低温側仕切り壁2nには、吸入口2pと吹出し口2qとが設けられている。この吸入口2pと吹出し口2qは、本発明の連通口の概念に含まれるものである。低温室S3は、吸入口2p及び吹出し口2qを介して試験室S1に繋がっている。吸入口2pは、試験室S1の空気を低温室S3に導入するための開口部であり、吹出し口2qは、低温室S3で生成された冷気を試験室S1に流入させるための開口部である。低温側仕切り壁2nには、吸入口2pを開閉可能な低温ダンパ7aと、吹出し口2qを開閉可能な低温ダンパ7bとが設けられている。   The low temperature chamber S3 is partitioned from the test chamber S1 by a low temperature side partition wall 2n provided in the test tank 2. The low temperature side partition wall 2n is provided with an inlet 2p and an outlet 2q. The suction port 2p and the blowout port 2q are included in the concept of the communication port of the present invention. The low greenhouse S3 is connected to the test room S1 through the inlet 2p and the outlet 2q. The suction port 2p is an opening for introducing the air in the test chamber S1 into the low temperature chamber S3, and the blowout port 2q is an opening for allowing the cold air generated in the low temperature chamber S3 to flow into the test chamber S1. . The low temperature side partition wall 2n is provided with a low temperature damper 7a capable of opening and closing the suction port 2p and a low temperature damper 7b capable of opening and closing the air outlet 2q.

そして、低温室S3には、冷却器8と、低温側送風機10と、補助加熱器12とが設けられている。冷却器8は、図略の蒸発器を有し、低温室S3において空気を冷却して冷気を生成する。低温側送風機10は、低温曝し試験の際、冷却器8によって生成された冷気を前記吸入口2p及び前記吹出し口2qを通じて低温室S3と試験室S1との間で循環させる。補助加熱器12は、低温室S3で生成される冷気の温度が目標温度よりも低くなった場合に稼働されてその冷気の温度を上昇させる。   And the cooler 8, the low temperature side air blower 10, and the auxiliary heater 12 are provided in low temperature chamber S3. The cooler 8 has an unillustrated evaporator, and cools the air in the low temperature chamber S3 to generate cold air. The low temperature side blower 10 circulates the cold air generated by the cooler 8 during the low temperature exposure test between the low temperature chamber S3 and the test chamber S1 through the inlet 2p and the outlet 2q. The auxiliary heater 12 is operated when the temperature of the cold air generated in the low temperature chamber S3 becomes lower than the target temperature, and raises the temperature of the cold air.

また、試験槽2の側壁2dのうち低温室S3を形成する部分には、第2導入孔2uが設けられている。この第2導入孔2uは、後述する冷却液導入部30によって供給される液化冷却ガスを低温室S3に導入するためのものである。この第2導入孔2uは、側壁2dを低温室S3側から試験槽2の外部側へ貫通するものである。この第2導入孔2uには、後述する冷却液導入部30の冷却液導入管31が気密状に挿通されている。冷却液導入部30によって供給される液化冷却ガスは、冷却液導入管31を通じて低温室S3に導入される。   Further, a second introduction hole 2u is provided in a portion of the side wall 2d of the test tank 2 where the low temperature chamber S3 is formed. The second introduction hole 2u is for introducing a liquefied cooling gas supplied by a cooling liquid introduction unit 30 described later into the low temperature chamber S3. The second introduction hole 2u penetrates the side wall 2d from the low temperature chamber S3 side to the outside of the test chamber 2. A coolant introduction pipe 31 of a coolant introduction part 30 described later is inserted into the second introduction hole 2u in an airtight manner. The liquefied cooling gas supplied by the coolant introduction unit 30 is introduced into the low temperature chamber S3 through the coolant introduction pipe 31.

供給装置14は、試験室S1に乾燥ガスを供給可能であるとともに、低温室S3に液化冷却ガスを供給可能な装置である。この供給装置14は、図2に示すように、ガス供給部20と、冷却液導入部30とを備えている。   The supply device 14 is a device that can supply dry gas to the test chamber S1 and supply liquefied cooling gas to the low temperature chamber S3. As shown in FIG. 2, the supply device 14 includes a gas supply unit 20 and a coolant introduction unit 30.

ガス供給部20は、乾燥ガスを試験室S1に供給可能に構成されている。このガス供給部20は、乾燥ガスを試験室S1内の圧力よりも高い圧力でその試験室S1に供給する。そして、このガス供給部20は、乾燥ガスとして乾燥した冷却ガスを試験室S1に供給する。この冷却ガスとしては、窒素ガスや炭酸ガス等が用いられる。   The gas supply unit 20 is configured to be able to supply dry gas to the test chamber S1. The gas supply unit 20 supplies the dry gas to the test chamber S1 at a pressure higher than the pressure in the test chamber S1. And this gas supply part 20 supplies the cooling gas dried as dry gas to test room S1. As this cooling gas, nitrogen gas, carbon dioxide gas, or the like is used.

具体的には、このガス供給部20は、冷却液供給源21と、冷却ガス生成部22と、供給配管23と、タンク導入切換弁24と、ガス導入管25と、ガス供給切換弁26とを有する。   Specifically, the gas supply unit 20 includes a coolant supply source 21, a cooling gas generation unit 22, a supply pipe 23, a tank introduction switching valve 24, a gas introduction pipe 25, and a gas supply switching valve 26. Have

冷却液供給源21は、液化冷却ガス(液体窒素や液化炭酸ガス等)を所定の圧力で供給するものである。この冷却液供給源21は、具体的には液化冷却ガスが所定の圧力で充填されたタンクからなる。   The coolant supply source 21 supplies liquefied cooling gas (liquid nitrogen, liquefied carbon dioxide, etc.) at a predetermined pressure. Specifically, the coolant supply source 21 is a tank filled with liquefied cooling gas at a predetermined pressure.

冷却ガス生成部22は、冷却液供給源21が供給する液化冷却ガスから乾燥した冷却ガスを生成するものである。この冷却ガス生成部22は、ガス生成タンク22aと、ヒータ22bと、調圧装置22cとを有する。   The cooling gas generator 22 generates dry cooling gas from the liquefied cooling gas supplied from the cooling liquid supply source 21. The cooling gas generation unit 22 includes a gas generation tank 22a, a heater 22b, and a pressure regulator 22c.

ガス生成タンク22aは、冷却液供給源21と供給配管23を介して接続されている。これにより、ガス生成タンク22aには、冷却液供給源21から吐出された液化冷却ガスを供給配管23を通じて導入可能となっている。供給配管23には、タンク導入切換弁24が設けられている。このタンク導入切換弁24は、電磁弁からなり、制御装置16(図1参照)によって開閉制御される。このタンク導入切換弁24の開閉により、供給配管23を通じて冷却液供給源21からガス生成タンク22aへ液化冷却ガスを導入するか否かが切り換えられる。   The gas generation tank 22 a is connected to the coolant supply source 21 via the supply pipe 23. Thereby, the liquefied cooling gas discharged from the cooling liquid supply source 21 can be introduced into the gas generation tank 22 a through the supply pipe 23. A tank introduction switching valve 24 is provided in the supply pipe 23. The tank introduction switching valve 24 is composed of an electromagnetic valve, and is controlled to be opened and closed by a control device 16 (see FIG. 1). Whether the liquefied cooling gas is introduced from the coolant supply source 21 to the gas generation tank 22a through the supply pipe 23 is switched by opening and closing the tank introduction switching valve 24.

ヒータ22bは、ガス生成タンク22a内に導入された液化冷却ガスを加熱するためのものである。このヒータ22bによって液化冷却ガスが加熱されることにより、その液化冷却ガスの一部が気化して乾燥した冷却ガスとなる。これにより、ガス生成タンク22a内で乾燥した冷却ガスが生成される。   The heater 22b is for heating the liquefied cooling gas introduced into the gas generation tank 22a. When the liquefied cooling gas is heated by the heater 22b, a part of the liquefied cooling gas is vaporized to become a dried cooling gas. Thereby, the cooling gas dried in the gas generation tank 22a is generated.

調圧装置22cは、ガス生成タンク22aに取り付けられている。この調圧装置22cは、ガス生成タンク22a内の圧力を試験室S1内の圧力よりも高い圧力(例えば、2気圧程度)に調整する。これにより、冷却ガスは、ガス生成タンク22aから試験室S1内の圧力よりも高い圧力で吐出される。   The pressure regulator 22c is attached to the gas generation tank 22a. The pressure adjusting device 22c adjusts the pressure in the gas generation tank 22a to a pressure (for example, about 2 atmospheres) higher than the pressure in the test chamber S1. Thereby, the cooling gas is discharged from the gas generation tank 22a at a pressure higher than the pressure in the test chamber S1.

ガス導入管25は、ガス生成タンク22aから試験室S1へ乾燥した冷却ガスを導入するためのものである。このガス導入管25は、本発明のガス導入路の概念に含まれる。このガス導入管25は、例えば銅管等の管状の部材からなる。このガス導入管25の一端部は、ガス生成タンク22aに接続されている。一方、このガス導入管25の他端部は、試験槽2の側壁2dに設けられた前記第1導入孔2gを通じて試験室S1内に挿入されている。これにより、ガス生成タンク22aからガス導入管25を通じて試験室S1へ乾燥冷却ガスを試験室S1内の圧力よりも高い圧力で導入可能となっている。   The gas introduction pipe 25 is for introducing the dried cooling gas from the gas generation tank 22a to the test chamber S1. This gas introduction pipe 25 is included in the concept of the gas introduction path of the present invention. The gas introduction pipe 25 is made of a tubular member such as a copper pipe. One end of the gas introduction pipe 25 is connected to the gas generation tank 22a. On the other hand, the other end of the gas introduction tube 25 is inserted into the test chamber S1 through the first introduction hole 2g provided in the side wall 2d of the test tank 2. Thereby, dry cooling gas can be introduced into the test chamber S1 from the gas generation tank 22a through the gas introduction pipe 25 at a pressure higher than the pressure in the test chamber S1.

ガス供給切換弁26は、ガス導入管25に設けられている。このガス供給切換弁26は、電磁弁からなり、制御装置16(図1参照)によって開閉制御される。すなわち、このガス供給切換弁26の開閉によってガス供給部20から試験室S1へ冷却ガスを供給するか否かを切り換えるようになっている。また、このガス供給切換弁26は、制御装置16によって開度制御される。このガス供給切換弁26の開度制御によって、試験室S1への冷却ガスの導入量が制御される。   The gas supply switching valve 26 is provided in the gas introduction pipe 25. The gas supply switching valve 26 is composed of an electromagnetic valve and is controlled to be opened and closed by a control device 16 (see FIG. 1). That is, whether or not to supply the cooling gas from the gas supply unit 20 to the test chamber S1 is switched by opening and closing the gas supply switching valve 26. The opening of the gas supply switching valve 26 is controlled by the control device 16. By controlling the opening degree of the gas supply switching valve 26, the amount of cooling gas introduced into the test chamber S1 is controlled.

冷却液導入部30は、冷却液供給源21から供給される液化冷却ガスの一部を低温室S3に導入可能に構成されている。この冷却液導入部30は、冷却液導入管31と、冷却液供給切換弁32とを有する。   The cooling liquid introducing unit 30 is configured to be able to introduce a part of the liquefied cooling gas supplied from the cooling liquid supply source 21 into the low temperature chamber S3. The coolant introduction unit 30 includes a coolant introduction pipe 31 and a coolant supply switching valve 32.

冷却液導入管31は、冷却液供給源21から供給される液化冷却ガスの一部を低温室S3に導入するためのものである。この冷却液導入管31は、例えばキャピラリチューブ等の細い管状の部材からなる。この冷却液導入管31の一端部は、前記供給配管23に接続されている。一方、この冷却液導入管31の他端部は、試験槽2の側壁2dに設けられた第2導入孔2uを通じて低温室S3内に挿入されている。これにより、冷却液供給源21から供給配管23に吐出された液化冷却ガスの一部をこの冷却液導入管31を通じて低温室S3へ導入可能となっている。   The coolant introduction pipe 31 is for introducing a part of the liquefied cooling gas supplied from the coolant supply source 21 into the low temperature chamber S3. The coolant introduction pipe 31 is made of a thin tubular member such as a capillary tube. One end of the coolant introduction pipe 31 is connected to the supply pipe 23. On the other hand, the other end of the coolant introduction pipe 31 is inserted into the low temperature chamber S3 through the second introduction hole 2u provided in the side wall 2d of the test tank 2. Thereby, a part of the liquefied cooling gas discharged from the coolant supply source 21 to the supply pipe 23 can be introduced into the low temperature chamber S3 through the coolant introduction pipe 31.

冷却液供給切換弁32は、冷却液導入管31に設けられている。この冷却液供給切換弁32は、電磁弁からなり、制御装置16(図1参照)によって開閉制御される。すなわち、この冷却液供給切換弁32の開閉によって冷却液導入部30から低温室S3へ液化冷却ガスを導入するか否かを切り換えるようになっている。また、この冷却液供給切換弁32は、制御装置16によって開度制御される。この冷却液供給切換弁32の開度制御によって、低温室S3への液化冷却ガスの導入量が制御される。   The coolant supply switching valve 32 is provided in the coolant introduction pipe 31. The coolant supply switching valve 32 is composed of an electromagnetic valve and is controlled to be opened and closed by the control device 16 (see FIG. 1). That is, whether or not to introduce the liquefied cooling gas from the coolant introduction part 30 to the low temperature chamber S3 is switched by opening and closing the coolant supply switching valve 32. The opening of the coolant supply switching valve 32 is controlled by the control device 16. The amount of liquefied cooling gas introduced into the low temperature chamber S3 is controlled by controlling the opening degree of the coolant supply switching valve 32.

制御装置16は、加熱器5、冷却器8及び補助加熱器12の稼働を制御する。具体的には、制御装置16は、加熱器5の加熱能力と、冷却器8の冷却能力と、補助加熱器12の加熱能力とをそれぞれ制御する。また、制御装置16は、高温側送風機6及び低温側送風機10の駆動を制御する。また、制御装置16は、高温ダンパ4a,4bの開閉動作を制御するとともに、低温ダンパ7a,7bの開閉動作を制御する。さらに、制御装置16は、上記したようにタンク導入切換弁24、ガス供給切換弁26及び冷却液供給切換弁32の開閉制御と、ガス供給切換弁26及び冷却液供給切換弁32の開度制御とを行う。   The control device 16 controls the operation of the heater 5, the cooler 8, and the auxiliary heater 12. Specifically, the control device 16 controls the heating capability of the heater 5, the cooling capability of the cooler 8, and the heating capability of the auxiliary heater 12, respectively. Further, the control device 16 controls driving of the high temperature side blower 6 and the low temperature side blower 10. The control device 16 controls the opening / closing operations of the high temperature dampers 4a, 4b and also controls the opening / closing operations of the low temperature dampers 7a, 7b. Further, the control device 16 controls the opening / closing of the tank introduction switching valve 24, the gas supply switching valve 26 and the coolant supply switching valve 32 and the opening control of the gas supply switching valve 26 and the coolant supply switching valve 32 as described above. And do.

次に、この第1実施形態による環境試験装置の動作について説明する。なお、以下に説明する動作は、高温曝し試験と、常温曝し試験と、低温曝し試験とをこの順番で行った後、再び常温曝し試験を行うという試験サイクルを繰り返し実施する場合の当該第1実施形態による環境試験装置の動作である。   Next, the operation of the environmental test apparatus according to the first embodiment will be described. The operation described below is the first implementation in the case where the test cycle of performing the high temperature exposure test, the normal temperature exposure test, and the low temperature exposure test in this order and then performing the normal temperature exposure test again is repeated. It is operation | movement of the environmental test apparatus by a form.

この環境試験装置における環境試験の開始時点では、高温ダンパ4a,4bにより吸入口2k及び吹出し口2mは閉鎖されているとともに、低温ダンパ7a,7bにより吸入口2p及び吹出し口2qは閉鎖されている。また、外気ダンパ3a,3bにより外気導入口2e及び排気口2fも閉鎖されている。   At the start of the environmental test in this environmental test apparatus, the inlet 2k and the outlet 2m are closed by the high temperature dampers 4a and 4b, and the inlet 2p and the outlet 2q are closed by the low temperature dampers 7a and 7b. . Further, the outside air introduction port 2e and the exhaust port 2f are also closed by the outside air dampers 3a and 3b.

また、供給装置14では、ガス供給部20のガス供給切換弁26と冷却液導入部30の冷却液供給切換弁32が共に閉状態となっている。一方、ガス供給部20のタンク導入切換弁24は、開状態にされる。それにより、液化冷却ガスが冷却液供給源21から供給配管23を通じてガス生成タンク22aに供給されている。そして、ヒータ22bが稼働されることにより、ガス生成タンク22a内で乾燥した冷却ガスが生成されている。このガス生成タンク22a内において、冷却ガスの圧力は、調圧装置22cにより試験室S1内の圧力よりも高い圧力(2気圧程度)に調整されている。   In the supply device 14, the gas supply switching valve 26 of the gas supply unit 20 and the coolant supply switching valve 32 of the coolant introduction unit 30 are both closed. On the other hand, the tank introduction switching valve 24 of the gas supply unit 20 is opened. Thereby, the liquefied cooling gas is supplied from the coolant supply source 21 to the gas generation tank 22 a through the supply pipe 23. And the cooling gas dried in the gas generation tank 22a is produced | generated by operating the heater 22b. In the gas generation tank 22a, the pressure of the cooling gas is adjusted to a pressure (about 2 atmospheres) higher than the pressure in the test chamber S1 by the pressure regulator 22c.

この状態で、制御装置16は、加熱器5及び高温側送風機6を稼働させることにより、高温室S2内で熱気を生成させる。その後、制御装置16は、高温ダンパ4a,4bを動作させて吸入口2k及び吹出し口2mを開放する。これにより、高温室S2と試験室S1との間で吸入口2k及び吹出し口2mを通じて熱気が循環する。この熱気の循環によって、試験室S1の雰囲気の温度は、所定の高温まで上昇する。そして、試験室S1に収容された試料Wは、この試験室S1の高温の雰囲気に曝される。このようにして、高温曝し試験が行われる。なお、この高温曝し試験は、予め設定された一定時間行われる。   In this state, the control device 16 operates the heater 5 and the high temperature side blower 6 to generate hot air in the high temperature chamber S2. Thereafter, the control device 16 operates the high temperature dampers 4a and 4b to open the suction port 2k and the blowout port 2m. As a result, hot air circulates between the high temperature chamber S2 and the test chamber S1 through the suction port 2k and the blowout port 2m. Due to the circulation of the hot air, the temperature of the atmosphere in the test chamber S1 rises to a predetermined high temperature. And the sample W accommodated in test room S1 is exposed to the high temperature atmosphere of this test room S1. In this way, the high temperature exposure test is performed. The high temperature exposure test is performed for a predetermined time.

そして、高温曝し試験の開始から一定時間が経過すると、制御装置16は、高温ダンパ4a,4bを駆動して吸入口2k及び吹出し口2mを閉鎖する。これにより、高温室S2から試験室S1への熱気の供給は停止され、高温曝し試験が終了する。そして、制御装置16は、この吸入口2k及び吹出し口2mの閉鎖とほぼ同時に、外気導入手段3により試験室S1に外気を導入させる。すなわち、制御装置16は、吸入口2k及び吹出し口2mの閉鎖とほぼ同時に、外気ダンパ3a,3bを駆動して外気導入口2e及び排気口2fを開放する。さらに、制御装置16は、外気導入用送風機3cと排気用送風機3dを駆動する。これにより、外気導入口2eを通じて試験室S1に外気が導入されるとともに、排気口2fを通じて試験室S1内の空気が外部へ排出される。すなわち、試験室S1が外気によって換気される。それによって、試験室S1の温度は、常温に降下する。そして、試験室S1に収容された試料Wは、この試験室S1の常温の雰囲気に曝される。このようにして、常温曝し試験が行われる。この常温曝し試験は、予め設定された一定時間行われる。   When a predetermined time has elapsed from the start of the high-temperature exposure test, the control device 16 drives the high-temperature dampers 4a and 4b to close the inlet 2k and the outlet 2m. Thereby, the supply of hot air from the high temperature chamber S2 to the test chamber S1 is stopped, and the high temperature exposure test ends. The control device 16 introduces the outside air into the test chamber S1 by the outside air introduction means 3 almost simultaneously with the closing of the suction port 2k and the outlet 2m. That is, the control device 16 drives the outside air dampers 3a and 3b to open the outside air introduction port 2e and the exhaust port 2f almost simultaneously with the closing of the suction port 2k and the outlet port 2m. Further, the control device 16 drives the blower 3c for introducing outside air and the blower 3d for exhaust. Thereby, outside air is introduced into the test chamber S1 through the outside air introduction port 2e, and air in the test chamber S1 is discharged to the outside through the exhaust port 2f. That is, the test room S1 is ventilated by outside air. As a result, the temperature of the test chamber S1 drops to room temperature. And the sample W accommodated in test room S1 is exposed to the normal temperature atmosphere of this test room S1. In this way, the room temperature exposure test is performed. This room temperature exposure test is performed for a predetermined time.

そして、高温曝し試験や常温曝し試験が行われている際、低温室S3では、常温曝し試験の後に行う低温曝し試験の準備が行われる。具体的には、制御装置16が冷却器8及び低温側送風機10を稼働させる。これにより、低温ダンパ7a,7bによって吸入口2p及び吹出し口2qが閉鎖されて試験室S1と隔離された低温室S3において、冷気が生成される。   When the high temperature exposure test or the normal temperature exposure test is performed, the low temperature chamber S3 prepares for the low temperature exposure test performed after the normal temperature exposure test. Specifically, the control device 16 operates the cooler 8 and the low temperature side blower 10. As a result, cold air is generated in the low temperature chamber S3 in which the suction port 2p and the blowout port 2q are closed by the low temperature dampers 7a and 7b and separated from the test chamber S1.

そして、常温曝し試験の開始から一定時間が経過すると、制御装置16は、外気ダンパ3a,3bを駆動して外気導入口2e及び排気口2fを閉鎖する。これにより、試験室S1への外気の導入は停止され、常温曝し試験が終了する。また、制御装置16は、この外気導入口2e及び排気口2fの閉鎖とほぼ同時に、低温ダンパ7a,7bを駆動して吸入口2p及び吹出し口2qを開放する。これにより、低温室S3と試験室S1との間で吸入口2p及び吹出し口2qを通じて冷気が循環する。この冷気の循環によって、試験室S1の雰囲気の温度は、所定の低温まで低下する。そして、試験室S1に収容された試料Wは、この試験室S1の低温の雰囲気に曝される。このようにして、低温曝し試験が行われる。この低温曝し試験は、予め設定された一定時間行われる。   When a certain time has elapsed from the start of the normal temperature exposure test, the control device 16 drives the outside air dampers 3a and 3b to close the outside air introduction port 2e and the exhaust port 2f. As a result, the introduction of the outside air into the test room S1 is stopped, and the test is completed after exposure to room temperature. Further, the control device 16 drives the low temperature dampers 7a and 7b almost simultaneously with the closing of the outside air introduction port 2e and the exhaust port 2f to open the suction port 2p and the blowout port 2q. Thereby, cold air circulates between the low temperature chamber S3 and the test chamber S1 through the inlet 2p and the outlet 2q. Due to the circulation of the cold air, the temperature of the atmosphere in the test chamber S1 is lowered to a predetermined low temperature. And the sample W accommodated in test room S1 is exposed to the low temperature atmosphere of this test room S1. In this way, the low temperature exposure test is performed. This low temperature exposure test is performed for a predetermined time.

そして、この第1実施形態では、上記の常温曝し試験から低温曝し試験への移行時に低温ダンパ7a,7bが吸入口2p及び吹出し口2qを開放するのに先立って、ガス供給部20が試験室S1へ乾燥した冷却ガスの供給を開始する。具体的には、制御装置16は、低温ダンパ7a,7bを駆動して吸入口2p及び吹出し口2qを開放するのに先立って、ガス供給切換弁26を開状態にする。これにより、冷却ガス生成部22のガス生成タンク22a内で生成された乾燥した冷却ガスが、ガス導入管25を通じて試験室S1に導入される。常温曝し試験時には、試験室S1に外気とともにその外気に含まれる水分が取り込まれるが、このように乾燥した冷却ガスを試験室S1に導入することにより、低温曝し試験のために吸入口2p及び吹出し口2qを開放する時点では、試験室S1内の湿度を比較的低い状態にすることができる。   In the first embodiment, before the low temperature dampers 7a and 7b open the inlet 2p and the outlet 2q during the transition from the normal temperature exposure test to the low temperature exposure test, the gas supply unit 20 has the test chamber. Supply of dried cooling gas to S1 is started. Specifically, the control device 16 opens the gas supply switching valve 26 prior to driving the low temperature dampers 7a and 7b to open the suction port 2p and the blowout port 2q. As a result, the dried cooling gas generated in the gas generation tank 22 a of the cooling gas generation unit 22 is introduced into the test chamber S <b> 1 through the gas introduction pipe 25. During the normal temperature exposure test, the moisture contained in the outside air is taken into the test room S1 together with the outside air. By introducing the thus-cooled cooling gas into the test room S1, the suction port 2p and the outlet are blown for the low temperature exposure test. When the mouth 2q is opened, the humidity in the test chamber S1 can be relatively low.

なお、この時、ガス供給部20から試験室S1への乾燥冷却ガスの供給量に応じて、外気導入口2eを通じての試験室S1への外気導入量を調整してもよい。例えば、ガス供給部20から試験室S1への乾燥冷却ガスの供給量が、常温曝し試験時における試験室S1への外気導入量と同等以上であれば、外気ダンパ3aにより外気導入口2eを閉じてもよい。この場合、ガス供給部20から試験室S1への乾燥冷却ガスの供給量は、排気用送風機3dによる排気口2fを通じての排気量と同等であることが好ましい。また、ガス供給部20から試験室S1への乾燥冷却ガスの供給量が、常温曝し試験時における試験室S1への外気導入量よりも少ない場合には、制御装置16が、前記乾燥冷却ガスの供給量と外気導入用送風機3cによる外気導入口2eを通じての外気導入量との和が排気用送風機3dによる排気口2fを通じての排気量と同等となるように外気導入用送風機3cの駆動量を制御して前記外気導入量を調整してもよい。これらの構成によれば、試験室S1内の空気を効率良く乾燥冷却ガスで置換することができる。また、試験室S1への気体の導入量と試験室S1からの排気量とのバランスが取れるので、外気導入用送風機3cの駆動効率が低下するのを抑制することができる。   At this time, the amount of outside air introduced into the test chamber S1 through the outside air inlet 2e may be adjusted according to the amount of dry cooling gas supplied from the gas supply unit 20 to the test chamber S1. For example, if the supply amount of dry cooling gas from the gas supply unit 20 to the test chamber S1 is equal to or greater than the amount of outside air introduced into the test chamber S1 during the normal temperature exposure test, the outside air introduction port 2e is closed by the outside air damper 3a. May be. In this case, it is preferable that the supply amount of the dry cooling gas from the gas supply unit 20 to the test chamber S1 is equal to the exhaust amount through the exhaust port 2f by the exhaust fan 3d. When the supply amount of the dry cooling gas from the gas supply unit 20 to the test chamber S1 is smaller than the amount of outside air introduced into the test chamber S1 during the normal temperature exposure test, the control device 16 causes the dry cooling gas to flow. The drive amount of the outside air introduction fan 3c is controlled so that the sum of the supply amount and the outside air introduction amount through the outside air introduction port 2e by the outside air introduction fan 3c is equal to the exhaust amount through the exhaust port 2f by the exhaust fan 3d. Then, the outside air introduction amount may be adjusted. According to these configurations, the air in the test chamber S1 can be efficiently replaced with the dry cooling gas. In addition, since the balance between the amount of gas introduced into the test chamber S1 and the amount of exhaust from the test chamber S1 can be balanced, it is possible to suppress a decrease in driving efficiency of the blower 3c for introducing outside air.

また、制御装置16は、低温室S3から試験室S1への冷気の導入により試験室S1の温度が降下する過程においても、ガス供給切換弁26を開状態にしてガス供給部20から試験室S1へ乾燥冷却ガスを供給させる。これにより、試験室S1の温度の降下に伴って試験室S1内の空気が収縮しても、その空気の収縮が冷却ガスの供給で補われる。その結果、この試験室S1の温度が降下する過程において、試験室S1の圧力は、試験槽2の外部の圧力よりも高い圧力に維持される。   The control device 16 also opens the gas supply switching valve 26 from the gas supply unit 20 to the test chamber S1 in the process where the temperature of the test chamber S1 drops due to the introduction of cold air from the low temperature chamber S3 to the test chamber S1. Supply dry cooling gas to. Thereby, even if the air in the test chamber S1 contracts as the temperature of the test chamber S1 decreases, the contraction of the air is compensated by the supply of the cooling gas. As a result, the pressure in the test chamber S1 is maintained at a pressure higher than the pressure outside the test chamber 2 in the process of decreasing the temperature of the test chamber S1.

また、試験室S1に収容された試料Wが多くて試験室S1の温度が降下しにくい場合や、試験室S1の降温速度を上げたい場合には、制御装置16は、冷却液導入部30から低温室S3へ液化冷却ガスを導入させる。具体的には、制御装置16は、冷却液導入部30の冷却液供給切換弁32を開状態にする。これにより、冷却液供給源21から供給される液化冷却ガスの一部が冷却液導入管31を通じて低温室S3に導入される。この低温室S3に導入された液化冷却ガスは、補助冷却手段として作用する。すなわち、この液化冷却ガスは、低温室S3で気化して冷却ガスとなり、低温室S3での冷気の生成及び試験室S1の降温を促進する。   Further, when there are many samples W stored in the test chamber S1 and the temperature of the test chamber S1 is difficult to decrease, or when it is desired to increase the temperature decrease rate of the test chamber S1, the control device 16 starts from the coolant introduction unit 30. The liquefied cooling gas is introduced into the low greenhouse S3. Specifically, the control device 16 opens the coolant supply switching valve 32 of the coolant introduction unit 30. Thereby, a part of the liquefied cooling gas supplied from the coolant supply source 21 is introduced into the low temperature chamber S3 through the coolant introduction pipe 31. The liquefied cooling gas introduced into the low temperature chamber S3 functions as auxiliary cooling means. That is, the liquefied cooling gas is vaporized in the low temperature chamber S3 to become a cooling gas, and promotes the generation of cold air in the low temperature chamber S3 and the temperature decrease in the test chamber S1.

なお、低温曝し試験中には、低温側送風機10による冷気の循環に伴って、試験室S1に部分的に陽圧となる箇所が現れるとともに、低温室S3が負圧となる。そして、試験室S1の部分的に陽圧になった所からは、試験槽2に存在する各種の隙間や外部との連通箇所を通じて試験槽2の外部へ空気及び冷却ガスが流出し、その結果、試験室S1の圧力は試験槽2の外圧と等しくなる。そして、試験室S1の圧力が外圧と等しくなると、低温室S3が負圧となっていることにより、外部から試験槽2の各種隙間を通じて低温室S3及び試験室S1に外気が吸い込まれる虞がある。そこで、制御装置16は、この低温曝し試験中において、試験室S1と低温室S3の圧力が試験槽2の外部の圧力以上の圧力に保持されるように、ガス供給部20から試験室S1へ乾燥冷却ガスを供給させるとともに、必要に応じて冷却液導入部30から低温室S3へ液化冷却ガスを導入させる。   During the low-temperature exposure test, as the cold air is circulated by the low-temperature side blower 10, a portion that is partially positive in the test chamber S1 appears, and the low-temperature chamber S3 is negative. Then, air and cooling gas flow out from the test chamber 2 to the outside of the test chamber S1 through various gaps existing in the test chamber 2 and communication points with the outside from the location where the partial pressure is positive. The pressure in the test chamber S1 is equal to the external pressure in the test chamber 2. When the pressure in the test chamber S1 becomes equal to the external pressure, the low-temperature chamber S3 has a negative pressure, so that external air may be sucked into the low-temperature chamber S3 and the test chamber S1 through various gaps in the test tank 2 from the outside. . Therefore, the control device 16 moves from the gas supply unit 20 to the test chamber S1 so that the pressure in the test chamber S1 and the low temperature chamber S3 is maintained at a pressure higher than the pressure outside the test tank 2 during the low temperature exposure test. While supplying the dry cooling gas, the liquefied cooling gas is introduced from the cooling liquid introduction unit 30 to the low temperature chamber S3 as necessary.

具体的には、予備実験によって、ガス供給部20から試験室S1へ供給する冷却ガスの供給量と、冷却液導入部30から低温室S3へ導入する液化冷却ガスの導入量とをどのように制御すれば、低温曝し試験中の試験室S1及び低温室S3の圧力を試験槽2の外部の圧力以上の圧力に維持できるかが調べられている。そして、その予備実験の結果に基づいて、制御装置16に低温曝し試験中におけるガス供給部20から試験室S1への冷却ガスの供給量の制御プログラムと冷却液導入部30から低温室S3への液化冷却ガスの供給量の制御プログラムとが組み込まれている。制御装置16は、その組み込まれた制御プログラムに基づいて低温曝し試験中にガス供給切換弁26の開度を制御することにより試験室S1へ導入する冷却ガスの流量を制御するとともに、冷却液供給切換弁32の開度を制御することにより低温室S3へ導入する液化冷却ガスの流量を制御する。このようにして、低温曝し試験において試験室S1と低温室S3の圧力が試験槽2の外部の圧力以上の圧力に保持される。   Specifically, how the amount of the cooling gas supplied from the gas supply unit 20 to the test chamber S1 and the amount of the liquefied cooling gas introduced from the coolant introduction unit 30 to the low temperature chamber S3 are determined by preliminary experiments. If controlled, it is investigated whether the pressure in the test chamber S1 and the low temperature chamber S3 during the low temperature exposure test can be maintained at a pressure equal to or higher than the pressure outside the test chamber 2. Then, based on the result of the preliminary experiment, the control program for the amount of cooling gas supplied from the gas supply unit 20 to the test chamber S1 during the low temperature exposure test to the control device 16 and the cooling liquid introduction unit 30 to the low temperature chamber S3. A control program for the supply amount of the liquefied cooling gas is incorporated. The control device 16 controls the flow rate of the cooling gas introduced into the test chamber S1 by controlling the opening degree of the gas supply switching valve 26 during the low temperature exposure test based on the incorporated control program, and supplies the coolant. By controlling the opening degree of the switching valve 32, the flow rate of the liquefied cooling gas introduced into the low temperature chamber S3 is controlled. In this way, in the low temperature exposure test, the pressure in the test chamber S1 and the low temperature chamber S3 is maintained at a pressure equal to or higher than the pressure outside the test chamber 2.

なお、この低温曝し試験中において、試験室S1及び低温室S3の圧力を試験槽2の外部の圧力以上の圧力に保持できれば、ガス供給切換弁26及び冷却液供給切換弁32を断続的に開状態にして試験室S1への冷却ガスの供給及び低温室S3への液化冷却ガスの供給を断続的に行ってもよい。   During the low temperature exposure test, if the pressure in the test chamber S1 and the low temperature chamber S3 can be maintained at a pressure equal to or higher than the pressure outside the test tank 2, the gas supply switching valve 26 and the coolant supply switching valve 32 are intermittently opened. In this state, the cooling gas supply to the test chamber S1 and the liquefied cooling gas supply to the low temperature chamber S3 may be intermittently performed.

次に、低温曝し試験の開始から一定時間が経過すると、制御装置16は、低温ダンパ7a,7bを駆動して吸入口2p及び吹出し口2qを閉鎖する。これにより、低温室S3から試験室S1への冷気の供給は停止され、低温曝し試験が終了する。そして、制御装置16は、この吸入口2p及び吹出し口2qの閉鎖とほぼ同時に、上記常温曝し試験の場合と同様にして外気導入手段3により試験室S1へ外気を導入させる。これにより、上記と同様の常温曝し試験が再び行われる。   Next, when a certain time has elapsed from the start of the low temperature exposure test, the control device 16 drives the low temperature dampers 7a and 7b to close the inlet 2p and the outlet 2q. Thereby, the supply of cold air from the low temperature chamber S3 to the test chamber S1 is stopped, and the low temperature exposure test is completed. Then, almost simultaneously with the closing of the inlet 2p and the outlet 2q, the control device 16 introduces the outside air into the test chamber S1 by the outside air introducing means 3 in the same manner as in the normal temperature exposure test. Thereby, the room temperature exposure test similar to the above is performed again.

そして、制御装置16は、低温曝し試験中に試験室S1への乾燥冷却ガスの供給が断続的に行われる場合であっても、低温曝し試験から常温曝し試験への移行時に外気導入手段3により試験室S1に外気を導入する前には、必ずガス供給部20により乾燥冷却ガスを試験室S1へ供給させる。具体的には、制御装置16は、低温曝し試験から常温曝し試験への移行時に外気導入口2e及び排気口2fを開放する前に、必ずガス供給切換弁26を開状態にしておく。これにより、低温曝し試験から常温曝し試験への移行時に吸入口2p及び吹出し口2qが完全に閉鎖されるよりもわずかに早く外気導入口2e及び排気口2fが開放された場合でも、その際に試験室S1に導入された冷却ガスにより試験室S1が比較的乾燥した状態に保たれる。このため、吸入口2p及び吹出し口2qが完全に閉鎖されるまでのわずかの期間に試験室S1から吸入口2pを通じて低温室S3に入り込む水分の量が低減される。   And even if it is a case where supply of dry cooling gas to test room S1 is performed intermittently during low temperature exposure test, control device 16 uses outside air introduction means 3 at the time of transfer from low temperature exposure test to normal temperature exposure test. Before introducing the outside air into the test chamber S1, the gas supply unit 20 always supplies dry cooling gas to the test chamber S1. Specifically, the control device 16 always opens the gas supply switching valve 26 before opening the outside air inlet 2e and the exhaust port 2f during the transition from the low temperature exposure test to the room temperature exposure test. Thus, even when the outside air introduction port 2e and the exhaust port 2f are opened slightly earlier than when the suction port 2p and the discharge port 2q are completely closed during the transition from the low temperature exposure test to the normal temperature exposure test, The test chamber S1 is kept relatively dry by the cooling gas introduced into the test chamber S1. For this reason, the amount of moisture entering the low temperature chamber S3 from the test chamber S1 through the suction port 2p during a short period until the suction port 2p and the blowout port 2q are completely closed is reduced.

そして、以上のような高温曝し試験から常温曝し試験までの各試験が、この後、繰り返し行われる。   Then, each test from the high temperature exposure test to the room temperature exposure test as described above is repeatedly performed.

以上説明したように、この第1実施形態では、制御装置16が、低温曝し試験のために低温ダンパ7a,7bに吸入口2p及び吹出し口2qを開放させるのに先立って供給装置14のガス供給部20に試験室S1への乾燥ガスの供給を開始させる。このため、常温曝し試験時に外気導入手段3により試験室S1に外気が導入されるのに伴って試験室S1に水分が取り込まれたとしても、その後、低温曝し試験のために吸入口2p及び吹出し口2qが開放されて試験室S1と低温室S3とが連通する前に試験室S1の湿度を乾燥ガスによって低下させることができる。その結果、低温曝し試験の際に試験室S1と低温室S3とが連通状態となったときに低温室S3に入り込む水分の量を低減することができる。そのため、低温室S3に入り込む水分に起因する冷却器8の蒸発器への着霜を低減することができる。従って、この第1実施形態では、試験室S1に外気を導入することによって常温曝し試験を行う場合でも、冷却器8の蒸発器への着霜を低減することができる。   As described above, in the first embodiment, the control device 16 supplies the gas from the supply device 14 before opening the suction port 2p and the blowout port 2q to the low temperature dampers 7a and 7b for the low temperature exposure test. The unit 20 is started to supply the dry gas to the test chamber S1. For this reason, even if moisture is taken into the test room S1 as the outside air is introduced into the test room S1 by the outside air introduction means 3 during the normal temperature exposure test, the suction port 2p and the blowout are thereafter used for the low temperature test. Before the opening 2q is opened and the test chamber S1 and the low temperature chamber S3 communicate with each other, the humidity of the test chamber S1 can be reduced by the dry gas. As a result, it is possible to reduce the amount of moisture that enters the low temperature chamber S3 when the test chamber S1 and the low temperature chamber S3 are in communication with each other during the low temperature exposure test. Therefore, it is possible to reduce frost formation on the evaporator of the cooler 8 due to moisture entering the low temperature chamber S3. Therefore, in the first embodiment, frosting on the evaporator of the cooler 8 can be reduced even when a test is performed at room temperature by introducing outside air into the test chamber S1.

また、この第1実施形態では、制御装置16が、低温曝し試験において試験室S1の温度が降下する過程においてもガス供給部20に試験室S1への乾燥ガスの供給を行わせる。このため、試験室S1の降温に伴って試験室S1の空気が収縮する際に、その空気の収縮を乾燥ガスで補うことができる。それにより、試験室S1の圧力低下を抑制することができる。このため、水分を含んだ外気の試験室S1及び低温室S3への侵入を抑制することができる。このことは、外気に含まれる水分に起因する冷却器8の蒸発器への着霜を抑制することに繋がる。従って、この第1実施形態では、低温曝し試験のために試験室S1の温度を降下させる際に外気に含まれる水分が低温室S3へ入り込むことによる冷却器8の蒸発器への着霜を抑制することができる。   In the first embodiment, the control device 16 causes the gas supply unit 20 to supply the dry gas to the test chamber S1 even in the process in which the temperature of the test chamber S1 drops in the low temperature exposure test. For this reason, when the air in the test chamber S1 contracts as the temperature of the test chamber S1 decreases, the contraction of the air can be compensated by the dry gas. Thereby, the pressure drop of test room S1 can be suppressed. For this reason, the penetration | invasion to the test chamber S1 and low temperature chamber S3 of the external air containing a water | moisture content can be suppressed. This leads to suppression of frost formation on the evaporator of the cooler 8 due to moisture contained in the outside air. Accordingly, in the first embodiment, when the temperature of the test chamber S1 is lowered for the low temperature exposure test, frost formation on the evaporator of the cooler 8 due to moisture contained in the outside air entering the low temperature chamber S3 is suppressed. can do.

また、この第1実施形態では、ガス供給部20が乾燥ガスを試験室S1内の圧力よりも高い圧力で供給するため、その乾燥ガスを試験室S1に導入するための第1導入孔2gの内径が小さくても、試験室S1に乾燥ガスを良好に導入することができる。このため、この第1実施形態では、第1導入孔2gの部分での試験槽2の断熱性能の大幅な低下を抑制することができるとともに、試験室S1の降温に伴う当該試験室S1への水分を含んだ外気の侵入を有効に防止することができる。   In the first embodiment, since the gas supply unit 20 supplies the dry gas at a pressure higher than the pressure in the test chamber S1, the first introduction hole 2g for introducing the dry gas into the test chamber S1 is provided. Even if the inner diameter is small, the dry gas can be satisfactorily introduced into the test chamber S1. For this reason, in this 1st Embodiment, while being able to suppress the significant fall of the heat insulation performance of the test tank 2 in the part of the 1st introduction hole 2g, to the said test chamber S1 accompanying the temperature fall of test chamber S1 It is possible to effectively prevent the intrusion of moisture containing outside air.

また、この第1実施形態では、ガス供給部20が、乾燥ガスとして乾燥した冷却ガスを供給するので、低温曝し試験のために試験室S1の温度を降下させる際にその冷却ガスによって試験室S1の降温を促進することができる。その結果、試験室S1の降温速度を上げることができる。   Moreover, in this 1st Embodiment, since the gas supply part 20 supplies the dry cooling gas as a dry gas, when lowering | hanging the temperature of test room S1 for a low-temperature exposure test, test room S1 is made with the cooling gas. The temperature drop can be promoted. As a result, the temperature lowering rate of the test chamber S1 can be increased.

また、この第1実施形態では、冷却液供給源21から供給される液化冷却ガスの一部を冷却液導入部30により低温室S3に導入することができるので、低温曝し試験のために冷却器8で生成した冷気によって試験室S1の温度を降下させる際の補助冷却手段として、その低温室S3に導入する液化冷却ガスを用いることができる。これにより、冷却器8のみにより試験室S1の温度を降下させる場合に比べて試験室S1の降温をより促進することができる。このため、例えば、試験室S1に収容された試料が多くて試験室S1の温度が下がりにくい場合でも、試験室S1の温度を良好に降下させることができる。また、試験室S1の温度の降下速度を上げたいという要望がある場合でも、その要望に答えて試験室S1の温度の降下速度を上げることができる。   In the first embodiment, a part of the liquefied cooling gas supplied from the cooling liquid supply source 21 can be introduced into the low temperature chamber S3 by the cooling liquid introducing unit 30, so that the cooler is used for the low temperature exposure test. The liquefied cooling gas introduced into the low temperature chamber S3 can be used as auxiliary cooling means when the temperature of the test chamber S1 is lowered by the cold air generated in Step 8. Thereby, compared with the case where only the cooler 8 lowers the temperature of the test chamber S1, the temperature lowering of the test chamber S1 can be further promoted. For this reason, for example, even when there are many samples accommodated in the test chamber S1 and the temperature of the test chamber S1 is difficult to decrease, the temperature of the test chamber S1 can be favorably lowered. Further, even when there is a request to increase the temperature decrease rate of the test chamber S1, the temperature decrease rate of the test chamber S1 can be increased in response to the request.

また、この第1実施形態では、低温曝し試験中、試験室S1と低温室S3の圧力が試験槽2の外部の圧力以上の圧力に保持されるように、ガス供給部20による試験室S1への乾燥冷却ガスの供給と、冷却液導入部30による低温室S3への液化冷却ガスの導入とが行われる。このため、低温曝し試験中に試験室S1から冷気が流出し、試験室S1内の圧力が外部の圧力よりも低下する虞が生じた場合でも、ガス供給部20から試験室S1に供給される乾燥冷却ガス及び冷却液導入部30によって低温室S3に導入される液化冷却ガスにより、試験室S1及び低温室S3の圧力を試験槽2の外部の圧力以上の圧力に保持することができる。このため、低温曝し試験中も試験室S1及び低温室S3に水分を含んだ外気が侵入するのを防ぐことができる。   Further, in the first embodiment, during the low temperature exposure test, the gas supply unit 20 moves to the test chamber S1 so that the pressure in the test chamber S1 and the low temperature chamber S3 is maintained at a pressure higher than the pressure outside the test tank 2. The supply of the dry cooling gas and the introduction of the liquefied cooling gas into the low temperature chamber S3 by the cooling liquid introducing unit 30 are performed. For this reason, even when cold air flows out from the test chamber S1 during the low temperature exposure test and the pressure in the test chamber S1 may be lower than the external pressure, the gas is supplied from the gas supply unit 20 to the test chamber S1. The pressure of the test chamber S1 and the low temperature chamber S3 can be maintained at a pressure equal to or higher than the pressure outside the test chamber 2 by the dry cooling gas and the liquefied cooling gas introduced into the low temperature chamber S3 by the cooling liquid introducing unit 30. For this reason, it is possible to prevent the outside air containing moisture from entering the test chamber S1 and the low temperature chamber S3 even during the low temperature exposure test.

また、この第1実施形態では、低温曝し試験から常温曝し試験への移行時に外気導入手段3により試験室S1に外気が導入されるのに先立って、ガス供給部20により乾燥冷却ガスが試験室S1へ供給される。このため、低温曝し試験から常温曝し試験への移行時に吸入口2p及び吹出し口2qが完全に閉鎖されるよりも先に試験室S1への外気導入が開始される場合であっても、試験室を比較的乾燥した状態に保つことができる。このため、この低温曝し試験から常温曝し試験への移行時に試験室S1から吸入口2p及び吹出し口2qを通じて低温室S3に侵入する水分の量を低減することができる。   Further, in the first embodiment, before the outside air is introduced into the test chamber S1 by the outside air introduction means 3 during the transition from the low temperature exposure test to the room temperature exposure test, the dry cooling gas is supplied from the gas supply unit 20 to the test chamber. To S1. For this reason, even when the introduction of the outside air into the test room S1 is started before the suction port 2p and the air outlet 2q are completely closed at the time of transition from the low temperature exposure test to the normal temperature exposure test, the test room Can be kept relatively dry. Therefore, it is possible to reduce the amount of moisture that enters the low temperature chamber S3 from the test chamber S1 through the suction port 2p and the blowout port 2q during the transition from the low temperature exposure test to the normal temperature exposure test.

(第2実施形態)
次に、図3及び図4を参照して、本発明の第2実施形態による環境試験装置の構成について説明する。
(Second Embodiment)
Next, the configuration of the environmental test apparatus according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

この第2実施形態による環境試験装置では、図3に示すように、ガス供給部20の冷却ガス生成部22は気液分離タンク22eからなり、その気液分離タンク22eに冷却液導入部30が接続されている。   In the environmental test apparatus according to the second embodiment, as shown in FIG. 3, the cooling gas generation unit 22 of the gas supply unit 20 includes a gas-liquid separation tank 22e, and the coolant introduction unit 30 is provided in the gas-liquid separation tank 22e. It is connected.

具体的には、この第2実施形態では、冷却ガス生成部22は、冷却液供給源21から供給配管23を通じて供給される液化冷却ガスから乾燥した冷却ガスを分離可能な気液分離タンク22eからなる。この気液分離タンク22eには、図4に示すように、供給配管23の端部が当該気液分離タンク22eの上端部から少し下側の位置に取り付けられている。液化冷却ガスは、この供給配管23を通じて気液分離タンク22e内に導入される。   Specifically, in the second embodiment, the cooling gas generation unit 22 is supplied from the gas-liquid separation tank 22e that can separate the dried cooling gas from the liquefied cooling gas supplied from the cooling liquid supply source 21 through the supply pipe 23. Become. As shown in FIG. 4, the gas-liquid separation tank 22e has an end portion of the supply pipe 23 attached to a position slightly below the upper end portion of the gas-liquid separation tank 22e. The liquefied cooling gas is introduced into the gas-liquid separation tank 22e through the supply pipe 23.

そして、ガス供給部20のガス導入管25は、気液分離タンク22eにおいて分離された乾燥冷却ガスを当該気液分離タンク22eから導出可能なように当該気液分離タンク22eに接続されている。具体的には、ガス導入管25の端部は、気液分離タンク22eの上端部からその気液分離タンク22e内に挿入されてその気液分離タンク22e内の最上部近傍の位置に配設されている。気液分離タンク22e内では、液化冷却ガスが下側に溜まり、その液化冷却ガスの上側に冷却ガスが溜まる。   The gas introduction pipe 25 of the gas supply unit 20 is connected to the gas-liquid separation tank 22e so that the dry cooling gas separated in the gas-liquid separation tank 22e can be led out from the gas-liquid separation tank 22e. Specifically, the end portion of the gas introduction pipe 25 is inserted into the gas-liquid separation tank 22e from the upper end portion of the gas-liquid separation tank 22e and disposed at a position near the uppermost portion in the gas-liquid separation tank 22e. Has been. In the gas-liquid separation tank 22e, the liquefied cooling gas is accumulated on the lower side, and the cooling gas is accumulated on the upper side of the liquefied cooling gas.

そして、気液分離タンク22eには、加圧用配管22g、加圧コイル部22h、加圧弁22i及び圧力計22jが設けられている。   The gas-liquid separation tank 22e is provided with a pressurizing pipe 22g, a pressurizing coil portion 22h, a pressurizing valve 22i, and a pressure gauge 22j.

加圧用配管22gは、気液分離タンク22e内の最下部近傍とガス導入管25におけるガス供給切換弁26の上流側の部分とを接続している。加圧コイル部22hは、この加圧用配管22gに設けられている。また、加圧弁22iは、この加圧用配管22gのうち加圧コイル部22hよりも気液分離タンク22eの上端部側の部分に設けられている。   The pressurizing pipe 22g connects the vicinity of the lowermost part in the gas-liquid separation tank 22e and the upstream part of the gas supply switching valve 26 in the gas introduction pipe 25. The pressurizing coil portion 22h is provided in the pressurizing pipe 22g. Further, the pressurizing valve 22i is provided in a portion on the upper end side of the gas-liquid separation tank 22e with respect to the pressurizing coil portion 22h in the pressurizing pipe 22g.

気液分離タンク22e内の下部に溜まった液化冷却ガスは、加圧用配管22gを通じて導出され、加圧コイル部22hでの熱交換により気化される。この液化冷却ガスの気化によって生成された冷却ガスの圧力は、液化冷却ガスの圧力よりも高くなる。そして、この冷却ガスは、加圧用配管22gを通じて気液分離タンク22e内にその上部から戻される。この気液分離タンク22e内に戻される冷却ガスの圧力は、加圧弁22iによって所定の設定圧力に調整される。これにより、気液分離タンク22e内の冷却ガス及び液化冷却ガスの圧力は、加圧弁22iによる設定圧力となる。この加圧弁22iによる設定圧力は、供給配管23を通じて気液分離タンク22e内に導入される液化冷却ガスの圧力よりも低い圧力となっている。このため、供給配管23を通じて気液分離タンク22e内に液化冷却ガスが導入されると、その液化冷却ガスの一部は気化して冷却ガスとなる。そのため、気液分離タンク22e内で液化冷却ガスの一部が自然に冷却ガスとして分離する。   The liquefied cooling gas accumulated in the lower part of the gas-liquid separation tank 22e is led out through the pressurizing pipe 22g and is vaporized by heat exchange in the pressurizing coil section 22h. The pressure of the cooling gas generated by the vaporization of the liquefied cooling gas is higher than the pressure of the liquefied cooling gas. And this cooling gas is returned from the upper part in the gas-liquid separation tank 22e through the piping 22g for pressurization. The pressure of the cooling gas returned into the gas-liquid separation tank 22e is adjusted to a predetermined set pressure by the pressurizing valve 22i. Thereby, the pressure of the cooling gas and the liquefied cooling gas in the gas-liquid separation tank 22e becomes the set pressure by the pressurizing valve 22i. The set pressure by the pressurizing valve 22 i is lower than the pressure of the liquefied cooling gas introduced into the gas-liquid separation tank 22 e through the supply pipe 23. For this reason, when the liquefied cooling gas is introduced into the gas-liquid separation tank 22e through the supply pipe 23, a part of the liquefied cooling gas is vaporized to become the cooling gas. Therefore, a part of the liquefied cooling gas is naturally separated as the cooling gas in the gas-liquid separation tank 22e.

また、加圧弁22iによる前記設定圧力は、試験室S1内の圧力よりも高い圧力となっている。これにより、気液分離タンク22eからガス導入管25を通じて冷却ガスが試験室S1内の圧力よりも高い圧力で導出される。   Further, the set pressure by the pressurizing valve 22i is higher than the pressure in the test chamber S1. Thereby, the cooling gas is led out from the gas-liquid separation tank 22e through the gas introduction pipe 25 at a pressure higher than the pressure in the test chamber S1.

圧力計22jは、気液分離タンク22eに接続されたガス導入管25の端部近傍に接続されている。この圧力計22jによって、気液分離タンク22e内からガス導入管25を通じて導出される冷却ガスの圧力が検出可能となっている。   The pressure gauge 22j is connected in the vicinity of the end of the gas introduction pipe 25 connected to the gas-liquid separation tank 22e. The pressure of the cooling gas led out from the gas-liquid separation tank 22e through the gas introduction pipe 25 can be detected by the pressure gauge 22j.

そして、冷却液導入管31は、気液分離タンク22eから液化冷却ガスを導出可能なように当該気液分離タンク22eに接続されている。具体的には、冷却液導入管31は、気液分離タンク22eの上端部からその内部に挿入されている。そして、冷却液導入管31の端部は、気液分離タンク22e内の最下部近傍に配置されている。これにより、気液分離タンク22e内に溜まった液化冷却ガスが当該気液分離タンク22内の圧力により冷却液導入管31を通じて導出されるようになっている。   The coolant introduction pipe 31 is connected to the gas-liquid separation tank 22e so that the liquefied cooling gas can be led out from the gas-liquid separation tank 22e. Specifically, the coolant introduction pipe 31 is inserted into the gas liquid separation tank 22e from the upper end thereof. And the edge part of the cooling fluid introduction pipe | tube 31 is arrange | positioned in the lowermost vicinity in the gas-liquid separation tank 22e. Thereby, the liquefied cooling gas accumulated in the gas-liquid separation tank 22 e is led out through the coolant introduction pipe 31 by the pressure in the gas-liquid separation tank 22.

この第2実施形態による環境試験装置の上記以外の構成は、上記第1実施形態による環境試験装置の構成と同様である。   The other configuration of the environmental test apparatus according to the second embodiment is the same as that of the environmental test apparatus according to the first embodiment.

以上説明したように、この第2実施形態では、冷却ガス生成部22は、冷却液供給源21から供給される液化冷却ガスから乾燥冷却ガスを分離可能な気液分離タンク22eからなる。この気液分離タンク22eでは、導入された液化冷却ガスから乾燥冷却ガスを自然に分離することができるので、ヒータで液化冷却ガスを加熱して強制的に冷却ガスを生成する場合のようなエネルギ消費を防ぐことができる。従って、この第2実施形態では、エネルギコストの増大を防ぎつつ、液化冷却ガスから乾燥冷却ガスを生成してその乾燥冷却ガスを試験室S1に導入することができる。   As described above, in the second embodiment, the cooling gas generation unit 22 includes the gas-liquid separation tank 22 e that can separate the dry cooling gas from the liquefied cooling gas supplied from the cooling liquid supply source 21. In the gas-liquid separation tank 22e, the dry cooling gas can be naturally separated from the introduced liquefied cooling gas, so that the energy required when the liquefied cooling gas is forcibly generated by heating the liquefied cooling gas with a heater. Consumption can be prevented. Therefore, in the second embodiment, it is possible to generate the dry cooling gas from the liquefied cooling gas and introduce the dry cooling gas into the test chamber S1 while preventing an increase in energy cost.

この第2実施形態によるこれ以外の効果は、上記第1実施形態と同様である。   The other effects of the second embodiment are the same as those of the first embodiment.

(第3実施形態)
次に、図5を参照して、本発明の第3実施形態による環境試験装置の構成について説明する。
(Third embodiment)
Next, with reference to FIG. 5, the configuration of the environmental test apparatus according to the third embodiment of the present invention will be described.

この第3実施形態による環境試験装置では、上記第2実施形態と異なり、ガス供給部20のガス導入管25に加熱部27が設けられている。また、この第3実施形態では、供給装置14が、試験室S1に加えて低温室S3にも乾燥ガスを供給可能に構成されている。   In the environmental test apparatus according to the third embodiment, unlike the second embodiment, a heating unit 27 is provided in the gas introduction pipe 25 of the gas supply unit 20. In the third embodiment, the supply device 14 is configured to be able to supply the dry gas to the low temperature chamber S3 in addition to the test chamber S1.

具体的には、加熱部27は、ガス導入管25を流れる冷却ガスの温度を調整可能に構成されている。この加熱部27は、ガス導入管25のうち気液分離タンク22eに接続された端部とガス供給切換弁26が設けられた箇所との間の部分に設けられている。この加熱部27の加熱能力は、制御装置16(図1参照)によって制御される。   Specifically, the heating unit 27 is configured to be able to adjust the temperature of the cooling gas flowing through the gas introduction pipe 25. The heating unit 27 is provided in a portion between the end of the gas introduction pipe 25 connected to the gas-liquid separation tank 22e and the location where the gas supply switching valve 26 is provided. The heating capacity of the heating unit 27 is controlled by the control device 16 (see FIG. 1).

また、供給装置14は、ガス導入管25から低温室S3へ乾燥した冷却ガスを導入可能なバイパス部28を備えている。このバイパス部28は、バイパス管28aと、バイパス切換弁28bとによって構成されている。   In addition, the supply device 14 includes a bypass unit 28 that can introduce dried cooling gas from the gas introduction pipe 25 into the low temperature chamber S3. The bypass portion 28 is configured by a bypass pipe 28a and a bypass switching valve 28b.

バイパス管28aは、ガス導入管25のうちガス供給切換弁26が設けられた箇所よりも試験槽2側(試験室S1側)の部分と冷却液導入管31のうち冷却液供給切換弁32が設けられた箇所よりも試験槽2側(低温室S3側)の部分とを繋いでいる。すなわち、ガス導入管25からこのバイパス管28a及び冷却液導入管31を通じて低温室S3へ乾燥した冷却ガスを導入可能となっている。   The bypass pipe 28 a includes a portion closer to the test tank 2 (test chamber S 1 side) than a portion of the gas introduction pipe 25 where the gas supply switching valve 26 is provided, and a cooling liquid supply switching valve 32 of the cooling liquid introduction pipe 31. The test tank 2 side (low temperature chamber S3 side) part is connected rather than the provided location. That is, the dried cooling gas can be introduced from the gas introduction pipe 25 into the low temperature chamber S3 through the bypass pipe 28a and the coolant introduction pipe 31.

バイパス切換弁28bは、バイパス管28aに設けられている。このバイパス切換弁28bは、電磁弁であり、制御装置16(図1参照)によって開閉制御される。このバイパス切換弁28bの開閉制御によって、ガス導入管25から低温室S3へ冷却ガスを導入するか否かが切り換えられるようになっている。また、このバイパス切換弁28bは、制御装置16によって開度制御される。このバイパス切換弁28bの開度制御によって、ガス導入管25から低温室S3へ導入する冷却ガスの流量が制御されるようになっている。   The bypass switching valve 28b is provided in the bypass pipe 28a. The bypass switching valve 28b is an electromagnetic valve and is controlled to be opened and closed by the control device 16 (see FIG. 1). Whether the cooling gas is introduced from the gas introduction pipe 25 to the low temperature chamber S3 is switched by opening / closing control of the bypass switching valve 28b. Further, the opening degree of the bypass switching valve 28 b is controlled by the control device 16. By controlling the opening degree of the bypass switching valve 28b, the flow rate of the cooling gas introduced from the gas introduction pipe 25 into the low temperature chamber S3 is controlled.

そして、この第3実施形態の環境試験装置による環境試験では、制御装置16は、低温曝し試験の準備段階において冷却器8に冷気を生成させる際、バイパス部28により低温室S3へ乾燥冷却ガスを導入させる。   And in the environmental test by the environmental test apparatus of this 3rd Embodiment, when the control apparatus 16 makes the cooler 8 produce | generate cool air in the preparatory stage of a low temperature exposure test, it makes dry cooling gas to the low temperature room S3 by the bypass part 28. Let it be introduced.

具体的には、低温ダンパ7a,7bにより吸入口2p及び吹出し口2qが閉鎖されて低温室S3が試験室S1と隔離されている状態で、制御装置16は、後に行う低温曝し試験の準備のために冷却器8を稼働させて低温室S3内で冷気を生成させる。この際、制御装置16は、バイパス切換弁28bを開状態にする。これにより、ガス導入管25からバイパス管28a及び冷却液導入管31を通じて低温室S3に乾燥冷却ガスが導入される。それによって、この低温曝し試験の準備段階において、冷却器8により冷気を生成させる際、低温室S3が比較的乾燥した状態となる。   Specifically, in a state where the suction port 2p and the blowout port 2q are closed by the low temperature dampers 7a and 7b and the low temperature chamber S3 is isolated from the test chamber S1, the control device 16 prepares for a low temperature exposure test to be performed later. Therefore, the cooler 8 is operated to generate cool air in the low temperature chamber S3. At this time, the control device 16 opens the bypass switching valve 28b. As a result, the dry cooling gas is introduced from the gas introduction pipe 25 into the low temperature chamber S3 through the bypass pipe 28a and the coolant introduction pipe 31. Thereby, in the preparation stage of this low temperature exposure test, when generating cool air by the cooler 8, the low temperature chamber S3 is in a relatively dry state.

また、この第3実施形態では、常温曝し試験の後に低温曝し試験を行う際、制御装置16は、その常温曝し試験の最終段階において、外気導入手段3による試験室S1への外気の導入を停止させるとともに、加熱部27により常温に調整させた乾燥冷却ガスをガス供給部20から試験室S1へ供給させる。   In the third embodiment, when the low temperature exposure test is performed after the room temperature exposure test, the control device 16 stops the introduction of the outside air into the test room S1 by the outside air introduction means 3 in the final stage of the room temperature exposure test. At the same time, the dry cooling gas adjusted to room temperature by the heating unit 27 is supplied from the gas supply unit 20 to the test chamber S1.

具体的には、制御装置16は、常温曝し試験の後に低温曝し試験を行う場合に、その常温曝し試験中に加熱部27を稼動させてガス導入管25内の乾燥冷却ガスを常温まで暖めておく。この際、ガス供給切換弁26は、閉状態である。そして、この常温曝し試験の最終段階において、制御装置16は、外気ダンパ3a,3b(図1参照)に外気導入口2e及び排気口2fを閉鎖させるとともに、ガス供給切換弁26を開状態とする。これにより、試験室S1への外気の導入が停止される一方、常温に調整された乾燥冷却ガスが試験室S1に導入される。すなわち、この第3実施形態では、常温曝し試験の終了時点よりも前の時点で、試験室S1への外気導入を常温の乾燥冷却ガスの導入に切り換える。なお、この外気導入から常温の冷却ガスの導入への切り換えは、低温曝し試験のために低温ダンパ7a,7bにより吸入口2p及び吹出し口2qを開放させる時点から所定時間前(例えば30秒程度前)に行われる。   Specifically, when performing the low temperature exposure test after the normal temperature exposure test, the control device 16 operates the heating unit 27 during the normal temperature exposure test to warm the dry cooling gas in the gas introduction pipe 25 to the normal temperature. deep. At this time, the gas supply switching valve 26 is in a closed state. In the final stage of the room temperature exposure test, the control device 16 causes the outside air dampers 3a and 3b (see FIG. 1) to close the outside air introduction port 2e and the exhaust port 2f and opens the gas supply switching valve 26. . Thereby, the introduction of the outside air into the test chamber S1 is stopped, while the dry cooling gas adjusted to room temperature is introduced into the test chamber S1. That is, in the third embodiment, at a time before the end of the normal temperature exposure test, the introduction of the outside air into the test chamber S1 is switched to the introduction of the dry cooling gas at the normal temperature. The switching from the introduction of the outside air to the introduction of the cooling gas at room temperature is performed for a predetermined time (for example, about 30 seconds before the time when the suction port 2p and the discharge port 2q are opened by the low temperature dampers 7a and 7b for the low temperature exposure test. ).

この第3実施形態による環境試験装置の上記以外の構成及び動作は、上記第2実施形態による環境試験装置の構成及び動作と同様である。   Other configurations and operations of the environmental test apparatus according to the third embodiment are the same as those of the environmental test apparatus according to the second embodiment.

以上説明したように、この第3実施形態では、低温曝し試験を行う前の常温曝し試験の最終段階において、試験室S1への外気導入を停止させる一方、常温に調整した乾燥冷却ガスを試験室S1へ供給する。これにより、低温曝し試験を行う前の常温曝し試験の最終段階では、試験室S1の温度を常温に保ちつつ、その試験室S1の湿度を低下させることができる。   As described above, in the third embodiment, in the final stage of the normal temperature exposure test before performing the low temperature exposure test, the introduction of the outside cooling air into the test room S1 is stopped while the dry cooling gas adjusted to the normal temperature is used in the test room. Supply to S1. Thereby, in the final stage of the room temperature exposure test before performing the low temperature exposure test, the humidity of the test room S1 can be lowered while keeping the temperature of the test room S1 at room temperature.

ところで、常温曝し試験による試験室S1への外気導入の後、低温曝し試験への移行時に試験室S1から低温室S3に水分が入り込んで冷却器8の蒸発器に着霜が生じるのを防ぐためには、常温曝し試験の後、低温曝し試験に移行する前に試験室S1に乾燥ガスを導入する期間を別途設けて、試験室S1の湿度を低下させることも考えられる。しかし、この場合には、試験時間が増大するという問題が生じる。これに対して、この第3実施形態では、低温曝し試験を行う前の常温曝し試験の最終段階において、試験室S1の温度を常温に保ちつつ、その試験室S1の湿度を低下させることができる。このため、常温曝し試験の後、すぐに低温曝し試験のために吸入口2p及び吹出し口2qを開放して低温室S3と試験室S1とを連通状態にしても、試験室S1から低温室S3へ入り込む水分の量を低減することができる。このため、この第3実施形態では、試験時間の増大を防ぎながら、冷却器8の蒸発器に対する着霜を低減することができる。   By the way, in order to prevent moisture from entering the low temperature chamber S3 from the test chamber S1 and the frost formation in the evaporator of the cooler 8 during the transition to the low temperature exposure test after introducing the outside air into the test chamber S1 by the normal temperature exposure test. It is also conceivable to reduce the humidity of the test chamber S1 by separately providing a period for introducing the dry gas into the test chamber S1 after the normal temperature exposure test and before shifting to the low temperature test. However, in this case, there is a problem that the test time increases. On the other hand, in the third embodiment, in the final stage of the normal temperature exposure test before the low temperature exposure test is performed, the humidity of the test chamber S1 can be reduced while keeping the temperature of the test chamber S1 at the normal temperature. . Therefore, immediately after the normal temperature exposure test, even if the low temperature chamber S3 and the test chamber S1 are in communication with each other by opening the suction port 2p and the outlet port 2q for the low temperature exposure test, the low temperature chamber S3 is changed from the test chamber S1 to the low temperature chamber S3. The amount of moisture that enters can be reduced. For this reason, in this 3rd Embodiment, frost formation with respect to the evaporator of the cooler 8 can be reduced, preventing the increase in test time.

また、低温曝し試験から常温曝し試験への移行時、すなわち、低温ダンパ7a,7bにより吸入口2p及び吹出し口2qが閉鎖されつつ、外気ダンパ3a,3bにより外気導入口2e及び排気口2fが開放されていく時には、試験室S1に導入される外気中の水分がまだ完全に閉鎖されていない吸入口2pを通って低温室S3へわずかに侵入する場合がある。低温室S3へ侵入した水分は、以降に再び実施する低温曝し試験の準備段階において冷却器8により冷気を生成する際、その冷却器8の蒸発器に対する着霜の原因となる。また、低温曝し試験の準備段階では、低温室S3の温度が低下するのに伴って低温室S3が試験槽2の外部に対して負圧となる虞がある。この場合には、外気が、試験槽2に存在する各種の微小な隙間(試験槽2の外部から低温室S3へ図略の冷凍配管を通すための孔のシール部の隙間や、試験槽2のうち低温室S3を形成する部分に設けられた図略のメンテナンス蓋の隙間等)を通じて低温室S3にわずかに侵入する虞がある。この場合も、低温室S3に侵入する外気に含まれる水分が冷却器8の蒸発器に対する着霜の原因となる。これに対して、この第3実施形態では、低温曝し試験の準備段階において冷却器8に冷気を生成させる際、バイパス部28により低温室S3へ乾燥冷却ガスを導入させるので、低温室S3を比較的乾燥した状態にすることができるとともに、低温室S3を試験槽2の外部に対して陽圧に保って前記微小な隙間を通じての低温室S3への外気の侵入を防ぐことができる。このため、低温曝し試験の準備段階での冷却器8の蒸発器に対する着霜を低減することができる。   Further, at the time of transition from the low temperature exposure test to the normal temperature exposure test, that is, the intake port 2p and the outlet 2q are closed by the low temperature dampers 7a and 7b, while the outside air introduction ports 2e and the exhaust port 2f are opened by the outside air dampers 3a and 3b. When being done, the moisture in the outside air introduced into the test chamber S1 may slightly enter the low temperature chamber S3 through the suction port 2p that has not been completely closed. The moisture that has entered the low greenhouse S3 causes frost formation on the evaporator of the cooler 8 when cold air is generated by the cooler 8 in the preparatory stage of the low temperature exposure test to be performed again thereafter. Further, in the preparation stage of the low temperature exposure test, there is a possibility that the low temperature chamber S3 becomes a negative pressure with respect to the outside of the test tank 2 as the temperature of the low temperature chamber S3 decreases. In this case, the outside air has various minute gaps existing in the test tank 2 (gap in a seal portion of a hole for passing a refrigeration pipe (not shown) from the outside of the test tank 2 to the low temperature chamber S3, and the test tank 2). Among them, there is a risk of slightly entering the low temperature chamber S3 through a maintenance cover (not shown) provided in a portion forming the low temperature chamber S3. Also in this case, moisture contained in the outside air entering the low temperature chamber S3 causes frost formation on the evaporator of the cooler 8. On the other hand, in the third embodiment, when the cooler 8 generates cold air in the preparation stage for the low temperature exposure test, the dry cooling gas is introduced into the low temperature chamber S3 by the bypass unit 28, so the low temperature chamber S3 is compared. In addition, the low-temperature chamber S3 can be kept at a positive pressure with respect to the outside of the test tank 2, and the entry of outside air into the low-temperature chamber S3 through the minute gap can be prevented. For this reason, the frost formation with respect to the evaporator of the cooler 8 in the preparation stage of a low-temperature exposure test can be reduced.

この第3実施形態による上記以外の効果は、上記第2実施形態による効果と同様である。   The other effects of the third embodiment are the same as the effects of the second embodiment.

(第4実施形態)
次に、図6を参照して、本発明の第4実施形態による環境試験装置の構成について説明する。
(Fourth embodiment)
Next, with reference to FIG. 6, the structure of the environmental test apparatus by 4th Embodiment of this invention is demonstrated.

この第4実施形態による環境試験装置では、ガス供給部20に貯留タンク40と乾燥空気供給部42とが設けられており、乾燥空気供給部42から供給される乾燥空気と、気液分離タンク22eから導出される乾燥した冷却ガスとが貯留タンク40で混合された後、試験室S1へ導入されるようになっている。   In the environmental test apparatus according to the fourth embodiment, the gas supply unit 20 is provided with a storage tank 40 and a dry air supply unit 42, and the dry air supplied from the dry air supply unit 42 and the gas-liquid separation tank 22e. After the dry cooling gas derived from is mixed in the storage tank 40, it is introduced into the test chamber S1.

具体的には、貯留タンク40は、ガス供給部20のガス導入管25のうち気液分離タンク22eに接続された端部とガス供給切換弁26が設けられた箇所との間の部分に設けられている。この貯留タンク40は、気液分離タンク22eからガス導入管25を通じて試験室S1へ導入する乾燥冷却ガスを一旦貯留するためのものである。この貯留タンク40内の圧力は、試験室S1内の圧力よりも高く、かつ、気液分離タンク22e内の圧力以下の圧力となっている。   Specifically, the storage tank 40 is provided in a portion between an end connected to the gas-liquid separation tank 22e in the gas introduction pipe 25 of the gas supply unit 20 and a portion where the gas supply switching valve 26 is provided. It has been. The storage tank 40 is for temporarily storing the dry cooling gas introduced from the gas-liquid separation tank 22e into the test chamber S1 through the gas introduction pipe 25. The pressure in the storage tank 40 is higher than the pressure in the test chamber S1 and is equal to or lower than the pressure in the gas-liquid separation tank 22e.

ガス導入管25のうち貯留タンク40と気液分離タンク22eとの間の部分には、逆流防止弁44が設けられている。この逆流防止弁44により、貯留タンク40からガス導入管25を通じて気液分離タンク22e側へガスが逆流するのが防止されている。   A backflow prevention valve 44 is provided in a portion of the gas introduction pipe 25 between the storage tank 40 and the gas-liquid separation tank 22e. The backflow prevention valve 44 prevents the gas from flowing back from the storage tank 40 to the gas-liquid separation tank 22e through the gas introduction pipe 25.

乾燥空気供給部42は、貯留タンク40に乾燥空気を供給可能に構成されている。この乾燥空気供給部42は、乾燥空気生成部42aと、貯留タンク導入管42bと、排水管42cと、ポンプ42dとを有する。   The dry air supply unit 42 is configured to be able to supply dry air to the storage tank 40. The dry air supply unit 42 includes a dry air generation unit 42a, a storage tank introduction pipe 42b, a drain pipe 42c, and a pump 42d.

乾燥空気生成部42aは、液化冷却ガスが導入された気液分離タンク22eの外面と熱交換することにより空気を冷却して除湿し、それによって乾燥空気を生成するものである。この乾燥空気生成部42aは、その内部を空気が流通可能な細い管状の部材からなり、気液分離タンク22eの外面に巻回されている。この乾燥空気生成部42aは、気液分離タンク22eの外面と接触してその気液分離タンク22eと熱交換可能な材料によって形成されている。そして、この乾燥空気生成部42aには、その一端部から空気が導入されるようになっている。この乾燥空気生成部42aの一端部から導入される空気は、大気から導入される。また、乾燥空気生成部42aの他端部は、貯留タンク導入管42bを介して貯留タンク40に接続されている。   The dry air generation unit 42a cools and dehumidifies the air by exchanging heat with the outer surface of the gas-liquid separation tank 22e into which the liquefied cooling gas has been introduced, thereby generating dry air. The dry air generating unit 42a is formed of a thin tubular member through which air can flow, and is wound around the outer surface of the gas-liquid separation tank 22e. The dry air generating unit 42a is formed of a material that contacts the outer surface of the gas-liquid separation tank 22e and can exchange heat with the gas-liquid separation tank 22e. And air is introduced into this dry air generation part 42a from the one end. The air introduced from one end of the dry air generating unit 42a is introduced from the atmosphere. The other end of the dry air generating unit 42a is connected to the storage tank 40 via a storage tank introduction pipe 42b.

排水管42cは、貯留タンク導入管42bに接続されている。この排水管42cは、乾燥空気生成部42aにおける空気の除湿によって生じる水を排出するためのものである。貯留タンク導入管42bに対する排水管42cの接続部分には、図略のタンク状の部分が設けられている。このタンク状の部分の上部から除湿後の空気と除湿によって生じた水とが共に導入され、乾燥空気だけがタンク状の部分の上部から貯留タンク導入管42bを通じて貯留タンク40側へ流れる一方、タンク状の部分の下部に溜まった水は、そのタンク状の部分の下部から排水管42cを通じて排出される。なお、このタンク状の部分の代わりに、遠心分離器等の分離器を貯留タンク導入管42bに対する排水管42cの接続部分に設けて乾燥空気と除湿によって生じた水とを強制的に分離し、乾燥空気だけを貯留タンク導入管42bを通じて貯留タンク40側へ流すとともに、除湿によって生じた水は排水管42cを通じて排出してもよい。   The drain pipe 42c is connected to the storage tank introduction pipe 42b. This drain pipe 42c is for discharging the water generated by the dehumidification of air in the dry air generating section 42a. An unillustrated tank-like portion is provided at a connection portion of the drain pipe 42c with respect to the storage tank introduction pipe 42b. Both the air after dehumidification and the water generated by dehumidification are introduced from the upper part of the tank-like part, and only dry air flows from the upper part of the tank-like part to the storage tank 40 side through the storage tank introduction pipe 42b. Water accumulated in the lower part of the tank-shaped part is discharged from the lower part of the tank-shaped part through the drain pipe 42c. Instead of this tank-shaped part, a separator such as a centrifugal separator is provided at the connection part of the drain pipe 42c to the storage tank introduction pipe 42b to forcibly separate dry air and water generated by dehumidification, While only dry air is allowed to flow to the storage tank 40 side through the storage tank introduction pipe 42b, water generated by dehumidification may be discharged through the drain pipe 42c.

ポンプ42dは、貯留タンク導入管42bのうち排水管42cが接続された箇所と貯留タンク40に接続された箇所との間の部分に設けられている。   The pump 42d is provided in a portion between the location where the drain pipe 42c is connected and the location where the drain tank 42c is connected in the storage tank introduction tube 42b.

そして、この第4実施形態の環境試験装置では、環境試験の開始時点においてガス供給切換弁26が閉じられた状態で、ポンプ42dが駆動されることによって乾燥空気生成部42aに大気から空気が導入される。一方、気液分離タンク22eには、冷却液供給源21(図3参照)から供給配管23を通じて液化冷却ガスが導入されている。これにより、気液分離タンク22eの外面は、低温となっている。   In the environmental test apparatus according to the fourth embodiment, air is introduced from the atmosphere into the dry air generation unit 42a by driving the pump 42d with the gas supply switching valve 26 closed at the start of the environmental test. Is done. On the other hand, liquefied cooling gas is introduced into the gas-liquid separation tank 22e through the supply pipe 23 from the coolant supply source 21 (see FIG. 3). As a result, the outer surface of the gas-liquid separation tank 22e is at a low temperature.

乾燥空気生成部42a内に導入された空気は、乾燥空気生成部42aを介してこの低温の気液分離タンク22eの外面と熱交換する。これにより、乾燥空気生成部42a内の空気は、冷却されて除湿される。それによって、乾燥空気生成部42a内で乾燥空気が生成される。この生成された乾燥空気は、ポンプ42dの駆動により乾燥空気生成部42aから貯留タンク導入管42bを通じて貯留タンク40へ導入される。一方、乾燥空気生成部42aでの空気の除湿に伴って生じる水は、排水管42cを通じて排出される。また、貯留タンク40には、気液分離タンク22eで分離された乾燥冷却ガスがガス導入管25を通じて導入される。これにより、貯留タンク40内で乾燥空気と乾燥冷却ガスとが混合される。そして、制御装置16(図1参照)がガス供給切換弁26を開状態にしたとき、貯留タンク40からガス導入管25を通じて乾燥空気と乾燥冷却ガスとの混合ガスが試験室S1へ供給される。   The air introduced into the dry air generator 42a exchanges heat with the outer surface of the low-temperature gas-liquid separation tank 22e via the dry air generator 42a. Thereby, the air in the dry air production | generation part 42a is cooled and dehumidified. Thereby, dry air is generated in the dry air generating unit 42a. The generated dry air is introduced into the storage tank 40 from the dry air generation unit 42a through the storage tank introduction pipe 42b by driving the pump 42d. On the other hand, the water generated as the air is dehumidified in the dry air generator 42a is discharged through the drain pipe 42c. In addition, the dry cooling gas separated in the gas-liquid separation tank 22e is introduced into the storage tank 40 through the gas introduction pipe 25. Thereby, dry air and dry cooling gas are mixed in the storage tank 40. When the control device 16 (see FIG. 1) opens the gas supply switching valve 26, a mixed gas of dry air and dry cooling gas is supplied from the storage tank 40 through the gas introduction pipe 25 to the test chamber S1. .

この第4実施形態による環境試験装置の上記以外の構成及び動作は、上記第2実施形態による環境試験装置の構成及び動作と同様である。   Other configurations and operations of the environmental test apparatus according to the fourth embodiment are the same as those of the environmental test apparatus according to the second embodiment.

以上説明したように、この第4実施形態では、乾燥空気供給部42から供給された乾燥空気と気液分離タンク22eからガス導入管25を通じて導出された乾燥冷却ガスとを貯留タンク40内で混合することができる。そして、この乾燥空気と乾燥冷却ガスの混合ガスを貯留タンク40からガス導入管25を通じて試験室S1に導入することができる。このため、乾燥空気の分、試験室S1への冷却ガスの供給量を削減することができる。その結果、冷却液供給源21から供給する液化冷却ガスの消費量を低減することができる。   As described above, in the fourth embodiment, the dry air supplied from the dry air supply unit 42 and the dry cooling gas led out from the gas-liquid separation tank 22e through the gas introduction pipe 25 are mixed in the storage tank 40. can do. Then, the mixed gas of the dry air and the dry cooling gas can be introduced into the test chamber S1 from the storage tank 40 through the gas introduction pipe 25. For this reason, the amount of cooling gas supplied to the test chamber S1 can be reduced by the amount of dry air. As a result, the consumption of the liquefied cooling gas supplied from the coolant supply source 21 can be reduced.

また、この第4実施形態では、乾燥空気生成部42aにおいて、液化冷却ガスが導入された気液分離タンク22eの冷熱を利用して乾燥空気を生成することができる。このため、乾燥機を駆動して空気を乾燥させる構成に比べ、エネルギコストの低減を図ることができる。   Moreover, in this 4th Embodiment, in the dry air production | generation part 42a, dry air can be produced | generated using the cold heat of the gas-liquid separation tank 22e into which liquefied cooling gas was introduce | transduced. For this reason, compared with the structure which drives a dryer and dries air, reduction of energy cost can be aimed at.

また、この第4実施形態では、乾燥空気生成部42aと気液分離タンク22eとの熱交換の際、気液分離タンク22eが温められる。それによって、気液分離タンク22e内では、液化冷却ガスの気化が促進される。このため、気液分離タンク22e内において冷却ガスを良好に生成することができる。従って、この第4実施形態では、エネルギコストの増大を防ぎつつ、乾燥空気を生成することができるとともに、気液分離タンク22e内で冷却ガスを良好に生成することができる。   Moreover, in this 4th Embodiment, the gas-liquid separation tank 22e is warmed at the time of heat exchange with the dry air production | generation part 42a and the gas-liquid separation tank 22e. Thereby, vaporization of the liquefied cooling gas is promoted in the gas-liquid separation tank 22e. For this reason, the cooling gas can be generated satisfactorily in the gas-liquid separation tank 22e. Therefore, in this 4th Embodiment, while preventing the increase in energy cost, while being able to produce | generate dry air, cooling gas can be favorably produced | generated in the gas-liquid separation tank 22e.

この第4実施形態による上記以外の効果は、上記第2実施形態による効果と同様である。   The other effects of the fourth embodiment are the same as the effects of the second embodiment.

なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれる。   The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is shown not by the above description of the embodiments but by the scope of claims for patent, and further includes meanings equivalent to the scope of claims for patent and all modifications within the scope.

例えば、供給装置14に冷却液導入部30が設けられていなくてもよい。すなわち、供給装置14にガス供給部20のみが設けられていてもよい。   For example, the coolant introduction unit 30 may not be provided in the supply device 14. That is, only the gas supply unit 20 may be provided in the supply device 14.

また、供給装置14が供給する乾燥ガスは、上記実施形態で示した乾燥冷却ガスに限定されない。すなわち、供給装置14が供給する乾燥ガスは、液化冷却ガスを気化させて生成した冷却ガスに限らず、乾燥空気やその他の種類の乾燥ガスであってもよい。   Further, the dry gas supplied by the supply device 14 is not limited to the dry cooling gas shown in the above embodiment. That is, the dry gas supplied by the supply device 14 is not limited to the cooling gas generated by vaporizing the liquefied cooling gas, but may be dry air or other types of dry gas.

また、冷却液導入部30は、試験室S1に液化冷却ガスを導入するように構成されていてもよい。この場合には、試験槽2の側壁2dのうち試験室S1を形成する部分に貫通孔を形成し、その貫通孔を通じて冷却液導入管31の端部を試験室S1内に挿入すればよい。また、冷却液導入部30は、試験室S1と低温室S3の両方に液化冷却ガスを導入するように構成されていてもよい。この場合には、冷却液導入管31を途中で2つに分岐させてその分岐した一方の管を第2導入孔2uを通じて低温室S3に挿入するとともに、分岐したもう一方の管を側壁2dの試験室S1を形成する部分に設けた貫通孔を通じて試験室S1に挿入すればよい。   Further, the coolant introduction unit 30 may be configured to introduce a liquefied cooling gas into the test chamber S1. In this case, a through hole is formed in a portion of the side wall 2d of the test tank 2 where the test chamber S1 is formed, and the end of the coolant introduction pipe 31 may be inserted into the test chamber S1 through the through hole. Further, the coolant introduction unit 30 may be configured to introduce the liquefied cooling gas into both the test chamber S1 and the low temperature chamber S3. In this case, the coolant introduction pipe 31 is branched into two in the middle, and the one branched pipe is inserted into the low temperature chamber S3 through the second introduction hole 2u, and the other branched pipe is connected to the side wall 2d. What is necessary is just to insert in test chamber S1 through the through-hole provided in the part which forms test chamber S1.

また、低温曝し試験中において、ガス供給部20から冷却ガスを試験室S1に供給することのみによって試験室S1と低温室S3の圧力を試験槽2の外部の圧力以上の圧力に保持してもよい。また、低温曝し試験中において、冷却液導入部30から液化冷却ガスを低温室S3に供給することのみによって試験室S1と低温室S3の圧力を試験槽2の外部の圧力以上の圧力に保持してもよい。   Further, during the low-temperature exposure test, the pressure in the test chamber S1 and the low-temperature chamber S3 can be maintained at a pressure equal to or higher than the pressure outside the test chamber 2 only by supplying the cooling gas from the gas supply unit 20 to the test chamber S1. Good. Further, during the low-temperature exposure test, the pressure in the test chamber S1 and the low-temperature chamber S3 is maintained at a pressure equal to or higher than the pressure outside the test chamber 2 only by supplying the liquefied cooling gas from the coolant introduction unit 30 to the low-temperature chamber S3. May be.

また、上記実施形態では、高温曝し試験、常温曝し試験、低温曝し試験及び常温曝し試験をこの順番で行う試験サイクルを繰り返す環境試験の例を示したが、低温曝し試験、常温曝し試験、高温曝し試験及び常温曝し試験をこの順番で行う試験サイクルを繰り返す環境試験を環境試験装置で行ってもよい。この場合の環境試験装置にも本発明を適用することが可能である。   In the above embodiment, an example of an environmental test in which a high temperature exposure test, a normal temperature exposure test, a low temperature exposure test, and a normal temperature exposure test are repeated in this order is shown. You may perform an environmental test which repeats the test cycle which performs a test and a normal temperature exposure test in this order with an environmental test apparatus. The present invention can also be applied to an environmental test apparatus in this case.

また、試験槽2内に高温室S2が設けられていなくてもよい。   Further, the high temperature chamber S2 may not be provided in the test tank 2.

また、排気口2fとガス導入管25とは、できる限り離間して配設することが好ましい。この場合には、ガス導入管25を通じて試験室S1に導入された乾燥冷却ガスがすぐに排気口2fを通じて排出されるのを抑制することができる。   Further, it is preferable that the exhaust port 2f and the gas introduction pipe 25 are arranged as far apart as possible. In this case, the dry cooling gas introduced into the test chamber S1 through the gas introduction pipe 25 can be prevented from being immediately discharged through the exhaust port 2f.

また、図1で示した外気導入口2eと排気口2fの位置を互いに入れ替えてもよい。   Further, the positions of the outside air introduction port 2e and the exhaust port 2f shown in FIG. 1 may be interchanged.

また、気液分離タンクは、図4の構成のものに限られない。   Further, the gas-liquid separation tank is not limited to the one shown in FIG.

また、外気導入用送風機3cと排気用送風機3dのうちいずれか一方を省略してもよい。   Further, either one of the outside air introduction blower 3c and the exhaust blower 3d may be omitted.

2 試験槽
2d 壁部
2g 第1導入孔(貫通孔)
2p 吸入口(連通口)
2q 吹出し口(連通口)
3 外気導入手段
7a、7b 低温ダンパ
8 冷却器
14 供給装置
16 制御装置
21 冷却液供給源
22 冷却ガス生成部
22e 気液分離タンク
25 ガス導入管(ガス導入路)
27 加熱部
28 バイパス部
30 冷却液導入部
40 貯留タンク
42 乾燥空気供給部
42a 乾燥空気生成部
S1 試験室
S3 低温室
W 試料
2 Test tank 2d Wall 2g First introduction hole (through hole)
2p suction port (communication port)
2q outlet (communication opening)
3 Outside air introduction means 7a, 7b Low temperature damper 8 Cooler 14 Supply device 16 Control device 21 Coolant supply source 22 Cooling gas generator 22e Gas-liquid separation tank 25 Gas introduction pipe (gas introduction path)
27 Heating unit 28 Bypass unit 30 Coolant introduction unit 40 Storage tank 42 Dry air supply unit 42a Dry air generation unit S1 Test chamber S3 Low greenhouse W Sample

Claims (12)

試料を収容可能な試験室と前記試験室に連通口を介して繋がる低温室とが内部に設けられた試験槽と、前記低温室内で冷気を生成する冷却器と、前記連通口を開閉可能な低温ダンパと、前記試験室へ外気を導入可能な外気導入手段とを備え、前記低温ダンパに前記連通口を開放させて前記低温室から前記試験室に冷気を流入させることにより、その試験室に収容された試料を低温の雰囲気に曝す低温曝し試験と、前記外気導入手段によって前記試験室に外気を導入することによりその試験室に収容された試料を常温の雰囲気に曝す常温曝し試験とを行うことが可能な環境試験装置であって、
乾燥ガスを前記試験室に供給可能な供給装置と、
前記常温曝し試験から前記低温曝し試験への移行時において、前記低温ダンパに前記連通口を開放させるのに先立つタイミングで、前記供給装置に前記試験室への乾燥ガスの供給を開始させて前記試験室内の湿度を低下させるとともに、その後、前記試験室の温度が降下する過程においても前記供給装置に前記試験室への乾燥ガスの供給を行わせる制御装置とを備えた、環境試験装置。
A test chamber in which a test chamber capable of accommodating a sample and a low-temperature chamber connected to the test chamber via a communication port, a cooler for generating cold air in the low-temperature chamber, and the communication port can be opened and closed A low-temperature damper and an outside air introduction means capable of introducing outside air into the test chamber, and by opening the communication port to the low-temperature damper and flowing cold air from the low-temperature chamber into the test chamber, A low-temperature exposure test in which the stored sample is exposed to a low-temperature atmosphere, and a normal-temperature exposure test in which the sample stored in the test chamber is exposed to a normal-temperature atmosphere by introducing the external air into the test chamber by the external air introduction means. An environmental testing device capable of
A supply device capable of supplying dry gas to the test chamber;
During the transition to the low-temperature exposure test from the normal temperature exposure test, the in Sakiritsu one timing for opening the communication port, said by starting the supply of dry gas to the test chamber to the supply device to said cold damper An environmental test apparatus comprising: a controller that lowers the humidity in the test chamber and causes the supply device to supply dry gas to the test chamber even in the process of lowering the temperature of the test chamber.
前記供給装置は、前記乾燥ガスとして乾燥した冷却ガスを供給する、請求項1に記載の環境試験装置。   The environmental test apparatus according to claim 1, wherein the supply device supplies a dried cooling gas as the dry gas. 前記供給装置は、液化冷却ガスを供給する冷却液供給源と、その冷却液供給源が供給する液化冷却ガスから乾燥した冷却ガスを生成可能な冷却ガス生成部と、その冷却ガス生成部において生成された乾燥した冷却ガスを前記試験室に導入可能なガス導入路とを含む、請求項2に記載の環境試験装置。   The supply device includes a cooling liquid supply source that supplies a liquefied cooling gas, a cooling gas generation unit that can generate a dry cooling gas from the liquefied cooling gas supplied by the cooling liquid supply source, and a cooling gas generation unit that generates the cooling gas. The environmental test apparatus according to claim 2, further comprising a gas introduction path through which the dried and cooled cooling gas can be introduced into the test chamber. 前記供給装置は、前記冷却液供給源から供給される液化冷却ガスの一部を前記低温室と前記試験室の少なくとも一方に導入可能な冷却液導入部を含む、請求項3に記載の環境試験装置。   The environmental test according to claim 3, wherein the supply device includes a coolant introduction unit capable of introducing a part of the liquefied coolant gas supplied from the coolant supply source into at least one of the low temperature chamber and the test chamber. apparatus. 前記冷却ガス生成部は、前記冷却液供給源から供給される液化冷却ガスから乾燥した冷却ガスを分離可能な気液分離タンクを含み、
前記ガス導入路は、前記気液分離タンクにおいて分離された冷却ガスをその気液分離タンクから導出可能なように当該気液分離タンクに接続され、
前記冷却液導入部は、前記気液分離タンクから液化冷却ガスを導出可能なように当該気液分離タンクに接続されている、請求項4に記載の環境試験装置。
The cooling gas generation unit includes a gas-liquid separation tank capable of separating the dried cooling gas from the liquefied cooling gas supplied from the cooling liquid supply source,
The gas introduction path is connected to the gas-liquid separation tank so that the cooling gas separated in the gas-liquid separation tank can be led out from the gas-liquid separation tank,
The environmental test apparatus according to claim 4, wherein the coolant introduction unit is connected to the gas-liquid separation tank so that liquefied cooling gas can be led out from the gas-liquid separation tank.
前記供給装置は、前記ガス導入路に設けられ、前記試験室に導入するガスを一旦貯留するための貯留タンクと、前記貯留タンクに乾燥空気を供給可能な乾燥空気供給部とを含む、請求項3〜5のいずれか1項に記載の環境試験装置。   The said supply apparatus is provided in the said gas introduction path, The storage tank for once storing the gas introduced into the said test chamber, The dry air supply part which can supply dry air to the said storage tank, The dry air supply part is provided. The environmental test apparatus according to any one of 3 to 5. 前記乾燥空気供給部は、液化冷却ガスが導入された前記気液分離タンクの外面と熱交換することにより空気を冷却して除湿し、乾燥空気を生成する乾燥空気生成部を有する、請求項6に記載の環境試験装置。   The said dry air supply part has a dry air production | generation part which cools and dehumidifies air by heat-exchanging with the outer surface of the said gas-liquid separation tank in which liquefied cooling gas was introduce | transduced, and produces | generates dry air. The environmental test apparatus described in 1. 前記ガス導入路には、そのガス導入路を流れる乾燥した冷却ガスの温度を調整可能な加熱部が設けられ、
前記制御装置は、前記低温曝し試験を行う前の前記常温曝し試験の最終段階において、前記外気導入手段による前記試験室への外気の導入を停止させるとともに、前記供給装置に前記加熱部により常温に調整させた乾燥した冷却ガスを前記試験室へ供給させる、請求項3〜7のいずれか1項に記載の環境試験装置。
The gas introduction path is provided with a heating unit capable of adjusting the temperature of the dried cooling gas flowing through the gas introduction path,
In the final stage of the room temperature exposure test before performing the low temperature exposure test, the control device stops the introduction of outside air into the test chamber by the outside air introduction means, and causes the heating device to bring the supply device to room temperature. The environmental test apparatus according to claim 3, wherein the adjusted dry cooling gas is supplied to the test chamber.
前記供給装置は、前記試験室に加えて前記低温室にも乾燥ガスを供給可能に構成され、
前記制御装置は、前記低温曝し試験の準備段階において前記冷却器に冷気を生成させる際、前記供給装置に前記低温室への乾燥ガスの供給を行わせる、請求項1〜8のいずれか1項に記載の環境試験装置。
The supply device is configured to be able to supply dry gas to the low temperature chamber in addition to the test chamber,
The said control apparatus makes the said supply apparatus supply the dry gas to the said low-temperature chamber, when making the said cooler produce | generate cold air in the preparation stage of the said low temperature exposure test, The any one of Claims 1-8. The environmental test apparatus described in 1.
前記制御装置は、前記低温曝し試験中、前記試験室と前記低温室の圧力が前記試験槽の外部の圧力以上の圧力に保持されるように前記供給装置による前記試験室への乾燥ガスの供給を行わせる、請求項1〜9のいずれか1項に記載の環境試験装置。   The controller supplies dry gas to the test chamber by the supply device so that the pressure in the test chamber and the low temperature chamber is maintained at a pressure equal to or higher than the pressure outside the test tank during the low temperature exposure test. The environmental test apparatus according to any one of claims 1 to 9, wherein: 前記制御装置は、前記低温曝し試験中、前記試験室と前記低温室の圧力が前記試験槽の外部の圧力以上の圧力に保持されるように、前記供給装置による前記試験室への乾燥した冷却ガスの供給と、前記冷却液導入部による前記低温室と前記試験室の少なくとも一方への液化冷却ガスの導入とのうち少なくとも一方を行わせる、請求項4に記載の環境試験装置。   The control device is configured to dry-cool the test chamber by the supply device so that the pressure in the test chamber and the low-temperature chamber is maintained at a pressure equal to or higher than the pressure outside the test tank during the low-temperature exposure test. The environmental test apparatus according to claim 4, wherein at least one of gas supply and introduction of liquefied cooling gas into at least one of the low temperature chamber and the test chamber by the coolant introduction section is performed. 前記制御装置は、前記低温曝し試験から前記常温曝し試験への移行時に前記外気導入手段により前記試験室に外気を導入するのに先立って、前記供給装置に乾燥ガスを前記試験室へ供給させる、請求項1〜11のいずれか1項に記載の環境試験装置。   The control device causes the supply device to supply dry gas to the test chamber prior to introducing the external air into the test chamber by the external air introduction means at the time of transition from the low temperature exposure test to the normal temperature exposure test. The environmental test apparatus of any one of Claims 1-11.
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