JP5282893B2 - ダブルトーク時減衰量測定装置及び測定方法 - Google Patents

ダブルトーク時減衰量測定装置及び測定方法 Download PDF

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Description

本発明は、電話機のダブルトーク(双方向通話)時における送話及び受話の減衰量(ボイススイッチ)やエコー損失(エコー消し残り量)を測定する減衰量測定装置及び測定方法に関する。
ハンドセット電話機やハンズフリー電話機には、例えば受話側から送話側への回り込み等で発生するエコーを除去して通話品質の向上を図るためのエコーキャンセラが内蔵されている。また、電話機においては、エコーキャンセラにより送話側に入った信号を完全に打ち消せない場合があるため、信号を補正するための送話減衰器や受話減衰器を設けて通話品質の向上を図ることが行われている。
例えば、送話減衰器及び受話減衰器を備えたハンズフリー電話機50は、図18に示すように、送話信号線51に対して音声入力部となる送話入力部(マイク)53及び電気信号の出力部となる送話出力部55、受話信号線52に対して音声出力部となる受話出力部(スピーカ)54及び電気信号の入力部となる受話入力部56と、受話信号線52と送話信号線51との間に装着されたエコーキャンセラ57と、送話信号線51に設けた増幅器59の送話出力側に装着した送話減衰器61と、受話信号線52に設けた増幅器58の受話入力側に装着した受話減衰器62と、を有して構成されている。
このような構成のハンズフリー電話機50における受話時のエコー排除動作について説明する。
受話入力部56から受話信号が入ると、受話出力が受話出力部(スピーカ)54から出る。その際に、受話出力部(スピーカ)54から出る音が回り込んで送話入力部(マイク)53から送話に入る現象が生じる。このような送話に入った信号は、エコーキャンセラ57で打ち消すことが行われるが、完全に打ち消せない場合がある。そのような場合には、送話信号線51に対して挿入された送話減衰器61により打ち消せなかった信号を下げることが行われる。また、場合によっては、送話信号線52に対して挿入された受話減衰器62により打ち消せなかった信号を下げることが行われる。その結果、送話出力部55には回り込み信号(エコー)が出ることを防止することができる。
次に、ハンズフリー電話機50における送話時の受話ダブルトーク動作について説明する。
送話入力部53から送話信号が入ると、送話出力が送話出力部55から出る。同時に受話入力部56から受話信号が入ると、受話出力が受話出力部(スピーカ)54から出る(受話の入力に応じて送話減衰が入る場合がある)。その際に、受話出力部(スピーカ)54から出る音が回り込んで送話入力部(マイク)53から送話に入る現象が生じる。このような送話に入った信号は、エコーキャンセラで打ち消すことが行われる、その結果、送話出力部55には受話の回り込み信号が出ることを防止することができる。
従来、上述したようなエコーキャンセラを有する電話機の通話品質について、客観的に評価し得る装置としては、例えば特許文献1に開示されるように、試験信号をエコーキャンセラの遠方入力に供給し、エコーリターンパスの遅延量とインパルス応答を自在に設定する入力設定部と、遅延量とインパルス応答量に基づいて既知のエコーを生成するエコー生成部を設けることで、エコーキャンセラの遠端出力信号を用いてエコーキャンセラの性能を評価するエコーキャンセラ性能評価試験装置が提案されている。
特開2004−146911号公報
しかしながら、上述したエコーキャンセラ性能評価試験装置によれば、一つの試験信号を入力し、この信号に各種の処理を行って音声信号を得ることで、エコーキャンセラの性能指標としているため、一方向からの入力信号が他方からの入力信号の影響を受けるダブルトーク(双方向通話)時の動作状態を正確に再現するものではなく、ダブルトーク時の送話及び受話の減衰量(ボイススイッチ)やエコー損失(エコー消し残り量)を測定する際の通話品質を評価する指標としては適していなかった。
本発明は上記事情に鑑みて提案されたもので、エコーキャンセラ等の通話品質を確保するための装置が内在された電話機において、ダブルトーク時の通信品質についての性能を高精度に評価することができるダブルトーク時減衰量測定装置及び測定方法を提供することを目的としている。
上記目的を達成するため請求項1の発明は、受話入力部と受話出力部、及び、送話入力部と送話出力部を備えた電話機におけるダブルトーク時の減衰量を測定する装置であって、次の各構成を含むことを特徴としている。
測定信号を生成する測定信号発生器。
ダブルトーク信号に対応する妨害信号を生成する妨害信号発生器。
前記受話入力部に前記測定信号を入力し、前記送話入力部に前記ダブルトーク信号を時間遅延させて入力し、前記受話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号が入力される出力信号測定部。
前記混在出力信号からダブルトーク信号分を除去して減衰量測定信号を得る周波数フィルタ。
前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記減衰量測定信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の受話挿入減衰量を算出する減衰量算出部。
請求項2は、受話入力部と受話出力部、及び、送話入力部と送話出力部を備えた電話機におけるダブルトーク時の減衰量を測定する装置であって、次の各構成を含むことを特徴としている。
測定信号を生成する測定信号発生器。
ダブルトーク信号に対応する妨害信号を生成する妨害信号発生器。
前記送話入力部に前記測定信号を入力し、前記受話入力部に前記ダブルトーク信号を時間遅延させて入力し、前記送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号が入力される出力信号測定部。
前記混在出力信号からダブルトーク信号分を除去して減衰量測定信号を得る周波数フィルタ。
前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記減衰量測定信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の送話挿入減衰量を算出する減衰量算出部。
請求項3は、受話入力部と受話出力部、及び、送話入力部と送話出力部を備えた電話機におけるダブルトーク時の減衰量を測定する装置であって、次の各構成を含むことを特徴としている。
低域周波数帯域又は高域周波数帯域の測定信号を生成する測定信号発生器。
前記測定信号と異なる周波数帯域のダブルトーク信号に対応する妨害信号を生成する妨害信号発生器。
前記受話入力部に前記測定信号を入力し、前記送話入力部に前記ダブルトーク信号を時間遅延させて入力し、前記送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号が入力される出力信号測定部。
前記混在出力信号からダブルトーク信号分の周波数域を除去して減衰量測定信号を得る周波数フィルタ。
前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記減衰量測定信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時のエコー損失量を算出する減衰量算出部。
請求項4は、請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載のダブルトーク時減衰量測定装置において、前記電話機は、前記送話入力部と前記受話出力部を有する受話器を備えて成ることを特徴としている。
請求項5は、受話入力部と受話出力部、及び、送話入力部と送話出力部を備えた電話機におけるダブルトーク時の減衰量を測定するダブルトーク時減衰量測定方法であって、
前記受話入力部又は送話入力部の一方に低域周波数帯域又は高域周波数帯域の測定信号を入力し、他方に前記測定信号と異なる周波数帯域のダブルトーク信号を所望時間遅延させて入力し、前記受話出力部又は送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号を作成する手順と、
前記混在出力信号からダブルトーク信号分の周波数域を除去して減衰量測定信号を得る手順と、
前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記混在出力信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の減衰量を算出する手順と
を含むことを特徴としている。
請求項6は、請求項5に記載のするダブルトーク時減衰量測定方法において、
前記測定信号が前記受話入力部(又は送話入力部)に入力され、
前記ダブルトーク信号が前記送話入力部(又は受話入力部)に入力されることで、
前記ダブルトーク時の減衰量として受話挿入減衰量(又は送話挿入減衰量)が算出されることを特徴としている。
本発明によれば、電話機における受話入力部又は送話入力部の一方に測定信号を入力し、他方にダブルトーク信号を所望時間遅延させて入力することにより、受話出力部又は送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号を作成し、この混在出力信号を基礎としてダブルトーク時の減衰量を算出する。
したがって、算出されるダブルトーク時の減衰量は、電話機における受話入力部及び送話入力部に入力される信号が反映されたものとなり、ダブルトーク時の送話及び受話の減衰量(ボイススイッチ)やエコー損失(エコー消し残り量)をより正確に測定することが可能となり、ダブルトーク時の通信品質についての性能を高精度に評価することができる。
本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してハンズフリー電話機の受話挿入減衰量を測定するための構成ブロック図である。 (a)〜(e)は、図1のダブルトーク時減衰量測定装置の各部に入力される信号を表す模式図である。 (a)はダブルトーク時減衰量測定装置の測定信号発生器で生成される測定信号の周波数特性図、(b)はダブルトーク時減衰量測定装置のダブルトーク信号発生器で生成されるダブルトーク信号の周波数特性図である。 本発明のダブルトーク時減衰量測定装置の周波数フィルタで使用されるローパスフィルタの周波数特性図である。 ダブルトーク時減衰量測定装置を使用してハンズフリー電話機の受話挿入減衰量を測定するための手順を示すフローチャート図である。 ダブルトーク時減衰量測定装置で生成される測定信号及びダブルトーク信号の他の例を示す周波数特性図である。 本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してハンズフリー電話機の送話挿入減衰量を測定するための構成ブロック図である。 本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してハンズフリー電話機のエコー減衰量を測定するための構成ブロック図である。 本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してハンドセット電話機の受話挿入減衰量を測定するための構成ブロック図である。 本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してハンドセット電話機の送話挿入減衰量を測定するための構成ブロック図である。 本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してハンドセット電話機のエコー減衰量を測定するための構成ブロック図である。 本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してターミナルアダプタ(TA)に2線電話機を接続した場合の受話挿入減衰量を測定するための構成ブロック図である。 本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してターミナルアダプタ(TA)に2線電話機を接続した場合の送話挿入減衰量を測定するための構成ブロック図である。 本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してターミナルアダプタ(TA)に2線電話機を接続した場合のエコー減衰量を測定するための構成ブロック図である。 本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用して4線電気入出力であるゲートウェイ(GW)の受話挿入減衰量を測定するための構成ブロック図である。 本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用して4線電気入出力であるゲートウェイ(GW)の送話挿入減衰量を測定するための構成ブロック図である。 本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用して4線電気入出力であるゲートウェイ(GW)のエコー減衰量を測定するための構成ブロック図である。 エコーキャンセラ及び送話減衰器・受話減衰器が内蔵されたハンズフリー電話機の構成を示すブロック図である。
以下、本発明のダブルトーク時減衰量測定装置の実施形態の一例について、図1〜図5を参照しながら説明する。この例では、ハンズフリー電話機50のダブルトーク時における受話出力の測定時に送話の混入の影響による受話減衰器62の受話挿入減衰量を測定する。
ハンズフリー電話機50は、図18に示したものと同じ構造であり、音声入力部となる送話入力部(マイク)53、音声出力部となる受話出力部(スピーカ)54、電気信号の出力部となる送話出力部55、電気信号の入力部となる受話入力部56、エコーキャンセラ57、送話減衰器61、受話減衰器62を備えて構成されている。図1のハンズフリー電話機50において、図18と同一構成を取る部分については同一符号を付している。
ダブルトーク時減衰量測定装置10は、ハンズフリー電話機50の内部を通して減衰量を測定する際の基準信号となる測定信号を生成する測定信号発生器1と、ダブルトーク信号に対応する妨害信号を生成するダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2と、ハンズフリー電話機50の受話出力部(スピーカ)54からの受話出力を入力する出力信号測定部3と、出力信号測定部3から減衰量測定信号を得る周波数フィルタ4と、ダブルトーク時の減衰量を算出する減衰量算出部5を備えて構成されている。
測定信号発生器1で生成される測定信号は、ハンズフリー電話機50の損失を測定するための低域帯域ノイズ信号(図2(a))の電気信号であり、図3(a)に示すような200〜500Hzの帯域幅を有し、ハンズフリー電話機50の受話入力部56に入力するように接続されている。
ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号は、ダブルトーク(双方向通話)時において妨害信号となる高域帯域ノイズ信号(図2(b))の電気信号であり、図3(b)に示すような1k〜3kHzの帯域幅を有し、アンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号としてハンズフリー電話機50の送話入力部53に入力するようになっている。
送話入力部53にダブルトーク信号が、受話入力部56に測定信号が入力されたハンズフリー電話機50は、受話入力部56に入力された信号のみを受話出力部(スピーカ)54から忠実に出力して通信品質を確保するため、受話信号線52を流れる信号に対してエコーキャンセラ57,送話減衰器61,受話減衰器62により補正処理が行われ、ダブルトーク信号の影響(回り込み)を受けるとともにダブルトーク信号が重畳した受話出力信号(図2(c))が受話出力部(スピーカ)54から音信号として出力される。受話出力部(スピーカ)54から出力される受話出力信号(音信号)は、測定信号発生器1に設けた測定マイク7を介して出力信号測定部3に入力される。また、スピーカ6が測定マイク7の近傍位置に設置されることで、スピーカ6から出力される音信号が測定マイク7に入力される「信号回り込み」現象も生じる。
出力信号測定部3では、ダブルトーク信号の影響を受けた測定信号が測定マイク7を介して入力され電気信号として測定されることが行われるが、ダブルトーク信号発生器2で生成されるダブルトーク信号を測定信号発生器1で生成される測定信号に対して遅らせてハンズフリー電話機50に入力させることにより、ダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号(図2(c)の受話出力信号)が入力されるようになっている。
周波数フィルタ4は、図4に示すような700Hz以下の周波数の信号のみを通過させるローパスフィルタから構成され、電気信号として測定された混在出力信号について、高周波(1k〜3kHz)のダブルトーク信号分を除去して減衰量測定信号(図2(d)の周波数フィルタ処理された受話出力信号)を得る。
減衰量算出部5は、周波数フィルタ4で得られた減衰量測定信号に対して、ダブルトーク無し時とダブルトーク時の各レベルをそれぞれ測定検出(図2(e))して記憶し、両者を比較することで、ダブルトーク無し時のレベルに対してダブルトーク時のレベルがどの程度減衰しているかを評価する減衰量(dB)を算出し、この減衰量を受話減衰量として出力部8より出力する。
次に、上述したダブルトーク時減衰量測定装置10を使用したダブルトーク時減衰量測定方法について、主に図5のフローチャートを参照しながら説明する。
測定信号発生器1において、測定信号として予め所望の帯域幅(200〜500Hz)を有する低域帯域ノイズ信号(図2(a))が作成され(ステップ101)、この測定信号が測定信号発生器1から予め決められた一定期間出力され(ステップ102)、測定ターゲットであるハンズフリー電話機50の受話入力部56に入力される(ステップ103)。
その一方、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2においては、ダブルトーク信号として所望の帯域幅(1k〜3kHz)を有してダブルトーク(双方向通話)時に妨害信号となる高域帯域ノイズ信号(図2(b))が作成され(ステップ201)、このダブルトーク信号が測定信号発生器1から出力される測定信号に対して100m〜1sec遅れてダブルトーク信号発生器2から予め決められた一定期間出力され(ステップ202)、測定ターゲットであるハンズフリー電話機50の送話入力部53に入力される(ステップ203)。
ハンズフリー電話機50では、測定信号として低域帯域ノイズ信号(図2(a))が受話入力部56に入力され(ステップ104)、ダブルトーク信号として高域帯域ノイズ信号(図2(b))が100m〜1sec遅れて送話入力部53に入力される(ステップ204)ことにより、ダブルトーク信号の影響(回り込み)がない期間Aと、ダブルトーク信号の影響(回り込み)を受けるとともにダブルトーク信号が重畳した期間Bの双方の信号が混在した混在出力信号である受話出力信号(図2(c))が機器遅延を伴って受話出力部(スピーカ)54から音信号として出力される(ステップ305)。
音信号である混在出力信号は、測定マイク7から出力信号測定部3に入力され、ダブルトーク信号の影響(回り込み)がない期間Aについて電気信号として測定し(ステップ106)と、ダブルトーク信号の影響(回り込み)を受けるとともにダブルトーク信号が重畳した期間Bについて電気信号として測定する(ステップ206)ことが行われる(ステップ306)。
電気信号として測定された混在出力信号は、期間A及び期間Bのそれぞれについて周波数フィルタ4(ローパスフィルタ)を通過させることにより(ステップ107及びステップ207)、高周波(1k〜3kHz)のダブルトーク信号分を除去し(ステップ307)、ダブルトーク信号の影響(回り込み)がない期間Aと、ダブルトーク信号の影響(回り込み)を受ける期間Bが含まれる減衰量測定信号(図2(d)の周波数フィルタ処理された受話出力信号)を得る。
減衰量算出部5では、周波数フィルタ4で得られた減衰量測定信号に対して、ダブルトーク無し時の信号レベルの検出(ステップ108)と、ダブルトーク時の信号レベルの検出(ステップ208)がそれぞれ行われる(ステップ308)。
測定信号については、ダブルトーク無し時の信号が先に一定時間入力され、遅延時間を有してダブルトーク時の信号が入力されるが、遅延時間及び低域帯域ノイズ信号の持続時間を考慮することで、減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時(期間A)とダブルトーク時(期間B)とを時間軸で分離することができる。
すなわち、減衰量測定信号(図2(d))の期間Aに対してダブルトーク無し時の信号レベルが検出されてこの値(ダブルトーク無し時レベル)を記憶し、減衰量測定信号(図2(d))の期間Bに対してダブルトーク時の信号レベルが検出されてこの値(ダブルトーク時レベル)を記憶する。
そして、両者の値を比較することで、ダブルトーク無し時のレベルに対してダブルトーク時のレベルがどの程度減衰しているかを評価する減衰量(dB)を算出し(ステップ309)、この減衰量を求める受話減衰量として出力部8より出力する。
出力部8より出力される減衰量(dB)が小さいほど、ダブルトークの影響を受けない装置として判断することができる。
上述したダブルトーク時減衰量測定装置では、測定信号発生器1で生成する測定信号を低域帯域ノイズ信号(200〜500Hz)とし、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成するダブルトーク信号を高域帯域ノイズ信号(1k〜3kHz)としているが、測定信号を高域帯域ノイズ信号とし、ダブルトーク信号を低域帯域ノイズ信号としてもよい。この場合は、周波数フィルタ4について、ダブルトーク信号(低域)を遮断することが可能なハイパスフィルタを使用する。
なお、測定信号発生器1で生成する測定信号を低域帯域ノイズ信号(200〜500Hz)とした方が、測定信号を高域帯域ノイズ信号とする場合に比較して、電話機内における高調波歪の影響を受けにくいため、減衰量の測定をより正確に行うことができる。
また、図6に示すように、測定信号(実線)を低周波と高周波の各信号で生成し、ダブルトーク信号(点線)をそれより高周波側の各信号で生成するようにしてもよい。この場合は、周波数フィルタ4について、ダブルトーク信号の各帯域を遮断することが可能なくし型フィルタを使用する。図6に示すような測定信号(実線)及びダブルトーク信号(点線)を使用することで、低周波から高周波の広い範囲における減衰量についての測定が可能となる。
上述したダブルトーク時減衰量測定装置10では、ハンズフリー電話機50のダブルトーク時における受話出力の測定時に送話の混入の影響による受話減衰器62の受話挿入減衰量を測定する構成としたが、ハンズフリー電話機50の送話入力部53、受話出力部54、送話出力部55、受話入力部56への入力信号又は測定すべく出力信号を変更することで、ハンズフリー電話機50の送話挿入減衰量やエコー減衰量の測定を行うこともできる。
更に、ハンドセット電話機、ターミナルアダプタ(TA)に2線電話機を接続した場合、4線電気入出力であるゲートウェイ(GW)に対する受話挿入減衰量、送話挿入減衰量、エコー減衰量についてもそれぞれ測定することができる。
以下、上述したダブルトーク時減衰量測定装置10を使用して各種減衰量を測定する例について説明する。
ハンズフリー電話機50のダブルトーク時における送話挿入減衰量を測定する場合について、図7を参照して説明する。図7において、図1と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図7のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がアンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号としてハンズフリー電話機50の送話入力部53に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がハンズフリー電話機50の受話入力部56に入力し、ハンズフリー電話機50の送話出力部55からの電気信号が直接出力信号測定部3に入力するように構成する。この例では、受話出力部54から出力される音信号が送話入力部53に入力される「信号回り込み」現象が生じている。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を送話入力部53に入力し、送話出力部55からの信号を測定することで、ハンズフリー電話機50のダブルトーク時における送話出力の測定時に受話の混入の影響による送話減衰器61の送話挿入減衰量を測定することができる。
ハンズフリー電話機50のダブルトーク時におけるエコー減衰量を測定する場合について、図8を参照して説明する。図8において、図1と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図8のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がハンズフリー電話機50の受話入力部56に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がアンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号としてハンズフリー電話機50の送話入力部53に入力し、ハンズフリー電話機50の送話出力部55からの電気信号が直接出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話入力部56に入力し、送話出力部55からの信号を測定することで、ハンズフリー電話機50のダブルトーク時におけるエコー測定時に送話の混入の影響によるエコー減衰量を測定することができる。
図1、図7、図8のダブルトーク時減衰量測定装置10がハンズフリー電話機50の各減衰量を測定するものであるのに対して、図9、図10、図11のダブルトーク時減衰量測定装置10はハンドセット電話機60の各減衰量を測定するものである。ハンドセット電話機60は、送話線51に接続される送話部と、受話線52に接続される受話部を有する受話器63を有して構成されている。受話器63の受話部から受話信号を得る場合には、擬似耳となる受話器カップラ64を介在させて行う。また、受話器63の送話部と受話部との間には信号が回り込むことによりノイズ(側音)が発生する。
ハンドセット電話機60のダブルトーク時における受話挿入減衰量を測定する場合について、図9を参照して説明する。図9において、図1と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図9のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がハンドセット電話機60の受話入力部56に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がアンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号としてハンドセット電話機60の受話器63の送話部に入力し、ハンドセット電話機60の受話器63の受話部から受話器カップラ64を介して電気信号が出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話入力部56に入力し、受話出力の信号を測定することで、ハンドセット電話機60のダブルトーク時における受話出力の測定時に送話の混入の影響による受話減衰器62の受話挿入減衰量を測定することができる。
ハンドセット電話機60のダブルトーク時における送話挿入減衰量を測定する場合について、図10を参照して説明する。図10において、図1及び図9と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図10のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がアンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号としてハンドセット電話機60の受話器63の送話部に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がハンドセット電話機60の受話入力部56に入力し、ハンドセット電話機60の送話出力部55からの電気信号が直接出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話器63の送話入力側に入力し、送話出力部55からの信号を測定することで、ハンドセット電話機60のダブルトーク時における送話出力の測定時に受話の混入の影響による送話減衰器61の送話挿入減衰量を測定することができる。
ハンドセット電話機60のダブルトーク時におけるエコー減衰量を測定する場合について、図11を参照して説明する。図11において、図1及び図9と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図11のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がハンドセット電話機60の受話入力部56に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がアンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号としてハンドセット電話機60の受話器63の送話部に入力し、ハンドセット電話機60の送話出力部55からの電気信号が直接出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話入力部56に入力し、送話出力部55からの信号を測定することで、ハンドセット電話機60のダブルトーク時におけるエコー測定時に送話の混入の影響によるエコー減衰量を測定することができる。
図12、図13、図14は、ターミナルアダプタ(TA)70に2線電話機を接続した場合の各種減衰量の測定について、ダブルトーク時減衰量測定装置10を使用した例を示している。受話器63が接続された2線電話機回路72は、ターミナルアダプタ(TA)70に設けた2線−4線の相互変換を行うSLIC回路71に接続されている。
ターミナルアダプタ(TA)70に2線電話機回路72を接続した場合のダブルトーク時における受話挿入減衰量を測定する場合について、図12を参照して説明する。図12において、図1及び図9と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図12のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がターミナルアダプタ(TA)70の受話入力部56に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がアンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号として2線電話機回路72に接続された受話器63の送話部に入力し、受話器63の受話部から受話器カップラ64を介して電気信号が出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話入力部56に入力し、受話出力の信号を測定することで、ターミナルアダプタ(TA)70のダブルトーク時における受話出力の測定時に送話の混入の影響による受話減衰器62の受話挿入減衰量を測定することができる。
ターミナルアダプタ(TA)70に2線電話機回路72を接続した場合のダブルトーク時における送話挿入減衰量を測定する場合について、図13を参照して説明する。図13において、図1及び図12と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図13のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がアンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号として2線電話機回路72に接続された受話器63の送話部に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がターミナルアダプタ(TA)70の受話入力部56に入力し、ターミナルアダプタ(TA)70の送話出力部55からの電気信号が直接出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話器63の送話入力側に入力し、送話出力部55からの信号を測定することで、ターミナルアダプタ(TA)70のダブルトーク時における送話出力の測定時に受話の混入の影響による送話減衰器61の送話挿入減衰量を測定することができる。
ターミナルアダプタ(TA)70に2線電話機回路72を接続した場合のダブルトーク時におけるエコー減衰量を測定する場合について、図14を参照して説明する。図14において、図1及び図12と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図14のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がターミナルアダプタ(TA)70の受話入力部56に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がアンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号として2線電話機回路72に接続された受話器63の送話部に入力し、ターミナルアダプタ(TA)70の送話出力部55からの電気信号が直接出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話入力部56に入力し、送話出力部55からの信号を測定することで、ターミナルアダプタ(TA)70のダブルトーク時におけるエコー測定時に送話の混入の影響によるエコー減衰量を測定することができる。
図15、図16、図17は、4線電気入出力であるゲートウェイ(GW)80の各種減衰量の測定について、ダブルトーク時減衰量測定装置10を使用した例を示している。4線電気入出力であるゲートウェイ(GW)80は、電気信号が入出力される送話入力部81及び受話出力部82を備えることで、送話入力部81、送話出力部55、受話入力部56、受話出力部82の全て(4線)の入出力が電気信号で行われる。
4線電気入出力であるゲートウェイ(GW)80のダブルトーク時における受話挿入減衰量を測定する場合について、図15を参照して説明する。図15において、図1と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図15のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がゲートウェイ(GW)80の受話入力部56に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号が電気信号のままゲートウェイ(GW)80の送話入力部81に入力し、ゲートウェイ(GW)80の受話出力部82からの電気信号が出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話入力部56に入力し、受話出力の信号を測定することで、ゲートウェイ(GW)80のダブルトーク時における受話出力の測定時に送話の混入の影響による受話減衰器62の受話挿入減衰量を測定することができる。
4線電気入出力であるゲートウェイ(GW)80のダブルトーク時における送話挿入減衰量を測定する場合について、図16を参照して説明する。図16において、図1と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図16のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号が電気信号のままゲートウェイ(GW)80の送話入力部81に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がゲートウェイ(GW)80の受話入力部56に入力し、ゲートウェイ(GW)80の送話出力部55からの電気信号が直接出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を送話入力部81に入力し、送話出力部55からの信号を測定することで、ゲートウェイ(GW)80のダブルトーク時における送話出力の測定時に受話の混入の影響による送話減衰器61の送話挿入減衰量を測定することができる。
4線電気入出力であるゲートウェイ(GW)80のダブルトーク時におけるエコー減衰量を測定する場合について、図17を参照して説明する。図17において、図1と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図17のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がゲートウェイ(GW)80の受話入力部56に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号が電気信号のままゲートウェイ(GW)80の送話入力部81に入力し、ゲートウェイ(GW)80の送話出力部55からの電気信号が直接出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話入力部56に入力し、送話出力部55からの信号を測定することで、ゲートウェイ(GW)80のダブルトーク時におけるエコー測定時に送話の混入の影響によるエコー減衰量を測定することができる。
1…測定信号発生器、 2…ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)、 3…出力信号測定部、 4…周波数フィルタ、 5…減衰量算出部、 6…スピーカ(擬似口)、 7…測定マイク、 8…出力部、 10…ダブルトーク時減衰量測定装置、 50…ハンズフリー電話機、 53…送話入力部、 54…受話出力部、 55…送話出力部、 56…受話入力部、 57…エコーキャンセラ、 60…ハンドセット電話機、 61…送話減衰器、 62…受話減衰器、 63…受話器、 64…受話器カップラ(擬似耳)、 70…ターミナルアダプタ(TA)、 71…SLIC回路、 72…2線電話機回路、 80…ゲートウェイ(GW)、 81…送話入力部、 82…受話出力部。

Claims (6)

  1. 受話入力部と受話出力部、及び、送話入力部と送話出力部を備えた電話機におけるダブルトーク時の減衰量を測定する装置であって、
    測定信号を生成する測定信号発生器と、
    ダブルトーク信号に対応する妨害信号を生成する妨害信号発生器と、
    前記受話入力部に前記測定信号を入力し、前記送話入力部に前記ダブルトーク信号を時間遅延させて入力し、前記受話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号が入力される出力信号測定部と、
    前記混在出力信号からダブルトーク信号分を除去して減衰量測定信号を得る周波数フィルタと、
    前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記減衰量測定信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の受話挿入減衰量を算出する減衰量算出部と
    を具備することを特徴とするダブルトーク時減衰量測定装置。
  2. 受話入力部と受話出力部、及び、送話入力部と送話出力部を備えた電話機におけるダブルトーク時の減衰量を測定する装置であって、
    測定信号を生成する測定信号発生器と、
    ダブルトーク信号に対応する妨害信号を生成する妨害信号発生器と、
    前記送話入力部に前記測定信号を入力し、前記受話入力部に前記ダブルトーク信号を時間遅延させて入力し、前記送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号が入力される出力信号測定部と、
    前記混在出力信号からダブルトーク信号分を除去して減衰量測定信号を得る周波数フィルタと、
    前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記減衰量測定信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の送話挿入減衰量を算出する減衰量算出部と
    を具備することを特徴とするダブルトーク時減衰量測定装置。
  3. 受話入力部と受話出力部、及び、送話入力部と送話出力部を備えた電話機におけるダブルトーク時の減衰量を測定する装置であって、
    低域周波数帯域又は高域周波数帯域の測定信号を生成する測定信号発生器と、
    前記測定信号と異なる周波数帯域のダブルトーク信号に対応する妨害信号を生成する妨害信号発生器と、
    前記受話入力部に前記測定信号を入力し、前記送話入力部に前記ダブルトーク信号を時間遅延させて入力し、前記送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号が入力される出力信号測定部と、
    前記混在出力信号からダブルトーク信号分の周波数域を除去して減衰量測定信号を得る周波数フィルタと、
    前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記減衰量測定信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時のエコー損失量を算出する減衰量算出部と
    を具備することを特徴とするダブルトーク時減衰量測定装置。
  4. 前記電話機は、前記送話入力部と前記受話出力部を有する受話器を備えて成る請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載のダブルトーク時減衰量測定装置。
  5. 受話入力部と受話出力部、及び、送話入力部と送話出力部を備えた電話機におけるダブルトーク時の減衰量を測定する方法であって、
    前記受話入力部又は送話入力部の一方に低域周波数帯域又は高域周波数帯域の測定信号を入力し、他方に前記測定信号と異なる周波数帯域のダブルトーク信号を所望時間遅延させて入力し、前記受話出力部又は送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号を作成する手順と、
    前記混在出力信号からダブルトーク信号分の周波数域を除去して減衰量測定信号を得る手順と、
    前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記混在出力信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の減衰量を算出する手順と
    を含むことを特徴とするダブルトーク時減衰量測定方法。
  6. 前記測定信号が前記受話入力部(又は送話入力部)に入力され、
    前記ダブルトーク信号が前記送話入力部(又は受話入力部)に入力されることで、
    前記ダブルトーク時の減衰量として受話挿入減衰量(又は送話挿入減衰量)が算出される
    請求項5に記載のダブルトーク時減衰量測定方法。
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