JP5282893B2 - ダブルトーク時減衰量測定装置及び測定方法 - Google Patents
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Description
受話入力部56から受話信号が入ると、受話出力が受話出力部(スピーカ)54から出る。その際に、受話出力部(スピーカ)54から出る音が回り込んで送話入力部(マイク)53から送話に入る現象が生じる。このような送話に入った信号は、エコーキャンセラ57で打ち消すことが行われるが、完全に打ち消せない場合がある。そのような場合には、送話信号線51に対して挿入された送話減衰器61により打ち消せなかった信号を下げることが行われる。また、場合によっては、送話信号線52に対して挿入された受話減衰器62により打ち消せなかった信号を下げることが行われる。その結果、送話出力部55には回り込み信号(エコー)が出ることを防止することができる。
送話入力部53から送話信号が入ると、送話出力が送話出力部55から出る。同時に受話入力部56から受話信号が入ると、受話出力が受話出力部(スピーカ)54から出る(受話の入力に応じて送話減衰が入る場合がある)。その際に、受話出力部(スピーカ)54から出る音が回り込んで送話入力部(マイク)53から送話に入る現象が生じる。このような送話に入った信号は、エコーキャンセラで打ち消すことが行われる、その結果、送話出力部55には受話の回り込み信号が出ることを防止することができる。
測定信号を生成する測定信号発生器。
ダブルトーク信号に対応する妨害信号を生成する妨害信号発生器。
前記受話入力部に前記測定信号を入力し、前記送話入力部に前記ダブルトーク信号を時間遅延させて入力し、前記受話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号が入力される出力信号測定部。
前記混在出力信号からダブルトーク信号分を除去して減衰量測定信号を得る周波数フィルタ。
前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記減衰量測定信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の受話挿入減衰量を算出する減衰量算出部。
測定信号を生成する測定信号発生器。
ダブルトーク信号に対応する妨害信号を生成する妨害信号発生器。
前記送話入力部に前記測定信号を入力し、前記受話入力部に前記ダブルトーク信号を時間遅延させて入力し、前記送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号が入力される出力信号測定部。
前記混在出力信号からダブルトーク信号分を除去して減衰量測定信号を得る周波数フィルタ。
前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記減衰量測定信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の送話挿入減衰量を算出する減衰量算出部。
低域周波数帯域又は高域周波数帯域の測定信号を生成する測定信号発生器。
前記測定信号と異なる周波数帯域のダブルトーク信号に対応する妨害信号を生成する妨害信号発生器。
前記受話入力部に前記測定信号を入力し、前記送話入力部に前記ダブルトーク信号を時間遅延させて入力し、前記送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号が入力される出力信号測定部。
前記混在出力信号からダブルトーク信号分の周波数域を除去して減衰量測定信号を得る周波数フィルタ。
前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記減衰量測定信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時のエコー損失量を算出する減衰量算出部。
前記受話入力部又は送話入力部の一方に低域周波数帯域又は高域周波数帯域の測定信号を入力し、他方に前記測定信号と異なる周波数帯域のダブルトーク信号を所望時間遅延させて入力し、前記受話出力部又は送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号を作成する手順と、
前記混在出力信号からダブルトーク信号分の周波数域を除去して減衰量測定信号を得る手順と、
前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記混在出力信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の減衰量を算出する手順と
を含むことを特徴としている。
前記測定信号が前記受話入力部(又は送話入力部)に入力され、
前記ダブルトーク信号が前記送話入力部(又は受話入力部)に入力されることで、
前記ダブルトーク時の減衰量として受話挿入減衰量(又は送話挿入減衰量)が算出されることを特徴としている。
測定信号については、ダブルトーク無し時の信号が先に一定時間入力され、遅延時間を有してダブルトーク時の信号が入力されるが、遅延時間及び低域帯域ノイズ信号の持続時間を考慮することで、減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時(期間A)とダブルトーク時(期間B)とを時間軸で分離することができる。
そして、両者の値を比較することで、ダブルトーク無し時のレベルに対してダブルトーク時のレベルがどの程度減衰しているかを評価する減衰量(dB)を算出し(ステップ309)、この減衰量を求める受話減衰量として出力部8より出力する。
出力部8より出力される減衰量(dB)が小さいほど、ダブルトークの影響を受けない装置として判断することができる。
なお、測定信号発生器1で生成する測定信号を低域帯域ノイズ信号(200〜500Hz)とした方が、測定信号を高域帯域ノイズ信号とする場合に比較して、電話機内における高調波歪の影響を受けにくいため、減衰量の測定をより正確に行うことができる。
また、図6に示すように、測定信号(実線)を低周波と高周波の各信号で生成し、ダブルトーク信号(点線)をそれより高周波側の各信号で生成するようにしてもよい。この場合は、周波数フィルタ4について、ダブルトーク信号の各帯域を遮断することが可能なくし型フィルタを使用する。図6に示すような測定信号(実線)及びダブルトーク信号(点線)を使用することで、低周波から高周波の広い範囲における減衰量についての測定が可能となる。
更に、ハンドセット電話機、ターミナルアダプタ(TA)に2線電話機を接続した場合、4線電気入出力であるゲートウェイ(GW)に対する受話挿入減衰量、送話挿入減衰量、エコー減衰量についてもそれぞれ測定することができる。
以下、上述したダブルトーク時減衰量測定装置10を使用して各種減衰量を測定する例について説明する。
図7のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がアンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号としてハンズフリー電話機50の送話入力部53に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がハンズフリー電話機50の受話入力部56に入力し、ハンズフリー電話機50の送話出力部55からの電気信号が直接出力信号測定部3に入力するように構成する。この例では、受話出力部54から出力される音信号が送話入力部53に入力される「信号回り込み」現象が生じている。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を送話入力部53に入力し、送話出力部55からの信号を測定することで、ハンズフリー電話機50のダブルトーク時における送話出力の測定時に受話の混入の影響による送話減衰器61の送話挿入減衰量を測定することができる。
図8のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がハンズフリー電話機50の受話入力部56に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がアンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号としてハンズフリー電話機50の送話入力部53に入力し、ハンズフリー電話機50の送話出力部55からの電気信号が直接出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話入力部56に入力し、送話出力部55からの信号を測定することで、ハンズフリー電話機50のダブルトーク時におけるエコー測定時に送話の混入の影響によるエコー減衰量を測定することができる。
図9のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がハンドセット電話機60の受話入力部56に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がアンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号としてハンドセット電話機60の受話器63の送話部に入力し、ハンドセット電話機60の受話器63の受話部から受話器カップラ64を介して電気信号が出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話入力部56に入力し、受話出力の信号を測定することで、ハンドセット電話機60のダブルトーク時における受話出力の測定時に送話の混入の影響による受話減衰器62の受話挿入減衰量を測定することができる。
図10のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がアンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号としてハンドセット電話機60の受話器63の送話部に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がハンドセット電話機60の受話入力部56に入力し、ハンドセット電話機60の送話出力部55からの電気信号が直接出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話器63の送話入力側に入力し、送話出力部55からの信号を測定することで、ハンドセット電話機60のダブルトーク時における送話出力の測定時に受話の混入の影響による送話減衰器61の送話挿入減衰量を測定することができる。
図11のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がハンドセット電話機60の受話入力部56に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がアンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号としてハンドセット電話機60の受話器63の送話部に入力し、ハンドセット電話機60の送話出力部55からの電気信号が直接出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話入力部56に入力し、送話出力部55からの信号を測定することで、ハンドセット電話機60のダブルトーク時におけるエコー測定時に送話の混入の影響によるエコー減衰量を測定することができる。
図12のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がターミナルアダプタ(TA)70の受話入力部56に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がアンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号として2線電話機回路72に接続された受話器63の送話部に入力し、受話器63の受話部から受話器カップラ64を介して電気信号が出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話入力部56に入力し、受話出力の信号を測定することで、ターミナルアダプタ(TA)70のダブルトーク時における受話出力の測定時に送話の混入の影響による受話減衰器62の受話挿入減衰量を測定することができる。
図13のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がアンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号として2線電話機回路72に接続された受話器63の送話部に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がターミナルアダプタ(TA)70の受話入力部56に入力し、ターミナルアダプタ(TA)70の送話出力部55からの電気信号が直接出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話器63の送話入力側に入力し、送話出力部55からの信号を測定することで、ターミナルアダプタ(TA)70のダブルトーク時における送話出力の測定時に受話の混入の影響による送話減衰器61の送話挿入減衰量を測定することができる。
図14のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がターミナルアダプタ(TA)70の受話入力部56に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がアンプ(図示せず)を介して擬似口となるスピーカ6から音信号として2線電話機回路72に接続された受話器63の送話部に入力し、ターミナルアダプタ(TA)70の送話出力部55からの電気信号が直接出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話入力部56に入力し、送話出力部55からの信号を測定することで、ターミナルアダプタ(TA)70のダブルトーク時におけるエコー測定時に送話の混入の影響によるエコー減衰量を測定することができる。
図15のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がゲートウェイ(GW)80の受話入力部56に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号が電気信号のままゲートウェイ(GW)80の送話入力部81に入力し、ゲートウェイ(GW)80の受話出力部82からの電気信号が出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話入力部56に入力し、受話出力の信号を測定することで、ゲートウェイ(GW)80のダブルトーク時における受話出力の測定時に送話の混入の影響による受話減衰器62の受話挿入減衰量を測定することができる。
図16のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号が電気信号のままゲートウェイ(GW)80の送話入力部81に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号がゲートウェイ(GW)80の受話入力部56に入力し、ゲートウェイ(GW)80の送話出力部55からの電気信号が直接出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を送話入力部81に入力し、送話出力部55からの信号を測定することで、ゲートウェイ(GW)80のダブルトーク時における送話出力の測定時に受話の混入の影響による送話減衰器61の送話挿入減衰量を測定することができる。
図17のダブルトーク時減衰量測定装置10では、測定信号発生器1で生成される測定信号がゲートウェイ(GW)80の受話入力部56に入力し、ダブルトーク信号発生器(妨害信号発生器)2で生成されるダブルトーク信号が電気信号のままゲートウェイ(GW)80の送話入力部81に入力し、ゲートウェイ(GW)80の送話出力部55からの電気信号が直接出力信号測定部3に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置10によれば、測定信号を受話入力部56に入力し、送話出力部55からの信号を測定することで、ゲートウェイ(GW)80のダブルトーク時におけるエコー測定時に送話の混入の影響によるエコー減衰量を測定することができる。
Claims (6)
- 受話入力部と受話出力部、及び、送話入力部と送話出力部を備えた電話機におけるダブルトーク時の減衰量を測定する装置であって、
測定信号を生成する測定信号発生器と、
ダブルトーク信号に対応する妨害信号を生成する妨害信号発生器と、
前記受話入力部に前記測定信号を入力し、前記送話入力部に前記ダブルトーク信号を時間遅延させて入力し、前記受話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号が入力される出力信号測定部と、
前記混在出力信号からダブルトーク信号分を除去して減衰量測定信号を得る周波数フィルタと、
前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記減衰量測定信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の受話挿入減衰量を算出する減衰量算出部と
を具備することを特徴とするダブルトーク時減衰量測定装置。 - 受話入力部と受話出力部、及び、送話入力部と送話出力部を備えた電話機におけるダブルトーク時の減衰量を測定する装置であって、
測定信号を生成する測定信号発生器と、
ダブルトーク信号に対応する妨害信号を生成する妨害信号発生器と、
前記送話入力部に前記測定信号を入力し、前記受話入力部に前記ダブルトーク信号を時間遅延させて入力し、前記送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号が入力される出力信号測定部と、
前記混在出力信号からダブルトーク信号分を除去して減衰量測定信号を得る周波数フィルタと、
前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記減衰量測定信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の送話挿入減衰量を算出する減衰量算出部と
を具備することを特徴とするダブルトーク時減衰量測定装置。 - 受話入力部と受話出力部、及び、送話入力部と送話出力部を備えた電話機におけるダブルトーク時の減衰量を測定する装置であって、
低域周波数帯域又は高域周波数帯域の測定信号を生成する測定信号発生器と、
前記測定信号と異なる周波数帯域のダブルトーク信号に対応する妨害信号を生成する妨害信号発生器と、
前記受話入力部に前記測定信号を入力し、前記送話入力部に前記ダブルトーク信号を時間遅延させて入力し、前記送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号が入力される出力信号測定部と、
前記混在出力信号からダブルトーク信号分の周波数域を除去して減衰量測定信号を得る周波数フィルタと、
前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記減衰量測定信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時のエコー損失量を算出する減衰量算出部と
を具備することを特徴とするダブルトーク時減衰量測定装置。 - 前記電話機は、前記送話入力部と前記受話出力部を有する受話器を備えて成る請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載のダブルトーク時減衰量測定装置。
- 受話入力部と受話出力部、及び、送話入力部と送話出力部を備えた電話機におけるダブルトーク時の減衰量を測定する方法であって、
前記受話入力部又は送話入力部の一方に低域周波数帯域又は高域周波数帯域の測定信号を入力し、他方に前記測定信号と異なる周波数帯域のダブルトーク信号を所望時間遅延させて入力し、前記受話出力部又は送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号を作成する手順と、
前記混在出力信号からダブルトーク信号分の周波数域を除去して減衰量測定信号を得る手順と、
前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記混在出力信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の減衰量を算出する手順と
を含むことを特徴とするダブルトーク時減衰量測定方法。 - 前記測定信号が前記受話入力部(又は送話入力部)に入力され、
前記ダブルトーク信号が前記送話入力部(又は受話入力部)に入力されることで、
前記ダブルトーク時の減衰量として受話挿入減衰量(又は送話挿入減衰量)が算出される
請求項5に記載のダブルトーク時減衰量測定方法。
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