JP5281835B2 - Non-contact temperature detector - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a noncontact-type temperature detector capable of detecting a medical liquid, pure water, such a liquid as a mixed liquid of these, with sufficient responsivity in semiconductor or liquid crystal panel manufacturing equipment or the like. <P>SOLUTION: In the base 200 of the noncontact-type temperature detector S1 connected between both pipes P8, P9, a rectangular pillar section 210 has a communication path 210a and a recessed part 210b, and the recessed part 210b is formed into a shape recessed towards the axial center part of the communication path 210a from the upside end surface 213 of the rectangular pillar 210. The bottom wall part 212b of the recessed part 210b constitutes a wall part of the peripheral walls of the communication path 210a, and is formed thinly. Into the bottom wall 330 of a housing 300 attached to the rectangular pillar 210 so as to close the recessed part 210b, a thermopile-type temperature sensor 340 is fitted, and faces the bottom wall 212b with the inside of the recessed part 210b in between. Based on heat radiation energy radiated from a liquid inside the communication path 210a into the recessed part 210b passing through the bottom wall 212b, the temperature sensor 340 detects the temperature of the liquid. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、半導体製造装置による半導体素子の製造工程や液晶パネル製造装置による液晶パネルの製造工程において用いられる薬液、純水やこれらの混合液等の液体の温度を検出するに適した非接触式温度検出装置に関する。   The present invention is a non-contact type suitable for detecting the temperature of a liquid such as a chemical solution, pure water or a mixture thereof used in a semiconductor element manufacturing process by a semiconductor manufacturing apparatus or a liquid crystal panel manufacturing process by a liquid crystal panel manufacturing apparatus. The present invention relates to a temperature detection device.

従来、例えば、半導体製造装置において、半導体ウェハーの各種処理に用いられる薬液、純水或いはこれらの混合液等の液体の温度管理にあたっては、測温抵抗素子等の接触式温度センサが採用されている(下記特許文献1参照)。   Conventionally, for example, in a semiconductor manufacturing apparatus, a contact-type temperature sensor such as a resistance temperature sensor is used for temperature control of a liquid such as a chemical solution, pure water, or a mixture thereof used for various processing of a semiconductor wafer. (See Patent Document 1 below).

ここで、上記液体は、半導体製造装置の配管系統内で流動する。従って、上記液体の温度の検出は、接触式温度センサの受光部を配管系統の周壁を通し上記液体内に挿入することで行われる。
特開2005−103455号公報
Here, the liquid flows in the piping system of the semiconductor manufacturing apparatus. Therefore, the temperature of the liquid is detected by inserting the light receiving portion of the contact temperature sensor through the peripheral wall of the piping system into the liquid.
JP 2005-103455 A

ところで、上述のように接触式温度センサにより液体の温度を検出するにあたっては、当該接触式温度センサの受光部の温度が上記液体の温度になったときに当該液体の温度を検出することとなる。   By the way, when the temperature of the liquid is detected by the contact-type temperature sensor as described above, the temperature of the liquid is detected when the temperature of the light receiving part of the contact-type temperature sensor becomes the temperature of the liquid. .

ここで、上記液体は固有の熱容量を有するため、当該液体の熱が接触式温度センサの受光部に伝わるには時間がかかる。その結果、当該接触式温度センサに依っては、上記液体の温度を検出しようとしても、良好な応答性を得ることができないという不具合がある。   Here, since the liquid has a specific heat capacity, it takes time for the heat of the liquid to be transmitted to the light receiving unit of the contact temperature sensor. As a result, depending on the contact temperature sensor, there is a problem that good response cannot be obtained even if the temperature of the liquid is detected.

これに対しては、非接触式温度センサを、接触式温度センサに代えて、半導体製造装置の配管系統に設けることが考えられる。この非接触式温度センサは、配管系統の周壁を介し上記液体に対向するように配設されて、当該液体の熱放射エネルギーに基づき当該液体の温度を検出する。従って、当該非接触式温度センサは、上記液体とは非接触の状態で、当該液体の温度を検出することになる。このため、当該非接触式温度センサによれば、上記液体の温度の検出は、一応、当該液体の熱容量に影響されないといえる。   For this, it is conceivable to provide a non-contact type temperature sensor in the piping system of the semiconductor manufacturing apparatus instead of the contact type temperature sensor. The non-contact temperature sensor is disposed so as to face the liquid via the peripheral wall of the piping system, and detects the temperature of the liquid based on the thermal radiation energy of the liquid. Therefore, the non-contact temperature sensor detects the temperature of the liquid in a non-contact state with the liquid. For this reason, according to the non-contact temperature sensor, it can be said that the detection of the temperature of the liquid is not influenced by the heat capacity of the liquid.

しかしながら、配管系統の周壁は、それ自体で、熱容量を有する。このため、上記液体の熱放射エネルギーがその変化に応じて配管系統の周壁に伝わることにより、配管系統の周壁の温度が上記液体の温度となるまでには、時間がかかる。従って、当該非接触式温度センサを、単に、半導体製造装置の配管系統に設けるだけでは、上記液体の温度を応答性よく検出することはできないという不具合が生ずる。   However, the peripheral wall of the piping system itself has a heat capacity. For this reason, it takes time until the temperature of the peripheral wall of the piping system becomes the temperature of the liquid because the thermal radiation energy of the liquid is transmitted to the peripheral wall of the piping system according to the change. Accordingly, there is a problem that the temperature of the liquid cannot be detected with high responsiveness simply by providing the non-contact temperature sensor in the piping system of the semiconductor manufacturing apparatus.

そこで、本発明は、以上のようなことに対処するため、半導体製造装置や液晶パネル製造装置等において薬液、純水やこれらの混合液等の液体を流動させる通路構成に工夫を凝らし、当該液体の温度を、応答性よく、検出するようにした非接触式温度検出装置を提供することを目的とする。   Therefore, in order to deal with the above-described problems, the present invention has been devised in a passage configuration for flowing a liquid such as a chemical solution, pure water, or a mixed solution thereof in a semiconductor manufacturing apparatus, a liquid crystal panel manufacturing apparatus, or the like. An object of the present invention is to provide a non-contact temperature detecting device capable of detecting the temperature of the above with good responsiveness.

上記課題の解決にあたり、本発明にかかる非接触式温度検出装置は、請求項1の記載によれば、
PTFE等のフッ素樹脂からなる貫通状の連通路(210a)を具備して、当該連通路の周壁の所定の壁部位(210b)を底壁部(212b)として凹所(210b)を外方に向け開口させるように、腐食性ガスによっては腐食されにくい樹脂でもって形成してなる基体(200)と、
当該基体に上記凹所を閉じるように組み付けてなる壁部材(330)と、
基体の上記凹所の上記底壁部に対し間隔をおいて対向するように壁部材に支持されるサーモパイル型温度センサであって上記腐食性ガスを放出する成分を含有して連通路を通り流れる液体から上記凹所内にその底壁部を介し放射される熱放射エネルギーに基づき上記液体の温度を検出するサーモパイル型温度センサ(340)と、
基体の上記凹所内に放射される上記熱放射エネルギーを温度センサへ伝達するとともに上記液体から上記凹所内にその底壁部を介し放出される上記腐食性ガスを温度センサから遮断するように基体に設けられるガス遮断手段(400)とを備えて、
連通路の上記周壁は、上記所定の壁部位にて、上記液体がその圧力でもって上記所定の壁部位に損傷を与えることのない薄さであって当該液体からの上記熱放射エネルギーが応答性よく迅速に上記所定の壁部位を通り温度センサに達するような薄さに形成されている。
In solving the above-mentioned problems, the non-contact temperature detection device according to the present invention, according to the description of claim 1,
Through-shaped communication passage ing of a fluororesin such as PTFE with (210a) and ingredients Bei, outside the recess (210 b) a predetermined wall portion of the peripheral wall of the communication passage (210 b) as a bottom wall (212b) so as to open the mouth directed towards a substrate (200) obtained by forming with at hardly corroded resin by corrosive gases,
A wall member (330) assembled to the base so as to close the recess,
A thermopile type temperature sensor supported by a wall member so as to face the bottom wall portion of the recess of the base body with a space therebetween, and flows through the communication path containing a component that releases the corrosive gas. A thermopile type temperature sensor (340) for detecting the temperature of the liquid based on thermal radiation energy radiated from the liquid into the recess through its bottom wall ;
The heat radiation energy radiated into the recess of the base is transmitted to the temperature sensor, and the corrosive gas released from the liquid into the recess through the bottom wall is blocked from the temperature sensor. Gas cutoff means (400) provided,
The peripheral wall of the communication passage is thin at the predetermined wall portion so that the liquid does not damage the predetermined wall portion by the pressure, and the thermal radiation energy from the liquid is responsive. It is formed to be thin enough to quickly reach the temperature sensor through the predetermined wall portion.

このような構成によれば、サーモパイル型温度センサは、基体の凹所内において、連通路の周壁の所定の壁部位である凹所の底壁部に対し間隔をおいて対向するように壁部材に支持される。このため、当該温度センサは、上述のような凹所内にて、連通路内の液体の熱容量の影響を受けないように、当該液体とは非接触の状態に維持され得る According to such a configuration, the thermopile type temperature sensor, in the recess of the base, the wall member so as to face at a against spacing in the bottom wall of the recess is a predetermined wall portion position of the peripheral wall of the communication passage It is supported by the. Thus, those temperature sensors at the recess as described above, so as not to be affected by the heat capacity of the liquid in the communication path, and the liquid material can be maintained in a non-contact state.

ここで、連通路の周壁の上記所定の壁部位が、上述のごとく、液体がその圧力でもって上記所定の壁部位に損傷を与えることのない薄さであって当該液体からの上記熱放射エネルギーが応答性よく迅速に上記所定の壁部位を通り温度センサに達するような薄さに形成されている。従って、連通路がフッ素樹脂製であっても、液体から放射される熱放射エネルギーは、上記所定の壁部位の熱容量により遅延されることなく、温度センサに応答性よく迅速に入射する。その結果、当該非接触温度検出装置によれば、所定の壁部位が液体と温度センサとの間に介在するにもかかわらず、連通路内の液体の温度が、所定の壁部位の影響を受けて遅延することなく、応答性よく、検出され得る
また、液体から上記凹所内に腐食性ガスが放出されても、この腐食性ガスは、ガス遮断手段により、温度センサから遮断される。従って、温度センサが腐食性ガスと接触して腐食することはない。ここで、上記凹所内に放射される上記熱放射エネルギーは、ガス遮断手段により、温度センサへ伝達されるので、温度センサは、常に正常な状態を維持しつつ、上記凹所内に放射される熱放射エネルギーに基づき液体の温度を応答性よく検出し得る。なお、基体は、上記腐食性ガスによっては腐食されにくい樹脂でもって形成されているので、当該基体が上記腐食性ガスと接触しても腐食することはない。
Here, as described above, the predetermined wall portion of the peripheral wall of the communication passage is thin enough that the liquid does not damage the predetermined wall portion due to the pressure, and the thermal radiation energy from the liquid. However, it is formed in such a thin thickness that it passes through the predetermined wall portion and reaches the temperature sensor quickly with good response. Therefore, even if the communication path is made of a fluororesin, the thermal radiation energy radiated from the liquid is quickly and responsively incident on the temperature sensor without being delayed by the heat capacity of the predetermined wall portion. As a result, according to the non-contact temperature detecting device, the temperature of the liquid in the communication path is affected by the predetermined wall portion even though the predetermined wall portion is interposed between the liquid and the temperature sensor. And can be detected with good responsiveness without delay .
Even if corrosive gas is released from the liquid into the recess, the corrosive gas is blocked from the temperature sensor by the gas blocking means. Therefore, the temperature sensor does not corrode on contact with the corrosive gas. Here, since the heat radiation energy radiated into the recess is transmitted to the temperature sensor by the gas blocking means, the temperature sensor always maintains the normal state and the heat radiated into the recess. The temperature of the liquid can be detected with good responsiveness based on the radiant energy. Since the base is formed of a resin that is not easily corroded by the corrosive gas, it does not corrode even when the base is in contact with the corrosive gas.

また、本発明は、請求項2の記載によれば、請求項1に記載の非接触式温度検出装置において、ガス遮断手段は、上記凹所内にてその底壁部から温度センサを隔離するように支持されるガス遮断膜であって上記凹所内に放射される上記熱放射エネルギーを温度センサへ伝達するとともに上記凹所内に放出される上記腐食性ガスを温度センサから遮断するガス遮断膜(400)であることを特徴とする。 According to a second aspect of the present invention, in the non-contact type temperature detecting device according to the first aspect , the gas shut-off means isolates the temperature sensor from the bottom wall portion in the recess. A gas barrier film (400) that transmits the thermal radiation energy radiated into the recess to the temperature sensor and shields the corrosive gas released into the recess from the temperature sensor. ).

このように、ガス遮断手段を上述のようなガス遮断膜でもって構成すれば、請求項1に記載の発明の作用効果が、ガス遮断膜という簡単な構成部材を採用するのみで、より一層確実に達成され得る。 Thus, if the gas shut-off means is constituted by the gas shut-off film as described above, the effect of the invention according to claim 1 can be further ensured only by adopting a simple constituent member called a gas shut-off film. Can be achieved.

また、本発明にかかる非接触式温度検出装置は、請求項3の記載によれば、
筒(510)と、この筒の一側開口端部(512)を閉じる一側壁部材(520)とを有して、筒の周壁にその軸に交叉して挿通されるPTFE等のフッ素樹脂製の連通管であってその周壁に筒の他側開口端部(513)を臨むように所定の壁部位(535)を形成してなる連通管(530)を具備する基体(500)と、
筒の上記他側開口端部を閉じる他側壁部材であってその連通管の上記所定の壁部位に対する対向部位を筒の上記他側開口端部から上記所定の壁部位とは離れる方向に向け凹状となるように形成してなる他側壁部材(630)と、
連通管の上記所定の壁部位に間隔をおいて対向するように他側壁部材の上記凹状対向部位に支持されて、連通管を通り流れる液体から当該連通管の上記所定の壁部位を介し筒内に放射される上記熱放射エネルギーに基づき上記液体の温度を検出するサーモパイル型温度センサ(340)とを備えて、
連通管の上記所定の壁部位は、上記液体がその圧力でもって上記所定の壁部位に損傷を与えることのない薄さであって当該液体からの上記熱放射エネルギーが応答性よく迅速に上記所定の壁部位を通り温度センサに達するような薄さに形成されている。
According to a third aspect of the present invention, the non-contact temperature detecting device according to the present invention is provided.
It has a cylinder (510) and a side wall member (520) that closes one side opening end (512) of the cylinder, and is made of a fluororesin such as PTFE that is inserted into the peripheral wall of the cylinder so as to cross its axis. A base body (500) having a communication pipe (530) formed with a predetermined wall portion (535) so as to face the other side opening end (513) of the cylinder on its peripheral wall,
The other side wall member that closes the other side opening end of the cylinder, and the concave portion of the communicating pipe facing the predetermined wall part is directed away from the predetermined wall part from the other side opening end of the cylinder. The other side wall member (630) formed to be,
In the cylinder, the liquid is supported by the concave facing portion of the other side wall member so as to face the predetermined wall portion of the communication pipe at a distance from the liquid flowing through the communication pipe through the predetermined wall portion of the communication pipe. A thermopile type temperature sensor (340) for detecting the temperature of the liquid based on the thermal radiation energy radiated to
The predetermined wall portion of the communication pipe is thin enough that the liquid does not damage the predetermined wall portion due to the pressure thereof, and the thermal radiation energy from the liquid is quickly and responsively responsive to the predetermined wall portion. It is so thin that it reaches the temperature sensor through the wall.

これによれば、サーモパイル型温度センサは、筒の内部を介し他側壁部材の上記凹状対向部位と一側壁部材との間に形成される空間内において、連通管の上記所定の壁部位に対し間隔をおいて対向するように他側壁部材の上記凹状対向部位に支持される。このため、当該温度センサは、上述のような空間内にて、連通管内の液体の熱容量の影響を受けないように、当該液体とは非接触の状態に維持され得る。   According to this, the thermopile type temperature sensor is spaced from the predetermined wall portion of the communication pipe in a space formed between the concave facing portion of the other side wall member and the one side wall member through the inside of the cylinder. The other side wall member is supported by the concave facing portion so as to face each other. For this reason, the temperature sensor can be maintained in a non-contact state with the liquid so as not to be affected by the heat capacity of the liquid in the communication pipe in the space as described above.

ここで、上記空間は、他側壁部材の上記凹状対向部位と一側壁部材との間において、筒の内部をも含むため、広く形成される。従って、基体の温度は、温度センサには伝わりにくい。よって、連通管の上記所定の壁部位が、上述と同様に所定の薄さに設定されていることから、連通管内の液体から放射される熱放射エネルギーは、基体の温度に影響されることなく、かつ連通管の上記所定の壁部位の熱容量により遅延されることなく、温度センサに迅速に入射する。その結果、当該非接触温度検出装置によれば、上述のような広い空間のもとに、液体の温度を、基体の温度に影響されることなく、応答性よく、検出することができる。 Here, since the space includes the inside of the cylinder between the concave facing portion of the other side wall member and the one side wall member, the space is formed widely. Therefore, the temperature of the substrate is not easily transmitted to the temperature sensor. Therefore, the predetermined wall portion of the communicating pipe, since it is set to a predetermined thinness in the same manner as described above, thermal radiation energy emitted from the liquid in the communication pipe, without being affected by the temperature of the substrate And, it is rapidly incident on the temperature sensor without being delayed by the heat capacity of the predetermined wall portion of the communication pipe. As a result, according to the non-contact temperature detecting device, the temperature of the liquid can be detected with high responsiveness without being influenced by the temperature of the base in the wide space as described above.

また、本発明は、請求項4の記載によれば、請求項3に記載の非接触式温度検出装置において、
液体は、腐食性ガスを放出する成分を含有しており、
基体及び連通管は、上記腐食性ガスによっては腐食されにくい樹脂でもって形成されており、
筒内を介し他側壁部材の上記凹状対向部位と一側壁部材との間に形成される空間内にて温度センサを上記所定の壁部位から隔離するように支持されて筒内に放射される上記熱放射エネルギーを温度センサへ伝達するとともに筒内に放出される上記腐食性ガスを温度センサから遮断するガス遮断膜(700)が備えられていることを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, in the non-contact temperature detecting device according to the third aspect ,
The liquid contains components that release corrosive gases,
The substrate and the communication pipe are formed of a resin that is not easily corroded by the corrosive gas.
The temperature sensor is supported so as to be isolated from the predetermined wall part in a space formed between the concave facing part of the other side wall member and the one side wall member through the inside of the cylinder and radiated into the cylinder. A gas barrier film (700) that transmits thermal radiation energy to the temperature sensor and blocks the corrosive gas released into the cylinder from the temperature sensor is provided.

このように、上述のような構成を有するガス遮断膜を、筒内を介し他側壁部材の上記凹状対向部位と一側壁部材との間に形成される空間内にて温度センサを上記所定の壁部位から隔離するように支持することで、請求項3に記載の発明の作用効果がより一層確実に達成され得る。なお、基体及び連通管は、上記腐食性ガスによっては腐食されにくい樹脂でもって形成されているので、当該基体及び連通管が上記腐食性ガスとの接触によって腐食することはない。

As described above, the gas barrier film having the above-described configuration is disposed between the predetermined wall and the temperature sensor in the space formed between the concave facing portion of the other side wall member and the one side wall member via the inside of the cylinder. By supporting so as to be isolated from the site, the effect of the invention of claim 3 can be achieved more reliably. In addition, since the base body and the communication pipe are formed of a resin that is not easily corroded by the corrosive gas, the base body and the communication pipe are not corroded by contact with the corrosive gas.

なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。   In addition, the code | symbol in the bracket | parenthesis of each said means shows the correspondence with the specific means as described in embodiment mentioned later.

以下、本発明の各実施形態を図面により説明する。
(第1実施形態)
図1は、半導体製造装置の枚葉式処理系統に適用された本発明の第1実施形態を示している。調達済みの複数の半導体ウェハーにそれぞれ半導体素子を形成するにあたり、上記半導体製造装置は、その枚葉式処理系統によって、複数の半導体ウェハーの各々に対し、成膜、フォトレジストコーティング、露光、現像、エッチング、イオン注入、フォトレジストの剥離等の様々な処理をするようになっている。また、上記半導体製造装置は、上述のような様々な処理の過程において、必要に応じ、上記枚葉式処理系統により、半導体ウェハー毎に洗浄処理をするようになっている。
Hereinafter, each embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
(First embodiment)
FIG. 1 shows a first embodiment of the present invention applied to a single wafer processing system of a semiconductor manufacturing apparatus. In forming a semiconductor element on each of a plurality of semiconductor wafers that have been procured, the semiconductor manufacturing apparatus uses the single wafer processing system to form a film on each of the plurality of semiconductor wafers, photoresist coating, exposure, development, Various processes such as etching, ion implantation, and stripping of photoresist are performed. In addition, the semiconductor manufacturing apparatus performs a cleaning process for each semiconductor wafer by the single wafer processing system as necessary in the course of various processes as described above.

ここで、上記枚葉式処理系統の構成について、図1を参照して説明すると、純水供給源10から配管P1の上流部内に供給された常温の純水は、流量制御装置20により流量制御されて、配管P1の下流部内に流入する。また、純水供給源30から配管P2の上流部内に供給された高温の純水は、流量制御装置40により流量制御されて、配管P2の下流部内に流入する。   Here, the configuration of the single wafer processing system will be described with reference to FIG. 1. Normal temperature pure water supplied from the pure water supply source 10 into the upstream portion of the pipe P <b> 1 is flow controlled by the flow control device 20. Then, it flows into the downstream portion of the pipe P1. The high-temperature pure water supplied from the pure water supply source 30 into the upstream portion of the pipe P2 is flow-controlled by the flow control device 40 and flows into the downstream portion of the pipe P2.

しかして、上述のように配管P1の下流部内に流入した常温の純水は、上述のように配管P2の下流部内に流入した高温の純水とともに、配管P3内に流入して混合され、混合純水として、開閉弁装置50に流入する。   The normal temperature pure water that has flowed into the downstream portion of the pipe P1 as described above flows into the pipe P3 and is mixed with the high-temperature pure water that has flowed into the downstream portion of the pipe P2 as described above. It flows into the on-off valve device 50 as pure water.

また、上記枚葉式処理系統において、薬液槽60内の薬液は、ポンプ70により、配管P4を通し吸引されて配管P5内に吐出される。このように吐出された薬液は、フィルター80により濾過されて配管P6内に流入し、流量制御装置90により、所定の流量となるように流量制御されて、配管P7を通り開閉弁装置50に流入する。なお、上記薬液は、例えば、硫酸や過酸化水素の混合液からなるもので、当該薬液は、赤外線による放射エネルギー(以下、熱放射エネルギーという)の放射とともに腐食性ガスを放出する。なお、当該腐食性ガスは、温度センサ340(後述する)の構成部材(ケーシングやサーモパイル素子等)との接触により当該構成部材を腐食させる。   In the single wafer processing system, the chemical solution in the chemical solution tank 60 is sucked by the pump 70 through the pipe P4 and discharged into the pipe P5. The discharged chemical solution is filtered by the filter 80 and flows into the pipe P6. The flow rate control device 90 controls the flow rate so as to obtain a predetermined flow rate, and flows into the on-off valve device 50 through the pipe P7. To do. In addition, the said chemical | medical solution consists of a liquid mixture of a sulfuric acid and hydrogen peroxide, for example, and the said chemical | medical solution discharge | releases corrosive gas with the radiation | emission of the radiation energy (henceforth thermal radiation energy) by infrared rays. The corrosive gas corrodes the constituent member by contact with a constituent member (a casing, a thermopile element or the like) of a temperature sensor 340 (described later).

しかして、上述のように開閉弁装置50に流入した混合純水は、当該開閉弁装置50により、その第1開弁モード(後述する)にて、配管P8内に供給され、非接触式温度検出装置S1を通り配管P9から図1における図示左側の処理カップ100内に流下する。このように流下する混合純水でもって、左側の処理カップ100内の半導体ウェハー(図1にて符号W参照)が洗浄される。   Thus, the pure water that has flowed into the on-off valve device 50 as described above is supplied into the pipe P8 by the on-off valve device 50 in the first valve opening mode (described later), and the non-contact type temperature is increased. It passes through the detection device S1 and flows down from the pipe P9 into the processing cup 100 on the left side in FIG. With the mixed pure water flowing down in this way, the semiconductor wafer (refer to symbol W in FIG. 1) in the left processing cup 100 is washed.

本第1実施形態において、当該半導体ウェハーWは、左側の処理カップ100内において、スピンテーブル101上に固定されており、当該半導体ウェハーWは、スピンテーブル101による回転のもと、上述のように流下する混合純水により洗浄される。また、配管P9からの混合純水の流下位置が、右側の処理カップ100に切り換えられたとき、この右側の処理カップ100内にてスピンテーブル101上に固定される半導体ウェハーWも、上述の左側の処理カップ100内の半導体ウェハーWと同様に洗浄される。   In the first embodiment, the semiconductor wafer W is fixed on the spin table 101 in the processing cup 100 on the left side, and the semiconductor wafer W is rotated by the spin table 101 as described above. Washed with mixed pure water flowing down. Further, when the flow position of the mixed pure water from the pipe P9 is switched to the right processing cup 100, the semiconductor wafer W fixed on the spin table 101 in the right processing cup 100 is also the left side described above. The semiconductor wafer W in the processing cup 100 is cleaned in the same manner.

また、上述のように開閉弁装置50に流入した薬液は、開閉弁装置50内にて、その流入混合純水と混合されて、所定の温度(例えば、60(℃))及び所定の低濃度の処理薬液として生成される。このように生成された処理薬液は、当該開閉弁装置50により、第2開弁モード(後述する)のもと、配管P8内に供給され、温度検出装置S1を通り配管P9から左側の処理カップ100内に流下する。このように流下する処理薬液でもって、左側の処理カップ100内の半導体ウェハーWが薬液処理される。右側の処理カップ100内の半導体ウェハーWも同様である。   Further, as described above, the chemical liquid that has flowed into the on-off valve device 50 is mixed with the inflowing mixed pure water in the on-off valve device 50 to obtain a predetermined temperature (for example, 60 (° C.)) and a predetermined low concentration. It is produced as a treatment chemical solution. The treatment chemical solution generated in this way is supplied into the pipe P8 by the opening / closing valve device 50 in the second valve opening mode (described later), passes through the temperature detection device S1, and is connected to the left processing cup from the pipe P9. Flow down into 100. The semiconductor wafer W in the processing cup 100 on the left side is processed with the processing chemical solution flowing down in this way. The same applies to the semiconductor wafer W in the processing cup 100 on the right side.

本第1実施形態において、上述した各流量制御装置20及び40は、それぞれ、温度検出装置S1の検出出力(後述する)に基づき電子制御回路110により制御されて、上記処理薬液の温度及び濃度を上記所定の温度及び所定の低濃度に維持するように、配管P1の下流部内への常温の純水の流入量及び配管P2の下流部内への高温の純水の流入量を制御する。   In the first embodiment, each of the flow rate control devices 20 and 40 described above is controlled by the electronic control circuit 110 based on the detection output (described later) of the temperature detection device S1, and the temperature and concentration of the processing chemical solution are controlled. The inflow amount of normal temperature pure water into the downstream portion of the pipe P1 and the inflow amount of high temperature pure water into the downstream portion of the pipe P2 are controlled so as to maintain the predetermined temperature and the predetermined low concentration.

また、上述した開閉弁装置50は、図示しない電子制御回路による切り換え制御のもと、エア供給源(図示しない)からのエアに応じて、第1或いは第2の開弁モードまたは閉弁モードにおかれる。また、上述した流量制御装置90は、配管P6から配管P7内への薬液の流入量を、所定の流量となるように制御する。   The on-off valve device 50 described above is switched to the first or second valve opening mode or valve closing mode according to air from an air supply source (not shown) under switching control by an electronic control circuit (not shown). I'm left. Further, the flow rate control device 90 described above controls the inflow amount of the chemical liquid from the pipe P6 into the pipe P7 so as to be a predetermined flow rate.

また、当該枚葉式処理系統において、各処理カップ100内にて半導体ウェハーWの洗浄或いは処理に使用された混合純水或いは処理薬液は、各処理カップ100のいずれかからオーバーフローし、廃液として、配管P10を通り廃液処理槽120内に流入して貯留される。   Further, in the single wafer processing system, the mixed pure water or the processing chemical used for cleaning or processing the semiconductor wafer W in each processing cup 100 overflows from any of the processing cups 100, and is used as waste liquid. It flows into the waste liquid treatment tank 120 through the pipe P10 and is stored.

このように廃液処理槽120内に貯留された廃液は、アスピレータ130によって、配管P12を通し廃液処理槽120から吸引されるとともに、工業用水供給源140から配管P11の上流部、流量制御装置150及び配管P11の下流部を通し供給される工業用水と混合されて、排出可能な所定の温度の廃液となり、配管P13、非接触式温度検出装置S2及び配管P14を通り排出される。   The waste liquid stored in the waste liquid treatment tank 120 in this manner is sucked from the waste liquid treatment tank 120 through the pipe P12 by the aspirator 130, and from the industrial water supply source 140 to the upstream portion of the pipe P11, the flow control device 150, and It is mixed with industrial water supplied through the downstream portion of the pipe P11 to become a waste liquid having a predetermined temperature that can be discharged, and is discharged through the pipe P13, the non-contact temperature detecting device S2, and the pipe P14.

本実施形態において、上述の排出可能な所定の温度は、両配管P13、P14の形成材料、例えば、塩化ビニル樹脂(以下、PVCという)の耐熱温度(60(℃)〜80(℃))より低くなるように設定されている。なお、上述した各配管P1〜P11は、共に、パーフルオロアルコキシアルカン(以下、PFAという)でもって形成されており、当該PFAは、薬液(例えば、硫酸や過酸化水素を含有する液)、特に高濃度の薬液に対し、良好な耐薬液性を有する。   In the present embodiment, the predetermined dischargeable temperature is higher than the heat resistance temperature (60 (° C.) to 80 (° C.)) of the forming material of both the pipes P13 and P14, for example, vinyl chloride resin (hereinafter referred to as PVC). It is set to be low. Each of the pipes P1 to P11 described above is formed of perfluoroalkoxyalkane (hereinafter referred to as PFA), which is a chemical solution (for example, a solution containing sulfuric acid or hydrogen peroxide), in particular. Good chemical resistance to high concentration chemicals.

本第1実施形態において、上述した流量制御装置150は、温度検出装置S2の検出出力(後述する)に基づき電子制御回路160により制御されて、工業用水供給源140からアスピレータ130への工業用水の流量を制御する。   In the first embodiment, the above-described flow rate control device 150 is controlled by the electronic control circuit 160 based on a detection output (described later) of the temperature detection device S2, and industrial water from the industrial water supply source 140 to the aspirator 130 is controlled. Control the flow rate.

次に、両非接触式温度検出装置S1、S2の構成について説明する。温度検出装置S1は、図1及び図2にて示すごとく、両配管P8、P9の間に接続されており、この温度検出装置S1は、基体200及び検出装置本体300によって構成されている。なお、本実施形態では、図2において、図示上下左右の各側が、温度検出装置S1の上下左右の各側に対応する。   Next, the structure of both non-contact-type temperature detection apparatuses S1 and S2 will be described. As shown in FIGS. 1 and 2, the temperature detection device S <b> 1 is connected between both pipes P <b> 8 and P <b> 9, and the temperature detection device S <b> 1 is configured by a base body 200 and a detection device main body 300. In the present embodiment, the upper, lower, left and right sides in FIG. 2 correspond to the upper, lower, left and right sides of the temperature detection device S1 in FIG.

基体200は、図2にて示すごとく、台状四角柱部210、上流側環状ボス部220及び下流側環状ボス部230を備えている。四角柱部210は、断面円形状連通路210aを有しており、この連通路210aは、四角柱部210にその両対向外面に平行な方向に沿い貫通状に形成されている。   As shown in FIG. 2, the base body 200 includes a trapezoidal rectangular column part 210, an upstream annular boss part 220, and a downstream annular boss part 230. The quadrangular column part 210 has a cross-sectional circular communication path 210a, and the communication path 210a is formed in the quadrangular column part 210 so as to penetrate in a direction parallel to both opposing outer surfaces.

また、四角柱部210は、凹所210bを有しており、この凹所210bは、上下両側凹部211、212を有するように、四角柱部210の上側端面213から連通路210aの軸方向中央部に向け凹状に形成されている。   Further, the square column part 210 has a recess 210b, and this recess 210b has an upper and lower side recesses 211 and 212 so that it extends from the upper end surface 213 of the square column part 210 in the axial center of the communication path 210a. It is formed in a concave shape toward the part.

上側凹部211は、円筒状内周壁部211a及び円形状底壁部211bでもって断面コ字状に形成されており、この上側凹部211は、その上端開口部にて、四角柱部210の上側端面213から上方へ開口している。   The upper concave portion 211 is formed in a U-shaped cross section with a cylindrical inner peripheral wall portion 211a and a circular bottom wall portion 211b, and the upper concave portion 211 has an upper end surface of the quadrangular prism portion 210 at its upper end opening. It opens upward from 213.

下側凹部212は、円筒状内周壁部212a及び円板状底壁部212bでもって断面コ字状に形成されており、この下側凹部212は、上側凹部211の底壁部211bに形成した円形状中央開口部211cから上側凹部211内に開口している。   The lower concave portion 212 is formed in a U-shaped cross section with a cylindrical inner peripheral wall portion 212a and a disk-shaped bottom wall portion 212b. The lower concave portion 212 is formed on the bottom wall portion 211b of the upper concave portion 211. The circular central opening 211c opens into the upper recess 211.

本第1実施形態において、底壁部212bは、連通路210aの周壁のうちの所定の壁部位でもって構成されており、この底壁部212bは、次のような外形形状を有するように形成されている。即ち、底壁部212bは、その全体に亘り、所定の薄さt(例えば、0.3(mm)〜0.5(mm)の範囲以内の厚さ)を有するように、連通路210aの軸方向中央部の内周面に沿い、上に凸な断面円弧状に形成されている。   In the first embodiment, the bottom wall portion 212b is configured by a predetermined wall portion of the peripheral wall of the communication passage 210a, and the bottom wall portion 212b is formed to have the following external shape. Has been. That is, the bottom wall portion 212b has a predetermined thickness t (for example, a thickness within a range of 0.3 (mm) to 0.5 (mm)) over the whole of the communication passage 210a. Along the inner peripheral surface of the central portion in the axial direction, it is formed in an upward cross-sectional arc shape.

ここで、底壁212bの熱容量が、連通路210a内の液体(混合純水或いは処理薬液)からの熱放射エネルギーを応答遅れなく底壁212bを通り下側凹部212内に迅速に入射させ得る値となるように、底壁212bが、上記所定の薄さtにて、薄く設定されている。但し、底壁212bは、上述のように薄くても、連通路210a内の液体の流体としての圧力に対し、良好な耐圧性を有し破損しにくい厚さとなっている。 Here, the heat capacity of the bottom wall 212b are then rapidly enters the communication passage liquid (mixture of pure water or treatment solution) thermal radiation energy response delay from a Ku bottom wall 212b through lower recess 212 in 210a obtained so that that value, the bottom wall 212b is, similar the predetermined thinness t, is set to be thinner. However, even if the bottom wall 212b is thin as described above, the bottom wall 212b has a thickness sufficient to withstand pressure as a liquid fluid in the communication path 210a and is not easily damaged.

以上によれば、上記所定の薄さtは、連通路210aの周壁の所定の壁部位(底壁212b)が液体からの圧力を受けて損傷することなく、液体からの熱放射エネルギーが、所定の壁部位(底壁212b)を通り遅延なくして温度センサに達するような値に設定されている。 According to the above, the predetermined thinness t is predetermined wall portion position of the peripheral wall of the communication passage 210a such that (the bottom wall 212b) is damaged under the pressure from the liquid Ku, thermal radiation energy from the liquid but it is set to a value such that reach the temperature sensor eliminates through delay a predetermined wall portion (bottom wall 212b).

上流側環状ボス部220及び下流側環状ボス部230は、それぞれ、連通路210aの両端開口部から互いに逆方向に向け延出しており、これら上流側環状ボス部220及び下流側環状ボス部230は、それぞれ、断面コ字状の両ナット221、231を介し、両側配管P8、P9の各対向開口端部に液密的に螺着されている。なお、ナット221は、環状底壁部221a及び円筒部221bにて、配管P8の対向開口端部に嵌装されて、円筒部221bの開口部により、上流側環状ボス部220に液密的に螺着されている。また、ナット231は、環状底壁部231a及び円筒部231bにて、配管P9の対向開口端部に嵌装されて、円筒部231bの開口部により、上流側環状ボス部230に液密的に螺着されている。   The upstream side annular boss part 220 and the downstream side annular boss part 230 respectively extend in opposite directions from both end openings of the communication path 210a. The upstream side annular boss part 220 and the downstream side annular boss part 230 are These are respectively fluid-tightly screwed to the opposing opening ends of the both-side pipes P8 and P9 through both nuts 221 and 231 having a U-shaped cross section. The nut 221 is fitted to the opposite opening end of the pipe P8 at the annular bottom wall portion 221a and the cylindrical portion 221b, and is fluid-tightly connected to the upstream annular boss portion 220 through the opening portion of the cylindrical portion 221b. It is screwed. The nut 231 is fitted to the opposite opening end of the pipe P9 at the annular bottom wall portion 231a and the cylindrical portion 231b, and is fluid-tightly connected to the upstream annular boss portion 230 through the opening portion of the cylindrical portion 231b. It is screwed.

これにより、配管P8内の液体は、上流側環状ボス部220、連通路210a及び下流側環状ボス部230を通り配管P9内に向け流動する。なお、上流側環状ボス部220及び下流側環状ボス部230の各内径は、連通路210aの内径と同一である。また、基体200は、ポリテトラフルオロエチレン(以下、PTFEという)でもって形成されている。   Thereby, the liquid in the pipe P8 flows through the upstream annular boss part 220, the communication path 210a, and the downstream annular boss part 230 into the pipe P9. In addition, each internal diameter of the upstream side annular boss part 220 and the downstream side annular boss part 230 is the same as the internal diameter of the communicating path 210a. The substrate 200 is made of polytetrafluoroethylene (hereinafter referred to as PTFE).

検出装置本体300は、ハウジング300aと、このハウジング300aに組み付けた温度検出回路300bとを備えている。ハウジング300aは、四角筒310、上壁320及び底壁330を有するように、ポリプロピレン(以下、PPという)でもって形成されており、上壁320は、四角筒310の上側開口端部311を閉じるようにこの上側開口端部311と一体に形成されている。また、底壁330は、その外周部331にて、四角筒310の下側開口端部312に装着されて、当該下側開口端部312を閉じている。   The detection apparatus main body 300 includes a housing 300a and a temperature detection circuit 300b assembled to the housing 300a. The housing 300 a is formed of polypropylene (hereinafter referred to as PP) so as to have a square tube 310, an upper wall 320, and a bottom wall 330, and the upper wall 320 closes an upper opening end 311 of the square tube 310. In this way, the upper opening end 311 is formed integrally. In addition, the bottom wall 330 is attached to the lower opening end 312 of the square tube 310 at the outer peripheral portion 331 to close the lower opening end 312.

このように構成したハウジング300aは、底壁330の環状壁部333を、基体200の上側凹部211の開口端部に嵌着することで、基体200に組み付けられている。なお、環状壁部333は、底壁330の下面から下方に向け延出している。   The housing 300 a configured as described above is assembled to the base body 200 by fitting the annular wall portion 333 of the bottom wall 330 into the opening end portion of the upper concave portion 211 of the base body 200. The annular wall portion 333 extends downward from the bottom surface of the bottom wall 330.

温度検出回路300bは、サーモパイル型温度センサ340、信号処理回路350及びコネクタ360を備えている。温度センサ340は、ケーシング340aを有しており、このケーシング340aは、円筒341と、この円筒341の上側開口端部を閉じる上壁342と、当該円筒341の下側開口端部を閉じる底壁343とによって、構成されている。ここで、上壁342の外周部は、環状フランジ部342aとして、円筒341の上側開口端部から外方へ径方向に向け環状に突出している。   The temperature detection circuit 300b includes a thermopile type temperature sensor 340, a signal processing circuit 350, and a connector 360. The temperature sensor 340 includes a casing 340a. The casing 340a includes a cylinder 341, an upper wall 342 that closes an upper opening end of the cylinder 341, and a bottom wall that closes a lower opening end of the cylinder 341. 343. Here, the outer peripheral portion of the upper wall 342 projects annularly outward from the upper opening end of the cylinder 341 in the radial direction as an annular flange portion 342a.

しかして、ケーシング340aにおいて、環状フランジ部342aは、底壁330に形成した段付き中央穴部332の大径部332aに気密的に嵌装され、円筒341が、段付き中央穴部332の小径部332bに気密的に嵌装されて、下方へ延出している。なお、大径部332aは、段付き中央穴部332の上端部に形成され、小径部332bは、段付き中央穴部332の上端部以外の部位でもって形成されている。   Thus, in the casing 340 a, the annular flange portion 342 a is hermetically fitted into the large diameter portion 332 a of the stepped central hole portion 332 formed in the bottom wall 330, and the cylinder 341 has a small diameter of the stepped central hole portion 332. The portion 332b is hermetically fitted and extends downward. The large diameter portion 332 a is formed at the upper end portion of the stepped central hole portion 332, and the small diameter portion 332 b is formed at a portion other than the upper end portion of the stepped central hole portion 332.

また、当該温度センサ340は、ケーシング340a内に設けた赤外線透過フィルター340b及びサーモパイル素子340cを有している。赤外線透過フィルター340bは、その外周部にて、ケーシング340aの底壁343に形成した中央開口部343aの周縁部にその内側から装着されており、この赤外線透過フィルター340bは、その中央部にて、底壁343の中央開口部343aを通して、ガス遮断膜400(後述する)に対向している。なお、赤外線透過フィルター340bは、底壁343の中央開口部343aを通り下方から入射する熱放射エネルギーを赤外線として透過する。   The temperature sensor 340 includes an infrared transmission filter 340b and a thermopile element 340c provided in the casing 340a. The infrared transmission filter 340b is attached from the inner side to the peripheral edge of the central opening 343a formed in the bottom wall 343 of the casing 340a at the outer periphery thereof, and the infrared transmission filter 340b is installed at the center thereof. The gas barrier film 400 (described later) is opposed through the central opening 343a of the bottom wall 343. The infrared transmission filter 340b transmits thermal radiation energy incident from below through the central opening 343a of the bottom wall 343 as infrared rays.

サーモパイル素子340cは、直列接続した複数の熱電対を有しており、このサーモパイル素子340cは、ケーシング340a内にて、底壁343に平行に支持した基板340dの中央開口部に、この中央開口部を通して赤外線透過フィルター340bに対向するように支持されている。これにより、サーモパイル素子340cは、ケーシング340aの内面とは非接触の状態で当該ケーシング340a内に支持されている。   The thermopile element 340c has a plurality of thermocouples connected in series. The thermopile element 340c is formed in the central opening of the substrate 340d supported in parallel with the bottom wall 343 in the casing 340a. And is supported so as to face the infrared transmission filter 340b. Thereby, the thermopile element 340c is supported in the casing 340a in a non-contact state with the inner surface of the casing 340a.

しかして、当該サーモパイル素子340cは、ケーシング340aの熱容量による影響を受けることなく、赤外線透過フィルター340bからの赤外線を基板340dの中央開口部を通し受光して、この受光赤外線に基づき連通路210a内の液体の温度を表す温度検出信号を発生する。このことは、温度センサ340が、連通路210a内の液体の温度を表す温度検出信号を発生することを意味する。   Accordingly, the thermopile element 340c receives the infrared rays from the infrared transmission filter 340b through the central opening of the substrate 340d without being affected by the heat capacity of the casing 340a, and based on the received infrared rays, A temperature detection signal representing the temperature of the liquid is generated. This means that the temperature sensor 340 generates a temperature detection signal indicating the temperature of the liquid in the communication path 210a.

信号処理回路350は、ハウジング300a内に支持されており、この信号処理回路350は、温度センサ340からの温度検出信号を信号処理して出力する。コネクタ360は、基板340dの上端部に設けられており、このコネクタ360は、信号処理回路350からの温度検出信号を、両リード線361を通して電子制御回路110に出力する。なお、両リード線361は、ハウジング300aの上壁320の中央開口部に嵌着したケーブルグランド313を通り外方へ延出している。   The signal processing circuit 350 is supported in the housing 300a, and the signal processing circuit 350 processes the temperature detection signal from the temperature sensor 340 and outputs it. The connector 360 is provided at the upper end portion of the substrate 340d. The connector 360 outputs a temperature detection signal from the signal processing circuit 350 to the electronic control circuit 110 through both lead wires 361. Both the lead wires 361 extend outward through a cable gland 313 fitted in the central opening of the upper wall 320 of the housing 300a.

また、温度検出装置S1は、ガス遮断膜400を有しており、このガス遮断膜400は、基体200の連通管210a内の液体からの熱放射エネルギーを温度センサ340側へ伝達するとともに、連通路210a内の液体から底壁212bを通し下側凹部212内に放出される腐食性ガスを上側凹部212aから遮断する特性を有する。本第1実施形態では、ガス遮断膜400は、PTFE或いはポリクロロトリフルオロエチレン(以下、PCTFEという)を用いて上記特性を有するように形成されている。なお、本第1実施形態では、温度検出装置S1における温度検出回路300bとしては、SSC株式会社製MIR型赤外線センサ及びその出力処理回路が採用されている。   The temperature detection device S1 includes a gas barrier film 400. The gas barrier film 400 transmits heat radiation energy from the liquid in the communication pipe 210a of the base body 200 to the temperature sensor 340 side, and also communicates with the temperature sensor S1. The corrosive gas released from the liquid in the passage 210a through the bottom wall 212b into the lower recess 212 is blocked from the upper recess 212a. In the first embodiment, the gas barrier film 400 is formed using PTFE or polychlorotrifluoroethylene (hereinafter referred to as PCTFE) so as to have the above characteristics. In the first embodiment, an MIR infrared sensor manufactured by SSC Corporation and its output processing circuit are employed as the temperature detection circuit 300b in the temperature detection device S1.

温度検出装置S2は、図2にて示すごとく、上述した温度検出装置S1と同様の構成を有しており、この温度検出装置S2は、図1及び図2にて示すごとく、両配管P13、P14の間に接続されている。具体的には、当該温度検出装置S2は、上流側環状ボス部220及び下流側環状ボス部230にて、それぞれ、断面コ字状の両ナット221、231を介し、両側配管P13、P14の各対向端側開口部に液密的に螺着されている。これにより、配管P13内の廃液は、温度検出装置S2の上流側環状ボス部220、連通路210a及び下流側環状ボス部230を通り配管P14内に向け流動する。なお、ナット221は、環状底壁部221a及び円筒部221bにて、配管P13の対向開口端部に嵌装されて、円筒部221bの開口部により、上流側環状ボス部220に液密的に螺着されている。また、ナット231は、環状底壁部231a及び円筒部231bにて、配管P14の対向開口端部に嵌装されて、円筒部231bの開口部により、上流側環状ボス部230に液密的に螺着されている。   As shown in FIG. 2, the temperature detection device S2 has the same configuration as the above-described temperature detection device S1, and this temperature detection device S2 includes both pipes P13, as shown in FIGS. Connected between P14. Specifically, the temperature detection device S2 is configured such that the upstream side annular boss part 220 and the downstream side annular boss part 230 are respectively connected to the pipes P13 and P14 on both side pipes via both nuts 221 and 231 having a U-shaped cross section. The opposite end side opening is screwed in a fluid-tight manner. Accordingly, the waste liquid in the pipe P13 flows through the upstream annular boss part 220, the communication path 210a, and the downstream annular boss part 230 of the temperature detection device S2 toward the pipe P14. The nut 221 is fitted to the opposed opening end of the pipe P13 at the annular bottom wall portion 221a and the cylindrical portion 221b, and is fluid-tightly connected to the upstream annular boss portion 220 through the opening portion of the cylindrical portion 221b. It is screwed. The nut 231 is fitted to the opposite opening end of the pipe P14 at the annular bottom wall portion 231a and the cylindrical portion 231b, and is fluid-tightly connected to the upstream annular boss portion 230 through the opening portion of the cylindrical portion 231b. It is screwed.

また、本実施形態において、当該温度検出装置S2は、サーモパイル素子340cからの温度検出信号を、信号処理回路350、コネクタ360及び両リード線361を介して、電子制御回路160に出力する(図1及び図2参照)。   In the present embodiment, the temperature detection device S2 outputs a temperature detection signal from the thermopile element 340c to the electronic control circuit 160 via the signal processing circuit 350, the connector 360, and both lead wires 361 (FIG. 1). And FIG. 2).

以上のように構成した本第1実施形態において、開閉弁装置50からの処理薬液が上述のごとく配管P8内に流入すると、この処理薬液は、温度検出装置S1の基体200の上流側環状ボス部220、連通路210a及び下流側環状ボス部230の各内部を通り配管P9内に流動する。   In the first embodiment configured as described above, when the processing chemical solution from the on-off valve device 50 flows into the pipe P8 as described above, the processing chemical solution is upstream of the annular boss portion of the base body 200 of the temperature detection device S1. 220, the communication passage 210a, and the downstream side annular boss 230 pass through the inside of the pipe P9.

このような流動過程において、連通路210aの内部を流動する上記処理薬液が熱放射エネルギーを放射すると、この熱放射エネルギーは、基体200の下側凹部212内にその底壁部212bを通り入射する。ここで、上述のように、温度検出装置S1の下側凹部212の底壁部212bは、上述のごとく薄く形成されている。このため、上記処理薬液の熱放射エネルギーは底壁部212bを迅速に通り下側凹部212内に入射することができる。また、下側凹部212の底壁部212bは上述のごとくその全体に亘り薄く形成されている。このため、上記処理薬液の熱放射エネルギーは、底壁部212bの全体を通り効率よく下側凹部212内に入射することができる。 In such a flow process, when the treatment chemical liquid flowing inside the communication passage 210a radiates heat radiation energy, the heat radiation energy enters the lower recess 212 of the base body 200 through the bottom wall portion 212b. Shoot. Here, as described above, the bottom wall 212b of the lower recess 212 of the temperature detection device S1 is formed thin as described above. For this reason, the thermal radiant energy of the treatment chemical liquid can quickly enter the lower concave portion 212 through the bottom wall portion 212b. Further, the bottom wall portion 212b of the lower concave portion 212 is formed thin as described above. For this reason, the thermal radiant energy of the treatment chemical liquid can efficiently enter the lower concave portion 212 through the entire bottom wall portion 212b.

ついで、このように下側凹部212内に入射した熱放射エネルギーは、ガス遮断膜400に入射する。ここで、ガス遮断膜400は、上述のごとく腐食性ガスを遮断するとともに熱放射エネルギーを伝達する特性を有する。   Next, the heat radiation energy that has entered the lower concave portion 212 in this way enters the gas barrier film 400. Here, the gas barrier film 400 has the characteristic of blocking the corrosive gas and transmitting the heat radiation energy as described above.

このため、上記処理薬液が、上記熱放射エネルギーの放射と共に腐食性ガスをも底壁部212bを通し放出しても、ガス遮断膜400は、上記腐食性ガスを上側凹部211の内部から遮断しつつ、上記熱放射エネルギーを上側凹部211内に入射させる。 For this reason, even if the treatment chemical solution releases the corrosive gas together with the radiation of the thermal radiation energy through the bottom wall portion 212b, the gas barrier film 400 blocks the corrosive gas from the inside of the upper concave portion 211. while being caused to enter the thermal radiation energy into the upper recess 2 11.

これによれば、上記熱放射エネルギーを上側凹部211内に入射させるにあたり、上記腐食性ガスが温度センサ340に達することがないので、温度センサ340が、上記腐食性ガスと接触して腐食することなく、正常な検出作動を維持し得る。また、このような作用効果は、ガス遮断膜400という簡単な構成部材を上述のように設けるだけで、達成され得る。なお、基体200は、上述のごとくPTFEにより形成されているため、上記腐食性ガスと接触しても腐食することはない。両ナット221、231も、PTFEにより形成されているため、上記腐食性ガスと接触しても腐食することはない。 According to this, when caused to enter the thermal radiation energy into the upper recess 2 in 11, since the corrosive gas does not reach the temperature sensor 340, temperature sensor 340, corrode in contact with the corrosive gas Therefore, normal detection operation can be maintained. Moreover, such an effect can be achieved only by providing a simple structural member called the gas barrier film 400 as described above. In addition, since the base body 200 is formed of PTFE as described above, it does not corrode even when it comes into contact with the corrosive gas. Since both nuts 221 and 231 are also made of PTFE, they do not corrode even when they come into contact with the corrosive gas.

しかして、上述のように上側凹部211内に入射した熱放射エネルギーは、温度センサ340のケーシング340aの開口部343aを通り赤外線透過フィルター340bを赤外線として透過する。そして、このように透過した赤外線は、基板340dの開口部を通りサーモパイル素子340cにより受光される。 Thus, thermal radiation energy incident on the upper concave portion 2 in 11 as described above is transmitted through an opening 343a of the casing 340a of the temperature sensor 340 through the infrared transmission filter 340b as infrared. The infrared light transmitted in this way passes through the opening of the substrate 340d and is received by the thermopile element 340c.

これに伴い、当該サーモパイル素子340cは、その受光赤外線に基づき、連通路210a内の処理薬液の温度を表す温度検出信号を発生し、信号処理回路350は、サーモパイル素子340cからの温度検出信号を信号処理して、コネクター360及び両リード線361を通して電子制御回路110に出力する。   Accordingly, the thermopile element 340c generates a temperature detection signal indicating the temperature of the processing chemical in the communication path 210a based on the received infrared rays, and the signal processing circuit 350 outputs the temperature detection signal from the thermopile element 340c. The processed data is output to the electronic control circuit 110 through the connector 360 and both lead wires 361.

ここで、上述のように上記処理薬液の熱放射エネルギーが底壁部212bの全体を迅速に通り効率よく下側凹部212内に入射するので、その後のサーモパイル素子340cによる赤外線の受光及び温度検出信号の出力処理並びに信号処理回路350による温度検出信号の出力処理も、同様に応答性よく迅速にかつ良好になされ得る。   Here, as described above, the thermal radiant energy of the treatment chemical solution passes through the entire bottom wall portion 212b quickly and efficiently enters the lower concave portion 212, so that the infrared light reception and temperature detection signal after that by the thermopile element 340c. Similarly, the output processing of the temperature detection signal and the output processing of the temperature detection signal by the signal processing circuit 350 can be performed quickly and satisfactorily with good responsiveness.

このため、各流量制御装置20、40は、信号処理回路350からの温度検出信号に基づく電子制御回路110による制御のもとに、各配管P1、P2の上流部から下流部への各純水の流量を応答遅れなく迅速にかつ良好に制御し得る。その結果、このような流量制御に基づき、開閉弁装置50により配管P9内に供給される処理薬液の温度及び濃度は、上述のように所定の温度及び所定の濃度に応答性よく良好に維持され得る。   For this reason, each flow control device 20, 40 is controlled by the electronic control circuit 110 based on the temperature detection signal from the signal processing circuit 350, and each pure water from the upstream portion to the downstream portion of each pipe P 1, P 2. Can be controlled quickly and satisfactorily without response delay. As a result, based on such flow rate control, the temperature and concentration of the processing chemical solution supplied into the pipe P9 by the on-off valve device 50 are well maintained with good responsiveness to the predetermined temperature and the predetermined concentration as described above. obtain.

また、上述のごとく、開閉弁装置50からの混合純水が、上記処理薬液に代えて、配管P8内に供給される場合にも、当該混合純水の温度が、温度検出装置S1による当該混合純水の温度検出に基づき、上記処理薬液の場合と同様に、応答遅れなく良好に、上記所定の温度に維持され得る。   In addition, as described above, even when the mixed pure water from the on-off valve device 50 is supplied into the pipe P8 instead of the processing chemical solution, the temperature of the mixed pure water is mixed by the temperature detection device S1. Based on the temperature detection of pure water, the predetermined temperature can be maintained satisfactorily without delay in response, as in the case of the treatment chemical solution.

また、上述のようにアスピレータ130からの廃液が配管P13内に流入すると、この処理薬液は、温度検出装置S2の基体200の上流側環状ボス部220、連通路210a及び下流側環状ボス部230の各内部を通り配管P14内に流動する。   Further, as described above, when the waste liquid from the aspirator 130 flows into the pipe P13, this processing chemical liquid flows into the upstream side annular boss part 220, the communication path 210a, and the downstream side annular boss part 230 of the base body 200 of the temperature detection device S2. It flows through the inside and into the pipe P14.

このような流動過程において、温度検出装置S2の連通路210a内の廃液が熱放射エネルギーを放射すると、この熱放射エネルギーは、上記処理薬液の熱放射エネルギーと同様に、基体200の下側凹部212の底壁部212bの全体を迅速に通り下側凹部212内に入射する。   In such a flow process, when the waste liquid in the communication path 210a of the temperature detection device S2 radiates thermal radiant energy, this thermal radiant energy is similar to the thermal radiant energy of the treatment chemical liquid, and the lower concave portion 212 of the substrate 200. The bottom wall portion 212b of the first passage quickly enters the lower recess 212.

ついで、このように入射した廃液の熱放射エネルギーは、上記処理薬液の熱放射エネルギーと同様に、温度検出装置S2のガス遮断膜400に入射する。但し、上述のごとく、ガス遮断膜400は、腐食性ガスを遮断するとともに上記熱放射エネルギーを上側凹部211側に伝達する特性を有する。このため、上記廃液が、上記熱放射エネルギーの放射と共に腐食性ガスをも底壁部212bを通し下側凹部212内に放出させても、ガス遮断膜400は、上記腐食性ガスを上側凹部211の内部から遮断しつつ、上記熱放射エネルギーを上側凹部211内に入射させる。 Next, the heat radiation energy of the waste liquid incident in this manner is incident on the gas barrier film 400 of the temperature detection device S2, similarly to the heat radiation energy of the treatment chemical liquid. However, as described above, the gas barrier film 400 has a characteristic of blocking the corrosive gas and transmitting the thermal radiation energy to the upper recess 211 side . For this reason, even if the waste liquid releases the corrosive gas together with the radiation of the thermal radiant energy through the bottom wall portion 212b into the lower concave portion 212, the gas barrier film 400 causes the corrosive gas to flow into the upper concave portion 2. The heat radiation energy is allowed to enter the upper concave portion 211 while blocking from the inside of the upper portion 11 .

これによれば、温度検出装置S2においては、上記廃液の熱放射エネルギーを上側凹部211内に入射させるにあたり、上記廃液の腐食性ガスが温度センサ340に達することがないので、温度センサ340は、上記腐食性ガスと接触して腐食することなく、正常な作動を維持し得る。 According to this, the temperature detecting device S2 are, when made incident thermal radiation energy of the waste liquid in the upper recess 2 in 11, since the corrosive gas of the waste liquid is prevented from reaching the temperature sensor 340, temperature sensor 340 Normal operation can be maintained without being corroded by contact with the corrosive gas.

また、温度検出装置S2においても、上述のように上側凹部211内に入射した熱放射エネルギーが、上述と同様に、赤外線透過フィルター340bを赤外線として透過し、サーモパイル素子340cにより受光される。このため、温度センサ340は、サーモパイル素子340cによる受光赤外線に基づき、連通路210a内の廃液の温度を表す温度検出信号を発生して電子制御回路160に出力する。 Also in the temperature detecting device S2, thermal radiation energy incident on the upper concave portion 2 in 11 as described above, similarly to the above, it passes through the infrared transmission filter 340b as the infrared, and is received by the thermopile element 340 c. For this reason, the temperature sensor 340 generates a temperature detection signal indicating the temperature of the waste liquid in the communication path 210a based on the received infrared rays by the thermopile element 340c and outputs the temperature detection signal to the electronic control circuit 160.

ここで、上述のように、温度検出装置S2においても、下側凹部212の底壁部212bは、その全体に亘り、上述のごとく薄く形成されている。このため、上記廃液の熱放射エネルギーは、底壁部212bの全体を迅速に通り下側凹部212内に入射することができる。従って、その後の温度検出装置S2のサーモパイル素子340cによる赤外線の受光及び温度センサ340による温度検出信号の出力処理も、同様に迅速になされ得る。   Here, as described above, also in the temperature detection device S2, the bottom wall portion 212b of the lower concave portion 212 is formed thin as described above over the entirety thereof. For this reason, the thermal radiant energy of the waste liquid can quickly enter the lower concave portion 212 through the entire bottom wall portion 212b. Therefore, subsequent infrared light reception by the thermopile element 340c of the temperature detection device S2 and output processing of the temperature detection signal by the temperature sensor 340 can be performed quickly as well.

このため、流量制御装置150は、温度検出装置S2の温度センサ340からの温度検出信号に基づく電子制御回路160による制御のもとに、配管P11内に流入する工業用水の流量を応答遅れなく迅速にかつ良好に制御し得る。その結果、このような流量制御に基づき、配管P13、温度検出装置S2の連通路210a及び配管P14内に流入する廃液の温度は応答性よく良好に維持され得る。従って、両配管P13、P14の耐温度特性を阻害することなく良好に維持し得る。   For this reason, the flow rate control device 150 quickly adjusts the flow rate of industrial water flowing into the pipe P11 under a control by the electronic control circuit 160 based on the temperature detection signal from the temperature sensor 340 of the temperature detection device S2 without a response delay. And can be controlled well. As a result, based on such flow rate control, the temperature of the waste liquid flowing into the pipe P13, the communication path 210a of the temperature detection device S2, and the pipe P14 can be well maintained with good responsiveness. Accordingly, the temperature resistance characteristics of both the pipes P13 and P14 can be favorably maintained without being disturbed.

また、両温度検出装置S1、S2においては、底壁部212bは、上述のごとく、所定の薄さtとなっているから、上記処理薬液、混合純水或いは廃液が基体200の連通路210aの内部を流動する際に底壁部212bに圧力を与えることがあっても、当該底壁部212bが損傷することはない。   In both the temperature detection devices S1 and S2, the bottom wall portion 212b has a predetermined thickness t as described above, so that the treatment chemical solution, the mixed pure water, or the waste solution flows through the communication path 210a of the base body 200. Even if pressure is applied to the bottom wall 212b when flowing inside, the bottom wall 212b is not damaged.

また、両温度検出装置S1、S2においては、基体200の凹所210dは上述のごとくハウジング300aの底壁330により閉じられている。このため、凹所210d内の腐食性ガスを温度検出装置S1やS2の外部に漏洩させることなく、凹所210d内に入射する熱放射エネルギーに基づき、連通路210a内の液体である処理薬液や混合純水の温度を応答性よく温度センサ340によって、検出することができる。   In both the temperature detection devices S1 and S2, the recess 210d of the base body 200 is closed by the bottom wall 330 of the housing 300a as described above. For this reason, without causing the corrosive gas in the recess 210d to leak to the outside of the temperature detection devices S1 and S2, based on the heat radiation energy incident in the recess 210d, The temperature of the mixed pure water can be detected by the temperature sensor 340 with good responsiveness.

また、両温度検出装置S1、S2において、温度センサ340は、上述のごとく、連通路210aの周壁の一部である凹所210bの底壁部212bから間隔をおいて離れて位置している。このため、温度センサ340は、連通路210a内の液体とは、非接触の状態に維持される。従って、温度センサ340が、上記液体の熱容量の影響を受けることはないのは勿論のこと、上記液体が汚れたり、当該液体に対する流体抵抗となってこの液体の円滑な流れを阻害したりすることがない。   In both temperature detection devices S1 and S2, as described above, the temperature sensor 340 is located at a distance from the bottom wall portion 212b of the recess 210b, which is a part of the peripheral wall of the communication passage 210a. For this reason, the temperature sensor 340 is maintained in a non-contact state with the liquid in the communication path 210a. Therefore, the temperature sensor 340 is not affected by the heat capacity of the liquid, and the liquid is soiled or becomes a fluid resistance to the liquid, thereby hindering the smooth flow of the liquid. There is no.

また、上述のように温度センサ340は、連通路210a内の液体とは、非接触の状態に維持されるので、静電気が、上記液体の連通路210aの内壁との間の摩擦接触により発生しても、当該静電気が温度センサ340に作用して当該温度センサに損傷を招くこともない。
(第2実施形態)
図3は本発明の第2実施形態の要部を示している。この第2実施形態では、非接触式温度検出装置S3が、上記第1実施形態にて述べた温度検出装置S1に代えて採用されており、この温度検出装置S3は、上記第1実施形態にて述べた配管P3に代わる両配管P3a、P3bの間に配設されている。なお、上記第1実施形態にて述べた配管P1の下流部内の純水及び配管P2の下流部内の純水は、配管P3a内に流入して混合される。
Further, as described above, since the temperature sensor 340 is maintained in a non-contact state with the liquid in the communication path 210a, static electricity is generated by frictional contact with the inner wall of the liquid communication path 210a. However, the static electricity does not act on the temperature sensor 340 and the temperature sensor is not damaged.
(Second Embodiment)
FIG. 3 shows a main part of the second embodiment of the present invention. In the second embodiment, a non-contact temperature detection device S3 is employed instead of the temperature detection device S1 described in the first embodiment, and the temperature detection device S3 is the same as the first embodiment. Are arranged between the two pipes P3a and P3b instead of the pipe P3 described above. Note that the pure water in the downstream portion of the pipe P1 and the pure water in the downstream portion of the pipe P2 described in the first embodiment flow into the pipe P3a and are mixed.

温度検出装置S3は、上記第1実施形態にて述べた温度検出装置S1において、図4にて示すごとく、ガス遮断膜400を廃止した構成を有するもので、当該温度検出装置S3においては、上流側環状ボス部220及び下流側環状ボス部230が、それぞれ、断面コ字状の両ナット221、231を介し、配管P3a及び配管P3bの各対向端側開口部に液密的に螺着されている。なお、ナット221は、環状底壁部221a及び円筒部221bにて、配管P3aの対向開口端部に嵌装されて、円筒部221bの開口部により、上流側環状ボス部220に液密的に螺着されている。また、ナット231は、環状底壁部231a及び円筒部231bにて、配管P3bの対向開口端部に嵌装されて、円筒部231bの開口部により、上流側環状ボス部230に液密的に螺着されている。   The temperature detection device S3 has a configuration in which the gas blocking film 400 is eliminated as shown in FIG. 4 in the temperature detection device S1 described in the first embodiment. The side annular boss portion 220 and the downstream side annular boss portion 230 are thread-tightly screwed to the opposing end side opening portions of the pipe P3a and the pipe P3b via both nuts 221 and 231 having a U-shaped cross section, respectively. Yes. The nut 221 is fitted to the opposed opening end of the pipe P3a at the annular bottom wall portion 221a and the cylindrical portion 221b, and is fluid-tightly connected to the upstream annular boss portion 220 through the opening portion of the cylindrical portion 221b. It is screwed. The nut 231 is fitted to the opposite opening end of the pipe P3b at the annular bottom wall portion 231a and the cylindrical portion 231b, and is fluid-tightly connected to the upstream annular boss portion 230 through the opening portion of the cylindrical portion 231b. It is screwed.

これにより、温度検出装置S3においては、配管P3a内の混合純水は、上流側環状ボス部220、連通路210a及び下流側環状ボス部230を通り配管P3b内に向け流動する。これに伴い、温度検出装置S3の温度検出回路300bは、温度検出装置S1の温度検出回路と同様に、連通路210aに流れる混合純水からの熱放射エネルギーに基づき、当該混合純水の温度を表す温度検出信号を発生する。   Thereby, in the temperature detection device S3, the mixed pure water in the pipe P3a flows toward the pipe P3b through the upstream side annular boss part 220, the communication path 210a, and the downstream side annular boss part 230. Accordingly, the temperature detection circuit 300b of the temperature detection device S3 sets the temperature of the mixed pure water based on the thermal radiation energy from the mixed pure water flowing in the communication path 210a, similarly to the temperature detection circuit of the temperature detection device S1. A temperature detection signal is generated.

また、本第2実施形態では、上記第1実施形態にて述べた各流量制御装置20及び40は、それぞれ、配管P1の下流部内への常温の純水の流入量及び配管P2の下流部内への高温の純水の流入量を、温度検出装置S3の検出出力に基づく電子制御回路110による制御のもと、上記混合純水の温度を所定の温度に維持するように制御する。その他の構成は、上記第1実施形態と同様である。   In the second embodiment, the flow rate control devices 20 and 40 described in the first embodiment are respectively supplied to the downstream portion of the pipe P2 and the inflow amount of pure water at room temperature into the downstream portion of the pipe P1. The inflow amount of the high-temperature pure water is controlled to maintain the temperature of the mixed pure water at a predetermined temperature under the control of the electronic control circuit 110 based on the detection output of the temperature detection device S3. Other configurations are the same as those in the first embodiment.

このように構成した本第2実施形態において、両配管P1、P2の各下流部内の純水が配管P3a内に流入して混合されると、混合純水が、温度検出装置S3の基体200の上流側環状ボス部220、連通路210a及び下流側環状ボス部230を通り流動し、配管P3bから開閉弁装置50に流入する。   In the second embodiment configured as described above, when the pure water in the downstream portions of both pipes P1 and P2 flows into the pipe P3a and is mixed, the mixed pure water is added to the base 200 of the temperature detection device S3. The fluid flows through the upstream annular boss 220, the communication passage 210a, and the downstream annular boss 230, and flows into the on-off valve device 50 from the pipe P3b.

このような流動過程において、連通路210aの内部を流動する混合純水は、その熱放射エネルギーを、温度検出装置S3の下側凹部212内にその底壁部212bを通し入射する。本第2実施形態では、上記混合純水が、薬液や廃液のように腐食性ガスを放出する成分を含有しないので、上記第1実施形態にて述べたガス遮断膜が廃止されている。このため、上述のように下側凹部212内に放射された熱放射エネルギーは、直接、上側凹部211内に入射して、温度検出装置S3の温度センサ340のサーモパイル素子340cにより、赤外線として受光される。   In such a flow process, the mixed pure water flowing inside the communication path 210a enters its thermal radiation energy into the lower recess 212 of the temperature detection device S3 through its bottom wall 212b. In the second embodiment, since the mixed pure water does not contain a component that releases corrosive gas like chemical liquid and waste liquid, the gas barrier film described in the first embodiment is eliminated. Therefore, the heat radiation energy radiated into the lower concave portion 212 as described above directly enters the upper concave portion 211 and is received as infrared rays by the thermopile element 340c of the temperature sensor 340 of the temperature detection device S3. The

ここで、温度検出装置S3の下側凹部212の底壁部212bは、温度検出装置S1の底壁部212bと同様に、薄く形成されている。このため、上記混合純水の熱放射エネルギーは、底壁部212bを介し、サーモパイル素子340cにより応答性よく迅速に受光され得る。   Here, the bottom wall 212b of the lower recess 212 of the temperature detection device S3 is formed thin like the bottom wall 212b of the temperature detection device S1. For this reason, the thermal radiant energy of the mixed pure water can be rapidly received with high responsiveness by the thermopile element 340c through the bottom wall portion 212b.

これに伴い、温度検出装置S3の温度センサ340は、そのサーモパイル素子340cの受光赤外線に基づき、連通路210a内の混合純水の温度を表す温度検出信号を応答性よく迅速に発生し、上述と同様に電子制御回路110に出力する。   Along with this, the temperature sensor 340 of the temperature detection device S3 quickly generates a temperature detection signal indicating the temperature of the mixed pure water in the communication path 210a based on the received infrared ray of the thermopile element 340c with high responsiveness. Similarly, it is output to the electronic control circuit 110.

このため、各流量制御装置20、40は、温度検出装置S3からの温度検出信号に基づく電子制御回路110による制御のもとに、各配管P1、P2の上流部から下流部への各純水の流量、換言すれば、開閉弁装置50に流入する混合純水の流量を、開閉弁装置50に流入する前に、予め、応答遅れなく迅速にかつ良好に制御し得る。   For this reason, each flow control device 20, 40 is controlled by the electronic control circuit 110 based on the temperature detection signal from the temperature detection device S3, and each pure water from the upstream portion to the downstream portion of each pipe P1, P2. In other words, the flow rate of the mixed pure water flowing into the on-off valve device 50 can be quickly and satisfactorily controlled without delay in response before flowing into the on-off valve device 50.

その結果として、このような流量制御に基づき、開閉弁装置50により配管P9内に供給される処理薬液の温度及び濃度或いは混合純水の温度は、上述のように所定の温度及び所定の濃度に応答性よく良好に維持され得る。その他の作動及び作用効果は上記第1実施形態と同様である。
(第3実施形態)
図5は、本発明の第3実施形態の要部を示している。この第3実施形態では、温度検出装置S4が、上記第1実施形態にて述べた温度検出装置S1に代えて、両配管P8、P9の間に配設されている。
As a result, based on such flow rate control, the temperature and concentration of the processing chemical solution supplied into the pipe P9 by the on-off valve device 50 or the temperature of the mixed pure water is set to the predetermined temperature and the predetermined concentration as described above. Good responsiveness can be maintained. Other operations and effects are the same as those of the first embodiment.
(Third embodiment)
FIG. 5 shows a main part of the third embodiment of the present invention. In the third embodiment, the temperature detection device S4 is disposed between the pipes P8 and P9 instead of the temperature detection device S1 described in the first embodiment.

温度検出装置S4は、温度検出装置S1の基体200及び検出装置本体300に対応する基体500及び検出装置本体600でもって構成されている。基体500は、四角筒510及び底壁部材520を備えている。四角筒510は、その左右両側壁511にて、図5或いは図6から分かるように、それぞれ、矩形切欠部511aを有しており、これら各矩形切欠部511aは、互いに対向するように、左右両側壁511に形成されている(図5参照)。ここで、各矩形切欠部511aは、図6にて例示するごとく、所定の左右方向幅でもって、左右両側壁511の各上下方向中央部から左右両側壁511の各下端中央部にかけて矩形状に切り欠き形成されている。   The temperature detection device S4 includes a base body 500 and a detection device body 600 corresponding to the base body 200 and the detection device body 300 of the temperature detection device S1. The base 500 includes a square tube 510 and a bottom wall member 520. As can be seen from FIG. 5 or FIG. 6, the rectangular cylinder 510 has rectangular cutout portions 511a at the left and right side walls 511. The rectangular cutout portions 511a are arranged in the left and right sides so as to face each other. It is formed on both side walls 511 (see FIG. 5). Here, as illustrated in FIG. 6, each rectangular notch 511 a has a predetermined width in the left-right direction and has a rectangular shape extending from the center in the vertical direction of the left and right side walls 511 to the center of the lower ends of the left and right side walls 511. Notches are formed.

また、四角筒510は、その左右両側壁511にて、図5或いは図6にて示すごとく、それぞれ、半円切欠部511bを有しており、これら各半円切欠部511bは、互いに対向するように、左右両側壁511に形成されている(図5参照)。また、各半円切欠部511bは、各矩形切欠部511a内に開口するように、当該各矩形切欠部511aの上縁部の左右方向中央部を中心として、当該各上縁部から上方へ半円状に形成されている。なお、各半円切欠部511bの直径は、各矩形切欠部511aの左右方向幅よりも、短い(図6参照)。   Further, as shown in FIG. 5 or FIG. 6, the square cylinder 510 has semicircular notches 511 b on the left and right side walls 511, respectively, and these semicircular notches 511 b face each other. Thus, it is formed in the left and right side walls 511 (see FIG. 5). In addition, each semicircular cutout 511b is halfway upward from each upper edge around the center in the left-right direction of the upper edge of each rectangular cutout 511a so as to open into each rectangular cutout 511a. It is formed in a circular shape. In addition, the diameter of each semicircle notch part 511b is shorter than the horizontal direction width | variety of each rectangular notch part 511a (refer FIG. 6).

底壁部材520は、底壁部521、左右両側壁部522及び左右両側の各一対のフック523を有している。左右両側壁部522は、図5或いは図6から分かるように、四角筒510の各矩形切欠部511aの左右方向幅に等しい左右方向幅にて、底壁部521の左右両端側中央部から上方へL字状に延出している。   The bottom wall member 520 includes a bottom wall portion 521, left and right side wall portions 522, and a pair of hooks 523 on the left and right sides. As can be seen from FIG. 5 or FIG. 6, the left and right side wall portions 522 have a horizontal width equal to the horizontal width of each rectangular notch 511 a of the square tube 510, and are upward from the central portions on the left and right ends of the bottom wall portion 521. It extends in an L shape.

また、当該左右両側壁部522は、それぞれ、半円切欠部522aを有しており、当該各半円切欠部522aは、左右両側壁部522の各上縁中央部から下方に向け半円状に形成されている。但し、左右両側壁部522の各々において、互いに対応する各半円切欠部511b、522aは、連通管530(後述する)の外径に等しくなるように、各半円切欠部522aの中心及び半径は、それぞれ、各半円切欠部511bの中心及び半径と同一となっている。   Each of the left and right side wall portions 522 has a semicircular cutout portion 522a, and each of the semicircular cutout portions 522a has a semicircular shape downward from the center of each upper edge of the left and right side wall portions 522. Is formed. However, in each of the left and right side wall portions 522, the semicircular cutout portions 511b and 522a corresponding to each other have the center and radius of each semicircular cutout portion 522a so as to be equal to the outer diameter of the communication pipe 530 (described later). Are the same as the center and radius of each semicircular notch 511b.

しかして、左右両側壁部522が、底壁部521を四角筒510の下端開口部512に接合させるようにして、各矩形切欠部511a内にその下側開口端部から上方に向け嵌装されることで、底壁部材520が、四角筒510の下端開口部及び各矩形切欠部511aを閉塞するように四角筒510に組み付けられる。これに伴い、連通管530(後述する)を貫通状に支持するための両貫通穴部が、各両半円切欠部511b、522aでもって形成される。   Thus, the left and right side wall portions 522 are fitted upward in the respective rectangular cutout portions 511a from the lower opening end portions so that the bottom wall portion 521 is joined to the lower end opening portion 512 of the rectangular tube 510. Thus, the bottom wall member 520 is assembled to the rectangular tube 510 so as to close the lower end opening of the rectangular tube 510 and each rectangular notch 511a. Along with this, both through hole portions for supporting the communication pipe 530 (described later) in a penetrating manner are formed by the respective semicircular cutout portions 511b and 522a.

左右両側の各一対のフック523は、図6にて例示するごとく、底壁部521の左右両側前後端部から四角筒510内にその左右両側壁部511に沿い上方へ延出している。左側の一対のフック523の各延出端部には、各爪部523aが左側へL字状に屈曲するように形成されており、右側の一対のフック523の各延出端部には、各爪部523aが右側へL字状に屈曲するように形成されている。   As illustrated in FIG. 6, the pair of hooks 523 on both the left and right sides extend upward along the left and right side wall portions 511 into the rectangular tube 510 from the left and right side front and rear end portions of the bottom wall portion 521. Each extension end of the left pair of hooks 523 is formed so that each claw 523a bends to the left in an L shape, and each extension end of the pair of right hooks 523 has Each nail | claw part 523a is formed so that it may be bent in the L shape to the right side.

本第3実施形態において、上述の四角筒510及び底壁部材520は、上記第1実施形態にて述べたPTFE或いはPFAでもって形成されているから、各フック523は、共に、弾力性を有する。このため、上述のように底壁部材520を四角筒510に組み付けたとき、左側の一対のフック523は、その各爪部523aにより、その弾性に抗して、左側壁部511の各係止孔部511c内に係脱可能に係止するとともに、右側の一対のフック523は、その各爪部523aにより、その弾性に抗して、右側壁部511の各係止孔部511c内に係脱可能に係止する。これにより、底壁部材520は四角筒510にしっかりと組み付けられる。   In the third embodiment, since the above-described square tube 510 and the bottom wall member 520 are formed of the PTFE or PFA described in the first embodiment, each hook 523 has elasticity. . For this reason, when the bottom wall member 520 is assembled to the square tube 510 as described above, the pair of left hooks 523 are locked by the respective claw portions 523a against the elasticity of the left wall portions 511. The pair of right hooks 523 are engaged with the hooks 523c of the right side wall 511 against the elasticity of the pair of right hooks 523a. Lock removably. As a result, the bottom wall member 520 is firmly assembled to the square tube 510.

また、当該基体500は、連通管530を有している。この連通管530は、四角筒510の上記両貫通穴部に挿通状に支持されており、当該連通管530は、その両開口端部531、532にて、断面コ字状の両ナット533、534を介し、両配管P8、P9の各対向開口端部内に液密的に螺着されている。ここで、ナット533は、環状底壁部533a及び円筒部533bにて、配管P8の対向開口端部に嵌装されて、円筒部533bの開口部により、連通管530の開口端部531に液密的に螺着されている。また、ナット534は、環状底壁部534a及び円筒部534bにて、配管P9の対向開口端部に嵌装されて、円筒部534bの開口部により、連通管530の開口端部532に液密的に螺着されている。なお、連通管530は、図5にて示すごとく、左右両側の一対の鍔部531a、532aにより、上記両貫通穴部の外周部を挟持することで、四角筒510に脱出不能に支持されている。   In addition, the base body 500 has a communication pipe 530. The communication pipe 530 is supported in a penetrating manner in the both through-hole portions of the square tube 510, and the communication pipe 530 has both nuts 533 having a U-shaped cross section at both open end portions 531 and 532 thereof. Via 534, the pipes P8 and P9 are screwed in a liquid-tight manner in the opposing opening ends. Here, the nut 533 is fitted to the opposed opening end of the pipe P8 at the annular bottom wall portion 533a and the cylindrical portion 533b, and is liquidated to the opening end portion 531 of the communication pipe 530 by the opening portion of the cylindrical portion 533b. It is tightly screwed. Further, the nut 534 is fitted to the opposed opening end of the pipe P9 at the annular bottom wall portion 534a and the cylindrical portion 534b, and liquid-tight to the opening end portion 532 of the communication pipe 530 by the opening portion of the cylindrical portion 534b. Screwed on. As shown in FIG. 5, the communication pipe 530 is supported by the rectangular tube 510 so as not to escape by sandwiching the outer peripheral portions of the two through-hole portions with a pair of flange portions 531 a and 532 a on both the left and right sides. Yes.

また、連通管530の周壁のうちその軸方向中央部には、所定の環状壁部535が、当該軸方向中央部の外周部に沿い切削加工することで、上記所定の薄さtに形成されている。なお、このように環状壁部535を切削加工することで、当該環状壁部535の形成が容易になる。また、図5にて、符号514は、四角筒体510の左側壁511の上端部に形成したガス抜き用の小孔部を示す。   A predetermined annular wall portion 535 is formed at the axially central portion of the peripheral wall of the communication pipe 530 by cutting along the outer peripheral portion of the axially central portion so as to have the predetermined thickness t. ing. In addition, by forming the annular wall portion 535 in this way, the formation of the annular wall portion 535 is facilitated. Further, in FIG. 5, reference numeral 514 indicates a small hole portion for venting gas formed in the upper end portion of the left side wall 511 of the square cylinder 510.

検出装置本体600は、ハウジング600aと、上記第1実施形態にて述べた温度検出回路300bとにより構成されている。ハウジング600aは、四角筒610、上壁620及び底壁630を有するように、PPでもって形成されており、上壁620は、四角筒610の上側開口端部611を閉じるようにこの上側開口端部611と一体に形成されている。   The detection device main body 600 includes a housing 600a and the temperature detection circuit 300b described in the first embodiment. The housing 600a is formed of PP so as to have a square tube 610, an upper wall 620, and a bottom wall 630, and the upper wall 620 closes the upper open end 611 of the square tube 610. It is formed integrally with the part 611.

また、底壁630は、外周壁部631の内周側に円板状中央壁部632を同軸的にかつ一体的に形成してなるもので、この底壁630は、外周壁部631にて、四角筒610の下側開口端部612に装着されて、当該下側開口端部612を閉じている。   The bottom wall 630 is formed by coaxially and integrally forming a disc-shaped central wall portion 632 on the inner peripheral side of the outer peripheral wall portion 631. The bottom wall 630 is formed by the outer peripheral wall portion 631. The lower opening end 612 is attached to the lower opening end 612 of the square tube 610 and closed.

本第3実施形態では、底壁630の中央部を下方から円錐台状にくり抜き加工することで、外周壁部631が、その内周面631aにて、外周壁部631の下面から上方へ末すぼまり状に形成されている。これに伴い、円板状中央壁部632は、底壁630の上端側にて、薄肉状に形成されている。これにより、底壁630には、断面台形状空所が、その下側開口面と、外周壁部631の内周面631aと、円板状中央壁部632の下面とにより形成されている。   In the third embodiment, the central portion of the bottom wall 630 is cut out into a truncated cone shape from below, so that the outer peripheral wall portion 631 ends upward from the lower surface of the outer peripheral wall portion 631 at its inner peripheral surface 631a. It is formed in a constricted shape. Accordingly, the disk-shaped central wall 632 is formed in a thin shape on the upper end side of the bottom wall 630. As a result, a trapezoidal cross-sectional space is formed in the bottom wall 630 by the lower opening surface thereof, the inner peripheral surface 631 a of the outer peripheral wall portion 631, and the lower surface of the disc-shaped central wall portion 632.

しかして、以上のように構成したハウジング600aは、底壁630の外周壁部631の環状下端部631bにて、四角筒510の上側開口端部513内に同軸的に嵌装されて、四角筒510に組み付けられている。このため、上記断面台形状空所が四角筒510の内部と一体となる。換言すれば、一体的な空間が、外周壁部631の内周面631a、円板状中央壁部632の下面、四角筒510の内部及び底壁部材520の内面の間に形成される。なお、環状下端部631bは外周壁部631の外周部に沿い形成されている。   Thus, the housing 600a configured as described above is coaxially fitted into the upper open end 513 of the rectangular tube 510 at the annular lower end 631b of the outer peripheral wall 631 of the bottom wall 630, and the rectangular tube 510 is assembled. For this reason, the trapezoidal cross-sectional space is integrated with the inside of the square tube 510. In other words, an integral space is formed between the inner peripheral surface 631 a of the outer peripheral wall portion 631, the lower surface of the disk-shaped central wall portion 632, the inside of the square tube 510, and the inner surface of the bottom wall member 520. The annular lower end 631b is formed along the outer periphery of the outer peripheral wall 631.

温度検出回路300bにおいて、サーモパイル型温度センサ340は、ケーシング340aの円筒341にて、底壁630の円板状中央壁部632に形成した開口部632aに上方から気密的に嵌装されて下方へ延出しており、温度センサ340は、ケーシング340aの環状フランジ部342aにて、円板状中央壁部632の開口部632a上に着座している。   In the temperature detection circuit 300b, the thermopile type temperature sensor 340 is airtightly fitted from above into an opening 632a formed in the disc-shaped central wall 632 of the bottom wall 630 in the cylinder 341 of the casing 340a and downward. The temperature sensor 340 extends and is seated on the opening 632a of the disk-shaped central wall 632 at the annular flange 342a of the casing 340a.

これにより、温度センサ340は、ケーシング340aの底壁343により、四角筒510内の連通管530の環状壁部535に対向している。なお、上記第1実施形態にて述べた信号処理回路350及びコネクタ360は、ハウジング600a内に収容されている。また、上記第1実施形態にて述べた両リード線361は、ハウジング600aの上壁620の中央開口部に嵌着したケーブルグランド621を通り外方へ延出している。   Thereby, the temperature sensor 340 is opposed to the annular wall portion 535 of the communication pipe 530 in the square tube 510 by the bottom wall 343 of the casing 340a. Note that the signal processing circuit 350 and the connector 360 described in the first embodiment are accommodated in the housing 600a. Further, both the lead wires 361 described in the first embodiment extend outward through a cable gland 621 fitted in the central opening of the upper wall 620 of the housing 600a.

また、当該温度検出装置S4は、ガス遮断膜700を有しており、このガス遮断膜700は、その外周部により、四角筒510の上側開口端部513内にて、底壁630の外周壁部631の環状下端部に装着されている。これにより、ガス遮断膜700は、底壁630の上記断面台形状空所を四角筒510の内部から隔離する。なお、本実施形態では、ガス遮断膜700は、上記第1実施形態にて述べたガス遮断膜400の形成材料と同一の材料により、当該ガス遮断膜400と同様の特性を有するように形成されている。その他の構成は、上記第1実施形態と同様である。   Further, the temperature detection device S4 includes a gas barrier film 700, and the gas barrier film 700 is disposed on the outer peripheral wall of the bottom wall 630 within the upper opening end 513 of the square tube 510 by the outer peripheral portion thereof. Attached to the annular lower end of the part 631. Thereby, the gas barrier film 700 isolates the trapezoidal space in the bottom wall 630 from the inside of the square tube 510. In this embodiment, the gas barrier film 700 is formed of the same material as that of the gas barrier film 400 described in the first embodiment so as to have the same characteristics as the gas barrier film 400. ing. Other configurations are the same as those in the first embodiment.

このように構成した本第3実施形態においては、上述のごとく、一体的な空間が、四角筒510の内部を介し、外周壁部631の内周面631a、円板状中央壁部632の下面及び底壁部材520の内面の間に形成されている。このように形成された空間は、四角筒510の内部を含むため、上記第1或いは第2の実施形態にて述べた基体200の凹所210dに比べて、かなり広くなる。従って、基体500、即ち、四角筒510や底壁部材520の温度は、温度センサ340には伝わりにくい。   In the third embodiment configured as described above, as described above, the integrated space is formed through the inside of the square tube 510, and the inner peripheral surface 631a of the outer peripheral wall portion 631 and the lower surface of the disc-shaped central wall portion 632 are provided. And the inner surface of the bottom wall member 520. Since the space formed in this way includes the inside of the square tube 510, it is considerably wider than the recess 210d of the base body 200 described in the first or second embodiment. Therefore, the temperature of the base body 500, that is, the square tube 510 and the bottom wall member 520 is not easily transmitted to the temperature sensor 340.

このため、連通管530内の処理薬液や混合純水等の液体から放射される熱放射エネルギーは、基体500の温度に影響されることなく、かつ連通管530の上記所定の壁部535の熱容量により遅延されることなく、温度センサに迅速に入射する。その結果、当該非接触温度検出装置S4によれば、連通管530内の液体の温度を、基体500の温度に影響されることなく、応答性よく良好に検出することができる。その他の作動及び作用効果は、上記第1実施形態と同様である。   For this reason, the heat radiation energy radiated from the liquid such as the processing chemical solution or mixed pure water in the communication pipe 530 is not affected by the temperature of the base body 500 and the heat capacity of the predetermined wall portion 535 of the communication pipe 530. Quickly enters the temperature sensor without being delayed by. As a result, according to the non-contact temperature detection device S4, the temperature of the liquid in the communication pipe 530 can be detected well with good responsiveness without being affected by the temperature of the base 500. Other operations and effects are the same as those of the first embodiment.

なお、上記第3実施形態において、温度検出装置S4は、温度検出装置S1だけでなく、温度検出装置S2に代えて採用してよい。この場合、温度検出装置S4は、温度検出装置S2に代えて、両配管P13、P14の間に接続される。これによれば、配管P13から温度検出装置S4の連通管530内に流入する廃液の温度の検出にあたり、上記第3実施形態と同様の作用効果が達成され得る。   In the third embodiment, the temperature detection device S4 may be employed in place of the temperature detection device S2 as well as the temperature detection device S1. In this case, the temperature detection device S4 is connected between the pipes P13 and P14 instead of the temperature detection device S2. According to this, in the detection of the temperature of the waste liquid flowing into the communication pipe 530 of the temperature detection device S4 from the pipe P13, the same effects as those of the third embodiment can be achieved.

また、上記第3実施形態において、温度検出装置S4は、上記第2実施形態にて述べた温度検出装置S3に代えて採用し、両配管P3a、P3bの間に接続されてもよい。但し、ガス遮断膜700は、廃止する。   In the third embodiment, the temperature detection device S4 may be employed instead of the temperature detection device S3 described in the second embodiment, and may be connected between the pipes P3a and P3b. However, the gas barrier film 700 is abolished.

これによれば、配管P3aから温度検出装置S4の連通管530内に流入する混合純水の温度の検出にあたり、上記第2実施形態にて述べた作用効果を達成しつつ、上記第3実施形態と同様の作用効果を達成することができる。   According to this, in the detection of the temperature of the mixed pure water flowing into the communication pipe 530 of the temperature detection device S4 from the pipe P3a, the third embodiment is achieved while achieving the effects described in the second embodiment. The same effect can be achieved.

なお、本発明の実施にあたり、上記各実施形態に限ることなく、次のような種々の変形例が挙げられる。
(1)両温度検出装置S1、S2の基体200において、連通路210aの他に、他の連通路を採用し、当該他の連通路を、連通路210aに並行にかつ凹所210bの下側凹部212を通るように、四角柱部210に対し貫通状に形成して、パージ用ガス(例えば、窒素ガス)を、上記他の連通路の上流部、下側凹部212及び上記他の連通路の下流部を通し流動させるようにしてもよい。
In carrying out the present invention, the following various modifications are possible without being limited to the above embodiments.
(1) In the base body 200 of both the temperature detection devices S1 and S2, in addition to the communication path 210a, another communication path is adopted, and the other communication path is parallel to the communication path 210a and below the recess 210b. A purge gas (for example, nitrogen gas) is formed so as to pass through the rectangular column 210 so as to pass through the recess 212, and an upstream portion of the other communication passage, the lower recess 212, and the other communication passage. You may make it flow through the downstream part.

ここで、上記パージ用ガスは、連通路210a内の液体から凹所210b内にその底壁部212bを通り放射される熱放射エネルギーを温度センサ340に伝達しても、連通路210a内の液体から凹所210b内にその底壁部212bを通り放出される腐食性ガスを温度センサ340から遮断する特性を有する。なお、上記パージ用ガス及び上記他の連通路は、ガス遮断膜400と共に、或いは、このガス遮断膜400に代えて、ガス遮断手段として把握してもよい。   Here, the purge gas is not limited to the liquid in the communication passage 210a even if the thermal radiation energy radiated from the liquid in the communication passage 210a through the bottom wall portion 212b into the recess 210b is transmitted to the temperature sensor 340. The corrosive gas released from the temperature sensor 340 through the bottom wall 212b into the recess 210b is blocked from the temperature sensor 340. The purge gas and the other communication passage may be grasped as a gas blocking means together with the gas blocking film 400 or instead of the gas blocking film 400.

これによれば、温度センサ340は、下側凹部212内のパージ用ガスによる上記腐食性ガスの遮断のもとに、連通路210a内の液体の温度を検出する。従って、当該液体の温度を検出するにあたり、温度センサ340が、上記腐食性ガスにより腐食されることなく、常に正常な検出作動を維持し得る。
(2)上記実施形態にて述べた検出装置本体300のハウジング300aにおいて、四角筒310及び上壁320は廃止してもよい。なお、上壁320は、ハウジング300aの構成にかかわりなく、基体200の台状四角柱部210の凹所210bを閉じる壁部材として把握してもよい。
(3)本発明は、枚葉式処理系統に代えて、バッチ式処理系統に適用してもよい。このバッチ式処理系統によれば、複数の半導体ウェハーが、まとまってバッチ式処理系統において処理薬液の処理或いは混合純水による洗浄を受けることになる。これによっても、処理薬液や混合純水の温度を検出するにあたり上記各実施形態にて述べたと実質的に同様の作用効果が達成され得る。
(4)温度検出装置の基体200、500、ハウジング300a、600a及び各配管P1〜P11等の各種構成部材の形成材料は、PFAに限ることなく、当該各種構成部材のうち薬液と接触する構成部材では、PTFEであってもよく、当該各種構成部材のうち薬液と接触しない構成部材では、PP或いはPVCであってもよい。
(5)ガス遮断膜400、700の形成材料は、PCTFE或いはPTFEに限ることなく、フッ素樹脂であればよく、一般的には、熱放射エネルギーに対する透過性及び上記薬液に対する遮断性を有する材料であればよい。
(6)連通路210aは、直線状に限ることなく、クランク状或いは蛇行状等の適宜な形状に形成されていてもよい。例えば、連通路210aの周壁は、下側凹部212の底壁部212bに相当する所定の壁部位を含む周壁部にて、下側凹部212側へクランク状に屈曲していてもよい。
According to this, the temperature sensor 340 detects the temperature of the liquid in the communication path 210a under the blocking of the corrosive gas by the purge gas in the lower recess 212. Therefore, when detecting the temperature of the liquid, the temperature sensor 340 can always maintain a normal detection operation without being corroded by the corrosive gas.
(2) In the housing 300a of the detection apparatus main body 300 described in the above embodiment, the square tube 310 and the upper wall 320 may be eliminated. The upper wall 320 may be grasped as a wall member that closes the recess 210b of the trapezoidal square column part 210 of the base body 200 regardless of the configuration of the housing 300a.
(3) The present invention may be applied to a batch processing system instead of the single wafer processing system. According to this batch type processing system, a plurality of semiconductor wafers are collectively subjected to processing of a processing chemical solution or cleaning with mixed pure water in the batch type processing system. Also by this, substantially the same operation and effect as described in the above embodiments can be achieved in detecting the temperature of the processing chemical solution and the mixed pure water.
(4) The forming material of various constituent members such as the base bodies 200 and 500, the housings 300a and 600a, and the pipes P1 to P11 of the temperature detecting device is not limited to PFA, and the constituent members that come into contact with the chemical solution among the various constituent members. Then, PTFE may be sufficient, and PP or PVC may be sufficient as the structural member which does not contact a chemical | medical solution among the said various structural members.
(5) The material for forming the gas barrier films 400 and 700 is not limited to PCTFE or PTFE, but may be a fluororesin, and is generally a material having a permeability to thermal radiation energy and a barrier to the above chemical solution. I just need it.
(6) The communication path 210a is not limited to a linear shape, and may be formed in an appropriate shape such as a crank shape or a meandering shape. For example, the peripheral wall of the communication path 210a may be bent in a crank shape toward the lower concave portion 212 at a peripheral wall portion including a predetermined wall portion corresponding to the bottom wall portion 212b of the lower concave portion 212.

また、連通路210aが直線状であっても、連通路210aの周壁のうち下側凹部212の底壁部212bに相当する所定の壁部位を、下側凹部212側へ筒状に開口する筒状開口部として形成し、この筒状開口部の開口端部を閉じるように、底壁部212bを形成するようにしてもよい。
(7)本発明の実施にあたり、温度センサ340は、上記実施形態にて述べたものに限ることなく、サーモパイル素子を内蔵する赤外線センサであれば、どのようなものであってもよい。
(8)本発明は、半導体製造装置に代えて、液晶パネル製造装置等に適用してもよい。
(9)アスピレータ130に代えて、ポンプを採用してもよい。
Further, even when the communication path 210a is linear, a predetermined wall portion corresponding to the bottom wall 212b of the lower recess 212 in the peripheral wall of the communication path 210a is opened to the lower recess 212 in a cylindrical shape. The bottom wall 212b may be formed so as to be formed as a cylindrical opening and to close the opening end of the cylindrical opening.
(7) In implementing the present invention, the temperature sensor 340 is not limited to the one described in the above embodiment, and may be any infrared sensor that incorporates a thermopile element.
(8) The present invention may be applied to a liquid crystal panel manufacturing apparatus or the like instead of the semiconductor manufacturing apparatus.
(9) Instead of the aspirator 130, a pump may be employed.

半導体製造装置の枚葉式処理系統に適用された本発明の第1実施形態を示すブロック回路図である。1 is a block circuit diagram showing a first embodiment of the present invention applied to a single wafer processing system of a semiconductor manufacturing apparatus. FIG. 図1の非接触式温度検出装置の拡大破断断面図である。It is an expanded fracture sectional view of the non-contact-type temperature detection apparatus of FIG. 上記枚葉式処理系統に適用された本発明の第2実施形態の要部を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the principal part of 2nd Embodiment of this invention applied to the said single wafer processing system. 図3の非接触式温度検出装置の拡大破断断面図である。It is an expanded fracture sectional view of the non-contact-type temperature detection apparatus of FIG. 本発明の第3実施形態の非接触式温度検出装置を示す拡大破断断面図である。It is an expanded fracture sectional view which shows the non-contact-type temperature detection apparatus of 3rd Embodiment of this invention. 図5の基体の左側面図である。It is a left view of the base | substrate of FIG.

符号の説明Explanation of symbols

200、500…基体、210a…連通路、210b…凹所、212b…底壁部、
330…底壁、340…サーモパイル型温度センサ、400、700…ガス遮断膜、
510…四角筒、512…下側開口端部、513…他側開口端部、530…連通管、
535…環状壁部。
200, 500 ... base, 210a ... communication path, 210b ... recess, 212b ... bottom wall,
330 ... Bottom wall, 340 ... Thermopile type temperature sensor, 400, 700 ... Gas barrier film,
510 ... Square tube, 512 ... Lower open end, 513 ... Other open end, 530 ... Communication pipe,
535 ... An annular wall.

Claims (4)

PTFE等のフッ素樹脂からなる貫通状の連通路を具備して、当該連通路の周壁の所定の壁部位を底壁部として凹所を外方に向け開口させるように、腐食性ガスによっては腐食されにくい樹脂でもって形成してなる基体と、
当該基体に前記凹所を閉じるように組み付けてなる壁部材と、
前記基体の前記凹所の前記底壁部に対し間隔をおいて対向するように前記壁部材に支持されるサーモパイル型温度センサであって前記腐食性ガスを放出する成分を含有して前記連通路を通り流れる液体から前記凹所内にその底壁部を介し放射される熱放射エネルギーに基づき前記液体の温度を検出するサーモパイル型温度センサと、
前記基体の前記凹所内に放射される前記熱放射エネルギーを前記温度センサへ伝達するとともに前記液体から前記凹所内にその底壁部を介し放出される前記腐食性ガスを前記温度センサから遮断するように前記基体に設けられるガス遮断手段とを備えて、
前記連通路の前記周壁は、前記所定の壁部位にて、前記液体がその圧力でもって前記所定の壁部位に損傷を与えることのない薄さであって当該液体からの前記熱放射エネルギーが応答性よく迅速に前記所定の壁部位を通り前記温度センサに達するような薄さに形成されている非接触式温度検出装置。
A through-shaped communication passage ing of a fluororesin such as PTFE and ingredients Bei, so as to open the mouth toward the recess outward a predetermined wall portion of the peripheral wall of the communication passage as the bottom wall portion, corrosive gas Depending on the substrate formed of a resin that is not easily corroded ,
A wall member assembled to the base so as to close the recess;
Before contain components that release said recess said bottom wall portion and the corrosive gas a thermopile type temperature sensor that will be supported by the wall member so as to face at a distance to the said base Killen A thermopile type temperature sensor for detecting the temperature of the liquid based on thermal radiant energy radiated from the liquid flowing through the passage into the recess through the bottom wall ;
The thermal radiant energy radiated into the recess of the base is transmitted to the temperature sensor, and the corrosive gas released from the liquid into the recess through the bottom wall is shielded from the temperature sensor. A gas blocking means provided on the base body ,
The peripheral wall of the communication passage is thin at the predetermined wall portion so that the liquid does not damage the predetermined wall portion with the pressure, and the thermal radiation energy from the liquid is responsive. A non-contact temperature detecting device formed so as to be thin enough to pass through the predetermined wall portion quickly and efficiently.
記ガス遮断手段は、前記凹所内にてその底壁部から前記温度センサを隔離するように支持されるガス遮断膜であって前記凹所内に放射される前記熱放射エネルギーを前記温度センサへ伝達するとともに前記凹所内に放出される前記腐食性ガスを前記温度センサから遮断するガス遮断膜であることを特徴とする請求項1に記載の非接触式温度検出装置。 Before SL gas shutoff means, the thermal radiation energy emitted by a gas barrier film which is supported so as to isolate the temperature sensor from the bottom wall portion in the recess in said recess to said temperature sensor The non-contact type temperature detecting device according to claim 1, wherein the non-contact type temperature detecting device is a gas barrier film that transmits the corrosive gas that is transmitted and released into the recess from the temperature sensor . 筒と、この筒の一側開口端部を閉じる一側壁部材とを有して、前記筒の周壁にその軸に交叉して挿通されるPTFE等のフッ素樹脂製の連通管であってその周壁に前記筒の他側開口端部を臨むように所定の壁部位を形成してなる連通管を具備する基体と、
前記筒の前記他側開口端部を閉じる他側壁部材であってその前記連通管の前記所定の壁部位に対する対向部位を前記筒の前記他側開口端部から前記所定の壁部位とは離れる方向に向け凹状となるように形成してなる他側壁部材と、
前記連通管の前記所定の壁部位に間隔をおいて対向するように前記他側壁部材の前記凹状対向部位に支持されて、前記連通管を通り流れる液体から当該連通管の前記所定の壁部位を介し前記筒内に放射される前記熱放射エネルギーに基づき前記液体の温度を検出するサーモパイル型温度センサとを備えて、
前記連通管の前記所定の壁部位は、前記液体がその圧力でもって前記所定の壁部位に損傷を与えることのない薄さであって当該液体からの前記熱放射エネルギーが応答性よく迅速に前記所定の壁部位を通り前記温度センサに達するような薄さに形成されている非接触式温度検出装置。
A pipe made of fluororesin such as PTFE, which has a cylinder and a side wall member that closes one side opening end of the cylinder, and is inserted into the peripheral wall of the cylinder so as to cross the shaft. A base body comprising a communication pipe formed with a predetermined wall portion so as to face the other open end of the cylinder;
A side wall member that closes the other side opening end of the cylinder, and a direction in which the communication pipe is opposed to the predetermined wall part away from the predetermined wall part from the other side opening end of the cylinder. The other side wall member formed to be concave toward
The predetermined wall portion of the communication tube is supported by the concave facing portion of the other side wall member so as to face the predetermined wall portion of the communication tube with an interval, and from the liquid flowing through the communication tube. A thermopile type temperature sensor for detecting the temperature of the liquid based on the thermal radiant energy radiated into the cylinder via,
The predetermined wall portion of the communication pipe is thin enough that the liquid does not damage the predetermined wall portion due to the pressure thereof, and the thermal radiant energy from the liquid is quickly and responsively responsive. A non- contact temperature detecting device formed to be thin enough to reach a temperature sensor through a predetermined wall portion .
前記液体は、腐食性ガスを放出する成分を含有しており、
前記基体及び前記連通管は、前記腐食性ガスによっては腐食されにくい樹脂でもって形成されており、
前記筒内を介し前記他側壁部材の前記凹状対向部位と前記一側壁部材との間に形成される空間内にて前記温度センサを前記所定の壁部位から隔離するように支持されて前記筒内に放射される前記熱放射エネルギーを前記温度センサへ伝達するとともに前記筒内に放出される前記腐食性ガスを前記温度センサから遮断するガス遮断膜が備えられていることを特徴とする請求項3に記載の非接触式温度検出装置。
The liquid contains a component that releases corrosive gas,
The base body and the communication pipe are formed of a resin that is not easily corroded by the corrosive gas,
The temperature sensor is supported so as to be isolated from the predetermined wall portion in a space formed between the concave facing portion of the other side wall member and the one side wall member via the inside of the tube. 4. A gas barrier film is provided for transmitting the thermal radiation energy radiated to the temperature sensor to the temperature sensor and blocking the corrosive gas released into the cylinder from the temperature sensor. The non- contact type temperature detection device described in 1 .
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