JP5278544B2 - 同期型グリッドの箔影除去方法およびそれを用いた放射線撮影装置 - Google Patents
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Description
本発明は、放射線撮影装置の散乱放射線を除去する同期型グリッドの箔影除去方法およびそれを用いた放射線撮影装置に係り、特に、画像処理による同期型グリッドの箔影除去方法およびそれを用いた放射線撮影装置に関する。
従来、X線撮影装置には、散乱X線による画質低下を低減するためにグリッドを備えている。しかし、グリッドを用いた場合、グリッド箔の影による細かな縦状のパターンが撮影画像に重畳される。
また、近年、X線検出器としてFPD(Flat Panel Detector)が汎用されている。FPDは、撮影画像の空間分解能およびX線感度向上をもたらし、その利用が急速に増加している。しかしながら、X線検出器の空間分解能およびX線感度が向上するほどグリッド箔影が鮮明になり、撮影画像を読影する際の邪魔となる。このグリッド箔影を除去するために、周波数変換を利用して画像処理にて除去する方法が特許文献1に開示されている。
一方、FPDに対して、同期型グリッドが特許文献2に開示されている。図23に示すように、同期型グリッド43は、グリッド箔43aのそれぞれの平坦面がX線源41の焦点FとFPD44のX線検出面とを結ぶ直線42に沿うように傾斜するように配置されている。すなわち、グリッド箔43aは直接X線に沿うように傾斜されている。
また、同期型グリッド43は、図24に示すように、グリッド箔影がFPD44の検出画素47の中央に映るようにグリッド箔43aを配列したものである。このように、グリッド箔43aと検出画素47との位置が同期して配置されている。このグリッド箔43aにより散乱X線45を吸収することができるので、散乱X線45によるノイズを除去することができる。また、同期型グリッド43は従来型グリッドと異なり、グリッド箔43aの間にグラファイト等のスペーサを使用しないので、直接X線46が吸収されることなく、直接X線46の検出効率を増加することができる。
同期型グリッドのグリッド箔は、従来の非同期型グリッドのグリッド箔に対してグリッド箔の間隔が異なるにもかかわらずグリッド比が同じである。同期型グリッドでは、グリッド箔の間隔Gpが、非同期型グリッドのものよりも長い。しかし、直線X線の入射方向に沿う方向のグリッド箔の高さAは同期型グリッドの方が非同期型グリッドのものよりも高い。こうすることで同期型グリッドのグリッド比A/Gpは非同期型グリッドのグリッド比と等しく設定することができる。このように、同期型グリッドにおけるグリッド箔Gpの間隔が従来のものよりも長くても、グリッド箔の高さAを高くすることで、散乱X線45のノイズ除去の性能を同じにすることができる。
しかしながら、同期型グリッドは、グリッド箔の製作上およびグリッド箔を整列する構造上の理由のために直線状のグリッド箔の若干の歪みや配列位置の微小なずれを持つ。また、同期型グリッドのグリッド箔の高さAは非同期型グリッドのものよりも高いので、同期型グリッドの箔影はグリッド箔の歪みの影響を受けやすい。このグリッド箔の歪みや位置ずれを起因として、グリッド箔影にも歪みが生じる。この結果、グリッド箔影の筋ごとに箔影の測定値にバラツキが生じ、グリッド箔影に濃淡が生じる。これより、グリッド箔影を除去するのに周波数変換を利用しても、縦状パターンのグリッド箔影を十分に除去することができない。また、除去しきれなかったグリッド箔影を原因としてアーチファクトも出現する。
また、C型アームX線撮影装置では、C型アームの両端に大重量のX線管とFPDが搭載されている。これより、C型アームの旋回等の移動にともない、C型アームの微小なたわみが発生し、FPDに対するX線管焦点の位置が少し(最大でも2mm程度)移動する。X線管焦点が移動すると、FPD上のグリッド箔影も移動するのでグリッド箔影を十分に除去できない。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、同期型グリッドのグリッド箔の歪みによるノイズを除去することができる同期型グリッドの箔影除去方法および同期型グリッドの箔影除去装置を提供することを目的とする。
本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、第1の発明は、グリッド箔影が放射線を検出する画素の中央に映るようにグリッド箔を一定間隔に配置した同期型グリッドを備えた放射線撮影装置のグリッド箔影除去方法において、透視画像から前記グリッド箔影の影響を受けていない画素の検出信号値を抽出して補間処理を実施することで近似透視画像を求める近似透視画像算出ステップと、前記透視画像と前記近似透視画像との差を求めてグリッド箔影画像を求めるグリッド箔影画像算出ステップと、前記グリッド箔影画像を前記グリッド箔影の長さ方向に平均化して箔影標準画像を求める箔影標準画像算出ステップと、前記箔影標準画像を基に、前記透視画像から前記グリッド箔影を除去する箔影除去ステップとを備えたことを特徴とする。
すなわち、第1の発明は、グリッド箔影が放射線を検出する画素の中央に映るようにグリッド箔を一定間隔に配置した同期型グリッドを備えた放射線撮影装置のグリッド箔影除去方法において、透視画像から前記グリッド箔影の影響を受けていない画素の検出信号値を抽出して補間処理を実施することで近似透視画像を求める近似透視画像算出ステップと、前記透視画像と前記近似透視画像との差を求めてグリッド箔影画像を求めるグリッド箔影画像算出ステップと、前記グリッド箔影画像を前記グリッド箔影の長さ方向に平均化して箔影標準画像を求める箔影標準画像算出ステップと、前記箔影標準画像を基に、前記透視画像から前記グリッド箔影を除去する箔影除去ステップとを備えたことを特徴とする。
上記構成によれば、グリッド箔影が放射線を検出する画素の中央に映るようにグリッド箔を一定間隔に配置した同期型グリッドを備えた放射線撮影装置のグリッド箔影除去方法において、近似透視画像算出ステップにより、透視画像からグリッド箔影の影響を受けていない画素の検出信号を抽出して補間処理を実施することで近似透視画像を求める。次に、グリッド箔影画像算出ステップにより、透視画像と近似透視画像との差を求めることでグリッド箔影画像を求める。さらに、箔影標準画像算出ステップにより、グリッド箔影画像をグリッド箔影の長さ方向に平均化して箔影標準画像を求める。そして、箔影除去ステップにより、箔影標準画像を基に、透視画像からグリッド箔影を除去する。
グリッド箔は箔方向に引っ張られて配列されているために、グリッド箔の長さ方向のグリッド箔影の変化は比較的少ない。一方、グリッド箔ごとには形状や捩れによる誤差や微小な配列方向や位置誤差を持つ。グリッド箔ごとにグリッド箔影の大きさに不均一が存在しても、グリッド箔影をグリッド箔影の長さ方向に平均化して、平均化した箔影標準画像を基に透視画像からグリッド箔影を除去する。平均化を行うことで画素ごとにランダムに混入するアンプノイズや量子ノイズ等も除去できる。また、近似透視画像を算出する際に含まれる補間誤差も除去することができる。上述したように、グリッド箔の間にスペーサを挟まないので、特にグリッド箔を正確に配列することが難しい同期型グリッドにおいても、アーチファクトを出現させることなく、グリッド箔影を除去することができる。
また、前記箔影除去ステップは、前記透視画像と前記箔影標準画像との差分により前記透視画像から前記グリッド箔影を除去することが好ましい。透視画像から箔影標準画像を差し引くことで透視画像からグリッド箔影を簡易に除去することができる。
また、前記箔影標準画像算出ステップにより平均化された箔影標準画像を、行ごとに、前記グリッド箔が配置された一定間隔内にある画素数ごとに抽出して分割した行データを作成し、前記行データを平滑化して元の前記箔影標準画像と置き換える平滑化ステップを備え、前記箔影除去ステップは、前記透視画像と平滑化された前記箔影標準画像との差分により前記透視画像からグリッド箔影を除去することが好ましい。
上記構成によれば、箔影標準画像算出ステップにより平均化された箔影標準画像を、行ごとに、グリッド箔が配置された一定間隔内にある画素数ごとに抽出して分割した行データを作成し、この行データを平滑化して元の箔影標準画像と置き換える平滑化ステップを備えるので、行方向には平滑化できなかった箔影標準画像を、グリッド箔の間で配置された画素の数だけ分割された行データごとに平滑化することができる。これより、アンプノイズや量子ノイズをさらに除去することもできる。また、箔影除去ステップは、透視画像と平滑化された箔影標準画像との差を求めて透視画像からグリッド箔影を除去する。
また、前記箔影除去ステップは、前記グリッド箔影画像と前記箔影標準画像との差を求めて誤差成分画像を求める誤差成分画像算出ステップと、前記透視画像と前記誤差成分画像との差を求めて箔影歪み除去画像を求める箔影歪み除去画像算出ステップと、前記箔影歪み除去画像に周波数変換処理を施して前記グリッド箔影を除去する周波数変換処理ステップとを備えてもよい。
上記構成によれば、誤差成分画像算出ステップにより、グリッド箔影画像と箔影標準画像との差を求めて誤差成分画像を求める。箔影歪み除去画像算出ステップにより、透視画像と誤差成分画像との差を求めて箔影歪み除去画像を求める。周波数変換処理ステップにより、箔影歪み除去画像に周波数変換処理を施してグリッド箔影を除去する。平均化した箔影標準画像と箔影画像との差である誤差成分画像を透視画像から除去することによりグリッド箔ごとの誤差成分が除かれるので、残ったグリッド箔影は周波数変換処理を施すことで除去することができる。グリッド箔を正確に配列することが難しい同期型グリッドにおいても、グリッド箔影を除去するのに周波数変換処理を実施することができる。
また、前記箔影標準画像算出ステップにより平均化された箔影標準画像を、行ごとに、前記グリッド箔が配置された一定間隔内にある画素数ごとに抽出して分割した行データを作成し、前記行データを平滑化して元の前記箔影標準画像と置き換える平滑化ステップを備え、前記誤差成分画像算出ステップは、前記グリッド箔影画像と平滑化された前記箔影標準画像との差を求めて誤差成分画像を求めてもよい。
上記構成によれば、箔影標準画像算出ステップにより平均化された箔影標準画像を、行ごとに、グリッド箔が配置された一定間隔内にある画素数ごとに抽出して分割した行データを作成し、この行データを平滑化して元の箔影標準画像と置き換える平滑化ステップを備えるので、行方向には平滑化できなかった箔影標準画像を、グリッド箔の間で配置された画素の数だけ分割された行データごとに平滑化することができる。これより、アンプノイズや量子ノイズをさらに除去することもできる。また、誤差成分画像算出ステップは、グリッド箔影画像と平滑化された箔影標準画像との差を求めて画素成分画像を求める。
また、設定入力されたSID量およびC型アームの移動量より、画素間の箔影の移動を補正しない通常補正モードまたは画素間の箔影の移動を補正する特殊補正モードのいずれかを選択する画像処理モード選択ステップと、前記画像処理モード選択ステップにより通常補正モードが選択された場合、前記近似透視画像算出ステップは、予めグリッド箔影が映るように配置された画素以外の全ての画素の検出信号を抽出して補間処理を実施し、前記画像処理モード選択ステップにより特殊補正モードが選択された場合、前記近似透視画像算出ステップは、箔影が移動しても箔影が映らないグリッド箔間の中央に位置する画素の検出信号を抽出して補間処理を実施することが好ましい。
上記構成によれば、画像処理モード選択ステップにより、設定入力されたSID量およびC型アームの移動量により、箔影が画素を跨いで移動しない場合には通常補正モードが選択され、箔影が画素を跨いで移動する場合には、画素間の箔影の移動を補正する特殊補正モードが選択される。通常補正モードが選択された場合、近似透視画像算出ステップは、予めグリッド箔影が映るように配置された画素以外の全ての画素をグリッド箔影の影響を受けていない画素としてこれらの画素の検出信号を抽出して補間処理を実施する。これに対して、特殊補正モードが選択された場合、箔影が移動しても箔影が映らないグリッド箔間の中央に位置する画素をグリッド箔影の影響を受けていない画素としてこれらの画素の検出信号を抽出して補間処理を実施する。これより、箔影が画素を跨いで移動しない場合も、移動する場合にも、適切に補間処理を実施して近似透視画像を算出することができる。
また、第2の発明は、放射線撮影装置において、被検体に放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する画素を2次元アレイ状に配置した放射線検出手段と、グリッド箔影が前記画素の中央に映るように一定間隔に配置された同期型グリッドと、被検体を透過して検出した透視画像からグリッド箔影の影響を受けていない画素集合を抽出して補間処理を施して近似透視画像を算出する近似透視画像算出部と、前記透視画像と前記近似透視画像との差を求めてグリッド箔影画像を求めるグリッド箔影画像算出部と、前記グリッド箔影画像をグリッド箔影の長さ方向に平均化してグリッド箔影標準画像を求める箔影標準画像算出部と、前記グリッド箔影標準画像を基に前記透視画像から前記グリッド箔影を除去して箔影除去画像を求める箔影除去画像算出部とを備えたことを特徴とする。
上記構成によれば、放射線撮影装置において、放射線照射手段により被検体に放射線を照射し、放射線を検出する画素を2次元アレイ状に配置した放射線検出手段により被検体を透過した放射線を検出し、同期型グリッドはグリッド箔影が画素の中央に映るように一定間隔に配置されている。近似透視画像算出部では、被検体を透過して検出した透視画像からグリッド箔影の影響を受けていない画素集合を抽出して補間処理を施して近似透視画像を算出する。グリッド箔影画像算出部では、透視画像と近似透視画像との差を求めてグリッド箔影画像を求める。箔影標準画像算出部では、グリッド箔影画像をグリッド箔影の長さ方向に平均化してグリッド箔影標準画像を求める。箔影除去画像算出部では、グリッド箔影標準画像を基に透視画像からグリッド箔影を除去して箔影除去画像を求める。
これより、グリッド箔影が均一でなくても、グリッド箔影をグリッド箔影の長さ方向に平均化して、平均化した箔影標準画像を基に透視画像からグリッド箔影を除去する。グリッド箔ごとにグリッド箔影の大きさに不均一が存在しても、グリッド箔影をグリッド箔影の長さ方向に平均化して、平均化した箔影標準画像を基に透視画像からグリッド箔影を除去する。平均を行うことで画素ごとにランダムに混入するアンプノイズや量子ノイズ等も除去できる。また、近似透視画像を算出する際に含まれる補間誤差も除去することができる。グリッド箔を正確に配列することが難しい同期型グリッドにおいても、アーチファクトを出現させることなく、グリッド箔影を除去することができる。
また、前記箔影除去画像算出部は、前記透視画像と前記グリッド箔影標準画像との差分により前記箔影除去画像を求めることが好ましい。この構成によれば、透視画像から箔影標準画像を差し引くことで簡易に箔影除去画像を求めることができる。
また、前記箔影除去画像算出部は、前記グリッド箔影画像と前記グリッド箔影標準画像との差を求めて誤差成分画像を求める誤差成分画像算出部と、前記透視画像と前記誤差成分画像との差を求めて箔影歪み除去画像を求める箔影歪み除去画像算出部と、前記箔影歪み除去画像に周波数変換処理を施してグリッド箔影を除去する周波数変換処理部とを備えてもよい。
誤差成分画像算出部では、グリッド箔影画像とグリッド箔影標準画像との差を求めて誤差成分画像を求める。箔影歪み除去画像算出部では、透視画像と誤差成分画像との差を求めて箔影歪み除去画像を求める。周波数変換処理部では、補正透視画像に周波数変換処理を施してグリッド箔影を除去する。これより、グリッド箔影が均一でなくても、グリッド箔影をグリッド箔影の長さ方向に平均化して、平均化した箔影標準画像と箔影画像との差である誤差成分画像を透視画像から除去することにより、均一なグリッド箔影を持つ透視画像を得て、この透視画像に周波数変換処理を施すことで残ったグリッド箔影を除去することができる。グリッド箔ごとの形状や配列を均一に形成することが困難な同期型グリッドにおいても、グリッド箔影を除去するのに周波数変換処理を実施することができる。
また、SID量およびC型アームの移動量を入力設定する入力部と、設定入力されたSID量およびC型アームの移動量より通常補正モードまたは特殊補正モードのいずれかの補正モードを選択する補正モード選択部とを備え、前記近似透視画像算出部は、前記補正モードが通常補正モードを選択した場合、予めグリッド箔影が映るように配置された画素以外の全ての画素の検出信号値を抽出して補間処理を実施し、前記補正モードが特殊補正モードを選択した場合、箔影が移動しても箔影が映らないグリッド箔間の中央に位置する画素の検出信号値を抽出して補間処理を実施することが好ましい。
上記構成によれば、入力部にて、SID量およびC型アームの移動量が入力設定される。補正モード選択部では、設定入力されたSID量およびC型アームの移動量より通常補正モードまたは特殊補正モードのいずれかの補正モードを選択する。近似透視画像算出部は、補正モードとして通常補正モードを選択した場合、予めグリッド箔影が映るように配置された画素以外の全ての画素の検出信号値を抽出して補間処理を実施する。また、補正モードとして特殊補正モードを選択した場合、箔影が移動しても箔影が映らないグリッド箔間の中央に位置する画素の検出信号値を抽出して補間処理を実施する。これより、箔影が画素を跨いで移動しない場合も、移動する場合にも、適切に補間処理を実施して近似透視画像を算出することができる。
また、前記箔影標準画像算出部にて算出された箔影標準画像を、行ごとに前記グリッド箔が一定間隔で配置された画素数ごとに抽出して分割した行データを作成し、前記行データを平滑化して元の箔影標準画像と置き換える平滑化部を備えることが好ましい。
上記構成によれば、平滑部にて、箔影標準画像算出部にて算出された箔影標準画像を、行ごとにグリッド箔が配置された一定間隔内にある画素数ごとに抽出して分割した行データを作成し、この行データを平滑化して元の箔影標準画像と置き換える。これより、比較的変化の大きな行データを複数の滑らかな行データに分割することができる。この結果、行方向には平滑化できなかった箔影標準画像を、グリッド箔が一定間隔で配置された画素の数だけ分割された行データごとに平滑化することができる。このように、グリッド箔影ごとのばらつきに対して補正を加えることで、アンプノイズや量子ノイズをさらに抑制した箔影標準画像を算出できる。
また、前記同期型グリッドと前記放射線検出器とは、グリッド箔影が4画素おきに映るように予め配置されていることが好ましい。この構成によれば、同期型グリッドおよび放射線検出器とが、グリッド箔影が予め4画素おきに映るように配置されている。これより、グリッド箔影が移動しても、予めグリッド箔が映るように配置された画素の両隣の画素内でグリッド箔影の移動が収まるので、グリッド箔影が必ず映らない画素を構成することができる。
本発明に係る同期型グリッドの箔影除去方法および同期型グリッドの箔影除去装置によれば、同期型グリッドのグリッド箔の歪みによるノイズを除去することができる同期型グリッドの箔影除去方法および同期型グリッドの箔影除去装置を提供することができる。
1 … X線撮影装置
2 … X線管
3 … 同期型グリッド
4 … FPD
5 … C型アーム
12 … 画像処理部
19 … 補正モード選択部
20 … 第1近似画像算出部
21 … 第2近似画像算出部
22 … 箔影画像算出部
23 … 箔影標準画像算出部
24 … 減算部
33 … 箔影除去画像算出部
34 … 誤差成分画像算出部
35 … 箔影歪み除去画像算出部
36 … 周波数変換処理部
31 … 平滑部
37 … 平滑部
DU … X線検出画素
2 … X線管
3 … 同期型グリッド
4 … FPD
5 … C型アーム
12 … 画像処理部
19 … 補正モード選択部
20 … 第1近似画像算出部
21 … 第2近似画像算出部
22 … 箔影画像算出部
23 … 箔影標準画像算出部
24 … 減算部
33 … 箔影除去画像算出部
34 … 誤差成分画像算出部
35 … 箔影歪み除去画像算出部
36 … 周波数変換処理部
31 … 平滑部
37 … 平滑部
DU … X線検出画素
以下、図面を参照して本発明の実施例1を説明する。
図1はX線透視撮影装置の全体図であり、図2はグリッドの概略断面図であり、図3はグリッド箔の斜視図であり、図4はグリッドおよびFPDの概略断面図である。
図1はX線透視撮影装置の全体図であり、図2はグリッドの概略断面図であり、図3はグリッド箔の斜視図であり、図4はグリッドおよびFPDの概略断面図である。
図1に示すように、X線透視撮影装置1には、被検体MにX線を照射するX線管2と、被検体Mを透過した透過X線の散乱X線を除去する同期型グリッド3と、散乱X線が除去された透過X線を検出する平面検出器(フラットパネルディテクタ:以後FPDと称す)4とが備えられている。X線管2と同期型グリッド3およびFPD4とは、互いに対向配置するようにC型アーム5の両端に取り付けられている。このC型アーム5は、C型アーム移動機構6により移動させられ、C型アーム移動機構6の移動量はC型アーム移動制御部7により制御される。X線管2は本発明における放射線照射手段に相当し、FPD4は本発明における放射線検出手段に相当する。
C型アーム5は、被検体Mが載置されている天板8に対して、鉛直方向に昇降可能(R1)に構成されている。さらに、C型アーム5を支持するアーム支持体9は、鉛直方向の軸心周りに回転可能(R2)に取り付けられている。また、C型アーム5は、水平方向の軸心周りに回転可能(R3)であって、アーム支持体9に対して円弧状(R4)に移動可能に取り付けられている。さらに、X線管2と同期型グリッド3およびFPD4との距離であるSID(Source Image Distance)を調節するために、C型アーム移動機構6により同期型グリッド3およびFPD4は鉛直方向(R5)に移動可能である。
また、X線透視撮影装置1には、他にも、X線管2に出力する管電圧や管電流を制御するX線管制御部10や、FPD4から出力されるアナログのX線検出信号をデジタルのX線検出信号に変換するA/D変換器11と、デジタルのX線検出信号から種々の画像処理を行う画像処理部12と、これらの各構成部を統括する主制御部13と、撮影者が様々な入力設定を行う入力部14と、X線診断操作画面および画像処理されたX線透過画像などを表示するモニタ15と、X線透過画像や他の撮影データを保管する記憶部16などを備えている。
主制御部13は、中央演算処理装置(CPU)などで構成されている。また、入力部14は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。撮影者は、SIDやC型アームの移動量を入力部14により設定入力することができる。モニタ15として、たとえば、液晶表示装置またはCRTディスプレイが挙げられ、記憶部16としてはハードディスクやメモリが挙げられる。
同期型グリッド3は、図2および図3に示すように、FPD4のX線検出面を覆うように配置されている。また、同期型グリッド3は縦(Y)方向に延伸した短冊状のX線を吸収するグリッド箔3aを備えている。グリッド箔3aのそれぞれの平坦面が、X線管2のX線源の焦点FとFPD4のX線検出面とを結ぶ直線に沿うように傾斜するように配置されている。すなわち、グリッド箔3aは直接透過X線Dxに沿うように傾斜されている。また、同期型グリッド3は、グリッド箔影(以後単に箔影と称す)がFPD4のX線検出画素DUの中央に映るようにグリッド箔3aを配列したものである。
図3および図4に示すように、グリッド箔3aは横(X)方向に所定間隔をあけて配列されており、配列ピッチGpは、実施例1では400μmである。この配列ピッチGpは、FPD4のX線検出画素DUの幅WDUと同期して適宜設計される。すなわち、基準SIDにおけるC型アーム標準位置においてグリッド箔3aの箔影がX線検出画素DU上に予め決められた画素間隔で映されるように配置されている。実施例1においては、X線検出画素DUの幅WDUが100μmであるので、X線検出画素DUに対して横方向に4個に1個の割合で箔影が映される。
グリッド箔3aは、モリブデン、タングステン、鉛、タンタル等の単体、あるいはこれらを主成分とする合金から形成されている。この金属は、原子番号が大きくX線吸収の大きい材料を選択することが好ましく、通常20〜50μmの厚みである。また、グリッド箔3aは圧延や切断等により製作されるが、前述した通り重金属あるいは重金属の合金であるので、グリッド箔3aの厚みや幅などの形状均一性を厳密に求めることは非常に困難である。このグリッド箔3aの形状の不均一性が箔影の検出値にバラツキを生じさせる原因となる。
FPD4には、X線を電荷信号へ変換するX線検出画素DUが二次元アレイ状に例えば2000×2000個配置されている。X線検出画素DUはX線が照射されると電荷信号を発生するX線検出素子からなる。
また、SIDとは、X線管2内のX線源の焦点とFPD4との垂線距離のことである。SIDが短いと被検体Mの拡大透視画像を得ることができ、SIDが長いと被検体Mの広角透視画像を得ることができる。つまり、SIDを調整することで、透視画像のズーム調整をすることができる。実施例1では、SIDが1000mmの場合を基準SIDとして設定している。この基準SID時のC型アーム標準位置において、同期型グリッド3の箔影がFPD4のX線検出画素上に横方向に4個に1個の割合で映るようにグリッド箔3aとFPD4とが位置合わせされている。また、C型アーム標準位置とは、図1のようにC型アーム5がベッドおよび天板8や検査室に対して3次元的に決まった位置関係にあり、検査のたびにC型アーム5の初期設定の位置となる。この位置において同期型グリッド3とFPD4との位置合わせを行うために、C型アーム5のたわみが無いと考えられる標準位置である。
このSIDを変化させるとX線検出面上の箔影が移動する。図5に示すように、例えば、基準SIDよりもSIDを延伸した場合、FPD4の中央部の箔影はあまり影響を受けないが、FPD4の側端部に近づくにつれ箔影はFPD4の内側へ移動する。また逆に、基準SIDよりもSIDを短くした場合、箔影はFPD4の外側へ移動する。
箔影の移動は、C型アーム5を旋回等の移動をさせた時にも発生する。図6に示すようにC型アーム5を旋回させると、C型アーム5の剛性よりたわみがC型アーム5に必然的に発生する。このたわみにより、X線管2のX線焦点が移動すると、基準SIDにおいても箔影が微小に移動する。C型アーム5のたわみによるX線焦点の移動量は最大でも2mm程度である。例えば、図7に示すように、X線管2内のX線焦点Fが微小に移動すると、X線焦点FとFPD4の検出面とを結ぶ直線とグリッド箔3aの平坦面の傾斜角度とが一致しなくなる。これより、箔影がX線検出面上を微小に移動する。箔影の移動量は、図8に示すように、SIDが1000mmであり、同期型グリッド3とFPD4との距離が20mmの場合、X線管2の焦点Fから同期型グリッド3までの距離と、同期型グリッド3からFPD4までの距離の比は、約50:1である。これより、X線源が2mm移動した場合、FPD4の検出面ではグリッド箔3aの箔影は約40μm移動する。
グリッド箔3aの厚みを30μmとし、箔影の幅も30μmとすると、基準SIDにおいてX線管焦点が移動していない場合、箔影が画素の中央に位置するように設定されているので、箔影から隣の画素まで35μmの余裕がある。しかし、上記のように、箔影が40μm移動すると、図9に示すように、箔影が予め映されるように配置された画素から隣の画素へ箔影がはみ出す。
このように、箔影が予め映るように同期された画素内にある場合と、箔影が画素を跨ぐ場合または同期された画素の隣の画素に完全に移動する場合との2通りが生じ得る。そこで、それぞれの場合に適した箔影補正を画像処理部5にて実施する。
次に図10を参照する。図10は、画像処理部の構成を示すブロック図である。画像処理部5には、A/D変換器11により変換されたデジタルのX線検出信号をLOG変換するLOG変換部17と、LOG変換されたX線検出信号をいくつかの枚数分保管する画像メモリ部18と、入力部14に設定されたSID量またはC型アーム5の移動量より箔影の補正モードを選択する補正モード選択部19と、画像メモリ部18に保管されたX線検出画像から箔影の影響を受けていない画素集合を選出して被検体Mの近似透視画像を算出する第1近似透視画像算出部20および第2近似透視画像算出部21と、X線検出画像と近似透視画像との差分によりグリッド箔影画像を算出する箔影画像算出部22と、グリッド箔影画像を平均化することでグリッド箔影標準画像を算出する箔影標準画像算出部23と、画像メモリ部18に保管されたX線検出画像とグリッド箔影標準画像との差分を演算して箔影除去X線検出画像を算出する減算部24とを備えている。
LOG変換部17は、A/D変換器11により変換されたデジタルのX線検出信号をLOG変換する。これにより、X線検出信号を線形和で演算することができるので、後の演算を簡易にすることができる。
画像メモリ部18は、LOG変換部17にてLOG変換されたX線検出信号より構成されるX線検出画像をいくつかの枚数分保管する。画像メモリ部18は、バッファとしても機能している。
補正モード選択部19は、箔影の補正モードとして通常補正モードか特殊補正モードかを選択する。この選択は、主制御部13を介して送られる入力部14に入力設定されたSID量およびC型アーム5の移動量を基に実施される。ここで、移動量とはC型アーム5のC型アーム標準位置からの移動量である。
通常補正モードとは、SIDが基準SIDであり、C型アーム5のたわみによる箔影の移動も無視できる場合に選択する補正モードである。つまり、箔影が映されるように予め配置された画素から、箔影がはみでない場合における補正モードである。図11に示すように、箔影が映されるように予め配置された画素を行方向つまり横方向にP4n+1(但しnは0以上の整数)とすると、4画素置きにP4n+1で表わされる画素上には必ず箔影が映し出される。また、グリッド箔3aの形状が厳密に均一ではなく、グリッド箔3aの配列にも微小なずれがあるので、箔影27や箔影28に示すように、箔影の幅にバラつきが発生する。しかしながら、画素P4n+1以外の横隣りのP4n+2、P4n+3、およびP4n+4で表わされる画素上には箔影が映らない。そこで、箔影間の3つの画素集合である画素P4n+2、P4n+3、およびP4n+4を抽出した画素集合を用いて箔影補正をする。この補正方法が通常補正モードである。
特殊補正モードとは、SIDを基準SIDから移動させた場合やC型アーム5のたわみによりX線管焦点が移動した場合に、箔影が映るように予め配置された画素をはみ出して隣の画素にまで映る場合における補正方法である。箔影が映るように予め配置された画素を横方向にP4n+1(但しnは0以上の整数)とすると、図12に示すように、SID移動やC型アーム5のたわみにより箔影が画素P4n+1上から移動する。例えば、箔影29は、画素P4n+1と横隣りの画素P4n+2とにまたがって映っている。また、箔影30は、素P4(n+1)+1上から画素P4n+4上に完全に移動している。このように、40μm程度の移動で箔影が確実に映らないのは、箔影が映るように予め配置された画素間の中央に位置する画素P4n+3である。そこで、箔影が予め映されるように配置された画素間の中央に位置する画素P4n+3を抽出した画素集合を用いて箔影補正をする。この補正方法が特殊補正モードである。
第1近似透視画像算出部20は、補正モード選択部19が通常補正モードを選択した場合に、画像メモリ部18に保管されたX線検出画像から箔影の影響を受けていない画素P4n+2、P4n+3、およびP4n+4を抽出した画素集合を選出して被検体Mの第1近似透視画像を算出する。このように、箔影の影響を受けていない画素集合の選出は、箔影が映されることが予め決められている画素P4n+1以外の全ての画素を選出する。
図13(a)に示すように、被検体Mを天板8に載置しないでX線撮影を実施した場合、グリッド箔3aの箔影が映される画素P4n+1でのX線検出信号値(●印)は、他の画素でのX線検出信号値(△印および□印)よりも図13(b)に示すように約20%ほど低減した値である。
次に、図14(a)に示すように、被検体Mを天板8に載置してX線撮影を実施した場合、上記と同様に、グリッド箔3aの箔影が映される画素P4n+1でのX線検出信号値(●印)は、図14(b)に示すように他の画素でのX線検出信号値(△印および□印)よりも低減した値である。そこで、箔影の影響を受けていない画素P4n+2、P4n+3、およびP4n+4を抽出した画素集合を選出して、これらの画素集合のX線検出信号値(△印および□印)より、グリッド箔3aの箔影が映される画素P4n+1でのX線検出信号値(●印)を補間する。この補間方法は、2次補間又はキュービック・スプライン法など3次補間により精度よく被検体Mの透視画像を推定することができる。このようにして推定された透視画像である第1次近似画像を算出することができる。補間により算出された第1次近似画像には、補間誤差が含まれる。
第2近似透視画像算出部21は、補正モード選択部19が特殊補正モードを選択した場合に、画像メモリ部18に保管されたX線検出画像から箔影の影響を受けていない画素集合を選出して被検体Mの第2近似透視画像を算出する。特殊補正モードでは、グリッド箔3aの箔影が映される画素P4n+1の両隣の画素P4n+2またはP4(n-1)+4にも箔影が移動している可能性がある。そこで、第2近似透視画像算出部21は、SIDやC型アーム5の移動により箔影が移動しても箔影が映らない画素P4n+3を抽出した画素集合を選出して、これらの画素集合のX線検出信号値(△印)より、グリッド箔3aの箔影が映される画素P4n+1および、箔影が移動するかもしれない画素P4n+2またはP4n+4でのX線検出信号値(●印および□印)を補間する。この補間方法は、キュービック・スプライン法など3次補間により精度よく被検体Mの透視画像を推定することができる。このようにして推定された透視画像である第2次近似画像を算出することができる。補間により算出された第2次近似画像には、補間誤差が含まれる。
なお、第1近似透視画像と第2近似透視画像との両方を指す場合には、単に近似透視画像と記載する。また、第1近似透視画像算出部および第2近似透視画像算出部は、本発明における近似透視画像算出部に相当する。
箔影画像算出部22は、X線検出画像と近似透視画像との差分によりグリッド箔影画像を算出する。つまり、箔影が重畳して減少した分のX線検出信号からなる画像を算出するので、箔影のみを表す画像であるグリッド箔影画像を得ることができる。箔影がグリッド箔3aに沿って縦方向に形成されるので、グリッド箔影画像も縦方向に検出値が並ぶ画像データである。グリッド箔影画像は補間誤差を含む近似透視画像を基に算出しているので、グリッド箔影画像にも補間誤差が含まれる。
箔影標準画像算出部23は、縦方向に検出値が並ぶグリッド箔影画像を縦方向に平均化することでグリッド箔影標準画像を算出する。すなわち、図11や図12に示すように、箔影の形状不均一性に起因する箔影の検出値のバラつきを平均化することにより補正する。例えば、補正対象となる画素の上下30画素における検出画素の検出値(画素値)の平均値を算出し、この平均値を補正対象となる画素の画素値と置き換える。この処理を全検出画素を対象として実施することで、グリッド箔影標準画像を算出することができる。また、グリッド箔影画像を箔影の長手方向つまり長さ方向に平均化することで、グリッド箔影画像に含まれる補間誤差を除去することができる。
減算部24は、画像メモリ部18に保管されたX線検出画像とグリッド箔影標準画像との差分により箔影除去透視画像を算出する。X線検出画像から標準化された箔影を除去することで、補間誤差の影響を除去した被検体の透視画像を取得することができる。減算部24は本発明における箔影除去画像算出部に相当する。
減算部24により箔影が除去された被検体の透視画像は主制御部13を介して、モニタ15に表示されるか記憶部16に保管される。
次に、実施例1によりX線透視撮影が実施される場合の動作を説明する。
まず、撮影者は入力部14にSID量およびC型アーム5の移動量を設定する。これより、主制御部13は設定されたSID量およびC型アーム5の移動量をC型アーム移動制御部7へ転送する。C型アーム移動制御部7はC型アーム移動機構6にそれぞれの設定量を反映してC型アーム5を移動させる。次に、入力部14にX線撮影の開始の指示がされると、主制御部13は、X線管制御部10とFPD4を制御する。X線管制御部10は、主制御部13からの指示に基づいてX線管2に管電圧や管電流を印加して、X線管2からX線が被検体Mに照射される。被検体Mを透過したX線は同期型グリッド3にて散乱X線が除去させられ、FPD4に入射してX線検出画素DUにて検出される。X線検出画素DUにて検出されたX線検出信号はA/D変換器11にてアナログからデジタルへ変換される。デジタルへ変換されたX線検出信号は、画像処理部12へ転送されLOG変換部17にてLOG変換される。LOG変換されたX線検出信号は、画像メモリ部18にてX線検出画像として保管される。
次に、図15に示すフローチャートに従って箔影の補正がなされる。なお、通常撮影時には通常補正モードで箔影が補正される。ここで通常撮影とは、SIDが基準SIDであり、C型アーム5のたわみが箔影に影響しない場合をいう。基準SIDは実施例1では1000mmであるが、適宜設定してもよい。SIDを基準SIDより移動する場合、およびC型アームのたわみが無視できない場合では特殊補正モードで箔影が補正される。
ステップS1(補正モード選択)
撮影者が入力部14に設定したSID量、およびC型アーム5の移動設定量が主制御部13を介して、画像処理部5内の補正モード選択部19に送られる。これらの情報により、補正モード選択部19は通常補正モードか特殊補正モードかを選択する。SID量およびC型アーム5の移動量が箔影に影響しない場合、つまり箔影が予め映るように設定された画素からはみでない場合には通常補正モードを選択する。また、SID量およびC型アーム5の移動量が箔影に影響する場合、つまり箔影が予め映るように設定された画素からはみでる場合には特殊補正モードを選択する。
撮影者が入力部14に設定したSID量、およびC型アーム5の移動設定量が主制御部13を介して、画像処理部5内の補正モード選択部19に送られる。これらの情報により、補正モード選択部19は通常補正モードか特殊補正モードかを選択する。SID量およびC型アーム5の移動量が箔影に影響しない場合、つまり箔影が予め映るように設定された画素からはみでない場合には通常補正モードを選択する。また、SID量およびC型アーム5の移動量が箔影に影響する場合、つまり箔影が予め映るように設定された画素からはみでる場合には特殊補正モードを選択する。
ステップS2(第1近似透視画像算出)
ステップS1にて通常補正モードが選択された場合、第1近似透視画像算出部20は箔影が映らない箔影間の3つの検出画素を抽出した画素集合を選出する。さらに、この画素集合の画素値から選出しなかった検出画素の検出値を補間し、被検体Mを透視した第1近似透視画像を算出する。
ステップS1にて通常補正モードが選択された場合、第1近似透視画像算出部20は箔影が映らない箔影間の3つの検出画素を抽出した画素集合を選出する。さらに、この画素集合の画素値から選出しなかった検出画素の検出値を補間し、被検体Mを透視した第1近似透視画像を算出する。
ステップS2’(第2近似透視画像算出)
ステップS1にて特殊補正モードが選択された場合、第2近似透視画像算出部21は箔影が映らない箔影間の中央の検出画素を抽出した画素集合を選出する。さらに、この画素集合の画素値から選出しなかった検出画素の検出値を補間し、被検体Mを透視した第2近似透視画像を算出する。
ステップS1にて特殊補正モードが選択された場合、第2近似透視画像算出部21は箔影が映らない箔影間の中央の検出画素を抽出した画素集合を選出する。さらに、この画素集合の画素値から選出しなかった検出画素の検出値を補間し、被検体Mを透視した第2近似透視画像を算出する。
ステップS3(箔影画像算出)
箔影画像算出部22にて、画像メモリ部18に保管されているX線検出画像と、第1近似透視画像算出部20または第2近似透視画像算出部21にて算出された近似透視画像との差分によりグリッド箔影画像を算出する。つまり、箔影の影となった検出画素からのX線検出信号のみからなる画像を算出するので、グリッド箔影画像を得ることができる。
箔影画像算出部22にて、画像メモリ部18に保管されているX線検出画像と、第1近似透視画像算出部20または第2近似透視画像算出部21にて算出された近似透視画像との差分によりグリッド箔影画像を算出する。つまり、箔影の影となった検出画素からのX線検出信号のみからなる画像を算出するので、グリッド箔影画像を得ることができる。
ステップS4(箔影標準画像算出)
箔影標準画像算出部23にて、縦方向に検出値が並ぶグリッド箔影画像を縦方向に平均化することでグリッド箔影標準画像を算出する。それぞれのグリッド箔3aは縦方向つまり箔方向に引っ張られて保持されているので、グリッド箔3aの長さ方向の箔影の変化は比較的少ない。箔影を平均化することによりアンプノイズや量子ノイズを補正できる。例えば、補正対象となる画素の上下数十画素の検出画素の検出値の平均値を算出し、この平均値を補正対象となる画素値と置き換える。この処理を全検出画素を対象として実施することで、グリッド箔影標準画像を算出する。
箔影標準画像算出部23にて、縦方向に検出値が並ぶグリッド箔影画像を縦方向に平均化することでグリッド箔影標準画像を算出する。それぞれのグリッド箔3aは縦方向つまり箔方向に引っ張られて保持されているので、グリッド箔3aの長さ方向の箔影の変化は比較的少ない。箔影を平均化することによりアンプノイズや量子ノイズを補正できる。例えば、補正対象となる画素の上下数十画素の検出画素の検出値の平均値を算出し、この平均値を補正対象となる画素値と置き換える。この処理を全検出画素を対象として実施することで、グリッド箔影標準画像を算出する。
ステップS5(箔影除去画像算出)
減算部24にて、X線検出画像とグリッド箔影標準画像との差分することで箔影除去透視画像を算出する。これより、箔影が除去された被検体の透視画像を取得することができる。減算部24により箔影が除去された被検体の透視画像は主制御部13を介して、モニタ15に表示されるか記憶部16に保管される。
減算部24にて、X線検出画像とグリッド箔影標準画像との差分することで箔影除去透視画像を算出する。これより、箔影が除去された被検体の透視画像を取得することができる。減算部24により箔影が除去された被検体の透視画像は主制御部13を介して、モニタ15に表示されるか記憶部16に保管される。
このように、実施例1のX線透視撮影装置1によれば、X線検出画素DUに映る箔影画像を縦方向に平均化することで、近似透視画像を算出する際に含まれる補間誤差を除去することができ、さらには、アンプノイズや量子ノイズを除去した精度の良い箔影の画像を得ることができる。これより、アーチファクトを出現させることなく、透視画像から同期型グリッドの箔影を除去することができる。
さらに、SIDやC型アーム5を移動させた場合などに、箔影が映るように予め配置したX線検出画素DUから隣の検出画素に箔影が移動する場合でも、箔影が映らないことが確定している画素を抽出した画素集合から、透視画像を補間により近似することで、箔影画像を求めるので、精度よく箔影を除去することができる。このように、X線管焦点の微小な制御できない移動が伴う場合にも、十分に箔影を除去することができる。これより、箔影が画素を跨いで移動しない場合も、移動する場合にも、適切に補間処理を実施することができ、さらに、従来型グリッドに対して直接X線感度が20%程度高い同期型グリッドの効果によって、信号ノイズ比に勝る画像を取得することができる。
また、同期型グリッド3および放射線検出器(FPD4)が、箔影が予め4画素おきに映るように配置されているので、箔影が移動しても、予めグリッド箔が映るように配置された画素の両隣の画素内で箔影の移動が収まるので、箔影が必ず映らない画素を構成することができる。
次に、図16および図17を参照して、本発明の実施例2を説明する。図16は実施例2に係る画像処理部の構成を示すブロック図であり、図17は実施例2に係る箔影補正処理の流れを示すフローチャート図である。図16および図17において、実施例1に示した符号と同一の符号で示した部分は、実施例1と同様の構成であるのでここでの説明は省略する。実施例2は、実施例1の減算部を変更したものである。よって、ここで記載した以外のX線透視撮影装置の構造は実施例1と同様である。
実施例2の特徴は、箔影を周波数変換により除去する点である。画像処理部25は、LOG変換部17、画像メモリ部18、補正モード選択部19、第1近似透視画像算出部20、第2近似透視画像算出部21、箔影画像算出部22、箔影標準画像算出部23に加えて、グリッド箔影標準画像を基に透視画像からグリッド箔影を除去して箔影除去画像を求める箔影除去画像算出部33を備える。
また、箔影除去画像算出部33は、グリッド箔影画像とグリッド箔影標準画像との差分により誤差成分画像を算出する誤差成分画像算出部34と、画像メモリ部18に保管されたX線検出画像と誤差成分画像との差分により箔影の歪みが除去された箔影歪み除去画像を算出する箔影歪み除去画像算出部35と、箔影歪み除去画像に周波数変換処理を施すことで箔影除去X線検出画像を算出する周波数変換処理部36とを有する。
誤差成分画像算出部34は、グリッド箔影画像とグリッド箔影標準画像との差分により誤差成分画像を算出する。つまり、グリッド箔影画像における理想的な箔影画像を基準としてグリッド箔3aごとの形状不均一に基づく箔影のバラツキを算出することができる。
箔影歪み除去画像算出部35は、画像メモリ部18に保管されたX線検出画像と誤差成分画像との差分により箔影の歪みが除去された箔影歪み除去画像を算出する。これにより、グリッド箔3aごとの形状歪みによる箔影の検出値のバラツキが補正される。すなわち、箔影歪み除去画像での全ての箔影は理想的なグリッド箔の影であり、箔影の大きさも均一であると言える。
周波数変換処理部36は、箔影歪み除去画像に周波数変換処理を施すことで箔影除去透視画像を算出する。箔影歪み除去画像は、被検体の透視像にバラツキが補正された箔影が重畳した画像であるので、周波数変換処理を施すことで、箔影を除去することができる。これより、箔影が除去された被検体の透視画像を取得することができる。
周波数変換処理部36により箔影が除去された被検体の透視画像は主制御部13を介して、モニタ15に表示されるか記憶部16に保管される。
次に、実施例2によりX線透視撮影が実施される場合の動作を説明する。ステップS01からステップS04までは、実施例1と同様であるので説明を省略する。
ステップS15(誤差成分画像算出)
誤差成分画像算出部34にて、グリッド箔影画像とグリッド箔影標準画像との差分により誤差成分画像を算出する。つまり、グリッド箔影画像における理想的な箔影画像を基準としたグリッド箔3aごとの箔影のバラツキを算出する。
誤差成分画像算出部34にて、グリッド箔影画像とグリッド箔影標準画像との差分により誤差成分画像を算出する。つまり、グリッド箔影画像における理想的な箔影画像を基準としたグリッド箔3aごとの箔影のバラツキを算出する。
ステップS16(箔影歪み除去画像算出)
箔影歪み除去画像算出部35にて、画像メモリ部18に保管されたX線検出画像と誤差成分画像との差分により箔影の歪みが除去された箔影歪み除去画像を算出する。これにより、グリッド箔3aの歪みによる箔影の検出値のバラツキが補正される。
箔影歪み除去画像算出部35にて、画像メモリ部18に保管されたX線検出画像と誤差成分画像との差分により箔影の歪みが除去された箔影歪み除去画像を算出する。これにより、グリッド箔3aの歪みによる箔影の検出値のバラツキが補正される。
ステップS17(周波数変換処理)
周波数変換処理部36にて、箔影歪み除去画像に周波数変換処理を施すことで箔影除去透視画像を算出する。箔影歪み除去画像は、被検体の透視像にバラツキが補正された均一な箔影が重畳した画像であるので、周波数変換処理を施すことで、箔影を除去することができる。これより、箔影が除去された被検体の透視画像を取得することができる。
周波数変換処理部36にて、箔影歪み除去画像に周波数変換処理を施すことで箔影除去透視画像を算出する。箔影歪み除去画像は、被検体の透視像にバラツキが補正された均一な箔影が重畳した画像であるので、周波数変換処理を施すことで、箔影を除去することができる。これより、箔影が除去された被検体の透視画像を取得することができる。
このように、実施例2のX線透視撮影装置1によれば、X線検出画素DUに映る箔影画像を縦方向に平均化することで、アンプノイズや量子ノイズを除去して精度の良い箔影の画像を得ることができる。さらに、箔影画像と平均化した箔影標準画像との差である誤差成分画像を箔影歪み除去画像算出部35により透視画像から差分するので、全てのグリッド箔3aの箔影は均一となり、周波数変換により箔影を除去することができる。これより、アーチファクトを出現させることなく、同期型グリッドの箔影を除去することができる。
次に、図18、図19および図20を参照して、本発明の実施例3を説明する。図18は実施例3に係る画像処理部の構成を示すブロック図であり、図19は実施例3に係る画像処理を示す説明図であり、図20は実施例3に係る箔影補正処理の流れを示すフローチャート図である。図18、図19および図20において、実施例1に示した符号と同一の符号で示した部分は、実施例1と同様の構成であるのでここでの説明は省略する。実施例3は、実施例1のグリッド箔影標準画像の算出を変更したものである。よって、ここで記載した以外のX線透視撮影装置の構造は実施例1と同様である。
上述した実施例1では、箔影の標準化は縦方向の画素値を平均化していた。これに、行方向である横方向の画素値を4画素おきにそれぞれ抽出して、抽出したそれぞれの画像データを平滑化してもよい。例えば、図18に示すように、箔影標準画像算出部23により縦方向の平均化がされた箔影標準画像を、平滑部37にて、今度は横方向にグリッド箔3aが配置された一定間隔(Gp)の長さに相当する画素の数である4画素おきに各行のそれぞれの画素を抽出する。つまり、図19(a)に示すように、各行において4画素おきに画素を抽出することで、4画素ごとに画素値を拾った行データが作成される。
図19(b)を参照してさらに具体的に説明する。箔影標準画像のr行目の画素値がPr,1、Pr,2、Pr,3、…である場合、r行目の画素値を4画素おきに抽出して図19(c)に示すように、r行−A、r行−B、r行−C、r行−Dの4つに分割した行データを作成する。r行−A、r行−B、r行−C、r行−Dのそれぞれの画像データは、もとのr行目の画像データの4つおきの画素値である。
元の行データは比較的大きな変動を持つが、4つの新しい行データ(r行−A、r行−B、r行−C、r行−D)は変動の少ない滑らかな値を持つ。この4画素ごとに画素値のとんだ4つの行データを平滑化する。さらに、平滑化した4つの行データ(r行−A、r行−B、r行−C、r行−D)をもとの箔影標準画像データと置き代えることで、そのままでは横方向には平滑化できなかった透視画像から、アンプノイズや量子ノイズを除去することができる。またこの処理ステップは、図20に示すように、ステップS4の箔影標準画像算出ステップの後に、ステップS21の平滑化ステップが実施される。
平滑化ステップは、箔影標準画像を行ごとにグリッド箔が配置された一定間隔内にある4画素おきに画素値を抽出して4つの行データを作成し、それぞれの行データを平滑化する。さらに、平滑化した4つの行データを元の箔影標準画像と置き換える。なお、グリッド箔3aが配置された一定間隔内にある画素が4画素以上の画素数に設定されている場合は、その設定された画素数ごとの行データが作成され、平滑化される。
次に、図21および図22を参照して、本発明の実施例4を説明する。図21は実施例4に係る画像処理部の構成を示すブロック図であり、図22は実施例4に係る箔影補正処理の流れを示すフローチャート図である。図21および図22において、実施例1から実施例3に示した符号と同一の符号で示した部分は、実施例1から実施例3と同様の構成であるのでここでの説明は省略する。実施例4は、実施例2のグリッド箔影標準画像の算出を変更したものである。よって、ここで記載した以外のX線透視撮影装置の構造は実施例2と同様である。
上述した実施例2では、箔影の標準化は縦方向の画素値を平均化していた。これに、行方向である横方向の画素値を4画素おきにそれぞれ抽出して、抽出したそれぞれの画像データを平滑化してもよい。例えば、図21に示すように、箔影標準画像算出部23により縦方向の平均化がされた箔影標準画像を、平滑部31にて、今度は横方向にグリッド箔3aが配置された一定間隔内にある4画素おきに各行のそれぞれの画素を抽出する。つまり、図19に示すように、各行において4画素おきに画素を抽出することで、4画素ごとに画素値を拾った行データが作成される。
元の行データは比較的大きな変動を持つが、4つの新しい行データは変動の少ない滑らかな値を持つ。この4画素ごとに画素値のとんだ4つの行データを平滑化する。さらに、平滑化した4つの行データをもとの箔影標準画像データと置き代えることで、そのままでは横方向には平滑化できなかった透視画像から、アンプノイズや量子ノイズを除去することができる。またこの処理ステップは、図22に示すように、ステップS4の箔影標準画像算出ステップの後に、ステップS31の平滑化ステップが実施される。
平滑化ステップは、箔影標準画像を行ごとにグリッド箔が配置された一定間隔内にある4画素おきに画素値を抽出して4つの行データを作成し、それぞれの行データを平滑化する。さらに、平滑化した4つの行データを元の箔影標準画像と置き換える。なお、グリッド箔3aが配置された一定間隔内にある画素が4画素以上の画素数に設定されている場合は、その設定された画素数ごとの行データが作成され、平滑化される。
本発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
(1)上述した実施例では、画素4つに対してグリッド箔3aが1枚配置されていたが、これに限らない。実施例では、4画素を基本として、箔影が映るように設定した1画素と、箔影が移動するかもしれない2画素と、箔影の移動が全く無い1画素としていた。これに限らず、8画素を基本として、箔影が映るように設定した2画素と、箔影が移動するかもしれない4画素と、箔影の移動が全く無い2画素としてもよい。これより、SIDの移動量やC型アーム5の移動量に合わせて、箔影の補正モードをより細分化することができ、近似透視画像の近似精度を向上させることができる。また、基本とする画素は4画素、8画素に限られず、4画素以上であればよい。画素が4つ以上であり、グリッド箔3a間に箔影の移動の影響を受けない画素が存在すればよい。
(2)上述した実施例では、検出したデジタルのX線検出信号をLOG変換していたが、演算処理に余裕がある場合は、LOG変換することなく演算してもよい。
(3)上述した実施例では、入力部14に設定入力されたSID量およびC型アーム5の移動量から、補正モード選択部19にて、第1近似画像算出か第2近似画像算出かを自動的に選択していたが、操作者が入力部14にてどちらの補正モードかを選択できる構成でもよい。また、補正モードの選択を省略して、常に第2近似画像を算出して使用することもできる。SID量およびC型アーム5の移動量から補正モードを選択する方法としては、予め両方の値を変化させ、被検体Mを天板8に載置しないで撮影を行い、箔影のパターンより選択する補正モードを決めておけば良い。
(4)上述した実施例では、箔影が予め映されるように配置された画素の配列を基準に、箔影の影響を受けない画素の抽出を実施していたが、画像処理によって実際に箔影が映されている画素を検出することで、それ以外の箔影の影響を受けない画素集合を抽出してもよい。このように画像処理によって箔影が映されている画素を検出して、その結果により通常補正モードと特殊補正モードとの切り換えを行っても良い。特殊補正モードの場合は、箔影の中心が映った画素の2つ隣の画素を抽出した画素集合を採用すればよい。
Claims (12)
- グリッド箔影が放射線を検出する画素の中央に映るようにグリッド箔を一定間隔に配置した同期型グリッドを備えた放射線撮影装置のグリッド箔影除去方法において、
透視画像から前記グリッド箔影の影響を受けていない画素の検出信号値を抽出して補間処理を実施することで近似透視画像を求める近似透視画像算出ステップと、
前記透視画像と前記近似透視画像との差を求めてグリッド箔影画像を求めるグリッド箔影画像算出ステップと、
前記グリッド箔影画像を前記グリッド箔影の長さ方向に平均化して箔影標準画像を求める箔影標準画像算出ステップと、
前記箔影標準画像を基に、前記透視画像から前記グリッド箔影を除去する箔影除去ステップと
を備えたことを特徴とするグリッド箔影除去方法。 - 請求項1に記載のグリッド箔影除去方法において、
前記箔影除去ステップは、前記透視画像と前記箔影標準画像との差分により前記透視画像から前記グリッド箔影を除去する
ことを特徴とするグリッド箔影除去方法。 - 請求項2に記載のグリッド箔影除去方法において、
前記箔影標準画像算出ステップにより平均化された箔影標準画像を、行ごとに、前記グリッド箔が配置された一定間隔内にある画素数ごとに抽出して分割した行データを作成し、前記行データを平滑化して元の前記箔影標準画像と置き換える平滑化ステップを備え、
前記箔影除去ステップは、前記透視画像と平滑化された前記箔影標準画像とのとの差分により前記透視画像からグリッド箔影を除去する
ことを特徴とするグリッド箔影除去方法。 - 請求項1に記載のグリッド箔影除去方法において、前記箔影除去ステップは、
前記グリッド箔影画像と前記箔影標準画像との差を求めて誤差成分画像を求める誤差成分画像算出ステップと、
前記透視画像と前記誤差成分画像との差を求めて箔影歪み除去画像を求める箔影歪み除去画像算出ステップと、
前記箔影歪み除去画像に周波数変換処理を施して前記グリッド箔影を除去する周波数変換処理ステップと
を備えたことを特徴とするグリッド箔影除去方法。 - 請求項4に記載のグリッド箔影除去方法において、
前記箔影標準画像算出ステップにより平均化された箔影標準画像を、行ごとに、前記グリッド箔が配置された一定間隔内にある画素数ごとに抽出して分割した行データを作成し、前記行データを平滑化して元の前記箔影標準画像と置き換える平滑化ステップを備え、
前記誤差成分画像算出ステップは、前記グリッド箔影画像と平滑化された前記箔影標準画像との差を求めて誤差成分画像を求める
ことを特徴とするグリッド箔影除去方法。 - 請求項1から5いずれか1つに記載のグリッド箔影除去方法において、
設定入力されたSID量およびC型アームの移動量より、画素間の箔影の移動を補正しない通常補正モードまたは画素間の箔影の移動を補正する特殊補正モードのいずれかを選択する画像処理モード選択ステップと、
前記画像処理モード選択ステップにより通常補正モードが選択された場合、前記近似透視画像算出ステップは、予めグリッド箔影が映るように配置された画素以外の全ての画素の検出信号値を抽出して補間処理を実施し、
前記画像処理モード選択ステップにより特殊補正モードが選択された場合、前記近似透視画像算出ステップは、箔影が移動しても箔影が映らないグリッド箔間の中央に位置する画素の検出信号値を抽出して補間処理を実施する
ことを特徴とするグリッド箔影除去方法。 - 放射線撮影装置において、
被検体に放射線を照射する放射線照射手段と、
被検体を透過した放射線を検出する画素を2次元アレイ状に配置した放射線検出手段と、
グリッド箔影が前記画素の中央に映るように一定間隔に配置された同期型グリッドと、
被検体を透過して検出した透視画像からグリッド箔影の影響を受けていない画素集合を抽出して補間処理を施して近似透視画像を算出する近似透視画像算出部と、
前記透視画像と前記近似透視画像との差を求めてグリッド箔影画像を求めるグリッド箔影画像算出部と、
前記グリッド箔影画像をグリッド箔影の長さ方向に平均化してグリッド箔影標準画像を求める箔影標準画像算出部と、
前記グリッド箔影標準画像を基に前記透視画像から前記グリッド箔影を除去して箔影除去画像を求める箔影除去画像算出部と
を備えたことを特徴とする放射線撮影装置。 - 請求項7に記載の放射線撮影装置において、
前記箔影除去画像算出部は、前記透視画像と前記グリッド箔影標準画像との差分により前記箔影除去画像を求める
ことを特徴とする放射線撮影装置。 - 請求項7に記載の放射線撮影装置において、
前記箔影除去画像算出部は、
前記グリッド箔影画像と前記グリッド箔影標準画像との差を求めて誤差成分画像を求める誤差成分画像算出部と、
前記透視画像と前記誤差成分画像との差を求めて箔影歪み除去画像を求める箔影歪み除去画像算出部と、
前記箔影歪み除去画像に周波数変換処理を施してグリッド箔影を除去する周波数変換処理部と
を備えたことを特徴とする放射線撮影装置。 - 請求項7から9のいずれか1つに記載の放射線撮影装置において、
SID量およびC型アームの移動量を入力設定する入力部と、
設定入力されたSID量およびC型アームの移動量より通常補正モードまたは特殊補正モードのいずれかの補正モードを選択する補正モード選択部とを備え、
前記近似透視画像算出部は、前記補正モードが通常補正モードを選択した場合、予めグリッド箔影が映るように配置された画素以外の全ての画素の検出信号値を抽出して補間処理を実施し、前記補正モードが特殊補正モードを選択した場合、箔影が移動しても箔影が映らないグリッド箔間の中央に位置する画素の検出信号値を抽出して補間処理を実施する
ことを特徴とする放射線撮影装置。 - 請求項7から10のいずれか1つに記載の放射線撮影装置において、
前記箔影標準画像算出部にて算出された箔影標準画像を、行ごとに、前記グリッド箔が配置された一定間隔内にある画素数ごとに抽出して分割した行データを作成し、前記行データを平滑化して元の箔影標準画像と置き換える平滑化部
を備えたことを特徴とする放射線撮影装置。 - 請求項7から11のいずれか1つに記載の放射線撮影装置において、
前記同期型グリッドと前記放射線検出器とは、グリッド箔影が4画素おきに映るように予め配置されている
ことを特徴とする放射線撮影装置。
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