JP5273797B2 - Impact detection device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide technology of detecting an impact applied to an electronic instrument. <P>SOLUTION: A component 20 is mounted on a printed board 10. The component 20 has connection terminals CT1-CT4 on the bottom. Connection terminals DT1-DT4 are formed on the printed board 10, and the connection terminals CT1-CT4 and the connection terminals DT1-DT4 are joined via solder balls B1-B4. The connection terminals CT1 and CT2 are connected via a circuit 211. The connection terminals CT3 and CT4 are connected via a circuit 212. The connection terminals DT2 and DT3 are connected via a circuit 113. In addition, a measurement terminal 101 connected with the connection terminal DT1 and a measurement terminal 102 connected with the connection terminal DT4 are formed on the printed board 10. When impact is applied to an instrument, a crack occurs on the solder ball, resulting in a change in a resistance value between the measurement terminals 101 and 102. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、電子機器などに加えられた衝撃を検知する技術に関する。   The present invention relates to a technique for detecting an impact applied to an electronic device or the like.

携帯型ゲーム機、ノートパソコン、携帯情報端末、携帯音楽プレーヤなど、様々な電子機器が存在する。これら電子機器は、ユーザが持ち歩くことが多いため、誤って落下させる場合がある。また、携帯型の機器でなくとも、機器を購入して持ち帰るときや、機器の設置作業中などに誤って落下させる場合はある。たとえば、DVDプレーヤ、デスクトップパソコン、プリンタなどを購入し、その製品を搬送する途中で落下させるような場合が考えられる。   There are various electronic devices such as a portable game machine, a notebook computer, a portable information terminal, and a portable music player. Since these electronic devices are often carried around by users, they may be accidentally dropped. Even if it is not a portable device, it may be accidentally dropped when the device is purchased and taken home or during installation of the device. For example, a case where a DVD player, a desktop personal computer, a printer or the like is purchased and dropped while being transported is considered.

電子機器を落下させるのは、ユーザだけではない。たとえば、電気メータの設置作業員が、設置作業中に誤って電気メータを落下させる場合もある。   It is not only the user who drops the electronic device. For example, an electric meter installation worker may accidentally drop the electric meter during the installation work.

電子機器は、精密な部品で構成されているため、落下によって、電装部品、基板等が破壊、変形する場合があり、電子機器の故障の原因となる。   Since electronic devices are composed of precise parts, electrical components, boards, and the like may be destroyed or deformed by dropping, causing a failure of the electronic devices.

特開2005−91219号公報JP 2005-91219 A 特開2007−64711号公報JP 2007-64711 A

電子機器に初期不良がある場合には、ユーザは、無償でメーカによるサポートを受けることができるであろう。これに対して、ユーザが誤って電子機器を落下させ、電子機器を故障させた場合には、修理費用は、ユーザが負担する必要がある。   If the electronic device has an initial failure, the user will be able to receive support from the manufacturer free of charge. On the other hand, if the user accidentally drops the electronic device and breaks down the electronic device, the repair cost must be borne by the user.

しかし、修理依頼を受けたメーカ側で、故障の原因が初期不良によるものなのか、ユーザが電子機器を落下させたことが原因であるかを判別することが難しい。実際には、ユーザが電子機器を落下させたにもかかわらず、初期不良だと偽って報告を受けても、原因を特定することは困難である。   However, it is difficult for the manufacturer that received the repair request to determine whether the cause of the failure is due to an initial failure or whether the user has dropped the electronic device. Actually, it is difficult to identify the cause even if the user has falsely reported that it is an initial failure even though the electronic device has been dropped.

上記特許文献1では、機器に加速度センサを搭載している。加速度センサが機器の落下を検知すると、機器を安全な動作状態に制御するようにしている。   In Patent Document 1, an acceleration sensor is mounted on a device. When the acceleration sensor detects the fall of the device, the device is controlled to a safe operating state.

上記特許文献2では、電子機器の筐体内に衝撃検知用のボールが取り付けられている。ボールは、筐体内でフレームを介して中空状態で取り付けられており、電子機器が落下により衝撃を受けると、ボールがフレームから外れるようになっている。   In Patent Document 2, a ball for impact detection is attached in a housing of an electronic device. The ball is mounted in a hollow state through a frame in the housing, and the ball is detached from the frame when the electronic device receives an impact due to dropping.

特許文献1は、機器に加速度センサを搭載する構成であるため、機器のコストが高くなるという問題がある。また、機器が落下によっても故障しない安全な状態に制御されることとしているが、そのような制御にもかかわらず故障した場合には、やはり初期不良であるのかどうかを判断することができない。   Since patent document 1 is a structure which mounts an acceleration sensor in an apparatus, there exists a problem that the cost of an apparatus becomes high. In addition, the device is controlled to be in a safe state that does not fail even if it is dropped, but if it fails despite such control, it cannot be determined whether it is an initial failure.

特許文献2は、筐体内のボールがフレームから外れることによって、初期不良か否かの判断を行うことが可能である。しかし、機器内にボールを取り付ける構成であるため、たとえば、薄型の携帯装置などには向かない。   In Patent Document 2, it is possible to determine whether or not there is an initial failure when the ball in the housing is detached from the frame. However, since the configuration is such that the ball is mounted in the device, it is not suitable for a thin portable device, for example.

本発明は前記問題点に鑑み、電子機器に加えられた衝撃を検知する技術を提供することを目的とする。   In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a technique for detecting an impact applied to an electronic device.

請求項1記載の発明は、機器に対する衝撃を検知する装置であって、プリント基板と、前記プリント基板上に半田ボールを介して取り付けられる部品と、を備え、前記半田ボールによる前記プリント基板と前記部品との間の導通状態が切断されることを利用して、前記機器に対する衝撃を検知し、前記プリント基板上に基板上回路が形成され、前記プリント基板上に第1〜第Nの半田ボールを介して前記部品が取り付けられており、前記部品は、前記第1〜第Nの半田ボールとそれぞれ接合される第1〜第Nの接続端子と、部品内連結回路と、を含み、前記基板上回路は、前記第1の半田ボールと接合されるとともに、第1測定端子を有する第1基板上回路と、前記第Nの半田ボールと接合されるとともに、第2測定端子を有する第2基板上回路と、基板上連結回路と、を含み、前記第1〜第Nの半田ボールが、前記部品内連結回路と前記基板上連結回路によって連結されることにより、前記第1測定端子と前記第2測定端子との間が導通しており、前記第1測定端子と前記第2測定端子との間に複数の抵抗が並列接続されており、前記複数の抵抗の抵抗値がそれぞれ異なることを特徴とするThe invention according to claim 1 is an apparatus for detecting an impact on a device, comprising: a printed circuit board; and a component attached to the printed circuit board via a solder ball, wherein the printed circuit board by the solder ball and the device By utilizing the disconnection of the conduction state between the components, an impact on the device is detected , a circuit on the substrate is formed on the printed circuit board, and the first to Nth solder balls are formed on the printed circuit board. The component is attached to the substrate, and the component includes first to N-th connection terminals respectively joined to the first to N-th solder balls, and an in-component connection circuit, and the board. The upper circuit is bonded to the first solder ball and has a first substrate circuit having a first measurement terminal, and the second substrate is bonded to the Nth solder ball and has a second measurement terminal. Up A first connection terminal and a second on-board connection circuit, wherein the first to Nth solder balls are connected to each other by the in-component connection circuit and the on-board connection circuit. A plurality of resistors are connected in parallel between the first measurement terminal and the second measurement terminal, and the resistance values of the plurality of resistors are different from each other. To do .

請求項2記載の発明は、機器に対する衝撃を検知する装置であって、プリント基板と、前記プリント基板上に半田ボールを介して取り付けられる部品と、を備え、前記半田ボールによる前記プリント基板と前記部品との間の導通状態が切断されることを利用して、前記機器に対する衝撃を検知し、前記プリント基板上に基板上回路が形成され、前記プリント基板上に第1〜第Nの半田ボールを介して前記部品が取り付けられており、前記部品は、前記第1〜第Nの半田ボールとそれぞれ接合される第1〜第Nの接続端子と、部品内連結回路と、を含み、前記基板上回路は、前記第1の半田ボールと接合されるとともに、第1測定端子を有する第1基板上回路と、前記第Nの半田ボールと接合されるとともに、第2測定端子を有する第2基板上回路と、基板上連結回路と、を含み、前記第1〜第Nの半田ボールが、前記部品内連結回路と前記基板上連結回路によって連結されることにより、前記第1測定端子と前記第2測定端子との間が導通しており、前記第1〜第Nの半田ボールと前記部品との接合面の径を調整することにより、衝撃検知感度を調整可能としたことを特徴とするThe invention according to claim 2 is an apparatus for detecting an impact on an apparatus, comprising: a printed circuit board; and a component attached to the printed circuit board via a solder ball, and the printed circuit board by the solder ball and the device By utilizing the disconnection of the conduction state between the components, an impact on the device is detected, a circuit on the substrate is formed on the printed circuit board, and the first to Nth solder balls are formed on the printed circuit board. The component is attached to the substrate, and the component includes first to N-th connection terminals respectively joined to the first to N-th solder balls, and an in-component connection circuit, and the board. The upper circuit is bonded to the first solder ball and has a first substrate circuit having a first measurement terminal, and the second substrate is bonded to the Nth solder ball and has a second measurement terminal. Up A first connection terminal and a second on-board connection circuit, wherein the first to Nth solder balls are connected to each other by the in-component connection circuit and the on-board connection circuit. The measurement terminal is electrically connected, and the impact detection sensitivity can be adjusted by adjusting the diameter of the joint surface between the first to Nth solder balls and the component .

請求項3記載の発明は、機器に対する衝撃を検知する装置であって、プリント基板と、前記プリント基板上に半田ボールを介して取り付けられる部品と、を備え、前記半田ボールによる前記プリント基板と前記部品との間の導通状態が切断されることを利用して、前記機器に対する衝撃を検知し、前記プリント基板上に基板上回路が形成され、前記プリント基板上に第1〜第Nの半田ボールを介して前記部品が取り付けられており、前記部品は、前記第1〜第Nの半田ボールとそれぞれ接合される第1〜第Nの接続端子と、部品内連結回路と、を含み、前記基板上回路は、前記第1の半田ボールと接合されるとともに、第1測定端子を有する第1基板上回路と、前記第Nの半田ボールと接合されるとともに、第2測定端子を有する第2基板上回路と、基板上連結回路と、を含み、前記第1〜第Nの半田ボールが、前記部品内連結回路と前記基板上連結回路によって連結されることにより、前記第1測定端子と前記第2測定端子との間が導通しており、前記第1〜第Nの半田ボールの組成を変更することにより、衝撃検知感度を調整可能としたことを特徴とする。 Invention of Claim 3 is an apparatus which detects the impact with respect to an apparatus, Comprising: The printed circuit board and the component attached via a solder ball on the said printed circuit board, The said printed circuit board by the said solder ball, and the said By utilizing the disconnection of the conduction state between the components, an impact on the device is detected, a circuit on the substrate is formed on the printed circuit board, and the first to Nth solder balls are formed on the printed circuit board. The component is attached to the substrate, and the component includes first to N-th connection terminals respectively joined to the first to N-th solder balls, and an in-component connection circuit, and the board. The upper circuit is bonded to the first solder ball and has a first substrate circuit having a first measurement terminal, and the second substrate is bonded to the Nth solder ball and has a second measurement terminal. Up A first connection terminal and a second on-board connection circuit, wherein the first to Nth solder balls are connected to each other by the in-component connection circuit and the on-board connection circuit. The measurement terminal is electrically connected, and the impact detection sensitivity can be adjusted by changing the composition of the first to Nth solder balls.

請求項4記載の発明は、請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の衝撃検知装置において、前記第1〜第Nの半田ボールが、前記部品内連結回路と前記基板上連結回路によって連結されることにより、前記第1測定端子と前記第2測定端子との間に各半田ボールを接続する複数の回路が直列接続されていることを特徴とする。 According to a fourth aspect of the present invention, in the impact detection device according to any one of the first to third aspects, the first to Nth solder balls are connected by the in-component connection circuit and the on-board connection circuit. Thus, a plurality of circuits for connecting each solder ball are connected in series between the first measurement terminal and the second measurement terminal.

請求項5記載の発明は、請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の衝撃検知装置において、前記第1〜第Nの半田ボールが、前記部品内連結回路と前記基板上連結回路によって連結されることにより、前記第1測定端子と前記第2測定端子との間に複数の抵抗が並列接続されていることを特徴とする。 According to a fifth aspect of the present invention, in the impact detection device according to any one of the first to third aspects, the first to Nth solder balls are connected by the in-component connection circuit and the on-board connection circuit. Thus, a plurality of resistors are connected in parallel between the first measurement terminal and the second measurement terminal.

本発明の衝撃検知装置は、プリント基板上に半田ボールにより部品を支持する。そして、部品内の導通状態を測定可能な測定端子をプリント基板上に設けた。これにより、機器に加わった衝撃を検知することが可能である。衝撃検知装置は、プリント基板上に非常に小さな部品を搭載するだけの簡易な構成であり、電源も制御装置も不要であり、機器のコストを大きくすることはない。また、機器のサイズを大きくすることもないので、小型の携帯機器などにも適している。   The impact detection device of the present invention supports components on a printed circuit board with solder balls. And the measurement terminal which can measure the conduction | electrical_connection state in components was provided on the printed circuit board. Thereby, it is possible to detect the impact applied to the device. The impact detection device has a simple configuration in which only a very small part is mounted on a printed circuit board, and does not require a power supply or a control device, and does not increase the cost of the device. In addition, since the size of the device is not increased, it is suitable for a small portable device.

衝撃検知装置が搭載されたプリント基板の平面図である。It is a top view of the printed circuit board with which the impact detection apparatus was mounted. 第1の実施の形態に係る衝撃検知装置を示す図である。It is a figure which shows the impact detection apparatus which concerns on 1st Embodiment. 機器が衝撃を受ける前の衝撃検知装置の断面図である。It is sectional drawing of the impact detection apparatus before an apparatus receives an impact. 機器が衝撃を受けた後の衝撃検知装置の断面図である。It is sectional drawing of the impact detection apparatus after an apparatus received the impact. 第2の実施の形態に係る衝撃検知装置を示す図である。It is a figure which shows the impact detection apparatus which concerns on 2nd Embodiment. 第3の実施の形態に係る衝撃検知装置を示す図である。It is a figure which shows the impact detection apparatus which concerns on 3rd Embodiment. 第3の実施の形態に係る衝撃検知装置の抵抗値を示す図である。It is a figure which shows the resistance value of the impact detection apparatus which concerns on 3rd Embodiment. 第4の実施の形態に係る衝撃検知装置を示す図である。It is a figure which shows the impact detection apparatus which concerns on 4th Embodiment. 第5の実施の形態に係る衝撃検知装置の断面図である。It is sectional drawing of the impact detection apparatus which concerns on 5th Embodiment.

以下、図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明する。図1は、衝撃検知装置2が搭載されたプリント基板10を示す平面図である。プリント基板10は、たとえば、携帯ゲーム装置のメイン基板であり、携帯ゲーム装置のケースに収容される。あるいは、プリント基板10は、電気メータのメイン基板であり、電気メータのケースに収容される。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view showing a printed circuit board 10 on which the impact detection device 2 is mounted. The printed circuit board 10 is, for example, a main board of a portable game device, and is accommodated in a case of the portable game device. Or the printed circuit board 10 is a main board | substrate of an electric meter, and is accommodated in the case of an electric meter.

プリント基板10には、様々な半導体部品11、11・・・が搭載されている。半導体部品11、11・・・は、CPU、メモリや、各種のLSIなどである。プリント基板10が、携帯ゲーム装置のメイン基板であれば、CPUや各種LSIにより、携帯ゲーム装置の主要部品を構成している。したがって、このプリント基板10が強い衝撃を受けると、機器の主機能に関わる大きな故障を引き起こすことになる。   Various semiconductor components 11, 11... Are mounted on the printed circuit board 10. The semiconductor components 11, 11... Are a CPU, a memory, various LSIs, and the like. If the printed circuit board 10 is the main board of a portable game device, the main components of the portable game device are constituted by a CPU and various LSIs. Therefore, if this printed circuit board 10 receives a strong impact, it will cause a major failure related to the main function of the device.

衝撃検知装置2は、プリント基板10に取り付けられた部品20と、プリント基板10上に形成された測定用端子101、102、回路111、112などを備えて構成されている。   The impact detection device 2 includes a component 20 attached to the printed circuit board 10, measurement terminals 101 and 102 formed on the printed circuit board 10, circuits 111 and 112, and the like.

衝撃検知装置2は、BGA(Ball Grid Array)あるいはCSP(Chip Scale Package)などのパッケージ部品であり、半田ボール(半田バンプ)を利用してプリント基板10上に取り付けられている。衝撃検知装置2は、たとえば、2cm×2cm〜3cm×3cm程度の面積の小型のパッケージである。   The impact detection device 2 is a package component such as BGA (Ball Grid Array) or CSP (Chip Scale Package), and is mounted on the printed circuit board 10 using solder balls (solder bumps). The impact detection device 2 is a small package having an area of about 2 cm × 2 cm to 3 cm × 3 cm, for example.

{第1の実施の形態}
図2は、第1の実施の形態の衝撃検知装置2を示す図である。図2(a)は、部品20の底面図であり、図2(b)は、部品20が取り付けられるプリント基板10の基板面を示す図である。図2(b)においては、プリント基板10上に形成された回路を見やすくするため、部品20の外形のみを2点鎖線で示している。
{First embodiment}
FIG. 2 is a diagram illustrating the impact detection device 2 according to the first embodiment. FIG. 2A is a bottom view of the component 20, and FIG. 2B is a diagram illustrating a substrate surface of the printed circuit board 10 to which the component 20 is attached. In FIG. 2B, only the outer shape of the component 20 is indicated by a two-dot chain line in order to make the circuit formed on the printed circuit board 10 easier to see.

図2(a)に示すように、部品20の底面側には、4つの接続端子CT1〜CT4が埋め込まれている。一方、図2(b)に示すように、プリント基板10上には、4つの接続端子DT1〜DT4が形成されている。そして、接続端子CT1〜CT4と、接続端子DT1〜DT4とを、それぞれ対向させた状態で、半田ボールB1〜B4により、接続端子CT1〜CT4と接続端子DT1〜DT4とが接合される。これにより、半田ボールB1〜B4を介して、接続端子CT1〜CT4と接続端子DT1〜DT4とが導通する。   As shown in FIG. 2A, four connection terminals CT <b> 1 to CT <b> 4 are embedded on the bottom surface side of the component 20. On the other hand, as shown in FIG. 2B, four connection terminals DT <b> 1 to DT <b> 4 are formed on the printed circuit board 10. Then, the connection terminals CT1 to CT4 and the connection terminals DT1 to DT4 are joined by the solder balls B1 to B4 with the connection terminals CT1 to CT4 and the connection terminals DT1 to DT4 facing each other. Accordingly, the connection terminals CT1 to CT4 and the connection terminals DT1 to DT4 are electrically connected via the solder balls B1 to B4.

部品20の内部において、接続端子CT1と接続端子CT2とは、回路211を介して接続され、接続端子CT3と接続端子CT4とは、回路212を介して接続されている。   In the component 20, the connection terminal CT 1 and the connection terminal CT 2 are connected via a circuit 211, and the connection terminal CT 3 and the connection terminal CT 4 are connected via a circuit 212.

プリント基板10上には、接続端子DT2と接続端子DT3とを接続する回路113が形成されている。また、接続端子DT1と測定用端子101とは回路111により接続され、接続端子DT4と測定用端子102とは回路112により接続されている。   On the printed circuit board 10, a circuit 113 for connecting the connection terminal DT2 and the connection terminal DT3 is formed. The connection terminal DT1 and the measurement terminal 101 are connected by a circuit 111, and the connection terminal DT4 and the measurement terminal 102 are connected by a circuit 112.

これにより、測定用端子101と測定用端子102とは、回路111、回路211、回路113、回路212、回路112を介して導通する。   Accordingly, the measurement terminal 101 and the measurement terminal 102 are brought into conduction via the circuit 111, the circuit 211, the circuit 113, the circuit 212, and the circuit 112.

図3は、衝撃検知装置2の断面図である。接続端子CT1と接続端子DT1とが半田ボールB1によって接合され、接続端子CT2と接続端子DT2とが半田ボールB2によって接合されている様子を示している。同じような構造で、接続端子CT3と接続端子DT3とが半田ボールB3によって接合され、接続端子CT4と接続端子DT4とが半田ボールB4によって接合されていることになる。   FIG. 3 is a cross-sectional view of the impact detection device 2. The connection terminal CT1 and the connection terminal DT1 are joined by a solder ball B1, and the connection terminal CT2 and the connection terminal DT2 are joined by a solder ball B2. With the same structure, the connection terminal CT3 and the connection terminal DT3 are joined by the solder ball B3, and the connection terminal CT4 and the connection terminal DT4 are joined by the solder ball B4.

なお、図では、接続端子CT1と接続端子CT2とを接続する回路211を抵抗のシンボルで示しているが、第1の実施の形態においては、回路211、回路212とは抵抗が0の配線である。後で説明する第3、第4の実施の形態においては、部品内の回路として所定の抵抗値を持った抵抗が利用される。また、回路111、112、113についても抵抗0の配線である。   In the figure, the circuit 211 that connects the connection terminal CT1 and the connection terminal CT2 is indicated by a symbol of resistance. However, in the first embodiment, the circuit 211 and the circuit 212 are wirings having zero resistance. is there. In the third and fourth embodiments to be described later, a resistor having a predetermined resistance value is used as a circuit in the component. In addition, the circuits 111, 112, and 113 are also wiring with a resistance of zero.

衝撃検知装置2の構成は以上説明したとおりである。上述した例と同様、プリント基板10は、携帯ゲーム装置のメイン基板であるとする。衝撃検知装置2が搭載されたプリント基板10を収容する携帯ゲーム装置が故障すると、故障した携帯ゲーム装置が修理センターに持ち込まれる。   The configuration of the impact detection device 2 is as described above. As in the example described above, the printed circuit board 10 is assumed to be the main board of the portable game device. When the portable game device that accommodates the printed circuit board 10 on which the impact detection device 2 is mounted fails, the failed portable game device is brought into the repair center.

修理センターでは、サービスマンが故障した携帯ゲーム装置の修理を行うが、このとき、故障の原因が初期不良であるのか、あるいは、ユーザが携帯ゲーム装置を落下させたことが原因であるかを判断する必要がある。   At the repair center, the service person repairs the failed mobile game device. At this time, it is determined whether the cause of the failure is an initial failure or the user has dropped the mobile game device. There is a need to.

サービスマンは、携帯ゲーム装置のケースを開けて、中からプリント基板10を取り出す。そして、測定用端子101、102に抵抗測定機のプラス端子とマイナス端子とを接続する。もし、携帯ゲーム装置が落下などで衝撃を受けていなければ、測定用端子101、102は、回路111、回路211、回路113、回路212、回路112を介して導通しているはずである。この場合、抵抗測定機は、測定用端子101、102間の導通状態(抵抗値0)を検知することができる。これにより、携帯ゲーム装置には、大きな衝撃が加わった形跡がないと判断できる。   The service person opens the case of the portable game device and takes out the printed circuit board 10 from the inside. Then, a plus terminal and a minus terminal of the resistance measuring machine are connected to the measurement terminals 101 and 102. If the portable game device is not impacted by dropping or the like, the measurement terminals 101 and 102 should be conducted through the circuit 111, the circuit 211, the circuit 113, the circuit 212, and the circuit 112. In this case, the resistance measuring device can detect a conduction state (resistance value 0) between the measurement terminals 101 and 102. Thereby, it can be determined that the portable game device has no evidence of a large impact.

もし、携帯ゲーム装置が落下などにより大きな衝撃を受けた場合、半田ボールにクラックが発生する。あるいは、半田ボールが接続端子から剥がれる。図4は、半田ボールB2にクラックが発生している様子を示す。この場合、接続端子CT2と接続端子DT2との間が絶縁される。この状態で、抵抗測定機によって、測定用端子101、102間の抵抗を測定すれば、抵抗値が無限大となり、測定用端子101、102間の導通状態が切断されたことを検知できる。これにより、半田ボールにクラックが発生するほどの衝撃、あるいは半田ボールが接続端子から剥がれるほどの衝撃が携帯ゲーム装置に加わったと判断できる。   If the portable game device receives a large impact due to dropping or the like, the solder ball will crack. Alternatively, the solder balls are peeled off from the connection terminals. FIG. 4 shows a state in which a crack is generated in the solder ball B2. In this case, the connection terminal CT2 and the connection terminal DT2 are insulated. In this state, if the resistance between the measuring terminals 101 and 102 is measured by the resistance measuring machine, the resistance value becomes infinite, and it can be detected that the conduction state between the measuring terminals 101 and 102 is disconnected. As a result, it can be determined that the impact to the extent that the solder ball is cracked or the impact to the extent that the solder ball is peeled from the connection terminal has been applied to the portable game device.

このように、本実施の形態の衝撃検知装置2は、機器に加わった衝撃を検知することが可能である。衝撃検知装置2は、プリント基板10上に非常に小さな部品20を搭載するだけの簡易な構成であり、電源も制御装置も不要であり、機器のコストを大きくすることはない。また、機器のサイズを大きくすることもないので、小型の携帯機器などにも適している。   Thus, the impact detection apparatus 2 of this Embodiment can detect the impact applied to the apparatus. The impact detection device 2 has a simple configuration in which only a very small component 20 is mounted on the printed circuit board 10, and does not require a power supply or a control device, and does not increase the cost of the device. In addition, since the size of the device is not increased, it is suitable for a small portable device.

{第2の実施の形態}
次に、本発明の第2の実施の形態について説明する。図5は、第2の実施の形態に係る衝撃検知装置2を示す図である。図5(a)は、部品20の底面図であり、図5(b)は、部品20が取り付けられるプリント基板10の基板面を示す図である。図5(b)においては、プリント基板10上に形成された回路を見やすくするため、部品20の外形のみを2点鎖線で示している。
{Second Embodiment}
Next, a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 5 is a diagram illustrating an impact detection device 2 according to the second embodiment. FIG. 5A is a bottom view of the component 20, and FIG. 5B is a diagram illustrating a substrate surface of the printed circuit board 10 to which the component 20 is attached. In FIG. 5B, only the outer shape of the component 20 is indicated by a two-dot chain line in order to make the circuit formed on the printed circuit board 10 easier to see.

図5(a)に示すように、部品20の底面側には、8つの接続端子CT1〜CT8が埋め込まれている。一方、図5(b)に示すように、プリント基板10上には、8つの接続端子DT1〜DT8が形成されている。そして、接続端子CT1〜CT8と、接続端子DT1〜DT8とを、それぞれ対向させた状態で、半田ボールB1〜B8により、接続端子CT1〜CT8と接続端子DT1〜DT8とが接合される。これにより、半田ボールB1〜B8を介して、接続端子CT1〜CT8と接続端子DT1〜DT8とが導通する。   As shown in FIG. 5A, eight connection terminals CT <b> 1 to CT <b> 8 are embedded on the bottom surface side of the component 20. On the other hand, as illustrated in FIG. 5B, eight connection terminals DT <b> 1 to DT <b> 8 are formed on the printed circuit board 10. Then, with the connection terminals CT1 to CT8 and the connection terminals DT1 to DT8 facing each other, the connection terminals CT1 to CT8 and the connection terminals DT1 to DT8 are joined by the solder balls B1 to B8. Accordingly, the connection terminals CT1 to CT8 and the connection terminals DT1 to DT8 are conducted through the solder balls B1 to B8.

部品20の内部において、接続端子CT1と接続端子CT2とは、回路221を介して接続され、接続端子CT3と接続端子CT4とは、回路222を介して接続され、接続端子CT5と接続端子CT6とは、回路223を介して接続され、接続端子CT7と接続端子CT8とは、回路224を介して接続されている。第1の実施の形態と同様、回路221、222、223、224は、抵抗0の配線である。   In the component 20, the connection terminal CT1 and the connection terminal CT2 are connected via a circuit 221, the connection terminal CT3 and the connection terminal CT4 are connected via a circuit 222, and the connection terminal CT5 and the connection terminal CT6 are connected to each other. Are connected via a circuit 223, and the connection terminal CT7 and the connection terminal CT8 are connected via a circuit 224. As in the first embodiment, the circuits 221, 222, 223, and 224 are wires with a resistance of 0.

プリント基板10上には、接続端子DT2と接続端子DT3とを接続する回路123と、接続端子DT4と接続端子DT5とを接続する回路124と、接続端子DT6と接続端子DT7とを接続する回路125とが形成されている。また、接続端子DT1と測定用端子101とは回路111により接続され、接続端子DT8と測定用端子102とは回路112により接続されている。回路111、112、123、124、125についても抵抗0の配線である。   On the printed circuit board 10, a circuit 123 for connecting the connection terminal DT2 and the connection terminal DT3, a circuit 124 for connecting the connection terminal DT4 and the connection terminal DT5, and a circuit 125 for connecting the connection terminal DT6 and the connection terminal DT7. And are formed. The connection terminal DT1 and the measurement terminal 101 are connected by a circuit 111, and the connection terminal DT8 and the measurement terminal 102 are connected by a circuit 112. The circuits 111, 112, 123, 124, and 125 are also wiring with a resistance of 0.

これにより、測定用端子101と測定用端子102とは、回路111、回路221、回路123、回路222、回路124、回路223、回路125、回路224、回路112を介して接続される。   Thus, the measurement terminal 101 and the measurement terminal 102 are connected via the circuit 111, the circuit 221, the circuit 123, the circuit 222, the circuit 124, the circuit 223, the circuit 125, the circuit 224, and the circuit 112.

もし、携帯ゲーム装置が落下などで衝撃を受けていなければ、測定用端子101、102は、回路111、回路221、回路123、回路222、回路124、回路223、回路125、回路224、回路112を介して導通されているはずである。この場合、抵抗測定機は、測定用端子101、102間の導通状態(抵抗値0)を検知することができる。これにより、携帯ゲーム装置に大きな衝撃が加わった形跡がないと判断できる。   If the portable game device is not impacted by dropping or the like, the measurement terminals 101 and 102 are the circuit 111, the circuit 221, the circuit 123, the circuit 222, the circuit 124, the circuit 223, the circuit 125, the circuit 224, and the circuit 112. Should be conducted through. In this case, the resistance measuring device can detect a conduction state (resistance value 0) between the measurement terminals 101 and 102. As a result, it can be determined that there is no evidence that the mobile game device has been subjected to a large impact.

もし、携帯ゲーム装置が落下などにより大きな衝撃を受けた場合、半田ボールにクラックが発生する。あるいは、半田ボールが接続端子から剥がれる。この状態で、抵抗測定機によって、測定用端子101、102間の抵抗を測定すれば、抵抗値が無限大となり、測定用端子101、102間の導通状態が切断されたことを検知できる。これにより、半田ボールにクラックが発生するほどの衝撃が携帯ゲーム装置に加わったと判断できる。あるいは半田ボールが接続端子から剥がれるほどの衝撃が加わったと判断できる。つまり、第2の実施の形態と同様、回路221、222、223、224は、直列接続されているので、半田ボールB1〜B8のいずれかの導通状態が切断されることで、測定用端子101、102間が絶縁され、抵抗値が無限大となる。   If the portable game device receives a large impact due to dropping or the like, the solder ball will crack. Alternatively, the solder balls are peeled off from the connection terminals. In this state, if the resistance between the measuring terminals 101 and 102 is measured by the resistance measuring machine, the resistance value becomes infinite, and it can be detected that the conduction state between the measuring terminals 101 and 102 is disconnected. As a result, it can be determined that an impact that would cause a crack in the solder ball has been applied to the portable game device. Alternatively, it can be determined that an impact is applied to the extent that the solder balls are peeled off from the connection terminals. That is, since the circuits 221, 222, 223, and 224 are connected in series as in the second embodiment, the measurement terminal 101 is disconnected by disconnecting the conductive state of any of the solder balls B1 to B8. , 102 are insulated, and the resistance value becomes infinite.

{第3の実施の形態}
次に、本発明の第3の実施の形態について説明する。図6は、第3の実施の形態に係る衝撃検知装置2を示す図である。図6(a)は、部品20の底面図であり、図6(b)は、部品20が取り付けられるプリント基板10の基板面を示す図である。図6(b)においては、プリント基板10上に形成された回路を見やすくするため、部品20の外形のみを2点鎖線で示している。
{Third embodiment}
Next, a third embodiment of the present invention will be described. FIG. 6 is a diagram illustrating an impact detection device 2 according to the third embodiment. FIG. 6A is a bottom view of the component 20, and FIG. 6B is a diagram illustrating a substrate surface of the printed circuit board 10 to which the component 20 is attached. In FIG. 6B, only the outer shape of the component 20 is indicated by a two-dot chain line in order to make the circuit formed on the printed circuit board 10 easier to see.

図6(a)に示すように、部品20の底面側には、4つの接続端子CT1〜CT4が埋め込まれている。一方、図6(b)に示すように、プリント基板10上には、4つの接続端子DT1〜DT4が形成されている。そして、接続端子CT1〜CT4と、接続端子DT1〜DT4とを、それぞれ対向させた状態で、半田ボールB1〜B4により、接続端子CT1〜CT4と接続端子DT1〜DT4とが接合される。これにより、半田ボールB1〜B4を介して、接続端子CT1〜CT4と接続端子DT1〜DT4とが導通する。   As shown in FIG. 6A, four connection terminals CT <b> 1 to CT <b> 4 are embedded on the bottom surface side of the component 20. On the other hand, as shown in FIG. 6B, four connection terminals DT <b> 1 to DT <b> 4 are formed on the printed circuit board 10. Then, the connection terminals CT1 to CT4 and the connection terminals DT1 to DT4 are joined by the solder balls B1 to B4 with the connection terminals CT1 to CT4 and the connection terminals DT1 to DT4 facing each other. Accordingly, the connection terminals CT1 to CT4 and the connection terminals DT1 to DT4 are electrically connected via the solder balls B1 to B4.

部品20の内部において、接続端子CT1と接続端子CT2とが、抵抗231を介して接続され、接続端子CT1と接続端子CT3とが、抵抗232を介して接続され、接続端子CT1と接続端子CT4とが、抵抗233を介して接続されている。   In the component 20, the connection terminal CT1 and the connection terminal CT2 are connected via a resistor 231, the connection terminal CT1 and the connection terminal CT3 are connected via a resistor 232, and the connection terminal CT1 and the connection terminal CT4 are connected to each other. Are connected via a resistor 233.

プリント基板10上には、接続端子DT2と接続端子DT3とを接続する回路133と、接続端子DT3と接続端子DT4とを接続する回路134と、が形成されている。また、接続端子DT1と測定用端子101とは回路111により接続され、接続端子DT4と測定用端子102とは回路112により接続されている。回路111、112、133、134については抵抗0の配線である。   A circuit 133 that connects the connection terminal DT2 and the connection terminal DT3 and a circuit 134 that connects the connection terminal DT3 and the connection terminal DT4 are formed on the printed circuit board 10. The connection terminal DT1 and the measurement terminal 101 are connected by a circuit 111, and the connection terminal DT4 and the measurement terminal 102 are connected by a circuit 112. The circuits 111, 112, 133, and 134 are wires with a resistance of zero.

これにより、測定用端子101と測定用端子102とは、回路111、抵抗231、回路133、回路134、回路112を介して接続される。また、測定用端子101と測定用端子102とは、回路111、抵抗232、回路134、回路112を介して接続される。さらに、測定用端子101と測定用端子102とは、回路111、抵抗233、回路112を介して接続される。このように、測定用端子101と測定用端子102との間において、3つの抵抗231、232、233が並列接続される。   Thereby, the measurement terminal 101 and the measurement terminal 102 are connected via the circuit 111, the resistor 231, the circuit 133, the circuit 134, and the circuit 112. The measurement terminal 101 and the measurement terminal 102 are connected via a circuit 111, a resistor 232, a circuit 134, and a circuit 112. Further, the measurement terminal 101 and the measurement terminal 102 are connected via a circuit 111, a resistor 233, and a circuit 112. As described above, the three resistors 231, 232, and 233 are connected in parallel between the measurement terminal 101 and the measurement terminal 102.

図7は、抵抗231、232、233の合成抵抗を示す図である。ここでは、図6(a)に示すように、抵抗231の抵抗値はR、抵抗232の抵抗値は2R、抵抗233の抵抗値は、4Rであるとする。   FIG. 7 is a diagram illustrating a combined resistance of the resistors 231, 232, and 233. Here, as shown in FIG. 6A, the resistance value of the resistor 231 is R, the resistance value of the resistor 232 is 2R, and the resistance value of the resistor 233 is 4R.

図7において、“0”は、半田ボールにクラック(あるいは剥がれ)が発生し、絶縁されている状態を示し、“1”は、半田ボールが導通状態にあることを示している。たとえば、状態4であれば、半田ボールB2は、クラックが発生して絶縁状態となり、半田ボールB3、B4は、導通状態にあることを示している。   In FIG. 7, “0” indicates that the solder ball is cracked (or peeled) and is insulated, and “1” indicates that the solder ball is in a conductive state. For example, in the state 4, the solder ball B2 is cracked to be in an insulating state, and the solder balls B3 and B4 are in a conductive state.

図に示すように、半田ボールB2、B3、B4の状態によって、抵抗231、232、233の合成抵抗は状態1から状態8までの8つのパターンが存在する。たとえば、半田ボールB2、B4は導通状態にあり、半田ボールB3が絶縁状態にある状態6であれば、合成抵抗は、4R/5となる。   As shown in the figure, there are eight patterns from the state 1 to the state 8 for the combined resistance of the resistors 231, 232, and 233 depending on the state of the solder balls B2, B3, and B4. For example, if the solder balls B2 and B4 are in a conductive state and the solder ball B3 is in an insulating state 6, the combined resistance is 4R / 5.

もし、携帯ゲーム装置が落下などで衝撃を受けていなければ、測定用端子101、102は、並列接続された3つの抵抗231、232、233の全てを介して導通されているはずである。この場合、抵抗測定機は、状態8の合成抵抗として4R/7を測定できる。これにより、携帯ゲーム装置に大きな衝撃が加わった形跡がないと判断できる。   If the portable game device is not impacted by dropping or the like, the measurement terminals 101 and 102 should be conducted through all three resistors 231, 232, and 233 connected in parallel. In this case, the resistance measuring instrument can measure 4R / 7 as the combined resistance of state 8. As a result, it can be determined that there is no evidence that the mobile game device has been subjected to a large impact.

もし、携帯ゲーム装置が落下などにより大きな衝撃を受けた場合、半田ボールにクラックが発生する。あるいは、半田ボールが接続端子から剥がれる。これにより、抵抗測定機によって、測定用端子101、102間の抵抗を測定すれば、抵抗値が状態8以外の値をとり、半田ボールの導通状態が切断されるほどの衝撃が携帯ゲーム装置に加わったと判断できる。   If the portable game device receives a large impact due to dropping or the like, the solder ball will crack. Alternatively, the solder balls are peeled off from the connection terminals. As a result, if the resistance between the measuring terminals 101 and 102 is measured by the resistance measuring machine, the resistance value takes a value other than the state 8, and the impact to the extent that the conduction state of the solder ball is cut is given to the portable game device. It can be judged that it has joined.

さらに、測定した合成抵抗値から、どの半田ボールの導通状態が切断されたかを即座に特定することができる。たとえば、合成抵抗値が4R/6であれば、状態7が該当するので、半田ボールB4の導通状態が切断されたことが分かる。これにより、衝撃検知装置2のどの部分、あるいはどの方向に強く力が加わったかを推定することができる。   Furthermore, it is possible to immediately specify which solder ball is disconnected from the measured combined resistance value. For example, if the combined resistance value is 4R / 6, the state 7 is applicable, and it can be seen that the conduction state of the solder ball B4 is cut. As a result, it is possible to estimate which part or in which direction of the impact detection device 2 the force is applied strongly.

このように、プリント基板10に衝撃検知装置2を実装させることで、低コスト、簡易な構成でありながら、機器に落下などによる大きな衝撃が加わったことを検知できる。さらには、第3の実施の形態によれば、機器のどの方向、どの部分に強い力が加わったかを特定することができる。   In this manner, by mounting the impact detection device 2 on the printed circuit board 10, it is possible to detect that a large impact due to dropping or the like has been applied to the device while having a low-cost and simple configuration. Furthermore, according to the third embodiment, it is possible to specify in which direction and in which part of the device a strong force is applied.

半田ボールB1の導通状態が切断された場合には、抵抗値が無限大になるため、落下などにより衝撃が加わったことは判別可能であるが、衝撃が強く加わった場所を特定することはできない。このため、衝撃が加わり難い位置が存在する場合には、その位置に接続端子CT1、DT1の位置をあわせるとよい。   When the conduction state of the solder ball B1 is cut, the resistance value becomes infinite, so that it is possible to determine that an impact has been applied due to dropping or the like, but it is not possible to identify the location where the impact has been applied strongly. . For this reason, when there is a position where it is difficult to apply an impact, the positions of the connection terminals CT1 and DT1 may be adjusted to the position.

{第4の実施の形態}
次に、本発明の第4の実施の形態について説明する。図8は、第4の実施の形態に係る衝撃検知装置2を示す図である。図8(a)は、部品20の底面図であり、図8(b)は、部品20が取り付けられるプリント基板10の基板面を示す図である。図8(b)においては、プリント基板10上に形成された回路を見やすくするため、部品20の外形のみを2点鎖線で示している。
{Fourth embodiment}
Next, a fourth embodiment of the present invention will be described. FIG. 8 is a diagram showing an impact detection apparatus 2 according to the fourth embodiment. FIG. 8A is a bottom view of the component 20, and FIG. 8B is a diagram illustrating a substrate surface of the printed circuit board 10 to which the component 20 is attached. In FIG. 8B, only the outer shape of the component 20 is indicated by a two-dot chain line in order to make the circuit formed on the printed circuit board 10 easier to see.

図8(a)に示すように、部品20の底面側には、9つの接続端子CT1〜CT9が埋め込まれている。一方、図8(b)に示すように、プリント基板10上には、9つの接続端子DT1〜DT9が形成されている。そして、接続端子CT1〜CT9と、接続端子DT1〜DT9とを、それぞれ対向させた状態で、半田ボールB1〜B9により、接続端子CT1〜CT9と接続端子DT1〜DT9とが接合される。これにより、半田ボールB1〜B9を介して、接続端子CT1〜CT9と接続端子DT1〜DT9とが導通する。   As shown in FIG. 8A, nine connection terminals CT <b> 1 to CT <b> 9 are embedded on the bottom surface side of the component 20. On the other hand, as shown in FIG. 8B, nine connection terminals DT <b> 1 to DT <b> 9 are formed on the printed circuit board 10. The connection terminals CT1 to CT9 and the connection terminals DT1 to DT9 are joined by the solder balls B1 to B9 with the connection terminals CT1 to CT9 and the connection terminals DT1 to DT9 facing each other. Thereby, the connection terminals CT1 to CT9 and the connection terminals DT1 to DT9 are conducted through the solder balls B1 to B9.

部品20の内部には、接続端子CT1〜CT8と接続端子CT9とを接続する抵抗241〜248が並列接続されている。   Inside the component 20, resistors 241 to 248 for connecting the connection terminals CT1 to CT8 and the connection terminal CT9 are connected in parallel.

プリント基板10上には、接続端子DT1と接続端子DT2とを接続する回路143と、接続端子DT2と接続端子DT3とを接続する回路144と、接続端子DT3と接続端子DT4とを接続する回路145と、接続端子DT4と接続端子DT5とを接続する回路146と、接続端子DT5と接続端子DT6とを接続する回路147と、接続端子DT6と接続端子DT7とを接続する回路148と、接続端子DT7と接続端子DT8とを接続する回路149とが形成されている。また、接続端子DT9と測定用端子101とは回路111により接続され、接続端子DT8と測定用端子102とは回路112により接続されている。回路111、112、143〜149については、抵抗0の配線である。   On the printed circuit board 10, a circuit 143 that connects the connection terminal DT1 and the connection terminal DT2, a circuit 144 that connects the connection terminal DT2 and the connection terminal DT3, and a circuit 145 that connects the connection terminal DT3 and the connection terminal DT4. A circuit 146 connecting the connection terminal DT4 and the connection terminal DT5, a circuit 147 connecting the connection terminal DT5 and the connection terminal DT6, a circuit 148 connecting the connection terminal DT6 and the connection terminal DT7, and a connection terminal DT7. And a circuit 149 for connecting the connection terminal DT8. The connection terminal DT9 and the measurement terminal 101 are connected by a circuit 111, and the connection terminal DT8 and the measurement terminal 102 are connected by a circuit 112. The circuits 111, 112, and 143 to 149 are wirings with a resistance of 0.

これにより、測定用端子101と測定用端子102との間は、8個の抵抗241〜248が並列接続された状態となる。   Accordingly, the eight resistors 241 to 248 are connected in parallel between the measurement terminal 101 and the measurement terminal 102.

もし、携帯ゲーム装置が落下などで衝撃を受けていなければ、測定用端子101、102は、並列接続された8つの抵抗241〜248の全てを介して導通されているはずである。この場合、抵抗測定機は、8つの並列接続された抵抗241〜248の合成抵抗を測定できる。これにより、携帯ゲーム装置に大きな衝撃が加わった形跡がないと判断できる。   If the portable game device is not impacted by dropping or the like, the measurement terminals 101 and 102 should be conducted through all of the eight resistors 241 to 248 connected in parallel. In this case, the resistance measuring machine can measure the combined resistance of the eight resistors 241 to 248 connected in parallel. As a result, it can be determined that there is no evidence that the mobile game device has been subjected to a large impact.

もし、携帯ゲーム装置が落下などにより大きな衝撃を受けた場合、半田ボールにクラックが発生する。あるいは、半田ボールが接続端子から剥がれる。いずれかの半田ボールの導通状態が切断された場合には、抵抗測定機によって、測定用端子101、102間の抵抗を測定すれば、正常な場合と比べて抵抗値が異なる値をとる。これにより、半田ボールの導通状態が切断されるほどの衝撃が携帯ゲーム装置に加わったと判断できる。そして、第3の実施の形態と同様、8つの抵抗241〜248を異なる抵抗値で構成しておけば、測定した合成抵抗値から、どの半田ボールの導通状態が切断されたかを即座に特定することができる。これにより、機器にどの方向に強い力が加わったかを推定することができる。   If the portable game device receives a large impact due to dropping or the like, the solder ball will crack. Alternatively, the solder balls are peeled off from the connection terminals. When the conduction state of any one of the solder balls is cut, if the resistance between the measuring terminals 101 and 102 is measured by a resistance measuring device, the resistance value is different from that in a normal case. Thereby, it can be determined that an impact to the extent that the conduction state of the solder ball is cut is applied to the portable game device. As in the third embodiment, if the eight resistors 241 to 248 are configured with different resistance values, it is immediately identified from the measured combined resistance value which solder ball is disconnected. be able to. This makes it possible to estimate in which direction a strong force is applied to the device.

{第5の実施の形態}
図9は、第5の実施の形態に係る衝撃検知装置2の断面図である。図に示すように、半田ボールB2と接続端子CT2との接続面の径に比べて半田ボールB1と接続端子CT1との接続面の径が小さくなっている。あるいは、半田ボールB2と接続端子DT2との接続面の径に比べて半田ボールB1と接続端子DT1との接続面の径が小さくなっている。 半田ボールとパッケージとの接続面の径が小さい場合、衝撃が加わったときに、接続面に加わる力が集中するため、クラックあるいは接続端子からの剥がれが発生する可能性が高くなる。これにより、半田ボールの衝撃に対する耐久性を調整することができる。図9の例であれば、半田ボールB1の衝撃に対する強度を、半田ボールB2の強度より弱くすることができる。このように、半田ボールの径を調整することで、衝撃を検知する感度を調整することができる。
{Fifth embodiment}
FIG. 9 is a cross-sectional view of the impact detection device 2 according to the fifth embodiment. As shown in the figure, the diameter of the connection surface between the solder ball B1 and the connection terminal CT1 is smaller than the diameter of the connection surface between the solder ball B2 and the connection terminal CT2. Alternatively, the diameter of the connection surface between the solder ball B1 and the connection terminal DT1 is smaller than the diameter of the connection surface between the solder ball B2 and the connection terminal DT2. When the diameter of the connection surface between the solder ball and the package is small, the force applied to the connection surface is concentrated when an impact is applied, so that there is a high possibility that a crack or peeling from the connection terminal occurs. Thereby, durability with respect to the impact of a solder ball can be adjusted. In the example of FIG. 9, the strength against the impact of the solder ball B1 can be made weaker than the strength of the solder ball B2. Thus, the sensitivity for detecting the impact can be adjusted by adjusting the diameter of the solder ball.

あるいは、半田ボールの組成を変えることで、衝撃を検知する感度を調整することもできる。   Or the sensitivity which detects an impact can also be adjusted by changing the composition of a solder ball.

{本発明の本質的な構成}
上記第1の実施の形態においては、4個の半田ボールB1〜B4が、部品20内の回路211、212とプリント基板10上の回路113によって導通されている。このような構成は、むしろ本発明の応用的な実施の形態であり、本発明の本質的な特徴を備える最もシンプルな構成としては、接続端子CT1と接続端子CT2との間を1つの配線で連結するだけの構成が考えられる。この場合、測定用端子101、102間は、回路111、CT1−CT2間の配線、回路112で導通されることになる。この場合であっても、半田ボールB1、B2のいずれかの導通状態が切断されることにより、衝撃を検知することが可能である。
{Essential configuration of the present invention}
In the first embodiment, the four solder balls B1 to B4 are electrically connected by the circuits 211 and 212 in the component 20 and the circuit 113 on the printed circuit board 10. Such a configuration is rather an applied embodiment of the present invention, and the simplest configuration having the essential features of the present invention is a single wiring between the connection terminal CT1 and the connection terminal CT2. A configuration that only connects is conceivable. In this case, the measurement terminals 101 and 102 are electrically connected by the circuit 112 and the wiring between the CT 111 and CT 1 and the circuit 112. Even in this case, it is possible to detect an impact by cutting off the conductive state of one of the solder balls B1 and B2.

本発明の衝撃検知装置2は、半田ボールの導通状態が切断されることにより、導通状態の変化、あるいは抵抗値の変化を検知するものである。したがって、機器が落下によって衝撃を受けた場合の他にも、機器に無理な力が加わった場合などにも衝撃を検知する手段として利用できる。たとえば、窓の鍵に本発明の衝撃検知装置を取り付ける。そして、強引に窓が開けられた場合には、その衝撃を検知するなどの目的で利用することもできる。この場合にも、衝撃の発生を電気的に検知することが可能であり、セキュリティシステムにおいて衝撃を検知するなど、電子制御が容易である。   The impact detection device 2 of the present invention detects a change in conduction state or a change in resistance value by cutting the conduction state of a solder ball. Therefore, it can be used as a means for detecting an impact not only when the device receives an impact due to dropping but also when an excessive force is applied to the device. For example, the shock detection device of the present invention is attached to a window key. When the window is forcibly opened, it can be used for the purpose of detecting the impact. Also in this case, it is possible to electrically detect the occurrence of an impact, and electronic control such as detecting the impact in the security system is easy.

2 衝撃検知装置
10 プリント基板
20 部品
101,102 測定用端子
111,112,113 回路
123,124,125 回路
133,134 回路
143,144,145,146,147,148,149 回路
211,212 回路
221,222,223,224 回路
231,232,233 抵抗
241,242,243,244,245,246,247,248 抵抗
B1〜B8 半田ボール
CT1〜CT8 接続端子
DT1〜DT8 接続端子
2 Impact detection device 10 Printed circuit board 20 Parts 101, 102 Measurement terminals 111, 112, 113 Circuits 123, 124, 125 Circuits 133, 134 Circuits 143, 144, 145, 146, 147, 148, 149 Circuits 211, 212 Circuit 221 , 222, 223, 224 Circuits 231, 232, 233 Resistors 241, 242, 243, 244, 245, 246, 247, 248 Resistors B1-B8 Solder balls CT1-CT8 Connection terminals DT1-DT8 Connection terminals

Claims (5)

機器に対する衝撃を検知する装置であって、
プリント基板と、
前記プリント基板上に半田ボールを介して取り付けられる部品と、
を備え、
前記半田ボールによる前記プリント基板と前記部品との間の導通状態が切断されることを利用して、前記機器に対する衝撃を検知し、
前記プリント基板上に基板上回路が形成され、前記プリント基板上に第1〜第Nの半田ボールを介して前記部品が取り付けられており、
前記部品は、
前記第1〜第Nの半田ボールとそれぞれ接合される第1〜第Nの接続端子と、
部品内連結回路と、
を含み、
前記基板上回路は、
前記第1の半田ボールと接合されるとともに、第1測定端子を有する第1基板上回路と、
前記第Nの半田ボールと接合されるとともに、第2測定端子を有する第2基板上回路と、
基板上連結回路と、
を含み、
前記第1〜第Nの半田ボールが、前記部品内連結回路と前記基板上連結回路によって連結されることにより、前記第1測定端子と前記第2測定端子との間が導通しており、前記第1測定端子と前記第2測定端子との間に複数の抵抗が並列接続されており、
前記複数の抵抗の抵抗値がそれぞれ異なることを特徴とする、
衝撃検知装置。
A device for detecting an impact on a device,
A printed circuit board,
Components mounted on the printed circuit board via solder balls;
With
Using the fact that the conductive state between the printed circuit board and the component by the solder ball is cut, the impact on the device is detected ,
A circuit on a board is formed on the printed board, and the component is attached to the printed board via first to Nth solder balls,
The parts are
First to Nth connection terminals respectively bonded to the first to Nth solder balls;
In-part connection circuit,
Including
The circuit on the substrate is
A circuit on a first substrate bonded to the first solder ball and having a first measurement terminal;
A circuit on a second substrate bonded to the Nth solder ball and having a second measurement terminal;
A connection circuit on the substrate;
Including
The first to Nth solder balls are connected by the in-component connection circuit and the on-board connection circuit, whereby the first measurement terminal and the second measurement terminal are electrically connected, A plurality of resistors are connected in parallel between the first measurement terminal and the second measurement terminal,
The resistance values of the plurality of resistors are different from each other,
Impact detection device.
機器に対する衝撃を検知する装置であって、
プリント基板と、
前記プリント基板上に半田ボールを介して取り付けられる部品と、
を備え、
前記半田ボールによる前記プリント基板と前記部品との間の導通状態が切断されることを利用して、前記機器に対する衝撃を検知し、
前記プリント基板上に基板上回路が形成され、前記プリント基板上に第1〜第Nの半田ボールを介して前記部品が取り付けられており、
前記部品は、
前記第1〜第Nの半田ボールとそれぞれ接合される第1〜第Nの接続端子と、
部品内連結回路と、
を含み、
前記基板上回路は、
前記第1の半田ボールと接合されるとともに、第1測定端子を有する第1基板上回路と、
前記第Nの半田ボールと接合されるとともに、第2測定端子を有する第2基板上回路と、
基板上連結回路と、
を含み、
前記第1〜第Nの半田ボールが、前記部品内連結回路と前記基板上連結回路によって連結されることにより、前記第1測定端子と前記第2測定端子との間が導通しており、
前記第1〜第Nの半田ボールと前記部品との接合面の径を調整することにより、衝撃検知感度を調整可能としたことを特徴とする、
衝撃検知装置。
A device for detecting an impact on a device,
A printed circuit board,
Components mounted on the printed circuit board via solder balls;
With
Using the fact that the conductive state between the printed circuit board and the component by the solder ball is cut, the impact on the device is detected ,
A circuit on a board is formed on the printed board, and the component is attached to the printed board via first to Nth solder balls,
The parts are
First to Nth connection terminals respectively bonded to the first to Nth solder balls;
In-part connection circuit,
Including
The circuit on the substrate is
A circuit on a first substrate bonded to the first solder ball and having a first measurement terminal;
A circuit on a second substrate bonded to the Nth solder ball and having a second measurement terminal;
A connection circuit on the substrate;
Including
The first to Nth solder balls are connected by the in-component connection circuit and the on-board connection circuit, so that the first measurement terminal and the second measurement terminal are electrically connected,
The shock detection sensitivity can be adjusted by adjusting the diameter of the joint surface between the first to Nth solder balls and the component.
Impact detection device.
機器に対する衝撃を検知する装置であって、
プリント基板と、
前記プリント基板上に半田ボールを介して取り付けられる部品と、
を備え、
前記半田ボールによる前記プリント基板と前記部品との間の導通状態が切断されることを利用して、前記機器に対する衝撃を検知し、
前記プリント基板上に基板上回路が形成され、前記プリント基板上に第1〜第Nの半田ボールを介して前記部品が取り付けられており、
前記部品は、
前記第1〜第Nの半田ボールとそれぞれ接合される第1〜第Nの接続端子と、
部品内連結回路と、
を含み、
前記基板上回路は、
前記第1の半田ボールと接合されるとともに、第1測定端子を有する第1基板上回路と、
前記第Nの半田ボールと接合されるとともに、第2測定端子を有する第2基板上回路と、
基板上連結回路と、
を含み、
前記第1〜第Nの半田ボールが、前記部品内連結回路と前記基板上連結回路によって連結されることにより、前記第1測定端子と前記第2測定端子との間が導通しており、
前記第1〜第Nの半田ボールの組成を変更することにより、衝撃検知感度を調整可能としたことを特徴とする、
衝撃検知装置。
A device for detecting an impact on a device,
A printed circuit board,
Components mounted on the printed circuit board via solder balls;
With
Using the fact that the conductive state between the printed circuit board and the component by the solder ball is cut, the impact on the device is detected ,
A circuit on a board is formed on the printed board, and the component is attached to the printed board via first to Nth solder balls,
The parts are
First to Nth connection terminals respectively bonded to the first to Nth solder balls;
In-part connection circuit,
Including
The circuit on the substrate is
A circuit on a first substrate bonded to the first solder ball and having a first measurement terminal;
A circuit on a second substrate bonded to the Nth solder ball and having a second measurement terminal;
A connection circuit on the substrate;
Including
The first to Nth solder balls are connected by the in-component connection circuit and the on-board connection circuit, so that the first measurement terminal and the second measurement terminal are electrically connected,
The impact detection sensitivity can be adjusted by changing the composition of the first to Nth solder balls.
Impact detection device.
請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の衝撃検知装置において、
前記第1〜第Nの半田ボールが、前記部品内連結回路と前記基板上連結回路によって連結されることにより、前記第1測定端子と前記第2測定端子との間に各半田ボールを接続する複数の回路が直列接続されていることを特徴とする衝撃検知装置。
In the impact detection device according to any one of claims 1 to 3 ,
The first to Nth solder balls are connected by the in-component connecting circuit and the on-board connecting circuit, thereby connecting each solder ball between the first measuring terminal and the second measuring terminal. An impact detection device comprising a plurality of circuits connected in series.
請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の衝撃検知装置において、
前記第1〜第Nの半田ボールが、前記部品内連結回路と前記基板上連結回路によって連結されることにより、前記第1測定端子と前記第2測定端子との間に複数の抵抗が並列接続されていることを特徴とする衝撃検知装置。
In the impact detection device according to any one of claims 1 to 3 ,
A plurality of resistors are connected in parallel between the first measurement terminal and the second measurement terminal by connecting the first to Nth solder balls by the in-component connection circuit and the on-board connection circuit. The impact detection device characterized by being made.
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